EXPERINCIA IV

INTERFERMETRO DE MICHELSON
1. OBJETIVOS
Determinar o comprimento de onda do laser e o ndice de refrao do ar.
2. FUNDAMENTAO TERICA
Uma onda luminosa incidente numa superfcie semi-espelhada parcialmente
refletida e parcialmente transmitida. Tanto a componente refletida quanto a transmitida
tm obviamente amplitudes inferiores da onda incidente. Pode-se assim dizer, em
sentido figurado, que a amplitude dividida. Se a coerncia inicial entre ambas as
componentes no tiver sido destruda, ou seja, a diferena de fase entre as componentes
for mantida constante, e se for possvel voltar a reunir ambas as ondas num detector,
obtm-se como resultado um padro de interferncia. O interfermetro de Michelson o
mais conhecido, e historicamente o mais importante interfermetro de diviso de
amplitude. Ele est representado esquematicamente na figura 1 .
M2

O
Laser
M1

Detector (anteparo)
Figura 1 Esquema do interfermetro de Michelson visto de cima.
Uma fonte monocromtica (laser) d origem a uma onda que se propaga da
esquerda para a direita. O divisor de feixe O, que uma placa de vidro com um
revestimento fino de prata em uma de suas faces divide esta onda em duas ondas que se
propagam segundo direes perpendiculares. As ondas so refletidas pelos espelhos M1
e M2 e regressam novamente ao divisor O. Parte da onda refletida em M1 refletida
pelo divisor de feixe em direo ao anteparo e parte da onda refletida em M2 atravessa
o divisor de feixe sobrepondo-se anterior. Havendo sobreposio de duas ondas, esto
criadas as condies de interferncia.
Para compreender a formao de franjas no interfermetro de Michelson analisemos a figura 2, em que as vrias componentes fsicas esto representadas por superfcies
matemticas. Um observador colocado na posio do anteparo v simultaneamente os
espelhos M1 e M2 alinhados com a fonte e com o divisor de feixe. O interfermetro
pode, pois, ser desenhado como se todos os elementos ticos se encontrassem em linha.

M1 a imagem de M1 criada pelo divisor de feixe e est colocado em linha com O e

M2.

A posio destes elementos no diagrama depende das distncias relativas a O

(isto , M1 pode estar frente, atrs ou mesmo coincidir com M2. As superfcies 1 e 2
so imagens da fonte dadas pelos espelhos M1 e M2 respectivamente. Considere o
percurso de um dos raios emergentes de um ponto S da fonte. O raio proveniente de S
divide-se em O e, consequentemente, ambas as seces se refletem em M1 e M2. No
diagrama da figura, as reflexes ocorrem em M2 e M1. Para um observador em D, os
dois raios refletidos parecem vir dos pontos imagem S1 e S2. Como representado na
figura, a diferena entre os caminhos ticos destes dois raios aproximadamente igual a
2d cos , o que corresponde a uma diferena de fase 2kdcos . Existe, no entanto, um
termo de fase adicional para a onda que se desloca ao longo do brao OM2, resultante da
reflexo interna no divisor de feixe, enquanto a onda que se desloca ao longo do brao
OM1 sofre reflexo externa em O. Na ausncia de qualquer revestimento sobre o divisor

de feixe, a diferena de fase relativa resultante das duas reflexes de radianos e a

interferncia destrutiva ocorre quando:
2d cos m = m

(1)

