Anda di halaman 1dari 22

S2 Ilmu Fisika UGM

GRFC

03/31/16

S2 Ilmu Fisika UGM

03/31/16

1. Pendahuluan

4. Jadwal Penelitian

2. Landasan Teori

5. Contoh Hasil

3. Metode Penelitian

6. Daftar Pustaka

Latar Belakang

1. Permintaan produk kerajinan patung dan ukiran kayu semakin


meningkat.
2. Material komposit dapat digunakan sebagai pengganti kayu. Salah
satu material yang dapat dijadikan sebagai bahan pengganti
kayu adalah material komposit berbahan ultra fine amorphous
silica (UFAS) dari sekam padi.
3. Sebagai bahan pengganti kayu diperlukan uji kelayakan material
komposit berbahan UFAS tersebut agar kualitas produk-produk
yang dibuat dari material tersebut terjamin. Oleh karena itu
diperlukan adanya pengujian terhadap kualitas internal material
tersebut dengan pengujian tak rusak agar struktur material tidak
rusak.

03/31/16

S2 Ilmu Fisika UGM

03/31/16

Penelitian Pendukung
Terdahulu

Widodo et al. (2000) telah berhasil melakukan pengujian sensitivitas


sebagai eksperimen pendahuluan pada sistem TK generasi pertama yang
telah dikembangkan di laboratorium Fisika Citra FMIPA UGM. Pengujian
dilakukan terhadap besi dan aluminium dengan sumber radiasi Cs137 dan
detektor NaI(Tl) yang bekerja pada tegangan operasi 800V. Berdasarkan
hasil pengujian diperoleh nilai koefisien atenuasi aluminium sebesar 0,0199
mm-1 sedangkan untuk besi sebesar 0,0588 mm-1.
Proses kalibrasi sistem TK tersebut dilakukan selanjutnya oleh Bahri &
Suparta (2005) dengan membandingkan cacah yang dihasilkan oleh
detektor NaI(Tl) dan CsI(Tl). Proses pemindaian menggunakan sumber I131
pada tenaga 364 keV yng diarahkan pada kedua detektor tersebut. Hasil
kalibrasi tersebut menghasilkan nilai cacah hasil pemayaran dengan
menggunakan detektor NaI(Tl) sama dengan 32 kali dari CsI(Tl).
Berdasarkan hasil tersebut, detektor CsI(Tl) lebih baik digunakan sebagai
alternatif pengganti NaI(Tl) yang harganya cukup mahal. Selain itu, kontras
citra tomografi dari detektor CsI(Tl) lebih tinggi daripada NaI(Tl).
03/31/16

Penelitian Pendukung
Terdahulu

Pemanfaatan sistem TK untuk pengujian tak rusak telah dilakukan oleh


Handayani (2006) dengan melakukan pengujian kualitas kuningan.
Pengujian dilakukan pada beberapa jenis kuningan berdasarkan tingkat
kualitas kuningan dengan menggunakan tembaga dan seng sebagai bahan
referensi. Sumber radiasi yang digunakan adalah sumber gamma I131 pada
aktivitas tinggi dan aktivitas rendah. Hasil pengujian menunjukkan bahwa
semakin baik kualitas kuningan, maka nilai koefisien atenuasinya semakin
tinggi.

Pemanfaatan TK untuk menguji bagian dalam biomaterial juga dilakukan


oleh Bischof et al. (2007) yaitu dengan melakukan pengamatan terhadap
konsentrasi, fase, dan suhu biomaterial sebelum dan sesudah dibekukan.
Sistem TK yang digunakan juga dapat mengukur batas tepi dari bola es dan
suhu biomaterial pada keadaan telah beku hingga -196o.

03/31/16

Penelitian Pendukung
Terdahulu

Selain itu, Patterson et. al (2013) juga mengamati morfologi dari busa
silikon polimer dengan menggunakan mikro-TK sinar-X. Hasil citra
rekontruksi menunjukkan bahwa sistem TK yang digunakan dapat
mengamati perbedaan morfologi dari masing-masing objek busa silikon
polimer sekaligus keretakan objek akibat proses tekanan dapat teramati
dengan jelas pada bagian kulit objek tersebut. Hal ini menunjukkan telah
banyak penelitian yang memanfaatkan TK sinar-X untuk inspeksi struktur
internal suatu objek.
Penelitian ini dilakukan untuk mengamati dimensi objek uji dan memperoleh
informasi fisis meliputi kerapatan, profil citra tomografi, dan koefisien
atenuasi linier dari material uji. Hasil yang diharapkan dalam penelitian ini
adalah dapat memperlihatkan tampang lintang profil citra tomografi dari
material uji sehingga dapat memperlihatkan perbedaan bagian internal
material uji yang terbuat dari komposisi berbeda.

