Teori Dasar X-Ray Diffraction (XRD)

Proses analisis menggunakan X-ray diffraction (XRD) merupakan

salah satu metoda karakterisasi material yang paling tua dan paling
sering

digunakan

hingga

sekarang.

Teknik

ini

digunakan

untuk

mengidentifikasi fasa kristalin dalam material dengan cara menentukan

parameter struktur kisi serta untuk mendapatkan ukuran partikel. Sinar X
merupakan radiasi elektromagnetik yang memiliki energi tinggi sekitar
200 eV sampai 1 MeV. Sinar X dihasilkan oleh interaksi antara berkas
elektron eksternal dengan elektron pada kulit atom. Spektrum sinar X
memilki panjang gelombang 10-10 s/d 5-10 nm, berfrekuensi 1017-1020 Hz
dan memiliki energi 103-106 eV. Panjang gelombang sinar X memiliki orde
yang sama dengan jarak antar atom sehingga dapat digunakan sebagai
sumber

difraksi

kristal.

SinarX

dihasilkan

dari

tumbukan

elektron

berkecepatan tinggi dengan logam sasaran. Olehk arena itu, suatu tabung
sinar X harus mempunyai suatu sumber elektron, voltase tinggi, dan
logam sasaran. Selanjutnya elektron elektron yang ditumbukan ini
mengalami pengurangan kecepatan dengan cepat dan energinya diubah
menjadi foton.
Sinar X ditemukan pertama kali oleh Wilhelm Conrad Rontgen pada
tahun 1895, di Universitas Wurtzburg, Jerman. Karena asalnya tidak
diketahui waktu itu maka disebut sinar X. Untuk penemuan ini Rontgen
mendapat hadiah nobel pada tahun 1901, yang merupakan hadiah nobel
pertama di bidang fisika. Sejak ditemukannya, sinar-X telah umum
digunakan untuk tujuan pemeriksaan tidak merusak pada material
maupun manusia. Disamping itu, sinar-X dapat juga digunakan untuk
menghasilkan pola difraksi tertentu yang dapat digunakan dalam analisis
kualitatif dan kuantitatif material. Pengujian dengan menggunakan sinar X
disebut dengan pengujian XRD (X-Ray Diffraction).
XRD digunakan untuk analisis komposisi fasa atau senyawa pada
material dan juga karakterisasi kristal. Prinsip dasar XRD adalah
mendifraksi cahaya yang melalui celah kristal. Difraksi cahaya oleh kisikisi atau kristal ini dapat terjadi apabila difraksi tersebut berasal dari

radius yang memiliki panjang gelombang yang setara dengan jarak antar
atom, yaitu sekitar 1 Angstrom. Radiasi yang digunakan berupa radiasi
sinar-X, elektron, dan neutron. Sinar-X merupakan foton dengan energi
tinggi yang memiliki panjang gelombang berkisar antara 0.5 sampai 2.5
Angstrom. Ketika berkas sinar-X berinteraksi dengan suatu material, maka
sebagian berkas akan diabsorbsi, ditransmisikan, dan sebagian lagi
dihamburkan terdifraksi. Hamburan terdifraksi inilah yang dideteksi oleh
XRD. Berkas sinar X yang dihamburkan tersebut ada yang saling
menghilangkan karena fasanya berbeda dan ada juga yang saling
menguatkan

karena

fasanya

sama.

Berkas

sinar

yang

saling

menguatkan itulah yang disebut sebagai berkas difraksi. Hukum Bragg

merumuskan tentang persyaratan yang harus dipenuhi agar berkas sinar
X yang dihamburkan tersebut merupakan berkas difraksi. Ilustrasi difraksi
sinar-X pada XRD dapat dilihat pada Gambar 1 dan Gambar 2.

Gambar 1 : Ilustrasi difraksi sinar-X pada XRD [1]

Gambar 2 : Ilustrasi difraksi sinar-X pada XRD [2]

Dari Gambar 2 dapat dideskripsikan sebagai berikut. Sinar datang

yang menumbuk pada titik pada bidang pertama dan dihamburkan oleh
atom P. Sinar datang yang kedua menumbuk bidang berikutnya dan
dihamburkan oleh atom Q, sinar ini menempuh jarak SQ + QT bila dua
sinar tersebut paralel dan satu fasa (saling menguatkan). Jarak tempuh ini
merupakan kelipatan (n) panjang gelombang (), sehingga persamaan
menjadi :

Persamaan diatas dikenal juga sebagai Braggs law, dimana,

berdasarkan persamaan diatas, maka kita dapat mengetahui panjang
gelombang sinar X () dan sudut datang pada bidang kisi (), maka
dengan ita kita akan dapat mengestimasi jarak antara dua bidang planar
kristal (d001). Skema alat uji XRD dapat dilihat pada Gamnbar 3 dibawah
ini.

