intensidad
IN TROD U CCI N
El presente texto tiene como objeto fomentar la comprensin de las
tcnicas de absorcin atmica, ampliamente usadas en la industria en general.
Se estima que el conocimiento de los fundamentos de la espectrometra de
absorcin atmica (A A S) brindar la oportunidad de mejorar la calidad del
trabajo analtico mediante el conocimiento de cada parmetro de operacin
del equipo y la influencia de estos sobre la exactitud de los resultados.
Luego de un recuento histrico breve, se estudian los principios bsicos
tales como la definicin de espectrometra de absorcin atmica, la absorcin
de la luz, su relacin con la concentracin de un elemento y la formacin de
los espectros atmicos. El estudio de fuentes de radiacin, tanto continuas
como lineales, es asimismo explicada a nivel de dispositivos tales como
lmparas de deuterio y de ctodo hueco.
Se describe tambin
la atomizacin
por flama, el sistema
nebulizador-quemador, la descomposicin de compuestos, la posicin del
quemador, la absorcin del background y la influencia de la ionizacin. En la
atomizacin por horno se aprecia el fundamento de operacin, el equipo
atomizador y los procesos de secado y calcinado. En la generacin de vapor se
estudia tanto la generacin de hidruros como la tcnica de vapor fro.
El estudio de los monocromadores se complementa con el de los
sistemas pticos, la correccin del background mediante estos sistemas y el
estudio de los lentes y espejos. La deteccin de la radiacin se revisa en base al
fotomultiplicador y sus caractersticas. Los sistemas de lectura son tambin
enfocados, como medio para obtener la cuantificacin de valores analticos.
En el anlisis cuantitativo se estudian los parmetros de rendimiento
analtico en AAS. Asimismo, se revisa el anlisis prctico mediante flama, horno
y generacin de vapor. Tambin se expone una introduccin a la aplicacin de
la computacin a la AAS. Posteriormente, se estudia la optimizacin de
instrumentos y mtodos.
Finalmente, acorde con la tendencia actual en la industria, se revisan
tpicos acerca de seguridad en el laboratorio de AAS, reconociendo el
potencial de peligro de esta tcnica analtica y el valor de los recurso humanos
y materiales involucrados en su ejecucin.
Cabe destacar que este libro es una recopilacin de cierta literatura
sobre absorcin atmica (la mayor parte en idioma ingls), traducida,
organizada y con ciertas observaciones prcticas. En ningn caso,es pretensin
del suscrito ser el creador de esta obra, sino tan slo un compilador de
informacin que considera til para el personal tcnico calificado de nuestro
pas, donde es escasa la literatura en castellano sobre esta materia.
E
utor
F undamentos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
t m ic a
N D IC E
In tro d u c c i n ......................................................................................................
03
C a p tu lo I
1.
C a p tu lo II
2.
Principios Bsicos..............................................................................................08
2 .1
Espectrometra de Absorcin A t m ic a .............................................. 08
2.2
Bases T e ric a s..................................................................................... I I
2.2.1 La Absorcin de la Luz y el Espectro A t m ic o ................................. I I
2.2.2 Relacin Absorcin de Luz-Concentracin del A n a lito .................... 12
C a p tu lo III
3.
Fuentes de Radiacin....................................................................................... 14
3.1
Fuentes C o ntinuas............................................................................... 14
3.1.1
Lmpara de D e u te rio .............................................................. 15
3.2
Fuentes Lineales................................................................................... 16
3.2.1
Lmparas de Ctodo Hueco ( H C L ) ....................................... 18
3.2.2 Lmparas Multi-Elemento....................................................... 22
3.2.3 Lmparas de Descarga sin Electrodo ( E D L ) ...........................22
C ap tu lo IV
4.
C a p tu lo V
5.
C ap tu lo V I
6.
F undamentos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
A t m ic a
C a p tu lo V II
7.
M onocrom adores............................................................................................5 I
C a p tu lo V III
8.
Sistemas p tico s ..............................................................................................55
8.1
Sistemas O p tic o s .................................................................................55
8.2
Correccin del Background................................................................ 57
8.2.1
Correccin con Lmpara de D e u te rio ...................................57
8.2.2 Correccin con Efecto Z e e m a n ............................................. 59
8.2.3 Correccin con Corriente Pulsante A lt a ............................... 59
8.3
8.4
Lentes...................................................................................................59
Espejos................................................................................................. 60
C a p tu lo I X
9.
Deteccin de la Radiacin............................................................................... 62
9.1
El Fotomultiplicador............................................................................ 62
9.2
Caractersticas del Fotomultiplicador................................................64
C a p tu lo X
10.
Sistemas de Lectu ra......................................................................................... 66
C a p tu lo X I
I I.
Anlisis Cuantitativo........................................................................................ 68
I l.l
Parmetros del Rendimiento Analtico en A A S ................................68
I l.l.l Concentracin C aracterstica.................................................68
I 1.1.2 Rango de T rab ajo .................................................................... 69
I 1.1.3 Exactitud y Precisin.............................................................. 71
11.2
Anlisis Cuantitativo I: Atomizacin por Flam a.................................75
I 1.2.1 Estndares.................................................................................75
I 1.2.2 Adiciones de Estndar............................................................77
I 1.2.3 Situaciones Analticas Sim ples.................................................78
11.2.4 Muestras Com plejas................................................................ 79
I 1.2.5 Determinacin de T razas....................................................... 79
11.3
Anlisis Cuantitativo II: Atomizacin por H o r n o ............................. 80
1.4
1.5
1.6
1.7
I 1.8
I
I
I
I
C a p tu lo X I I
I 2.
Optimizacin de Instrumentos y M to d o s.................................................... 94
12.1
Reconocimiento de Errores y Optimizacin del Instrum ento..........94
12.l.l
F undamentos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
t m ic a
C ap tu lo X I I I
13.
