Digitally signed by

Biblioteca UTM
Reason: I attest to the
accuracy and integrity of
this document

UNIVERSITATEA TEHNIC A MOLDOVEI

Facultatea Calculatoare, Informatic i Microelectronic,
Catedra Microelectronic i Dispozitive cu Semiconductori

I. Samusi

ANALIZA
STRUCTURAL
metode difractometrice
i

microscopice
manual

Chiinu
Editura
TEHNICA UTM
2006

CZU 621.382 (075.8)

S 18
Ion Samusi Analiza structural, Chiinu: Editura
TEHNICA, 2006 -138p.
Prezentul manual este scris conform programei analitice a
cursului i cuprinde bazele cristalografiei structurale, metodele
difractometrice (roentgenografia, electronografia i neutronografia),
metodele microscopice (microscopia Roentgen, microscopia
electronic prin transmisie i cu baleiaj, microscopia tunel i de for
atomic) de analiz structural a substanelor mono- i policristaline,
straturilor de suprafa i a peliculelor.
Lucrarea poate fi de folos studenilor care studiaz Fizica
corpului solid, Cristalofizica, Cristalochimia, Tehnologia metalelor;
cercettorilor din laboratoare de analiz structural, masteranzilor,
doctoranzilor.
Recenzeni: Victor ontea, profesor universitar, doctor, ef-catedr
Microelectronic i Dispozitive cu Semiconductori,
U.T.M.;
Sergiu ova, confereniar, doctor, U.S.M.

Procesare computerizat: Igor Cojocaru

Coperta: Cristina Brodicico
Descrierea CIP a Camerei Naionale a Crii
Samusi, Ion
Analiza structural. Metode difractometrice i microscopice:
Man./Ion Samusi; Univ. Teh. A Moldovei. Fac. Calculatoare,
Inform. i Microelectronic. Catedra Microelectronic i
Dispozitive cu Semiconductori. Ch.: Editira TEHNICA UTM,
2006. 138p.
Bibliogr. p. 137-138 (41 tit.)
ISBN 978-9975-910-01-9
200 ex
CZU 621.382(075.8)

I. Samusi, 2006

ISBN 978-9975-910-01-9

CUPRINS
Prefa .................................................................................. 5
CAPITOLUL I ................................................................... 7
Bazele cristalografiei structurale ...................................... 7
1.1. Starea cristalin ........................................................ 7
1.2. Reele (grupuri) Bravais ........................................... 9
1.3. Simetria cristalelor ................................................... 12
1.3.1. Elemente de simetrie ................................................ 13
1.4. Clasificarea cristalelor.............................................. 20
1.4.1. Singoniile cristalelor (sisteme de cristalizare) ......... 20
1.4.2. Grupurile punctuale de simetrie ............................... 24
1.4.3. Grupurile spaiale de simetrie (grupurile Fiodorov) 27
1.5. Reprezentarea analitic a cristalelor ........................ 28
1.5.1. Indicii cristalografici ................................................ 28
1.5.2. Reeaua reciproc ..................................................... 32
1.5.3. Calculul distanelor i unghiurilor n cristale ........... 33
1.6. Reprezentarea grafic a cristalelor ........................... 35
1.6.1. Zona cristalografic. Legea zonelor ......................... 35
1.6.2. Proiecii cristalografice. Reeaua Wulf .................... 37
CAPITOLUL II .................................................................. 40
Bazele teoriei difraciei radiaiei Roentgen pe cristale ... 40
2.1. Componena spectral a radiaiei Roentgen.
Legea lui Moseley ................................................................ 40
2.2. Interaciunea radiaiei Roentgen cu substana ....... 43
2.3. Difracia radiaiei Roentgen pe cristale.
Ecuaia general de interferen a lui Laue....................... 46
2.4. Interpretarea grafic a ecuaiei generale de
interferen Laue ...................................................... 49
2.5. Interpretarea difraciei ca reflexie.
Formula Bragg-Wulf................................................ 50
2.6. mprtierea radiaiei Roentgen de un electron ....... 52
2.7. mprtierea razelor Roentgen de ctre atom.
Amplitudinea atomic .............................................. 53
3

