Anda di halaman 1dari 14

DIFRAKSI KISI KRISTAL

Struktur kristal dapat dipelajari melalui difraksi foton, netron dan elektron. Panjang
gelombang optik, misalnya 5000 , menghasilkan gelombang terhambur elastis dengan
atom-atom kristal sehingga terjadi refraksi optik biasa. Tetapi, jika panjang gelombang
radiasi sebanding atau lebih kecil daripada konstanta kisi (orde angstrom), maka didapatkan
berkas difraksi yang arahnya sangat berbeda dengan arah berkas datang.
Difraksi sinar-X merupakan teknik yang digunakan untuk menganalisis padatan
kristalin. Sinar-X merupakan radiasi gelombang elektromagnetik dengan panjang gelombang
sekitar 1 , berada di antara panjang gelombang sinar gama () dan sinar ultraviolet. Sinar-X
dihasilkan jika elektron berkecepatan tinggi menumbuk suatu logam target (Gambar 1).

Gambar 20. Pembentukan sinar-X.

Elektron berkecepatan tinggi yang mengenai elektron pada orbital 1s akan


menyebabkan elektron tereksitasi menyebabkan kekosongan pada orbital 1s tersebut, dengan
adanya pengisian elektron pada orbital kosong tersebut dari orbital yang lebih tinggi
energinya akan memberikan pancaran sinar-X.
Sinar-X yang diperoleh memberikan intensitas puncak tertentu yang bergantung pada
kebolehjadian transisi elektron yang terjadi. Transisi K lebih mungkin terjadi dan memiliki
intensitas yang lebih tinggi daripada transisi K, sehingga radiasi K yang digunakan untuk
keperluan difraksi sinar-X. Sinar-X juga dapat dihasilkan oleh proses perlambatan elektron
pada saat menembus logam sasaran. Proses perlambatan ini menghasilkan sinar-X yang biasa
disebut sebagai radiasi putih. Hasil dari semua proses tadi untuk logam tertentu adalah
spektrum khas sinar-X, seperti yang ditunjukkan pada Gambar 2. Terdapat bentuk dasar yang
terbentuk oleh radiasi putih dan puncak khas tajam yang bergantung pada kuantisasi transisi
elektron.

Gambar 21. Spektrum panjang gelombang sinar-X pada logam.

Terdapat beberapa jenis pancaran panjang gelombang yang dihasilkan dengan


intensitas yang berbeda, dimana panjang gelombang K1 memiliki intensitas yang lebih
tinggi, sehingga digunakan dalam difraksi sinar-X.
Sinar-X yang monokromatis sangat diperlukan dalam suatu eksperimen difraksi sinarX. Untuk tujuan itu salah satunya dapat digunakan filter, yang secara selektif meneruskan
panjang gelombang yang ingin digunakan. Untuk sinar-X dari tabung tembaga, biasanya
digunakan lembaran nikel sebagai filter. Nikel sangat efektif dalam meneruskan radiasi Cu
K, karena radiasi Cu K memiliki cukup energi untuk mengionisasi elektron 1s Nikel,
sedangkan radiasi Cu K tidak cukup untuk mengionisasi. Dengan demikian, lembaran nikel
tersebut akan mengabsorpsi semua panjang gelombang termasuk radiasi putih, kecuali radiasi
Cu K.
Hamburan Sinar-X oleh Kisi Kristal
1.1 Hukum Bragg
W.L. Bragg menjelaskan gejala berkas difraksi kristal dengan model sederhana. Jika
sinar-X mengenai permukaan suatu kristal, maka terjadi refleksi. Model disajikan pada
Gambar 22, yakni kristal direpresentasikan oleh kumpulan bidang paralel yang bersesuaian
dengan bidang atom. Bidang tersebut berperan sebagai cermin. Setiap bidang hanya
merefleksikan 10-3 sampai 10-5 radiasi yang datang sehingga diperlukan 103 sampai 105
bidang untuk menghasilkan berkas refleksi Bragg yang sempurna. Hamburan ini dianggap
elastik, yakni energi sinar-X tidak mengalami perubahan sebelum dan sesudah refleksi.

(a)

(b)
Gambar 22.

