Novas Técnicas de Detecção de Fase Óptica em Interferômetros Homódinos Aplicadas À Caracterização de Atuadores Piezoelétricos Flextensionais

Universidade Estadual Paulista - UNESP
Faculdade de Engenharia de Ilha Solteira

Departamento de Engenharia Eltrica

Luiz Antnio Perezi Maral

Novas Tcnicas de Deteco de Fase ptica em
Interfermetros Homdinos Aplicadas Caracterizao
de Atuadores Piezoeltricos Flextensionais

Ilha Solteira, Fevereiro de 2008.

Luiz Antnio Perezi Maral

Novas Tcnicas de Deteco de Fase ptica em
Interfermetros Homdinos Aplicadas Caracterizao
de Atuadores Piezoeltricos Flextensionais

Tese apresentada Faculdade de Engenharia de Ilha
Solteira da Universidade Estadual Paulista UNESP,
como parte dos requisitos exigidos para a obteno do
ttulo de Doutor em Engenharia Eltrica.

Orientador:
Prof. Dr. Cludio Kitano

UNESP - UNIVERSIDADE ESTADUAL PAULISTA
DEPARTAMENTO DE ENGENHARIA ELTRICA
DOUTORADO EM ENGENHARIA ELTRICA
CAMPUS DE ILHA SOLTEIRA

Ilha Solteira SP.
Fevereiro / 2008

FICHA CATALOGRFICA

Elaborada pela Seo Tcnica de Aquisio e Tratamento da Informao/Servio Tcnico
de Biblioteca e Documentao da UNESP-Ilha Solteira

Maral, Luiz Antnio Perezi.
M6313n Novas tcnicas de deteco de fase ptica em interfermetros homdinos aplicadas
caracterizao de atuadores piezoeltricos flextensionais / Luiz Antnio Perezi Maral.
Ilha Solteira : [s.n.], 2008
263 f. : il., fots. (algumas color.)

Tese (doutorado) - Universidade Estadual Paulista. Faculdade de Engenharia de Ilha
Solteira, 2008

Orientador: Cludio Kitano
Bibliografia: p. 246-260

1. Optoeletrnica. 2. Interferometria. 3. Transdutores piezoeltricos. 4. Medidas ticas.
5. Rudo.

Dedico a Jeov (do tetragrama original em hebraico, ) Deus
e a seu Filho Jesus Cristo.

Agradecimentos

s minhas queridas: esposa Adriana, filhas Driellen e Lorena, me Dalva e ao estimvel
irmo Lindsay, pela presena, dedicao, amor e auxlio sempre;
Ao Prof. Dr. Cludio Kitano pela orientao na tese e por ter acreditado na
concretizao deste trabalho;
Ao Prof. Dr. Ricardo Tokio Higuti pelo apoio durante o desenvolvimento da tese;
Ao Prof. Dr. Nobuo Oki pela orientao no incio da pesquisa;
Aos Profs. Dr. Emlio Silva e Dr. Gilder Nader pelo trabalho em conjunto, durante o
desenvolvimento da tese;
Aos tcnicos de laboratrio Everaldo L. Moraes, Adilson A. Palombo, Valdemir Chaves
e Jos Aderson Anhussi pela prestao dos servios de manuteno dos equipamentos
de laboratrio;
A: Jos V. F. Leo, Wander W. M. Martins, Joo M. S. Sakamoto, Joo P. C. de
Menezes, Francisco de A. A. Barbosa e Ericsson Vendramini, pelas contribuies na
melhoria do Laboratrio de Optoeletrnica e por participarem, sob a superviso do Prof.
Dr. Cludio Kitano, do desenvolvimento desta rea na FEIS-UNESP.

A f a expectativa certa de coisas esperadas, a demonstrao
evidente de realidades, embora no observadas.
Hebreus 11:1

Resumo
Nesta tese, cinco novas tcnicas de demodulao de fase ptica so propostas, as
quais constituem verses melhoradas do mtodo espectral J
1
...J
4
clssico. As tcnicas
so adequadas para uso com sistemas interferomtricos de dois feixes, homdinos,
operando em malha aberta e sob excitao senoidal. As novas tcnicas, aqui
denominadas de mtodos J
1
/J
3
A, J
1
...J
3
, J
m
/J
m+2
e J
0
...J
3
, para medio do ndice de
modulao de fase, e, um novo mtodo de medio da fase quase-esttica, so de fcil
implementao, no sendo afetadas pelo desvanecimento de sinal detectado,
instabilidade da fonte ptica e visibilidade das franjas de interferncia, possibilitando
medies em tempo real. Os novos mtodos espectrais foram avaliados com rudo
branco, 1/f
2
e fase quase-esttica aleatria, usando o Matlab. Alm disso, simulaes
dinmicas realizadas no Simulink evidenciaram as vantagens dos novos mtodos, que
tambm foram testados em dois experimentos distintos: o primeiro foi direcionado
medies de tenses eltricas senoidais, usando um sensor ptico de tenso (SOT),
baseado numa clula Pockels de cristal de niobato de ltio; o segundo, foi dedicado
medies de amplitudes de deslocamentos nanomtricos de um atuador piezoeltrico
flextensional (APF), usando-se um interfermetro de Michelson. Por ser um sistema
que pode ser modelado analiticamente, o SOT serviu para validar os novos mtodos
espectrais. A caracterizao de APFs usando os novos mtodos pticos a aplicao
relevante desta tese. Medies de deslocamentos no APF, desde a faixa sub-
nanomtrica at a micromtrica, realizadas usando-se os mtodos J
0
...J
3
e J
m
/J
m+2
,
permitiram analisar sua linearidade e resposta em freqncia, as quais foram
comparadas com os resultados obtidos com um analisador de impedncias vetorial.
Ambos os resultados experimentais, para o SOT e o APF, foram comparados com os
obtidos por mtodos clssicos como J
1
...J
4
, J
1
...J
6
-neg, J
1
...J
6
-pos e J
0
...J
2
, concluindo-
se que a exatido e a faixa dinmica dos sensores so aumentadas pelo emprego dos
novos mtodos. Os resultados experimentais concordam com os simulados e, levando-
se em conta a variao aleatria da fase quase-esttica, revelam que os novos mtodos
so mais eficientes do que os mtodos clssicos estudados.

Palavras-chave: optoeletrnica, interferometria, transdutor piezoeltrico, medidas
pticas, rudo.

Abstract

In this work, five novel optical phase demodulation techniques are proposed, which
overcome some of the limitations of the J
1
J
4
classical method. These improved
techniques are applied with two beams, homodyne, open loop and sinusoidal phase
modulation interferometer systems. These new techniques, named in this work as
J
1
/J
3
A, J
1
...J
3
, J
m
/J
m+2
and J
0
...J
3
methods, which are applied to phase modulation
index measurements, and the novel method for quasi-static phase measurements, are
of simple implementation, and are unaffected by signal fading, laser source instabilities
or changes in fringe visibility. In addition they allow real time measurements. The new
methods were evaluated with white noise, 1/f
2
noise and random fading, using
Matlab/Simulink, making evident their advantages in relation to the classical methods.
These methods were also tested in two experiments: the first one, corresponds to an
optical voltage sensor (OVS), based on lithium niobate Pockels cell; the second one,
refers to the measurement of nanometric displacement amplitudes of a piezoelectric
flextensional actuator (PFA), by using a Michelson interferometer. Because the OVS
has an analytic response, it was suitable to validate the new spectral methods. The
characterization of the PFA by using the new optical methods is the main application of
this thesis. PFA displacements, from sub-nanometer up to micrometer range were
detected by applying the J
0
J
3

and J
m
/J
m+2
methods. By measuring the PFA
displacements, the linearity and frequency response of the PFA were evaluated. To
confirm the observed frequencies of resonance an impedance analyzer was used to
measure the magnitude and phase of the PFA admittance. Results obtained for the OVS
and PFA systems, with the new methods and those produced by the J
1
...J
4
, J
1
...J
6
-neg,
J
1
...J
6
-pos and J
0
...J
2
classic methods, reveal that the new methods enhance the sensing
accuracy and dynamic range, being more efficient than all the classic ones.

Keywords: optoelectronics, interferometry, piezoelectric transducer, optical measures,
noise.

LISTA DE FIGURAS

Figura 1.1 Atuador Piezoeltrico Flextensional................................................................... 56
Figura 2.1 Piezocermica retangular polarizada pela aplicao de um campo eltrico
na direo da polarizao eltrica do material (direo 3). (a) campo e
polarizao eltrica no mesmo sentido. (b) campo e polarizao eltrica
em sentidos contrrios ........................................................................................ 65
Figura 2.2 Curvas de admitncia eltrica medidas com o analisador de impedncias
() e calculadas usando o ANSYS (---). [122] (a) Magnitude em funo
da freqncia. (b) Fase em funo da freqncia. ............................................. 66
Figura 2.3 Deslocamentos L
3
(relacionado d
33
) e L
1
(relacionado d
31
), obtidos
em anlise quase-esttica efetuada experimentalmente usando o sensor
MTI-2000 e por simulao usando o ANSYS: L
1
experimental, --- L
1
simulado, L
3
experimental e --- L
3
simulado [122]..................................... 67
Figura 2.4 Atuadores piezoeltricos flextensionais: (a) moonie. (b) cymbals. .................. 68
Figura 2.5 Processo de otimizao topolgica [158]. a) Domnio inicial. b) Domnio
discretizado. c) Topologia obtida. d) Interpretao. e) Verificao. f)
Fabricao........................................................................................................... 70
Figura 2.6 Resultados de otimizao topolgica e a interpretao correspondente
[158]. a) Deslocamento mximo no centro do encapsulamento metlico. b)
Deslocam. mximo na extremidade do encapsulamento.................................... 71
Figura 2.7 Piezoatuadores flextensionais com diferentes topologias, dependendo do
ponto em que se deseja amplificar a vibrao [146]. ......................................... 71
Figura 2.8 Prottipo do f1b0820 [122]. a) Vista lateral. b) Vista superior. c) Suporte
com o atuador. d) Esquema dos trs parafusos fixando a piezocermica........... 72
Figura 3.1 Representao do interfermetro de Young usando o modelo ondulatrio
da luz. ................................................................................................................. 75
Figura 3.2 Representao do padro de interferncia de Young, simulado no software
Matlab, onde a intensidade luminosa senoidal. Os parmetros de
simulao so = 0,6328 m, = 1 mm e l =1 m. ........................................... 78

Figura 3.3 Figuras de franjas obtidas em simulao para = 0,6328 m,

= 1 mm e l
= 1 m. (a) 80% de visibilidade. (b) 20% de visibilidade. ................................... 79
Figura 3.4 Interfermetros de dois feixes homdinos no realimentados, em ptica
volumtrica. (a) Mach-Zehnder. (b) Michelson. (c) vista em detalhe do
separador de feixes BS
2
ou BS
3
, e do padro de franjas tpico, resultante da
interferncia........................................................................................................ 80
Figura 3.5 Diagrama de um sistema de transduo ptico-eletrnica usando um
fotodiodo acoplado a um estgio de condicionamento de sinal usando um
amplificador de transimpedncia (AT). No caso de processamento digital
necessrio um conversor A/D para gerar v[n], sendo n o nmero da
amostra. .............................................................................................................. 86
Figura 3.6 Tenso fotodetectada v(t) e seu espectro de magnitude em dB (at a quinta
harmnica), normalizados, para uma excitao do tipo ) ( t xsen
s
= ,
considerando visibilidade unitria, e regime sub-franjas, com ndice de
modulao 4 , 0 = x rad. (a) ponto quiescente Q
1
[ 2 / ) (
0
= t rad]. (b) O
ponto quiescente foi deslocado para Q
2
[ = ) (
0
t rad]...................................... 92
Figura 3.7 Tenso fotodetectada ) (t v e seu espectro de magnitude em dB (at a dcima
harmnica), normalizados, para uma excitao do tipo ) ( t xsen
s
= ,
considerando visibilidade unitria, e regime multi-franjas, com ndice de
modulao 2 = x rad. (a) ponto quiescente Q
3
[ 2 / ) (
0
= t rad]. (b) Ponto
quiescente Q
4
[ 0 ) (
0
= t ]. ................................................................................... 93
Figura 3.8 Tenso fotodetectada ) (t v e seu espectro de magnitude em dB (at a
dcima harmnica), normalizados, para uma excitao ) ( t sen x
s
= ,
considerando visibilidade unitria, e regime multi-franjas, com ndice de
modulao 2 = x rad e ponto quiescente Q
5
, [ 3 / ) (
0
= t rad]. ...................... 94
Figura 3.9 SNR para rudo 1/f
2
com K=0,0011. (a) componente fundamental. (b)-(f)
segunda a sexta harmnicas, respectivamente.................................................... 98
Figura 3.10 SNR para rudo branco com K=0,0004. (a) componente fundamental. (b)-
(f) segunda a sexta harmnicas, respectivamente............................................... 98
Figura 4.1 Funes de Bessel de primeira espcie e ordem: 1, -.-. 2, - - 3 e .... 4........... 102

Figura 4.2 Erro absoluto de fase x como uma funo do valor esperado x,
considerando-se: (*) rudo 1/f
2
com K=0,0011 e () rudo branco com
K=0,0004. A linha tracejada x utilizada para a identificao do MDPS:
o valor de x correspondente a x x = . (a) Mtodo J
1
...J
4
. (b) Mtodo
J
1
...J
4
Modificado.............................................................................................. 113
Figura 4.3 Fase estimada ' x em funo da fase ) (
0
t para o valor esperado x = 1 rad,
pela aplicao do mtodo J
1
...J
4
. (a) Simulao para rudo 1/f
2
com
K=0,0011. (b) Simulao para rudo branco com K=0,0004........................... 113
Figura 4.4 Erro relativo de fase
r
x como uma funo de x e de ) (
0
t , para o mtodo
J
1
...J
4
e rudo branco com K=0,0004................................................................. 114
r
0
t , para o mtodo
J
1
...J
4
Modificado e rudo branco com K=0,0004.............................................. 115
r
x em funo de K e de ) (
0
t , calculado para um
valor esperado x = 1 rad, usando o mtodo J
1
...J
4
Modificado, considerando
rudo branco. ..................................................................................................... 116
Figura 4.7 Erro absoluto de fase x em funo do valor esperado x para (*) rudo 1/f
2

com K=0,0011 e () rudo branco com K=0,0004, onde a linha tracejada
x utilizada para a identificao do MDPS; o valor de x correspondente a
x x = . (a) Mtodo J
1
...J
6
-neg. (b) Mtodo J
1
...J
6
-pos. ................................ 117
Figura 4.8 Fase estimada ' x em funo do rudo de fase ) (
0
t considerando (*) rudo
1/f
2
com K=0,0011 e () rudo branco e K=0,0004. (a) Mtodo J
1
...J
6
-neg,
para um valor esperado 5 , 0 = x rad. (b) Mtodo J
1
...J
6
-pos, para um valor
esperado 8 , 5 = x rad. ........................................................................................ 118
r
0
t , para o mtodo
J
1
...J
6
-neg. (a) simulao para rudo 1/f
2
com K=0,0011 (b) simulao para
rudo branco com K=0,0004. ............................................................................. 119
r
0
t , para o mtodo
J
1
...J
6
-pos,

para

rudo branco ilimitado em faixa e K=0,0004............................. 119

Figura 4.11 Erro absoluto de fase x em funo de x pelo clculo usando o mtodo
J
0
...J
2
, considerando (*) rudo 1/f
2
K=0,0004. (a) x variando de 0 a 2,5 rad. (b) Vista em detalhe na regio de
baixos ndices, para x at 5 mrad. A linha tracejada utilizada para a
identificao do MDPS; o valor de x correspondente a x x = . ....................... 121
Figura 4.12 Fase estimada ' x em funo da fase ) (
0
t para o valor esperado 100 = x
mrad, pela aplicao do mtodo J
0
...J
2
2
com
K=0,0011 e () rudo branco com K=0,0004. .................................................... 122
Figura 4.13 Erro
r
x em funo de x e ) (
0
t , para o mtodo J
0
...J
2
. (a) Clculo para
rudo 1/f
2
com K=0,0011 e (b) Clculo para rudo branco com K=0,0004......... 122
Figura 4.14 Erro absoluto de fase ) (
0
t em funo de x para o mtodo de medio da
fase ) (
0
t proposto por Sudarshanam, com 84 , 1 =
a
rad, para (*) rudo 1/f
2

com K=0,0011 e () rudo branco com K=0,0004.............................................. 124
0
t em funo do valor esperado ) (
0
t para o
mtodo de medio de ) (
0
a
rad,
considerando (*) rudo 1/f
2
K=0,0004. (a) ) (
0
t na faixa de 0 a /2 rad. (b) zoom na regio de ) (
0
t at
6 mrad. A linha tracejada utilizada para a identificao do MDPS-DC; o
valor de ) (
0
t para o qual ) ( ) (
0 0
t t = . ..................................................... 124
Figura 4.16 Erro relativo percentual
r
t) (
0
em funo de ) (
0
t e x, para o mtodo
espectral indireto de medio de ) (
0
t para rudo branco com K=0,0004......... 125
Figura 5.1 Erro relativo percentual na estimao de x usando o mtodo J
1
/J
3
A. ................. 129
Figura 5.2 Erro absoluto de fase x em funo do valor esperado x para os mtodos (*)
J
1
...J
4
e () J
1
/J
3
A, considerando o fator de rudo K. (a) Rudo 1/f
2
com
K=0,0011. (b) Rudo branco com K=0,0004. A linha tracejada x utilizada
para a identificao do MDPS: o valor de x correspondente a x x = ................ 130
Figura 5.3 ndice de modulao de fase estimado ' x em funo da fase ) (
0
t para o
valor esperado x=1 rad, pela aplicao dos mtodos (*) J
1
...J
4
e () J
1
/J
3
A,
considerando o fator de rudo K. (a) Rudo 1/f
2
com K=0,0011. (b) Rudo
branco com K=0,0004. ...................................................................................... 131

Figura 5.4 Erro relativo percentual de fase
r
x em funo da fase ) (
0
t e do ndice de
modulao de fase esperado x, para o mtodo J
1
/J
3
A

, considerando rudo
branco com K=0,0004. ...................................................................................... 132
Figura 5.5 Funo
13
f e indicao do limiar de deciso em 78 , 0 ) 83 , 4 (
13
= rad f . ....... 134
Figura 5.6 Fluxograma de clculo de x pelo mtodo J
1
...J
3
. ............................................... 135
Figura 5.7 Erro relativo percentual na estimao de x pelo mtodo J
1
...J
3
. ......................... 135
Figura 5.8 Erro de fase x em funo de x para os mtodos (*) J
1
...J
4
Modificado e ()
J
1
...J
3
, considerando o fator de rudo K. (a) Rudo 1/f
2
com K=0,0011. (b)
Rudo branco com K=0,0004. ............................................................................ 137
Figura 5.9 ndice de modulao de fase ' x em funo da fase ) (
0
t para o valor
esperado 8 , 5 = x rad, calculado usando os mtodos (*) J
1
...J
6
-pos e ()
J
1
...J
3
2
com K=0,0011. (b)
Rudo branco com K=0,0004............................................................................. 137
r
0
t e do ndice de
modulao de fase esperado x, para o mtodo J
1
...J
3
, considerando rudo
branco com K=0,0004. ...................................................................................... 138
Figura 5.11 Magnitude das harmnicas normalizadas (
mx m m
V V | | / | | ) em funo da
ordem harmnica m , para: P=Q= 2 / 2 (harmnicas mpares e pares
presentes), * P=0 (harmnicas mpares nulas) e Q=0 (harmnicas pares
nulas). (a) 10 = x rad. (b) 50 = x rad. (c) 80 = x rad. ................................... 142
Figura 5.12 Fluxograma do clculo de x pelo mtodo J
m
/J
m+2
. ............................................. 147
Figura 5.13 Erro percentual relativo na estimao de x usando o mtodo J
m
/J
m+2
em
funo do valor esperado de x, para: P=Q (harmnicas mpares e pares
presentes), * P=0 (harmnicas mpares nulas) e Q=0 (harmnicas pares
nulas)................................................................................................................. 148
Figura 5.14 Erro de fase x em funo de x para o mtodo J
m
/J
m+2
, nas condies: P=Q
(harmnicas mpares e pares presentes), * P=0 (harmnicas mpares nulas) e
Q=0 (harmnicas pares nulas), considerando rudo o fator de rudo K. (a)
Rudo 1/f
2
com K=0,0011. (b) Rudo branco com K=0,0004. ............................. 152

r
0
t , calculado para o mtodo
J
m
/J
m+2
, considerando rudo branco com K=0,0004. .......................................... 153
Figura 5.16 Algoritmo do clculo de x pelo mtodo J
0
...J
3
................................................... 157
Figura 5.17 Erro absoluto x em funo de x usando os mtodos (*) J
0
...J
2
e () J
0
...J
3
,
considerando
a
x =2,7 rad e 4 / ) (
0
= t rad. (a) Rudo 1/f
2
com K=0,0011.
(b) Rudo branco com K=0,0004. (c) Rudo 1/f
2
com K=0,0011 (regio de
baixos ndices). (d) Rudo branco com K=0,0004 (regio de baixos ndices)...... 158
r
0
t , obtido em simulao com
rudo branco e K=0,0004, 5 , 2 =
a
x rad. (a) Clculo pelo mtodo J
0
...J
2
. (b)
Clculo pelo mtodo J
0
...J
3
................................................................................ 159
Figura 5.19 Erro
r
0
t , obtido em simulao com rudo branco,
calculado para baixos ndices de modulao (vista em detalhe da regio de
baixos ndices do grfico da Fig. 5.18). (a) Mtodo J
0
...J
2
. (b) Mtodo J
0
...J
3
... 159
Figura 5.20 ndice de modulao ' x em funo de ) (
0
t pela aplicao dos mtodos (*)
J
0
...J
2
e () J
0
...J
3
, simulado com rudo branco e K=0,0004. (a) Clculo para
50 = x mrad. (b) Clculo para 10 = x mrad. (c) Erro relativo para x = 50
mrad. (d) Erro relativo para x = 10 mrad. ......................................................... 160
Figura 5.21 Erro de fase ) (
0
t em funo de x calculado usando (*) o mtodo
desenvolvido por Sudarshanam e () o novo mtodo de medio de ) (
0
t
proposto nesta tese (para m=2), considerando 4 / ) (
0
= t rad e o fator de
rudo K. (a) Rudo 1/f
2
e K=0,0011. (b) Rudo branco e K=0,0004. ................ 163
Figura 5.22 Erro ) (
0
t em funo de ) (
0
t para os mtodos (*) desenvolvido por
Sudarshanam, simulado com rudo 1/f
2
e K=0,0011, () desenvolvido por
Sudarshanam, simulado com rudo branco e K=0,0004, (*) novo mtodo,
simulado com rudo 1/f
2
e K=0,0011 e () novo mtodo, simulado com
rudo branco e K=0,0004. O valor de x est fixado em 2,5 rad. (a) ) (
0
t na
faixa 2 / ) ( 0
0
< < t rad. (b) ) (
0
t na regio de baixo ) (
0
t (mrad)........... 164

Figura 5.23 Erro percentual relativo
r
t) (
0
em funo de x e ) (
0
t , simulado com
rudo branco e K=0,0004, para: (a) o mtodo proposto por Sudarshanam e
(b) o novo mtodo direto de medio de ) (
0
t , calculado usando (5.49).......... 165
Figura 5.24 Fluxograma de clculo do mtodo de clculo de ) (
0
t proposto nesta tese ...... 165
Figura 5.25 Erro
r
t) (
0
em funo de x e ) (
0
t , considerando rudo branco com
K=0,0004. (a) Clculo pelo mtodo desenvolvido por Sudarshanam. (b)
Clculo pelo mtodo proposto nesta tese, usando o algoritmo da Fig. 5.24. ... 166
Figura 5.26 Fluxograma de estimao de x e de ) (
0
t usando os novos mtodos
espectrais........................................................................................................... 171
Figura 6.1 Modelo implementado no Simulink para simulao dos mtodos espectrais .. 174
Figura 6.2 Subsistema de gerao do sinal modulado em fase. ......................................... 176
Figura 6.3 Subsistema de anlise do sinal modulado em fase [ ) ( ) ( t r t s + ] e
identificao das componentes espectrais (a) Clculo usando uma FFT. (b)
Clculo usando o algoritmo de Goertzel. ......................................................... 176
Figura 6.4 Subsistema de clculo da fase inicial
s
. ......................................................... 179
Figura 6.5 Subsistema de clculo das amplitudes das harmnicas usando a fase
s
. ....... 179
Figura 6.6 Subsistema de anlise das harmnicas. ............................................................ 180
Figura 6.7 Subsistema de clculo de x usando os mtodos espectrais clssicos................ 180
Figura 6.8 Subsistema de clculo de x usando os novos mtodos J
1
/J
3
A e J
1
...J
3
............. 181
Figura 6.9 Subsistema de clculo de x usando o mtodo J
m
/J
m+2
. ..................................... 182
Figura 6.10 Subsistema de clculo de x atravs dos mtodos J
0
...J
2
e J
0
...J
3
. ..................... 183
Figura 6.11 Subsistema de clculo de
o
(t) usando os mtodos espectrais. ........................ 184
Figura 6.12 Sinal modulado em fase gerado para x=2,9 rad e
o
(t)=/4 rad. (a) quadro
temporal do sinal usando janela retangular. (b) Espectro de magnitude do
sinal janelado. ................................................................................................... 185
Figura 6.13 Efeito do janelamento para o sinal modulado gerado, para x=2,9 rad e
o
(t)=/4 rad. (a) quadro temporal do sinal usando janela de Hanning. (b)
Espectro de magnitude do sinal janelado. ........................................................ 186

Figura 6.14 Distanciamento das componentes no espectro, como efeito do
preenchimento com zeros. (a) FFT de 512 pontos. (b) FFT de 1024 pontos
(512 pontos do sinal janelado + 512 pontos nulos). ......................................... 186
Figura 6.15 Espectro de magnitude utilizado na estimao do fator de rudo K. ................ 187
Figura 6.16 Respostas dos subsistemas de clculo de x em funo do valor esperado x,
para
o
(t)=/4 rad. (a) Mtodo J
1
...J
4
. (b) Erro relativo
r
x pelo mtodo
J
1
...J
4
. (c) Mtodo J
1
...J
3
. (d) Erro relativo
r
x pelo mtodo J
1
...J
3
. ................ 188
Figura 6.17 Respostas dos subsistemas de clculo de x em funo do valor esperado x,
para
o
1
...J
6
-neg. (b) Erro relativo
r
x pelo
mtodo J
1
...J
6
-neg. (c) Mtodo J
1
...J
3
. (d) Erro relativo
r
x pelo mtodo
J
1
...J
3
. ................................................................................................................ 189
Figura 6.18 Respostas dos subsistemas de clculo de x em funo do valor esperado de
x, para
o
1
...J
6
-pos. (b) Erro relativo
r
x pelo
mtodo J
1
...J
6
-pos. (c) Mtodo J
m
/J
m+2
. (d) Erro relativo
r
x pelo mtodo
J
m
/J
m+2
............................................................................................................... 190
Figura 6.19 Respostas dos subsistemas de clculo de x em funo do valor esperado de
x, para
o
(t)=/4 rad. (a) x pelo mtodo J
0
...J
2
e - - valor esperado x. (b)
Erro
r
x pelo mtodo J
0
...J
2
. (c) x pelo mtodo J
0
...J
3
e - - valor
esperado x. (d) Erro
r
x pelo mtodo J
0
...J
3
................................................... 190
Figura 6.20 Respostas dos subsistemas de clculo de x em funo do tempo de
simulao, para x=2,6 rad e
o
(t) variando. (a) Erro
r
x pelo mtodo
J
1
...J
4
. (b) Erro
r
x pelo mtodo J
1
...J
3
. (c) Fase
o
(t). ................................. 192
Figura 6.21 Respostas dos subsistemas de clculo de x em funo do tempo, para
x=5,5 rad e
o
r
x pelo mtodo J
1
...J
6
-pos. (b) Erro
r
x pelo mtodo J
m
/J
m+2
. (c) Fase
o
(t). ......................................................... 192
Figura 6.22 Respostas dos subsistemas de clculo de x em funo do tempo, para x=1
rad e
o
r
x pelo mtodo J
1
...J
6
-pos. (b) Erro
r
x
pelo mtodo J
m
/J
m+2
. (c) Fase
o
(t). .................................................................. 193

Figura 6.23 Respostas dos subsistemas de clculo de x em funo do tempo, para x=1
rad e
o
r
x pelo mtodo J
1
...J
6
-neg. (b) Erro
r
x
pelo mtodo J
1
...J
3
. (c) Fase
o
(t). ................................................................... 194
Figura 6.24 Respostas dos subsistemas de clculo de x em funo do tempo, para
x=100 mrad e
o
(t) variando. (a) e (b) Erros
r
x calculados,
respectivamente, para os mtodos J
0
...J
2
e J
0
...J
3
, para
o
(t) variando de
acordo com (c). (d) e (e) Erros
r
x calculados, respectivamente, para os
mtodos J
0
...J
2
e J
0
...J
3
, para
o
(t) variando de acordo com (f)........................ 194
Figura 6.25 Resposta do subsistema de clculo de x pelo mtodo J
1
...J
4
, para x e
o
(t)
variando. (a) ndice estimado x. (b) Erro
r
x na estimao de x. (c) Fase
o
(t). .................................................................................................................. 195
Figura 6.26 Respostas dos subsistemas de clculo de x pelo mtodo J
1
...J
6
-pos, em
funo do tempo, para ambos, x e
o
(t), variando. (a) ndice estimado x.
(b) Erro
r
o
(t). ............................................... 196
Figura 6.27 Resposta do subsistema de clculo de x usando o mtodo J
m
/ J
m+2
, para x e
o
(t) variando. (a) ndice estimado x. (b) Erro
r
x na estimao de x. (c)
Fase
o
(t)........................................................................................................... 196
Figura 6.28 Clculo de x em funo do tempo, para x e
o
(t) variando, onde (- -)
corresponde ao valor esperado x e () ao valor calculado x. (a) Mtodo
J
0
...J
2
. (b) Mtodo J
0
...J
3
. (c) x
a
calculado pelo mtodo J
0
...J
3
para um
valor esperado x
a
=2,7 rad. (d) - -
o
(t) esperado e
o
(t) estimado usando a
tcnica proposta no fluxograma do mtodo J
0
...J
3
. .......................................... 197
Figura 6.29 Erro
r
x para x e
o
(t) variando. (a) Mtodo J
0
...J
2
. (b) Mtodo J
0
...J
3
. (c)
Fase
o
(t)........................................................................................................... 198
Figura 6.30 Respostas do subsistema de clculo de ) ( '
0
t em funo do tempo, para x
variando e 4 / ) ( '
0
= t rad. (a) () Clculo pelo mtodo desenvolvido por
Sudarshanam (clssico) e () clculo pelo novo mtodo. (b) Erro absoluto
no clculo de ) (
0
t usando () o mtodo desenvolvido por Sudarshanam e
() o novo mtodo. (c) ndice de modulao x. ................................................ 199

Figura 6.31 Respostas do subsistema de clculo de ) ( '
0
t em funo do tempo, para x e
) (
0
t variando. (a) () Clculo pelo mtodo desenvolvido por
Sudarshanam (clssico) e () clculo pelo novo mtodo. (b) Erro absoluto
no clculo de ) (
0
t usando () o mtodo desenvolvido por Sudarshanam e
() o novo mtodo. (c) ndice de modulao x. ............................................... 199
Figura 7.1 Clula Pockels de LiNbO
3
empregada no SOT. (a) Cristal de LiNbO
3

utilizado como elemento sensor. (b) Clula Pockels transversal montada
com o cristal num suporte................................................................................. 204
Figura 7.2 SOT montado no laboratrio de optoeletrnica da FEIS. ................................ 204
Figura 7.3 Curva de Transmisso de uma clula Pockels de LiNbO
3
e operao na
regio linear da curva de transmisso............................................................... 207
Figura 7.4 Sinais de sada tpicos observados quando uma tenso senoidal de valor
eficaz igual a 160 V
RMS
e freqncia de 60 Hz aplicada clula Pockels.
(a) Forma de onda da tenso proporcional intensidade da luz detectada
pelo fotodiodo. (b) Banda do espectro de magnitude normalizado
correspondente, para freqncias at 1,2 kHz. ................................................. 210
Figura 7.5 Espectro de magnitude da janela de tenso fotodetectada da Fig. 7.5-a,
onde se destaca a regio das harmnicas (incio da banda) e a regio onde
somente o rudo prevalece (acima de 500 Hz). ................................................ 210
Figura 7.6 Clculos realizados para o SOT excitado por uma tenso senoidal variando
de 0 a 270 V. (a) Profundidade de modulao de fase estimada usando-se
os mtodos: (*) J
1
...J
6
-pos e () J
m
/J
m+2
. (b) Fase
0
(t) calculada pelo: (*)
mtodo desenvolvido por Sudarshanam e () novo mtodo proposto nesta
tese.................................................................................................................... 211
Figura 7.7 Clculos realizados para o SOT excitado por uma tenso senoidal variando
de 0 a 27 V. (a) Profundidade de modulao de fase estimada usando-se os
mtodos: (*) J
1
...J
6
-neg, e () J
1
/J
3
A. (b) Fase
0
(t) calculada pelo: (*)
mtodo desenvolvido por Sudarshanam e () novo mtodo proposto nesta
tese.................................................................................................................... 213
Figura 8.1 Configurao experimental para medidas de deslocamentos da superfcie
do APF. ............................................................................................................. 216

Figura 8.2 Interfermetro de Michelson montado como sensor de deslocamentos da
superfcie do AFP.............................................................................................. 217
Figura 8.3 Amplificador de transimpedncia para a monitorao da fotocorrente
detectada. (a) diagrama em blocos do circuito. (b) Resposta em freqncia
obtida em simulao. ........................................................................................ 219
Figura 8.4 Montagem experimental para caracterizao do APF, composto
basicamente pelo interfermetro de Michelson, o sintetizador de sinais
Agilent 33220A, o osciloscpio digital Tektronix TDS2022 e o
microcomputador para aquisio e processamento digital da tenso
fotodectada. ...................................................................................................... 220
Figura 8.5 Sinal fotodetectado tpico observado quando uma tenso senoidal de 47 V
de pico e freqncia de 4 kHz aplicada ao APF. a) Forma de onda da
tenso fotodetectada (a.c.). b) Espectro de magnitude normalizado
correspondente, calculado em dB. .................................................................... 223
Figura 8.6 Sinal fotodetectado quando uma tenso senoidal de 12 V (valor de pico) e
23,2 kHz (maior ressonncia do atuador) aplicada ao APF. a) Forma de
onda da tenso fotodetectada (a.c.) b) Espectro de magnitude normalizado
correspondente.................................................................................................. 223
Figura 8.7 Banda de rudo compreendida entre 600 Hz e 24 kHz. .................................... 224
Figura 8.8 Deslocamento
s
l do APF obtido em anlise harmnica, em 4 kHz, na
regio de baixo ndice de modulao, calculado usando os mtodos: (
)
J
1
...J
6
-neg

, (x) J
1
...J
4
e (
*
) J
1
/J
3
A...................................................................... 226
Figura 8.9 Anlise harmnica do APF na ressonncia de 15,3 kHz. (a) Deslocamento
s
l do APF calculado usando os mtodos: () J
m
/J
m+2
e (*) J
1
...J
4
. (b)
Fase ) (
0
t calculada usando: ) o novo mtodo espectral proposto nesta
tese e (*) o mtodo desenvolvido por Sudarshanam........................................ 227
Figura 8.10 Anlise harmnica do atuador na ressonncia de 23,2 kHz. (a)
Deslocamento
s
l do APF efetuada experimentalmente aplicando-se os
mtodos: () J
m
/J
m+2
e (
*
) J
1
...J
4
. (b) Fase ) (
0
t calculada usando o
mtodo espectral proposto nesta tese................................................................ 228
Figura 8.11 Linearidade do APF em 4,6 kHz e em 23,2 kHz (ressonncias). ..................... 229

Figura 8.12 Resposta em freqncia do APF em termos do deslocamento normalizado
pela tenso eltrica aplicada ao atuador, calculado usando os mtodos: ()
J
1
/J
3
A e (
*
) J
1
...J
4
. ........................................................................................... 230
Figura 8.13 Analisador de impedncias HP 4192A utilizado na obteno do mdulo e
fase da admitncia eltrica do atuador.............................................................. 231
Figura 8.14 Curvas da admitncia eltrica medidas com o analisador de impedncias
HP 4192A. (a) Magnitude em funo da freqncia. (b) Fase em funo
da freqncia. ................................................................................................... 232
Figura 8.15 Fase da admitncia eltrica medida entre o nvel DC e 20 kHz, mostrando
pequenas ressonncias em torno de 5 e 15 kHz................................................ 233
Figura 8.16 (a) Detalhe do tweeter usado no interfermetro para uso especfico dos
mtodos J
0
...J
2
e J
0
...J
3
. (b) Interfermetro de Michelson modificado em seu
brao de referncia, pelo uso do tweeter. ............................................................ 234
Figura 8.17 Sinal interferomtrico de sada observado quando uma tenso senoidal de
41,2 V (valor de pico) e 4 kHz aplicada ao APF e uma tenso senoidal de
1,7 V (valor de pico) e 2,312 kHz aplicada ao tweeter (corresponde a um
ndice de modulao auxiliar x
a
= 1,61 rad). (a) Forma de onda da tenso
fotodetectada (a.c.). (b) Espectro de magnitude normalizado
correspondente.................................................................................................. 235
Figura 8.18 Deslocamentos da superfcie do atuador como uma funo do valor de pico
da tenso aplicada ao atuador, calculada pelos mtodos: () J
0
...J
3
e (
*
)
J
0
...J
2
. ................................................................................................................ 235
Figura 9.1 Estruturas metlicas flexveis de novos manipuladores piezoeltricos
desenvolvidos pelo Grupo de Sensores e Atuadores da EPUSP [194]............... 245

LISTA DE TABELAS

Tabela. 5.1 Faixas de x associadas a cada valor de m (considerando um limiar de
0,85) e faixa expandida de x usada na determinao dos coeficientes
m
a e
m
b . .................................................................................................................... 144
Tabela 5.2 Coeficientes
m
a e
m
b determinados usando a teoria de mnimos quadrados,
para as respectivas faixas dinmicas estabelecidas (faixas expandidas na
Tab. 5.1), associadas aos valores especficos de m .......................................... 146
Tabela 5.3 Ordem harmnica u para 98 1
mx
m ............................................................ 150
Tabela 5.4 Quadro comparativo entre os mtodos espectrais de demodulao de fase
ptica................................................................................................................. 167
Tabela 5.5 MDPSs calculados (em mrad) para rudo 1/f
2
e branco, com K=0,0011 e
K=0,0001. ......................................................................................................... 168
Tabela 5.6 Erro padro em mrad na estimao de x nas simulaes considerando o fator
de rudo K, calculado para 4 / ) (
0
= t rad. ..................................................... 168
Tabela 5.7 Correlao entre os valores calculados e os valores esperados de x
considerando o fator de rudo K, calculada para 4 / ) (
0
= t rad. .................... 169
Tabela 6.1 Nmero de operaes reais de adio e multiplicao envolvidas no
clculo das componentes de freqncias usando Goertzel para alguns
mtodos espectrais e janela de 512 amostras.................................................... 178

LISTA DE ABREVIATURAS

A/D Analgico/Digital
AlGaAs Arseneto de Glio e Alumnio (Aluminium Gallium Arsenide)
APD Fotodiodo de Avalanche (Avalanche Photodiode)
APF Atuador Piezoeltrico Flextensional
AT Amplificador de Transimpedncia
BS Separador de Feixes (Beam Splitter)
DC Corrente direta (Direct Current)
DSP Processador de Sinal Digital (Digital Signal Processor)
EDM Mquina de descarga eltrica (Electrical Discharge Machining)
ESP Espelho
FBG Grades de Bragg em fibra ptica (Fiber-Bragg Gratting)
FFT Transformada de Fourier Rpida (Fast Fourier Transform)
FM Modulao de Freqncia (Frequency Modulation)
He-Ne Hlio-Nenio
Laser Amplificao da luz por emisso estimulada de radiao (Light
amplification by stimulated emission of radiation)
LD Limiar de Deciso
LED Diodo emissor de luz (Light emitting diode)
LiNbO
3
Niobato de Ltio
MDPS Mnimo deslocamento de fase detectvel (Minimum Detectable
Phase Shift)
MDPS-DC Mnimo deslocamento de fase DC detectvel (Minimum Detectable
Phase Shift - DC
MEF Mtodo de Elementos Finitos
MEMS Sistemas micro-eletro-mecnicos (Micro-Electro-Mechanical
Systems)
NEP Potncia Equivalente de Rudo (Noise Equivalent Power)
Piezocermica Cermica Piezoeltrica
PIN Fotodiodo PIN (Positive-Instrinsic-Negative)
PLL Circuito PLL (Phase Locked Loop)

PM Modulao de Fase (Phase Modulation)
PVDF, PVF
2
Fluoreto de polivinilideno (Polyvinylidene-fluoride)
PZT Tinatato Zirconato de Chumbo (Lead zirconate titanate)
RMS Valor quadrtico mdio (root mean square)
Si Silcio
SI Sistema Internacional de Unidades
SOI Tecnologia SOI (Silicon-on-Insulator)
SOT Sensor ptico de Tenso
STFT Transformada de Fourier de Curta Durao (Short Time Fourier
Transform)
USB Conexo USB (Universal serial bus)

LISTA DE SMBOLOS

Smbolo Significado Unidade SI
m m
b a , Coeficientes usados no mtodo J
m
/J
m+2
. No caso de m = 1,
tm-se os coeficientes
1
a e
1
b , usados tambm no mtodo
J
1
/J
3
A.
' , '
n n
b a Parte real e parte imaginria, respectivamente, da srie
trigonomtrica de Fourier.
A Fator de ganho da tenso fotodetectada, que depende da
intensidade da fonte, da responsividade do fotodetector e do
ganho do circuito de condicionamento de sinal
Distncia do ponto O ao ponto P, no interfermetro de Young m
Distncia entre as fendas no interfermetro de Young m
n n
d c ,
Coeficientes de ordem n dos polinmios de ajustamento de
curvas do mtodo J
1
...J
3
.
ijkl
c Componente elstica de rigidez
2
/ m N
] [
mn
c Forma matricial de representao das constantes elsticas de
rigidez usando ndices reduzidos
2
/ m N
d Altura do cristal de LiNbO
3
usado na clula Pockels
(dimenso do cristal, na direo Y) m
ikl
d Constante piezoeltrica tenso mecnica/campo eltrico V m/
] [
ml
d Forma matricial de representao das constantes
piezoeltricas usando ndices reduzidos V m/
D Deslocamento eltrico
2
/ m C
i
D Componente do deslocamento eltrico
2
/ m C
Variao de fase ptica que contm informao sobre a
grandeza fsica que se deseja medir rad
Diferena total de fase ptica acumulada no interfermetro,
at o ponto de observao rad
s
l Variao de comprimento induzido no ramo de sinal do
interfermetro m

n
L Variao do comprimento na direo n m
Retardo de fase na clula Pockels rad
s
n Variao do ndice de refrao induzida no ramo de sinal do
interfermetro
x Erro absoluto na estimao de x rad
r
x Erro relativo percentual na estimao de x
E Campo eltrico m V /
i
E Componente do campo eltrico m V /
kl
Componente da permissividade dieltrica m F /
] [
ij
Forma matricial de representao da permissividade dieltrica
usando ndices reduzidos m F /
a s
f f f , , Freqncias: do laser, de sinal e de modulao auxiliar,
respectivamente Hz
am
f Freqncia de amostragem Hz
mn mn
g f ,
Funes empregadas nos mtodos J
1
/J
3
A e J
1
...J
3
, que
relacionam as componentes de Bessel de ordens m e n.
' , '
mn mn
g f Funes estimadas de
mn mn
g f , , considerando-se o fator de
rudo K
F Visibilidade das franjas
e
F Freqncia espacial das franjas m franjas /
s
Fase inicial do sinal senoidal de excitao no ramo sensor do
interfermetro, cuja amplitude x rad
sgn
,
r
Fases acumuladas pelos campos eltricos dos feixes pticos
de referncia e de sinal, respectivamente rad
' ' , ' ,
0 0 0
Fases quase-estticas: esperada, estimada e medida,
respectivamente. rad
kij
h Constante piezoeltrica campo eltrico/tenso mecnica m V /
I Intensidade ptica de sada, resultante da interferncia de dois
feixes pticos
2
/ m W

0
I Intensidade da fonte ptica
2
/ m W

(.)
n
J Funo de Bessel de primeira espcie e ordem n
n
J Funo de Bessel de primeira espcie e ordem n com
argumento x.
'
n
J Funo de Bessel de primeira espcie e ordem n com
argumento x
a

k Constante de fase m rad /
K Fator de rudo estimado na freqncia fundamental
3 2 1
, , , l l l l Distncias no interfermetro de Young m
n
L Comprimento na direo n m
Comprimento de onda da portadora ptica m
Perodo espacial das franjas m
e o
n n , ndices de refrao ordinrio e extraordinrio do cristal de
LiNbO
3

s
n ndice de refrao no ramo sinal do interfermetro
ar
Impedncia intrnseca do ar
P Fator de desvanecimento de sinal [ ) (
0
sen P = ]
Q Fator de desvanecimento de sinal [ ) cos(
0
= Q ]
mn
r
Coeficientes eletro-pticos do cristal de LiNbO
3
V m/
L
R Resistncia de carga do fotodiodo
ijkl
s Componente elstica de flexibilidade N m /
2

n
S Deformao mecnica (strain) na direo n
ij
S Componente da deformao mecnica (strain)
n
SNR Relao sinal/rudo estimada para a harmnica de ordem n
T Perodo da portadora ptica s
ij
T Componente da tenso mecnica (stress)
2
/ m N

' T Funo de transmisso, que relaciona as intensidades pticas
de sada e de entrada no SOT
Temperatura K
) (t v Tenso eltrica fotodetectada V
) (t v
CP
Tenso senoidal aplicada clula Pockels V
PZT
V Tenso eltrica aplicada ao APF (valor de pico) V
V Tenso de meia onda do cristal eletro-ptico V

n
V Amplitude da harmnica de ordem n da tenso fotodetectada
(modulada em fase) V
) , ( n m
V Componente de tenso harmnica utilizada nos mtodos
J
0
...J
2
e J
0
...J
3
, que usam um interfermetro de dois feixes
com dupla modulao de fase. V
1 R
V Tenso de rudo na freqncia fundamental V
a s
, , Freqncias angulares: do laser, de sinal e de modulao
auxiliar, respectivamente s rad /
' ' , ' , x x x ndices de modulao de fase: esperado, estimado e medido,
respectivamente rad
' ' , ' ,
a a a
x x x ndices de modulao de fase auxiliar: esperado, estimado e
medido, respectivamente rad
Z Y X , , Direes cristalogrficas do cristal de LiNbO
3

m
y Relaes de Funes de Bessel usadas no novo mtodo de
clculo da fase quase-esttica
0

SUMRIO

1 INTRODUO 32

1.1 Noes Preliminares sobre Interferometria ptica .................................................... 33
1.2 Principais Tipos de Interfermetros pticos.............................................................. 35
1.3 Principais Tcnicas de Demodulao de Fase ptica................................................ 38
1.4 Deteco de Fase usando Anlise Espectral Levantamento do Estado da Arte...... 47
1.5 Deteco da Fase Quase-Esttica usando Anlise Espectral Levantamento do
Estado da Arte ............................................................................................................ 53
1.6 Motivao para o Desenvolvimento da Pesquisa....................................................... 55
1.7 Metodologia utilizada na Caracterizao do APF...................................................... 57
1.8 Objetivos da Tese ....................................................................................................... 59
1.9 Organizao da Tese .................................................................................................. 59

2 ATUADORES PIEZOELTRICOS FLEXTENSIONAIS 62

2.1 Efeito Piezoeltrico .................................................................................................... 62
2.2 Resposta em Freqncia da Piezocermica................................................................ 66
2.3 Medio dos Coeficientes Piezoeltricos d
33
e d
31
..................................................... 67
2.4 Atuadores Piezoeltricos Flextensionais.................................................................... 68
2.5 Noes Gerais sobre o Projeto dos APFs ................................................................. 69
2.6 O APF f1b0820 .......................................................................................................... 71
2.7 Discusso.................................................................................................................... 73

3 INTERFEROMETRIA PTICA DE DOIS FEIXES 74

3.1 Interfermetro de Young............................................................................................ 74
3.1.1 Franjas resultantes da Interferncia ptica ...................................................... 77
3.1.2 Visibilidade das Franjas .................................................................................. 79
3.2 Interfermetros de Mach-Zehnder e de Michelson.................................................... 80
3.3 Fotodeteco e Anlise do Sinal Fotodetectado......................................................... 85
3.3.1 Rudo na Fotodeteco e no Condicionamento de Sinal ................................. 86

3.3.2 Tenso Fotodetectada nos Interfermetros de Dois Feixes para uma
Excitao de Fase Senoidal ............................................................................. 88
3.3.3 Efeito da Variao Aleatria da Fase ) (
0
t nas Harmnicas da Tenso
Fotodetectada................................................................................................... 90
3.3.4 Efeito do Rudo Eletrnico nas Harmnicas da Tenso Fotodetectada........... 95
3.4 Discusso.................................................................................................................... 99

4 MTODOS CLSSICOS DE ANLISE ESPECTRAL PARA
DEMODULAO DE FASE PTICA 100

4.1 Mtodo J
1
...J
4
........................................................................................................... 101
4.2 Mtodo J
1
...J
4
Modificado........................................................................................ 102
4.3 Mtodo J
1
...J
6
-neg .................................................................................................... 105
4.4 Mtodo J
1
J
6
-pos ................................................................................................... 107
4.5 Mtodo J
0
...J
2
........................................................................................................... 108
4.6 Mtodo Espectral de Medio da Fase ) (
0
t desenvolvido por Sudarshanam........ 110
4.7 Anlises dos Mtodos Espectrais Clssicos considerando Rudo 1/f
2
e Rudo
Branco...................................................................................................................... 111
4.7.1 Faixa Dinmica e Erro no Clculo de x usando os Mtodos J
1
...J
4
e
J
1
...J
4
Modificado .......................................................................................... 112
4.7.2 Faixa Dinmica e Erro no Clculo de x usando os Mtodos J
1
...J
6
-neg
e J
1
...J
6
-pos .................................................................................................... 116
4.7.3 Faixa Dinmica e Erro no Clculo de x usando o Mtodo J
0
...J
2
.................. 120
4.7.4 Anlise do Mtodo de Medio de ) (
0
t desenvolvido por
Sudarshanam, considerando Rudo ............................................................... 123
4.8 Discusso.................................................................................................................. 125

5 NOVOS MTODOS DE ANLISE ESPECTRAL PARA DEMODULAO
DE FASE PTICA 127
5.1 O Mtodo J
1
/J
3
A...................................................................................................... 127
5.2 O Mtodo J
1
J
3
...................................................................................................... 132
5.3 O Mtodo J
m
/J
m+2
..................................................................................................... 139
5.3.1 Identificao de m a partir do Espectro Fotodetectado e associao de
cada valor de m a uma respectiva faixa tima para a estimao de x............ 141

5.3.2 Determinao dos Coeficientes a
m
e b
m
........................................................ 145
5.3.3 Algoritmo do Mtodo J
m
/J
m+2
e Erro na Estimao de x............................... 147
5.3.4 Anlise Espectral e Freqncia Mnima de Amostragem para
Processamento Digital do Sinal Fotodetectado ............................................. 149
5.3.5 Resposta do mtodo J
m
/J
m+2
considerando o Fator de Rudo K .................... 151
5.4 O Mtodo J
0
J
3
...................................................................................................... 154
5.5 O Novo Mtodo de Medio da Fase Quase Esttica ) (
0
t Proposto nesta Tese ... 161
5.6 Anlise Comparativa dos Mtodos Espectrais de Demodulao de Fase ptica .... 166
5.7 Discusso.................................................................................................................. 169

6 SIMULAES DINMICAS E RESULTADOS 172

6.1 Implementao dos Mtodos Espectrais no Simulink.............................................. 173
6.2 Resultados das Simulaes....................................................................................... 184
6.2.1 Sinal Modulado em Fase Emulado no Simulink ........................................... 184
6.2.2 Estimao do Fator de rudo K...................................................................... 187
6.2.3 Respostas dos Subsistemas de Clculo do ndice de Modulao de Fase
( ' x ) para x Variando e ) (
0
t Constante ....................................................... 187
para ) (
0
t Variando e x Constante............................................................... 191
para ambos, ) (
0
t e x, Variando .................................................................. 195
6.2.6 Respostas dos Subsistemas de Clculo da Fase ) (
0
t .................................. 198
6.3 Discusso.................................................................................................................. 200

7 VALIDAO EXPERIMENTAL DOS MTODOS ESPECTRAIS USANDO
UM SENSOR PTICO DE TENSO 202

7.1 Sensor ptico de Tenso (SOT) Baseado no Efeito Eletro-ptico em Cristais de
Niobato de Ltio....................................................................................................... 203
7.2 Resultados Experimentais ........................................................................................ 208
7.3 Discusso.................................................................................................................. 214

8 CARACTERIZAO DE UM ATUADOR PIEZOELTRICO
FLEXTENSIONAL (APF) USANDO OS MTODOS ESPECTRAIS 215
8.1 Configurao Experimental para Medies da Amplitude de Vibrao da
Superfcie do APF.................................................................................................... 215
8.2 Procedimentos para Anlise de Linearidade e Resposta em Freqncia do APF,
e da Amplificao Proporcionada pela Estrutura Metlica do APF 220
8.3 Sinais Temporais Fotodetectectados e seus Respectivos Espectros de
Magnitude................................................................................................................ 222
8.4 Linearidade do APF.................................................................................................. 225
8.5 Resposta em Freqncia do APF.............................................................................. 229
8.6 Medies de Deslocamentos Sub-Nanomticos....................................................... 233
8.7 Amplificao de Deslocamento Proporcionada pela Estrutura Metlica do APF.... 236
8.8 Discusso.................................................................................................................. 238

9 CONCLUSES E PERSPECTIVAS FUTURAS 239

9.1 Concluses................................................................................................................ 239
9.2 Perspectivas futuras.................................................................................................. 245

REFERNCIAS 246

APNDICE A AJUSTE DE CURVAS POR MNIMOS QUADRADOS 261

32
CAPTULO 1

INTRODUO

Em tecnologia de preciso, o desafio de superar o limite do muito pequeno aumenta a
cada dia, resultado de exigncias impostas pela minituarizao, baixo consumo, sensibilidade,
etc. A microeletrnica, por exemplo, repousa sobre tcnicas que produzem, rotineiramente,
estruturas de menos que 100 nm de comprimento, algo em torno de 1 milsimo da largura de
um fio de cabelo. Alm disso, projees divulgadas pelo International Technology Roadmap
for Semiconductors, prevem que at 2014 o tamanho mnimo dos transistores em chips de
computadores ter diminudo at chegar a 20 nm [1]. Uma pergunta natural que surge como
medir dimenses dessa ordem de grandeza ?
Outro exemplo emblemtico refere-se aos limites mnimos da resoluo da velocidade de
rotao exigidos dos sistemas giroscpios. Quando aplicados navegao automotiva ou em
robs industriais, esta resoluo da ordem de 200/h. Porm, para sistemas de navegao de
grandes aeronaves comerciais, da ordem de 1/h, e, no caso extremo dos sistemas de
navegao de veculos espaciais, chega ao patamar inferior de 0,01/h [2].
Citando ainda outros exemplos, observa-se que strain-gauges comerciais do tipo
resistivo, tipicamente, apresentam sensibilidades da ordem de 10
-3
, no entanto, exigncias
atuais demandam pela deteco de deformaes da ordem de 10
-7
. E, por fim, destaca-se o
caso dos acelermetros: medies de amplitudes de deslocamento exigem elevada
sensibilidade ao longo de uma grande faixa dinmica, tarefa que se torna particularmente
difcil quando as freqncias de vibrao aumentam. Para se obter uma acelerao igual da
gravidade devido Terra, numa freqncia de 1 kHz, um deslocamento de aproximadamente
0,25 m deve ser estabelecido. Porm, uma acelerao de 100 m/s
2
(RMS) na freqncia de
10 kHz, produz uma amplitude de apenas 36 nm [3].
Uma soluo para medio de grandezas fsicas como distncia, velocidade de rotao,
deformao, vibrao, deslocamento, e outras, em sistemas em que se requer alta
sensibilidade, como no caso dos exemplos citados acima, a interferometria ptica, a qual
constitui o tema desta tese.
Introduo

33
1.1 Noes Preliminares sobre Interferometria ptica

Relativamente medio de deslocamento, a interferometria ptica pode, em princpio,
detectar amplitudes mnimas, da ordem de 10
-5
nm. Para se ter uma noo do que isto
significa cita-se que o tamanho de clulas de animais ou plantas em desenvolvimento,
tipicamente, se encontra entre 5000 e 10000 nm. Um vrus, tem um dimetro da ordem de
100 nm, enquanto o da hlice do DNA de 2 nm. O dimetro do tomo de hidrognio de
aproximadamente 0,1 nm. Esta a chamada nanoescala, a escala dos tomos e molculas [1].
De forma geral, interfermetros pticos so transdutores eficientes que convertem uma
variao de fase induzida ao longo de seus ramos, numa variao de intensidade ptica que
possa ser mensurada.
O princpio de interferncia entre raios de luz normalmente est associado ao nome de
Thomas Young (1773-1829), quem o inventou como uma maneira de explicar o fenmeno dos
anis de Newton (os quais, por sua vez, foram observados pela primeira vez por Boyle e
Hooke), com base na teoria ondulatria. Na poca, embora polmica, esta constituiu a primeira
grande descoberta terica em ptica em aproximadamente 100 anos [4].
Atualmente, existem vrios tipos de interfermetros prticos, como ser discutido nas
prximas sees. Um deles, o interfermetro de Michelson, foi proposto em 1880 pelo
prmio Nobel americano A. B. Michelson, a fim de investigar o meio hipottico denominado
ter. Este conceito, aps a experincia, foi finalmente rejeitado, estabelecendo subsdios
fundamentais para a teoria da relatividade especial de Einstein [5].
Conforme ser mostrado em detalhes no Captulo 3, o sinal de sada de um
interfermetro de dois feixes, como o interfermetro de Michelson, dado por:
{ } ] ) ( cos[ 1
2
0
0
+ + = t F
I
I , (1.1)
sendo I a intensidade ptica de sada (a qual pode ser detectada por fotodiodos, convertendo-
se num sinal eltrico), I
0
a intensidade da fonte ptica, ) (t a variao de fase ptica que
contm informaes sobre a grandeza fsica que se deseja medir,
0
uma fase constante e F
a visibilidade das franjas. Em princpio, ) (t pode ser arbitrria, contudo, dois casos tm
merecido ateno: o caso onde ) (t constante no tempo, em que denominada de fase
esttica, e o caso onde ) (t varia senoidalmente no tempo, em que denominada de
Introduo

34
variao de fase dinmica. Neste ltimo caso, considerando-se t xsen t
s
= ) ( , sendo x o
ndice de modulao de fase (modulao PM Phase Modulation) e
s
a freqncia de
modulao, obtm-se, de (1.1):
{ } ] cos[ 1
2
0
0
+ + = t xsen F
I
I
s
. (1.2)
Nesta tese, os sinais na sada do interfermetro obedecem a (1.2), e o problema,
portanto, consiste em se medir o ndice de modulao x, dado que a freqncia
s

conhecida.
Contudo, existe outra abordagem em interferometria ptica, na qual gerada uma
portadora de fase auxiliar, tambm senoidal (com amplitude
a
x e freqncia
a
), e cujo sinal
de sada assume a forma:
{ } ] ) ( cos[ 1
2
0
0
+ + + = t t sen x F
I
I
a a
. (1.3)
Neste caso, o problema consiste em se medir ) (t , que pode inclusive ser arbitrrio,
sendo
a
x e
a
conhecidos.
Uma limitao da interferometria que a intensidade ptica de sada uma funo
senoidal, no-linear, do deslocamento de fase induzido pelo sinal. Isto torna o processo de
demodulao de sinal algo no trivial. Alm disso, o deslocamento de fase de sinal
invariavelmente corrompido por grandes derivas aleatrias de fase
0
em (1.2) e (1.3),
devido a perturbaes ambientais.
As flutuaes de baixa freqncia na temperatura e presso no local do interfermetro, e
tambm vibraes externas, produzem derivas diferenciais (entre os ramos do interfermetro)
que causam variaes na amplitude do sinal detectado, bem como distoro do sinal. O
primeiro fenmeno conhecido como desvanecimento de sinal (fading), e o segundo, de
frequency up-conversion. Nesta tese, a fase
0
, portanto, inclui todos os termos de deriva
de fase esttica ou de variaes lentas no tempo.
Desta forma, o problema da interferometria ptica consiste essencialmente em se medir
valores extremamente pequenos de x em (1.2), ou, de ) (t em (1.3), diante de grandes
variaes aleatrias de
0
. Para isto, a literatura tem divulgado vrias propostas, as quais
sero discutidas a seguir. Antes porm, alguns comentrios sobre os vrios tipos de
interfermetros sero apresentados no prximo item.
Introduo