Seguridad......................................................................................................... 98
I 3 .1 Sistema de Extraccin..........................................................................98
13.2
Cilindros de Gases Comprimidos (Acetileno, A rg n )....................... 99
13.3
Tuberas Flexibles de Gas y C o nexio nes............................................ 99
13.4
A cetileno.............................................................................................. 99
13.5
xido N itro s o .................................................................................. 100
13.6
Solventes Inflamables......................................................................... 100
13.7
Quem adores...................................................................................... 100
13.8
Trampa de Lquidos........................................................................... 101
13.9
Radiacin Ultravioleta........................................................................ 101
13.10 Peligros del C a lo r ............................................................................... 101
13.11 Inspeccin de Seguridad..................................................................... 101
C aptulo X I V
14.
A n e x o s ...........................................................................................................
14 .1 Modos de Medicin en A A S ..............................................................
14.2
Modos de Calibracin en A A S ..........................................................
14.3
Tipos de Medicin en A A S ................................................................
103
103
103
103
F u ndam entos
del
n l is is po r
b s o r c i n
A t m ic a
C A PTU LO I
DESARROLLO HISTRICO
I.
is t r ic o
F undamentos
del
A n l is is
po r
b s o r c i n
t m ic a
C A P T U L O II
PRIN CIPIOS B S IC O S
2.
r in c ip io s
2 .1
s ic o s
E s p e c t r o m e t r a de A b s o r c i n A t m ic a
espectrometra
de
i.
ii.
1. De acuerdo con el segundo principio, si una muestra que contiene fierro junto con otros elementos tales
como cadmio y plata es expuesta a una luz que corresponda a la longitud de onda caracterstica para el
fierro, solo los tomos de fierro absorbern esta luz.
2. Los siguientes elementos (figura 01) son detectables por la tcnica de absorcin atmica.
TABLA PERIDICA
He
Be
Na Mg
Al
Si
'o
Cl
Ar
Cu Zn Ga Ge As Se
Br
Kr
A6
Li
K.
Ca Se
Rb Si
Cr Mn Fe Co
Zr
Nb Mo Te Ru fih Pd Ag Cd
Cs Ba La Hf Ta W
Ff
r]
Ni
Ti
Fie Os
It
In
Pt Au Hg TI
Sn Sb Te
Pb
Bi
Po Al Fin
Ac Rf Db Sn Bh H s Mi
Ce
Pr Nd Pr.' Sm Eu Gd Tb Dy Ho Er Trn Yb Lu
Th Pe
Np Hu Arn Crn Bk
Es Fm M d No Lv-.i
F undam entos
del
A n l is is
po r
b s o r c i n
t m ic a
elemento a analizar.
Un atomizador para crear una poblacin de tomos a analizar
- 9
F u ndam entos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
t m ic a
Etapa
1
Atomizacin del blanco y los estndares a su vez y medir la respuesta para cada solucin
(figura 04).
6
10
F undam entos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
t m ic a
2.2
B ase s T e r ic a s
2 .2 .1
L a A b s o r c i n de l a L u z y
el E sp e ctro A t m ic o
4P
3P
2.2 eV
330.3 nm
589.0 nm
3S
3.6 eV
estado basal
0.0 eV
i-
F undamentos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
A t m ic a
de onda, cada longitud de onda muestra una energa aguda mxima (una
'lnea' espectroscpica). Los espectros atmicos se distinguen por estas
lneas caractersticas, que pueden ser contrastadas con la banda
espectral ms amplia asociada con las molculas. Las lneas que se
originan del tomo en estado basal son a menudo de inters en
espectrometra de absorcin atmica y se denominan lneas de
resonancia.
El
espectro
atmico
caracterstico
de cada elemento
comprende cierto nmero de lneas discretas, algunas de las cuales son
lneas de resonancia. La mayora de las otras lneas se desprenden de
los estados excitados, ms que del estado basal. Desde que las lneas de
resonancia son mucho ms sensitivas y desde que la mayora de los '
tomos en un atomizador prctico se encuentran en el estado basal,
estas lneas de estado excitado no son generalmente tiles para el
anlisis por absorcin atmica.
2 .2.2
R e l a c i n
A b s o r c i n d e L u z - C o n c e n t r a c i n d e l A n a l it o
lo g io I0 / It - abe = Absorbancia
(I)
donde:
l0 : potencia de radiacin incidente
Ir : potencia de radiacin transmitida
a : coeficiente de absorcin (absorbancia)
b : longitud del paso de absorcin
c : concentracin de los tomos absorbentes
esto es, la absorbancia es proporcional a la concentracin del elemento
para un paso de absorcin dado y una longitud de onda dada.
Si una muestra de concentracin c tiene cierta absorbancia
medida, otra muestra de concentracin 2c, de acuerdo con la ley de
Beer-Lambert, tendr dos veces esta absorbancia. La absorbancia es
F undamentos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
t m ic a
una medida de la cantidad de luz absorbida por los tomos bajo ciertas
condiciones dadas, y esta es la medicin de inters; la ley de
Beer-Lambert nos permite relacionar la absorbancia medida a la
concentracin de elemento a analizar en la muestra.
En principio, podra ser posible calcular la concentracin
directamente de la ecuacin ( I). Sin embargo, en la prctica las
cantidades a y b en la ecuacin ( I ) son constantes y normalmente no
son determinadas. La manera ms simple de usar los mtodos de
absorcin atmica es medir la absorbancia para soluciones estndar
donde la concentracin es conocida y luego comparar esta curva con la
absorbancia obtenida por la muestra desconocida. Desde que la
absorbancia medida depende directamente de la concentracin del '
elemento a analizar, este procedimiento proporciona un mtodo simple
y preciso para determinar la concentracin desconocida mientras que
compensa los efectos instrumentales que hacen el clculo terico muy
incierto.
Convencionalmente,
puede
hacerse
la
calibracin
y
comparacin con estndares en forma grfica. Se prepara un grfico de
calibracin para cada situacin relacionando ia concentracin del
elemento a analizar con la absorbancia medida. Bajo la ley de
Beer-Lambert, este grfico ser lineal y la concentracin de muestras
desconocidas puede ser determinada por interpolacin en el grfico
(figura 03).
