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TEMA 18
LOS CRISTALES, LOS MINERALES Y LOS RAYOS X
Aplicaciones de la difraccin de rayos X en Cristalografa y en
Mineraloga


NDICE
18.1 La naturaleza de los rayos X
18.2 Produccin de los rayos X. Tubo de rayos X
18.3 Espectro continuo y caracterstico
18.4 Teora de la difraccin de rayos X
18.5 Ecuaciones de Laue
18.6 Ley de Bragg
18.7 Esfera de Ewald
18.8 Intensidad de los rayos X. Factor de difusin atmica.
Factor de estructura
18.9 Simetra de los efectos de difraccin. Clases de Laue
18.10 Mtodos de difraccin de rayos X
18.11 Aplicaciones de la difraccin de rayos X en cristales y
minerales
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18.1 NATURALEZA DE LOS RAYOS X
Los rayos X forman parte del espectro electromagntico.
Ocupan el intervalo de frecuencias o longitudes de onda comprendido entre los
rayos ultravioleta y los rayos g.
Se pueden clasificar en duros y blandos en funcin de la mayor o menor capacidad
de la radiacin para penetrar en la materia.
La unidad empleada para los rayos X es el .
El intervalo de longitudes de onda utilizado en difraccin de rayos X es entre 0.5 y
2.5 .
Incluye la radiacin ms caracterstica del espectro de rayos X, K

del Cu con =
1.5418 .
Los Rayos X fueron descubiertos por Rntgen en 1895.
Tienen la propiedad de atravesar a los cuerpos opacos.
En los primeros trabajos de investigacin se puso de manifiesto la similitud entre
los rayos X y la luz:
Ambas radiaciones se propagan en lnea recta.
Impresionan las placas fotogrficas.
Excitan la fluorescencia y fosforescencia de ciertas sustancias.
No experimentan alteracin bajo la accin de los campos elctricos o magnticos.
Presentan efectos de polarizacin.
Las velocidades de propagacin de la luz y los rayos X son idnticas.


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18.2 PPRODUCCIN DE LOS RAYOS X. TUBO DE RAYOS X

Los rayos X se originan siempre que los electrones con suficiente energa
cintica chocan con la materia.
El tubo de rayos X es el instrumento empleado para producir rayos X. Entre el
ctodo y el nodo se aplica una diferencia de potencial grande con el objeto de acelerar
a los electrones producidos por el filamento (puesto incandescente) y que choquen
contra el nodo. Se emiten rayos X en todas las direcciones, pero salen al exterior a
travs de una o ms ventanas.
En la Figura 18.1 puede observarse un tubo antiguo de rayos X.


Figura 18.1.- Tubo antiguo de rayos X

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18.3 ESPECTRO DE RADIACIONES EMITIDO POR EL TUBO DE
RAYOS X
Consta de dos espectros:
Espectro continuo
Aparece por debajo de un determinado valor de la tensin aplicada al tubo de rayos X
Al aumentar la tensin aumenta la intensidad del espectro continuo y todo el espectro se
desplaza hacia longitudes de onda ms cortas.
Parece que se produce por efecto de las interacciones electrostticas del electrn en las
proximidades de los ncleos de los tomos del nodo.
Espectro caracterstico
Mximos de intensidad superpuestos al espectro continuo. Se presentan siempre a
valores fijos y determinados de la longitud de onda, para un material del nodo dado.
Aparecen formando series espectrales.
Las series espectrales se designan por las letras K, L, M, N, ......
Las longitudes de onda de las lneas de cada serie disminuyen en el sentido M, L, K, .....
Se produce por la transicin electrnica (Figura 18.2) de los electrones de orbitales ms
externos a los ms internos al quedar vacantes por su expulsin al chocar contra el
nodo.

Figura 18.2.- Esquema mostrando la emisin de rayos X
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18.4 TEORA DE LA DIFRACCIN DE RAYOS X
Laue (Cuadro 18.1) sugiri que la estructura peridica de un cristal poda usarse
para difractar los rayos X.

