TUGAS MATA KULIAH NANOTEKNOLOGI MMF420801

KARAKTERISASI NANOSTRUKTUR MATERIAL DENGAN

XRD (X-RAY DIFFRACTION)

KELOMPOK 1
Candra Listanto (0606074685)
Andra Herdiaz (0706268272)
Achmad Zulfikar Fajar (0806331380)
Achsanul Rizqi (0806331393)

DEPARTEMEN METALURGI DAN MATERIAL

FAKULTAS TEKNIK UNIVERSITAS INDONESIA

KARAKTERISASI NANOSTRUKTUR MATERIAL DENGAN

XRD (X-RAY DIFFRACTION)

1. PENGANTAR
1.1 Kristalinitas Suatu Material
Kristalinitas suatu material didefinisikan sebagai susunan atom dalam material yang
memperlihatkan keteraturan dalam orde yang panjang maupun orde yang pendek.
Material padat (solid) yang memiliki susunan atom kristalin dengan orde yang panjang
dinamakan padatan kristalin, sedangkan material padat yang memiliki susunan atom
acak / random dinamakan material padatan amorf.

Gambar 1. Suatu Unit Sel pada Material Kristalin

Gambar diatas dinamakan Unit Sel. Definisinya adalah suatu satuan sel yang tersusun
atas atom yang memiliki konfigurasi tertentu dan masing-masing tersusun dengan pola
yang reguler . Susunan atom kristalin akan membentuk suatu bidang atom yang dapat
diamati pada gambar diatas terlihat bidang bewarna biru menandakan bidang atom
dengan indeks kristalografi yang sama. Indeks kristalografi pada ilmu material dinamakan
Index Miller. Dari bidang-bidang yang diketahui ada pada suatu susunan atom, dapat
diketahui jarak antara bidang atom yang biasa dinamakan interplanar spacing ( jarak
antar bidang ). [1]

2. PRINSIP KERJA DAN SKEMA ALAT

2.1

Pengertian Sinar X
Sinar X ditemukan pertama kali oleh Wilhelm Conrad Rontgen pada tahun 1895.

Karena asalnya tidak diketahui waktu itu maka disebut sinar-X. Sinar X digunakan untuk
tujuan pemeriksaan yang tidak merusak pada materialmaupun manusia. Disamping
itu, sinar X dapat juga digunakan untuk menghasilkan pola difraksi tertentu yang
dapat digunakan dalam analisis kualitatif dan kuantitatif material. Pada waktu suatu
material dikenai sinar X, maka intensitas sinar yang ditransmisikan lebih rendah
dari intensitas sinar datang. Hal ini disebabkan adanya penyerapan oleh material
dan juga penghamburan oleh atom-atom dalam material tersebut.Berkas sinar X
yang dihamburkan tersebut ada yang saling menghilangkan karena fasanya berbeda
dan ada juga yang saling menguatkan karena fasanya sama. Berkas sinar X yang
saling menguatkan itulah yang disebut sebagai berkas difraksi.[2]

Gambar 2. Mesin XRD

Hukum Bragg merupakan perumusan matematika tentang persyaratan yang harus

dipenuhi agar berkas sinar X yang dihamburkan tersebut merupakan berkas difraksi.
Sinar X dihasilkan dari tumbukan antara elektron kecepatan tinggi dengan logam
target. Dari prinsip dasar ini, maka dibuatlah berbagai jenis alat yang memanfaatkan
prinsip dari Hukum Bragg ini.
XRD atau X-Ray Diffraction merupakan salah satu alat yang memanfaatkan
prinsip tersebut dengan menggunakan metoda karakterisasi material yang paling tua
dan paling sering digunakan hingga sekarang. Teknik ini digunakan untuk
mengidentifikasi fasa kristalin dalam material dengan cara menentukan

parameter

struktur kisi serta untuk mendapatkan ukuran partikel.

Spektroskopi difraksi sinar X (X-ray difraction/XRD) merupakan salah satu
metoda karakterisasi material yang paling tua dan paling sering digunakan hingga

sekarang. Teknik ini digunakan untuk mengidentifikasi fasa kristalin dalam material
dengan cara menentukan parameter struktur kisi serta untuk mendapatkan ukuran
partikel . Difraksi sinar X terjadi pada hamburan elastis foton-foton sinar X oleh
atom dalam sebuah kisi periodik. Hamburan monokromatis sinar X dalam fasa
tersebut memberikan interferensi yang konstruktif. Dasar dari penggunaan difraksi
sinar X untuk mempelajari kisi kristal adalah berdasarkan persamaan Bragg :

