TESTING (PRUEBA)
La prueba de un sistema es un experimento en el cual el sistema es ejercitado y la respuesta se
analiza para concluir si el sistema se est o no comportando correctamente. Si se detect un
comportamiento incorrecto, una segunda meta del experimento de prueba puede ser diagnosticar,
o localizar, la causa del comportamiento incorrecto. El diagnstico asume el conocimiento de la
estructura interna del sistema bajo prueba.
NIVELES DE ABSTRACCIN
La complejidad de un circuito digital est relacionada al nivel de abstraccin requerido para
describir su operacin en una forma entendible. El nivel de abstraccin puede definirse por el tipo
de informacin procesado por el circuito.
CONTROL
DATOS
Valores lgicos
(o secuencias de valores lgicos)
Valores lgicos
Palabras (Words) o vector
Instrucciones
Palabras o vector
Programas
Estructuras de datos
Mensajes
NIVEL DE ABSTRACCIN
Nivel lgico
Nivel registro
Nivel conjunto de instruccin
Nivel procesador
Nivel sistema
El nivel lgico usa la representacin de valores lgicos binarios (0 y 1). Existen modelos ms
completos que usan ms de dos valores lgicos. En este nivel podemos hacer la distincin entre
circuitos combinacionales y secuenciales.
Cuando vemos un sistema consistente de una parte de datos interactuando con una parte de
control y los datos estn almacenados en registros, estaremos en el nivel registro.
En el nivel conjunto de instruccin, la informacin de control est organizada en palabras llamadas
instrucciones.
En el nivel procesador esperamos un sistema digital procesando secuencias de instrucciones o
programas, que operan sobre bloques de datos llamados estructuras de datos.
Una vista diferente (no necesariamente de mayor nivel de abstraccin) de un sistema es
considerarlo como un conjunto de subsistemas independientes, o unidades, los cuales se
comunican va bloques de palabras llamados mensajes: es el nivel sistema.
ERRORES Y FALLAS (ERRORS AND FAULTS)
Un caso de operacin incorrecta del sistema bajo prueba (SBP, Unit Under Test = UUT), es
llamado un ERROR (OBSERVADO).
Las causas de los errores observados pueden ser ERRORES DE DISEO, ERRORES DE
FABRICACIN, DEFECTOS DE FABRICACIN Y FALLAS FSICAS.
Errores de diseo:
especificaciones incompletas o inconsistentes
mapeo incorrecto entre diferentes niveles de diseo
violaciones de reglas de diseo
Errores de fabricacin:
componentes equivocadas
alambrado incorrecto
cortos causados por soldado inapropiado
Errores de fabricacin (procesos de manufactura imperfectos):
INSTITUTO TECNOLOGICO DE CHIHUAHUA
TESTING
Fallas fsicas:
Ocurren durante la vida de un sistema debido principalmente a factores ambientales:
temperatura, humedad, y vibraciones, aceleran el envejecimiento de las componentes
radiacin csmica y partculas alfa pueden inducir fallas en chips con RAM de alta
densidad
Los errores de fabricacin, defectos de fabricacin y fallas fsicas en conjunto se conocen como
FALLAS FISICAS (PHYSICAL FAULTS). De acuerdo a su estabilidad en el tiempo, las fallas fsicas
pueden clasificarse como:
PERMANENTES, siempre presente despus de que ocurri,
INTERMITENTES, existe solo durante intervalos,
TRANSITORIAS, una ocurrencia de una vez causada por un cambio temporal en algn
factor medioambiental.
En general, las fallas fsicas no permiten un tratamiento matemtico directo de prueba y
diagnstico. La solucin es tratar con FALLAS LGICAS, que son una representacin del efecto
de las fallas fsicas sobre la operacin del sistema.
Una falla es DETECTADA observando un error causado por ella.
Las ideas bsicas asumidas respecto de la naturaleza de las fallas lgicas se conocen como un
MODELO DE FALLA (FAULT MODEL).
El modelo de falla ms usado es el de una lnea que est sostenida en (enclavada en, "stuck") un
valor lgico.
TIPOS DE PRUEBA
Los mtodos de prueba pueden clasificarse de acuerdo a muchos criterios. En la Tabla 1, se
muestran los criterios y atributos ms importantes de los mtodos de prueba y la terminologa
asociada.
OTRAS DEFINICIONES BSICAS EN TECNOLOGA DE PRUEBA
FALLA (FAULT). Cualquier cambio en un sistema el cual causa que se comporte en forma
diferente del sistema original.
PRUEBA DE UN CIRCUITO. En el sentido ms amplio, es aplicar una secuencia de entrada a un
circuito, observar la secuencia de salida y compararla con una secuencia precomputada de salida
"esperada". Cualquier discrepancia constituye un ERROR, la causa de la cual se dice es una
FALLA FSICA.
Una clasificacin general de fallas puede ser de FALLAS LGICAS y PARAMTRICAS.
Una FALLA LGICA es aquella que causa que la funcin lgica de un elemento (o elementos) del
circuito o una seal de entrada sea modificada a alguna otra funcin.
MODELO DE FALLAS LGICAS
Un modelo para fallas lgicas es el llamado "stuck" (stuck-at-X):
s-a-0 : sostenida-a-0 (tierra)
s-a-1 : sostenida-a-1
INSTITUTO TECNOLOGICO DE CHIHUAHUA
a
c
b
s-a-0
DR. JAVIER VEGA PINEDA
TESTING
La lnea de la entrada b, sostiene el valor lgico 0 independientemente del valor lgico b. La salida
de la compuerta ya no se comporta como la compuerta original.
En general, los modelos de fallas estructurales asumen que las componentes estn libres de falla y
solo sus interconexiones estn afectadas. Las fallas tpicas que afectan las interconexiones son
cortos y abiertos. Un CORTO se forma conectando puntos que no tienen que estar conectados,
mientras que un ABIERTO resulta del rompimiento de una conexin.
DETECCIN DE FALLAS EN CIRCUITOS COMBINACIONALES
TESTING
TESTING
Ejemplo:
Para el circuito y la falla = A, s-a-1, encuentre el conjunto de pruebas que detectarn esta falla.
El conjunto de pruebas las cuales detectarn esta falla estn definidas por la ecuacin derivada de
,
,
= ( + ) =
La combinacin de entrada (0, 1, 0) que hace = 1 es la nica prueba para esta falla. En el
siguiente circuito mostramos las seales para el circuito normal y la entrada dada. Los valores con
asterisco tendrn el opuesto con la falla presente
Note que los asteriscos constituyen una trayectoria del lugar de la falla a la salida. La prueba se
dice que SENSIBILIZA esta trayectoria. Y adems detecta la falla A s-a-1, todas las fallas a lo largo
de esta trayectoria sensibilizada las cuales estn sostenidas en el valor opuesto al normal, son
detectadas por esta prueba.
Las fallas de la trayectoria son D s-a-1 y F s-a-1, otras fallas fuera de la trayectoria tambin pueden
ser detectadas por esta prueba (como C s-a-1).
TESTING
TESTING
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