onde m um inteiro.Se esta condio for satisfeita para o ponto S, tambm ser para
qualquer outro ponto da superfcie , sobre um crculo de raio OS, com O sobre o eixo
do detector. Como a abertura do feixe do laser pequena, o observador s consegue
observar as franjas circulares concntricas com o auxlio de uma lente. O padro de
interferncias observado no anteparo tipicamente constitudo por vrios anis
alternadamente claros e escuros. Cada anel corresponde a uma ordem bem definida, m.
medida que M2 se desloca em direo a M1, a distncia d diminui e, como se v na
equao (2.1) cos m aumenta e m diminui. Os anis retraem-se e sempre que d
diminui de /2, a franja de ordem mais elevada desaparece. O dimetro de cada anel
aumenta medida que as ordens mais elevadas desaparecem at que apenas algumas
franjas preenchem completamente o plano de observao. Quando d=0 a franja central
espalha-se e preenche todo o alvo. Em virtude da diferena de fase de no divisor de
feixe, a franja residual nica corresponde a um mnimo. Se M2 se afastar mais, as
franjas reaparecem no centro e comeam a divergir.
O interfermetro de Michelson pode ser utilizado para realizar medies de
distncias extremamente precisas. Quando um dos espelhos se afasta de /2, cada franja
desloca-se de uma interfranja e ocupa o lugar da franja adjacente. Contando o nmero
de franjas N, que passam em frente de uma posio de referncia, possvel determinar
a distncia d percorrida pelo espelho, isto ,
d = N
2

(2)

Alternativamente, se contarmos um nmero elevado de franjas N tal que a distncia d

seja suficientemente grande para que possa ser medida com preciso, podemos medir
com preciso o valor do comprimento de onda .
O interfermetro de Michelson pode ser utilizado tambm para determinar o
ndice de refrao do ar. Nesse caso uma clula de presso, que pode ser evacuada,
introduzida em um dos braos do interfermetro (fig. 3).
M2
C
Laser

Figura 3

M1

Observador

O ndice de refrao definido como a razo entre a velocidade de propagao

da onda eletromagntica no vcuo (c) e a velocidade de propagao no meio (v).
n= c
v

(3)

No vcuo (p=0) n = 1. Na medida em que o meio se torna mais denso o ndice de

refrao aumenta. Diminuindo-se a presso dentro da clula pode-se esperar que o
ndice de refrao do ar diminua, pois, reduz-se na cmara o nmero de molculas por
cm3.
Pode-se considerar que o ndice de refrao do ar varia linearmente com a
presso segundo a equao
n (p) = n(p=0) + n . p
(4)
p
Onde n = n(p+p) n(p) e p um valor qualquer de presso.
p
p
O caminho tico (x) do feixe luminoso depende do ndice de refrao, tal que, se
a clula tem comprimento geomtrico S, e n(p) o ndice de refrao do gs na clula
ento
x = n(p) S
(5)
Se os dois feixes luminosos que se superpem percorrem distncias iguais, mas
em meios de ndice de refrao diferentes ocorre uma defasagem entre os dois feixes.
Nesse caso especfico, a defasagem ocorre por que o caminho tico do feixe que passa
pela clula difere do caminho tico do feixe que passa pelo outro brao do
interfermetro, e o resultado da interferncia quando eles se juntam depender da
diferena de caminho tico. Se a diferena de caminho tico for igual ao comprimento
de onda da radiao ocorrer uma interferncia construtiva. Entretanto, se a diferena de
caminho for igual metade do comprimento de onda da radiao incidente os feixes
interferiro destrutivamente, criando uma regio escura no centro do campo de
observao. Variando-se lentamente a presso na clula varia-se a diferena de caminho
tico e como consequncia observa-se sobre o anteparo, o deslocamento das franjas.
Fazendo uma relao entre o nmero de franjas que passam por um ponto de referencia
em virtude da variao de presso (N/p) e a variao do ndice de refrao (n/p)
pode-se determinar o ndice de refrao.
Variando a presso na clula, o caminho tico varia de
x = n(p + p) S n(p) S (6)
p
p
.
Partindo da presso ambiente p0 e diminuindo a presso, observa-se N vezes o
surgimento de um mnimo no centro do padro at que seja atingida uma dada presso
p. A mudana de um mnimo para outro mnimo corresponde a uma mudana de
caminho tico de , ento
x = {N(p) N(p+p)} (7)
p
p

Comparando as equaes (6) e (7) e levando em conta que a luz atravessa duas vezes a
clula encontra-se que
{n(p + p) n(p)} . 2S = {N(p) N(p+p)}
p
p

(8)

