P. 1
Paper Penghalusan Pola Difraksi Sinar X Pada Periclase

Paper Penghalusan Pola Difraksi Sinar X Pada Periclase

|Views: 107|Likes:
Dipublikasikan oleh Rio Simatupang

More info:

Published by: Rio Simatupang on Jul 15, 2012
Hak Cipta:Attribution Non-commercial

Availability:

Read on Scribd mobile: iPhone, iPad and Android.
download as PDF, TXT or read online from Scribd
See more
See less

02/01/2013

pdf

text

original

Penelitian Kecil

Penghalusan Pola Difraksi Sinar X pada Periclase (MgO) Dengan Metode Rietveld
Oleh : Rio Simatupang (08324003) Jurusan Fisika FMIPA Universitas Negeri Surabaya Email : rio_simatupang01@yahoo.com Abstrak Telah dilakukan penghalusan pola difraksi sinar X pada Periclase (MgO) dengan metode Rietveld yakni dengan menggunakan software Rietica dengan tujuan mengetahui nilai hasil penghalusan parameter kristal Periclase (MgO) secara simultan pada pola difraksi sinar – X. Pada penelitian ini telah berhasil menghaluskan pola difraksi terhitung dari pola difraksi terukur (diperoleh dari LPPM ITS Surabaya) ternyata memiliki nilai penghalusan yakni Rp = 12,747, Rwp =17,102, dan χ2 (GOF) = 2,511. Hasil penghalusan dinilai cukup sempurna karena nilai χ2 di bawah 4,0 sehingga sampel Periclase (MgO) yang didifraksikan sinar X di LPPM ITS Surabaya dapat tergolong material yang cukup bersih (tanpa pengotor) dan hasil penghalusan tersebut cukup layak untuk dilakukan analisis komposisi fase dan penentuan ukuran kristal MgO. Kata Kunci : Difraksi Sinar X, Periclase (MgO), Metode Rietveld, A. PENDAHULUAN maka penulis menggunakan metode Pola difraksi sinar-x yang diperoleh Rietveld. Penelitian ini dilakukan dari sebuah material berbentuk kristalin bertujuan untuk mengetahui metode (cara) memuat beberapa informasi di antaranya dalam melakukan penghalusan pola (1) kandungan fasa kristalin, (2) ukuran difraksi sinar – X pada sampel Periclase dan bentuk fasa-fasa, (3) struktur kristal fasa dan (4) ketidaksempurnaan kristal. dengan membandingkan pola difraksi Informasi itu tercakup dalam karakter terhitung dan terukur yang diperoleh dari puncak yang meliputi posisi, tinggi dan ICSD (Inorganic Crystal Structure bentuk dan lebar puncak difraksi. Untuk Database). Mengetahui nilai hasil mengekstraksi informasi tersebut penghalusan parameter kristal Periclase diperlukan analisis lanjut, misalnya dengan (MgO) secara simultan pada pola difraksi metode Rietveld Analisis Rietveld adalah sinar – X dengan menggunakan metode sebuah metode pencocokan tak-linier Rietveld. Adapun yang menjadi rumusan kurva pola difraksi terhitung (model) masalah yakni bagaimanakah cara dengan pola difraksi terukur yang melakukan penghalusan pola difraksi didasarkan pada data struktur kristal ICSD sinar-X yang terhitung dan terukur pada (Inorganic Crystal Structure Database) Periclase dengan metode Rietveld ? dengan menggunakan metode kuadrat Berapa nilai hasil penghalusan parameter terkecil (least-squares). Perkembangan kristal Periclase (MgO) berdasarkan selanjutnya menunjukkan bahwa metode penghalusan secara simultan pola difraksi ini dapat digunakan sebagai alat bantu sinar-X dengan menggunakan metode karakterisasi material kristalin guna Rietveld?. Dari penelitian ini dapat mengekstraksi berbagai informasi kimiawi memberikan manfaat tentang pemahaman maupun struktur-mikro. teknik penghalusan pola difraksi sinar-X Berbagai pendekatan untuk analisis dengan metode Rietveld dan juga dapat kematerialan pun turut berkembang seiring mengetahui parameter – parameter lattice dengan kemajuan tentang pemahaman dari Periclase secara langsung dan secara mengenai metode ini. Untuk mengetahui tidak langsung dapat diterima untuk penghalusan pola difraksi Periclase (MgO) analisis komposisi fasa, penentuan ukuran
1

