Spektra: Jurnal Fisika dan Aplikasinya, Vol. XI No.

1Mei 2011

Kaidah difraksi sinar x dalam analisis struktur kristal KBr

Esmar Budia,*
Jurusan Fisika Fakultas Matematika dan Ilmu Pengetahuan Alam Universitas Negeri Jakarta Jl. Pemuda No. 10 Rawamangun Jakarta 13220 * Email: esmarbudi@unj.ac.id
a

Struktur kristal KBr dianalisis dengan menggunakan kaidah difraksi sinar x. Data rujukan spektrum sinar x (Cu) terdifraksi terhadap sudut difraksi dianalisis untuk menentukan struktur kristal melalui penentuan bidang-bidang kristal dan tetapan kisi kristal untuk kemudian dibandingkan dengan data hasil pengukuran. Analisis yang dilakukan juga meliputi pengaruh tegangan anoda pada sumber sinar x terhadap spektrum difraksi yang dihasilkan. Kata kunci: KBr, difraksi sinar x, struktur kristal, bidang kristal, tetapan kisi kristal.

Abstrak

1. Pendahuluan
Kaidah difraksi sinar x sangat penting khususnya dalam penentuan struktur kristal. Kaidah ini digunakan seiring dengan kenyataan bahwa panjang gelombang sinar x berorde sama dengan kisi kristal sehingga kisi kristal berperan sebagai kisi difraksi. Lebih lanjut kaidah difraksi sinar x dapat juga digunakan untuk menentukan ukuran kristal atau butir, fase dan komposisi suatu padatan [1]. Kristal KBr (Kalium Bromida) merupakan padatan ionik penting dari kelompok halida alkali karena bersifat transparan terhadap sinar infra merah sehingga memiliki potensi sebagai bahan dioda dan serat [2]. Padatan kristal seperti KBr memiliki struktur kristal tertentu yang dapat dikenali dengan menggunakan analisis difraksi sinar x. Data hasil pengukuran berupa intensitas sinar terdifraksi terhadap sudut difraksi digunakan untuk menentukan bidang-bidang kristal dan tetapan kisinya menggunakan hukum Bragg untuk kemudian diperoleh bentuk struktur kristalnya. Tujuan dari penulisan ini adalah tinjauan pada kaidah difraksi sinar x untuk menentukan struktur kristal KBr. Pembahasan juga meliputi pengaruh tegangan pada spektrum sinar x terdifraksi. Data hasil pengukuran selanjutnya dibandingkan dengan data rujukan.

dihasilkan.Semakin banyak jumlah elektron, semakin besar intensitas sinar x [3]. Jika sebuah elektron bebas bergerak dipercepat, mampu menerobos suatu atom hingga menumbuk elektron pada kulit terdalam keluar. Karena adanya kekosongan pada kulit terdalam, maka untuk mempertahankan keadaan stabil, elektron terluar akan mengisi kekosongan pada kulit atom terdalam dengan memancarkan gelombang sinar-x seperti yang ditunjukan pada Gambar 1. Menurut teori elektromagnetik, sinar-x juga dapat dihasilkan melalui peristiwa pengereman elektron yang dipercepat yang disebut peristiwa Bremsstrahlung. Pancaran sinar x akibat transisi elektron akan memberikan suatu spektrum karakteristik. Artinya puncak-puncak intensitas spektrum sinar x terbentuk dengan panjang gelombang tertentu.Sedangkankan sinar x yang berasal dari gejala Bremsstrahlung membentuk spektrum yang kontinyu dan rendah. Misal untuk padatan tembaga (Cu) sebagai target pada sumber sinar x, intensitas spektrum sinar x karakteristik (K) yang dihasilkan memiliki panjang gelombang sekitar 1.54 . Sinar-x memiliki daya tembus yang cukup besar dan panjang gelombangnya berorde 10-10 m yang bersesuaian dengan ukuran kisi kristal. Karena itu sinar-x dapat digunakan untuk menganalisis struktur kristal bahan padatan melalui peristiwa difraksi. Peristiwa difraksi sinar x pada kristal padatan dinyatakan dengan persamaan Bragg: 2 = (1)

