Interferencias por divisin de amplitud

Prctica 4. Interferencias por divisin de amplitud

1.- OBJETIVOS Estudiar una de las propiedades ondulatorias de la luz, la interferencia. Aplicar los conocimientos para la medida (interferometra) de longitudes de onda o distancias.

2.- MATERIAL Interfermetro. Fuente de luz (lser, lmpara espectral) Lente de distancia focal corta para expandir el haz. Dispositivo para realizar vaco y medir presiones.

3.- FUNDAMENTO TERICO Un rayo de luz es una onda electromagntica, de campos E y B variables. Cuando dos rayos de luz se encuentran, los campos se superponen, y en cada punto del espacio el vector E o B ser la suma vectorial de los campos de los rayos individuales. Si los dos haces de luz provienen de fuentes distintas, en general no hay relacin constante entre los campos de cada haz, de manera que cuando estos se superponen el campo resultante oscila con el tiempo, y el ojo humano percibe una intensidad promedio uniforme. Si los dos haces proceden de la misma fuente, estarn correlacionados en frecuencia y fase. De esta forma, cuando los rayos se superponen (interfieren) se producir una interferencia constructiva si el estado de fase es el mismo, y se tendr un mximo en intensidad. Si, por el contrario, los campos se encuentran en oposicin de fase, la superposicin supondr la anulacin del campo total, y se produce un mnimo (cero) en la intensidad. Thomas Young fue el primero en disear un mtodo para producir y visualizar los mximos y mnimos de intensidad descritos anteriormente. La luz que, procedente de una misma fuente, llega a una pantalla tras haber atravesado dos rendijas estrechas y juntas,

2 Interferencias por divisin de amplitud forma un patrn regular de bandas brillantes y oscuras. Este patrn de interferencia constituy una evidencia concluyente de la naturaleza ondulatoria de la luz. La doble rendija de Young es el primer y ms simple interfermetro: por una parte, si el espacio entre las rendijas es conocido, el espaciado entre los mximos y mnimos interferenciales permite medir la longitud de onda. Por otra parte, si se conoce la longitud de onda, se puede determinar el espaciado entre las rendijas. Interfermetro de Michelson Aunque inicialmente Michelson dise este interfermetro (1881) para detectar el ter, una vez que fue imposible demostrar su existencia se utiliza su dispositivo para medir longitudes de onda o para, conocida la longitud de onda de una fuente emisora, medir distancias muy pequeas o ES ndices de refraccin de distintos medios. La figura 1 muestra un esquema: EM

EF

Figura 1

Un rayo procedente del lser es desdoblado mediante un espejo semitransparente ES (espejo que refleja slo el 50% de la luz que incide sobre l, dejando pasar el otro 50%). Uno de los rayos se refleja en el espejo fijo EF, y el otro en el espejo mvil EM. Ambos rayos vuelven a juntarse en la pantalla. Sobre la pantalla vemos la superposicin o interferencia de los dos haces de luz, cuyas fases (estados de oscilacin de los campos), estn altamente correlacionadas por proceder de la misma fuente. Si con una lente abrimos el haz justo antes de ser desdoblado, se podr observar en pantalla el modelo de interferencia formado por anillos alternativamente claros y oscuros. Es el patrn de interferencia que se Figura 2 muestra en la figura 2:

