Metallurgy Phisic Chapter05

BAB 5 KARAKTERISASI MATERIAL
Budi Santoso Dept. Teknik Mesin UNISMA
TEKNIK MESIN
5.1 Sarana Karateristik Penelitian material dengan berkas dradiasi ataupartikel berenergi tinggi. Radiasi bersifat elektromagnetik dan dapat bersifat monokromatik atau polikromatik; spektru elektromagnetik (gbr 5.1) dengan jelas menunjukkan rentang energi yg dapat digunakan. Cara utama meneliti bantuan : Cahaya Sinar X Elektron Neutron struktur logan dengan
5.1 Sarana krakteristik
Figure 5.1 Spektrum radiasi elektromagnetik (from Askeland, 1990, p. 732; by permission of Chapman and Hall).
Budi Santoso
Mercedes-Benz Indonesia Bab 5 Metalurgi Fisik / QM/QPP
Page 2
TEKNIK MESIN
5.2 Mikroskopi cahaya
5.2 Mikrokoskopi cahaya 5.2.1 Prinsip Dasar Mikroskop cahaya menyediakan gambaran struktur 2 dimensional dengan pembesaran total dari 40x hingga 1250x. Tingkat serangan bahan kimia peka terhadap orientasi kristas dan aggregat polikristalin yang dietsa akan menampilkan struktur butirnya dengan jelas Gbr.2a
Figure 5.2 (a) Refleksi cahaya dari spesimen yg dietsa. (b) Pengguna minyak untuk peningkatan orpertur numerik lensa obyektif. Budi Santoso
Mercedes-Benz Indonesia Bab 5 Metalurgi Fisik / QM/QPP Page 3
TEKNIK MESIN
5.2.2 Beberapa teknik mikroskopis 5.2.2.1 Mikroskopis kontras-fasa Mikroskopis kontras-fasa merupakan tekinik yang digunakan untuk mempelajari ciri permukaan kusus meskipun tidak diperoleh kontras warna atau refleksivitas. Cahaya yg dipantulkan oleh depresi kecil dalam specimen metalografi akan meninggalkan fasa sebesar fraksi panjang gelombang caha tertentu.
Figure 5.3 Rentang pembesaran berguna pada mikroskop cahaya (from Optical Systems for the Microscope, 1967, p. 15; by courtesy of Carl Zeiss, Germany). Budi Santoso
TEKNIK MESIN
5.2.2.2 Mikroskopi cahaya terpolarisasi Cahaya terpolarisasi diperlihatkan pada gambar 5.4 b Penerapan ini tergantung pada fakta bahwa cahaya terpolarisasi bidang yang jatuh tegak lurus pada pemukaan lubang isotropik secara optik akan direfleksikan atau dipantulkan tanpa perubahan.
Figure 5.4 Skema susunan sistim mikroskop untuk (a) mikroskopi kontras fasa (b) kikroskopi cahaya terpolarisasi
Budi Santoso
Page 5
TEKNIK MESIN
5.2.2.3 Mikroskopi dudukan-panas Digunakan untuk mengamati formasi fasa dan perubahan struktur dalam logam, keramik dan polimer pada pembesaran tinggi ketika dipanaskan 5.2.2.4 Pengujian mikrokekerasan Pengukuran kekerasan dengan bantuan piranti mikroskop, mencakup indontor intan dan sarana pemberian beban ringan. Gambar 5.5 garis meyer dengan keminringan n yang menggambarkan kebergantungan nilai mikrokekerasan pada beban untuk material tertentu
Figure 5.5 Garis Meyer untuk material dgn kekerasan bergantungbahan (by courtesy of Carl Zeiss, Germany). Budi Santoso
TEKNIK MESIN
5.2.2.5 Mikroskopi kuantitatif Beasr butir dalam struktur metalik biasanya diukur dengan metode ASTM (McQuaid-Ehn). Pda metode ini, mikrostruktur yang sietsa dibandingkan dengan diagram atau set foto standar dengan perbesaran standar 100x. Misalnya daerah pandang tertentu mengandungfasa gelap dan matriks berwarna cerah Gbr.5.6a Diagram gambar 5.7 menunjukan beberapa persamaan stereologi yang dapat digunakan menghitung besaran tak terukur
Figure 5.6 Perbandingan berbagai metode untuk mengukur fraksi luas. Budi Santoso
TEKNIK MESIN
Diagram gambar 5.7 menunjukan persamaan stereologi yang dapat menghitung besaran tak terukur beberapa digunakan
5.3 Analisis difraksi sinar-X
5.3.1 Produksi dan absorpsi sinar-X Pemanfaatan metode difraksi memegang peran sangat penting untuk analisis pendataan kristalin. Sinar-X adalah suatu radiasi elektromagnetik dengan panjang gelombang = 0.1nm yang lebih pendek dibandingkan gelombang cahaya =400-800nm. Apabila logam ditembak dengan elektron cepat dalam tabung vakum maka dihasilkan sinar-X Radiasi yang dipancarkan seperti gbr 5.8a
Figure 5.7 Hubungan antara besaran stereologis. Budi Santoso

