EmanueleSRM DISSERT

UNIVERSIDADE FEDERAL DO RIO GRANDE DO NORTE
CENTRO DE TECNOLOGIA
PROGRAMA DE PS-GRADUAO EM ENGENHARIA ELTRICA
E DE COMPUTAO

i

UMA PROPOSTA DE FSS FRACTAL COM
GEOMETRIA SIMPLIFICADA

EMANUELE DA SILVA RODRIGUES MONTALVO

Orientador: Prof. Dr. Larcio Martins de Mendona
Co-Orientador: Prof. Dr. Alfrdo Gomes Neto

Dissertao de Mestrado apresentada ao
Programa de Ps-graduao em Engenharia
Eltrica e de Computao da UFRN (rea de
concentrao: Engenharia Eltrica) como parte
dos requisitos necessrios para obteno do
ttulo de Mestre em Cincias.

Natal RN
Dezembro 2010

ii

UMA PROPOSTA DE FSS FRACTAL COM
GEOMETRIA SIMPLIFICADA

EMANUELE DA SILVA RODRIGUES MONTALVO

Dissertao de Mestrado aprovada em 21 de dezembro de 2010 pela banca examinadora
composta pelos seguintes membros:

Prof. Dr. Larcio Martins de Mendona (orientador) ............ DEE/UFRN

Prof. Dr. Alfrdo Gomes Neto (co-orientador) ................. GTEMA/IFPB

Prof. Dr. Adaildo Gomes DAssuno ................................ DCO/UFRN

Prof. Dr. Paulo Henrique da Fonseca Silva ...................... GTEMA/IFPB

iii

O corao do homem traa o seu
caminho, mas o Senhor lhe dirige os
passos.
(Pv 16: 9)

iv

Dedico este trabalho a Deus, que
me abenoou e guiou meus passos para
chegar at aqui, minha maravilhosa
me, Maria Gomes da Silva, aos meus
avs queridos (in memorian) e ao meu
esposo amado Augusto Csar Pereira da
Silva Montalvo.

v

Agradecimentos

Primeiramente agradeo a Deus, que me deu sade, fora, sabedoria, pacincia e
perseverana para realizar este trabalho. Agradeo tambm pelo seu enorme amor e sua
presena em todos os momentos da minha vida.
Agradeo a minha mainha que um exemplo de vida. Uma mulher batalhadora, amiga
e companheira, que mesmo sozinha foi o meu sustento, e a grande responsvel por formar a
pessoa que sou hoje.
Agradeo ao dono do meu corao, meu esposo amado, Augusto, com quem compartilho
plenamente os meus dias. Companheiro amoroso, que com toda sua pacincia e sabedoria,
soube me apoiar e incentivar em todos os momentos desta longa caminhada.
Aos meus avs maternos (in memorian), que com toda simplicidade e amor me
ensinaram a ter carter e dignidade.
minha querida famlia que sempre me d apoio e se orgulha das minhas conquistas.
Ao meu paizo querido, grande amigo e padrinho de casamento, Alfrdo. Seu
incentivo, pacincia, orientao e dedicao foram indispensveis para a concretizao desta
etapa da minha vida.
Aos professores e amigos Adaildo e Larcio, pelo apoio, orientao e conhecimentos
compartilhados.
Aos professores do IFPB, que me incentivaram a iniciar esta caminhada, em especial aos
professores Joabson e Paulo Henrique.
Aos demais professores e amigos do DEE/UFRN e do GTEMA/IFPB, que contriburam
para minha formao.
Ao INCT CSF/UFRN e ao GTEMA/IFPB pelo suporte tcnico.
Ao CNPq pelo suporte financeiro.

vi

Resumo

As Superfcies Seletivas de Frequncia (FSS) so estruturas peridicas em uma ou duas
dimenses que atuam como filtros espaciais, podendo ser formadas por elementos do tipo
patches condutores ou aberturas, funcionando como filtros rejeita-faixa ou passa-faixa,
respectivamente. O interesse no estudo das FSS tem crescido atravs dos anos, pois tais
estruturas atendem a requisitos especficos como baixo custo, dimenses e pesos reduzidos,
alm da possibilidade de se integrar com outros circuitos de micro-ondas. As mais variadas
aplicaes para tais estruturas tm sido investigadas, como por exemplo, radomes, sistemas de
antenas para avies, filtros eletromagnticos para antenas refletoras, estruturas absorvedoras,
etc. Vrios mtodos tm sido utilizados para a anlise de FSS, dentre eles, o Mtodo das
Ondas (WCIP). So diversas as formas de elementos que podem ser utilizados em FSS, como
por exemplo, os do tipo fractal, que apresenta uma relativa complexidade geomtrica. Este
trabalho tem como objetivo principal propor um procedimento de simplificao geomtrica de
uma FSS fractal, a partir da anlise da influncia dos detalhes (fendas) da geometria da
mesma no comportamento da frequncia de ressonncia. De forma complementar mostrado
um mtodo simples de ajustar a frequncia de ressonncia atravs da anlise de uma FSS, que
utiliza uma clula bsica retangular, na qual so inseridas duas reentrncias e as dimenses
dessas reentrncias so variadas, tornando possvel o ajuste da frequncia. Para isso, as
estruturas so analisadas numericamente, utilizando o WCIP, e posteriormente so
caracterizadas experimentalmente, comparando-se os resultados obtidos. Para os dois casos
avaliada, a influncia dos campos eltrico e magntico, este ltimo atravs do vetor densidade
de corrente eltrica. realizado um estudo bibliogrfico a cerca do tema e so apresentadas
sugestes para a continuidade deste trabalho.

Palavras-chave: FSS, geometria simplificada, frequncia de ressonncia, WCIP,
caracterizao numrica e experimental.

vii

Abstract

Frequency Selective Surfaces (FSS) are periodic structures in one or two dimensions that
act as spatial filters, can be formed by elements of type conductors patches or apertures,
functioning as filters band-stop or band-pass respectively. The interest in the study of FSS has
grown through the years, because such structures meet specific requirements as low-cost,
reduced dimensions and weighs, beyond the possibility to integrate with other microwave
circuits. The most varied applications for such structures have been investigated, as for
example, radomes, antennas systems for airplanes, electromagnetic filters for reflective
antennas, absorbers structures, etc. Several methods have been used for the analysis of FSS,
among them, the Wave Method (WCIP). Are various shapes of elements that can be used in
FSS, as for example, fractal type, which presents a relative geometric complexity. This work
has as main objective to propose a simplification geometric procedure a fractal FSS, from the
analysis of influence of details (gaps) of geometry of the same in behavior of the resonance
frequency. Complementarily is shown a simple method to adjust the frequency resonance
through analysis of a FSS, which uses a square basic cell, in which are inserted two reentrance
and dimensions these reentrance are varied, making it possible to adjust the frequency. For
this, the structures are analyzed numerically, using WCIP, and later are characterized
experimentally comparing the results obtained. For the two cases is evaluated, the influence of
electric and magnetic fields, the latter through the electric current density vector. Is realized a
bibliographic study about the theme and are presented suggestions for the continuation of this
work.

Keys-words: FSS, simplified geometric, resonance frequency, WCIP, numerical and
experimental characterization.

viii

Sumrio

Agradecimentos v
Resumo vi
Abstract vii
Sumrio viii
Lista de Figuras x
Listas de Tabelas xiii
Lista de Smbolos e Abreviaturas xiv
Captulo 1 Introduo 17
Captulo 2 Superfcies Seletivas de Frequncia FSS 19
2.1 Introduo 19
2.2 Arranjos Ativos e Arranjos Passivos 20
2.3 Elementos das FSS 21
2.3.1 Formas de Elementos das FSS 23
2.3.2 Dimenses dos Elementos 24
2.4 Tcnicas de Anlise de FSS 25
2.5 Tcnicas de Medio de FSS 26
2.6 Aplicaes 27
2.7 Concluso 28
Captulo 3 Geometria Fractal 29
3.1 Introduo 29
3.2 Caractersticas dos Fractais 31
3.2.1 Dimenso Fractal 32
3.3 Gerao de Fractal 33
3.3.1 Mtodo IFS 33
3.3.2 Sistema-L 34
3.4 Aplicaes de Fractal 36

ix

3.5 Concluso 36
Captulo 4 Mtodo das Ondas WCIP 37
4.1 Introduo 37
4.2 Princpio de Funcionamento do WCIP 37
4.2.1 Relao entre Ondas e Campos 38
4.2.2 Incidncia/Reflexo da Onda na Superfcie S 40
4.2.2.1 Determinao do Parmetro de Reflexo S
xy
41
4.2.3 Propagao/Reflexo da Onda no Meio 53
4.3 Concluso 55
Captulo 5 FSS Fractal com Geometria Simplificada 56
5.1 Introduo 56
5.2 Resultados Numricos e Experimentais 57
5.3 Concluso 70
Captulo 6 Um Mtodo simples para ajustar a Frequncia de Ressonncia
de uma FSS
71
6.1 Introduo 71
6.2 Resultados Numricos e Experimentais 72
6.3 Concluso 87
Captulo 7 Concluses 88
Referncias Bibliogrficas 90

x

Lista de Figuras

Figura 2.1 Estrutura peridica 19
Figura 2.2 Arranjo peridico: a) caso passivo; b) caso ativo 21
Figura 2.3 Exemplos de FSS com elementos do tipo patch condutor e abertura 22
Figura 2.4 Grupo 1: n-polos conectados pelo centro 23
Figura 2.5 Grupo 2: espiras 23
Figura 2.6 Grupo 3: interior slido 24
Figura 2.7 Grupo 4: combinaes 24
Figura 2.8 Sistema de medio de uma FSS 26
Figura 3.1 Nveis da curva de Koch triangular 29
Figura 3.2 Nveis do tringulo de Sierpinski 30
Figura 3.3 Conjunto de Mandelbrot 31
Figura 3.4 Exemplos de fractais aleatrios 31
Figura 3.5 Regra de formao para a obteno da curva de Koch triangular
atravs do Sistema-L
35
Figura 4.1 Princpio de funcionamento do WCIP 37
Figura 4.2 Componentes de campos transversais de uma onda eletromagntica 39
Figura 4.3 Discretizao da superfcie de incidncia das ondas 41
Figura 4.4 Circuito equivalente para um condutor perfeito 42
Figura 4.5 Circuito equivalente para um isolante perfeito 44
Figura 4.6 Circuito equivalente para uma interface dieltrico/dieltrico 45
Figura 4.7 Circuito equivalente para fonte bilateral 46
Figura 4.8 Circuito equivalente para fonte unilateral 49
Figura 4.9 Fonte distribuda 51
Figura 4.10 Fonte localizada 51
Figura 4.11 Fonte distribuda localizada 52
Figura 4.12 Estrutura composta por dois meios e uma superfcie S 53

