Anda di halaman 1dari 18

LAPORAN PRAKTIKUM ANALISIS MATERIAL

(DIFRAKSI SINAR X)

Disusun oleh :
Nama

Alif Jati Santoso

NIM

135090301111026

Kelompok

2B

Tgl. Praktikum :

02 Desember 2015

Nama Asisten

Sukma Wahyu Fitriani

LABORATORIUM MATERIAL
JURUSAN FISIKA
FAKULTAS MATEMATIKA DAN ILMU PENGETAHUAN
ALAM
UNIVERSITAS BRAWIJAYA
MALANG
2015

LEMBAR PENILAIAN PRAKTIKUM ANALISIS MATERIAL


(DIFRAKSI SINAR X)

Nama

: Alif Jati Santoso

NIM

: 135090301111026

Fak/Jurusan

: Fakultas MIPA / Fisika

Kelompok

: 2B

Tgl. Praktikum

: 02 Desember 2015

Nama Asisten

: Sukma Wahyu Fitriani

Catatan :
.................................................................
.................................................................
.................................................................
.................................................................

Paraf
.................................................................

Paraf 2

Nilai

BAB I
PENDAHULUAN
1.1

Latar Belakang

Penentuan karakter struktural material, baik dalam bentuk pejal atau partikel, kristalin
atau amorf, merupakan kegiatan inti dalam ilmu material.Pendekatan umum yang diambil
adalah meneliti material dengan berkas radiasi atau partikel berenergi tinggi.Radiasi bersifat
eektromagnetik dan dapat bersifat monokromatik maupun polikromatik.Dengan
memanfaatkan hipotesa de Broglie mengenai dualitas frekuensi radiasi dan momentum
partikel, maka gagasan tentang panjang gelombang dapat diterapkan dalam eksitasi elektron.
Sinar X adalah suatu radiasi elektromagnetik dengan panjang gelombang (a 0,1 nm)
yang lebih pendek dari panjang gelombang cahaya tampak (a= 400-800 nm). Apabila electron
ditembak dengan cepat dalam suatu ruang vakum maka akan dihasilkan sinar X. Radiasi yang
dipancarkan dapat dipisahkan menjadi dua komponen yaitu (a) spectrum kontinu dengan
rentang panjang gelombang yang lebar dan (b) spectrum garis sesuai karakteristik logam
yang ditembak.
Gejala interferensi dan difraksi adalah hal umum dalam bidang cahaya.Percobaan
fisika dasar standar untuk menentukan jarak antar kisis dilakukan dengan mengukur sudut
berkas difraksi dari cahaya yang diketahui panjang gelombang. Persyaratan yang harus
dipenuhi adalah kisi bersifat periodi dan panjang gelombang cahaya memiliki orde yang sama
dengan jarak kisi yang akan ditentukan.
Percobaan ini secara langsung dapat dikaitkan dengan penerapan sinar X untuk
menentukan jarak kisi dan jarak antar atom dalam Kristal. Pembahasan difraksi kisi Kristal
dengan kisi-kisi tiga dimensional cukup rumit, namun Bragg menyederhanakannya dengan
menunjukkan bahwa difraksi ekivalen dengan pemantulan simetris oleh berbagai bidang
Kristal, asalkan persyaratan tertentu dipenuhi.
Pemanfaatan metode difraks memegang peranan penting untuk analisis padatan
kristalin. Selain untukmeneliti ciri utama struktur, seperti parameter kisi dan tipe struktur
Kristal, juga dimanfaatkan untuk mengetahui rincian lain seperti susunan berbagaijenis atom
dalam Kristal, kehadiran cacat, orientasi, ukuran butir dan lain-lain.

1.2

Tujuan

Tujuan dari percobaan ini adalah untuk mengetahui pengoperasian instrument difraksi
sinar-X PHYWE dalam karakteristik bahan dan menentukan ukuran butin (grain size) Kristal
LiF dengan prinsip sinar-X.
.

BAB II
TINJAUAN PUSATAKA
2.1.