S-1 Fisika FMIPA Unesa

Penelitian Kecil

kristal, dan penghalusan struktur kristal Periclase. B. KAJIAN TEORI Difraksi Sinar-X Difraksi sinar-x oleh sebuah materi terjadi akibat dua fenomena: (1) hamburan oleh tiap atom dan (2) interferensi gelombang-gelombang yang dihamburkan oleh atom-atom tersebut. Interferensi ini terjadi karena gelombang-gelombang yang dihamburkan oleh atom-atom memiliki koherensi dengan gelombang datang dan, demikian pula, dengan mereka sendiri [2]. Representasi matematis syarat terjadinya difraksi diberikan oleh Hukum Bragg 2d hkl sin  B  n dengan dhkl adalah jarak antar-bidang (interplanar spacing) (hkl) untuk sebuah kristal, θB adalah sudut Bragg dan λ adalah panjang gelombang radiasi. Di samping representasi dalam bentuk Hukum Bragg, terjadinya difraksi harus memenuhi 3 persamaan Laue yang dinyatakan dengan
S
 S  S  S  S  S 
0

 a

1

 h  k  l
'

'

0

 a  a

'

2

0

3

Ketiga persamaan tersebut hanyalah representasi vektorial tiga dimensi dari syarat difraksi

Gambar 1. Difraksi Sinar - X

Selisih lintasan (Δs) : s  AB  BC s  d sin   d sin  s  2d sin 

Hasil interferensi pada detektor adalah bergantung pada beda fase   antara dua sinar difraksi yang berurutan [2]. Periclase (MgO) Periclase terbentuk secara alami di kontak batuan metamorf dan merupakan komponen utama yang paling mendasar refraktori batu Gambar 2. Serbuk MgO bata. Ini adalah kubik bentuk oksida magnesium ( MgO ). Periclase pertama kali ditemukan 180 dan menurut bahasa Yunani περικλάω (istirahat sekitar) dalam kiasan untuk belahan kristalnya. Ini pertama kali dijeaskan pada tahun 1840 dan diberi nama dari περικλάω Yunani (beristirahat sebentar) lokalitas jenis adalah Monte Somma, Somma - Vesuvius Kompleks, Provinsi Naples , Campania , Italia . Metode Rietveld Analisis (metode) Rietveld adalah sebuah metode pencocokan tak-linier kurva pola difraksi terhitung (model) dengan pola difraksi terukur yang didasarkan pada data struktur kristal dengan menggunakan metode kuadrat terkecil (least-squares). Penamaannya bisa bermacam-macam, misalnya Metode Rietveld, Analisis Rietveld atau Penghalusan Rietveld. Di dalam analisis Rietveld pola difraksi terhitung (model) dicocokkan dengan pola difraksi terukur (Gambar 1). Parameter-parameter yang digunakan dalam penyusunan pola terhitung disimpan di dalam sebuah file. Pola difraksi terukur disimpan dalam sebuah file yang lain. Pencocokan dilakukan dengan mengubah parameter-parameter dalam model pola difraksi terhitung yang dinyatakan dalam ekspresi intensitas difraksi