Max von LAUE (1879 - 1960), fsico alemn (Premio Nobel de Fsica
en 1914), formul una teora de la difraccin de los rayos X en los
cristales. En 1912 Laue y sus colaboradores demostraron que estos
rayos extremadamente penetrantes, descubiertos por Roentgen, eran
radiacin electromagntica de longitud de onda muy corta, es decir, de
frecuencia elevada
Cuadro 18.1
Esta proposicin se basaba en tres hiptesis:
1. Los cristales son peridicos.
2. Los rayos X son ondas.
3. La longitud de los rayos X es del mismo orden de magnitud (1 a 3 ) que la
distancia que se repiten los motivos (iones, tomos, molculas o conjuntos de ellos)
en los cristales.
La difraccin de los rayos X es un caso particular de la dispersin coherente de
la radiacin.
Cuando los rayos X interaccionan con la materia parte es absorbida,
producindose una disminucin de la intensidad a medida que atraviesa ms espesor de
material (Figura 18.3).
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Figura 18.3.- Esquema mostrando la interaccin de los rayos X con la materia
Dicha absorcin se debe a los fenmenos de interaccin que se originan y dan
lugar a dos tipos generales de radiacin:
1. Radiacin de fluorescencia Dicha radiacin tiene longitudes de onda variables
f
y
su emisin va acompaada siempre de la liberacin de electrones.
2. Radiacin dispersa
1. Radiacin dispersa coherente Est constituida por aquella fraccin de la
radiacin primaria que el material remite sin variar su longitud de onda.
2. Radiacin dispersa incoherente o dispersin de Compton Se caracteriza porque
la longitud de onda es ligeramente superior a la de la radiacin primaria.
La difraccin de los rayos X consiste bsicamente en un proceso de
interferencias constructivas de ondas de rayos X que se produce en determinadas
direcciones del espacio.
Dichas ondas tienen que estar en fase, es decir, sus amplitudes tienen la misma
magnitud y el mismo sentido.
Sucede cuando la diferencia de trayectoria entre ellas es cero o un mltiplo
entero de longitudes de onda, x = n (n = 0, 1, 2, ...).

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Figura 18.4.- Esquema mostrando interferencia constructiva de ondas

Una interferencia destructiva se produce cuando las ondas que interfieren tienen
diferencias de camino x = /2, 3/2, 5/2, .....
Entre los dos tipos de interferencias (constructivas y destructivas) pueden darse
otros tipos de interferencia parciales.

Figura 18.5.- Esquema mostrando interferencia destructiva de ondas

La interferencia destructiva tiene importancia porque la intensidad de las ondas
difractadas por esos planos es nula, por lo tanto las reflexiones no aparecen y significa
que los factores de estructuraF(hkl) para esos planos es nulo.
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A este proceso se le denomina extincin o ausencia sistemtica y es importante
porque a partir de ellas se obtiene informacin sobre el grupo espacial del cristal.
La intensidad de la onda es proporcional al cuadrado de su amplitud.

La difraccin de los rayos X se produce cuando existe interferencia entre las
ondas de los rayos X.
Para ello es necesario que:
1. El objeto sobre el que incide los rayos X sea peridico y el cristal lo es.
2. Las distancias entre los tomos del cristal sean del mismo orden de magnitud que la
longitud de onda de los rayos X, parecido a lo que sucede con una rejilla de
difraccin y la luz visible (Figura 18.6).

