Universidad Nacional Autnoma de Mxico Facultad de Qumica

Laboratorio de fundamentos de espectroscopia

Practica 5
Interferencia de Young.

Nombre alumna: Wilson Bello Nadia

Nombre prof: Guillermo Santana

Objetivos Estudio de los fenmenos de interferencia y difraccin en rendijas de un lser de luz monocromtica. Introduccin. Se denomina interferencia de la luz al hecho de que al superponerse dos o ms ondas luminosas en un punto, bajo ciertas condiciones, la iluminacin en ese punto no es igual a la suma de las iluminaciones que tendra si cada una de ellas llegara en ausencia de la otra o las restantes. Cuando se produce la interferencia, en esa regin la iluminacin no es uniforme, aparece una sucesin de zonas claras y oscuras llamadas patrn de interferencia o cuadro interferencial.

Experimento de Young. Si se hace pasar radiacin electromagntica a travs de dos rendijas, se puede lograr, dependiendo de la separacin entre ellas, patrones de interferencia. En el caso de interferencia ptica es necesario colocar las aperturas a unas cuantas micras unas de otras para observar el fenmeno de interferencia. En el caso de ondas de radiofrecuencia, como las que produce el generador, la separacin es de centmetros. En el patrn de interferencia en el experimento de Young, los mximos de intensidad se localizan en ngulos que satisfagan la condicin: d sin() n

Mtodo Como se sabe a partir de la experiencia de Young, la luz procedente de dos fuentes puntuales coherentes interfiere en el espacio, producindose, si tienen la misma fase en las fuentes, mximos en los puntos cuya diferencia de caminos a las dos fuentes es un nmero entero de longitudes de onda (diferencia de fases 2pm) y mnimos en aquellos en que los rayos llegan con fases opuestas (diferencias de fase, (2m+1)p). En el caso de las rendijas de Young la diferencia de caminos entre los rayos 1 y 2 en una pantalla, situada a una distancia D de las rendijas, viene dada por D=dsenJ siendo d la distancia entre las dos fuentes, como se muestra en la figura 1.

Material Laser de He Ne Elevador

Flexometro

Resultados Distancia (D) =1.80 =1800000 micras Calcular x = diferencia entre mximos consecutivos

Mximos 13 7 29

mnimos 3 3.1 6.4

X 0.23 0.442 0.22

A 500 micras- distancia rejilla Longitud de onda 0.23 0.442 0.22 Promedio Valor terico = 0.63 Porcentaje de error = 2.1 % Anlisis de resultados. Durante el experimento pudimos conocer y comparar la longitud de onda ,calculando la separacin entre las rendijas y la distancia entre las pantallas , determinando primeramente la diferencia entre mximos consecutivos. Evidenciamos la naturaleza ondulatoria de la luz debido a las propiedades de interferencia y difraccin en rendijas de anchura milimtrica y sustentan la descripcin de la luz como onda electromagntica. Conclusin En este experimento hace evidente la naturaleza ondulatoria de la luz debido a las propiedades de interferencia y difraccin en rendijas de anchura milimtrica y sustentan la descripcin de la luz como onda electromagntica. Se observo el patrn de interferencia caracterstico del dispositivo de Young y las condiciones necesarias como que la sondas a inferir deben ser coherentes en espacio y tiempo. Determinamos la dependencia funcional entre la longitud de onda, la separacin entre las rendijas y la distancia entre las pantallas (la que contiene la doble rendija y en la que se visualiza el patrn). 0.63 0.613 0.61 0.617

Bibliografa.
M. Alonso, E.J. Finn. Fsica, vol III: Fundamentos cunticos y estadsticos. Ed. Addison Wesley- Longman, 1999. Young Hugh,Freedman . Fsica Universitaria Moderna.12 edicin , ed. Pearson, 2004