HISTORIA
Por cambios o
extensiones
Fuerzas armadas
Procedimientos de
Inspeccin por
muestreo Estndar
Fuerzas
armadas
Tablas
y procedimientos
Mltiples
Doble
Manual de
la Marina
Planes de
muestreo
Simple
JA
N
-S
TD
-1
05
Especificaciones
generales para
inspeccin de
materiales
Despus de la unificacin
de las Fuerzas Armadas y
la Marina, las tablas fueron
adoptadas por el
Departamento de Defensa
en Febrero de 1949 como:
LLEGADA DE LA MIL-STD-105
JAN-STD105
Fue
remplazada
por
MIL-STD105A
1950.
Hubieron
revisiones
menores:
MIL-STD105B
1958
MIL-STD105C
1961.
MIL-STD105D
En abril
de 1963
MIL-STD-105D .Es
uno de una clase de
sistemas de muestreo
A) Proteger al
consumidor de
aceptar lotes pobres
Un sistema de muestreo,
es una coleccin de planes
de muestreo junto con
reglas para su operacin
y sus propsitos son:
B) Proteger al
productor de que
le rechacen lotes
buenos
C) Animar al
productor a aplicar
buena calidad.
CLASIFICACIN DE DEFECTOS
Los defectos se clasifican en tres clases, es decir,
crticos, mayores y menores.
CRITICO: es probable que resulte en condiciones
arriesgadas o peligrosas y es probable que impida
la ejecucin de la funcin principal de un articulo
terminal.
MAYORES: es probable que cause falla, o reduzca
materialmente la capacidad de utilizacin de la
unidad de producto para el propsito destinado.
MENOR: efecto que probablemente no reduce
materialmente la capacidad de utilizacin de la
unidad de producto para su propsito destinado.
Inspeccin ajustada:
En MIL-STD-105D esto se logra manteniendo fijo el
tamao de muestra (igual al de la inspeccin normal)
mientras se disminuye el numero de aceptacin.
Si se usa una plan AQL del 4% bajo inspeccin normal,
se requiere un plan AQL de 2.5% bajo inspeccin
ajustada.
CURVA OC
Los analistas crean una representacin grafica del
rendimiento de un plan de muestreo, trazando la
probabilidad de que el lote sea aceptado, para toda una
gama de proporciones de unidades defectuosas
INSPECCION REDUCIDA
Bajo la inspeccin reducida se disminuye el numero
muestral, esto para aumentar el riesgo del
consumidor y disminuir (un poco) el riesgo del
consumidor.
La inspeccin reducida se recomienda cuando La
calidad es sustancialmente mejor que el AQL.
Proporciona una oportunidad de considerable
ahorro en costo de inspeccin cuando la calidad
sometida es buena.
Se instituye la inspeccin reducida siempre y
cuando:
PLANES DE MUESTREO
TIPOS DE MUESTREO: simple, doble y mltiple
NIVELES DE INSPECCION:
Niveles generales: GI,GII Y GIII
Niveles especiales: S-1, S-2, S-3, S-4.
TIPOS DE INSPECCION: normal, rigurosa y reducida.
DODGE - ROMING
En la dcada de los veinte, H. F. Dodge y H. G.
Roming disearon un juego de tablas de inspeccin
para la aceptacin de producto lote por lote
mediante el muestreo de atributos.
Estas tablas se basan en dos de conceptos: nivel de
calidad lmite (NCL) y lmite de la calidad
promedio de salida (LCPS).
LMITE DE LA CALIDAD
PROMEDIO DE SALIDA ,LCPS,
( AOQL).
Las tablas para el LCPS tienen un grupo para
muestreo sencillo y otro para muestreo doble. Cada
grupo tiene tablas para valores LCPS de
0.1,0.25,0.5,0.75, 1.0, 1.5,2.0,2.5,3.0,4.0,5.0, 7.0y
10.0%, lo que da un total de 26 tablas
EJEMPLO
Con estas
coordenadas
encontrar el
valor en tabla
poisson
MUESTREO SIMPLE
n = 125
Ac = 3
Re = 4
MUESTREO DOBLE
n1 = 80 n2 = 160
c1 = 1
c2 = 4
R1 = 4
r2 = 5
MUESTREO MULTIPLE
n1 = 32 n2 = 64 n3 = 96
C1 = + c2 = 0
c3 = 1
R1 = 3
r2 = 3
r3 = 4