13
F undamentos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
t m ic a
C A P T U L O III
F U E N T E S DE R A D IA C I N
3.
uen tes
3.1
de
R a d ia c i n
F u e n t e s C o n t in u a s
i-
14 -
F undamentos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
A t m ic a
Notas:
i. La lmpara de deuterio es una lmpara espectral con deuterio como gas de descarga en un bulbo de cuarzo.
Para algunas aplicaciones tambin se ha usado hidrgeno como el gas de descarga. La lmpara de deuterio
emite una potencia radiante lo suficientemente alta en el corto rango de longitudes de onda desde cerca de
190 nm hasta 330 nm.
ii. Una lmpara halgena consiste en una banda o espiral calentada elctricamente, usualmente de tungsteno, en
un bulbo de cuarzo o vidrio. El oscurecimiento del bulbo por depsitos metlicos es prevenido por aditivos
gaseosos halogenados. La lmpara halgena emite potencia radiante suficientemente alta en el rango espectral
desde 300 nm y se extiende lejos en el infrarrojo. Sus caractersticas espectrales se muestran en la figura 05.
Como puede observarse, ambas lmparas complementan sus respectivos rangos de trabajo.
3.1.1
L m pa r a d e D eu t e r io
15
F undamentos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
t m ic a
3.2
F u e n t e s L in e a l e s
16
F undam entos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
A t m ic a
17
F u ndam entos
del
3.2.1
n l is is p o r
b s o r c i n
A t m ic a
L m paras de C to d o H u ec o
(H C L )
base
ctodo
cubierta de vidrio
ventana
n d
envoltura de vidrio
18
'
F undamentos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
A t m ic a
19
F undamentos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
A t m ic a
b.
c.
d.
e.
f.
Condiciones de Operacin
Para la operacin prctica, es esencial que la lmpara de ctodo
hueco est correctamente alineada en el haz ptico. Esto es, sin
embargo, asunto de alinear mecnicamente la lmpara por medio de
uno o dos tornillos para obtener la mxima seal. Una vez que la
-
20
F undamentos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
t m ic a
F undamentos
del
3.2.2
A n l is is
po r
b s o r c i n
A t m ic a
L m p a r a s M u l t i- E l e m e n t o
L m p a r a s d e D e s c a r g a s in E l e c t r o d o
(E D L )
2 2
F undamentos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
A t m ic a
23
F u ndam entos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
t m ic a
C A P T U L O IV
A T O M I Z A C I N PO R FLA M A (F AAS)
4.
A to m iz a c i n
por
F la m a ( F A A S )
%
- 24
Fundamentos
del
A n l is is
por
b s o r c i n
t m ic a
T ip o s d e F la m a
25
F undam entos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
A t m ic a
ii.
Combustible
Oxidante
Temperatura K
Acetileno
Aire
2400 - 2700
Acetileno
Oxido Nitroso
2900 - 3100
Acetileno
Oxgeno
3300 - 3400
Hidrgeno
Aire
2300 - 2400
Hidrgeno
Oxgeno
2800 - 3000
Ciangeno
Oxgeno
4,800
26
F undam entos
del
4.2
n l is is p o r
b s o r c i n
A t m ic a
E l S is t e m a N e b u l iz a d o r - Q u e m a d o r
haz ptico
O
O
- J-
tomos libres
J ~ ) -------------------
atomizacin
especies
moleculares
vaporizacin
lquido fundido
partculas
slidas
desolvatacin
aerosol
combustible-oxidante
solucin
exceso de solucin
a desecho
gotas
- 27
' T-
F undamentos
del
n l is is po r
b s o r c i n
t m ic a
28
4.3
N eb u liz a c i n
F undam entos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
t m ic a
- 30
Fundamentos
del
n l is is po r
b s o r c i n
t m ic a
ii.
D e s c o m p o s ic i n d e C o m p u e s t o s
F undamentos
del
A n l is is
por
b s o r c i n
t m ic a
universalmente
b.
c.
d.
F u ndam entos
e.
del
n l is is p o r
b s o r c i n
t m ic a
ii.
minimizar
remover
tales
F u ndam entos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
t m ic a
Anlisis
Generacin de Vapor
Rango de Trabajo
Rango de Trabajo
Rango de Trabajo
pg/mL
ng/mL
pg/mL
de Flama
Tipo de Flama
Ag
As
AA
0.03 - 10
0.5 - 12
NA/AA
2 - 200
5 - 100
Au
AA
0.10 - 30
2 - 40
Cu
AA
0.02 - 10
1 - 20
Fe
AA
0.05 - 20
1 - 20
Hg
Pb
AA
2 - 600
n l - 20
0.01 - 0.08
AA
0.2 - 30
2 - 25
0.05 - 0.30
Zn
AA
0.01 - 2
0.1 - 2
0.005 - 0.03
[* ] |Jg/mL
A A = aire-acetileno
N A = xido nitroso-acetileno
Tabla IV. Parmetros de Operacin para Mtodos AAS desarrollados sobre algunos
Elementos de Inters (Au, Ag, Cu, Fe, Pb, Zn, As, Hg)
Elemento
Medio
Longitud de
Onda (nm)
Corriente de
Lmpara .
Slit (nm)
Estndares
ppm (Abs.)
