1.- DATOS DE LA ASIGNATURA Nombre de la asignatura : Caracterizacin Estructural Carrera : Ingeniera en Materiales Clave de la asignatura : MAC-1004 SATCA1 2- 2- 4 2.

- PRESENTACIN Caracterizacin de la asignatura. Con la presente asignatura el estudiante aplicar la microscopa ptica, difraccin de Rayos X y microscopas electrnicas de barrido y trasmisin en la caracterizacin estructural de los materiales. Desde el punto de vista prctico la asignatura habilita al estudiante en los principios tericos de las antes mencionadas, lo cual le permitir identificar aspectos la microestructura, composicin qumica, verificar las fases que los componen e identificar morfologas, para predecir sus propiedades y explicar los fenmenos involucrados para su comportamiento.

Intencin didctica. Se abordan cuatro mtodos de caracterizacin estructural, en cada se tcnica se analizan los principios fundamentales y leyes, caractersticas de los equipos, as como mtodos de preparacin de muestras para cada una. En la primera unidad se inicia con una tcnica clsica en la caracterizacin de los materiales como es la microscopa ptica. Se identifica cada una de las partes componentes del microscopio y su funcin en la formacin de las imgenes. Para lograr una mejor interpretacin de la informacin obtenida en esta tcnica se aplican los principios de la ptica clsica. Se concientiza sobre las limitantes de la tcnica como son el poder de resolucin y la profundidad de campo. Se capacita el estudiante en las tcnicas adecuadas de preparacin de muestras metalogrficas para su observacin y cuantificacin de la estructura (porcentaje de fases, tamao de grano, forma y distribucin de fases). La segunda unidad corresponde a Difraccin de Rayos X, se inicia con el estudio de la naturaleza y la generacin de los Rayos X, con las leyes de difraccin y ley de Bragg para establecer claramente las condiciones que facilitan el reforzamiento de una onda y permiten el proceso de difraccin. Con los difractogramas obtenidos el estudiante ser capaz de identificar las caractersticas estructurales de una muestra. Adems se analiza el principio de funcionamiento de un difractmetro de rayos X y las partes que lo constituyen. La tercera unidad corresponde a la tcnica de microscopa electrnica de barrido, se establece de manera precisa las ventajas y limitaciones respecto a la microscopa ptica. Partiendo de la interaccin de los electrones con la materia se identifican todas las seales resultantes, sus caractersticas y su aplicacin en la microscopa electrnica de barrido. Aplica los principios de la mecnica cuntica para la formacin de imgenes. Mediante esta tcnica se puede obtener informacin de la morfologa de partculas y fases, composicin qumica mediante espectroscopia electrnica.

Sistema de Asignacin y Transferencia de Crditos Acadmicos

El estudio del microscopio electrnico de trasmisin corresponde a la cuarta y ltima unidad de la asignatura. Se parte de conocimiento general del equipo, sus partes y principio de funcionamiento. Mediante los principios tericos de funcionamiento de las lentes electrnicas, se explica la formacin de una imagen de campo claro, campo oscuro y patrn de difraccin de electrones. Resuelve e interpreta patrones de difraccin. Esta herramienta de caracterizacin requiere de tcnicas especiales para la preparacin de muestras, por lo que se hace nfasis en ellas para obtener una muestra delgada y de buena calidad para que permita el paso de los electrones. El enfoque sugerido para la materia requiere que las actividades prcticas promuevan el desarrollo de habilidades para la experimentacin, tales como: identificacin, manejo y control de variables y datos relevantes; planteamiento de hiptesis; trabajo en equipo; En las actividades prcticas sugeridas, es conveniente que el profesor busque slo guiar a sus alumnos para que ellos hagan la eleccin de los materiales a caracterizar. Para que aprendan a planificar, que no planifique el profesor todo por ellos, sino que sean responsables en el proceso de planeacin y desarrollo de su proyecto. En las actividades de aprendizaje sugeridas, se propicia que el estudiante tenga el contacto con el concepto en forma concreta mediante la observacin, la reflexin y la discusin de ejemplos especficos de cada unidad.

