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Tcnicas de fabricao ptica

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5.1 Introduo
O polimento de superfcies pticas tem como objetivo reduzir as
rugosidades e irregularidades das faces das lentes e espelhos para se obter
superfcies homogneas que garantam a boa qualidade da imagem
formada. Ao nvel microscpico, a superfcie continua com imperfeies,
mas as irregularidades tm tamanho inferior ao comprimento de onda da
luz, no sendo, portanto, visveis. O processo completo para a confeco
de uma lente ou de uma superfcie plana de boa qualidade envolve vrios
passos: corte do vidro, gerao da curva esfrica, montagem de um
blocado no caso em que se deseja fazer vrias lentes, lapidao,
polimento, verificao da presena de riscos, teste de topologia da
superfcie, centralizao da lente, controle de qualidade do componente
manufaturado e evaporao de filmes finos dieltricos ou metlicos. Nas
sees que seguem passaremos a descrever estes passos com detalhes.
Como diretriz bsica, devemos levar em conta que s possvel modificar
a superfcie do vidro utilizando-se ferramentas feitas com materiais mais
duros que o prprio vidro. Desta forma, no processo de corte ou gerao
da superfcie esfrica necessrio o uso de ferramentas diamantadas,
enquanto que para a lapidao e polimento usam-se abrasivos cujos gros
possuem dureza maior do que a do vidro.

5.2 Corte
Para a familiarizao com a manipulao dos instrumentos e
materiais de uma oficina de ptica podemos comear cortando uma placa
de vidro com uma caneta de ponta diamantada, como mostra a Fig. 5.1.
As recomendaes principais neste procedimento so: apoiar a placa
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numa superfcie plana e aderente, segurar o vidro com firmeza, apoiar a
caneta num ngulo de 90
0
com o plano da mesa e fazer um trao contnuo,
sem pausa no meio do caminho.








Fig. 5.1 - Corte com uma caneta diamantada.
Em seguida, passaremos a descrever o uso das mquinas de corte.
Aqui se recomenda o uso de um jaleco sobre a roupa, luvas de couro para
procedimentos mais grosseiros e protetores para os olhos Os vidros
pticos podem vir da fbrica em diferentes formas geomtricas: blocos
cilndricos, paraleleppedos ou placas, como mostrados esquematicamente
na Fig. 5.2. Vamos inicialmente proceder ao corte de uma pilha de 4
lminas quadradas, com cerca de 20 cm de lado. Elas sero coladas umas
s outras por uma mistura de cera de abelha e breu, que inicialmente
aquecida para ficar viscosa. A cola deve proporcionar uma boa aderncia,
o suficiente para que o bloco suporte o torque da broca que o perfurar.






(a) (b) (c)
Fig. 5.2 - Blocos de forma (a) cilndrica, (b) de paraleleppedo e (c) lminas
empilhadas.









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Aps a colagem, o conjunto posto em descanso por vinte
minutos ou o tempo necessrio para o resfriamento da cola. Em seguida,
ele levado furadeira para cortes cilndricos, como mostra a Fig. 5.3.
Nesta etapa devemos usar o bom senso para evitar o desperdcio de
material. Antes da perfurao, deve se tomar o cuidado de regular a
profundidade que a broca atingir, de tal maneira que ela penetre as trs
primeiras lminas e apenas uma frao da ltima. A ltima lmina no
deve ser perfurada totalmente, pois ela serve como base, sustentando as
demais.












Fig. 5.3 - Furadeira com broca diamantada.
Como medida de segurana, devemos usar bases magnticas para
evitar o movimento lateral da pea sendo cortada. Uma base magntica
um im em forma de cubo que contm um boto capaz de ativar e
desativar o poder de aderncia do im. O uso destas bases obrigatrio,
evitando sempre que possvel, o contato entre as mos do operador e o
bloco de vidro que est sendo cortado. Conforme o atrito entre a broca e o
vidro aumenta, o bloco pode, acidentalmente, vir a rodar junto com a
broca. As bases magnticas servem de suporte seguro para que isto no
ocorra, e mesmo que venha a ocorrer, a broca trava e a mo do operador
no ser ferida pelo vidro.









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Aps o corte, o conjunto de 4 lminas ficar com o aspecto
mostrado na Fig. 5.4. Como temos 9 perfuraes e a ltima lmina serve
apenas como base protetora, geramos 27 discos que sero utilizados para a
confeco de lentes ou espelhos.







(a) (b) (c)
Fig. 5.4 - Bloco de lminas aps a perfurao: (a) vista superior, (b) vista lateral
e (c) vista em perspectiva.
Em vrias ocasies queremos realizar o corte linear de um bloco
de vidro na forma de paraleleppedo ou de basto. Para isso fazemos o uso
da serra circular mostrada na Fig. 5.5. A serra vista de construo
caseira, possuindo disco diamantado com espessura de 2 mm e permite
apenas a realizao de cortes simples.












Fig. 5.5 - Serra diamantada circular.









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D
4 mm
Durante o uso deste tipo de serra necessrio segurar a pea
diretamente com a mo, de forma que para se evitar acidentes necessrio
o uso de uma luva de couro. Se quisermos fazer cortes de maior preciso e
variar o ngulo entre dois cortes sucessivos, como no caso do corte de um
prisma, devemos usar uma mquina comercial com controle automtico e
gonimetro.

5.3 Gerao de superfcie esfrica
Se quisermos confeccionar uma lente, necessrio se produzir
uma superfcie esfrica sobre o disco de vidro que foi cortado da forma
descrita na seo anterior. Isto s possvel com ferramentas diamantadas
que removam facilmente quantidades significativas do material. Neste
processo se usa um copo diamantado de bordas arredondadas, de dimetro
D e espessura da parede de 4 mm, como aquele mostrado na Fig. 5.6.











Fig. 5.6 - Copo metlico diamantado.
A gerao da superfcie esfrica ocorre pela interseco da
ferramenta diamantada com o disco de vidro, da maneira esquematizada
na Fig. 5.7. O dispositivo de gerao consiste num sistema com dois eixos
concorrentes girantes, cujo ngulo deve ser ajustado para cada curvatura
desejada. O bloco de vidro fixo por meio de uma pina circular,
enquanto que a ferramenta suportada pelo segundo eixo faz o desbaste.
Para se gerar uma superfcie cncava usa-se a parte externa da ferramenta
e para uma superfcie convexa usa-se a parte interna. A Fig. 5.8 mostra a
situao real de uma superfcie convexa na geradora de curva.










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(a) (b)


Fig. 5.7 - Mtodo para gerar a superfcie esfrica (a) convexa e (b) cncava.
Para gerarmos um dado raio de curvatura faz-se necessrio
escolhermos o dimetro do copo diamantado bem como o ngulo entre os
eixos concorrentes. Estes parmetros se relacionam de acordo com as
expresses: sen = D/2(R+2) para lentes cncavas e sen = D/2(R-2) para
lentes convexas, onde o ngulo entre os eixos, D o dimetro da
ferramenta diamantada e R o raio de curvatura desejado. Esta frmula,
cuja deduo ser deixada como exerccio, encontra-se numa etiqueta
colada no corpo da mquina, ao lado da escala de ngulos. O fator de
correo 2 mm, devido espessura da ferramenta diamantada,
conforme vimos na Fig. 5.6.















Fig. 5.8 - Gerao de uma superfcie esfrica convexa.









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Ao se gerar uma superfcie esfrica, e mesmo durante o processo de
lapidao que veremos adiante, importante conferirmos o raio de
curvatura da superfcie atravs de um esfermetro. Este dispositivo,
mostrado na Fig. 5.9, mede a flecha a partir da qual podemos encontrar o
raio de curvatura da superfcie.


Fig. 5.9 - Esfermetro para controle do raio de curvatura.
A Fig. 5.10 ilustra o uso do esfermetro para a medida de uma
lente convexa e de uma cncava. Nestas figuras vemos o tringulo
retngulo de catetos d/2 e (R-H), e hipotenusa R, onde d o dimetro da
base do esfermetro, R o raio de curvatura e H a flecha.