xi

Figura 5.1 Geometria fractal de Koch (a = 4): a) k = 0; b) k = 1 e c) k = 2 56
Figura 5.2 Setup de medio 58
Figura 5.3 Clula bsica da FSS original 58
Figura 5.4 Coeficiente de transmisso (dB) x frequncia (GHz) FSS original (k
= 2 e a = 4)
59
Figura 5.5 Distribuio do mdulo do campo eltrico na FSS original, na
frequncia de ressonncia simulada, 9 GHz
60
Figura 5.6 Distribuio do mdulo da densidade de corrente eltrica na FSS
original, na frequncia de ressonncia simulada, 9 GHz
60
Figura 5.7 Clula bsica da FSS com supresso das fendas b e f 61
Figura 5.8 Coeficiente de transmisso (dB) x frequncia (GHz) FSS com
supresso das fendas b e f
62
Figura 5.9 Distribuio do mdulo do campo eltrico na 2 estrutura, na
frequncia de ressonncia simulada, 9,25 GHz
63
Figura 5.10 Distribuio do mdulo da densidade de corrente eltrica na 2
estrutura, na frequncia de ressonncia simulada, 9,25 GHz
63
Figura 5.11 Clula bsica da FSS com supresso das fendas e e c 64
supresso das fendas e e c
65
66
66
Figura 5.15 Clula bsica da FSS com supresso das fendas d e a 67
supresso das fendas d e a
68
69
69
Figura 6.1 Modelo da clula bsica da FSS proposta 71
Figura 6.2 Clula bsica da FSS original 72
Figura 6.3 Coeficiente de transmisso (dB) x frequncia (GHz) FSS original 73

xii

Figura 6.4 Distribuio do mdulo do campo eltrico na FSS original, na
74
Figura 6.5 Distribuio do mdulo da densidade de corrente eltrica na FSS
original, na frequncia de ressonncia simulada, 11,8 GHz
74
Figura 6.6 FSS proposta (w = 2 mm): a) l = 1 mm; b) l = 2 mm; c) l = 3 mm; d) l
= 4 mm e e) l = 5 mm
75
Figura 6.7 Coeficiente de transmisso (dB) x frequncia (GHz) 2 estrutura 76
77
77
Figura 6.14 Variao da frequncia de ressonncia (GHz) em funo de l (mm) 82
83
estrutura, na frequncia de ressonncia simulada, 9 GHz
83
84
84
85
85
86
estrutura, na frequncia de ressonncia simulada, 5 GHz

86

xiii

Lista de Tabelas

Tabela 3.1 Valores assumidos por
i
, e
i
e f
i
34
Tabela 5.1 Comparao das frequncias simuladas e medidas 70
Tabela 6.1 Variao da frequncia de ressonncia (GHz) em funo de l (mm) 82

xiv

Lista de Smbolos e Abreviaturas

A Onda Incidente
a Fator de iterao ou fator fractal
B Onda Refletida
D Dimenso de Hausdorff-Besicovitch
x Variao em relao ao eixo x
y Variao em relao ao eixo y
D
T
Dimenso Topolgica
E Vetor Campo Eltrico
E
i
Onda Plana Incidente
E
r
Onda Plana Refletida
Permissividade Eltrica
r
Permissividade Relativa
ERB Estao Rdio Base
E
t
Onda Plana Transmitida
FDTD Mtodo das Diferenas Finitas no Domnio do Tempo (Finite Difference Time
Domain)
FEM Mtodo dos Elementos Finitos (Finite Elemets Method)
FORTRAN Sistema de Traduo de Frmula Matemtica (Mathematical FORmula
TRANslation System)
FR-4 Substrato de Fibra de vidro
FSS Superfcies Seletivas de Frequncia (Frequency Selective Surface)
Coeficiente de reflexo

Coeficiente de reflexo do m, n-simo modo para o meio i
GTEMA Grupo de Telecomunicaes e Eletromagnetismo Aplicado
H Vetor Campo Magntico
h Altura do substrato

xv

IFPB Instituto Federal de Educao, Cincia e Tecnologia da Paraba
IFS Sistema de Funes Iteradas (Iterated Function System)
INCT-CSF Instituto Nacional de Cincia e Tecnologia de Comunicaes Sem Fio
J Vetor Densidade de Corrente Superficial
k Ordem do fractal
K Parte do operador S
xy
que atua sobre a fonte

Constante de propagao na direo z, meio i
l Dimenso da reentrncia na direo y
0
Comprimento de Onda
L
x
Dimenso do elemento da clula bsica da FSS na direo x
L
y
Dimenso do elemento da clula bsica da FSS na direo y
Permeabilidade Magntica
MoM Mtodo dos Momentos (Method of Moments)
E
Espao Euclidiano
RAM Memria de Acesso Aleatrio (Random Access Memory)
RFID Identificao por Radiofrequncia (Radio Frequency Identification)
S Superfcie
|S21| Mdulo Coeficiente de Transmisso
S
xy
Descreve o comportamento da onda ao incidir sobre a superfcie (Parmetro de
reflexo)
Coeficiente de transmisso
T
C
Operador da regio das cargas
TE Modo Transverso Eltrico
TM Modo Transverso Magntico
T
S
Parte do operador S
xy
que atua sobre a onda
w Dimenso da reentrncia na direo x
w(u) Transformao matemtica qualquer
WCIP Mtodo das Ondas (Wave Concept Iterative Procedure)
W
x
Dimenso da clula bsica da FSS na direo x
W
y
Dimenso da clula bsica da FSS na direo y

Admitncia do m, n-simo modo para o meio i
Z
0
Impedncia caracterstica do meio

xvi

Z
C
Impedncia de Carga
Z
S
Impedncia da fonte

17

Captulo 1

Introduo

Com o avano tecnolgico ocorrido nos ltimos anos e o contnuo aumento da oferta de
servios de comunicaes, em especial aplicaes de comunicaes sem fio, tem sido cada
vez maior a demanda por estruturas que operem em diferentes faixas de frequncia, e que
atendam s caractersticas requeridas como largura de banda, seletividade, dimenses e pesos
reduzidos, baixo custo, etc. As Superfcies Seletivas de Frequncia (Frequency Selective
Surfaces), ou simplesmente FSS, tem recebido grande interesse por atender a esses requisitos,
bem como pela sua capacidade de se integrar com outros circuitos de micro-ondas.
As FSS so estruturas peridicas em uma ou duas dimenses que atuam como filtros
espaciais, podendo ser formadas por elementos do tipo patches condutores ou aberturas,
funcionando como filtros rejeita-faixa ou passa-faixa, respectivamente [1]. Esse tipo de
estrutura tem um grande nmero de aplicaes e vem contribuindo para melhorar o
desempenho dos sistemas de comunicaes [2].
Para analisar as FSS, vrios mtodos tm sido utilizados, dentre eles, o Mtodo das
Ondas WCIP (Wave Concept Iterative Procedure), que um mtodo de onda completa,
baseado na incidncia da uma onda transversal sobre uma superfcie e no espalhamento dessa
onda [3].
Encontram-se na literatura, diversas formas de elementos utilizados em FSS, dentre eles,
os do tipo fractal. Observando as dimenses dos detalhes nesses elementos, possvel
questionar qual a influncia dos mesmos nas caractersticas desejadas.
Neste trabalho feita a anlise de uma FSS, composta por uma clula bsica com
motivos fractais de Koch, onde proposta uma simplificao geomtrica, a partir da anlise
da influncia dos detalhes (fendas) da geometria da mesma no comportamento da resposta em
frequncia. De forma complementar mostrado um mtodo simples de ajustar a frequncia de
ressonncia atravs da anlise de uma segunda FSS, que utiliza uma clula bsica retangular,
na qual so inseridas duas reentrncias e as dimenses dessas reentrncias so variadas,
possibilitando o ajuste da frequncia.
Captulo 1 Introduo

18

Para os dois casos avaliada, a influncia dos campos eltrico e magntico, este ltimo
atravs do vetor densidade de corrente eltrica. Na anlise numrica utilizado o Mtodo das
Ondas WCIP. Para validar os resultados obtidos numericamente, as estruturas so
caracterizadas experimentalmente.
Este trabalho est dividido em sete captulos, que so resumidos a seguir:
No captulo 2, apresentada a fundamentao terica das FSS, onde so mostrados
aspectos importantes como: tipos de arranjos, dimenses e formas dos elementos, parmetros
que influenciam no comportamento da estrutura, tcnicas de anlise e medio, bem como
algumas aplicaes.
No captulo 3, apresentada a fundamentao terica da geometria fractal, abordando
aspectos importantes como: caractersticas, tipos de fractais, dimenses, principais mtodos
utilizados para gerao de fractais, a utilizao desses mtodos para gerar a curva de Koch,
bem como algumas aplicaes.
No captulo 4, apresentada a fundamentao terica do Mtodo das Ondas, WCIP,
mostrando importantes aspectos como: o princpio de funcionamento e a formulao
matemtica do mtodo.
No captulo 5, so mostrados os resultados numricos e experimentais obtidos para a
proposta de simplificao geomtrica da FSS utilizando uma clula bsica com motivos
fractais de Koch.
No captulo 6, so mostrados os resultados numricos e experimentais obtidos para uma
FSS, que utiliza uma clula bsica retangular, com duas reentrncias, onde o ajuste da
frequncia de ressonncia feito a partir do ajuste das dimenses dessas reentrncias.
No captulo 7, so apresentadas as concluses gerais do trabalho, bem como algumas
sugestes para a sua continuidade.

19

Captulo 2

Superfcies Seletivas de Frequncia - FSS

2.1 Introduo

Uma estrutura peridica basicamente um conjunto de elementos idnticos organizados
em um arranjo finito de uma ou duas dimenses, como mostra a Figura 2.1. Esse tipo de
estrutura tem um grande nmero de aplicaes e vem contribuindo para melhorar o
desempenho dos sistemas de comunicaes [2].

Figura 2.1 Estrutura peridica.

