TEKNIK DIAGNOSIS & ALAT-ALAT PENGUJIAN E3005/UNIT 1/1

UNIT 1 : TEKNIK IAGNOSIS

DAN ALAT-ALAT PENGUJIAN
Objektif am : Mengenali alat-alat kelengkapan pengujian.

Objektif khusus : Di akhir unit ini pelajar sepatutnya dapat :

• Mengenal dan mengendali Osiloskop dan Osiloskop Storan.
• Mengenal dan mengendali Meter Pelbagai Analog dan Meter
Pelbagai Berdigit.
• Mengenal dan mengendali Titi RCL.
• Mengenal dan mengendali Penguji Transistor.
• Mengenal dan mengendali Kuar Logic,Klip Logic dan Penyurih
arus.
• Mengenal dan mengendali Penjana Logik,Pendenyut Logik dan
Penganalisis Logik.

1.0 PENGENALAN
Dalam unit ini menerangkan alat-alat kelengkapan yang digunakan dalam pengujian
terhadap peralatan-peralatan elektrik dan elektronik. Di antara alat-alat tersebut adalah
seperti osiloskop, multimeter, penguji transistor, klip logik, penjana logik dan sebagainya.

1.1 OSILOSKOP DAN OSILOSKOP STORAN

Osiloskop adalah alat pengukuran elektronik yang berkeupayaan untuk memaparkan
isyarat di atas screen. Dimana isyarat ini berubah dengan masa (voltan lawan masa). Ini
amatlah berguna kepada seorang juruteknik untuk mengetahui nilai parameter isyarat
tersebut.

1.1.1 Prinsip asas:

• Ia terdiri daripada komponen utama, Tiub Sinar Katod (Cathod Ray Tiub (CRT)). Ia
terdiri daripada beberapa bahagian seperti senapang elektron (electron gun), skrin
fluorescent dan 2 pasang plate pemesongan Harizontal (H) dan Vertical (V).
 TEKNIK DIAGNOSIS & ALAT-ALAT PENGUJIAN E3005/UNIT 1/2

• Apabila voltan diberikan pada horizontal plate, elektron akan bergerak secara
mendatar dan apabila voltan diberikan pada vertical plate, elektron akan bergerak
secara menegak . Dibawah menunjukkan binaan CRT.

Deflection Planes
vertical horizontal
V H Spot
Electron
Beam
Electron
Gun

Fluorescent
screen
Rajah1.1: Binaan asas Tiub Sinar Katod (Cathod Ray Tube)

• Biasanya plate H disambungkan kepada satu isyarat Mata Gergaji (Saw Tooth Signal),
ini menyebabkan elektron akan bergerak dari kiri ke kanan pada paksi X. Plate V pula
disambungkan kepada satu isyarat ujian, ini menyebabkan pergerakkan elektron akan
mengikut plate ini.

• Hasil dari voltan yang dibekalkan pada plate H dan V secara berterusan menyebabkan
ia dapat menghasilkan satu lengkok atau gelombang yang tajam pada skrin menyamai
gelombang ujian.Sebenarnya isyarat yang dipaparkan pada skrin adalah sangat laju
dan mungkin gelombang tersebut tidak dapat dilihat. Jadi penstabilan paparan adalah
diperlukan untuk satu jangka masa yang lama.Untuk itu osiloskop melakukan paparan
ulangan di atas lakaran isyarat yang sama. Jadi sebab itulah, maka isyarat yang
dipaparkan mesti diberi isyarat perkalaan (periodical signal) yang sesuai untuk
paparan yang stabil. Bagi membantu proses ini lebih cekap terdapat satu litar
istimewa iaitu “trigger circuit” untuk memastikan elektron tadi dilakarkan pada skrin
seperti isyarat asal.

1.1.2 Fungsi asas Bahagian Osiloskop

Di bawah menunjukkan gambarajah blok utama sebuah Osiloskop
 TEKNIK DIAGNOSIS & ALAT-ALAT PENGUJIAN E3005/UNIT 1/3

Y - deflection

X - deflection
Y - Amplifier

X - Amplifier
X - deflection

Y - deflection

Trigger Circuit
Voltage/DIV
SAWTOOTH
OSCILLATOR
comparator
Trigger Level

Frequency
Input Time / DIV
Rajah 1.2: Gambarajah blok utama Osiloskop

• VOLTAGE/DIV Knob: Untuk menukarkan skala pembesaran pda penguat (amplifier)

Channel Y dan juga menukarkan skala paksi Y pada skrin.
• TIME/DIV Knob: Untuk menukarkan tempoh masa (skala) ‘saw tooth signal’ yang
menentukan berapa lama elektron bergerak dari kiri ke kanan pada skrin dan
menukarkan skala paksi X pada skrin.
• TRIGGER LEVEL Knob: Menukarkan paras rujukan bagi isyarat ujian untuk
menentukan skala bagi ‘saw tooth signal’

1.1.3 Jenis-Jenis Osiloskop

1.1.3.1 Osiloskop Storan.

Ia berkeupayaan untuk mengingati isyarat ujian melalui ingatan yang ada
padanya. Jadi ia boleh memaparkan isyarat ujian secara jelas tanpa memerlukan
isyarat persekalaan.

