Anda di halaman 1dari 27

X-Ray Fluorescence Analysis (Analisa XRF)

Presented by : Kelompok 6 Estu Rahadian P 0800020 Ani Mulyaningsih 0800230 Ranika Adytia Putri 0800406 Fiska Noor Adityani 0800545 Elfrida S 0800 Ersan Yudhapratama 0801357 Syamsul Rizal M 0807633

Analisis X-ray Fluoresensi


Pendahuluan
Prinsip Kerja Skema Cara Kerja Alat Preparasi Sampel Instrumen XRF Contoh spektra

Radiasi Elektromagnetik
1014Hz - 1015Hz 1Hz - 1kHz Extra-Low Frequency (ELF) Radio 1kHz - 1014Hz Microwave Infrared 1015Hz - 1021Hz X-Rays, Gamma Rays Visible Light

Low energy

High energy

Pendahuluan
Teknik fluoresensi sinar x (XRF) merupakan suatu teknik analisis yang dapat menganalisa unsur-unsur yang membangun suatu material, dengan dasar interaksi sinar-X dengan materi analit. Teknik ini juga dapat digunakan untuk menentukan konsentrasi unsur berdasarkan pada panjang gelombang dan jumlah sinar x yang dipancarkan kembali setelah suatu material ditembaki sinar X.

Fitur XRF
Kelebihan
Akurasi yang relative tinggi Dapat menentukan unsur dalam material tanpa adanya standar (bandingkan dg. AAS) Dapat menentukan kandungan mineral dalam bahan biologis maupun dalam tubuh secara langsung.

Kelemahan

tidak dapat mengetahui senyawa apa yang dibentuk oleh unsur-unsur yang terkandung dalam material yang akan kita teliti. tidak dapat menentukan struktur dari atom yang membentuk material itu.

Prinsip Kerja
Radiasi elektromagnetik yang dipancarkan akan berinteraksi dengan elektron yang berada di kulit K suatu unsur. Elektron yang berada di kulit K akan memiliki energi kinetik yang cukup untuk melepaskan diri dari ikatan inti, sehingga elektron itu akan terpental keluar.

Menembakkan radiasi foton elektromagnetik ke material yang diteliti.

Peristiwa pada tabung sinar-X.

Prinsip Kerja XRF


Pada teknik XRF, dienggunakan sinar-X dari tabung pembangkit sinar-X untuk mengeluarkan electron dari kulit bagian dalam untuk menghasilkan sinar-X baru dari sample yang di analisis.

Prinsip Kerja XRF


Untuk setiap atom di dalam sample,

intensitas tersebut

dari

sinar-X

karakteristik jumlah

sebanding

dengan

(konsentrasi) atom di dalam sample.


Intensitas

sinarX

karakteristik

dari

setiap unsur, dibandingkan dengan suatu

standar yang diketahui konsentrasinya,


sehingga konsentrasi unsur dalam sample bisa ditentukan.

Skema Cara Kerja Alat

Instrumen XRF
Instrumen XRF terdiri dari : Sumber cahaya Optik Detektor

Syarat Sampel
Serbuk Ukuran serbuk < 4 00 mesh Padatan Permukaan yang dilapisi akan meminimalisir efek penghamburan Sampel harus datar untuk menghasilkan analisis kuantitatif yang optimal Cairan Sampel harus segar ketika dianalisis dan analisis dilakukan secara cepat jika sampel mudah menguap Sampel tidak boleh mengandung endapan

Sumber Cahaya
Tabung Sinar X End Window Side Window Radioisotop

Tabung sinar x
End Window

Side Window
Be W indow Glass En v elope
Target (Ti, Ag, Rh, etc.)

H V Lead

Electron beam

Copper Anode Filament

Silicone Insulation

Radioisotop
Isotope Fe-5 5 Cm-244 Cd-109 Am-241 Co-57 Energy (keV) 5.9 14.3, 18.3 22, 88 59.5 122

Elements (Klines)

Al V

Ti-Br

Fe-Mo

Ru-Er

Ba - U

Elements (Llines)

Br-I

I- Pb

Yb-Pu

None

none

Optik

Source

Detector

Filter

Source Filter
Detector

X-Ray Source

Contoh Spektra

Contoh Spektra

Detektor
Si(L i) P N Diode Silicon Drift Detectors Proportional Counters

Scintillation Detectors

Si ( Li) Detektor
WIndow
FET Super-Cooled Cryostat

Si(Li) crystal

Pre-Amplifier

Dewar filled with LN 2

Cooling: LN2 or Peltier Window: Beryllium or Polymer Counts Rates: 3,000 50,000 cps Resolution: 120-170 eV at Mn K-alpha

PIN Diode

Cooling: Thermoelectrically cooled (Peltier) Window: Beryllium Count Rates: 3,000 20,000 cps Resolution: 170-240 eV at Mn k-alpha

Silicon Drift Detector

Packaging: Similar to PIN Detector Cooling: Peltier Count Rates; 10,000 300,000 cps Resolution: 140-180 eV at Mn K-alpha

Proportional Counter
Window
Anode Filament

Fill Gases: Neon, Argon, Xenon, Krypton Pressure: 0.5- 2 ATM Windows: Be or Polymer Sealed or Gas Flow Versions Count Rates EDX: 10,000-40,000 cps WDX: 1,000,000+ Resolution: 500-1000+ eV

Scintillation Detector
PMT (Photo-multiplier tube) Sodium Iodide Disk Electronics

Window: Be or Al Count Rates: 10,000 to 1,000,000+ cps Resolution: >1000 eV

Connector