Kelompok V RACHMA SURYA M. (H311 12 267) JUNIARTI PRATIWI S.M (H311 12 269) RAHMI AMALIA (H311 12 274)
PENDAHULUAN Spektroskopi XRF adalah teknik analisis unsur yang membentuk suatu material dengan dasar interaksi sinar-X dengan material analit. Metode XRF secara luas digunakan untuk menentukan komposisi unsur suatu material. Karena metode ini cepat dan tidak merusak sampel, metode ini dipilih untuk aplikasi di lapangan dan industri untuk kontrol materialTeknik ini banyak digunakan dalam analisa batuan karena membutuhkan jumlah sample yang relative kecil (sekitar 1 gram). Teknik ini dapat digunakan untuk mengukur unsur-unsur yang tertutama banyak terdapat dalam batuan atau mineral. Sampel yang digunakan biasanya berupa serbuk
PRINSIP DASAR X-RAY FLUORESENSI (XRF) Dasar analisis alat X-Ray Fluorescent ini adalah pencacahan sinar x yang dipancarkan oleh suatu unsur akibat pengisian kembali kekosongan elektron pada orbital yang lebih dekat dengan inti (karena terjadinya eksitasi elektron) oleh elektron yang terletak pada orbital yang lebih luar.
INSTRUMEN X-RAY FLUOROSENSI
SKEMA TABUNG SINAR X
KARAKTERISTIK SAMPEL PADA X-RAY FLUOROSENSI Beberapa sampel yang dapat dianalisis dengan menggunakan XRF yaitu : Sample serbuk 100 mesh Sample cair yang homogen Sample padatan dengan batas maximum tinggi 2.5 cm dan diameter 2.5 cm Presed Powder Serbuk dipress membentuk tabletvpadat menggunakan hydraulic press Fused Beads
JENIS X-RAY FLUOROSENSI
WDXRF
EDXRF
(Wavelength-dispersive X-ray Fluorescence)
(Energi-dispersive X-ray Fluorescence)
KELEBIHAN X-RAY FUOROSENSI
Cukup mudah, murah dan analisanya cepat Jangkauan elemen Hasil analisa akurat Membutuhan sedikit sampel pada tahap preparasinya(untuk Trace elemen) Dapat digunakan untuk analisa elemen mayor (Si, Ti, Al, Fe, Mn, Mg, Ca, Na, K, P) maupun trace elemen (>1 ppm; Ba, Ce, Co, Cr, Cu, Ga, La, Nb, Ni, Rb, Sc, Sr, Rh, U, V, Y, Zr, Zn) Akurasi yang tinggi Dapat menentukan unsur dalam material tanpa adanya standar Dapat menentukan kandungan mineral dalam bahan biologik maupun dalam tubuh secara langsung
KEKURANGAN X-RAY FUOROSENSI
Tidak cocok untuk analisa element yang ringan seperti H dan He Analisa sampel cair membutuhkan Volume gas helium yang cukup besar Preparasi sampel biasanya membutuhkan waktu yang cukup lama dan memebutuhkan perlakuan yang banyak Tidak dapat mengetahui senyawa apa yang dibentuk oleh unsur-unsur yang terkandung dalam material yang akan kita teliti. Tidak dapat menentukan struktur dari atom yang membentuk material