Figura 18.6.- Esquema mostrando la difraccin de la luz por una rejilla de difraccin
Cuando se hace pasar luz a travs de una rejilla de difraccin el rayo central es
difractado en una banda central (orden cero) en la pantalla del detector, flanqueado por
varios bandas de difraccin de orden superior (1, 2, y 3) o mximos. Las bandas de
difraccin formadas por mximos de orden ms alto identifican los ngulos de
difraccin en los cuales los frentes de onda con la misma fase se refuerzan como reas
brillantes debido a la interferencia constructiva (ver Figura 18.7).
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Figura 18.7.- Esquema mostrando la difraccin de la luz roja por una rejilla de
difraccin, con el diagrama de difraccin y la distribucin de intensidad, con los
mximos a valores enteros de longitud de onda y con intensidad cero cuando la
interferencia es destructiva a valores de longitudes de onda que no son mltiplos.
En las regiones entre las bandas de difraccin, los frentes de onda estn fuera de fase y
la intensidad resultante es nula debido a la interferencia destructiva. El ngulo de
difraccin, , es el determinado por el ngulo subtendido por las bandas de rdenes 0 y
1 sobre el detector con relacin a la rejilla de difraccin. Un tringulo rectngulo
conteniendo el ngulo de difraccin en la pantalla del detector es congruente con otro
tringulo en la rejilla definido por la longitud de onda de la luz () y el espaciado entre
las lneas (d) en la rejilla segn la ecuacin 1:
sen =/d
ecuacin 1
conocida como ley de Fraunhofer
Cuadro 18.2

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18.5 ECUACIONES DE LAUE
La difraccin de los rayos X ocurre slo en ciertas direcciones, a determinados
ngulos, que estn en funcin de:
la distancia que se repite de la estructura peridica
la longitud de onda de la radiacin
En un cristal se pueden considerar filas de tomos separados peridicamente
segn las traslaciones a, b y c.
Consideramos primero la difraccin de una fila de tomos cuyo periodo de
traslacin es el vector a (Figura 18.8).

Figura 18.8.- Esquema mostrando la difraccin de los rayos X por una fila monoatmica
con espaciado interatmico a.

La direccin del haz de rayos X incidente viene dada por el vector unitario S
0

La direccin del haz de rayos X difractado por la fila de tomos viene dada por el
vector unitario S.
Para que los tomos de la fila reticular difracten los rayos X tiene que cumplirse la
siguiente condicin:
o La diferencia de trayectoria entre el haz incidente y el haz difractado debe ser
igual a un nmero entero de longitudes de onda.
Dicha condicin puede expresarse de la siguiente manera:
a.S - a.S
0
=a.(S -S
0
) =n
a.S =acos =AD
a.S
0
=acos
0
=BC
Ecuacin 2
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donde:
n (0, 1, 2, 3, ...) es el orden de difraccin:
n =0 difraccin de orden 0
n =1 difraccin de orden 1
n =2 difraccin de orden 2
As, tambin se puede escribir:
acos - acos
0
=n a(cos - cos
0
) =n
cos =cos
0
+n /a

Ecuacin 3

En esta expresin, si el ngulo
0
permanece fijo el haz difractado puede
discurrir por cualquier direccin del espacio que forme un ngulo de difraccin
compatible con los distintos valores de n.
Puesto que el cristal es tridimensional significa que el fenmeno de la difraccin
tambin lo es y por lo tanto hay que considerar otras dos ecuaciones ms, las
asociadas con las filas reticulares de periodos b y c

ECUACIONES DE LAUE
a.S - a.S
0
= a.(S -S
0
) = Hl
o
a(cos - cos
0
) = Hl
b.S - b.S
0
= b.(S -S
0
) = Kl b(cos - cos
0
) = Kl
c.S - c.S
0
= c.(S -S
0
) = Ll c(cos - cos
0
) = Ll
Ecuacin 4

La idea geomtrica es que los haces difractados siguen direcciones cuyo
conjunto configura una superficie que es un cono.
Cada cono de rayos difractados corresponde a una solucin de la ecuacin de
Laue que satisfaga los valores de y n.
En una red monodimensional los conos se disponen como los de la Figura 18.9.
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Figura 18.9.- Conos de difraccin en una red monodimensional

En una red bidimensional la interseccin de conos define las dos posibles
direcciones de difraccin, Oy y Ox (Figura 18.10).

