DISEO DE CIRCUITOS Y SISTEMAS ELECTRNICOS

Curso: Cuarto Cuatrimestre: Primero N de Crditos: 4.5+3 Cdigo: 764

Departamento: Tecnologa Electrnica, Ingeniera de Sistemas y Automtica
Profesor Responsable: Eugenio Villar (0,5 T)
Otros Profesores: Iigo Ugarte Olano (2,5 T +1,5 P +3 Pr.) y J uan Castillo Revuelta (9 Pr.)
Asignaturas previas recomendadas: Electrnica Bsica, Electrnica Digital I y II
Asignaturas recomendadas del mismo curso:

OBJETIVOS GENERALES
El objetivo de esta asignatura es dotar al alumno del conocimiento de las distintas alternativas de
diseo de circuitos y sistemas electrnicos disponibles en la actualidad as como sus repercusiones
en cuanto a prestaciones, coste, fiabilidad, etc. al objeto de capacitarle en la eleccin de la solucin
ptima a la aplicacin de la que se trate. La asignatura incluye el manejo de herramientas de diseo
y el estudio de VHDL y su aplicacin a la simulacin y sntesis de circuitos electrnicos. El curso
cubre asimismo la verificacin del diseo y el anlisis de fiabilidad. La formacin terica se
complementa con 3 crditos de prcticas en el laboratorio de diseo de sistemas electrnicos.
PROGRAMA
Tema 1. APROXIMACIONES AL DISEO ELECTRNICO
Introduccin a la Tecnologa Microelectrnica. Evolucin tecnolgica. Anlisis de coste.
Aproximaciones al diseo electrnico. Electrnica discreta frente a electrnica integrada. Circuitos
comerciales. Microprocesadores. Dispositivos lgicos programables. Matrices de puertas
programables. Diseo con matrices de puertas: Mares de puertas. Diseo con celdas estndar:
Biblioteca de celdas. Diseo completamente a medida. Diseo de ASICs analgicos. Comparacin
de las diferentes aproximaciones de diseo. Proceso de diseo.
Tema 2. EL LENGUAJE VHDL
Necesidad de notaciones estndar. Introduccin al lenguaje VHDL. Modelado temporal: Ciclo de
simulacin. Elementos bsicos del lenguaje: Descripcin estructural, descripcin en flujo de datos y
descripcin de comportamiento. Unidades de diseo. Sentencias VHDL.
Tema 3. VERIFICACIN DE SISTEMAS ELECTRNICOS
Importancia de la verificacin. Fases del testing. Calidad del testing. Consideraciones de coste.
Generacin de vectores de test: ATPGs. Validacin de la secuencia de test: Simulacin de fallos.
Aplicacin de la secuencia de test: El equipo de test automtico. Anlisis de la respuesta: Diagnosis.
Verificacin de circuitos analgicos y mixtos. Diseo para testabilidad.
Tema 4. FIABILIDAD DE SISTEMAS ELECTRNICOS
Definiciones bsicas. Modelado de la fiabilidad. Prediccin de la fiabilidad.
BIBLIOGRAFA
L. J . HERBST: Integrated circuit engineering, Oxford Science Publications, 1996.
A. RUBIO, J . ALTET, X. ARAGONS, J .L. GONZLEZ, D. MATEO y F. MOLL: Diseo de
circuitos y sistemas integrados, Edicions UPC, 2000.
K. SKAHILL: VHDL for programmable logic, Addison-Wesley, 1996.
L. TERS, Y. TORROJ A, S. OLCZ y E. VILLAR: VHDL: Lenguaje estndar de diseo
electrnico, McGraw-Hill, 1998.
A. MICZO: Digital logic testing and simulation, Wiley, 2003.
A. G. SABNIS: VLSI reliability, Academic Press, 1990.
CRITERIOS DE EVALUACIN:
Evaluacin normal.
Examen de Teora y Problemas: 75% (sin apuntes)
(la nota del examen tiene que ser superior a 4)
Prcticas de Laboratorio: 25%