Anda di halaman 1dari 15

RATNA DWI SEJATI / M0211063 1.

Prinsip Kerja SEM (Scanning Electron Microscope) Scanning Electron Microscope (SEM) adalah sebuah mikroskop elektron yang didesain untuk mengamati permukaan objek solid secara langsung. SEM memiliki perbesaran 10 3.000.000 kali, depth of field 4 0.4 mm dan resolusi sebesar 1 10 nm. Kombinasi dari perbesaran yang tinggi, depth of field yang besar, resolusi yang baik, kemampuan untuk mengetahui komposisi dan informasi kristalografi membuat SEM banyak digunakan untuk keperluan penelitian dan industri (Prasetyo, 2011). SEM memfokuskan sinar elektron (electron beam) di permukaan obyek dan mengambil gambarnya dengan mendeteksi elektron yang muncul dari permukaan obyek. Prinsip kerja dari SEM adalah sebagai berikut: a. Electron gun menghasilkan electron beam dari filamen. Pada umumnya electron gun yang digunakan adalah tungsten hairpin gun dengan filamen berupa lilitan tungsten yang berfungsi sebagai katoda. Tegangan yang diberikan kepada lilitan mengakibatkan terjadinya pemanasan. Anoda kemudian akan membentuk gaya yang dapat menarik elektron melaju menuju ke anoda. b. Lensa magnetik memfokuskan elektron menuju suatu titik pada permukaan sampel. c. Sinar elektron yang terfokus memindai (scan) keseluruhan sampel dengan diarahkan oleh koil pemindai. d. Ketika elektron mengenai sampel, maka akan terjadi hamburan elektron, baik Secondary Electron (SE) atau Back Scattered Electron (BSE) dari permukaan sampel dan akan dideteksi oleh detektor dan dimunculkan dalam bentuk gambar pada monitor CRT. Secara lengkap skema SEM dijelaskan oleh gambar dibawah ini:

Gambar 1 Elektron memiliki resolusi yang lebih tinggi daripada cahaya. Cahaya hanya mampu mencapai 200nm, sedangkan elektron dapat mencapai resolusi hingga 0,1 0,2 nm. Berikut ini merupakan perbandingan hasil gambar mikroskop cahaya dengan SEM (Material Cerdas, 2009).

Gambar 2 Perbandingan Hasil Mikroskop Cahaya dengan SEM Perbandingan Hasil Mikroskop Cahaya dengan SEM Dengan menggunakan elektron akan didapatkan beberapa jenis pantulannya yang berguna untuk keperluan karakterisasi. Jika elektron mengenai suatu benda maka akan timbul dua jenis pantulan yaitu pantulan elastis dan pantulan non elastis seperti pada gambar dibawah ini (Material Cerdas, 2009). Adapun kelebihan teknik SEM yaitu terdapat sistem vakum pada electron-optical column dan sample chamber yang bertujuan antara lain: Menghilangkan efek pergerakan elektron yang tidak beraturan karena adanya molekul gas pada lingkungan tersebut, yang dapat mengakibatkan penurunan intensitas dan stabilitas. Meminimalisasi gas yang dapat bereaksi dengan sampel atau mengendap pada sampel, baik gas yang berasal dari sampel atau pun mikroskop. Karena apabila hal tersebut terjadi, maka akan menurunkan kontras dan membuat gelap detail pada gambar (Prasetyo, 2011).

Sedangkan kelemahan dari teknik SEM antara lain: Memerlukan kondisi vakum Hanya menganalisa permukaan Resolusi lebih rendah dari TEM Sampel harus bahan yang konduktif, jika tidak konduktor maka perlu dilapis logam seperti emas (Material Cerdas, 2009).