Figura 18.10.- Conos de difraccin en una red bidimensional
La condicin de difraccin en una red tridimensional exige que las tres
ecuaciones de Laue se satisfagan simultneamente. En este caso slo hay una direccin
de difraccin, que es la comn a los tres conos (Figura 18.11).

Figura 18.11.- Conos de difraccin en una red tridimensional
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18.6 LEY DE BRAGG Y REFLEXIN DE LOS RAYOS X
La difraccin de los rayos X puede tratarse tambin teniendo en cuenta el
fenmeno de la reflexin.
Este tratamiento es ms interesante porque es el que permite utilizar la ley de
Bragg en el difractmetro de polvo, por ejemplo.
En 1914 los hermanos Bragg mostraron que los rayos X difractados por los
cristales podan ser tratados como "reflexiones" desde planos atmicos de la estructura
cristalina, dependiendo del ngulo de difraccin para una longitud de onda dada.
La verificacin de las leyes de la reflexin:
1. ngulo de incidencia igual a ngulo de reflexin
2. ngulo de incidencia, ngulo de reflexin, rayo incidente, rayo reflejado y
perpendicular a la superficie de separacin de dos medios se encuentran en el
mismo plano.
Imponen la condicin para que las ondas dispersas en todos los nudos de un
mismo plano reticular (hkl) tal como el (h
1
k
1
l
1
) estn en fase unas con otras. Pero en
general, las ondas dispersas por los sucesivos planos paralelos no estarn en fase entre
s, excepto en el caso de que sus diferencias de camino sean mltiplos enteros de la
longitud de onda.
Para su demostracin vamos a considerar los planos p1 con ndices de Miller
(h
1
k
1
l
1
) y p2 con ndices de Miller (h
2
k
2
l
2
), pertenecientes a la familia de planos de la
Figura 18.12.

Figura 18.12.- Esquema mostrando la dispersin de los rayos X a travs de los nudos de
una familia de planos paralelos.
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Para el resto de los planos se llega al mismo resultado, es decir, que las
diferencias de camino entre las ondas difractadas por planos adyacentes son idnticas.
De este modo todo el conjunto de la familia de planos (hkl) coopera colectivamente a la
produccin de un frente comn de rayos difractados. sto es equivalente a la reflexin
de los rayos incidentes en cada plano de la serie.
Cualquier solucin de la ley de Bragg constituye una reflexin, sean cuales sean los
ndices de la misma.
Generalmente la ley de Bragg se expresa como:
( )
Bragg de Ley =
= = =
= =
=
=

n sen d
n sen
sen
d
sen
d
AB AC
sen
d
AC AB
sen
d
AC
n AB AC
hkl
hkl hkl
hkl
hkl
2
2 2 cos 1
2 cos 2 cos
2


Ecuacin 5

donde no aparece n, que es el orden de la difraccin. El no poner la n significa que
suponemos que entre los planos reticulares verdaderos (hkl) se han intercalado planos
ficticios de ndices nh, nk, nl, de forma tal que las diferencias de camino entre las ondas
reflejadas por cada dos planos adyacentes de la serie de planos (hkl) es siempre de 1.


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18.7 ESFERA DE EWALD O DE REFLEXIN
La expresin de Bragg puede ponerse en la forma:
sen

=
1
2
d
hkl

Ecuacin 6

La solucin geomtrica de esta expresin es la de cualquier tringulo rectngulo,
tal como el EOP de la Figura 18.13, que est inscrito en una esfera de dimetro 2/.
Dicho dimetro coincide con la direccin de los rayos X incidentes S
0
.