1.1.3.2 Multichannel Osiloscope.

Boleh memaparkan 2 atau lebih isyarat ujian dalam satu masa. Ia menggunakan
prinsip ‘multiplexer’. Setiap isyarat dipaparkan satu demi satu oleh senapang
 TEKNIK DIAGNOSIS & ALAT-ALAT PENGUJIAN E3005/UNIT 1/4

elektron tetapi dalam jangka masa yang amat pendek. Jadi ini sudah mencukupi
untuk melihat isyarat ujian tersebut dipaparkan dalam satu jangka masa.

1.1.3.3 Digital Osiloskop.

Ia menggunakan prinsip digital. Isyarat ujian akan ditukarkan kepada digital yang
diproses oleh litar digital (seperti sistem komputer) dan dipaparkan pada skrin. Ia
berkeupayaan untuk membuat pengukuran tambahan dengan ketepatan yang
tinggi dan mudah digunakan.

1.2 MULTIMETER (VOM- Volt, Ohm dan Miliampere)

Berbagai-bagai pengukuran dapat dilakukan oleh MOV, iaitu pengukuran voltan
DC/AC. Pengukuran arus, rintangan, kapasitor, diod dan transistor.

1.2.1 Pengukuran Voltan DC/AC

Pilih skala DC/AC yang sesuai pada MOV. Skala tersebut mestilah lebih besar
daripada nilai voltan yang diukur untuk mengelakkan kerosakan pada MOV.

Rajah 1.3: Pengukuran Voltan DC/AC

1.2.2 Pengukuran Miliampere (arus)
Pilih skala DC mA yang sesuai pada MOV. Nilai skala mestilah lebih besar dari
nilai yang diukur. Potongkan litar yang hendak diukur dan sambungkan MOV
seperti gambarajah di bawah:-
 TEKNIK DIAGNOSIS & ALAT-ALAT PENGUJIAN E3005/UNIT 1/5

Rajah 1.4: Pengukuran Arus ( milliampere)

1.2.3 Pengukuran rintangan
Pilih skala yang sesuai, laraskan MOV pada 0 ohm(tentukurkan). Sambungkan
objek yang hendak diukur seperti di bawah:-

Rajah 1.4: Mengukur rintangan

1.2.4 Menguji Kapasitor
Tidak semua MOV berkeupayaan untuk menguji kapasitor, namun ia masih dapat
dilakukan oleh MOV. Bagi MOV yang mempunyai kemudahan menguji kapasitor
lakukan seperti gambarajah di bawah. Tetapi kapasitor tersebut mestilah discaskan
dahulu sepenuhnya.
TEKNIK DIAGNOSIS & ALAT-ALAT PENGUJIAN E3005/UNIT 1/6

Rajah 1.5: Menguji Kapasitor pada MOV

Bagi MOV yang tidak mempunyai kemudahan ini, pengujian boleh dilakukan
menggunakan kaedah ‘quick and dirty’ seperti berikut. Sambungkan litar seperti
di bawah.

Rajah 1.6: Menguji kapasitor pada MOV secara ‘quick and dirty’

Bagi kapasitor yang dipasang pada litar, potong atau bukakan paterinya pada salah
satu kaki kapasitor tersebut. Matikan bekalan kuasa pada litar tersebut. Semasa
menguji kapasitor tersebut sambungkan MOV seperti litar di atas, dan perhatikan
nilai rintangan. Bagi kapasitor yang baik MOV akan mengecas kapasitor tersebut
dan diakhir ujian nilai rintangan adalah infiniti atau seperti graf di bawah.
Sekiranya kapasitor tersebut rosak seperti di bawah:-

1. Open circuit : R = Infiniti, tetap.

2. Short circuit : R = Sifar, tetap.
 TEKNIK DIAGNOSIS & ALAT-ALAT PENGUJIAN E3005/UNIT 1/7

Rajah 1.7: Graf menguji kapasitor

1.2.5 Menguji Diod
Bagi menguji diod MOV mestilah mempunyai ‘diode check’ atau ‘high-ohm’
skala. Ini kerana MOV tersebut mestilah boleh mengaktifkan diod (forward bios).
Gambarajah di bawah menunjukkan cara pengujian diod forward-bios dan
reverse-bios.