Prasetyo, Y. 2011. Scanning Electron Microscope dan Optical Emission Spectroscope. http:// yudiprasetyo53.wordpress.com/2011/11/07/scanning-electron-microscope-sem-dan-opticalemission-spectroscope-oes/ Tanggal akses 21 Oktober 2013 Material Cerdas. 2009. Teori Dasar Scanning Electron Microscopy. http://materialcerdas.com/ teori-dasar/scanning-electron-microscopy/ Tanggal akses 21 Oktober 2013

2. Prinsip Kerja TEM (Mikroskop transmisi elektron)

Mikroskop transmisi elektron (Transmission electron microscope-TEM)adalah sebuah mikroskop elektron yang cara kerjanya mirip dengan cara kerja proyektor slide, di mana elektron ditembuskan ke dalam obyek pengamatan dan pengamat mengamati hasil tembusannya pada layar. TEM memiliki fungsi untuk analisis morfologi, struktur Kristal, dan komposisi spesimen. TEM menyediakan resolusi lebih tinggi dibandingkan SEM, dan dapat memudahkan analisis ukuran atom (dalam jangkauan nanometer) menggunakan energi berkas electron sekitar 60 sampai 350 keV. TEM cocok untuk menjadi teknik pencitraan material padat pada resolusi atomik. Informasi struktural diperoleh dengan pencitraan resolusi tinggi dan difraksi elektron. Ketika elektron ditumbukkan pada sebuah permukaan material, dari permukaan tersebut akan dipancarkan elektron. Dari pancaran elektron ini bisa diketahui bentuk permukaan zat tersebut, itu merupakan asas kerja dari mikroskop elektron TEM yang banyak dipakai secara luas pada pengembangan material, kedokteran, bioteknologi dsb. Prinsip kerja TEM dimulai dari sumber emisi (pistol elektron) yaitu tungsten filament dan sumber lanthanum hexaboride (LaB6). Dengan menghubungkan pistol ini dengan sumber tegangan tinggi (biasanya ~ 100-300 kV) pistol akan mulai memancarkan elektron baik dengan termionik maupun emisi medan elektron ke sistem vakum. ekstraksi ini biasanya dibantu dengan menggunakan silinder Wehnelt. Interaksi elektron dengan medan magnet akan menyebabkan elektron bergerak sesuai dengan aturan tangan kanan, sehingga memungkinkan elektromagnet untuk memanipulasi berkas elektron. Penggunaan medan magnet akan membentuk sebuah lensa magnetik dengan kekuatan fokus variabel yang baik. Selain itu, medan elektrostatik dapat menyebabkan elektron didefleksikan melalui sudut yang konstan. Dua pasang defleksi yang berlawanan arah dengan intermediete gap akan membentuk arah elektron yang menuju lensa.

Gambar 3. Mikroskop transmisi elektron Stoian, Razvan, Andrew Hill, Tress Hariiman.2006. TEM,SEM, and AFM of polystyrene latex and gold nanoparticles. Submission of journal publication on December, 7 2006.

3. Prnsip Kerja AFM (Atomic Force Microscopy)

Gambar 4 AFM salah satu metoda karakterisasi dari keluarga SPM (Scanning ProbeMicroscopy) bekerja pada bagian permukaan bahan dengan melibatkan interaksi antaraprobe dan permukaan bahan melalui proses fisis tertentu. Interaksi ini kemudian dapatmen-generate citra permukaan bahan pada skala mikroskopik, sehingga susunan partikelpada permukaan bahan dapat terlihat dengan jelas. Berbeda dengan microscopy lainnya,metoda karakterisasi ini hanya melibatkan gaya yang terjadi antara tip dan sampel. Gayayang terjadi bisa berupa gaya tarikan atau dorongan. Setiap gaya akan mengakibatkanpembengkokan tertentu pada bagian cantilever dimana akan terdeteksi oleh berkas laserdan kemudian ditangkap oleh detector yang kemudian akan dicitrakan menjadi sebuahimage yang bernilai.