2. Difraksi sinar x
Radiasi sinar-x dihasilkan saat elektron penembak yang bergerak dipercepat,akibat beda tegangan (potensial) anoda yang tinggi, menumbuk permukaan suatu bahan padat (logam). Semakin cepat gerak elektron, semakin besar sinar-x yang

dengan adalah jarak antar bidang kristal, adalah sudut difraksi, adalah panjang gelombang dan n = 1, 2, 3

35

Spektra: Jurnal Fisika dan Aplikasinya, Vol. XI No.1Mei 2011

(a)
Elektron penembak

(b)
Sinar-X

Gambar 1 (a) Sebuah elektron penembak menumbuk elektron atom pada kulit terdalam hingga keluar; (b) elektron atom kulit terluar mengisi kekosongan dengan memancarkan sinar-x.

Sinar x terdifraksi Sinar x datang

atom kristal

dhkl

Gambar 2 Diagram sinar x datang dan terdifraksi oleh atom-atom kristal

Jarak antar bidang kristal sejajar yang berdekatan merupakan fungsi dari indeks Miller (hkl) dan tetapan kisi (a). Untuk struktur kristal kubus dapat ditulis: =
2 + 2 + 2

(2)

akan menunjukan kumpulan nilai s yang berbeda pula. Untuk struktur kristal sistem kubus nilai kumpulan s yang ditunjukan adalah sbb: Kubus sederhana : 1, 2, 3, 4, 5, 6, 8, 9, 10 Kubus pusat badan (bcc) : 2, 4, 6, 8, 10, 12, 14 Kubus pusat muka (fcc) : 3, 4, 8, 11, 12, 16

Dari persamaan (1) dan (2) dapat diperoleh hubungan sbb:

( 2 + 2 + 2 ) 2

3. Analisis struktur kristal KBr

Setiap senyawa padatan memiliki struktur kristal tertentu yang khas yang dapat ditunjukan oleh puncakpuncal intensitas sinar x terdifraksi pada sudut difraksi oleh suatu kristal seperti yang ditunjukan oleh Gambar 3 untuk kristal KBr pada tegangan anoda U = 25 kV [4].

4 2

(3)

Dengan = (2 + 2 + 2 ). Jika s diketahui maka nilai h, k, l akan diperoleh. Struktur kristal berbeda

36

Spektra: Jurnal Fisika dan Aplikasinya, Vol. XI No.1Mei 2011

Gambar 3 Spektrum sinar x (Cu) terdifraksi oleh kristal KBr pada tegangan U = 25 kV

Tabel 1 Hasil perhitungan analisis struktur kristal KBr menggunakan spektrum sinar x rujukan () 1,39 1,54 1,39 1,54 1,39 1,54 1,39 1,54 1,39 1,54 1,39 1,54 1,39 1,54 1,39 1,54 1,39 1,54 Puncak 1 2 3 4 5 6 1 2 3 4 5 6 1 2 3 4 5 6 (0) 12,4 13,7 25,1 28 39,5 44,7 12,4 13,7 25,1 28 39,5 44,7 12,4 13,7 25,1 28 39,5 44,7 sin2 0,0461 0,0561 0,1799 0,2204 0,4046 0,4948 0,0461 0,0561 0,1799 0,2204 0,4046 0,4948 0,0461 0,0561 0,1799 0,2204 0,4046 0,4948 s 1 2 3 4 5 6 2 4 6 8 10 12 3 4 12 16 27 36 (hkl) (100) (110) (111) (200) (210) (211) (110) (200) (211) (220) (310) (222) (111) (200) (222) (400) (511)(333) (600)(442)
2

0,0461 0,0280 0,0600 0,0551 0,0809 0,0825 0,0231 0,0140 0,0300 0,0276 0,0405 0,0412 0,0154 0,0140 0,0150 0,0138 0,0150 0,0137