y ci  s  LK FK  2 i  2 K PK A  ybi
2 K

S-1 Fisika FMIPA Unesa

2

Penelitian Kecil

dengan i adalah indeks untuk sebuah titik yang sedang dihitung, s adalah faktor skala, K menyatakan indeks Miller h, k, l untuk sebuah puncak Bragg, LK berisi faktor-faktor polarisasi Lorentz dan pelipatan, FK adalah faktor struktur untuk refleksi Bragg ke K,  adalah fungsi bentuk puncak, 2 i dan 2 K adalah sudutsudut detektor yang berhubungan titik i dan puncak Bragg K, PK adalah fungsi preferred orientation, A adalah faktor serapan dan ybi adalah kontribusi latar [3]. Simulasi dengan Rietica Rietica adalah salah satu perangkat lunak Rietveld yang disusun oleh B. Hunter (1998), seorang peneliti di Australian Nuclear Science and Technology Organization (ANSTO), yang mengembangkan program LHPM sehingga dapat ditampilkan menggunakan platform berbasis Graphical User Interface (GUI). Simulasi yang dimaksud pada subbagian ini adalah penyusunan pola difraksi terhitung dengan menggunakan data kristalografi yang sesuai. Sebagai contoh diambil data kristalografi dari Periclase (MgO) yang berasal dari database ICSD dengan kode koleksi 9863. Hipotesis Penelitian Cara melakukan penghalusan pola difraksi sinar – X pada sampel Periclase memperhatikan faktor-faktor struktur kristal Periclase sesuai dengan data ICSD Periclase, dan melakukan prosedur penghalusan sesuai dengan Standar Operasional Prosedur (SOP) dari data yang diterima dan dibandingkan antara pola difraksi terukur dan terhitung. Nilai hasil penghalusan pola difraksi sinar-X pada Periclase tergantung pada masukkan data yang dihasilkan dan taraf ketelitian dari software Rietica sehingga hasil nilai penghalusannya yakni Rp (faktor profil) sekitar kurang dari 18 (tanpa satuan), Rwp (faktor profil terbobot) sekitar kurang dari 24 (tanpa satuan) dan nilai GOF (Goodness of Fit) atau χ2 pencocokan terbaik sekitar kurang dari 4.0 (tanpa satuan).

C. METODE PENELITIAN Dalam percobaan ini, kami menggunakan alat dan bahan yakni1 (satu) unit set alat difraksi sinar x Phillip Expert, PW-3373 MPD (Multi Purpose Diffractometer) System-3373 yang tersedia di LPPM Institut 10 Nopember (ITS) Surabay, 1 set laptop Toshiba L-510 Processor Dual Core. Dan bahan yang digunakan ialah Serbuk MgO (Periclase) secukupnya (tersedia di LPPM ITS). Rancangan Penelitian
Bahan Serbuk MgO

Uji kecocokan dan penghalusan pola Difraksi Sinar-X (XRD) pada serbuk Cu dengan metode Rietveld menggunakan Software Rietica

Tujuan: 1. Memperoleh pola difraksi sinar-x (XRD) pada serbuk MgO atau periclase (pola difraksi terhitung) yang dimodelkan berdasarkan data kristalografi ICSD MgO No. 9863 dengan menggunakan software Rietica 2. Mencocokkan pola difraksi sinar-x terukur pada serbuk MgO No.2 dengan pola difraksi terhitung No.1 menggunakan software Rietica. 3. Memperoleh hasil pencocokan dan penghalusan pola difraksi terhitung terhadap pola difraksi terukur serbuk MgO.