Std. 1
Std. 2
10 ( 0.346)
12 (1.123)
(mA)
4.5
Au
CN-
242.8
4.0
0.5
5 (0.319)
Ag
CN-
328.1
4.0
0.5
4 (0.598)
Ag
Cu
HCI
328.1
4.0
0.5
4 (0.403)
HCI
324.7
3.0
0.5
5 (0.889)
Fe
HCI
248.3
7.0
0.2
5 (0.636)
Pb
HCI
217.0
5.0
1.0
20 (0.622)
Zn
HCI
213.9
5.0
0.5
1 (0.208)
Hg
As
HCI
253.7
3.0
0.5
0.2 (0.825)
HCI
193.7
20.01'1
2.0
5 (0.810)
3 (0.461)
P o s ic i n d e l Q u e m a d o r
F undamentos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
A t m ic a
F undamentos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
t m ic a
4.6
A b s o r c i n d e l B a c k g r o u n d
36
F undam entos
del
A n l is is
por
b s o r c i n
A t m ic a
F undam entos
del
n l is is po r
b s o r c i n
t m ic a
absorcin por background puede ser problemtica. Con los sistemas de horno
de grafito, sin embargo, la situacin es algo diferente. En la etapa de calcinado,
es algunas veces necesario hacer un compromiso entre la remocin completa
del efecto matricial no deseado y la prdida del elemento analito. Bajos estas
condiciones, las especies moleculares pueden estar presentes durante la etapa
de atomizacin y asimismo puede ocurrir absorcin por background en forma
significativa. Generalmente, el uso de un corrector por background
compensar la absorcin por background, mientras que en algunos anlisis por
horno es posible evitar o minimizar el problema mediante modificacin
qumica de los estndares y muestras. Estas situaciones se discuten en el
captulo sobre Anlisis Cuantitativo.
4.7
Io n iz a c i n
i-
38
Fundamentos
del
n l is is po r
b s o r c i n
t m ic a
3 g
Fundamentos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
t m ic a
una flama, el equilibrio entre los tomos neutrales de sodio y iones sodio es
dependiente de la temperatura.
Si se introduce ahora un exceso de cloruro de potasio en la solucin de
cloruro de sodio el potasio se comportar de manera similar.
Desde que ambas de estas ionizaciones producen electrones libres, la
Ley de Accin de Masas causa que el equilibrio de ionizacin sea desplazado en
una direccin que favorezca a los tomos neutrales y en consecuencia se
obtendr una mayor absorbancia para una medicin del sodio por absorcin
atmica.
El resultado de tal comportamiento es fcil de observar. Si se usan
estndares que contienen nicamente sodio, la ionizacin reducir en forma
significativa las lecturas de absorcin atmica.
Si luego se mide una muestra que contenga tambin potasio, el grado
de ionizacin de los tomos de sodio decrecer debido a la presencia del
potasio, y en consecuencia se obtendr una lectura de absorcin atmica
relativamente ms alta.
En la prctica, los medios efectivos de evitar la interferencia debida a la
ionizacin es amortiguar los estndares y muestras con una alta concentracin
de un elemento fcilmente ionizable. Puesto que la concentracin de este
elemento es mucho mayor que el del elemento analito, y su potencial de
ionizacin ms bajo, puede efectuarse una supresin esencialmente completa
de la ionizacin.
Debido a su bajo potencial de ionizacin, los amortiguadores de
ionizacin comnmente usados son: sodio, potasio y cesio.
- 40
F undam entos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
t m ic a
CA PTU LO V
A T O M I Z A C I N POR H O R N O (GF A A S)
5.
t o m iz a c i n
po r
orno
(G F
A A S)
P r in c ip io d e O p e r a c i n
b.
c.
material inorgnico.
Atomizacin, en la cual los tomos libres del analito son generados dentro
de una zona confinada coincidente con el haz ptico del instrumento AAS.
- 41
Fu ndam entos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
t m ic a
A t o m iz a d o r e s d e T u b o d e G r a fit o
F undamentos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
t m ic a
puerto de inyeccin
de muestra
haz
ptico
tubo de grafito
r
electrodo
llilE
electrodo
5.3
S e c a d o y C a l c in a d o
- 43
*7*
Fundamentos
del
n l is is po r
b s o r c io n
t m ic a
un nmero de
ser programada
incremento de
24 se ilustra un
Etapa N
Temp. C
Tiempo (seg.)
Flujo de Gas
90
3.0
3.0
normal
95
50.0
3.0
normal
150
10.0
3.0
normal
1200
10.0
3.0
normal
1200
20.0
3.0
normal
1200
0.5
0.0
normal
2400
0.7
0.0
normal
2400
0.5
0.0
normal
2400
2.0
normal
10
- 44
F u ndam entos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
t m ic a
C A P T U L O VI
G E N E R A C I N DE V A P O R (HG AAS)
6.
en er a ci n
de
apor
(H G
AA S)
%
G e n e r a c i n d e H id r u r o s
- 45
F undamentos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
A t m ic a
B H 4- + H30 +
+ 2 H 20
H 3B O 3 + 4H 2
y
3
B H 4- + 3H + + 4 H 2S e 0 3 - * 4SeH 2 + 3H20
+ 3 H3BO3
- 46
F undamentos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
t m ic a
Disociacin trmica
Salida de As'+H-,
2A s , * 2 As + 3
optical path
tomos As
HCL-As
/
//
Calor (flama)
Entrada de A sH 3
Figura 2b.
F undamentos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
A t m ic a
T c n ic a d e V a p o r F r o
F undamentos
del
n l is is po r
b s o r c i n
t m ic a
- 49
F undamentos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
t m ic a
optical path
tomos Hg
H C L - H?
Entrada de H ?
Salida de H ?
Figura 28.
Figura 28. Celda de absorcin de cuarzo, usada en la tcnica de vapor fro para
determinacin de mercurio.
