KIMIA ANALISIS INSTRUMEN II

TABEL KOMPARASI
XRD, XRF, SEM, TEM, DTA, TGA, DAN DSC

Dosen Pengampu:
Vina Nurul Istighfarini, M.Si

Kelompok 6:
1. Anastika

(13630028)

2. Sheley Dea Marella (13630059)

3. Hanifah Hasna F.

(13630063)

4. M. Shofiyuddin

(136300

5. Ifatul Masithoh

(13630082)

JURUSAN KIMIA
FAKULTAS SAINS DAN TEKNOLOGI
UNIVERSITAS ISLAM NEGERI MAULANA MALIK IBRAHIM MALANG
2016

Instrumen

Pengertia
n

XRD

Diffraksi sinar X

XRF

Fluoresence
(berpendar)
sinar X

SEM

Scanning
mikroskop
elektron

TEM

Transmisi
mikroskop
elektron

Kegunaan analisa
unsur mengetahui
Topografi
Mengamati

dalam
mineral
bentuk
dan (Tekstur
mikroorganis
atau batuan
ukuran
sel Material)
me
(sel,
menentukan
satuan
kristal Morfologi
virus)
Mengamati
(d, sudut, dan (Bentuk
sistem kristal
panjang
dapat
dan
material/mol
ikatan),
Ukuran)
ekul
menerangkan
Komposisi
(semikondukt
parameter kisi, pengideks-an
bidang
or,
nano
jenis
struktur,
(gabungan
kristal,dan
material, dll)
susunan atom yg
TDX)

jumlah atom Sifat

berbeda
pd
kristal,
adanya
per-sel satuan
Kristalogra
ketidaksempurna
fi
an pada kristal,
orientasi, butirbutir dan ukuran
butir.

DTA

TGA

DSC

Analisis Differensial analisis

Termal
termogravimetri
atau
analisis
gravimetri termal
bidang
metalurgi Menggambarkan

dan ilmu material: berbagai bahan

Memberikan
mempelajari
transisi fasa yang informasi
terjadi
dibawah karakterisasi bebas
pengaruh
dan
tambahan
atmosfer,
untuk teknik termal
temperatur,
laju Menentukan panas
pemanasan
atau atau
kestabilan
pendinginan.
bahan oksidatif
digunakan
untuk Menentukan
material karbonat komposisi
dari

atau clay
suatu bahan

Kalorimetr
pemindaia
differensia

menentuk
kapasitas
dan enta
suatu ba
mengukur
perbedaa
yang ma
dalam
dan
pemband
sebagai
temperat
mengkara
si
thermoph
polimer.
mengukur
termopla
penting

termasuk
leleh,
pelebura
persen
kristalini
suhu
gelas
Syarat
sampel

Zat
padat: Sampel serbuk: Lempeng Sampel harus sampel terbuat dari
atomic
spacing
a.
100 konduktor:
tipis
clay atau material
sampel
harus
mesh,
langsung
(ketebalan
karbonat
b. preparasi
sama
dengan
diletakkan
beberapa
mudah
panjang
Lempeng
nm).
gelombang sinar- Sampel padat:
Jika
padatan
non
a. batas max. konduktor:
X
harus
di
tinggi 2.5 cm dilapisi
potong
dan

logam
dengan pisau
diameter 2.5 konduktor
berlian
cm,
Serbuk:
Material
b. Logam,
ditempel di biologi
plastic dan selotip
difiksasi
kaca
atau karbon
dengan uranil
keramik,
asetat, atau
c. pelapisan
diletakkan
permukaan
dalam
film
akan
selulosa
mempengar
asetat
uhi
komposisi
kimia yang
terbaca
d. Ukuran
partikel tidak

Berat sampel :
Sampel
a. 10-20 mg untuk berupa p
aplikasi
pada kristal ca
umumnya,
logam
b. 50-100 mg untuk Sampel
pengukuran zat- digerus
zat
mudah (<20 mg)
menguap.
bungkus
Kebanyakan
TGA aluminium
memiliki baseline
drift 0.25% dari 10
mg sampel.