TEKNIK MESIN
Gambar 5.8 memeperlihatkan bahwa sesungguhnya eksitasi yang satu tidak dapat tanpa yg lainya dan karekteristik radiasi K yang bersal dari target tembaga secara rinci terdiri dari doublet K kuat dan garis K yg lebih lemah 5.3.2 Difraksi sinar X oleh kristal Persyaratan yg harus dipenuhi : 1. Kisi-kisi bersifat periodik 2. Panjang gelombang cahaya memiliki orde yang sama dengan jarak kisi2 yang akan ditentukan.
Figure 5.8 (a) distribusi intensitas sinar-X yg berasal (b) ketergantungan koefisien absopsi masa pada panjang gelombang sinaX utk Nikel Budi Santoso
TEKNIK MESIN
Gambar 5.9a memperlihatkan berkas sinarXdengan panjang gelombang yangjatuh dengan sudut pada set bidang kristal dengan jarak d
Figure 5.9 (a) Difraksi dr bidang kristal (b) bentuk kurva hamburan atom untuk almunium dan seng.
Budi Santoso
Page 10
TEKNIK MESIN
5.3.3 Metode difraksi sinar X 5.3.3.1 Metode Laue Pd metode ini Kristal tunggal disinari berkar radiasi putih . Karena spesimen merupakan kristal tunggal dengan posisi tetap, dan agar semua bidang kristal memenuhi hukum Bragg amak variabel yang berubah disini adalah panjang gelombang dari berkas yang memiliki rentang gelombang tertentu.
Figure 5.10 (a) difraksi sinarX dengan metode Laue. (b) Fotograf transmisi Laue dari seng yang mengalami deformasi, tampak asterisme (after Cahn, 1949). Budi Santoso
TEKNIK MESIN
5.3.3.2 Metode serbuk Metode serbuk yang dikembangkan secara terpisah oleh Debye dan Scherr, merupakan teknik sinar X yang paling bermanfaat. Pada metode ini digunakan radiasi monokromatik dan specimen halus atau kawat polikristalin berbutir halus.
Apabila film dipasang diseputar spesimen seperti gbr 5.11 terbentuk sudut terdifraksi berurutan terdiri dari berkas yang berasal dari ratusan buti
Figure 5.11 Difraksi sinar X metode serbuk
Budi Santoso
Page 12
TEKNIK MESIN
Kerucut memotong film dan memebntuk kurva kosentris diseputar lubang masuk dan keluar. Contoh gambar 5.12 pola material bcc dan fcc
Figure 5.12 Foto serbuk yang diambil dengan kamera Philifs (114 mm radius) of (a) besi dengan radiasi kobalt menggunakan filter besi (b) Almunium dengan radiasi tembaga menggunakan filter nikel. Garis sudut besar dan refleksi terpisah untuk =K1 dan =K2.
Budi Santoso
Page 13
TEKNIK MESIN
5.3.3.3 Difraktometri sinar X Sinar X dapat dideteksi menggunakan tabung pencacah (jenis Geiger, proposional, skintilasi) beserta rangkaian listrik. Susunan geometrik defraktometer pada gambar 5.13 a
Figure 5.13 Geometri (a) difraktometer konvensional and (b) Difraktometer hamburan sudut kecil, (c) rekaman catatan pola difraksi serbuk almunium dengan radiasi tembaga dan filter nikel
Budi Santoso
