Atomic force microscopy (AFM)

AFM merupakan peralatan sangat canggih untuk mempelajari fenomena fouling pada
BRM atau proses-proses pemisahan membran lainnya. AFM bisa memberikan gambar 3
dimensi dengan resolusi setara atomik serta memberikan informasi kuantitatif mengenai
morfologi permukaan. Untuk yang kedua diperlukan bantuan software analisis lainnya .
Berbeda dengan SEM, Alat ini tidak memerlukan perlakukan pendahuluan pada
sampel.

Peralatan afm
AFM terdiri dari catilever dengan probe yang tajam pada ujungnya. Ketika probe
tersebut dekat dengan sample, medan gaya antara probe dan sample akan menghasilkan
defleksi pada centilever. Berdasarkan prinsip ini, bisa diperoleh informasi mengenai:
gambar 3D, kehalusan/kekasaran permukaan , dan kekuatan tarik-menarik (adhission
force).

Skema ilustrasi AFM

Berdasarkan analisis menggunakan AFM, beberapa fenomena fouling bada

membran BRM dapat diringkas sebagai berikut:

Membran yang tersumbat terdeteksi memiliki tingkat kekasaran yang lebih

tinggi. Perubahan kekasaran ini menandakan adanya deposisi foulan pada
permukaan membran dan distribusi yang tidak merata dari foulan pada
permukaan membran.

Kekasaran permukaan dapat juga digunakan untuk mengidentifikasi

tingkat kemampatan sumbatan. Sumbatan yang mampat cenderung
memiliki kekasaran yang lebih rendah. Akibatnya porositas sumbatan juga
cenderung menyempit. Perbedaan tingkat kekasaran juga sangat
tergantung pada kondisi umpan (feed) atau lumpur aktif.

Profil daya (force profile) antara sumbatan-membrane, sumbatansumbatan juga dapat dihitung. Dengan demikian, kita dapat menghitung
potensi tersumbatnya membran yang satu dengan lainnya, terhadap foulan
tertentu. Informasi ini dapat digunakan sebagai data awal untuk mendesin
membran yang resistan terhadap penyumbatan.

Contoh-contoh gambar yang diperoleh dari AFM:

profil 3D dua membran yang tersumbat: (A) dari reaktor thermofilik, (B)
dari reaktor mesophilik
Perbandingan kekasaran membran yang tersumbat pada dua proses
berbeda: (A) MBR dan (B) AGMR)

Sumber : https://roilbilad.wordpress.com/2010/11/09/atomic-force-microscopy-afm/
Di akses: hari Jumat 24 April 2015 pukul 02:01