Produksi Sinar-X

Foton sinar-X dihasilkan ketika elektron berkecepatan tinggi yang berasal dari katoda
menumbuk target pada anoda. Elektron-elektron dari katoda ini berasal dari pemanasan
filamen ( lebih dari 2000 C ), sehingga pada filamen ini akan terbentuk awan elektron.
Elektron-elektron dari katoda ini akan bergerak cepat menumbuk bidang target (anoda) akibat
diberikannya tegangan tinggi atau beda potensial antara katoda dan anoda. Dari hasil
tumbukan tersebut menghasilkan foton sinar-X lebih kurang 1 % dan sisanya 99 % berupa
energi panas. Ada dua type kejadian yang terjadi di dalam proses menghasilkan foton sinar-X
yaitu, sinar-X Bremstrahlung dan sinar-X karakteristik. Dimana interaksi itu terjadi saat
elektron proyektil menumbuk. Sinar-X Bremstrahlung terjadi ketika elektron dengan energi
kinetik yang terjadi berinteraksi dengan medan energi pada inti atom. Karena inti atom ini
mempunyai energi positif dan elektron mempunyai energi negatif, maka terjadi hubungan
tarik- menarik antara inti atom dengan elektron. Ketika elektron ini cukup dekat dengan inti
atom dan inti atom mempunyai medan energi yang cukup besar untuk ditembus oleh elektron
proyektil, maka medan energi pada inti atom ini akan melambatkan gerak dari elektron
proyektil. Melambatnya gerak dari elektron proyektil ini akan mengakibatkan elektron
proyektil kehilangan energi dan berubah arah. Energi yang hilang dari elektron proyektil ini
dikenal dengan photon sinar X bremstrahlung.

Sinar-X karakteristik terjadi ketika elektron proyektil dengan energi kinetik yang
tinggi berinterkasi dengan elektron dari tiap-tiap kulit atom. Elektron proyektil ini harus
mempunyai energi kinetik yang cukup tinggi untuk melepaskan elektron pada kulit atom
tertentu dari orbitnya. Saat elektron dari kulit atom ini terlepas dari orbitnya maka akan
terjadi transisi dari orbit luar ke orbit yang lebih dalam. Energi yang dilepaskan saat terjadi
transisi ini dikenal dengan photon sinar-X karakteristik. Energi photon sinar-X karakteristik
ini bergantung pada besarnya energi elektron proyektil yang digunakan untuk melepaskan

elektron dari kulit atom tertentu dan bergantung pada selisih energi ikat dari elektron transisi
dengan energi ikat elektron yang terlepas tersebut.

(Thomas and James,1990)


Produksi sinar-X dapat dibagi menjadi 2 macam yaitu Bremsstrahlung dan
karakteristik. Pada sinar-X dengan produksi Bremsstrahlung didapatkan dengan proses
interaksi antara elektron yang energinya tinggi dengan suatu inti dari atom yang memiliki
muatan positif yang mengakibatkan terjadi pengereman serta pembelokan pada atom
tersebut. Sedangkan untuk sinar-X karakteristik terjadi karena proses perpindahan
elektron yang mulanya berada di orbit lebih luar, menuju orbit yang lebih dalam yang
menghasilkan dan memancarkan sinar-X. Energi yang dipancarkan sinar-X tadi yaitu
sama dengan beda energi diantara kedua orbit tadi yang sebanding dengan frekuensinya.
Hal ini berlaku persamaan Planck:
(Gautreu,2006)

2.2.

Difraksi Sinar-X oleh kristal

Interferensi dan difraksi merupakan fenomena optik fisis yang banyak diterapkan
pada bidang material kristalografi, diantaranya digunakan untuk menentukan sudut
difraksi dan jarak antar kisi kristal. Namun Kristal tersebut harus memenuhi beberapa
syarat antara lain 1. Kisi Kristal harus bersifat periodik, 2) panjang gelombang sinar x
harus seorde dengan jarak kisi, percobaan pada Kristal 3 dimensi real sulit dilakukan.
Tetapi Bragg menyederhanakan konsep bahwa Kristal tersebut harus cukup memiliki kisikisi yang bersifat simetris sehingga menghasilkan difraksi yang simetris pula, setiap
difraksi yang terjadi pada kisi akan menghasilkan interferensi yang konstruktif apabila
beda lintasan cahaya yang ditempuh adalah kelipatan bulat dari panjang gelombang ()