Page 14
TEKNIK MESIN
5.3.3.4 Topografi sinar X Sinar X dapat digunakan untuk mepelajari cacat pada kristal individu dengan mendeteksi perbedaan intensitas defraksi didaerah kristal dekat dislokasi dan daerah kristal yang lebih mendekati kesempurnaan. Gbr 5.14a memeprlihatkan skema susunan percobaan dengan radiasi K monokromatik yang terhimpun beserta rekaman foto
Figure 5.14 (a) Geometri teknik topografi sinarX, (b) Topografi kristal tunggal magnesium dengan loop dislokasi g=010 (after Vale and Smallman, 1977).
Budi Santoso
Page 15
TEKNIK MESIN
5.3.4 Prosedur interpretatif tipikal untuk pola difraksi 5.3.4.1 Intensitas difraksi Berbagai penerapan metode serbuk bergantung pada ketelitian pengukuran posisi garis atau intersitas garis. Susunan garis difraksi pada setiap pola merupakan karakteristik material yang diperiksa, sehingga identifikasi fasa yg tidak diketahui menggunakan metode ini.
Figure 5.15 (a) 1 0 0 reflection from bcc cell showing interference of diffracted rays, (b) 2 0 0 reflection showing reinforcement (after Barrett, 1952; courtesy of McGraw-Hill). Budi Santoso
TEKNIK MESIN
Pola difraksi terkait mengandung garis bila N=3,4,8,11,12,16,19,20 dst, dan ciri karakteristik susunan tersebut adalah urutan dua garis berdekatan dan satu garis terpisah seperti gbr 5.12b 5.3.4.2 Penentuan parameter kisi Metode serbuk paling sering digunakan untuk menentukan parameter kisi dgn teliti. Parameter presisi penting untuk penelitian koefisien muai termal, penentuan kerapatan, variasi sifat dengan komposisi, presipitasi laurtan padat dan tegangan termal. Gbr 5.16 memeperlihat prinsip metode ini.
Figure 5.16 (a) and (b) Phase-boundary determination using lattice parameter measurements. Budi Santoso
TEKNIK MESIN
5.3.4.3 Pelebaran garis Pengaruh dari faktor peralatan seperti lebar celah, kondisi spesimen dan sebaran panjang gelombang. Selain itu garis dapat melebar akibat regangan kisi didaerah difraksi kristal dan keterbatasan ukuran spesimen. 5.3.4.4 Hamburan sudut kecil Sudut kecil terjadi karena material yang inhomogen. Susunan yg cocok untuk penelitian ini gbr 5.13b 5.3.4.5 Konsep kisi resiprokal Hukum Bragg menunjukan bahwa kondisi difraksi bergantung pada geometri kumpulan bidang kristal. Kisi resiprokal disusun dr kisi real dengan menarik garis dari titik asal tegak lurus bidang kisi hkl seprti gbr 5.17
Figure 5.17 Kisi reciprocall fcc
Budi Santoso
Page 18
TEKNIK MESIN
Pemotongan permukaaan bola tempat kedudukan ini dengan permukaan bola pantul merupakan lingkaran kecil dengan sumbu berkas jatuh seperti gbr 5.19
Figure 5.18 Konstuksi bola refleksi Ewald
Figure 5.19 Prinsip metode serbuk. Budi Santoso