(a) Refleksi sinar-X dari suatu kristal. Sinar hampir paralel karena posisi detektor jauh dari kristal.
(b) Intensitas refleksi kristal KBr. Pada gambar ditunjukkan bidang-bidang refleksi yang menghasilkan difraksi

Beda lintasan untuk kedua sinar refleksi adalah =AB + BC AC = 2 AB AC karena


AB=BC. Mengingat jarak antarbidang d, maka :
AB = d/sin dan AC = AC cos = (2d/tg ) cos
dimana adalah sudut pantul antara berkas datang dan bidang refleksi, sehingga

= 2 d sin

. Interferensi maksimum (konstruktif) terjadi hanya


jika
= n ...................(1.8)
dimana n = 1, 2, 3, . (ordo refleksi) dan = panjang gelombang sinar-X, sehingga
diperoleh 3lect Bragg untuk refleksi oleh bidang 3lectro (hkl)
n = 2 dhkl sin .(1.9)
Harga ditentukan secara bebas dan sin diukur secara langsung dari refleksi eksperimen,
sehingga jarak antarbidang dhkl dapat dihitung. Hal lain adalah difraksi hanya mungkin
terjadi jika <2d. Oleh karena itu dalam hal ini tidak dapat digunakan cahaya tampak.
Model yang dikemukakan di atas terlalu sederhana. Fakta menunjukkan bahwa
hamburan berkas sinar-X disebabkan oleh atom diskrit 3lectro yang bersangkutan. Oleh
karena itu bahasan berikut menelaah 3lect Bragg melalui proses hamburan.

1.2 Teori Hamburan


Hamburan radiasi 4lectron4gnet oleh suatu 4lectron disajikan oleh Gambar 1.18
berikut. Dalam proses ini diandaikan hamburan bersifat lectro (hamburan Thomson).

Gambar 23. Hamburan oleh electron tunggal

Gelombang Datar
.(1.10)
mengenai elektron. Gelombang sferik terhambur pada jarak radial D dinyatakan oleh
.(1.11)

dengan fe adalah panjang hamburan elektron. Terlihat bahwa penurunan amplitudo


gelombang terhambur sebanding dengan 1/D.
Hamburan oleh sistem dua elektron, yang masing-masing berkedudukan di P1 dan P2
disajikan pada Gambar 24 berikut.

Gambar 24. Hamburan oleh dua elektron. r adalah vektor posisi elektron-1 terhadap elektron-2

Gambar 25. Vektor hamburan s . Sudut 2 adalah sudut hamburan

Didefinisikan vektor hamburan s , seperti pada Gambar 23, yaitu


..(1.12)

Karena hamburan bersifat elastik |ko| = |k| = |k| , maka terlihat dari Gambar 1.20 bahwa
.(1.13)
Beda panjang lintasan sinar terhambur

merupakan vector satuan dalam arah

Jika

dan

dan

, maka

, masing-masing

. Beda fasa antara

gelombang terhambur dalam radial


.(1.14)
Superposisi dari dua gelombang terhambur dalam fungsi ruang
.(1.15)
Secara umum, bila vector posisi

untuk electron-1 dan

untuk electron-2 relative

terhadap pusat tertentu, maka


.(1.16)
Bila yang ditinjau atom dengan 1 buah electron, masing-masing dengan vector
posisi

, dengan l = 1, 2, 3, , n, maka bentuk umum gelombang untuk (1.16) dalam arah

terhambur

tertentu

.(1.17)
Dengan
....(1.18)
Disebut panjang hamburan total.
Intensitas parsial gelombang terhambur I sebanding dengan kuadrat besarnya
medan. Oleh karena itu
..(1.19)
Jika atom dalam kristal, misalnya, terletak pada posisi Rl , maka faktor hamburan
kristal fkr
......(1.20)

Ungkapan faktor hamburan kristal (1.20) di atas mengambil bentuk analogi dari atom. Posisi
atom dapat ditinjau dalam sel satuannya, yaitu
satuan ke-1, dan

, dimana

adalah posisi sel

adalah posisi atom dalam sel satuan, sehingga faktor hamburan kristal

(1.20) di atas dapat dinyatakan dalam bentuk faktorisasi


Fkr = F S..(1.21)
Dengan

dan

.(1.22)

F dan S, masing-masing mengungkapkan faktor struktur geometri dan kisi. Faktor struktur
kisi hanya bergantung pada sistem kristal. Sedangkan faktor struktur geometri bergantung
pada bentuk geometri dan isi sel satuan.
1.3 Kisi Resiprok
Setiap struktur kristal memiliki 2 kisi, yaitu kisi kristal dan resiprok. Saat kristal

dikenai sinar-X, akan dihasilkan pola difraksi yang merupakan peta kisi resiprok kristal
tersebut. Kedua kisi ini memiliki relasi sebagai berikut. Andaikanlah vektor basis dalam
kisi nyata adalah ,

dan , maka dapat didefinisikan vektor basis dalam kisi resiprok,

yakni

(1.23)
Hal ini berarti vektor basis resiprok
a. memiliki satuan m-1, yang sama dengan angka gelombang,
b. bahwa

tegak lurus terhadap bidang ( , ), dan demikian pula permutasi siklisnya,

dan
c. bahwa

x =

merepresentasikan volume sel satuan dengan rusuk

vektor , b dan .
Vektor basis resiprok mendefinisikan vektor kisi resiprok
(1.24)
dengan n1, n2 dan n3 adalah bilangan bulat.
Kisi resiprok memiliki hubungan dengan kisi nyata sebagai berikut.
a.

b.