35
1.2 Principais Tipos de Interfermetros pticos

Embora exista uma grande variedade de tipos de interfermetros atualmente, os arranjos
clssicos ainda so os mais amplamente utilizados. Estes, por sua vez, podem ser
implementados nas verses volumtrica, em fibra ptica, ptica integrada e MEMS.

a - Interfermetros Volumtricos

O interfermetro volumtrico (bulk interferometer) aquele onde os raios pticos no
so confinados em estruturas de guiamento. Os componentes pticos so fixados sobre mesas
pticas chamadas de breadboards. O direcionamento dos feixes pticos no espao livre
realizado com o auxlio de espelhos, divisores de feixes, prismas, etc.
Em geral, a montagem de interfermetros em ptica volumtrica a mais adequada
para a implementao de verses provisrias ou de prottipos, ao contrrio das montagens
definitivas, em fibra ptica, ptica integrada, etc. Assim, constituem vantagens dessa
arquitetura o baixo custo, a flexibilidade de mudanas e a possibilidade de se operar com
lasers de alta potncia. O preo que se paga por isso so: dificuldade de alinhamento ptico,
grandes dimenses e maiores instabilidade mecnica e exposio perturbaes ambientais
esprias.
Dentre os tipos de interfermetros volumtricos, o interfermetro de Michelson
constitui o mais amplamente conhecido, principalmente devido ao seu uso por A. A.
Michelson, em trs importantes experincias realizadas no final dos anos 1880: o experimento
de Michelson-Morley de deriva do ter, o primeiro estudo sistemtico da estrutura fina das
linhas espectrais e a primeira comparao direta do comprimento de onda de linhas espectrais
de fontes pticas com o metro padro [6]. Trata-se de um interfermetro de dois feixes que,
embora seja particularmente adequado para medir deslocamentos e grandezas associadas
(deformao mecnica, vibrao, acelerao, etc.), pode ser adaptado para medir um grande
nmero de outras grandezas fsicas ou qumicas [7].
O interfermetro de Mach-Zehnder outro arranjo com dois feixes, mais verstil que o
de Michelson, devido aos seus braos estarem fisicamente separados. Este interfermetro
recebeu este nome em homenagem aos seus criadores, L. Zehnder e L. Mach, por volta de
1891 [6]. Sua montagem exibe uma convenincia inerente para medir variaes de ndices de
Introduo

36
refrao e grandezas associadas (fluxo de gs, combusto, densidade e difuso de plasma,
presso, temperatura, concentrao relativa, etc.) [7].
Um interfermetro no qual os dois feixes se propagam em sentidos opostos, porm,
num mesmo circuito fechado, corresponde ao interfermetro de Sagnac, demonstrado por G.
Sagnac em 1913 [8]. Devido superposio dos feixes contra-propagantes, o interfermetro
extremamente estvel. O interfermetro de Sagnac serve intrinsecamente para medir
velocidade de rotao, constituindo a verso em ptica do giroscpio (Ring Laser Gyro).
Contudo, tambm pode ser usado para medir outras grandezas, embora isto seja menos
freqente [9].
Interfermetros de dois feixes tambm podem ser estabelecidos usando-se filmes ou
duas placas espaadas. Quando isto resulta em franjas de interferncia com espessuras iguais,
tem-se o interfermetro de Fizeau, devido a H. Fizeau, ao final dos anos 1880 [6]. muito
usado para medir deslocamento, vibrao, etc.
O conceito de interferncia de mltiplos feixes foi adaptado para se conceber o
interfermetro de Fabry-Perot, cujo nome devido aos seus criadores C. Fabry e A. Perot, em
1899 [6]. Este interfermetro usado com regularidade para examinar a estrutura fina de
linhas espectrais, mas pode ser modificado para medir outras grandezas [7].
Alm desses interfermetros ditos clssicos, cita-se que verses modificadas dessas
configuraes e combinaes entre as mesmas surgem a cada dia. Assim, vrias
configuraes diferentes no foram discutidas, no entanto, antes de passar ao prximo item,
deseja-se destacar alguns arranjos no convencionais como, por exemplo, o interfermetro de
feixe dual (dual-beam interferometer), no qual se deriva duas sondas pticas espacialmente
distantes, convenientes para detectar a velocidade de ondas elsticas superficiais [10]. O
interfermetro de duplo feixe, tambm chamado de interfermetro diferencial, permite medir
a resposta de filmes piezoeltricos eliminando-se a contribuio das curvaturas [11]. Usando-
se braos com comprimentos iguais, o interfermetro diferencial tambm permite compensar
as variaes de fase induzidas por temperatura [12].

b Interfermetros em Fibra ptica

As verses em fibra ptica dos interfermetros como Mach-Zehnder, Michelson,
Sagnac, etc., bem como, os sensores associados, surgiram concomitantemente ao
Introduo

37
desenvolvimento da tecnologia das comunicaes pticas a partir do final da dcada de 1970.
medida que o preo dos componentes pticos caiu e sua qualidade melhorou, tambm
melhorou a capacidade desses sensores superarem os sensores tradicionais para medir
grandezas como velocidade de rotao, acelerao, campo eltrico e magntico, temperatura,
presso, ultra-som, vibrao, posio linear ou angular, deformao, umidade, viscosidade,
etc. [13]-[15]. Esses sensores so leves, imunes interferncia eletromagntica, permitem
grande flexibilidade geomtrica, podem penetrar em locais de difcil acesso e so
intrinsecamente seguros em ambientes perigosos, insalubres ou explosivos. Possuem
sensibilidade extremamente elevada e grandes largura de banda e faixa dinmica. Alm disso,
so compatveis com sistemas de telemetria ptica, transmisso de dados e tecnologia de
multiplexao/demultiplexao ptica.
Provavelmente esta seja a classe de interfermetros com o maior nmero de arranjos
estruturais diferentes, e, a descrio de cada um deles foge aos objetivos desta tese. Assim,
recomenda-se ao leitor interessado, consultar (alm das referncias acima) os livros editados
por Udd [9], por Culshaw e Dakin [16]-[17], e por Grattan e Megitt [18]-[20].

c Interfermetro em ptica Integrada

Na tecnologia de ptica integrada, a luz se propaga em guias de onda, resultando em
circuitos pticos extremamente pequenos. Interfermetros em ptica integrada so, portanto,
muito compactos e fisicamente robustos, podendo ser fabricados por tcnicas de produo em
larga escala. Alm disso, so insensveis vibrao, operam com velocidade elevada e
possuem alinhamento permanente.
Circuitos pticos integrados, em particular os passivos, podem ser implantados em vidro
usando a tcnica de troca inica e tm a vantagem de serem compatveis com fibras pticas mono-
modo [21], [22]. Guias pticos implantados por difuso de titnio em LiNbO
3
so bastante
adequados para uso em sensores, por ser uma tecnologia consolidada de circuitos pticos
integrados com baixas perdas. Alm disso, por exibirem o efeito eletro-ptico, permitem a
integrao de guias com moduladores de fase, deslocadores de freqncia, etc. [23]. Tecnologias
mais promissoras tm sido desenvolvidas usando substrato de GaAs e InP, que permitem a
integrao monoltica de guias de onda, diodo laser, fotodetectores e circuitos eletrnicos [24].
Circuitos pticos integrados usando semicondutor do tipo III V (GaAs AlGaAs) tambm
proporcionam a possibilidade de integrar monoliticamente componentes ativos e passivos [25].
Introduo

38
Outra tecnologia importante, usa o silcio (Si) como meio de guiamento ptico. O Si apresenta
baixa perda de transmisso ptica para os comprimentos de onda entre 1,2 e 9 m. Isto significa
que pode ser usado um conjunto com fibras pticas e seus componentes na rea de
telecomunicaes, no comprimento de onda entre 1,2 e 1,6 m [26], [27].

d Interfermetros em MEMS

Uma das verses interferomtricas mais recentes refere-se aos sistemas micro-eletro-
mecnicos (MEMS Microelectromechanical systems). Os MEMSs so arranjos micro-
integrados que combinam componentes eltricos e mecnicos. Suas dimenses variam de
micrometros a milmetros, e so fabricados usando tecnologia de circuitos integrados.
Interfermetros de Michelson [28]-[29], Fizeau [30], Fabry-Perot [31]-[32] e Mach-Zehnder
[33] tm sido implementados na forma de MEMS e aplicados a sensores de deslocamento,
vibrao, etc. Os substratos so variados como, por exemplo, de AlGaAs, SOI (Silicon-on-
insulator), polmeros, dentre outros. A ttulo de ilustrao cita-se que interfermetros de
Michelson em miniatura, com dimenses da ordem de 150 m 150 m j foram
implementados e testados recentemente [29].

1.3 Principais Tcnicas de Demodulao de Fase ptica

Um grande nmero de diferentes tcnicas de demodulao de fase, de sinais PM como
(1.2) ou (1.3), so disponveis na literatura. Obviamente, no ser possvel descrever todas
neste texto, porm, pode-se registrar alguns comentrios sobre algumas tcnicas clssicas
mais conhecidas.

a Contagem de Franjas de Interferncia

Quando os dois feixes de sada de um interfermetro so superpostos e projetados
sobre um anteparo, franjas formadas com luz monocromtica so estabelecidas, constitudas
por faixas estreitas claras sobre um fundo escuro [6]. A diferena de caminho ptico entre os
dois braos do interfermetro pode ser mensurada pela contagem do nmero de franjas que
passam atravs de um ponto fixo sobre o anteparo. No caso particular de se medir
Introduo

39
deslocamento, a distncia a ser mensurada comparada com o comprimento de onda () de
uma fonte de referncia. Um contador eletrnico suficientemente rpido fornece a indicao
correta do deslocamento e insensvel ao desvanecimento do sinal, com uma resoluo de /8
[34]-[36]. O uso de interpoladores de franjas permite a deteco de deslocamentos na faixa
/100 [37]. Contudo, se uma sensibilidade maior for exigida, um interfermetro de mltiplos
feixes, como o Fabry-Perot, indicado [38], [39].
Uma caracterstica insatisfatria deste mtodo que a incerteza do deslocamento pode
ser uma frao aprecivel de uma franja e, portanto, a exatido da medio pode ser adequada
somente para grandes deslocamentos. Assim, o mtodo de contagem de franjas mais
recomendado para medir deslocamentos superiores a 2000 nm, aproximadamente, e em
particular, usando-se o mtodo de razo entre freqncias [40].

b Deteco Homdina de Sinais PM com Baixo ndice de
Modulao

Um mtodo simples de deteco de fase ptica corresponde tcnica de demodulao
de fase com baixo ndice de modulao (tambm chamada narrow band phase modulation).
Ao contrrio do mtodo de contagem de franjas, porm, este mtodo somente se aplica
deteco de deslocamentos (por exemplo) cujas amplitudes sejam inferiores a /100 (da
ordem de 60 , usando-se o laser de He-Ne) [41]-[43]. Uma vantagem desta tcnica que a
variao de fase ptica pode ter forma de onda arbitrria. Deslocamentos da ordem de 10
-2

tm sido detectados no caso de vibraes senoidais.
Contudo, o mtodo exige que se opere na condio de quadratura de fase (com
0

fixado em 2 / rad), o que torna necessrio executar as medies em laboratrios ssmicos,
tpicos dos usados em metrologia. Alm disso, demanda a aplicao de algum procedimento
de auto-calibrao inicial do interfermetro, a fim de se medir grandezas em valores
absolutos.

c Interferometria com Dois Comprimentos de Onda

Medies absolutas de distncia, sem contato, com alta resoluo e ampla faixa so
essenciais para aplicaes como fotolitografia, calibrao de transdutores, fabricao de
Introduo

40
semicondutores e sistemas robticos. Num interfermetro com um nico comprimento de
onda, no se consegue distinguir a ordem da franja a partir de uma nica medio, sendo que
isto chamado de ambigidade. Todos os mtodos pticos sensveis fase para medio de
distncia tm em comum: o fato que a faixa de no ambigidade igual metade do
comprimento de onda usado. A fim de se aumentar a faixa de no-ambigidade (e,
conseqentemente, a faixa dinmica), sem reduzir a preciso do interfermetro, pode-se
recorrer tecnologia de interferncia com mltiplos comprimentos de onda.
O princpio deste tipo de interferometria foi descrito em 1973 por Polhemus [44]. Nesta
tcnica, uma combinao de vrios lasers ou um laser multimodos estabilizado podem ser
usados, sendo que as diferenas entre as freqncias pticas determinam a faixa de no-
ambigidade do deslocamento (por exemplo). No caso de se usar apenas dois comprimentos
de onda (dual wavelength interferometry), gera-se uma nova onda, com um sinal de
batimento. O chamado comprimento de onda sinttico resulta consideravelmente maior que o
comprimento de onda das ondas originais, conduzindo a uma menor sensibilidade, maior
largura dinmica e boa resoluo [45]. Alm disso, permite-se operar com superfcies
rugosas.
Vrios mtodos para medio de fase em tempo real com comprimento de onda sinttico
foram propostos, dentre eles, a anlise do contraste das franjas, modulando-se o espelho de
referncia mecanicamente. Uma medio de distncia baseada no comprimento de onda
sinttico tem a vantagem de que a ordem das franjas sintticas varia mais lentamente,
reduzindo-se a ambigidade. Os dois comprimentos de onda podem ser obtidos, por exemplo,
a partir de dois diodos laser [46], [47].

d Interferometria com Luz Branca

A despeito da elevada sensibilidade oferecida pela interferometria, particularmente
quando o interfermetro iluminado por fontes laser com banda estreita, um grande problema
surge quando esta tcnica usada para medir grandezas quase-estticas em valores absolutos.
Isto ocorre devido natureza peridica da funo de transferncia do interfermetro, porm,
pode ser solucionada usando-se a tcnica de interferometria com luz branca (na verdade uma
fonte banda larga como um diodo laser, diodo super-luminescente, LED ou lmpada de Xe).
Tambm chamada de interferometria com baixa coerncia, ela permite a medio de fase
absoluta de forma no-ambgua [48]-[50].
Introduo

41
Num processo interferomtrico, o comprimento de coerncia da fonte de luz define a
diferena de caminho ptico mxima entre os braos do interfermetro, dentro da qual ocorre
a formao de franjas. Para uma fonte no coerente a interferncia construtiva ocorre quando
os caminhos pticos dos dois braos so iguais, dentro de uma pequena tolerncia
estabelecida pelo comprimento de coerncia.
Em particular, este tipo de interferometria tem se mostrado valioso para medies de
parmetros estticos ou quase estticos de grandezas fsicas. No caso de medio de
distncias, chega-se faixa de m com resoluo de nm. A exatido no afetada por
flutuaes na potncia ou instabilidade na freqncia da fonte ptica. Permite-se a
implementao de sensores com elevadas exatido e faixa dinmica, e ainda admite a
multiplexao de sensores por diviso no tempo [51].

e Interferometria Polarimtrica

Embora este tipo de interfermetro seja conveniente para ser implementado em fibra
ptica Hi-Bi (highly birefringent), tambm so encontradas verses em ptica volumtrica
[9]. Variaes de fase relativas nestes interfermetros so detectadas utilizando-se os retardos
de fase individuais que so induzidos nos dois modos ortogonais de polarizao numa fibra
ptica que preserva a polarizao [52]-[54]. Sensores deste tipo podem ser aplicados
medio de vrias grandezas fsicas como deformao, temperatura, presso, etc.

f Interferometria Intermodal

Os interfermetros intermodais (intermodal interferometer, mode-mode interferometer
ou two-mode polarization-sensitive interferometer) so especficos para sistemas em fibra
ptica. Num interfermetro de dois feixes convencional, os ramos de referncia e de sinal
esto fisicamente separados, e assim, muito susceptveis ao problema do desvanecimento do
sinal. Este problema pode ser atenuado atravs dos sensores interferomtricos intermodais,
onde dois modos guiados de uma fibra ptica so usados no lugar dos dois braos do
interfermetro.
A maioria dos sensores intermodais discutidos na literatura usa os modos LP
01
LP
11
[55],
[56] ou LP
01
LP
02
[57], [58] de fibras com ncleos do tipo elptico ou bow-tie. Os sensores
intermodais podem ser usados para medir deformao, temperatura, presso, vibrao, etc.
Introduo

42
g Interferometria Homdina Ativa

Conforme foi discutido, em interferometria, sinais fracos de fase so superpostos a
flutuaes muito maiores causados por variaes de temperatura, presso e vibrao
mecnica. Na maioria dos sistemas homdinos o ponto de operao do interfermetro deve
ser travado (locked) na posio de quadratura, para assegurar tima sensibilidade de deteco
de desvio de fase sem desvanecimento de sinal. Se houver garantias que o sinal e as
flutuaes esto separados em freqncia, ento, possvel estabelecer tcnicas de medio
que permitam a observao de um sinal estvel. As variaes aleatrias podem ser rastreadas
e compensadas para manter a diferena de fase entre os braos do interfermetro em 90. Isto
poderia ser realizado manualmente, contudo, este ajuste seria muito impreciso.
Pode-se implementar um sistema automtico de realimentao negativa, que detecta a
fase do padro de franjas e atua um dispositivo deslocador de fase no caminho de um dos seus
feixes. Tal rastreador de franja (fringe locker) tem sido usado h dcadas e, tipicamente,
limita a deriva da franja a 1/20 de um perodo da franja. Esta constitui a interferometria
ativa (phase-tracking, phase-locking ou closed-loop interferometry).
Um grande nmero de tcnicas de deslocamento de fase de compensao tm sido
propostas. Na estabilizao ativa de interfermetros em fibra ptica, um modulador de fase
piezoeltrico cilndrico usado para manter o sistema na quadratura. Contudo, a faixa de
rastreamento limitada torna necessrio um sistema servo-eletrnico de reativao (resetting).
Verifica-se que a necessidade de um circuito sensor para auto-reativar o sistema toda vez que
as flutuaes ultrapassam sua faixa dinmica constitui um grande problema pois acrescenta
rudo adicional [59], [60].
Moduladores de fase constitudos por pastilhas piezoeltricas que movimentam
pequenos espelhos, normal suas superfcies, tambm podem ser usados [61], [62]. Para
compensar a instabilidade de
0
pode-se utilizar ainda a tcnica baseada no deslocamento do
comprimento de onda de emisso de um diodo laser, atravs da variao de sua corrente de
alimentao [63]. Como ltimo exemplo, cita-se que moduladores eletro-pticos tambm so
regularmente empregados, porm, estes geralmente possuem variaes de ndice de refrao
muito pequenas para os nveis de tenso aplicados, limitando sua faixa dinmica de
modulao de fase, contudo, circuitos de reativao eficientes tm sido acrescidos para
resolver o problema [64], [65].
Introduo

43
O sistema homdino ativo possibilita atingir um elevado nvel de desempenho, com
faixa dinmica entre 10
-6
e 10 rad, com boa linearidade e baixa distoro harmnica.

h Mtodos de Demodulao de Fase Baseados no Espectro do
Sinal

Ao contrrio dos sistemas homdinos ativos, as tcnicas homdinas passivas tm a
vantagem de executar a demodulao da fase ptica do sinal, independentemente da variao
aleatria de
0
, com um processamento de sinal realizado sem realimentao e, portanto,
evitando-se os problemas associados reativao (reset) do rastreador de fase. Uma das
classes da tcnica homdina passiva corresponde aos chamados mtodos baseados no espectro
do sinal fotodetectado.
Antes de prosseguir, antecipa-se que um sinal do tipo (1.2), pode ser reescrito da
seguinte forma, aplicando-se as expanses de Jacobi-Anger [66]:

{ { [ ] ... 4 cos ) ( 2 2 cos ) ( 2 ) ( cos 1
2
4 2 0 0
0
+ + = t x J t x J x J F
I
I
s s

[ ] } } ... 3 cos ) ( 2 cos ) ( 2 sen
3 1 0
t x J t x J
s s
(1.4)
sendo que ) (x J
n
, ... , 1 , 0 = n , so as funes de Bessel de primeira espcie. Alguns dos
mtodos baseados na anlise do espectro (1.4) procuram proporcionar uma linearizao da
sada do interfermetro [entre o ndice de modulao esperado (x), e o estimado ( ' x ) e/ou
medido ( ' ' x )], que resulta numa leitura auto-consistente (auto-calibrvel) e direta (sem
resoluo de equaes transcendentais, com inverso de funes de Bessel) da variao da fase
dinmica.
Dentre os principais mtodos, destacam-se o J
0
nulo, J
1
mx, J
1
/J
2
, J
1
/J
3
, J
1
...J
4
, J
1
...J
6
e
J
0
...J
2
. Por fazer parte do objeto de estudo desta tese, este tpico ser abordado em detalhes
na seo 1.4 e no captulo 4.

i Interfermetro de Quadratura

O interfermetro de quadratura mais uma estrutura homdina passiva, onde os sinais
podem ser processados eletronicamente para fornecer o deslocamento de fase diferencial,
independentemente das variaes de
0
. No caso de um interfermetro volumtrico, consiste
Introduo

44
essencialmente de uma estrutura adaptada para o uso de ptica polarizada e que fornece dois
sinais de sada defasados de 90, ou seja, em quadratura [67]-[69].
No caso do interfermetro em fibra ptica, o deslocamento de fase de 2 / rad pode ser
obtido beneficiando-se das propriedades intrnsecas dos acopladores direcionais 3 3 .
Operaes algbricas realizadas eletronicamente com os seus trs sinais de sada, conduzem
aos termos em quadratura desejados [70], [71]. Um esquema que merece destaque, o que
foi divulgado no artigo clssico de Dandridge et alii, usando uma portadora de fase auxiliar
em (1.3) [72]. Este esquema proporcionou elevada sensibilidade (10
-6
rad em 1 kHz), grande
faixa dinmica e boa linearidade.
O uso de grades com perodos definidos e impressos em folhas de acetato que foram
dispostas na sada de um interfermetro de Michelson, tambm possibilita a obteno dos
sinais em quadratura, conforme discutido em [73].

j Interferometria Heterdina

Quando uma vibrao excede 250 , medies do tipo homdino apresentam uma
desvantagem: o movimento da superfcie deve ser senoidal. A resposta a uma onda quadrada,
um transitrio ou uma entrada aleatria no pode ser determinada por esta tcnica porque a
combinao de termos da srie harmnica, devido cada componente de freqncia do
movimento, impede a medio dos coeficientes de amplitude separadamente, ou seja, porque
o sistema no-linear. Para superar esta limitao e proporcionar uma operao passiva do
interfermetro, as tcnicas heterdinas foram propostas.
A idia bsica consiste em introduzir um deslocamento de freqncia (da ordem de
dezenas de MHz) entre os dois braos do interfermetro. Devido a isto, a interferncia entre os
feixes produz uma modulao na intensidade ptica, em torno da freqncia de batimento , a
qual pode ser fotodetectada. Em contraste com a tcnica homdina, no necessrio manter a
condio de quadratura, existe uma melhor relao sinal-rudo (SNR signal-noise ratio),
menor sensibilidade s variaes diferenciais e deriva devido ao rudo 1/f.
O deslocamento de freqncia ptica em interfermetros volumtricos normalmente
realizado por uma clula Bragg alimentada por um sinal de RF na freqncia . Embora a
tcnica heterdina permita medir vibraes (e outras grandezas) com formato arbitrrio,
Introduo

45
freqentemente resulta em sistemas eletrnicos complexos e caros, bem como, a aplicao de
algum processo de calibrao [74].
Existem vrias formas de se processar um sinal modulado em banda larga com espectro
centrado em torno de , incluindo-se o uso de analisadores de espectros, receptores de VHF,
sintonizados numa das bandas laterais e seguido por deteco de lei quadrtica, deteco de
FM padro, dentre outras [75], [76]. No caso de modulao em banda estreita, o
deslocamento pode ser demodulado com facilidade uma vez que o espectro de freqncias
consiste basicamente de trs linhas: a portadora em e duas linhas laterais [77]. Amplitudes
de deslocamentos extremamente pequenas tm sido mensuradas com esta tcnica, resultando
em sensibilidade de 10
-4
/ Hz [78].
Clulas Bragg so difceis para serem inseridas em circuitos em fibra ptica uma vez
que demandam alinhamento preciso e estabilidade mecnica. A fim de resolver este
problema, verses de deslocadores de freqncia em fibra ptica foram desenvolvidas
usando-se fibras Hi-Bi operando com os modos LP
01
e LP
11
[79].

k A tcnica Pseudo-Heterdina

Na tcnica pseudo-heterdina (tambm chamada serrodyne) uma portadora de baixa
freqncia (dezenas de kHz) pode ser produzida por modulao de fase em forma de rampa
[80]. Esta abordagem recebeu este nome porque nenhum dispositivo deslocador de
freqncias pticas realmente usado. O mtodo exibe todas as vantagens associadas ao
sistema heterdino, exceto que a freqncia mxima na qual a portadora deve ser produzida
limitada quela na qual a modulao de fase em rampa pode ser realizada com exatido. A
amplitude desta modulao de fase dependente do tempo de flyback [81].
Uma modulao de fase em forma de dente-de-serra pode ser gerada usando-se um
modulador de fase piezoeltrico, entretanto, isto pode dar origem a ringing mecnico.
Solues como utilizar um modulador de fase em ptica integrada [82], ou ento, usar uma
modulao de fase senoidal amostrada (gated phase modulation) [83], tm sido divulgadas. A
tcnica pseudo-heterdina particularmente til para aplicaes em giroscpio em fibra
ptica [84].

Introduo

46
l Sistema Heterdino com Mltiplos Comprimentos de Onda

Atualmente, mquinas de preciso de alto desempenho esto adotando interfermetros
heterdinos como transdutores de realimentao que detm resoluo sub-micromtrica ao
longo de distncias de grande curso de movimento. Por exemplo, cursos de 10 m com
resoluo de 10 nm, tipicamente so usados em mquinas de litografia para fabricao de
chips semicondutores. Por isto, a tcnica heterdina com dois comprimentos de onda (dual-
wavelength interferometry) adequada utilizando-se, por exemplo, lasers de He-Ne do tipo
Zeeman [85], ou ento, duas clulas Bragg [86]. Medies absolutas de distncia e de
velocidade de um alvo podem ser realizadas.
A fim de se atingir uma resoluo e exatido ainda melhor na medio de
deslocamentos, o laser com dois modos pode ser substitudo por outro de trs modos
longitudinais estabilizados, aumentando-se o comprimento de onda sinttico [87]. Uma
cavidade laser de He-Ne (=0,6328 m) com trs modos apresenta duas freqncias de
batimento primrias em 435,00 e 435,30 MHz e, portanto uma freqncia de batimento
secundria igual a 300 kHz.
Tipicamente, duas tcnicas so concorrentes para medio do
deslocamento/velocidade [88]: contagem do deslocamento Doppler, com capacidade de medir
velocidades elevadas, e, demodulao sncrona de fase, com a vantagem de resoluo
extremamente fina. Atualmente, estes sistemas apresentam resoluo de posio de 0,31 nm,
com velocidade mxima de 2,1 m/s.

m Interfermetros com Grades de Bragg

Uma alternativa recente e muito promissora para detectar grandezas fsicas
constituda por sensores interferomtricos em fibra ptica com grades de Bragg - FBG (fiber
Bragg grating). Estes sensores tm sido aplicados na medio de deslocamentos (por
exemplo) quase-estticos e dinmicos.
A demodulao do sinal de informao realizada usando-se instrumentao ptica para
detectar as variaes no comprimento de onda, induzidos pela grandeza fsica num elemento
FBG [89], [90]. Este, por sua vez, pode ser vinculado s superfcies ou embebido no material
para proporcionar medio direta da grandeza (deslocamento, vibrao, etc.) [91].

Introduo

47
n Outros mtodos de Demodulao de Fase ptica

Alm dos mtodos clssicos de demodulao de sinal interferomtrico apresentados nos
itens anteriores, obviamente, existe um grande nmero de outras tcnicas diferentes, embora
no sejam usadas com tanta regularidade. Em particular, deseja-se enfatizar a tcnica homdina
passiva que emprega trs fotodetectores para amostrar sinais de trs posies sobre o padro de
franjas de interferncia, a qual conhecida como deteco trifsica [92]. Um esquema similar,
que utiliza cinco amostras, cujos sinais so processados para demodular a fase desejada
encontra-se na referncia [93]. Outra tcnica bastante interessante consiste na interferometria
com amplitude modulada [94]. E, finalmente, ressalta-se o mtodo de anlise do domnio
temporal induzido por Jin et alii, que tem faixa dinmica de demodulao de fase dinmica que
se estende entre 0,3 e 78 rad e, portanto, compete com um dos mtodos propostos nesta tese em
termos de desempenho [95].

1.4 Deteco de Fase usando Anlise Espectral Levantamento do
Estado da Arte

Antes mesmo da inveno do laser, na dcada de 1960, j se utilizava a interferometria
ptica para medio de microvibrao em slidos. O primeiro trabalho, baseado no
comportamento do espectro do sinal detectado (1.4), se deve a Thomas e Warren (1928), que
descreveram as aparncias apresentadas pelas franjas de interferncia formadas entre uma
superfcie reflexiva em repouso e outra sob vibrao com pequena amplitude [96]. Sob
freqncias moderadas e altas, ocorria o fenmeno de desaparecimento das franjas, o qual
pode ser usado para determinar a amplitude do movimento durante procedimentos de
calibrao. Assim, o mtodo do desaparecimento das figuras consiste basicamente da
observao visual das franjas quando se analisa vibraes senoidais acima de
aproximadamente 30 Hz. Nestas freqncias, devido ao de integrao, o olho humano
consegue perceber somente a componente DC da srie de Fourier de (1.2), a qual depende da
funo de Bessel J
0
(x) e dos seus pontos de nulo, de acordo com as amplitudes das vibraes.
Quando a amplitude do movimento entre as superfcies do interfermetro aumenta a partir do
zero, as franjas tornam-se no-distintas, desaparecem, reaparecem, e assim por diante.
O mtodo do desaparecimento das franjas, que depois passou a ser conhecido como
mtodo J
0
nulo, foi aperfeioado por Smith, em 1945, para medir deslocamentos entre 104,5
nm e 1,33 m [97]. Nesta, e em vrias experincias realizadas nos anos de 1940, 1950 e
Introduo

48
incio de 1960, empregou-se como fonte ptica a luz monocromtica obtida por filtragem da
raia espectral verde de uma lmpada de mercrio a baixa presso (=546,1 nm). O
interfermetro usado foi o de Fizeau, com uma superfcie refletora em repouso e outra
oscilando, acoplada a um diafragma metlico que vibrava senoidalmente por excitao
eletromecnica.
Em 1953, Ziegler empregou este mtodo com um interfermetro de Michelson e =
546,1 nm, para calibrar sensores eletromecnicos (electromechanical pick-up) acoplados a
acelermetros piezoeltricos [98]. Operando-se entre 250 e 700 Hz, Ziegler mediu amplitudes
de vibrao entre 127 e 762 nm.
Em 1955, Edelman et alii aplicaram o mtodo J
0
nulo com um interfermetro de Fizeau
para calibrar acelermetros de titanato de brio [99]. Usando-se as cinco primeiras ordens de
desaparecimento de franjas, mediu-se deslocamentos entre 104 e 648,9 nm, para freqncias
entre 50 e 11000 kHz.
Em 1961, Schmidt et alii propuseram o mtodo de J
1
max, no qual as medies no
ficam limitadas a amplitudes discretas e so realizadas eletronicamente com o auxlio de um
fotodetector (clula foto-multiplicadora) [100]. Usando-se o interfermetro de Fizeau e =
546,1 nm, os autores conseguiram medir amplitudes de vibrao de 7,2 a 440 nm, para
freqncias entre 500 e 4000 Hz. Embora seja bastante sensvel, o mtodo no opera para x
acima de 1,83 rad, quando ) (
1
x J atinge o primeiro mximo.
Um grande problema do mtodo do desaparecimento das franjas que a determinao
visual do desaparecimento introduz considerveis incertezas subjetivas. Assim, em 1962,
Schmidt et alii apresentaram uma extenso deste mtodo no qual o nulo era determinado
eletronicamente, com uma fotomultiplicadora [101]. Neste caso, utilizou-se o interfermetro
de Fizeau, com = 546,1 nm, e a tcnica fotomtrica modulada em freqncia. Com isto, os
autores mediram vibraes entre 500 e 30000 Hz, contudo, somente em amplitudes discretas,
sendo a menor delas 104,5 nm.
Em 1963, Bowie aplicou o mtodo de desaparecimento de franjas convencional com o
interfermetro de Fizeau, no entanto, ao contrrio dos trabalhos anteriores, onde eram
considerados apenas dois feixes, props considerar uma estrutura com mltiplos feixes [102].
Em 1964, Golderg props um novo mtodo para medir amplitudes de deslocamento
baseado no comportamento da segunda harmnica do sinal detectado [103]. Usando um
interfermetro de Fizeau com mltiplos feixes e um fotodetector com elevada largura de
Introduo

49
banda, detectou os vrios pontos de mnimo desse sinal, cuja forma aguda torna a preciso
muito elevada. O mtodo adequado para a calibrao de transdutores, capaz de medir
deslocamentos entre 0,25 e 10 m, em incrementos de 0,25 m.
Em 1966, surgiu um dos primeiros trabalhos na rea utilizando o laser de He-Ne
(=0,6328 m). Deferrari e Andrews aplicaram o mtodo de J
1
max para medir
deslocamentos de vibrao com um interfermetro de Michelson [104]. Beneficiando-se das
vantagens do laser, mediu-se deslocamentos de uma placa de ao inox engastada nas
extremidades e excitada mecanicamente por um disco delgado de titanato de brio, na faixa
entre 0,1 e 5000 , para freqncias entre 100 Hz e 20 kHz.
Em 1967 foi publicado o artigo clssico de Deferrari et alii, no qual so apresentados os
mtodos do nulo, J
1
/J
2
e J
1
/J
3
, em que so comparados entre si e com o mtodo J
1
max [105].
Todos os mtodos foram propostos para medir vibraes, abaixo de 6000 , usando o
interfermetro de Michelson. A tcnica do nulo s se presta a deteco de vibraes de
transdutores onde a relao entre a tenso aplicada e o deslocamento produzido linear. Por
outro lado, os mtodos de J
1
/J
2
e J
1
/J
3
so semelhantes e utilizam a razo de duas
componentes espectrais. Os mtodos independem de fatores como a eficincia homdina,
responsividade do detector e potncia do laser, e assim, no demanda uma auto-calibrao
inicial. Os autores conseguiram medir deslocamentos acima de 55 e 250 usando-se os
mtodos de J
1
/J
2
e J
1
/J
3
, respectivamente. Relativamente ao mtodo de J
1
mx (j discutido)
ficou evidenciado ser o mais sensvel de todos, conseguindo medir 0,1 . Finalmente, cita-se
que os mtodos J
1
max, J
1
nulo, J
1
/J
2
e J
1
/J
3
tm o problema de que a diferena de fase
0

deve ser polarizada (biased) em 0 ou 90, contra grandes derivas imprevisveis de fase. Alm
disso, existe a dificuldade em se inverter as funes de Bessel a fim de se determinar as
amplitudes de vibrao.
Em 1968, Khanna et alii aplicaram o mtodo J
1
max para medir deslocamentos, com
vistas para aplicaes em estruturas biolgicas [106]. Utilizaram um interfermetro de Fizeau
ultra-estvel e =0,6328 m. O sistema foi estabilizado atravs de uma rigorosa isolao
mecnica, com a montagem em mesa ssmica e laboratrio com isolao acstica,
apresentando-se uma deriva de sada menor que 1 dB ao longo de 20 min. Testes realizados
com vibraes em 1 kHz mostraram que o sistema era capaz de detectar amplitudes da ordem
de
2
10 3

.
Introduo

50
Em 1971, Goldberg aperfeioou o mtodo de anlise dos pontos de mnimo da
componente da 2 harmnica na sada do interfermetro de Fizeau com mltiplos feixes
permitindo-se dobrar a sua resoluo [107]. Com isto foram medidos deslocamentos ente
32,49 e 6973 nm com incrementos de 0,137 nm aproximadamente, na freqncia de 1 kHz.
Em 1972, Brown et alii aplicaram o mtodo J
1
/J
3
em conjunto com uma instrumentao
mais moderna (laser de He-Ne, fotodiodo PIN, analisador de espectros), conseguindo medir
deslocamentos entre 16 e 40 nm, nas freqncias entre 10 e 25 kHz [108]. Aplicaes para
medio de deformao em experimentos de frico interna de metais so propostas.
Em 1980, Jackson et alii aplicaram o mtodo de J
1
max para medir deslocamentos
produzidos por uma cermica piezoeltrica na faixa sub-angstrom e freqncias entre 40 a 10
4

Hz [109]. As medies foram realizadas com um interfermetro de Michelson ultra-estvel
usinado em Invar, laser de He-Ne e amplificador lock-in acoplado sada do fotodetector.
Para freqncias acima de 300 Hz, deslocamentos da ordem de 10
-3
foram detectados (com
SNR ~ 1), sendo que o mnimo deslocamento detectado foi da ordem de 10
-4
em 5 kHz
(limitado pelo rudo shot).
Em 1982, Kersey et alii divulgaram uma nova tcnica, aplicvel a um interfermetro
Mach-Zehnder em fibra ptica com polarizao preservada [110]. Com o auxlio de lminas
de /4 foram gerados dois sinais de sada em quadratura de fase. Filtrando-se as componentes
fundamentais de cada um deles e combinando-os adequadamente, pode ser gerado um sinal
que no dependia de
0
e cuja informao estava no argumento da funo J
1
(x).
Em 1983, Clarck automatizou o mtodo do nulo num interfermetro de Michelson,
movendo automaticamente o espelho de referncia numa velocidade relativamente baixa (com o
auxlio de um pequeno shaker eletrodinmico) [111]. O sistema permitia localizar os primeiros
40 zeros de J
1
e J
2
em apenas 1 minuto. Acelermetros de quartzo foram calibrados, na faixa de
operao entre 200 Hz e 10 kHz, com deslocamentos entre 0,19 e 6,4 m.
Em 1989, Clarck introduziu um dos primeiros trabalhos a usar medio automtica por
computador, com aquisio de dados do sinal fotodetectado e clculo numrico das
componentes espectrais atravs de FFT [112]. Com isto, explorou a faixa de deslocamentos
entre 10 nm e 255 nm, para freqncias entre 10 Hz e 10 kHz. Movendo-se o espelho de
referncia velocidade constante, digitalizou um nmero suficiente de amostras do sinal e
aplicou as tcnicas de J
2
/J
0
, J
3
/J
1
e J
4
/J
2
, de acordo com a magnitude do deslocamento a ser
medido.
Introduo

51
Tambm em 1989, Sudarshanam e Srinivasan apresentaram um mtodo simples e
confivel para medir deslocamentos de fase dinmica, denominado de J
1
...J
4
[113]. Baseado
em relaes de recorrncia das funes de Bessel, o mtodo permite realizar medies lineares
atravs da anlise do espectro (1.4), num interfermetro sem realimentao e sem phase-bias.
Assim, o mtodo no afetado por derivas aleatrias de fase
0
, flutuaes na intensidade da
fonte e variaes na visibilidade das franjas. Utilizou-se um interfermetro Mach-Zehnder em
fibra ptica cujo sinal de sada foi digitalizado para o clculo das quatro primeiras componentes
do espectro atravs de FFT. O clculo do ndice de modulao x direto e no exige a inverso
de funes de Bessel. Segundo os autores, a mnima fase detectvel 0,1 rad, abaixo da qual o
efeito de rudo eletrnico torna-se problemtico. Entretanto, a faixa dinmica do mtodo
estende-se somente at 3,83 rad, quando o sinal associado a ) (
1
x J torna-se negativo. Como se
trabalha apenas com as magnitudes das componentes espectrais (positivas), o mtodo
insuficiente para operar com valores elevados de x.
Por isso, em 1991, Jin et alii aperfeioaram o mtodo J
1
...J
4
, fazendo o uso da srie
trigonomtrica de Fourier em vez de (1.4), levando-se em conta a fase instantnea do sinal de
modulao senoidal e corrigindo-se as discrepncias do mtodo original [114].
Considerando-se este algoritmo, o mtodo passou a ser denominado J
1
...J
4
Modificado.
Ainda em 1991, Minoni e Docchio propuseram uma nova verso do mtodo do nulo
para as componentes em J
1
e J
2
do sinal detectado, com vistas a medir amplitudes de vibrao
em transdutores de PZT [115]. Ao contrrio de Clarck [111], que mediu deslocamentos
pequenos a partir de J
1
e os maiores a partir de J
2
, mediu-se as duas componentes
simultaneamente, e os zeros foram sendo determinados ora na freqncia fundamental ora na
freqncia dupla medida que o deslocamento aumentava. Como resultado, mediu-se
amplitudes na faixa entre 0,4 e 1,7 m, na banda de freqncia entre 8 e 22 kHz.
Em 1992, Sudarshanam props uma nova tcnica para medio linear e direta de
deslocamento de fase dinmica, denominada de mtodo J
0
....J
2
, em que o mnimo
deslocamento de fase detectvel MDPS (minimum detectable phase shift) melhora em uma
ordem de grandeza [116]. Utilizou-se um interfermetro Mach-Zehnder em fibra ptica, no
qual a fase do ramo de referncia tambm foi modulada para produzir uma portadora de fase
adicional (em aproximadamente 2 kHz). O ramo sensor foi colado em um filme de PVF
2
(o
elemento sob teste), excitado por um sinal senoidal em aproximadamente 400 Hz. Como
resultado, conseguiu-se medir um MDPS de 0,01 rad.
Introduo

52
Ainda em 1992, Sudarshanam tambm analisou o efeito do rudo do tipo 1/f
2
sobre os
mtodos J
1
...J
4
e J
0
...J
2
, obtendo-se valores de MDPS iguais a 0,13 rad e 9 mrad,
respectivamente [117].
Em 1993, Sudarshanam e Claus introduziram o mtodo denominado J
1
...J
4
genrico, ou
ento, J
1
...J
6
, no qual so consideradas as magnitudes da componente fundamental e das 5
prximas harmnicas para o clculo do ndice de modulao x [118]. Na realidade, o mtodo
dividido em duas partes complementares: (a) o mtodo J
1
...J
6
-neg, com o objetivo de melhorar
o MDPS, e, (b) o mtodo J
1
...J
6
-pos, para expandir o limite superior da faixa dinmica.
Em 1994, Sudarshanam e Desu aplicaram o mtodo J
1
...J
4
medio da profundidade
de modulao da polarizao de um modulador polarimtrico a base de filme de PVDF, para
fins de aplicao em elipsmetros [119]. Grficos da resposta em freqncia (1 a 15 kHz) e
de linearidade da resposta do transdutor em relao tenso aplicada foram apresentados.
Em 2000, Lee e Kim apresentaram um interfermetro de Michelson melhorado, com a
incorporao de um aparato auxiliar com mltiplas reflexes [120]. Neste sistema, o
deslocamento de fase devido ao movimento de um dos espelhos do interfermetro foi
aumentado sensivelmente por um fator H, que depende da quantidade de reflexes, N. Usando-
se o mtodo do J
1
nulo, por exemplo, chega-se a observar at o trigsimo zero da funo
) (
1
Hx J , aumentando-se a sensibilidade do interfermetro. Trabalhando-se com N entre 1 e 15,
na freqncia de 1250 kHz, deslocamentos entre 12,927 e 1609 nm puderam ser medidos.
Ainda em 2000, Ivaschescu generalizou o mtodo J
0
nulo para permitir a medio
contnua de deslocamentos (ao contrrio do mtodo original, discreto) [121]. Utilizando-se
um interfermetro de Michelson com laser de He-Ne, realizou a aquisio de dados do sinal
fotodetectado e aplicou um algoritmo para estabelecer o intervalo em que se encontrava a raiz
da funo ) (
0
x J , bem como o valor dessa raiz. Com isso, demodulou sinais com ndice de
modulao at 32 rad, associados vibraes (80 Hz) geradas por um transdutor de quartzo.
Neste aspecto, este mtodo competitivo com o que vai ser descrito nesta tese, contudo, o
mesmo tem uma desvantagem: a condio 0
0
= (concordncia de fase) deve ser
estabelecida ao longo das medies, ou seja, no imune ao problema do desvanecimento de
sinal devido deriva de
0
.
Em 2007, Maral et alii aplicaram o mtodo J
1
...J
4
caracterizao de um atuador
piezoeltrico flextensional projetado pelo mtodo de otimizao topolgica [122]. Anlises
Introduo

53
de linearidade do deslocamento em funo da tenso externa aplicada e da resposta em
freqncia (1 a 50 kHz) foram realizadas.

1.5. Deteco da Fase Quase-Esttica usando Anlise Espectral
Levantamento do Estado da Arte

Embora a literatura apresente uma grande diversidade de mtodos de demodulao de
sinais interferomtricos do tipo (1.3), existem poucas referncias usando especificamente a
anlise espectral.
Em (1.3), o interesse se concentra em variaes de fase ) (t que so transitrias, no-
peridicas ou de freqncias muito baixas, e assim, relativamente mais difceis de se medir.
Nenhum mtodo de demodulao ps-deteco consegue distinguir entre a fase induzida pelo
sinal, ) (t , e a deriva aleatria,
0
, a menos que o sinal e a deriva estejam em diferentes
bandas de freqncias.
Em 1982, Cole et alii introduziram o mtodo clssico conhecido como heterdino
sinttico [123]. Embora se permita detectar ) (t arbitrrios, tambm possibilita a medio
de
0
se nenhum sinal for aplicado ao interfermetro. No arranjo, usou-se um interfermetro
de Mach-Zehnder em fibra ptica com uma modulao auxiliar de fase senoidal na freqncia
a
de valor elevado (correspondente a 300 kHz). O mtodo baseado na filtragem passa-
banda do espectro do sinal (1.3), extraindo-se as componentes centradas em torno de
a
e
a
2 . Manipulando-se eletronicamente estes sinais, obtm-se um sinal do tipo heterdino,
centrado na freqncia
a
3 e que contm a variao de fase de interesse. Vrios filtros passa-
banda so necessrios, bem como circuitos multiplicadores, divisores de freqncia e
detectores de FM do tipo PLL, acrescentando complexidade e custo ao circuito.
Ainda em 1982, Green e Cable propuseram uma tcnica denominada recombinao de
quadratura para demodular a fase
0
) ( + t em (1.3), desde que as freqncias em ) (t e
0
sejam alta e baixa, respectivamente [124]. O esquema de demodulao, bastante
complexo, envolve um pr-processamento analgico do sinal fotodetectado, a partir das
componentes fundamental e 2 harmnica, a digitalizao dos sinais pr-processados e um
processamento digital subseqente.
Introduo

54
Em 1983, Bohm et alii introduziram um algoritmo para medir ) (t (bem como
0
)
atravs de processamento digital de sinais, com vistas a aumentar a faixa dinmica de um
giroscpio em fibra ptica [125]. Os autores propuseram obter a fase a partir da razo entre as
componentes fundamental e 2 harmnica. Contudo, x deve ser mantido constante, o que foi
realizado monitorando-se a razo entre as componentes de 2 e 4 harmnicas (para que
permanecesse constante) atravs de um sistema de controle automtico. Em 1985, Barlow
aplicou o mtodo de Bohm et alii [125] para medir birrefringncias em fibras pticas Lo-Bi [126].
Em 1988, Sasaki e Takahashi propuseram uma nova tcnica para demodular sinais do
tipo (1.3), a fim de se medir deslocamentos com um interfermetro em fibra ptica [127]. O
processamento do sinal fotodetectado foi realizado totalmente em computador e, ao contrrio
do procedimento convencional, onde se trabalha com a srie de Fourier, os autores aplicaram
a transformada de Fourier bilateral.
Em 1992, Sudarshanam tornou o mtodo de Bohm et alii [125] linear, auto-consistente e
exato [128]. Assim, usando-se as componentes espectrais nas freqncias fundamental e 2
harmnica, pode extrair
0
(no mtodo, 0 ) ( = t ). Antes, porm, seria necessrio obter o
valor de x, o que foi resolvido com o mtodo J
1
...J
4
(o qual independente de
0
).
Considerando-se um rudo dominante do tipo 1/f
2
, estimou-se um deslocamento de fase
esttica mnimo de 1,025 mrad.
Em 1993, Zhang e Lit aplicaram o mtodo proposto por Barlow [126] para medir
deformao mecnica e temperatura, usando sensores polarimtricos em fibra ptica Hi-Bi
com polarizao preservada [129].
Em 1995, Gronau e Tur aperfeioaram o algoritmo de Bohm et alii [125], dispensando a
necessidade de um controle em malha-fechada [130]. A fase ) (t continuava sendo
calculada da mesma forma, porm, x deveria ser mantido constante, monitorando-se a razo
entre a fundamental e a 3 harmnica. No entanto, em vez de usar um sistema de controle
analgico, o valor de x era estimado, e seu valor era usado para calcular um fator de
compensao na determinao de ) (t .
Em 2001, Lo e Chuang descreveram um novo demodulador heterdino sinttico, mais
simples e barato que o sistema proposto por Cole et alii [123], para ser usado com um
interfermetro em fibra ptica do tipo Fabry-Perot [131]. O novo algoritmo basea-se no sinal
de sada do tipo (1.3). Operando as componentes harmnicas usando-se multiplicadores e
Introduo

55
filtros, gera-se um par de componentes que podem ser adequadamente combinadas para gerar
um sinal heterdino com portadora na freqncia
a
. O sinal ) (t (em conjunto com
0
)
pode ser demodulado com um lock-in.

1.6. Motivao para o Desenvolvimento da Pesquisa

Piezocermicas, como o PZT, podem converter energia da forma eltrica para mecnica
(e vice-versa), e assim, quando a tenso de alimentao do PZT varia, as suas dimenses
tambm variam. Contudo, como a deformao da piezocermica muito pequena, esta
geralmente no pode ser usada diretamente como um atuador. Torna-se necessria uma
amplificao dos deslocamentos.
Assim, os atuadores piezoeltricos freqentemente empregam mecanismos
amplificadores para converter a pequena deformao induzida na piezocermica num
deslocamento maior de sada, o qual pode ser usado em aplicaes prticas. Mecanismos
flexveis do tipo complacente (com a piezocermica) so usados regularmente para esta
funo, com o objetivo de evitar perdas, como ocorre com mecanismos convencionais,
usando-se pinos e juntas.
Se forem acoplados a elementos de restrio de movimento, os piezoatuadores podem
gerar foras. Isto vem sempre acompanhado por reduo no deslocamento. Na gerao de
fora mxima, o deslocamento nulo. Esta fora mxima (blocked force) depende
diretamente da rigidez da piezocermica.
Quando empregados como posicionadores eletromecnicos, os atuadores piezoeltricos
tm sido aplicados ao ajuste de espelhos em instrumentos pticos como lasers e
interfermetros, bem como, no posicionamento rigoroso na fabricao de chips
semicondutores, cuja preciso da ordem de 100 nm [132]. Em microscopia de varredura,
uma ferramenta freqentemente usada em biologia, vrios atuadores piezoeltricos so
aplicados nos seus estgios de translao, permitindo-se reas de varredura da ordem de
vrios m
2
[133]. Em manipulao celular, existe grande nmero de diferentes tarefas de
micro-manipulao, cujos arranjos geralmente consistem de posicionadores lineares que
conduzem ferramentas como agulhas ou micro-pipetas. O atuador piezoeltrico muito
adequado para a substituio tanto dos elementos de posicionamento manual (acoplados a
sistemas pneumticos) quanto dos motorizados, melhorando a resoluo e reduzindo as
dimenses do sistema [134]. Na indstria de discos rgidos (hard-disk), o atuador
Introduo

56
piezoeltrico pode ser aplicado para acionar a montagem de suspenso da cabea magntica,
com a vantagem de possuir uma maior largura de banda em relao associada aos atuadores
eletromagnticos [135].
Na rea de supresso de vibrao, a aplicao dos piezoatuadores em estruturas espaciais
e veculos militares tambm constitui uma alternativa promissora. O controle ativo de vibrao
tem sido usado em vrias aplicaes estruturais como, por exemplo, para isolar o motor do
automvel do seu chassi, o rotor de um helicptero de sua fuselagem e motores navais do casco
do navio. Classicamente, isto j foi realizado usando-se atuadores de relutncia, hidrulicos,
eletrodinmicos, magnetostritivo e com PZT. Porm, Brennan et alii, usando critrios objetivos
concluram que os piezoatuadores constituem a opo mais eficiente [136].
Nesta tese, o principal interesse concentra-se nos piezoatuadores usados essencialmente
para produzir deslocamento, e assim, o estudo enfatizar os atuadores de posicionamento (free
displacement). Um atuador muito eficiente e com mecanismo amplificador complacente,
corresponde ao atuador piezoeltrico flextensional APF, cujas primeiras verses foram
desenvolvidas no final dos anos 1960 [137].
Um APF capaz de apresentar tempo de resposta inferior a 1 ms, e no tem problema de
desgaste uma vez que seu deslocamento baseado na dinmica de estado slido. Em
operaes estticas, absorve energia somente durante o movimento, e assim, mesmo diante de
cargas elevadas, no consome potncia.
O projeto dos APFs muito complexo e foge aos objetivos desta tese. Por isto, os APFs
utilizados foram projetados e construdos pelo Grupo de Sensores e Atuadores da Escola
Politcnica da USP (EPUSP), utilizando o mtodo de otimizao topolgica [138]. Os prottipos
contm estruturas flexveis manufaturadas em alumnio, que so coladas a piezocermicas (PZT-
5A) retangulares. Um exemplo destes APFs encontra-se desenhado na Fig. 1.1.

Figura 1.1 Atuador Piezoeltrico Flextensional.

Modo flexural
Modo extensional
Estruturas flexveis de alumnio Camadas de cola
Cavidades
Introduo

57
Em trabalhos futuros a serem desenvolvidos na FEIS-UNESP, pretende-se utilizar o
APF como elemento ativo para estabilizar um interfermetro homdino, movimentando o
espelho no ramo de referncia. Com tal sistema, ser possvel executar a demodulao de fase
diferencial com forma de onda arbitrria. Antes porm, necessrio caracterizar o APF em
termos de linearidade do deslocamento gerado em relao tenso externa aplicada, da
resposta em freqncia, do fator de amplificao, etc.
Como os deslocamentos de espelho necessrios para estabilizar um interfermetro ativo
variam entre nanmetros e micrometros, percebe-se que natural utilizar justamente a
interferometria para executar esta caracterizao. Para esta tarefa, contudo, empregar-se- um
interfermetro passivo, sendo o APF excitado por tenso eltrica senoidal, com amplitudes e
freqncias conhecidas.
Como um APF, operando em sua faixa dinmica de deslocamento, constitui um sistema
linear invariante no tempo, sua resposta em freqncia pode ser obtida atravs da razo entre
a amplitude do deslocamento senoidal de sada e a amplitude da tenso senoidal de entrada,
ao longo da banda de freqncias de interesse. Assim, um processo de demodulao de
variao de fase dinmica, mensurada por um interfermetro passivo, suficiente para
realizar a caracterizao do APF.

1.7. Metodologia Utilizada na Caracterizao do APF

Um grande nmero de dispositivos pode ser usado para medir deslocamentos
micromtricos, tais como aqueles envolvendo fenmenos magnetostritivo, eletrostritivo,
piezoeltrico e expanso trmica [139]. Estes incluem dispositivos empregando sistemas
mecnicos e pticos: variaes de capacitncia, strain-gauges e interfermetros. Dentre estes
mtodos, apenas o interfermetro no necessita de calibrao por comparao com um padro
de deslocamento ou o uso de escalas previamente calibradas.
Numa calibrao comparativa (secundria), a sensibilidade (fator de calibrao) de um
transdutor determinada por comparao direta com um transdutor padro de referncia. A
sensibilidade deste ltimo deve ser conhecida, sendo recomendvel que tenha sido calibrado
por um mtodo primrio.
Na calibrao absoluta (ou primria) a sensibilidade do transdutor determinada por
medies das grandezas de interesse com base nas unidades fundamentais e derivadas do
Sistema Internacional de Unidades (SI). Sistemas de calibrao por interferometria, na qual a
Introduo

58
grandeza determinada em relao ao comprimento de onda () ou a freqncia ( T f / 1 = )
[logo, as unidades bsicas do SI (comprimento e tempo)], esto includos nesta categoria.
De fato, a interferometria proporciona uma referncia direta a um padro altamente
estvel, a saber, as transies de energia no tomo. A luz emitida pelos tomos caracterstica
de nveis de energia particulares, e constituda por uma srie de bandas ou linhas de
freqncias bem definidas. Por exemplo, a radiao emitida pelo laser de He-Ne,
correspondente ao comprimento de onda =0,6328 m, est associada transio 3s
2
2p
4

do tomo de Ne. Assim, a determinao do deslocamento,
s
l , estabelecida por comparao
com o comprimento de onda do laser utilizado, . Com isso, se o ndice de modulao de fase
for conhecido (x), ento, o deslocamento ser uma frao ( 4 / x ) do comprimento de onda,
isto , ) 4 / (x l
s
= .
Portanto, nesta tese, utilizar-se- a interferometria ptica para caracterizar o APF, onde
o padro de referncia ser o comprimento de onda do laser de He-Ne. A fim de reduzir o
custo e simplificar a montagem ptica, optou-se por usar um interfermetro de Michelson
convencional, em ptica volumtrica. Para executar a demodulao do ndice de modulao
de fase x, foi eleita a metodologia de anlise do espectro do sinal fotodetectado, uma classe
genrica de esquemas de deteco passiva que particularmente adequada para o estudo de
vibraes harmnicas.
Usando interferometria ptica e anlise do espectro fotodetectado, na caracterizao do
APF, necessita-se de um esquema de demodulao de fase que seja robusto, possua ampla faixa
dinmica, larga resposta em freqncia, seja linear e permita o clculo direto de x,
independentemente do desvanecimento do sinal, de variaes na intensidade da fonte ptica, na
visibilidade das franjas e do valor da responsividade do fotodiodo. Embora tcnicas como
J
1
...J
4
, J
0
...J
2
e J
1
...J
6
exibam muitas dessas caractersticas, no tm faixas dinmicas suficientes.
Alm disso, como ser mostrado no Captulo 3, possuem singularidades devido ao
desvanecimento de sinal, que dificultam uma implementao para operao contnua no tempo.
De face a estes problemas, props-se investigar e implementar novos mtodos para
detectar x, o qual passou a constituir a meta principal desta tese. Assim, procedimentos de
aquisio do sinal e algoritmos para o processamento digital dos dados amostrados foram
desenvolvidos. Para avaliar se o cdigo de programao foi corretamente inserido no
computador, um ambiente grfico da simulao para anlise dinmica dos mtodos foi
implementado, simulando-se tanto os sinais quanto a deriva de
0
e o rudo eletrnico. Com
Introduo

59
isso, haveria garantia de que se a rotina de programao demonstrasse sucesso na simulao,
ento, tambm seria eficiente para o caso prtico no laboratrio. Submeteram-se os novos
mtodos a um teste definitivo de validao, procedendo-se a demodulao do retardo de fase
de um modulador eletro-ptico a base de clula Pockels, cujo modelamento matemtico tem
soluo fechada, baseando-se somente na teoria eletromagntica. Finalmente os mtodos
propostos foram aplicados na caracterizao de um APF.

1.8 Objetivo da Tese

O objetivo desta tese o desenvolvimento de mtodos de anlise espectral para uso em
sistemas interferomtricos homdinos passivos, que tenham ampla faixa dinmica para que
sejam aplicados na caracterizao de APFs. Pretende-se que estes mtodos possam ser
implementados para operao contnua no tempo, e que a fase ) (
0
t tambm possa ser
monitorada durante os testes com o APF.

