Anda di halaman 1dari 7

BAB I

PENDAHULUAN
A. Latar Belakang Masalah
Perkembangan ilmu pengetahuan memberikan dampak yang positif terhadap
perkembangan teknologi. Kemajuan ilmu pengetahuan yang berorientasi pada
pengembangan teknologi dan informasi merupakan bagian dari kehidupan masyarakat
dunia saat ini khususnya kalangan akademisi, banyak cara yang dapat dilakukan untuk
memanfaatkan perkembangan teknologi saat ini dalam memperoleh informasi, salah
satunya adalah dalam mendeteksi struktur permukaan berbagai jenis sampel atau contoh
bahan yang dibutuhkan di dalam suatu penelitian.
Dewasa ini hampir semua bidang IPTEK, serta jaminan kualitas mutu produksi
dalam dunia industri, terutama industri berbasis teknologi tinggi tidak dapat lepas dari
pemantauan skala mikro (sepermiliar milimeter) atau bahkan pemantauan pada skala
yang jauh lebih kecil hingga beberapa puluh nanometer dengan menggunakan mikroskop.
Salah satu jenis mikroskop yang berkembang sekarang ini adalah mikroskop elektron
yang terdiri dari Transmission Electron Microscopy (TEM) dan Scanning Electron
Microscopy (SEM).
Scanning Electron Microscopy (SEM) menghasilkan bayangan dengan resolusi yang
tinggi, maksudnya adalah pada jarak yang sangat dekat tetap dapat menghasilkan
perbesaran yang maksimal tanpa memecahkan gambar. Transmission Electron
Microscopy (TEM) adalah sebuah mikroskopdimana sebuah berkas elektronditembakkan
melalui spesimen ultra tipis.
Berdasarkan uraian di atas, penulis mencoba membuat makalah yang
berjudul:Transmission Electron Microscopy (TEM).
B.
1.
2.
3.
C.
1.
2.

. Tujuan Penulisan
Untuk mengetahui bagian-bagian dari alat TEM.
Mengkaji bagaimana prinsip kerja dari pengukuran dengan menggunakan alat TEM.
Untuk mengetahui bentuk keluaran dari alat TEM.
Manfaat Penulisan
Menambah wawasan bagi para pembacanya
Sebagai salah satu referensi bagi peneliti yang ingin mengetahui struktur kristal suatu
bahan dengan menggunakan alat TEM..

BAB II
PENDAHULUAN

1. Pengertian Transmission Electron Microscopy (TEM)


TEM adalah salah satu jenis mikroskop yang memanfaatkan adanya penemuan
elektron. Mikroskop ini memanfaatkan elektron dan mentransmisikannya sehingga
ditangkap oleh sebuah layar yang akan menghasilkan gambar dari struktur material
tersebut. Secara mudahnya cara kerja TEM sama dengan cara kerja dari sebuah slide
proyektor.

Gambar 1. Menunjukkan bentuk dari TEM, dimana komponen-komponennya terdiri


atas 12 bagian. Setiap bagian memiliki bentuk dan fungsi yang berbeda-beda.
2. Sejarah Penemuan Transmission Electron Microscopy (TEM)
Seorang ilmuwan dari universitas Berlinyaitu Dr. Ernst Ruska menggabungkan
penemuan elektron dan membangun mikroskop transmisi elektron (TEM) yang pertama
pada tahun 1931. Untuk hasil karyanya ini maka dunia ilmu pengetahuan
menganugerahinya hadiah Penghargaan Nobeldalam fisika pada tahun 1986. Mikroskop
yang pertama kali diciptakannya adalah dengan menggunakan dua lensa medan magnet,
namun tiga tahun kemudian ia menyempurnakan karyanya tersebut dengan
menambahkan lensa ketiga dan mendemonstrasikan kinerjanya yang menghasilkan
resolusi hingga 100 nanometer(nm), dua kali lebih baik dari mikroskop cahaya pada masa
itu (azis,nur oktavian:2009).

