La fotoelasticidad se basa en la propiedad de birrefringencia que presenta ciertos materiales

transparentes y elsticos, cuando se someten a un estado tensional al paso de luz polarizada. Asi,
para estudiar una estructura mediante fotoelasticidad, se hace un modelo a escala de la misma
con dicho material, se le aplica un estado de cargas proporcional al original, y el estado tensional
se deduce del anlisis de las lneas que aparecen sobre el modelo, que se puede extrapolar a la
estructura original mediante las correspondientes formulas ptico-tensionales y de semejanza.
Por su complejidad, el mtodo fotoelastico normalmente se limita al anlisis experimental de
modelos sometidos a un estado tensional elstico plano, es decir en solidos en los que existe un
plano director cuyo estado tensional se repite en todos los planos paralelos a el. En estos casos,
una de las direcciones principales rea perpendicular al plano director y las otras dos estarn
contenidas en el mismo, siento las tres perpendiculares entre s.
En la vida real, el fallo de los materiales por sobreesfuerzo es algo tan frecuente como
econmicamente indeseable. Este mtodo permite identificar, entre otras cosas, las zonas de
mxima y minima tensin, la orientacin de las direcciones principales en cada punto, o los puntos
del borde libre del modelo sometidos a traccin o compresin, lo que permite dimensionar
adecuadamente la estructura objeto de estudio.
http://books.google.com.mx/books?id=mQaEIAL5z6MC&pg=PA57&dq=fotoelasticidad&hl=es&sa=
X&ei=E-AHVP6tNZDHgwTywIKwCw&ved=0CBoQ6AEwAA#v=onepage&q=fotoelasticidad&f=false

http://books.google.com.mx/books?id=OPUXb1L2cZUC&pg=PA159&dq=extensometria&hl=es&sa
=X&ei=HukHVIa5F9DzgwTli4KQAw&ved=0CCEQ6AEwAQ#v=onepage&q=extensometria&f=false
http://books.google.com.mx/books?id=mQaEIAL5z6MC&pg=PA5&dq=extensometria&hl=es&sa=X
&ei=HukHVIa5F9DzgwTli4KQAw&ved=0CDAQ6AEwBA#v=onepage&q=extensometria&f=false