SERBIATRIB 11

Serbian Tribology
Society

12th International Conference on

Tribology

Faculty of Mechanical
Engineering in Kragujevac

Kragujevac, Serbia, 11 13 May 2011

NANOTECHNOLOGIES:
APPLICATIONOFAFM/MFMINMATERIAL
CHARACTERIZATION
Lidija Matija, Radivoje Mitrovi, uro Koruga
Mechanical Engineering Faculty Belgrade
Abstract: Nanotechnologies comprise techniques and methods used to study, design and manufacture nano
devices, as a special way to organise atoms and molecules. Nanotechnology is revolutionizing many
significant areas of engineering, biotechnology and medicine. One of the problems not known at macro scale
and noticed at nanometer level, is derived from the increase of number of surface atoms in total number of
nanostructure atoms. This, on one side, leads to great changes of physical and chemical characteristics of a
material that can be favorable utilized, but on the other side, surface energy increase due to decrease of
dimensions makes most of nano - structured materials to be thermodynamically unstable and metastable
systems. One of the main challenges in production, characterization and processing of nanomaterials are
overcoming the problem of high surface energy and prevention of growth of constituting particles of a
nanomaterial, due to their constant tendency to lower high surface energy.
Today, there are three main directions of nanosystems development: (1) physically oriented
nanotechnologies, (2) chemically oriented nanotechnologies and (3) integrative physico-chemical oriented
nanotechnologies. In scope of physically oriented nanotechnologies, three main techniques used for
characterization of physically oriented systems are: STM (scanning tunneling microscope), AFM (atomic
force microscope) and MFM (magnetic force microscope).
More and more often the question is raised whether the nanotechnology is a new technological revolution
(the first - steam machine, the second - computers, the third - artificial intelligence) or not. A majority of
experts think that it is, but some has an opinion that it is something more than previous technological
revolutions, because in comparison to all others, it much more seriously and more obviously asks the
question "What is a human"? Classification of scientific - technological revolutions can be done in different
ways, but the most appropriate one is substitution of human activities by the machine. Nanotechnology can
be considered as the fourth technological revolution that will enable creation of nano-systems as "self
created" entities under the auspice of macroscopic nano-reactor (similar to the embryogenesis process), that
will be able to create macroscopic systems capable to reproduce and enhance themselves in a completely
new way. In such a new system, it is considered that manual, intellectual, routine and creative capabilities
will be integrated, and should be complementary and compatible to human capabilities.