3. Komponen Transmission Electron Microscopy (TEM)


Bagian-bagian dari TEM ditunjukkan pada gambar 2 :
Gambar 2.
Bagian-bagian
TEM
Berikut ini
adalah bagianbagian
dari
TEM :
a.
Virtual
Source di bagian
atas
mewakili
senapan
elektron, yang
berfungsi
menghasilkan
elektron
monokromatik.
b.
Lensa
kondensor yaitu aliran elektron difokuskan pada berkas yang kecil,
tipis dan koheren dengan menggunakan lensa kondensor 1 dan 2. Lensa 1
(biasanya dikontrol oleh tombol "spot size) sangat menentukan ukuran dari
besarnya aliran mengenai sampel. Lensa kedua (biasanya dikontrol tombol
intensitas/brightness) yang mengubah ukuran spot pada sampel.
c. Berkas dibatasi oleh aperture dari kondensor (biasanya dapat dipilih
pengguna), merobohkan sudut tinggi elektron (yang jauh dari sumbu optik,
garis putus-putus di tengah-tengah). Aperture Terdiri dari disc logam kecil
yang cukup tebal untuk mencegah elektron dari melewati disc, sementara
mengijinkan aksial electron.

d.
e.
f.

g.

Fungsi apertures:
1) Mengurangi intensitas sinar elektron disaring dari balok, yang mungkin
diinginkan dalam kasus sampel berkas sensitif.
2) Penyaringan ini melepaskan elektron yang tersebar.
Berkas elektron menumbuk spesimen kemudian, bagian-bagiannya
ditransmisikan.
Bagian yang ditransmisikan difokuskan oleh lensa objektif menjadi sebuah
gambar.
Tujuan dan pilihan opsional logam Area aperture dapat membatasi sinar.
Objective aperture meningkatkan kontras dengan menghalangi difraksi
elektron yang high angle, yang dipilih aperture memungkinkan pengguna
untuk secara berkala memeriksa difraksi elektron oleh atom dalam sampel.
Gambar selanjutnya terus melalui intermediate dan lensa proyektor, yang

diperbesar sepanjang jalan.