Algunos metales pesados pueden interferir dado que pueden ser
reducidos por el tetraborato de sodio (o cloruro estaoso) y luego reaccionar
en la forma reducida con mercurio. En principio, estas interferencias son
anlogas a aquellas que pueden ser observadas en la tcnica de generacin de
hidruros. Los metales nobles reducidos pueden reaccionar con mercurio va la
formacin de amalgamas, los metales que son menos nobles pueden aglutinar al
mercurio por cementacin. Para evitar estas interferencias se tienen las
siguientes medidas:
incrementar la concentracin de cido
C d
F undamentos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
t m ic a
C A P T U L O VII
MONOCROMADORES
7.
o n o c ro m a d o res
- 51
F undamentos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
A t m ic a
C A P T U L O Vil
MONOCROMADORES
7.
o n o c ro m a d o res
_ 5l _
F undamentos
del
n l is is po r
b s o r c i n
t m ic a
ranuras por milmetro. Las ranuras deben ser rectas, igualmente espaciadas,
paralelas y de forma idntica. La luz que llega a estas ranuras es difractada, y
por un proceso de mutua interferencia, la luz es dispersada en diferentes
ngulos de acuerdo a su longitud de onda. El espectro resultante es difundido
sobre un ngulo amplio al dejar la superficie de la rejilla. Al rotar la rejilla,
cualquiera de las longitudes de onda constituyentes pueden ser enfocadas
sobre el slit de salida va el segundo espejo. El remanente del espectro no cae
en el segundo espejo, o es enfocado lejos del slit de salida.
F u ndam entos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
A t m ic a
linea de resonancia
linea de resonancia
linea de resonancia
lnea
adyacente
I___ I
I_________________ I
slit demasiado
estrecho
slit ptimo
slit demasiado
ancho
ruido
cun/atura de
calibracin
ruido
Figura 32. Ancho del slit, linealidad de calibracin
y razn seal-ruido
F u ndam entos
del
n l is is po r
b s o r c i n
A t m ic a
C A P T U L O VIII
S ISTEM A S P T I C O S
8.
is t e m a s
8.1
p t ic o s
S istem a s p t ic o s
i -
55
f-
F undamentos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
t m ic a
56
F undamentos
del
n l is is po r
b s o r c i n
t m ic a
8.2
C o r r e c c i n d e l B a c k g r o u n d
C o r r e c c i n c o n L m p a r a d e D e u t e r io
= solo background
- 57
F undam entos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
A t m ic a
58
F undamentos
del
8.2.2
n l is is p o r
b s o r c i n
A t m ic a
C o r r e c c i n c o n E f e c t o Z e e m a n
C o r r e c c i n c o n C o r r ie n t e P u l s a n t e A l t a
L entes
59
F undam entos
del
A n l is is
por
b s o r c i n
t m ic a
Figura 38. Variacin del ndice de refraccin con la longitud de onda para el
cuarzo claro
Los lentes son usualmente fabricados de vidrio de slice de alta calidad
que proporciona buena transmisin ptica sobre el rango de longitudes de
onda de 190 nm a 900 nm. Las nicas prdidas significativas son causadas por
reflexin en cada superficie aire-lente. Esto es comnmente cerca del 7% de
cada superficie o cerca de 15% para cada lente en el haz ptico.
Los lentes fabricados de vidrio que tienen menor calidad ptica que el
vidrio de slice puro muestran mayores prdidas especialmente debajo de 250
nm. Prdidas similares en la regin de baja longitud de onda pueden ocurrir
tambin si los lentes estn recubiertos por polvo o grasa.
8.4
E spejos
F undamentos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
A t m ic a
pueden ser distorsionadas en forma grosera. Esta distorsin solo puede ser
evitada usando espejos toroidales, esto es, espejos que tengan diferente radio
horizontal y vertical.
Los espejos invariablemente tienen su superficie frontal recubierta con
aluminio por deposicin en vaco.
Un
recubrimiento de aluminio
adecuadamente controlado tiene una reflectividad superior al 90% sobre el
rango ntegro de longitud de onda de 190 nm a 900 nm. El recubrimiento de
aluminio es extremadamente delgado (1.5 x 10 3 mm) y puede ser fcilmente
daado an por un pao suave. Los humos qumicos pueden tambin atacar el
recubrimiento y an una huella digital puede causar dao irreparable. El
delicado aluminio puede ser protegido cubrindolo con pelculas evaporadas
de materiales tales como slice o fluoruro de magnesio y esto puede tambin '
dar una ligera mejora en la reflectividad.
F u ndam entos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
t m ic a
CA P T U LO IX
D E T E C C I N DE L A R A D IA C I N
9.
e t e c c i n
9.1
de la
R a d ia c i n
E l F o to m u ltip lic a d o r
62
F undam entos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
A t m ic a
- 63
Fundamentos
9.2
del
n l is is p o r
b s o r c i n
t m ic a
C a r a c t e r s t ic a s d e l
F o t o m u l t ip l ic a d o r
A.
B.
Eficiencia C u n tica
C.
D.
E.
Ruido
- 64
F undam entos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
t m ic a
F.
C o rrie n te O sc u ra
G.
- 65
F undam entos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
t m ic a
CA PTU LO X
S IS TE M A S DE L E C T U R A
I 0.
is t e m a s d e
ectura
- 66
F undamentos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
t m ic a
- 67
Fu ndam entos
del
n l is is po r
b s o r c i n
A t m ic a
C A P T U L O XI
A N L IS IS C U A N T I T A T I V O
I I.
n l is is
u a n t it a t iv o
I l.l.l
P a r m e t r o s d e l R e n d im ie n t o A n a l t ic o en
AAS
C o n c e n t r a c i n C a r a c t e r s t ic a
68
F u ndam entos
del
n l is is po r
b s o r c i n
t m ic a
R a n g o d e T ra ba jo
F u ndam entos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
t m ic a
acuosa. Este valor puede entonces ser usado para establecer un rango
nominal de trabajo para el elemento de inters.
Desde que por
definicin la concentracin caracterstica produce una absorbancia de
0.0044, una simple multiplicacin por 100 da la concentracin
requerida para obtener una absorbancia de 0.44 (cerca de la mitad del
rango ptimo). Una vez que se ha establecido esta 'marca de
rendimiento, es solo asunto de calcular el rango integral de trabajo
junto con algn factor de concentracin o dilucin que puede ser
necesario para una situacin analtica especifica. En situaciones donde la
muestra es complicada o cuando se conoce poco acerca de la
concentracin de la muestra, puede ser necesario establecer el rango
de absorbancia por ensayo-error, y es buena prctica producir un
grfico de calibracin inicial antes de disear la rutina analtica final.