1.9 Organizao da Tese

Visando cumprir o objetivo proposto, o texto foi dividido em 9 Captulos, incluindo-se
esta introduo.
No Captulo 2 descrevem-se os atuadores piezoeltricos flextensionais (APFs),
direcionando-se o texto para o APF f1b0820, que ser o atuador a ser caracterizado nesta tese.
O efeito piezoeltrico discutido de forma sucinta, assim como algumas caractersticas da
piezocermica PZT-5A empregada no f1b0820. Noes bsicas sobre o projeto de APFs pelo
mtodo de otimizao topolgica (utilizado no projeto do f1b0820) tambm so apresentadas.
No Captulo 3, conceitos fundamentais de interferometria ptica de dois feixes sero
apresentados, direcionados para os interfermetros de Mach-Zehnder e Michelson, por
exemplos. O rudo na fotodeteco e no condicionamento de sinais tambm assunto deste
captulo, destacando-se o condicionamento usando um amplificador de transimpedncia
tpico. Nas sees finais so realizadas anlises do sinal fotodetectado quando o
interfermetro est sob excitao senoidal. Simulaes so realizadas considerando as
conseqncias do desvanecimento de sinal devido deriva de fase
0
e de um fator de rudo
aditivo no espectro de magnitude da tenso fotodetectada.
Introduo

60
Os mtodos espectrais clssicos de demodulao de fase ptica, denominados J
1
...J
4
,
J
1
...J
6
-neg, J
1
...J
6
-pos e J
0
...J
2
, so explanados no Captulo 4. Anlises considerando rudo
1/f
2
, rudo branco e desvanecimento de sinal so efetuadas. Os resultados de simulaes,
realizadas para cada um dos mtodos analisados, evidenciaro suas limitaes. Um mtodo
espectral que permite quantificar a fase
0
, mesmo quando esta varia no tempo, tambm ser
apresentado no final do captulo.
Um conjunto de novos mtodos espectrais para a soluo de limitaes inerentes aos
mtodos clssicos estudados ser apresentado no Captulo 5. Adianta-se que, tanto os
mtodos clssicos, como os novos mtodos propostos, utilizam a mesma configurao
interferomtrica simples. As diferenas estaro nas equaes utilizadas nos clculos e nos
algoritmos associados aos mtodos propostos. Uma nova equao para o monitoramento de
0
tambm ser proposta. Para cada novo mtodo proposto, resultados de simulaes com
rudo e considerando a influncia de
0
varivel, sero mostrados e discutidos, tornando
evidentes as vantagens dos novos mtodos em relao aos clssicos.
No Captulo 6, um modelo (software) desenvolvido no Simulink, composto de vrios
subsistemas, ser mostrado. Os mtodos espectrais clssicos explanados no Captulo 4 e os
novos mtodos, propostos no Captulo 5, estaro implementados neste modelo. Discute-se a
gerao do sinal (interferomtrico) modulado em fase, sua anlise (janelamento temporal e
clculo usando uma FFT ou algoritmo de Goertzel), a identificao da magnitude das
harmnicas e o processamento envolvido na correo de seus sinais algbricos. Vrios
resultados de simulaes dinmicas comparando-se os novos mtodos e os mtodos clssicos
so apresentados e discutidos. O desenvolvimento deste captulo visa uma futura
implementao dos novos mtodos em placas de DSPs; no entanto, os resultados servem
essencialmente para validar os novos mtodos tambm nesta plataforma de desenvolvimento e
simulao dinmica, que muito se aproxima da realidade prtica, como ser mostrado nos
testes experimentais, nos Captulos 7 e 8.
A validao experimental dos novos mtodos espectrais J
1
/J
3
A, J
1
...J
3
e J
m
/J
m+2
assunto
do Captulo 7. Inicialmente descrever-se- o sensor ptico de tenso (SOT) empregado nos
experimentos. O modelamento matemtico para o SOT ser apresentado. Posteriormente, no
texto, seguem-se resultados de vrios experimentos efetuados com o SOT, incluindo-se formas
de onda temporais e espectros de sinal e de rudo, bem como medies de tenso eltrica
externa (ou, do ndice de modulao x) e da fase
0
(realizadas pelo uso dos mtodos espectrais,
Introduo

61
tanto os propostos, quanto os clssicos). Os resultados so comparados, evidenciando-se as
principais vantagens dos novos mtodos concebidos nesta tese. O valor da tenso de meia onda
(

V ) da clula Pockels utilizada no SOT ser calculado teoricamente e atravs dos
experimentos usando-se os mtodos espectrais. Os resultados sero ento comparados, o que
permitir validar experimentalmente o comportamento dos mtodos pticos.
A aplicao proposta nesta tese, de grande relevncia, por tratar-se da caracterizao de
APFs inditos projetados recentemente, o assunto do Captulo 8, onde se descreve a
configurao experimental elaborada para os testes do APF f1b0820, incluindo-se um
interfermetro de Michelson, circuitos auxiliares (cita-se, como exemplo, um amplificador de
transimpedncia, utilizado na amplificao do sinal fotodetectado) e o sistema de aquisio de
dados para processamento digital do sinal fotodetectado. Descreve-se, na seqncia do texto,
os procedimentos realizados para a anlise de linearidade e resposta em freqncia do APF, e
da amplificao proporcionada pela sua estrutura metlica flexvel. Janelas do sinal temporal
fotodetectado e seus respectivos espectros de magnitude so mostrados e discutidos. Procede-
se a caracterizao experimental do APF, usando-se os mtodos espectrais. Os resultados
obtidos pelo emprego dos novos mtodos so comparados com aqueles resultantes da
aplicao dos mtodos clssicos, o que permitir avaliar o comportamento de todos os
mtodos espectrais estudados nesta tese. Medies de vibrao da superfcie do APF so
realizadas desde alguns angstroms at a escala micromtrica.
As concluses finais e algumas perspectivas futuras sero assuntos do Captulo 9.

62
CAPTULO 2

ATUADORES PIEZOELTRICOS
FLEXTENSIONAIS

Na montagem de transdutores piezoeltricos so utilizados materiais piezoeltricos e
no piezoeltricos, combinados de forma a produzir uma vibrao mecnica com grande faixa
dinmica de deslocamento e/ou fora. Neste captulo so descritas as caractersticas gerais da
piezocermica PZT-5A e do atuador piezoeltrico flextensional (APF) usado nesta tese.
Informaes sobre o projeto e manufatura da estrutura flexvel vinculada ao APF so
apresentadas.

2.1 Efeito Piezoeltrico

Um meio material quando sofre deformaes est sujeito a foras atuando em seus
tomos. Essas foras elsticas tendem a restaurar a posio de equilbrio desses tomos. O
comportamento microscpico de tais corpos explicado pela teoria da elasticidade.
Considerando-se o caso de meios contnuos, a relao entre deformao (strain) e
tenso (stress) mecnicas fornecida pela Lei de Hooke [140]:

kl ijkl ij
S c T = , para 3 , 2 , 1 , , , = l k j i (2.1)
ou sua relao inversa:

kl ijkl ij
T s S = , para 3 , 2 , 1 , , , = l k j i (2.2)
sendo
ij
S e
ij
T os tensores de 2 ordem correspondentes deformao e tenso mecnicas,
respectivamente, enquanto que
ijkl
c e
ijkl
s so tensores de 4 ordem correspondentes s
constantes elsticas de rigidez e flexibilidade do material, respectivamente.
A deformao mecnica est relacionada com a variao do comprimento do corpo
numa dada direo, e a tenso mecnica, com a fora por unidade de rea aplicada ao slido.
A rigidez se relaciona com a fora necessria para produzir uma unidade de deslocamento
numa direo. A flexibilidade a recproca da rigidez. Ento, (2.1) estabelece que se o corpo
Atuadores Piezoeltricos Flextensionais

63
possui uma elevada rigidez, a deformao ser pequena, enquanto (2.2) indica que se a
flexibilidade for alta, a deformao ser grande.
Os tensores
ijkl
c e
ijkl
s podem ser representados na forma de matrizes, no caso, com
ordens 9 9 [141]. No entanto, usando-se a notao de ndices reduzidos, no qual se associa
1 ) 11 ( , 2 ) 22 ( , 3 ) 33 ( , 4 ) 23 ( , 5 ) 13 ( e 6 ) 12 ( , essas ordens caem para
6 6 . Assim, associando-se m ij ) ( e n kl ) ( , e, no caso de materiais isotrpicos,
mn ijkl
c c = dada por [140]:

=
44
44
44
11 12 12
12 11 12
12 12 11
0 0 0 0 0
0 0 0 0 0
0 0 0 0 0
0 0 0
0 0 0
0 0 0
] [
c
c
c
c c c
c c c
c c c
c
mn
, (2.3)
sendo 2 / ) (
12 11 44
c c c + = . Ou seja, a matriz bastante esparsa e com apenas dois coeficientes
independentes. A matriz associada a
ijkl
s tem forma similar.
Contudo, (2.1) ou (2.2) no descrevem completamente o caso dos materiais
piezoeltricos. Formalmente, a piezoeletricidade acopla a deformao e tenso mecnicas
com os campos eltrico (E) e de deslocamento eltrico (D) [142]. O efeito piezoeltrico direto
estabelece que seja gerado um deslocamento eltrico quando se aplica uma tenso mecnica
ou um campo eltrico sobre o corpo:

k
T
kl kl ikl i
E T d D + = , para 3 , 2 , 1 , , = l k i (2.4)
sendo que
T
kl
o tensor permissividade dieltrica (2 ordem) e
ikl
d o tensor das constantes
piezoeltricas tenso mecnica/campo eltrico (3 ordem). O sobrescrito T informa que a
grandeza deve ser mensurada na condio de tenso mecnica constante ou nula.
Para uma piezocermica como o PZT (titanato zirconato de chumbo), tem-se que
[143]:

=
33
11
11
0 0
0 0
0 0
] [
ij
, (2.5)
enquanto

64

=
0 0 0
0 0 0 0 0
0 0 0 0 0
] [
33 31 31
15
15
d d d
d
d
d
ml
, (2.6)
em que foi utilizada a notao de ndices reduzidos
ml ikl
d d .
Por outro lado, o efeito piezoeltrico inverso estabelece que o material sofre tenso
mecnica tanto devido deformao mecnica quanto ao deslocamento/campo eltrico [142]:

k kij kl
D
ijkl ij
D h S c T = , para 3 , 2 , 1 , , , = l k j i (2.7)
ou, sua relao inversa

k kij kl
E
ijkl ij
E d T s S + = , para 3 , 2 , 1 , , , = l k j i (2.8)
sendo
kij
h o tensor das constantes piezoeltricas campo eltrico/tenso mecnica (3 ordem).
Os sobrescritos D e E informam que as grandezas devem ser mensuradas sob condio de
deslocamento eltrico e campo eltrico constantes ou nulos, respectivamente. A matriz
associada a
mj kij
h h = tem forma similar a (2.6).
O PZT pertence a uma famlia de materiais piezoeltricos sintticos, que proporciona
elevada eficincia de converso eletro-mecnica. Trata-se de uma cermica em estrutura
multicristalina cujos domnios microscpicos precisam ser alinhados atravs da tcnica de
polarizao (poling) [144]. Com isto, fica estabelecida uma direo de alinhamento dos
domnios, denominada de eixo de polarizao do material. Adotando-se a conveno de eixos
geomtricos ) 1 ( x , ) 2 ( y e ) 3 ( z , ento, (2.6) foi estabelecida considerando-se que o
eixo de polarizao paralelo direo (3).
Nesta tese o principal interesse o efeito piezoeltrico inverso. Assim por exemplo, se
uma piezocermica retangular de PZT estiver livre de tenso mecnica externa, tem-se que
0 =
kl
T em (2.8), e ento, pode se deformar sem restries, tal que:

k kij ij
E d S = , para 3 , 2 , 1 , , = k j i . (2.9)
Se, alm disso, for aplicado um campo eltrico na mesma direo do eixo de
polarizao,
3
E , ento, (2.9) conduz a (usando a notao de ndices repetidos) [145]:

3 31
1
1
1
E d
L
L
S =
= , (2.10-a)

3 31
2
2
2
E d
L
L
S =
= , (2.10-b)

65

3 33
3
3
3
E d
L
L
S =
= , (2.10-c)
e que no h rotao na estrutura do PZT, pois segue que:
0
6 5 4
= = = S S S , (2.10-d)
sendo
1
L ,
2
L e
3
L [m] as variaes de comprimento do PZT nas direes 1, 2 e 3,
respectivamente,
1
L ,
2
L e
3
L [m], so as dimenses do PZT na ausncia de campo eltrico.
Esta situao encontra-se desenhada na Fig. 2.1, para campos eltricos E
3
positivos e
negativos. Especificamente para a piezocermica PZT-5A, a literatura informa que
171
31
= d pm/V e 374
33
= d pm/V [146]. Embora, adverte-se, que grandes discrepncias
com valores experimentais podem ser obtidas.

(a) (b)
Figura 2.1 - Piezocermica retangular polarizada pela aplicao de um campo eltrico na direo da
polarizao eltrica do material (direo 3). (a) campo e polarizao eltrica no mesmo sentido. (b) campo
e polarizao eltrica em sentidos contrrios.

No modo de expanso da espessura da piezocermica (thickness expander), descrito
por (2.10-c), a deformao ocorre na mesma direo do campo eltrico e do eixo de
polarizao, e depende da constante de proporcionalidade d
33
. medida que E
3
aumenta (ou
diminui) S
3
aumenta (ou diminui) na mesma proporo, ocorrendo o mesmo quando ocorre
inverso de sinal.
No modo de expanso do comprimento da piezocermica (length expander), descrito
por (2.10-a) e (2.10-b), as deformaes ocorrem nas direes 1 e 2 devido ao campo aplicado
na direo 3. O coeficiente d
31
tem valor negativo, indicando que um aumento de E
3
implica
em diminuio de S
1
e S
2
e vice-versa.

66
2.2 Resposta em Freqncia da Piezocermica

Todo elemento piezoeltrico apresenta freqncias de ressonncias, fundamental ou
superiores, nas quais o meio tende a vibrar com amplitudes mais elevadas do que vibraria em
outras freqncias. Essas ressonncias ocorrem quando as freqncias da tenso de excitao
so tais que se acomodam mltiplos de 2 /
ac
, sendo
ac
o comprimento de onda acstico, ao
longo da direo transversal ou de espessura da amostra. As freqncias onde o deslocamento
da piezocermica mximo so aquelas onde sua impedncia eltrica de entrada mnima, ou
seja, onde sua admitncia eltrica mxima.
A anlise da piezocermica objetivando estudar sua impedncia eltrica pode ser
realizada utilizando, por exemplo, o modelo de Mason, baseado em circuitos eltricos
equivalentes [147]. Por outro lado, uma avaliao experimental dinmica pode ser executada
com o auxlio de um analisador de impedncias vetorial. Contudo, como a curva de resposta
em freqncia do dispositivo em termos de admitncia eltrica mais simples de se
interpretar, costuma-se proceder aquisio dos dados de impedncia e invert-los no
computador. Na Fig. 2.2 ilustra-se a curva de resposta em freqncia da admitncia eltrica
de entrada da piezocermica utilizada nesta tese (PZT-5A, American Piezoceramics,
30 mm 14 mm 3 mm, nas direes 1, 2 e 3, respectivamente) [143].
Na Fig. 2.2 tambm so apresentados os resultados obtidos por simulao por [122],
[143]. Em particular, evidenciam-se os pontos de ressonncia e antiressonncia, em 46 e 48
kHz, respectivamente. Caso no houvesse ressonncias nesta banda de freqncias, o grfico
de magnitude da admitncia seria linear, passando pela origem, e, o de fase, seria constante,
em 90 [147].

(a) (b)
Figura 2.2 - Curvas de admitncia eltrica medidas com o analisador de impedncias () e calculadas
usando o ANSYS (---) [122], [143]. (a) Magnitude em funo da freqncia. (b) Fase em funo da
freqncia.

67
2.3 Medio dos Coeficientes Piezoeltricos d
33
e d
31

Uma cermica piezoeltrica tem seu comportamento influenciado pelas constantes
dieltricas, constantes piezoeltricas e constantes de rigidez mecnica do material. Os valores
dessas constantes so fornecidos pelos fabricantes, contudo, como j foi citado anteriormente,
podem apresentar uma discrepncia de at 20%. Por isso, importante estabelecer
procedimentos experimentais para medir o valor verdadeiro dessas constantes.
No caso da piezocermica PZT-5A usada nesta tese, foram medidos, em outro trabalho,
os valores das constantes piezoeltricas
33
d e
31
d [122]. Aplicando-se uma forma de onda de
tenso triangular, com valor de pico igual a 200 V e freqncia igual a 1 Hz, levantou-se o
grfico mostrado na Fig. 2.3, com o auxlio de um sensor reflexivo em fibra ptica do tipo MTI-
2000 fotonic sensor
TM
(MTI 2020R). O deslocamento mensurado na direo 1 est
relacionado a
31
d , enquanto o deslocamento na direo 3, a
33
d .
Baseados nos resultados da Fig. 2.3 e nas dimenses da piezocermica PZT-5A utilizada,
Maral et alii

[122] mediram os seguintes valores: 287
33
= d pm/V e 133
31
= d pm/V, cujos
valores so bem diferentes dos fornecidos na literatura [146]. Os valores destes coeficientes sero
empregados no Capitulo 8 para estabelecer os fatores de amplificao do APF.

Figura 2.3 Deslocamentos L
3
(relacionado d
33
) e L
1
(relacionado d
31
), obtidos em anlise quase-
esttica efetuada experimentalmente usando o sensor MTI-2000 e por simulao usando o ANSYS: L
1

experimental, --- L
1
simulado, L
3
experimental e --- L
3
simulado [122].

68
2.4. Atuadores Piezoeltricos Flextensionais

Um atuador piezoeltrico flextensional (APF) pode ser definido como uma estrutura
composta de uma piezocermica (ou uma pilha de piezocermicas) conectada uma estrutura
flexvel que amplifica e altera a direo do deslocamento gerado na piezocermica [148].
Dois exemplos so os atuadores moonie e cymbals [149]-[151], que consistem de
piezocermicas de PZT fixadas a estruturas metlicas no plano 1-2, como ilustrado na Fig.
2.4. As setas duplas informam que as estruturas metlicas amplificam e mudam a direo do
deslocamento gerado pela piezocermica.

Figura 2.4 Atuadores piezoeltricos flextensionais: (a) moonie. (b) cymbals.

Os APFs tm diversas aplicaes, incluindo sistemas de micro ou
nanoposicionamento, cujas vantagens em relao a sistemas convencionais incluem elevada
resoluo, gerao de foras de at centenas de newtons, rpida expanso, imunidade a
campos magnticos, consumo de potncia reduzido e durabilidade. Informaes gerais sobre
as vrias aplicaes e o estado da arte dos atuadores piezoeltricos podem ser encontradas em
[152] e [153].
Nos trabalhos desenvolvidos no Laboratrio de Optoeletrnica da FEIS-UNESP h
um interesse particular em posicionadores de deslocamentos da ordem de micro/nanmetros
para aplicaes em fotnica e ptica, tais como sistemas de varredura e posicionadores de
espelhos e ajuste fino de feixes de laser em sistemas pticos. Conforme foi mencionado no
Captulo 1, o projeto e implementao do APF usado na tese foram executados pelo Grupo de
Sensores e Atuadores da EPUSP, atravs da tcnica de otimizao topolgica, utilizando
elementos finitos e o software ANSYS.
O projeto de um APF leva em considerao a amplificao no deslocamento,
proporcionada pela estrutura metlica, e a fora produzida na direo do deslocamento,
parmetros que podem ser otimizados se a estrutura for projetada para se obter flexibilidade e

69
rigidez. Nesta tese, o APF utilizado foi projetado para aplicaes em baixas freqncias (na
faixa de Hz a poucos kHz), para ser utilizado como posicionador. No Captulo 8, pretende-se
estabelecer a largura de banda do APF, bem como, detectar as novas freqncias de
ressonncias introduzidas pela estrutura flexvel.
Anlises numricas utilizando o software ANSYS permitem uma modelagem dos
dispositivos levando-se em considerao todos os componentes mecnicos da estrutura, como
a piezocermica, adesivos, formas de excitao, pontos de engaste, etc. As relaes (2.4),
(2.7) e (2.8) so consideradas relaes constitutivas da elasticidade, as quais, em conjunto
com a 2 lei de Newton, permitem obter uma equao do movimento (ou equao de
equilbrio), que pode ser resolvida pelo ANSYS [143].
O ANSYS resolve as equaes do equilbrio para meios piezoeltricos e no-
piezoeltricos. Devem ser fornecidos os valores das constantes das relaes constitutivas e as
condies de contorno da estrutura. As simulaes podem ser realizadas em duas ou trs
dimenses, com um custo computacional sensivelmente maior no ltimo caso. Por isso, os
modelos bidimensionais so preferidos, desde que a simetria da estrutura o permita.

2.5 Noes Gerais sobre o Projeto dos APFs
APFs foram desenvolvidos no passado usando modelos analticos complementados
por observaes experimentais, no caso de estruturas mais simples [149] - [150], ou, o mtodo
de elementos finitos (MEF), no caso de estruturas mais complexas. Normalmente, a escolha
da topologia era baseada na intuio fsica do problema.
Recentemente, novos modelos de APFs foram desenvolvidos usando a tcnica de
otimizao topolgica, um mtodo de projeto computacional que combina algoritmos de
otimizao e o MEF para encontrar uma topologia tima das partes mecnicas [138], [154].
A topologia do APF obtida atravs da busca pela distribuio tima de duas fases (material
e nulo) no domnio de projeto, adotando que as propriedades das fases podem variar de uma
para outra, proporcionalmente a certo parmetro, que a varivel de projeto no problema. O
desempenho do APF depende da distribuio de rigidez e flexibilidade na estrutura de
acoplamento que colada piezocermica, a qual est relacionada com a topologia da
estrutura de acoplamento. Portanto, o objeto de estudo de um APF usando otimizao
topolgica projetar uma estrutura flexvel acoplada piezocermica, que maximiza o
deslocamento de sada e a fora generativa numa direo especfica. Uma soluo de

70
compromisso buscada, uma vez que grandes deslocamentos de sada so obtidos quando a
flexibilidade da estrutura aumentada, enquanto que, uma grande fora generativa demanda
um aumento na rigidez da estrutura. A principal vantagem deste mtodo que permite
encontrar novos interstcios na estrutura de acoplamento, levando reduo de peso do APF
[148].
A Fig. 2.5 ilustra o procedimento de otimizao topolgica para projetar um APF.
Primeiro, um domnio de projeto inicial definido, o qual limitado pelas condies de
contorno, tais como, regies onde h restrio e cargas aplicadas (Fig. 2.5-a). Este domnio
discretizado usando elementos finitos, constituindo entrada para o software de otimizao
topolgica (Fig. 2.5-b). O objetivo da otimizao topolgica determinar os interstcios e
conectividades da estrutura pela adio e remoo de material no domnio fixo estendido (Fig.
2.5-c). O domnio de modelo de elementos finitos no alterado durante o processo de
otimizao. O software fornece como resultado uma distribuio de material no domnio de
projeto, o qual deve ser interpretado (Fig. 2.5-d), verificado (Fig. 2.5-e) e manufaturado (Fig.
2.5-f). Alterando-se as topologias da estrutura de acoplamento, novos projetos de APFs so
obtidos com melhor desempenho, para diferentes aplicaes, como mostra as duas estruturas
(projetadas com a mesma piezocermica) na Fig. 2.6 [148]. A Fig. 2.7 mostra diferentes
prottipos manufaturados, usando algumas topologias de estruturas que podem ser utilizadas em
APFs [143]. Cada um destes APFs foi projetado para possuir um deslocamento mximo num
determinado ponto sobre sua superfcie.

(a) (b) (c)

(d) (e) (f)
Figura 2.5 - Processo de otimizao topolgica [155]. a) Domnio inicial. b) Domnio discretizado.
c) Topologia obtida. d) Interpretao. e) Verificao. f) Fabricao.


71

(a)

(b)
Figura 2.6 - Resultados de otimizao topolgica e a interpretao correspondente [155]. a) Deslocamento
mximo no centro do encapsulamento metlico. b) Deslocamento mximo na extremidade do encapsulamento.

Figura 2.7 Piezoatuadores flextensionais com diferentes topologias, dependendo do ponto em que se
deseja amplificar a vibrao [143].

2.6 O APF f1b0820
Neste trabalho, um prottipo baseado num modelo recente de APF foi analisado.
Trata-se do f1b0820, nomenclatura usada para designar este atuador, desenvolvido pelo
Grupo de Sensores e Atuadores da EPUSP. A estrutura bsica do f1b0820 est ilustrada na

72
Fig. 2.8. O princpio operacional do f1b0820 que a estrutura metlica converte e amplifica o
deslocamento e a velocidade de vibrao radiais da piezocermica em um deslocamento e
uma velocidade de vibrao axiais muito maiores, normais superfcie da estrutura metlica,
no centro da estrutura. Uma anlise de elementos finitos foi desenvolvida para o APF, em
trabalhos anteriores, usando o software ANSYS. O tratamento terico desta anlise,
considerando o tipo de PZT utilizado e a sua espessura, o material metlico de estrutura
flexvel e a sua espessura, a profundidade da cavidade e a cola que une o PZT ao metal, pode
ser encontrada em [138] e [154]-[156].
Ponto de anlise

(a)
espelho (ponto de anlise)

(b)

(c)

(d)
Figure 2.8 Prottipo do f1b0820 [122]. a) Vista lateral. b) Vista superior. c) Suporte com o atuador. d)
Esquema dos trs parafusos fixando a piezocermica.

O prottipo f1b0820 consiste basicamente de uma piezocermica colada com resina
epoxy em uma estrutura de alumnio manufaturada na EPUSP por eletro-eroso a fio atravs
de uma mquina de EDM (Electrical Discharge Machining). A piezocermica utilizada o
PZT-5A da American Piezoceramics, e tem dimenses de 30 mm x 14 mm x 3 mm, nas
direes 1, 2 e 3, respectivamente, como indicado na Fig. 2.8-d. A piezocermica
polarizada na direo 3 e os eletrodos esto depositados sobre as faces da piezocermica
ortogonais direo de polarizao, ou seja, no plano 1-2 (Fig. 2.8-a). O deslocamento
obtido pela aplicao de tenso nos eletrodos mximo no centro do encapsulamento de
eletrodo
eletrodo
PZT
Estrutura
flexvel de
alumnio
Fixador
dos
parafusos
Suporte
Espelho
(ponto de
Anlise)
Piezocermica
(PZT)
2
1
3
Parafuso
Parafuso Parafuso

73
alumnio (ponto de anlise), decrescendo deste ponto para as extremidades, onde chega a um
deslocamento mnimo, igual ao da piezocermica sem a estrutura de alumnio.
Devido necessidade de uma superfcie espelhada, para refletir o feixe ptico no ramo
sensor do interfermetro, e, devido dificuldade de se polir a superfcie irregular do atuador
f1b0820 na rea de incidncia do feixe ptico (rea de deslocamento mximo da superfcie do
APF), um espelho delgado de 200 m, obtido por vaporizao de alumnio sobre uma lmina
de vidro, foi colado com resina epoxy sobre a superfcie do APF, como mostrado na Fig. 2.8-
b. A influncia de um espelho fino com baixa rigidez colado na estrutura metlica do APF
no significante, ao ponto de alterar ou criar novas freqncias de ressonncia no
dispositivo.
O atuador foi fixado a um suporte, em trs pontos, perpendiculares ao deslocamento a
ser medido, como mostrado nas Figs. 2.8-c e 2.8-d. Deste modo, o atuador pode oscilar
mecanicamente nas direes 1 e 3, livremente.

2.7 Discusso

O projeto de APFs constitui uma tarefa complexa que deve ser resolvida
numericamente usando softwares como o ANSYS. A rigidez e a flexibilidade da estrutura
metlica flexvel acoplada piezocermica determinam a taxa de amplificao dos
deslocamentos, a qual ser mensurada no Captulo 8. Alm disso, a insero da estrutura
flexvel deve introduzir novas freqncias de ressonncias estrutura, algumas das quais,
inferiores s freqncias de ressonncia fundamental da piezocermica isolada (46 kHz) e que
tambm devero ser mensuradas. Finalmente, dever-se- avaliar se existe linearidade entre o
deslocamento da estrutura global do APF e a tenso de excitao, ou seja, o fator de
calibrao do APF tambm dever ser estabelecido.

74
CAPTULO 3

INTERFEROMETRIA PTICA DE DOIS FEIXES

Os interfermetros mais simples so aqueles em que se utilizam dois feixes de luz com
a mesma freqncia ptica (classificados como homdinos) e onde nenhum tipo de controle
por realimentao utilizado.
Pode-se interpretar que justamente devido altssima sensibilidade do interfermetro
que o sistema sofre grande influncia da variao aleatria de fase. Em geral, neste tipo de
interfermetro, no se adota nenhuma providncia para condicionar o meio ambiente a fim de
minimizar os efeitos desta perturbao, e assim, estes so transferidos para o sinal
fotodetectado, causando o fenmeno de desvanecimento de sinal devido fase ) (
0
t . No
desenvolvimento deste captulo, este assunto ser discutido em detalhes.

3.1 Interfermetro de Young

Em 1801, Thomas Young elaborou um experimento no qual uma frente de onda
esfrica primria incidiu sobre duas fendas estabelecidas numa tela opaca, gerando-se dois
feixes de luz secundrios, que se interferiam sobre um anteparo posicionado a certa distncia
da tela [8], [157]. Visando-se deduzir uma expresso matemtica que descreva a interferncia
entre duas ondas, desenhou-se o modelo de Young na Fig. 3.1, onde uma fonte de luz F
1

puntiforme e coerente posicionada a uma distncia l
1
eqidistante das fendas idnticas F
2
e
F
3
. A luz gerada por F
1
, ao passar pelas fendas, sofre difrao. As ondas difratadas
(cilndricas, de acordo com o princpio de Huygens da difrao) se interferem formando as
franjas de interferncia na tela de observao (plano z = 0). O ponto P pode estar associado a
uma interferncia construtiva (mais iluminado) ou destrutiva (mais opaco) dependendo de sua
coordenada no plano z = 0.

Interferometria ptica de Dois Feixes

75

Figura 3.1 Representao do interfermetro de Young usando o modelo ondulatrio da luz.

No desenvolvimento realizado a seguir, considerar-se- uma fonte hipottica de luz
monocromtica, ou seja, que possua campos eltrico e magntico oscilando harmonicamente
numa nica freqncia angular . Estes campos so grandezas vetoriais e, portanto, quando
duas ondas luminosas so superpostas, o resultado obtido por uma soma vetorial, que varia
no tempo e no espao. Sejam os campos eltricos no ponto P, devido s ondas geradas por F
2

e F
3
, definidos por [158]:
3 , 2 ), cos( ) , ( = = i l k t E l t e
i i i i i
, (3.1)
sendo a freqncia angular da fonte F
1
e
i
E o vetor campo eltrico associado onda
difratada em F
i
, denota produto escalar,
i i
l k representa a fase acumulada pelo campo
i
E
devida ao vetor que varre a frente de onda
i
l
.
O mdulo de i k a constante de fase da onda
cilndrica, medida em rad/m. Para as ondas cilndricas que emergem das fendas,
i
k e
i
l so
paralelos e, portanto 3 , 2 , = i kl l k
i i i
, sendo | | | |
3 2
k k k = = . Admitindo-se propagao
no ar, o valor de k pode ser obtido de / 2 = k , onde comprimento de onda da luz no
vcuo. Assim, a interferncia dos campos no ponto P a soma vetorial dada por
3 2
e e e + = ,
que pode ser representada, usando a notao fasorial, como:

l
Plano z = l
Plano z = 0
z

Tela
opaca
Tela de
observao
l
2
l
3

F
3

P
F
2

F
1

O N
l
1


76

3 2
3 2
jkl jkl
e E e E E

+ = , (3.2)
sendo 1 = j a unidade imaginria.
A intensidade ptica (ou irradincia) [W/m
2
] uma grandeza escalar, proporcional ao
valor mdio do vetor de Poynting. A intensidade ptica definida, para ondas cilndricas
propagando-se no ar, como:

ar
E E
I
*
2
1
= , (3.3)
em que o smbolo * denota complexo conjugado e
ar
a impedncia intrnseca do ar ( ).
Substituindo (3.2) em (3.3) e considerando que os campos
2
E e
3
E possuem mesma
polarizao e emirjam em fase de F
2
e F
3
, respectivamente, chega-se a:
) cos(
2 2
3 2
2
3
2
2

+ + =
ar ar ar
E E E E
I , (3.4)
sendo que E
2
e E
3
representam, respectivamente, os mdulos dos vetores
2
E e
3
E , a
diferena de fase entre os campos no ponto P, devido diferena de percurso entre eles, dada
por:
) (
3 2
l l k = . (3.5)
A intensidade ptica, apresentada em (3.4), tem um termo constante dado pela soma
das intensidades das fontes individuais, denominado bias, e, um termo senoidal com
amplitude proporcional ao produto dos campos, referente ao termo de interferncia. Este
ltimo atinge valor mximo se os campos tm o mesmo estado de polarizao. No caso de
campos com polarizaes lineares ortogonais, a intensidade ptica tornar-se-ia constante e
nenhum padro de interferncia poderia ser obtido.
Escrevendo (3.4) em funo das intensidades pticas das fontes, obtm-se:
) cos( 2
3 2 3 2
+ + = I I I I I , (3.6)
sendo
ar
E I 2 /
2
2 2
= e
ar
E I 2 /
2
3 3
= as intensidades das fontes individuais. A amplitude
3 2
2 I I depende dos valores individuais de I
2
e I
3
, tendo valor mximo na condio
3 2
I I = .
Assumindo esta condio e ainda, que a intensidade mxima passvel de ocorrer em (3.6)
0
I I = , tem-se 4 /
0 3 2
I I I = = .
No modelo hipottico apresentado na Fig. 3.1, as intensidades geradas a partir de F
2
e
F
3
so iguais. Nesta condio (3.6) pode ser simplificada a:

77
[ ] ) cos( 1
2
0
+ =
I
I . (3.7)
De acordo com o diagrama da Fig. 3.1, um padro de interferncia ou figura de franjas
observado sobre o plano z = 0. No entanto, desconsiderando as perdas de intensidade ptica
devidas aos percursos
2
l e
3
l , um estudo do comportamento das franjas pode ser realizado
observando-se a intensidade ptica ao longo de , visto que, nas proximidades deste eixo, a
variao na intensidade da luz na tela de observao, ocorre nesta direo. Portanto,
conveniente escrever o termo de fase como uma funo de . Aplicando o teorema de
Pitgoras aos tringulos F
2
OP e F
3
NP da Fig. 3.1 e arranjando os termos, obtm-se,
respectivamente, as seguintes relaes geomtricas:

2
2
1

+ =
l l
l
, (3.8-a)

2
3
1

+ =
l l
l
. (3.8-b)
Considerando l << , , (3.8) pode, atravs da expanso em srie binomial
1 | | , 2 / 1 1
2 2
< + + , ser escrita como:

l
l l
2
2
2

+ , (3.9-a)

l
l l
2
) (
2
3

+ . (3.9-b)
Substituindo-se (3.9) em (3.5) obtm-se em funo de , como:

=
l
k
l
k 2
1
2
) (
2
, (3.10)
pois l << .

3.1.1 Franjas Resultantes da Interferncia ptica

Considerando-se o resultado (3.10), a equao da intensidade ptica apresentada em
(3.6) ou (3.7) torna-se uma onda estacionria na direo , com freqncia espacial
(franjas/m), relacionada com a derivada da fase em relao , dada por [158]:
( )

=
2
1
e
F . (3.11)

78
Substituindo (3.10) em (3.11), com / 2 = k , chega-se a:

l
F
e
= . (3.12)
A separao entre franjas consecutivas, denominada perodo espacial , dada pelo
inverso de F
e
, em [m]. A Fig. 3.2 ilustra uma representao tridimensional do padro de
interferncia obtido substituindo-se (3.10) em (3.7), considerando-se 1000 = l e 6328 , 0 =
m (comprimento de onda do laser de He-Ne), o que resulta em 4 , 592 . 1 =
e
F [franjas/m]. No
eixo vertical est representada a intensidade ptica normalizada em relao intensidade
mxima (I
0
).

Figura 3.2 Representao do padro de interferncia de Young, simulado no software Matlab, onde a
intensidade luminosa senoidal. Os parmetros de simulao so = 0,6328 m, = 1 mm e l =1 m.

Os pontos de intensidade mxima ocorrem para uma diferena de fase entre as ondas
igual a m 2 e os pontos de intensidade nula ocorrem quando a diferena de fase de
) 2 / 1 ( 2 + m , onde m um inteiro correspondente ordem da franja (como indicado na Fig.
3.2). A partir de (3.7) e (3.10), os pontos de intensidades mximas e nulas podem ser obtidos,
ocorrendo, respectivamente, em
e
F m/ = e
e
F m / ) 2 / 1 ( + = . A franja de ordem zero
representa o ponto de mximo da interferncia que ocorre em 0 = m , isto , para 0 = . O
padro mostrado na Fig. 3.2 tem a forma de franjas paralelas eqidistantes sobre o plano x-y,
pois foram consideradas duas fendas paralelas (referentes s fontes de luz F
2
e F
3
). As
regies em vermelho na figura correspondem a pontos do plano x-y onde ocorre interferncia
construtiva, as regies em preto, interferncia destrutiva.
m = 0
m = +1
m = +2
m = -1
m = -2
m = -3

79
3.1.2 Visibilidade das Franjas

A visibilidade das franjas resultante da interferncia ptica fornece uma indicao do
contraste da figura de interferncia, e pode ser definida como [16], [158].

mn mx
mn mx
I I
I I
F
+
= , (3.13)
sendo que I
mx
e I
mn
representam os valores de intensidades mxima e mnima do padro de
franjas, obtidas a partir de (3.6), como:

3 2 3 2
2 I I I I I
mx
+ + = , (3.14-a)

3 2 3 2
2 I I I I I
mn
+ = . (3.14-b)
Substituindo (3.14) em (3.13) chega-se a:

3 2
3 2
2
I I
I I
F
+
= , (3.15)
em que 1 0 F , pois ) ( 2
3 2 3 2
I I I I + . A partir de (3.6) e (3.15), obtm-se:
[ ] ) cos( 1 ) (
3 2
+ + = F I I I . (3.16)
Destaca-se que, no padro apresentado na Fig. 3.2, para 4 /
0 3 2
I I I = = , o valor de F
unitrio (visibilidade mxima), como pode ser observado comparando-se (3.7) e (3.16).
A Fig. 3.3 mostra uma simulao realizada em Matlab, onde se considerou a
intensidade ptica definida em (3.16), porm normalizada em relao
0
I , para franjas com
visibilidade (F) de 80% e 20%, mostrando que a visibilidade, como o prprio nome indica,
uma indicao do contraste da figura de interferncia. Os outros valores de simulao so os
mesmos adotados para o padro da Fig. 3.2.

Figura 3.3 Figuras de franjas obtidas em simulao para = 0,6328 m,

= 1 mm e l = 1 m. (a) 80% de
visibilidade. (b) 20% de visibilidade.

80
3.2 Interfermetros de Mach-Zehnder e de Michelson

Nos arranjos interferomtricos de Mach-Zehnder e Michelson, um feixe de laser
separado em dois feixes pticos que percorrem caminhos distintos denominados ramos do
interfermetro. Na Fig. 3.4, ilustram-se os sensores interferomtricos de Mach-Zehnder (Fig.
3.4-a) e Michelson (Fig. 3.4-b), homdinos, no realimentados, em verses volumtricas, em
que os feixes pticos percorrem o espao livre. Cada divisor de feixes (BS
1
, BS
2
ou BS
3
) tem
forma de um cubo e consiste de dois prismas separados por um revestimento de reflexo
parcial. Sua funo dividir um feixe de luz incidente, em dois: um na mesma direo do
feixe incidente e outro perpendicular ao feixe incidente. Uma de suas caractersticas a taxa
de diviso. Para uma taxa de 50/50, o feixe incidente dividido em dois de mesma
intensidade. Num ramo tem-se o feixe de referncia e no outro, o feixe de sinal, que ter sua
fase modulada devido a um deslocamento de fase induzido pela variao da grandeza fsica que
se deseja medir. Aps percorrerem os dois ramos do interfermetro, os feixes de referncia e de
sinal so recombinados gerando um feixe ptico resultante cuja seo transversal pode ser
expandida e projetada sobre um anteparo para visualizao do padro de interferncia (figura de
franjas da Fig. 3.4-c). Se, ao invs disso, o feixe resultante for focalizado diretamente sobre a
rea de deteco de um fotodetector, ocorrer uma transduo ptico-eletrnica e um sinal
eltrico proporcional intensidade ptica detectada poder ser obtido e analisado [159].

Figura 3.4 Interfermetros de dois feixes homdinos no realimentados, em ptica volumtrica. (a)
Mach-Zehnder. (b) Michelson. (c) vista em detalhe do separador de feixes BS
2
ou BS
3
, e do padro de
franjas tpico, resultante da interferncia.
F
4

F
5
BS
1

BS
2

ESP
1

ESP
2

feixe de referncia
feixe de sinal
BS
3

s
n
feixe de referncia
feixe de sinal
ESP
3

ESP
4

s
l
(a)
(b)
D
1

D
2

BS2/BS
3

(c)
eixo
(=x
0
)
(=x
0
)
= x
o

anteparo
l

81
O detalhe do separador de feixes (BS
2
ou BS
3
) na Fig. 3.4-c pode ser comparado ao
interfermetro de Young da Fig. 3.1. Os feixes que se interferem, quando projetados em um
anteparo geram um padro de interferncia como mostrado na figura, onde o ponto
demarcado, de abscissa = x
o
, est associado diferena de fase ) (
0
x em (3.10). No caso
de se usar um fotodetector posicionado no ponto = x
o
, o que detectado uma intensidade
mdia calculada considerando a poro da rea do feixe que projetada sobre a rea sensvel
do fotodetector.
Considerando que a grandeza fsica possa causar uma mudana no ndice de refrao
s
n e uma variao de comprimento no caminho ptico
s
l , ambas no ramo sensor do
interfermetro, ocorre uma variao de fase ptica no feixe de sinal, dada por:
( )
s s s s
l n n l + =
2
, (3.17)
sendo que
s
n o ndice de refrao do meio do ramo sensor e
s
l o comprimento do ramo
sensor na ausncia de sinal. O fator em (3.17) foi estabelecido considerando-se o
interfermetro de Michelson, em que a passagem dupla do laser pelos ramos deste
interfermetro dobra a sua sensibilidade em relao obtida na configurao Mach-Zehnder.
Portanto, enquanto para o interfermetro de Mach-Zehnder, 1 = , para o de Michelson,
deve-se considerar 2 = .
Como no denominador de (3.17) da ordem 10
-6
m, equivale-se a multiplicar o
numerador por um fator de 10
6
. Assim, verifica-se, de (3.17), que variaes
s
n ou
s
l da
ordem de 1 parte em 1 milho produzem variaes de fase da ordem de radianos, os quais
podem ser detectados eletronicamente, o que determina a alta sensibilidade de um sensor
interferomtrico usando laser.
No arranjo de Mach-Zehnder da Fig. 3.4-a, o feixe de laser originrio da fonte F
4

dividido pelo separador de feixes BS
1
nos dois feixes, de sinal e de referncia, normalmente de
igual intensidade. Os espelhos ESP
1
e ESP
2
so fixos, de maneira que 0 =
s
l , porm,
permite-se uma mudana no ndice de refrao do meio no ramo sensor, ou seja, de (3.17),
/ 2
s s
n l = ( 1 = ). Aps reflexes em ESP
1
e ESP
2
, os feixes so recombinados pelo
separador de feixes BS
2
e projetados sobre um anteparo, onde um padro de interferncia pode
ser visualmente observado, ou, sobre um fotodetector (D
1
), que gera um sinal eltrico de sada
proporcional intensidade ptica incidente sobre o mesmo. Os feixes sob recombinao

82
obedecem ao mesmo princpio estabelecido para o interfermetro de Young, como mostra a
ilustrao da Fig. 3.4-c.
No arranjo de Michelson apresentado na Fig. 3.4-b, F
5
representa a fonte laser, BS
3

um separador de feixes central, ESP
3
um espelho fixo posicionado no ramo de referncia e
ESP
4
um objeto de superfcie espelhada que sofre deslocamento, posicionado no ramo sensor.
Considera-se que no ocorra variao no ndice de refrao do meio ( 0 =
s
n ), e que a
variao de fase no ramo sensor provocada somente pelo deslocamento de ESP
4
, ou seja, de
(3.17), ) / 2 ( 2
s s
l n = . O fator 2 na equao explicado pelo fato de que os sinais
pticos incidentes nos espelhos ESP
3
e ESP
4
so refletidos sobre si prprios para serem
recombinados pelo mesmo separador de feixes (BS
3
) usado para dividi-los, ou seja,
corresponde a 2 = em (3.17). Portanto, considerando o ar como meio de propagao dos
feixes pticos ( 1 =
s
n ), pode-se calcular o deslocamento do espelho ESP
4
, como:

=
4
s
l , (3.18)
sendo que a variao de fase induzida no feixe sinal do interfermetro de Michelson
devido ao deslocamento de ESP
4
.
Assim como no interfermetro de Mach-Zehnder, o padro de interferncia observado
na sada do interfermetro de Michelson depende do seu alinhamento. No caso de se utilizar
detectores na sada do interfermetro, um bom alinhamento possibilitar a obteno de um
bom nvel de sinal fotodetectado, desde que corretamente posicionado (em = x
0
na Fig.
3.4). O alinhamento requer o ajuste mecnico das partes constituintes do interfermetro,
incluindo a fonte laser, divisores de feixe, espelhos e fotodetectores.
A fim de se obter o melhor padro de interferncia, as partes constituintes do
interfermetro devero ter graus de liberdade para ajustes de posio, rotao e inclinao. No
entanto, na configurao de Michelson da Fig. 3.4-b, o perfeito alinhamento causa retorno de
laser fonte ptica, o que pode provocar instabilidade da fonte ptica e flutuaes na
intensidade do laser [160]. Os mtodos de demodulao de fase ptica a serem propostos nesta
tese permitem certo desalinhamento do interfermetro, diminuindo desta forma, a visibilidade
de franjas. Destaca-se que, em experimentos prticos usando uma configurao interferomtrica
de Michelson, realizados no desenvolvimento deste trabalho, optou-se pela operao no limiar
de desalinhamento do interfermetro, que garantisse o no retorno de luz fonte de laser sem,
no entanto, prejudicar a qualidade das franjas. Com isso, no foi necessrio nenhuma

83
modificao na configurao do interfermetro utilizado nos experimentos como, por exemplo,
a utilizao de lminas de /4 ou /2.
Considerando uma razo de acoplamento dos divisores de feixe BS
1
, BS
2
e BS
3
de
50/50, os coeficientes de reflexo de amplitude dos espelhos ESP
1
, ESP
2
, ESP
3
e ESP
4
iguais a
unidade, desconsiderando as perdas pticas nos ramos dos interfermetros e um fotodetector
100% eficiente, a intensidade ptica observada na sada do detector (D
1
ou D
2
) segue (3.16),
ou seja:
[ ] ) cos( 1
2
0
+ = F
I
I
D
, (3.19)
sendo que I
0
a intensidade ptica da fonte F
4
(ou F
5
), F a funo de visibilidade e a
diferena de fase total acumulada entre os feixes de sinal e de referncia ao atingirem o
fotodetector, dada por:
+ + =
sgn 0
) (
r
x , (3.20)
sendo que ) (
0
x a fase devido posio do fotodetector em = x
0
, (3.10). As fases
r
e
sgn
so, respectivamente, as fases acumuladas pelos campos eltricos dos feixes de
referncia e de sinal, ao percorrem seus caminhos pticos da fonte F
3
(ou F
4
) ao separador de
feixes BS
2
(ou BS
3
). A variao de fase devida fase induzida pelo fenmeno que se
deseja medir (3.17), na regio sensora, no feixe de sinal do interfermetro. Definindo
sgn 0 0
) ( + =
r
x em (3.20), pode-se escrever (3.19) como:
[ ] ) cos( 1
2
0
0
+ + = F
I
I
D
, (3.21)
em que o termo
0
, idealmente, uma fase esttica. Esta corresponde a (1.1) apresentada no
Captulo 1. Fixando-se o fotodetector na posio 0
0
= = x em (3.10), obtm-se
0 =
=
o
x
, e nesta condio, o termo
0
passa a depender somente da diferena de fases
entre os ramos de sinal e de referncia do interfermetro (
sgn 0
=
r
).
Na prtica, geralmente, um interfermetro est sujeito s influncias ambientais
externas como flutuao trmica, variaes de presso do ar ambiente e vibraes mecnicas
de baixas freqncias. Em interferometria ptica, estas perturbaes ambientais aleatrias
causam variao na diferena de caminho ptico, ou seja, tornam
0
varivel aleatoriamente
com o tempo, o que provoca desvanecimento do sinal fotodetectado. Portanto, daqui para
adiante
0
ser designada como a fase ) (
0
t , varivel no tempo, e que est associada ao

84
desvanecimento de sinal. Para se ter idia da sensibilidade do interfermetro com relao
influncia da perturbao ambiente, cita-se como exemplo que, uma variao involuntria na
diferena de caminho ptico de apenas meio comprimento de onda (0,3164 m) provoca [de
acordo com (3.17), para 2 = ] uma variao na fase ) (
0
t igual a 2 rad. O sinal de
interesse , no entanto, pode ser sensivelmente menor.
Nos padres apresentados nas Figs. 3.2 e 3.3 no se considerou o efeito da largura finita
dos feixes. A seo transversal de um feixe de laser tem uma distribuio de intensidade
gaussiana [161]. No entanto, isto no chega a constituir um problema srio se a rea do
fotodiodo utilizado for bem menor que a largura das franjas.
O fator de visibilidade (F) apresentado em (3.21) considera fontes F
4
e F
5

monocromticas (coerncia plena), o que uma abstrao matemtica. Considerando ondas
originrias de uma mesma fonte ptica, a coerncia temporal est associada largura
espectral da fonte, podendo ser associado a um comprimento de coerncia. Para que a
anlise desenvolvida neste captulo seja vlida, a diferena de percurso entre os caminhos
pticos l
2
e l
3
deve ser mantida inferior ao comprimento de coerncia da fonte [162]. Para
fontes com baixa coerncia temporal esta diferena de caminho deve ser mantida
praticamente nula.
A rigor, a coerncia temporal uma medida da correlao entre as ondas que se
interferem [16], podendo variar de 0 (incoerncia total) a 1 (coerncia plena). A interferncia
de ondas com coerncia temporal parcial e com polarizaes lineares distintas gera
visibilidade menor do que a unidade [16], [160]. Casos extremos ocorrem se os feixes tm
campos eltricos ortogonais ou so totalmente incoerentes no tempo. Ambos os casos
ocasionam visibilidade nula, independentemente um do outro.
Um laser estabilizado em freqncia possui um comprimento de coerncia da ordem
de Km [163]. A fonte ptica utilizada nos experimentos prticos elaborados nesta tese foi um
laser de He-Ne, que apresenta alta coerncia temporal na configurao interferomtrica
empregada. A interferncia foi realizada entre feixes de intensidades muito prximas, e cujos
campos praticamente mantm o mesmo estado de polarizao, pois o laser utilizado
polarizado, o que tambm contribui para uma boa visibilidade. Alm disso, em princpio, os
mtodos de demodulao de fase ptica desenvolvidos nesta tese independem da visibilidade.
Na prtica, o que ocorre uma sensibilidade relativa, que depende da deriva da fase ) (
0
t e
do nvel de rudo eletrnico gerado principalmente na fotodeteco, sendo a dependncia da

85
visibilidade tanto menor, quanto menor for o rudo gerado na fotodeteco e condicionamento
do sinal interferomtrico.

3.3 Fotodeteco e Anlise do Sinal Fotodetectado
A medio do vetor campo eltrico instantneo associado a uma radiao ptica um
processo praticamente invivel, pois este varia no tempo a uma taxa elevadssima, da ordem
de 10
14
ciclos/s. Por outro lado, a intensidade ptica um parmetro que pode ser medido
diretamente, usando-se uma variedade de fotodetectores, sendo os fotodiodos semicondutores
do tipo PIN (Positive-Intrinsic-Negative) e de Avalanche (APD Avalanche Photodiode)
apropriados para uso em interfermetros [164]. Destaca-se que, normalmente, devido ao
efeito de avalanche, o rudo nos APDs maior do que nos fotodiodos PIN, devido ao
processo envolvido na gerao da fotocorrente.
Os fotodiodos so dispositivos ptico-eletrnicos capazes de detectar a potncia ptica
incidente e convert-la em uma corrente eltrica ) (t i , que aplicada a um resistor de carga
L
R
(resistor externo associado ao fotodiodo, para operao no modo fotocondutivo) gera uma
tenso de sada ) (t v proporcional intensidade ptica fotodetectada.
A largura de banda do fotodetector indicar se este responde ou no s mximas
variaes temporais de intensidade ptica possveis de ocorrer. Um fator que limita a largura
de banda de um fotodetector o valor de
L
R , sendo este, um parmetro a ser considerado na
configurao do sistema de transduo. Normalmente, aumentando-se
L
R diminui-se a
largura de banda do fotodetector, e vice-versa.
Um estgio de condicionamento de sinal adicional pode ser necessrio para amplificar
a tenso fotodetectada. Pode-se utilizar um amplificador de transimpedncia, que alm de
amplificar, converte diretamente a corrente fotodetectada em um sinal de tenso eltrica, na
sada. Este circuito, usando um amplificador operacional, apresenta baixa impedncia de
entrada, maximizando a corrente pelo fotodetector. A sada apresenta um ganho de tenso
proporcional corrente de entrada e impedncia de realimentao.

86
3.3.1 Rudo na Fotodeteco e no Condicionamento de Sinal
Um modelo para um sistema de deteco est ilustrado na Fig. 3.5, onde, ) (t i a
corrente fotodetectada proporcional intensidade ptica ) (t I , e ) (t v a tenso de sada do
amplificador de transimpedncia (AT). Os principais tipos de rudo que podem ocorrer nas
etapas de processamento do sinal esto indicados na figura.
Em um fotodiodo aparecem diversos tipos de rudo eletrnico, sendo os mais
relevantes o rudo de fundo (background) gerado pela luz ambiente sobre o sinal, o rudo de
escuro (ocorre na ausncia de luz) gerado pela radiao de alta energia ou devido
imperfeio do fotodetector, o rudo quntico fundamental (shot) associado ao efeito quntico
do detector, o rudo de disparo ou de impacto (shot) devido presena da corrente contnua
gerada pela fonte DC de alimentao quando esta atravessa a barreira de potencial do
fotodiodo, e o rudo trmico (Johnson) caracterstico de todos os semicondutores [164].

Figura 3.5 Diagrama de um sistema de transduo ptico-eletrnica usando um fotodiodo acoplado a
um estgio de condicionamento de sinal usando um amplificador de transimpedncia (AT). No caso de
processamento digital necessrio um conversor A/D para gerar v[n], sendo n o nmero da amostra.

O rudo branco tem sua potncia distribuda uniformemente no espectro de freqncias,
enquanto o rudo 1/f tem densidade espectral de potncia proporcional ao inverso da freqncia e
o rudo 1/f
2
, ao inverso do quadrado da freqncia (ou, em outras palavras, a densidade espectral
de magnitude do sinal varia de acordo com o inverso da freqncia).
Rudos como o shot e o trmico, presentes na fotodeteco, so tipos de rudo branco. O
laser e as junes de semicondutores so as principais fontes de rudo 1/f [128].
O rudo um fenmeno aleatrio e, portanto, no se pode prever com exatido a sua
forma de onda. A funo densidade de probabilidade de amplitude baseada somente em
FOTODIODO LASER AT
A/D
) (t i
) (t I
) (t v
] [n v
Rudos: branco
(shot, trmico),
1/f ou 1/f
2

Rudos: branco
(trmico, shot),
1/f ou 1/f
2
.
De quantizao
Condicionamento do
sinal fotodetectado

87
estatsticas de amplitude de uma forma de onda de rudo, e no como o rudo varia no tempo.
Vrias funes de densidade de probabilidade podem ser usadas para descrever as
caractersticas estatsticas da amplitude do rudo em um circuito eletrnico, dentre as quais se
destacam a uniforme, a Gaussiana (ou normal), a de Poisson e a de Rayleigh [165], [166],
sendo que, em muitas condies, o rudo predominante que aparece nos circuitos eletrnicos
Gaussiano. Se um rudo com distribuio Gaussiana aplicado a um filtro, o rudo de sada
Gaussiano, desde que o filtro seja linear e estvel [165]. Por outro lado, em geral, se o
sistema no linear, a relao entre a funo densidade de probabilidade dos processos de
entrada e sada tambm no linear.
A SNR, que uma medida da qualidade do sistema, a relao entre a potncia do
sinal de informao e a potncia do rudo, calculada em um mesmo ponto do sistema. Em um
interfermetro, a SNR deve ser medida na sada do fotodetector, devendo ser computados os
rudos de todas as fontes. Em geral, o sinal e o rudo variam no tempo de forma no
determinstica. Considerando o rudo um processo estacionrio, uma SNR mdia pode ser
obtida se as medies forem feitas durante um longo perodo.
Segundo a definio do IEEE (Institute of Electrical and Electronics Engineers), a
potncia equivalente de rudo (NEP Noise Equivalent Power) a potncia luminosa incidente
que produz uma SNR unitria na sada de um fotodetector, em uma largura de banda de 1 Hz
[167]. A NEP, cuja unidade no SI Hz W / , determina o menor valor possvel de potncia
ptica teoricamente possvel de ser detectada por unidade de largura de banda.
Um aumento da largura de banda do fotodetector (operando no modo fotocondutivo),
obtido, por exemplo, com a diminuio da resistncia de carga R
L
, resulta num aumento do nvel
de rudo na fotodeteco. A diminuio de R
L
gera uma reduo proporcional na amplitude da
tenso fotodetectada e, conseqentemente, na sua SNR. O uso de um amplificador de
transimpedncia de baixo rudo na sada do fotodiodo pode ser um meio eficaz de aumentar a
resposta em freqncia, mantendo-se a SNR a nveis aceitveis.
Alm dos rudos caractersticos do fotodetector, em um circuito usando amplificadores
operacionais, tambm devem ser considerados os rudos presentes neste componente
eletrnico, como o rudo trmico e o shot. O rudo 1/f e o rudo burst (tpico de freqncias
abaixo de 100 Hz), tambm podem ocorrer no amplificador operacional. Normalmente, o
rudo 1/f torna-se irrelevante em freqncias acima de 1 kHz [168].

88
O condicionamento do sinal fotodetectado pode ser realizado usando diferentes
configuraes, no entanto, a abordagem deste assunto direcionada para uma configurao
que usa um amplificador de transimpedncia (AT), como mostrado anteriormente na
ilustrao da Fig. 3.5. Baseando-se nesta configurao, elaborou-se um amplificador de
transimpedncia usando o amplificador operacional OPA-656, o qual foi utilizado na parte
experimental deste trabalho e ser apresentado de forma sucinta no Captulo 6.
Se um processo de converso A/D for empregado, surge o rudo de quantizao, que
inversamente proporcional ao nmero de bits utilizado na converso. No entanto se a
amplitude do sinal cuidadosamente ajustada ao fundo de escala do conversor e um nmero
relativamente alto de bits utilizado, o rudo de quantizao pode ser desprezado, por no ser
dominante no sistema [170].

3.3.2 Tenso Fotodetectada nos Interfermetros de Dois Feixes
para uma Excitao de Fase Senoidal
Desconsiderando o rudo eletrnico, a tenso fotodetectada pode ser escrita, de acordo
com (3.21), como:
[ ] ] ) ( cos[ 1
2
) (
0
+ + = t F
A
t v , (3.22)
sendo A uma constante de proporcionalidade que depende da intensidade da fonte (I
0
), da
responsividade do fotodetector e do ganho do circuito de condicionamento de sinal.
Aplicando a identidade trigonomtrica senb sena b a b a = + cos cos ) cos( (3.22),
pode-se escrev-la como:
[ ] { } + = Psen Q F
A
t v cos 1
2
) ( , (3.23)
sendo ) ( cos
0
t Q = e ) (
0
t sen P = fatores que variam com a variao aleatria da fase
) (
0
t .
Os mtodos e aplicaes envolvidas nesta tese so realizveis a partir de uma
excitao de fase senoidal com freqncia
s
do tipo:
) (
s s
t sen x + = , (3.24)
em que x o ndice de modulao de fase e
s
uma fase inicial.