n. = 2.d.sin ; n = 1,2,...
Dengan adalah panjang gelombang sinar-X yang digunakan, d adalah jarak
antara dua bidang kisi, adalah sudut antara sinar datang dengan bidang normal,
dan n adalah bilangan bulat yang disebut sebagai orde pembiasan.
Berdasarkan persamaan Bragg, jika seberkas sinar-X di jatuhkan pada sampel
kristal, maka bidang kristal itu akan membiaskan sinar-X yang memiliki panjang
gelombang sama dengan jarak antar kisi dalam kristal tersebut. Sinar yang dibiaskan
akan ditangkap oleh detektor kemudian diterjemahkan sebagai sebuah puncak difraksi.
Makin banyak bidang kristal yang terdapat dalam sampel, makin kuat intensitas pembiasan
yang dihasilkannya. Tiap puncak yang muncul pada pola XRD mewakili satu bidang
kristal yang memiliki orientasi tertentu dalam sumbu tiga dimensi. Puncak-puncak yang
didapatkan dari data pengukuran ini kemudian dicocokkan dengan standar difraksi sinarX untuk hampir semua jenis material. Standar ini disebut JCPDS.
Keuntungan utama penggunaan sinar X dalam karakterisasi material adalah kemampuan
penetrasinya, sebab sinar X memiliki energi sangat tinggi akibat panjang gelombangnya
yang pendek. Sinar X adalah gelombang elektromagnetik dengan panjang gelombang
0,5-2,0 mikron. Sinar ini dihasilkan dari penembakan logam dengan elektron berenergi
tinggi. Elektron itu mengalami perlambatan

saat

menyebabkan

logam

elektron

pada

kulit atom

masuk

ke

tersebut

dalam
terpental

logam

dan

membentuk

kekosongan. Elektron dengan energi yang lebih tinggi masuk ke tempat kosong dengan
memancarkan kelebihan energinya sebagai foton sinar X.[2]

2.2Tabung sinar-X
Pada umumnya, sinar diciptakan dengan percepatan arus listrik, atau setara dengan
transisi kuantum partikel dari satu energi state ke lainnya. Contoh : radio ( electron

berosilasi di antenna) , lampu merkuri (transisi antara atom) Ketika sebuah elektron
menabrak anoda :
1. Menabrak atom dengan

kecepatan

perlahan,

dan

menciptakan

radiasi

bremstrahlung atau panjang gelombang kontinyu

2. Secara langsung menabrak atom dan menyebabkan terjadinya transisi
menghasilkan panjang gelombang garis
Sinar X dihasilkan dari tumbukan antara elektron kecepatan tinggi dengan logam target.
Dari prinsip dasar ini, maka alat untuk menghasilkan sinar X harus terdiri dari beberapa
komponen utama, yaitu :
a. Sumber elektron (katoda)
b. Tegangan tinggi untuk mempercepat elektron
c. Logam target (anoda)
Ketiga komponen tersebut merupakan komponen utama suatu tabung sinar X.
Skema tabung sinar X dapat dilihat pada gambar.

Gambar 3. Penampang suatu Tabung Sinar X

Sinar-X dihasilkan di suatu tabung sinar katode dengan pemanasan kawat pijar
untuk menghasilkan elektron-elektron, kemudian electron-elektron tersebut dipercepat
terhadap suatu target dengan memberikan suatu voltase, dan menembak target
dengan elektron. Ketika elektron-elektron mempunyai energi yang cukup untuk
mengeluarkan

elektron-elektron

dalam

target,

karakteristik spektrum

sinar-X

dihasilkan. Spektrum ini terdiri atas beberapa komponen-komponen, yang paling

umum adalah K dan K. Ka berisi, pada sebagian, dari K1 dan K2. K1 mempunyai
panjang gelombang sedikit lebih pendek dan dua kali lebih intensitas dari K2.
Panjang gelombang yang spesifik merupakan karakteristik dari bahan target (Cu, Fe,
Mo, Cr). Disaring, oleh kertas perak atau kristal monochrometers, yang akan
menghasilkan sinar-X monokromatik yang diperlukan untuk difraksi. [3]
Tembaga adalah bahan sasaran yang paling umum untuk diffraction kristal
tunggal, dengan radiasi Cu K =05418. Sinar-X ini bersifat collimated dan

mengarahkan ke sampel. Saat sampel dan detektor diputar, intensitas Sinar X pantul itu
direkam. Ketika geometri dari peristiwa sinar-X tersebut memenuhi persamaan
Bragg, interferens konstruktif terjadi dan suatu puncak di dalam intensitas terjadi.
Detektor akan merekam dan memproses isyarat penyinaran ini dan mengkonversi
isyarat itu menjadi suatu arus yang akan dikeluarkan pada printer atau layar komputer.
2.3

Prosedur Difraksi Sinar X

Percobaan dengan menggunakan difraksi sinar X kebanyakan terbatas pada zat

padat saja. Hasil yang paling baik akan diperoleh apabila digunakan satu kristal
tunggal.