TEKNIK MESIN
5.4 Mikroskopi elektron analitis
5.4.1 Interaksi antara berkas elektron dengan padatan Berkas elektron mengenaispesimen padat, terjadi beberapa interaksi yang dapat memeberikan keterangan mengenai struktur material tersebut. Gbr 5.20 memperlihatkan interaksi tsb
Figure 5.20 hamburan dari elektron jatuh oleh lembaran tipis. Pada spesimen berkas yang ditransisikan, elastis maupun anelastis diabsorpsi
Budi Santoso
Page 20
TEKNIK MESIN
5.4.2 Mikroskop elektron transmisi (TEM) Untuk meningkatka daya resolusi mikroskop perlu dimanfaatkan gelombang dengan panjang gelombang yg lebih pendek. Maka mikroskop elektron dapat melihat dimensi kurang dr 1nm. Susunan dasar mikroskop transmisi seperti gbr 5.12
Figure 5.21 Skema susunan sistem mikroskop elektron transmisi dasar Budi Santoso
TEKNIK MESIN
5.4.3 Mikroskop elektron scan Stuktur permukaan logam dapat dilihat dengan TEM menggunakan replika tipis transparan dari topografi permukaan. Ada tiga jenis replika yaitu Oksida, plastik dan replika karbon Diagaran SEM dapat dilihat gbr 5.22
Figure 5.22 Skema dasar mikroskop scan elektron (courtesy of Cambridge Instrument Co.). Budi Santoso
TEKNIK MESIN
Elektron Backsrattered sangat peka terhadap nomor atomik Z sehingga sanagt penting untukmenunjukan kontras perubahaan komposisi bgr 5.23 Kontran orientasi kontras penyaluran dari Fe3% Si setelah rekristalisasi sekunder dan pola penyaluran dapat dianalisi untuk membuktikan bhw butir baru memiliki tekstur Goss gbr 5.24
Figure 5.23 Citra elektron hambur-balik akibat kontras nomor atomik paduan 70Ag30Cu alloy showing (a) -dendrites C eutectic and (b) eutectic (courtesy of B. W. Hutchinson).
Figure 5.24 (a) Citra elektron hambur balik (b) pola penyaluran terkait berasal dari Fe3%Si terkristalisasi sekunder (courtesy of B. W. Hutchinson). Budi Santoso
TEKNIK MESIN
5.4.4 Aspek teoretis TEM 5.4.4.1 Pembentukan citra dan difraksi Pemeriksaan material dapat dilakukan dengan berkas elektron yang mengenai permukaan pada sudut jatuh kecil Mikroskop elektron disusun untuk teknik transmisi karena dapat memperoleh informasi tambahan mengenai. Diagram berkas kedua mode operasi, pembuatan citra dan difraksi diperlihatkan gbr 5.25
Figure 5.25 Schematic ray diagrams for (a) pencitraan dan (b) diffraction.
Budi Santoso
Page 24
TEKNIK MESIN
Apabila hanya sinar difraksi yang dibiarkan melalui arpertur dengan memiringkan berkas jatuh maka diperoleh kontras pada latar belakang gelap yang disebut citra medan gelap. Kedua susunan ini dapat dilihat pada gbr 5.26
Figure 5.26 Skema diagram yang menggambarkan pembentukan citra (a) medan-cerah and (b) medan gelap
Budi Santoso
Page 25
TEKNIK MESIN
Dislokasi dapat dilihat sengan bantuan mikroskop elektron karena dislokasi nmengubah orientasi kristal setempat dan terjadi perubahan itensitas difraksi gbr 5.27
Figure 5.27 Mekanisme kontras difraksi: bidang di sebelahkana dislokasi dibengkokkan sehingga hampir memenuhi kondisi bragg dan intensitas berkas langsung yang muncul dari kristal berkurang.
Budi Santoso
Page 26
TEKNIK MESIN
Figure 5.29 Skema diagram untuk menjelaskan penentuan s pada posisi simetri, bersama pola difraksi terkait