Persamaan diatas disebut dengan persamaan Bragg, sudut disebut sudut Bragg.
Jadi sudut pantul dari setiap kisi hanya ditentukan dari geometri kisi dan orientasi kisi
Kristal, jika Kristal tersebut memiliki simetri kubik dengan sisi a, maka sudut difraksi
dari permukaan Kristal dapat ditentukan dari hubungan jarak interplanar (Smallman :
1999)
Ada dua prosesyang terjadi bila seberkas sinar-x ditembakkan ke sebuah atom Energi
berkas sinar-x terserap oleh atom, atau sinar-x dihamburkan oleh atom. Dalamproses yang
pertama, berkas sinar-x terserap atom melalui Efek Fotolistrik yangmengakibatkan
tereksitasinya atom dan/atau terlemparnya elektron-elektron dari atom. Atomakan kembali
ke keadaan dasarnya dengan memancarkan elektron (melalui Auger effect),atau
memancarkan sinar-x floresen yang memiliki panjang gelombang karakteristik
atomtereksitasinya. Pada proses yang kedua, ada bagian berkas yang mengalami
hamburan tanpakehilangan kehilangan energi (panjang gelombangnya tetap) dan ada
bagian yang terhamburdengan kehilangan sebagian energi ( Hamburan Compton)
(Widyawati, 2012).

2.3.

Ukuran Butir Kristal

Kristal terbentuk dari komposisi atom-atom, ion-ion atau molekulmolekul zat padat
yang memiliki susunan berulang dan jarak yang teratur dalam tiga dimensi. Pada
hubungan lokal yang teratur, suatu kristal harus memiliki rentang yang panjang pada
koordinasi atom-atom atau ion dalam pola tiga dimensi sehingga menghasilkan rentang
yang panjang sebagai karakteristik dari bentuk kristal tersebut. Ditinjau dari struktur atom
penyusunnya, bahan padat dibedakan menjadi tiga yaitu kristal tunggal (monocrystal),
polikristal (polycrystal), dan amorf. Pada kristal tunggal, atom atau penyusunnya
mempunyai struktur tetap karena atom-atom atau molekul-molekul penyusunnya tersusun
secara teratur dalam pola tiga dimensi dan pola-pola ini berulang secara periodik dalam
rentang yang panjang tak berhingga. Polikristal dapat didefinisikan sebagai kumpulan
dari kristal-kristal tunggal yang memiliki ukuran sangat kecil dan saling menumpuk yang
membentuk benda padat. Struktur amorf menyerupai pola hampir sama dengan kristal,
akan tetapi pola susunan atom-atom, ion-ion atau molekul-molekul yang dimiliki tidak
teratur dengan jangka yang pendek. Amorf terbentuk karena proses pendinginan yang
terlalu cepat sehingga atom-atom tidak dapat dengan tepat menempati lokasi kisinya.
Bahan seperti gelas, nonkristalin ataupun vitrus 7 yaitu memiliki struktur yang identik
dengan amorf . Susunan dua-dimensional simetris dari dua jenis atom yang berbeda
antara kristal dan amorf ditunjukan pada Gambar 1.

(eprints.uny.ac.id)
Ukuran butir Kristal berpengaruh pada properti bahan Kristal tersebut, misalnya
semakin kecil ukuran butir Kristal, maka kekerasannya semakin meningkat. Maka
pengetahuan dan kontrol ukuran Kristal ini menjadi penting untuk mengetahui dan
mengatur sifat bahan yang akan dibuat, pengukuran ukuran butir Kristal dengan
menggunakan FWHM menghasilkan persamaan Debye-Scherer:

Dimana K adalah konstanta factor bentuk, adalah panjang gelombang sinar X yang
digunakan, adalah pelebaran garis pada setengah maksimum dinyatakan dalam radian,
konstanta faktor bentuk K sekitar 0,9 dan bervariasi sesuai bentuk nyata Kristal.
Persamaan diatas terbatas pada pengukuran Kristal skala nano, dan kurang tepat bila
digunakan untuk mengukur Kristal dengan ukuran butir diatas 1m (Saravana : 2012)
Grain merupakan bagian-bagian kecil dari kristal yang memiliki arah sendirisendiri. Dalam grain sendiri terdapat beberapa faktor yang menyebabkan antar grain
berbeda, yaitu karena grain boundaries, grain size, serta bentuk grain. Pada suatu kristal,
terdapat butir-butir kristal yang memiliki ukuran kurang dari 100nm. Pola puncak yang
didapatkan dari XRD akan dipengaruhi oleh distribusi partikel dalam kristal.
Berdasarkan pembacaan dari XRD sendiri akan didapatkan grafik hubungan antara besar
sudut 2 dengan intensitas(Waseda&Eiichiro,2011).