12th International Conference on Tribology Serbiatrib11

17

NANOTEHNOLOGIJE:
PRIMENA AFM/MFM U KARAKTERIZACIJI MATERIJALA
Lidija Matija, Radivoje Mitrovi, uro Koruga
Mainski fakultet Univerziteta u Beogradu
Abstrakt: Nanotehnologije obuhvataju tehnike i metode koje se koriste za prouavanje, projektovanje i
izradu ureaja na nano nivou, kao posebne organizacije atoma i molekula. Nanotehnologija je do sada
revolucionarizovala mnoge veoma vane oblasti inenjerstva, biotehnlogije i medicine. Jedan od problema
koji je nepoznat na makroskali, a uoava se na nanometarskom nivou proistie iz porasta broja povrinskih
atoma u ukupnom broju atoma nanostruktura, to s jedne strane dovodi do velikih promena fizikih i
hemijskih svojstava materijala koje se mogu povoljno iskoristiti, ali na drugoj strani poveanje povrinske
energije usled smanjivanja dimenzija dovodi do toga da je veina nano struktuiranih materijala
termodinamiki nestabilna i metastabilna. Prevazilaenje problema velike povrinske energije i spreavanje
rasta gradivnih estica nanomaterijala usled stalne tendencije da smanje veliku povrinsku energiju jedan je
od glavnih izazova u proizvodnji, karakterizaciji i obradi nanomaterijala.
Danas postoje tri glavna pravca razvoja nanosistema: (1) fiziki orijentisane nanotehnologije, (2)
hemijski orijentisane nanotehnologije i (3) integralne fiziko-hemijski orijentisane nanotehnologije. U okviru
fiziko orjentisanih nanotehnologija tri glavne tehnike koje se primenjuju za karakterizaciju fiziko
orijentisanih sistema su: STM (skenirajui tunelski mikroskop), AFM (mikroskop meuatomskih sila) i MFM
(mikroskop magnetnih sila).
Sve se ee postavlja pitanje da li je nanotehnologija nova tehnoloka revolucija (prva-parna
maina, druga-kompjuteri, trea-vetaka inteligencija) ili ne. Veina strunjaka misli da jeste, ali neki misle
i da je ona neto vie od dosadanjih tehnolokih revolucija, jer u odnosu na sve dosadne ona mnogo
ozbiljnije i oglednije postavlja pitanje ta je ovek?. Klasifikacija nauno-tehnolokih revolucija moe se
vriti na razliite naine, ali jedan od najprikladnijih je zamena ljudskih aktivnosti mainskim.
Nanotehnologiju moemo smatrati etvrtom tehnolokom revolucijom koja e omoguiti stavaranje
nanosistema kao samoniklih tvorevina pod okriljem makroskopskog nano-reaktora (slino kao proces
embriogeneze), koji e biti u mogunosti da izgrade makroskopske sisteme sposobne da na jedan nov nain
reprodukuju i unapreuju sebe. U jednom takavom sistemu smatra se da biti integrisane manuelne, umne,
rutnske i kreativne sposobnosti, koje u odnosu na ljudske treba da budu komplementarne i kompatibilne.
Kljune rei: Nanotribologija, AFM, MFM, Materijali
1. AFM/MFM: SKENIRAJUE
MIKROSKOPIJE ATOMSKIH I
MEUMOLEKULARNIH SILA
1.1 AFM
Skenirajua mikroskopija atomskih sila (Atomic
Force Microscopy AFM) je metoda
karakterizacije materijala pomou lokalnog merenja
meuatomskih sila. Lokalno (sondirajue) merenje
se ostvaruje pomou nanokonzolnog senzora
izraenog iz konzolnog dela duine oko 50-500 m
i konusnog ili piramidalnog dela koji se nalazi na
kraju konzolnog dela i koji je usmeren u
vertikalnom pravcu ka uzorku. Radijus vrha
konusnog (piramidalnog) zavretka se kree od 790 nm i zavisi od namene senzora.
Rezolucija skenirajuih sondirajuih mikroskopa
se danas kree oko 1.0 pm, ili 10-12 m, to trenutno
zadovoljava najstroije zahteve nauke o
18

materijalima, a time i nano-nauke. Rezolucija

snimanja je u veoj meri ograniena uslovima
kvaliteta pripreme uzorka (povrine uzorka) koji u
naunoj literaturi ne dobija adekvatnu panju iako
bi se moglo rei da je, posmatrajui pojedinani
doprinos svake od faza, priprema uzorka
najznaajnija komponenta u procesu dobijanja
snimka materijala u atomskoj rezoluciji.
Brojni su razlozi velikog uspeha i opte
prihvaenosti metode AFM u nauci od kojih je
veina povezana sa tehnikim reenjima
primenjenim u metodi. Ono to AFM izdvaja u
odnosu na druge metode jeste neinvazivnost metode
koja omoguava karakterizaciju uzoraka i u
atomskoj rezoluciji bez unoenja poremeaja u
strukturi. Iz ove osobine proistie i druga prednost
AFM koja je mogunost karakterizacije u uslovima
kontrolisane atmosfere i karakterizacija u
tenostima, to su uslovi koji mogu blisko
odgovarati prirodnom okruenju. Imajui u vidu
pomenutu malu invazivnost dobijamo mogunosti
12th International Conference on Tribology Serbiatrib11