Budi Santoso
Page 27
TEKNIK MESIN
Garis Kikuchi terjadi akibat sinar hamburan anelitas berasal dari titik P dalam spesimen Gbr 5.30
Figure 5.30 Kikuchi lines. (a) pembentukan peta kikuchi (b) polankikuchi kristal fcc Budi Santoso
TEKNIK MESIN
5.4.4.2 Pola difraksi berkas konvergen Difraksi berkas konvergen gbr 5.31a. Cakram intensitas yg terbentuk dibidang fokus belakang mengadung salah saty dari tiga jenis informasi sbb : 1. Fringer 2. Informasi sudut besar 3. Struktur terinci
Figure 5.31 (a) Skema pembentukan pola difraksi berkas konvergen dibidang fokus belakang lensa obyektif, (b) and (c) h1 1 1i CBDPs from Si; (b) lapisan nol dan HOLZ (Higher Order Laue Zones) dalam berkas langsung (c) lapisan nolFOLZ (First Order Laue Zones). Budi Santoso
TEKNIK MESIN
5.4.4.3 Mikrokoskopi elektron tegangan lebih tinggi Keterbatasan mikroskop elektron transmisi konvensional (CTEM) terletak pada tipisnya specimen yanga dapat diuji (50-500nm) Sample elemen berat, karena hanya mengandung partikel dan ciri struktural lain yang serba terbatas dan menghambat penelitian proses dinamis (deformasi, anil) 5.4.5 Mikroanalisis kimia 5.4.5.1 Pemanfaatan sinarX karakteristik Mikro probe elektron (EPMA) ketelitian analitis sampai 0,1%. Keterbatasanya untuk sample curah adalh kenyataan bahwa volume spesimen yang menghasilkan sinar X relatif tidak tergantung pada ukuran probe elektron, karena elastis sudut besar dari elektron dalam spesimen menghasilkan sinar X gbr 5.32
Figure 5.32 Skema diagramEDX dan EELS pada TEM
Budi Santoso
Page 30
TEKNIK MESIN
TEM mutahir menggunakan sistem detektor khusus seperti gbr 5.33
Figure 5.33 Schematic diagram of EDX and EELS pada TEM.
Budi Santoso
Page 31
TEKNIK MESIN
Gambar 5.34 Sinar X masuk melalui jendela Be yang tipis dan menghasilkan pasangan elektron lubang dalam Si-Li
Figure 5.34 Skema diagram detektor sinar SiLi X
Budi Santoso
Page 32
TEKNIK MESIN
Table 5.2 Relationships between measured intensities and composition for a NiAl alloy
5.4.5.2 Mikronalisis elektron pada lembaran tipis Kehilnagan energi rata2 yang dialami elektron ketika lembaran tipis hanya sekitar 20% Spektrum sederhana untuk NiAl stoikiometrik pada gambar 5.35 dan nilai Ni AL dan yang diperoleh IK . IK setelah dikurangi latar belakang terdapat pd tabel 5.2
Figure 5.35 EDX spectrum from a stoichiometric NiAl specimen
Budi Santoso
Page 33
TEKNIK MESIN
5.4.6 Spektroskopi kehilangan energi elektron (EELS, electron energy loss spectroscopy) Keterbatasan EDK dengan detektor tanpa-jendela mengakibatkan tumpang tindih garis spektrum, ini mendorong pengembangan EELS Spektrum EELS pada gbr 3.56 memiliki 3 daerah berbeda : 1. 2. 3. Tidak dihamburkan oleh spesimen Mengalami penghamburan foton(1/40 eV) Dihamburkan secara elastis
5.4.7 Spektroskopi elektron Auger (AES) AES merupakan teknik untuk mempelajari oksidasi, katalisis dan reaksi permukaan lain
Figure 5.36 Skema spektrum kehilangan-energi, memperlihatkan daerah kehilangan-nol dan daerah plasmon bersama tepi karakteristik ionisasi, energy Enl and intensitas Inl. Budi Santoso
TEKNIK MESIN