Gambar 2.3 Hubungan Intensitas dengan 2 (Waseda&Eiichiro,2011)

BAB III
METODOLOGI
3.1

Alat dan Bahan


Bahan yang digunakan adalah kolimator (sampel) dan LiF. Sedangkan alat-alat
yang digunakan antara lain adalah computer yang terhubung dengan XRD dan sinar-X
PHYWE.

3.2

Tata Laksana Percobaan

Praktikum ini dalam pelaksanaannya dilakukan beberapa prosedur, pertama tombol


power dibagian belakang perangkat XRD dihidupkan hingga di bagian depan akan muncul
angka tegangan dan arus, kemudian jendela XRD dibuka dan sampel dipasang, kemudian
kolimator lubang kecil dipasang pada pemancar dibagian kiri dalam XRD. kemudian jendela
ditutup dengan rapat dan dikunci dengan tombol di bawah perangkat. Setelah itu pada
komputer dipilih menu start, kemudian dipilih program measure, kemudian dilakukan
pengukuran baru dengan memilih menu file dan dipilih new measurement, kemudian akan
muncul tampilan pengisian sampel, penggunaan daya, domain, dan penggunaan kolimator,
pada penggunaan kolimator lubang kecil, pada data diisi sudut awal sebesar 20o dan sudut
akhir 60o, kemudian klik continue, lalu akan muncul tampilan pertambahan sudut dan grafik
yang telah disetting sebelumnya, dipilih start measurement untuk memulai pengukuran, dan
dipilih stop measurement jika selesai melakukan pengukuran. Untuk menyimpan grafik
dipilih menu file, dipilih save measurement kemudian klik save,sedangkan untuk menyimpan
data dipilih menu measurement, kilk export data, dicentang pada save to file,kemudian klik
ok. Perangkat XRD kemudian dimatikan dan kolimator diganti dengan kolimator sedang.
Prosedur untuk kolimator sedang dan besar dilakukan prosedur yang sama seperti pada
kolimator kecil diatas. Pada praktikum ini pengukuran dimulai dari kolimator kecil, sedang
dan besar.

BAB IV
HASIL DAN PEMBAHASAN
4.1 Data Hasil Percobaan
4.1.1 Karakterisasi LiF dengan menggunakan kolimator lubang kecil
30
25
20
15
10
5
0

4.1.2 Karakterisasi LiF dengan menggunakan kolimator lubang sedang


60
50
40
30
20
10
0

4.1.3 Karakterisasi LiF dengan menggunakan kolimator lubang besar


100
90
80
70
60
50
40
30
20
10
0

4.2 Perhitungan
4.2.1 Kolimator kecil

B=39,4338,43=1=1 /57,3=0,0174 rad .

L=

k
0,94 x 54,18
50,92
=
=
=2926,88 p
m
B cos 0,0174 cos(39,4338,43) 0,0174 x 0,99

4.2.2 Kolimator sedang

B 1= 2 1=37,8137,2=0,61=0,61 /57,3=0,0106 rad .


B 2=39,5338,5=1,03=1,03 /57,3=0,0179 rad .

L1=

k
0,94 x 54,18
50,92
=
=
=4804,05 pm
B 1cos 0,0106 cos ( 37,8137,2 ) 0,0106 x 0,99

L2=

k
0,94 x 54,18
50,92
=
=
=2845,15 pm
B 2 cos 0,0179 cos(39,5338,5) 0,0179 x 0,99

4.2.3 Kolimator besar

B 1= 2 1=38,236,9=1,3=1,3 /57,3=0,0226 rad .

B 2=39,438,5=0,9=0,9/57,3=0,0157 rad .