As FSS so estruturas planares compostas de uma camada de metalizao sobre um ou
mais substratos dieltricos, que atuam como filtros espaciais, podendo operar em diferentes
faixas de frequncia. Tais estruturas possuem arranjos peridicos descritos por clulas que
podem conter elementos do tipo patches condutores ou elementos do tipo aberturas. Quando
expostas radiao eletromagntica, as caractersticas peridicas da camada de metalizao
Captulo 2 Superfcies Seletivas de Frequncia FSS

20

ressoam em determinadas frequncias que dependem das propriedades do dieltrico, da
geometria e do espaamento utilizado nas clulas condutoras [4] [6].
Em meados dos anos 60, as FSS passaram a ser extensivamente estudadas com xito e
implementadas para uso em aplicaes de radiofrequncia, uma vez que transmitem energia
eletromagntica para algumas frequncias e refletem para outras. Embora seja verdade que
devido o grande potencial de aplicaes militares, esse estudo intenso sobre tais superfcies
peridicas teve incio nessa dcada, o princpio geral de funcionamento j era conhecido [2].
Mais recentemente, a capacidade de uma FSS tem sido aumentada pela adio de
dispositivos ativos na clula unitria da estrutura peridica. A incorporao de dispositivos
que forneam ganho ou a no linearidade em uma FSS permite o desenvolvimento de arranjos
com numerosas capacidades adicionais, como oscilao, amplificao e multiplexao.
Muitos parmetros e princpios so associados s estruturas peridicas, tais como: tipo e
forma do elemento, dimenses da clula unitria (periodicidade), tipo de material dieltrico e
espessura do substrato [7], [8].
O interesse no estudo das FSS tem crescido atravs dos anos. Consequentemente as mais
variadas aplicaes para tais estruturas tem sido investigadas. Essas estruturas vm sendo
largamente utilizadas devido a sua capacidade de se integrar com outros circuitos de micro-
ondas, [4], [9], alm disso, so de fcil fabricao, de baixo custo e possuem dimenses e
pesos cada vez menores [10].
Recentemente, principalmente com a expanso dos servios de comunicaes sem fio,
aumentou consideravelmente a demanda por estruturas multifuncionais, cada vez mais
compactas e com requisitos especficos de banda passante [11], [12], o que tem motivado
diversos grupos de pesquisa a estudar novas estruturas.

2.2 Arranjos Ativos e Arranjos Passivos

Fundamentalmente, qualquer estrutura peridica pode ser ativada de duas maneiras: por
uma onda plana incidente E
i
(arranjo passivo), ou por geradores individuais conectados a cada
elemento (arranjo ativo). No caso dos arranjos passivos, uma onda incidente parcialmente
transmitida atravs da estrutura, E
t
, e o restante refletida, E
r
. No caso dos arranjos ativos, os
geradores de tenso devem possuir a mesma amplitude e variaes lineares de fase ao longo
do todo o arranjo, de forma a caracterizar a estrutura como uma superfcie peridica [2], [4].
A Figura 2.2 ilustra os dois casos.

21

Figura 2.2 Arranjo peridico: a) caso passivo; b) caso ativo.

Sob condies de ressonncia, a amplitude do sinal refletido pode ser igual amplitude
do sinal incidente quando a amplitude do sinal transmitido for igual a zero. Usualmente
define-se o coeficiente de reflexo como:

(2.1)

Onde E
r
e E
i
em geral esto referenciados ao plano do arranjo. De forma similar o coeficiente
de transmisso definido por:

(2.2)

2.3 Elementos das FSS

Uma FSS com elementos do tipo abertura funciona como um filtro passa-faixa, onde o
funcionamento ocorre da seguinte forma: medida que os elementos entram em ressonncia,

22

a estrutura torna-se transparente para a onda incidente, at que na frequncia de ressonncia
da estrutura, ocorre a transmisso total da onda.
Analogamente, uma FSS com elementos do tipo patch condutor se comporta como um
filtro rejeita-faixa. Os elementos entram em ressonncia e, dessa forma, eles radiam a
potncia incidente na direo de reflexo, at que na frequncia de ressonncia da estrutura,
ela se comporta como um condutor perfeito refletindo totalmente a onda incidente [9], [13]. A
Figura 2.3 mostra exemplos de FSS, seus circuitos equivalentes e seus comportamentos de
resposta em frequncia.

Figura 2.3 Exemplos de FSS com elementos do tipo patch condutor e abertura.

Uma FSS pode ainda ser classificada em relao espessura dos elementos como um
anteparo fino ou anteparo espesso. A FSS anteparo fino usualmente se refere a um anteparo
com elementos de circuitos impressos (patches condutores ou aberturas) com espessura menor
que 0,001
0
, onde
0
o comprimento de onda da FSS na frequncia de ressonncia. Em
geral, a FSS anteparo fino leve, de pequeno volume e pode ser fabricada com baixo custo,
atravs da tecnologia convencional de circuitos impressos.
Por outro lado, uma FSS anteparo espesso mais usada para aplicaes passa-faixa. Sua
fabricao requer uma maior preciso, portanto, o custo mais elevado [14], [15]. A
vantagem da FSS anteparo espesso que a banda de separao (razo entre a frequncia

23

transmitida e a frequncia refletida) pode ser reduzida para 1,15, o que necessrio, por
exemplo, em antenas de satlites para comunicaes multifrequenciais avanadas [7].

2.3.1 Formas de Elementos das FSS

A forma do elemento utilizado em uma FSS est diretamente relacionada com sua
frequncia de operao. O elemento ressoar e ir espalhar energia quando suas dimenses
forem mltiplas do comprimento de onda que incide sobre ele [16].
So vrios os fatores que influenciam na resposta da FSS, dentre eles: o tipo de elemento,
a geometria, os parmetros de substrato, o espaamento entre os elementos, e a dependncia
entre o ngulo de incidncia e a polarizao da onda incidente [17].
Existe uma grande variedade de pesquisas que utilizam as mais diversas formas de
elementos. Os elementos esto divididos em quatro grupos [2].
O Grupo 1 corresponde aos n-polos conectados pelo centro. As formas mais conhecidas
so o dipolo fino, dipolo cruzado, cruz de Jerusalm e o tripolo. Na Figura 2.4 so mostrados
exemplos de elementos pertencentes ao Grupo 1.

Figura 2.4 Grupo 1: n-polos conectados pelo centro.

O Grupo 2 corresponde aos elementos do tipo Espira. Os tipos mais conhecidos so: as
espiras quadradas, as quadradas duplas, quadradas com grades e anis circulares concntricos.
Na Figura 2.5 so apresentados exemplos de elementos pertencentes a esse grupo.

Figura 2.5 Grupo 2: espiras.

24

O Grupo 3 formado pelos elementos de interior slido. As formas mais conhecidas so
os patches quadrados, retangulares, hexagonais e circulares. A Figura 2.6 mostra exemplos de
elementos pertencentes ao grupo 3.

Figura 2.6 Grupo 3: interior slido.

O Grupo 4 composto por elementos formados a partir da modificao e combinao de
elementos tpicos. A lista de elementos que compem esse grupo interminvel [2], [9]. Na
Figura 2.7 so apresentados exemplos de elementos pertencentes a esse grupo.

Figura 2.7 Grupo 4: combinaes.

2.3.2 Dimenses dos Elementos

Para a anlise das dimenses dos elementos, considera-se uma FSS com arranjo peridico
de elementos do tipo dipolo. Quando o dipolo alimentado por uma fonte de radiofrequncia,
e seu comprimento mltiplo de meio comprimento de onda, o dipolo ressoar e ir espalhar
energia. Como muitos desses dipolos so dispostos como um arranjo, a energia radiada por
todos os elementos ser coerente com a direo de reflexo, onde o ngulo de reflexo igual
ao ngulo de incidncia. Isto ocorre devido ao atraso de fase na corrente de induo entre cada
elemento e o elemento posterior.
Quando a dimenso do elemento muito diferente das dimenses de ressonncia, a onda
incidente ir percorrer a FSS como se fosse transparente, entretanto, ocorrendo uma pequena

25

perda devido s propriedades do dieltrico, ao espalhamento e condutividade do metal [1],
[2], [8].

2.4 Tcnicas de Anlise de FSS

Vrios mtodos tm sido usados para anlise de FSS. Diversas frmulas aproximadas
foram desenvolvidas para verificar as caractersticas de transmisso e de reflexo das FSS.
Um dos primeiros mtodos utilizados neste tipo de anlise foi o casamento modal.
Associado ao casamento modal surgiu o mtodo dos circuitos equivalentes, possibilitando a
avaliao inicial do comportamento de uma FSS [18]. Nesta anlise, os vrios segmentos de
fita que formam o elemento patch em um arranjo peridico so modelados como
componentes indutivos e capacitivos em uma linha de transmisso. Da soluo do circuito
resultante so fornecidas as caractersticas de reflexo e transmisso da FSS. Esta tcnica
bastante eficiente, porm limitado em preciso, pois o mtodo utiliza a aproximao quase-
esttica para calcular as componentes do circuito [1], [19].
Com o avano dos recursos computacionais, outros mtodos passaram a ser utilizados,
citando-se o mtodo das diferenas finitas no domnio do tempo, FDTD, que possibilita a
anlise de qualquer tipo de elemento, assim como a anlise das perdas dieltricas e/ou
magnticas e a anlise de estruturas no homogneas [20], o mtodo dos elementos finitos,
FEM, o mtodo do vetor potencial de Hertz e o mtodo dos momentos, MoM [18], [21], que
usado para resolver a equao integral, reduzindo o nmero infinito de coeficientes
desconhecidos a um nmero finito de equaes contendo o mesmo nmero de coeficientes
desconhecidos [1].
O FDTD e o FEM apresentam a vantagem da flexibilidade na forma da FSS, entretanto,
requerem um esforo computacional elevado. Por outro lado, mtodos como o MoM e o do
vetor potencial de Hertz, que no requerem tanto esforo computacional, apresentam
limitaes quanto forma das FSS.
A partir de meados dos anos 90 foi desenvolvido o Mtodo das Ondas, um processo
iterativo, mais conhecido na literatura por Wave Concept Iterative Procedure, WCIP, baseado
em princpios relativamente simples e com diversas aplicaes [22], [23]. Este mtodo tem
como caractersticas a necessidade relativamente reduzida de recursos computacionais e a
flexibilidade quanto forma da estrutura planar.

26

Em conjunto com esses mtodos, podem ser utilizadas tcnicas de inteligncia artificial
para anlise e/ou sntese de FSS, como por exemplo, as redes neurais e os algoritmos
genticos [4].