5.5.1 Lubang etsa Karena dislokasi merupakan daerah energi tinggi, kehadiran diperlihatkan dengan zat pengetsa yang menyerang daerah tersebut secara kimia. Gambar 3.37a Memperlihatkan pola lubang etsa rangkaian tumpukan dislokasi dalam kristal seng 5.5.2 Dekorasi dislokasi Teknik dekorasi untuk menampilkan struktur internal Contoh teknik ini pada gbr 5.37b
5.5 Pengamatan cacat
Figure 5.37 Pengamatan langsung dislokasi. (a) penumpukan dalam kristal tunggal seng (after Gilman, 1956, p. 1000). (b) Sumber Frank-Read dalam silikon (after Dash, 1957; courtesy of John Wiley and Sons).
Budi Santoso
Page 35
TEKNIK MESIN
5.5.3 Kontras tegangan dislokasi pada TEM Pengamatan langsung dislokasi dalam material dilakukan dengan penerapan teknik transmisi pada spesimen tipis.
Figure 5.38 (a) pendekatan kolom yang menggunakan untuk menghitung amplituo berkas terdifraksi g pada permukaan dasar kristal. Dislokasi berada pd kedalaman y dan berjarak x dr kolom. (b) Variasi intensitas terhadap kedalaman kristal
Budi Santoso
Page 36
TEKNIK MESIN
5.5.4 Kontras dari kristal-kristal Kristal2 yg diamati dengan mikroskop tampak cerah karena transmisi elektorn yang baik. Namun lembaran umumnya agak melengkung sehingga orientasi kristal relatif terhadap berkas elektron berbeda dari tempat ke tempat dan apabila orientasi bagian kristal sesuai sudut Bragg, terjadi difraksi kuat. 5.5.5 Pembentukan citra dislokasi Gbr 5,39 diperlihatkan kasus dengan orientasi kristal sedemikian rupa sehingga berkas yang jatuh pada bidang refleksi membuat sudut yang lebih besar dari pada sudut bragg. s>0
Figure 5.39 Skema diagram yang diperlihatkan ketergantungan posisi citra dislokasi pada kondisi difraksi
Budi Santoso
Page 37
TEKNIK MESIN
Figure 5.40 (a) penerapan aplikasi kriteria g.b = 0 efek perubahan kondisi difraksi (lihat pola difraksi disisipan) menyebabkan dislokasi heliks panjang B yang terdapat di (a) menghilang di (b) (after Hirsch, Howie and Whelan, 1960; courtesy of the Royal Society).
Budi Santoso
Page 38
TEKNIK MESIN
5.5.6 Pembentukan citra salah susun Kontras pada salah susun terjadi karena cacat tersebut memindahkan bidang refleksi satu terhadap yg lainya,diatas dan dibawah bidang salah, gbr 5.41a 5.5.7 Penerapan teori dinamis Terori ini hanya berlaku untuk lembaran dengantebal kurang dari setengah jarak peniadaan (1/2g) dan absorbsi diabaikan. Tujuan teori ini ad untuk mencakup interaksi antara gelombang terdifraksi dan gelombang yang ditrasmisikan.
Figure 5.41 Schematic diagram showing (a) displacement of reflecting planes by a stacking fault and (b) the condition forg.R D n when the fault would be invisible.
Budi Santoso
Page 39
TEKNIK MESIN
Memperlihatkan intensitas medan cerah dan gelap dari salah susun pda bidang miring, masing2 garis penuh dan putus2
Figure 5.42 Profil intensitas yg dihitung terhadap titik pusat lembaran untuk cacat salah susun dengan = +2/3 kurva penuh untuk citra B.F dan kurva terputus untuk citra D.F (from Hirsch, Howie et al., 1965). Budi Santoso
TEKNIK MESIN
Gbr. 5.43 memperlihatkan contoh kesalahan intrinsik (111)
Figure 5.43 Mikrografi medan gelap dan medan cerah dari salah susun intrinsik pada paduan AL-Cu vektor difraksi operasionalnya ad (a) 1 1 1 (b) 1 1 1 and (c) 1 1 1 (after Howie and Valdre, 1963; courtesy of Taylor and Francis). Budi Santoso