4.3

L1=

k
0,94 x 54,18
50,92
=
=
=2253,67 pm
B cos 0,0226 cos ( 38,236,9 ) 0,0226 x 0,99

L2=

k
0,94 x 54,18
50,92
=
=
=3243,71 pm
B cos 0,0157 cos (39,438,5) 0,0157 x 0,99

Pembahasan

4.3.1 Analisa Prosedur

4.3.1.1

Fungsi Alat dan Bahan

Percobaan ini dalam pelaksanaannya terdapat beberapa alat yang memiliki fungsi dan
kegunaan yang berbeda. Perangkat X-Ray Diffraction (XRD) tipe PHYWE digunakan
sebagai alat untuk proses dihasilkan dan dilakukannya penyinaran sinar-X pada sampel kristal
LiF serta colimatornya. Untuk software Physics Measure 4 digunakan untuk pengukuran pada
sampel kristal LiF yang nantinya diperoleh data exportnya berupa grafik serta nilai - nilainya.
Kolimator berfungsi untuk memfokusan sinar-X yang mengenai LiF yang nantinya
berpengaruh dalam hasil output grafik. Sedangkan sampel kristal LiF berfungsi sebagai bahan
uji yang diamati dengan Perangkat X-Ray Diffraction (XRD) tipe PHYWE.

4.3.1.2 Fungsi Perlakuan

Dalam percobaan kali ini, dilakukan beberapa prosedur yang terdapat fungsinya
masing-masing. Pertama perangkat X-Ray Diffraction (XRD) tipe PHYWE dihidupkan
dengan tegangan 22,50 kV serta arus 0,950 mA. Hal ini dilakukan agar alat dapat berjalan
dengan baik untuk pengambilan data. Kemudian pintu kaca yang terbuat dari timbal dibuka
dan kolimator kecil beserta kristal LiF dipasang ditempatnya masing-masing. Hal ini
dilakukan agar nantinya dapat dilakukan pengambilan data dari kristal LiF dengan
penggunaan kolimator kecil. Setelah itu, jendela ditutup rapat dan dikunci pada tombol merah
di ujung kiri bawah. Hal ini agar sinar-X tidak keluar ruangan sehingga alat bekerja dengan
maksimal serta praktikan juga tidak terkena radiasi sinar x. Lalu XRD dioprasikan lewat
software Physics Measure 4 serta diisi data sampel yang diuji, serta penggunaan daya,
domain yang diukur, serta penggunaan filter/kolimator. Hal ini dilakukan untuk penentuan
batasan penggunaan daya, domain yang diukur, serta sudut kristal LiF sehingga nantinya
didapatkan data yang diinginkan. Setelah semua data diisi lalu diklik start measurement untuk
dimulainya pengukuran dan pengambilan data. Kemudian untuk menghentikan mesurement
diklik stop agar proses pengukuran berhenti dan mengambil data yang diinginkan. Setelah
selesai, diklik measurement, lalu diklik export data, lalu dicentang save to file, setelah itu
diklik ok. Hal ini dilakukan untuk mendapatkan export data dalam bentuk format .txt yang
nantinya dikonversi ke bentuk grafik. Setelah itu alat dimatikan agar sinar-X tidak keluar
ruangan, lalu diganti kolimatornya dengan yang sedang dan besar. Setelah itu dijalankan
seperti langkah diatas. Hal ini dilakukan untuk pengambilan dan pengukuran data dengan
penggunaan kolimator sedang serta besar sehingga nantinya didapatkan perbandingan data
antara kolimator kecil, sedang dan besar.
4.3.1

Analisa Hasil

Setelah melakukan percobaan didapatkan hasil grafik dari setiap kolimator yaitu pada
kolimator kecil didapatkan kurva dengan satu puncak, hal ini dikarenakan kolimator yang
lubangnya terlalu kecil sehingga sinar x yang keluar terlalu kecil intensitasnya untuk
mengenai sampel LiF sehingga hasil pembacaan ke grafik atau kurvanya kurang akurat.
Karena hanya terdapat satu puncak besar pada kurva, mengalibatkan sedikit kesulitan dalam
menganalisis serta melakukan perhitungan. Untuk perhitungan dari kolimator kecil
didapatkan nilai L yaitu sebesar 2926,88 p m dengan nilai B adalah 0,0174 rad .
Selanjutnya pada kolimator sedang didapatkan kurva dengan dua puncak yang cukup
jelas perbedaannya, sehingga kedua kurva tersebut dapat diidentifikasikan sebagai grafik Li
dan F. Hal ini dapat terjadi karena lubang pada kolimator sedang tidak terlalu kecil seperti
kolimator kecil atau sudah cukup untuk menghasilkan intensitas yang digunakan untuk
menguji sampel LiF sehingga hasil pembacaan grafiknya cukup jelas dan akurat untuk
dibedakan antara kurva Li dan kurva F. Untuk perhitungan dari kolimator sedang didapatkan
dua nilai L yaitu untuk nilai L1 (Li) didapatkan nilai sebesar 4804,05 pm , dan untuk nilai
L2 (F) sebesar 2845,15 pm

dengan nilai B1 = 0,0106 rad

dan B2 = 0,0179 rad .