primene ove metode ne samo u tehnici nego i u

biolokim i biomedicinskim istraivanjima koja
pokazuju veliku osetljivost prema promeni uslova
pod kojima se eksperiment odvija. Upravo se od
primene AFM u biomedicini oekuje veliki pomak
u razumevanju veze izmeu strukture i funkcije
sistema na molekularnom nivou.
Metoda AFM omoguava i snimanje u irokom
opsegu uslova sredine. Tako je mogue podeavati
temperaturu u irokom opsegu: od uslova hlaenja
tenim helijumom sve do nekoliko stotina stepeni
na celzijusovoj skali. Mogue je izvriti i
prilagoenje atmosfere uvoenjem odgovarajuih
gasova ali i snimanje u uslovima veoma visokog
vakuuma (Ultra High Vacuum UHV). Trenutno
najnaprednija primena AFM (ali i tehniki
najzahtevnija) se odnosi na mogunosti snimanja u
tenoj sredini u kojoj je mogue u velikoj meri

oponaati uslove realnih procesa, pogotovo u

biolokim i biomedicinskim istraivanjima.
Na slici 1 je dat shematski prikaz principa rada
mikroskopa meuatomskih i meumolekularnih sila.
Uzorak koji se ispituje nalazi se na postolju koje
pokrece piezoelektrini izvrni element koji
ostvaruje kretanje uzorka u tri dimenzije: dve
dimenzije ostvaruju ravansko skenirajue kretanje
liniju po liniju, dok je tree, visinsko kretanje,
diktirano informacijom koju generie nanokonzola
koja se nalazi u stalnoj interakciji sa uzorkom i pod
uticajem je privlano-odbojnih sila koje potiu od
njihove interakcije. Poznavajui dinamike osobine
nanokonzolnog senzora i stepeni zakon promene
meumolekularnih
sila
(Lenard-Dounsov
potencijal) iz dobijene interakcije se dobijaju
karakteristike ispitivanog materijala.

Slika 1. Shematski prikaz rada ureaja za merenje medjuatomskih i meumolekularnih sila (AFM).

Intenzitet privlano-odbojnih sila zavisi od

rastojanja izmeu nanokonzole i uzorka koje
odreuje promenljiva kontura povrine uzorka.
Promene rastojanja generiu promene intenziteta
sila koje savijaju nanokonzolu. Ugib nanokonzole
se registruje pomou ugla pod kojim se laserski
zrak, usmeren na vrh nanokonzole, odbija ka
fotodetektorskom senzoru ija je svaka taka
opremljena diodom osetljivom na svetlost, koja
lasersku odbijenu svetlost pretvara u elektrini
signal. Poloaj odbijenog zraka, odnosno
poznavanje pozicije diode koja prima odbijeni
12th International Conference on Tribology Serbiatrib11

laserski zrak, omoguava stalno praenje vertikalne

pozicije (ugiba) nanokonzole. Informacija o ugibu
se prenosi u korekcioni element koji greku, nastalu
promenom visine profila u odnosu na poetnu
ravnotenu vrednost (odreenu na poetku
snimanja) ponitava tako to pomera uzorak u
vertikalnom pravcu pomou piezoelektrinog
izvrnog elementa, kako bi se ugib nanokonzole
stalno odravao na konstantnoj vrednosti (poetna
vrednost). Poetna vrednost ugiba jeste ravnoteno
stanje privlanih meumolekularnih sila i sila
otpora usled krutosti nanokonzolnog nosaa
19