2.5 Tcnicas de Medio de FSS

Vrios mtodos tm sido usados para medir as propriedades de transmisso e de reflexo
de uma FSS. Para testar o comportamento da potncia transmitida em uma medio de uma
FSS pode-se utilizar uma cmera anecica.
O sistema de medio utiliza antenas cornetas direcionais de ganhos padres como
elementos de transmisso e recepo, como pode ser visto na Figura 2.8. Para medir as
caractersticas de transmisso nos modos TE e TM da FSS em teste, posicionada entre as duas
antenas cornetas, altera-se a polarizao das antenas de vertical para horizontal [7]. Em
relao s caractersticas de reflexo das FSS, podem ser obtidos dados errados devido s
difraes, que podem ser atribudas grande largura de feixe das antenas e ao pequeno
tamanho da FSS [24].

Figura 2.8 Sistema de medio de uma FSS.

Outro procedimento utilizado para uma medio onde se necessita de uma maior preciso
o que utiliza antenas cornetas e lentes, no qual possvel medir os coeficientes de

27

transmisso e de reflexo em ambas as polarizaes. O efeito de difrao nas extremidades
reduzido significativamente, desde que um feixe estreito Gaussiano das lentes incida sobre a
FSS [7].

2.6 Aplicaes

As FSS possuem inmeras aplicaes. Inicialmente, as aplicaes estavam concentradas
no uso em sub-refletores do tipo Cassegrain de antenas parablicas. Atualmente as aplicaes
envolvem, entre outras, radomes, sistemas de antenas para avies, foguetes e msseis, filtros
eletromagnticos para antenas refletoras e estruturas absorvedoras [18], [25], [26].
A aplicao mais conhecida o anteparo da porta do forno de micro-ondas que possui a
caracterstica de um filtro passa-faixa, deixando passar a faixa de frequncia de luz visvel e
rejeitando a faixa de micro-ondas. Este anteparo consiste de um arranjo peridico de orifcios
metlicos, projetado para refletir energia na faixa de frequncia em torno de 2,45 GHz e
permitir a passagem da luz [4], [7], [8], [12], [14], [18].
Em um sistema com duplo refletor, uma FSS pode ser usada como sub-refletor. Em
sistemas como este, so utilizados diferentes alimentadores independentemente colocados no
foco real e virtual do sub-refletor. Consequentemente, apenas um refletor principal
necessrio para a operao multifrequencial. Desta forma so conseguidas significativas
redues na massa, no volume e no custo da antena com a FSS utilizada como sub-refletor.
Para uma antena refletora multifuncional so necessrias FSS de alto desempenho para
demultiplexar duas faixas separadas ou multiplexar trs ou quatro faixas [7].
Os radomes de FSS com elementos do tipo abertura podem ser projetados para produzir
caractersticas passa-faixa. O radome pode ser projetado, por exemplo, para uso acoplado a
superfcies de automveis ou aeronaves, para garantir um espalhamento mnimo do sinal [1],
[27].
Na literatura tem sido encontrada a aplicao de FSS multicamadas, como por exemplo, o
cascateamento dessas estruturas para bloquear sinais de comunicao [28]. Um exemplo bem
simples caso de FSS utilizada como painel que bloqueia o sinal de redes sem fio. Os painis
podem ser usados como papis de paredes em locais como escritrios (cobrindo inclusive
janelas), impedindo o acesso no autorizado rede sem fio de empresas. Esses painis podem
atuar nas verses passiva ou ativa. Na verso passiva, a barreira torna-se permanente,
impedindo o acesso em uma determinada rea. J na verso ativa, possvel que o acesso a

28

uma determinada rea seja ligado ou desligado, possibilitando, caso necessrio, o aumento ou
diminuio do alcance de uma rede. Estes painis filtram o sinal da rede sem fio, e permitem
que outros sinais como, por exemplo, as ondas de rdio e redes celulares continuem a ser
recebidos normalmente [29], [30].
Nos ltimos anos, com o uso difundido de celulares, o rudo gerado pelo uso desses
aparelhos em locais pblicos, por exemplo, tornou-se cada vez maior. Para solucionar este
problema, ondas eletromagnticas ou sinais podem ser bloqueados entre a ERB e o telefone
celular, atravs do uso de FSS, funcionando como filtro rejeita-faixa, colocados em paredes,
janelas e outras localidades [31].

2.7 Concluso

Neste captulo foi apresentada a fundamentao terica das Superfcies Seletivas de
Frequncia. Foram mostrados aspectos importantes como: tipos de arranjos, dimenses e
formas dos elementos, parmetros que influenciam no comportamento da estrutura, tcnicas
de anlise, tcnicas de medio, bem como algumas aplicaes desse tipo de estrutura.

29

Captulo 3

Geometria Fractal

3.1 Introduo

O termo fractal foi introduzido em 1975 por Benoit Mandelbrot [32], [33]. A palavra
fractal foi originada do radical fractus, derivado do verbo frangere, que quer dizer quebrar,
fragmentar. Segundo o prprio Mandelbrot, fractais so conjuntos onde a dimenso de
Hausdorff-Besicovitch (dimenso fractal) excede a dimenso topolgica [34], [35]. Os
mtodos que envolvem o conceito de dimenso fractal referem-se ao espao ocupado ou
preenchido por uma figura [1].
Um fractal uma forma geomtrica fragmentada, que pode ser subdividida em partes,
onde cada parte menor do objeto ou processo fractal se assemelha ao todo, ou seja, possui
uma relao de auto-similaridade ou auto-semelhana [36]. Quando um objeto
geometricamente auto-similar examinado com maior resoluo, pequenas rplicas do todo
so distinguidas. A dimenso de auto-similaridade descreve quantas vezes as partes do objeto
similares ao todo so distinguidas, na medida em que a resoluo aumenta [34]. Para
exemplificar, considere-se um fractal bastante conhecido, a curva de Koch triangular,
mostrada na Figura 3.1, que para um fator fractal a = 3, esta curva criada pela substituio
de um segmento de reta por trs outros segmentos com um tero do comprimento original. O
fractal o resultado da repetio infinita desse processo.

Figura 3.1 Nveis da curva de Koch triangular.
Captulo 3 Geometria Fractal

30

Os fractais so um desenvolvimento de geometria moderna que encontra aplicaes em
muitos ramos da cincia e da tecnologia, desde a biologia at a engenharia [36].
O fractal gerado atravs de frmulas matemticas, a partir de funes reais ou
complexas, muitas vezes simples, que quando aplicadas de forma iterativa, produzem formas
geomtricas abstratas, com padres complexos, que se repetem infinitamente [37]. Existem
trs categorias principais de fractais: os fractais geomtricos, que possuem uma regra fixa de
substituio geomtrica, como por exemplo, o tringulo de Sierpinski, mostrado na Figura
3.2; os fractais definidos por uma relao de recorrncia em cada ponto do espao, tambm
chamados de fractais de fuga do tempo, como por exemplo, o conjunto de Mandelbrot,
mostrado na Figura 3.3; e os fractais aleatrios, gerados por processos estocsticos, como por
exemplo, terrenos fractais [1]. A Figura 3.4 mostra exemplos de fractais aleatrios.
Os fractais geomtricos podem ser utilizados em FSS para que seja investigado, por
exemplo, o efeito destes elementos no ajuste da frequncia de ressonncia da estrutura.

Figura 3.2 Nveis do tringulo de Sierpinski.


31

Figura 3.3 Conjunto de Mandelbrot.

Figura 3.4 Exemplos de fractais aleatrios.

3.2 Caractersticas dos Fractais

A principal caracterstica de um fractal a auto-similaridade ou a auto-semelhana.
Existem trs tipos de auto-similaridade: auto-similaridade exata, onde o fractal idntico em
diferentes escalas; a quase auto-similaridade, onde o fractal apresenta pequenas cpias do
fractal inteiro de forma distorcida ou degenerada; e a auto-similaridade estatstica, onde o
fractal possui medidas numricas ou estatsticas que so preservadas em diferentes escalas [1].


32

3.2.1 Dimenso Fractal

A dimenso da geometria fractal pode ser definida de vrias maneiras, como por
exemplo, a dimenso topolgica, a dimenso Euclidiana, a dimenso auto-similar e a
dimenso de Hausdorff-Besicovitch [36].
Pela definio de Euclides, um ponto tem dimenso (0), uma curva tem dimenso (1),
uma superfcie tem dimenso (2) e uma poro qualquer do espao tem dimenso (3). Para
determinar a dimenso topolgica de um objeto, recorre-se ao estabelecimento de uma
correspondncia unvoca desse objeto com um desses entes geomtricos fundamentais, ou
seja, medida que vo se formando objetos decorrentes de vrias iteraes, o objeto
geomtrico criado sempre semelhante quele que lhe deu origem. Ao se utilizar esses
mtodos para o clculo da dimenso, estar sendo expresso algo diferente da dimenso
topolgica. Os mtodos que envolvem o conceito de dimenso fractal referem-se ao espao
ocupado ou preenchido por uma figura.
No clculo efetivo da dimenso de alguns objetos, tais mtodos permitem que o resultado
seja um nmero fracionrio. Nem sempre a dimenso fractal fracionria, porm a dimenso
fracionria uma caracterstica que as figuras tradicionais no possuem [38].
Como sempre se utiliza o espao Euclidiano (
E
), a dimenso de Hausdorff-Besicovitch
(D) e a dimenso topolgica (D
T
), possuem um valor mnimo igual a zero e um valor mximo
igual a E. A dimenso topolgica sempre representada por nmeros inteiros, porm a
dimenso de Hausdorff-Besicovitch pode ser representada por nmeros fracionrios. As duas
dimenses devem satisfazer a desigualdade de Szpilrajn [39]:

(3.1)
onde D dado por:

(3.2)

onde n representa o nmero de segmentos da figura e r a razo de similaridade. No limite
quando n tende ao infinito, obtm-se um fractal ideal.


33

3.3 Gerao de Fractal

Os mtodos utilizados para calcular a dimenso fractal de um conjunto, fazem uso da
caracterstica de auto-similaridade para a obteno de rplicas menores do objeto, decorrentes
de sua diviso [40]. O Sistema de funes Iteradas (IFS Iterated Function System) e o
Sistema de Lindenmayer (Sistema-L) esto entre os mtodos mais usados para gerao de
fractais geomtricos [41].

