Nama : Bagus Taufiq A

Nim : M0311016
SOAL UJIAN KOMPETENSI DASAR IV_REMIDI
KARAKTERISTIK MIKROSKOPI
(Molecular microscopy)
Pengampu: Fitria Rahmawati

hari/tgl : Kamis, 10 Juli 2014

Sifat

waktu : 100 menit

1.
2.

: buku terbuka

Sebutkan jenis elektron yang akan dideteksi oleh 3 macam detektor-detektor SEM. Jelaskan
masing-masing. Elektron beam jenis apa yang akan dideteksi oleh EDS detektor?
Perhatikan pola difraksi EDS di Gambar 1. Jelaskan masing -masing pergerakan elektron yang
menghasilkan puncak-puncak elemen tersebut!

(Rahmawati et al., 2012)

Jawaban
2. Pada pola difraksi di atas menunjukkan bahwa tiap logam akan berpidah untuk mengisi
kekosongan pada kulit L dari kulit M sebagai contoh pada logam TiLa, CaLa, YLa dan
ZrLa mengalami pergerakan dari kulit M ke kulit L sementara itu pada logam SiKa dan
TiKa akan mengalami perpindahan electron dari kulit L ke kulit K. Transisi energy yang
berada pada tabel menunjukkan energy yang di perlukan untuk memindahkan electron ke
kulit yang lain. Puncak dari logam menunjukkan banyaknya kandungan logam pada
gambar yang di fokuskan.
1. Jenis-jenis electron :
a. Backscaettered electron merupakan jenis electron yang mampu di deteksi oleh
backscaterred detector di mana detector ini mendeteksi electron yang kembali setelah
menumbuk sampel.dan menampilkan struktur mikro sampel.
b. Secondary electron :
Secondary electron di deteksi oleh secondary detector. Secondary electron merupakan
electron yang tertumbuk oleh sampel karena gun electron (electron keluar yang berasal dari
permukaan sampel)
c. Auger electron :
Auger electron merupakan electron yang teremisi oleh suatu energy dari karakteristik suatu
atom. Dan berada pada kulit terluar dari hole yang bertujuan untuk menstabikan energy.
Electron ini di deteksi oleh EDS detector.