Eksperimen XRD (pola difraksi terukur)

Komputasi Pola XRD: Software Rietica (Pola difraksi Terhitung) Lihat diagram alir komputasi Halaman 17

Pencocokan pola difraksi (uji fitting) Lihat diagram alir fitting Halaman 18 Penghalusan (refinement) Rietveld Lihat diagram alir penghalusan Halaman 19 Indeks kecocokan χ2 Interpretasi Hasil Pelaporan
Gambar 3. Diagram alir penghalusan pola difraksi sinar – x pada Periclase

Variabel bebas yang digunakan dalam penelitian ini : input data pada jendelajendela Rietica antara lain General, Histogram, Sample dan Phase. Variabel
3

S-1 Fisika FMIPA Unesa

Penelitian Kecil

kontrolnya antara lain : Software Rietica, dan data kristalografi (ICSD) untuk Cu yaitu ICSD 9863. Sedangkan variabel respon ini ialah : Pola difraksi sinar-x terhitung pada bahan serbuk MgO (Periclase), Rp (faktor profil), Rwp (faktor profil terbobot), dan nilai GOF (Goodness of Fit). D. HASIL & PEMBAHASAN Penyusunan file model untuk pola difraksi terhitung (simulasi) diawali dengan memilih menu File-New pada Rietica Histogram adalah jumlah himpunan data terukur yang akan dilibatkan dalam penghalusan. Untuk simulasi, pilihan data file diganti dengan calculation melalui drop menu. Pada kasus Periclase (fasa tunggal), jumlah atom adalah 2 selanjutnya adalah membuka jendela General (untuk memberikan judul tampilan plot, menentukan jumlah iterasi maksimum, menyesuaikan format data difraksi terukur (misalnya yang berformat 8 digit, 10 kolom per baris yang berekstensi *.dat) dan beberapa hal lain. Kemudian, membuka Histogram (Informasi mengenai radiasi (misalnya Xray CW, kependekan dari Constant Wavelength), panjang gelombangnya, dan batas sudut difraksi yang akan dimodelkan diumpankan di sini. Ratio adalah perbandingan intensitas radiasi panjang gelombang kedua dan panjang gelombang pertama. Zero adalah koreksi 2 yang tergantung instrumen yang digunakan. Sedangkan Sample Displacement menyatakan besarnya ketidaktepatan posisi vertikal sampel dalam pengukuran. Model untuk latar juga diumpankan di sini. Data difraksi seperti grup ruang (space group), parameter kisi, tipe atom dan posisi (relatif) atom diumpankan disini.

Gambar 5. Pola difraksi terukur dengan Rietica untuk Periclase

Analisis Rietveld Secara umum, pencocokan (fitting) dengan metode Rietveld bisa dinyatakan selesai dengan mengikuti dua kriteria utama: - plot selisih antara pola terhitung dan pola terukur memiliki fluktuasi yang relatif kecil (Gambar 4) yang hanya dapat diamati secara visual, tidak dapat dikuantifikasi. Nilai GoF kurang dari 4% (Kisi, 1994). Kriteria figures-of-merit yang lain juga dapat digunakan. Pembaca dipersilakan mengacu pada referensireferensi mengenai kriteria itu. Jika kriteria di atas telah terpenuhi, maka dapat dilakukan analisis Rietveld yang dimulai dengan ekstraksi nilai-nilai terakhir parameter-parameter melalui pilihan Information kemudian View Output. Analisis Rietveld dapat dilakukan secara langsung dan tidak langsung dari luaran itu. Beberapa hasil analisis yang dapat langsung dibaca adalah parameter kisi dan Sample Displacement. Sedangkan luaran penghalusan yang dimanfaatkan secara tidak langsung adalah, misalnya, faktor skala untuk perhitungan komposisi fasa dan komponen pelebaran puncak untuk analisis mikrostruktur.

Gambar 4. Pola difraksi terhitung dengan Rietica untuk Periclase S-1 Fisika FMIPA Unesa

4

Penelitian Kecil
| SUMYDIF | SUMYOBS | SUMYCALC | SUMWYOBSSQ | GOF | CONDITION | +-----------------------------------------------------------------------+ | 0.6113E+05| 0.4711E+06| 0.4566E+06| 0.4711E+06| 0.2648E+01| 0.7215E+13 | +----------------------------------------

Gambar 6. Penghalusan Akhir Pola Difraksi Terhitung dan Terukur Pada Periclase.

