CURSO: Engenharia Mecnica Disciplina: Perodo Letivo: Srie: Periodo: Controle Metrolgico de 1 sem/2014 4 Srie No definido Produtos e Processos Semestre de Ingresso: 2 Ano de Ingresso: 2012 C.H. Terica: C.H. Prtica: C.H. Total: 30 10 40
Ementa
INTRODUO E CONCEITOS FUNDAMENTAIS DE METROLOGIA: reas da Metrologia; Sistema Internacional de Unidades; o sistema brasileiro de normalizao. PROCESSO DE MEDIO: Fatores metrolgicos; Erros de medio; Incerteza de medio; Padres e Rastreabilidade. SISTEMAS DE TOLERNCIA E AJUSTES: Sistemas de Ajustes; Terminologia de tolerncias; Indicaes de tolerncia; Sistema Internacional %u2013 ISO. TOLERNCIAS GEOMTRICAS: De Forma; de Orientao e de Posio. RUGOSIDADE: Conceito e classificao e Desvios Microgeomtricos. BLOCOS PADRO E PEAS AUXILIARES: Blocos padro angulares; Cilindros e esferas calibradas. PRINCIPAIS TIPOS DE INSTRUMENTOS DE MEDIO: Paqumetros; Traadores de altura; Micrmetros; Relgios comparadores; Relgios apalpadores; Rugosmetros; Gonimetros; Aferio e calibragem de instrumentos. INTRODUO E CONCEITOS FUNDAMENTAIS DE METROLOGIA: reas da Metrologia; Sistema Internacional de Unidades e o sistema brasileiro de normalizao. PROCESSO DE MEDIO: Fatores metrolgicos; Erros de medio; Incerteza de medio; Padres e Rastreabilidade. SISTEMAS DE TOLERNCIA E AJUSTES: Terminologia de tolerncias; Indicaes de tolerncia; Sistema Internacional %u2013 ISO. MEDIDORES DE DESLOCAMENTO: Caracterstica construtiva e princpio de funcionamento; Tipos; Aspectos operacionais; Leitura de medidas. INSTRUMENTOS AUXILIARES DE MEDIO E CALIBRADORES: Desempenos; Rguas; Esquadros; Calibradores. MQUINAS DE MEDIR: Projetores, Microscpios; Mquinas Dedicadas; Dispositivos de Controle. MQUINAS DE MEDIO POR COORDENADAS: CMM; Brao de Medio; Laser Tracker; Fotogrametria e Teodolito; Software de Anlise Dimensional. CONTROLE ESTATSTICO DE PROCESSO: Conceitos e Definies; Grficos de Controle; Grficos de Controle para Variveis (Grficos de Controle para Monitorar a Disperso do Processo; Grficos de Controle para Monitorar o Nvel do Processo e Grficos de Controle Para Medidas Individuais).
Objetivos
A disciplina Princpios de Metrologia Industrial tem como objetivo analisar os conceitos metrolgicos bsicos, sua normalizao e impacto nos sistemas de gesto da qualidade, para a avaliao de produtos e controle de processos, com o reconhecimento e aplicao de tcnicas e metodologias modernas para o gerenciamento dos disposItivos de medio e monitoramento.
