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DIFRACCIN DE RAYOS X (DRX)

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DIFRACCIN DE RAYOS X
La difraccin de rayos X es una de las herramientas ms utilizadas para el estudio de la estructura atmica de la materia. Tambin son muy usadas la difraccin de electrones y de neutrones. Los Rayos X son radiaciones electromagnticas penetrantes cuya longitud de onda va desde un rango de 0,5 a 2,5 A. Cuanto menor es la longitud de onda de los Rayos X, mayores son su energa y poder de penetracin.

DIFRACCIN DE RAYOS X
Los rayos de mayor longitud de onda, se conocen como Rayos X blandos. Los de menor longitud de onda, se denominan Rayos X duros Los Rayos X formados por una mezcla de muchas longitudes de onda diferentes se conocen como Rayos X blancos. La teora de la difraccin, es decir, la relacin entre el diagrama de difraccin y la distribucin espacial de los tomos, es la misma para los tres tipos de radiacin.

COMO SE PRODUCEN
Electrones impactan blanco Los tomos del blanco sufren En el procesos proceso de de acelerados sobre un

excitacin
relajacin emiten fotones

X
La mayor parte de la energa se transforma en calor

COMO SE PRODUCEN
La desaceleracin de los electrones, al llegar al blanco, genera fotones X de diferentes longitudes de ondas (radiacin

blanca)
Una pequea parte de los electrones provoca el fenmeno de caractersticas anterior, rayos-X dando lugar a las lneas

QUE ES LA DIFRACCIN?
Las ondas se componen sumando en cada punto sus amplitudes en funcin de la direccin aparecen zonas de mxima intensidad (ondas en fase) y zonas de intensidad nula (ondas desfasadas)

LEY DE BRAGG
m=orden de difraccin 1,2,3, Diferencia de camino ptico: 2x=ML + LN=2ML=2LN Se producen interferencias constructivas si se cumple: 2x=m sen =x/d x=d*sen = 2dhkl*sen Ley de Bragg : m = 2 d sen

USO GENERAL
La difraccin de rayos X es una tcnica verstil, no-destructiva y analtica para la determinacin de: Fases Estructura Textura Tensiones Que pudieran estar presentes en materiales: slidos, polvos, y lquidos

EJEMPLOS DE APLICACIONES
Determinacin de la estructura de los materiales Determinacin de los cambios de fases en las estructuras. Determinacin de esfuerzos residuales. Determinacin de la posicin de los aceros en elementos estructurales de hormign armado. Determinar espesores de recubrimiento de aceros de refuerzo. Determinacin de zonas afectadas en barras de acero. En la microestructura de las partculas. Deteccin de poros en las obras pretensadas. La microradiografa. Dos radiografas pueden combinarse en un proyector para producir una imagen tridimensional llamada estereoradiograma. La radiografa en color tambin se emplea para mejorar el detalle. La microsonda de electrones, que utiliza un haz de electrones muy para generar rayos X sobre una muestra en una superficie de slo una micra cuadrada, proporciona una informacin muy detallada.

MUESTRAS
Forma: Las muestras pueden ser slidos, polvos, pastillas prensadas, lentes, discos fundidos o lquidos Tamao: muestras tpicas son de 32 mm (1 14 pulgadas) de dimetro, o se colocan en tazas especiales, soportes y soportes Profundidad de muestreo puede variar desde unos pocos micrmetros hasta un milmetro o ms, dependiendo de la energa de rayos X utilizado y composicin de la matriz de la muestra Preparacin de la muestra puede implicar ninguna, pulido para obtener una superficie plana, molienda y granulacin, o fusin en un flujo

VENTAJAS
Aplicable a muestras diferentes, incluyendo slidos Relativamente rpida y fcil de aprender Resultados semicuantitativos se pueden obtener de muchas muestras sin uso de normas; mayora de las normas se pueden mantener durante largos periodos de tiempo, porque la mayora de las aplicaciones son para slidos La instrumentacin es relativamente barato

LIMITACIONES
Los lmites de deteccin para las determinaciones de masa son normalmente unas pocas ppm a unas pocas decenas de ppm, dependiendo de la energa de rayos X usada y la composicin de la muestra matriz Para las muestras de capa fina, los lmites de deteccin son aproximadamente 100 ng/cm2 No es adecuado para elementos de nmero atmico menos de 11 a menos equipo especial est disponible, en cuyo caso los elementos hasta el nmero atmico 6 se puede determinar

TIEMPO ESTIMADO DEL ANLISIS


30 s a 5 min en la mayora de los casos; miles de muestras puede ser manejado en unos pocos das

MTODOS DE DIFRACCIN DE RAYOS X


Mtodo Laue Radiacin Policromtica Muestra Monocristal Detector Pelcula Fotogrfica Pelcula Fotogrfica Pelcula Fotogrfica Informacin Suministrada Simetra Cristalina

Giratoria u Oscilante Weissemberg

Monocromtica

Monocristal

Parmetros Cristalinos

Monocromtica

Monocristal

Simetra Cristalina (grupo especial) Parmetros Cristalinos Intensidades Difractadas (estructuras cristalinas) identificacin Simetra Cristalina (grupo especial) Parmetros Cristalinos Intensidades Difractadas (estructuras cristalinas) Identificacin Simetra Cristalina (grupo especial) Parmetros Cristalinos Intensidades Difractadas (estructuras cristalinas) identificacin Parmetros Cristalinos Identificacin Parmetros Cristalinos Intensidades Difractadas (anlisis cuantitativo de las fases cristalinas) Identificacin

Precesin

Monocromtica

Monocristal

Pelcula Fotogrfica

Difractometro de Monocristal

Monocromtica

Monocristal

Contador Electrnico

DebyeScherrer Difractometro de Polvo

Monocromtica

Polvo Cristalino Polvo Cristalino

Pelcula Fotogrfica Contador Electrnico

Monocromtica

MTODOS DE DIFRACCIN DE RAYOS X

BIBLIOGRAFIA
ASM Metals Handbook Volume 10, Materials Characterization, manuals, etc. I. Title: American Society for Metals. Handbook Committee.