(a) (b)
Fig. 5.10 - Uso do esfermetro para a medida de uma lente (a) convexa e de uma
(b) cncava.









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Vale frisar que o esfermetro tem diversas bases de tamanhos variados.
Devemos escolher a base que tenha dimetro mais prximo possvel do
dimetro da lente para minimizar o erro. Aplicando o teorema de
Pitgoras temos: (d/2)
2
+ (R-H)
2
= R
2
, de forma que R = d
2
/8H + H/2.
Analisando os dois casos, verifica-se que no caso das lentes cncavas, d
o dimetro externo e para as convexas, d o interno. Para concluir,
devemos mencionar que a escala do esfermetro zerada colocando-o
sobre uma superfcie de boa planicidade.

5.4 Lapidao
Quando a lente sai do processo de gerao de curva ela possui
uma superfcie bastante irregular, com riscos de dimenses
suficientemente grandes para provocar o espalhamento da luz e
conseqente opacidade. Os processos de lapidao e polimento so
essenciais para a reduo do tamanho destes riscos a uma dimenso
inferior ao comprimento de onda da luz, de forma a no haver
espalhamento significativo e tornar o material transparente. Em particular,
a lapidao possibilita um ajuste mais preciso do raio de curvatura, de
modo a ficar o mais prximo possvel do raio ideal. um processo
essencial para que se consiga obter o raio de curvatura desejado, j que o
processo de gerao descrito na seo anterior proporciona apenas uma
curvatura aproximada. A lapidao tambm reduz as irregularidades da
superfcie, reduzindo os poros da lente, deixando-a preparada para o
polimento posterior. Por sua vez, o polimento no altera muito a
superfcie da lente, e assim este processo no consegue variar
significativamente o raio de curvatura. Durante o polimento, a superfcie
adquire o brilho e a transparncia que necessita, e os riscos e defeitos
presentes aps a lapidao so corrigidos, resultando numa lente pronta
para a utilizao.
Lapidao e polimento so processos onde a superfcie ptica
lixada contra uma matriz, e diferem essencialmente quanto ao tamanho
dos gros dos abrasivos e o tipo da matriz que usada no processo. Na
lapidao, so usados abrasivos com partculas de tamanhos maiores e
matrizes de maior dureza, como o ferro e o lato. O polimento feito com
abrasivos de gros menores e matrizes mais macias, como o piche. Nos
dois processos, para que a superfcie fique homognea e mantenha o raio









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de curvatura prximo ao desejado, a superfcie a ser trabalhada deve ser
atritada contra uma outra que possua o mesmo raio de curvatura.
As matrizes so pares de peas que possuem raios de curvatura
iguais e complementares (cncavo e convexo) e que so usadas para a
lapidao e polimento de vrias lentes ao mesmo tempo. As matrizes
utilizadas so geralmente feitas de material metlico resistente, porm,
durante o uso ocorre um desgaste que causa mudanas indesejadas na
curvatura da lente e, portanto, necessrio um monitoramento contnuo
do seu raio durante a lapidao. Por usar um material mais resistente que o
vidro, e abrasivos com gros maiores e mais agressivos, a lapidao pode
alterar muito a curvatura da lente dependendo do modo que est
ocorrendo o atrito (inclinao da matriz, velocidade, direo, etc). A
escolha da matriz feita de acordo com o raio de curvatura da lente que
deve ser polida.
Existem diversos tipos de abrasivos que so empregados na
lapidao e polimento de lentes, tais como alumina em p, pasta
diamantada, rouge, xido de crio, xido de zircnio, entre outros. Estes
so classificados de acordo com o material (dureza) e com o tamanho dos
gros. Alguns dos abrasivos mais usados esto listados na Tabela 5.1. A
escala de dureza utilizada est em Mohs. Esta escala, que varia de 1 a 10,
no muito precisa, mas suficiente para a escolha do material. Neste
tipo de classificao, os materiais que recebem uma posio superior na
escala de classificao conseguem agredir os que esto abaixo de sua
classificao. Como exemplo, o diamante o material de maior dureza.
Tabela 5.1 - Dureza de materiais na escala de Mohs.
Material Dureza
(Mohs)
Material Dureza
(Mohs)
Diamond 10,0 alumina 8,5 a 9,0
Cubic Boron Nitride 9,9 E-67,.calcinated alumina 8,5 a 9,0
Norbide, boron carbide 9,7 E-111,.calcinated alumina 8,5 a 9,0
Crystolon, silicon carbide 9,5 E-330,.calcinated alumina 8,5 a 9,0
Alundum, aluminum oxide 9,0 Rouge, chromium oxide 8,5
38 White aluminum oxide 9,0 Cerium Oxide (estimated) 8,0
Linde "A" alpha alumina 9,0 Garnet 8,0 a 9,0
Linde "C" alpha alumina 9,0 Quartz 7,0
Linde "B" gamma alumina 8,0 Red Rouge, ferric oxide 6,5
Corundum 9 Aluminas (hydrates) 5,0 a 7,0









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A Tabela 5.2 mostra a classificao dos abrasivos de acordo com
o tamanho dos gros. Apenas alguns tamanhos esto listados na tabela. A
Fig. 5.11 tambm mostra a relao entre grana e tamanho dos gros.
Tabela 5.2 - Tamanho dos gros de abrasivo.
Grana Tamanho mdio (m) Grana Tamanho mdio (m)
100 173 320 32
120 142 400 23
150 122 500 16
180 86 600 8
220 66 900 6
240 63 1000 5
280 44 1200 3
A grana uma outra escala de classificao dos abrasivos. Neste
caso, os materiais so separados de acordo com o tamanho dos seus gros.
Quanto maior a grana, menor o tamanho das partculas do abrasivo.











Fig. 5.11 - Tamanho dos gros de abrasivos.
Estes abrasivos so misturados com gua de maneira a formar
uma pasta para os processos de lapidao e polimento. A gua, alm de
servir como veculo para o abrasivo, evita o aquecimento que poderia
danificar o vidro e causar a perda do material. Na lapidao, em geral se
0 200 400 600 800 1000 1200
-20
0
20
40
60
80
100
120
140
160
180


T
a
m
a
n
h
o

(

m
)

Grana









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usa uma matriz de ferro ou lato, e carborundun (carbeto de silcio) para o
processo de lapidao, mas no existe uma seqncia fixa para a aplicao
das diferentes granas. O que geralmente se faz, usar primeiro um
abrasivo mais agressivo, de gros maiores (menor grana) para a remoo
rpida de material. Isto permite desgastar a lente para se obter a espessura
e o raio de curvatura prximos aos desejados ou remover grandes
imperfeies. Em seguida so utilizados abrasivos mais finos de maneira
sucessiva para se obter uma superfcie mais homognea para o polimento
posterior.
Geralmente inicia-se a lapidao fina com abrasivos de grana da
ordem de 320, em seguida 400, 600, 800, 1000 e 2000. Com relao ao
tamanho dos gros uma seqncia possvel comearia em 32 micrometros
em seguida 20, 12 e 5 ou ento, 32, 25, 15, 9 e 5. Pode-se notar que nestas
seqncias, geralmente a ordem dos abrasivos montada de maneira que
o abrasivo seguinte tenha tamanho um pouco maior que metade do
tamanho do abrasivo anterior. Se ocorrerem grandes variaes no tamanho
dos abrasivos, um tempo de lapidao maior recomendado para se obter
bons resultados. Os abrasivos com grana menor que 320 no so
normalmente empregados, pois desgastaria excessivamente a superfcie do
vidro. Estes tm aplicao quando se deseja, como dito anteriormente,
desgastar rapidamente a superfcie a fim de reduzir a espessura da lente
(lapidao grosseira). Neste caso empregam-se abrasivos de grana 120 em
seguida 220 e inicia-se o processo de lapidao usual.
O processo mecnico que utiliza uma matriz de ferro com o raio
de curvatura desejado o mais empregado em oficinas de ptica para a
lapidao de vrias lentes ao mesmo tempo. Isso feito atravs da
montagem de blocados. Para lentes individuais, o processo semelhante,
porm, ao invs de matrizes de ferro, gera-se um par de matrizes de vidro
complementares (par de lentes cncava e convexa de mesmo raio de
curvatura). A lente que se deseja lapidar, desta forma, atritada com a
lente complementar na presena de pasta abrasiva.
A escolha da matriz feita de acordo com o raio de curvatura da
face da lente que se deseja polir. As lentes sero colocadas em uma das
faces de acordo com o perfil da superfcie a ser polida: para uma
superfcie cncava, as lentes so colocadas na matriz convexa; para a
superfcie convexa, as lentes so colocadas na superfcie cncava da
matriz. Na Fig. 5.12, as lentes esto sendo colocadas na parte cncava da
matriz. Antes de se colocar as lentes na matriz, esta recebe uma camada de