senzora. Sva pomeranja piezoelektrinog organa

uzrokovana su promenama na konturi povrine
uzorka tako da zapis vertikalnog pomeranja uzorka
(piezoelektrinog izvrnog elementa) zapravo
predstavlja zapis izgleda konture povrine uzorka.
Podaci za svaku liniju-presek uzorka se belee u
raunaru, koji je nosilac funkcija upravljanja i
obrade podataka, i na kraju se sve linije spajaju,
ime se dobija 3D rekonstrukcija topografskog
izgleda povrine uzorka. Kako sila interakcije na
zavisi od elektrine provodnosti uzorka to se mogu
ispitivati i neprovodni materijali.
2.2 MFM
Mikroskopija magnetnih sila (Magnetic Force
Microscopy MFM) je metoda karakterizacije
magnetnih struktura sa izraenom osetljivou na
komponente magnetnog polja iji pravac odstupa
od horizontalnog dakle poseduje ne-nultu
komponentu u pravcu ose simetrije senzora. Za
razliku od drugih metoda koje omoguavaju
snimanje magnetnih osobina celokupne zapremine
materijala, MFM prua informacije o raspodeli
nosilaca magnetnih osobina u tankom povrinskom
sloju materijala.
U metodi MFM se koristi tehnika dva
prolaza (prolaz senzora), kod koje se u prvom
prolazu prikupljaju informacije o topografiji
uzorka dok se u drugom prolazu vri merenje
magnetnih sila.
Dopunske tehnike zasnovane na MFM
obuhvataju mapiranje magnetootpornosti (eng.
Magnetoresistive Sensitivity Mapping MSM) i
visokofrekventnu MMS (eng. High Frequency
MFM HFMFM) kao i merenje magnetne
disipacije (eng. Magnetic Dissipation Microscopy
MDM).
Kvalitativna MFM predstavlja proirenje
dinamikog reima rada MAS i osnovni reim rada
MMS. Postupak merenja se sastoji iz istovremene
akvizicije dva snimka, jednog kojime se odreuje
topografija (standardnim polukontaktnim reimom)
i drugog kojime se odreuju magnetne osobine.
Slika 2. prikazuje primer snimka MMS.
Postupak drugog prolaza se izvodi tako to
senzor, na osnovu informacije o topografskom
profilu uzorka, formira odstojanje od uzorka (koje
je podeljiva veliina koja se inicijalno zadaje) koje
ima za zadatak da prostorno razdvoji uticaj van der
Valsovih sila od uticaja magnetnih sila koje sporije
opadaju sa rastojanjem.

20

Slika 2. Ilustracija tehnike dva prolaza. Slika levo: u

prvom prolazu senzor prenosi informaciju o topografiji
povrine uzorka. Slika desno: u drugom prolazu sistem
upravljanja prati putanju koja je prethodno odreena
informacijom o profilu topografije, i na zadatoj visini
odrava odstojanje od uzorka opisujui identian
topografski profil. Formirano odstojanje omoguava
fiziko filterovanje van der Valsovih sila uz
registrovanje samo magnetnih sila.

Metoda MFM zahteva i upotrebu posebnih

senzora iji vrh sadri feromagnetnu komponentu
koja moe primiti odreen stepen magnetizacije
koja se koristi u interakciji sa magnetnim poljem
uzorka. Klasian senzor poseduje vrh koji je
obloen presvlakom izraenom od tankog filma
feromagnetnog materijala koji se sastoji iz sloja
kobalta, debljine od oko 35-60 nm. Posledica
prisustva feromagnetnog filma je poveanje
radijusa zaobljenja vrha sonde i delimian gubitak
lateralne rezolucije koja trenutno iznosi oko 30-50
nm. Pitanje lateralne rezolucije predstavlja predmet
razvoja tehnikog reenja senzora tako da se
oekuje da u bliskoj budunosti lateralna rezolucija
snimanja dostigne i manje vrednosti.
Osim
klasinih
senzora
(sa
filmom
feromagnetnog materijala) u upotrebi su i senzori
na ijem se vrhu nalaze ugljenine nano-tube
(UNT) prenika oko 1.2 nm koje poseduju
paramagnetska svojstva. Kao paramagnetni
materijali, senzori sa UNT poseduju izuzetnu
osetljivost na spoljanje magnetno polje u koje
unose minimalnu pertubaciju uz istovremeno
12th International Conference on Tribology Serbiatrib11

pruanje vrhunske lateralne rezolucije. Oekuje se

da ovi senzori budu unapreeni dodavanjem
feromagnetnih komponenti u sastav ugljenine
nanotube ime bi se znaajno proirio opseg
magnetnih interakcija izmeu senzora i uzorka.
Konstanta krutosti mora biti dovoljno velika,
kako bi obezbedila stabilnost u polukontaktnom
reimu, ali i dovoljno mala kako bi nanokonzolni
nosa imao visoku osetljivost na slabe magnetne
sile (ije se merenje sprovodi u drugom prolazu).
Specifikacije za konstante krutosti veine senzora
se kreu u opsegu od 0.5-10.0 N/m. Skladitenje
magnetnih nanokonzolnih senzora zahteva upotrebu
odvlaivake komore kojom se spreava adhezija
vlage i neistoa na povrinu senzora. Takoe,
senzori se moraju zatiti od dejstva vazduha i