Figura 18.13.- Esfera de Ewald o de reflexin

Dicha esfera recibe el nombre de esfera de reflexin o esfera de Ewald.
La Figura se interpreta de la siguiente manera:
Consideramos un cristal situado en el centro C de la esfera.
Sobre dicho cristal incide radiacin X indicada por el vector S
0
.
El cateto OP tiene una magnitud de 1/d
hkl
y representar al vector recproco r
hkl
*
.
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Por ello, la red recproca del cristal estar imaginariamente construida con origen
en O, punto en el que el haz de rayos X incidente abandona la esfera de reflexin.
sto significa que por C pasar un plano (hkl) perpendicular al vector recproco r
hkl
*

y paralelo al cateto EP, formando un ngulo q con S
0
.
El rayo difractado S tendr que tener la direccin del radio CP, dibujado hasta el
extremo P del vector r
hkl
*

En este caso el haz incidente S
0
y el difractado S forman el ngulo 2,
verificndose la condicin de difraccin de Bragg.

Estas consideraciones permiten establecer que slamente se producir un
mximo de difraccin cuando el vector de dispersin OP =(S - S0) sea igual en
magnitud y direccin al vector recproco r
hkl
*
.
Esto tambin puede decirse de la siguiente manera:
Para que un plano (hkl) cualquiera difracte los rayos X, su orientacin
debe ser tal que su punto recproco representativo est situado en la
superficie de la esfera de reflexin o esfera de Ewald. Slo en esta
circunstancia se produce un rayo difractado que pasa por el punto
recproco.
Las nicas soluciones posibles de la ecuacin (6) son aquellas en las que se
cumple que
sen 1

Ecuacin 7

es decir,
1 2
d
hkl

Ecuacin 8

Esto quiere decir que la longitud o mdulo de cualquier vector recproco
r
d
hkl
hkl
*
=
1
no puede superar la longitud del dimetro de la esfera de reflexin 2/.
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As, los nudos de la red recproca contenidos en una esfera de radio 2/ con su
centro en el origen de la red recproca son los correspondientes a los planos cristalinos
que pueden dar lugar a la difraccin. Dicha esfera se llama esfera lmite (Figura 18.14).
Solamente los planos cuyos nudos recprocos queden en la superficie de la esfera de
Ewald difractarn los rayos X.


Figura 18.14.- Esfera lmite


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18.8 INTENSIDAD DE LOS RAYOS X. FACTOR DE DIFUSIN
ATMICO. FACTOR DE ESTRUCTURA

INTENSIDAD DE LA RADIACIN DISPERSA COHERENTE POR UN
ELECTRN LIBRE
Se tiene en cuenta la teora de Thomson (1903) y se considera la interaccin de
radiacin X polarizada en el plano con un electrn libre.
El campo elctrico ejerce una fuerza sobre el electrn y lo har oscilar alrededor
de su posicin de equilibrio, con una frecuencia igual a la de la onda que recibe.
El electrn se comporta como un oscilador y, por lo tanto, es un emisor de
energa radiante, pues oscila en fase con el vector elctrico de la radiacin X.
Acta a modo de emisor secundario de una pequea fraccin de la radiacin que
recibe y la dispersa coherentemente.
La intensidad de la radiacin dispersa, calculada a una distancia R del electrn,
viene dada por la expresin:
I I
e
m c R
e
=
0
4
2 4 2
2
sen

Ecuacin 9

I
0
es la intensidad de la radiacin incidente
c es la velocidad de la radiacin en el vaco
es el ngulo entre la direccin de los rayos X dispersos y la direccin de la
aceleracin del electrn.
En casi todos los dispositivos experimentales la interaccin de radiacin X con
un electrn libre es no polarizada
La direccin de vibracin del vector elctrico es al azar en un plano
perpendicular a la direccin de propagacin de la onda.
La intensidad de la radiacin dispersa viene dada por la expresin:
I I
e
m c R
e
=
+

0
4
2 4 2
2
1 2
2
cos

Ecuacin 10

La intensidad vara segn la direccin de la dispersin
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La intensidad es mxima para 2 =0 y disminuye a medida que se acerca a 2
=90.