Gambar 5. Prinsip Kerja AFM AFM bekerja memanfaatkan gaya tarik-menarik dan tolak-menolak yang bekerja antara cantilever dan permukaan sampel pada jarak beberapa nanometer. Persamaan gaya ini dinyatakan dalam persamaan potensial Lennard-Jones. Saat jarak cantilever dan sampel menjauh gaya tarik menarik terjadi sedangkan saat jarak cantilever dan sampel mendekat gaya tolak menolak terjadi. Pada AFM (gambar 5) cantilever bekerja merabaraba(melakukan scanning) terhadap permukaan sampel dengan jarak antara ujung cantilever(Tip) dengan permukaan sampel sambil menjaga jarak antara cantilever dengan permukaan sampel tetap sama. Gaya tarik menarik dan tolak menolak yang terjadi di antaranya menyebabkan perubahan posisi cantilever. Perubahan posisi cantilever selama

meraba-raba permukaan sampel ditangkap dengan laser dan menyebabkan perubahan pantulan laser pada photodiode. Perubahan posisi tangkapan laser pada photodiode ini diolah dengan rangkaian elektronik dan computer untuk kemudian diwujudkan dalam wujud data gambar 3 dimensi pada layar monitor. Selama proses perabaan(scanning), pengaturan jarak antara cantilever dan permukaan sampel dan juga pergerakan sampel diatur secara simultan dan sinergis melalui komunikasi antara rangkaian elektronik dengan computer dengan cantilever dan piezoelektronik (gambar 5). Dengan memanfaatkan gaya ini berbagai macam sampel dapat diamati tidak terbatas hanya pada benda yang bisa menghantarkan listrik saja. AFM juga bisa bekerja pada suhu ruangan dan tekanan udara biasa. Hal ini menyebabkan sampel organic pun bisa diamati dengan AFM. Untuk meningkatkan kemampuan AFM, diameter ujung tip yang sangat kecil sangat diperlukan dan juga frekuensi resonansi cantilever yang tinggi agar sensitifitas terhadap perubahan posisi cantilever meningkat dan AFM bisa bekerja dengan lebih cepat. Metode kerja AFM sendiri ada beberapa macam di antaranya adalah Metode Sentuh Pada metode sentuh, cantilever disentuhkan ke dalam permukaan sampel. Sambil scanning dilakukan, perubahan posisi cantilever akibat gaya tolak menolak antara cantilever dan permukaan sampel diolah dan diwujudkan dalam data gambar 4 dimensi permukaan sampel. Metode Tak sentuh Pada metode tak sentuh, gaya yang bekerja antara cantilever dan permukaan benda diatur agar tidak berubah. Pada awalnya cantilever digetarkan pada frekuensi resonansinya. Sambil scanning dilakukan, perubahan tekstur atau jarak antara cantilever dan permukaan benda menyebabkan terjadinya gaya antara keduanya yang merubah frekuensi resonansinya. Gaya tarik menyebabkan frekuensi resonansi turun. Gaya tolak menyebabkan frekuensi resonansi naik. http://stunecity.wordpress.com/2011/02/04/berkenalan-dengan-spm-scanning-probemicroscope-afm-atomic-force-microscope/

4. Prinsip Kerja STM (Scanning Tunneling Microscope) Scanning Tunneling Microscopy merupakan salah satu alat yang digunakan untuk melihat topografi secara jelas. Prinsip kerja dari sistem STM adalah memanfaatkan arus tunnel yang timbul pada gap antara ujung jarum pengukur (needle tip) dan permukaan sample terukur. Arus tunel yang terjadi adalah arus yang timbul akibat adanya overlapping awan elektron yang dimiliki oleh kedua konduktor yang saling bedekatan bila diberi beda potensial

padanya. Dalam hal ini adalah ujung jarum pengukur dan permukaan sampel terukur. total kerapatan arus dari elektron tunel tidak menjadi nol pada permukaan luas dari sampel, akan tetapi berkurang menurut fungsi eksponensial sampai beberapa Amstrong dari permukaan bagian luar sampel yang sering disebut awan elektron.