89
Substituindo (3.24) em (3.23), ) (t v pode ser expandida em termos de funes de
Bessel [66], como:
[ ] [ ]

+ + + + =

=
=

) ( 2 cos ) ( ) )( 1 2 ( ) ( ) (
2 2
1
) (
1
2
1
1 2 0 s s
n
n s s
n
n
t n x J Q t n sen x J P x J
Q
F A t v ,
(3.25)
sendo que ) (x J
n
uma funo de Bessel de primeira espcie e ordem n (n=1, 2, 3, ...).
Verifica-se que o sinal v(t) composto de um termo constante e harmnicas mpares e pares,
em freqncias mltiplas da componente fundamental em
s
.
O termo quase DC, na tenso no fotodetector obtido a partir de (3.25) como:
[ ] ) ( 1
2
0 0
x FQJ
A
V + = (3.26)
e as harmnicas mpares e pares de v(t) tm amplitudes dadas, respectivamente, por:
) (
1 2 1 2
x AFPJ V
n n
= , (3.27-a)
) (
2 2
x AFQJ V
n n
= , (3.27-b)
sendo ... , 3 , 2 , 1 = n . Os ndices 1 2 n e n 2 referem-se s ordens harmnicas associadas s
freqncias
s
n ) 1 2 ( e
s
n 2 , respectivamente.
Os fatores P e Q em (3.25) variam com o tempo, devido variao aleatria de fase
) (
0
t . Apesar de modificarem diretamente a fase do sinal ptico, verifica-se, em (3.25), que a
variao de P e Q resulta em uma alterao concomitante na amplitude das harmnicas da
tenso eltrica fotodetectada, o que denominado desvanecimento de sinal.
Os mtodos espectrais a serem estudados e propostos nesta tese so baseados nas
harmnicas de v(t) para detectar o ndice de modulao x. Cada componente espectral tem
uma amplitude especfica que depende de P ou Q, bem como dos termos de funes de Bessel
) (x J
n
, que podem assumir valores muito pequenos dependendo do argumento x e da ordem
n. Na presena de rudo aditivo gerado na fotodeteco, a SNR varia para cada componente,
e, para uma estimativa do erro cometido pelo emprego de um dos mtodos espectrais,
preciso estimar a influncia do rudo em cada uma das componentes espectrais de v(t)
utilizada no mtodo. Para ndices de modulao muito pequenos ( ) 1 << x somente a
componente fundamental significativa, sendo que as harmnicas de ordem superior possuem
SNR menores do que a unidade, o que limita a estimao de x a um valor mnimo. Mesmo
para um interfermetro com estabilizao ativa, em que x obtido somente a partir da

90
componente fundamental, uma sensibilidade terica limitada pelo rudo de fotodeteco
estabelecida [169].

3.3.3 Efeito da Variao Aleatria da Fase
0
(t) nas Harmnicas da
Tenso Fotodetectada
Um dos problemas na calibrao e no desempenho de um interfermetro, conhecido
como desvanecimento de sinal, torna complicada a operao estvel dos sensores
interferomtricos homdinos sem realimentao ativa. A instabilidade dos termos P e Q em
(3.25) provoca variaes esprias na intensidade do sinal detectado, podendo causar
movimento involuntrio das franjas de interferncia mesmo quando o interfermetro no est
sendo excitado ( 0 = ). Este efeito acontece devido extrema sensibilidade dos sensores
interferomtricos, exigindo-se que, em princpio, o ambiente de trabalho seja adequadamente
pr-condicionado sob o ponto de vista trmico e mecnico.
Para uma variao senoidal de fase induzida, de amplitude x, os fatores Q e P podem
atenuar as amplitudes das harmnicas pares e mpares em (3.25), respectivamente, sendo que
um aumento em Q implica em diminuio de P e vice-versa. Na condio de quadratura de
fase, 2 / ) 1 2 ( ) (
0
+ = n t rad, ... , 2 , 1 , 0 = n , tem-se 1 = P e 0 = Q . De acordo com (3.27), as
harmnicas mpares assumem valor mximo e as pares so nulas. Por outro lado, na condio
n t 2 ) (
0
= rad, tem-se 0 = P e 1 = Q , o que resulta em harmnicas mpares nulas e
harmnicas pares mximas.
Para mostrar mais explicitamente a influncia da deriva da fase
0
nas harmnicas de
) (t v , elaborou-se as Figs. 3.6 a 3.8, em que (3.23) foi normalizada (em relao a A) e
simulada no software Matlab, para 0 =
s
e visibilidade unitria ( 1 = F ). A tenso v(t) e o
seu espectro de magnitude foram obtidos em vrias condies distintas:
Na Fig. 3.6, para regime sub-franja, ou seja, com ndice de modulao
relativamente baixo, 4 , 0 = x rad, sendo que: em (a) considerou-se o termo de
fase 2 / ) (
0
= t rad, em (b), = ) (
0
t rad.
Na Fig. 3.7, para regime multi-franjas, com 2 = x rad, tem-se em (a)
2 / ) (
0
= t rad, e em (b) 0 ) (
0
= t .

91
Na Fig. 3.8, tambm para regime multi-franjas, estabeleceu-se 2 = x rad e
3 / ) (
0
= t rad.
Nas condies em que 2 / ) 1 2 ( ) (
0
+ = n t rad, sendo n inteiro, obtm-se sensibilidade
de demodulao de fase mxima, pois se opera na regio mais linear da curva de
transferncia. Esta situao denominada de operao em quadratura de fase, e, se 1 << x rad
(ndice de modulao muito pequeno) a intensidade ptica diretamente proporcional fase
) (t . Na condio de quadratura de fase, para pequenos ndices de modulao, ocorre
modulao de fase banda estreita e (3.25) pode ser aproximada para:
[ ] ) ( 1
2
) (
2 2
1
) ( t F
A
t sen
x
F A t v
s s
=
+ , (3.28)
para a qual, filtrando-se o termo esttico, resulta numa transferncia linear da variao de fase
ptica induzida no interfermetro para a variao da tenso de sada. Nesta condio, ocorre,
na fotodeteo, uma transferncia em proporo direta da informao contida na fase relativa
) (t , do domnio ptico para o domnio eltrico e, eliminando-se o termo constante, o sinal
de sada do fotodetector (tenso ou corrente) linearmente proporcional intensidade ptica
resultante da interferncia ( I ).
A Fig. 3.6-a mostra a operao na regio mais linear da curva de transferncia
( 2 / ) (
0
= t rad), para 4 , 0 = x rad, que apesar de no ser rigorosamente considerado um
baixo ndice, j evidencia boa concordncia entre a tenso de sada e a variao de fase de
entrada. Por outro lado, para n t = ) (
0
rad, n inteiro, no h uma correspondncia linear
como em (3.28) e, neste caso, como mostra o grfico da intensidade ptica resultante, na Fig.
3.6-b, opera-se numa condio onde o sinal de sada muito distorcido e quase nulo.
Portanto, para baixo ndice de modulao, geralmente, desejvel operar o interfermetro na
condio de quadratura de fase (ponto quiescente
1
Q na Fig. 3.6-a). Entretanto, se o ponto
quiescente no permanecer estvel na quadratura, devido a perturbaes aleatrias externas
agindo sobre ) (
0
t , este excursiona sobre a curva de transferncia, causando distoro ou at
mesmo o quase cancelamento da variao de intensidade ptica de sada, se atingir a condio da
Fig. 3.6-b ( = ) (
0
t rad, ponto quiescente
2
Q ). Os exemplos apresentados nas Figs. 3.6-a e
3.6-b referem-se operao em regime de sub-franja, em que x relativamente pequeno,
menor do que 2 / rad. Para medidas de deslocamento senoidal usando um interfermetro de
Michelson, isto corresponde a ) ( ) 8 / ( t sen l
s s
< , valor obtido atravs de (3.18).
Considerando uma fonte laser de He-Ne, 6328 , 0 = m, o regime sub-franja envolve

92
medies de vibraes senoidais, com deslocamentos de pico de at aproximadamente 80 nm.
Por outro lado, a operao do interfermetro para medio de vibraes senoidais de
amplitude de pico superior a 8 / , conhecida como operao em regime multi-franjas.

Figura 3.6 Tenso fotodetectada v(t) e seu espectro de magnitude em dB (at a quinta harmnica),
normalizados, para uma excitao do tipo ) ( t xsen
s
= , considerando visibilidade unitria, e regime
sub-franjas, com ndice de modulao 4 , 0 = x rad. (a) ponto quiescente Q
1
[ 2 / ) (
0
= t rad]. (b) O
ponto quiescente foi deslocado para Q
2
[ = ) (
0
t rad].

As Figs. 3.7 e 3.8 apresentam a influncia da deriva da fase ) (
0
t sobre o sinal
fotodetectado ) (t v para o interfermetro operando em regime multi-franjas, sendo 2 = x

93
rad. Como se observa nas figuras, as amplitudes das harmnicas variam muito com o
deslocamento do ponto quiescente com ) (
0
t e com o valor do ndice de modulao x,
podendo assumir valores nulos em condies especficas. Por exemplo, na Fig 3.7-a,
observam-se somente harmnicas mpares no espectro (as pares so nulas), na Fig. 3.7-b
observam-se somente harmnicas pares (as mpares que so nulas, nesta situao), e na Fig.
3.8 nota-se a presena de ambas, harmnicas mpares e pares (no nulas).

Figura 3.7 Tenso fotodetectada ) (t v e seu espectro de magnitude em dB (at a dcima harmnica),
normalizados, para uma excitao do tipo ) ( t xsen
s
= , considerando visibilidade unitria, e regime
multi-franjas, com ndice de modulao 2 = x rad. (a) ponto quiescente Q
3
[ 2 / ) (
0
= t rad]. (b) Ponto
quiescente Q
4
[ 0 ) (
0
= t ].


94

Figura 3.8 Tenso fotodetectada ) (t v e seu espectro de magnitude em dB (at a dcima harmnica),
normalizados, para uma excitao ) ( t sen x
s
= , considerando visibilidade unitria, e regime multi-
franjas, com ndice de modulao 2 = x rad e ponto quiescente Q
5
, [ 3 / ) (
0
= t rad].

Na prtica, manter o ngulo ) (
0
t esttico, usando interferometria homdina sem
realimentao, exigiria um perfeito controle trmico sobre o ambiente do laboratrio, bem
como, manter espelhos e divisores de feixe do interfermetro imveis, durante todo o tempo.
Em ambientes no controlados, ) (
0
t pode sofrer variaes de dezenas de radianos em
poucos segundos. O problema de desvanecimento de sinal pode ser minimizado com uma
montagem eficiente do interfermetro sobre uma mesa ptica com grande massa inercial e
amortecimento pneumtico. Pode-se tambm providenciar um ambiente adequado, com
isolao acstica e temperatura controlada, para a realizao de experimentos com o
interfermetro, mas tudo isso ainda no garantiria eficincia plena.
Alm disso, na presena de rudo aditivo devido ao processo de fotodeteco, a SNR
das harmnicas varia em concomitncia com a variao dos fatores P e Q.
Muitas pesquisas cientficas em interferometria direcionaram seus interesses em arranjos
e mtodos de deteco passiva para minimizar o efeito do desvanecimento de sinal provocado
pela variao da fase ) (
0
t , as quais foram registradas em um grande nmero de publicaes,
dentre os quais se destacam os mtodos de demodulao de fase usando componentes espectrais
J
1
J
4
[113], [114], J
1
J
6
-pos e J
1
...J
6
-neg [118] e J
0
...J
2
[116], os quais sero descritos no
Captulo 4 desta tese.

95
3.3.4 Efeito do Rudo eletrnico nas Harmnicas da Tenso
Fotodetectada

Como j mencionado na seo 3.3.1, h vrias fontes de rudo eletrnico em um sistema
interferomtrico, presentes no processo de fotodeteco e condicionamento de sinal [164], [169],
bem como, na gerao do laser pela fonte ptica.
O erro na medio de uma harmnica da tenso fotodetectada depender sobretudo da
SNR para esta componente espectral. Nveis de amplitudes harmnicas altas no implicam
obrigatoriamente em tima qualidade da tenso fotodectada. Diferente disso, o erro
minimizado quando, no o nvel do sinal, mas a SNR a mais alta possvel.
Sudarshanam observou em seus experimentos usando interferometria, a
predominncia do rudo 1/f
2
(de potncia), e utilizou um modelo analtico deste tipo de rudo
para simular os mtodos espectrais que desenvolveu [117], [118], [128]. Nos prximos
captulos desta tese, na anlise dos mtodos espectrais, considerar-se- a predominncia de
rudo 1/f
2
e de rudo branco. Em princpio, este ltimo apresenta densidade de potncia
uniforme, que representa uma impossibilidade prtica, pois implicaria em um sistema de
largura de banda infinita e numa funo de autocorrelao dada por um impulso ideal [165].
No entanto, permite a comparao dos mtodos espectrais, com resultados que se
assemelharam muito aos de simulao e experimentos, principalmente, nas situaes em que a
SNR maior que a unidade.
Desta forma, na presena de rudo com densidade espectral de potncia 1/f
2
(ou, de
tenso de rudo 1/f) as harmnicas mpares e pares da tenso fotodetectada podem ser
estimadas, a partir de (3.27-a) e (3.27-b), respectivamente, como [117], [118]:

+ =

1 2
) (
1 2 1 2
n
K
x PJ AF V
n n
, (3.29-a)

+ =
n
K
x QJ AF V
n n
2
) (
2 2
. (3.29-b)
sendo K o fator de rudo na freqncia fundamental, obtido de:

AF
V
K
R1
= , (3.30)
em que
1 R
V a tenso de rudo na freqncia fundamental.
Para rudo branco, tem-se, de forma anloga:
[ ] K x PJ AF V
n n
+ =

) (
1 2 1 2
, (3.31-a)

96
[ ] K x QJ AF V
n n
+ = ) (
2 2
. (3.31-b)
O valor de K pode ser estimado a partir do espectro de magnitude da tenso
fotodetectada. Escrevendo-se a componente fundamental
1
V em funo de
1 R
V obtm-se, de
(3.29-a) ou (3.31-a) e (3.30):

1 1 1
) (
R
V x AFPJ V + = . (3.32)
Isolando-se o termo AF em (3.32) e substituindo-o em (3.30), K pode escrito como:
) (
1
1 1
1
x PJ
V V
V
K
R
R
= , (3.33)
sendo que o ndice de modulao x e o fator P devem se conhecidos ou calculados
previamente. Dividindo-se o numerador e o denominador de (3.33) por
1 R
V , o fator de rudo
K pode ser estimado experimentalmente atravs da expresso:
) (
1
1
1
1
x PJ
SNR
K
= , (3.34)
sendo que
1
SNR a relao sinal-rudo medida na freqncia fundamental. A condio P = 1
pode ser ajustada experimentalmente, para maximizar o valor de
1
V e de SNR
1
, minimizando
erros na estimao de K, atravs de (3.34).
Em situaes prticas, o fator K no constante no tempo; na anlise anterior
considerou-se um nvel de rudo, medido em um longo intervalo de tempo, o que uma
aproximao vlida desde que o rudo seja estacionrio. Experimentalmente, o que ocorre
um valor instantneo de tenso de rudo.
.
Se a SNR, medida para cada harmnica utilizada
nos clculos, for razoavelmente maior do que a unidade, esta escolha no compromete os
clculos e a estimao vlida. No entanto, se a SNR for menor do que a unidade, torna-se
muito difcil estimar V
n
corretamente na presena de rudo. Deste modo, mais importante do
que o nvel de rudo, a SNR das harmnicas quem indicar o erro cometido na leitura destas
componentes. Na presena de rudo 1/f
2
, a SNR para as harmnicas mpares e pares, pode ser
estimada de (3.29), como:

K
x PJ n
SNR
n
n
) ( ) 1 2 (
1 2
1 2

= , (3.35-a)

K
x nQJ
SNR
n
n
) ( 2
2
2
= . (3.35-b)
E, de forma anloga, para rudo branco, obtm-se de (3.31):

K
x PJ
SNR
n
n
) (
1 2
1 2

= , (3.36-a)

97

K
x QJ
SNR
n
n
) (
2
2
= . (3.36-b)

Verifica-se em (3.35) e (3.36) que a SNR
n
inversamente proporcional a K e depende
diretamente da ordem harmnica n, do termo P (ou Q) e do valor de ) (x J
n
. A amplitude da
funo de Bessel depende do valor de x e da ordem harmnica, inclusive podendo assumir o
valor zero, o que implica que somente o rudo estaria presente nesta freqncia. medida que
P varia de zero unidade, Q varia da unidade zero, e vice-versa, o que significa que a mais
alta SNR para as harmnicas mpares est associada a mais baixa SNR para as harmnicas
pares, sendo o recproco tambm verdadeiro. Como os fatores P e Q oscilam dependendo da
fase aleatria ) (
0
t , as SNRs das harmnicas podem ser deterioradas em determinados
intervalos de tempo.
Sudarshanam usou diferentes arranjos experimentais, baseados num interfermetro de
Mach-Zenhder, onde se mediu, na freqncia de aproximadamente 1 kHz, K =0,000587 [117]
e K =0,0011 [118], para dois arranjos diferentes. O rudo predominante era do tipo 1/f
2
. No
entanto, sabe-se que o rudo depende da qualidade do sistema ptico empregado e da largura
de banda envolvida nas medies na sada do fotodetector.
Usando-se (3.35) e (3.36), e lembrando que ) (
0
t sen P = e ) ( cos
0
t Q = , foram
elaboradas as Figs. 3.9 e 3.10, respectivamente, usando o software Matlab. Os grficos da Fig.
3.9 mostram as SNRs das seis primeiras harmnicas da tenso fotodetectada para 0011 , 0 = K
(um valor conservativo para muitas situaes), considerando rudo 1/f
2
, em funo de x e ) (
0
t .
Na Fig. 3.10 os resultados foram obtidos para rudo branco e K=0,0004 (medido nesta tese,
conforme ser discutido nos prximos captulos). Observando as figuras, nota-se que valores
especficos da fase ) (
0
t ou do ndice de modulao x levam as SNRs para valores relativamente
pequenos (regies em azul), condio em que h uma deteriorao das SNRs, que
potencializada pelo fator de rudo K . Nota-se tambm que, para baixos ndices de modulao, a
SNR diminui medida que a ordem harmnica aumenta.

98

Figura 3.9 SNR para rudo 1/f
2
com K=0,0011. (a) componente fundamental. (b)-(f) segunda a sexta
harmnicas, respectivamente.

Figura 3.10 SNR para rudo branco com K=0,0004. (a) componente fundamental. (b)-(f) segunda a
sexta harmnicas, respectivamente.


99
3.4 Discusso

O estudo do rudo, gerado a partir da fotodetecteo e do condicionamento de sinal
usando um amplificador de transimpedncia, mostrou os principais tipos de rudo passveis de
ocorrer e a relao destes com a configurao empregada e a largura de banda do
sistema de deteco e condicionamento analgico do sinal. Observa-se que o rudo pode ser
minimizado, mas no eliminado do sistema, devido s caractersticas eletrnicas envolvidas na
deteco. Mostrou-se tambm que as SNRs das harmnicas so alteradas por um fator
multiplicativo, relativo ao desvanecimento de sinal (fatores P e Q), e, por um termo aditivo (K),
devido principalmente ao rudo eletrnico de fotodeteco e condicionamento do sinal
detectado. Nos grficos das Figs. 3.9 e 3.10, as regies crticas, onde as SNRs so deterioradas
devido deriva da fase ) (
0
t e ao rudo eletrnico ( K ) ficaram evidentes, mostrando que, para
ndices de modulao muito pequenos e nas regies prximas de 2 / ) (
0
n t = rad [n par nos
grficos (a), (c), (e) ou n mpar nos grficos (b), (d) e (f)], o rudo passa a ser dominante sobre o
sinal de informao. H tambm singularidades com relao x.
No prximo captulo alguns mtodos espectrais clssicos de demodulao de fase
sero apresentados, nos quais o ndice de modulao calculado diretamente, baseado em
relaes de recorrncia clssicas de funes de Bessel. A contribuio de baixas SNRs nos
clculos e a deriva da fase ) (
0
t implica em erros na estimao do ndice de modulao e
limitao da faixa dinmica para cada mtodo.

100
CAPTULO 4

MTODOS CLSSICOS DE ANLISE
ESPECTRAL PARA DEMODULAO DE FASE
PTICA

Dentre os mtodos de anlise espectral citados no Captulo 1 desta tese, destacam-se
os mtodos J
1
...J
4
[113], [119], J
1
...J
4
Modificado [114], J
1
...J
6
-neg e J
1
...J
6
-pos [118], e J
0
...J
2

[116], por possibilitarem o clculo direto do deslocamento de fase ptica induzido no feixe de
sinal de um interfermetro, alm de, em princpio, no serem afetados por variaes da
intensidade ptica da fonte, visibilidade de franjas e variaes aleatrias da fase ) (
0
t . No
entanto, conforme ser discutido adiante, existem algumas restries particulares no uso
destes mtodos, que podem conduzir os clculos da fase induzida para zero ou infinito,
incorretamente. Na prtica, estes mtodos tm limitaes na faixa dinmica, cujos limites
mnimo e mximo dependem do nvel de rudo do sistema de medio e do desvanecimento
de sinal provocado pelo ambiente. Sudarshanam e Claus estudaram o comportamento desses
mtodos em simulaes usando um modelo de rudo 1/f
2
, caracterstico do sistema
interferomtrico experimental que utilizaram em [117]-[118], considerando-se a banda de
freqncias envolvida nos experimentos. O efeito do desvanecimento de sinal e a influncia
de rudo 1/f
2
no uso das equaes relativas aos mtodos de clculo direto sero discutidos no
decorrer deste captulo.
A justificativa para o emprego dos mtodos espectrais que so adequados para uso
com um interfermetro de Michelson de baixo custo, no havendo necessidade de
deslocamento de freqncia ptica (interferometria heterdina), nem de controle da fase ) (
0
t
(realimentao ativa). Os mtodos espectrais so adequados para modulao senoidal de fase
induzida no feixe de sinal do interfermetro como, por exemplo, em medies de
deslocamentos ou vibraes harmnicas no tempo e de potenciais eltricos em sistemas de
energia eltrica (que geralmente operam em f = 60 Hz ou f = 50 Hz).

Mtodos Clssicos de Anlise Espectral para Demodulao de Fase ptica

101
4.1 Mtodo J
1
...J
4

A tcnica J
1
...J
4
, proposta por Sudarshanam e Srinivasan em [113], baseada na
seguinte relao de recorrncia para funes de Bessel [66]:

) ( ) (
) (
2
1 1
x J x J
x J
n x
n n
n
+
+
= , (4.1)
sendo n = 1, 2, 3,... Aplicando-se (4.1) para 1 + = m n e 2 + = m n , m = 0, 1, 2, 3,... , e
multiplicando-se os resultados, chega-se a uma nova relao de recorrncia:

)] ( ) ( )][ ( ) ( [
) ( ) (
) 2 )( 1 ( 4
3 1 2
2 1 2
x J x J x J x J
x J x J
m m x
m m m m
m m
+ + +
+ +
+ +
+ + = . (4.2)
Tomando como referncia (4.2), para 1 m , o ndice de modulao x pode ser obtido
a partir da amplitude das harmnicas da tenso fotodetectada (3.27), como:

) )( (
) 2 )( 1 ( 4
3 1 2
2 1 2
+ + +
+ +
+ +
+ + =
m m m m
m m
V V V V
V V
m m x , (4.3)
ou seja, considerando uma excitao senoidal, cada componente
n
V pode ser obtida de (3.27-
a) ou (3.27-b), de acordo com a sua ordem harmnica n. Impondo a condio 0 P e 0 Q ,
(4.2) e (4.3) so equivalentes, pois os fatores P, Q e AF de cada
n
V se anulam no numerador
e denominador de (4.3).
Fazendo-se 1 = m em (4.3), obtm-se o caso particular utilizado no mtodo J
1
...J
4
, onde:

) )( (
24
3 1 4 2
3 2 2
V V V V
V V
x
+ +
= , (4.4)
sendo V
1
, V
2
, V
3
e V
4
as magnitudes das quatro primeiras harmnicas da tenso fotodetectada.
Algumas consideraes feitas com relao ao mtodo J
1
...J
4
, so as seguintes:
Para um baixo ndice de modulao ( 1 << x rad), ) (
2
x J , ) (
3
x J e ) (
4
x J tornam-se
pequenos comparados com ) (
1
x J , como pode ser observado no grfico da Fig. 4.1,
onde so traadas as funes de Bessel de primeira espcie e ordens 1, 2, 3 e 4, para
uma faixa de valores que se estende de 0 = x a 10 = x rad. Na presena de rudo, a
condio 1 << x rad pode resultar numa SNR menor do que a unidade para estas
componentes, condio em que o mtodo torna-se ineficiente;
No se pode obter x para 2 / ) 1 2 ( ) (
0
+ = n t , n inteiro (condio de quadratura de
fase), pois os termos V
2
e V
4
se anulam [conforme informa (3.27)] causando

102
indeterminao no clculo de x. De forma similar, quando n t = ) (
0
, n inteiro, V
1
e
V
3
so iguais a zero e (4.4) indeterminada;
Para valores de x superiores aproximadamente 3,83 rad, as funes de Bessel
assumem valores negativos em certas faixas de x, e, nesta situao, o uso apenas das
componentes do espectro de magnitudes (ou seja, o mdulo) da tenso fotodectada, no
demodula x. Uma alternativa seria escolher um valor maior de m em (4.3), de maneira
que todas as quatro funes de Bessel envolvidas fossem positivas para o intervalo x
considerado. No entanto, isto tambm limitaria a faixa dinmica a um intervalo
dependente do valor atribudo a m e os problemas em 0 = P ou 0 = Q persistiriam.

Figura 4.1 Funes de Bessel de primeira espcie e ordem: 1, -.-. 2, - - 3 e .... 4.

As magnitudes das harmnicas V
1
-V
4
podem ser extradas do espectro de magnitudes
da tenso fotodetectada, utilizando-se um analisador de espectro. Ou ento, atravs do
clculo da Transformada Rpida de Fourier - FFT (Fast Fourier Transform) [170], usando
aquisio do sinal temporal fotodetectado (3.22) e processamento digital.

4.2 Mtodo J
1
...J
4
Modificado

Este mtodo usa o mesmo princpio da tcnica J
1
...J
4
, no entanto, a maneira de
obteno das componentes espectrais foi alterada com o objetivo de expandir a faixa dinmica
para valores de x superiores a 3,83 rad, a partir do qual a funo de Bessel de primeira ordem
torna-se negativa (Fig. 4.1) [114].

103
Aplicando as relaes trigonomtricas = + t n n t n
s s s s
2 cos 2 cos ) ( 2 cos
t n sen n sen
s s
2 2 + e
s s s s s
n sen t n sen n t n sen ) 1 2 ( ) 1 2 ( ) 1 2 cos( )] )( 1 2 [( + = +
t n
s
) 1 2 cos( a (3.25), chega-se a:
[ ] + + + =

=
t n sen n sen t n n x J AFQ x AFQJ
A
t v
s s s s
n
n
2 2 2 cos 2 cos ) ( ) (
2
) (
1
2 0

[ ] t n n sen t n sen n x J AFP
s s s s
n
n
) 1 2 cos( ) 1 2 ( ) 1 2 ( ) 1 2 cos( ) (
1
1 2
+

=

. (4.5)
De forma genrica, a funo peridica ) (t v pode ser representada como uma srie de
Fourier trigonomtrica, da forma:
[ ]
=
+ =
1
0
) ( ' ) cos( ' ' ) (
n
s n s n
t n sen b t n a a t v , (4.6)
onde n=1, 2, 3, ..., '
0
a , '
n
a e '
n
b so os coeficientes da srie. Comparando-se (4.5) e (4.6),
os termos mpares da srie so:

s n n
n sen x AFPJ a ) 1 2 ( ) ( '
1 2 1 2
=

, (4.7-a)

s n n
n x AFPJ b ) 1 2 ( cos ) ( '
1 2 1 2
=

, (4.7-b)
e os termos pares:

s n n
n x AFQJ a 2 cos ) ( '
2 2
= , (4.8-a)

s n n
n sen x AFQJ b 2 ) ( '
2 2
= . (4.8-b)

A anlise acima permite a seguinte interpretao: se a tenso de sada do fotodetector
amostrada e a FFT calculada, (4.7-a) e (4.7-b) representam, respectivamente, os valores das
partes real e imaginria das harmnicas mpares da FFT, enquanto (4.8-a) e (4.8-b)
representam as partes real e imaginria das harmnicas pares da FFT. Observa-se que,
quando os coeficientes '
n
a e '
n
b da FFT so calculados, estes podem assumir valores
positivos ou negativos.
Comparando-se (4.7) com (3.27-a), as harmnicas mpares podem ser calculadas
como:
, (4.9-a)

. (4.9-b)
De maneira similar, obtm-se as harmnicas pares, de (4.7) e (3.27-b), como:
<
>
=

| ' | | ' | ) 1 2 cos( / '

| ' | | ' | ) 1 2 ( / '
1 2 1 2 1 2
1 2 1 2 1 2
1 2
n n s n
n n s n
n
b a n b
b a n sen a
V

104
, (4.10-a)

. (4.10-b)
As componentes V
1
-V
4
calculadas usando-se (4.9) e (4.10) podem assumir valores
negativos e positivos, dependendo do valor de x, pois esto sendo calculadas a partir dos
coeficientes '
n
a e '
n
b da srie de Fourier. Teoricamente, conhecendo-se
s
, pode-se usar
(4.9-a ou b) e (4.10-a ou b) indistintivamente para o clculo das componentes espectrais, pois
resultam os mesmos valores. No entanto, para minimizar erros numricos no clculo
realizado em computador, deve-se escolher a equao com maior numerador pois, se ambos,
numerador e denominador forem nmeros pequenos, a diviso destas quantidades pode gerar
um grande erro. Aps o clculo de V
1
-V
4,
x obtido como no mtodo J
1
...J
4
convencional, a
partir de (4.4).
Como
s
um ngulo arbitrrio (que depende do instante inicial da aquisio e
amostragem do sinal), este pode assumir qualquer valor. Se P no desprezvel, o valor de
s

pode ser obtido dividindo-se (4.7-a) por (4.7-b) para n = 1, o que resulta em:
' / ' tan
1 1
b a
s
= . (4.11)
No entanto, se P desprezvel, ento Q ser prximo da unidade e, neste caso,
s

pode ser obtido dividindo-se (4.8-a) por (4.8-b) para n=1, resultando em:
' / ' 2 tan
2 2
b a
s
= . (4.12)
Na faixa 2 0 <
s
,
s
pode assumir dois valores, e + , obtendo-se o mesmo
resultado no clculo da funo tangente. No entanto, trivial determinar em qual quadrante
s
se encontra, pois, substituindo os dois valores possveis em (4.9) e (4.10) e calculando
(4.4), observa-se que o produto ) cos( ) ( sen de cada parcela de (4.4), leva ao mesmo
resultado, porque:
]} ) 1 2 cos[( ]{ ) 1 2 [( )] )( 1 2 cos[( )] )( 1 2 [( = + + n n sen n n sen , (4.13-a)
) 2 cos( ) 2 ( )] ( 2 cos[ )] ( 2 [ n n sen n n sen = + + . (4.13-b)
Observa-se ainda que, mesmo no sendo necessria, a determinao do quadrante de
s
pode ser realizada multiplicando-se (4.9-a) por (4.9-b) para 1 = n , chegando-se a:

2
1
1 1
)] ( [
' ' 2
2
x AFPJ
b a
sen
s

= , (4.14)
<
>
=
| ' | | ' | 2 / '
| ' | | ' | 2 cos / '
2 2 2
2 2 2
2
n n s n
n n s n
n
b a n sen b
b a n a
V

105
sendo que o sinal de ' ' 2
1 1
b a o mesmo de
s
sen 2 , pois 0 )] ( [
2
1
> x AFPJ , o que indica que
pelo clculo de ' ' 2
1 1
b a possvel saber em que quadrante
s
2 encontra-se na faixa de
2 0 <
s
.
Torna-se adequado registrar algumas observaes com relao ao mtodo J
1
...J
4
e
J
1
...J
4
Modificado [114]:
Para um baixo ndice de modulao (x << 1), ) (
3
x J , ) (
4
x J e ) (
2
x J so muito
pequenos comparados com ) (
1
x J e ambos os mtodos mostram-se ineficientes nesta
situao;
Se P ou Q forem nulos ou se 3 2 , 0 ) ( ou n x J
n
= = , o clculo de x usando (4.4) no
pode ser realizado. Nota-se que, se durante a medio
1
V e
3
V forem iguais a zero
simultaneamente, porque ocorreu 0 = P , pois ) (
1
x J e ) (
3
x J no podem ser nulos
ao mesmo tempo. Neste caso, deve-se repetir a medio at que uma das
componentes,
1
V ou
3
V torne-se diferente de zero. Situao similar ocorre na
condio em que
2
V e
4
V so nulos ( 0 = Q );
Se, durante a medio, 0
2
= V e 0
4
V , o clculo de x usando (4.4) no pode ser
efetuado, pois isto leva o resultado para zero, erroneamente. O mesmo ocorre na
condio 0
3
= V e 0
1
V ;
Embora [114] tenha garantido que o mtodo opere com qualquer valor de x, isto no
verdadeiro. O extremo superior da faixa dinmica estende-se somente at
aproximadamente 5,1 rad, onde 0 ) (
2
= x J e 0 ) ( ) (
3 1
= + x J x J simultaneamente, ou
seja, o numerador e o denominador de (4.4) so nulos. Ser visto no final deste
captulo que o erro na presena de rudo torna-se muito grande nas proximidades de
pontos de singularidades, como este.

4.3 Mtodo J
1
...J
6
-neg

O mtodo J
1
...J
6
-neg [118] utiliza a amplitude da componente fundamental e das
prximas cinco harmnicas da tenso fotodetectada (3.27) para calcular o ndice de
modulao x, atravs de:

106

) )( (
) 2 )( 5 3 ( 8
5 1 6 2
4 2 5 3 2
V V V V
V V V V
x

= . (4.15)
Substituindo-se ) (x AFPJ V
n n
= ou ) (x AFQJ V
n n
= em (4.15), dependendo se n
mpar ou par, respectivamente, obtm-se a expresso do clculo de x pelo mtodo J
1
...J
6
-neg,
dada por:

)] ( ) ( )][ ( ) ( [
)] ( 2 ) ( )][ ( 5 ) ( 3 [ 8
5 1 6 2
4 2 5 3 2
x J x J x J x J
x J x J x J x J
x

= , (4.16)
sendo (4.16) uma identidade matemtica, a qual ser demonstrada como a seguir.
A relao de recorrncia apresentada em (4.1) tambm pode ser escrita como:
) ( 2 )] ( ) ( [
1 1
x nJ x J x J x
n n n
= +
+
. (4.17)
Substituindo-se n = 3 e 5 em (4.17) e subtraindo-se as expresses obtidas, membro a
membro, chega-se a:
)] ( 5 ) ( 3 [ 2 )] ( ) ( ) ( ) ( [
5 3 6 4 4 2
x J x J x J x J x J x J x = + . (4.18)
De maneira similar, para n = 2 e 4, obtm-se:
)] ( 2 ) ( [ 4 )] ( ) ( ) ( ) ( [
4 2 5 3 3 1
x J x J x J x J x J x J x = + . (4.19)
Multiplicando-se (4.18) e (4.19), e isolando-se o termo em x, obtm-se a identidade
(4.16).
O extremo superior da faixa dinmica de x usando o mtodo J
1
...J
6
-neg atinge
aproximadamente 3,6 rad, onde ocorre ) ( ) (
5 1
x J x J = e (4.16) torna-se indeterminada.
Portanto, inferior apresentada para o mtodo J
1
...J
4
Modificado, que fra estabelecido em
aproximadamente 5,1 rad. Segundo Sudarshanam [118], a vantagem do uso deste mtodo a
possibilidade de medio de pequenos ndices de modulao, se o sistema apresentar rudo
predominante do tipo 1/f
2
pois, neste caso, os termos aditivos de rudo no numerador de
(4.16) se anulam, o que teoricamente reduz a influncia do rudo no clculo de x. No entanto,
destaca-se que a obteno das harmnicas de ordem superior (a partir da terceira harmnica)
para ndices inferiores a 0,1 rad, difcil, visto que a SNR tpica nesta faixa menor do que a
unidade. A mnima fase detectada pela aplicao do mtodo J
1
...J
6
-neg, em medies
experimentais, foi de 0,14 rad, contra 0,5 rad pelo mtodo J
1
...J
4
[118]. Este assunto ser
discutido no final deste captulo.


107
4.4 Mtodo J
1
J
6
-pos

O mtodo J
1
...J
6
-pos [118], concebido para que a faixa dinmica fosse expandida
tambm no seu limite superior em relao ao mtodo J
1
...J
4
Modificado, utiliza novamente a
amplitude da fundamental e as prximas cinco harmnicas da tenso fotodetectada (3.27) para
calcular o ndice de modulao x, atravs de:

) 3 8 5 )( 3 2 (
) )( ( 240
6 4 2 5 3 1
5 3 4 2 2
V V V V V V
V V V V
x
+ + + +
+ +
= . (4.20)
Substituindo-se cada ) (x AFPJ V
n n
= ou ) (x AFQJ V
n n
= , dependendo se n mpar
ou par, respectivamente, obtm-se a expresso do clculo de x pelo mtodo J
1
...J
6
-pos, dada
por:

)] ( 3 ) ( 8 ) ( 5 )][ ( ) ( 3 ) ( 2 [
)] ( ) ( )][ ( ) ( [ 240
6 4 2 5 3 1
5 3 4 2 2
x J x J x J x J x J x J
x J x J x J x J
x
+ + + +
+ +
= , (4.21)
a qual constitui uma identidade matemtica. De forma anloga ao desenvolvimento realizado
para o mtodo J
1
...J
6
-neg, a identidade matemtica (4.21) demonstrada como a seguir.
Substituindo-se n = 2, 3, 4 e 5 em (4.17) e multiplicando-se as equaes obtidas, pelas
constantes inteiras 2, 5, 1 e 3, respectivamente, obtm-se:
) ( 8 )] ( 2 ) ( 2 [
2 3 1
x J x J x J x = + , (4.22-a)
) ( 30 )] ( 5 ) ( 5 [
3 4 2
x J x J x J x = + , (4.22-b)
) ( 8 )] ( ) ( [
4 5 3
x J x J x J x = + , (4.22-c)
) ( 30 )] ( 3 ) ( 3 [
5 6 4
x J x J x J x = + . (4.22-d)
A soma de (4.22-a) e (4.22-c) resulta em:
)] ( ) ( [ 8 )] ( ) ( ) ( 2 ) ( 2 [
4 2 5 3 3 1
x J x J x J x J x J x J x + = + + + . (4.23)
A soma de (4.22-b) e (4.22-d) resulta em:
)] ( ) ( [ 30 )] ( 3 ) ( 3 ) ( 5 ) ( 5 [
5 3 6 4 4 2
x J x J x J x J x J x J x + = + + + . (4.24)
Multiplicando-se (4.23) por (4.24) e isolando x obtm-se a identidade (4.21).
O extremo superior da faixa dinmica de x para o mtodo J
1
...J
6
-pos chega a
aproximadamente 6,38 rad, onde ocorrem, simultaneamente, 0 ) (
3
= x J , ) ( ) ( 2
5 1
x J x J = e
) ( ) (
4 2
x J x J = e, portanto, (4.21) torna-se indeterminada. A tcnica J
1
...J
6
-pos amplia o
limite de medio para 6,3 rad em relao ao mtodo J
1
...J
4
Modificado, que tem uma faixa

108
dinmica indo somente at 5,1 rad. A mnima fase detectvel no melhorada pela aplicao
deste mtodo, se comparada com os resultados obtidos com o J
1
...J
4
convencional.
Os mtodos J
1
...J
6
-neg e J
1
...J
6
-pos se complementam e foram denominados pelos seus
autores de Mtodo J
1
...J
4
Genrico [118]. O limite inferior da faixa dinmica desses
mtodos estabelecido de acordo com a natureza do rudo predominante no sistema, e ser
abordado na seo 4.7.

4.5 Mtodo J
0
...J
2

Poder-se-ia acreditar que, relativamente aos mtodos anteriores, um menor valor para
a mnima fase detectvel poderia ser obtida fazendo-se m=0 em (4.2), resultando:

)] ( ) ( )][ ( ) ( [
) ( ) (
24
3 1 2 0
2 1 2
x J x J x J x J
x J x J
x
+ +
= , (4.25)
o qual constituiria o mtodo J
0
...J
3
, em analogia com o j conhecido J
1
...J
4
, descrito
anteriormente na seo 4.1. No entanto, o ndice x no pode ser calculado a partir de (4.25),
pois
0
V

dado em (3.26), contm uma parcela que depende exclusivamente da intensidade
ptica da fonte e no cancelada diretamente substituindo-se os
n
J de (4.25) pelas
respectivas amplitudes das harmnicas (
n
V ).
O mtodo J
0
...J
2
baseado na relao de recorrncia (4.1) para n=1, ou seja, x obtido
atravs de:

) ( ) (
) (
2
2 0
1
x J x J
x J
x
+
= , (4.26)
onde o problema citado acima, referente ao termo ) (
0
x J , solucionado deslocando-se o
termo quase DC do espectro de magnitude do sinal para uma freqncia superior, atravs do
uso de um modulador senoidal auxiliar posicionado no ramo de referncia do interfermetro.
Isto encarece o arranjo experimental em relao ao usado para o mtodo J
1
...J
4
. No entanto,
ainda mais simples que a interferometria heterdina, que requer um deslocador de
freqncia ptica, ou mtodos homdinos ativos, que necessitam de realimentao e controle
para estabilizao das franjas. O mtodo J
0
...J
2
explicado a seguir [116].
No exemplo que se segue, uma vibrao de interesse, senoidal, do tipo
t sen x l
s
) / 4 ( = , atua no ramo de sinal do interfermetro, onde x o pico de desvio de
fase provocado pela vibrao no feixe ptico no ramo de sinal. No mtodo J
0
...J
2
, a fase do

109
feixe ptico no ramo de referncia tambm modulada para produzir uma portadora de fase
senoidal. Assim, a tenso fotodetectada (3.22) pode ser escrita como:
)] ( ) ( ) ( cos[
2 2
) (
0
t t t
AF A
t v
a s
+ + + = , (4.27)
sendo t sen x t
s s
= ) ( , o desvio de fase referente vibrao senoidal de interesse na
freqncia
s
, t sen x t
a a a
= ) ( , o desvio de fase devido insero da portadora senoidal
auxiliar na freqncia
a
, e x e
a
x so os respectivos ndices de modulao de fase.
Substituindo as expresses de ) (t
s
e ) (t
a
em (4.27) e expandindo-a em termos em
funes de Bessel de primeira espcie, obtm-se:

+ + =

=1
2 0
) 2 cos( ) ( ) 1 ( 2 ) (
2 2
) (
n
a a n
n
a
t n x J x J
AF A
t v
+

=
+
=
P t n x J Q t n x J x J
n
s n
n
n
s n
n
0
1 2
1
2 0
] ) 1 2 cos[( ) ( ) 1 ( 2 ) 2 cos( ) ( ) 1 ( 2 ) (

=
+
0
1 2
] ) 1 2 cos[( ) ( ) 1 ( 2
2
n
a a n
n
t n x J
AF

+ +
+

=
=
+
P t n x J x J Q t n x J
n
s n
n
n
s n
n
1
2 0
0
1 2
) 2 cos( ) ( ) 1 ( 2 ) ( ] ) 1 2 cos[( ) ( ) 1 ( 2 , (4.28)
a partir de onde se extrai as componentes espectrais de interesse, dadas por:
) ( ) ( ) (
0 1 ) 0 , 1 (
x J x AFPJ f V V
a a
= = , (4.29-a)
) ( ) ( ) (
1 1 ) 1 , 1 (
x J x AFQJ f f V V
a s a
= + = , (4.29-b)
) ( ) ( ) 2 (
2 1 ) 2 , 1 (
x J x AFPJ f f V V
a s a
= + = , (4.29-c)
) ( ) ( ) 2 (
0 2 ) 0 , 2 (
x J x AFQJ f V V
a a
= = , (4.29-d)
) ( ) ( ) 2 (
1 2 ) 1 , 2 (
x J x AFPJ f f V V
a s a
= + = , (4.29-e)
) ( ) ( ) 2 2 (
2 2 ) 2 , 2 (
x J x AFQJ f f V V
a s a
= + = , (4.29-f)
) ( ) ( ) 3 (
0 3 ) 0 , 3 (
x J x AFPJ f V V
a a
= = , (4.29-g)
) ( ) ( ) 3 (
1 3 ) 1 , 3 (
x J x AFQJ f f V V
a s a
= + = , (4.29-h)
sendo 2 /
i i
f = para s a i , = . Somente as magnitudes (mdulos) das amplitudes da tenso
foram consideradas em (4.29).
Baseando-se na relao de recorrncia para funes de Bessel apresentada em (4.26), x
pode ser obtido tambm atravs da seguinte expresso:

110

2
) 2 , 1 ( ) 0 , 1 ( ) 0 , 2 (
) 1 , 2 ( ) 1 , 1 ( ) 0 , 1 (
2
] [
4
V V V
V V V
x
+
= , (4.30)
onde os fatores P (ou Q), A e F se cancelam mutuamente no numerador e denominador de
(4.30), obtendo-se a identidade (4.26), desde que 0 P e 0 Q . Respeitando-se estas
condies, o mtodo J
0
...J
2
no afetado pela variao aleatria da fase ) (
0
t , flutuaes de
intensidade da fonte ptica e variaes na visibilidade das franjas. Ou seja, neste mtodo,
assim como ocorria para o J
1
...J
4
e o J
1
...J
6
, um controle da fase ) (
0
t , mantendo-a em
quadratura, bem como estabilizao da fonte ptica e controle de polarizao dos feixes
pticos, no so necessrios.
Usando o mtodo J
0
...J
2
um ndice de modulao muito reduzido (relativamente aos
mtodos J
1
...J
4
e J
1
...J
6
-neg e J
1
...J
6
-pos) pode ser obtido, da ordem de 0,01 rad. Por outro lado,
o mtodo torna-se impreciso prximo de 2,4 rad [116].
Os mtodos descritos at aqui permitem medir o ndice de modulao x. Na prxima
seo, apresenta-se um mtodo que permite a medio de ) (
0
t .
4.6 Mtodo Espectral de Medio da Fase
o
(t) desenvolvido por
Sudarshanam

Um mtodo de medio de ) (
0
t , baseado em anlise espectral, foi proposto por Alan
V. Sudarshanam, em [128]. Segundo este mtodo, ) (
0
t pode ser obtido de:

=

) (
) (
tan ) (
1
2
2
1 1
0
x J
x J
V
V
t , (4.31)
sendo que, V
1
e V
2
so, respectivamente, a fundamental e a segunda harmnica do sinal
fotodetectado, ) (
1
x J e ) (
2
x J so funes de Bessel de primeira espcie e primeira e segunda
ordens, respectivamente. O valor de x pode ser calculado usando-se o mtodo J
1
...J
4
, o qual
independe de ) (
0
t . Deste modo, a aplicao do mtodo depende da medio das quatro
primeiras harmnicas da tenso fotodetectada, pois estas devem ser utilizadas para a obteno
de x. De acordo com (3.27), substituindo-se ) (
0
t sen P = e ) ( cos
0
t Q = ,
1
V e
2
V so dadas
por:
) ( ) (
0 1 1
t sen x AFJ V = , (4.32-a)
) ( cos ) (
0 2 2
t x AFJ V = . (4.32-b)

111
A substituio de (4.32) em (4.31) causa o cancelamento do fator AF , tornando (4.31)
equivalente [ ] ) ( tan tan ) (
0
1
0
t t

= , o que justifica o mtodo.

4.7 Anlises dos Mtodos Espectrais Clssicos considerando
Rudo 1/f
2
e Rudo branco

Nesta seo, sero apresentados os resultados de clculos realizados usando o software
Matlab na presena de rudo 1/f
2
(com o fator n K / ) e de rudo branco (com o fator K
constante), definidos no Captulo 3. As anlises so realizadas para os mtodos J
1
...J
4
, J
1
...J
6

(neg e pos) e J
0
...J
2
. A influncia do rudo nos clculos do ndice de modulao de fase
usando estes mtodos leva a um erro absoluto de fase, estabelecido como:
' x x x = , (4.33)
sendo x o valor esperado do ndice de modulao e ' x o valor estimado, calculado usando os
mtodos clssicos e o fator de rudo. O erro relativo percentual, calculado em mdulo,
definido por:
% 100
| |
=
x
x
x
r
. (4.34)
O erro devido ao rudo limita a faixa dinmica para cada mtodo, estabelecendo um
limiar mnimo, definido em [117], [118] como o MDPS (Minimum Detectable Phase Shift), o
mnimo desvio de fase detectvel, correspondente a um erro percentual de 100%.
Desta forma, o MDPS definido como o valor de x para o qual x x = | | . Graficamente,
o MDPS pode ser determinado, identificando-se o ponto em que a curva de x em funo de x,
intersecta a reta definida tranando-se x ou -x em funo de x no mesmo grfico.
Nos resultados apresentados na seo 3.3.4, onde as SNRs das seis primeiras
harmnicas da tenso fotodetectada foram obtidas em funo de ) (
0
t e de x, o fator de rudo
foi fixado em 0011 , 0 = K para rudo 1/f
2
e 0004 , 0 = K para rudo branco. Nas prximas
anlises sero realizadas simulaes para estas condies.
Os grficos que sero apresentados a seguir seguem uma simbologia padro, que vale
ressaltar:
Todas as simulaes so realizadas no Matlab;
A simbologia utilizada na maioria dos grficos a mesma: pontos em cor preta
() representam os resultados das simulaes considerando-se rudo branco com

112
K=0,0004, enquanto asteriscos em cor azul (*), os resultados referentes a rudo 1/f
2

com K=0,0011;
Quando no especificado, adota-se 2 / 2 = = Q P , ou seja, 4 / ) (
0
= t rad, que se
refere a uma boa condio para obteno de ambas as harmnicas, mpares e pares;
H grficos tridimensionais, em que se calcula o erro relativo percentual
r
x em
funo de x e de ) (
0
t , e outros, em que se calcula o erro relativo percentual em
funo do fator de erro K e de ) (
0
t . Nestes casos, o erro relativo est
representado numa escala de cores, cuja intensidade mxima corresponde a um
erro de 10% ou superior. Limitou-se o erro a 10% para tornar evidentes os pontos
de singularidades e as regies prximas destes, onde o erro significativo;
O extremo inferior da faixa dinmica igual ao MDPS, enquanto o extremo
superior estabelecido a partir de um erro mximo admissvel igual a 05 , 0 = x
rad (o mesmo adotado em [118]).

4.7.1 Faixa Dinmica e Erro no Clculo de x usando os Mtodos
J
1
...J
4
e J
1
...J
4
Modificado

Na presena de rudo aditivo do tipo 1/f
2
na fotodeteco e considerando-se os fatores
de desvanecimento de sinal, o ndice de modulao x calculado para o mtodo J
1
...J
4

Modificado pode ser estimado ( ' x ), a partir de (4.4), como [117]:

[ ][ ] ) 4 / ( ) 2 / ( ) 3 / ( ) (
) 3 / )( 2 / (
24 '
4 2 3 1
3 2 2
K Q J K Q J K P J K P J
K PJ K QJ
x
+ + + + + +
+ +
= , (4.35)
sendo que os termos
n
J referem-se a ) (x J
n
. De forma anloga, para rudo branco, obtm-se:

[ ][ ] ) ( ) ( ) ( ) (
) )( (
24 '
4 2 3 1
3 2 2
K Q J K Q J K P J K P J
K PJ K QJ
x
+ + + + + +
+ +
= . (4.36)
Para o mtodo J
1
...J
4
original toma-se o mdulo das harmnicas, dado por
| / | n K PJ
n
+ para rudo 1/f
2
e n mpar, | / | n K QJ
n
+ para rudo 1/f
2
e n par, | | K PJ
n
+
para rudo branco e n mpar, e | | K QJ
n
+ para rudo branco e n par.
Os grficos das Figs. 4.2 e 4.3 so elaborados usando-se (4.35) e (4.36), onde em (a)
tem-se o clculo para o mtodo J
1
...J
4
e, em (b) para o mtodo J
1
...J
4
Modificado. Na Fig.
4.2 mostrado o erro absoluto (4.33) como uma funo do valor esperado de x, para a fase

113

Figura 4.2 Erro absoluto de fase x como uma funo do valor esperado x, considerando-se: (*) rudo 1/f
2

com K=0,0011 e () rudo branco com K=0,0004. A linha tracejada x utilizada para a identificao do
MDPS: o valor de x correspondente a x x = . (a) Mtodo J
1
...J
4
. (b) Mtodo J
1
...J
4
Modificado.

Figura 4.3 - Fase estimada ' x em funo da fase ) (
0
t para o valor esperado 1 = x rad, pela aplicao do
mtodo J
1
...J
4
. (a) Simulao para rudo 1/f
2
com K=0,0011. (b) Simulao para rudo branco com
K=0,0004.


114
4 / ) (
0
= t rad, resultando em 2 / 2 = = Q P . Como se observa, a faixa dinmica fica
limitada a 3,8 rad para o mtodo J
1
...J
4
(Fig. 4.2-a) e 5 rad para o mtodo J
1
...J
4
Modificado
(Fig. 4.2-b). O limite superior da faixa dinmica para o mtodo J
1
...J
4
convencional est
associada ao fato de que ) (
1
x J assume valores negativos acima de 3,83 rad. Na regio de
baixos ndices de modulao, estabelece-se um MDPS: um deslocamento de fase onde o erro
relativo na estimao de x atinge 100%. O MDPS depende do nvel de rudo. Para os
limiares de K estabelecidos, verifica-se, tanto para rudo branco quanto para o 1/f
2
, um MDPS
de aproximadamente 200 mrad. Por outro lado, os grficos da Fig. 4.3 so obtidos, mantendo-
se x constante em (4.35) e (4.36), igual a 1 rad, e variando-se ) (
0
t , de zero a 2 rad. Os
pontos de singularidades ficam evidentes, onde ) (
0
t mltiplo de 2 / rad.
As Figs. 4.4 e 4.5 mostram
r
x , dada em (4.34), em funo de x e de ) (
0
t , para os
mtodos J
1
...J
4
e J
1
...J
4
Modificado, respectivamente. Nesta anlise, considera-se somente rudo
branco com K=0,0004, devido ao fato de que os resultados obtidos para rudo 1/f
2
com K=0,0011,
serem praticamente os mesmos ora apresentados. Os grficos tridimensionais, que representam
uma varredura de toda a faixa dinmica dos mtodos analisados permitem avaliar como a fase
) (
0
t afeta a faixa dinmica, na presena do rudo eletrnico aditivo, representado por K.

r
0
t , para o mtodo J
1
...J
4
e rudo
branco com K=0,0004.

115

r
0
t , para o mtodo J
1
...J
4
Modificado
e rudo branco com K=0,0004.

Nas Figs. 4.4 e 4.5, os pontos onde h singularidades apresentam um erro
significativo, que foi limitado a 10%, para tornar evidente este efeito. Os clculos foram
realizados com incrementos de 5 mrad, tanto para x como para ) (
0
t . No entanto, destaca-se
que este erro pode ser bem maior, chegando-se a ultrapassar a barreira dos 100%. Um
exemplo o resultado da Fig. 4.3, onde se limitou o grfico a valores que representam 20%
do valor esperado de x. Existem faixas de valores de x onde este efeito menor, por
exemplo, para valores de x em torno de 3 rad. Isto se deve ao fato de que as SNRs, medidas
para as harmnicas envolvidas nos clculos nesta faixa, tm valores relativamente elevados.
A Fig. 4.6 obtida para o mtodo J
1
...J
4
Modificado considerando uma simulao com
rudo branco. Neste caso, a distribuio do erro relativo percentual calculada como uma funo
de ) (
0
t e do nvel de rudo K, a fim de se avaliar a influncia do nvel de rudo no clculo de x
que, para este resultado, mantido constante, igual a 1 rad. Analisando o grfico obtido, verifica-
se que o nvel de rudo eletrnico potencializa o erro no clculo de x nas regies de
singularidades, principalmente na regio prxima de 2 / ) (
0
n t = rad. Isto facilmente
explicado pelo fato de que as SNRs calculadas para as harmnicas pares ou mpares diminuem
com o aumento de K e tornam-se muito pequenas nestas regies crticas, levando o clculo de x

116
pela aplicao do mtodo J
1
...J
4
erros significativos, no somente sobre os pontos, mas tambm
nas regies prximas s singularidades.

r
x em funo de K e de ) (
0
t , calculado para um valor esperado
x = 1 rad, usando o mtodo J
1
...J
4
Modificado, considerando rudo branco.

4.7.2 Faixa Dinmica e Erro no Clculo de x usando os Mtodos
J
1
...J
6
-neg e J
1
...J
6
-pos

Considerando rudo 1/f
2
na fotodeteco tem-se, a partir de (4.15), que o ndice de
modulao estimado para o mtodo J
1
...J
6
-neg, dado por [118]:

) 5 / 4 )( 3 / (
) 2 )( 5 3 ( 8
'
5 1 6 2
4 2 5 3 2
K PJ PJ K QJ QJ
QJ QJ PJ PJ
x
+ +

= , (4.37)
sendo que os termos em K se anularam no numerador da expresso. Para rudo branco obtm-se:

) )( (
) 2 )( 2 5 3 ( 8
'
5 1 6 2
4 2 5 3 2
PJ PJ QJ QJ
K QJ QJ K PJ PJ
x

= , (4.38)
sendo que, neste caso, os termos em K se cancelaram no denominador da expresso.
A partir de (4.20), obtm-se o ndice para o mtodo J
1
...J
6
-pos, considerando rudo
1/f
2
, como [118]:

) 5 3 8 5 )( 5 / 16 3 2 (
) 15 / 8 )( 4 / 3 ( 240
'
6 4 2 5 3 1
5 3 4 2 2
K QJ QJ QJ K PJ PJ PJ
K PJ PJ K QJ QJ
x
+ + + + + +
+ + + +
= . (4.39)
Para rudo branco, tem-se para o mtodo J
1
...J
6
-pos:

117

) 16 3 8 5 )( 6 3 2 (
) 2 )( 2 ( 240
'
6 4 2 5 3 1
5 3 4 2 2
K QJ QJ QJ K PJ PJ PJ
K PJ PJ K QJ QJ
x
+ + + + + +
+ + + +
= . (4.40)
A Fig. 4.7 mostra o erro absoluto de fase x , em mrad, em funo de x, para os
mtodos J
1
...J
6
-neg (Fig 4.7-a) e J
1
...J
6
-pos (Fig. 4.7-b), para rudo 1/f
2
com K=0,0011 e
rudo branco com K=0,0004. Observa-se na Fig. 4.7-a que o mtodo J
1
...J
6
-neg tem faixa
dinmica limitada a valores at aproximadamente 3,6 rad, onde o erro aumenta devido
singularidade neste ponto. Por outro lado, para rudo 1/f
2
, o MDPS reduzido
significativamente para 35 mrad. O mesmo no pode ser afirmado quando se trata de rudo
branco, pois o MDPS est prximo de 250 mrad, que representa um valor acima do obtido
para o mtodo J
1
...J
4
, nas mesmas condies de anlise. Se por um lado, o objetivo reduzir
a faixa dinmica atravs do mtodo J
1
...J
6
-neg, por outro, pretende-se estender a faixa 6 rad,
pelo clculo de x usando o mtodo J
1
...J
6
-pos. De fato, como pode ser observado nos grficos
da Fig. 4.7-b, a faixa dinmica foi expandida em 1 rad para o mtodo J
1
...J
6
-pos.