Gambar 3: Skema alat uji XRD [3]

Dari metode difraksi kita dapat mengetahui secara langsung
mengenai jarak rata-rata antar bidang atom. Kemudian kita juga dapat
menentukan orientasi dari kristal tunggal. Secara langsung mendeteksi
struktur kristal dari suatu material yang belum diketahui komposisinya.
Kemudian secara tidak langsung mengukur ukuran, bentuk dan internal
stres dari suatu kristal. Prinsip dari difraksi terjadi sebagai akibat dari

pantulan elastis yang terjadi ketika sebuah sinar berinteraksi dengan

sebuah target. Pantulan yang tidak terjadi kehilangan energi disebut
pantulan elastis (elastic scatering). Ada dua karakteristik utama dari
difraksi

yaitu

geometri

dan

intensitas.

Geometri

dari

difraksi

secara sederhana dijelaskan oleh Braggs Law (Lihat persamaan 2).

Misalkan

ada

dua

pantulan

sinar dan .

Secara

matematis

sinar tertinggal dari sinar sejauh SQ+QT yang sama dengan 2d

sin secara geometris. Agar dua sinar ini dalam fasa yang sama maka
jarak ini harus berupa kelipatan bilangan bulat dari panjang gelombang
sinar .

Maka

didapatkanlah

Hukum

Bragg: 2d

sin =

n. Secara

matematis, difraksi hanya terjadi ketika Hukum Bragg dipenuhi. Secara

fisis jika kita mengetahui panjang gelombang dari sinar yang membentur
kemudian kita bisa mengontrol sudut dari benturan maka kita bisa
menentukan jarak antar atom (geometri dari latis). Persamaan ini adalah
persamaan utama dalam difraksi. Secara praktis sebenarnya nilai n pada
persamaan

Bragg

diatas

nilainya

1.

Sehingga

cukup

dengan

persamaan 2d sin = . Dengan menghitung d dari rumus Bragg serta

mengetahui nilai h, k, l dari masing-masing nilai d, dengan rumus-rumus
yang telah ditentukan tiap-tiap bidang kristal kita bisa menentukan latis
parameter (a, b dan c) sesuai dengan bentuk kristalnya.
Estimasi Crystallite Size dan Strain Menggunakan XRD
Elektron dan Neutron memiliki panjang gelombang yang sebanding
dengan dimensi atomik sehingga radiasi sinar X dapat digunakan untuk
menginvestigasi material kristalin. Teknik difraksi memanfaatkan radiasi
yang terpantul dari berbagai sumber seperti atom dan kelompok atom
dalam kristal. Ada beberapa macam difraksi yang dipakai dalam studi
material yaitu: difraksi sinar X, difraksi neutron dan difraksi elektron.
Namun yang sekarang umum dipakai adalah difraksi sinar X dan elektron.
Metode yang sering digunakan untuk menganalisa struktur kristal adalah
metode Scherrer. Ukuran kristallin ditentukan berdasarkan pelebaran
puncak difraksi sinar X yang muncul. Metode ini sebenarnya memprediksi
ukuran kristallin dalam material, bukan ukuran partikel. Jika satu partikel

mengandung sejumlah kritallites yang kecil-kecil maka informasi yang

diberikan metiode Schrerrer adalah ukuran kristallin tersebut, bukan
ukuran partikel. Untuk partikel berukuran nanometer, biasanya satu
partikel hanya mengandung satu kristallites. Dengan demikian, ukuran
kristallinitas yang diprediksi dengan metode Schreer juga merupakan
ukuran partikel. Berdasarkan metode ini, makin kecil ukuran kristallites
maka makin lebar puncak difraksi yang dihasilkan, seperti diilustrasikan
pada Gambar 4. Kristal yang berukuran besar dengan satu orientasi
menghasilkan

puncak

difraksi

yang

mendekati

sebuah

garis

vertikal. Kristallites yang sangat kecil menghasilkan puncak difraksi yang

sangat lebar. Lebar puncak difraksi tersebut memberikan informasi
tentang ukuran kristallites. Hubungan antara ukuran ksirtallites dengan
lebar puncal difraksi sinar X dapat diproksimasi dengan persamaan
Schrerer [5-9].