menjadi
persoalan
e. Permukaan
harus
homogen
Hasil Data

Diffraktogram
Sumbu
X:
Intensitas
Sumbu Y: 2 teta

Diffraktogram Gambar
Gambar hitam kurva
perbedaan Sumbu
x
: Termogram
Sumbu X: Energi
temperatur antara Temperatur
Sumbu
hitam-putih putih
Sumbu
Y: (sec
material
sampel Sumbu y : Masa temperatu
Intensitas
dengan
material sampel
Sumbu
Elektron)
referensi.
Eksoterma
Data berat
dQ/dT
molekul
(BSE)
Komposisi
material (XRay)

Sumbu
X:
temperatur (0C)
Sumbu Y: selisih
suhu (0C)

sumbu x : Waktu (s)

1 : menguapkan
senyawa
volatile,
air,
monomer,
pelarut
2 : Dekomposisi
3
:
perubahan
atmosfer
4 : pembakaran
karbon

sumbu
y
temperatur (0C)

Referensi/
data

Membutuhkan
standar

Membutuhkan
standar

Kelebihan

kemampuan
mudah,
murah
penetrasinya:
dan
analis
sinar-X memiliki
cepat
energy
sangat
Jangkauan
tinggi
akibat
elemen
Hasil
panjang
analisa akurat
gelombangnya
Membutuhan
yang pendek
sedikit sampel
pada
tahap
preparasinya(u
ntuk
Trace
elemen)
Dapat digunakan
untuk analisa
elemen mayor
(Si, Ti, Al, Fe,

Tidak,
kecuali
untuk
tambahan
TDX
Resolusi

lebih dari
mikroskop
cahaya
Perbesaran
3-150.000
kali
Preparasi
cepat

Tidak
membutuhkan
referensi

Resolusi lebih
dari SEM
Digunakan
untuk
banyak jenis
sampel dan
banyak jenis
bidang

: 5
:
inert,
abu
senyawa anorganik,
filler atau gas fiber
Kurva
merekam
transformasi
apakah panas di
dalam
chamber
tersebut
diserap
atau
dikeluarkan
temperature
material
Membutuhkan
Bahan
standar
referensi
bersifat sebagai
referensi,
inert sebagai acuan seperti alumina
perbandingan
hasilnya
Dapat menentukan Dapat menganalisis
kondisi
bahan
dengan
eksperimental
masa kecil atau
sampel (tekanan besar
tinggi atau vakum) Dapat

dapat
digunakan menganalisisis gas
dalam temperatur dengan MS dan
tinggi
FTIR
Karakteristik
Dapat
mengukur
transisi dan reaksi sampel
dengan
pada temperatur kisaran
suhu
tertentu
dapat sampai 1600oC

dideteksi dengan Dapat menganalisis

baik
bahan
yang
menunjukkan masa
baik
kekurangan

Membutuh
referensi
alumina (A

Sampel
butuh se
mudah
dikalibra
cepat dan
diandalk
dalam
termal.
mengguna
gas mu
tidak kor
sensivitas
ditingkat
dengan
memper
massa

Mn, Mg, Ca,

Na,
K,
P)
maupun tace
elemen
(>1
ppm; Ba, Ce,
Co, Cr, Cu, Ga,
La, Nb, Ni, Rb,
Sc, Sr, Rh, U,
V, Y, Zr, Zn)
Akurasi
yang
tinggi
Dapat
menentukan
unsur
dalam
material tanpa
adanya
standar
Dapat
menentukan
kandungan
mineral dalam
bahan biologik
maupun dalam
tubuh secara
langsung
Kelemaha objek
kristal Tidak
cocok Resolusi
Preparasi
n
tunggal: sangat
untuk analisa kurang dari
rumit
sulit
element yang TEM
(sebagian
mendapatkan
ringan seperti Membutuhk
sample)
senyawa dalam
H dan He
an
ruang Struktur
Analisa sampel vakum
bentuk
molekul
kristalnya.
Hanya
cair
mungkin