3.3.1 Mtodo IFS

O Sistema de Funes Iteradas, IFS, foi desenvolvido em 1986, pelo matemtico ingls
Michael Barnsley. Este mtodo baseado em transformaes matemticas, tais como:
contrao, reflexo, rotao e translao.
Os fractais so definidos como o limite do processo iterativo de um conjunto finito de
transformaes afins w(u), que so aplicadas em uma figura inicial arbitrria [32], [42], [43].
Pode-se definir a transformao afim no plano w(u) =
2
2
, atravs de:

(3.3)

Onde T a uma transformao linear no-singular, u
T
= (x y) e v so vetores pertencentes
a
2
. A mesma transformao afim pode ser escrita da forma matricial, como mostra a
equao (3.4).

(3.4)

Onde a, b, c, d, e e f so escalares. Para exemplificar a gerao de fractais atravs do
mtodo IFS, considere-se a curva de Koch. Esta curva obtida a partir de uma reta, atravs de
quatro transformaes w
i
=
2
2
, de acordo com a equao (3.5):

(3.5)


34

Onde
i
, e
i
e f
i
assumem os valores da Tabela 3.1. As quatro transformaes fazem a
contrao de 1/3; w
2
faz uma rotao de /3 rad e uma translao de uma unidade para a
direita; w
3
faz uma rotao de /3 rad e uma translao de 3/2 unidades para a direita e
unidades para cima; e w
4
faz uma translao de 3/2 unidades para a direita.

Tabela 3.1 Valores assumidos por
i
, e
i
e f
i
.
i
i
e
i
f
i

1 0 0 0
2 /3 1 0
3 -/3 3/2

4 0 2 0

3.3.2 Sistema-L

O Sistema de Lindenmayer, Sistema-L, foi desenvolvido em 1968 pelo bilogo Aristid
Lindenmayer. Este sistema tambm conhecido como um sistema gerador de fractais por
cadeias de caracteres [36]. Inicialmente ele foi usado para modelar o processo de crescimento
de plantas e descrever o desenvolvimento de organismos multicelulares.
Para construir os fractais no Sistema-L so utilizados elementos grficos representados
por letras do alfabeto. As regras formativas podem ser representadas por cadeias de
caracteres. Essas cadeias iro armazenar toda a informao necessria para a construo do
fractal.
So adotadas algumas convenes para a representao dos comandos grficos nas
cadeias de caracteres [1], sendo eles:
Segmentos so denotados por letras maisculas e minsculas;
Um incremento positivo no ngulo, denotado por (+), significa uma mudana de
direo no sentido horrio;
Um incremento negativo no ngulo, denotado por (), significa uma mudana de
direo no sentido anti-horrio.

Para exemplificar a gerao de fractais gerados atravs do Sistema-L, considere-se a
curva de Koch triangular. Para iniciar a construo do fractal, so definidas a clula matriz e a

35

regra de formao, determinando como a cadeia de caracteres ir se proliferar. necessrio
estabelecer um limite n para o nmero de iteraes utilizadas na construo do fractal [1]. O
passo seguinte estabelecer um segmento que representa a clula matriz, aqui representado
por K. Divide-se o segmento de reta em trs partes iguais. O segmento do meio substitudo
por um tringulo equiltero sem a base, obtendo-se assim uma poligonal, como mostra a
Figura 3.5. Observando o processo de construo da esquerda para a direita, temos:
Um segmento de reta K;
Um incremento no ngulo no sentido anti-horrio ();
Um segmento K seguido de dois incrementos no ngulo no sentido horrio (++);
Um segmento K seguido de um incremento no ngulo no sentido anti-horrio ();
Um segmento K.

Ento a regra geral utilizada KK++KK, ou seja, a cada nova etapa, substitui-se o K
da etapa anterior pelo conjunto KK++KK, mantendo os caracteres (+) ou (). Dessa forma
temos:
n = 0: K;
n = 1: KK++KK;
n = n: KK++KK...

Figura 3.5 Regra de formao para a obteno da curva de Koch triangular atravs do
Sistema-L.


36

3.4 Aplicaes de Fractal

Encontra-se na literatura, aplicaes de fractais em diferentes reas como: cincias
humanas, cincias exatas e biolgicas.
Na medicina, so reconhecidas caractersticas fractais em fenmenos cardacos,
pulmonares e na atividade cerebral. Descobertas recentes mostram que o corao bate a um
ritmo fractal. Recentemente, alguns trabalhos tm proposto explcita ou implicitamente que,
sendo a vasculatura retnica um fractal, possvel prevenir ou diagnosticar doenas retnicas.
Para o diagnstico automatizado desse tipo de doena e tambm para a anlise fractal da sua
rvore vascular, necessrio filtrar da imagem retinogrfica, apenas aquilo que corresponde
aos vasos, processo denominado segmentao vascular, feita a partir de softwares
especializados [34].
Na biologia, utilizam-se caractersticas fractais como base para a identificao de
processos evolutivos de plantas e para descrever o desenvolvimento de organismos
multicelulares [1].
Na economia, a anlise das bolsas indica que a curto prazo, os valores de aes
apresentam comportamento aparentemente aleatrio, mas se comportam com um certo padro
a mdio e longo prazo.
Na computao grfica, os fractais esto sendo muito utilizados para efeitos especiais em
filmes [36].
Na engenharia, as aplicaes so as mais variadas. Por apresentar comportamento
multibanda e a capacidade de miniaturizao, vrios tipos de geometria fractal esto sendo
utilizados em filtros de linha acoplada, arranjos de FSS e em projetos de antenas como, por
exemplo, para aplicaes em redes sem fio e para leitores da Tecnologia de Identificao por
Radiofrequncia RFID.

3.5 Concluso

Neste captulo foi apresentada a fundamentao terica da geometria fractal. Foram
abordados aspectos importantes como: caractersticas, tipos de fractais, dimenses, principais
mtodos utilizados para gerao de fractais, mostrando a utilizao desses mtodos para gerar
a curva de Koch, bem como algumas aplicaes da geometria fractal.
37

Captulo 4

Mtodo das Ondas WCIP

4.1 Introduo

A partir de meados dos anos 90 foi desenvolvido o Mtodo das Ondas, um processo
iterativo, mais conhecido na literatura por Wave Concept Iterative Procedure, ou
simplesmente WCIP, baseado em princpios relativamente simples e com diversas aplicaes
[22], [23].
A necessidade relativamente reduzida de recursos computacionais e a flexibilidade
quanto forma da estrutura planar so caractersticas do WCIP, o que torna a sua aplicao
particularmente interessante na anlise de FSS.

4.2 Princpio de Funcionamento do WCIP

O mtodo das Ondas, WCIP baseia-se em um princpio relativamente simples que pode
ser ilustrado a partir da Figura 4.1, onde:
Os dois meios, I e II, em uma regio limitada do espao, esto separados por uma
superfcie S;
Uma onda A
0
incide perpendicularmente na superfcie S, a partir do meio I, na
direo n, no sentido positivo.

Figura 4.1 Princpio de funcionamento do WCIP.
Captulo 4 Mtodo das Ondas WCIP

38

Ao incidir sobre a superfcie, a onda A
0,I
sofre dois processos: uma parte passa para o
meio II, B
1,II
, na direo n, no sentido positivo e; outra parte refletida, B
1,I
, retornando ao
meio I, na direo n, no sentido negativo.
Em funo dos limites e das condies de propagao na regio I a onda B
1,I
sofre uma
nova reflexo, dando origem a onda A
1,I
.
A onda A
1,I
incide perpendicularmente na superfcie S e o processo se repete.
Analogamente, a onda B
1,II
sofre uma reflexo no meio II, dando origem a onda A
1,II
.
Aps a k-sima repetio do processo, a onda resultante sobre a superfcie S ser a soma
de todas as ondas incidentes e refletidas. Se parte da potncia absorvida a cada iterao, seja
pelas caractersticas da superfcie S, ou pelas condies de propagao nos meios I e II, o
processo converge e os somatrios das ondas incidentes, A, e refletidas, B, podem ser
determinados. Matematicamente tm-se [21], [44]:

(4.1)

(4.2)
onde:
S
xy
descreve o comportamento da onda ao incidir sobre a superfcie (domnio
espacial);
descreve o comportamento da onda ao se propagar no meio (domnio
espectral/modal).
Portanto, so dois pontos a serem analisados: a incidncia ou reflexo da onda na
superfcie S e a propagao ou reflexo da onda no meio.

4.2.1 Relao entre Ondas e Campos

Uma onda eletromagntica pode ser descrita atravs das suas componentes de campo
eltrico, E, e magntico, H.
As ondas incidentes e refletidas se relacionam com as amplitudes de campo transversais
atravs das equaes (4.3) e (4.4):


39

(4.3)

(4.4)

Sendo Z
0
a impedncia caracterstica do meio, dada por:

(4.5)
Entretanto, ao invs do vetor campo magntico, H, em geral utilizado o vetor densidade
de corrente superficial, J , definido por:

(4.6)
A utilizao do vetor densidade de corrente superficial decorre de vantagens tal como: o
vetor J apresenta a mesma natureza do vetor H.
Para uma estrutura propagando modos TE e TM os vetores E e J

so colineares, como
mostra a Figura 4.2.

Figura 4.2 Componentes de campos transversais de uma onda eletromagntica.

Substituindo (4.6) em (4.3) e em (4.4), temos:


40

(4.7)

(4.8)

De (4.7) e (4.8) obtm-se as expresses para os vetores E e J

em funo das ondas
incidentes e refletidas. Desta forma:

(4.9)

(4.10)

A partir dos valores de E e J , determinados sobre a superfcie do circuito, parmetros tais
como impedncia e frequncias de ressonncia, podem ser calculados e, dessa forma, o
circuito caracterizado. No WCIP essa caracterizao realizada em diferentes domnios,
sejam eles, espacial, espectral e modal, o que no aqui detalhado.

4.2.2 Incidncia/Reflexo da Onda na Superfcie S

A anlise da incidncia/reflexo da onda na superfcie S realizada no domnio espacial.
A superfcie discretizada em pixels de dimenso x x y, mostrada na Figura 4.3, e a regio
delimitada por cada pixel caracterizada como sendo uma interface do tipo: condutor
perfeito, isolante perfeito e dieltrico/dieltrico. Alm das interfaces j citadas, existem ainda
os pixels que delimitam regies de: fontes e cargas.

41

Figura 4.3 Discretizao da superfcie de incidncia das ondas.

Dessa forma, a cada pixel corresponde um parmetro de reflexo S
xy
. Destaque-se que a
princpio, cada ponto S
xy
pode corresponder ao centro geomtrico do pixel ou simplesmente a
um ponto da superfcie.