, dengan

= 2

x dan

c. Setiap vektor dari kisi resiprok Ghkl = h

+k

+l

tegak lurus terhadap bidang kisi

(hkl) dalam ruang nyata.


d. Kisi nyata merupakan resiprok dari kisi resiprok.
e. Jarak antarbidang dhkl dan Ghkl direlasikan oleh
dhkl|

hkl

| = 2 (1.25)

Perhatikanlah perbandingan kisi nyata dan resiproknya pada Gambar 27 berikut.

Gambar 27. Perbandingan kisi nyata dan resiproknya

Dari Gambar 27. di atas jelaslah bahwa


a.

tegak lurus terhadap

; dan

tegak lurus terhadap

b. setiap titik (hkl) dalam ruang resiprok terkait dengan perangkat bidang (hkl) dalam
ruang nyata, dan
c. simetri kelompok titik dalam ruang resiprok sama dengan simetri ruang nyata.
Dapat pula dibuktikan bahwa terdapat hubungan sebagai berikut.
a. Kisi resiprok kisi SC adalah kisi SC juga.
b. Kisi resiprok kisi BCC adalah kisi FCC; dan sebaliknya.

1.4 Difraksi Sinar-X


Kisi resiprok berguna dalam menentukan besarnya faktor struktur. Ternyata
(1.26)
Dalam hal ini

adalah vektor sebarang dan penjumlahan dilakukan sepanjang vektor kisi

nyata yang mengandung N buah total sel dan vektor kedudukan

. Dengan demikian

faktor struktur kisi S (1.22) berharga nol untuk setiap nilai vektor hamburan , kecuali
(1.27)
Hal ini berarti

harus tegak lurus terhadap bidang (hkl). Dengan mengingat bahwa k=2/,

maka substitusi persamaan (1.13) dan (1.25) ke dalam persamaan (1.27), dalam teori
hamburan ini, menghasilkan bentuk hukum Bragg
2 dhkl sin = (1.28)
Dapatlah dikatakan bahwa gambaran Bragg tentang difraksi yang terjadi karena
pemantulan oleh bidang kristal, secara konseptual lebih sederhana daripada melihatnya
sebagai interferensi konstruktif berkas terhambur oleh atom kristal dari teori hamburan.
Gambar 28 berikut menjelaskan syarat terpenuhinya hukum Bragg menurut teori hamburan.

Gambar 28. Vektor hamburan sama dengan vektor kisi resiprok

Saat kondisi Bragg (127) terpenuhi, maka faktor struktur kisi S0, tetapi bernilai S=N, seperti
tampak pada (1.26), sehingga
Shkl = N.(1.29)
Substitusi (1.29) ke dalam (1.21) menghasilkan faktor hamburan kristal fkr menjadi
fkr,hkl = N Fhkl. (1.30)
dan intensitas I menjadi
..(1.31)
Setiap berkas terdifraksi bersesuaian dengan suatu perangkat bidang (hkl). Tetapi
untuk suatu perangkat bidang (hkl) tertentu kadang intensitas berkas terdifraksi menjadi nol.
Hal ini terjadi karena faktor struktur geometri Fhkl=0, meskipun bidang (hkl) yang bersesuaian
memenuhi kondisi Bragg.
Misalnya, semua atom identik, kedudukan atom ke-j dalam sel satuan
j

= uj

+ vj

+ wj

dan kondisi Bragg terpenuhi


=

hkl

=h

+k

+l

maka
..(1.32)
Contoh menghitung faktor struktur geometri Fhkl.
a. Sel satuan primitip (P). Atomnya terletak di 000 sehingga (1.32) menjadi
Fhkl = fa
b. Sel satuan base centered C. Atomnya terletak di 000 dan 0 sehingga (1.32) menjadi
Fhkl = fa (1 + ei(h + k))
Dengan demikian Fhkl0 hanya jika h+k=2n dengan n=0, 1, 2,
c. Sel satuan body centered I. Atomnya terletak di 000 dan sehingga (1.32) menjadi
Fhkl = fa (1 + ei(h + k+ l))
Dengan demikian Fhkl0 hanya jika h+k+l=2n dengan n=0, 1, 2,
d. Sel satuan face centered F. Atomnya terletak di 000, 0, 0 dan 0 sehingga
(1.32) menjadi
Fhkl = fa (1 + ei(h + k) + ei(h + l) + ei(k + l))
Dengan demikian Fhkl0 hanya jika h+k=2n dan k+l=2n dengan n=0, 1, 2, Dengan
kata lain Fhkl0 hanya jika semua indek genap atau semua indek ganjil.
Berikut ini diberikan contoh kurva intensitas refleksi sinar-X dan sudut hamburan (I vs
2) hasil eksperimen difraksi sinar-X dari bubukan KCl dan KBr.