3.- COMPETENCIAS A DESARROLLAR Competencias especficas:

Competencias genricas: Competencias instrumentales

Aplicar

las diferentes tcnicas de caracterizacin para preparar muestras e identificar la estructura de los materiales a diferente orden de magnitud e interpretar la informacin obtenida

Capacidad de anlisis y sntesis. Capacidad de organizar y planificar. Conocimientos bsicos de las

tcnicas de caracterizacin estructural. Habilidad para buscar y analizar informacin proveniente de fuentes diversas Habilidad en la preparacin de muestras para caracterizar a diferentes aumentos y y diferentes tcnicas. Habilidades bsicas de manejo del microscopio ptico, Auxiliarse de MEB, DRX, y MET, en caracterizacin y diferenciacin de fases cristalinas, en diversos materiales. Comunicacin oral y escrita Interpretacin de resultados de los diferentes equipos utilizando el software correspondientes.

Competencias interpersonales

Capacidad crtica y autocrtica Trabajo en equipo Habilidades interpersonales Habilidades de vinculacin entre rea de proceso productivo y control de calidad.

Competencias sistmicas

Capacidad

de aplicar los conocimientos en la prctica Habilidades de investigacin Capacidad de aprender Capacidad de innovar. Habilidad para trabajar en forma autnoma Iniciativa para aplicar nuevas tcnicas.

4.- HISTORIA DEL PROGRAMA Lugar y fecha de Participantes elaboracin o revisin Representantes de los Institutos Tecnolgicos de: Instituto Tecnolgico de Superior de Calkin, Chihuahua, Estudios Superiores de Superior de Irapuato, Morelia, Ecatepec del 9 al 13 de Saltillo, Superior de Tlaxco y Zacatecas. noviembre de 2009.

Evento Reunin Nacional de Diseo e Innovacin Curricular para el Desarrollo y Formacin de Competencias Profesionales de la Carrera de Ingeniera en Materiales. Elaboracin del programa de estudio propuesto en la Reunin Nacional de Diseo Curricular de la Carrera de Ingeniera en Materiales. Reunin Nacional Consolidacin de Programas Competencias Profesionales de Carrera de Ingeniera Materiales. de los en la en

Desarrollo de Programas en Competencias Profesionales por los Institutos Tecnolgicos del 16 de noviembre de 2009 al 26 de mayo de 2010.

Academias de Ingeniera en Materiales de los Institutos Tecnolgicos de: Chihuahua, Irapuato, Morelia y Saltillo

Representantes de los Institutos Tecnolgicos de: Instituto Tecnolgico de Superior de Calkin, Chihuahua, Zacatecas del 12 al 16 Superior de Irapuato, Morelia, Saltillo, Superior de Tlaxco y de abril de 2010. Zacatecas.

5.- OBJETIVO GENERAL DEL CURSO

Aplicar las diferentes tcnicas de caracterizacin para preparar muestras e identificar la estructura de los materiales a diferente orden de magnitud e interpretar la informacin obtenida.
6.- COMPETENCIAS PREVIAS Comprender la estructura atmica Conocer las diferentes estructuras cristalinas Aplicar los conocimientos fundamentales de cristalografa Correlacionar los fundamentos de ptica y de mecnica cuntica Entender problemas de anlisis vectorial Saber trabajar en laboratorio de forma individual y por equipos

7.- TEMARIO Unidad Temas Microscopa ptica 1.1 1.2 1.3 1.4 1.5 1.6 Subtemas Principios de formacin de imgenes Partes y funcionamiento del microscopio ptico Mtodos de iluminacin Preparacin de muestras Interpretacin de microestructuras Anlisis de imgenes Naturaleza de los rayos Generacin de rayos X Ley de Bragg Factor de estructura Tcnicas de difraccin de rayos X Patrones de difraccin Mtodo Rietveld

2.1. Tcnicas de difraccin de 2.2. rayos X 2.3. 2.4. 2.5. 2.6. 2.7. 3.1. Microscopa electrnica de 3.2. barrido 3.3. 3.4. 3.5.

ptica electrnica Interaccin haz de electrones materia Formacin de imgenes Microanlisis por dispersin de energa Microanlisis por dispersin de longitud de onda 3.6. Preparacin de muestras Descripcin y principios de funcionamiento Tcnicas de preparacin de muestras Poder de resolucin Formacin de imgenes Formacin de patrones de difraccin Reglas de indexacin Teora cinemtica