4.2.2.1 Determinao do Parmetro de Reflexo S
xy

A determinao do parmetro de reflexo para cada uma das regies citadas encontra-se
detalhada em [22], [45] [48]. Basicamente consiste em impor as condies de contorno s
componentes transversais de campo eltrico e/ou do vetor densidade de corrente superficial. A
seguir sero apresentados alguns casos. Fica subentendido que as componentes E e J citadas
so as componentes tangenciais.

a) Condutor perfeito

Para um condutor perfeito as componentes de campo eltrico se anulam na superfcie,
como mostrado na Figura 4.4.

42

Figura 4.4 Circuito equivalente para um condutor perfeito.

Detalhando (4.9) e (4.10) tem-se:

(4.11)

(4.12)

(4.13)

(4.14)
De (4.11) e (4.13) tem-se:

(4.15)
(4.16)

Adotando a seguinte notao:


43

(4.17)

Tem-se que:
(4.18)
(4.19)
(4.20)
(4.21)

(4.22)

Analogamente:

(4.23)

Finalmente, o operador S
xy
para uma incidncia sobre um metal perfeito, pode ser dado
por:

(4.24)

b) Isolante perfeito

Para um isolante perfeito, as componentes do vetor densidade de corrente superficial so
nulas na superfcie, como ilustra a Figura 4.5.

44

Figura 4.5 Circuito equivalente para um isolante perfeito.

Aplicando as condies de contorno e suprimindo os ndices x e y, temos:

(4.25)

(4.26)
Analogamente, o operador S
xy
para uma incidncia sobre um isolante perfeito :

(4.27)

c) Dieltrico/dieltrico

Para uma interface do tipo dieltrico/dieltrico as componentes de campo eltrico so
iguais e diferentes de zero. A soma das componentes do vetor densidade de corrente
superficial se anula na superfcie, como pode ser visto na Figura 4.6.

45

Figura 4.6 Circuito equivalente para uma interface dieltrico/dieltrico.

Aplicando as condies de contorno, temos:

(4.28)

(4.29)
De onde se obtm:

(4.30)
Sendo .

d) Fontes

Para as fontes, assim como as cargas, so considerados dois casos: unilateral e bilateral.


46

i Fonte bilateral

Para este caso uma fonte de campo eltrico E
0
e uma impedncia dessa fonte Z
S
esto
associadas a uma determinada regio da superfcie S, conectando-se os dois meios, como
mostrado na Figura 4.7. Aplicando a Lei de Ohm:

(4.31)

Figura 4.7 Circuito equivalente para fonte bilateral.

Substituindo (4.9) e (4.10) em (4.31), temos:

(4.32)

(4.33)

Dividindo (4.32) por e (4.33) por , temos:


47

(4.34)

(4.35)

De onde se obtm, aps as devidas simplificaes:

(4.36)

(4.37)

Denominando:

(4.38)

(4.39)

(4.40)

(4.41)

48

(4.42)

(4.43)

Portanto, na regio da fonte bilateral, o operador S
xy
passa a ser composto por duas partes,
uma denominada TS que atua sobre a onda e a outra denominada K, que atua sobre a fonte,
mostrado na equao (4.44).

(4.44)

Ou ainda,

(4.45)


49

ii Fonte unilateral

Para este caso, uma fonte de campo eltrico E
0
e uma impedncia dessa fonte Z
S
, esto
associadas a uma determinada regio da superfcie S, conectando-se apenas a um dos meios,
como mostra a Figura 4.8. Arbitrariamente aqui foi escolhido o meio I.

Figura 4.8 Circuito equivalente para fonte unilateral.

Aplicando a Lei de Ohm:

(4.46)

Substituindo (4.9) e (4.10) em (4.46), temos:

(4.47)

Reescrevendo (4.47),

(4.48)

50

Concluindo,

(4.49)

Para o meio II temos:
(4.50)

Portanto, na regio da fonte unilateral, tem-se que:

(4.51)

(4.52)

(4.53)

(4.54)

(4.55)

(4.56)

Ou ainda,

(4.57)


51

importante destacar que o termo [K]E
0
nas equaes (4.45) e (4.57) corresponde a uma
fonte localizada, A
0
, ou seja, uma fonte definida em apenas uma regio limitada do espao.
Alm disso, destaque-se ainda que, inicialmente foram consideradas apenas duas
possibilidades para a configurao das fontes: fontes distribudas e fontes localizadas.
As fontes distribudas so definidas em todas as regies acima da superfcie e em toda a
regio, como ilustra a Figura 4.9, no ocorrendo modificao dos parmetros de
espalhamento, S
xy
.

Figura 4.9 Fonte distribuda.

As fontes localizadas so definidas na superfcie, em uma determinada regio, como pode
ser visto na Figura 4.10, e alteram o espalhamento na regio onde a fonte definida.

Figura 4.10 Fonte localizada.


52

Entretanto, existe ainda uma terceira possibilidade, onde a fonte est localizada acima da
superfcie, porm em uma regio limitada, como mostrado na Figura 4.11. Neste caso, os
parmetros de espalhamento no so modificados.

Figura 4.11 Fonte distribuda localizada.

e) Cargas

Na regio de cargas, o operador S
xy
, passa a ser denominado TC e as suas expresses
podem ser obtidas diretamente das expresses do operador na regio das fontes, fazendo a
fonte de campo eltrico igual a zero, E
0
= 0, tanto para o caso unilateral quanto para o
bilateral. Assim sendo, nas regies das cargas, o operador TC corresponde ao operador da
regio das fontes com o termo [K] = [0], equao (4.58). Naturalmente, a impedncia da fonte
Z
S
substituda pela impedncia de carga, Z
C
.

(4.58)

i Carga bilateral

De (4.45), temos:

(4.59)

53

ii Carga unilateral

De (4.57), temos:

(4.60)

4.2.3 Propagao/Reflexo da Onda no Meio

A anlise da propagao/reflexo da onda no meio realizada no domnio modal, ou seja,
a onda decomposta em seus modos TE e TM. Para cada modo calculado o respectivo
coeficiente de reflexo, considerando as caractersticas do meio e a frequncia de operao,
como ilustra a Figura 4.12.

Figura 4.12 Estrutura composta por dois meios e uma superfcie S.

O coeficiente de reflexo dado por:

(4.61)


54

= modos (TE, TM).

Onde:

(4.62)

= Admitncia do m, n-simo modo para o meio i com espessura infinita.

(4.63)

= Admitncia do m, n-simo modo para o meio i terminado em
parede eltrica.

(4.64)

= Admitncia do m, n-simo modo para o meio i terminado em parede
magntica.

(4.65)

= Impedncia caracterstica do meio i.

(4.66)

= Constante de propagao na direo z, meio i.

(4.67)


55

= Admitncia do m, n-simo modo TE para o meio i.

(4.68)

= Admitncia do m, n-simo modo TM para o meio i.

4.3 Concluso

Neste captulo foi apresentada a fundamentao terica do Mtodo das Ondas, WCIP.
Foram apresentados importantes aspectos como: o princpio de funcionamento e a formulao
matemtica do mtodo, com a finalidade de possibilitar uma maior compreenso desta tcnica
de anlise. Este mtodo ser utilizado para a anlise numrica das estruturas que sero
apresentadas nos captulos 5 e 6.

56

Captulo 5

FSS Fractal com Geometria Simplificada

5.1 Introduo

Neste captulo analisada uma FSS com clula bsica utilizando como elemento os
motivos fractais de Koch. A geometria fractal de Koch caracterizada por dois fatores: o fator
de iterao (fator de escala) ou fator fractal a e a ordem do fractal k [3], como mostra a
equao (5.1). O fator fractal representa a lei de construo dos fractais, e a ordem do fractal
indica quantos processos iterativos sero executados [1]. A Figura 5.1 ilustra a geometria
fractal de Koch, com a = 4 e k = 0, 1 e 2.

(5.1)

Figura 5.1 Geometria fractal de Koch (a = 4): a) k = 0; b) k = 1 e c) k = 2.

Para este trabalho, inicialmente a clula unitria com geometria fractal original
caracterizada numericamente utilizando o WCIP. A partir dessa clula original e da anlise do
Captulo 5 FSS Fractal com Geometria Simplificada

57

comportamento dos seus campos eltrico e magntico, so propostas simplificaes
geomtricas e avaliadas as consequncias dessas simplificaes na frequncia de ressonncia.

5.2 Resultados Numricos e Experimentais

Para a anlise numrica das estruturas foi utilizado o Mtodo das ondas - WCIP, descrito
no captulo 4. Considere-se uma clula unitria de superfcie S, sobre a qual desenhada a
estrutura a ser analisada. Para descrever essa estrutura, a superfcie S discretizada atravs de
uma malha de n
x
x n
y
pontos, originando uma malha de (n
x
1) x (n
y
1) pixels, x x y. Em
cada pixel, a natureza da interface (superfcie metlica, superfcie magntica, superfcie
dieltrica, fonte ou carga) descrita pelo respectivo operador espalhamento [49]. O processo
de mltiplas reflexes iniciado a partir de condies iniciais e finalizado quando a
convergncia alcanada.
Na realizao das simulaes foi utilizado um programa computacional implementado na
linguagem FORTRAN, chamado wcipag07. Este programa foi executado em um
computador pessoal, com processador Pentium Dual-Core, com relgio de 2 GHz e memria
RAM de 2 GB. Em todas as simulaes, para descrever a clula unitria, foram utilizados 103
x 81 pontos, definidos pela quantidade de pixels necessria para descrever as estruturas, sendo
considerado que a convergncia alcanada com 500 iteraes. Considerou-se o campo
eltrico polarizado na direo x.
Para validar os resultados numricos obtidos utilizando o WCIP, as estruturas foram
caracterizadas experimentalmente, sendo a FSS composta por 16 x 25 clulas, 200 mm x 200
mm. O substrato utilizado foi o FR-4, com
r
= 4,4 e altura h = 1,5 mm. A faixa de frequncia
utilizada para a anlise numrica e para a caracterizao experimental foi de 7 GHz a 13,5
GHz . Foi feita a medio da curva de referncia, e os valores obtidos foram subtrados dos
valores medidos para cada estrutura. A determinao das frequncias de ressonncia foi
realizada a partir da simulao e medio do mdulo coeficiente de transmisso, |S21|.
A caracterizao experimental foi realizada no laboratrio de medidas em micro-ondas do
GTEMA/IFPB, utilizando um analisador de redes vetorial, modelo N5230A Agilent e duas
antenas tipo corneta para a banda X. Foram utilizados ainda cabos, adaptadores de coaxial
para guias de ondas, suportes e demais acessrios. Foi estabelecida uma distncia fixa entre as
duas antenas para assegurar que a FSS estivesse na regio de campos distantes. A Figura 5.2
mostra um exemplo de setup de medio.

