Fsica del Estado Slido

DIFRACCIN DE RAYOS X
Dr. Andrs Ozols
n

k
n

k k

d cos =d.n

d c o s = d .n

Facultad de Ingeniera Universidad de Buenos Aires 2009

TEMARIO Objetivo Naturaleza de los rayos X Generacin de los rayos X Interaccin con la materia Difraccin de rayos X Equipo experimental Factor de estructura y funciones de distribucin Estructura de los materiales: orden de corto rango, de rango intermedio y de largo rango

OBJETIVO Determinacin de la Estructura Cristalina por Difraccin de Rayos X

Longitud de onda distancia inter-atmica

NATURALEZA DE LOS RAYOS X

0.5 - 5

Tubo de GENERACIN RAYOS X

Rayos X

Agua de refrigeracin Antictodo Fe, Mo, Cu

Haz de Electrones - Filamento

Colimador de haz Ventana de Berilio

Rayos X

EQUIPO de DIFRACCIN de RAYOS X

DIFRACTOMETRO de RAYOS X Gonimetro tipo Radiacin Molibdeno ( lnea K )

GENERACIN RAYOS X
Energa cintica de los electrones

Ec = e V 10-50 KeV
los electrones frenados generan

Disipacin de energa en el frenado E0 CALOR

transiciones electrnicas en los tomos

h eRAYOS X

Ef

ESPECTRO DE RAYOS X Espectro continuo

+
Intensidad de la radiacin

Espectro caracterstico
K

Intensidad de la radiacin

Longitud de onda

Longitud de onda

Es funcin del potencial V

Cuando este supera un valor Vc (dependiente del material) aparece el espectro caracterstico

lneas de series K, L, M, N

ESPECTRO DE RAYOS X

K
Intensid a d de la radiacin

Longitud de onda

LONGITUDES DE ONDA CARACTERSTICAS Elemento Ca Ti V Cr Mn Fe Co Ni Cu Zn

3.357 2.766 2.521 2.295 2.117 1.945 1.796 1.664 1.548 1.448

3.085 2.528 2.302 2.088 1.923 1.765 1.635 1.504 1.403 -

FILTRADO de Lneas de RAYOS X

Radiacin X K K , Filtros + monocromador

K
Intensida d de la radiacin

K
Intensida d de la radia cin

Radiacin Cu Mo

Filtro Ni Zr Fe

Co

Longitud de onda

Longitud de onda

Lnea K filtrada

DIFRACCION de RAYOS X en CRISTALES

caminos pticos = 2d sin Si hay interferencia constructiva

d dsen

Ley de Bragg

2d sin =
d1 d2
Fa milia s de pla nos con separaciones d 1 y d 2

cada familia (d, d1, d2) de planos tiene un ngulo que satisface esta ley

DIFRACTOGRAMAS de RAYOS X
100

80

Intensidad

60

Si O2 Cuarzo policristalino (en polvo) Radiacin K del Cu

40

20

0
20 30 40 50 60 70 80 90

POSICIONES de las REFLEXIONES en DISTINTOS PLANOS

y orgnicos)

IDENTIFICACION de COMPUESTOS Base de compuestos inorgnicos

Tarjeta del Joint Committee of Powder Diffraction Files (JCPDF)

TARJETA de IDENTIFICACIN de COMPUESTO

Joint Committee of Powder Diffraction Files (JCPDF)

APLICACIONES de la DIFRACCION de RAYOS X La difraccin de rayos X es una tcnica verstil, no-destructiva y analtica para la determinacin de: Fases Estructura Textura Tensiones Que pudieran estar presentes en materiales slidos, polvos, y lquidos

APLICACIONES a MATERIA CONDENSADA

Temario
Bases de la teora de difraccin de rayos X Aplicacin de la teora de difraccin de rayos X Aberraciones geomtricas Tamao de cristalito Imperfecciones de la red Medidas del ancho de lnea Formulacin de Von Laue de la difraccin de rayos x por un cristal Equivalencia de las formulaciones de Bragg y Von Laue Difraccin por una red con una base monatmica Factor de estructura geomtrico Difraccin por un cristal poliatmico El factor atmico de forma

INTENSIDAD I() DISPERSADA

2 2 sen 2 N , sen N , sen N 3 3 ( , ) ( ) ( ) 1 1 2 2 I ( ) = I 0 2 2 sen 2 , sen , sen ( ) ( ) 1 2 3 ( , )