Figura 4.7 Erro absoluto de fase x em funo do valor esperado x para (*) rudo 1/f
2
com
K=0,0011 e () rudo branco com K=0,0004, onde a linha tracejada x utilizada para a identificao do
MDPS; o valor de x correspondente a x x = . (a) Mtodo J
1
...J
6
-neg. (b) Mtodo J
1
...J
6
-pos.

A Fig. 4.8-a apresenta o clculo da fase ' x usando o mtodo J
1
...J
6
-neg, para um valor
esperado de x igual a 0,5 rad. O erro com rudo branco visivelmente superior para toda a
faixa de valores de ) (
0
t , mostrando a ineficincia deste mtodo, nesta condio. A Fig. 4.8-

118
b obtida para 8 , 5 = x rad, pela aplicao do mtodo J
1
...J
6
-pos, que tem faixa dinmica
limitada a aproximadamente 6 rad. Em ambos os grficos, (a) e (b), so evidentes as
singularidades nas regies prximas de 2 / ) (
0
n t = rad, onde o erro torna-se elevado.

Figura 4.8 - Fase estimada ' x em funo do rudo de fase ) (
0
t considerando (*) rudo 1/f
2
com K=0,0011 e
() rudo branco e K=0,0004. (a) Mtodo J
1
...J
6
-neg, para um valor esperado 5 , 0 = x rad. (b) Mtodo
J
1
...J
6
-pos, para um valor esperado 8 , 5 = x rad.

Os grficos tridimensionais das Figs. 4.9 e 4.10 so os resultados das simulaes
realizadas para o mtodo J
1
...J
6
-neg e J
1
...J
6
-pos, respectivamente, onde se calcula o erro
relativo percentual
r
x em funo de x e de ) (
0
t . Na Fig. 4.9-a o clculo realizado, usando-
se o modelo de rudo 1/f
2
, e, a Fig. 4.9-b, mostra o resultado para rudo branco. Novamente
verificam-se as singularidades (devidas ) (
0
t estar em 2 / n rad) e as limitaes na faixa
dinmica em relao x. Nitidamente, nas anlises realizadas com rudos 1/f
2
e branco, existe
uma diferena na resposta em baixos ndices de modulao. Na anlise de rudo usando o
mtodo J
1
...J
6
-pos, obteve-se praticamente o mesmo resultado grfico nas simulaes com rudo
1/f
2
e branco. Portanto, apresenta-se na Fig. 4.10 somente o resultado para rudo branco com
K=0,0004.

119

r
0
t , para o mtodo J
1
...J
6
-neg. (a)
simulao para rudo 1/f
2
com K=0,0011 (b) simulao para rudo branco com K=0,0004.

r
0
t , para o mtodo J
1
...J
6
-pos,

para

rudo branco ilimitado em faixa e K=0,0004.


120
4.7.3 Faixa Dinmica e Erro no Clculo de x usando o Mtodo J
0
...J
2

Baseado no modelo de rudo 1/f
2
na fotodeteco, Sudarshanam estimou o valor de
algumas harmnicas [incluindo as usadas em (4.30)], como [117]:
[ ] 2 / ) ( ) ( ) (
0 1 ) 0 , 1 (
K x J x PJ AF f V V
a a
+ = = , (4.41-a)
[ ] 4 , 2 / ) ( ) ( ) (
1 1 ) 1 , 1 (
K x J x QJ AF f f V V
a s a
+ = + = , (4.41-b)
[ ] 8 , 2 / ) ( ) ( ) 2 (
2 1 ) 2 , 1 (
K x J x PJ AF f f V V
a s a
+ = + = , (4.41-c)
[ ] 4 / ) ( ) ( ) 2 (
0 2 ) 0 , 2 (
K x J x QJ AF f V V
a a
+ = = , (4.41-d)
[ ] 4 , 4 / ) ( ) ( ) 2 (
1 2 ) 1 , 2 (
K x J x PJ AF f f V V
a s a
+ = + = , (4.41-e)
[ ] 8 , 4 / ) ( ) ( ) 2 2 (
2 2 ) 2 , 2 (
a s a
+ = + = , (4.41-f)
[ ] 6 / ) ( ) ( ) 3 (
0 3 ) 0 , 3 (
K x J x PJ AF f V V
a a
+ = = , (4.41-g)
[ ] 4 , 6 / ) ( ) ( ) 3 (
1 3 ) 1 , 3 (
a s a
+ = + = . (4.41-h)
sendo que as constantes dividindo K foram baseadas em K sendo definido a 1 kHz, freqncia
de modulao do sinal de excitao (f
s
) igual a 400 Hz e freqncia de modulao da
portadora auxiliar (f
a
) igual a 2 kHz. Portanto, para estes valores especficos, o ndice x
estimado por:

2
2 1 0 1 0 2
1 2 1 1 0 1 2
) 7 / 6 ' ' )( 4 / ' (
) 4 , 4 / ' )( 4 , 2 / ' )( 2 / ' ( 2
'
K J PJ J PJ K J QJ
K J PJ K J QJ K J PJ
x
+ + +
+ + +
= , (4.42)
sendo que '
n
J refere-se a ) (
a n
x J e
n
J a ) (x J
n
. Na presena de rudo branco tem-se:
[ ] K x J x PJ AF f V V
a a
+ = = ) ( ) ( ) (
0 1 ) 0 , 1 (
, (4.43-a)
[ ] K x J x QJ AF f f V V
a s a
+ = + = ) ( ) ( ) (
1 1 ) 1 , 1 (
, (4.43-b)
[ ] K x J x PJ AF f f V V
a s a
+ = + = ) ( ) ( ) 2 (
2 1 ) 2 , 1 (
, (4.43-c)
[ ] K x J x QJ AF f V V
a a
+ = = ) ( ) ( ) 2 (
0 2 ) 0 , 2 (
, (4.43-d)
[ ] K x J x PJ AF f f V V
a s a
+ = + = ) ( ) ( ) 2 (
1 2 ) 1 , 2 (
, (4.43-e)
a s a
+ = + = ) ( ) ( ) 2 2 (
2 2 ) 2 , 2 (
, (4.43-f)
[ ] K x J x PJ AF f V V
a a
+ = = ) ( ) ( ) 3 (
0 3 ) 0 , 3 (
, (4.43-g)
a s a
+ = + = ) ( ) ( ) 3 (
1 3 ) 1 , 3 (
, (4.43-h)
e

121

2
2 1 0 1 0 2
1 2 1 1 0 1 2
) 2 ' ' )( ' (
) ' )( ' )( ' ( 2
'
K J PJ J PJ K J QJ
K J PJ K J QJ K J PJ
x
+ + +
+ + +
= . (4.44)
O valor de
a
x pode ser escolhido dentro de uma faixa de valores [117], em torno de 1
a 3,5 rad. Os grficos das Figs. 4.11 a 4.13 so obtidos para 84 , 1 =
a
x rad, valor para o qual
32 , 0 '
0
J , 58 , 0 '
1
J e 32 , 0 '
2
J .
O mtodo J
0
...J
2
conduz ao menor MDPS dentre todos os mtodos analisados at aqui,
tanto para rudo 1/f
2
como para rudo branco, como pode ser observado nos grficos da Fig.
4.11, onde o erro absoluto x em funo de x apresentado. Verifica-se, na Fig. 4.11-a, que
a faixa dinmica limita-se na parte superior, aproximadamente 2,2 rad, tanto para rudo
branco como para 1/f
2
. Por outro lado, atravs de uma vista em detalhe na regio de baixo
ndice (abaixo de 5 mrad) constata-se MDPSs em torno de 2,0 mrad para rudo 1/f
2
com
K=0,0011 e 2,5 mrad para rudo branco com K=0,0004.

Figura 4.11 Erro absoluto de fase x em funo de x pelo clculo usando o mtodo J
0
...J
2
, considerando
(*) rudo 1/f
2
com K=0,0011 e () rudo branco com K=0,0004. (a) x variando de 0 a 2,5 rad. (b) Vista em
detalhe na regio de baixos ndices, para x at 5 mrad. A linha tracejada utilizada para a identificao do
MDPS; o valor de x correspondente a x x = .

A maior sensibilidade do mtodo J
0
...J
2
, em relao aos outros anteriormente
apresentados, tambm pode ser constatada pelos resultados mostrados nas Figs. 4.12 e 4.13.
No entanto, em ambas observa-se que as singularidades permanecem. Na Fig. 4.12, o valor
estimado ' x foi calculado para um valor esperado 100 = x mrad, onde ' x est limitado a
valores que representam um erro relativo de 100%, no grfico. Na distribuio de erro
r
x ,
calculada em funo de x e ) (
0
t , mostrada na Fig. 4.13, considera-se, em (a), rudo aditivo
do tipo 1/f
2
e, em (b), rudo aditivo branco ilimitado em faixa.

122

Figura 4.12 - Fase estimada ' x em funo da fase ) (
0
t para o valor esperado 100 = x mrad, pela
aplicao do mtodo J
0
...J
2
2
com K=0,0011 e () rudo branco com K=0,0004.

Figura 4.13 Erro
r
0
t , para o mtodo J
0
...J
2
. (a) Clculo para rudo 1/f
2
com
K=0,0011 e (b) Clculo para rudo branco com K=0,0004.


123
4.7.4 Anlise do Mtodo de Medio de
0
(t) desenvolvido por
Sudarshanam, considerando Rudo.

Na presena de rudo 1/f
2
, o valor esperado de ) (
0
t , obtido a partir de (4.31), sofre
um desvio devido ao fator de rudo K, sendo estimado, para rudo 1/f
2
, em [128]:

+
+
=

) ' (
) ' (
) 2 / (
) (
tan ) ( '
1
2
2
1 1
0
x J
x J
K P J
K Q J
t , (4.45)
e para rudo branco, em:

+
+
=

) ' (
) ' (
) (
) (
tan ) ( '
1
2
2
1 1
0
x J
x J
K P J
K Q J
t , (4.46)
sendo ' x calculado usando-se (4.35) para rudo 1/f
2
e (4.36) para rudo branco.
O erro absoluto na estimao de ) (
0
t definido como:
) ( ' ) ( ) (
0 0 0
t t t = , (4.47)
sendo ) ( '
0
t o valor estimado da fase ) (
0
t , calculado usando (4.45) ou (4.46). O erro
relativo percentual definido, neste caso, como:
% 100
) (
) (
) (
0
0
0

=
t
t
t
r
. (4.48)
Sudarshanam procedeu a determinao do menor erro na estimao de ) (
0
t usando
08 , 2 = x rad, valor para o qual o erro no clculo de ' x pelo mtodo J
1
...J
4
mnimo [128].
Como ) (
0
t normalmente tem variao lenta em relao freqncia fundamental
s
f ,
definiu-se em [128] um MDPS-DC (Minimum detectable DC phase shift): o mnimo desvio
da fase quase-esttica ) (
0
t detectvel, em analogia com o MDPS definido anteriormente no
texto, na demodulao de x.
No grfico da Fig. 4.14 ilustra-se o erro absoluto ) (
0
t , em mrad, em funo de x . A
mxima faixa dinmica de x, dentro da qual o erro mximo ) (
0
t de aproximadamente
5 mrad, vai de 1 = x rad a 5 , 3 = x rad, tanto para rudo 1/f
2
e K=0,0011, quanto rudo branco
e K=0,0004. Para a estimao de ) (
0
t , o valor de x pode ser fixado dentro de uma faixa tima,
onde o erro de clculo na presena de rudo seja mnimo, que se encontra em torno de 2,1 rad
[128].

124

0
t em funo de x para o mtodo de medio de ) (
0
t proposto
por Sudarshanam, com 84 , 1 =
a
rad, para (*) rudo 1/f
2
com K=0,0011 e () rudo branco com K=0,0004.

Na Fig. 4.15-a mostra-se o erro absoluto ) (
0
t em funo de ) (
0
t , fazendo-se
84 , 1 = x rad, revelando-se que o erro varia entre 2 mrad. Uma vista em detalhe na regio
onde a fase ) (
0
t de ordem de alguns mrad mostrada na Fig. 4.15-b, onde tambm foi
traada a reta ) ( ) (
0 0
t t = . O cruzamento desta reta com os pontos que definem a curva
do erro de fase ) (
0
t corresponde ao MDPS-DC. Os valores de MDPS-DC obtidos foram
de 2,3 mrad para rudo 1/f
2
, e, 2 mrad para rudo branco.

0
t em funo do valor esperado ) (
0
t para o mtodo de medio
de ) (
0
a
rad, considerando (*) rudo 1/f
2
com K=0,0011 e ()
rudo branco com K=0,0004. (a) ) (
0
t na faixa de 0 a /2 rad. (b) Vista em detalhe da regio de ) (
0
t at 6
mrad. A linha tracejada utilizada para a identificao do MDPS-DC; o valor de ) (
0
t para o qual
) ( ) (
0 0
t t = .

125
Na Fig. 4.16 mostra-se o erro relativo ) (
0
t
r
em funo de ) (
0
t e de x, para rudo
branco com K=0,0004. Os resultados obtidos graficamente para rudo 1/f
2
com K=0,0011 se
assemelham muito com os da Fig. 4.16 e, por isso, no foram apresentados no texto. Na
figura, as limitaes do mtodo ficam aparentes. O erro aumenta quando x torna-se pequeno
ou se aproxima de 3,8 rad, e tambm medida que ) (
0
t se aproxima de zero.

Figura 4.16 Erro relativo percentual
r
t) (
0
em funo de ) (
0
t e x, para o mtodo espectral indireto
de medio de ) (
0
t para rudo branco com K=0,0004.

4.8 Discusso

Neste captulo foram descritos alguns mtodos clssicos de deteco do ndice de
modulao de fase (x) aplicveis a sistemas pticos interferomtricos homdinos e sem
realimentao. Alm disso, uma tcnica espectral de determinao da fase ) (
0
t tambm foi
apresentada. Todos os mtodos so baseados na amplitude das harmnicas da tenso
fotodetectada. Foram realizadas simulaes em computador com modelos idealizados de
rudos 1/f
2
e branco. Os resultados mostraram que as equaes utilizadas nos mtodos, apesar
de exatas, tm pontos de singularidades, que limitam a faixa dinmica dos mtodos, tanto em
relao x, como ) (
0
t . Devido variao aleatria de ) (
0
t , que pode levar as
harmnicas mpares ou pares a apresentarem amplitudes nulas, os clculos so restritos, visto
que todos os mtodos necessitam das amplitudes de ambas. Os rudos aditivos do tipo 1/f
2
ou

126
o rudo branco utilizados nas simulaes, representados por um fator de rudo K, tambm
limitam cada mtodo a um MDPS. Alm disso, o aumento do nvel de rudo responsvel
pelo aparecimento de regies prximas s singularidades onde as SNRs das harmnicas caem
a valores abaixo da unidade, levando a um erro elevado no clculo da fase x [ou de ) (
0
t ].
Um resultado no esperado foi o alto MDPS calculado para o mtodo J
1
...J
6
-neg nas
anlises com rudo branco, mostrando que este mtodo ineficiente em sistemas onde este
tipo de rudo predominante.
Os novos mtodos espectrais que sero propostos no prximo captulo tambm
permitiro o clculo direto de x, e tambm no sero afetados por flutuaes na intensidade da
fonte, visibilidade de franjas e variaes aleatrias da fase ) (
0
t . Objetiva-se com a
concepo das novas tcnicas, eliminar as singularidades, expandir a faixa dinmica,
minimizar a complexidade computacional (sempre que possvel), mantendo-se o arranjo
experimental simples, caracterstico do utilizado nos mtodos clssicos J
1
...J
4
, J
1
...J
6
-neg,
J
1
...J
6
-pos e J
0
...J
2
.
O limite inferior da faixa dinmica de ndices de modulao foi estabelecido como o
MDPS, que interpretado como o mnimo valor estimado de x em que o erro na estimao
atinge 100%, o que no uma boa referncia para se estabelecer um limiar de faixa dinmica.
No entanto manter-se- esta conveno, adotada em [117] e [118] para que os resultados
publicados para os mtodos clssicos possam ser comparados aos que sero obtidos para os
novos mtodos, os quais sero propostos no prximo captulo. Ressalta-se que no
aconselhvel o clculo de x usando os mtodos espectrais estudados, nas vizinhanas do
MDPS, visto ser est uma regio de erros percentuais elevados.

127
CAPTULO 5

NOVOS MTODOS DE ANLISE ESPECTRAL
PARA DEMODULAO DE FASE PTICA

Neste captulo cinco novos mtodos baseados na anlise espectral so propostos,
sendo quatro dedicados ao clculo do ndice de modulao x e o quinto dedicado ao clculo
da fase ) (
0
t . Os novos mtodos de estimao de x foram desenvolvidos utilizando-se
regresses polinomiais para relacionar funes de Bessel de diferentes ordens, dentro de
faixas pr-definidas. Estes so denominados, nesta tese, como J
1
/J
3
A, J
1
...J
3
, J
m
/J
m+2
e J
0
...J
3
.
O ajuste das curvas foi realizado utilizando-se a teoria de mnimos quadrados, aplicada na
forma matricial, de acordo com explanao realizada no Apndice A [171]. A escolha dos
polinmios de ajustamento levou em considerao os problemas de singularidades devido ao
desvanecimento de sinal e ao rudo eletrnico, com o objetivo de aumentar a faixa dinmica
de x e eliminar as regies de singularidades caractersticas dos mtodos espectrais clssicos
analisados no captulo anterior. Testes objetivos foram realizados, calculando-se o erro na
estimao da fase x devido ao ajuste de curvas, o erro quadrtico mdio e o erro na estimao
de x considerando-se rudo 1/f
2
e branco, concomitantemente com variaes da fase ) (
0
t .
Por outro lado, o mtodo proposto para o clculo da fase ) (
0
t baseado em uma equao
exata, e no uso de um algoritmo que permite sua aplicao para uma ampla faixa dinmica de
x, o que possibilita monitorar a influncia das perturbaes ambientes no sistema
interferomtrico, durante as medies experimentais.
5.1 O Mtodo J
1
/J
3
A

O mtodo J
1
...J
4
descrito no captulo anterior requer que a fundamental e as trs
primeiras harmnicas da tenso fotodetectada estejam acima do nvel de rudo de fundo para
que x possa ser corretamente estimado. Para ) (
0
t nas proximidades de 2 / n (n inteiro), os
fatores dependentes desta fase levam as magnitudes das harmnicas pares ou mpares a
valores abaixo dos nveis de rudo, aumentando o erro no clculo de x. Para minimizar este
Novos Mtodos de Anlise Espectral para Demodulao de Fase ptica

128
tipo de restrio, mantendo-se a simplicidade matemtica do mtodo J
1
...J
4
, prope-se o
mtodo aqui denominado J
1
/J
3
A, como descrito a seguir.
Sejam as funes
13
f e
24
f definidas como:

3
1
13
V
V
f = (5.1)
e

4
2
24
V
V
f = , (5.2)
sendo
n
V a harmnica de ordem n da tenso fotodetectada. Substituindo-se (3.27-a) em (5.1)
e (3.27-b) em (5.2), para n = 1 e 2, os termos de intensidade da fonte, visibilidade e os termos
P ou Q [que so funes da fase ) (
0
t ], so cancelados, obtendo-se:

) (
) (
3
1
13
x J
x J
f = (5.3)
e

) (
) (
4
2
24
x J
x J
f = . (5.4)
Observa-se, para a faixa 6 , 3 0 < < x rad, que o fator
24
f pode ser escrito em funo de
13
f ,
aplicando-se uma simples regresso linear, do tipo:

1 13 1 24
b f a f + , (5.5)
Os coeficientes
1
a e
1
b foram determinados pela teoria de mnimos quadrados,
obtendo-se 953 , 1
1
= a e 546 , 1
1
= b .
Utilizando-se (5.1) e (5.2), a equao de recorrncia usada para o mtodo J
1
...J
4
, tal
qual definida em (4.4), pode ser arranjada como:

) 1 )( 1 (
24
13 24
24 2
+ +
=
f f
f
x . (5.6)
Substituindo-se (5.5) em (5.6) e usando-se os valores pr-determinados dos
coeficientes
1
a e
1
b , o ndice de modulao x pode ser estimado como:

) )( 546 , 2 953 , 1 (
104 , 37 872 , 46
) 1 )( 546 , 2 953 , 1 (
104 , 37 872 , 46
'
3 1 3 1
3 1
13 13
13 2
V V V V
V V
f f
f
x
+ +
+
=
+ +
+
= , para 6 , 3 0 < < x rad, (5.7)
que funo somente das duas primeiras harmnicas mpares do espectro.
A equao definida em (5.7) a utilizada no mtodo J
1
/J
3
A. Neste captulo, substitui-
se ) (
1 1
x AFPJ V = e ) (
3 3
x AFPJ V = em (5.7) para calcular o valor estimado ' x a partir do

129
valor esperado x e de P varivel. Nos Captulos 7 e 8,
1
V e
3
V so obtidos do espectro de
magnitude da tenso fotodetectada e substitudos em (5.7) para se obter o valor medido ' ' x , o
qual poder ser comparado com x e ' x .
O erro relativo percentual na estimao de x definido como em (4.34), ou seja:
% 100
| ' |
x
x x
x
r

= . (5.8)
A distribuio de
r
x em funo do ndice de modulao x, calculado para o mtodo
J
1
/J
3
A, mostrada na Fig. 5.1, onde se verifica um erro mximo de 0,05% na faixa
6 , 3 0 < < x rad. Para este intervalo, os conceitos de erro padro e correlao (definidos no
Apndice A) foram aplicados na comparao entre x e ' x , obtendo-se um erro padro igual a
0,6 mrad e um coeficiente de correlao igual a 99,9993%.

Figura 5.1 Erro relativo percentual na estimao de x usando o mtodo J
1
/J
3
A.

Considerando-se o fator K para rudo 1/f
2
,
13
f estimado como:

3 / ) (
) (
'
3
1
13
K x PJ
K x PJ
f
+
+
= (5.9)
e para rudo branco tem-se:

K x PJ
K x PJ
f
+
+
=
) (
) (
'
3
1
13
. (5.10)
A Fig. 5.2 mostra o erro absoluto no clculo de ' x ( x ) usando (5.7), considerando-se
o fator de rudo K, com 2 / 2 = = Q P . As curvas definidas pelos pontos em vermelho
referem-se aos resultados obtidos para o mtodo J
1
...J
4
, levando-se em considerao os
mesmos parmetros de simulao. Os grficos da Fig.5.2-a referem-se aos clculos com rudo

130
1/f
2
e K=0,0011, e, os da Fig. 5.2-b, aos clculos com rudo branco e K=0,0004. Os
resultados mostram que os mtodos J
1
/J
3
A e J
1
...J
4
tm praticamente a mesma faixa dinmica
e o mesmo MDPS.

Figura 5.2 Erro absoluto de fase x em funo do valor esperado x para os mtodos (*) J
1
...J
4
e () J
1
/J
3
A,
considerando o fator de rudo K. (a) Rudo 1/f
2
com K=0,0011. (b) Rudo branco com K=0,0004. A linha
tracejada x utilizada para a identificao do MDPS: o valor de x correspondente a x x = .

Se por um lado a faixa dinmica dos mtodos J
1
...J
4
e J
1
/J
3
A a mesma, ocorre uma
reduo na ocorrncia de singularidades para o novo mtodo em relao ao J
1
...J
4
. Isto pode
ser constatado pela anlise dos resultados das Figs. 5.3-a e 5.3-b, obtidas para rudo 1/f
2
e
branco, respectivamente, onde se tem ' x em funo de ) (
0
t , para os dois mtodos, para o
valor esperado 1 = x rad. Os erros causados pelas singularidades presentes em 2 / ) (
0
= t
rad e 2 / 3 ) (
0
= t rad, para o mtodo J
1
...J
4
, no existem nos resultados obtidos pelo clculo
usando o novo J
1
/J
3
A. As simulaes realizadas para os mtodos J
1
/J
3
A e J
1
...J
4
, mantendo-
se x = 1 rad e variando-se ) (
0
t , mostram que, assumindo desvanecimento aleatrio de sinal
devido ) (
0
t , a probabilidade de erro pela aplicao do novo mtodo menor, devida
eliminao de singularidades, nos pontos em que 2 / ) 1 2 ( ) (
0
= n t rad, ,... 3 , 2 , 1 = n , que
se deve ao fato das harmnicas pares terem sido eliminadas do clculo de x pelo emprego do
novo mtodo.

131

Figura 5.3 ndice de modulao de fase estimado ' x em funo da fase ) (
0
t para o valor esperado x=1
rad, pela aplicao dos mtodos (*) J
1
...J
4
e () J
1
/J
3
A, considerando o fator de rudo K. (a) Rudo 1/f
2
com
K=0,0011. (b) Rudo branco com K=0,0004.

O erro relativo percentual no clculo usando o mtodo J
1
/J
3
A em funo de ) (
0
t e de
x, numa faixa at 4 rad, considerando rudo branco com K=0,0004, pode ser verificada na Fig.
5.4 (resultado similar foi obtido para rudo 1/f
2
com K=0,0011). Comparando-se este
resultado com o da Fig. 4.4 (elaborada para o mtodo J
1
...J
4
) verificar-se- o desaparecimento
das linhas de singularidades em 2 / ) (
0
= t rad e 2 / 3 ) (
0
= t rad, para o novo mtodo.
As vantagens do mtodo J
1
/J
3
A em relao ao clssico J
1
...J
4
incluem: reduo em
50% no nmero de harmnicas usadas no clculo, reduo da ordem harmnica (da quarta
para a terceira), simplicidade matemtica, mantm-se praticamente a mesma faixa dinmica
(somente a magnitude das harmnicas est sendo considerada), simplicidade de
implementao, e reduo em 50% nos pontos de singularidades devido ao desvanecimento
de sinal resultante da variao aleatria de ) (
0
t . Alm disso, a obteno das duas
harmnicas (
1
V e
3
V ) pode ser realizada atravs de algoritmos alternativos, como o de
Goertzel, ao invs do clculo da FFT [170], o que reduz significativamente o esforo
computacional nos clculos pelo emprego do novo mtodo. Este assunto ser discutido no
Captulo 6. Entretanto, ainda permanece o problema das singularidades em torno de
n t = ) (
0
rad.

132

r
0
t e do ndice de modulao de fase
esperado x, para o mtodo J
1
/J
3
A, considerando rudo branco com K=0,0004.

O mtodo denominado J
1
/J
3
A foi o primeiro concebido durante o desenvolvimento da
tese. Verificar-se- mais adiante, na seo 5.4, que esta tcnica poder ser considerada um
caso particular do mtodo J
m
/J
m+2
, na condio 1 = m . No entanto, a descrio realizada at
aqui pedaggica para o entendimento do processo de desenvolvimento adotado na
concepo dos novos mtodos, visando eliminar as limitaes dos mtodos de demodulao
de fase clssicos, apresentados no Captulo 4. O mtodo proposto na seo seguinte, aqui
denominado J
1
...J
3
[172], [173] tambm utiliza somente as harmnicas V
1
e V
3
do sinal
fotodetectado para a demodulao de x, com a vantagem da expanso da faixa dinmica,
como ser visto no desenvolvimento seguinte.

5.2 O Mtodo J
1
...J
3

A escolha de um novo par de funes de Bessel usadas na regresso por mnimos
quadrados permite expandir a faixa dinmica a at 5,1 rad, a qual equivalente a do mtodo
J
1
...J
4
Modificado. O novo par de funes definido como:

3 1
3 1
13
93 , 1 V V
V V
g
+

= (5.11)

133
e

4 2
2
24
V V
V
g
+
= . (5.12)
Substituindo-se (3.27-a) em (5.11) e (3.27-b) em (5.12), para n = 1, 2, os termos de
intensidade da fonte, visibilidade e aqueles associados deriva da fase ) (
0
t so cancelados,
obtendo-se:

) ( 93 , 1 ) (
) ( ) (
3 1
3 1
13
x J x J
x J x J
g
+

= (5.13)
e

) ( ) (
) (
4 2
2
24
x J x J
x J
g
+
= . (5.14)
Para se escrever
24
g em funo de
13
g usando uma regresso por mnimos quadrados,
com alto coeficiente de correlao e pequeno erro, a ordem polinomial foi aumentada para 6
(seis), obtendo-se:

6
0
13 24
) (
n
n
n
g c g , (5.15)
vlida para a faixa 0 < x < 5,1 rad. Os coeficientes
n
c ( 6 0 n ), determinados pela teoria de
mnimos quadrados, considerando-se
13
g e
24
g dados, respectivamente, por (5.13) e (5.14),
so:
1
0
10 7743 , 7

= c ,
1
1
10 8388 , 2

= c ,
2
2
10 9985 , 6

= c ,
3
3
10 1655 , 4

= c ,
3
4
10 7934 , 8

= c ,
3
5
10 0286 , 3

= c e
3
6
10 3113 , 1

= c .
Substituindo-se (5.15) em (4.4), com
13
g dado em (5.11), chega-se a:

= =

+

+
=
+
=
6
0 3 1
3 1
3 1
3
6
0
13
3 1
3 2
93 , 1
24 ) ( 24 '
n
n
n
n
n
n
V V
V V
c
V V
V
g c
V V
V
x , para 1 , 5 0 < < x rad. (5.16)
O erro relativo
r
x pelo clculo de x usando (5.16) inferior a 0,02% para 1 , 5 0 < < x
rad. Para este intervalo, o erro padro na estimao e o coeficiente de correlao entre x e ' x
so iguais a 0,33 mrad e 99,9985%, respectivamente.
A fim de expandir a faixa dinmica, tornando-a equivalente do mtodo J
1
...J
6
-pos,
porm, utilizando-se somente V
1
e V
3
no clculo de x, prope-se uma segunda aproximao
polinomial, tambm de 6 ordem, vlida para uma faixa superior de x, dada por:

= =

= =
6
0 1
3
6
0
31
) ( '
n
n
n
n
n
n
V
V
d f d x , para 21 , 6 65 , 4 < < x rad, (5.17)

134
sendo
13 31
/ 1 f f = e
13
f definida como em (5.1). Para um erro padro de 0,246 mrad e coeficiente
de correlao de 99,9979%, os coeficientes, calculados usando a teoria de mnimos
quadrados, so: 6,4723690
0
= d , 1,7296828
1
= d , 4,5248747
2
= d , 11,6107044
3
= d ,
12,1797841
4
= d , 5,7124918
5
= d e 1,0113242
6
= d . Para a determinao destes coeficientes,
considera-se ) ( / ) (
1 3 31
x J x J f = em (5.17).
A escolha entre a aplicao de (5.16) ou de (5.17) para a estimativa de x baseada no
valor de
13
f , sendo 78 , 0 ) 83 , 4 (
13
= f o limiar de deciso (LD) adotado, como indicado na
Fig. 5.5. Assim, se 78 , 0
13
f , utiliza-se (5.16), e, se 78 , 0
13
< f , utiliza-se (5.17).
Como foi visto, para valores de x acima de 3,83 rad, ) (
1
x J torna-se negativo. As
amplitudes das harmnicas (V
1
e V
3
) podem ser determinadas usando a tcnica proposta para o
mtodo J
1
...J
4
Modificado (conforme foi descrito na seo 4.7), o qual leva em conta os sinais
algbricos das componentes. A funo ) (
3
x J positiva na faixa 21 , 6 0 < < x rad. No entanto
V
3
tambm pode assumir valores negativos devido ao termo ) (
0
t sen P = variar
aleatoriamente. Assim, calculando-se corretamente o sinal algbrico de ambas, V
1
e V
3
, a
influncia deste sinal devido ao termo P cancelada no numerador e denominador de (5.16) e
(5.17), o que viabiliza a estimao de x pelo uso destas equaes.

Figura 5.5 Funo
13
f e indicao do limiar de deciso em 78 , 0 ) 83 , 4 (
13
= rad f .

Em resumo, prope-se o fluxograma do mtodo J
1
...J
3
, mostrado na Fig. 5.6. Pela
aplicao deste algoritmo, o erro relativo percentual na estimao de x em funo do valor

135
esperado de x, distribudo como na Fig. 5.7. O erro padro da estimativa de 0,163 mrad e
o coeficiente de correlao igual a 99,9997%, para 21 , 6 01 , 0 < < x rad.

Figura 5.6 Fluxograma de clculo de x pelo mtodo J
1
...J
3
.

Figura 5.7 - Erro relativo percentual na estimao de x pelo mtodo J
1
...J
3
.

Considerando rudo 1/f
2
, os termos
13
g e
31
f so estimados, respectivamente, como:

] 3 / 93 , 1 ) ( 93 , 1 [ ] ) ( [
] 3 / ) ( [ ] ) ( [
'
3 1
3 1
13
K x PJ K x PJ
K x PJ K x PJ
g
+ + +
+ +
= , (5.18-a)

K x PJ
K x PJ
f
+
+
=
) (
3 / ) (
'
1
3
31
, (5.18-b)
=
6
0
1
3
'
n
n
n
V
V
d x

=

+

+
=
6
0
3 1
3 1
3 1
3 2
93 , 1
24 '
n
n
n
V V
V V
c
V V
V
x

n n
d c V V , , ,
3 1

78 , 0 ) / (
3 1
V V
sim
no
Fim

136
e para rudo branco, tem-se:

] 93 , 1 ) ( 93 , 1 [ ] ) ( [
] ) ( [ ] ) ( [
'
3 1
3 1
13
K x PJ K x PJ
K x PJ K x PJ
g
+ + +
+ +
= , (5.19-a)

K x PJ
K x PJ
f
+
+
=
) (
) (
'
1
3
31
. (5.19-b)
O valor de ' x , calculado pelo mtodo J
1
...J
3
, para rudo 1/f
2
, passa a ser:

<
<
+ + +
+
=

=
=
rad x f d
rad x g c
K x PJ K x PJ
K x PJ
x
n
n
n
n
n
n
2 , 6 83 , 4 , ) ' (
83 , 4 0 , ) ' (
] 3 / ) ( [ ] ) ( [
3 / ) (
24
'
6
0
31
6
0
13
3 1
3
2
, (5.20)
em que '
13
g e '
31
f so obtidos de (5.18). Considerando rudo branco, tem-se:

<
<
+ + +
+
=

=
=
rad x f d
rad x g c
K x PJ K x PJ
K x PJ
x
n
n
n
n
n
n
2 , 6 83 , 4 , ) ' (
83 , 4 0 , ) ' (
] ) ( [ ] ) ( [
) (
24
'
6
0
31
6
0
13
3 1
3
2
, (5.21)
sendo que '
13
g e '
31
f so obtidos de (5.19).
A Fig. 5.8, obtida para Q P = [isto , para 4 / ) (
0
= t rad], mostra o erro de fase
' x x x = em funo do ndice de modulao esperado x, para os mtodos J
1
...J
3
e J
1
...J
4

Modificado, considerando rudos 1/f
2
e branco. O aumento na faixa dinmica de
aproximadamente 22% pelo uso do novo mtodo. Ressalta-se, entretanto, que se por um lado, no
mtodo J
1
...J
3
, a faixa dinmica foi aumentada no seu limite superior, por outro lado, no se
conseguiu reduzir o MDPS, que tambm ficou prximo de 200 mrad. A linha tracejada x
desenhada nos grficos utilizada para a identificao do MDPS: o valor de x correspondente a
x x = .
A Fig. 5.9, que mostra o resultado do clculo de ' x usando os mtodos J
1
...J
6
-pos e
J
1
...J
3
, para um valor esperado 8 , 5 = x rad, evidencia a eliminao das singularidades em
mltiplos de 2 / rad e um menor erro global na estimao da fase, tanto na Fig. 5.9-a, onde
se considerou rudo 1/f
2
, como na Fig. 5.9-b, obtida para rudo branco.

137

Figura 5.8 Erro de fase x em funo de x para os mtodos (*) J
1
...J
4
Modificado e () J
1
...J
3
, considerando o
fator de rudo K. (a) Rudo 1/f
2
com K=0,0011. (b) Rudo branco com K=0,0004.

Figura 5.9 - ndice de modulao de fase ' x em funo da fase ) (
0
t para o valor esperado 8 , 5 = x rad,
calculado usando os mtodos (*) J
1
...J
6
-pos e () J
1
...J
3
2
com
K=0,0011. (b) Rudo branco com K=0,0004.

A distribuio do erro relativo percentual (5.8) com a variao de x e de ) (
0
t
mostrada na Fig. 5.10, obtida para rudo branco com K=0,0004 rad (um resultado similar foi

138
obtido para rudo 1/f
2
com K=0,0011). Comparando-se este resultado com o da Fig. 4.10,
observa-se praticamente a mesma faixa dinmica de fase ( 1 , 6 0 < < x rad) para os mtodos
J
1
...J
3
e J
1
...J
6
-pos, com a vantagem da eliminao de erros nas proximidades de
2 / ) 1 2 ( ) (
0
= n t rad (n inteiro), para o novo mtodo. Na comparao do resultado
mostrado na Fig. 5.10, com o apresentado para o mtodo J
1
...J
6
-neg, na Fig. 4.9, observou-se
uma menor faixa dinmica para o mtodo J
1
...J
6
-neg, porm com um MDPS menor para rudo
1/f
2
(Fig. 4.9-a). Para rudo branco, os resultados mostraram uma resposta inferior para o
mtodo J
1
...J
6
-neg em relao ao novo J
1
...J
3
, pois alm do erro ser maior em baixos ndices,
ocorrem duas vezes mais linhas de singularidades na faixa 2 ) ( 0
0
t rad.

r
0
t e do ndice de modulao de
fase esperado x, para o mtodo J
1
...J
3
, considerando rudo branco com K=0,0004.

Outra vantagem deste mtodo em relao ao mtodo J
1
...J
6
-pos o nmero reduzido
de harmnicas utilizadas no clculo de x, o que reduz o nmero de operaes algbricas se o
algoritmo de Goertzel for aplicado para este fim ao invs de uma FFT convencional. Alm
disso, a ordem das harmnicas utilizada no mtodo J
1
...J
3
reduzida em 50%, limitando-se
3f
s
ao invs de 6f
s
(
s
f a freqncia da componente fundamental).

139
5.3 O Mtodo J
m
/J
m+2

Com a concepo do mtodo J
1
...J
3
, reduziu-se a probabilidade de ocorrncia de
singularidades nos clculos, devido variao aleatria da fase ) (
0
t . No entanto, o problema
no foi resolvido para a condio n rad ( n inteiro), em que os erros pela aplicao do mtodo
J
1
...J
3
so intolerveis na estimao da fase ptica x. Torna-se evidente que h vantagens em
relao aos mtodos J
1
...J
4
, J
1
...J
6
-neg e J
1
...J
6
-pos, porm, com relao faixa dinmica,
nenhum avano significativo ainda foi alcanado. Outro problema est relacionado com a
correo dos sinais algbricos das harmnicas pelo mtodo J
1
...J
4
Modificado, exigindo
clculos extras e a necessidade de separao das partes real e imaginria dos coeficientes da
FFT para a determinao das harmnicas, como mostrou o desenvolvimento realizado na seo
4.2. Isto impossibilita a identificao das harmnicas a partir do espectro de magnitudes do
sinal fotodetectado para medies de ndices de modulao superiores a x = 3,83 rad [ ) (
1
x J
torna-se negativo].
Pretende-se, nesta seo, introduzir um novo mtodo de demodulao de fase ptica,
que supere as limitaes de faixa dinmica e problemas decorrentes do desvanecimento de
sinal, associados aos mtodos espectrais clssicos e tambm aos novos mtodos J
1
/J
3
A e
J
1
...J
3
. Este mtodo, denominado
2
/
+ m m
J J nesta tese, permite demodular sinais com ndice
de modulao de at 100 rad e no sofre influncias do desvanecimento de sinal devido fase
aleatria ) (
0
t .
No novo mtodo
2
/
+ m m
J J , primeiramente define-se as funes
m
g e
m
h como razes
entre as componentes harmnicas do sinal fotodetectado (3.22), dadas por:

3
1
+
+
=
m
m
m
V
V
g , (5.22-a)

2 +
=
m
m
m
V
V
h , (5.22-b)
sendo ... , 3 , 2 , 1 = m As harmnicas mpares, obtidas de (3.27-a), so =
1 2n
V ) (
1 2
x AFPJ
n
,
enquanto as pares, obtidas de (3.27-b), so ) (
2 2
x AFQJ V
n n
= , sendo ... , 3 , 2 , 1 = n Em (5.22-
a) ou (5.22-b) somente harmnicas pares ou mpares, respectivamente, estaro presentes e,
portanto, para qualquer valor de m , os termos associados a intensidade ptica da fonte,
visibilidade de franjas e desvanecimento de sinal so fatores comuns ao numerador e
denominador e se cancelam, resultando em:

140

) (
) (
3
1
x J
x J
g
m
m
m
+
+
= , (5.23-a)

) (
) (
2
x J
x J
h
m
m
m
+
= . (5.23-b)
Uma vez definido
m
g e
m
h como em (5.23), a relao de recorrncia definida em
(4.3), pode ser escrita como:

) 1 )( 1 (
) 2 )( 1 ( 4
2
+ +
+ + =
m m
m
h g
g
m m x . (5.24)
O que se prope , usando a teoria de mnimos quadrados, escrever
m
g como uma
aproximao linear de
m
h , da forma:

m m m m
b h a g + , para
mx mn
x x x < < (5.25)
vlida somente para uma faixa especfica de valores de x (
mx mn
x x x < < ), sendo cada par de
coeficientes
m
a e
m
b ( ,... 3 , 2 , 1 = m ) determinados para uma faixa de x, considerando uma
regresso linear a ser realizada para cada valor de m. Assim, substituindo-se (5.25) em (5.24), o
ndice de modulao x pode ser estimado, como uma aproximao, em funo somente de
m
h ,
obtendo-se:

) 1 )( 1 (
) 2 )( 1 ( 4 '
2
+ + +
+
+ + =
m m m m
m m m
b h a h
b h a
m m x . (5.26)
Substituindo-se (5.22-b) em (5.26), o valor de x pode ser estimado diretamente a partir
das harmnicas
m
V e
2 + m
V , como:

] ) 1 ( )[ (
) (
) 2 )( 1 ( 4 '
2 2
2 2
2
+ +
+ +
+ + +
+
+ + =
m m m m m m
m m m m m
V b V a V V
V V b V a
m m x , (5.27)
que a frmula utilizada pelo novo mtodo
2
/
+ m m
J J . Cada valor de m em (5.27),
corresponde a uma faixa de valores de x a serem estimados corretamente. Substituindo-se
(3.27-a), para m mpar, ou (3.27-b), para m par, em (5.27), obtm-se:

)] ( ) 1 ( ) ( )][ ( ) ( [
)] ( ) ( [
) 2 )( 1 ( 4 '
2 2
2 2
2
x J b x J a x J x J
J x J b x J a
m m x
m m m m m m
m m m m m
+ +
+ +
+ + +
+
+ + = . (5.28)
Fazendo-se m = 1 em (5.27) tem-se um caso particular: o mtodo J
1
/J
3
A, descrito na
seo 5.1, onde se obteve 953 , 1
1
= a e 546 , 1
1
= b , 01 , 0 =
mn
x rad e 6 , 3 =
mx
x rad. A
determinao destes parmetros para outros valores de m ser explicada nas sees seguintes.
Primeiramente, na seo 5.3.1 procurar-se- uma maneira automatizada de identificao de m

141
a partir do espectro de magnitude do sinal fotodetectado e de associao deste coeficiente
sua respectiva faixa tima para estimao de x . Em seguida, na seo 5.3.2, definir-se-,
para cada faixa dinmica de x estabelecida (na seo 5.3.1), os coeficientes
m
a e
m
b que
possibilitam estimar corretamente o valor de x, dentro desta faixa tima de x pr-estabelecida.

5.3.1 Identificao de m a partir do Espectro Fotodetectado e
associao de cada valor de m a uma respectiva faixa tima para a
estimao de x

Procede-se nesta seo a uma anlise terica, na qual o comportamento do espectro de
magnitude, considerando at a centsima ordem harmnica, estudado, para o caso sem rudo
e x variando de zero a 101,4 rad, em incrementos de 0,1 rad. Para cada valor de x (0, 0,1,
0,2, ..., 101,3, 101,4 rad), os mdulos das harmnicas so identificados no espectro, at a
centsima ordem, e normalizados (em relao ao mdulo da componente de maior magnitude,
mx m
V | | ). Baseando-se nesta anlise, desenvolveu-se um algoritmo de identificao de m, de
simples implementao e que ser explanado a seguir, atravs do estudo de trs situaes
particulares, extradas da anlise espectral realizada.
Primeiramente considera-se o caso 2 / 2 = = Q P (P0, Q0) em (3.25), quando
todas as harmnicas mpares e pares esto presentes no espectro; em seguida, o caso em que
0 = P em (3.25), ou seja, as componentes de ordem mpar so nulas; e, numa terceira anlise,
a condio 0 = Q , anulando-se assim, as componentes de ordem par em (3.25). As duas
ltimas situaes correspondem a simulaes de casos extremos, quando harmnicas mpares
ou pares se anulam, tornando os mtodos clssicos de anlise espectrais no realizveis.
Portanto 3042 espectros de magnitude do sinal so considerados
( 3042 3 1 , 0 / 4 , 101 = rad rad espectros observados). Baseando-se em todos estes espectros,
um limiar de deciso de 0,85 convenientemente escolhido, de forma emprica
(considerando-se que a mxima magnitude passvel de ocorrer no espectro normalizado
unitria). O limiar adotado permitir que as harmnicas mais significativas sejam usadas no
clculo de
'
x atravs de (5.27). Esta escolha tambm permitir estabelecer uma faixa tima de
x (faixa dinmica) que ser adequada determinao dos coeficientes
m
a e
m
b usados em
(5.27), com erro muito pequeno, como ser visto na prxima seo. Para ilustrar esta idia, a
Fig. 5.11 mostra os mdulos das harmnicas normalizados, obtidos para as trs situaes:

142
2 / 2 = = Q P (P0, Q0), 0 = P e 0 = Q , considerando-se tambm trs valores de ndices
de modulao de fase: em (a), para 10 = x rad, em (b), para 50 = x rad, e em (c) 80 = x rad,
onde o limiar de deciso de 0,85 est especificado nos grficos.

Figura 5.11 Magnitude das harmnicas normalizadas (
mx m m
V V | | / | | ) em funo da ordem harmnica
m, para: P=Q= 2 / 2 (harmnicas mpares e pares presentes), * P=0 (harmnicas mpares nulas) e
Q=0 (harmnicas pares nulas). (a) 10 = x rad. (b) 50 = x rad. (c) 80 = x rad.

Considerando-se todos os 3042 espectros observados ( 4 , 101 1 , 0 < < x rad), a cada valor
de x analisado (para as trs condies estabelecidas para P e Q), um valor de m foi identificado
no espectro, o qual corresponde ordem da primeira harmnica normalizada de magnitude
maior que 0,85, observada, contando-se a partir da ltima harmnica do espectro. Nos
exemplos retratados nas Fig. 5.11-a, 5.11-b ou 5.11-c, a identificao de m realizada
iniciando-se em 100 = m , comparando-se as magnitudes normalizadas de ordem imediatamente
inferior, at que o valor de m correspondente primeira harmnica de magnitude maior que 0,85
seja identificada. As setas nas figuras indicam o sentido desta contagem, realizada nos espectros
de magnitude (normalizados) do sinal fotodetectado. A regio de interesse, em que o valor de m
estabelecido, tambm est destacada nos grficos, por um retngulo tracejado. Os valores
encontrados para os exemplos da Fig. 5.11, so: em (a), = m 8 para P=0 e = m 9 para Q=0 ou

143
P=Q (P0, Q0), sendo 10 = x rad; em (b) = m 47 para Q=0 e = m 48 para P=0 ou P=Q (P0,
Q0), sendo 50 = x rad; e, em (c) = m 77 para Q=0 e = m 78 para P=0 ou P=Q (P0, Q0),
sendo 80 = x rad.
Baseando-se numa anlise detalhada dos 3042 espectros observados, possvel associar,
a cada valor de m identificado no espectro (de acordo com as regras estabelecidas no pargrafo
anterior), uma faixa especfica de x. Na anlise realizada para 98 1 < < m , as faixas de x
associadas aos valores de m , identificados nos espectros, esto registradas na segunda coluna
da Tab. 5.1. Logo em seguida, na terceira coluna, faixas expandidas foram estabelecidas para
os valores de m, as quais representam as faixas timas de x (faixas dinmicas)
mx mn
x x x < < a
serem empregadas nas aproximaes lineares usando a teoria de mnimos quadrados, que
permitiro definir os coeficientes
m
a e
m
b em (5.27), para o clculo de
'
x .
As faixas expandidas (faixas dinmicas) da Tab. 5.1 no foram definidas
aleatoriamente. Pelo contrrio, o critrio estabelecido que o erro relativo percentual
% 100 / | ' | x x x na estimao de x, considerando cada uma destas faixas dinmicas (faixas
expandidas) dever ser limitado a 0,5%. A expanso na faixa foi adotada para evitar erros
devido a uma possvel influncia do nvel de rudo eletrnico na escolha do limiar de deciso
e tambm devido a outras condies ainda no consideradas at aqui, com relao s
variaes de P e Q. Simulaes para 2 ) ( 0
0
t rad [observa-se que ) (
0
t sen P = e
) ( cos
0
t Q = ] sero realizadas na seo 5.3.3.
Na definio das faixas dinmicas da Tab. 5.1 teve-se tambm o cuidado de assegurar
que as funes de Bessel ) (x J
m
e ) (
2
x J
m+
[usadas na estimao de x, em (5.28)] fossem
sempre positivas. Isto possibilita utilizar somente a magnitude (mdulo) das harmnicas em
(5.27), evitando correes dos sinais algbricos das amplitudes das harmnicas, como proposto
em [114], para o mtodo clssico J
1
...J
4
Modificado.
Verifica-se na Tab. 5.1 que, para 98 = m , medies de at 104,3 rad podem ser
realizadas. Por segurana, estabelece-se o limite de 102 rad, para 98 = m .
Os valores correspondentes a 8 = m e 9, 47 = m e 48, 77 = m e 78 esto
destacados (com fundo cinza) na Tabela 5.1. Estes correspondem aos ndices m a serem
aplicados em (5.27), a fim de se medir 10 = x rad, 50 = x rad e 80 = x rad, respectivamente.
Verifica-se que, as faixas expandidas (dinmicas) da Tab. 5.1 envolvidas contm os
valores especficos de x para os ndices m selecionados. Por exemplos, para 8 = m , tem-se

144
Tabela. 5.1 Faixas de x associadas a cada valor de m (considerando um limiar de 0,85) e faixa expandida
de x usada na determinao dos coeficientes
m
a e
m
b .
m
Faixa de x
(rad)
associada a m
e identificada
nos espectros
Faixa
expandida
de x (faixa
dinmica)
(rad)
m
Faixa de x
(rad)
associada a m
e identificada
nos espectros
Faixa
expandida
de x (faixa
dinmica)
(rad)
m
Faixa de x
(rad)
associada a m
e identificada
nos espectros
Faixa
expandida
de x (faixa
dinmica)
(rad)
1 0,1-2,9 0,01-3,6 34 35,1-37,0 33,7-38,6 67 68,4-70,3 66,2-72,6
2 0,1-4,0 0,05-4,3 35 36,1-38,0 34,6-39,6 68 69,4-71,3 67,1-73,6
3 3,0-5,2 2,3-5,6 36 37,1-38,9 35,5-40,6 69 70,4-72,3 68,3-74,7
4 4,1-6,2 3,1-6,8 37 38,1-40,0 36,3-41,6 70 71,4-73,3 68,9-75,6
5 5,3-7,3 4,6-7,9 38 39,1-41,1 37,5-42,7 71 72,4-74,3 70,0-76,7
6 6,3-8,3 5,6-9,0 39 40,1-42,1 38,4-43,7 72 73,3-75,3 71,0-77,7
7 7,4-9,4 6,7-10,1 40 41,2-43,1 39,6-44,8 73 74,4-76,3 72,0-78,7
8 8,4-10,4 7,5-11,1 41 42,2-44,1 40,5-45,8 74 75,4-77,3 72,9-79,7
9 9,5-11,5 8,7-12,2 42 43,2-45,1 41,7-46,9 75 76,4-78,3 74,1-80,8
10 10,5-12,5 9,8-13,3 43 44,2-46,1 42,3-47,8 76 77,4-79,4 75,0-81,8
11 11,6-13,5 10,7-14,4 44 45,2-47,1 43,3-48,9 77 78,4-80,4 76,0-82,8
12 12,6-14,6 11,9-15,5 45 46,2-48,1 44,3-49,9 78 79,5-81,4 77,2-83,9
13 13,6-15,6 12,6-16,5 46 47,2-49,1 45,6-51,0 79 80,5-82,4 78,2-84,9
14 14,7-16,6 13,7-17,6 47 48,2-50,0 46,3-52,0 80 81,5-83,4 79,0-85,9
15 15,7-17,7 14,7-18,6 48 49,2-51,2 47,2-53,0 81 82,5-84,4 79,8-86,9
16 16,7-18,7 15,8-19,7 49 50,2-52,2 48,4-54,1 82 83,5-85,4 80,7-87,9
17 17,8-19,7 16,6-20,7 50 51,3-53,2 49,3-55,1 83 84,5-86,4 81,6-88,9
18 18,8-20,7 17,5-21,8 51 52,3-54,2 50,3-56,1 84 85,5-87,4 82,8-90,0
19 19,8-21,8 18,7-22,9 52 53,3-55,2 51,2-57,1 85 86,5-88,4 83,8-91,0
20 20,8-22,8 19,6-23,9 53 54,3-56,2 52,3-58,2 86 87,5-89,4 84,7-92,0
21 21,9-23,8 20,7-25,0 54 55,3-57,2 53,3-59,2 87 88,5-90,4 85,7-93,0
22 22,9-24,8 21,5-26,0 55 56,3-58,2 54,2-60,2 88 89,5-91,4 86,8-94,1
23 23,9-25,8 22,7-27,1 56 57,2-59,2 55,3-61,3 89 90,5-92,4 87,6-95,1
24 24,9-26,9 23,5-28,1 57 58,3-60,2 56,3-62,3 90 91,5-93,4 88,6-96,1
25 25,9-27,9 24,4-29,1 58 59,3-61,2 57,1-63,3 91 92,5-94,4 89,6-97,1
26 27,0-28,9 25,6-30,2 59 60,3-62,2 58,0-64,3 92 93,5-95,4 90,8-98,2
27 28,0-29,9 26,7-31,3 60 61,3-63,3 59,2-65,4 93 94,5-96,4 91,7-99,2
28 29,0-30,9 27,7-32,3 61 62,3-64,3 60,2-66,4 94 95,5-97,4 92,7-100,2
29 30,0-31,9 28,5-33,3 62 63,4-65,3 61,1-67,4 95 96,5-98,4 93,6-101,2
30 31,0-32,9 29,6-34,4 63 64,4-66,3 62,3-68,5 96 97,5-99,4 94,6-102,2
31 32,0-34,0 30,5-35,4 64 65,4-67,3 63,3-69,5 97 98,5-100,4 95,7-103,3
32 33,0-35,0 31,4-36,4 65 66,4-68,3 64,1-70,5 98 99,5-101,4 96,7-104,3
33 34,1-36,0 32,5-37,5 66 67,4-69,3 65,3-71,6


145
1 , 11 5 , 7 < < x rad e para 9 = m , tem-se 2 , 12 7 , 8 < < x rad. O valor 10 = x rad pertence s
faixas associadas 8 = m e 9 = m , o que indica uma correta identificao de m para este
valor especfico de x. No segundo exemplo, para 47 = m , tem-se 0 , 52 3 , 46 < < x rad e para
48 = m , 0 , 53 2 , 47 < < x rad. O valor 50 = x rad tambm pertence s faixas associadas
47 = m e 48 = m , e a identificao de m pelo critrio adotado, possibilita estimar x
corretamente, tambm neste caso. Uma anlise similar pode ser realizada para 77 = m e
78 = m , no caso de 80 = x rad, e assim por diante.
Destaca-se novamente que as faixas dinmicas apresentadas na Tab. 5.1, foram
estabelecidas considerando-se as condies mais severas, quando harmnicas mpares ou pares
se anulam devido fase 2 / ) (
0
n t = rad. A inteno foi a de simular condies crticas com
relao ao desvanecimento de sinal devido deriva da fase ) (
0
t , tornando robusto o mtodo
J
m
/J
m+2
.
Definida a metodologia de identificao do valor do ndice m a ser usado em (5.27) de
acordo com o valor de x, e dos fatores P e Q, falta determinar os valores das constantes
m
a e
m
b , associadas m, que resultaro no mnimo erro quadrtico, respeitando-se as faixas
dinmicas estabelecidas na Tab. 5.1.

5.3.2 Determinao dos Coeficientes a
m
e b
m

Os coeficientes
m
a e
m
b so determinados objetivando-se minimizar o erro quadrtico
entre o valor estimado ' x em (5.28) e o valor esperado x do ndice de modulao de fase. Cada par
de coeficientes calculado considerando-se a faixa expandida (faixa dinmica) de valores de
x definida na Tab. 5.1, de forma que o erro seja mnimo na estimao de x por (5.28). Os
valores de
m
a e
m
b , determinados usando a teoria de mnimos quadrados, para 98 1 < < m ,
esto registrados na Tabela 5.2. O mximo erro percentual de fase (
r
x mximo) cometido
nas aproximaes lineares, considerando todas as faixas aumentadas de x, menor do que
0,5%. A determinao das constantes
m
a e
m
b , usando as faixas expandidas da Tab. 5.1,
proporciona uma margem de segurana para a estimao de x em situaes prticas.