drugih oksidacionih sredstava koja mogu izmeniti

fiziko-hemijska svojstva magnetnog filma. Neki
proizvoai koriste zatitu magnetnog filma slojem
hroma debljine 20 nm koji omoguava veu
mehaniku i magnetnu stabilnost i produenje
radnog veka senzora. Ipak, uprkos prisustvu
zatitnog filma, veina proizvoaa senzora i
mikroskopa preporuuje uvanje senzora u
odvlaivakim komorama.
Magnetnu silu odreujemo, na osnovu energije
interakcije izmeu senzora i uzorka, sledeim
izrazom:

Fs u

Es u

(1)

Slika 3. Ilustracija rezultata metode AFM. Snimani uzorak je hidrogel dopiran kobaltom. Povrina snimanog uzorka je
1x1 m. Slika levo: uporedni snimak topografije povrine (ija maksimalna visina profila iznosi 43.6 nm) i magnetnih
osobina (snimak gradijenta magnetnog polja). Slika desno: trodimeznionalan prikaz topografije i magnetizma na kome
se uoava razdvajanje feromagnetne komponente (kobalt) od polimerne mree (hidrogel) koja predstavlja nosa i
pokazuje znaajno slabiju reakciju na prisustvo magnetnog polja nanokonzolnog senzora

U praktinoj primeni se interakcija senzoruzorak aproksimira jednodimenzionalnim sluajem

kod koga se razmatra samo komponenta u
vertikalnom pravcu (z) a zanemaruju komponente u
horizontalnim pravcima (x, y):
Fz

w
Es  u
wz

(2)

12th International Conference on Tribology Serbiatrib11

U sluaju postupka merenja magnetnih sila ova

aproksimacija ima dodatnu opravdanost zato to se
merenje magnetnih osobina vri na odstojanju od
uzorka ime se prosean vremenski poloaj
oscilujue sonde dodatno usklauje sa pravcem
upravnim na osu simetrije senzora. Osim toga,
odstojanje doprinosi i priguenju odstupanja od
vertiklanog pravca nastalih promenama profila
(usmerenja vektora normale na povrinu materijala).

21

2. ISPITIVANJE UGLJENINOG ELIKA

POMOU AFM/MFM

Slika 4. Snimci senzora koji se koriste u metodi MMS

dobijeni skenirajuim elektronskim mikroskopom. Slika
levo: senzor tipa NSC18/CoCr (proizvoa MikroMasch,
Estonia). Garantovani radijus vrha senzora je manji od
90 nm. Slika desno: senzor tipa PPP-LM-MFMR-20
(proizvoa Nanosensors, vjacarska). Garantovani
radijus vrha senzora je manji od 35 nm.

Pomou AFM-a dobijamo topografiju povrine

uzorka vrlo visoke rezolucije i moemo uoiti i
najmanje promene sve do 10 pm. Meutim, kod
nekih materijala kao to su ugljenini elici
moemo videti popunjenost prostora materijalom
pomou AFM, kao to je to dato na slici 5 (levo),
ali pomou MFM (desno) vidimo da postoji izrazito
smanjen gradijent magnetnog polja. Kako je gvoe
magnetik, a ugljenik dijamagnetik to iz uporedne
analize zakljuujemo da je granula veliine oko
nekoliko stotina nanometara u stvari, ugljenina
nanopartikula. Ostala, izrazito crna polja, na slici
desno ukazuju na nehomogenost
materijala
(rasporeenosti ugljenika u eliku). U sluaju da
imamo ulegnua u topografskoj slici AFM, a
izraziti magnetizam na tom mestu na MFM tada
mogu nastati dva sluaja: stanje Fe (jonsko) je
razliito ili se na tom mestu nalazi kiseonik (koji je
kao molekul O 2 paramagnetik).
Uporedna
topografska
i
magnetna
karakterizacija ugljenine partikule veliine 250 nm
u ugljeninom eliku data je na sl. 5. Pojava ovakve
nehomogenosti moe dovesti do pojave nanopukotina koje pod dinamikim optereenjem se
spajaju i postaju mikro pukotine i na kraju, makro
pukotine. Slian problem moe nastati zbog
prisustva kiseonika (molekularnog, O 2 ).