Para anlisis por horno, la situacin es un poco diferente.
Inicialmente se seal que la capacidad de concentracin caracterstica
de un horno de grafito est completamente vinculada al volumen de
solucin empleada. Suponga, por ejemplo, que un horno requiere un
peso total de 20 pg de analito para producir una absorbancia de pico
de 0.0044. Ahora si este peso total de analito se obtuvo inyectando 20
pL de solucin con una concentracin de 1.0 ng/mL entonces es obvio
que la concentracin caracterstica es 1.0 ng/mL para un volumen de 20
pL. Pero, el mismo peso total de analito (20 pg) podra obtenerse
inyectando 100 pL de solucin con concentracin de 0.2 ng/mL. Esto
implica que el analista debe siempre tomar el volumen de trabajo en
cuenta cuando establezca un rango de trabajo para concentraciones
prcticas.
Ajuste del Rango de Trabajo
Donde el rango de concentraciones de inters esta sobre el
rango de trabajo obtenible a las absorbancias prcticas, el analista
puede ya sea diluir todas la soluciones, o alterar la sensitividad
instrumental.
En el anlisis por flama, la seleccin de longitudes de onda
alternativas (menos sensitivas), la rotacin del quemador a lo largo del
haz ptico, o ambas acciones permitir que puedan hacerse
determinaciones a concentraciones significativamente ms altas tal
como se muestra en la tabla VI.
Tabla VI. Concentraciones de trabajo (Cobalto)
Posicin del
Sensitividad Relativa
Rango de Trabajo
Quemador
(pg/m L)
Normal
240.7
0.06 - 15
304.4
16
1.0 - 240
Rotado 9 0
240.7
20
1.2 - 300
304.4
320
20 - 4800
70
F undamentos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
A t m ic a
A.
P r e c is i n
E x a c t it u d
Esta
observadas
es una medida
se
aproximan
de
al
X, de
un conjunto de
las
soluciones estndar.
La nica manera prctica de establecer una exactitud absoluta
de un mtodo analtico es tomar material de composicin exacta
conocida y analizarla mediante el mtodo propuesto. Esto, por
supuesto, presupone que el mtodo originalmente usado para
71
F u ndam entos
del
n l is is po r
b s o r c i n
A t m ic a
determinar
la composicin fue en s mismo incuestionablemente
exacto. Existen
mtodos de referencia establecidos
de exactitud
generalmente aceptada, y con frecuencia se usan comparaciones
interlaboratorios para obtener exactitudes relativas por diferentes
mtodos. Tales comparaciones se usan algunas veces para establecer
composiciones
de concordancia para materiales de referencia
estndares. A bajas concentraciones, sin embargo, algunos mtodos
clsicos muestran errores significativos que solo han sido revelados por
mtodos instrumentales. Es claro entonces que los mtodos usados
para establecer composiciones de los materiales de referencia necesitan
ser cuidadosamente consideradas antes que los resultados sean
aceptados como valores de referencia irrefutables.
B.
P r e c is i n
% R SD es as 100 *
Estrictamente, la desviacin estndar es absolutamente vlida
slo donde n es infinitamente grande. Para propsitos prcticos en
absorcin atmica, una desviacin estndar es estadsticamente
aceptable donde n se toma como una serie de por lo menos treinta
determinaciones .
La precisin analtica de todos los mtodos de absorcin
atmica depende de la interpolacin precisa entre puntos de
calibracin conocidos exactamente. En los anlisis de flama y de horno,
factores tales como salida de luz estable y respuesta estable del arreglo
detector-amplificador no son usualmente factores limitantes desde que
ellos son rigurosamente controlados por sistemas electrnicos
modernos. En los anlisis de flama la estabilidad del sistema de
atomizacin completa
es generalmente ms importante que las
consideraciones electrnicas en determinar la precisin. Con
'sintonizacin' adecuada del sistema nebulizador-quemador, pueden
obtenerse con facilidad resultados con desviacin estndar relativa de
I %. El limite de precisin disponible es cerca de 0 .1% (RSD).
En los atomizadores de horno, la precisin puede ser
influenciada por la reproducibilidad del programa de temperatura, la
repetibilidad de los mecanismos de disociacin por la cual se genera la
poblacin atmica, y la precisin del suministro.
-
K'
72
Fu ndam entos
del
A n l is is
por
b s o r c i n
t m ic a
Valor 1
Valor 2
Valor 3
Valor 4
V.Prom
Conc.
%RSD
(ppm)
0.1894
3.143
1.63
Rica
0.1884
0.1888
0.1892
0.1914
Relave
0.0079
0.0080
0.0071
0.0066
0.0073
0.120
8.33
0.0020
0.0015
0.022
HIGH
Barren
0.0003
0.0011
0.0026
73
F undam entos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
t m ic a
il
valores observados
valor
verdadero
"
valores observados
"
valor
verdadero
74
Fu ndam entos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
t m ic a
v a lo re s o b s e rva d o s
. 1
va lo r verd ad ero
I 1.2
A n l i s i s C u a n t i t a t i v o I:
A t o m iz a c i n p o r F l a m a
Lquida o disuelta
Menos de 5% de slidos disueltos (preferiblemente menos de 2%)
I 1. 2 . 1 E s t n d a r e s
- 75
F undamentos
del
n l is is po r
A b s o r c i n A t m ic a
76
F undam entos
del
n l is is p o r
a.
b s o r c i n
t m ic a
c.
d.
e.