1,2 y 3 a las direcciones de vectores base de la red de Bravais es la mitad del ngulo de dispersin, entre direcciones de los haces incidente y el dispersado. es la longitud de onda del haz de rayos X incidente. Nl , N2 y N3 representan la cantidad total de nodos en cada direcciones

Difractograma caracterstico
(intensidad relativa en funcin de 2).
100

80

Intensidad

60

Si O2 Cuarzo policristalino (en polvo) Radiacin K del Cu

40

20

0
20 30 40 50 60 70 80 90

INTENSIDAD I() DISPERSADA

f ( ) = sen N ( ) sen ( )

mximos de intensidad estn dados por la ley de Bragg

2d hkl sen = n
d dsen

dhkl es la distancia o espaciado reticular de familia de planos (h k l)

d1

n = 1,2,3,... es orden de la difraccin

d2
Familias de planos con separaciones d 1 y d 2

Aplicacin de la teora de difraccin de rayos X i) Aberraciones geomtricas

Funcin de las caractersticas del equipo de difraccin y los parmetros de control del gonimetro: Rango de barrido 20 - 2f de barrido (2-100) Velocidad de barrido 2/min (0.1-2/min) Resolucin angular o paso (0.01-1) Tensin de la fuente (20-60 KV) Corriente de filamento Combinacin de rendijas para colimacin y filtrado de RX
Gonimetro tipo

CONFIGURACION del EQUIPO de DIFRACCIN de RAYOS X

ii) Tamao de cristalito Estructura policristalina

granos

granos con orientaciones cristalogrficas diferentes

iii) Imperfecciones de la red

Macla

Dislocacin de borde

Dislocacin helicoidal

Medidas del ancho de lnea

Semi-ancho

B1/ 2

I ( 2 ) I ( 2 ) ) ( =
2 1

Ip

Ip /2

Ip
2 1

B1/2 22

AREA B1/2

Bi =

1 I ( 2 )d ( 2 ) IP

Ancho integral Bi

AREA 2 3 Ip 2 4

Varianza o desviacin cuadrtica Standard

( 2 2 ) I ( 2 )d ( 2 ) W = I ( 2 )d ( 2 )
2 2

FORMULACIN de VON LAUE de la DIFRACCIN Diferencia de caminos de los rayos dispersados

n

n ) d cos + d cos = d . ( n
interferencia constructiva

k
n

k k

d cos =d.n

n ) = m d .( n
Multiplicando x 2/

d c o s = d .n

d . k k = 2 m

d = R es vector de la red de Bravais

R. k k = 2 m

FORMULACIN de VON LAUE de la DIFRACCIN

R. k k = 2 m

e
R red de Bravais

i ( k k ). R

=1

plano de Bragg
K/2

condicin de Laue

K red de Recproca
K/2

iK . R

=1

K= k-k

k k

k = K k

K 1 k . = k .K = K K 2

EQUIVALENCIA de las FORMULACIONES de BRAGG y VON LAUE

K = k k

red de Recproca

K= k -k
k sen

-k k

k y k con el mismo y perpendicular al plano de K

k sen

K = n K0

K0 vector de la red recproca de longitud mnima = 2/d

K = 2k sen 2d sen = n

k = 2/

2 n K= d

reflexin de Bragg

DIFRACCIN por una RED con una BASE MONATMICA

Red de Bravais

n- tomos de una base

cristal

=
d1 d2 d4 d5 d3

FACTOR de ESTRUCTURA GEOMTRICO K .(di d j ) pico de Bragg K = k k

diferencia de la fase diferencia de amplitudes

e
dj di

iK .( di d j )

amplitudes de los rayos dispersados en d1,.., dn,

= Amplitud total S K e j =1 n iK .d j

iK .d1

iK .d n

I Intensidad total

K

DISPERSION por un ATOMO Dispersin incoherente

dimensiones atmicas

+
CB-AD diferencia de camino de Z repecto Z

interferencia destructiva Factor de dispersin o forma atmica

Dispersin coherente

DIFRACCIN por un CRISTAL POLIATMICO

Si iones de base
= SK j =1 n iK .d fj K e j

( )
fj

fj factor de forma o dispersin atmico

( )

1 iK .r K = e j ( r ) dr e

Depende de la estructura del in

j distribucin de carga electrnica del in

nmero de electrones que rodean un tomo

sen ( kr ) f0 = ( r ) dr kr 0