Slika 5. AFM/MFM iste povrine za ugljenine elike.

22

12th International Conference on Tribology Serbiatrib11

Slika 6. (a) Topografska karakterizacija ugljenine partikule u ugljeninom eliku

Slika 6. (b) Magnetna karakterizacija ugljenine partikule u ugljeninom eliku (pojavamagntenih rupa)

3. ZAKLJUAK:
Mikroskopija magnetnih sila (MFM) se koristi
za snimanje gradijenta magnetnog polja i njegove
distribucije po povrini uzorka. MFM ima
mogunost snimanja magnetnog podruja od svega
nekoliko nanometara. MFM koristi tehniku dva
prolaza, a detektovanje magnetnih sila se vri u
drugom prolazu. Varijacije MFM ukljuuju
Magnetoresistive Sensitivity Mapping (MSM) i
High Frequency MFM (HFMFM) kao i Magnetic
Dissipation Microscopy (MDM). Navedene tehnike
zahtevaju upotrebu kantilevera sa magnetnom
presvlakom (Co-Cr). Ista presvlaka je formirana i
na poleini kantilevera zbog prevencije savijanja i
poveanja refleksije laserskog snopa. Iako je
12th International Conference on Tribology Serbiatrib11

kantilever namagnetisan prilikom proizvodnje,

poeljno je i dodatno, naknadno, namagnetisavanje
pomou magneta. Vrednost namagnetisanja
kantilevera je obino izmedju 50 i 100 nT.
Konstanta elastinosti i rezonantna frekvencija
kantilevera obezbeuju stabilnost u tapping modu i
visoku osetljivost na slabe magnetne sile u drugom
prolazu. Za uvanje ovih kantilevera mora se
koristiti specijalna posuda (odvlaiva) da bi
vlanost bila kontrolisana. Takoe, moraju se zatiti
od dejstva vazduha i kiselina.
Danas je nanotehnologija prisutna na svim
renomiranim univerzitetima u svetu. Drave poput
SAD, Japana, Evropske Unije, Kine i Rusije ulau
velika sredstva u razvoj nanotehnologija. Mnoge
svetske kompanije u svoj razvoj uvrstile su
23

nanotehnologije, a neke su poele da i plasiraju

nanotehnoloke proizvode na trite. U domenu
zatite od UV zraenja nanopartikule na bazi ZnO i
TiO 2 pokazala su izrazite prednosti. Generalno,
nanopartikule obezbeuju i do deset puta bolju
hemijsku reakciju nego klasini materijal, jer se
poveava aktivna povrina na kojima se odigrava
hemijska reakcija. U razvijenim zemljama ve
postoje automobili bez brisaa na oferajbnama, a
razlog tome je nanotehnoloko reenje koje ne
dozvoljava zadravanje kinih kapi ili praine.
Athezione sile su manje od smiuih sila na
povrini stakla, to se obezbeuje nanoporama koje
se golim okom ne primeuju. Slina situacija je i sa
veoma otpornim premazima i tankim filmovima na
habanje koji tite automobile i nedozvoljavaju
stvaranje ogrebotna. Od nanotuba se prave prvi
elektronski prekidai i sklopovi za potrebe
nanoelektronike, a u mainstvu uad ija je zatezna
vrstoa od 8-10 puta vea nego kod proizvoda od
istog materijala i istog prenika. to se tie tekstilne
industije na pomolu je prava revolucija, jer se radi
na razvoju tekstlnih vlakana koja e biti
biokompatibilna i komlemetarna sa koom, a koja
e pored standardne funkcije koju imaju odevni
pedmeti imati i ulogu biosenzornog sistema. Kako
se na koi u triger zonama reprezentuju funkcije
pojedinih organa tela to e se u budunosti moi
napraviti intiligentna odea koja e izvetavati
nosioca ili lekara (telemetrijski) o zdravstvenom
stanju
osobe
koja nosi nanotehnoloku
intiligentnu odeu.
Nanotehnoloka partikularna reenja u oblasti
instrmentacije i materijala je i dalje u usponu.
Njihova primena je obino u poboljanju postojeih
klasinih tehnolokih reenja, ali se uoava i
tendencijaja integralnog pristupa. Moe se rei da
su nanotehnologije danas u povoju, odnosno u eri
kamenog doba. U okviru veine postojeih
tehnolokih disiplina nanotehnologije nalaze sve
veu primenu, ali se polako formira i novi
tehnoloki pravac koji traga za nanositemskim
reenjima u kojima su integrisana organizaciona,
energetska, informaciona i upravljaka reenja. Za
sada su domintna dva glavna pravca razvoja, jedan
je fiziki orjentisane nanotehnologije, a drugi
hemijski orjentisane nanotehnologije. U bliskoj
budunosti oekje se, kao prvi korak, integracija
ova dva prvca na primtivnom nivou, a zatim i
njihova sinergija.
Integralni nanotehnoloki pristup podrazumeva
izbor samo-asemblirajuih materijala, pa zato
nanomaterijal mora biti kodogen (slino kao DNK),