146
Tabela 5.2 Coeficientes
m
a e
m
b determinados usando a teoria de mnimos quadrados, para as
respectivas faixas dinmicas estabelecidas (faixas expandidas na Tab. 5.1), associadas aos valores especficos
de m.
m
Faixa
dinmica
de x (rad)
(expandida)
m
a
m
b m
Faixa
dinmica
de x (rad)
(expandida)
m
a
m
b
1 0,01-3,6 1,953 1,546 50 49,3-55,1 0,96629283369292 0,25719564448417
2 0,05-4,3 1,66666144201355 1,03555492389001 51 50,3-56,1 0,96573187957682 0,25461910685404
3 2,3-5,6 1,49041362153567 0,89197064124508 52 51,2-57,1 0,96608809214359 0,25106658170977
4 3,1-6,8 1,38750322527019 0,76822019255719 53 52,3-58,2 0,96308072043272 0,25221528592083
5 4,6-7,9 1,30983972306823 0,70423038354397 54 53,3-59,2 0,96261327240164 0,24982491169013
6 5,6-9,0 1,25789961026260 0,64420376570655 55 54,2-60,2 0,96304674748832 0,24647196293659
7 6,7-10,1 1,21690259200130 0,60054178744303 56 55,3-61,3 0,96013202079070 0,24773831860236
8 7,5-11,1 1,18948629974913 0,55551124942154 57 56,3-62,3 0,95974397535352 0,24550920293337
9 8,7-12,2 1,16141427465436 0,53026858053956 58 57,1-63,3 0,96109832096816 0,24133057497878
10 9,8-13,3 1,13880897960425 0,50772916288788 59 58,0-64,3 0,96155809235382 0,23826056950371
11 10,7-14,4 1,12212910770575 0,48483867539398 60 59,2-65,4 0,95795538644941 0,24061011641387
12 11,9-15,5 1,10520187955831 0,46910565611868 61 60,2-66,4 0,95764011018340 0,23858582351029
13 12,6-16,5 1,09588112371921 0,44623987409799 62 61,1-67,4 0,95817619952166 0,23564177714809
14 13,7-17,6 1,08260559180691 0,43484694542466 63 62,3-68,5 0,95460813278855 0,23807927032096
15 14,7-18,6 1,07354933490630 0,41965241698817 64 63,3-69,5 0,95435815672561 0,23616386156810
16 15,8-19,7 1,06264389724710 0,41115150967577 65 64,1-70,5 0,95579237924301 0,23237564911974
17 16,6-20,7 1,05809593435593 0,39510490616480 66 65,3-71,6 0,95228489665266 0,23487246473792
18 17,5-21,8 1,05134783552778 0,38533020720085 67 66,2-72,6 0,95292800099694 0,23210450452938
19 18,7-22,9 1,04158359238415 0,38140985119964 68 67,1-73,6 0,95355067530965 0,22940540129314
20 19,6-23,9 1,03772758378427 0,36991921205162 69 68,3-74,7 0,95009488689364 0,23195503884921
21 20,7-25,0 1,03022869828057 0,36565523856877 70 68,9-75,6 0,95473861885252 0,22420368022440
22 21,5-26,0 1,02842448760466 0,35397899877475 71 70,0-76,7 0,95223605487781 0,22578497664236
23 22,7-27,1 1,02057590756085 0,35227763908993 72 71,0-77,7 0,95206965516464 0,22416595129519
24 23,5-28,1 1,01943897878405 0,34172625911019 73 72,0-78,7 0,95191017937766 0,22258280249186
25 24,4-29,1 1,01731742626877 0,33326526786143 74 72,9-79,7 0,95252843339748 0,22014996221328
26 25,6-30,2 1,01049733073511 0,33258591234802 75 74,1-80,8 0,94929683717833 0,22268210817643
27 26,7-31,3 1,00493698124064 0,33079272625009 76 75,0-81,8 0,94996366304710 0,22027725611226
28 27,7-32,3 1,00249080494587 0,32473561484034 77 76,0-82,8 0,94984450108225 0,21879864023728
29 28,5-33,3 1,00242210411708 0,31622727242452 78 77,2-83,9 0,94661185506730 0,22138969727833
30 29,6-34,4 0,99750382652453 0,31516220143839 79 78,2-84,9 0,94653203294280 0,21993173458603
31 30,5-35,4 0,99661863079600 0,30861645342765 80 79,0-85,9 0,94801424066167 0,21675590374980
32 31,4-36,4 0,99580362487871 0,30238510599670 81 79,8-86,9 0,94943014409616 0,21366876139431
33 32,5-37,5 0,99137521887990 0,30186393080945 82 80,7-87,9 0,95006564933053 0,21148991517748
34 33,7-38,6 0,98589957301486 0,30286188580899 83 81,6-88,9 0,95068353563498 0,20935735438603
35 34,6-39,6 0,98553855258083 0,29713182573866 84 82,8-90,0 0,94769126628542 0,21187804231573
36 35,5-40,6 0,98520866268546 0,29164806627469 85 83,8-91,0 0,94762433653368 0,21058314368198
37 36,3-41,6 0,98589538508516 0,28516993529031 86 84,7-92,0 0,94828022700524 0,20849700985876
38 37,5-42,7 0,98100563713698 0,28654598888092 87 85,7-93,0 0,94821423489156 0,20725601776155
39 38,4-43,7 0,98086647911987 0,28158354510107 88 86,8-94,1 0,94597070357261 0,20899552043621
40 39,6-44,8 0,97608090925054 0,28317687277491 89 87,6-95,1 0,94735360156193 0,20616582231320
41 40,5-45,8 0,97611565497161 0,27844074142485 90 88,6-96,1 0,94730476276795 0,20497453356500
42 41,7-46,9 0,97141158852737 0,28022805726265 91 89,6-97,1 0,94725850793635 0,20380468065058
43 42,3-47,8 0,97620038720332 0,26948903242633 92 90,8-98,2 0,94434937661654 0,20636494478218
44 43,3-48,9 0,97372347070633 0,26900806151184 93 91,7-99,2 0,94504059886622 0,20441078278244
45 44,3-49,9 0,97291755133997 0,26596015710807 94 92,7-100,2 0,94501943341452 0,20327503392400
46 45,6-51,0 0,96760718603049 0,26907641268425 95 93,6-101,2 0,94568960483613 0,20138337505467
47 46,3-52,0 0,96981909537665 0,26275987967359 96 94,6-102,2 0,94634267931778 0,19952785732229
48 47,2-53,0 0,97006216670566 0,25887442767615 97 95,7-103,3 0,94351797991651 0,20207494795868
49 48,4-54,1 0,96594079168640 0,26095686031273 98 96,7-104,3 0,94351658442640 0,20099365478794


147
5.3.3 Algoritmo do Mtodo J
m
/J
m+2
e Erro na Estimao de x

Apesar da extensa explanao realizada para o mtodo J
m
/J
m+2
, prope-se nesta tese, um
simples e compacto fluxograma para sua implementao, o qual est representado na Fig. 5.12,
onde | |
m
V o mdulo da harmnica de ordem m,
mx m
V | | o mdulo da harmnica de maior
amplitude do espectro analisado, e || ||
m
V a harmnica de ordem m normalizada (em relao
mx m
V | | ). O valor de
mx
m deve ser escolhido de acordo com o mximo valor de x passvel de
ocorrer no sistema e est limitado largura de banda de fotodeteco e taxa de amostragem
mxima permitida pelo sistema de aquisio e processamento de sinais; assunto que ser
discutido na prxima seo. Para a anlise realizada nesta tese, os coeficientes foram
calculados at 98 =
mx
m . No entanto, este procedimento poderia ser estendido para um valor
maior de
mx
m , permitindo a medio de ndices de modulao superiores a 100 rad.

Figura 5.12 Fluxograma do clculo de x pelo mtodo J
m
/J
m+2
.

Fim

1 = m m 85 , 0 || || >
m
V
sim
no
mx
mx m m m
m m
V V V
=
= | | / | | || ||
||] || ) 1 ( || || ||)[ || (
|| || ||) || || || (
) 2 )( 1 ( 4 '
2 2
2 2
+ +
+ +
+ + +
+
+ + =
m m m m m m
m m m m m
V b V a V V
V V b V a
m m x
) 1 ( , ,
) 1 (
mx m m
mx m
m m b a m
m m V


148
No fluxograma da Fig. 5.12, inicialmente, as amplitudes das harmnicas e os coeficientes
m
a e
m
b , at a ordem
mx
m , so armazenados. Em seguida, as magnitudes das harmnicas so
normalizadas ( || ||
m
V ) e inicializam-se os testes de comparao a partir da ltima harmnica do
espectro til ( || ||
mx
m
V ), decrementando-se a ordem harmnica, at que se obtenha 85 , 0 || || >
m
V .
O ndice m que primeiro satisfaz esta condio ento utilizado na expresso aproximada de
clculo de ' x , proposta para o mtodo J
m
/J
m+2
.
O erro relativo percentual na estimao de x, pela aplicao do fluxograma da Fig.
5.12, mostrado no grfico da Fig. 5.13, onde os resultados foram obtidos para P=Q (P0 e
Q0), para Q=0 (harmnicas mpares nulas) e P=0 (harmnicas pares nulas). Percebe-se que
o erro inferior a 0,1% em todos os casos. Nas situaes prticas observadas, em
experimentos realizados nesta tese (presena de rudo eletrnico), isto representa um erro
insignificante.

Figura 5.13 Erro percentual relativo na estimao de x usando o mtodo J
m
/J
m+2
em funo do valor
esperado de x, para: P=Q (harmnicas mpares e pares presentes), * P=0 (harmnicas mpares nulas) e
Q=0 (harmnicas pares nulas).

O erro padro no clculo de x para o mtodo J
m
/J
m+2
, para rad x 102 0 < < , igual a 44,3
mrad, e, o coeficiente de correlao entre o valor estimado e o valor esperado de x igual a
99,92%.
So muitas as vantagens do mtodo J
m
/J
m+2
, incluindo-se a no necessidade de
correo do sinal algbrico das magnitudes das raias espectrais empregadas nos clculos
(lembra-se, novamente, que somente as magnitudes ou mdulos so computados na FFT).

149
Alm disso, permite operao em tempo real, independente da ocorrncia de 0 = P ou 0 = Q
durante as medies, ou seja, permite-se trabalhar em condies ambientais no controladas,
no sendo necessrio aguardar at que a fase aleatria ) (
0
t se afaste naturalmente da
condio 2 / n rad (isto significa desperdcio de tempo de medio). Por fim, devido
elevada faixa dinmica, compatvel com operao sub e multi-franjas.
Algumas desvantagens so: no possui uma boa resposta para baixos ndices de
modulao ( 5 , 0 < x rad), e, a medio de ndices de modulao elevados requer a
identificao de componentes de ordem superior, ou seja, pode-se operar com altas
freqncias. Isto significa que, se o processamento do sinal fotodetectado for digital, deve-se
empregar uma taxa de amostragem alta em relao freqncia fundamental, como ser
mostrado na anlise da prxima seo.

5.3.4 Anlise Espectral e Freqncia Mnima de Amostragem para
Processamento Digital do Sinal Fotodetectado

O objetivo desta anlise estabelecer uma relao entre a mnima taxa de amostragem
a ser empregada na aquisio da tenso fotodetectada v(t), em funo da sua freqncia
fundamental e de
mx
m , para evitar que, no caso de processamento digital, um possvel efeito
de sobreposio espectral das componentes de freqncias mais altas devido amostragem
incorreta do sinal (aliasing), influencie na correta estimao de x.
O valor de
mx
m escolhido de acordo com o valor mximo de x a ser demodulado a
partir do sistema ptico. A escolha de um determinado valor para
mx
m limita a faixa
dinmica a um valor dado pelo limite superior da faixa expandida de x, mostrada na Tab. 5.1
onde, neste caso, a anlise pode ser realizada trocando-se m por
mx
m , na tabela.
Idealmente, no processamento digital, a utilizao de um filtro anti-aliasing com
freqncia de corte superior da componente de maior ordem utilizada no clculo de ' x
permite, segundo o critrio de Nyquist, a utilizao de uma taxa de amostragem ligeiramente
superior duas vezes esta freqncia [170]. Na prtica, esta freqncia deve ser maior e
depende do tipo e da ordem do filtro anti-aliasing.
Por outro lado, a escolha de uma taxa de amostragem adequada pode eliminar a
necessidade do uso de um filtro anti-aliasing. Considerando-se que a ltima harmnica

150
significativa do espectro do sinal modulado ) (t v (componente
u
V ) possua freqncia
u
f e
tenha sua magnitude decrescida de -80 dB (corresponde a 0,01% da componente espectral de
maior magnitude), o efeito de aliasing na amostragem de ) (t v praticamente desprezvel para
uma freqncia de amostragem dada por
u am
f f 2 = . Este o critrio adotado nesta tese, para
relacionar a mxima freqncia de amostragem permitida com o mximo valor de m passvel de
ocorrer. Em outras palavras, por este critrio, a magnitude normalizada de
u
V (ou seja, || ||
u
V )
deve ser igual a 0,0001 para a escolha de u, pois a harmnica de maior magnitude (normalizada)
unitria. Sendo
1
f a freqncia da componente fundamental de v(t), pelo critrio adotado,
pode-se escrever a freqncia de amostragem em funo da fundamental, como:

1
2uf f
am
= , (5.29)
sendo
1
/ f f u
u
= a ordem da harmnica de freqncia
u
f . Os valores de u foram determinados
para 98 1
mx
m e 01 , 0 || || =
u
V . Os resultados obtidos esto na Tab. 5.3.
Tabela 5.3 Ordem harmnica u para 98 1
mx
m .
m
mx
u m
mx
u m
mx
u m
mx
u m
mx
U m
mx
u m
mx
u m
mx
u
1 10 14 28 27 44 40 58 53 73 66 87 79 101 92 115
2 11 15 29 28 45 41 60 54 74 67 88 80 102 93 116
3 13 16 31 29 46 42 61 55 75 68 89 81 103 94 117
4 15 17 32 30 47 43 62 56 76 69 90 82 105 95 118
5 16 18 33 31 48 44 63 57 77 70 92 83 106 96 119
6 18 19 34 32 49 45 64 58 78 71 93 84 107 97 121
7 19 20 35 33 51 46 65 59 79 72 94 85 108 98 122
8 20 21 37 34 52 47 66 60 81 73 95 86 109
9 22 22 38 35 53 48 67 61 82 74 96 87 110
10 23 23 39 36 54 49 69 62 83 75 97 88 111
11 24 24 40 37 55 50 70 63 84 76 98 89 112
12 26 25 41 38 56 51 71 64 85 77 99 90 113
13 27 26 42 39 57 52 72 65 86 78 100 91 114

Para aplicaes em que
1
f relativamente pequeno, o mtodo J
m
/J
m+2
pode ser
implementado utilizando uma placa de DSP com aquisio a baixas taxas. Por exemplo,
medies de tenso eltrica usando um sensor ptico de tenso (SOT), cuja componente
fundamental tem freqncia de 60 Hz, sero realizadas no Captulo 7 desta tese. Para este
experimento, aplicando-se (5.29), adotando-se, por exemplo, 98 =
mx
m , de acordo com os
dados da Tab. 5.3, a freqncia de amostragem deve ser de 14,64 kHz (ou seja,
60 122 2 =
am
f Hz). Assim, o uso de uma placa de DSP com freqncia de amostragem de

151
16 kHz suficiente para a medio de ndices de modulao de fase de at 100 rad. Por outro
lado, se esta mesma placa fosse empregada para um sinal modulado de freqncia
fundamental de 500 Hz, o valor de m
mx
seria igual a 5 (obtido da Tab. 5.3 para 16 = u ), que
corresponde a medies somente at 7,3 rad. Destaca-se que o critrio adotado, para
relacionar a mxima freqncia de amostragem com o valor mximo do coeficiente m, foi
rigoroso e, dependendo da aplicao, pode ser relaxado.
Para freqncias elevadas, a aplicao do mtodo torna-se vivel se a aquisio for
realizada utilizando-se placas de aquisio e ps-processamento do sinal amostrado. Outra
opo realizar a leitura diretamente da tela de um analisador de espectros, visto que o
mtodo J
m
/J
m+2
utiliza somente a magnitude das harmnicas do sinal fotodetectado.

5.3.5 Resposta do Mtodo J
m
/J
m+2
considerando o Fator de rudo K

De acordo com (3.29-a) e (3.29-b), para um fator de rudo do tipo 1/f
2
, a magnitude das
harmnicas mpares e pares, normalizadas em relao AF so estimadas, respectivamente,
como:
| ) 1 2 /( ) ( | || ||
1 2
*
1 2
+ =

n K x PJ V
n n
, (5.30-a)
| ) 2 /( ) ( | || ||
2
*
2
n K x QJ V
n n
+ = , (5.30-b)
sendo n=1, 2, 3, ... Para um fator de rudo branco obtm-se, de (3.31-a) e (3.31-b), as
harmnicas mpares e pares normalizadas em relao AF , dadas, respectivamente, por:
| ) ( | || ||
1 2
*
1 2
K x PJ V
n n
+ =

, (5.31-a)
| ) ( | || ||
2
*
2
K x QJ V
n n
+ = . (5.31-b)
Simulou-se o fluxograma da Fig. 5.12 (mtodo J
m
/J
m+2
) no Matlab, com os termos
|| ||
n
V calculados usando-se as harmnicas normalizadas mx
n n
V V
* *
|| || / || || , sendo
*
|| ||
n
V
como em (5.30) ou (5.31), ou seja, considerando-se rudo 1/f
2
ou branco, para 100 1 n , e
mx
n
V
*
|| || o valor mximo de
*
|| ||
n
V observado no espectro processado. Desta forma
normaliza-se o espectro para valores entre zero e a unidade, e o limiar de deciso igual a 0,85
estabelecido para o mtodo J
m
/J
m+2
pode ser adequadamente utilizado. As curvas resultantes
da simulao, que representam o erro absoluto de fase ' x x x = (calculado em mrad), em
funo do valor esperado x, para 2 / 2 = = Q P , 0 = P e 0 = Q , so mostradas nos grficos
da Fig. 5.14 (para x em escala logartmica). Na Fig. 5.14-a, para rudo 1/f
2
, estabelece-se um

152
MDPS de aproximadamente 450 mrad no pior caso (quando 0 = P ). Na Fig. 5.14-b, para
rudo branco, o MDPS maior, em torno de 500 mrad, na condio 0 = P .

Figura 5.14 Erro de fase x em funo de x para o mtodo J
m
/J
m+2
, nas condies: P=Q (harmnicas
mpares e pares presentes), * P=0 (harmnicas mpares nulas) e Q=0 (harmnicas pares nulas), considerando
o fator de rudo K. (a) Rudo 1/f
2
com K=0,0011. (b) Rudo branco com K=0,0004.

Numa simulao mais abrangente, aplicando-se tambm o mtodo J
m
/J
m+2
, foram
consideradas todas as possibilidades de ocorrncias de ) (
0
t (numa faixa de 0 a 2 rad), para a
ampla faixa dinmica de x (at 100 rad), com
*
|| ||
m
V ( 98 1 m ) dado por (5.31). O resultado
o grfico da Fig. 5.15, que mostra a distribuio do erro relativo percentual de fase
r
x em
funo de ) (
0
t e de x, para a faixa at 100 rad, para rudo branco com K=0,0004 (obteve-se
um resultado similar para rudo 1/f
2
com K=0,0011). Os clculos foram realizados em
incrementos de 10 mrad para x e tambm para ) (
0
t . Relativamente aos mtodos espectrais
clssicos, fica evidente a reduo substancial do erro sobre o valor estimado de ndice de
modulao, resultante da supresso das singularidades indesejadas devido deriva da fase ) (
0
t
e expanso da faixa dinmica de x.

153

Figura. 5.15 Erro relativo de fase
r
0
t , calculado para o mtodo J
m
/J
m+2
,
considerando rudo branco com K=0,0004.

Uma comparao do erro relativo percentual (
r
x ) calculado em funo de x e de
) (
0
t para os mtodos clssicos J
1
...J
4
(Fig. 4.4), J
1
...J
4
Modificado (Fig. 4.5), J
1
...J
6
-neg
(Fig. 4.9) e J
1
...J
6
-pos (Fig. 4.10), com a distribuio de erro obtida na Fig. 5.15 para o
novo mtodo J
m
/J
m+2
, revela uma expanso na faixa dinmica da ordem de aproximadamente
duas ordens de grandeza. Alm disso, no se observa nenhuma regio de erro significativo
prxima de 2 / ) (
0
n t = rad, como ocorre com os mtodos clssicos. O excelente resultado
da Fig. 5.15 associado ao compacto algoritmo proposto na Fig. 5.12 fazem do novo mtodo
J
m
/J
m+2
uma tcnica robusta e de simples implementao, aplicvel na demodulao de fase
ptica em sistemas interferomtricos homdinos operando em malha aberta, quando
submetidos excitao senoidal.
Conclui-se, observando as Figs. 5.14 e 5.15, a ausncia de erro significativo em toda a
rea correspondente faixa sob considerao, revelando que a faixa dinmica amplamente
expandida em relao aos mtodos estudados anteriormente.

154
Comparando-se o primeiro mtodo proposto neste captulo, aquele denominado
J
1
/J
3
A, com o mtodo J
m
/J
m+2
, verifica-se que o J
1
/J
3
A pode ser considerado um caso
particular do mtodo J
m
/J
m+2
, na condio m = 1.

5.4 O Mtodo J
0
...J
3

Sudarshanam utilizou um arranjo experimental modificado, empregando um
modulador de fase auxiliar para deslocar a componente quase DC, referente ao termo de
) (
0
x J para uma freqncia mais alta, que permitiu a aplicao do mtodo J
0
...J
2
[116], como
foi discutido na seo 4.5. Uma das vantagens do uso do modulador auxiliar que o
deslocamento em freqncia provocado nas componentes harmnicas permite o uso de
harmnicas de ordem inferior no clculo de x e possibilita deslocar as harmnicas para uma
regio do espectro onde normalmente o nvel de rudo menor. Um dos problemas
caractersticos do mtodo J
0
...J
2
o aparecimento das singularidades, como pode ser
observado nos grficos das Figs. 4.12 e 4.13. Com o objetivo de eliminar este problema,
causado pela deriva aleatria da fase ) (
0
t , mantendo-se praticamente o mesmo MDPS do
mtodo J
0
...J
2
, elaborou-se uma nova tcnica, aqui denominada J
0
...J
3
, que usa o mesmo
arranjo experimental proposto para o mtodo J
0
...J
2
e que ser explanada a seguir.
Sejam as componentes do espectro
) 0 , 1 (
V ,
) 1 , 1 (
V ,
) 2 , 1 (
V ,
) 0 , 2 (
V ,
) 1 , 2 (
V ,
) 2 , 2 (
V ,
) 0 , 3 (
V e
) 1 , 3 (
V
como definidas no captulo anterior, em (4.29).
Primeiramente, prope-se calcular o ndice de modulao auxiliar
a
x usando o
mtodo J
1
/J
3
A, que pode ser obtido a partir da relao entre as componentes
) 0 , 1 (
V e
) 0 , 3 (
V , ou,
) 1 , 1 (
V e
) 1 , 3 (
V dadas, respectivamente, por:
) (
) ( ) (
) ( ) (
13
0 3
0 1
) 0 , 3 (
) 0 , 1 (
a
a
a
x f
x J x AFPJ
x J x AFPJ
V
V
= = , (5.32-a)
) (
) ( ) (
) ( ) (
13
1 3
1 1
) 1 , 3 (
) 1 , 1 (
a
a
a
x f
x J x AFQJ
x J x AFQJ
V
V
= = , (5.32-b)
sendo que os fatores de intensidade da fonte (A), visibilidade (F) e desvanecimento de sinal (P
ou Q) se cancelam resultando na relao ) (
13 a
x f , que aplicada ao mtodo J
1
/J
3
A resulta, de
acordo com (5.7), em:

] 1 ) ( ][ 546 , 2 ) ( 953 , 1 [
104 , 37 ) ( 872 , 46
'
13 13
13 2
+ +
+
=
a a
a
a
x f x f
x f
x , para 6 , 3 0 < <
a
x rad. (5.33)

155
sendo '
a
x o valor estimado de
a
x .
Para evitar as ocorrncias de P=0 ou Q=0, inviabilizando o clculo de '
a
x , utiliza-se
um limiar de deciso baseado no valor de ) ( ) (
0 1 ) 0 , 1 (
x J x AFPJ V
a
= e
) ( ) (
0 2 ) 0 , 2 (
x J x AFQJ V
a
= , que possuem termos em P e Q, respectivamente. Se
) 0 , 2 ( ) 0 , 1 (
V V ,
o clculo deve ser realizado pela substituio de (5.32-a) em (5.33), caso contrrio, '
a
x deve
ser obtido pela substituio de (5.32-b) em (5.33).
Uma vez calculado '
a
x , pode-se relacionar as componentes
) 1 , 2 (
V ,
) 0 , 1 (
V e
) 2 , 1 (
V ou
) 1 , 1 (
V ,
) 0 , 2 (
V e
) 2 , 2 (
V , para que o ndice de modulao x seja estimado diretamente de:

) ' (
) ' (
2
'
2
1
) 2 , 1 ( ) 0 , 1 (
) 1 , 2 (
a
a
x J
x J
V V
V
x
+
= (5.34-a)
ou

) ' (
) ' (
2
'
1
2
) 2 , 2 ( ) 0 , 2 (
) 1 , 1 (
a
a
x J
x J
V V
V
x
+
= . (5.34-b)
Substituindo (4.29) em (5.34), obtm-se:

) ' (
) ' (
)] ( ) ( )[ (
) ( 2 ) (
'
2
1
2 0 1
1 2
a
a
a
a
x J
x J
x J x J x AFPJ
x J x AFPJ
x
+
= (5.35-a)
ou

) ' (
) ' (
)] ( ) ( )[ (
) ( 2 ) (
'
1
2
2 0 2
1 1
a
a
a
a
x J
x J
x J x J x AFQJ
x J x AFQJ
x
+
= . (5.35-b)
em que os fatores de intensidade da fonte (A), visibilidade (F), desvanecimento de sinal P ou
Q, e as funes de '
a
x e
a
x praticamente se cancelam no numerador e denominador de (5.35),
restando a relao de Bessel )] ( ) ( /[ ) ( 2
2 0 1
x J x J x J x + = , em ambas as equaes. No entanto,
' x no pode ser calculado a partir de (5.35-a), na condio P=0. Analogamente, (5.35-b)
indeterminada para Q=0. Para evitar a influncia da deriva da fase ) (
0
t no clculo de x,
adota-se, novamente, um limiar de deciso que definir se o clculo deve ser efetuado pelo
uso de (5.35-a) ou de (5.35-b). Definindo-se as funes:
)] ( ) ( [
) ' ( ) ' (
0 1
1
) 0 , 1 (
2
) 1 , 2 (
x J x J AFP
x J
V
x J
V
h
a a
P
+ = + = , (5.36-a)
)] ( ) ( [
) ' ( ) ' (
0 1
2
) 0 , 2 (
1
) 1 , 1 (
x J x J AFQ
x J
V
x J
V
h
a a
Q
+ = + = . (5.36-b)

156
Observa-se que, se Q P em (5.36), tem-se
Q p
h h e vice-versa. Portanto, o limiar
de deciso baseado nesta comparao, sendo o clculo usando (5.35-a) realizado na
condio
Q p
h h , e, o uso de (5.35-b), na condio
Q p
h h < .
O valor de ) (
0
t pode ser monitorado usando o mtodo proposto em [128], atravs de:

) ' (
) ' (
)] ( tan[
1
2
) 0 , 2 (
) 0 , 1 (
0
a
a
x J
x J
V
V
t = . (5.37)
Portanto usando (5.33), (5.37) e (5.34) nesta ordem, pode-se ajustar x
a
, monitorar
) (
0
t durante as medies e, principalmente, calcular x. Destaca-se que o monitoramento de
) (
0
t no uma tarefa obrigatria pelo emprego da nova tcnica. Porm este pode
proporcionar informaes sobre a influncia das condies ambientais no sistema
interferomtrico utilizado, caso exista interesse.
Baseando-se na investigao realizada, elaborou-se um fluxograma da metodologia
empregada no mtodo J
0
...J
3
, o qual est ilustrado na Fig. 5.16, onde inicialmente so
armazenadas as magnitudes das harmnicas [
) 0 , 1 (
V a
) 1 , 3 (
V ], as quais devem ser previamente
identificadas no espectro do sinal fotodetectado. Na seqncia do fluxograma, um teste
compara as harmnicas
) 0 , 1 (
V com
) 0 , 2 (
V possibilitando que
13
f e '
a
x sejam calculados
usando-se harmnicas com elevada SNR (se Q P >> empregam-se as harmnicas
) 0 , 1 (
V e
) 0 , 3 (
V , por outro lado, se P Q >> ,
) 1 , 1 (
V e
) 1 , 3 (
V que so utilizadas nos clculos). Usando-se
o valor calculado de '
a
x pode-se estimar ) (
0
t , sendo este um clculo opcional. Na etapa
seguinte, calcula-se
P
h e
Q
h , que so comparados mutuamente, para que componentes de
elevada SNR sejam tambm empregadas no clculo do ndice ' x , minimizando-se desta
forma, os erros devidos deriva aleatria da fase ) (
0
t .
A faixa dinmica do mtodo J
0
...J
3
a mesma do mtodo J
0
...J
2
, limitada a 2,2 rad, o que
pode ser deduzido dos grficos das Figs. 5.17-a e 5.17-b, resultantes das simulaes com rudo
1/f
2
e branco, respectivamente. Nos grficos das Figs. 5.17-c e 5.17-d tm-se uma vista em
detalhe da regio de baixos ndices ( 4 x mrad). O cruzamento da linha tracejada com os pontos
( x x = ) define um MDPS em torno de 2 mrad, que representa um erro de 100% na estimao de
x. Os grficos da Fig. 5.17 foram obtidos fazendo-se 4 / ) (
0
= t rad e fixando-se
a
x em 2,7
rad.


157

Figura 5.16 Algoritmo do clculo de x pelo mtodo J
0
...J
3
.

) 1 , 3 ( ) 0 , 3 ( ) 2 , 2 ( ) 1 , 2 (
) 0 , 2 ( ) 2 , 1 ( ) 1 , 1 ( ) 0 , 1 (
, , ,
, , ,
V V V V
V V V V

) 0 , 2 ( ) 0 , 1 (
V V

sim no
) 0 , 3 (
) 0 , 1 (
13
V
V
f =

] 1 ) ( ][ 546 , 2 ) ( 953 , 1 [
104 , 37 ) ( 872 , 46
'
13 13
13 2
+ +
+
=
a a
a
a
x f x f
x f
x

) 1 , 3 (
) 1 , 1 (
13
V
V
f =

Q P
h h

sim
no

) ' ( / ) ' ( /
) ' ( / ) ' ( /
2 ) 0 , 2 ( 1 ) 1 , 1 (
1 ) 0 , 1 ( 2 ) 1 , 2 (
a a Q
a a P
x J V x J V h
x J V x J V h
+ =
+ =

) ' (
) ' (
2
'
2
1
) 2 , 1 ( ) 0 , 1 (
) 1 , 2 (
a
a
x J
x J
V V
V
x
+
=

) ' (
) ' (
2
'
1
2
) 2 , 2 ( ) 0 , 2 (
) 1 , 1 (
a
a
x J
x J
V V
V
x
+
=

) (
) ' (
) ' (
) ( ' tan
1
2
) 0 , 2 (
) 0 , 1 (
0
opcional clculo
x J
x J
V
V
t
a
a
=

Fim

158

Figura 5.17 Erro absoluto x em funo de x usando os mtodos (*) J
0
...J
2
e () J
0
...J
3
, considerando
a
x =2,7
rad e 4 / ) (
0
= t rad. (a) Rudo 1/f
2
com K=0,0011. (b) Rudo branco com K=0,0004. (c) Rudo 1/f
2
com
K=0,0011 (regio de baixos ndices). (d) Rudo branco com K=0,0004 (regio de baixos ndices).

Assim como se verificou para o mtodo J
m
/J
m+2
, o clculo usando o mtodo J
0
...J
3
permite
a eliminao do erro em 2 / ) (
0
n t = rad, como pode ser observado nos grficos da Fig. 5.18,
onde o erro relativo percentual foi calculado em funo de x e ) (
0
t , para toda a faixa dinmica
de fases, pelos mtodos J
0
...J
2
(Fig. 5.18-a) e J
0
...J
3
(Fig. 5.18-b). O rudo do tipo branco com
K=0,0004, sendo que um resultado similar foi obtido nas simulaes com rudo 1/f
2
e fator
K=0,0011. Uma vista em detalhe da regio de baixos ndices mostrada na Fig. 5.19, podendo-se
observar o melhoramento na resposta, obtido pelo clculo usando o novo mtodo J
0
...J
3
(Fig.
5.19-b), em relao ao mtodo clssico J
0
...J
2
(Fig. 5.19-a).
Considerando o fato de que, geralmente, o deslocamento das componentes espectrais
para freqncias mais altas reduz o nvel de rudo, a implementao adequada do mtodo J
0
...J
3

pode melhorar significativamente a resposta em baixos ndices de modulao. Outro fator
importante o correto ajuste do ndice de modulao auxiliar
a
x dentro de uma faixa, onde as
magnitudes das componentes ) (
1 a
x J , ) (
2 a
x J e ) (
3 a
x J sejam positivas e de maior amplitude
possvel, para evitar que o produto ) ( ) ( x J x J
m a n
(no clculo das componentes espectrais) seja
muito pequeno.

159

r
0
t , obtido em simulao com rudo branco e
K=0,0004, 5 , 2 =
a
x rad. (a) Clculo pelo mtodo J
0
...J
2
. (b) Clculo pelo mtodo J
0
...J
3
.

Figura 5.19 Erro
r
0
t , obtido em simulao com rudo branco, calculado para
baixos ndices de modulao (vista em detalhe da regio de baixos ndices do grfico da Fig. 5.18). (a)
Mtodo J
0
...J
2
. (b) Mtodo J
0
...J
3
.


160
Os grficos da Fig. 5.20-a mostram o valor estimado de x para um valor esperado igual a
50 mrad, pela aplicao do mtodo proposto J
0
...J
3
e do mtodo clssico J
0
...J
2
, em funo de
) (
0
t , sendo 5 , 2 =
a
x rad. Verifica-se que, para o novo mtodo, o erro no ultrapassa os 5%
para toda a faixa de valores de ) (
0
t , enquanto que, para o mtodo J
0
...J
2
, os pontos de
singularidades em 2 / ) (
0
n t = rad levam a erros maiores que 100% nas proximidades destes
pontos (Fig. 5.20-c), tornando o mtodo J
0
...J
2
instvel para ambientes no controlados [ ) (
0
t
aleatrio]. Na Fig. 5.20-b realizou-se uma anlise similar, para um valor esperado 10 = x
mrad, obtendo-se um erro em torno de 25% pelo emprego do novo mtodo, como mostrado na
Fig. 5.20-d.

Figura 5.20 ndice de modulao ' x em funo de ) (
0
t pela aplicao dos mtodos (*) J
0
...J
2
e () J
0
...J
3
,
simulado com rudo branco e K=0,0004. (a) Clculo para 50 = x mrad. (b) Clculo para 10 = x mrad. (c)
Erro relativo para x = 50 mrad. (d) Erro relativo para x = 10 mrad.

A maior vantagem do novo mtodo J
0
...J
3
a eliminao das singularidades
caractersticas do mtodo clssico J
0
...J
2
, o que possibilita a implementao do algoritmo proposto
na Fig. 5.16 para operaes em tempo real, em ambientes no controlados e sem monitorao do
espectro do sinal fotodetectado, para medies de baixos ndices de modulao de fase.


161
5.5 O Novo Mtodo de Medio da Fase Quase Esttica
0
(t)
Proposto Nesta Tese

Sudarshanam props em [128], um mtodo de medio de ) (
0
t , em que h necessidade
de um clculo prvio de x usando o mtodo J
1
...J
4
, e do emprego das funes de Bessel ) (
1
x J e
) (
2
x J (conforme explanao na seo 4.6). Nesta nova proposta elimina-se esta inconvenincia,
pois ) (
0
t obtido diretamente, a partir da magnitude da fundamental e das trs primeiras
harmnicas do sinal fotodetectado. Inicialmente, definem-se as funes
m
y e
1 + m
y como:

1 1
2
+
+
=
m m
m
m
V V
mV
y , (5.38-a)

2
1
1
) 1 ( 2
+
+
+
+
+
=
m m
m
m
V V
V m
y , (5.38-b)
sendo m = 2, 3, 4,... Substituindo-se (3.27-a) e (3.27-b) em (5.38-a) e (5.38-b), obtm-se, para m par:

)] ( ) ( [
) ( 2
1 1
x J x J AFP
x mJ AFQ
y
m m
m
m
+
+
= , (5.39-a)

)] ( ) ( [
) ( ) 1 ( 2
2
1
1
x J x J AFQ
x J m AFP
y
m m
m
m
+
+
+
+
+
= (5.39-b)
e, para m mpar:

)] ( ) ( [
) ( 2
1 1
x J x J AFQ
x mJ AFP
y
m m
m
m
+
+
= , (5.40-a)

)] ( ) ( [
) ( ) 1 ( 2
2
1
1
x J x J AFP
x J m AFQ
y
m m
m
m
+
+
+
+
+
= . (5.40-b)
Aplicando a relao de recorrncia (4.1) s equaes (5.39) e (5.40), pode-se escrever:

m
P
Q
x y
m
) 1 (
= , (5.41-a)

m
Q
P
x y
m
) 1 (
1
= . (5.41-b)
Dividindo-se (5.41-b) por (5.41-a) chega-se a:

m
Q
P
y
y
m
m
) 1 (
2
2
1

+
= . (5.42)
Elevando-se ambos os membros de (5.42) a
m
) 1 ( , e sabendo-se que
)] ( tan[ /
0
t Q P = , obtm-se:

162

m
m
m
y
y
t
) 1 (
1
0
2
)] ( [ tan

+
= . (5.43)
Substituindo-se (5.38-a) e (5.38-b) em (5.43), a fase quase esttica ) (
0
t pode ser
calculada diretamente a partir da medio de
m
V ,
1 m
V ,
1 + m
V e
2 + m
V , usando-se a seguinte
equao:

m
m m m
m m m
V V mV
V V V m
t
) 1 (
2
1 1 1
0
2
) (
) ( ) 1 (
) ( tan

+
+ +
+
+ +
= , (5.44)
que consiste no novo mtodo de clculo de ) (
0
t proposto nesta tese.
Fazendo-se 2 = m em (5.44), chega-se a:

+
+
=

) ( 2
) ( 3
tan ) (
4 2 2
3 1 3 1
0
V V V
V V V
t , (5.45)
que pode ser comparado aos resultados obtidos por Sudarshanam em [128].
Diferentemente do mtodo publicado em [128], ) (
0
t calculada atravs de (5.44)
diretamente e independente do clculo prvio de x e de funes de Bessel.
Para um fator de rudo aditivo K do tipo 1/f
2
, (5.44) modificada para:
m
m m
K m
x AFQJ x AFQJ
m
K
x AFQJ m
m m
mK
x AFPJ x AFPJ
m
K
x AFPJ m
t
m m m
m m m
) 1 (
2
1 1 1
0
2
) 2 (
) 1 ( 2
) ( ) ( ) (
) 1 )( 1 (
2
) ( ) (
1
) ( ) 1 (
) ( ' tan
+
+ +
+
+
+ +
+
+ +
+
+ +
=
(5.46)
sendo ) ( '
0
t o valor estimado de ) (
0
t , considerando rudo.
Para rudo branco, (5.44) expressa como:

[ ][ ]
[ ][ ]
m
K x AFQJ x AFQJ K x AFQJ m
K x AFPJ x AFPJ K x AFPJ m
t
m m m
m m m
) 1 (
2
1 1 1
0
2
2 ) ( ) ( ) (
2 ) ( ) ( ) ( ) 1 (
) ( ' tan

+
+ +
+ + +
+ + + +
= (5.47)
Na presena de rudo, substituindo m=2 em (5.46) e (5.47) obtm-se:

+ + +
+ + +
=

] 4 / 3 ) ( ) ( ][ 2 / ) ( [ 2
] 3 / 4 ) ( ) ( ][ 3 / ) ( [ 3
tan ) ( '
4 2 2
3 1 3 1
0
K x AFQJ x AFQJ K x AFQJ
K x AFPJ x AFPJ K x AFPJ
t , (5.48)
para rudo 1/f
2
, e

+ + +
+ + +
=

] 2 ) ( ) ( ][ ) ( [ 2
] 2 ) ( ) ( ][ ) ( [ 3
tan ) ( '
4 2 2
3 1 3 1
0
K x AFQJ x AFQJ K x AFQJ
K x AFPJ x AFPJ K x AFPJ
t , (5.49)
para rudo branco.

163
O erro absoluto no clculo de ) ( '
0
t em funo de x, usando (5.48) e (5.49),
mostrado, respectivamente, nos grficos das Figs. 5.21-a e 5.21-b, onde tambm so traados
os erros de fase usando o mtodo clssico (descrito na seo 4.6). Observa-se que, em relao
x, o extremo superior da faixa dinmica maior para o novo mtodo (para m=2),
estendendo-se a at 5,1 rad, contra 3,8 rad do mtodo clssico.

Figura 5.21 Erro de fase ) (
0
t em funo de x calculado usando (*) o mtodo desenvolvido por
Sudarshanam e () o novo mtodo de medio de ) (
0
t proposto nesta tese (para m=2), considerando
4 / ) (
0
= t rad e o fator de rudo K. (a) Rudo 1/f
2
e K=0,0011. (b) Rudo branco e K=0,0004.

Os grficos da Fig. 5.22-a mostram o erro absoluto, ) ( ' ) ( ) (
0 0 0
t t t = , para o
novo mtodo e para o mtodo clssico, em funo do valor esperado ) (
0
t . Comparando-se
os resultados para os dois mtodos, nota-se uma ligeira diferena a favor do novo mtodo, que
fica evidente ampliando-se a poro inferior do grfico, prximo origem de ) (
0
t , como
mostrado nos grficos da Fig. 5.22-b. Para rudo 1/f
2
e K=0,0011, o cruzamento da reta
) (
0
t com a curva ) (
0
t , estabelece um MDPS-DC de 1,7 mrad para o novo mtodo,
contra 2,3 mrad para o mtodo clssico. Para rudo branco e K=0,0004, se obtm 1,6 mrad
contra 1,8 mrad.

164

Figura 5.22 Erro ) (
0
t em funo de ) (
0
t para os mtodos (*) desenvolvido por Sudarshanam,
simulado com rudo 1/f
2
e K=0,0011, () desenvolvido por Sudarshanam, simulado com rudo branco e
K=0,0004, (*) novo mtodo, simulado com rudo 1/f
2
e K=0,0011 e () novo mtodo, simulado com rudo
branco e K=0,0004. O valor de x est fixado em 2,5 rad. (a) ) (
0
t na faixa 2 / ) ( 0
0
< < t rad. (b)
) (
0
t na regio de baixo ) (
0
t (mrad).

As distribuies do erro relativo percentual % 100 )] ( / ) ( [
0 0 0
= t t
r
, calculado
para o mtodo proposto por Sudarshanam e para o novo mtodo direto para m=2 [usando-se
(5.32)], em funo de x e de ) (
0
t , so mostradas, nas Figs. 5.23-a e 5.23-b, respectivamente.
Considera-se nos clculos a incidncia de rudo branco e K=0,0004, destacando-se que
resultados similares foram obtidos na simulao com rudo 1/f
2
e K=0,0011.
Por inspeo da Fig. 5.23, verifica-se que o mtodo proposto por Sudarshanam tem
faixa dinmica limitada a 3,83 rad, quando se atinge a condio em que 0 ) (
1
= x J ,
impossibilitando o clculo pelo uso de (4.31). Para o novo mtodo, a faixa estende-se a 5,14
rad (no caso de m=2), onde se atinge ) (
2
x J nulo e (5.49) fica indeterminada.
Para evitar as singularidades apresentadas nos grficos da Fig. 5.23, com relao x,
deve-se escolher um coeficiente m adequado e empregar a equao generalizada (5.44) na
estimao de ) (
0
t . Assim, adotando-se uma rotina similar descrita para o mtodo J
m
/J
m+2
,
pode-se incrementar o valor de m para ampliar a faixa dinmica, utilizando-se somente a
magnitude das harmnicas. Portanto, prope-se o fluxograma da Fig. 5.24 para a deteco de
) (
0
t atravs do novo mtodo baseado em (5.44). Usando o algoritmo proposto, procede-se a

165

Figura 5.23 Erro percentual relativo
r
t) (
0
em funo de x e ) (
0
t , simulado com rudo branco e
K=0,0004, para: (a) o mtodo proposto por Sudarshanam e (b) o novo mtodo direto de medio de ) (
0
t ,
calculado usando (5.49).

Figura 5.24 Fluxograma de clculo do novo mtodo de clculo de ) (
0
t proposto nesta tese.

1 = m m
) 1 (
mx m
m m V
85 , 0 || || =
m
V
sim
no
m
m m m
m m m
o
V V V m
V V V m
t
m m
) 1 (
2
1 1 1 1
||) || || (|| || ||
||) || || (|| || | ) 1 (
tan ) ( '
1
+
+ +
+
+ +
=
+ =
Fim
mx
mx m m m
m m
V V V
=
= | | / | | || ||

166
simulao para rudo branco, ou seja, usando-se (5.47), com K=0,0004, para x variando de
zero a 100 rad e ) (
0
t variando de zero a 2 / rad. Na Fig. 5.25-a tem-se a resposta para o
mtodo clssico, a qual pode ser comparada com o resultado obtido com o novo mtodo,
registrado na Fig. 5.25-b. Verifica-se que o mtodo proposto nesta tese possibilita a expanso
da faixa dinmica, em relao a x, em duas ordens de grandeza, em relao ao mtodo
clssico, desenvolvido em [128]. Alm disso, no h necessidade do clculo prvio de x e de
funes de Bessel [Lembra-se que ) (
1
x J e ) (
2
x J eram necessrias no mtodo clssico].

Figura 5.25 Erro
r
t) (
0
em funo de x e ) (
0
t , considerando rudo branco com K=0,0004. (a)
Clculo pelo mtodo desenvolvido por Sudarshanam. (b) Clculo pelo mtodo proposto nesta tese, usando
o algoritmo da Fig. 5.24.

5.6 Anlise Comparativa dos Mtodos Espectrais de Demodulao
de Fase ptica

Para se ter uma viso geral dos mtodos desenvolvidos e a comparao com os mtodos
de anlise espectral clssicos elaborou-se, durante o desenvolvimento desta tese, as Tab. 5.4 a
5.7, onde so mostradas as principais caractersticas de cada mtodo, destacando-se que todos
os valores foram obtidos por simulaes em computador (ainda no correspondem a valores
experimentais). Os dados referentes aos mtodos propostos nesta tese aparecem com fundo
cinza em todas as tabelas, enquanto que os dos mtodos clssicos tm fundo branco (padro).

167
Na Tab. 5.4 os campos referem-se s harmnicas empregadas nos clculos para cada
mtodo, faixa de x onde se deve corrigir o sinal algbrico das harmnicas, ao limite superior
da faixa dinmica e aos valores de ) (
0
t para os quais os mtodos no podem ser aplicados,
pois geram indefinio nos clculos (singularidades).

Tabela 5.4 Quadro comparativo entre os mtodos espectrais de demodulao de fase ptica.
Mtodo
Harmnicas
empregadas
Correo do sinal
algbrico das
harmnicas
Limite superior
da faixa
dinmica
(rad)
Indefinido p/
) (
0
t igual a:
(n inteiro)
J
1
...J
4
V
1
, V
2
, V
3,
V
4
NO 3,6 2 / n
J
1
...J
4
Mod. V
1
, V
2
, V
3,
V
4
p/ rad x 83 , 3 > 5,1 2 / n
J
1
...J
6
-neg V
1
, V
2
, V
3,
V
4,
V
5,
V
6
NO 3,6 2 / n
J
1
...J
6
-pos V
1
, V
2
, V
3,
V
4,
V
5,
V
6
p/ rad x 83 , 3 > 6,1 2 / n
C
L
S
S
I
C
O
S

J
0
...J
2

V
(1,0)
, V
(1,1)
, V
(2,1)
,
V
(2,0)
, V
(1,0),
V
(1,2)

NO 2,2 2 / n
J
1
/J
3
A V
1
, V
3
NO 3,6 n
J
1
...J
3
V
1
, V
3
p/ rad x 83 , 3 > 6,2 n
J
m
/J
m+2
V
m
( ) 98 1 m NO 100
SEM
RESTRIO
N
O
V
O
S

M
T
O
D
O
S

J
0
...J
3

V
(1,0)
, V
(1,1)
, V
(1,2)
, V
(2,0)

V
(2,1)
, V
(2,2)
, V
(3,0)
, V
(3,1)

NO 2,2
SEM
RESTRIO

Durante o desenvolvimento da tese, foram realizadas vrias outras simulaes,
envolvendo o clculo do ndice de modulao de fase ' x pelos mtodos clssicos e pelos
novos mtodos propostos neste captulo. Nestas simulaes, considerou-se K=0,0001 e
K=0,0011, para os rudos 1/f
2
e branco. Observa-se que resultados muito semelhantes foram
obtidos na anlise usando K=0,0011 e rudo 1/f
2
e na anlise usando K=0,0004 e rudo branco,
desenvolvida nas sees anteriores deste captulo. Os clculos foram realizados
considerando-se 4 / ) (
0
= t rad ( 2 / 2 = = Q P ). Os resultados obtidos nestas outras
simulaes so mostrados nas Tabs. 5.5 a 5.7.
Na Tab. 5.5, so mostrados os valores de MDPS, destacando-se que os menores
MDPS foram obtidos para os mtodos J
0
...J
3
e J
0
...J
2
. Observa-se tambm que o mtodo
J
1
...J
6
neg no apresentou um pequeno MDPS para rudo branco, mostrando que os resultados
da tabela (para rudo branco) so incompatveis com os publicados em [118], onde a anlise
terica foi realizada para rudo 1/f
2
. Este fato indica que, na prtica, o mtodo J
1
...J
6
-neg s
seria eficaz em medies de baixos ndices de modulao, se o rudo do sistema experimental

168
pudesse ser estritamente modelado de acordo com o modelo de rudo aditivo 1/f
2
adotado por
Sudarshanam em suas simulaes, o que seria improvvel em grande nmero de aplicaes
(assumindo-se, por exemplo, uma distribuio de probabilidades gaussiana para a tenso de
rudo do sistema fsico).

Tabela 5.5 MDPSs calculados (em mrad) para rudo 1/f
2
e branco, com K=0,0011 e K=0,0001.
MDPS (mrad)
MTODO
Rudo 1/f
2

K=0,0011
Rudo 1/f
2

K=0,0001
Rudo
branco
K=0,0011
Rudo
branco
K=0,0001
Mdia
J
1
...J
4
/ J
1
...J
4
Mod. 200 100 270 130 180
J
1
...J
6
-neg 35 10 340 140 131
J
1
...J
6
-pos 230 100 350 150 210
C
L
S
S
I
C
O
S

J
0
...J
2
2,2 0,2 6,8 0,6 2,5
J
1
/J
3
A, J
1
...J
3
, J
m
/J
m+2
200 10 290 130 180
N
O
V
O
S

M
T
O
D
O
S

J
0
...J
3
2,3 0,2 4,2 0,4 1,8

Na Tab. 5.6 mostrado o erro padro na estimao de x (em mrad), calculado para a
faixa dinmica de x associada a cada mtodo. Considerou-se 4 / ) (
0
= t rad. O destaque
que os mtodos exatos, embora no apresentem erro no caso ideal (K=0), tm erro comparvel
com os mtodos usando os ajustamentos por mnimos quadrados, tanto para alto nvel de
rudo (K=0,0011), como para baixo nvel (K=0,0001).

Tabela 5.6 Erro padro em mrad na estimao de x nas simulaes considerando o fator de rudo K,
calculado para 4 / ) (
0
= t rad.

ERRO PADRO (mrad)

MTODO
Sistema
ideal
k=0
Rudo 1/f
2

k=0,0011
Rudo 1/f
2

k=0,0001
Rudo
branco
k=0,0011
Rudo
branco
k=0,0001
Faixa
dinmica de
x (rad)
J
1
...J
4
0 35,1 4,2 77,8 11,7 0,18-3,6
J
1
...J
4
Mod. 0 43,6 4,8 76,9 10,8 0,18-5,1
J
1
...J
6
-neg 0 25 2,57 1422 121 0,13-3,6
J
1
...J
6
-pos 0 42,5 4,8 99,1 14,7 0,21-6,1
J
0
...J
2
0 1,8 0,16 6,9 0,6 0,001-2,2
J
1
/J
3
A 0,6 38,2 4,6 90 12,7 0,18-3,6
J
1
...J
3
0,26 29,4 3,5 69,0 9,7 0,18-6,1
J
m
/J
m+2
43,4 67,6 45 121,4 53,5 0,18-100
J
0
...J
3
0,15 3,9 0,24 4,4 0,46 0,001-2,2

169
O fator de correlao entre o clculo do ndice de modulao pelos mtodos espectrais
( ' x ) e o valor esperado (x) para todos os mtodos, no caso ideal (K=0) e na modelagem com
rudo (K=0,0011 e K=0,0001) pode ser observado na Tab. 5.7, onde se verifica que, para suas
respectivas faixas dinmicas, os novos mtodos tm alto fator de correlao (prximos de
100% - caso ideal), superando em muitos casos, os valores apresentados para os mtodos
clssicos, validando os clculos pelos novos mtodos espectrais, em simulaes com rudo.

Tabela 5.7 Correlao entre os valores calculados e os valores esperados de x considerando o fator de rudo
K, calculada para 4 / ) (
0
= t rad.
CORRELAO (em %)

MTODO
SISTEMA
IDEAL
K=0
RUDO 1/f
2

K=0,0011 /
Branco
K=0,0004
RUDO
1/f
2

K=0,0001
RUDO
BRANCO
K=0,0011
RUDO
BRANCO
K=0,0001
FAIXA
DINMICA
(rad)
J
1
...J
4
100 97,9 99,8 95,4 99,4 0,18-3,6
J
1
...J
4
Mod. 100 98,0 99,8 96,3 99,6 0,18-5,1
J
1
...J
6
-neg 100 99,4 99,95 64 99,36 0,13-3,6
J
1
...J
6
-pos 100 98,2 99,8 96,0 99,5 0,21-6,1
J
0
...J
2
100 99,8 99,99 99,0 99,91 0,001-2,2
J
1
/J
3
A 99,9993 97,8 99,8 94,9 99,3 0,18-3,6
J
1
...J
3
99,999996 99,1 99,9 97,8 99,7 0,18-6,1
J
m
/J
m+2
99,92 99,94 99,93 99,95 99,93 0,18-100
J
0
...J
3
99,99 99,5 99,97 99,6 99,95 0,001-2,2

5.7 Discusso

Neste Captulo novos mtodos de demodulao de fase ptica foram propostos, sendo
a maioria desenvolvida usando-se a teoria de ajuste de curvas por mnimos quadrados, atravs
de regresso polinomial entre relaes de funes de Bessel envolvidas no clculo de x.
Baseando-se nos mtodos espectrais clssicos apresentados no Captulo 4 e, principalmente,
em suas limitaes devido a pontos de singularidades com relao faixa dinmica e ) (
0
t
aleatrio, foram empregadas as aproximaes polinomiais, visando eliminar os problemas
apresentados, mantendo-se a simplicidade matemtica atravs do uso de aproximaes
lineares na concepo da maioria dos mtodos. Esta constitui uma contribuio indita da
tese.

170
Descobriu-se que a aproximao linear usada no mtodo J
1
/J
3
A gerou um erro muito
pequeno na estimao de x, tornando este ainda mais simples que o mtodo J
1
...J
4
. Apesar de
ter-se usado um polinmio de 6 ordem na concepo do mtodo J
1
...J
3
, o uso de somente
duas harmnicas ao invs de quatro ou seis, relativas, respectivamente, aos mtodos J
1
...J
4
e
J
1
...J
6
(neg e pos), pode significar uma reduo considervel nos clculos, como ser
discutido no prximo captulo da tese.
A idia do ajuste por mnimos quadrados culminou na concepo da tcnica J
m
/J
m+2
, em
que as restries com relao ao desvanecimento de sinal devido fase aleatria ) (
0
t foram
eliminadas completamente, e a faixa dinmica foi expandida em duas ordens de grandeza.
Se por um lado, a proposta do novo mtodo J
m
/J
m+2
permitiu expandir
significativamente a faixa dinmica em seu limite superior, a proposta do novo mtodo J
0
...J
3

possibilitou a expanso da faixa dinmica em seu limite inferior, sem os inconvenientes
pontos de singularidades caractersticos do mtodo clssico J
0
...J
2
.
Sudarshanam multiplicou duas relaes de recorrncia de Bessel para desenvolver a
tcnica J
1
...J
4
[113]. Verificou-se, durante os estudos no desenvolvimento desse trabalho que,
dividindo-se estas mesmas funes, a fase ) (
0
t pode ser obtida diretamente, sendo esta nova
tcnica de medio de ) (
0
t outra contribuio adicional nesta tese.
Analisando-se os fluxogramas das Figs. 5.12 e 5.24 constata-se que ambos tm uma
parte comum, referente identificao do coeficiente m utilizado nas equaes, para a
estimao de x e de ) (
0
t , respectivamente. Assim, prope-se um terceiro fluxograma,
mostrado na Fig. 5.26, o qual permite estimar ambos, o ndice de modulao x e a fase ) (
0
t .
Como se observa, o algoritmo compacto, empregando-se somente a magnitude de algumas
harmnicas nos clculos (sem necessidade de correo do sinal algbrico da amplitude das
harmnicas), em que equaes algbricas simples so utilizadas.
Para os mtodos espectrais clssicos estudados, as medies devem ser realizadas
somente em instantes favorveis, no tempo, pois a condio 2 / ) (
0
n t = rad deve ser
evitada. Alm disso, a faixa dinmica de x, na estimao deste parmetro e da fase ) (
0
t , est
limitada a alguns radianos. Diferentemente disto, o emprego do fluxograma da Fig. 5.26,
possibilita medies contnuas no tempo, tanto para o ndice de modulao de fase x, quanto
para a fase ) (
0
t , para uma ampla faixa dinmica de valores de x.


171

Figura 5.26 Fluxograma de estimao de x e de ) (
0
t usando os novos mtodos espectrais.

No prximo Captulo sero mostrados tambm resultados do comportamento dos
mtodos espectrais no processamento em um ambiente dinmico de simulao, na presena de
rudo branco limitado em faixa, com distribuio de probabilidades Gaussiana.

1 = m m 85 , 0 || || >
m
V

sim
no
mx
mx m m m
m m
V V V
=
= | | / | | || ||
) 1 (
) 1 (
3 1 1
2 2 1
||) || || (|| || || ) 1 (
||) || || (|| || | ) 2 (
tan ) ( '
+
+ + +
+ +
+ +
+ +
=
m
m m m
m m m
o
V V V m
V V V m
t
||] || ) 1 ( || || ||)[ || (
|| || ||) || || || (
) 2 )( 1 ( 4 '
2 2
2 2
+ +
+ +
+ + +
+
+ + =
m m m m m m
m m m m m
V b V a V V
V V b V a
m m x
) 1 ( , ,
) 1 (
mx m m
mx m
m m b a m
m m V

Fim
172
CAPTULO 6
SIMULAES DINMICAS E RESULTADOS

Neste captulo, descrevem-se a implementao no Simulink, dos mtodos espectrais
clssicos discutidos no Captulo 4 e dos novos mtodos, propostos no Captulo 5. O Simulink
um software para modelagem, simulao e anlise de sistemas dinmicos. Trata-se de uma
extenso do Matlab [174]. O modelo implementado no Simulink possibilita a obteno de
vrios resultados grficos, possibilitando compar-los e avaliar a eficincia dos novos
mtodos propostos, em simulaes dinmicas com rudo branco (com distribuio de
probabilidades Gaussiana) e ) (
0
t varivel. Alm disso, os algoritmos implementados
permitiro avaliar a complexidade matemtica e de processamento (carga computacional)
envolvida em cada um dos mtodos espectrais.
Pretende-se tambm, com as simulaes dinmicas realizadas no Simulink, a validao
do cdigo implementado, e a iniciao de um trabalho de configurao dos algoritmos
referentes aos mtodos espectrais, para operao em tempo real, usando um DSP, sendo o
Simulink/Matlab uma das plataformas de software que permite interfaceamento com placas de
DSPs [175]. Como exemplo, cita-se a famlia de processadores TMS320C67x, fabricada pela
Texas Instruments [176]. Outro software de desenvolvimento similar o Labview, produzido
pela National Instruments: um ambiente de simulao e desenvolvimento que tambm fornece
ao usurio uma interface grfica para o desenvolvimento e simulao de sistemas dinmicos.
Baseando-se no sistema que ser elaborado no Simulink, descrito na prxima seo,
possvel ajust-lo para que seja utilizado tambm no ambiente de software do Labview [177].
Portanto, visto que, estando o modelo funcionando em uma plataforma de simulao
dinmica, sua preparao para uma implementao em placas de DSPs torna-se mais fcil,
considerar-se- o desenvolvimento realizado neste captulo, uma contribuio, no sentido que
fornecer uma base para tal implementao, que poder ser realizada numa pesquisa futura.
A motivao para a implementao dos mtodos espectrais em ambiente grfico de
simulao em computador que as novas tcnicas espectrais (propostas no Captulo 5 desta
tese) por apresentarem baixa complexidade matemtica, possibilitam a implementao para
operao em tempo real a um baixo custo, desde que as freqncias dos sinais eltricos
Simulaes dinmicas e resultados

173
envolvidos no ultrapassem alguns kHz. Escolheu-se o Simulink/Matlab para a
implementao e teste dos mtodos devido praticidade de visualizao e modificao dos
algoritmos, alterao de parmetros e obteno de resultados grficos durante as simulaes.
Limitou-se neste trabalho, elaborao e testes dos modelos no Simulink, sendo o ajuste dos
modelos para operao em placas de DSP, uma proposta de trabalho futuro. Alm disso,
optou-se pelo desenvolvimento em Simulink, visto ser este um software muito difundido
atualmente, com credibilidade e de fcil acesso na maioria dos computadores disponveis nos
laboratrios do Departamento de Engenharia Eltrica da FEIS-UNESP.