Rajah 1.8: Pengujian diod a) Forward-bios b) Reverse-bios

Setkan MOV pada diod test dan offkan bekalan litar, bagi pengujian forward-bios
keputusan ujian bagi diod adalah seperti berikut:-
 TEKNIK DIAGNOSIS & ALAT-ALAT PENGUJIAN E3005/UNIT 1/8

Diod jenis biasa : 200 hingga 700 ohm

Small-signal diod : 200 ohm
Rectifire diod : 600 ohm
Bagi reverse-bias keputusannya bagi diod yang baik adalah R = Infinite.
Bagi diod yang rosak seperti di bawah keputusannya untuk kedua-dua
ujian adalah seperti di bawah:
Open Circuit : R = Infinite
Short Circuit : R = sifar

1.3 Pengujian Transistor

Suatu transistor dapat diuji sama ada masih berfungi atau tidak dengan
menggunakan meter ohm. Untuk tujuan pengujian ,transistor dianggap sebagai dua diod
yang disambung secara membelakang. Diod mempunyai rintangan kedepan yang kecil
dan ringtangan balikkan yang tinggi. Oleh itu , transistor NPN yang normal akan
menunjukkan sifat rintangan seperti yang di terangkan pada rajah dibawah.
 TEKNIK DIAGNOSIS & ALAT-ALAT PENGUJIAN E3005/UNIT 1/9

Rajah 1.9 : Cara menguji transistor dengan meter ohm.

Jika bacaan meter ohm kedepan dan balikan sangat tinggi bermakna taransistor terbuka,
dan sebaliknya jika bacaan rendah bermakna transistor terpintas. Jika bacaannya sama,
transistor dikira rosak. Biasanya rintangan kedepan mempunyai nilai diantara 300 hingga
700 ohm dan rintangan balikan mempunyai nilai diantara 10 hingga 60 kOhm.

1.3.1 KUAR LOGIK (LOGIC PROBE)

Ia adalah alat pengujian yang diguna untuk menguji paras logik pada litar digital seperti
paras ‘0’, ‘1’ dan rangkaian denyut (pulse). Ia amat berguna pada litar digital. Ia berbeza
daripada MOV dari segi isyarat yang diukur, di mana logik probe berkeupayaan untuk
mengukur isyarat yang mempunyai kadar perubahan yang tinggi.
Penggunaan kuar logik bergantung kepada jenis dan pembuatnya. Kerosakan dapat
dikesan dengan menguji keadaan logik pada tempat-tempat yang diketahui keadaan
logiknya. Sebagai contoh, kuar logik boleh digunakan untuk memeriksa kehadiran denyut
klok pada mikro pemproses.
Semasa membuat pengujian adalah penting untuk memastikan logik probe dibumikan
pada bumi litar yang diuji. Ini untuk mengelakkan kerosakan pada probe logik atau
ketidaktepatan bacaan yang disebabkan gangguan bekalan kuasa.

Di bawah menunjukkan penggunaan 2 jenis logik probe;

a. Logik probe PRB-50

• Logik ‘1’ ditunjukkan oleh ‘HI’ LED
• Logik ’0’ ditunjukkan oleh ‘LO’LED
• Pulse ditunjukkan oleh ‘pulse’ LED
• Sekiranya ‘pulsing’ dan ‘LO’ LED menyala, maka duty cycle logik ‘0’ lebih panjang
dari logik ‘1’.
• Sekiranya ‘pulsing’ dan ‘HI’ LED menyala, maka duty cycle logik ‘1’adalah lebih
panjang dari logik ‘0’.

b. Logik Probe LP-1

• Logik ‘1’ dikesan oleh ‘high’ led
• Logik ‘0’ dikesan oleh ‘low’ led
 TEKNIK DIAGNOSIS & ALAT-ALAT PENGUJIAN E3005/UNIT 1/10

• Pulse dikesan oleh Pulse led

• Sekiranya logik ‘low’ dan pulse ‘blinking’, maka titik tersebut adalah logik ‘0’ dengan
duty cycle pulse adalah < 15%.
• Sekiranya logik ‘high’ dan pulse ‘blinking’, maka titik tersebut adalah logik ‘1’
dengan duty cycle pulse adalah > 85%
• Memory/pulse suis: Untuk memegang pulse.

1.3.2 KLIP LOGIK (MONITOR LOGIK)

Ia digunakan untuk menunjukkan paras logik pada kesemua kaki litar sepadu (IC) secara
serentak. Dengan itu perubahan dikeluaran dan masukan dapat diperhatikan dengan
serentak. Di bawah menunjukkan penggunaan Klip Logik pada IC.