Hasil output penghalusan :
SCALE FACTOR = 1.0000 0.00000 0.00000 ZEROPOINT = -0.04100 0.00000 0.00000 WAVELENGTH = 1.515000 0.000003 0.031354 SAMPLE DISPLACEMENT = -0.27399 0.00004 0.00272 BACKGROUND PARAMETER B 0 = -6.72207 -0.530096E03 0.441505 BACKGROUND PARAMETER B 1 = 0.831112 0.402940E04 0.329143E-01 BACKGROUND PARAMETER B 2 = -0.928283E-02 0.438904E-06 0.620582E-03 BACKGROUND PARAMETER B 3 = 0.380813E-04 0.154998E-08 0.335114E-05 PREFERRED ORIENTATION = 1.00000 0.00000 0.00000 ABSORPTION R = 0.00000 0.00000 0.00000 ASYMMETRY PARAMETERS = 0.04000 0.00000 0.00000 0.00000 0.00000 0.00000 HALFWIDTH PARAMETERS U = 0.008900 0.000000 0.000000 V = -0.006000 0.000000 0.000000W = 0.070000 0.000000 0.000000 ANISOTROPIC GAUSSIAN BROADENING = 0.000000 0.000000 0.000000 LORENZTIAN COMPONENTS = 0.155832 -0.000034 0.001080 0.000000 0.000000 0.000000 0.000000 0.000000 0.000000 EQUIVALENT TO A PARTICLE SIZE OF 557.0( 3.9) ANGSTROMS EXTINCTION PARAMETER = 0.000000 0.000000 0.000000 +-----------------------------------------------------------------------+ | Hist | Rp | Rwp | Rexp |Durbin Unwght| Durbin Wght | N-P | +-----------------------------------------------------------------------+ | 1 | 12.98 | 17.56 | 10.79 | 0.150 | 0.794 | 5487 | +-----------------------------------------------------------------------+

E. KESIMPULAN & SARAN Data difraksi kristal MgO membawa berbagai informasi yang menggambarkan karakteristik dari kristal tersebut. Informasi tersebut dapat diekstrak melalui pencocokan atau penghalusan Rietveld, misalnya menggunakan perangkat lunak yaitu Rietica dengan nilai penghalusan akhir Rp = 12,747, Rwp = 17,102, dan χ2 (GOF) = 2,511. Teori, strategi, urutan dan analisis dengan metode Rietveld telah diuraikan dapat diimplementasikan untuk karakterisasi material kristal. Sampel Periclase (MgO) yang didifraksikan oleh sinar X di LPPM ITS Surabaya dapat tergolong material yang cukup bersih (tanpa pengotor) dan hasil penghalusan tersebut cukup layak untuk dilakukan analisis komposisi fase dan penentuan ukuran kristal MgO, namun tidak disarankan untuk penentuan ukuran kristal karena keterbatasan model yang digunakan dalam analisis [1]. REFERENSI [1] Pratapa, Suminar. 2011. Analisis Data Difraksi dengan Metode Rietveld. Surabaya : ITS University Press. [2] Pratapa, Suminar. 2004. Bab 1 PrinsipPrinsip Difraksi Sinar – X.http:// www.its.ac.id/fmipa+fisika_download_ pdf_ Bab 1 Prinsip-Prinsip Difraksi Sinar – x.pdf. Diakses 8 Maret 2011. [3] U.E., Frida. 2010. Chapter V : X- Ray Diffraction.http://fisikaunesa.net/Chapt er V : X- Ray Diffraction.pdf. Diakses 03 Desember 2010.

S-1 Fisika FMIPA Unesa

5

Penelitian Kecil

S-1 Fisika FMIPA Unesa

6

You're Reading a Free Preview

Mengunduh
scribd
/*********** DO NOT ALTER ANYTHING BELOW THIS LINE ! ************/ var s_code=s.t();if(s_code)document.write(s_code)//-->