Tetapi,

percobaan

difraksi

sinar

ini

dapat

pula

dilakukan

dengan

menggunakan padatan dalam bentuk serbuk yang sebenarnya terdiri dari kristalkristal yang sangat kecil. Atau dapat juga menggunakan padatan dalam bentuk
kumparan

yang

biasa

digunakan

untuk

menentukan

struktur

molekul

yang

mempunyai ukuran yang sangat besar, seperti DNA, protein, dan sebagainya.Alat yang
digunakan

untuk

mengukur

dan

mempelajari

difraksi

sinar

X dinamakan

Goniometer.

Gambar 4. Skematis Difraksi pada XRD

Pada metoda kristal tunggal, sebuah kristal yang berkualitas baik diletakkan
sedemikian rupa sehingga dapat berotasi pada salah satu sumbu kristalnya. Ketika
kristal itu diputar pada salah satu sumbu putar,seberkas sinar X monokromatik
dipancarkan ke arah kristal. Ketika kristal berputar, perangkat-perangkat bidang
yang ada dalam kristal berurutan akan memantulkan berkas sinar X. berkas sinar X
yang dipantulkan ini kemudian direkam pada sebuah piringan fotografik. Jika yang
digunakan

piringan

datar, akan diperoleh suatu pola seperti terlihan pada gambar

dibawah ini. tetapi apabila yang digunakan adalah film fotografik yang lengkung
berbentuk silinder dengan kristal yang diuji terletak ditengah silinder, maka akan

diperoleh suatu deretan spot yang berbentuk garis lurus sehingga pengukuran akan
menjadi semakin mudah.[3]

Gambar 5. Metode Kristal Tunggal pada XRD

Masalah

utama

dalam

metoda

difraksi

sinar

ini

adalah

bagaimana

menghubungkan pola spot yang diperoleh dengan posisi ion atau atom dalam unit sel.
Memang dari jarak antar spot, kita dapat mengetahui dimensi unit sel, tetapi letak
atom atau ion dalan unit sel sangat sulit ditentukan . Salah satu cara untuk
mengatasi hal diatas adalah dengan jalan mula-mula kita menduga struktur molekul
dan kemudian memperkirakan difraksi sinar X yang mungkin diperoleh.
Difraksi sinar X yang kita perkirakan kemudian kita bandingkan dengan hasil
percobaan. Adanya perbedaan antara pola difraksi hasil perkiraan dan hasil
percobaan menunjukkan struktur molekul yang kita perkirakan masih salah dengan
membandingkan kedua pola difraksi, kita dapat membuat perbaikan-perbaikan
sehingga hasilnya diperoleh struktur molekul yang tepat, tetapi dalam beberapa
kasus, misalnya apabila jumlah atom dalam unit sel sangat banyak, metode diatas
menjadi tidak parktis lagi. Dalam kasus seperti ini biasanya posisi atom atau ion
ditentukan berdasarkan intensitas relatif dari spot yang diasilkan.
Ketika sinar X menumbuk kristal, sebenarnya elektron yang terdapat di
sekeliling atom atau ionlah yang menyebabkan terjadinya pemantulan. Makin
banyak jumlah elektron yang terdapat disekeliling atom pada suatu bidang, makin besar
intensitas

pemantuklan

yang

disebabkan

oleh

bidang

tersebut

dan

akan

mengakibatkan makin jelasnya spot yang terekam dalam film. Dengan menggunakan
metode sintesis fourier, kita dapat menghubungkan intensitas spot dengan kepekatan
distribusi elektron dalam unit sel. Dengan mengamati kepekatan dalam unit sel, kita

dapat menduga letak atom dalam unit sel tersebut. Atom akan terletak pada daerahdaerah yang mempunyai kepekatan distribusi elektron maksimum.

3 APLIKASI DALAM MENGKARAKTERISASI NANOMATERIAL

Salah satu aplikasi dari karakterisasi menggunakan XRD pada pembahasan kali ini
adalah karakterisasi nanopowder tembaga (copper nanopowder).[6] Untuk mendapatkan
atom tembaga dalam ukuran nanometer, pertama-tama dilakukan pendeposisian lapisan
tipis tembaga melalui proses elektolisis. Elektrolisis dilakukan dengan mengalirkan arus
listrik sebesar 1,5 Ampere kedalam larutan tembaga sulfat melalui anoda dan katoda
sebagaimana terlihat pada gambar dibawah ini.

Gambar 6. Sel Elektrolit

Setelah beberapa saat, sejumlah tembaga akan terdeposisi pada katoda. Lapisan
tembaga tersebut kemudian dipisahkan dari katoda sehingga didapatlah tembaga serbuk
skala nanometer (copper nanopowder). Nanopowder ini lalu langsung dilakukan
karakterisasi XRD dengan menggunakan teknik powder XRD.