atau
kelebihan,
dan
yang
berguna
pemanas
untuk mempelajari adanya
bahan
polimer
berlebih
(termoplastik,
disalurka
termoset,
antara
elastometer,
dan
komposit,
film,
pemband
serat, pelapis, dan
melalui
cat)
penghub
lempeng
logam
dimiliki
DTA)

Kurang
mampu Biaya
instrument Saat
mendeteksi
TGA cukup mahal
tinggi
sampel
yang Perlakuan kalibrasi
sensivita
ringan
menurun
TGA berkala
Ketidakmampuan Kalibrasi
hanya DSC
untuk memproses dapat
sensitif
dilakukan
logam
karena jika TGA dirubah
dibandin

membutuhkan
menganalis
objek
bubuk
Volume
gas is
(powder): sulit
helium
yang permukaan
untuk
cukup besar Membutuhk
menentukan
Preparasi sampel an coating
bentuk
membutuhkan
Au
strukturnya

waktu
yang
cukup
lama
dan
membutuhkan
perlakuan
yang banyak
Tidak
dapat
mengetahui
senyawa apa
yang dibentuk
oleh
unsurunsur
yang
terkandung
dalam material
yang akan kita
teliti.
Tidak
dapat
menentukan
struktur
dari
atom
yang
membentuk
material itu
Yang perlu Permukaan
3
XRF tidak dapat Memiliki
diperhatik
sumber
sampel yang
membuat
an
datar dan
analisis di spot sinyal:
mendapatkan
ukuran
kecil BSE:

berubah
selama
pengamatan
Daerah
pengamatan
sempit
Sampel
mungkin
rusak
oleh
tembakan
elektron

logam
specific
tension
tinggi

memiliki
surface
yang

rentang suhunya,
mengubah
gas
pembersihan, dan
jika
alat
akan
dipindahkan
atau
direratakan

dalam
mendete
transisi-t
termal.

Gambar dapat Ukuran

sampel Pemilihan
bahan Untuk
dilihat
dari sesuai
desain cawan
perlu padat s
beberapa
dudukan (holder) disesuaikan
dianalisis
detektor:
dengan berat 1- dengan bahan uji lapisan

distribusi acak
khas pekerjaan
mengetah Layar
100 mg dan sama yang tidak bereaksi aluminium
dari orientasiEPMA(2-5
ui BM
seperti referensi
dengan
bahan dilubangi
Fluorescent
X-Ray:
Bagian instrument cawan serta tidak tidak
orientasi kisi
mikron)
t
Lapisan
Untuk analisa
Digunakan untuk
ketika rongga
mengetah
yaitu
Dapur lengket
film
Untuk
dipanaskan
dari tanah liat
analisis sampel
ui
crucible
terbuat
fotografi

Ketika
meletakkan
yang
yang memiliki
komposisi Sensor:
dari tungsten atau
cair
s
memerlukan
fraksi
besar Sec.
grafit yang bersifat cawan-cawan
di dianalisis
kamera CCD
single orientasi,
yaitu
dari
inert
untuk atas
papan perlu dilu
Elektron:
teknik-teknik
bahan geologi
mencegah
timbangan
perlu
penampan
Dapat digunakan
yang khusus
degradasi
hati-hati
karena
g
Sebuah blok yang lengan dari pan
untuk persiapan
untuk
permukaa
tanah liat telah
timbangan sangat
menentukan
n
mengelilingi
diberikan oleh
mudah patah
komposisi tanpa
thermocouple
USGS
difraktogram
terbuat dari logam.
dengan
Tidak
digunakan
menggunakan
keramik
karena
shoftware
banyak
mengandung
porositas.