GUA DE LABORATORIO PTICA FSICA

Universidad Nacional del Comahue - Fsica IV 1er cuatrimestre 2012 Objetivo Esta prctica de laboratorio consta de 3 partes, con sus respectivos objetivos: Determinacin del dimetro de un alambre y el ancho de una ranura Determinacin de la longitud de onda de un lser Determinacin de ancho, separacin y cantidad de ranuras en una abertura A. Dimetro de un alambre y ancho de una ranura. Cuando se hace pasar un haz de luz coherente de longitud de onda l por una abertura de ancho a, la intensidad de la luz en funcin del ngulo de observacin q est dada por

= .
Donde = , siendo =

(1)

el nmero de ondas. Si se ubica una pantalla a una distancia

, entonces se puede aproximar donde y es la coordenada sobre la pantalla (ver figura 1). Utilizando la expresin 1 se obtiene que los mnimos de esta funcin estn en las siguientes posiciones sobre la pantalla: = midiendo entonces las posiciones ymin, la distancia D y conocida la longitud de onda del lser , se determinar el valor de a, para una ranura y para un alambre. Buscar en alguna bibliografa el principio de Babinet, que muestra que es vlido aplicar la ecuacin 1, que fue deducida para la difraccin por una ranura, al caso de la difraccin por un alambre.

Fig. 1: Notacin utilizada para describir la difraccin por una ranura.

B. Separacin, ancho y cantidad de ranuras En esta parte de la experiencia, en vez de utilizar una pantalla para medir posiciones de los mnimos sobre ella, o un gonimetro para medir las direcciones de los mximos de interferencia, se utilizar un sistema de adquisicin (Science Workshop de Pasco, SW, ver figura 2) conectado a una PC.

Fig. 2: Sistema de adquisicin que se utilizar. La interfase SW 500, el sensor de luz, un codificador rotacional, una cremallera para transformar movimientos rotacionales en lecturas de desplazamientos lineales. Finalmente, el sistema completo de detecctin montado.

Se montar el dispositivo que se muestra en la figura 3. El lser atraviesa una abertura que consiste en N rendijas de ancho a equiespaciadas una distancia d entre ellas. El patrn de intensidad que se observa a una cierta distancia D se registra mediante la luz que llega al fotodiodo (sensor de luz). Se detectan simultneamente la intensidad y la posicin de modo de

tener un registro completo del patrn de interferencia interferencia-difraccin. difraccin. En el laboratorio se explicarn explicar los detalles del software de adquisicin de datos del sistema SW. La expresin terica para la intensidad registrada de acuer acuerdo do con la configuracin de la figura fi 3 es

= .

(2)

donde es como antes (Ec. 1) y = . Igual que en la parte A, es posible aproximar para ara obtener una expresin para I(y). A partir de la comparacin entre el registro de la intensidad en la PC y la expresin terica (2), se puede obtener el nmero de ranuras, el espaciado entre ellas y el ancho de cada una.

Fig. 3: Esquema del montaje ontaje utilizado para medir la fi figura de interferencia-difraccin difraccin producida por varias ranuras.

C. . Longitudes de onda de una lmpara de mercurio Haciendo uso de una red de difraccin (de la que se conoce la cantidad de lneas por unidad de longitud) y un gonimetro, se determinarn las longitudes de onda visibles de una lmpara de mercurio. Al hacer incidir un haz de luz blanca sobre una red de dif difraccin, raccin, la luz se dispersa observndose longitudes caracterstic caractersticas s de la fuente, en direcciones determinadas por los mximos principales de interferencia dados por la siguiente expresin: = ; donde d es la separacin entre l lneas neas de la red. Por lo tanto, al medir las posiciones angulares de los distintos rdenes (distintos valores de n) se determinarn las longitudes de onda del espectro visible emitidas por la lmpara.