Gambar 7. Alat X-Ray Diffraction

Powder XRD merupakan salah satu teknik yang sangat penting dalam karakterisasi
material berbentuk padatan atau serbuk untuk menganalisis sifat kristalografis dari unsur
yang diamati. Teknik ini sangat bermanfaat dalam menentukan identifikasi fasa secara
kualitatif maupun fraksi fasa dan parameter kisi secara kuantitatif.

4 INTERPRETASI DAN ANALISIS DATA YANG DIPEROLEH DARI

PENGUJIAN.
Hasil dari karakterisasi XRD ditampilkan dalam bentuk grafik 2-D dimana sumbu-x
adalah nilai 2 sedangkan sumbu-y adalah besar intensitas sinar X. Berikut ini adalah grafik
hasil karakterisasi nanopowder tembaga yang diamati :

Dari hasil diatas dapat dilakukan beberapa analisis seperti peak indexing, crystallite
size measurement, dan d-space calculation. Ketiga hal ini akan dibahas lebih mendetail pada
bagian berikut ini.
1) Peak Indexing
Peax indexing adalah proses pemberian indeks kristalografis dari peak-peak
yang muncul pada hasil XRD untuk menentukan unit cell dari material yang diamati.
Indeks kristalografis yang digunakan adalah indeks miller (h k l) pada masing-masing
peak.
Analisis XRD nanopowder tembaga dilakukan dengan parameter kerja sebagai
berikut : Goniometer ultima theta-theta gonio, 40kV/30mA, X-ray, 2 - -fixed
monochromator. Data diambil dalam rentang 2 antara 10

80

. tabel berikut

menunjukkan sudut 2 pada tiga puncak pertama grafik XRD yang diamati :

Dengan melakukan kalkulasi seperti pada tabel diatas, maka sesudah hal tersebut
dilakukan, langkah berikutnya adalah membandingkan data peak position yang
didapat dengan data yang tercantum dalam database yakni JCPDS, copper file no.040836. Tabel berikut membandingkan data hasil eksperimen dengan database.

2) Perhitungan ukuran kristalit

Adalah proses menghitung besar ukuran kristalit nanopowder tembaga dengan
menggunakan rumus Scherrer Equation

Dimana D= ukuran kristalit, = panjang gelombang sinar X (0,154 nm), =

FWHM (full width half maximum) dan = sudut difraksi. Menggunakan rumus diatas,
maka dapat ditentukan besar kristalit nanopowder tembaga dengan hasilnya sebagai
berikut

Terlihat bahwa dari tiga peak position pertama hasil XRD, didapat ukuran
kristalit nanopowder tembaga rata-rata kurang dari 30 nm.
3) Perhitungan d-spacing
D-spacing adalah besar jarak interplanar antar kisi. Jarak ini dapat dihitung
menggunakan hukum Bragg yakni

Tabel dibawah ini menampilkan hasil perhitungan ketiga hal diatas serta
memperlihatkan hasil perhitungan kuantitatif nanopowder tembaga secara umum.

5 KESIMPULAN

Manfaat karakterisasi XRD adalah sebagai berikut :

1. Identifikasi fasa, solid solutions, dan penentuan parameter dari unit cell suatu material
2. Menentukan kristalinitas material berdasarkan intensitas sinar-X, apakah itu narrow
peaks atau broad peaks
3. Penentuan orientasi bidang tertentu pada material
4. Menentukan besar ukuran partikel.
Kegunaan dan aplikasi XRD:
1.
2.
3.
4.
5.
6.

Membedakan antara material yang bersifat kristal dengan amorf

Membedakan antara material yang bersifat kristal dengan amorf.
Mengukur macam-macam keacakan dan penyimpangan kristal.
Karakterisasi material kristal
Identifikasi mineral-mineral yang berbutir halus seperti tanah liat
Penentuan dimensi-dimensi sel satuan

Dengan teknik-teknik yang khusus, XRD dapat digunakan untuk:

1. Menentukan struktur kristal dengan menggunakan Rietveld refinement
2. Analisis kuantitatif dari mineral
3. Karakteristik sampel film

6 DAFTAR ACUAN
[1]

Slide Kuliah Karakterisasi Material 2, Nofrijon Sofyan. Departemen Metalurgi dan

Material FTUI

[2]

Callister, Materials Science and Engineering - An Introduction 7e. Wiley, 2007.

[3]

Tugas kimia fisika Universitas Negeri Sebelas Maret Surakarta

[4]

Slide Power Point X-Ray Diffrection (XRD) Principle & Braggs Law. Prof. Jacob
Zabicky

[5]

http://labinfo.wordpress.com/2008/05/14/teknik-pemeriksaan-material-menggunakanxrf-xrd-dan-sem-eds/

[6]

T.theivasanthi dan M. Alagar. Xray diffraction studies of copper nanopowder, India