4.1. Microscopa electrnica de 4.2. transmisin 4.3. 4.4. 4.5. 4.6. 4.7.

4.8. Teora dinmica 4.9. Microscopa de alta resolucin

8.- SUGERENCIAS DIDCTICAS

Propiciar actividades de bsqueda, seleccin y anlisis de informacin en distintas fuentes. Propiciar el uso de las nuevas tecnologas en el desarrollo de los contenidos de la asignatura. Fomentar actividades grupales que propicien la comunicacin, el intercambio argumentado de ideas, la reflexin, la integracin y la colaboracin de y entre los estudiantes. Propiciar, el desarrollo de actividades intelectuales de induccin-deduccin y anlisis-sntesis, las cuales lo encaminan hacia la investigacin, la aplicacin de conocimientos y la solucin de problemas. Llevar a cabo actividades prcticas que promuevan el desarrollo de habilidades para la experimentacin, tales como: observacin, identificacin. Propiciar el uso adecuado de conceptos, y de terminologa cientficotecnolgica. Proponer problemas que permitan la integracin de contenidos de la asignatura y entre distintas asignaturas, para la caracterizacin. Relacionar los contenidos de esta asignatura con las dems del plan de estudios para desarrollar una visin interdisciplinaria. Aplicar las tcnicas de caracterizacin en el desarrollo de proyectos de investigacin de materiales especficos.

9.- SUGERENCIAS DE EVALUACIN La evaluacin del aprendizaje se llevar a cabo a travs de la constatacin de los desempeos acadmicos logrados por el estudiante; es decir, mostrando las competencias profesionales explicitadas en los objetivos de aprendizaje. La evaluacin es continua y formativa por lo que se debe considerar el desempeo en cada una de las actividades de aprendizaje, asistencia al aula, participacin en la exposicin y el anlisis de los temas. De la participacin y reporte en visitas a Centros de Investigacin e Industria. Exposicin y defensa en el aula de los resultados obtenidos en su proyecto de caracterizacin de material selecto.

10.- UNIDADES DE APRENDIZAJE Unidad 1: Microscopa ptica Competencia especfica a desarrollar

Actividades de Aprendizaje

Conocer los principios de formacin de imgenes en el microscopio ptico, sus principales componentes, sus aplicaciones para la determinacin de la microestructura de materiales diversos. Preparar muestras metalogrficas para su observacin en el MO, su interpretacin y anlisis

Investigar y discutir los principios que rigen la formacin de imgenes en el ojo humano, en lentes simples y compuestos para la caracterizacin de la imagen formada. Calcular y comparar los aumentos en: Lente simples y en el microscopio ptico Distinguir los conceptos de: Distancia focal , Eje ptico, Rayos focales, Rayos paralelos Identificar las partes fundamentales en el microscopio Investigar la longitud de onda de filtros de diferentes colores y calcular el poder de resolucin. Seleccionar el tipo de objetivo y oculares para realizar observaciones con bajos y altos aumentos. Observar la profundidad de foco de objetivos diferentes Realizar prcticas de calibracin de aumentos a travs del microscopio en micrmetro objeto. Preparar muestras metalogrficas para su observacin Analizar y discutir de los resultados en muestras observadas o de ejemplos de proporcionados por el profesor

Unidad 2: Tcnicas de difraccin de rayos X Competencia especfica a desarrollar

Actividades de Aprendizaje

Aplicar los principios de la difraccin de los rayos X para el estudio de la estructura cristalina de un material.

Investigar y discutir la clasificacin y caractersticas de las radiaciones en funcin de la longitud de onda. Analizar la interaccin de los rayos X con la materia. Describir el fundamento del espectro de rayos X. Demostrar la Ley de Bragg y su significado fsico. Describir el efecto del contenido atmico de los cristales en la difraccin de rayos X a travs del factor de estructura. Estimar y comparar las condiciones de reflexin y de extincin especfica para diferentes estructuras cristalinas. Discutir los principios de utilizacin de las tcnicas de Laue y Debye- Scherrer. Identificar en el difractmetro de rayos X, sus partes fundamentales. Indexar e interpreta los patrones de difraccin. Aplicar la tcnica de difraccin de los rayos X en los materiales Realizar el refinamiento de patrones de difraccin de rayos X

Unidad 3: Microscopa electrnica de barrido Competencia especfica a desarrollar

Actividades de Aprendizaje

Comprender y aplicar los principios del funcionamiento del MEB para la caracterizacin de un material

Investigar el funcionamiento de cada una de las partes que constituyen el MEB. Analizar la trayectoria del haz de electrones dentro de la columna del microscopio, desde su generacin hasta el impacto sobre la muestra. Identificar la funcin de los lentes en el MEB. Interpretar la interaccin del haz de electrones primarios con la muestra. Comprender la formacin de los

diferentes tipos de imgenes y de contraste, interpretar las imgenes. Identificar las imgenes obtenidas usando electrones secundarios, retrodispersados y de rayos X. Preparar muestras de diferentes tipos de materiales para su anlisis en el MEB Investiga rel funcionamiento de los espectrmetros de dispersin de longitud de onda y de energa de los rayos X. Examinar los alcances y limitaciones del MEB.