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vaselina para facilitar a remoo posterior. As lentes so posicionadas de
maneira que suas bordas fiquem levemente afastadas umas das outras para
evitar quebras. Depois de colocadas na matriz, pode-se pintar de preto a
superfcie exposta com um spray para depois ver melhor o polimento.
Fig. 5.12 - Esquema de montagem de blocado para lapidao e polimento de
uma superfcie convexa.
O material utilizado para a fixao das lentes chamado de
cimento ptico. Este material preparado derretendo no fogo breu e gesso
em partes iguais e um pouco de cera de abelha. Para que no ocorra
nenhum choque trmico, a matriz com as lentes tambm aquecida como
mostra a Fig. 5.13. Uma fita adesiva usada para que no ocorra o
vazamento do cimento ptico. O cimento derretido vertido sobre as
lentes na matriz e a matriz complementar colocada sobre o cimento,
tomando-se o cuidado de no deixar que este se encoste nas lentes. A
montagem colocada para esfriar.









Fig. 5.13 - Seqncia de montagem do blocado.
Quando a montagem estiver completamente fria, a parte inferior
aquecida e, devido ao derretimento da vaselina, as duas partes da matriz
so separadas. Um leve desgaste do cimento ptico conveniente para
formar um pequeno desnvel entre este e as lentes. Isso importante para









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proporcionar uma lapidao uniforme das superfcies. O blocado pronto
est esquematizado na Fig. 5.14. Ele levado mquina mostrada na Fig.
5.15, onde realizada a lapidao das lentes. Ela consiste em dois eixos
que suportam o blocado e a parte complementar da matriz. O eixo que
suporta o blocado mantido em movimento de rotao enquanto o eixo
que suporta a outra face da matriz realiza movimento de vai-vem. Este
movimento importante para que a lapidao seja uniforme e atinja toda
superfcie das lentes. O processo interrompido periodicamente para que
haja o fornecimento da pasta abrasiva. essencial que haja a presena
deste material para que ocorra o atrito deste com a lente e no o atrito do
metal com a lente, alm de ser uma forma de refrigerao da superfcie
que esquenta com o atrito e pode sofrer danos. Para este estgio so
utilizados os abrasivos de gros de tamanho maior.






Fig. 5.14 - Blocado pronto para o processo de lapidao.












Fig. 5.15 - Mquina utilizada para lapidao.









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A lapidao tambm pode ser feita manualmente. Tal processo
necessrio quando no se tem a matriz metlica com o raio de curvatura
da superfcie ou quando fabricada uma nica lente com aquele raio.
Neste caso, no processo de gerao de curva feita uma superfcie
complementar superfcie da lente (par cncavo e convexo) com vidro
comum e esta usada para a lapidao da superfcie da lente.
O processo manual feito em uma bancada onde existe um
sistema com rolamentos onde, com um motor ou por meio de pedais, uma
das duas superfcies complementares (coladas em suportes metlicos com
cera de abelha) colocada em movimento de rotao pelo sistema
presente na bancada e a outra mantida em atrito com a primeira com
auxilio das mos. O abrasivo usado o mesmo que o empregado na
lapidao com blocado. O controle do raio de curvatura neste processo
possvel de acordo com o movimento executado pela pessoa que segura a
lente. Movimento no sentido de rotao da pea presa ao sistema fixo na
bancada leva a uma melhor lapidao do centro e movimento contrrio
rotao leva a uma melhor lapidao das bordas. Isso tambm vale tanto
para o processo de polimento manual como para o realizado na mquina
politriz.

5.5 Polimento
O polimento utiliza abrasivos com gros de tamanhos menores e
geralmente usado um nico abrasivo durante todo o processo. O xido
de crio (fcil de ser utilizado e de limpar) e o xido de zircnio so os
mais usados no polimento por possurem gros com tamanho mdio de
3m. Outros abrasivos usados neste processo so: alumina em p (at
0,01m), pasta diamantada (at 0,1m), ruge, entre outros. Neste estgio a
lente adquire brilho e transparncia, resultando em um produto pronto
para o uso.
No processo mecnico de polimento de lentes utiliza-se um
polidor de piche ao invs do polidor de ferro ou vidro, pois o piche agride
menos a superfcie da lente. Isso ocorre porque ele possui dureza inferior
do ferro e vidro. O piche um material com alta viscosidade e em
temperatura ambiente assemelha-se a um slido, mas pode fluir com o
tempo (mais rapidamente quando sob presso ou alta temperatura). Estas
caractersticas fazem deste material um timo polidor. Existem diversos
tipos de piches disponveis comercialmente. A escolha do melhor piche









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para polimento deve ser feita de maneira que este no seja to viscoso a
ponto de no fluir o suficiente para que ocorra bom contato entre as
superfcies e nem to mole a ponto de fluir tanto que no mantenha o
formato da superfcie e prejudique o polimento.
Para a preparao do polidor, o piche aquecido num recipiente
levado ao fogo, como mostra a Fig. 5.16. Quando este estiver lquido,
despeja-se sobre um suporte de metal plano ou uma matriz metlica. A
superfcie deve estar limpa para que haja boa aderncia e uma moldura de
fita adesiva deve ser colocada para que no ocorra transbordamento do
material.









(a) (b) (c)
Fig. 5.16 (a) piche em pedaos, (b) derretimento e (c) preparo do polidor.
Aps ser espalhado com cuidado para que no surjam bolhas,
pincela-se a superfcie da lente com uma mistura de abrasivo e gua (para
que o piche no grude nas lentes) ou detergente, e se coloca as duas
superfcies em contato. Isto feito quando o piche est um pouco mais
firme e depois que a moldura de fita adesiva retirada. A outra metade da
matriz (com as lentes), ou a lente individual, encostada no polidor
(geralmente em rotao) para que o piche fique distribudo uniformemente
e adquira o raio de curvatura da face a ser polida, como visto na Fig. 5.17.
No caso de polidor para superfcies planas, o processo o mesmo (Fig.
5.18).
Algum tempo depois, quando o raio de curvatura da superfcie
est estabelecido de maneira uniforme, as duas partes da matriz so
separadas e so feitos riscos, ou marcas no piche que serviro para o
escoamento do abrasivo e acomodao do piche durante o polimento (Fig.
5.19). Em seguida, coloca-se as duas peas novamente em contato para









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garantir que toda a superfcie do piche esteja em contato com a matriz de
lentes ou com a superfcie plana (no caso de espelhos).






Fig. 5.17 - Montagem de polidor de piche.






Fig. 5.18 - Remoo da moldura de fita, espalhamento de abrasivo e contato
entre o polidor e vidro plano.






Fig. 5.19 - Riscos feitos no polidor de piche e contato com o vidro para
uniformidade da superfcie.
conveniente se fazer alguns riscos mais estreitos com uma faca
em cada um dos quadrados do polidor de piche para que ocorra melhor









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acomodao do piche durante o polimento. O polidor de piche est pronto
para ser usado.
Quando o piche estiver desgastado ou o raio de curvatura for
alterado, necessria sua troca. Para a remoo do piche que est no
polidor, este colocado num congelador por aproximadamente um dia.
Em seguida, remove-se o piche com uma faca ou outro objeto resistente.
Resduos de piche que ficarem no suporte podem facilitar a aderncia de
uma nova camada.
A mquina utilizada para o polimento, mostrada na Fig. 5.20,
possui um sistema prprio de abastecimento de abrasivo, no sendo
necessrio interromper o processo a no ser para o monitoramento das
superfcies das lentes. Ela igual mquina de lapidao, onde um dos
eixos realiza movimento de rotao enquanto que o outro realiza
movimentos de vai-vem.