Gambar 6. Bagian bagian dari alat Scanning Tunneling Microscopy Prinsip Kerja dari Scanning Tunneling Microscopy (STM) adalah Bila ada dua buah konduktor yang didekatkan satu sama lain pada orde Angstrom, kemudian diberikan beda potensial kepadanya maka akan timbul aliran arus dari suatu konduktor menuju konduktor yang lainnya. Ketika adanya interaksi antara atom-atom tip dengan atom-atom sampel pada gap akan timbul awan awan elektron yang memicu munculnya arus berupa arus tunneling yang dijadikan dasar scanning permukaan sampel sehingga dapat di displaykan dalam bentuk gambar pada computer. Madison. 2007. Scanning Tunneling Microscope. Advanced Laboratory : University of Wisconsin 5. Prinsip Kerja FTIR ( Spektrofotometer Inframerah Transformasi Fourier ) Prinsip kerja spektroskopi FTIR adalah adanya interaksi energi dengan materi. Misalkan dalam suatu percobaan berupa molekul senyawa kompleks yang ditembak dengan energi dari sumber sinar yang akan menyebabkan molekul tersebut mengalami vibrasi. Sumber sinar yang digunakan adalah keramik, yang apabila dialiri arus listrik maka keramik ini dapat memancarkan infrared. Vibrasi dapat terjadi karena energi yang berasal dari sinar infrared tidak cukup kuat untuk menyebabkan terjadinya atomisasi ataupun eksitasi elektron pada molekul senyawa yang ditembak dimana besarnya energi vibrasi tiap atom atau molekul

berbeda tergantung pada atom-atom dan kekuatan ikatan yang menghubungkannya sehingga dihasilkan frekuaensi yang berbeda pula. FTIR interferogramnya menggunakan mecrosem dan letak cerminnya (fixed mirror dan moving mirror) paralel. Spektroskopi inframerah berfokus pada radiasi elektromagnetik pada rentang frekuensi 400 4000 cm-1 di mana cm-1 disebut sebagai wavenumber (1/wavelength) yakni suatu ukuran unit untuk frekuensi. Daerah panjang gelombang yang digunakan pada percobaan ini adalah daerah inframerah pertengahan (4.000 200 cm-1 ).

Gambar 7. FTIR Interaksi antara materi berupa molekul senyawa kompleks dengan energi berupa sinar infrared mengakibatkan molekul-molekul bervibrasi dimana besarnya energi vibrasi tiap komponen molekul berbeda-beda tergantung pada atom-atom dan kekuatan ikatan yang menghubungkannya sehingga akan dihasilkan frekuensi yang berbeda. Analisis menggunakan FTIR dapat digunakan untuk mengetahui sifat termal bahan dari suatu lapisan tipis misalnya. Dari hasil analisis spektrum FTIR didapatkan analisa tentang disosiasi ligan suatu bahan penumbuhan lapisan tipis secara sempurna. Misalkan disosiasi ligan berawal pada temperatur 300o C sampai 400o C. Hasil ini menyarankan nilai besaran temperatur substrat saat penumbuhan dimana lapisan akan tumbuh diawali pada temperatur 300o C sampai temperatur 400o C. FTIR digunakan untuk melakukan analisa kualitatif yaitu untuk mengetahui ikatan kimia yang dapat ditentukan dari spektra vibrasi yang dihasilkan oleh suatu senyawa pada panjang gelombang tertentu. Selain itu digunakan juga untuk analisa kuantitatif yaitu melakukan perhitungan tertentu dengan menggunakan intensitas. Karakterisasi menggunakan FTIR dapat dilakukan dengan menganalisis spektra yang dihasilkan sesuai dengan puncak-puncak yang dibentuk oleh suatu gugus fungsi, karena senyawa tersebut dapat menyerap radiasi elektromagnetik pada daerah inframerah dengan panjang gelombang antara 0.78 1000 m.