TEKNIK MESIN
5.5.8 Mikroskopi berkas-lemah
Figure 5.44 Node simetris pd baja tahan karat Fe21Cr14Ni stainless steel with D 18 4 mJ/m2 , (a) B.F. with g D 111 (b) weak beam with g(5g). Budi Santoso
TEKNIK MESIN
5.6.1 Difraksi neutron Table 5.3 memperlihatkan bahwapada elemen daya absorbsi tinggi (Li,B,C) koefisien absorpsi masa mempunyai ordo yg sama dengan absorbsi panjang gelombang sinarX dan elemen lain absorbsi neutron memang jauh lebih rendah
5.6 Teknik penembakan (bombardment) kuhus
Table 5.4 Amplitudo hamburan untuk sinarX dan neutron termal
Table 5.3 Koefisien absorbsi masa sinarX dan neutron
Budi Santoso
Page 43
TEKNIK MESIN
5.6.2 Penelitian radiasi sinkrotron Elektron dari katoda panas tercepat dalam tiga tahapan oleh akselerator linier suatu sinkroton penguat dan cincin penyimpang vakum gbr 5.45a Spektrum radiasi sinkrotron ini sangat luas mulai sinarX gelombang pendek hingga ke rentang inframerah Gbr 5.45b
Figure 5.45 (a) Layout of SRS, Daresbury, and (b) spektrum panjang gelombang radiasi sinkroton (after Barnes, 1990, pp. 708715; by permission of the Institute of Metals). Budi Santoso
TEKNIK MESIN
5.6.3 Spektrometri massa ion-sekunder (SIMS) SIMS pembentukan citra diterapkan untuk meneliti irisan melintang lapisan kerak kompleks yang terbentuk apabila paduan berada dalam lingkungan gas oksida panas (CO dan CO2)
Figure 5.46 metode dasar analisis termal. (a) Thermogravimetric analysis (TGA). (b) analisa thermal diferensial (DTA) and (c) kalorimetri scan diferensial (DSC). Budi Santoso
TEKNIK MESIN
5.7 Analisa Thermal
5.7.1 Kemampuan umum analisi termal Gbr 5.47 memperlihatkan 3 metode dasar analisa termal : analisis termogravimetrik (TGA), analisa termal diferensial (DTA) dan kalorimeter scan diferensial (DSC) TGA gbr 5.46a DTA gbr 5.46b DSC gbr 5.46c
Figure 5.47 Examples of thermal analysis (a) TGA untuk dekomposisi karet yg memperlihatkan dekomposisi minyak dan polimer dlm N2 hingga 600 C and karbon hitam diudara ditas 600 C (Hill and Nicholas, 1989), (b) DTA curve for high-alumina cement and Portland cement (Hill and Nicholas, 1989) and (c) DTA curve for a quenched glassy polymer (Hay,1982) Budi Santoso
TEKNIK MESIN
Orpertur mengacu pada ukuran lubang di lensa yang menentukan jumlah cahaya yang jatuh ke film atau sensor Indontor indentor berbentuk bola baja yang dikeraskan atau tungsten karbida, pengujian Rockwell menggunakan indentor kerucut Eksitasi atau pemicu Asterisme mana pola tersebut membentuk suatu gambar layaknya rasi bintang Kosentris terpusat Difraktometri merupakan suatu metode analisis yang didasarkan pada interaksi antara materi dengan radiasi elektromagnetik Skintilasi merupakan peristiwa terpancarnya percikan cahaya Monokromatik cahaya dengan satu panjang gelombang Interpretatif kelompok yang berinteraksi satu sama lain Presipitasi metode berdasarkan pada sifat koagulasi larutan Stoikiometrik jumlah mol masing-masing senyawa Intrinsik motivasi yang menjadi aktif Sinkrotron alat pemercepat partikel bermuatan listrik
TERIMA KASIH
Budi Santoso