I 1.2 .2
A d ic io n e s d e E s t n d a r
F n d a m e ;. fo s
del
A n l is is
por
b s o r c i n
t m ic a
I 1.2.3
S it u a c io n e s A n a l t ic a s S im p l e s
78
Fu ndam entos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
t m ic a
I 1.2.4 M u e s t r a s C o m p l e j a s
D e t e r m in a c i n d e T r a z a s
F undam entos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
t m ic a
A n l i s i s C u a n t i t a t i v o II:
A t o m iz a c i n p o r H o r n o
Los anlisis prcticos por horno no pueden llevarse a cabo para todos
los 67 elementos que pueden ser determinados por flamas qumicas. Esto no
es debido a limitaciones de temperatura, sino ms relacionados a los procesos
de descomposicin qumica requeridos para la produccin de ciertos tomos
de los elementos a analizar. La flama qumica contiene especies reactivas tales *
como C, C, CH, C N y N H , y estos tienen una fuerte influencia sobre la
disociacin de los compuestos metlicos. El horno de grafito no produce
intrnsecamente esta variedad de especies reactivas, y la disociacin de ciertos
compuestos metlicos es as imposible en ciertos atomizadores de horno
comerciales.
Por lo menos cuarenticuatro elementos, sin embargo, pueden ser
determinados a concentraciones y en rangos de trabajo que son tpicamente
100 veces ms bajos que aquellos que se pueden lograr por mtodos de flama.
La precisin no es caractersticamente tan buena como la obtenible en flamas,
pero con un cuidado adecuado es posible lograr 1% (R SD ) bajo el supuesto
que las soluciones se dispensen en forma automtica. Cuando las soluciones
son inyectadas con microjeringas operadas manualmente, el factor limitante es
usualmente la precisin con que se dispensa ms que los criterios
instrumentales o del horno.
Estos resultados generalmente se obtienen usando
volmenes de
solucin que varan entre 20 y 50 pL. Pueden emplearse volmenes
considerablemente mayores utilizando la tcnica de inyeccin mltiple, y al
otro lado de la escala de volumen es posible obtener resultados precisos y
exactos usando volmenes tan pequeos como I pL. La velocidad analtica es
generalmente cerca de I muestra cada dos minutos.
Condiciones de Muestra: Anlisis en Horno
Lquida, disuelta y preferiblemente homognea.
Qumicamente adecuada para la separacin trmica de la matriz y el
analito.
In t e r f e r e n c ia s F s ic a s
80
F undamentos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
A t m ic a
A b s o r c i n po r B a c k g r o u n d
81
F undamentos
del
n l is is po r
b s o r c i n
t m ic a
Asegurar
que
el
material
matriz
que
causa
absorcin
por
In t e r f e r e n c ia s Q u m ic a s
- 82
F u ndam entos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
t m ic a
M o d if ic a c i n Q u m ic a
ii.
E stn dares
83
F undamentos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
A t m ic a
M uestras
A n l is is C u a n t it a t i v o III:
G e n e r a c i n d e V a p o r
- 84
F undam entos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
t m ic a
- 85
F undamentos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
t m ic a
M ic r o m u e s t r e o p o r F l a m a
A u t o m a t iz a c i n
F undamentos
d el
A n l is is
por
b s o r c i n
t m ic a
I 1.7
A p lic a c i n d e la s C o m p u t a d o r a s a l
AAS
87
F undamentos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
t m ic a
M dulo A : M todos
Proporciona acceso a parmetros
del mtodo de anlisis para un
elemento qumico y una configuracin particular del instrumento. Incluye las
siguientes secciones:
A. I
D escripcin
Descripcin
Parmetro
Elemento Qumico
Posicin de Lmpara
Superlmpara
A .2
In strum ento
Descripcin
Parmetro
Lnea de Resonancia
Corriente de Lmpara
Longitud de Onda
Ancho de Slit
Altura de Slit
Correccin por
Background
A .3
Medicin
Parmetro
Modo de Medicin
mvil
Tiempo de Lectura
F undamentos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
t m ic a
Constante de Tiempo
Rplicas
Tiempo de Retraso
A .4
Calibracin
Parmetro
Modo de Calibracin
Unidades de Concentracin
Falla de Calibracin
Envolventes.
A .5
Estndares
Descripcin
Adicin de estndar
Remocin de estndar
A .6
C o n tro l de Calidad
Parmetro
Muestra
programado.
A .7
Flam a
Parmetro
Descripcin
Tipo de Flama
Flujo de Acetileno
- 89
F undam entos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
t m ic a
Flujo de Aire
para
ajustar
la
posicin
vertical
del
quemador
para
mxima
absorbancia.
M dulo B: M uestras
Permite disear el orden y frecuencia de tipos de medicin.
Descripcin
Parmetro
Edicin de tabla de
La tabla de muestras
muestras
insercin, adicin,
Propiedades de la
Medicin
M dulo C:
Anlisis
Descripcin
Parmetro
Archivos
Secuencia de Anlisis
Tiempo de Retraso
Instrumento
M dulo D.
Resultados
M dulo E: R ep o rtes
Los parmetros de reporte controlan que datos se seleccionan y la
forma en que los datos son impresos o exportados a un archivo.
Descripcin
Parmetro
Anlisis de Elemento Unico
Exportar a:
Preparacin de Pagina
M dulo F: In stru m en to
Permite la instalacin de componentes, optimizacin y diagnstico del
espectrmetro de absorcin atmica y sus accesorios.
- 90
F undamentos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
t m ic a
F. I Instalacin de C o m p o n en te s
Parmetro
Descripcin
Modelo AAS
Accesorios
Horno de Grafito
superlmpara
Comunicaciones
F.2
Panel de Estado
Proporciona
capacidad
de
diagnstico
para
complementar
los
Parmetro
Fuente de Luz
Lectura Continua
Gasbox
F.3
O p tim izaci n
Parmetro
Descripcin
Alineacin HC/D2
Lectura
Control de Flama
F.4 Propiedades
Se determina la configuracin del hardware y se efecta la
operacin del espectrmetro y sus accesorios.
Parmetro
Configuracin
Descripcin
Permite configurar como flama u horno y determinar que accesorios, entre los
seleccionados en Instalacin de Hardware", estn disponibles para ser incluidos
en la configuracin de software y usados en el anlisis.