Interferencias por divisin de amplitud

Cmo se ha formado? Inicialmente los dos haces desdoblados estaban en fase. La diferencia de fase que haya entre ellos cuando se encuentren de nuevo en un mismo punto del espacio depender de la diferencia de camino que hayan recorrido. Si EF y EM estn a la mismo distancia del espejo semitransparente, el camino recorrido por ambos rayos es el mismo, y por tanto llegarn en fase a la pantalla, y la interferencia en cualquier punto ser mxima o mnima pero constante en el tiempo, lo que nos permite observar el patrn de interferencia. Moviendo el espejo EM cambiaremos esta situacin. Si la distancia ES-EM se vara en un cuarto de longitud de onda, los haces en pantalla estarn en oposicin de fase (desfasados 180). Esto es debido a que el haz que va de ES a EM recorre esa distancia dos veces, por lo que la diferencia de camino recorrido por los dos haces es de media longitud de onda: en la pantalla las posiciones de los mximos y mnimos estarn intercambiadas. Si se vara ahora la distancia de ES a EM en media longitud de onda, de nuevo los haces estarn en fase en la pantalla. El modelo de interferencia volvera a ser ahora como inicialmente. De esta forma, moviendo EM tendremos un modelo de interferencia que va variando al variar la posicin del espejo, y que volver a ser como inicialmente cada vez que el espejo se mueva un mltiplo de la semilongitud de onda de la luz utilizada. Por tanto, moviendo EM una distancia dm y contando m, el nmero de veces que el patrn de interferencia vuelve a ser como inicialmente, se puede calcular la longitud de onda de la luz utilizada:

2d m m

(1)

Si la longitud de onda es conocida, se puede usar el mismo procedimiento para medir una distancia dm.

4.- MTODO EXPERIMENTAL

La figura 3 muestra un esquema del interfermetro de Michelson. Los espejos disponen de tornillos de ajuste para facilitar el alineamiento de los haces. El

4 Interferencias por divisin de amplitud movimiento del espejo mvil EM se controla y mide con un tornillo micromtrico, del que cada divisin corresponde a una micra (10-6 m) de desplazamiento de EM.
EM

ES

EF

EF

Figura 3

Alineamiento del interfermetro

1.- Colocar el lser y el interfermetro a unos 10-20 cm, sobre una superficie plana, y colocar una pantalla frente al espejo EF, segn el esquema de la figura 4. Conectar el lser.

Figura 2

Figura 4

Interferencias por divisin de amplitud

2.- Aflojar los tornillos de ES y girarlo para que no tape el haz, como se ve en la figura. A continuacin aflojar los tornillos de EM y rotarlo ligeramente hasta colocarlo en incidencia normal: el haz tiene que ser reflejado de nuevo hacia la apertura de salida del lser, pudiendo no coincidir exactamente con el orificio de salida, pero s debe estar sobre la misma vertical. Fijar entonces la posicin de EM. 3.- Girar de nuevo ES para que su superficie forme un ngulo de unos 45 con el haz lser (figura 5). Aparecern dos conjuntos de puntos en la pantalla, y se debe ajustar el ES para que las dos series de puntos estn lo ms prximas posible. Fijar el ES.

EF

EF

Figura 5 4.-Ajustar el ngulo de EF para que las dos series de puntos coincidan en pantalla. 5.- Poner la lente de 18 mm de distancia focal a la salida del haz (se adhiere con imanes) de forma que el haz abierto por la lente incida en el centro de ES. Si el alineamiento se ha realizado correctamente, aparecer en pantalla un patrn de interferencia de anillos concntricos (figura 2). Si no se ve el centro, ajustar el alineamiento de EF lentamente para centrar los anillos interferenciales.
I. Medida de la longitud de onda de la luz

- Alinear el lser y el interfermetro como se describe anteriormente para observar claramente el patrn de interferencias en pantalla.

6 Interferencias por divisin de amplitud - Ajustar el tornillo micromtrico de forma que el brazo sea casi paralelo a la base del interfermetro, ya que as la relacin entre la rotacin del tornillo y el movimiento de EM es prcticamente lineal. - Hacer una marca en un folio sobre la pantalla. Esta referencia debe estar entre dos anillos, y si se hace dos o tres anillos lejos del centro ser mas fcil contar los desplazamientos. - Girar el tornillo micromtrico en el sentido contrario a las agujas del reloj lentamente, y contar los anillos conforme van pasando por la marca de referencia hasta un total de m. Repetir este proceso para varios anillos y anotar la distancia (dm) recorrida por el espejo en cada caso (recordar que cada divisin del tornillo micromtrico es una micra).
Resultados: 1) Representar grficamente los resultados, distancia dm frente a nmero de anillos m.