Metallurgy Phisic Chapter05

Diunggah oleh

Informasi Dokumen

Hak Cipta

Format Tersedia

Bagikan dokumen Ini

Bagikan atau Tanam Dokumen

Opsi Berbagi

Apakah menurut Anda dokumen ini bermanfaat?

Apakah konten ini tidak pantas?

Hak Cipta:

Format Tersedia

Metallurgy Phisic Chapter05

Diunggah oleh

Hak Cipta:

Format Tersedia

BAB 5 KARAKTERISASI MATERIAL

Budi Santoso Dept. Teknik Mesin UNISMA

5.1 Sarana krakteristik

Mercedes-Benz Indonesia Bab 5 Metalurgi Fisik / QM/QPP

5.2 Mikroskopi cahaya

5.2 Mikroskopi cahaya

5.2 Mikroskopi cahaya

Mercedes-Benz Indonesia Bab 5 Metalurgi Fisik / QM/QPP

5.2 Mikroskopi cahaya

5.2 Mikroskopi cahaya

5.3 Analisis difraksi sinar-X

Figure 5.7 Hubungan antara besaran stereologis. Budi Santoso

5.3 Analisis difraksi sinar-X

5.3 Analisis difraksi sinar-X

Mercedes-Benz Indonesia Bab 5 Metalurgi Fisik / QM/QPP

5.3 Analisis difraksi sinar-X

5.3 Analisis difraksi sinar-X

Figure 5.11 Difraksi sinar X metode serbuk

Mercedes-Benz Indonesia Bab 5 Metalurgi Fisik / QM/QPP

5.3 Analisis difraksi sinar-X

Mercedes-Benz Indonesia Bab 5 Metalurgi Fisik / QM/QPP

5.3 Analisis difraksi sinar-X

Mercedes-Benz Indonesia Bab 5 Metalurgi Fisik / QM/QPP

5.3 Analisis difraksi sinar-X

Mercedes-Benz Indonesia Bab 5 Metalurgi Fisik / QM/QPP

5.3 Analisis difraksi sinar-X

5.3 Analisis difraksi sinar-X

5.3 Analisis difraksi sinar-X

Figure 5.17 Kisi reciprocall fcc

Mercedes-Benz Indonesia Bab 5 Metalurgi Fisik / QM/QPP

5.3 Analisis difraksi sinar-X

Figure 5.18 Konstuksi bola refleksi Ewald

Figure 5.19 Prinsip metode serbuk. Budi Santoso

5.4 Mikroskopi elektron analitis

Mercedes-Benz Indonesia Bab 5 Metalurgi Fisik / QM/QPP

5.4 Mikroskopi elektron analitis

5.4 Mikroskopi elektron analitis

5.4 Mikroskopi elektron analitis

5.4 Mikroskopi elektron analitis

Mercedes-Benz Indonesia Bab 5 Metalurgi Fisik / QM/QPP

5.4 Mikroskopi elektron analitis

Mercedes-Benz Indonesia Bab 5 Metalurgi Fisik / QM/QPP

5.4 Mikroskopi elektron analitis

Mercedes-Benz Indonesia Bab 5 Metalurgi Fisik / QM/QPP

5.4 Mikroskopi elektron analitis

Mercedes-Benz Indonesia Bab 5 Metalurgi Fisik / QM/QPP

5.4 Mikroskopi elektron analitis

5.4 Mikroskopi elektron analitis

5.4 Mikroskopi elektron analitis

Figure 5.32 Skema diagramEDX dan EELS pada TEM

Mercedes-Benz Indonesia Bab 5 Metalurgi Fisik / QM/QPP

5.4 Mikroskopi elektron analitis

TEM mutahir menggunakan sistem detektor khusus seperti gbr 5.33

Figure 5.33 Schematic diagram of EDX and EELS pada TEM.

Mercedes-Benz Indonesia Bab 5 Metalurgi Fisik / QM/QPP

5.4 Mikroskopi elektron analitis

Figure 5.34 Skema diagram detektor sinar SiLi X

Mercedes-Benz Indonesia Bab 5 Metalurgi Fisik / QM/QPP

5.4 Mikroskopi elektron analitis

Figure 5.35 EDX spectrum from a stoichiometric NiAl specimen

Mercedes-Benz Indonesia Bab 5 Metalurgi Fisik / QM/QPP

5.4 Mikroskopi elektron analitis

5.5 Pengamatan cacat

Mercedes-Benz Indonesia Bab 5 Metalurgi Fisik / QM/QPP