6.1 Implementao dos Mtodos Espectrais no Simulink

Vale ressaltar algumas caractersticas do Simulink, assim enumeradas: 1) permite a
modelagem de sistemas lineares e no lineares em tempo contnuo, tempo discreto ou um
modelo hbrido dos dois, que podem trabalhar com multitaxas, isto , ter diferentes partes que
so amostradas ou sub-amostradas sob diferentes taxas de amostragem, 2) possui um
ambiente grfico que torna fcil a modificao do algoritmo, 3) possibilita a alterao de
parmetros durante a simulao e a observao imediata do comportamento do sistema diante
da modificao realizada, 4) possui mostradores grficos que permitem visualizar resultados
da simulao durante a sua realizao, 5) resultados da simulao podem ser transferidos para
variveis no ambiente de trabalho do Matlab (workspace) para ps-processamento, 6) possui
uma biblioteca de controladores de dispositivos (drivers), incluindo placas de aquisio de
dados, e outras interfaces de E/S, e 7) permite compilao do algoritmo para processamento
em placas de DSPs.
A modelagem dos mtodos espectrais no Simulink foi realizada usando sua interface
grfica, onde os modelos foram elaborados no formato de diagramas contendo blocos
funcionais interligados. O Simulink inclui uma ampla biblioteca de blocos funcionais, dentre
os quais se destacam os de processamento digital de sinais, sendo estes os mais utilizados
neste trabalho, visto que se optou por processamento digital, com anlise em freqncia
usando um algoritmo de transformada de Fourier discreta de curta durao (STFT Short
Time Fourier Transform).
Observa-se que os mtodos de demodulao de fase ptica de sinais interferomtricos
foram implementados primeiramente utilizando a linguagem interpretada do Matlab, em

174
linhas de comando, para a obteno dos resultados apresentados anteriormente nos Captulos
4 e 5 desta tese.
Os algoritmos referentes aos mtodos espectrais, desenvolvidos no Simulink, foram
implementados em um nico modelo elaborado no ambiente de trabalho do Simulink, o qual
mostrado na Fig. 6.1.

Figura 6.1 Modelo implementado no Simulink para simulao dos mtodos espectrais.

O sinal modulado em fase, tpico do fotodetectado em um interfermetro homdino,
gerado no prprio ambiente de simulao. Para facilitar a compreenso e anlise do modelo
implementado, as vrias etapas do processamento foram associadas aos seguintes
subsistemas, desenvolvidos durante a elaborao do modelo no Simulink:
Gerao do Sinal modulado em fase;
Anlise de sinal e identificao das harmnicas;
Clculo da fase inicial (
s
);
Clculo das amplitudes das harmnicas usando a fase
s
;
Anlise das harmnicas;

175
Clculo de x usando os mtodos espectrais clssicos;
Clculo de x usando os mtodos espectrais J
1
/J
3
A e J
1
...J
3
;
Clculo de x usando o mtodo J
m
/J
m+2
;
Clculo de ) (
0
t usando mtodos espectrais;
Clculo de x usando os mtodos J
0
...J
3
e J
0
...J
2
;
Mostradores grficos/Armazenamento em variveis no Matlab.
Verificar-se- nas figuras que representam os subsistemas desenvolvidos, que vrios
blocos funcionais foram utilizados na elaborao destes. A funo de vrios blocos
funcionais do Simulink e dos parmetros associados a estes podem ser obtidas em [178].
O subsistema de Gerao do sinal modulado em fase mostrado na Fig. 6.2, onde um
sinal similar ao interferomtrico (normalizado) foi gerado artificialmente usando o prprio
ambiente de simulao a fim de obter-se um sinal da forma
) ( )]} ( ) ( ) ( cos[ 1 { 5 , 0
0
t r t sen x t xsen t F
a a s s
+ + + + + , sendo que F representa a
visibilidade, ) (
0
t identificado como a fase aleatria que provoca o desvanecimento do sinal
fotodetectado, e x o ndice de modulao. Os parmetros x
a
e
a
referem-se aos termos de
modulao auxiliar usados no clculo de x atravs dos mtodos J
0
...J
2
e J
0
...J
3
, e ser atribudo
um valor diferente de zero a estes parmetros somente na anlise destes mtodos. Os
parmetros x, x
a
,
s
,
a
, F,
s
e ) (
0
t podem ser variados durante a simulao do algoritmo,
permitindo desta forma, flexibilidade na obteno e anlise de resultados. A varivel ) (t r
representa o rudo aditivo predominante no sistema (devido fotodeteco e amplificao do
sinal), sendo que foi adotado rudo branco com distribuio de probabilidades gaussiana nas
simulaes, no qual seu valor mdio e varincia podem ser definidos diretamente no modelo
implementado.
No subsistema de anlise de sinal e identificao das harmnicas, mostrado na Fig. 6.3,
o sinal temporal ) ( ) ( t r t s + janelado (pode-se escolher o tipo de janela) e um algoritmo de
Transformada Discreta de Fourier aplicado. A forma da janela (na Fig. 6.3) e o seu
comprimento devem ser escolhidos de modo a garantir resoluo espectral suficiente para a
identificao das harmnicas e evitar interao entre as amplitudes de duas componentes de
freqncias prximas (leakage) [170]. Se por um lado, o uso de uma janela de comprimento

176

Figura 6.2 Subsistema de gerao do sinal modulado em fase.

(a)

(b)

Figura 6.3 Subsistema de anlise do sinal modulado em fase [ ) ( ) ( t r t s + ] e identificao das
componentes espectrais (a) Clculo usando uma FFT. (b) Clculo usando o algoritmo de Goertzel.
) (
s s
t xsen +

cos
[ ] ) ( ) cos 1
2
1
t s F = +
) ( t sen x
a a

) (
0
t
) (
0
t

177
to grande quanto possvel melhora a resoluo espectral, por outro, o tamanho da janela deve
ser limitado a um quadro que garanta ) (
0
t esttico neste intervalo de anlise. Portanto o
comprimento da janela fica vinculado variao mxima passvel de ocorrer em ) (
0
t ,
durante as medies. Alm disso, visto que o sinal modulado em fase peridico
(desconsiderando o desvanecimento aleatrio de sinal), a janela tambm deve conter alguns
perodos do sinal para assegurar resoluo espectral. Portanto deve existir um compromisso
entre um tamanho mnimo que garanta resoluo em freqncia e um tamanho mximo que
garanta resoluo no tempo (janela estacionria de sinal temporal).
A insero de zeros (Zero Padding) pode ser utilizada para se obter um quadro de 2
l

pontos (l inteiro positivo) e possibilitar a aplicao de uma FFT por dizimao no tempo ou
freqncia. Alm disso, a insero de zeros aumenta o espaamento de uma harmnica da
outra, no espectro (em relao aos seus ndices), o que pode facilitar a identificao destas
componentes espectrais. Destaca-se que este procedimento no melhora a resoluo espectral
[170], que deve ser previamente garantida no janelamento do sinal, processo que deve vir
antes da insero de zeros, como mostrado nos diagramas das Figs. 6.3-a e 6.3-b. Para um
sinal temporal janelado de comprimento igual a N amostras, a DFT um vetor de N amostras,
se no houver insero de zeros. Os elementos deste vetor esto igualmente distribudos entre
as freqncias 0 (nvel DC) e f
am
, sendo f
am
a freqncia de amostragem do sinal no tempo.
Portanto, a magnitude da harmnica de ndice n da DFT est associada freqncia
1 ) / (
1
+ N f nf
am
, sendo
1
f a freqncia fundamental. Com a insero de N
z
zeros, a DFT se
torna de comprimento (N+N
z
) amostras. Assim, o espaamento entre as amostras cresce e a
magnitude de ndice n ser dada por 1 ) )( / (
1
+ +
z am
N N f nf . Verifica-se que o nmero de
pontos entre as harmnicas aumenta de ) / (
1 am
f f N para ) / )( (
1 am z
f f N N + . Estes dados
foram empregados na seleo automtica da magnitude das harmnicas, no subsistema da Fig.
6.3, facilitando a identificao quando se variam parmetros como a freqncia fundamental
do sinal, a freqncia de amostragem, o tamanho da janela, etc.
O uso de uma DFT de N pontos atravs de um algoritmo de dizimao em freqncia ou
no tempo demanda (N/2)log
2
N multiplicaes complexas e Nlog
2
N adies complexas,
enquanto o algoritmo de Goertzel requer 2(N+2) multiplicaes reais e 4(N+1) adies reais
para cada harmnica calculada [170]. Se o nmero M de harmnicas a ser calculado menor
do que ) ( log )] 1 /( [
2
N N N + [179] prefervel calcular a amplitude das harmnicas usando
um algoritmo de Goertzel, como proposto na Fig. 6.3-b, pois o processamento mais rpido.

178
Por exemplo, para N=512 amostras, conveniente aplicar o algoritmo de Goertzel se M < 9, o
que justifica o seu emprego para a maioria dos mtodos espectrais, visto que estes utilizam at a
sexta harmnica nos clculos. Uma exceo o mtodo J
m
/J
m+2
, na condio de alto ndice de
modulao. Neste caso, o clculo por uma FFT mais adequado. Apesar disso, como os
novos mtodos J
1
/J
3
A e J
1
...J
3
utilizam somente duas componentes espectrais, se comparados
aos mtodos clssicos, a implementao usando o algoritmo de Goertzel implica numa reduo
de praticamente 50% no nmero de operaes, em relao ao mtodo J
1
...J
4
, e de 67%, em
relao aos mtodos J
1
...J
6
-neg e J
1
...J
6
-pos. A Tab. 6.1 mostra o nmero de operaes no
clculo das componentes do espectro, usando Goertzel, de alguns dos mtodos espectrais, para
uma janela de 512 amostras. No caso de insero de zeros, conveniente aplicar Goertzel ao
invs de uma FFT convencional se ) ( log )] 1 /( [(
2 Z Z
N N N N N M + + + < , o que torna ainda
mais atraente o uso do algoritmo de Goertzel para os novos mtodos J
1
/J
3
A e J
1
...J
3
.

Tabela 6.1 Nmero de operaes reais de adio e multiplicao envolvidas no clculo das
componentes de freqncias usando Goertzel para alguns mtodos espectrais e janela de 512
amostras.
Operaes reais
Mtodo Adies Multiplicaes
J
1
...J
4
8208 4112
J
1
...J
6-
neg e J
1
...J
6
-pos 12312 6168
J
0
...J
2
10260 5140
J
1
/J
3
A e J
1
...J
3
4104 2056
J
0
...J
3
16416 8224

De acordo com o mtodo J
1
...J
4
Modificado [114], as amplitudes das harmnicas podem
ser calculadas a partir das partes real ( '
n
a ) e imaginria ( '
n
b ) da FFT. A correo dos sinais
algbricos das harmnicas (e no somente o uso de suas magnitudes) necessria para
medies de ndices de modulao acima de 3,83 rad, a partir do qual a amplitude da
componente fundamental torna-se negativa. O clculo das amplitudes das harmnicas (com
seus devidos sinais algbricos) deve passar por um processo prvio de determinao da fase
inicial
s
do sinal de excitao ) (
s s
t xsen + . O procedimento para o clculo de
s
est
ilustrado no subsistema da Fig. 6.4.

179

Figura 6.4 Subsistema de clculo da fase inicial
s
.

O subsistema de clculo das harmnicas, de acordo com [114], mostrado na Fig. 6.5.
Uma das vantagens do novo mtodo J
m
/J
m+2
para o clculo de x, e da nova proposta de clculo
de ) (
0
t , que so baseados somente na magnitude das harmnicas e, portanto, o uso destes
subsistemas descartado, sendo a magnitude das harmnicas obtidas diretamente do mdulo
da FFT.

Figura 6.5 Subsistema de clculo das amplitudes das harmnicas usando a fase
s
.


180
A monitorao das amplitudes das harmnicas foi realizada atravs do subsistema de
anlise das harmnicas, mostrado na Fig. 6.6. Atravs da visualizao dos mostradores deste
subsistema, foi possvel comparar o clculo das magnitudes das seis primeiras harmnicas
utilizando o algoritmo de Goertzel (Fig. 6.3-b), o mdulo da FFT (Fig. 6.3-a) e as amplitudes
obtidas quando o sinal complexo da FFT processado pelo subsistema de clculo das
amplitudes das harmnicas usando a fase
s
(Figs. 6.4 e 6.5).

Figura 6.6 Subsistema de anlise das harmnicas.

Usando como parmetros de entrada as amplitudes das seis primeiras harmnicas,
elaborou-se o subsistema de clculo de x usando os mtodos clssicos J
1
...J
4
, J
1
...J
6
-neg e
J
1
...J
6
-pos, mostrado na Fig. 6.7.

Figura 6.7 Subsistema de clculo de x usando os mtodos espectrais clssicos.


181
Os novos mtodos propostos para o clculo de x, denominados J
1
/J
3
A e J
1
...J
3
,
implementados no Simulink, esto agrupados no subsistema da Fig. 6.8. Comparando os dois
subsistemas (diagramas das Figs. 6.7 e 6.8) verifica-se que ambos apresentam simplicidade de
implementao, sendo o nmero de operaes para o clculo de x, bem menor do que as
operaes de adio e multiplicao necessrias transformao do sinal do domnio do
tempo para a freqncia, indicados na Tab. 6.1. Para se ter idia de tal comparao, cita-se
os mtodos J
1
...J
6
-pos e J
1
...J
3
, que possuem a mesma faixa dinmica, e que envolvem,
respectivamente, 16 e 44 operaes matemticas simples, incluindo adies, multiplicaes,
etc. No entanto, de acordo com a Tab. 6.1, a aplicao do algoritmo de Goertzel para o
clculo das componentes espectrais utilizadas nos mtodos implica em 18480 operaes
(adies e multiplicaes reais) para o mtodo J
1
...J
6
-pos
,
contra somente 6160 operaes
semelhantes para o novo mtodo J
1
...J
3
, o que o torna atraente sob o ponto de vista
computacional.

Figura 6.8 Subsistema de clculo de x usando os novos mtodos J
1
/J
3
A e J
1
...J
3
.

O mtodo J
m
/J
m+2
o mais interessante proposto nesta tese, devido sua faixa dinmica
expandida (da ordem de duas ordens de grandeza em relao aos mtodos clssicos) e
tambm por no apresentar as restries pertinentes aos mtodos clssicos estudados. No
entanto, o nmero de harmnicas envolvidas na anlise proporcional faixa dinmica
analisada, o que conduz determinao das harmnicas atravs de uma FFT, ao invs do uso
do algoritmo de Goertzel. O mtodo J
m
/J
m+2
foi montado no ambiente de trabalho do
Simulink, para operao automtica, resultando no subsistema da Fig. 6.9, tambm de baixa
carga computacional. Basicamente, o armazenamento de uma matriz com os coeficientes
n
a

182
e
n
b (196 nmeros reais) e uma equao simples, definida em (5.27), foram necessrios para
sua implementao, alm de alguns blocos comparadores e de seleo de elementos de
vetores (valores e ndices). Desta forma, medies de ndices de modulao de at 100 rad
podem ser realizadas, desde que sejam identificadas as primeiras 98 harmnicas do sinal
modulado em fase.

Figura 6.9 Subsistema de clculo de x usando o mtodo J
m
/J
m+2
.

Os mtodos espectrais usando modulao auxiliar J
0
...J
2
(clssico) e J
0
...J
3
foram
montados no Simulink de acordo com o diagrama de blocos funcionais interligados mostrado
na Fig. 6.10. Como se verifica tambm para estes casos, no h complexidade matemtica
envolvida. Destaca-se que as harmnicas de entrada deste subsistema esto deslocadas no
espectro de uma freqncia f
a
, efeito provocado pelo batimento entre o sinal senoidal de
interesse (de freqncia f
s
) e o sinal modulador auxiliar, tambm senoidal (de freqncia f
a
).
As novas componentes espectrais, de acordo com o texto apresentado no Captulo 3, so
identificadas como V
(1,0)
, V
(1,1)
, V
(1,2)
, V
(2,0)
, V
(2,1)
, V
(2,2)
, V
(3,0)
e V
(3,1)
. Vale lembrar que estes
mtodos so adequados para medies de baixos ndices de modulao x, onde a faixa

183
dinmica largamente expandida, se comparada aos outros mtodos analisados. Os termos x
a

e ) (
0
t podem ser monitorados pelo uso do novo mtodo, como mostra o diagrama em blocos
da Fig. 6.10. Isto facilita o ajuste de x
a
para um valor onde o erro nos clculos seja
minimizado.

Figura 6.10 Subsistema de clculo de x atravs dos mtodos J
0
...J
2
e J
0
...J
3
.

O clculo ou a monitorao de ) (
0
t para os sistemas que no usam a modulao
auxiliar obtido pelo subsistema de clculo da fase ) (
0
t , mostrado na Fig. 6.11, onde dois
algoritmos foram elaborados, referentes ao mtodo desenvolvido por Sudarshanam e ao novo
mtodo proposto nesta tese. No mtodo de Sudarshanam, alm da necessidade do clculo de
x, a faixa dinmica fica limitada a aproximadamente 3,6 rad. O novo mtodo, implementado
de forma generalizada de acordo com (5.44), tem faixa dinmica limitada somente pela taxa
de amostragem e capacidade de processamento da plataforma de hardware e software
utilizada.
Finalmente, seguindo a mesma maneira de organizao durante o desenvolvimento do
modelo no Simulink, dois subsistemas foram elaborados, um para a visualizao de resultados
grficos e outro, para o armazenamento destes em variveis, para que as mesmas pudessem

184
ser ps-processadas a partir de linhas de comandos do Matlab. Este ltimo permitiu a
elaborao dos grficos apresentados no final deste captulo, de forma mais adequada.

Figura 6.11 Subsistema de clculo de
o
(t) usando os mtodos espectrais.

6.2 Resultados das Simulaes

As simulaes foram realizadas para um sinal modulador de freqncia f
s
= 500 Hz,
atribuindo-se uma taxa de amostragem f
am
= 16 kHz. Para as simulaes dos mtodos J
0
...J
2
e
J
0
...J
3
, adotou-se x
a
entre 2 e 3 rad e f
a
= 653 Hz.

6.2.1 Sinal Modulado em fase gerado no Simulink

O sinal modulado em fase gerado no Simulink a uma taxa de 16 kHz foi janelado
usando-se um quadro temporal de 512 amostras. Para as simulaes nenhum fator de overlap
foi utilizado, tampouco, a insero de zeros (zero padding), por no haver necessidade no
caso analisado; com exceo dos mtodos com modulao auxiliar, em que uma insero de

185
N
z
= 7680 amostras nulas foi realizada a cada janela temporal, para facilitar a identificao
correta das componentes espectrais utilizadas no clculo de x. Um sinal de rudo com
distribuio Gaussiana, mdia nula e desvio padro =0,005 (ou varincia
6 2
10 25

= )
foi adicionado ao sinal modulado puro ) (t s , obtendo-se na sada o sinal modulado ruidoso
) ( ) ( t r t s + , de onde se deseja extrair o ndice de modulao de fase x usando anlise
espectral. Um exemplo de forma de onda janelada gerada apresentado no grfico da Fig.
6.12-a para janela retangular, e, o seu respectivo espectro de magnitude, calculado utilizando
uma FFT tambm de 512 pontos, na Fig. 6.12-b. De forma anloga, tem-se na Fig. 6.13-a o
mesmo quadro de sinal para uma janela de Hanning, e, na Fig. 6.13-b, o espectro de
magnitude associado. Em ambos os casos, o ndice de modulao x = 2,9 rad, a fase ) (
0
t
igual a /4 rad e adotou-se visibilidade unitria ( 1 = F ).

Fig 6.12 Sinal modulado em fase gerado para x=2,9 rad e
o
(t)=/4 rad. (a) quadro temporal do sinal
usando janela retangular. (b) Espectro de magnitude do sinal janelado.

Observa-se claramente nas Figs. 6.12-b e 6.13-b, as seis primeiras harmnicas do sinal
(V
1
-V
6
). Nota-se tambm, um maior alargamento das linhas espectrais que identificam as
harmnicas ao utilizar-se janela de Hanning, o que no compromete a resoluo espectral,
visto existir uma distncia de separao entre as harmnicas subjacentes no espectro.
O efeito da insero de zeros para o clculo da FFT (zero padding) pode ser visto nos
grficos da Fig. 6.14. Na Fig. 6.14-a tm-se as 200 primeiras amostras de uma FFT de 512
pontos, aplicada janela temporal da Fig. 6.13-a, de comprimento igual a 512 amostras. Na Fig.
V
5
V
1
V
2
V
3

V
4
V
6

186
6.14-b tm-se as 200 primeiras amostras de uma FFT de 1024 pontos, calculada para a mesma
janela de sinal, complementada com 512 amostras nulas (zero padding). Comparando os dois
espectros verifica-se que o preenchimento com zeros, neste caso, distanciou as harmnicas, com
relao aos ndices no espectro, um recurso que pode facilitar a identificao das magnitudes
destas, no espectro.

Fig 6.13 Efeito do janelamento para o sinal modulado gerado, para x=2,9 rad e
o
(t)=/4 rad. (a) quadro
temporal do sinal usando janela de Hanning. (b) Espectro de magnitude do sinal janelado.

Figura 6.14 Distanciamento das componentes no espectro, como efeito do preenchimento com zeros. (a)
FFT de 512 pontos. (b) FFT de 1024 pontos (512 pontos do sinal janelado + 512 pontos nulos).
V
5
V
1
V
2
V
3

V
4
V
6
V
5
V
1
V
2
V
3
V
4
V
6


187
6.2.2 Estimao do Fator de Rudo K

A estimao do fator de rudo K foi realizada a partir da anlise de uma amostra do
espectro de magnitude do sinal modulado em fase normalizado, mostrada na Fig. 6.15, obtida
para x = 1,9 rad e 2 / ) (
0
= t rad. O objetivo foi o de maximizar a componente fundamental,
no entanto, pode-se medir K considerando-se outros valores de x e ) (
0
t . O valor de K pode
ser estimado a partir de (3.34) como ) 1 /( ) 9 , 1 (
1 1
= SNR rad J K

{para 1 )] ( [
0
= = t sen P },
sendo que SNR
1
a relao sinal rudo estimada para a componente fundamental do espectro.
Como o espectro da Fig. 6.15 est normalizado, a SNR
1
corresponde a
) 20 / (
10
RdB
, sendo R
dB
o
nvel mdio da magnitude do rudo, medido no espectro, em dB. Estimando-se o nvel mdio
do rudo no espectro de magnitude do sinal (na banda at 8 kHz), obteve-se dB R
dB
1 , 63 =
(conforme indicado no grfico da Fig. 6.15). Portanto o valor estimado do fator de rudo
aproximadamente K=0,0004. Destaca-se que este foi o valor utilizado nas simulaes
realizadas nos Captulos 4 e 5 desta tese. No entanto, naquela anlise considerou-se rudo
branco ilimitado em banda, onde K foi feito constante. Da tambm, a importncia da anlise
a ser realizada nas prximas sees, pois sero as mais prximas da realidade, encontrada em
sistemas experimentais.

Figura 6.15 Espectro de magnitude utilizado na estimao do fator de rudo K.

6.2.3 Respostas dos Subsistemas de Clculo do ndice de
Modulao de Fase (x) para x Variando e
o
(t) Constante.

A primeira tarefa realizada baseada nos resultados de simulao avaliar a faixa
dinmica de cada um dos mtodos e o respectivo erro no clculo de ' x , na condio de ) (
0
t
constante. Atribui-se 4 / ) (
0
= t rad e varia-se o ndice de modulao esperado x, de 0 a 7
V
5
V
1

V
3


188
rad, a incrementos regulares de 2,33 mrad. O modelo executado no Simulink para um tempo
programado de simulao de 30 s, de onde se obtm os grficos das Figs. 6.16 e 6.17, atravs
dos quais se comparou o clculo de ' x pelos mtodos clssicos J
1
...J
4
, J
1
...J
6
-neg, J
1
...J
6
-pos
com o obtido pelo novo mtodo J
1
...J
3
.
O resultado da Fig. 6.16 indica um aumento no limite superior da faixa dinmica em
torno de 20% (de 5 rad para 6 rad), do novo mtodo J
1
...J
3
em relao ao mtodo J
1
...J
4
, visto
que o MDPS praticamente o mesmo para os dois mtodos (em torno de 0,2 rad).
Figura 6.16 Respostas dos subsistemas de clculo de x em funo do valor esperado x, para
o
(t)=/4
rad. (a) Mtodo J
1
...J
4
. (b) Erro relativo
r
x pelo mtodo J
1
...J
4
. (c) Mtodo J
1
...J
3
. (d) Erro relativo
r
x pelo mtodo J
1
...J
3
.

Um resultado novo obtido para o mtodo J
1
...J
6
-neg, visto que este mtodo foi
originalmente desenvolvido visando a diminuio do MDPS e a melhoria da resposta para
baixos ndices de modulao. O mtodo J
1
...J
6
-neg foi simulado em [118] para um padro de
rudo 1/f
2
, onde no se considerou nenhuma distribuio de probabilidade. No entanto, na
presena de rudo branco com distribuio Gaussiana (como o gerado na simulao), verifica-
se nos resultados das Figs. 6.17-a e 6.17-b, uma resposta insatisfatria para baixos ndices de
modulao, obtendo-se uma resposta inferior do mtodo J
1
...J
3
, mostrada nas Figs. 6.17-c e
6.17-d. Alm disso, a faixa dinmica do mtodo J
1
...J
6
-neg est limitada a 3,6 rad (Fig. 6.17-
b), cerca de 70% inferior do novo mtodo J
1
...J
3
.
J
1
.
.
.
J
4

J
1
.
.
.
J
3


189

Figura 6.17 Respostas dos subsistemas de clculo de x em funo de x, para
o
1
...J
6
-
neg. (b) Erro relativo
r
x pelo mtodo J
1
...J
6
-neg. (c) Mtodo J
1
...J
3
. (d) Erro relativo
r
x pelo mtodo J
1
...J
3
.

Os grficos da Fig. 6.18 foram obtidos numa simulao em que x variou de 0 a 14 rad,
em incrementos de 4,67 mrad. O tempo programado para a simulao foi de 30 s. Os
resultados mostram a expanso na faixa dinmica obtida pelo emprego do mtodo J
m
/J
m+2
,
que, para o modelo simulado (definiu-se 500 =
s
f Hz e 16 =
am
f kHz), possibilitou o uso de
at 15 harmnicas, obtendo-se uma faixa dinmica de at 14 rad (Figs. 6.18-c e 6.18-d),
contra 6,2 rad do mtodo J
1
...J
6
-pos (Figs. 6.18-a e 6.18-b), indicando uma aumento de 130%
pelo uso do novo mtodo, para as condies estabelecidas na simulao.
A melhoria da resposta em baixos ndices de modulao (x < 1 rad) conseguida
efetivamente com o uso dos mtodos J
0
...J
2
e J
0
...J
3
, devido reduo das ordens harmnicas
utilizadas no clculo de ' x . Este fato pode ser comprovado, analisando-se os grficos da Fig.
6.19, obtidos para x
a
= 2,2 rad e variando-se x de 0 a 2,4 rad, em incrementos menores que 1
mrad, mantendo-se 4 / ) (
0
= t rad, numa simulao de 40 s. Comparando-se os resultados
obtidos nas Figs. 6.19-a e 6.19-c, observa-se que os mtodos J
0
...J
2
(clssico) e J
0
...J
3
(novo)
tm praticamente a mesma faixa dinmica. A linha tracejada em cor vermelha nos grficos
indica o valor esperado de x. Para ndices muito pequenos (x < 0,1 rad) os erros pelos
clculos usando os mtodos J
0
...J
2
e J
0
...J
3
tambm so semelhantes (Figs. 6.19-b e 6.19-d,
respectivamente), observando que estas simulaes foram realizadas mantendo-se ) (
0
t

J
1
.
.
.
J
3

J
1
.
.
.
J
6
-
n
e
g


190
constante, igual a 4 / rad. Nesta condio, o erro relativo (
r
x ), para x = 50 mrad, est em
torno de 10 % para os dois mtodos. As Figs. 6.19-b e 6.19-d tm seus eixos em escalas
logartmicas, para expandir a regio de baixos ndices.

Figura 6.18 Respostas dos subsistemas de clculo de x em funo do valor esperado de x, para
o
(t)=/4
rad. (a) Mtodo J
1
...J
6
-pos. (b) Erro relativo
r
x pelo mtodo J
1
...J
6
-pos. (c) Mtodo J
m
/J
m+2
. (d) Erro
relativo
r
x pelo mtodo J
m
/J
m+2
.

Figura 6.19 Respostas dos subsistemas de clculo de x em funo do valor esperado de x, para
o
(t)=/4
rad. (a) x pelo mtodo J
0
...J
2
e - - valor esperado x. (b) Erro
r
x pelo mtodo J
0
...J
2
. (c) x pelo
mtodo J
0
...J
3
e - - valor esperado x. (d) Erro
r
x pelo mtodo J
0
...J
3
.
J
1
.
.
.
J
6
-
p
o
s

J
m
/
J
m
+
2

J
0
.
.
.
J
2

J
0
.
.
.
J
3


191
Em geral, as simulaes mostraram que, apesar dos novos mtodos serem modelos
aproximados, as respostas obtidas mostraram um erro muito pequeno dentro de suas
respectivas faixas dinmicas. Conseguiu-se, na maioria dos casos, a expanso da faixa
dinmica e a reduo do nmero de harmnicas utilizada nos clculos. A principal vantagem
dos novos mtodos a eliminao de restries inerentes aos mtodos clssicos, na situao
de ) (
0
t variando, que ficar evidente nos resultados apresentados na prxima seo.

Modulao de Fase para
o
(t) Variando e x Constante.

Vrias simulaes foram realizadas mantendo-se x constante e variando-se ) (
0
t , cujos
resultados so mostrados nas Figs. 6.20 a 6.24. A variao de ) (
0
t

foi feita senoidal,
gerando-se uma funo da forma ) 025 , 0 2 ( ) 4 / ( 4 / t sen rad. Esta forma de onda
permitiu a ocorrncia das duas condies distintas 0 ) (
0
= t e 2 / ) (
0
= t rad que, como
visto no Captulo 3, so pontos de singularidades inerentes ao clculo usando os mtodos
espectrais clssicos. O objetivo avaliar o erro causado nos clculos nas proximidades destes
pontos durante as simulaes, e as vantagens dos novos mtodos quando o rudo est presente
e quando ocorre a deriva da fase ) (
0
t durante medies ininterruptas em um determinado
intervalo de tempo. A durao de cada simulao foi de 80 s.
As Figs. 6.20 a 6.24 [(a) e (b)] mostram o erro relativo percentual no clculo de x, em
funo do tempo, com a variao de ) (
0
t , que aparece sempre no grfico (c) de cada figura,
permitindo a comparao entre um mtodo clssico [grfico (a)] e um novo mtodo espectral
[grfico (b)], e a verificao das regies onde o erro aumenta significativamente, nas
proximidades de 0 ) (
0
= t e/ou 2 / ) (
0
= t rad. Destaca-se que o erro nestas regies
potencializado pelo nvel do rudo aditivo gerado pelo sistema.
Na Fig. 6.20 compara-se os mtodos J
1
...J
4
e J
1
...J
3
, para x=2,6 rad (valor mdio da faixa
dinmica do mtodo J
1
...J
4
), ficando bvio as regies em que os erros crescem, chegando a 100%.
Os erros relativos (
r
x ) tm seus eixos (correspondem s ordenadas nas Figuras) em escalas
logartmicas, limitadas faixa de 0,1% a 100%, para melhor interpretao dos resultados.
Os grficos das Figs. 6.21 e 6.22 esto em escala linear, com o erro limitado a valores
entre 0 e 50%. Na Fig. 6.21 observa-se a excelente resposta obtida para o mtodo J
m
/J
m+2


192

Figura 6.20 Respostas dos subsistemas de clculo de x em funo do tempo de simulao, para x=2,6
rad e
o
r
x pelo mtodo J
1
...J
4
. (b) Erro
r
x pelo mtodo J
1
...J
3
. (c) Fase
o
(t).

Figura 6.21 Respostas dos subsistemas de clculo de x em funo do tempo, para x=5,5 rad e
o
(t)
variando. (a) Erro
r
x pelo mtodo J
1
...J
6
-pos. (b) Erro
r
x pelo mtodo J
m
/J
m+2
. (c) Fase
o
(t).

(Fig. 6.21-b), se comparada do mtodo J
1
...J
6
-pos (Fig. 6.21-a), ambas obtidas para x = 5,5
rad. Para x = 1 rad, obteve-se os resultados apresentados na Fig. 6.22, que comprovam a
reduo no erro para o mtodo J
m
/J
m+2
(Fig. 6.22-b), quando comparado distribuio de erro
do clculo usando o mtodo J
1
...J
6
-pos (Fig. 6.22-a). No entanto, neste caso ( 1 = x rad), ainda
J
1
.
.
.
J
3

J
1
.
.
.
J
4

J
1
.
.
.
J
6
-
p
o
s

J
m
/
J
m
+
2


193
verifica-se um erro elevado (25%) nas proximidades de 0 ) (
0
= t para o novo mtodo, o que
est de acordo com o as simulaes realizadas no Captulo 5, onde se obteve, um MDPS de
4 , 0 = x rad na condio 0 ) (
0
= t (cruzamento da curva tracejada x x = com asterisco em
cor azul, no grfico da Fig. 5.14). Deve-se lembrar que o MDPS corresponde a um erro de
100% no clculo de x. Para ndices menores do que 1,5 rad, recomenda-se evitar a condio
n t = ) (
0
rad, ou empregar o mtodo J
0
...J
3
, cuja resposta para ndices da ordem de mrad at
2 rad satisfatria tambm na condio n t = ) (
0
rad.

Figura 6.22 Respostas dos subsistemas de clculo de x em funo do tempo, para x=1 rad e
o
(t)
variando. (a) Erro
r
x pelo mtodo J
1
...J
6
-pos. (b) Erro
r
x pelo mtodo J
m
/J
m+2
. (c) Fase
o
(t).

Os resultados apresentados na Fig. 6.23 comprovam a ineficincia do mtodo J
1
...J
6
-
neg, para pequenos ndices de modulao, quando o rudo branco predominante. Para
x = 1 rad, o erro no clculo se distribui por toda a faixa de 0 a 100% (Fig. 6.23-a), mostrando
uma resposta bem inferior obtida para o mtodo J
1
...J
3
, nas mesmas condies de simulao
(Fig. 6.23-b).
Para pequenos ndices de modulao, a melhor soluo reduzir a ordem das harmnicas
empregadas nos clculos, atravs do uso dos mtodos J
0
...J
3
ou J
0
...J
2
. Porm, os resultados da
Fig. 6.24 mostram que no h dependncia em relao ) (
0
t somente para o novo mtodo
J
0
...J
3
, o que gerou excelentes respostas nas simulaes com x = 100 mrad, tanto para uma
variao lenta de ) (
0
t (Fig. 6.24-b), quanto para uma variao rpida de ) (
0
t (Fig. 6.24-e).
J
1
.
.
.
J
6
-
p
o
s

J
m
/
J
m
+
2


194
Desta forma, para x < 1,5 rad, uma boa escolha empregar o mtodo J
0
...J
3
, devido sua
robustez em relao ao desvanecimento aleatrio de sinal e ao rudo.

Figura 6.23 Respostas dos subsistemas de clculo de x em funo do tempo, para x=1 rad e
o
(t)
variando. (a) Erro
r
x pelo mtodo J
1
...J
6
-neg. (b) Erro
r
x pelo mtodo J
1
...J
3
. (c) Fase
o
(t).

Figura 6.24 Respostas dos subsistemas de clculo de x em funo do tempo, para x=100 mrad e
o
(t)
variando. (a) e (b) Erros
r
x calculados, respectivamente, para os mtodos J
0
...J
2
e J
0
...J
3
, para
o
(t)
variando de acordo com (c). (d) e (e) Erros
r
x calculados, respectivamente, para os mtodos J
0
...J
2
e
J
0
...J
3
, para
o
(t) variando de acordo com (f).

J
1
.
.
.
J
6
-
n
e
g

J
1
.
.
.
J
3

J
0
.
.
.
J
2

J
0
.
.
.
J
3


195
Modulao de Fase para Ambos,
o
(t) e x, Variando.

As simulaes realizadas mais prximas da realidade, enfrentada na realizao de
medies experimentais, foram obtidas para ) (
0
t e x variando no tempo, na presena de
rudo. Desta forma podem-se associar os erros nos clculos usando os mtodos espectrais s
limitaes na faixa dinmica e tambm s restries devido ao desvanecimento de sinal
provocado pela fase ) (
0
t , potencializadas pelo nvel de rudo do sistema. Para estas
simulaes, definiu-se ) (
0
t uma funo senoidal, com perodo igual a 20 s.
Nas Figs. 6.25 a 6.28 tm-se: em (a) os valores esperado (x) e estimado ( ' x ) usando um
dos mtodos espectrais, para uma variao linear de x; em (b) o erro percentual no clculo de
x; em (c) a fase ) (
0
t . Todos os grficos esto em funo do tempo de simulao.
Na Fig. 6.25-a o ndice esperado x foi variado linearmente de 0 a 7 rad, no perodo de
80 s. Os resultados tornam evidentes os erros nos clculos pelo mtodo J
1
...J
4
, que ultrapassa
a barreira dos 10% (Fig. 6.25-b), atribuindo-se estes s limitaes devidas s singularidades,
em valores de 0 ) (
0
= t ou 2 / ) (
0
= t rad, e rudo. Os mesmos problemas podem ser
constatados na Fig. 6.26, onde a simulao realizada para o mtodo J
1
...J
6
-pos, sendo que a
variao de x se estendeu at 12 rad, para o mesmo tempo de simulao.

Figura 6.25 Resposta do subsistema de clculo de x pelo mtodo J
1
...J
4
, para x e
o
(t) variando. (a)
ndice estimado x. (b) Erro
r
o
(t).
J
1
.
.
.
J
4


196

Figura 6.26 Respostas dos subsistemas de clculo de x pelo mtodo J
1
...J
6
-pos, em funo do tempo,
para ambos, x e
o
(t), variando. (a) ndice estimado x. (b) Erro
r
o
(t).

Na Fig. 6.27 tem-se o resultado da simulao para o mtodo J
m
/J
m+2
, que apresenta um
erro menor do que 1% na faixa de 1,5 a 12 rad (Fig. 6.27-b). Como foi visto nas Figs. 6.25 e
6.26, o erro percentual no clculo de x usando os mtodos J
1
...J
4
e J
1
...J
6
-pos ultrapassou os
10% durante vrios intervalos do tempo total de simulao.

Figura 6.27 Resposta do subsistema de clculo de x usando o mtodo J
m
/J
m+2
, para x e
o
(t) variando.
(a) ndice estimado x. (b) Erro
r
o
(t).

J
1
.
.
.
J
6
-
p
o
s

J
m
/
J
m
+
2


197
Os clculos de x usando os mtodos J
0
...J
2
e J
0
...J
3
so mostrados, respectivamente, nos
grficos das Fig. 6.28-a e 6.28-b, que apresentam os resultados da simulao para x variando
linearmente de 0 a 2,4 rad e ) (
0
t de forma senoidal, como mostrado na Fig. 6.28-d. Os valores
esperados de x esto representados por uma linha tracejada em cor vermelha, nas Figs 6.28-a e
6.28-b. Na Fig. 6.28-c mostra-se o valor esperado e o valor calculado do ndice de modulao
de fase auxiliar (x
a
e x
a
, respectivamente), sendo x
a
calculado pelo mtodo J
0
...J
3
. A linha
vermelha tracejada na Fig. 6.28-d representa a fase esperada ) (
0
t , onde se tem tambm ) ( '
0
t ,
detectado na simulao, usando o mtodo J
0
...J
3
. O tempo de simulao foi de 38,4 s. Para a
faixa de x analisada, o mtodo J
0
...J
3
apresentou a melhor resposta, como esperado.

Figura 6.28 Clculo de x em funo do tempo, para x e
o
(t) variando, onde (- -) corresponde ao valor
esperado x e () ao valor calculado x. (a) Mtodo J
0
...J
2
. (b) Mtodo J
0
...J
3
. (c) x
a
calculado pelo mtodo
J
0
...J
3
para um valor esperado x
a
=2,7 rad. (d) - -
o
(t) esperado e
o
(t) calculado usando a tcnica
proposta no fluxograma do mtodo J
0
...J
3
.

Na Fig. 6.29 tm-se os erros gerados nos clculos usando as tcnicas J
0
...J
2
(Fig. 6.29-a)
e J
0
...J
3
(Fig. 6.29-b), em funo de x, para ) (
0
t variando de forma senoidal, de acordo com
a Fig. 6.29-c. Estes erros so reprodues dos erros relativos percentuais para os resultados
das Figs. 6.28-a e 6.28-b. Verifica-se que o erro nos clculos usando o mtodo clssico supera
a barreira dos 50%, enquanto, pelo uso da nova tcnica, este se limitou a um valor muito
pequeno, dentro de sua faixa dinmica de demodulao.
J
0
.
.
.
J
2

J
0
.
.
.
J
3

J
0
.
.
.
J
3

J
0
.
.
.
J
3


198

Figura 6.29 Erro
r
x para x e
o
(t) variando. (a) Mtodo J
0
...J
2
. (b) Mtodo J
0
...J
3
. (c) Fase
o
(t).

6.2.6 Respostas dos Subsistemas de Clculo da Fase
o
(t)

As respostas do subsistema de estimao da fase ) (
0
t , usando o mtodo desenvolvido por
Sudarshanam e o novo mtodo proposto nesta tese, esto nas Figs. 6.30 e 6.31, em que se variou x
linearmente de 0 a 12 rad, durante 80 s de simulao. Os resultados simulados para ) (
0
t
constante, igual a 4 / rad, esto na Fig. 6.30, e para ) (
0
t variando de forma senoidal, na Fig.
6.31. Nas Figs. 6.30-a e 6.31-a tm-se os clculos de ) ( '
0
t e nas Figs. 6.30-b e 6.31-b, o erro
absoluto no clculo de ) (
0
t [ou seja, ) (
0
t ]. Nas Figs. 6.30-c e 6.31-c mostram-se a variao
linear de x durante a simulao. Observa-se nos resultados das Figs. 6.30 e 6.31, as limitaes na
faixa dinmica para o mtodo desenvolvido por Sudarshanam, e a deteco correta de ) (
0
t pelo
uso do novo mtodo proposto nesta tese, para a ampla faixa de valores de x e de ) (
0
t
considerada, com exceo de ndices de modulao muito pequenos.

J
0
.
.
.
J
2

J
0
.
.
.
J
3


199

Figura 6.30 Respostas do subsistema de clculo de
o
(t) em funo do tempo, para x variando e
o
(t) = /4 rad. (a) () Clculo pelo mtodo desenvolvido por Sudarshanam (clssico) e () clculo pelo
novo mtodo. (b) Erro absoluto no clculo de
o
(t) usando () o mtodo desenvolvido por Sudarshanam
(clssico) e () o novo mtodo. (c) ndice de modulao x.

Figura 6.31 Respostas do subsistema de clculo de o(t) em funo do tempo, para x e
o
(t) variando.
(a) () Clculo pelo mtodo desenvolvido por Sudarshanam (clssico) e () clculo pelo novo mtodo. (b)
Erro absoluto no clculo de
o
(t) usando () o mtodo desenvolvido por Sudarshanam (clssico) e () o
novo mtodo. (c) ndice de modulao x.


200
6.3 Discusso

O desenvolvimento do modelo no Simulink foi importante para o conhecimento do
processo computacional envolvido na demodulao de x e de ) (t
o
usando os mtodos
espectrais, possibilitando avaliar a complexidade computacional exigida para a
implementao de cada mtodo. Os testes realizados permitiram confirmar que os cdigos de
programao dos algoritmos de deteco de fase foram inseridos corretamente no
computador, sem erros de sintaxe ou semntica.
Os resultados obtidos na realizao das simulaes permitiram a comparao entre os
mtodos clssicos e os novos mtodos, tornando transparentes as principais vantagens.
Avaliou-se o efeito do desvanecimento do sinal, na presena de rudo, devido variao da
fase ) (
0
t . Com respeito a estes resultados verificou-se que:

O novo mtodo J
1
...J
3
apresentou menor complexidade matemtica que os mtodos
J
1
...J
4
e J
1
...J
6
-pos, se um algoritmo de Goertzel for empregado na determinao das
harmnicas. A probabilidade global de erro no clculo de x com este novo mtodo
menor diante de variao aleatria da fase ) (
0
t ;
Na presena de rudo branco, o mtodo J
1
...J
6
-neg no tem resposta satisfatria para
baixos ndices de modulao e apresentou um erro maior do que o obtido para o
mtodo J
1
...J
3
;
Uma expanso significativa da faixa dinmica na sua parte superior foi obtida com
sucesso atravs da tcnica J
m
/J
m+2
, no clculo de x, e do mtodo proposto para o
clculo de ) (
0
t . O uso destes dois novos mtodos permite o clculo do ndice de
modulao de fase para uma ampla faixa de valores, enquanto a fase ) (
0
t pode ser
monitorada.
Uma expanso da faixa dinmica na sua parte inferior foi obtida com sucesso pelo
emprego do novo mtodo J
0
...J
3
, atravs do qual tambm props-se a deteco do
ndice de modulao auxiliar x
a
e da fase ) (
0
t .

A avaliao realizada neste captulo no pode ser, de certa forma, generalizada, pois se
estabeleceu as caractersticas de rudo e de ) (
0
t para as simulaes. No entanto, pode-se
concluir que um aumento no nvel de rudo potencializa os erros nas regies prximas s
singularidades [ 0 ) (
0
= t e/ou 2 / ) (
0
= t rad], aumentando a probabilidade de erro pela

201
aplicao dos mtodos espectrais clssicos. Isto pode ser facilmente explicado, atravs da
anlise das SNRs de cada uma das harmnicas envolvidas nos clculos. Se a amplitude de
uma harmnica diminui e o nvel mdio de rudo na freqncia envolvida se mantm estvel,
a SNR medida para esta harmnica diminui, aumentando o erro no clculo de x, quando esta
componente utilizada nos clculos. O uso dos novos mtodos que operam
independentemente destes pontos minimiza significativamente a probabilidade de ocorrncia
de erros nas medies, como mostrou os resultados das simulaes.
O uso conjunto dos novos mtodos propostos para a estimao de x e de ) (
0
t permite
a ampliao da faixa dinmica, tanto no seu limite inferior, quanto no superior, em
aproximadamente quatro ordens de grandeza, se comparada faixa dinmica dos mtodos
J
1
...J
4
, J
1
...J
6
-neg e J
1
...J
6
-pos. Assim, poder-se- comparar os resultados gerais obtidos pelos
novos mtodos, por um lado, s tcnicas heterdinas (regio de pequenos ndices), e por
outro, mtodos de contagem de franjas (regio de altos ndices), sendo esta uma
contribuio relevante resultante do desenvolvimento desta tese.
O uso de placas de aquisio e processamento em computador atravs de softwares
conhecidos (Labview, Simulink/Matlab, etc.) ou de placas de DSPs ponto flutuante so
solues futuras para a implementao dos algoritmos propostos para os novos mtodos.
Inclusive, em aplicaes que demandam tempo real, num processo automatizado, sendo o
desenvolvimento realizado neste captulo outra contribuio importante neste sentido.
A eficincia dos novos mtodos ser validada em condies prticas, atravs da
realizao de medies experimentais usando um sensor ptico de tenso, baseado no efeito
eletro-ptico do niobato de ltio. Este assunto ser discutido no Captulo 7. No Captulo 8,
estas tcnicas sero aplicadas ao atuador piezoeltrico flextensional.
202
CAPTULO 7
VALIDAO EXPERIMENTAL DOS MTODOS
ESPECTRAIS USANDO UM SENSOR PTICO
DE TENSO

Neste captulo os mtodos espectrais introduzidos nos Captulos 4 e 5 sero testados
experimentalmente por meio da medio de diferena de potencial eltrico usando um sensor
ptico de tenso (SOT) baseado no efeito eletro-ptico do cristal de niobato de ltio (LiNbO
3
).
Apesar da medio de baixas tenses ser uma aplicao conhecida, esta mostra ser um modelo
bem comportado para a validao experimental dos novos mtodos espectrais, pois as
caractersticas da clula Pockels empregada podem ser modeladas matematicamente usando-
se somente a teoria eletromagntica. A geometria simples do cristal de LiNbO
3
empregado na
clula Pockels e a configurao eletro-ptica utilizada mostraram-se adequadas anlise dos
mtodos espectrais avaliados, como ser visto no texto.
O emprego do SOT permitir a anlise em laboratrio e obteno de resultados
experimentais usando a maioria dos mtodos desenvolvidos.
Um medidor ptico de tenso no mede diretamente a tenso eltrica, porm, em tal
dispositivo, a variao do campo eltrico associado a esta tenso, provoca alterao nas
caractersticas de certos materiais submetidos presena deste campo. Com isto, algum
parmetro da onda luminosa como, por exemplo, sua polarizao ou sua fase, pode ser
alterado ao atravessar esta regio do material. Por exemplo, em 1987, um trecho de fibra
ptica revestida com Fluoreto de Polivinilideno (PVDF) foi utilizado como parte de um
sensor interferomtrico, proporcionando modulao de fase ptica na presena de campo
eltrico externo [180]. O PVDF um polmero piezoeltrico que se deforma na presena de
campo eltrico. Em 1993, o efeito eletro-ptico do niobato de ltio em corte-Z, foi aplicado
na modulao por campo eltrico, num sensor de alta tenso, confeccionado em ptica
integrada [181].
Como se observa atravs dos exemplos citados, sensores pticos de tenso foram
relatados nas duas ltimas dcadas, sendo que a maioria destes baseada no efeito eletro-
ptico em material cristalino volumtrico (bulk) [182], [183]. As vantagens dos sensores que
usam cristais eletro-pticos so: a influncia de campos eletromagnticos externos reduzida
Validao experimental dos mtodos espectrais usando um sensor ptico de tenso

203
devido maioria dos materiais que formam os sensores serem dieltricos e a largura de banda
de operao ser muito grande.
Neste trabalho, empregou-se um sensor ptico de tenso usando um cristal de niobato
de ltio para a medio de tenso de at algumas centenas de volts e freqncia de 60 Hz,
tpica da gerada na rede de energia eltrica. Este sensor, utilizado na parte experimental desta
tese, foi desenvolvido em um trabalho prvio de mestrado [184], e ser descrito
resumidamente na prxima seo.

7.1 Sensor ptico de Tenso (SOT) Baseado no Efeito Eletro-ptico
em Cristais de Niobato de Ltio

O efeito eletro-ptico pode ser descrito como a propriedade de um material apresentar
uma birrefringncia induzida por um campo eltrico externo [185]. A birrefringncia um
fenmeno que resulta quando duas ondas, com polarizaes ortogonais entre si e que se
propagam numa mesma direo, possuem velocidades diferentes.
O efeito eletro-ptico quadrtico, observado originalmente em lquidos como o
dissulfeto de carbono, conhecido como efeito Kerr [185], [186]. O efeito eletro-ptico
linear, que acontece em materiais cujas redes cristalinas no exibem centro de simetria,
conhecido como efeito Pockels [185], [186]. Quando o efeito eletro-ptico linear est
presente em um material, este dominante e, geralmente, o efeito quadrtico
desconsiderado por ser muito reduzido.
Uma clula Pockels transversal um dispositivo composto pelo cristal eletro-ptico
colocado entre eletrodos planos (em forma de sanduche), paralelos direo de propagao
do feixe de laser. No presente caso, a propagao ocorre segundo a direo cristalogrfica Y
do cristal de LiNbO
3
, possibilitando um meio de se aplicar um campo eltrico externo na
direo Z, perpendicular direo de propagao da luz no cristal. A clula Pockels utilizada
nesta tese emprega o cristal mostrado na Fig. 7.1-a, que possui as dimenses 1 , 1 025 , 50 5
mm
3
, nas direes X, Y e Z, respectivamente. Esta clula foi fixada a um suporte como
mostrado na Fig. 7.1-b, que possui ajustes micromtricos para proporcionar o correto
alinhamento do cristal em relao ao feixe ptico que ir atravess-lo. O suporte com a clula
Pockels parte integrante do SOT mostrado na Fig. 7.2, o qual foi empregado nos
experimentos de validao dos mtodos, realizados nesta tese. No detalhe exibido no canto
inferior direito da Fig. 7.2, tem-se a configurao do modulador eletro-ptico de amplitude

204
utilizado no SOT. Trata-se, basicamente, do modulador eletro-ptico de intensidade ptica,
amplamente utilizado em sistemas de comunicao ptica [185].

(a) (b)
Figura 7.1 - Clula Pockels de LiNbO
3
empregada no SOT. (a) Cristal de LiNbO
3
utilizado como elemento
sensor. (b) Clula Pockels transversal montada com o cristal num suporte.

Figura 7.2 SOT montado no laboratrio de optoeletrnica da FEIS.

No SOT da Fig. 7.2, a clula Pockels de cristal de niobato de ltio (LiNbO
3
da Cristal
Technology, Inc.) na configurao transversal, um polarizador a 45 do eixo cristalogrfico X
e um analisador a 90 do polarizador so devidamente posicionados no arranjo experimental.
Um feixe de laser de Hlio-Nenio (He-Ne), que opera no comprimento de onda igual a
0,6328 m, passa pelo polarizador e incide paralelo direo Y do cristal, com polarizao
linear a 45 do eixo X, para acoplar com iguais amplitudes os dois modos de propagao do
material: o modo ordinrio e o modo extraordinrio. Uma tenso senoidal )] ( [ t v
CP
, aplicada
) (t v
CP


205
em eletrodos depositados nas superfcies da clula Pockels (como mostra o detalhe na Figura),
gera campo eltrico d t v E
CP z
/ ) ( = na direo Z do cristal, sendo que d a distncia entre os
eletrodos. Variaes nos ndices de refrao so provocadas pela aplicao deste campo e o
efeito eletro-ptico modula a fase da luz transmitida, na sada da clula Pockels. A luz
modulada em fase, ao atravessar o analisador, convertida em modulao de amplitude, a
qual detectada atravs de um fotodiodo PIN (Siemens modelo BPX 65). O sinal de sada
do fotodetector foi amplificado e digitalizado por um osciloscpio (Tektronix TDS2022, 8
bits), com recursos de FFT. O sinal adquirido foi transferido para um microcomputador e seu
espectro foi calculado usando uma rotina de FFT. Um algoritmo implementado em Matlab
permite a aplicao dos mtodos espectrais.
Considerando a clula Pockels da Fig. 7.1 inserida no arranjo experimental da Fig. 7.2,
o retardo de fase entre os modos de propagao, aps percorrerem o comprimento L Y = do
cristal, pode ser escrita como [185]:
=
0
, (7.1)
em que:
L n n
o e
) (
2
0
=
(7.2)
e
L E r n r n
z o e
) (
13
3
33
3
=
. (7.3)
sendo que
o
n e
e
n so, respectivamente, os ndices de refrao ordinrio e extraordinrio do
cristal de niobato de ltio. No comprimento de onda 6328 , 0 = m, tem-se 286 , 2 =
o
n e
2 , 2 =
e
n . Os fatores
13
r e
33
r so coeficientes eletro-pticos do LiNbO
3
, iguais a 9,6 e 30,9
pm/V, respectivamente [185].
Como pode ser observado em (7.2), o retardo de fase
0
independe do campo eltrico
e se deve birrefringncia natural do cristal, sendo denominado de retardo de fase natural.
O retardo de fase , definido em (7.3), corresponde ao retardo eletro-ptico
induzido pelo campo eltrico E
z
, sendo funo linear deste, conhecido como retardo de fase
induzido, podendo ser escrito tambm em funo da tenso aplicada ) (t v
CP
, como:
) ( ) (
13
3
33
3
t v
d
L
r n r n
CP o e
=
. (7.4)
A um retardo de fase induzido = rad corresponde tenso de meia-onda,
representada por
V . Substituindo-se estes valores em (7.4) chega-se a:


206

L
d
r n r n
V
o e 13
3
33
3
. (7.5)
A tenso de meia-onda uma figura de mrito da clula Pockels e depende do
material, das dimenses do cristal e do comprimento de onda da radiao ptica . Usando-
se (7.5), para = 0,6328 m e com as dimenses e os valores dos parmetros da clula
Pockels do SOT, encontra-se o valor terico
V = 64,92 V.
A partir de (7.4) e (7.5), obtm-se uma relao simples e direta entre o retardo de fase
e a tenso aplicada, dada por:
) (t v
V
CP
= , (7.6)
sendo que, para ) (t v
CP
com amplitude constante, o retardo ser tanto maior, quanto
menor for o valor do
V da clula Pockels.
O uso de um segundo polarizador, denominado analisador (conforme Fig. 7.2),
rotacionado de um ngulo 90 relativamente ao primeiro, permite que os dois vetores pticos
nas direes X e Z na sada da clula Pockels sejam projetados na direo do analisador.
Com isso, mostra-se que a intensidade ptica de sada dada por [185]:

2
sen
2
0

= I I , (7.7)
sendo que
0
I corresponde intensidade ptica da luz na entrada da clula Pockels, e
dada por (7.1).
A curva de transmisso ' T , uma funo que relaciona a intensidade ptica de sada e
de entrada, pode ser obtida de (7.7) como:
( )
= = cos 1
2
1
2
sen '
2
0
I
I
T , (7.8)
uma expresso semelhante intensidade ptica de sada do interfermetro de Michelson
(3.19), a menos do sinal (-) (e considerando-se 1 = F ). esta semelhana que torna
interessante a aplicao dos mtodos espectrais na demodulao do retardo eletro-ptico de
fase.
Escrevendo (7.8) em funo de ) (t v
CP
, com o auxlio de (7.1) e (7.6), obtm-se:
( ) [ ]

= = ) ( cos 1
2
1
cos 1
2
1
'
0 0
t v
V
T
CP
, (7.9)

207
que uma funo no-linear da tenso senoidal aplicada ) (t v
CP
, como mostra o exemplo da
curva de transmisso apresentada na Fig. 7.3. Assumindo (arbitrariamente) 2 /
0
= rad e
baixos valores de amplitudes de ) (t v
CP
, suficientes para que 1 << [

V t v
CP
/ ) ( = ],
pode-se aplicar a aproximao + sen ) 2 / cos( (7.9) para escrever ' T como
uma funo linear de , acrescida de um termo DC, dada como 2 / ) 1 ( ' = T e
representada graficamente na Fig. 7.3.

Figura 7.3 Curva de Transmisso de uma clula Pockels de LiNbO
3
e operao na regio linear da curva
de transmisso.

O ponto quiescente Q, indicado na Fig. 7.3, idealmente constante. No entanto, na
prtica, Q excursiona sobre a curva de transferncia, devido a influncias ambientais,
principalmente devido gradientes trmicos (deriva), que fazem variar os ndices de refrao
do meio cristalino. Derivando-se os retardos de fase
0
e em relao temperatura , e
substituindo os valores dos parmetros especificados para o LiNbO
3
, obtm-se,
respectivamente:

7 0 0 0
10
) ( ) (

2
n n
L
n n L
e e
(7.10)
e

4 13
2
33
2
10 5 , 7 2 , 24 ) ( ) (
3 ) (
o e
CP
o
o
e
e CP
n n
t v
d
L n r
n
n r
n t v
d
L
. (7.11)
Verifica-se, comparando (7.10) e (7.11), que o retardo natural muito mais sensvel
variao de temperatura, comparado ao retardo induzido. Isto ocorre porque da ordem de 10
-6

m enquanto
13
r ou
33
r so da ordem de 10
-12
m/V. Por exemplo, adotando a clula Pockels
(rad)
I/I
o


208
utilizada nesta tese, que possui 025 , 50 = L mm, 1 , 1 = d mm e cuja tenso mxima aplicada foi
em torno de ) sin( 300 ) ( t t v
CP
= volts, uma variao de n
e
ou n
o
da ordem de
5
10
, resulta numa
variao do retardo natural igual a 5 /
0
= rad/
o
C, e, numa variao do retardo de fase
induzido / ) ( de apenas
4
10
rad. Portanto, verifica-se que, mesmo se a tenso ) (t v

CP

fosse superior, com amplitude da ordem de kV, a influncia da flutuao trmica no termo
seria desprezvel, o que no ocorre para o termo associado birrefringncia natural do cristal
0
.
A no linearidade da transmisso ' T e a variao aleatria de
0
tornam no trivial a
deteco de ) (t v
CP
. Os mtodos de demodulao de fase ptica propostos nesta tese so
adequados, pois possibilitam o clculo direto de numa ampla faixa dinmica de no
linearidade da curva de transmisso, independente do valor de
0
, de oscilaes de amplitude
na fonte ptica (laser), e ainda, da responsividade de tenso do fotodiodo utilizado na
fotodeteco.
Destaca-se que a configurao experimental da Fig. 7.2 no a nica possvel para um
medidor de tenso ptica. Por exemplo, considerando-se a clula Pockels de LiNbO
3
, com
propagao ptica na direo Z, com campo eltrico externo na direo Y, e, excitao dos
modos pticos correspondentes aos ndices de refrao nas direes X e Y, o termo de
birrefringncia natural
0
seria cancelado no clculo de [185], reduzindo sensivelmente o
problema da deriva trmica. A escolha da clula Pockels na configurao transversal (Campo
Z Propagao Y) como mostrado no detalhe da Fig. 7.2 intencional, e tem como objetivo
testar as novas tcnicas espectrais de demodulao de sinal desenvolvidas nesta tese, mesmo
diante de variaes de temperatura ambiente, ou seja, mesmo diante de grandes variaes
aleatrias em
0
.