1 2
2
2
+

cos
es el factor de polarizacin. Puede variar entre 1 y 1/2

FACTOR DE DIFUSIN ATMICO
Se considera la dispersin de la radiacin por un tomo.
Viene definido por la relacin entre la amplitud de la onda dispersa por el tomo
y la amplitud de la onda dispersa por un electrn.
f
A
A
a
e
=

Ecuacin 11

Como las intensidades son proporcionales al cuadrado de las amplitudes, se
tendr:

f
A
A
I
I
a
e
a
e
2
2
2
=
Ecuacin 12

Es funcin de sen/ /, debido a que los electrones del tomo no dispersan en
fase la radiacin, excepto cuando =0 en que los electrones dispersan completamente
en fase en la direccin del haz incidente. Al aumentar tambin aumenta la diferencia
de fase y el factor de difusin f disminuye.


FACTOR DE ESTRUCTURA
Se considera la dispersin de la radiacin de los tomos contenidos en la celda.
Especifica la amplitud de la onda difractada en la reflexin hkl debida a la
contribucin de todos los tomos de la celda elemental. Se simboliza por F(hkl) y se
especifica por:
El mdulo, denominado tambin amplitud de estructura.
Es proporcional a la amplitud del rayo difractado por un plano.
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Se puede calcular experimentalmente a partir de las intensidades de los rayos
difractados.
El argumento, es la fase del rayo difractado. No se puede calcular
experimentalmente y plantea problemas.
La amplitud del factor de estructura F(hkl)y por lo tanto la intensidad I(hkl)
dependen de:
Clase de tomos contenidos en la celda
Posiciones de los tomos en la celda
o Estas posiciones o coordenadas dependen de las diferencias de fases relativas
entre las radiaciones dispersas por los tomos.
o Aqu es necesario introducir la densidad electrnica
(xyz)
que es el nmero de
electrones por unidad de volumen al lado del punto de la celda elemental que
tiene coordenadas x, y, z. La densidad electrnica es una funcin peridica.
Si se conoce la densidad electrnica
(xyz)
en cada punto x, y, z se podra calcular
el factor de estructura F(hkl) y al revs.


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18.9 SIMETRA DE LOS EFECTOS DE DIFRACCIN. CLASES DE
LAUE
Los materiales cristalinos presentan un orden interno que generalmente se
detecta mediante su espectro de rayos X.
Este presenta simetra y respeta la restriccin cristalogrfica, es decir,
slo existen simetras de orden 2, 3, 4 y 6.

Sin embargo, en 1984 D. Schechtman descubre una aleaccin metlica de alumnio y
manganeso cuyo patrn de difraccin tiene simetra de orden 5 (Figura 18.15).

Figura 18.15.- difraccin de la aleacin metlica de aluminio y manganeso mostrando
la simetra de orden 5.
Se trata de un cuasicristal (contraccin de los trminos ingleses quasiperiodic y
crystal). Se han usando los mosaicos de Penrose como base para obtener un modelo
matemtico de la disposicin de los tomos de los cuasicristales.
Cuadro 18.3

El diagrama de difraccin refleja la simetra del cristal.
Los diagramas de difraccin siempre presentan centro de simetra ley de
Friedel:
) ( ) (

= l k h F hkl F

Ecuacin 13

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Los grupos puntuales centrosimtricos son 11 y se les conoce como Clases de
Laue:

Sistema cristalino Clase de Laue
Cbico
m m

3 ,

3 m
Tetragonal 4/mm, 4/m
Hexagonal 6/mm, 6/m
Rombodrico
m

3 ,

3
Rmbico mmm
Monoclnico 2/m
Triclnico

1
Cuadro 18.4
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18.10 MTODOS DE DIFRACCIN DE RAYOS X

Radiacin () Tipo y caractersticas de la muestra Tcnica
Policromtica Monocristal fijo Laue
Monocromtica Monocristal con giro de 360 Cristal giratorio
Monocromtica
Monocristal con rotacin parcial y oscilante
alrededor de eje de zona a rayos X
Cristal oscilatorio
Monocromtica
Monocristal con oscilacin alrededor de eje
o / respecto de los rayos X
Weissenberg
Monocromtica Monocristal con movimiento de precesin
Precesin de
Buerguer
Monocromtica Polvo cristalino Mtodo de polvo

