UNIVERSIDADE FEDERAL DO ABC

RAUL MIRANDA RODRIGO BALANDINO SILVA THIAGO CHINEN VINICIUS PACHIONE

PREPARAO E ANLISE MICROESTRUTURAL

SANTO ANDR 2013

RAUL MIRANDA RODRIGO BALANDINO SILVA THIAGO CHINEN VINICIUS PACHIONE

PREPARAO E ANLISE MICROESTRUTURAL

Relatrio referente ao experimento de preparao e anlise microestrutural

apresentado no mbito da disciplina de Materiais e Suas Propriedades (BC1105), ministrada pelo Prof. Dr. Mrcio Vernieri na Universidade Federal do ABC no primeiro quadrimestre de 2013.

SANTO ANDR 2013 2

SMARIO
1. INTRODUO ................................................................................................................................. 4 2. OBJETIVOS .................................................................................................................................. 5 3. METODOLOGIA............................................................................................................................... 5 3.1 Material ........................................................................................................................................ 5 3.2 Procedimentos ........................................................................................................................... 6 3.2.1 Preparao Metalogrfica: ................................................................................................ 6 3.2.2 Observao da microestrutura e determinao do tamanho de gro: ....................... 6 4. RESULTADOS E DISCUSSES .................................................................................................. 7 5. CONCUSO ................................................................................................................................... 13 REFERNCIAS BIBLIOGRFICAS ................................................................................................ 14

1. INTRODUO
Imperfeies dos reticulados so identificadas em grande parte dos materiais cristalinos. Estas imperfeies podem influencias nas propriedades dos materiais, como sua resistncia mecnica, propriedades qumicas quanto eltricas, etc. Nos casos em que os tomos esto deslocados individualmente, tomos extras ou a falta so envolvidos, temos a classificao destes como defeitos pontuais, como por exemplo, lacunas, defeitos de Schottky, defeitos de Frenkel. Quando envolvida a aresta de um plano extra de tomos temos os defeitos de linha ou discordncias, que caracterizam discordncias em cunha, ou discordncias helicoidais. E por fim, os defeitos de fronteira, entre cristais adjacentes, ou superfcies externas do cristal, vistas em contornos de gro. [1]

As imperfeies cristalinas podem se estender por duas dimenses como em uma fronteira. Mesmo em materiais que contenham apenas uma fase, o mesmo conter muitos cristais de vrias orientaes distintas. Estes cristais so denominados gros. Dentro de cada gro todos os tomos esto arranjados seguindo um nico modelo, assim na fronteira entre dois gros adjacentes h uma zona de transio onde os menos no esto alinhados, podendo ser observado nitidamente por tcnicas de microscopia adequada.

Os

materiais

possuem

vrias

caractersticas

sendo

algumas

diretamente

relacionadas sua estrutura. Em materiais metlicos o estudo desta relao entre estrutura e caractersticas chamado de metalografia. O surgimento da metalografia se d no oriente por volta de 800 d.c tendo grandes avanos entre os sculos 15 e 16, mas a sua consolidao se deu a partir da criao do microscpio ptico e das micrografias realizadas por Hooke.

Metalografia o estudo da constituio, estrutura e textura (aspecto) dos metais e suas ligas atravs de tcnicas como a microscopia tica, eletrnica ou a difrao de raios X, de modo a correlacionar estas observaes com as propriedades fsicas e mecnicas. Pode ser dividida em duas grandes reas a macroscpica onde a observao se d com aumentos de at 10 vezes e a microscpica que pode ser 4

tica ou eletrnica (de varredura ou transmisso) [2] sendo normalmente utilizada para se determinar o tamanho de gro de um material policristalino. Estes gros tm efeitos diretos sobre seu comportamento mecnico, como por exemplo, a resistncia mecnica, a resistncia trao, a resistncia corroso. [3]

Em nossa aula analisou-se a micrografia do metal ao carbono 1005 obtida com o microscpio ptico de luz refletida um instrumento no qual a imagem do corpo de prova formada atravs reflexo de luz proveniente de uma fonte luminosa. Em materiais opacos a luz visvel (todos os metais e grande parte das cermicas e polmeros) apenas a superfcie est visvel sendo necessria a realizao de um ataque qumico para que haja contraste dos contornos de gros caso contrrio voc uma imagem com apenas alguns riscos que no possuem qualquer interesse para o estudo de materiais.[4]

2. OBJETIVOS
O experimento tem como objetivos a compreenso de tcnicas bsicas de preparao de amostras para anlise microestrutural (tambm conhecida como preparao metalogrfica), a analise de amostras em microscpio de luz refletida e a determinao do tamanho de gro de uma amostra policristalina.

3. METODOLOGIA
3.1 Material
O material utilizado foi o ao carbono 1005 (ao de baixo teor de carbono, 0,05%p, com microestrutura predominantemente ferrtica). 5

3.2 Procedimentos

3.2.1 Preparao Metalogrfica: Na aula demonstrativa foi mostrado as seguintes etapas da preparao metalogrfica: a) Corte de amostra em cortadeira do tipo cut-off; b) Embutimento da amostra em baquelite em embutidora a quente; c) Lixamento com lixas com abrasivo de carbeto de silcio (SiC) de granas 220, 320, 400 e 600; d) Polimento sobre disco giratrio com pano de polimento de feltro e suspenso de alumina com granulometria de 1 m; e) Ataque qumico para revelao de microconstituintes: a superfcie polida da amostra ser imersa em soluo de Nital 3% (lcool etlico + cido ntrico).