Sherly Huria P. Sari ,& Dwi, A. (2012). Fabrikasi dan Karakterisasi Kalsium Silikat Menggunakan Bahan Komersial Kalsium Oksida dan Silika dengan Rekasi Padatan pada Suhu 1000oC. Jurnal Teori dan Aplikasi Fisika. Vol.01,No 01, Januari 2013.

6. Prinsip Kerja Microhardnes Tester Uji kekerasan merupakan salah satu uji yang paling sering dilakukan untuk mengetahui karakteristik mekanik dari suatu material yang berupa kekerasan (hardness). Pengujian kekerasan di bagi menjadi 3 kelompok utama, yaitu Rockwell, Brinell, dan Vickers. Pada pengujian Vickers, beban yang digunakan jauh lebih kecil dibandingkan dengan dua uji lainnya. Hal ini dikarenakan uji vickers menitikberatkan pada kekerasan mikro yang hanya dapat diamati dengan mikroskop. Semakin beesar nilai indeks kekerasan suatu material, maka material semakin keras pula material tersebut. Uji kekerasan Rockwell dilakukan dengan menekankan indentor para permukaan sampel logam dengan gaya tertentu dengan beban minor, kemudian diberi beban mayor dan beban mayor dihilangkan. Setelah gaya tekan dikembalikan ke beban minor, bukan diameter bekas lekukan yang dijadikan dasar untuk nilai kekerasan, melainkan kedalaman beas lekukan. Pada uji kekerasan Brinell, indentor berupa bola baja yang dikeraskan ditekankan pada permukaan sampel logam secara statis (Anonim, Nd). Diameter indentor adalam 10,00 mm dengan beban standar 500 hingga 3000 kg dengan kenaikan sebesar 500 kg setiap 10 sampai 30 detik selama pengujian (Callister, 2007). Setelah gaya tekan dihilangkan dan indentor diambil, diameter bekas lekukan paling atas diukur dan digunakan untuk menghitung kekeasan logam Uji kekerasan Vickers berdasarkan pada penekanan indentor dengan gaya tekan tertentu. Indentor yang digunakan pada uji ini berupa intan berbentuk piramida terbalik dengan ujung yang membentuk sudut 136 dengan permukaan sampel logam (Anonim, Nd). Beban yang digunakan pada pengujian Vickers jauh lebih kecil dibandingkan dengan uji-uji lain, yaitu berkisar antara 1 hingga 1000 gram. Jejak yang dihasilkan dari proses indensi diamati dengan mikroskop dan diukur.

Gambar 8. Microhardnes Teste Dahlan, H. 2000. Pengaruh Variasi Beban Indentor Micro Hardness Tester terhadap Akurasi Data Uji Kekerasan Material. Jurnal URANIA. No 23-24/Thn VI/ Juli Oktober.