Contedo Programtico
1. INTRODUO E CONCEITOS FUNDAMENTAIS DE METROLOGIA 1.1. Aplicaes da Metrologia 1.2. reas da Metrologia: Metrologia Cientfica; Metrologia Industrial e Metrologia Legal 1.3. Sistema Internacional de Unidades 1.4. O sistema brasileiro de normalizao: rgos governamentais, laboratrios, redes de metrologia. 2. PROCESSO DE MEDIO 2.1. Fatores metrolgicos 2.2. Erros de medio 2.3. Incerteza de medio 2.4. Padres e Rastreabilidade 3. SISTEMAS DE TOLERNCIA E AJUSTES 3.1. Sistemas de Ajustes 3.2. Terminologia de tolerncias 3.3. Indicaes de tolerncia %u2013 Representao Simblica
3.4. Sistema Internacional %u2013 ISO 4. TOLERNCIAS GEOMTRICAS 4.1. De Forma 4.2. De Orientao 4.3. De Posio 5. RUGOSIDADE 5.1. Conceito e classificao 5.2. Desvios Microgeomtricos 5.3. Rugosmetro 6. BLOCOS PADRO E PEAS AUXILIARES 6.1. Constituio dos blocos padro e dos blocos protetores 6.2. Blocos padro angulares 6.3. Cilindros e esferas calibradas 7. PRINCIPAIS TIPOS DE INSTRUMENTOS DE MEDIO 7.1. Paqumetros 7.2. Traadores de altura 7.3. Micrmetros 7.4. Relgios comparadores 7.5. Relgios apalpadores 7.6. Rugosmetros 7.7. Gonimetros 7.8. Aferio e calibragem de instrumentos 7.8.1. Normas de calibrao7.8.2. RBC 8. PAQUMETRO 8.1. Caracterstica construtivas 8.2. Princpio de funcionamento 8.3. Principio de nnio 8.4. Tipos e usos 8.5. Aspectos operacionais 8.6. Leitura de medidas. 9. MICROMETRO 9.1. Caracterstica construtiva 9.2. Princpio de funcionamento 9.3. Tipos e usos 9.4. Aspectos operacionais 9.5. Leitura de medidas 10. GONIMETRO %u2013 Medio Angular 10.1. Unidades de medio angular 10.2. Caracterstica construtiva 10.3. Princpio de funcionamento 10.4. Tipos e usos 10.5. Aspectos operacionais 10.6. Leitura de medidas 11. RELGIO COMPARADOR 11.1. Caracterstica construtiva 11.2. Princpio de funcionamento 11.3. Tipos e usos 11.4. Aspectos operacionais 11.5. Leitura do relgio 12. MEDIDORES DE DESLOCAMENTO 12.1. Definio 12.2. Caracterstica construtiva 12.3. Tipos 12.4. Aspectos operacionais 12.5. Princpio de funcionamento 12.6. Leitura de medidas 13. INSTRUMENTOS AUXILIARES DE MEDIO E CALIBRADORES 13.1. Desempenos 13.2. Rguas 13.3. Esquadros 13.4. Calibradores: Tipos e Aplicaes
14. MQUINAS DE MEDIR 14.1. Projetores, Microscpios 14.2. Mquinas Dedicadas 14.3. Dispositivos de Controle. 15. MQUINAS DE MEDIO POR COORDENADAS 15.1. CMM 15.2. Brao de Medio 15.3. Laser Tracker 15.4. Fotogrametria e Teodolito, 15.5. Software de Anlise Dimensional 16. CONTROLE ESTATSTICO DE PROCESSO 16.1. Conceitos e Definies; 16.2. Grficos de Controle: fundamentao estatstica dos Grficos de Controle; 16.3. Grficos de Controle para Variveis 16.3.1. Grficos de Controle para Monitorar a Disperso do Processo 16.3.1.1. Grfico do Desvio-Padro; 16.3.1.2. Grfico da Varincia; Grfico da Amplitude 16.3.2. Grficos de Controle para Monitorar o Nvel do Processo 16.3.2.1. Grfico da Mdia 16.3.2.2. Grfico da Mediana. 16.3.3. Grficos de Controle Para Medidas Individuais 16.3.3.1. Grfico de Controle para Amplitude Mvel 16.3.3.2. Grfico de Controle para Observaes Individuais. AULAS PRTICAS: 1. Manuseio e medio com paqumetro, micrmetro e altmetro. 2. Manuseio e medio com gonimetro, blocos padro e rugosmetro. 3. Relgio Comparador e Apalpador 4. Mquinas Tridimensionais 5. Projetor de Perfil
Sistema de Avaliao
1 Avaliao - PESO 4,0 Atividades Avaliativas a Critrio do Professor Prticas: 2 Tericas: 8 Total: 10 2 Avaliao - PESO 6,0 Prova Escrita Oficial Prticas: 2 Tericas: 8 Total: 10
1) HEMUS. A Tcnica da Ajustagem : Metrologia, Medio, Roscas e Acabamento. 1 ed. So Paulo: Hemus, 2004. 2) ALBERTAZZI G. JR, Armando (org.) et al. Fundamentos de metrologia cientfica e Industrial. 1 ed. Barueri: MANOLE, 2013.
4) ALVES, Artur S.. Metrologia geomtrica. 1 ed. Lisboa: Fundao Calouste Gulbenkian, 1996. 5) WAENY, Jos Carlos de C.. Controle total da qualidade em metrologia. 1 ed. So Paulo: Makron Books, 1992.
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