Fig. 5.20 - Mquina utilizada para polimento de lentes.
A limpeza do local onde realizado o polimento muito
importante, pois a contaminao com qualquer gro de tamanho maior
que o do abrasivo pode causar riscos na superfcie. Para a remoo de
riscos profundos comum ter que se retornar ao estgio de lapidao.
Durante o processo de lapidao e polimento, alguns cuidados devem ser
tomados para garantir a boa qualidade das lentes. Tais cuidados, descritos









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a seguir, devem ser adotados desde o processo de corte e gerao de
curva.
Inspeo visual - Antes de se iniciar o processo de lapidao
conveniente uma inspeo cuidadosa do material. Peas que contenham
rachaduras, bordas quebradas ou trincadas devido ao processo de corte ou
durante a gerao de curvas podem prejudicar o polimento de outras
lentes que estejam sendo polidas num mesmo blocado (caso liberem
pedaos de vidro), alm de resultarem em lentes de pior qualidade. A
observao de rachaduras internas do vidro ptico (provocadas
eventualmente por quedas ou coliso) tambm pode ser feita j que lentes
com tais defeitos no possuem boa qualidade visual. Para uma melhor
visualizao recomenda-se colocar o vidro dentro de um recipiente que
contenha gua, pois ela possui um ndice de refrao mais prximo ao do
vidro.
Durante a lapidao e o polimento - Durante os processos de lapidao e
polimento cuidados com a qualidade da superfcie, curvatura e forma
devem ser tomados. Durante a lapidao importante observar se toda a
superfcie esta sendo gasta. Riscos feitos com uma caneta de ponta porosa
so teis para a verificao da uniformidade da lapidao. Neste caso,
deve-se observar se os riscos desaparecem por igual de toda a superfcie, o
que demonstra que toda a regio est sendo lapidada. Este tipo de teste
tambm conhecido como teste de Sharpi. Na mudana do abrasivo que
estiver sendo utilizado, a lente (se a lapidao for individual) ou o blocado
deve ser lavado com pincel e detergente e secado, tomando-se o cuidado
de no deixar resduos de gros do abrasivo anterior, em geral de tamanho
maior. Isso feito para evitar riscos provocados por algum gro que
eventualmente se mistura com os gros do prximo abrasivo, e atritado
com a lente. Secamos com ar comprimido, ao fim de cada etapa.
Outro cuidado necessrio refere-se ao controle do raio de
curvatura que se quer gerar. Durante o desgaste da superfcie da lente na
lapidao, o raio de curvatura geralmente varia. Os abrasivos de gros
maiores mudam o raio da lente rapidamente, possibilitando o desvio do
raio desejado ou o ajuste para este raio. Abrasivos com partculas de
tamanho menor tambm provocam mudana no raio de curvatura, porm
esta mudana mais lenta. A manipulao deste raio de curvatura feita
variando-se a compresso e direo da matriz durante o processo. O
controle desta curvatura feito com o esfermetro, como descrito na









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159
seo 5.3. importante medir a altura em vrios pontos sobre a superfcie
da lente para que, alm da curvatura, seja possvel verificar se a superfcie
est esfrica ou se possui raios distintos em diferentes posies.
Obteno das Lentes Polidas - Aps o processo de polimento, o resultado
uma superfcie completamente polida, como visto na Fig. 5.21. Neste
momento necessrio o destacamento das lentes do cimento ptico. Para
isso, o blocado enrolado numa folha de alumnio e colocado num
refrigerador onde mantido por aproximadamente 2 horas (Fig. 5. 22).

Fig. 5.21 - Blocado com lentes polidas.


Fig. 22 - Processo para destacamento das lentes por refrigerao do blocado.
Este processo importante, pois o coeficiente de dilatao do cimento
ptico maior que o dos vidros das lentes. Assim, o cimento ptico









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160
contrai mais que as lentes, desprendendo-as sem danificar. Em seguida,
s bater levemente no cimento ptico com um martelinho, que este
descola com facilidade. O resto do cimento guardado para ser
reutilizado. Para uma maior limpeza deixamos as amostras em um banho
de acetona, se a lente estiver razoavelmente limpa; caso contrrio, usamos
um banho de querosene. Esperamos por 3 horas e passamos lcool para
terminar a limpeza.
Controle de qualidade visual - A observao das superfcies das lentes
com boa iluminao e utilizando uma lupa permite visualizar pequenos
riscos, alm de ser possvel observar poros na face da lente, o que indica
que o tempo de polimento no foi suficiente. Este tipo de
acompanhamento importante, pois permite a correo durante o
processo de polimento.
Outro tipo de controle de qualidade o monitoramento do raio de
curvatura j descrito acima, utilizando-se o esfermetro. Este controle
permite a obteno do raio ideal com maior preciso. A espessura da lente
geralmente controlada durante a lapidao atravs de um paqumetro.
Este controle de qualidade fundamental para garantir que a lente
final tenha a distncia focal correta e possua boa transparncia e qualidade
ptica.
Centralizao de lentes - Durante os processos de lapidao e polimento
podem ocorrer pequenos lascamentos das bordas da lente devido a
pequenas quedas ou choques. Estes defeitos podem ocasionar riscos na
superfcie a ser polida devido a possveis pedaos de vidro que podem se
desprender e se misturar com a pasta abrasiva durante o polimento. Outro
inconveniente que o defeito na borda, quando grande, pode causar a
perda da pea. Entretanto, se pequeno pode ser corrigido, caso o dimetro
real da lente seja maior que o dimetro especificado. Este cuidado
geralmente tomado e parte da borda pode ser removida como veremos a
seguir.
Outro problema que geralmente ocorre durante o processo de
fabricao o desvio entre o eixo ptico do raio gerado na lente e o centro
geomtrico da lente. Este tipo de defeito prejudica o desempenho ptico
do sistema do qual a lente faz parte, e deve ser corrigido. O processo de
centralizao de lentes feito para corrigir estes pequenos defeitos nas
bordas e possveis desvios do seu eixo central.









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161
A centralizao da lente realizada pela mquina mostrada na
Fig. 5.23, que consiste em um rebolo e dois eixos bem alinhados, onde so
fixadas pinas de lato selecionadas de acordo com o tamanho da lente a
ser centrada. A lente posicionada entre as duas pinas que a comprimem,
sem danificar a superfcie, e se ajustam curvatura desta, centralizando o
eixo ptico com o eixo das pinas. Este conjunto (pinas e lente) executa
movimento giratrio, com baixa velocidade. Um rebolo diamantado,
localizado perpendicularmente ao eixo das pinas, responsvel pela
retificao das bordas. Desta forma, o excesso de borda retirado e o
centro fsico passa a coincidir com o eixo ptico da lente. Este tratamento
pode ser feito em lentes com qualquer curvatura e dimetro.

Fig. 5.23 - Mquina usada na centralizao de lentes.
Com isso, encerramos as etapas de corte, lapidao e polimento da
lente. Nota-se que nestas etapas iniciais no h muito contedo terico de
ptica geomtrica, uma vez que os clculos so relativamente simples.
Basta verificarmos alguns tringulos retngulos e aprendermos a
relacionar os parmetros em questo. Nestes processos, a ateno maior
deve estar voltada para o cuidado no manuseio dos instrumentos e das
mquinas para se atingir o melhor resultado. Por exemplo, ao se
posicionar a lente na pina da mquina geradora, deve-se ter o cuidado de
verificar se ela encostou-se parede de fundo da presilha; caso contrrio,
o eixo de curvatura pode ficar muito descentralizado.