Kemudian yang terakhir yaitu pada kolimator besar didapatkan kurva dengan tiga
puncak besar, hal ini disebabkan karena lubang pada kolimator besar sehingga menghasilkan
keluaran sinar x dengan tingkat kefokusan yang rendah serta intensitas yang terlalu tinggi

untuk menguji sampel LiF yang menyebabkan hasil pembacaan pada grafik atau kurvanya
kurang teliti dan terlalu melebar dan besar. Karena terdapat tiga puncak besar pada kurva
mengakibatkan sedikit kesulitan dalam menganalisis serta melakukan perhitungan. Untuk
perhitungan pada kolimator besar didapatkan dua nilai yaitu untuk L1 (Li) didapatkan nilai
sebesar 2253,67 pm , dan untuk nilai L2 (F) sebesar 3243,71 pm dengan nilai B1 dan
B2 adalah 0,0226 rad

dan 0,0157 rad .

Pengaruh penggunaan kolimator dapat dilihat dari fungsi kolimator itu sendiri yaitu untuk
mempersempit atau memberi batasan luas sinar x yang akan didatangkan pada sampel serta
membantu sebagai acuan titik tengah penyinaran, sehingga sinar X yang akan mengenai
sampel dapat lebih focus, sedangkan untuk ukuran lubang kolimator mempengaruhi setiap
nilai intensitas yang didapat, semakin besar lubang collimator maka semakin banyak
intensitas sinar x yang diteruskan, akibatnya akan menghasilkan intensitas yang lebih besar
pada masing-masing puncak
Penggunaan kolimator disini memberi pengaruh pada hasil sesuai dengan fungsi
danukuran pada kolimator itu sendiri. Kolimator pada dasarnya disini digunakan untuk
membatasi sinar x yang keluar dari sumber menuju sampel dan ukuran kolimator yang
berbeda beda akan memberi pengaruh pada nilai dari intensitas, dimana semakin besar
kolimator semakin besar pula intensitas sinar x yang dihasilkan atau yang diteruskan pada
sampel sehingga akan mendapatkan hasil grafik yang besar juga.
Penggunaan kolimator yang paling baik itu tergantung dari tujuan kita akan
digunakan untuk pengukuran apa. Misalnya jika membutuhkan hasil pengukuran yang hanya
menampilkan nilai kurva yang paling besar atau dominan sebaiknya menggunakan kolimator
kecil, karena kolimator kecil hanya menghasilkan satu puncak kurva yang terbesar sama
seperti hasil percobaan diatas. Namun jika kita membutuhkan nilai yang detail dan jelas
perbedaannya maka sebaiknya menggunakan kolimator sedang, karena menghasilkan dua
keluaran kurva yang terlihat jelas perbedaannya.
Kristal golongan alkali halida ini sangat mudah didapatkan. Golongan Alkali halida
ini merupakan campuran dari unsur golongan IA dengan unsur golongan VIIA dalam tabel
periodik [2] .Alkali halida biasa digunakan dalam bentuk kristal. Kristal alkali halida
merupakan kristalionik, yang bila disinari radiasi mengion seperti sinarX, maka akan
terbentuk pusat-pusat warna pada kristal. Pusat-pusat warna tersebut dapat berupa F-center,
M-center, Rcenter dan lain-lain. F-center merupakan pusat warna yang terbentuk akibat
terperangkapnya elektron pada kekosongan ion negatif. Kristal Lithium Florida termasuk ke
dalam golongan alkali halida yang merupakan campuran dari unsur golongan IA (alkali)
dengan unsur golongan VIIA (halogen) dalam tabel periodik. Unsur Lithium termasuk ke
dalam golongan IA (alkali). Lithium memiliki lambang Li dan nomor atom 3. Lithium yang
termasuk ke dalam golongan alkali ini merupakan unsur yang paling ringan. Sifat dari unsur
golongan IA (Alkali) ini adalah sulit mengalami reduksi, mudah mengalami oksidasi,
memiliki satu buah elektron, berwujud padat pada suhu ruang, sangat reaktif, mempunyai
potensial ionisasi rendah (unsur-unsur logam) yang cenderung melepaskan elektron.