EDS (Energy Dispersion X-ray spectroscopy), alat uji kandungan unsur suatu bahan selain menggunakan XRF (X-Ray Fluoroscence) Energy Dispersion X-ray spectroscopy (EDS atau EDX) adalah sebuah teknik analisis yang digunakan untuk menganalisa unsur atau karakterisasi kimia dari sampel. Ini adalah salah satu varian fluoresensi X-ray spektroskopi yang mengandalkan penyelidikan sampel melalui interaksi antara radiasi elektromagnetik dan material. menganalisa sinar-X yang diemisikan oleh material sebagai respon terhadap tumbukan dari partikel bermuatan. Kemampuan karakterisasi berdasarkan pada prinsip dasar bahwa setiap elemen memiliki atom dengan struktur unik memungkinkan sinar X yang merupakan ciri khas dari struktur atom suatu elemen untuk diidentifikasi secara unik dari satu dengan yang lain. BAGIAN-BAGIAN EDXRF relatif sederhana dan murah dibandingkan dengan teknik lain. Alat ini membutuhkan x-ray source, yang pada instrumen laboratorium yang paling adalah 50-60 kV 50-300 tabung sinar-x W Komponen utama kedua adalah detektor, yang harus dirancang untuk menghasilkan charge pulse yang bervariasi dari energi insiden sinar- X Setelah sumber dan detektor, komponen kritis berikutnya adalah filter Tabung sinar-x, yang tersedia di banyak instrumen EDXRF. Fungsinya untuk menyerap transmisi energi beberapa sumber sinar-x lebih dari dalam rangka mengurangi jumlah di wilayah penting ketika menghasilkan puncak yang cocok untuk menarik unsur-unsur penting. target sekunder adalah alternatif untuk filter PERSYARATAN SAMPEL Sampel dengan diameter sampai dengan 8 in (200 mm), dapat dianalisis dalam SEM. Sampel lebih besar, diameternya sampai kira-kira 12 in (300 mm), dapat dimasukkan pada limited stage movement. Sampel harus tinggi paling maksimum sekitar 2 in (50 mm) Sampel juga harus kompatibel dengan suasana vakum ukuran sedang (tekanan dari 2 Torr atau kurang). MEKANISME KERJA Detektor EDS x-ray mengukur emisi abudance relatif sinar-x versus energinya. Untuk merangsang emisi sinar-X karakteristik dari spesimen, sebuah balok energi tinggi partikelpartikel bermuatan seperti elektron atauproton, atau sinar X-ray, difokuskan ke sampel yang sedang dipelajari. EDXRF bergantung pada detektor dan detektor elektronik untuk menghasilkan puncak spektrum karena perbedaan energi x-ray. Detektor biasanya sebuah lithium-drifted silikon, perangkat solid-state. Ketika x-ray menumbuk detektor, sehingga menciptakan sebuah Charge pulse yang sebanding dengan energi sinar-x. Charge Pulse tadi dikonversi menjadi sebuah tegangan (yang tetap proporsional dengan energi X-ray) oleh charge-sensitive preamplifier.

Sinyal tersebut kemudian dikirim ke multichannel analyzer di mana pulse disortir oleh tegangan. Energi, seperti yang ditetapkan dari pengukuran tegangan, untuk setiap tumbukan akan dikirim ke komputer untuk ditampilkan dan dievaluasi datanya lebih lanjut. Energi spektrum sinar x vs jumlah lalu akan dievaluasi untuk menentukan komposisi unsur dari volume sampel. KEGUNAAN EDXRF dapat digunakan untuk berbagai aplikasi yang luar biasa dari analisis unsur. Hal ini dapat digunakan untuk mengukur hampir setiap bentuk elemen dari unsure Na sampai Pu dalam tabel periodik, dalam konsentrasi mulai dari beberapa ppm untuk hampir 100 persen. EDXRF ini dapat digunakan untuk menganalisa komponen utama dalam produk atau proses atau penambahan aditif kecil. Karena hal itu, XRF populer di bidang geologi, instrumen EDXRF sering digunakan bersama instrumen WDXRF untuk mengukur dan kecil komponen utama dalam sampel geologi KEUNGGULAN dan KEKURANGAN Pada bagian ini, yang dibahas adalah kelebihan maupun kekurangan dari EDXRF apabila kita komparasi dengan WDXRF Resolusi ini menggambarkan lebar puncak spektrum. Semakin rendahmlah lebih mudah resolusi garis unsur lain dibedakan dari intensitas garis sinar-x di dekatnya. Keunggulan EDXRF adalah kristal dan optic WDXRF mahal, dan merupakan salah satu mode yang gagal. Namun, dengan resolusi yang rendah, mengakibatkan adanya tumpang tindih pada hasil peak yang mengakibatkan kurag jelasnya hasil pengamatan Spektral overlap, deconvolutions Spektrum diperlukan untuk menentukan intensitas bersih ketika dua garis spektrum tumpang tindih karena resolusi terlalu tinggi bagi mereka untuk diukur secara independen. EDXRF dirancang untuk mendeteksi sekelompok elemen sekaligus. Jenis beberapa metode dekonvolusi harus digunakan untuk mengoreksi spektral tumpang tindih. Tumpang tindih kurang bukan masalah dengan sistem resolusi 150+ eV, tapi sangat signifikan jika dibandingkan dengan WDXRF.Tumpang tindih spektral menjadi lebih bermasalah pada resolusi yang lebih rendah. Background, radiasi dari background adalah salah satu faktor pembatas untuk menentukan batas deteksi, pengulangan, dan reproducibility. Instrumen EDXRF menggunakan filter dan/atau target untuk mengurangi jumlah radiasi kontinum di wilayah interest yang juga tergantung resolusi, sambil menghasilkan intensitas yang lebih tinggi x-ray puncak untuk merangsang unsur interest. WDXRF memiliki keunggulan karena resolusi. Jika puncak adalah sepersepuluh lebar memiliki sepersepuluh latar belakang. EDX counter dengan filter dan target dapat mengurangi intensitas latar belakang dengan faktor sepuluh atau lebih Efisiensi Eksitasi, Biasanya disajikan dalam PPM per hitungan per second (cps) atau unit serupa, ini merupakan faktor utama lainnya untuk menentukan batas deteksi, pengulangan, dan reproducibility. Efisiensi relatif eksitasi perbaikan dengan memiliki sumber sinar-x lebih dekat untuk tetapi di atas tepi penyerapan energi untuk unsur penting.