Cuadro 18.5
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18.11 APLICACIN DE LA DIFRACCIN DE LOS RAYOS X EN
CRISTALES Y MINERALES
La aplicacin fundamental de la Difraccin de Rayos X (DRX) es la
identificacin cualitativa de la composicin de una muestra cristalina.
Cualquier sustancia cristalina produce un diagrama de difraccin caracterstico y
si la muestra contiene ms de una sustancia el diagrama ser una combinacin de los
correspondientes a ambas sustancias. A veces ocurre que un mismo pico pertenece a
ms de una sustancia, complicndose la interpretacin.
Tambin permite obtener la informacin siguiente:
Dimensiones de la celda unidad
Determinacin del nmero de molculas en la celda unidad.
La densidad referida a la celda unidad viene dada por la expresin:
=Masa de la celda/Volumen =(NM)/V
Ecuacin 14
donde:
M es la masa de todos los tomos que integran una unidad de la frmula
qumica, es decir, el peso molecular.
N es el nmero de frmula unidad contenidas en la celda
V es el volumen de la celda unidad. La frmula general viene dada por la
expresin
Tipo de red de Bravais
Sistema cristalino
Grupo espacial o posible(s) grupo(s) espacial (es)
Posiciones atmicas a partir de las intensidades de los rayos X difractados, y por lo
tanto, la estructura cristalina.
La difraccin por rayos X es el mtodo ms importante, de tipo no destructivo
para:
Analizar materiales ms variados:
polvos
metales
productos de corrosin
cristales perfectos, etc.
En la investigacin:
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suministro de materias primas
produccin
La Difraccin de rayos X es tecnologa muy til para la determinacin de
materiales y el control de calidad.
Si se trata de desarrollar nuevos compuestos, materiales o procesos o optimizar
procesos de fabricacin, el anlisis no destructivo utilizando rayos X ofrece varias
posibilidades.
Con la difraccin de rayos X es posible determinar una variedad de
caractersticas de materiales macroscpicas y microscpicas as como la estructura de
compuestos que conforman a los materiales.
Algunos ejemplos de aplicaciones son:
Materias primas como minerales, carbn, caliza etc.
Metales, aleaciones, escorias y cenizas.
Filtros, lodos y otras aplicaciones.

Aplicaciones especficas del Mtodo de polvo:
Identificar las fases cristalinas presentes en una muestra en forma cualitativa

Figura 18.16.- Espectro de rayos X mostrando las fases minerales a las que
corresponden los picos de difraccin

Asignacin de ndices a las reflexiones
Los nicos valores experimentales que proporciona el mtodo de polvo son los
valores angulares de 2
hkl
.
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Estos valores estn directamente relacionados con los espaciados interplanares d
hkl
,
mediante la ecuacin de Bragg:
2d
hkl
sen
hkl
=
Ecuacin15
Esta expresin puede ponerse en la forma:
d
hkl
=(2sen
hkl
)/
Ecuacin 16
es la longitud de onda de la radiacin X utilizada y por lo tanto es conocida.
Los espaciados interplanares estn relacionados, mediante la expresin:

+
+ +
+ +
+ + +
=
) cos cos )(cos / 2 (
) cos cos )(cos / 2 (
) cos cos )(cos / 2 (
sen ) / ( sen ) / ( sen ) / (
.
). cos cos cos 2 cos cos cos 1 /( 1 / 1
2 2 2 2 2 2 2 2 2
2 2 2 2