h. Gambar-gambar membentur layar fosfor dan cahaya yang dihasilkan
memungkinkan pemakai untuk melihat gambar. Daerah yang lebih gelap
mewakili wilayah yang elektronnya lebih sedikit sedangkan daerah yang lebih
terang mewakili electron yang lebih banyaki (mereka lebih tipis atau kurang
padat) (Oktaviana,Aptika:2009)
4. Persiapan sampel Transmission Electron Microscopy (TEM)
a. Melakukan fiksasi, yang bertujuan untuk mematikan sel tanpa mengubah struktur
sel yang akan diamati. fiksasi dapat dilakukan dengan menggunakan senyawa
glutaral dehida atau osmium tetroksida.
b. Pembuatan sayatan, yang bertujuan untuk memotong sayatan hingga setipis
mungkin agar mudah diamati di bawah mikroskop. Preparat dilapisi dengan
monomer resin melalui proses pemanasan, kemudian dilanjutkan dengan
pemotongan menggunakan mikrotom. Umumnya mata pisau mikrotom terbuat dari
berlian karena berlian tersusun dari atom karbon yang padat.
Oleh karena itu, sayatan yang terbentuk lebih rapi. Sayatan yang telah terbentuk
diletakkan di atas cincin berpetak untuk diamati.
c. Pelapisan/pewarnaan, bertujuan untuk memperbesar kontras antara preparat yang
akan diamati dengan lingkungan sekitarnya. Pelapisan/pewarnaan dapat
menggunakan logam berat seperti uranium dan timbal.
5. Cara Kerja Transmission Electron Microscopy (TEM)
Mikroskop elektron transmisi menggunakan berkas elektron energi tinggi ditularkan
melalui sampel yang sangat tipis untuk gambar dan menganalisis mikrostruktur bahan
dengan resolusi skala atom. Elektron difokuskan dengan lensa elektromagnetik dan
gambar diamati pada layar fluorescent atau direkam dalam film atau kamera digital.
Elektron dipercepat di beberapa ratus kV, memberikan panjang gelombang jauh lebih
kecil daripada cahaya: 200kV elektron memiliki panjang gelombang 0.025. Namun,
resolusi mikroskop optik dibatasi oleh panjang gelombang cahaya, yaitu mikroskop
elektron dibatasi oleh penyimpangan yang melekat pada lensa elektromagnetik, menjadi
sekitar 1-2 . Karena sampel sangat tipis, biasanya kita tidak melihat atom secara
individual. Alih-alih pencitraan dengan modus resolusi tinggi dari gambar mikroskop kisi
kristal dari suatu material sebagai pola interferensi antara ditransmisikan dan berkas
terdifraksi.
Hal ini memungkinkan seseorang untuk mengamati garis planar dan cacat, batas
butir, interface, dll dengan resolusi skala atom. mode pencitraan mikroskop Bright field /
dark field, yang beroperasi di antara pembesaran, dikombinasikan dengan difraksi
elektron, juga sangat berharga untuk memberikan informasi tentang morfologi, kristal
tahapan, dan cacat pada material. Akhirnya mikroskop dilengkapi dengan lensa
pencitraan khusus yang memungkinkan untuk pengamatan micromagnetic domain
struktur di bidang lingkungan bebas. TEM juga mampu membentuk elektron yang
terfokus pada probe, sekecil 20A, yang dapat diposisikan pada fitur yang sangat bagus
dalam sampel untuk informasi atau microdiffraction analisis x-ray untuk informasi
komposisi (Sofyan, Bondan:2008)
6. Manfaat Transmission Electron Microscopy (TEM)

Manfaat dari TEM adalah menangkap dan menghasilkan sinyal-sinyal. Sinyal utama
yang dapat ditangkap atau dihasilkan dari TEM cukup banyakantara lain:
a. Diffraction Contrast
Dipakai untuk mengkarakterisasi Kristal, digunakan untuk menganalisa defek,
endapan, ukuran butiran dan distribusinya.
b. Phase Contrast
Dipakai untuk menganalisa kristalin material (defek, endapan,
struktur
interfasa,pertumbuhan kristal)
c. Mass/Thickness Contrast
Dipakai untuk karakterisasi bahan amorf berpori, polimer, material lunak
(biologis)
d. Electron Diffraction
e. Characteristic X-ray (EDS)
f. Electron Energy Loss Spectroscopy (EELS + EFTEM)
g. Scanning Transmission Electron Microscopy (STEM) (Ruska, Ernest:1986)
7. Aspek Fisis dari Transmission Electron Microscopy (TEM)
Dari resolusi yang dimiliki oleh scanning TEM/STEM sebesar 200 kV dapat
dihasilkan pancaran electron dengan panjang gelombang 0.0025 nm. Dengan demikian
karakterisasi nano sekarang ini sudah sangat maju, karena kita dapat melihat struktur
kristal dari material. dalam perkembangan teknologi saat ini, yang dibutuhkan adalah
improvisasi alat/device. Untuk lebih mendapatkan material yang secara makroskopis
unggul dan efisien dari segi sifat listrik maupun optisnya, maka modifikasi dan analisis
nano memegang peranan yang penting. Ketikakita menganalisis material dalam ukuran
nano, maka kita akan melihat bagaimana distribusi dari elektron yang terlihat dari image
yang yang diperoleh (menggunakan STEM/TEM, FESEM, High Resolution TEM, SEM,
dan AFM).
Para ilmuwan Fisika, Kimia dan termasuk ilmuwan dalam bidang material elektronik
saat ini tengah berusaha menciptakan material untuk menghasilkan material yang berguna
dalam industri optoelektronik. Tentu dasarnya adalah teknologi semikonduktor yang
sudah dikenal lama. Dalam perkembangannya, teknologi semikonduktor mampu
menghasilkan dioda, lalu transistor bahkan yang lebih kompleks lagi yaitu mikroprosesor.
Peralatan/Devices tersebut sangat berperan dalam penemuan dan pembuatan piranti
elektronik untuk komputer, handphone, dsb.
Analisis nano berperan cukup penting untuk mengimprove metode-metode yang
digunakan saat ini. Analisis tersebut tidak hanya digunakan para eksperimentalis saja,
namun juga para teoritis yang menggunakan first principle mengacu pada persamaan
Schrodinger, bandstructure, fungsi gelombang Bloch, nearly free electron model, density
functional theory, dsb untuk memprediksikan besar energi yang dapat dihasilkan oleh
material (Oktaviana,Aptika:2009)
8. Kelebihan dan Kekurangan Transmission Electron Microscopy (TEM)
a. Kelebihan
1) Dengan TEM, maka gambar yang kita hasilkan akan memiliki tingkat resolusi
yang jauh lebih tinggi daripada mikroskop cahaya. Kita dapat melihat sesuatu yang