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162
5.6 Controle de qualidade
Mesmo depois de tanto rigor na fabricao dos componentes
pticos, necessria uma avaliao da qualidade e eficincia de tais
componentes com o propsito de garantir a confiabilidade do produto
final. Alguns controles de qualidade usualmente realizados para a
confeco de componentes pticos so descritos a seguir.
Anlise topolgica da superfcie - O primeiro teste a se fazer a anlise
topolgica da superfcie com um interfermetro de Fizeau, como aquele
mostrado na Fig. 5.24. Um interfermetro ptico um instrumento de
medida que utiliza o fenmeno da interferncia baseado nas propriedades
ondulatrias da luz, criando as chamadas franjas de interferncia. As
propriedades geomtricas do padro de franjas de interferncia so
determinadas pela diferena de caminho percorrido pelas ondas.












Fig. 5.24 Interfermetro de Fizeau usado para a anlise topolgica de
superfcies pticas.









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163
Padro
esfrico
Padro
plano
Teste Teste
Os interfermetros medem a diferena no caminho ptico em
unidades de comprimento de onda, , da luz utilizada. Como o caminho
ptico o produto entre o caminho geomtrico e o ndice de refrao, um
interfermetro mede a diferena de caminhos geomtricos quando os raios
atravessam o mesmo meio, ou a diferena dos ndices de refrao quando
o caminho geomtrico igual. Uma caracterstica importante de um
padro de interferncia que a separao entre duas franjas consecutivas
corresponde a uma diferena de caminhos pticos de /2.
As irregularidades na superfcie de componentes esfricos
convexos so analisadas atravs do esquema mostrado na Fig. 5.25(a),
onde o raio de curvatura da superfcie convexa sendo testada deve ser
menor do que a distncia focal traseira do padro de transmisso esfrico.

(a) (b) (c)







Fig. 5.25 Montagens para testes de superfcies (a) convexas, (b) cncavas e (c)
planas.
Irregularidades numa superfcie esfrica cncava so examinadas
colocando o centro de curvatura do objeto sob teste coincidente com o
foco do padro esfrico, como visto na Fig. 5.25(b). J para a anlise de
superfcies planas, tais como as de espelhos e prismas, utilizamos um
padro plano, como mostra a Fig. 5.25(c). Feito isso, podemos observar as
franjas de interferncia obtidas no monitor, imprimi-las ou gravar num
micro-computador.
Uma vez realizado o teste no interfermetro, devemos medir as
franjas de interferncia obtidas para avaliar a qualidade da superfcie
ptica. Uma tcnica comum para analisar as franjas manualmente









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164
baseada no uso de um acessrio composto de um paralelogramo mecnico
articulado, com um nmero de linhas paralelas, igualmente espaadas,
mas de espaamento varivel, conforme mostra a Fig. 5.26.








Fig. 5.26 Paralelogramo articulado, com linhas igualmente espaadas.
O equipamento ajustado de modo que as linhas da grade estejam
bem alinhadas com o padro de franjas, como visto na Fig. 5.27.








Fig. 5.27 Alinhamento das linhas com as franjas de interferncia.
Devemos medir o mximo desvio de uma franja com relao
linha da rede que corresponde franja. Isso feito da seguinte maneira:
1) Sem rodar ou mudar o espaamento da rede, mova-a para o lado com o
auxlio de uma rgua de modo que pelos uma linha passe pelo centro
de uma franja (Fig. 5.28). Marque a posio na figura de interferncia.









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165
Mova a rede (sem rodar ou mudar o espaamento entre as linhas) at
que a linha que passava pelo centro da franja passe pela posio de
maior desvio, como mostra a parte central da Fig. 5.29. Marque esta
posio na figura.














Fig. 5.28 Superposio da linha com uma franja de interferncia.

Fig. 5.29 Medida do mximo desvio de uma franja.
2) Mea a distncia, s, entre as duas marcas feitas nos passos anteriores.









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3) Mea a distncia entre as duas linhas nos extremos da figura de
interferncia e divida essa distncia pelo nmero de espaos de franjas
para obter o espaamento mdio entre duas linhas consecutivas, s.
4) Divida a medida do item 2 pela mdia obtida no item 3 para obter a
frao de distoro da franja, de pico a vale, como visto na Fig. 5.30.
5) Multiplique o resultado obtido no item anterior por para converter a
distoro da franja em unidades de comprimento de onda.
Multiplicando este valor por 0.633 m, que o comprimento de onda
do laser de He-Ne utilizado no interfermetro de Fizeau, obtemos as
variaes de altura da superfcie ptica em m.








Fig. 5.30 Medida da distoro da franja.
Determinao de ngulos de prismas - Os ngulos entre as superfcies de
um prisma geralmente so medidos utilizando-se um aparelho chamado
gonimetro. Esses aparelhos so constitudos por uma mesa rotatria na
qual colocado o prisma ou polgono que ter os ngulos entre as
superfcies determinado por uma fonte luminosa e um colimador. O
colimador gera um feixe de raios paralelos que projetado em uma das
superfcies e a mesa rotatria girada at o momento que o feixe esteja
refletido sobre ele mesmo, ou seja, esteja incidindo perpendicularmente na
superfcie. Nesta condio, a posio da mesa anotada e repete-se o
mesmo procedimento para a outra superfcie em relao qual se quer
saber o ngulo. A diferena entre os dois valores anotados fornece o
ngulo que se quer medir.
O tipo de gonimetro mais empregado o comparador, mostrado
na Fig. 5.31, onde um prisma padro utilizado como referncia. Depois









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de regularmos o gonimetro com o prisma padro, colocamos no lugar do
mesmo o prisma que queremos analisar. Assim, obtemos o ngulo do
prisma por comparao.












Fig. 5.31 Gonimetro comparador para a medida de ngulos de prismas.
Determinao dos raios de curvatura de lentes O raio de curvatura
pode ser medido atravs de um esfermetro ou no banco ptico mostrado
na Fig. 5.32. Uma fonte de luz est colocada em 1 e quando acesa, seus
raios colimados chegam a um divisor de feixe em 2. Como mostrado na
figura, temos uma objetiva em 3 para focalizar o raio. Assim ajustamos a
lente no trilho em 4 at que aparea uma cruz no visor. Este primeiro
ponto indica onde devemos zerar a escala graduada digital e a partir da
comear a observar em que ponto ir novamente aparecer outra cruz.
Assim, o valor que aparecer na escala graduada o valor do raio de
curvatura de um dos lados da lente. Quando conhecemos os ndices de
refrao, podemos obter o foco das lentes atravs da equao do
fabricante:
( )

=
2 1
a v
R
1
R
1
n n
f
1
(5.1)










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onde f a distncia focal, n
v
e n
a
so respectivamente o ndice de refrao
do vidro e do ar (n
a
1) meio e R
1
e R
2
os respectivos raios de curvatura
da lente.
















Fig. 5.32 Banco ptico para a medida de raios de curvatura.
MTF (modulation transfer function) - A resoluo e performance de um
sistema ptico podem ser caracterizadas por uma quantidade conhecida
como modulation transfer function (MTF), que a medida da capacidade
do sistema ptico de transferir contraste do objeto para a sua imagem. A
quantificao da MTF constitui um mecanismo freqentemente utilizado
pelos desenhistas pticos para reunir informaes sobre resoluo e
contraste do sistema numa simples especificao. A MTF til no
somente para caracterizar sistemas pticos tradicionais, mas tambm
sistemas fotnicos tais como cmeras de vdeo analgicas ou digitais,
scanners, etc. Este conceito derivado de convenes de padronizao
utilizadas na engenharia eltrica que especificam o grau de modulao de
um sinal de sada como funo da freqncia do sinal de entrada.
Uma lente ideal seria uma lente capaz de produzir uma imagem
que representa um objeto fielmente, transferindo todos os detalhes do
objeto para a imagem; no entanto, lentes reais produzem pequenas
variaes entre a imagem e o objeto. Com intuito de quantificar este fator
1
2
3
4