03/31/16

Sinar-X

Sinar-X di temukan secara tidak sengaja


oleh Wilhelm Conrad Rontgen (18451923). Pada waktu itu, Rontgen sedang
mempelajari pancaran elektron dari
tabung katode. Lempeng logam yang
letaknya di dekat tabung katode
memancarkan sinar floueresensi selama
elektron dialirkan. Rontgen
menyimpulkan bahwa sinar tersebut di
sebabkan oleh radiasi dari suatu atom.
Karena radiasi tersebut belum diketahui
sebelumnya, maka Rontgen
memberikan nama radiasi tersebut
dengan sebutan radiasi Sinar-X

03/31/16

Sinar-X

Komponen utama dari tabung sinar-x adalah filamen pemanas, katoda dan
anoda. Filamen dipanaskan, elektron-elektron atom anoda terlepas dari
ikatannya membentuk awan elektron di sekitar anoda. Diberikan beda
potensial antara anoda dan katoda, elektron bergerak menumbuk atom
anoda dan menghasilkan radiasi sinar-x.
03/31/16

Sinar-X
Sinar-X Bremstrahlung
Elektron sebagai partikel
bermuatan listrik yang
bergerak dengan kecepatan
tinggi, apabila melintas dekat
ke inti suatu atom, maka gaya
tarik elektrostatik inti atom
yang kuat akan menyebabkan
elektron membelok dengan
tajam. Peristiwa itu
menyebabkan elektron
kehilangan energinya dengan
memancarkan radiasi
elektromagnetik yang dikenal
sebagai sinar-X
Bremstrahlung.
03/31/16

10

Sinar-X

Sinar-X Karakteristik

Sinar-X karakteristik terjadi ketika elektron dari katoda


menumbuk elektron atom pada anoda. Tumbukan tersebut
dapat melepaskan elektron orbit atom anoda dari ikatan inti
atomnya (menyebabkan kekosongan pada kulit yang
ditinggalkan). Jika elektron yang terlepas tersebut adalah
elektron sebelah dalam, maka untuk menjaga kestabilan
atom, kekosongan tersebut akan diisi oleh elektron dari kulit
sebelah luarnya yang disertai dengan pancaran radiasi sinarx karakteristik.

03/31/16

11

Sinar-X
Intensitas sinar-X akan berkurang ketika melewati suatu objek karena terjadi
interaksi antara sinar-X dengan elektron pada objek. Terdapat tiga proses interaksi
antara sinar-X dengan objek, yakni efek fotolistrik, hamburan Rayleigh, dan
hamburan Compton. Seluruh proses interaksi tersebut memberikan informasi fisis
mengenai koefisien atenuasi linier () dari materi yang dilewati sinar-X. Koefisien
atenuasi linier dari objek merupakan kombinasi dari serapan akibat efek fotolistrik
(ef), hamburan Rayleigh (hr) dan hamburan Compton (hc) yang dapat dituliskan
dalam persamaan

ef hr hc .

(3.1)

Hukum Beer-Lambert menyatakan bahwa pengurangan intensitas sinar-X akibat


melewati suatu materi dipengaruhi oleh koefisien atenuasi linier dan ketebalan dari
materi tersebut. Pernyataan tersebut dapat dituliskan menjadi persamaan

I t I o e x ,

(3.2)

dengan It adalah intensitas sinar-X setelah melewati objek, Io adalah intensitas awal
sinar-X, x adalah ketebalan objek, dan adalah koefisien atenuasi liner objek.
03/31/16