Sementara itu unsur Fluor termasuk ke dalam golongan golongan VIIA (halogen) mempunyai
nomor atom 9

Unsur halogen berbentuk molekul diatomik. Unsur ini membutuhkan satu tambahan
elektron untuk mengisi orbit elektron terluarnya sehingga cenderung membentuk ion negatif
bermuatan satu. Ion negatif inilah yang disebut ion halida. Unsur golongan halogen ini juga
memiliki sifat afinitas elektron yang tinggi (unsur-unsur non logam) sehingga cenderung
menerima elektron. Jika keduanya direaksikan maka akan membentuk ikatan ionik yang
diakibatkan oleh adanya gaya tarik menarik elektrostatik antara kation dan anion. Lithium
Florida dibentuk karena adanya gaya tarik menarik elektrostatik antara Lithium bermuatan
positf dan Florida bermuatan negatif. Gaya elektrostatik tarik-menarik antara muatan negatif
elektron dan muatan positif inti atom adalah yang menjadi penyebab timbulnya gaya
pemersatu (kohesi) dalam zat padat [5] . Hal ini akan menyebabkan terjadi gaya tolak
elektron. Kristal ionik biasanya memiliki titik leleh tinggi dan hantaran listrik yang rendah.
Ukuran kation berbeda dengan ukuran anion sehingga mengakibatkan adanya kecenderungan
anion lebih besar yang tersusun terjejal dan kation yang lebih kecil akan berada di celah antar
anion. Kristal LiF mempunyai struktur dengan 6 atom tetangga terdekat, skemanya dapat
dilihat pada Gambar 3. Struktur ini mempunyai dasar face centered cubic (fcc) dengan titik
asal ion Li+ pada 0,0,0 dan ion Fberada ditengah antara ion Li+ , misalnya pada titik , 0, 0.

Jika kristal ini menyerap radiasi sinar-X yang datang padanya, maka akan terbentuk pusatpusat warna pada kristal, yang disebabkan adanya lowongan-lowongan pada kristal. Kristal
yang mengalami F-Center ini disinari dengan cahaya tampak, maka elektron-elektron yang
terperangkap akan dibebaskan kembali ke pita konduksi yang kemudian akan mengalami
transisi ke pita valensi menjadi ion-ion alkali sambil memancarkan radiasi.

BAB V
PENUTUP
5.1 Kesimpulan
Dari percobaan yang telah dilakukan, dapat diambil kesimpulan bahwa perangkat
XRD adalah alat yang digunakan untuk karakterisasi dan mengukur butir kristal dengan
meggunakan emisi sinar x. Untuk membatasi intensitas, fokus serta emisi dari sinar x
digunakan kolimator dengan ukuran yang disesuaikan. Semakin besar kolimator semaikin
besar intensitas dari sinar x yang dipancarkan. Untuk karakterisasi kristal didapatkan dengan
melihat puncak dari kurva yang tertera atau yang diperoleh dan untuk interaksi dari radiasi
sinar x dengan sampel atau materi tersebut berupa hamburan dari sinar x oleh materi.

5.2 Saran

Saran yang dapat saya sampaikan adalah sebaiknya sampel yang diuji tidak hanya
satu jenis melainkan beberapa jenis agar didapatkan perbandingan untuk setiap material, serta
lebih teliti dalam melakukan percobaan.

DAFTAR PUSTAKA

Curry III, Thomas. S and James E. 1990. Christensen's Physics of Diagnostic Radiology,
Texas
Gautreu, Ronald & William S.. 2006. SchaumSeries:Fisika Modern. Jakarta : Erlangga.

Saravana, R & M. Prema Rani. 2012. Metal and Alloy Bonding: An Experimental Analysis.
London:
Springer.

Smallman, R.E, & R.J. Bishop. 1999. Metalurgi Fisik Modern dan rekayasa Material. Jakarta
: Erlangga

Waseda, Yoshio & Eiichiro Matsubara. 2011.X-RayDiffractionsCrystallography. London :


Springer.

Widyawati, N. (2012). Analisa Pengaruh Heating Rate terhadap tingkat Kristal dan Ukuran
Butir Lapisan BZT yang Ditumbuhkan dengan Metode Sol Gel. Surakarta: Universitas
Sebelas Maret

http://eprints.uny.ac.id/8412/3/bab%202%20_08306144007.pdf