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intrnseco das lentes reais, representa-se a habilidade da lente de transferir
informao do objeto para a imagem atravs da MTF.
Uma maneira simples de interpretar os resultados da MTF
atravs da formao da imagem de um objeto de referncia composto por
uma rede de pares de linhas pretas e brancas igualmente espaadas (100%
de contraste). Nenhuma lente (mesmo teoricamente perfeita) sob qualquer
resoluo pode transferir completamente este contraste para a imagem
devido limitao provocada pela difrao. Sendo assim, til graficar a
maneira pela qual o contraste transferido varia com a freqncia espacial,
que geralmente expressa quantitativamente pelo nmero de
espaamentos (linhas) por unidade de comprimento existente na rede
observada. De fato, quando o espaamento entre as linhas da rede
diminudo (maior freqncia), se torna mais difcil para a lente transferir o
contraste. Sendo assim, quando a freqncia espacial aumenta, o contraste
da imagem diminui.
Uma unidade de referncia comum para a freqncia espacial o
nmero de linhas por milmetro (lpm). Como exemplo, uma srie contnua
de pares de linhas pretas e brancas com intervalo espacial de 1 micrmetro
por par vai repetir 1000 vezes a cada milmetro o que corresponde a uma
freqncia espacial de 1000 lpm.
Na situao em que uma rede de linhas pretas e brancas
igualmente espaadas (ondas quadradas) constitui o objeto cuja imagem
vai ser analisada com intuito de caracterizar o sistema, o grfico
relacionando a porcentagem de contraste transferido do objeto para a
imagem conhecido como funo de transferncia de contraste (CTF). A
Fig. 5.33 apresenta o efeito do aumento da freqncia espacial no
contraste da imagem numa objetiva limitada por difrao.
Um grfico de MTF mostra a porcentagem de contraste
transferido para a imagem pela freqncia de linhas. Alguns fatores
devem ser observados:
1) A funo de transferncia de modulao o contraste da imagem em
termos do contraste do objeto, em porcentagem (100% = completa
distino entre linhas pretas e brancas, 0% = imagem uniformemente
cinza).
2) A freqncia em um grfico de MTF medida no plano da imagem.
Sendo assim, para definir a resoluo do objeto (freqncia de linhas),
deve-se calcular a magnificao primria da lente sendo testada.
Uma curva tpica de MTF de uma lente mostrada na Fig. 5.34.









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Grade peridica Objetiva Imagem



branco branco



preto preto
Grade peridica Objetiva Imagem


branco branco



preto preto
Fig. 5.33 Efeitos da difrao sobre a quantidade de contraste transferido com o
aumento da freqncia espacial.









f
c



Fig. 5.34 Grfico da MTF em funo da freqncia espacial.









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No grfico da Fig. 5.34 pode se ver indicada a freqncia de corte
que corresponde freqncia para qual a porcentagem de contraste
transferida nula no caso de uma lente sem aberraes. A freqncia de
corte, limitada por difrao, dada pela seguinte expresso:

=
NA 2
f
c
(5.2)
onde NA a abertura numrica do sistema e o comprimento de onda
em mm. Deve ser notado que uma curva de MTF pode ser gerada
teoricamente, fornecendo uma prescrio sobre o desempenho ptico da
lente. Apesar de ser til, ela no indicar o comportamento real da lente
aps sua confeco, uma vez que o processo de fabricao sempre
introduz perdas no seu desempenho. Por esta razo existem sistemas de
medida que quantificam a MTF da lente fabricada fornecendo uma
caracterizao de seu real desempenho. A Fig. 5.35 mostra um
equipamento utilizado para teste de qualidade de uma lente atravs da
medida se sua MTF.

Fig. 5.35 Equipamento para medidas de MTF.
Erros de centralizao - O procedimento mais comum para identificar
erros de centralizao em lentes consiste em analisar a luz por elas
transmitida ou refletida medida que vo sofrendo uma rotao. Um
melhor entendimento deste mtodo pode ser obtido com a ajuda da Fig.
5.36, onde mostrado um aparelho utilizado para este tipo de medida.










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172



Fig. 5.36 Aparelho para medidas de erro na centralizao.
Para a medida da centralizao por transmisso um feixe
focalizado no plano focal da lente a ser testada. O feixe de luz transmitido
pela lente captado por uma cmera CCD. Para quantificar erros de
centralizao presentes na lente, o feixe de luz transmitido analisado
enquanto a lente rodada de 360
o
. Na medida por reflexo (modo
refletido), um feixe focalizado no centro de curvatura da lente e
posteriormente refletido pela mesma. O feixe refletido captado por uma
cmera CCD e analisado enquanto a lente rodada de 360
o
, como na
anlise por transmisso. medida que a lente sob teste rodada, a
imagem formada na CCD se mover se houver a presena de erros de
centralizao. O deslocamento na imagem ser proporcional quantidade
de erro na centralizao.









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Lente sob teste
Sistema
colimador
Microscpio e cmera CCD
Estgio controlado
pelo motor de passo
Retculo com
espaamento y
O aparelho visto na Fig. 5.36, alm de avaliar possveis erros de
centralizao, permite o alinhamento de duas lentes j centralizadas
quando elas so coladas para a confeco de um dubleto.
Effective Focal Length (EFL) - Medies das distncias focais efetiva
(EFL) e traseira (BFL) tambm so realizadas pelo sistema mostrado na
Fig. 5.35. De acordo com o esquema ilustrativo da Fig. 5.37, um sistema
colimador projeta no infinito a imagem de um objeto reticulado com
espaamento y. Os raios paralelos atravessam a lente a ser testada e
emergem como um feixe de raios convergentes que se interceptam no
plano focal da mesma. A imagem do objeto de referncia formada no
plano focal coletada por um microscpio e focalizada numa cmera
CCD colocada precisamente no plano focal do microscpio.
O microscpio e a CCD so montados em um estgio de
translao linear controlado por um motor de passo. Um sistema de auto-
focalizao controlado por computador permite a localizao precisa e
automatizada do plano focal da lente sob teste. Simultaneamente, o
comprimento de ajuste do colimador, f
k,
determinado e
conseqentemente o comprimento focal efetivo, f, dado por:
y
y
f f
k
'
'
= (5.3)









Fig. 5.37 Diagrama ptico para a medida da distncia focal efetiva.
Atravs desta relao pode se determinar diretamente o valor do
EFL (f) atravs de f
k
, y (altura da imagem) e y. Estes trs parmetros so
indicados na Fig. 5.37. Seus valores so automaticamente fornecidos pelo
aparelho de medida aps um processo de auto-calibrao feito pelo
sistema. Todos os aspectos da aquisio de dados comeando pelo sistema









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174
de auto-focalizao, posicionamento da CCD, auto-calibrao e exposio
dos dados medidos, so controlados pelo software e totalmente
automatizados.
Back Focal Length (BFL) - O BFL a distncia do vrtice da lente at o
segundo ponto focal. A cabea ptica para medio do BFL projetada
como um dispositivo autocolimador que incorpora um objeto de
referncia, um divisor de feixe e um sistema de imagem. Um sistema de
iluminao por fibra ptica seguida por um condensador ilumina o objeto.
A imagem projetada do objeto automaticamente focalizada no vrtice e
posteriormente no plano focal da lente sob teste. Cada posio dos dois
planos de focalizao (vrtice da lente e plano focal) precisamente
medida. A distncia entre estas duas posies constitui o BFL. A Fig. 5.38
fornece um esquema ilustrativo da focalizao da imagem no vrtice e no
plano focal da lente.












Fig. 5.38 Aparato para medio do BFL.

5.7 Filmes finos
Para a construo de filtros, espelhos e filmes anti-refletores em
lentes temos que ter primeiramente o substrato pronto, ou seja, uma
superfcie ptica que j tenha passado pelos processos anteriores de corte,
lapidao, polimento e controle de qualidade. Para muitos espelhos no
necessrio um vidro com boa transmisso ptica, pois no haver a
passagem de luz por ele.