12

Tomografi

Tomografi berasal dari kata tomos yang berarti memotong atau irisan, graphein
yang artinya menggambarkan. Berdasarkan unsur pembentuk katanya, tomografi
berarti penggambaran hasil irisan. Tomografi adalah teknik untuk menghasilkan
citra tampang lintang atau struktur internal suatu obyek dengan memanfaatkan
foton atau partikel yang dapat menembus obyek dan dianalisa oleh suatu sistem
deteksi.
Konsep yang mendasari teknik tomografi adalah kemampuan untuk merekonstruksi
struktur tampang internal obyek dari proyeksi berkas terkolimasi yang melaluinya.
Suatu sistem tomografi terdiri dari beberapa komponen pokok diantaranya sumber
radiasi, obyek, detektor dan sistem akuisisi data. Penggunaan komputer dalam
proses akuisisi data, proses rekonstruksi citra hingga penayangan dan pengolahan
citra sangat dominan pada sistem tomografi modern, sehingga secara umum teknik
ini dikenal sebagai teknik tomografi komputer.

03/31/16

13

Tomografi

Sistem Tomografi

03/31/16

14

Tomografi

Perkembangan tomografi komputer (TK) berawal dari teknologi sistem radiografi


ketika pada tahun 1895 Rontgen menemukan sinar-X dan menghasilkan radiograf
dari tangan istrinya. Ide dasar dari pencitraan tomografi dimulai ketika J. Radon
memberikan formulasi matematik untuk merekonstruksi sebuah fungsi dua dimensi
dari sejumlah integral garis fungsi tersebut dalam bidang dua dimensi yang
selanjutnya dikenal sebagai transormasi Radon.
Parameter kualitas citra TK dapat diamati dari hasil sinogram dan citra tomografi.
Distribusi sebaran parameter fisis pada sinogram menyatakan nilai ray-sum,
sedangkan pada citra tomografi menyatakan nilai koefisien atenuasi bahan ().
Profil sinogram dapat digunakan untuk menganalisis adanya serapan radiasi dari
material uji yang dinyatakan dalam ray-sum. Citra tomografi dapat menampilkan
ditribusi nilai pada setiap titik yang dinyatakan dalam pixel. Analisis pada citra
tomografi dapat menentukan kualitas dari sistem TK yang digunakan tersebut.

03/31/16

15

Material Komposit

Material komposit (atau komposit) adalah suatu jenis material


baru hasil rekayasa yang terdiri dari dua atau lebih material
dengan sifat sifat kimia maupun fisis masing-masing material
berbeda satu sama lainnya (Niska & Sain). Material komposit
terdiri dari 2 bagian utama, yaitu matriks dan filler. Matriks
berfungsi untuk perekat atau pengikat dan pelindung filler dari
kerusakan eksternal. Matriks yang umum digunakan yaitu
karbon, serat gelas, polimer, dan keramik. Filler (pengisi)
berfungsi sebagai penguat matriks.

Pada penelitian ini digunakan material komposit berbahan UFAS dari


sekam padi dengan dua variasi komposisi sekam padi 150 mesh (K1)
dan 100 mesh (K2).

03/31/16

16

S2 Ilmu Fisika UGM

Penelitian ini akan dilaksanakan


mulai bulan September 2014
hingga Maret 2015 di
laboratorium Fisika Citra jurusan
Fisika FMIPA UGM.
Objek berupa material komposit
dengan dua variasi yaitu 150
mesh dan 100 mesh dengan
dimensi diameter 1cm dan tinggi
2 cm.

03/31/16

Material Komposit

Material Uji

17

S2 Ilmu Fisika UGM


Skema Peralatan
mikro-TK sinar-X

Meja objek dengan


sistem rotasi

Generator Sinar-X

Objek
Tabung
Sinar-X

It

Io

Motor
Stepper

Detektor
Fluoroskopi

Kamera
CCD

Unit
Komputer

Tampilan
Citra

03/31/16

18

S2 Ilmu Fisika UGM

No
1

2
3
4
5
6

Kegiatan Penelitian
Studi pustaka pengujian tak rusak ,
material komposit, dan mikro
tomografi komputer sinar-X
Penentuan sampel material
komposit
Proses pengujian dengan sistem
mikro tomografi komputer Sinar-X
Analisis data
Penyusunan laporan
Evaluasi

03/31/16

Bulan keIII
IV
V

II

VI

VII

19

S2 Ilmu Fisika UGM

03/31/16

20

S2 Ilmu Fisika UGM


Slice

Tampilan Histogram

Slice

Tampilan Histogram

(a)

(b)

(e)

(f)

(c)

(d)

(g)

(h)

TERIMAKASIH

03/31/16

22