Unidad 4: Microscopa electrnica de transmisin Competencia especfica a desarrollar Actividades de Aprendizaje

Comprender y aplicar los principios del funcionamiento del MET para la caracterizacin de un material

Investigar y discutir los principios bsicos del MET. Describir y aplicar las tcnicas para la preparacin de muestras Comprender los principios de formacin de patrones de difraccin e imgenes. Identificar los factores que afectan el poder de resolucin Comparar la formacin de imgenes en campo claro y en campo obscuro. Aplicar los procedimientos de calibracin del MET. Analizar la difraccin de electrones en el MET, en base a muestras cristalinas y red recproca. Aplicar las reglas de indexacin y utilizar software Interpretar los patrones de difraccin. Distinguir la interpretacin de la teora cinemtica de contraste en cristales perfectos e imperfectos. Comprender la teora dinmica para la interpretacin de imgenes de imperfecciones cristalinas. Analizar el contraste dinmico de los defectos cristalinos. Aplicar la metodologa en la caracterizacin estructural e identifica los

defectos de estructura. Interpretar imgenes de alta resolucin.

11.- FUENTES DE INFORMACIN 1. 2. 3. 4. 5. 6. 7. 8. Kehl, G. Fundamentos de la Prctica Metalogrfica. McGraw Hill Girkin, R. Optical Microscopy of Metals. Van Der Voor. Metallographic Principles. McGraw Hill ASM. Metals Hand Book Vol. 8. ASM. Redd Hill , R. Principios de Metalurgia Fsica. Samuels, Leonard . Metallographic Polishing By Mechanical Methods. ASM. Verhoven, J. D. Fundamentos de Metalurgia Fsica. Limusa. Huking, D. W. X Ray Diffraction by Disordered and Ordered Systems. Pergamon Press. 9. Cullity Bernard. X Ray Diffraction. McGraw Hill. 10. Goldstein, G. Practical Scanning Electron Microscopy. Plenum Press. 11. ASM. Metals Handbook Vol. 9. ASM. Novena edicin 12. Datley. C. W. The Scanning Electron Microscopy. Cambridge University Press. 13. Glavert, A. M. Practical Methods in Electron Microscopy Vol. 1. 14. Hall, C. E. Introduction to Electron Microscopy. McGraw Hill. 15. Proyecto Multinacional de Tecnologa de Materiales. Interpretacin de Imgenes en Microscopia Electrnica de Barrido. Buenos Aires, Argentina. 16. Zworkyn, V. K. et. al. Electron Optics and The Electron Microscopy. John Wiley & Sons. 17. Hirsh, P. B. Electron Microscopy of Crystals. Butterworths. 18. Brooker, G. R., Amelincks. Modern Diffraction and Techniques in Materials Science. Scanning Electron Microscopy. North Holland. 19. Yacaman, Reyes Gasca, Microscopia Electrnica una visin del microcosmos, EFC. 1995

12.- PRCTICAS PROPUESTAS

Preparacin y caracterizacin microestructural de diversos materiales mediante MO Metalografa cuantitativa, por Anlisis de imgenes Interpretacin de patrones de difraccin de difraccin de rayos X monocristales Identificacin de fases cristalinas mediante por difraccin de rayos X de polvos o materiales policristalinos. Observacin e interpretacin de imgenes obtenidas por electrones secundarios, retrodispersados y microanlisis cuantitativo utilizando el microscopio electrnico de barrido. Preparacin de muestras para el microscopio electrnico de transmisin. Obtencin de imgenes y patrones de difraccin en el MET. Indexacin de patrones de difraccin de rea selecta Proyecto de Caracterizacin Microestructural, donde analiza las modificaciones generadas por tratamientos termo-qumicos y/o termo-mecnicos a un material selecto y las relaciona con las propiedades mecnicas.