2) Realizar un ajuste por mnimos cuadrados. La pendiente es la mitad de la longitud de onda de la fuente lser. Analizar y comentar los resultados.
II. Medida de ndice de refraccin

Para una luz de frecuencia dada, la longitud de onda vara segn la expresin: = 0 n (2)

siendo 0 la longitud de onda en el vaco, la longitud en el medio donde se est propagando la luz y n el ndice de refraccin de dicho medio. Si la presin es baja, el ndice de refraccin de un gas vara linealmente con la presin. Mediremos el ndice de refraccin del aire a varias presiones. El fundamento de estas medidas es que variar el ndice de refraccin en parte del camino ptico, equivale a variar la longitud de onda y por tanto produciremos un cambio en la fase relativa de los rayos, cambiando la posiciones de mximos y mnimos en el patrn de interferencia. Alinear el lser y el interfermetro como se describe anteriormente. Insertar la cmara de vaco en el orificio dispuesto en la base del interfermetro, en el camino de ES a EF. Rotarla de forma que est perpendicular al rayo (nos podemos ayudar observando los anillos interferenciales).

Interferencias por divisin de amplitud

Evacuar el aire de la cmara de vaco, de manera que en el interior, P 0 atm. Marcar un punto de referencia sobre la pantalla. Hacer entrar lentamente el aire en la cmara hasta un presin P1, y mientras ir contando el nmero de anillos que pasan por la referencia. Continuar aumentando la presin hasta sucesivos valores Pi y contando los mi anillos (de forma acumulativa). NUNCA se debe sobrepasar la presin atmosfrica.

Resultados: 3) Para cada Pi, calcular el ndice de refraccin segn

mi 0 + n0 (3) 2d siendo n0 el ndice de refraccin del vaco (n0 =1), y d la longitud de la cmara de vaco (d = 3.0 cm). ni = 4) Representar grficamente n frente a P. Realizar el ajuste de los datos. 5) Consultar en la bibliografa la dependencia del ndice de refraccin con la presin y comentar los resultados. NOTA: se ha fijado un punto (P0 , n0) = (0, 1), siendo n0 = 1 un valor terico y P0 = 0 mm Hg un valor experimental. Una causa de error sistemtico importante es el hecho de que no se alcance un vaco absoluto en la cmara. Si esto ocurre, comentar la posible influencia en los resultados. 6) Opcional: si se dispone de algn gas, repetir la experiencia para ste, y comparar la dependencia n-P obtenida en uno y otro caso.

III. Interferometra con una lmpara espectral.

Si la fuente de luz es una lmpara espectral, podemos medir la longitud de onda emitida tal como se hizo en el apartado I, pero con ligeras modificaciones. - Si la lmpara emite varias longitudes habr que colocar un filtro a la salida de la fuente.

8 Interferencias por divisin de amplitud - Los anillos interferenciales no se podrn ver sobre la pantalla, sino sobre el espejo semitransparente ES. - Se puede realizar el alineamiento con el lser, pero al sustituir ste habr que hacer algunos ajustes: Sobre el difusor a la salida de la lmpara se coloca una cruz de enfoque. Mirando a travs de ES hacia EF se vern dos imgenes de la cruz, y ajustando la rotacin de ES y EM la dos imgenes se vern muy prximas. Se debe ahora ajustar los tornillos de alineamiento de EF hasta que las dos imgenes se superpongan. Los anillos sern visibles mirando a EF a travs de ES.
Resultados

7) Realizar las medidas como se describe en el apartado I y determinar las longitudes de onda emitidas por la fuente, contrastndolas con datos de la bibliografa.