ab hk
ac hl
bc kl
c l b k a h
d hkl


Ecuacin 17
para cada sistema cristalino, con los ndices de las correspondientes reflexiones y con
los parmetros de celda o red del correspondiente sistema cristalino.
Por lo tanto, se puede obtener los parmetros de celda, el grupo espacial o posible
grupo espacial, el tipo de red, el sistema cristalino.
Anlisis cuantitativo de fases cristalinas
Se fundamenta en el hecho de que las intensidades de las reflexiones de una fase
cristalina contenida en una muestra dependen de la concentracin relativa de dicha
fase en la muestra. La relacin entre la intensidad y la concentracin no es lineal,
debido a efectos de absorcin. Para obtener el porcentaje de cada fase presente en
una mezcla se comparan las intensidades con las de los diagramas de control de
composicin conocida.
Estudio de soluciones slidas
La variacin de la composicin qumica de una sustancia conocida implica la
sustitucin de tomos, generalmente de tamao algo diferente, en posiciones
concretas de la estructura.
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Como resultado de esta sustitucin cambian ligeramente las dimensiones de la
celda (a, b y c) y, por lo tanto, los espaciados reticulares.
Las posiciones de las reflexiones (picos en un registro grfico del difractmetro
de polvo o lneas en la pelcula con cmara Debye-Scherrer), es decir los valores
de 2 a los que se producen las reflexiones, correspondientes a estos espaciados
cambian tambin.
Midiendo estos pequeos cambios de posicin de los picos en un diagrama o
lneas en una pelcula, es decir los cambios en los valores de 2 a los que se
producen las reflexiones, en un diagrama de polvo de sustancias de estructura
conocida, se pueden detectar cambios en la composicin qumica.
Ejemplo: En la Figura 18.17 puede apreciarse que los parmetros de celda a y c
varan al variar la composicin, pues los picos aparecen desplazados como
consecuencia de ello.

Figura 18.17.- Espectros de rayos X mostrando la variacin de los parmetros de celda
a y c, reflejada en el desplazamiento de los picos, debido a la variacin en composicin

Estudiar orientaciones preferenciales para identificar polimorfismo cristalino.
Otras aplicaciones ms especficas son:
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Estudio de texturas
Un agregado policristalino como un polvo cristalino se supone que tiene todos
los cristalitos idealmente orientados al azar unos respecto a otros y se comporta
cono una sustancia de caractersticas istropas. Sin embargo, existe un nmero
elevado de sustancias policristalinas que contienen una determinada proporcin
de cristalitos orientados en una direccin especfica. Esto tiene como
consecuencia resaltar las caractersticas anisotrpicas y tiende a comportarse
como un monocristal. Se dice entonces que la sustancia tiene orientacin
preferente.
Determinacin del tamao de los cristalitos
La anchura de un pico, respecto de su anchura ideal, se ve afectado, entre otros
factores, por el tamao de los cristalinos.
Determinacin de coeficientes de dilatacin trmica
El coeficiente de dilatacin lineal de un cristal es diferente en las distintas
direcciones cristalogrficas. Cuando el espaciado de los planos experimenta una
variacin, el efecto quedar puesto de manifiesto en un desplazamiento de los
valores de 2 de las reflexiones correspondientes del diagrama de difraccin, de
acuerdo a la ecuacin de Bragg.
El coeficiente de dilatacin es:


Ecuacin 17
donde:
d es el desplazamiento
t es la temperatura
Dicha expresin se relaciona con la ecuacin de Bragg puesta en la forma:


Ecuacin 18

De manera que si se obtienen dos diagramas de polvo de una sustancia como la
plata a 18 C y a 500 C, la dilatacin hace que los picos en ambos diagramas
estn desplazados, por lo que se pueden obtener las d
hkl
para las dos
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temperaturas, en general d1 para las reflexiones a 18 C y d2 para las reflexiones
a 500 C. As tendremos dos ecuaciones de Bragg como la expuesta arriba en la
que se sustituyen los valores de d1 y d2 obtenidos a partir del coeficiente de
dilatacin trmica.

Las reas de mayor aplicacin de esta tcnica son:
Investigacin de materiales
Control de calidad de cementos
Mineraloga y Geologa
Farmacutica
Qumica y catlisis
Polmeros
Arqueologa
Nuevos nanomateriales y semiconductores