Gambar 4 : XRD Peaks [4]

Gambar 4 mengindikasikan bahwa makin lebar puncak difraksi sinar
X

maka

semakin

kecil

ukuran

kristallites.

Ukuran

kristallites

yangmenghasilkan pola difraksi pada gambar bawah lebih kecil dari pada
ukuran kristallites yang menghasilkan pola diffraksi atas. Puncak diffraksi
dihasilkan oleh interferensi secara kontrukstif cahaya yang dipantulkan
oleh bidang-bidang kristal. Hubungan antara ukuran ksirtallites dengan
lebar puncal difraksi sinar X dapat diproksimasi dengan persamaan
Schrerer [5-7].

Scherrer Formula

Dimana :

Crystallite size (satuan: nm) dinotasikan dengan symbol (D)

FWHM (Line broadening at half the maximum intensity), Nilai yang
dipakai adalah nilai FWHM setelah dikurangi oleh the instrumental line
broadening (satuan: radian) dinotasikan dengan symbol (B)

Braggs Angle dinotasikan dengan symbol ()

X-Ray wave length dinotasikan dengan symbol ()

K Adalah nilai konstantata Shape Factor (0.8-1) dinotasikan

dengan symbol (K)
Perlu diingan disini adalah: Untuk memperoleh hasil estimasi ukuran
kristal dengan lebih akurat maka, nilai FWHM harus dikoreksi oleh
"Instrumental Line Broadening" berdasarkan persamaan berikut [4-9].

Dimana :
FWHMsample adalah lebar puncak difraksi puncak pada setengah
maksimum dari sampel benda uji dan FWHMstandard adalah lebar puncak
difraksi material standard yang sangat besar puncaknya berada di sekitar
lokasi puncak sample yang akan kita hitung.
Sekilas Tentang Struktur Atom Suatu Unsur
Setiap atom terdiri dari inti yang sangat kecil yang terdiri dari proton
dan neutron, dan di kelilingi oleh elektron yang bergerak. Elektron dan
proton mempunyai muatan listrik yang besarnya 1,60 x 10 -19 C dengan
tanda negatif untuk elektron dan positif untuk proton sedangkan neutron
tidak bermuatan listrik. Massa partikel-partikel subatom ini sangat kecil:

proton dan neutron mempunyai massa kira-kira sama yaitu 1,67 x 10 27

kg, dan lebih besar dari elektron yang massanya 9,11 x 10 -31 kg. Setiap

unsur kimia dibedakan oleh jumlah proton di dalam inti, atau nomor atom
(Z). Untuk atom yang bermuatan listrik netral atau atom yang lengkap,
nomor

atom

adalah

sama

dengan

jumlah

elektron.

Nomor

atom

merupakan bilangan bulat dan mempunyai jangkauan dari 1 untuk

hidrogen hingga 94 untuk plutonium yang merupakan nomor atom yang
paling tinggi untuk unsur yang terbentuk secara alami. Massa atom (A)
dari sebuah atom tertentu bisa dinyatakan sebagai jumlah massa proton
dan neutron di dalam inti. Walaupun jumlah proton sama untuk semua
atom pada sebuah unsur tertentu, namun jumlah neutron (N) bisa
bervariasi. Karena itu atom dari sebuah unsur bisa mempunyai dua atau
lebih massa atom yang disebut isotop. Berat atom berkaitan dengan berat
rata-rata massa atom dari isotop yang terjadi secara alami. Satuan massa
atom (sma) bisa digunakan untuk perhitungan berat atom. Suatu skala
sudah ditentukan dimana 1 sma didefinisikan sebagai 1/12 massa atom
dari isotop karbon yang paling umum, karbon 12 (12 C) (A = 12,00000).
Dengan teori tersebut, massa proton dan neutron sedikit lebih besar dari
satu, dan,
AZ+N
Berat atom dari unsur atau berat molekul dari senyawa bisa
dijelaskan berdasarkan sma per atom (molekul) atau massa per mol
material. Satu mol zat terdiri dari 6,023 x 10 23 atom atau molekul
(bilangan Avogadro). Kedua teori berat atom ini dikaitkan dengan
persamaan berikut: 1 sma/atom (molekul) = 1 g/mol Sebagai contoh,
berat atom besi adalah 55,85 sma/atom, atau 55,85 g/mol. Kadangkadang penggunaan sma per atom atau molekul lebih disukai; pada
kesempatan lain g/mol (atau kg/mol) juga digunakan.