4 2

a () 3,24 4,60 2,84 3,28 2,44 2,68 4,58 6,50 4,01 4,64 3,46 3,79 5,61 6,50 5,68 6,56 5,68 6,57

d () 3,2365 3,2512 1,6384 1,6401 1,0926 1,0947 3,2365 3,2512 1,6384 1,6401 1,0926 1,0947 3,2365 3,2512 1,6384 1,6401 1,0926 1,0947

n (orde) 1 1 2 2 3 3 1 1 2 2 3 3 1 1 2 2 3 3

37

Spektra: Jurnal Fisika dan Aplikasinya, Vol. XI No.1Mei 2011

Spektrum sinar x terdifraksi pada gambar 3 digunakan sebagai rujukan. Puncak-puncak intensitas sinar x karakteristik dan dari sumber sinar x dengan target logam tembaga (Cu) yang terdifraksi oleh kristal KBr terjadi pada sudut difraksi sebesar 0 12.40 ( ), 13.70 ( ) untuk orde (n) pertama, 25.1 0 0 ( ), 28.0 ( ) untuk orde kedua, dan 39.5 ( ), 44.70 ( ) untuk orde ketiga. Puncak-puncak intensitas rendah pada 8.20 dan 16.50 merupakan puncak-puncak intensitas Bremsstrahlung. Selanjutnya dilakukan analisis 1 terhadap spektrum rujukan untuk menentukan struktur kristal KBr menggunakan perhitungan yang hasilkan ditunjukan pada tabel 1. Panjang gelombang sinar x karakteristik (Cu) yang digunakan adalah 1.54 ( ) dan 1.39 ( ). Hasil analisis pada tabel 1 menunjukan bahwa struktur kristal KBr bukanlah kubus sederhana dan juga bukan kubus pusat badan (bcc). Hal ini ditunjukan oleh nilai tetapan kisi kristal a hasil perhitungan yang berubah-ubah terhadap perubahan nilai s. Hasil yang sama juga ditunjukan oleh beberapa kombinasi nilai s yang digunakan. Hasil analisis dengan menggunakan kombinasi nilai s untuk struktur fcc(3, 4, 8, 11, 12, 16, ) menunjukan bahwa struktur kristal KBr adalah kubus pusat muka (fcc). Nilai tetapan kisi a yang dihasilkan oleh difraksi sinar x dengan panjang gelombang karakteristik dan adalah berbeda dengan nilai masing-masig ~ 6.5 dan ~ 5.7 . Namun demikian karena intensitas sinar x karakteristik lebih kuat dari , dan umumnya panjang gelombang tunggal (monokromatis) saja yang digunakan untuk analisis struktur kristal, maka hasil perhitungan a (~6.5 ) dengan panjang gelombang akan digunakan pada perhitungan selanjutnya. Dari spektrum karakteristik , bidang-bidang kristal yang muncul adalah (200), (400), (442) dan (600) sedangkan dari spektrum karakteristik bidang-bidang kristal yang muncul adalah (111), (222), (333) dan (511). Hasil ini bersesuaian dengan aturan dimana bidang-

bidang kristal yang muncul pada struktur fcc adalah kumpulan bidang kristal dengan nilai hklgenap saja atau ganjil saja [1]. Nilai n = 1, 2 dan 3 adalah orde difraksi yang menunjukan bahwa beda lintasan difraksi orde 1dari bidang-bidang (200) adalah sebesar satu panjang gelombang sedangkan dari bidang-bidang (400) adalah sebesar dua panjang gelombang dan seterusnya. Hasil analisis pada spektrum sinar x terdifraksi oleh kristal KBr, dengan struktur kristal fcc, (Gambar 3) menunjukan bahwa tidak semua bidang-bidang kristal muncul seperti (220), (311), (331) dan (420). Hal ini disebabkan oleh bentuk sampel kristal KBr yang berupa padatan bulk dan bukan serbuk. Jika kristal KBr berupa sampel serbuk, maka bidang-bidang kristal tersebut akan muncul [5]. Spektrum difraksi sinar x pada kristal KBr hasil pengukuran pada tegangan anoda 10, 15 dan 20 kV ditunjukan oleh gambar 4 berikut [6]. Data analisis intensitas relatif sinar x terdifraksi pada kristal KBr terhadap sudut 2 ditunjukan oleh tabel 2. Hasil analisis dari data hasil pengukuran pada tabel 2 dengan ) menggunakan panjang gelombang ( = 1,54 menunjukan bahwa struktur kristal KBr hasil pengukuran adalah kubus pusat muka (face center cubic = fcc) yang ditunjukan oleh kombinasi nilai sdengan tetapan kisi 6.41 nilai ini hampir bersesuaian dengan hasil anlisis pada spektrum KBr rujukan dengan nilai ( 6.5 ).Bidang-bidang kristal yang muncul dari adalah (200) dan (400) sedangkan dari adalah (111), (222), (511) dan (333). Hasil pengukuran spektrum sinar x terdifraksi menunjukan bahwa perubahan tegangan anoda berpengaruh terhadap puncak intensitas sinar x terdifraksi namun tidak mempengaruhi sudut difraksinya. Semakin tinggi tegangan anoda semakin tinggi puncak intensitas sinar x terdifraksi. Hasil yang sama ditunjukan oleh kristal LiF [4].