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175
O processo utilizado para a deposio de filmes finos a
vaporizao em cmara de alto vcuo. Este processo consiste na
evaporao de substncias (quartzo, xido de titnio, alumnio, prata, etc)
aquecidas a altas temperaturas, suficiente para fundi-las e formar uma
nuvem do material dentro da cmara vcuo. Essa nuvem entra em contato
com o substrato formando camadas muito finas desse material sobre o
vidro. Pela superposio de camadas de diferentes tipos de materiais
iremos definir as propriedades do componente. As mquinas usadas para a
fabricao desses componentes (Fig. 5.39) so chamadas evaporadoras,
pois como mencionamos, os filmes finos so produzidos a partir da
evaporao, em alto vcuo, de metais e materiais dieltricos. Essas
evaporadoras so equipamentos extremamente sofisticados, caros e que
exigem um investimento muito alto na sua instalao, manuteno e
utilizao.





















Fig. 5.39 Vista geral da evaporadora constituda por (1) cmara de vcuo, (2)
sistema de controle de potncia para o canho de eltrons e (3)
micro-computador e controle de vcuo.
1
2
3
3









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176
Dentro da evaporadora existe uma calota esfrica, vista na Fig.
5.40, onde so fixados os substratos. Essa calota ir realizar um
movimento giratrio para que haja uma distribuio uniforme do material
depositado. Depois de escolhido o material para evaporao, devemos
saber qual o seu ponto de fuso. Se esta temperatura for inferior a 800
C (em geral os metais) ele ser evaporado em um cadinho que ser
aquecido por efeito Joule. Porm se necessitarmos de temperaturas mais
elevadas para evaporao utilizaremos um canho de eltrons, que
consiste num feixe de eltrons acelerados incidindo diretamente no
material, podendo chegar a temperaturas altssimas, suficientes, por
exemplo, para evaporar at grafite.












Fig. 5.40 Calota para fixao dos substratos.
Depois de colocados dentro da mquina os substratos e os
materiais a serem evaporados (Fig. 5.41), fechamos a mesma e ligamos
uma bomba mecnica que inicia o processo de despressurizao, at
atingir uma presso da ordem de 10
-2
bar. A seguir liga-se a bomba
difusora, mais eficiente para baixas presses, que fornecer o vcuo
necessrio, que da ordem de 10
-5
bar.
O prximo passo consiste em ativar um ionizador para limpeza
dos substratos (glow discharge) na presena de um pequeno fluxo de ar.









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177
Isto far aumentar a presso novamente. Finda esta etapa, a bomba
difusora far a cmara de vcuo voltar presso exigida e o material pode
comear a ser evaporado.
A evaporadora programada para realizar o processo sozinha, de
forma que devemos saber de antemo o nmero de camadas, a espessura e
a ordem dos materiais a serem depositados. Lembramos que ao final da
evaporao os substratos estaro quentes, e que a mquina tambm recebe
a deposio do material, exigindo que depois de algumas evaporadas ela
seja limpa.



.


















Fig. 5.41 Interior da evaporadora, com destaque no local onde colocamos os
materiais que sero evaporados.
Algumas limitaes do equipamento - A espessura de cada camada pode
ser controlada atravs da quantidade de material depositado sobre um









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178
cristal de quartzo que oscila com uma freqncia de ressonncia da ordem
de 5 MHz. Conforme o material vai se depositando sobre o cristal, a
freqncia de ressonncia muda e esta variao pode ser correlacionada
com a espessura depositada. A resoluo de cada camada de cerca de
10, e se necessitarmos uma espessura menor que essa no teremos a
resoluo necessria para consegui-la. Assim, temos uma limitao do
equipamento que provoca incertezas desta ordem nos comprimentos de
onda desejados.
Materiais - O primeiro passo antes da evaporao a escolha do material
a ser evaporado. Essa escolha ir depender das propriedades da interao
do material com a luz. A luz incidente no material sofre trs tipos de
efeito: reflexo, absoro e transmisso e, portanto, a escolha depender
destes trs fatores. Os materiais utilizados para a deposio podem ser
metais ou dieltricos dependendo do uso que se dar ao componente
ptico. O uso de materiais dieltricos mais freqente, pois eles
praticamente no absorvem luz. Porm, a atuao deles ocorre numa
pequena faixa do espectro, enquanto que o alumnio, por exemplo, reflete
em todo o espectro visvel, mas com a inconvenincia de absorver cerca
de 5% da radiao.
A deposio de materiais dieltricos feita por camadas, que
podem ser variadas tanto em nmero quanto em espessura, resultando em
componentes com diferentes espectros de transmisso. Quando utilizamos
elementos dieltricos necessria a deposio de pelo menos dois tipos de
materiais com ndices de refrao diferentes. Geralmente, quanto maior a
diferena entre os ndices maior ser a eficincia do dispositivo. Os
dieltricos mais utilizados so: o dixido de titnio (TiO
2
, n = 2.2) e o
quartzo (SiO
2
, n = 1.45), justamente pela grande diferena entre seus
ndices. Alternamos ento camadas com ndice alto e camadas com ndice
baixo (high-low).
A utilizao de metais na confeco de espelhos se d quando a
absoro do componente no representa um problema para a aplicao na
qual este ser empregado. Os metais mais utilizados so: alumnio e ouro.
Como j dito, apesar dos metais absorverem parte da luz, a maioria deles
funciona em todo o espectro visvel, mas o ouro mais utilizado para a
faixa do infravermelho.
Nmero de camadas - O nmero de camadas um fator importantssimo
na construo de filtros e espelhos. Aumentando o nmero de camadas









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179
aumentamos a porcentagem de reflexo e assim obtemos desde divisores
de feixe (semi-espelhos) at espelhos de reflexo total. Lembramos
tambm que com uma pequena quantidade de camadas convenientemente
escolhidas podemos produzir uma interferncia que diminui a reflexo,
que so os filmes anti-refletores.
Para os filmes dieltricos, a espessura das camadas outro fator
muito importante. Variando a espessura variamos a faixa do espectro em
que o dispositivo ir atuar. Para o vermelho as camadas sero mais
espessas e para o azul mais finas.
A determinao do nmero de camadas, espessura e a alternncia
entre os materiais para cada componente fabricado exigem clculos que
seriam muito trabalhosos e pouco prticos na confeco de cada
componente. Para isso utilizamos um programa de computador que
calcula diretamente o nmero de camadas, a espessura de cada uma e a
alternncia de deposio dos materiais. Um dos programas comerciais
mais comuns o ESSENTIAL MACLEOD e sua utilizao simples:
depois de escolher os materiais e especificar as propriedades do
componente, como por exemplo, a faixa do espectro e a transmisso
requerida em cada comprimento de onda (TARGETS).
A Tabela 5.3 e a Fig. 5.42 mostram um exemplo do clculo
realizado pelo programa para um espelho em 530 nm com TiO
2
e SiO
2
,
com o limite de 25 camadas. Esse espelho foi calculado para um ngulo
de incidncia de 45
0
.
Tabela 5.3 Clculo de um espelho de alta refletividade em 530 nm.
Layer Material Refractive
Index
Extinction
Coefficient
Thickness
Medium Air 1.0000 0.00000
1 TiO2 1.00000 0.00037 54.38
2 SiO2 1.00000 0.00000 117.29
3 TiO2 1.00000 0.00037 56.96
4 SiO2 1.00000 0.00000 110.74
5 TiO2 1.00000 0.00037 58.41
6 SiO2 1.00000 0.00000 106.59
7 TiO2 1.00000 0.00037 59.33
8 SiO2 1.00000 0.00000 105.27
9 TiO2 1.00000 0.00037 59.56
10 SiO2 1.00000 0.00000 104.73
11 TiO2 1.00000 0.00037 59.58
12 SiO2 1.00000 0.00000 104.28









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13 TiO2 1.00000 0.00037 59.93
14 SiO2 1.00000 0.00000 104.17
15 TiO2 1.00000 0.00037 59.72
16 SiO2 1.00000 0.00000 104.27
17 TiO2 1.00000 0.00037 59.72
18 SiO2 1.00000 0.00000 104.30
19 TiO2 1.00000 0.00037 59.63
20 SiO2 1.00000 0.00000 77.19
21 TiO2 1.00000 0.00037 56.99
22 SiO2 1.00000 0.00000 82.29
Substrate Glass 0.00000 0.00000


Fig. 5.42 Transmisso de um espelho dieltrico para 530 nm.
Exemplos de componentes que podem ser evaporados
Anti-reflexo: As lentes com revestimentos anti-refletores so
componentes que, atravs da deposio de poucas camadas tm a
propriedade de refletir menor quantidade de luz. Uma aplicao so as
lentes de culos onde observamos uma reflexo meio azulada. Outra
aplicao dessa tcnica feita em lentes de telescpios refratores com o
objetivo de se perder a menor quantidade de luz possvel.