Tabla de Lmparas
Gasbox
- 91
F undamentos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
t m ic a
Detalle
HC Muestra/HC Referencia
D2 Muestra/O] Referencia
instrumento
Pico de Long. de Onda
Corriente de Lmpara
Pico de Torreta
Optimiza la posicin del espejo para dar mxima seal del rayo de luz.
Corriente de Superlmpara
Pico de Superlmpara
EHT
Corriente de Lmpara D2
Pico EHT
Optimiza el EHT
Pico D2
Escaneo de Long. de
Onda
mnima establecidas.
Posicin de Lmpara
Escaneo de Intensidad
Status de AA
En la figura 45 (pgina siguiente), se muestra un escaneo de intensidad longitud de onda para la lmpara de ctodo hueco (H C L) del elemento plata,
indicando los parmetros que corresponden.
92
F undamentos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
t m ic a
ESCAN EO DE INTENSIDAD
333.1 nm
323.1 nm
328.3 nm
328.3 nm
0.5 nm
4.0 mA
401 V
Figura 45.
F undamentos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
t m ic a
C A P T U L O XII
O P T IM IZ A C I N DE IN S T R U M E N T O S Y M T O D O S
12.
p t im iz a c i n
de
In st r u m en t o s
to do s
I 2 .1
R e c o n o c im ie n t o de E r r o r e s y O p t im iz a c i n d e l In s t r u m e n t o
- 94
Fundam entos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
A t m ic a
I 2 .1.1 S e n s i t i v i d a d D e m a s i a d o B a j a
Errores
<?
calibracin
Prdida de analito en las soluciones de stock o calibracin debido a
0
&
&
de
dilucin
cuando
se
preparan
las
soluciones
de
&
^
(masa
F undamentos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
t m ic a
I 2 . 1.2 S e n s i t i v i d a d D e m a s i a d o A l t a
&
^
&
^
corto
amortiguacin
o incompleto
Desplazamiento irregular de la solucin de medicin por la pared
cf
&
- 96
Fundamentos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
A t m ic a
&
&
&
cuarzo.
Esta lista de causas frecuentes de desviaciones marcadas en las
caractersticas ms importantes de rendimiento solo sirven de punto
de inicio para la deteccin de problemas. Sin embargo, debe enfatizarse
que las desviaciones de esta clase son casi siempre una indicacin de
mal funcionamiento o erro r operacional. O tros detalles sobre posibles
interferencias pueden encontrarse en las tcnicas individuales . Las
caractersticas de rendimiento importantes tales como sensitividad
(masa caracterstica o concentracin) y el ratio seal-ruido siempre
deberan ser documentadas con lo resultados analticos de modo que
pueda hacerse seguimiento del mal funcionamiento o errores
operacionales y estos puedan ser eliminados.
F undamentos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
t m ic a
C A P T U L O XIII
S E G U R ID A D
13.
e g u r id a d
el
estado,
tales
como
el
Las siguientes reglas generales pueden ser tiles para esbozar un cdigo
adecuado de prcticas seguras:
I 3 .1
S is t e m a d e E x t r a c c i n
- 98
F undamentos
del
13 . 2
n l is is p o r
b s o r c i n
t m ic a
C il in d r o s d e G a s e s C o m p r im id o s ( A c e t il e n o , A r g n )
T u b e r a s F l e x ib l e s d e G a s y C o n e x io n e s
A c e t il e n o
F undamentos
del
1 3 .5
n l is is p o r
b s o r c i n
t m ic a
x id o N it r o s o
1 3 .6
S o l v e n t e s In f l a m a b l e s
Punto de Flasheo C
Punto de Ebullicin C
Gravedad
Especfica
0.79
4-metil-pentan-2-ona (MIBK)
22
118
2-metil, propan-l-ol
23
108
0.78
m-xileno
29
139
0.80
cidohexanona
34
155
0.95
39-74
175-325
0.78
kerosene
43
132
0.81
3-heptanona (etilbutilcetona)
46
148
0.82
Shellson T
50
186-214
0.75
2,6-dimetil,heptan-4-ona (DIBK)
60
166
0.81
ciclohexanol
68
161
0.96
Tetrahidronaftaleno (Tetralin)
71
207,207
0.97
alcohol isoamilico
1 3 .7
Q uem adores
Nunca
debe
usarse
un
quemador
aire-acetileno
con
xido
nitroso-acetileno. Sin embargo, puede usarse un quemador xido nitroso
acetileno con una llama aire-acetileno.
N o use oxgeno o aire enriquecido con oxgeno como oxidante.
100
F undam entos
del
n l is is po r
b s o r c i n
A t m ic a
T r a m p a d e L q u id o s
R a d ia c i n U l t r a v io l e t a
P e l ig r o s d e l C a l o r
In s p e c c i n d e S e g u r id a d
Cada vez que inicie un trabajo de AAS, ejecute una rigurosa inspeccin
de seguridad. Considere los siguientes aspectos:
1. Todos los controles de gas deben estar apagados.
2.
3.
4.
Coloque
el
quemador
correcto.
Asegure
que
el
nebulizador
este
F undamentos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
A t m ic a
5.
6.
7.
8.
presiones especificadas.
Cierre la puerta del compartimiento de muestras o proteccin de flama.
9.
102
F u ndam entos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
t m ic a
C A P T U L O X IV
ANEXOS
14.
nexos
14.1
M o d o s d e M e d ic i n en
AAS
I 4.2
M o d o s d e C a l ib r a c i n en
AAS
14.3
T ip o s d e M e d ic i n e n
AAS
103
F undamentos
del
n l is is p o r
b s o r c i n
t m ic a
Muestro Blanco. Mide la solucin blanco para ajustar la lnea base de las
muestras subsecuentes. Se usa para corregir distorsiones instrumentales.
104
F undam entos
del
n l is is po r
b s o r c i n
A t m ic a
B IB L IO G R A F A
1.
2.
3.
4.
5.
1991.
6.
7.
8.
105
A C ER C A DEL A U T O R