Ou seja,
n = - N .
p
p 2S

(9)

Substituindo (9) em (4) e sabendo os valores de e S pode-se determinar o ndice de

refrao para um dado valor de presso ambiente (p).
3. MATERIAL UTILIZADO
Kit da Phywe com: Interfermetro de Michelson; Laser de He-Ne com
comprimento de onda 632 nm e potncia 1.0mW; clula de presso de comprimento
S=10mm, acoplada a uma bomba de vcuo manual; Lente com distncia focal de
20mm; uma tela.
4. PROCEDIMENTOS
Para obter o maior nmero possvel de franjas de interferncia, ajusta-se
primeiro os dois espelhos do interfermetro. Orienta-se o feixe do laser para atingir o
divisor de feixe 45. Os dois feixes resultantes so refletidos pelos espelhos e atingem
a tela. Atrs de um dos espelhos encontram-se dois parafusos de ajuste. Por meio desses
parafusos ajusta-se o espelho para fazer com que os dois pontos refletidos coincidam
sobre a tela. Colocando-se a lente no caminho do feixe, os pontos de luz so ampliados
e os padres de interferncia so observados na tela. Fazendo-se um reajuste cuidadoso
obtm-se uma imagem de interferncia de crculos concntricos.
Para medir o comprimento de onda, o parafuso micromtrico ajustado para
uma posio inicial na qual o centro do crculo escuro. Gira-se o parafuso
micromtrico, sempre na mesma direo, e contam-se as franjas escuras que se
sucedem. A distncia que o espelho foi deslocado corresponde a leitura no micrmetro
dividida por dez (o nvel de reduo 1:10). Se o centro dos crculos se mover para fora
da rea do spot luminoso faz-se necessrio um reajuste. Faz-se a anlise do grfico de
nmero de franjas versus deslocamento do espelho..
Para determinar o ndice de refrao do ar, a clula de presso adaptada ao
interfermetro. A lente colocada mais ou menos meia distncia entre o
interfermetro e o laser para ampliar o feixe. Ajusta-se o espelho, com os dois
parafusos, para superpor os spots e obter um padro de interferncia de crculos
concntricos na tela.
No incio da medida, ajusta-se o segundo espelho com o parafuso micromtrico
para que o centro da figura seja um anel escuro. Reduz-se gradualmente a presso na
clula com a bomba manual, e durante esse processo observa-se uma sucesso de anis
claro e escuro no centro da figura. Registra-se um a um o nmero da franjas que passam
(N) e a presso correspondente na cmara (P), at que seja atingido o mnimo de
presso. Repete-se a srie de medidas para garantir a confiabilidade dos dados,
ventilando a clula entre cada srie. Faz-se a anlise do grfico do nmero de franjas
versus presso.
Alm dos dados de e S necessrio registrar o valor da presso ambiente.
5

5. SUGESTO PARA LEITURA

Voc encontra os temas envolvidos neste experimento nas referncias listadas
abaixo. O fenmeno de interferncia de ondas eletromagnticas, o interfermetro de
Michelson e o conceito de coerncia, em nvel bsico, voc encontra em:
Fsica 4, 4a edio. D. Halliday, R. Resnick e K. S. Krane, LTC (Rio de Janeiro, 1996).
Captulo 45 Interferncia.
Ou, equivalentemente:
Fundamentos de Fsica 4, tica e Fsica Moderna, 4a edio. D. Halliday, R. Resnick e
J. Walker, LTC (Rio de Janeiro, 1995). Captulo 40 Interferncia.
Os mesmos temas voc encontra de forma mais aprofundada em:
Optics, E. Hecht, 4th edition. Addison Wesley, San Francisco (2002). Chapter 9
Interference, em particular as sees 9.1 a 9.4.
Existe uma edio portuguesa desse livro:
ptica, E. Hecht, 2a. edio. Fundao Calouste Gulbenkian, Lisboa (2002).
Introduction to modern optics, 2nd edition, G. R. Fowles, Dover (New York, 1989).
Chapter 3. Coherence and Interference.