58

Figura 5.2 Setup de medio.

Inicialmente, considera-se neste trabalho uma clula unitria original de dimenses W
x
=
12 mm, W
y
= 8 mm, L
x
= 8 mm e L
y
= 6 mm, com k = 2 e a = 4, ilustrada na Figura 5.3. As
dimenses das fendas (a, b, c, d, e e f) so 0,75 mm x 0,5625 mm.

Figura 5.3 Clula bsica da FSS original.

59

A anlise mostra que a FSS original possui frequncia de ressonncia em 9 GHz a -28 dB
para a simulao e em 9,3 GHz a -37 dB para a medio, como pode ser visto na Figura 5.4.

Figura 5.4 Coeficiente de transmisso (dB) x frequncia (GHz) FSS original utilizando (k
= 2 e a = 4).

Para avaliar a influncia dos detalhes (fendas) existentes na estrutura analisado o
comportamento dos campos eltrico, Figura 5.5, e magntico, este ltimo atravs do vetor
densidade de corrente eltrica, Figura 5.6, para a frequncia de ressonncia encontrada na
simulao.
7 7.5 8 8.5 9 9.5 10 10.5 11 11.5 12 12.5 13 13.5
-40
-35
-30
-25
-20
-15
-10
-5
0
Frequncia (GHz)
C
o
e
f
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c
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e

d
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r
a
n
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i
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s
o

(
d
B
)

WCIP
Medido


60

Figura 5.5 Distribuio do mdulo do campo eltrico na FSS original, na frequncia de
ressonncia simulada, 9 GHz.

Figura 5.6 Distribuio do mdulo da densidade de corrente eltrica na FSS original, na
frequncia de ressonncia simulada, 9 GHz.


61

Da anlise feita, devido a polarizao utilizada, verificou-se que na maior parte dos
detalhes (fendas), praticamente no h influncia dos campos eltrico e magntico. A maior
intensidade de campos eltrico e magntico encontra-se na regio das fendas assinaladas
como d e a.
Diante dessa observao as fendas so gradativamente retiradas atravs da metalizao da
superfcie correspondente. A nova estrutura caracterizada numericamente, observando-se a
influncia das modificaes na frequncia de ressonncia.
A primeira simplificao a supresso das fendas assinaladas como b e f, originando a
estrutura ilustrada na Figura 5.7.

Figura 5.7 Clula bsica da FSS com supresso das fendas b e f.

As modificaes introduzidas, praticamente no alteraram a frequncia de ressonncia.
Com essa primeira simplificao, a resposta encontra-se em 9,25 GHz a -30 dB para a
simulao e em 9,47 GHz a -47 dB para a medio, como mostra a Figura 5.8.

62

Figura 5.8 Coeficiente de transmisso (dB) x frequncia (GHz) FSS com supresso das
fendas b e f.

As Figuras 5.9 e 5.10 mostram o comportamento do campo eltrico e da densidade de
corrente eltrica, respectivamente, gerados para a frequncia de ressonncia encontrada na
simulao dessa segunda estrutura. Assim como na FSS original, possvel constatar que para
essa segunda estrutura, a maior intensidade de campos eltrico e magntico encontra-se na
regio das fendas assinaladas como d e a.

7 7.5 8 8.5 9 9.5 10 10.5 11 11.5 12 12.5 13 13.5
-50
-45
-40
-35
-30
-25
-20
-15
-10
-5
0
Frequncia (GHz)
C
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Medido


63

Figura 5.9 Distribuio do mdulo do campo eltrico na 2 estrutura, na frequncia de
ressonncia simulada, 9,25 GHz.

Figura 5.10 Distribuio do mdulo da densidade de corrente eltrica na 2 estrutura, na
frequncia de ressonncia simulada, 9,25 GHz.

64

A segunda simplificao a supresso das fendas assinaladas como e e c, dando origem
estrutura mostrada na Figura 5.11.

Figura 5.11 Clula bsica da FSS com supresso das fendas e e c.

Para essa nova estrutura, observa-se que a frequncia de ressonncia manteve-se
praticamente constante em 9,25 GHz a -28 dB para a simulao e em 9,47 GHz a -36 dB para
a medio, como pode ser visto na Figura 5.12.

65

fendas e e c.

As Figuras 5.13 e 5.14 mostram o comportamento do campo eltrico e da densidade de
corrente eltrica, respectivamente, gerados para a frequncia de ressonncia encontrada na
simulao dessa terceira estrutura, comprovando-se que a maior influncia dos campos
eltrico e magntico encontra-se na regio das fendas assinaladas como d e a.

7 7.5 8 8.5 9 9.5 10 10.5 11 11.5 12 12.5 13 13.5
-40
-35
-30
-25
-20
-15
-10
-5
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Frequncia (GHz)
C
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WCIP
Medido


66




67

A partir desse ponto a FSS passa a ser extremamente sensvel supresso das fendas
restantes. So retiradas as fendas assinaladas como d e a, originando a estrutura vista na
Figura 5.15, que o fractal de Koch de nvel 1.

Figura 5.15 Clula bsica da FSS com supresso das fendas d e a.

A sensibilidade da estrutura supresso das fendas d e a, confirmada observando-se o
deslocamento da frequncia de ressonncia para 10,75 GHz a -34 dB na simulao e para
10,93 GHz a -38 dB na medio, como pode ser visualizada na Figura 5.16.

68

fendas d e a.

O comportamento do campo eltrico e da densidade de corrente eltrica, gerados para a
frequncia de ressonncia encontrada na simulao dessa quarta estrutura podem ser
observados nas Figuras 5.17 e 5.18, respectivamente.
7 7.5 8 8.5 9 9.5 10 10.5 11 11.5 12 12.5 13 13.5
-40
-35
-30
-25
-20
-15
-10
-5
0
Frequncia (GHz)
C
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e
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WCIP
Medido


69



70

Observa-se que com a supresso das fendas assinaladas como d e a, a maior intensidade
de campo eltrico encontra-se localizada nas extremidades laterais da estrutura e nas bordas
centrais da parte superior e inferior. J o campo magntico, encontra-se nas extremidades
laterais, mas a maior intensidade est localizada nas bordas internas, tendendo regio central
da estrutura. Na Tabela 5.1 so apresentados os valores de frequncia de ressonncia
encontrados nas simulaes e medies das FSS abordadas neste captulo.

Tabela 5.1 Comparao das frequncias simuladas e medidas.
Estrutura f (GHz) - Simulao f (GHz) - Medio Erro (%)
original 9 9,3 3,33
sem fendas b e f 9,25 9,47 2,37
sem fendas e e c 9,25 9,47 2,37
sem fendas d e a 10,75 10,93 1,67

5.3 Concluso

Neste captulo foram apresentados os resultados numricos obtidos atravs do WCIP,
para uma FSS fractal com geometria simplificada, bem como os resultados experimentais.
Foram mostrados os efeitos na frequncia de ressonncia, ocorridos com a supresso das
fendas existentes na estrutura original. Foi discutida ainda a influncia da distribuio de
campos eletromagnticos, onde se verificou que sua maior intensidade encontra-se na regio
das fendas assinaladas como d e a, por isso nota-se que a FSS extremamente sensvel
supresso dessas fendas, o que pode ser confirmado observando-se o deslocamento na
frequncia de ressonncia.
Os resultados obtidos indicam a pouca influncia dos vrios detalhes (fendas) da estrutura
original. Outro aspecto importante a influncia da polarizao do campo eltrico, que para
este trabalho foi considerado na direo x. Caso o campo eltrico fosse considerado na direo
y, as fendas assinaladas como c e b, teriam uma maior influncia na frequncia de
ressonncia, ao invs das fendas assinaladas como d e a.
Dos resultados obtidos, comprova-se a aplicabilidade do mtodo proposto, pois alm da
simplificao geomtrica, que facilita a fabricao da estrutura, este procedimento pode ser
utilizado para otimizar projetos, a partir de uma estrutura originalmente fractal.

71

Captulo 6

Um Mtodo simples para ajustar a
Frequncia de Ressonncia de uma FSS

6.1 Introduo

Neste captulo apresentado um mtodo simples e eficiente para ajustar a frequncia de
ressonncia de uma FSS, atravs da introduo de uma reentrncia de dimenses w e l, no
elemento tipo patch retangular, como mostra a Figura 6.1.

Figura 6.1 Modelo da clula bsica da FSS proposta.

Inicialmente a clula bsica retangular caracterizada numericamente utilizando o WCIP.
A partir dessa clula, com a introduo das reentrncias e a variao da dimenso l, realiza-se
o ajuste da frequncia de ressonncia. Para avaliar a influncia da introduo das reentrncias,
analisado o comportamento dos campos eltrico e magntico, este ltimo atravs do vetor
densidade de corrente eltrica, para a frequncia de ressonncia.
Captulo 6 Um Mtodo simples para ajustar a Frequncia de Ressonncia de uma FSS

72

Em todas as anlises foi utilizado o mesmo programa usado no captulo 5, com mesmas
caractersticas e propriedades, exceto pela quantidade de pontos que definida pela
quantidade de pixels necessria para descrever as estruturas, sendo assim, as estruturas deste
captulo foram analisadas com 151 x 101 pontos, considerando que a convergncia
alcanada com 500 iteraes. Considera-se o campo eltrico polarizado na direo x.
Assim como no captulo 5, para validar os resultados numricos obtidos utilizando o
WCIP, as estruturas foram caracterizadas experimentalmente, utilizando os mesmos
parmetros, local e equipamentos necessrios para a medio. A FSS composta por 10 x 12
clulas, 200 mm x 200 mm e o substrato utilizado o FR-4, com
r
= 4,4 e altura h = 1,5 mm.
A faixa de frequncia utilizada para a anlise foi de 7 GHZ a 13,5 GHz. Por limitaes
tcnicas, no foi possvel fazer a medio das estruturas com l = 4 mm e l = 5 mm. Para tais
estruturas foi utilizada na simulao a faixa de anlise 4,5 de GHz a 13,5 GHz.