2.8. Influena oscilaiilor termice a atomilor asupra

intensitii radiaiei Roentgen mprtiate de cristal.
Factorul de temperatur ........................................... 56
2.9. mprtierea radiaiei Roentgen de ctre o celul
elementar. Amplitudinea de structur .................... 57
2.10. Elemente de teorie cinematic a mprtierii
(difracie61i) radiaiei Roentgen pe cristale............. 61
CAPITOLUL III ................................................................ 65
Metode difractometrice de analiz structural ............... 65
3.1. Metodele roentgenografice de analiz structural ... 65
3.1.1. Metoda Laue ........................................................... 65
3.1.2. Metoda monocristalului rotitor (Metoda oscilaiei) . 73
3.1.3. Metoda Debye-Scherrer ......................................... 77
3.2. Metoda electronografic de analiz structural ...... 86
3.2.1. Bazele fizice ale metodei electronografice ............. 86
3.2.2. Particularitile principale ale metodei
86electronografice ................................................. 91
3.2.3. Obinerea i descifrarea electronogramelor ............ 95
3.3. Metoda neutronografic ......................................... 108
3.3.1. Bazele fizice ale metodei neutronografice ............. 108
3.3.2. Particularitile de baz de mprtiere a neutronilor
de ctre atomi ........................................................ 112
CAPITOLUL IV ................................................................ 117
Metode microscopice de analiz structural ................... 117
4.1. Microscopia Roentgen ............................................... 117
4.1.1. Metoda Lang .............................................................. 117
4.1.2. Metoda Borrmann ...................................................... 120
4.2. Microscopia electronic ............................................. 123
4.2.1. Bazele fizice ale microscopiei electronice ................. 123
4.2.2. Principiul de funcionare al microscopului electronic
de transmisie ............................................................. 125
4.2.3. Principiul de funcionare al microscopului electronic
cu baleiaj .................................................................... 127
4.3. Microscopia tunel cu baleiaj ...................................... 131
4.4. Microscopia de for atomic ..................................... 133
BIBLIOGRAFIE ............................................................... 117
4

PREFA
Microelectronica, radioelectronica, tehnica semiconductorilor, lazerii, obinerea cristalelor pentru generarea fasciculelor
puternice de radiaie coerent, obinerea i folosirea compuilor
noi cu proprieti de semiconductori, peliculelor monocristaline,
substanelor de o duritate pronunat, supraconductorilor,
substanelor dotate cu proprieti magnetice, optice i electrice
etc. reprezint cele mai cunoscute domenii de utilizare a
realizrilor fizicii corpului solid.
Una din problemele primordiale ale fizicii corpului solid
const n obinerea substanelor cu proprieti dirijate.
Rezolvarea acestor probleme se efectueaz prin studiul
complex al proprietilor, compoziiei i structurii corpului
solid. Metodele actuale difractometrice (roentgenografia, electronografia i neutronografia) i microscopice (microscopia
optic, Roentgen, electronic prin transmisie, cu baleiaj, microscopia tunel cu baleiaj i de for atomic) constituie cele mai
sigure mijloace de investigare a structurii corpurilor solide
(cristaline). Ele sunt utile i la studiul structurii substanelor
amorfe, sticloase, lichide i gazoase.
n afar de problemele ce in de determinarea structurii
atomice a substanelor, metodele sus-menionate sunt larg utilizate pentru identificarea substanelor, determinarea compoziiei
de faz, studierea fenomenelor de cristalizare, tensiunilor interne, defectelor de structur, determinarea dimensiunilor microcristalelor (cristalitelor), care constituie policristalul, orientarea
cristalelor masive, modificarea structurii n rezultatul prelucrrii
tehnologice i alte diverse probleme.
Aceasta implic pregtirea specialitilor de nalt calificare cu cunotine profunde n domeniul studiului i testrii materialelor.
Manualul este structurat n 4 capitole i sunt prezentate
noiunile de baz ale cristalografiei structurale (cap I), difraciei
5

radiaiilor Roentgen pe cristale (cap II), metodelor difractometrice de analiz structural (roentgenografia, electronografia,
neutronografia) (cap III) i metodele microscopice (microscopia Roentgen, microscopia electronic prin transmisie, electronic cu baleiaj, microscopia tunel cu baleiaj i de for atomic)
(cap IV).
Capitolele I, II (2.1. - 2.9.), III (3.1.) au fost traduse n limba
romn de ctre conf. univ., dr. Mihail Rusanovschi, cap.III (3.2.,
3.3.) i IV de ctre conf. univ., dr. Nicolae Burbulea.
Sunt deosebit recunosctor D-lui ef de catedr
Microelectronic i Dispozitive cu Semiconductori prof.
univ., dr. Victor ontea pentru sprijinul acordat pe tot parcursul
pregtirii manualului ctre editare, care a studiat manuscrisul i
a avut observri utile pentru mbuntirea lucrrii.
in s aduc sincere mulumiri D-lui confereniar, doctor
Sergiu ova, care a studiat manuscrisul i a prezentat avizul
asupra manualului.
Rmn recunosctor tuturor celor care mi vor comunica
prerile lor despre aceast lucrare.
Autorul