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Filtros de interferncia: Existem os filtros passa-banda que so
componentes que permitem a passagem de apenas uma faixa escolhida do
espectro. Os filtros passa-alto deixam passar os comprimentos de onda
mais altos, e os filtros passa-baixo que deixam passar os comprimentos de
onda mais baixos. Pode-se construir um filtro passa-banda fazendo a
composio de um passa-alto com passa-baixo.
Espelhos: Os espelhos podem refletir totalmente a luz, ou refletir apenas
uma faixa escolhida do espectro. Uma aplicao para esses espelhos so
as lmpadas de dentistas que refletem apenas a luz no espectro visvel
para iluminar a boca do paciente, enquanto o infravermelho, que a parte
quente da luz, passa atravs do espelho para no esquentar a boca do
paciente.
Divisor de feixe (beam spliter): So semi-espelhos, que refletem uma
porcentagem da luz e transmitem o resto, podendo atuar na mesma faixa
do espectro ou em faixas distintas.
Controle de qualidade do componente - Para conferir a propriedade do
componente fabricado, utilizamos um espectrofotmetro, que consiste
num dispositivo para medir a transmisso, ou seja, a quantidade de luz que
passa pelo componente em funo do comprimento de onda. Pode-se
tambm com o mesmo aparelho medir a refletividade caso seja este um
espelho. A seguir mostramos na Fig. 5.43 o exemplo de um espectro de
transmisso que corresponde a medida da transmitncia de um espelho
para o comprimento de onda = 632 nm.






















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Fig. 5.43 Espectro de um espelho para =632 nm.


Bibliografia
5.1. D. F. Horne, Optical Production Technology (Crane, Russak &
Company, Inc., New York, 1972).

Problemas
5.1. Deduzir as expresses sen = D/(R+2) e sen = D/(R-2) para a
gerao de superfcies cncavas e convexas, respectivamente.
5.2. Para que o polimento de um disco de vidro fique com planicidade boa
(/10)
a) O polimento deve ser feito com baixa rotao (menor que 10 rpm)









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b) O polimento deve ser feito com alta rotao (maior que 200 rpm)
c) O dimetro e a espessura do disco dever ser iguais
d) necessrio que se faa o polimento em matriz de madeira
e) A espessura deve ser no mnimo 1/5 do dimetro
5.3 Um dubleto acromtico feito colando-se duas lentes de vidros
diferentes. Estes vidros devem ser do tipo:
a) Ambos crown
b) Um crown e um flint
c) Ambos flint
d) Um crown e um light
e) Um flint e um light
5.4. Qual o par de palavras que completa corretamente a seguinte
sentena: O polimento de uma superfcie de vidro feito utilizando-
se uma matriz de __________ e __________ como abrasivo:
a) Ferro, carborundum
b) Cobre, carbeto de silcio
c) Pixe, carborundum
d) Cera, alumina
e) Pixe, xido de crio
5.5. A melhor maneira de se cortar um bloco de vidro com:
a) Ponta de diamante
b) Serra de vdia
c) Serra diamantada
d) Serra de ao inox
e) Fio diamantado
5.6. Para verificar se a superfcie polida est bem plana deve-se:
a) Usar um planmetro
b) Usar um gonimetro
c) Comparar com uma superfcie de mesma planicidade
d) Comparar com uma superfcie de planicidade melhor
e) Nenhuma das anteriores
5.7. O cimento ptico, usado para a montagem de blocados de lentes
composto de:
a) Piche e breu
b) Breu e gesso









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c) Cera de abelha, gesso e pixe
d) Gesso, breu e cera de abelha
e) Pixe, gesso e breu
5.8. Para remover as lentes presas num blocado por cimento ptico deve-
se:
a) Esquentar o blocado lentamente at 150C
b) Dissolver o cimento ptico com acetona
c) Remover as lentes mecanicamente
d) Resfriar o blocado num freezer
e) Remover as lentes com ultra-som
5.9. Ao se medir a superfcie esfrica de uma lente com raio de curvatura
de 5 cm com um esfermetro de dimetro de 6 cm, obtm-se uma
flecha de:
a) 3 mm
b) 15 mm
c) 10 mm
d) 5 mm
e) Nenhuma das anteriores
5.10. Deseja se construir uma lente plano-convexa com vidro cujo ndice
de refrao n = 1.5. Para que a lente tenha uma distncia focal de
30 cm, o raio de curvatura da superfcie esfrica deve ser:
a) 15 cm
b) 30 cm
c) 10 cm
d) 45 cm
e) 60 cm
5.11. Para se limpar uma lente usa-se
a) lcool ou acetona
b) Sabo e gua
c) Detergente neutro
d) Bifluoreto de amnia
e) Dimetil sulfxido
5.12. O processo de lapidao deve ser iniciar com que material?
a) Lixa 600
b) Carborundum 600









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c) Alumina
d) Carborundum 1200
e) xido de crio
5.13. Em que situao se deve substituir o vidro por slica (quartzo
amorfo) ao se fazer uma lente?
a) Quando se deseja fazer uma lente de maior dureza
b) Quando se deseja transmitir luz infravermelha
c) Quando se deseja uma lente barata
d) Quando se deseja uma lente de cristal
e) Quando se deseja transmitir luz ultravioleta
5.14. Para se controlar a dureza de uma matriz de pixe para polimento
deve-se adicionar
a) Breu
b) Gesso
c) Limalhas de ferro
d) Cera de abelha
e) No necessrio controlar a dureza para o processo de polimento
5.15. Qual o par de palavras que completa corretamente a seguinte
sentena: A lapidao de uma superfcie de vidro feita utilizando-
se uma matriz de __________ e __________ como abrasivo:
a) Ferro, carborundum
b) Cobre, carbeto de silcio
c) Pixe, carborundum
d) Cera, alumina
e) Pixe, xido de crio
5.16. O interfermetro um aparelho usado para:
a) Corte e desbaste de vidros
b) Verificao da quantidade de bolhas e estrias de um bloco de vidro
c) Controle de planicidade e esfericidade de superfcies polidas
d) Verificao da qualidade de polimento de uma superfcie
e) Medida do raio de curvatura de uma superfcie polida
5.17. xido de crio e zircnia so abrasivos utilizados para:
a) Lapidao de cristais moles
b) Polimento de vidros em geral
c) Polimento de metais









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d) Lapidao e polimento de cristais higroscpicos
e) Lapidao de cristais duros

5.18. O gonimetro utilizado para medir:
a) O raio de curvatura de uma lente
b) A centragem do eixo ptico de uma lente
c) O foco de uma lente
d) O ngulo de um prisma
e) A espessura final de uma lente
5.19. Uma superfcie esfrica cncava de raio de curvatura 100 mm, na
qual foi depositada uma camada refletiva de alumnio, possui foco
de:
a) 30 mm
b) 40 mm
c) 50 mm
d) 100 mm
e) 200 mm
5.20. Para a montagem de um blocado de prismas deve-se usar:
a) Cimento ptico e parafina
b) Gesso e parafina
c) Parafina e breu
d) Cera de abelha e glicerina
e) Breu e cera de abelha
5.21. O tempo mdio de polimento de um blocado plano de 30 cm de
dimetro contendo cerca de 50 janelas de vidro de 38 mm de
dimetro de:
a) 1 hora a 20 rpm
b) 3 horas a 50 rpm
c) 5 horas a 70 rpm
d) 16 horas a 80 rpm
e) 48 horas a 150 rpm