6.2 Resultados Numricos e Experimentais

Inicialmente, analisada uma FSS com elementos tipo patch retangular, cujas dimenses
da clula unitria so: W
x
= 20 mm; W
y
= 16 mm; L
x
= 16 mm e L
y
= 12 mm, como mostra a
Figura 6.2.

Figura 6.2 Clula bsica da FSS original.

73

A anlise mostra que a FSS original possui frequncia de ressonncia em 11,8 GHz a -48
dB para a simulao e em 11,9 GHz a -41 dB para a medio, como pode ser visto na Figura
6.3.

Figura 6.3 Coeficiente de transmisso (dB) x frequncia (GHz) FSS original.

A Figura 6.4 mostra o comportamento do campo eltrico gerado para a frequncia de
ressonncia encontrada na simulao da FSS original. Verifica-se que a maior intensidade de
campo eltrico encontra-se nas extremidades das laterais da estrutura. importante notar que
ao longo de x, no meio da estrutura, o campo eltrico quase nulo.
7 7.5 8 8.5 9 9.5 10 10.5 11 11.5 12 12.5 13 13.5
-50
-45
-40
-35
-30
-25
-20
-15
-10
-5
Frequncia (GHz)
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Figura 6.4 Distribuio do mdulo do campo eltrico na FSS original, na frequncia de

A Figura 6.5 mostra o comportamento da densidade de corrente eltrica gerada para a
frequncia de ressonncia encontrada na simulao da FSS original. Observa-se que a maior
densidade de corrente eltrica, encontrada nas extremidades da parte superior e inferior da
estrutura.

Figura 6.5 Distribuio do mdulo da densidade de corrente eltrica na FSS original, na

75

Para as demais estruturas analisadas, so mantidas as mesmas dimenses da FSS original,
com a introduo de reentrncias com dimenses w = 2 mm e l variando de 1 mm a 5 mm,
como ilustra a Figura 6.6.

Figura 6.6 FSS proposta (w = 2 mm): a) l = 1 mm; b) l = 2 mm; c) l = 3 mm; d) l = 4 mm e
e) l = 5 mm.

A segunda FSS analisada (l = 1 mm) possui frequncia de ressonncia em 10,8 GHz a -42
6.7.


76

Figura 6.7 Coeficiente de transmisso (dB) x frequncia (GHz) 2 estrutura.

A Figura 6.8 mostra o comportamento do campo eltrico gerado para a frequncia de
ressonncia encontrada na simulao da segunda FSS. Verifica-se que com a introduo das
reentrncias, tem-se uma intensidade de campo eltrico nas extremidades das laterais da
estrutura, porm a maior intensidade agora se encontra centralizada na regio das
reentrncias.
7 7.5 8 8.5 9 9.5 10 10.5 11 11.5 12 12.5 13 13.5
-45
-40
-35
-30
-25
-20
-15
-10
-5
Frequncia (GHz)
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Medido


77


A Figura 6.9 mostra o comportamento da densidade de corrente eltrica gerada para a
frequncia de ressonncia encontrada na simulao da segunda FSS. Percebe-se que a maior
densidade de corrente eltrica, tende a centralizar-se na regio das reentrncias.



78

A terceira FSS analisada (l = 2 mm) possui frequncia de ressonncia em 9 GHz a -53
6.10.


A quarta FSS analisada (l = 3 mm) possui frequncia de ressonncia em 7,4 GHz a -49
6.11.
7 7.5 8 8.5 9 9.5 10 10.5 11 11.5 12 12.5 13 13.5
-60
-55
-50
-45
-40
-35
-30
-25
-20
-15
-10
-5
0
Frequncia (GHz)
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A quinta FSS analisada (l = 4 mm) possui frequncia de ressonncia em 6,2 GHz a -30
dB, como pode ser visto na Figura 6.12.
7 7.5 8 8.5 9 9.5 10 10.5 11 11.5 12 12.5 13 13.5
-50
-45
-40
-35
-30
-25
-20
-15
-10
-5
0
Frequncia (GHz)
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WCIP
Medido

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A sexta FSS analisada (l = 5 mm) possui frequncia de ressonncia em 5 GHz a -30 dB,
como pode ser visto na Figura 6.13.
4.5 5 5.5 6 6.5 7 7.5 8 8.5 9 9.5 10 10.5 11 11.5 12 12.5 13 13.5
-35
-30
-25
-20
-15
-10
-5
0
Frequncia (GHz)
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Para uma melhor visualizao, a Figura 6.14 e a Tabela 6.1 mostram a variao da
frequncia de ressonncia (GHz) em funo de l (mm) obtida a partir das simulaes e
medies.
4.5 5 5.5 6 6.5 7 7.5 8 8.5 9 9.5 10 10.5 11 11.5 12 12.5 13 13.5
-35
-30
-25
-20
-15
-10
-5
0
Frequncia (GHz)
C
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)


82

Figura 6.14 Variao da frequncia de ressonncia (GHz) em funo de l (mm).

Tabela 6.1 Variao da frequncia de ressonncia (GHz) em funo de l (mm).
l (mm) f (GHz) - Simulao f (GHz) - Medio Erro (%)
0 11,8 11,9 0,84
1 10,8 10,6 1,85
2 9 9,2 2,22
3 7,4 7,45 0,67
4 6,2
5 5

Da anlise do comportamento do campo eltrico e da densidade de corrente eltrica, para
a frequncia de ressonncia simulada, percebeu-se que a partir da terceira FSS, tem-se uma
intensidade de campo eltrico nas extremidades das laterais da estrutura, porm a maior
intensidade agora se encontra centralizada nas extremidades da regio das reentrncias. J em
relao densidade de corrente eltrica, nota-se que a maior densidade, tende a centralizar-se
0 1 2 3 4 5
5
6
7
8
9
10
11
12
l (mm)
F
r
e
q
u
n
c
i
a

(
G
H
z
)

WCIP
Medido

83

na regio das reentrncias, ficando cada vez mais prxima do centro da estrutura. Esses
resultados podem ser observados nas Figuras 6.15 a 6.22.



84



85



86




87

6.3 Concluso

Neste captulo foram apresentados os resultados numricos obtidos atravs do WCIP,
para ajustar a frequncia de ressonncia de uma FSS, atravs da introduo de uma
reentrncia de dimenses w e l, em um elemento tipo patch retangular, bem como os
resultados experimentais. Foram mostrados os efeitos na frequncia de ressonncia, ocorridos
com a variao da dimenso l, mantendo-se o w constante. A FSS original possui uma
frequncia de ressonncia em 11,8 GHz e a partir da introduo da reentrncia, w = 2 mm, e
com a variao da dimenso l, essa frequncia foi reduzida at 5 GHz. Alm da variao de l,
foi discutida a influncia da distribuio de campos eletromagnticos.
Os resultados obtidos indicam aplicabilidade do mtodo proposto na sintonia de FSS,
assim como instigam a investigao de diversas outras aplicaes, incluindo aplicaes com
faixas mais largas de rejeio e aplicaes multibanda.

88

Captulo 7

Concluses

Neste trabalho foi proposto um procedimento de simplificao geomtrica de uma
Superfcie Seletiva de Frequncia (FSS) com geometria fractal, baseado na anlise da
influncia dos detalhes (fendas) da geometria da mesma, no comportamento da frequncia de
ressonncia, com o objetivo de facilitar sua construo, bem como verificar a possibilidade de
otimizao de projetos, a partir de uma estrutura originalmente fractal.
Para a realizao do trabalho foi feito um estudo bibliogrfico a cerca do tema. Foram
mostrados aspectos importantes das estruturas peridicas, como os tipos de arranjos,
dimenses e formas dos elementos utilizados para compor a estrutura, parmetros que
influenciam no comportamento da estrutura, tcnicas de anlise e de medio, e algumas
aplicaes.
Foram expostos tambm os princpios tericos da geometria fractal, abordando aspectos
importantes como caractersticas, tipos de fractais, dimenses, principais mtodos utilizados
para gerao de fractais, a utilizao desses mtodos para gerar a curva de Koch, que foi o
tipo de fractal escolhido para este trabalho, e algumas aplicaes.
Foi apresentada a fundamentao terica do Mtodo das Ondas WCIP, abordando seu
princpio de funcionamento e formulao matemtica, possibilitando uma maior compreenso
desta tcnica que foi utilizada para a anlise numrica das estruturas apresentadas neste
trabalho.
A FSS analisada possua uma clula bsica unitria com elemento do tipo fractal de
Koch, com fator fractal a = 4 e ordem do fractal k = 2. Os resultados obtidos indicam a pouca
influncia dos vrios detalhes (fendas) da estrutura original, mostrando que a complexidade
geomtrica de FSS com motivos fractais de Koch pode ser consideravelmente reduzida,
comprovando-se a aplicabilidade do mtodo proposto. Foi observada tambm uma grande
influncia da polarizao do campo eltrico no comportamento da FSS.
De forma complementar foi mostrado um mtodo simples de ajustar a frequncia de
ressonncia de uma FSS. A FSS analisada possua uma clula bsica retangular, na qual
foram inseridas duas reentrncias e as dimenses dessas reentrncias foram variadas,
Captulo 7 Concluses

89

possibilitando o ajuste da frequncia. A FSS original possua uma frequncia de ressonncia
em 11,8 GHz e a partir da introduo das reentrncias, e com a variao das dimenses das
mesmas, essa frequncia foi reduzida at 5 GHz, o que comprova a aplicabilidade do mtodo
na sintonia de FSS.
A anlise das estruturas deu-se a partir da avaliao do comportamento dos campos
eltrico e magntico (este ltimo atravs do vetor densidade de corrente eltrica), obtidos para
a frequncia de ressonncia, utilizando o WCIP.
Para validar os resultados obtidos numericamente atravs do WCIP, as estruturas foram
caracterizadas experimentalmente. Os resultados numricos e experimentais foram
comparados e foi possvel observar uma boa concordncia entre eles. A diferena nos
resultados pode ser atribuda s diferenas entre as dimenses das FSS simuladas e as
dimenses reais das FSS.
Como propostas continuidade do trabalho, novas investigaes podem ser realizadas,
como por exemplo, a verificao da utilizao do procedimento de simplificao em outras
estruturas como filtros e antenas, com diversas geometrias, no necessariamente fractais. O
mtodo simples para ajustar a frequncia de ressonncia da FSS instiga a investigao de
diversas outras aplicaes, incluindo aplicaes com faixas mais largas de rejeio e
aplicaes multibanda. possvel analisar ainda, os efeitos da variao de w e a influncia da
polarizao do campo eltrico.

90

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