memiliki ukuran 10.000 kali lebih kecil daripada ukuran objek terkecil yang bisa
terlihat di mikroskop cahaya.
2) Pada perbesaran kecil, gambar TEM akan kontras karena absorbsi elektron pada
material akibat dari ketebalan dan komposisi material. Pada perbesaran tinggi, maka
gambar yang dihasilkan akan menampilkan data yang lebih jelas pada analisa
struktur kristal dan lainnya.
b. Kekurangan
1) Persiapan sampel untuk TEM umumnya memerlukan lebih banyak waktu dan
pengalaman daripada kebanyakan teknik karakterisasi lainnya.
2) Sebuah spesimen TEM tebalnya mendekati 1000 atau kurang dalam ketebalan
di daerah tertentu. Seluruh spesimen harus sesuai ke dalam diameter 3mm dan
dengan ketebalan kurang dari sekitar 100 mikron.
3) Banyak material memerlukan persiapan sampel yang lebih rumit untuk
menghasilkan sebuah sampel yang cukup tipis agar elektron transparan, yang
membuat analisis TEM yang relatif memakan waktu proses dengan peletakan sampel
yang kecil.
4) Struktur sampel juga mungkin berubah selama proses persiapan. Juga bidang
pandang relatif kecil, meningkatkan kemungkinan bahwa daerah dianalisis mungkin
tidak menjadi ciri khas dari seluruh sampel. Ada potensi pula sampel rusak oleh
berkas elektron.

BAB III
PENUTUP
1) Kesimpulan
Mikroskop Elektron ini dibuat dengan didasarkan pada teori gelombang partikel
de Broglie dan percobaan elektron yang dipercepat dalam suatu kolom
elektromagnetik. TEM mempunyai resolusi yang lebih baik daripada Mikroskop
Optic. Hal ini dikarenakan TEM menggunakan energi yang besar sehingga
menghasilkan panjang gelombang yang lebih pendek. Mikroskop Electron pertama
memiliki resolusi hingga 100 nm atau 2 kali lebih baik dari Mikroskop

Optic

TEM bekerja dengan prinsip menembakkan elektron ke lapisan tipis sampel, yang
selanjutnya informasi tentang komposisi struktur dalam sample tersebut dapat
terdeteksi dari analisis sifat tumbukan, pantulan maupun fase sinar elektron yang
menembus lapisan tipis tersebut. Dari sifat pantulan sinar elektron tersebut juga bisa
diketahui struktur kristal maupun arah dari struktur kristal tersebut. Bahkan dari
analisa lebih detail, bisa diketahui deretan struktur atom dan ada tidaknya cacat
(defect) pada struktur tersebut. Hanya perlu diketahui, untuk observasi TEM ini,
sample perlu ditipiskan sampai ketebalan lebih tipis dari 100 nanometer.