3.2.2 Observao da microestrutura e determinao do tamanho de gro: Inicialmente foi realizada uma explicao bsica do funcionamento do microscpio ptico de luz refletida. Em seguida, cada grupo recebeu uma amostra polida na qual foi realizado o ataque qumico. Com a amostra atacada, levou-a ao microscpio ptico para observar sua microestrutura usando aumento de 200x e realizaram-se as aquisies de imagem utilizando o software instalado no computador do laboratrio 702-B da Universidade Federal do ABC.

Foram fotografadas cinco regies distintas da superfcie da amostra. O tamanho do gro foi determinado para essas cinco regies e os respectivos clculos esto presentes na parte de resultados deste relatrio. O resultado final foi expresso como o tamanho mdio de gro destas cinco regies.

4. RESULTADOS E DISCUSSES
Este tpico do trabalho trata dos resultados que foram obtidos a partir do experimento realizado. Para isso, foi necessrio fazer a converso do tamanho das imagens obtidas em laboratrio, devido ao fato de que o tamanho das mesmas estava pixels, e necessitava-se que esse parmetro fosse dado em milmetros (mm). Esta converso do tamanho das imagens foi feita a partir do software GIMP 2.8.

As micrografias tiradas so mostradas a seguir, da Figura 1 at a Figura 5, e a partir delas, foi possvel calcular parmetros como nmeros de gros interceptados por mm, comprimento do intercepto linear, tamanho de gro, etc.

Figura 1: Micrografia da regio 1 do material (ao carbono 1005) com aumento de 200 vezes.

Figura 2: Micrografia da regio 2 do material (ao carbono 1005) com aumento de 200 vezes.

Figura 3: Micrografia da regio 3 do material (ao carbono 1005) com aumento de 200 vezes.

Figura 4: Micrografia da regio 4 do material (ao carbono 1005) com aumento de 200 vezes.

Figura 5: Micrografia da regio 5 do material (ao carbono 1005) com aumento de 200 vezes.

A seguir mostrado o procedimento para os clculos dos parmetros. Primeiramente, conta-se o nmero de gros interceptados (N) pela circunferncia feita sobre a micrografia. Em seguida, pode-se determinar o nmero de interseces por mm (NL), de acordo com a frmula:

Onde M o aumento do microscpio (200 vezes em nosso caso) e D o dimetro da circunferncia feita (100 mm). Ento, possvel fazer-se o clculo do comprimento do intercepto linear (l):

Com o valor de l, pode-se encontrar o valor do tamanho de gro ASTM (G), por meio da equao:

Por fim, encontra-se o nmero de gro ASTM (n):

Seguem os clculos realizados para cada regio:

Regio 1:

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Regio 2:

Regio 3:

Regio 4:

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Regio 5:

Os resultados dos clculos esto dispostos na Tabela 1, que segue:

Tabela 1: Resultados dos clculos.

Micrografia 1 2 3 4 5

N (gros) 27 25 26 25 28

NL (gros/mm) l (mm/gros) 17.19 15.92 16.55 15.92 17.83 0.05817 0.06281 0.06042 0.06281 0.05609

G 4.92 4.70 4.81 4.70 5.02

n (gros) 15.14 13.00 14.02 13.00 16.22

O desvio padro foi calculado para o tamanho de gro ASTM (G) e para o nmero de gro ASTM (n), de acordo com a seguinte equao:

Como Gmdio = 4.83 e nmdio = 14.28, seguem seus valores com o desvio padro:

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5. CONCUSO
A realizao do experimento possibilitou que os alunos tivessem uma experincia pratica da determinao do contorno de gro de uma amostra policristalina e tambm a compreenso das tcnicas bsicas de preparao metalogrfica e a analise de amostras em microscpio ptico de luz refletida. Aps a realizao do ataque qumico na pea previamente preparada foi possvel realizar sua analise microestrutural no microscpio com um aumento de 200x. Ento foram adquiridas cinco fotos (Figura 1,2,3,4 e 5), a partir das quais, foi possvel calcular parmetros como nmeros de gros interceptados por mm, comprimento do intercepto linear, tamanho de gro. Com todos os clculos realizados chegamos a concluso que o valor mdio do tamanho de gro da amostra de e o numero de gros mdio de

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REFERNCIAS BIBLIOGRFICAS
[1] Van Vlack, Lawrence Hall. Princpios de cincia dos materiais; traduzido pelo Eng. Luiz Paulo Camargo Ferro So Paulo: Editora Blucher, 1970 [2] Ramos, Mrcio de Almeida, Metalurgia. Editora: publicao interna da Petrobrs, 1. Edio, 1989. 248 p. [3] Aplicao de Tcnicas de Processamento e Anlise de Imagem na Anlise Automtica da Quantidade e do Tamanho do Gro em Imagens Metalogrficas. Disponvel em: <http://paginas.fe.up.pt/~tavares/ downloads/publications/artigos/ METNUMp386_ap.pdf > ltimo acesso: 21 de Jun de 2013 [4] Callister, W. D. Jr, Cincia e Engenharia de Materiais: uma introduo; Editora LTC, 7. Edio, 2008.

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