Rajah 1.9: Penggunaan Klip Logik Pada IC

1.3.3 PENYURIH ARUS (CURRENT TRACER)

Ia digunakan untuk mengesan aktiviti arus dalam litar logik. Dengan melaraskan
kepekaan pada penyurih arus, surihan arus dapat dibuat dengan memerhatikan kecerahan
 TEKNIK DIAGNOSIS & ALAT-ALAT PENGUJIAN E3005/UNIT 1/11

pada lampu pada penyurih arus. Di bawah menunjukkan 2 contoh penggunaan penyurih
arus:
a. Stuck wired-end circuit.
Di bawah menunjukkan cara pengujian kerosakan jenis stuck wired-end circuit dengan
menggunakan penyurih arus.

Rajah 1.10: Pengujian kerosakan stuck wired-end circuit

Letakkan penyurih arus pada sebelah ‘pull-up’ perintang dan laraskan sensitiviti penyurih
arus sehingga lampu padanya menyala. Bawakan penyurih arus sepanjang laluan yang
ditunjukkan.Apabila sampai dititik X, maka kecerahan penyurih arus akan
bertambah.Tidak pada titik-titik lain. Ini menunjukkan terdapat kerosakan pada titik ini.

b. Multiple get input problem

Di bawah menunjukkan pengujian kerosakan jenis Multiple get input yang menggunakan
penyurih arus.
 TEKNIK DIAGNOSIS & ALAT-ALAT PENGUJIAN E3005/UNIT 1/12

Rajah 1.11: Pengujian kerosakan jenis ‘multiple get input’.

Dengan membawa penyurih arus seperti laluan pada litar, apabila sampai di titik Z,
penyurih arus akan sama terang pada lampunya, tetapi sepatutnya ia semakin malap. Ini
menunjukkan berlaku litar pintas ke bumi pada titik tersebut.

1.3.4 PENDENYUT LOGIK (LOGIC PULSER

Ia digunakan untuk menyuntik denyut terkawal ke dalam litar logik. Ia menggunakan
denyut atau rangkaian denyut dengan polariti yang diperlukan tanpa memutuskan litar.
Denyut yang dihasilkan mempunyai lebar denyut dan frekuensi yang tetap dan
amplitudnya bergantung kepada bekalan kuasa yang digunakan, oleh itu bagi menyuntik
denyut pada litar logik, logik probe mestilah mengambil punca bekalan yang sama
dengan litar tersebut. Pendenyut berkeupayaan sebagai sumber atau sinki bagi arus yang
tinggi. Ini membolehkan ia mengatasi keadaan logik pada tempat ia diletakkan dan
mengeluarkan denyut yang berlawanan logik. Gambarajah di bawah menunjukkan
bagaimana logik pulser menghasilkan denyut berlawanan dengan logik pada titik ujian.
 TEKNIK DIAGNOSIS & ALAT-ALAT PENGUJIAN E3005/UNIT 1/13

Rajah 1.12: Gambarajah Logik Pulser mengubah logik pada sesuatu titik.

Pendenyut logik biasanya digunakan bersama dengan Logik Probe. Litar di bawah
menunjukkan penggunaan logik pulser dengan logik probe.

Rajah 1.13: Litar contoh penggunaan logik pulser dengan logik probe

Terdapat banyak jenis logik pulser. Contoh yang akan digunakan adalah Digital Pulser
jenis DP-1. Ia mempunyai satu ‘pulse indicator LED’, suis pulse dan ttl/CMOS.
Penggunaannya bergantung kepada jenis litar samada TTL/CMOS, dan tekan suis pulse,
maka LED pulse indicator akan berkelip.

1.3.5 PENGANALISA LOGIK (LOGIC ANALYSER)

Penganalisa Logik digunakan untuk melihat paras logik bagi litar digital pada beberapa
titik (lebih daripada satu) secara serentak. Logik-logik ini boleh dilihat melalui ‘timing
diagram’ atau ‘state diagram’.
Penggunaannya akan dilihat dalam makmal.

1.3.6 PENJANA DENYUT (PULSE GENERATOR)

 TEKNIK DIAGNOSIS & ALAT-ALAT PENGUJIAN E3005/UNIT 1/14

Digunakan untuk menjana denyut yang boleh dikawal parameter pulsenya, bergantung
kepada keperluannya,seperti Delay,width,period,single/double lain-lain lagi. Di bawah
menunjukkan ciri-ciri pulse dan terminologinya.

Rajah 1.14: Terminologi pulse.