analisa EDXRF dapat menggunakan filter untuk mengurangi energi kontinum di garis unsur, dan efektif meningkatkan persentasesinar- x di atas sisi penyerapan unsur. Filter juga dapat digunakan untuk memberikan filter fluoresensi tepat di atas garis tepi penyerapan, untuk lebih meningkatkan efisiensi eksitasi. target sekunder menyediakan garis sumber hampir monokromatik yang dapat dioptimalkan untuk unsur kepentingan untuk mencapai efisiensi yang optimal eksitasi. Efisiensi Source, Bagaimana efisiensi sumber sinar-x dimanfaatkan menentukan berapa besar daya yang dibutuhkan untuk membuat sistem bekerja secara optimal. Biaya listrik yang lebih tinggi lebih banyak uang. Dengan sistem eksitasi langsung EDX menghindari pembuangan intensitas x-ray. Bila filter digunakan 3 sampai 10 kali lebih banyak energi diperlukan, dan ketika target sekunder digunakan 100 kali lebih banyak energi diperlukan membuat sama total anggaran energi antara sasaran Seconday EDXRF dan sistem WDXRF sebelum panjang jalan dianggap. Suatu sistem EDX biasanya memiliki sampel untuk panjang jalan detektor kurang dari 1 cm

Apa itu XRF ? XRF (X-ray fluorescence)

XRF (X-ray fluorescence spectrometry) merupakan teknik analisa non-destruktif yang digunakan untuk identifikasi serta penentuan konsentrasi elemen yang ada pada padatan, bubuk ataupun sample cair. XRF mampu mengukur elemen dari berilium (Be) hingga Uranium pada level trace element, bahkan dibawah level ppm. Secara umum, XRF spektrometer mengukur panjang gelombang komponen material secara individu dari emisi flourosensi yang dihasilkan sampel saat diradiasi dengan sinar-X (PANalytical, 2009).

