Metode XRF secara luas digunakan untuk menentukan komposisi unsur suatu

material ataupun unsur kimia dari suatu batuan. Karena metode ini cepat dan tidak
merusak sampel, metode ini dipilih untuk aplikasi di lapangan dan industri untuk
kontrol material.

Spektrometri XRF memanfaatkan sinar-X yang dipancarkan oleh bahan yang

selanjutnya ditangkap detector untuk dianalisis kandungan unsur dalam bahan

JENIS JENIS XRF

Jenis XRF yang pertama adalah WDXRF (Wavelength-dispersive X-ray Fluorescence)
dimana dispersi sinar-X didapat dari difraksi dengan menggunakan analyzer yang berupa cristal
yang berperan sebagai grid.
Keuntungan menggunakan WDXRF spektrometer (PANalytical, 2009):

Aplikasinya luas dan beragam.

Kondisi pengukuran yang optimal dari tiap tiap elemen dapat diprogram.

Analisa yang sangat bagus untuk elemen berat.

Jenis XRF yang kedua adalah EDXRF. EDXRF (Energy-dispersive X-ray Fluorescence)
spektrometri bekerja tanpa menggunakan kristal, namun menggunakan software yang mengatur
seluruh radiasi dari sampel kedetektor (PANalytical, 2009). Radiasi Emisi dari sample yang
dikenai sinar-X akan langsung ditangkap oleh detektor. Detektor menangkap foton foton
tersebut dan dikonversikan menjadi impuls elektrik
Pada XRF jenis ini, membutuhkan biaya yang relatif rendah, namun keakuratan kurang.
(Gosseau,2009).