Gambar 29. Perbandingan refleksi sinar-X antara bubukan KCl dan KBr

KCl dan KBr, keduanya, memiliki struktur FCC. Dalam KCl, jumlah elektron pada K + dan
Cl- sama banyak sehingga faktor hamburan atom fa keduanya hampir sama sehingga ia
terlihat oleh sinar-X sebagai kristal SC monoatomik dengan konstanta kisi a/2. Adanya
refleksi indek-indek yang genap bulat menunjukkan bahwa kristal tersebut adalah SC dengan
konstanta kisi a. Sedangkan dalam KBr, faktor hamburan atomnya berbeda sehingga ia tetap
terlihat sebagai struktur FCC oleh difraksi sinar-X.
Kondisi Bragg (1.27) masih dapat ditulis dalam bentuk lain. Substitusi (1.12) ke dalam
(1.27) menghasilkan

= .(1.33)

Mengalikan kedua ruas (1.33) dengan menghasilkan

Persamaan ini dapat dipandang sebagai kekekalan momentum, dan difraksinya sebagai proses
tumbukan antara foton sinar-X dan kristal. Momentum sebelum tumbukan hanya momentum

linier foton yang datang


terhambur

= ko , dan setelah tumbukan adalah momentum linier foton

= k dan momentum linier kristal

. Dengan demikian perubahan

momentum linier foton


=

Energi kinetik seluruh kristal Ek=(Ghkl)2/2M, dengan M adalah massa seluruh kristal. Karena
M sangat besar relatif terhadap massa atom, maka E k sangat kecil dan diabaikan. Dengan
demikian dalam proses hamburan foton sinar-X tidak ada energi yang hilang
Eo = E c

= c

Jelaslah bahwa proses hamburan tersebut di atas bersifat elastik.


1.5.Difraksi Sinar-X Serbuk
Salah satu teknik yang digunakan untuk menentukan struktur suatu padatan kristalin,
adalah metoda difraksi sinar-X serbuk (X-ray powder diffraction). Sampel berupa serbuk
padatan kristalin yang memiliki sejumlah besar kristal kecil dengan diameter butiran
kristalnya sekitar 10-7 10-4 m ditempatkan pada suatu plat kaca dalam difraktometer
seperti terlihat pada Gambar 30.

Gambar 30. Skema difraktometer sinar-X serbuk. Tabung sinar-X akan mengeluarkan sinar-X yang yang
difokuskan sehingga mengenai sampel oleh pemfokus, detektor akan bergerak sepanjang lintasannya, untuk
merekam pola difraksi sinar-X.

Pola difraksi yang dihasilkan berupa deretan puncak-puncak difraksi dengan intensitas
relatif yang bervariasi sepanjang nilai 2 tertentu. Besarnya intensitas relatif puncak dari
deretan puncak tersebut bergantung pada jumlah atom atau ion yang ada, dan distribusinya di
dalam sel satuan material tersebut. Pola difraksi setiap padatan kristalin khas, yang
bergantung pada kisi kristal, unit parameter, dan panjang gelombang sinar-X yang digunakan.
Dengan demikian, sangat kecil kemungkinan dihasilkan pola difraksi yang sama untuk suatu
padatan kristalin yang berbeda.

Gambar 31. Pola Difraksi Sinar-X Serbuk

1.6 Metode Le Bail


Pada pola difraksi sinar-X serbuk sering terjadi adanya overlap pada puncak difraksi
terutama pada nilai 2 yang tinggi. Dengan adanya overlap tersebut menyebabkan sulitnya
pemisahan intensitas dari tiap-tiap pemantulan sinar, sehingga penentuan struktur sukar
dilakukan. Namun, dengan metoda Rietveld, kini dimungkinkan untuk menentukan struktur
kristal, terutama untuk struktur yang relatif sederhana, dari data difraksi serbuk.
Sebagai langkah awal penggunaan metoda Rietveld, sering digunakan metoda Le
Bail. Pada metode Le Bail, intensitas dari berbagai puncak difraksi dihitung dengan hanya
menggunakan parameter sel satuan dan parameter yang mendefinisikan puncak. Dari analisis
Le Bail akan didapatkan parameter sel dan plot Le Bail mirip plot Rietveld.

Gambar 29. Hasil Refinement Pola Difraksi Sinar-X Serbuk Menggunakan Metode Le Bail Dengan
Menggunakan Program Rietica.