KOPI

DIFRAKSI
SINAR X
Oleh
Kelompok 5:
Ayu Nurjannah
(120332410119)
Khozidatul Ummah
(120332410126)
Riska Umi Faridatus Saniyah
(120332410128)

SEJARAH X-RAY
Ditemukan pertama kali oleh
Roentgen pada tahun 1895.

Pada saat ditemukan,

sifat-sifat sinar-x tidak
langsung dapat diketahui.
Sifat-sifat alamiah (nature)
sinar-x baru secara pasti
ditentukan pada th 1912
seiring dengan penemuan
difraksi sinar-x.
Difraksi sinar-x ini dapat melihat atau
membedakan objek yang berukuran kurang
lebih 1 angstroom.

PENGERTIAN
SINAR X

Sinar x merupakan radiasi elektromagnetik dengan

panjang gelombang sekitar 1 angstoom, letaknya antara
sinar UV dan sinar Gamma.

PRINSIP XRD

Merupakan salah satu metode yang digunakan

untuk mengidentifikasi fasa kristalin dalam
material dengan cara menentukan parameter
struktur kisi serta untuk mendapatkan ukuran
partikel.

Hal ini terjadi sebagai akibat dari pantulan elastis

(hamburan) yang terjadi ketika sebuah sinar
berinteraksi dengan sebuah target. Pantulan yang
tidak terjadi kehilangan energi disebut pantulan
elastis (elastic scatering). Kemudian, pantulan
elastis tersebut akan ditangkap oleh detektor.

INTERAKSI SINAR X
DENGAN SAMPEL

Berdasarkan hukum Bragg, kristal dapat dipandang

terdiri atas bidang-bidang datar (kisi kristal). Jika berkas
sinar x dijatuhkan pada sampel kristal, maka sampel
tersebut akan membiaskan sinar x yang memiliki panjang
gelombang sama dengan jarak antar kisi bidang kristal.
Sinar yang dibiaskan kemudian akan ditangkap oleh
detektor, kemudian diterjemahkan sebagai puncak
difraksi.

INSTRUMENTASI

INSTRUMENTASI

Sumber
Sinar
Sinar
X dihasilkan dari penembakan target

(logam anoda) oleh elektron berenergi tinggi

yang berasal dari hasil pemanasan filamen dari
tabung sinar X (Rontgen). Tabung sinarX
tersebut terdiri atas empat komponen utama,
yakni
filamen (katoda) yang berperan sebagai
sumber elektron,
ruang vakum sebagai pembebas hambatan
target sebagai anoda
sumber tegangan listrik

Untuk dapat menghasilkan sinarX

dengan baik, maka logam yang digunakan
sebagai target harus memiliki titik leleh
tinggi dengan nomor atom (Z) yang tinggi
agar tumbukan lebih efektif. Logam yang
biasa digunakan sebagai target (anoda)
adalah Cu, Cr, Fe, Co, Mo dan Ag.

Samp
el

Material uji (spesimen) dapat

digunakan bubuk (powder)
Ukuran kurang dari 10 mikro meter
atau 200 mesh
Diletakkan dalam sampel holder dan
dipres untuk meratakan permukaan

Detekto
r
Sinar yang dibiaskan dari bidang kristal

akan ditangkap oleh detektor kemudian

diterjemahkan sebagai sebuah puncak
difraksi. Makin banyak bidang kristal yang
terdapat dalam sampel, makin kuat
intensitas pembiasan yang dihasilkannya.
Tiap puncak yang muncul pada pola XRD
mewakili satu bidang kristal yang memiliki
orientasi tertentu dalam sumbu tiga
dimensi.

Contoh Spektrum
XRD Kristal NaCl

Contoh spektrum XRD

Amorf

APLIKASI
Membedakan antara material yang
bersifat kristal dengan amorf
Mengukur macam-macam keacakan dan
penyimpangan kristal.
Karakterisasi material kristal
Identifikasi mineral-mineral yang berbutir
halus seperti tanah liat
Penentuan dimensi-dimensi sel satuan