38

Spektra: Jurnal Fisika dan Aplikasinya, Vol. XI No.1Mei 2011

Gambar 4 Spektrum difraksi sinar x pada kristal KBr pada tegangan anoda 10, 15, 20 kV [6]dan rujukan pada 25 kV

Tabel 2. Hasil pengukuran dan perhitungan struktur kristal KBr Tegangan (kV) 10 () 1,39 1,54 1,39 1,54 1,39 (0) 12,5 14 25 28,5 39,5 sin2 0,0468 0,0585 0,1786 0,2277 0,4046
2

Puncak 1 2 3 4 5

s 3 4 12 16 27

(hkl) (111) (200) (222) (400) (511)(333)

4 2

a () 5,56 6,37 5,70 6,45 5,68

d () 3,2111 3,1828 1,6445 1,6137 1,0926

n (orde) 1 1 2 2 3

0,0156 0,0146 0,0149 0,0142 0,0150

15

1,39 1,54 1,39 1,54 1,39

1 2 3 4 5

12,5 14 25,5 28,5 39,5

0,0468 0,0585 0,1853 0,2277 0,4046

3 4 12 16 27

(111) (200) (222) (400) (511)(333)

0,0156 0,0146 0,0154 0,0142 0,0150

5,56 6,37 5,59 6,45 5,68

3,2111 3,1828 1,6144 1,6137 1,0926

1 1 2 2 3

20

1,39 1,54 1,39 1,54 1,39

1 2 3 4 5

12,5 14 25,5 28,5 39,5

0,0468 0,0585 0,1853 0,2277 0,4046

3 4 12 16 27

(111) (200) (222) (400) (511)(333)

0,0156 0,0146 0,0154 0,0142 0,0150

5,56 6,37 5,59 6,45 5,68

3,2111 3,1828 1,6144 1,6137 1,0926

1 1 2 2 3

39

Spektra: Jurnal Fisika dan Aplikasinya, Vol. XI No.1Mei 2011

4. Kesimpulan
Kaidah difraksi sinar x mampu digunakan untuk menganalisis struktur kristal suatu padatan dengan menggunakan intensitas sinar x monokromatis terdifraksi pada suatu sampel kristal terhadap sudut difraksinya. Hasil analisis pada kristal KBr menunjukan bahwa struktur kristal KBr adalah kubus pusat muka fcc dengan tetapan kisi 6.41- 6.5 . Peningkatan tegangan anoda akan meningkatkan puncak intensitas sinar x terdifraksi namun tidak merubah sudut difraksinya.

Ucapan Terima Kasih Disampaikan kepada Kalab dan Staf Laboratorium Fisika Modern Jurusan Fisika FMIPA Universitas Negeri Jakarta.

Daftar Pustaka
[1] [2] Cullity, B.D. (1978). Elements of x-ray diffraction, 2nded.New York: Addison Wesley. Wei, F.-W., Zhang, X.-S., Li, L., Xu, J.-P., Zhou, Y.-L., Liu, P. (2011). Infrared Luminescent Properties of a Pr-Doped KBr Submicron Rod.Chinese Physics Letter, Vol. 28, No. 7, pp. 077803. Arthur Beiser. (1995). Concepts of modern physics. 5th ed. New York: McGraw-Hill. Alvensleben, L.V. Phywe experimental literature physics: Characteristic x-ray and Bragg scattering with higher order. LEP 5.4.01 Basar, K., Xianglian, Sakuma, T., Takahashi, H., Igawa, N. (2009). Diffuse neutrn scattering of KBr at room temperatura and its application as background function in rietveld analysis. ITB Journal of Science. Vol. 41, No. 1, pp. 50-58. Yusliha, A.,dkk. (2011). Data percobaan penyerapan sinar x. Jurusan Fisika FMIPA, Universitas Negeri Jakarta.

[3] [4]

[5]

[6]

40