24

bazini energetski izvor mora biti molekularni

(slian ATP), organizacijona struktura treba biti
samo-organizujua, to implicira da informaconi
procesi trebaju imati dva kanala: klasini i kvantni.
Nano-upravljanje mora biti imanentno sistemu, i po
svom karakteru prirodno, to podrazumeva
dvostruko: unutranje i spoljanje, odnosno lokalno
i globalno. U ovakvom pristupu biomimikra je
neophodna, ali nanotehnoloko reenje u odnosu na
bioloko je kao let ptice i let aviona, oba sistema
imaju krila, ali let je u osnovi razliit. Ono to im je
zajedniko je let kroz istu sredinu (vazduh), pa e
zajedniko biolokim i nanotehnolokim sistemima
biti
voda.
Makroskopska
manifestacija
nanotehnolokog sistema poivae na viskoznoelastinim
svojstvima
samo-asemblirajueg
kodogenog
nanomaterijala.
Voda
postaje
nezamnljiva unutranja aktivna radna supstanca,
kao sredina nanotehnolokog sistema u kojoj su
uronjeni visko-elastini kodogeni i samoasemblirajui nanomaterijali.
REFERENCE:
[1] Matija, L., Nanotechnology: Artificial Versus
Natural Self-Assembly, FME
Transactions,
Vol.32, pp.1-14, 2004
[2] Koruga,Dj. Hameroff,S., Withers,J., Loutfy,R., and
Sundareshan,M., Fullerene C 60 : History, Physics,
Nanobiology, Nanotechnology, North.Holland
(Elsevier), Amsterdam, 1993.
[3] Binnig,G.,
Rohrer,H.,
Scanning
tunneling
microscopy, Helvetica Physica Acta, 55: 726735,1982.
[4] Kroto,H.W.,Heath,J.R.,OBrein,S.C.O., Curl,R.F.,
:
Buckministrefullerene,
Smally,R.E.,
C 60
Nature,318:162-163,1985.
[5] D. Koji, R. Mitrovi, L. Matija, . Koruga:
Magnetic Force Microscopy application in steel
structure and milling process parameters evaluation,
Materials and Manufacturing Processes, 532-2475,
Volume 24, Issue 10, 2009, Pages 1168 1172.
[6] D. Koji, L. Matija, Lj. Petrov, R. Mitrovi, Dj.
Koruga: Surface characterization of Pb 1-x Mn x Te
alloy by Atomic Force Microscopy and Magnetic
Force
Mode,
Surface
Engineering,
0.1179/174329409X409369.
[7] M.Papi-Obradovi, S. Miljkovi, L. Matija, J.
Munan, .Koruga, Osnove nanomedicine:
Embriologija, Farmakologija, Nanotehnologija,
DonVas, Beograd, 2010.
[8] Matija, L, Koji,D., Vasi,A., Bojovi,B.,
Jovanovi, T., Koruga,., Uvod u nanotehnologije,
DonVas-Nauka, beograd 2011.

12th International Conference on Tribology Serbiatrib11