Pembagian panjang gelombang Metode XRF secara luas digunakan untuk menentukan komposisi unsur suatu material. Karena metode ini cepat dan tidak merusak sampel, metode ini dipilih untuk aplikasi di lapangan dan industri untuk kontrol material. Tergantung pada penggunaannya, XRF dapat dihasilkan tidak hanya oleh sinar-X tetapi juga sumber eksitasi primer yang lain seperti partikel alfa, proton atau sumber elektron dengan energi yang tinggi (Viklund,2008). Apabila terjadi eksitasi sinar-X primer yang berasal dari tabung X ray atau sumber radioaktif mengenai sampel, sinar-X dapat diabsorpsi atau dihamburkan oleh material. Proses dimana sinar-X diabsorpsi oleh atom dengan mentransfer energinya pada elektron yang terdapat pada kulit yang lebih dalam disebut efek fotolistrik. Selama proses ini, bila sinar-X primer memiliki cukup energi, elektron pindah dari kulit yang di dalam menimbulkan kekosongan. Kekosongan ini menghasilkan keadaan atom yang tidak stabil. Apabila atom kembali pada keadaan stabil, elektron dari kulit luar pindah ke kulit yang lebih dalam dan proses ini menghasilkan energi sinar-X yang tertentu dan berbeda antara dua energi ikatan pada kulit tersebut. Emisi sinar-X dihasilkan dari proses yang disebut X Ray Fluorescence (XRF). Proses deteksi dan analisa emisi sinar-X disebut analisa XRF. Pada umumnya kulit K dan L terlibat pada deteksi XRF. Sehingga sering terdapat istilah K dan K serta L dan L pada XRF. Jenis spektrum X ray dari sampel yang diradiasi akan menggambarkan puncak-puncak pada intensitas yang berbeda (Viklund,2008). Beberapa sample yang dapat dianalisis dengan menggunakan XRF yaitu : a. Sample serbuk 100 mesh b. Sample cair yang homogen

Tipe sample yang diperoleh dari lingkungan seperti minyak dan air Tidak membutuhkan preparasi yang rumit c. Sample padatan dengan batas maximum tinggi 2.5 cm dan diameter 2.5 cm Logam, plastic dan kaca atau keramik Pelapisan permukaan akan mempengaruhi komposisi kimia yang terbaca Ukuran partikel tidak menjadi persoalan Permukaan harus homogeny d. Presed Powder Tipe sample yang dapat dibentuk press powder seperti batuan, semen, lumpur, alumina, fly ash dan lain-lain Agen pengikat seperti lilin atau selulosa dapat digunakan untuk memperkuat sample e. Serbuk dipress membentuk tabletvpadat menggunakan hydraulic press Fused Beads Tipe sample yang termasuk dipreparasi seperti fused bead adalah batuan, semen, bijih besi dan lain-lain Sample dicmpur dengan flux. Digesti fluxing selalu penting bila dibutuhkan presisi yang tinggi dan borat Spectromelt dapat digunakan untuk proses ini Sample dan flux dipanaskan pada suhu 1000 oC Permukaan harus homogen

Keunggulan XRF : 1. Mudah digunakan dan Sample dapat berupa padat, bubuk (butiran) dan cairan 2. Tidak merusak sample (Non Destructive Test), sample utuh dan analisa dapat dilakukan berulang-ulang 3. Banyak unsur dapat dianalisa sekaligus (Na- U) 4. Konsentrasi dari ppm hingga 100% 5. Hasil keluar dalam beberapa detik (hingga beberapa menit, tergantung aplikasi) 6. Menjadi metoda analisa unsur standar dengan banyaknya metoda analisa ISO dan ASTM yang mengacu pada analisa XRF Kelemahan dari metode XRF : 7. Tidak dapat mengetahui senyawa apa yang dibentuk oleh unsur-unsur yang terkandung dalam material yang akan kita teliti.

PANalytical B.V., 2009, X-ray Fluorescence Spectrometry, http://www.panalytical.com/index.cfm?pid=130, dakses tanggal 21 Oktober 2013

(Online),

Viklund, A.,2008, Teknik Pemeriksaan Material Menggunakan XRF, XRD dan SEM-EDS, (Online), http://labinfo.wordpress.com/, diakses tanggal 21 Oktober 2013