7.2 Resultados Experimentais

Nesta seo sero conduzidos alguns testes prticos no laboratrio aplicando-se os novos
mtodos espectrais propostos no Captulo 5. Usando o SOT da Fig. 7.2, medies de tenso
eltrica foram realizadas, obtendo-se resultados relevantes para a validao experimental dos
novos mtodos espectrais. Estes resultados so comparados com outros, obtidos pelo emprego
dos mtodos clssicos, usando as mesmas medies realizadas com o SOT.

209
Observa-se que (7.9) semelhante a (3.22), e assim, se for do tipo t xsen
s
= ,
ento uma srie semelhante a (3.25) pode ser utilizada, bem como os mtodos espectrais de
demodulao de x e de estimao de
0
estudados nos Captulos 4 e 5.
O SOT opera eminentemente medindo x, o qual pode ser associado tenso externa
aplicada clula Pockels, ) (t v
CP
, usando (7.6), dentro da faixa dinmica correspondente ao
mtodo espectral de deteco de fase empregado. A relao de converso de x em
pico CP
v ,
onde
pico CP
v o valor de pico da tenso senoidal ) (t v
CP
,
x
V
v
pico CP
= , (7.12)
Para converter
pico CP
v em RMS emprega-se 2 /
pico CP RMS
v V = .
Nos captulos anteriores, os valores esperados de ndice de modulao de fase e da fase
relacionada ao desvanecimento de sinal foram designados por x e ) (
0
t , respectivamente. Por
outro lado, os valores estimados dessas fases foram denominados ' x e ) ( '
0
t ,
respectivamente. Daqui para adiante, os valores mensurados dessas grandezas sero
denotados por " x e ) ( "
0
t , respectivamente. No caso da clula Pockels, a literatura costuma
denominar x de profundidade de modulao [185].
Como exemplo de sinal de sada do SOT, tem-se a Fig. 7.4-a, que mostra uma janela
temporal fotodetectada tpica: um sinal modulado em fase obtido quando uma tenso eltrica
senoidal externa (amplitude de 160 V
RMS
e freqncia de 60 Hz) aplicada clula Pockels.
Selecionou-se uma freqncia de amostragem igual a 25 kHz. A banda do espectro de
Fourier correspondente, at 1,2 kHz, mostrada na Fig. 7.4-b, onde V
1
, V
2
, etc. so as
magnitudes (normalizadas) das harmnicas do sinal fotodetectado.
No processamento digital tomou-se o cuidado de garantir que a durao de cada janela
temporal do sinal fotodetectado no fosse superior a mais curta escala de tempo de variao
associada fase ) (
0
t , a qual tipicamente possui banda de passagem menor que 10 Hz.
Na Fig. 7.5 tem-se o espectro de magnitude (em dB) agora estendido at 2,5 kHz, da
janela de sinal fotodetectado mostrada na Fig. 7.4-a. Este espectro foi utilizado na estimao
do fator de rudo K, considerando que o valor mdio K se mantm para toda a largura de
banda envolvida na anlise, durante as medies. O objetivo aqui fazer uma anlise
qualitativa do rudo presente no sistema. Usando os resultados da Fig. 7.5 estima-se a SNR

210

Figura 7.4 Sinais de sada tpicos observados quando uma tenso senoidal de valor eficaz igual a 160
V
RMS
e freqncia de 60 Hz aplicada clula Pockels. (a) Forma de onda da tenso proporcional
intensidade da luz detectada pelo fotodiodo. (b) Banda do espectro de magnitude normalizado
correspondente, para freqncias at 1,2 kHz.

Figura 7.5 Espectro de magnitude da janela de tenso fotodetectada da Fig. 7.5-a, onde se destaca a
regio das harmnicas (incio da banda) e a regio onde somente o rudo prevalece (acima de 500 Hz).

para a primeira harmnica em torno de

50,6 dB (SNR
1
= 338,844), como indicado na figura.
Usando-se o novo mtodo J
m
/J
m+2
no clculo de ' ' x e o novo mtodo de medio da fase
) (t
o
, no clculo de ) ( ' ' t
o
, obteve-se respectivamente, 86 , 10 ' ' = x rad e 4 / ) ( ' '
0
t rad,

211
para o espectro da Fig. 7.5 (conforme destacado na Fig. 7.6, para a tenso eltrica de 160
V
RMS
). Para estes valores, 153 , 0 | ) 86 , 10 ( |
1
rad J e 707 , 0 ) 4 / ( = sen P . Usando estes
dados em (3.34), estima-se K = 0,00032.
Aplicando-se uma tenso senoidal externa ao SOT varivel entre 0 e 250 V
RMS
(em
incrementos de 10 V
RMS
) obteve-se os resultados mostrados na Fig. 7.6-a, para os mtodos
J
1
...J
6
-pos (asteriscos em cor vermelha) e J
m
/J
m+2
(pontos em cor preta). Conforme se
verifica, a clula Pockels exibe linearidade entre a tenso externa aplicada ) (t v
CP
e a
profundidade de modulao " x . No entanto, a faixa dinmica de demodulao do mtodo
J
1
J
6
-pos muito reduzida (restringe-se a faixa onde os asteriscos se ajustam a reta
tracejada). Observa-se que o retardo de fase uma funo linear da tenso aplicada na faixa
de 10 a 270 V
RMS
(as medies foram realizadas em passos de 10 V
RMS
) usando o mtodo
J
m
/J
m+2
, contra uma faixa bem reduzida, em torno de 10 90 V
RMS
, para o mtodo J
1
...J
6
-pos.
Estes resultados esto de acordo com a discusso sobre a faixa dinmica dos mtodos de
demodulao dos Captulos 4 e 5, os quais se estendem entre 0,2 e 6,3 rad para o mtodo
J
1
J
6
-pos, e, entre 0,2 e 100 rad, para o mtodo J
m
/J
m+2
aqui proposto.

Figura 7.6 Clculos realizados para o SOT excitado por uma tenso senoidal variando de 0 270 V. (a)
Profundidade de modulao de fase estimada usando-se os mtodos: (*) J
1
...J
6
-pos e () J
m
/J
m+2
. (b) Fase
0
(t) calculada pelo: (*) mtodo desenvolvido por Sudarshanam e () novo mtodo proposto nesta tese.


212
O valor experimental de
V (ou seja, ' '
V ) pode ser mensurado a partir dos resultados

da Fig. 7.6-a, obtidos pelo mtodo J
m
/J
m+2
. O coeficiente angular da reta resulta em 67,9
mrad/V
RMS
e, ento, para uma tenso externa correspondente a uma profundidade de modulao
igual a rad, deduz-se que 5 , 65 ' ' =
V V
pico
(deve ser lembrado que
RMS pico
V V 2 = ). Portanto,
ocorre uma discrepncia de apenas 0,9 % em relao ao valor terico ( 92 , 64 =
V V
pico
), o que
valida satisfatoriamente o mtodo J
m
/J
m+2
, aqui desenvolvido.
Ao contrrio dos interfermetros, o problema do desvanecimento de sinal bem menos
intenso na clula Pockels. Isto ocorre por que ambos os feixes, dos modos ordinrio e
extraordinrio do cristal de LiNbO
3
, percorrem o mesmo percurso (so colineares) ao atravessar
a clula. No interfermetro, estes percursos so distintos. Com isso, tomando-se algumas
precaues como, por exemplo, condicionando-se termicamente o ambiente (refrigerando-se o
laboratrio por vrias horas antes de se proceder a medio), e realizando-se a medio rpida e
automaticamente, atenua-se sensivelmente o problema do desvanecimento. Procedendo-se a
este expediente, a fase
0
foi monitorada usando os mtodos espectrais de medio de
0

explanados nesta tese, sendo os resultados mostrados na Fig. 7.6-b. A partir de
aproximadamente 50 V
RMS
(que corresponde a 4 , 3 "= x rad), o mtodo desenvolvido por
Sudarshanam apresenta erros intolerveis no clculo de "
0
, o que esperado, devido sua
faixa dinmica limitada em relao x. Diferente disto observa-se boa coerncia na resposta
obtida pela estimao de
0
usando o novo mtodo proposto nesta tese, para toda a faixa de
tenso envolvida. Ressalta-se ainda que, durante as medies, o espectro foi monitorado
(visualmente na tela do analisador de espectros/osciloscpio) para que as amplitudes das
harmnicas pares e mpares fossem equilibradas, de maneira a manter uma boa SNR para
ambas. Ou seja, procurou-se assegurar a estabilidade da condio 4 / "
0
= rad,
correspondente a linha horizontal tracejada na figura.
Um novo conjunto de medidas foi obtido para o SOT, excitando-o com tenses
senoidais na faixa de 0 27 V
RMS
(com incrementos de 1 V
RMS
). Aplicando-se os mtodos
espectrais J
1
/J
3
A e J
1
...J
6
-neg, calculou-se a profundidade de modulao ' ' x para a faixa de
tenso envolvida, obtendo-se os resultados da Fig. 7.7-a. Um fato importante que pode ser
observado na Fig. 7.7-a que o mtodo J
1
...J
6
-neg apresentou resultados piores relativamente
aos obtidos com o J
1
/J
3
A, em baixos ndices (o erro tolervel somente para os pontos do
grfico acima de 9 V
RMS
, pelo uso do mtodo J
1
...J
6
-neg). Verifica-se que tenses eltricas
em torno de 2 V
RMS
foram medidas com o mtodo J
1
/J
3
A, enquanto para o mtodo J
1
...J
6
-neg

213
a mnima tenso mensurada est em torno de 10 V
RMS
. A inclinao da reta da Fig. 7.7-a,
igual a 68 mrad/V, obtida baseando-se no resultado do mtodo J
1
/J
3
A, est de acordo com a
obtida para o mtodo J
m
/J
m+2
(Fig. 7.6). A fase ' '
0
, calculada usando os mtodos espectrais,
na faixa de 0 27 V
RMS
, mostrada na Fig. 7.7-b. Em termos de ' '
0
, o clculo usando
ambos os mtodos (o de Sudarshanam e o novo) foram adequados (Fig. 7.7-b), pois a faixa de
x nas medies ficou limitada a ndices de apenas 1,8 rad.

Figura 7.7 Clculos realizados para o SOT excitado por uma tenso senoidal variando de 0 a 27 V. (a)
Profundidade de modulao de fase estimada usando-se os mtodos: (*) J
1
...J
6
-neg, e () J
1
/J
3
A. (b) Fase
0
(t) calculada pelo: (*) mtodo desenvolvido por Sudarshanam e () novo mtodo proposto nesta tese.

Testes com o novo mtodo J
1
...J
3
foram realizados usando a mesma configurao
experimental da Fig. 7.2, porm com uma clula Pockels de menor sensibilidade, com
180 =
V V. Os resultados obtidos tambm foram satisfatrios, e podem ser acessados em

[172].


214
7.3 Discusso

As novas tcnicas de demodulao da profundidade de modulao de fase ptica, x, e
da fase ) (
0
t , foram testadas para um sensor eletro-ptico para medir tenses senoidais (o
SOT). Embora esta configurao no constitua um interfermetro de dois feixes no seu
sentido estrito, possui uma resposta
0
/ I I similar deste, permitindo o teste dos mtodos
espectrais. Alm disso, mais estvel ao desvanecimento de sinal devido fase ) (
0
t e mais
fcil de alinhar no laboratrio. Seu comportamento pode ser totalmente modelado baseando-
se apenas no eletromagnetismo e, portanto, constitui uma excelente forma de validar as
tcnicas espectrais.
A anlise experimental mostrou excelente linearidade nas medies, que envolveram
ndices de at 18 rad. O valor da tenso de meia onda, calculado experimentalmente
baseando-se nos resultados obtidos pelo novo mtodo J
m
/J
m+2
ficou muito prximo do terico,
com erro em torno de 0,9 %. A concordncia entre os valores previstos e os mensurados
validou as tcnicas propostas.
No prximo captulo, os mtodos espectrais sero aplicados na caracterizao de um
atuador piezoeltrico flextensional (APF). A utilizao destes, alm de possibilitar a anlise
do atuador, permitir a obteno de novos resultados com relao variao aleatria de
) (
0
t (mais intensa no interfermetro usado para testar o atuador). Alm disso, os mtodos
que empregam modulao auxiliar de fase J
0
...J
2
e J
0
...J
3
, no testados para o SOT, sero
empregados nos testes com o APF, obtendo-se resultados experimentais coerentes com o
desenvolvimento realizado nas simulaes.
215
CAPTULO 8
CARACTERIZAO DE UM ATUADOR
PIEZOELTRICO FLEXTENSIONAL (APF)
USANDO OS MTODOS ESPECTRAIS

O desenvolvimento a seguir direcionado para a anlise de linearidade e resposta em
freqncia do APF f1b0820, descrito na seo 2.6. Ser calculada tambm a amplificao de
deslocamento proporcionada pela estrutura metlica flexvel acoplada piezocermica, no
atuador. Estes parmetros sero obtidos pelo emprego dos mtodos espectrais. O arranjo
experimental usa um interfermetro de Michelson, cuja configurao ser descrita na prxima
seo.
Objetivando-se a obteno de curvas de linearidade e resposta em freqncia do APF
uma anlise harmnica ser realizada. Na anlise harmnica, o atuador excitado com tenso
senoidal, adequada aplicao dos mtodos de anlise espectral propostos nesta tese. A
anlise de linearidade permite avaliar a amplificao provocada no deslocamento da
piezocermica pela estrutura flexvel de metal, possibilitando tambm verificar a deformao
mxima e os limites de tenso eltrica de excitao, estabelecendo-se assim, um intervalo de
resposta linear do deslocamento normalizado em relao tenso eltrica aplicada
piezocermica, no APF. A resposta em freqncia possibilita avaliar as freqncias de
ressonncias do APF, estabelecendo-se, se possvel, uma largura de banda em que o atuador
apresenta uma resposta praticamente plana, para a qual pode operar no regime quase-esttico,
geralmente, abaixo da primeira freqncia de ressonncia.

8.1 Configurao Experimental para Medies da Amplitude de
Vibrao da Superfcie do APF

A configurao experimental proposta para a caracterizao do f1b0820 usa um
interfermetro homdino, passivo e sem realimentao, como sensor de amplitude do
deslocamento mximo da superfcie do APF. Uma configurao experimental usando um
interfermetro de Michelson, como ilustrado na Fig. 8.1, suficiente como sensor de
Caracterizao de um APF usando os mtodos espectrais

216
deslocamento, para a aplicao dos mtodos espectrais, com exceo dos mtodos J
0
...J
2
e
J
0
...J
3
, que necessitam de uma configurao modificada, onde o espelho de referncia tambm
deve sofrer vibrao harmnica.

Figura 8.1 Configurao experimental para medidas de deslocamentos da superfcie do APF.

Uma fotografia do interfermetro de Michelson montado no laboratrio mostrada na
Fig. 8.2. No interfermetro, utiliza-se um laser de Hlio-Nenio (=0,6328 m) com 15 mW,
um divisor de feixes neutro com taxa de 50/50 e um espelho de referncia (fixo), fabricados
pela Ealing Electrooptics. Estgios de translao e rotao com ajustes micromtricos so
empregados para ajustar os dispositivos que compem o interfermetro, permitindo o devido
alinhamento dos feixes pticos do sistema.
Alinhar um interfermetro compreende os ajustes cuidadosos de posio, rotao e
inclinao dos espelhos, divisores de feixes, etc., com o objetivo de estabelecer um excelente
paralelismo entre os feixes de sada do sistema e de se obter franjas de boa qualidade
projetadas sobre o fotodetector.

Sistema de
aquisio
Laser de He-Ne
Separador
de feixes
Espelho
fixo
APF
PZT-5A
fotodetector
Espelho mvel
(colado ao atuador)

217

Figura 8.2 Interfermetro de Michelson montado como sensor de deslocamentos da superfcie do AFP.

O prottipo do APF f1b0820 a ser analisado experimentalmente fixado sobre um
suporte de metal, como mostrado no Captulo 2, nas Figs. 2.8-c e 2.8-d e inserido no ramo
sensor do interfermetro, como mostra o esquema da Fig. 8.2.
A atenuao das vibraes mecnicas externas ao sistema (cuja largura de banda est
entre 50 e 100 Hz) pode ser obtida atravs de uma montagem ssmica eficiente. Uma mesa
ptica com grande massa inercial forma uma suspenso altamente amortecida capaz de
desacoplar o interfermetro das vibraes da edificao do laboratrio. Nesta tese, o
interfermetro foi montado sobre uma mesa de isolao ssmica constituda de uma pesada
plataforma de granito, apoiada sobre pedestais de sustentao metlicos e amortecida sobre
caixas preenchidas com areia. Com isso, o efeito das perturbaes mecnicas ambientais foi
reduzido, no entanto, no completamente eliminado. Alm disso, as perturbaes devido s
turbulncias de ar no so eliminadas pela mesa ssmica.
Variaes no ambiente causam refratividade ) 1 (
s
n e variao na frao de franja,
mesmo quando o deslocamento fsico do alvo do interfermetro zero. A refratividade do ar
elevada e depende da temperatura e da presso. Alm disso, a condutividade do ar baixa,
tornando difcil atingir um ambiente termicamente homogneo. Componentes pticos como
divisores de feixe, espelhos, etc., tambm tm refratividade elevada e pobre condutividade
trmica. Estas propriedades so obstculos medio do sinal de sada com repetibilidade e
Espelho fixo
APF
Laser de He-Ne
Fotodiodo PIN
Separador
de feixes

218
exatido. Por outro lado, flutuaes introduzidas por fluxos de ar elevados usualmente so
muito menores que as variaes no ndice de refrao (
s
n ) introduzidas por um ambiente
termicamente heterogneo. Assim, na maioria das situaes, prefervel manter um fluxo de
ar substancial para promover uniformidade trmica (com o auxlio de condicionadores de ar)
[187].
A excitao eltrica senoidal do atuador realizada por um sintetizador de sinais
Agilent 33220A, cuja sada conectada a um amplificador de udio. Isto se fez necessrio
para aplicar tenses altas o suficiente no APF de maneira a se produzir ndices de modulao
maiores, possibilitando avaliar grandes faixas dinmicas associadas a alguns dos mtodos
espectrais descritos no Captulo 5 desta tese.
A gerao de tenso elevada aplicada aos eletrodos do f1b0820 pode ser obtida com o
uso auxiliar de um amplificador de tenso, o qual deve apresentar distoro harmnica
desprezvel na freqncia de operao utilizada. Nas medies realizadas nas freqncias de
ressonncias mais elevadas, at 50 kHz, utilizou-se um amplificador Sony modelo GRX5 na
amplificao do sinal de tenso senoidal de excitao do APF. No entanto, este amplificador
tem tenso de sada mxima limitada a aproximadamente 35 V
pico
em 4 ohms. Para a gerao
de tenses mais elevadas, embora em freqncias menores, substituiu-se este amplificador por
um modelo mais potente. Trata-se do modelo Fainner 5000, que possibilita elevar a tenso a
limiares em torno de 70 V
pico
, em 4 ohms.
A deteco da intensidade ptica realizada por um fotodetector de lei quadrtica base
do fotodiodo PIN modelo BPX 65, da Siemens, operando no modo fotocondutivo. A
alimentao do BPX 65, com tenso DC reversa, realizada usando-se uma bateria de 12 V.
Nas medies envolvendo altos ndices de modulao, realizadas nas freqncias de
ressonncias de dezenas de kHz, houve a necessidade de se projetar um amplificador de
transimpedncia para uso com o fotodetector BPX65. O uso do amplificador possibilitou
melhorar a resposta em freqncia do sistema, minimizando distores de altas freqncias e
mantendo o rudo a nvel aceitveis. Utilizou-se uma configurao baseada no amplificador
operacional OPA656 da Texas Instruments, que possui grande largura de faixa (o produto
ganho-largura de banda do amplificador operacional de 230 MHz), baixa tenso de rudo de
entrada ( Hz nV / 7 ), sendo adequado para uso como amplificador de transimpedncia de
fotodiodos banda larga. Baseando-se em [164], montou-se um amplificador de
transimpedncia bsico, com diagrama em blocos mostrado na Fig. 8.3-a. Realizou-se uma

219
simulao deste usando o software Orcad Pspice, que resultou na resposta em freqncia
mostrada na Fig. 8.3-b. Este circuito de fotodeteco e condicionamento de sinal foi utilizado
nas medies que envolveram harmnicas de ordem superior (acima de 500 kHz), exigindo-se
resposta em freqncia plana ao longo de ampla largura de banda.

(a) (b)
Figura 8.3 Amplificador de transimpedncia para a monitorao da fotocorrente detectada.
(a) diagrama em blocos do circuito. (b) Resposta em freqncia obtida em simulao.

Um sistema de aquisio e processamento digital de sinais requerido para anlise do
sinal fotodetectado, incluindo-se algoritmos de clculo da FFT, de onde devem ser extradas
as amplitudes das harmnicas utilizadas nos clculos inerentes aos mtodos espectrais. A
aquisio do sinal pode ser atravs de um osciloscpio digital (Tektronix, TDS2022), sendo
que o sinal temporal janelado pode ser transferido para um microcomputador, usando-se uma
interface de comunicao disponvel: RS-232, paralela, USB, etc., utilizando-se controladores
de dispositivo e um software dedicado. Neste caso, realiza-se um ps-processamento para a
obteno das curvas de linearidade e de resposta em freqncia. Poder-se-ia tambm utilizar
a funo FFT do osciloscpio ou um analisador de espectros de varredura para a obteno do
espectro da magnitude do sinal fotodetectado diretamente na tela do equipamento. No
entanto, vale observar que, nestes casos, perde-se a informao de sinal algbrico das
harmnicas, limitando a faixa dinmica dos mtodos espectrais clssicos apresentados nesta
tese. Na Fig. 8.4 ilustra-se o sistema fsico global utilizado no experimento, onde, alm do
interfermetro, so mostrados o sintetizador de tenses senoidais e o osciloscpio de
armazenagem, que permite digitalizar o sinal fotodetectado e transferi-lo para um
microcomputador onde ser efetuado o ps-processamento usando o software Matlab.

220

Figura 8.4 Montagem experimental para caracterizao do APF, composto basicamente pelo
interfermetro de Michelson, o sintetizador de sinais Agilent 33220A, o osciloscpio digital Tektronix
TDS2022 e o microcomputador para aquisio e processamento digital da tenso fotodectada.

8.2 Procedimentos para Anlise de Linearidade e Resposta em
Freqncia do APF, e da Amplificao Proporcionada pela
Estrutura Metlica do APF

De acordo com a montagem experimental da Fig. 8.2 e o desenvolvimento realizado
no Captulo 3 para o interfermetro de Michelson, a amplitude de deslocamento do atuador
(
s
l ) pode ser determinada a partir da medio do ndice de modulao de fase x, usando-se
(3.18), substituindo-se por x. Ou seja, uma vez mensurado o valor do ndice de modulao
x, aplica-se a relao (3.18) a fim de converter x em unidades de deslocamento da superfcie do
APF,
s
l .
Osciloscpio
APF
Microcomputador
Interfermetro
Sintetizador
de Sinais

221
Neste captulo,
s
l corresponde ao valor de pico de deslocamento do ponto localizado
sobre o pice do APF, onde se encontra colado um espelho, conforme esquematizado na Fig.
2.8-b.
Medindo-se x atravs de um dos mtodos espectrais propostos e calculando-se
s
l , a
linearidade e a resposta em freqncia do APF, e a amplificao proporcionada pela sua
estrutura metlica, podem ser obtidas, respectivamente, executando-se as seguintes etapas:
Aplica-se uma tenso senoidal ao APF (na realidade, sua piezocermica PZT) e
calcula-se o deslocamento mximo provocado na sua superfcie. Aumenta-se
gradativamente a amplitude da tenso no atuador, em incrementos regulares,
calculando-se a amplitude de deslocamento no atuador associada a cada amplitude de
tenso aplicada ao PZT (
PZT
V ). Traa-se uma curva do deslocamento obtido em
funo da tenso aplicada, que revelar o comportamento do dispositivo quanto sua
linearidade. O nmero de harmnicas significativas geradas na tenso fotodetectada
aumenta medida que a tenso aplicada ao atuador incrementada;
Realiza-se uma varredura na freqncia da tenso senoidal aplicada ao APF, em
incrementos regulares, suficientes para a identificao das freqncias de
ressonncias do atuador. A cada freqncia aplicada ao APF, ajusta-se a amplitude
da tenso de modo a gerar as harmnicas na tenso fotodetectada que permitam o
clculo usando os mtodos espectrais, respeitando a faixa dinmica de cada mtodo
utilizado (para o mtodo J
1
/J
3
A somente as duas primeiras harmnicas mpares so
suficientes). Para cada freqncia, normaliza-se o deslocamento calculado em relao
tenso aplicada. A resposta em freqncia a curva dos valores normalizados
(deslocamento/tenso), em funo da freqncia;
A partir da curva do deslocamento em funo da tenso aplicada ao APF (
PZT s
V l ),
pode-se calcular a inclinao
PZT s
V l / na regio linear da curva, e relacion-la com a
inclinao obtida numa anlise realizada para a piezocermica isolada. A relao entre
estes dois coeficientes representa a amplificao de deslocamento proporcionada pela
estrutura metlica flexvel acoplada piezocermica, na constituio do APF.


222
8.3 Sinais Temporais Fotodetectados e seus Respectivos Espectros
de Magnitude

Como j foi anunciado, a tenso de sada fotodetectada no sistema interferomtrico da
Fig. 8.4, amostrada e digitalizada usando-se um osciloscpio Tektronix TDS2022. A cada
medio, uma janela do sinal temporal discreto de 2500 amostras, disponvel na tela do
osciloscpio transferida para um microcomputador atravs de uma interface serial RS-232,
usando o software Wavestar [188], especfico para uso com osciloscpios da Tektronix. A
plataforma de software baseada no Windows XP. O objetivo realizar a leitura de uma
janela temporal do sinal discreto fotodetectado e transferir os dados para um PC, num arquivo
de texto em formato ASCII, para que seja ps-processado.
A taxa de amostragem ajustada no osciloscpio de maneira a obter-se um quadro
temporal com um nmero de perodos de sinal elevado o suficiente para permitir uma boa
resoluo espectral no clculo da FFT. Porm, no pode ser excessivamente grande, a fim de
que o sinal janelado permanea peridico ao longo de toda a janela (se o tempo de aquisio
for muito longo,
0
poderia variar neste intervalo, e o sinal deixaria de ser peridico).
O ps-processamento da janela temporal do sinal realizado por programas
desenvolvidos no software Matlab. Aplica-se uma janela de Hanning ao quadro temporal do sinal
fotodetectado e calcula-se a FFT com trs vezes mais pontos (usando a tcnica de insero de
zeros - zero padding), o que facilita a identificao automatizada das harmnicas no espectro.
Um exemplo de janela de sinal obtida no osciloscpio mostrado na Fig. 8.5-a,
associado a uma tenso senoidal de excitao aplicada ao APF com amplitude de 47 V (valor
de pico) e freqncia 4 kHz (freqncia um pouco abaixo da primeira freqncia de
ressonncia do atuador, em 4,8 kHz, como ser visto mais adiante). O espectro de magnitude
correspondente, obtido no Matlab, mostrado na Fig. 8.5-b, onde so indicadas as quatro
primeiras harmnicas fotodetectadas, em 4, 8, 12, 16 e kHz. Este sinal est associado a um
ndice de modulao 502 , 1 ' ' = x rad.
Outro exemplo, mostrado na Fig. 8.6, refere-se a um quadro de sinal detectado quando
uma tenso eltrica senoidal de 12 V aplicada ao APF, na freqncia de 23,2 kHz, em que
ocorre uma ressonncia de grande magnitude do atuador. Como, neste caso, a amplitude de
vibrao do atuador relativamente elevada, o sinal fotodetectado mostrado na Fig. 8.6-a,
apresenta um grande nmero de harmnicas, como mostra o seu espectro correspondente, na
Fig. 8.6-b, onde 27 harmnicas significativas (V
1
-V
28
) ocupam uma faixa do espectro,

223
superior a 621 kHz ( 23 27 kHz). O espectro no foi calculado em dB neste caso, e sim, em
escala linear, com o objetivo de destacar somente as harmnicas no espectro ruidoso.

Figura 8.5 Sinal fotodetectado tpico observado quando uma tenso senoidal de 47 V de pico e
freqncia de 4 kHz aplicada ao APF. a) Forma de onda da tenso fotodetectada (a.c.) b) Espectro de
magnitude normalizado correspondente, calculado em dB.

Figura 8.6 Sinal fotodetectado quando uma tenso senoidal de 12 V (valor de pico) e 23,2 kHz (maior
ressonncia do atuador) aplicada ao APF. a) Forma de onda da tenso fotodetectada (a.c.) b) Espectro
de magnitude normalizado correspondente.

V
5

V
1

V
2

V
3
V
4
V
6

V
7

V
8

V
9

V
24
V
10

V
11

V
12
V
13
V
14
V
15
V
16
V
17
V
19
V
20
V
21
V
23
V
22
V
18
V
25
V
26
V
27

224
Sinais como o amostrado na Fig. 8.6 justificam a utilizao de fotodiodos rpidos,
como o fotodiodo PIN, e o amplificador de transimpedncia com banda larga. Embora a
tenso senoidal de excitao estivesse em 23,2 kHz, o fotodetector precisa apresentar largura
de banda de, no mnimo, 640 kHz. Detectores com reduzida largura de banda introduzem
distores no sinal amostrado, inviabilizando-se o processo de demodulao de fase ptica.

Usando o amplificador Fainner 5000 acoplado ao sintetizador de sinais, gerou-se uma
tenso senoidal em 100 Hz, com amplitude alta o suficiente para excitar o APF e provocar uma
modulao em fase que gerasse de trs a quatro harmnicas significativas no sinal
fotodetectado. Assim, procedeu-se a vrias amostragens, porm observando-se somente a
banda do espectro de magnitude da tenso fotodetectada, compreendida entre 600 Hz e 24 kHz,
em que somente o rudo estava presente. Um exemplo tpico desta banda do espectro
fotodectado mostrado na Fig. 8.7, onde o rudo est normalizado em relao mxima
amplitude de rudo e cuja distribuio da magnitude apresenta o aspecto tpico de rudo branco.

Figura 8.7 Banda de rudo compreendida entre 600 Hz e 24 kHz.

A banda de rudo da Fig. 8.7 envolver a maioria das freqncias de excitao do APF,
nas anlises de linearidade e resposta em freqncia realizadas nas prximas sees e, por este
motivo, torna-se importante conhecer o comportamento do rudo nesta banda. O fato de o rudo
ter aspecto tpico de rudo branco permite uma comparao dos resultados experimentais com
os de simulao dinmica, realizadas no Captulo 6, pois naquela anlise, considerou-se rudo
branco, com distribuio Gaussiana, em todas as simulaes.


225
Assim, um fator de rudo (K) pode ser estimado, atravs de (3.34). Como descrito
anteriormente, o grfico da Fig. 8.5-b corresponde a uma medio realizada quando o APF
excitado com uma tenso eltrica senoidal de 47 V
pico
em 4 kHz. A SNR para a primeira
harmnica est em torno de 1.189 (correspondente a 61,5 dB, conforme indicao na figura).
Desta forma, baseado nas magnitudes das harmnicas do espectro da Fig. 8.5-b, o
ndice de modulao ' ' x e a fase ) ( ' '
0
t foram calculados usando os novos mtodos espectrais
propostos nesta tese, obtendo-se rad x 502 , 1 = e rad t 471 , 0 ) (
0
= , respectivamente. Assim,
tem-se 558 , 0 ) 502 , 1 (
1
rad J e 996 , 0 ) 471 , 0 ( = sen P . Com estes parmetros definidos, o
clculo usando (3.34) conduz a 00047 , 0 K , que est prximo do valor utilizado
anteriormente nas simulaes com rudo branco (realizadas nos Captulos 4 e 5, onde se adotou
0004 , 0 K ). Observa-se que este apenas um valor mdio, tomado como referncia.

8.4 Linearidade do APF

A resposta em freqncia de deslocamento e as freqncias de ressonncia do APF so
assuntos da prxima seo. Antes, porm, torna-se necessrio uma discusso da linearidade
entre o deslocamento e a tenso eltrica de excitao do APF na sua faixa de operao prtica.
Seguindo os procedimentos descritos na seo 8.2 para a anlise da linearidade do
atuador, foram elaboradas curvas que mostram o deslocamento da superfcie do APF em
funo da tenso senoidal aplicada, nas freqncias de 4 kHz (a primeira ressonncia est em
4,8 kHz), 15,3 kHz e 23,2 kHz (outras ressonncias do APF). Os grficos obtidos a partir das
medies usando o interfermetro e da aplicao dos mtodos espectrais J
1
...J
4
Modificado,
J
1
....J
6
-neg J
1
...J
6
-pos e os novos mtodos J
1
/J
3
A e J
m
/J
m+2
, so mostrados nas Figs. 8.8 a 8.11.
As medies que resultaram nos grficos das Figs. 8.9-a e 8.10-a tiveram a fase ) (t
o

monitorada, a qual foi calculada pelos mtodos espectrais de clculo de ) (t
o
, sendo os
valores obtidos representados nos grficos das Figs. 8.9-b e 8.10-b, como ) ( "
0
t .
Um resultado experimental que contraria a literatura [118], que o mtodo J
1
...J
6
-neg
no apresentou erros reduzidos para baixos ndices de modulao, como mostra o grfico da
Fig. 8.8, referente ao deslocamento do APF em funo da tenso senoidal aplicada, na
freqncia de 4 kHz e para uma faixa de deslocamentos de at 90 nm (ndices de modulao
entre 0 e 1,8 rad). Comparando-se os deslocamentos calculados pelos mtodos J
1
...J
6
-neg,

226
J
1
...J
4
e J
1
/J
3
A, mostrados na figura, pode ser constatado que o erro grande para ndices de
modulao menores do que aproximadamente 0,8 rad, para o mtodo J
1
...J
6
-neg, e para
ndices menores que 0,2 rad para os demais mtodos. Contudo, ressalta-se que este resultado
est de acordo com o desenvolvimento terico apresentado nos Captulos 4 e 6, e o
experimental realizado com o SOT (no Captulo 7), onde o mtodo J
1
...J
6
-neg foi avaliado na
presena de rudo branco, obtendo-se resultados insatisfatrios para baixos ndices de
modulao. Considerando um comportamento linear do APF, estima-se um fator de
calibrao igual a 1,6 nm/V em 4 kHz.

Figura 8.8 Deslocamento
s
l do APF obtido em anlise harmnica, em 4 kHz, na regio de baixo ndice
de modulao, calculado usando os mtodos: () J
1
...J
6
-neg

, (x) J
1
...J
4
e (
*
) J
1
/J
3
A.

Nos grficos da Fig. 8.9-a, so apresentados resultados de quatro conjuntos
independentes de medies de deslocamentos da superfcie do APF, efetuadas para uma faixa
de tenses aplicadas at 34 V na ressonncia de 15,3 kHz. Esses quatro conjuntos de tenses
fotodetectadas foram obtidos em instantes arbitrrios, adquirindo-se somente as janelas
temporais (visualizadas na tela do osciloscpio a cada medio). Curiosamente, contudo,
observou-se que em vrios pontos, a condio 2 / ) ( ' '
0
n t rad, n = 0, 1, 2, 3,... foi
estabelecida, conforme registrado na Fig. 8.9-b, onde percebe-se que a regularidade desta
ocorrncia no improvvel. Nesta condio, ocorrem problemas nos clculos dos ndices de
modulao ' ' x usando-se os mtodos clssicos (Fig. 8.9-a), gerando-se erros significativos
nos clculos. Entretanto, para o mtodo J
m
/J
m+2
, proposto nesta tese, obteve-se uma resposta
linear praticamente ao longo de toda faixa de tenso, especificamente entre 3 e 34 V,

227
independente da fase ) ( ' '
0
t . O fator de calibrao do APF operando em 15,3 kHz foi
estimado em 5,7 (nm/V), obtido com base nos clculos pelo mtodo J
m
/J
m+2
.

Figura 8.9 Anlise harmnica do APF na ressonncia de 15,3 kHz. (a) Deslocamento
s
l do APF
calculado usando os mtodos: () J
m
/J
m+2
e (
*
) J
1
...J
4
. (b) Fase ) (
0
t calculada usando: () o novo mtodo
espectral proposto nesta tese e (
*
) o mtodo desenvolvido por Sudarshanam.

Os resultados da Fig. 8.9-b tambm evidenciam a aleatoriedade da fase ) ( ' '
0
t ,
calculada em funo do ndice de modulao x, usando os mtodos espectrais de clculo da fase
) (
0
t . Observa-se na figura que h discordncia no clculo de ) ( ' '
0
t usando o mtodo
proposto nesta tese e empregando o mtodo desenvolvido por Sudarshanam, para ndices
superiores a 3,6 rad. Isto se deve ao fato do mtodo desenvolvido por Sudarshanam ter faixa
limitada a 3,6 rad, como previsto teoricamente, o que no ocorre para o novo mtodo, o qual
responde a uma faixa mais ampla de valores de ndices de modulao x.
Conforme ser discutido na prxima seo, em 23,2 kHz ocorre a ressonncia mais
intensa do APF. Portanto, a amplitude de vibrao relativamente elevada mesmo para
valores reduzidos da tenso aplicada, gerando ndices de modulao tambm elevados, o que
impossibilita o emprego dos mtodos clssicos. Por exemplo, o mtodo J
1
...J
6
-pos tem faixa
dinmica limitada a 6,2 rad, enquanto os limites para os demais mtodos so ainda menores.
Por outro lado, o mtodo J
m
/J
m+2
tem ampla faixa dinmica e sua aplicao no clculo do

228
deslocamento da superfcie do APF possibilitou gerar a resposta da Fig. 8.10-a. Independente
da fase ) (
0
t , calculada usando o mtodo proposto nesta tese e mostrada na Fig. 8.10-b, no
se cometeu erros na resposta calculada empregando-se o mtodo J
m
/J
m+2
(pontos em cor preta
no grfico), ainda que esta no tenha se mostrado retilnea em toda a faixa de tenses
aplicadas. O que ocorre que o APF deixa de exibir linearidade entre o deslocamento e a
tenso de excitao para deslocamentos superiores a aproximadamente 800 nm. Assim, para
tenses senoidais com amplitudes superiores a aproximadamente 7,3 V e em 23,2 kHz, o
dispositivo entra em seu regime de operao no linear. Para deslocamentos inferiores a 800
nm, o atuador tem um comportamento linear, com inclinao estimada em 109 (nm/V), como
mostrado na Fig. 8.10-a, onde as limitaes do mtodo J
1
...J
4
(pontos em cor vermelha)
tambm so evidentes na figura.

Figura 8.10 Anlise harmnica do atuador na ressonncia de 23,2 kHz. (a) Deslocamento
s
l do APF
efetuada experimentalmente aplicando-se os mtodos: () J
m
/J
m+2
e (
*
) J
1
...J
4
. (b) Fase ) (
0
t calculada
usando o mtodo espectral proposto nesta tese.

Portanto os resultados da Fig. 8.10 mostram que o mtodo J
m
/J
m+2
para o clculo de
' ' x , em conjunto com o novo mtodo espectral para o clculo de ) ( ' ' t
o
, ambos propostos
nesta tese, constituem uma excelente escolha para medies que envolvam uma ampla faixa
de amplitude de deslocamentos da superfcie do APF, quando este opera em regime de

229
excitao harmnica; os deslocamentos so calculados precisamente, enquanto a fase ) (
0
t
pode ser monitorada corretamente.
Os resultados mostrados nas Figs. 8.8 a 8.10 indicam boa linearidade do APF para
uma ampla faixa de deslocamentos nanomtricos. Para tornar mais evidente esta linearidade e
a diferena das magnitudes de vibrao entre uma de suas pequenas ressonncias (em 4,8
kHz) e a maior ressonncia do APF (em 23,2 kHz), elaborou-se a Fig. 8.11, que mostra o
deslocamento da superfcie do APF (em nm) em funo da tenso aplicada (em V), nas
freqncias de 4,6 kHz (na regio da ressonncia de 4,8 kHz) e em 23,2 kHz. Empregou-se o
mtodo J
m
/J
m+2
, e destacou-se apenas a faixa de operao onde o APF se mantm linear.

Figura 8.11 Linearidade do APF em 4,6 kHz e em 23,2 kHz (ressonncias).

8.5 Resposta em Freqncia do APF

A resposta em freqncia do APF possibilita identificar as freqncias de operao em
que o atuador entra em ressonncia, nas quais apresenta uma amplificao na amplitude de
vibrao maior do que aquela para a qual normalmente foi projetada. Sendo o atuador
previsto para aplicaes estticas e harmnicas (a at alguns kHz), a primeira ressonncia
estabelece um limiar na largura de banda de freqncia do dispositivo.

230
Em [156], a piezocermica PZT-5A utilizada no APF foi modelada pelo MEF usando o
software ANSYS e, posteriormente, testada em laboratrio atravs da medio de sua
admitncia eltrica para freqncias at 60 kHz, empregando-se um analisador de impedncias
vetorial. Os resultados de simulao e o experimental, que se encontram na Fig. 2.2, revelaram
a ocorrncia da primeira ressonncia da piezocermica isolada em 46,4 kHz.
No caso do APF f1b0820, a estrutura metlica flexvel agregada piezocermica, gera
freqncias de ressonncias adicionais no dispositivo, devido, principalmente ao acrscimo de
massa e fixao da estrutura piezocermica. No entanto, o modelamento matemtico do
f1b0820 no faz parte do escopo deste trabalho.
A resposta em freqncia do atuador foi obtida seguindo os procedimentos descritos na
seo 8.2, para freqncias entre 1 e 50 kHz. Grficos, em termos do deslocamento da superfcie
do atuador normalizado em relao tenso eltrica aplicada, so mostrados na Fig. 8.12, onde a
resposta em freqncia foi calculada usando os mtodos J
1
...J
4
(asteriscos em vermelho) e J
1
/J
3
A
(crculos preenchidos em preto). As medies envolveram ndices de modulao na faixa de 0,8 a
3,6 rad e, cada ponto do grfico, a mdia de um conjunto de cinco medies. Como se observa,
o uso dos dois mtodos conduziu praticamente aos mesmos resultados, pois nas medies
realizadas tomou-se o cuidado de garantir que as harmnicas pares e mpares estivessem
visivelmente acima do nvel de rudo, no espectro de magnitude do sinal fotodetectado.

Figura 8.12 Resposta em freqncia do APF em termos do deslocamento normalizado pela tenso
eltrica aplicada ao atuador, calculado usando os mtodos: () J
1
/J
3
A e (
*
) J
1
...J
4
.
A normalizao adotada na Fig. 8.12, com relao tenso externa aplicada ao
atuador regularmente empregada na literatura. Isto se deve grande variao de x entre os

231
pontos com freqncias de ressonncia e os demais pontos, necessitando a reduo da tenso
externa nas ressonncias, a fim de se manter x dentro da faixa linear do APF. Assim, na
obteno da resposta em freqncia, a tenso aplicada ao APF pode ser controlada para gerar
ndices de modulao dentro da faixa dinmica do mtodo J
1
/J
3
A, tornando esta, uma tima
escolha, pela simplicidade de implementao envolvida. Na figura, observam-se ressonncias
em 4,8 kHz, 15,3 kHz, 23,2 kHz, 32 kHz e 48,6 kHz, algumas das quais foram anunciadas na
seo anterior. Alm disso, observa-se a concordncia entre os valores de
deslocamento/tenso mostrados na figura, com as declividades das curvas de linearidade
obtidas na seo 8.4: 1,6 nm/V em 4 kHz, 5,7 nm/V em 15,3 kHz e 109 nm/V em 23,2 kHz
(dentro das respectivas faixas lineares).
Para validar as medies das freqncias de ressonncias realizadas com o
interfermetro, bem como a eficincia dos mtodos espectrais, a admitncia eltrica do
atuador foi medida como uma funo da freqncia usando um analisador de impedncias: o
modelo HP 4192 (Fig. 8.13), fabricado pela Hewlett-Packard.

Figura 8.13 Analisador de impedncias HP 4192A utilizado na obteno do mdulo e fase da admitncia
eltrica do atuador.

Os resultados obtidos, usando-se o analisador de impedncias HP 4192A, so
mostrados nos grficos da Figs. 8.14-a e 8.14-b, para a magnitude e a fase da admitncia
eltrica de entrada do APF, respectivamente, como funes da freqncia. Na maior parte
deste espectro, as freqncias de ressonncia so concordantes para ambos os mtodos (ptico

232
e pela anlise da admitncia). As pequenas ressonncias, em 4,8 e 15,3 kHz no esto muito
bem definidas na curva de admitncia, como mostram os grficos da Fig. 8.14.

Figura 8.14 Curvas da admitncia eltrica medidas com o analisador de impedncias HP 4192A. (a)
Magnitude em funo da freqncia. (b) Fase em funo da freqncia.

No entanto, uma vista em detalhe da banda de freqncias abaixo de 20 kHz, como
apresentado na Fig. 8.15 revela mltiplas ressonncias nesta regio. Aparentemente, algumas
destas podem causar picos nas curvas de resposta do AFP, que podem ser observados na
resposta obtida usando os mtodos espectrais, apresentada na Fig. 8.12.
Portanto, uma importante observao que, as freqncias de ressonncias mais
baixas so evidentes na resposta obtida usando os mtodos pticos (Fig. 8.12), enquanto que
para as freqncias mais altas, onde as amplitudes de deslocamento do atuador so mais
atenuadas, o mtodo da admitncia mais adequado (Fig. 8.14).


233

Figura 8.15 Fase da admitncia eltrica medida entre o nvel DC e 20 kHz, mostrando pequenas
ressonncias em torno de 5 e 15 kHz.

8.6 Medies de Deslocamentos Sub-Nanomtricos

Conforme estudo nos Captulos 4 e 5, a maioria dos mtodos espectrais, incluindo-se o
J
m
/J
m+2
, encontram dificuldades em demodular ndices de modulao reduzidos, x<<1. Isto
ocorre porque, neste caso, o sinal fotodetectado composto eminentemente por
1
V , sendo as
amplitudes das demais harmnicas da mesma ordem de grandeza do rudo. Neste contexto,
costuma-se afirmar que tcnicas homdinas passivas no so adequadas, em detrimento da
tcnica heterdina, capaz de mensurar vibraes na faixa de sub-angstroms. Contudo, ser
mostrado nesta seo, que a tcnica J
0
...J
3
permite detectar vibraes reduzidas, pelo menos
na faixa de sub-nanmetros.
As medies de deslocamentos muito reduzidos da superfcie do APF exigiram uma
configurao modificada, onde o espelho de referncia tambm deve sofrer uma vibrao
harmnica para induzir uma modulao de fase auxiliar no feixe de referncia, possibilitando,
desta forma, a aplicao dos mtodos J
0
...J
2
e J
0
...J
3
, descritos, respectivamente, nos Captulos
4 e 5 da tese. Substituiu-se o espelho fixo do interfermetro (Fig. 8.2) por um tweeter
piezoeltrico modificado (foram removidas a corneta e a bobina), com um espelho colado ao
seu cone central, como mostra a ilustrao da Fig. 8.16-a. O tweeter (do tipo comercial)
utiliza um atuador piezoeltrico do tipo bilaminar (bender) acoplado a um cone central, para
amplificar as vibraes. Escolheu-se o tweeter, pois tem custo reduzido e, alm de ter uma
boa linearidade e resposta em freqncia satisfatria, capaz de produzir deslocamentos
considerveis, mesmo com tenses reduzidas aplicadas aos seus eletrodos. O interfermetro
de Michelson modificado pelo uso do tweeter mostrado na Fig. 8.16-b.
Freqncia (kHz)
F
a
s
e
s

d
a

A
d
m
i
t
n
c
i
a

(
g
r
a
u
s
)

Pequenas
ressonncias

234

(a)

(b)
Figura 8.16 (a) Detalhe do tweeter usado no interfermetro para uso especfico dos mtodos J
0
...J
2
e J
0
...J
3
. (b)
Interfermetro de Michelson modificado em seu brao de referncia, pelo uso do tweeter.

Um segundo gerador de sinais gera a tenso senoidal de amplitude constante que,
aplicada ao tweeter, induz uma modulao de fase auxiliar (
a
x ) no feixe ptico de referncia.
Portanto, excitando-se o APF com uma tenso senoidal de freqncia superior, o sinal ptico
de interferncia corresponder a um sinal modulado em fase com modulao por dois tons,
como equacionado em (4.27) e (4.28).
Um exemplo tpico de sinal temporal fotodetectado usando a configurao modificada
da Fig. 8.16-b mostrado na Fig. 8.17-a, que corresponde a um sinal modulado em fase por
dois tons nas freqncias 4 kHz e 2,312 kHz, correspondente s freqncias das tenses
senoidais aplicadas ao APF e ao tweeter, respectivamente. A tenso de pico aplicada ao APF
igual a 41,2 V e ao tweeter, igual a 1,7 V. As harmnicas resultantes do batimento dos dois
tons no sinal modulado em fase podem ser observadas no grfico da Fig. 8.17-b, que mostra a
regio do espectro de magnitude do sinal fotodetectado entre DC e 15 kHz.
Aplicou-se, ao tweeter, uma tenso senoidal de amplitude fixa igual a 1,7 V, em 2,312
kHz. A tenso eltrica senoidal aplicada ao APF, em 4 kHz, teve sua amplitude variada de 0 a
7 V, com incrementos regulares. Com o APF em repouso (somente o tweeter sendo excitado)
mediu-se, pela aplicao do mtodo J
1
/J
3
A, o ndice de modulao de fase auxiliar, obtendo-
se 61 , 1 =
a
x rad, que foi o ponto de operao estabelecido para o experimento. Este valor foi
mantido constante ao longo do experimento. Calculou-se o deslocamento do APF em funo
do valor de pico da tenso aplicada ao APF, usando-se os mtodos J
0
...J
2
e J
0
...J
3
. Os
resultados so mostrados na Fig. 8.18-a.

235

Figura 8.17 Sinal interferomtrico de sada observado quando uma tenso senoidal de 41,2 V (valor de
pico) e 4 kHz aplicada ao APF e uma tenso senoidal de 1,7 V (valor de pico) e 2,312 kHz aplicada ao
tweeter (corresponde a um ndice de modulao auxiliar x
a
= 1,61 rad). (a) Forma de onda da tenso
fotodetectada (a.c.) . (b) Espectro de magnitude normalizado correspondente.

Figura 8.18 Deslocamentos da superfcie do atuador como uma funo do valor de pico da tenso
aplicada ao atuador, calculada pelos mtodos: () J
0
...J
3
e (
*
)J
0
...J
2
.


236
Como esperado, o resultado dos clculos usando o novo mtodo J
0
...J
3
, mostrado na Fig.
8.18-a, evidencia o comportamento linear do APF, com um fator de calibrao igual a 1,58
nm/V
pico
em 4 kHz. Este resultado est compatvel com o obtido a partir da Fig. 8.8, em que
estimou-se 1,6 nm/V
pico
. Uma vista em detalhe da regio associada a deslocamentos menores
mostrada na Fig. 8.18-b. Nota-se que o mtodo J
0
...J
3
possibilita a medio de ndices de
modulao da ordem de mrad. Apesar do mtodo J
0
...J
3
no ter sido validado experimentalmente
(no Captulo 7) usando o SOT, a concordncia na inclinao das curvas das Figuras 8.8 e 8.18
(ambas as medies foram realizadas em 4 kHz) tambm permitem validar experimentalmente
este mtodo espectral.
Os resultados dos clculos pelo mtodo clssico J
0
...J
2
, nas Figs. 8.18-a e 8.18-b,
mostram que a ocorrncia do desvanecimento de sinal provoca erros significativos de clculos
[devidos a 2 / ) ( n t
o
= rad, n=0,1,2,...].

8.7 Amplificao de Deslocamento Proporcionada pela Estrutura
Metlica do APF

Conforme se discute no Captulo 2, simulaes usando o software ANSYS e
experimentos utilizando um sensor reflexivo de intensidade fibra ptica MTI-2000 foram
realizadas pelo Grupo de Sensores e Atuadores da EPUSP para a medio de deslocamentos
das superfcies da piezocermica PZT-5A. Considerou-se nestes testes, a mesma
piezocermica empregada na constituio do APF f1b0820. Deslocamentos nas direes 1
(
1
L ) e 3 (
3
L ) da piezocermica foram avaliados, com o sensor reflexivo operando no modo
quase-esttico, pela aplicao de uma tenso triangular de amplitude de pico igual a 200 V e
freqncia de 1 Hz. Os resultados experimentais e de simulao, divulgados em [143]
indicaram respostas lineares com fatores de calibrao, nas direes 1 e 3, dados por
665 /
1
=
PZT
V L (pm/V) e 5 , 143 /
3
=
PZT
V L (pm/V), respectivamente, sendo que
PZT
V a
diferena de potencial eltrico nas superfcies do PZT perpendiculares direo 3, em volts.
O uso do interfermetro na medio dos deslocamentos
1
L e
3
L da piezocermica
no adequado, pois exigiria superfcies refletoras numa piezocermica porosa, tornando a
tcnica interferomtrica mais difcil. Para medies de deslocamentos da superfcie do
atuador, o uso de um fino espelho colado estrutura metlica (cuja rigidez muito maior do
que a do espelho) do f1b0820 praticamente no altera a resposta em freqncia do atuador,

237
mas para a piezocermica isolada deve-se evitar tal procedimento [189]. Por esta razo,
utilizou-se o sensor de intensidade MTI-2000 nos testes experimentais da piezocermica, em
[143].
O acoplamento da estrutura metlica piezocermica PZT-5A possibilita uma
amplificao do deslocamento do ponto central da superfcie da estrutura (
s
l ), devido, aos
deslocamentos
1
L e
3
L provocados na piezocermica, quando submetida ao campo
eltrico gerado pela aplicao da tenso externa
PZT
V . Medindo-se
s
l usando-se o
interfermetro e os mtodos espectrais, pode-se calcular a amplificao proporcionada pela
estrutura metlica acoplada piezocermica, na constituio do atuador.
De acordo com as medies realizadas nesta tese, pelo mtodo J
1
/J
3
A e J
0
...J
3
, com o
atuador operando em regime harmnico, sendo excitado por tenses de at 56 V em 4 kHz,
calculou-se um fator de calibrao de aproximadamente 1,58 nm/V (conforme indicao na
Fig. 8.18). Dividindo-se este valor pelos deslocamentos calculados em [143], para a
piezocermica PZT-5A isolada, nas direes 1 e 3, dados em mdulo, respectivamente por,
0,665 (nm/V) e 0,1435 (nm/V), chega-se a taxas de amplificao nas direes 1 e 3,
respectivamente, iguais a 2,4 e 11.
Considerando que o atuador tem resposta plana at 4 kHz, como pode ser observado
na Fig. 8.12, pode-se adotar o fator 1,58 nm/V para a largura de banda do espectro entre 0 e 4
kHz.
Resultados experimentais realizados com o APF e divulgados em [143], para
medies em 1 Hz, usando o sensor ptico de intensidade MTI-2000, apontaram um
comportamento linear, com fator de calibrao de 1,4 nm/V, representando uma diferena em
torno de 12% em relao ao resultado obtido com o interfermetro, nas medies realizadas
nesta tese. Esta diferena pode ser atribuda aos seguintes fatores:
Medies realizadas usando sistemas pticos diferentes: nas medies realizadas na
EPUSP e divulgadas em [143] empregou-se um o sensor de intensidade MTI-2000 e
nas medies realizadas nesta tese, o interfermetro e os mtodos espectrais. O MTI-
2000 um sensor baseado na intensidade ptica ( um sensor de amplitude, e no de
fase), muito susceptvel modulao espria devido a perturbaes ambientais,
alinhamento, etc.

238
Houve a necessidade de substituio do espelho original do APF, incluindo-se a cola
de fixao do mesmo estrutura metlica do APF, antes de se realizarem as medies
realizadas com o interfermetro, no desenvolvimento desta tese;
Considerao de uma resposta plenamente plana at 4 kHz. Como a freqncia de 4
kHz est muito mais prxima da ressonncia em 4,8 kHz, do que 1 Hz, pode ocorrer
um ligeiro aumento no fator de calibrao, medido em 4 kHz nos experimentos
realizados nesta tese, em relao aos realizados em 1 Hz, divulgados em [143].
Portanto, pode-se considerar que as condies estabelecidas para o prottipo f1b0820 no
foram as mesmas, nas medies realizadas na EPUSP e nas medies realizadas na FEIS-
UNESP.

8.8 Discusso

As novas tcnicas de demodulao de ndice de modulao de fase ptica, x, e da fase
) (
0
t , foram aplicadas na caracterizao de um atuador piezoeltrico flextensional (o APF),
operando no modo free-displacement. Analisou-se a linearidade e resposta em freqncia do
atuador, e tambm a amplificao proporcionada pela estrutura metlica do APF, em relao
obtida pela piezocermica PZT-5A isolada.
As novas tcnicas espectrais aqui propostas, por eliminarem as restries relativas
fase ) (
0
t , permitem testar o APF sob condies ambientes adversas. Os mtodos de
demodulao de fase J
m
/J
m+2
e J
0
...J
3
, e o mtodo de clculo da fase ) (
0
t propostos nesta
tese, admitem operao em tempo real, calculando-se os deslocamentos do APF, enquanto o
efeito das perturbaes ambientes podem ser simultaneamente monitoradas.
Alm disso, como mostraram os resultados experimentais, a ampla faixa dinmica
destes mtodos possibilitou o clculo de amplitudes de vibraes to pequenas quanto
nanmetros e to grandes quanto micrmetros onde, por exemplo, na ressonncia de 23,2
kHz, verificou-se a faixa de deslocamentos a partir da qual o APF comea a exibir
comportamento no linear. Por outro lado, deslocamentos de alguns angstroms nanmetros
foram detectados usando o interfermetro de Michelson modificado, e o uso do novo mtodo
J
0
...J
3
, nas medies realizadas.
239
CAPTULO 9
CONCLUSES E PERSPECTIVAS FUTURAS

9.1 Concluses

Em 2005, durante o desenvolvimento desta tese, aplicou-se o mtodo J
1
...J
4
na anlise
experimental de um APF [190]. No entanto, verificou-se que este mtodo tinha limitaes.
Para resolver os problemas identificados no estudo deste e de outros mtodos pticos
clssicos, quatro novos mtodos de demodulao de fase ptica, aqui denominados mtodos
J
1
/J
3
A, J
1
...J
3
, J
m
/J
m+2
e J
0
...J
3
, foram propostos. Estes novos mtodos foram concebidos,
baseados em anlise espectral do sinal fotodetectado na sada de interfermetros, tendo como
foco superar as limitaes apresentadas pelos mtodos espectrais clssicos J
1
...J
4
, J
1
...J
4

Modificado, J
1
...J
6
-neg, J
1
...J
6
-pos e J
0
...J
2
, impostas pelos pontos de singularidades inerentes
s relaes constitutivas das funes de Bessel, pelo efeito da variao aleatria da fase ) (
0
t
e pelo rudo. Na estratgia adotada modificou-se adequadamente os mtodos clssicos usando
ajustes de curvas, atravs de regresses polinomiais pela teoria de mnimos quadrados,
objetivando-se expandir a faixa dinmica de ndices de modulao x e remover as
singularidades associadas ao desvanecimento de sinal devido variao aleatria da fase
) (
0
t . Nesta mesma linha, um novo mtodo espectral tambm foi desenvolvido para a
medio da fase instantnea ) (
0
t , que varia aleatoriamente devido influncia de condies
ambientais no sistema interferomtrico.
Na concepo e anlise dos novos mtodos aqui propostos, a abordagem do problema
foi sempre a mesma: partindo-se de algum mtodo clssico como, por exemplo, o J
1
J
4
,
estabelece-se alguma inter-relao entre funes de Bessel, ou, entre fatores envolvendo estas
funes, para relacion-las alternativamente por uma recurso polinomial com menor grau
possvel. Com isso, ao invs de demodular x atravs da medio de quatro componentes
harmnicas, bastaria empregar apenas duas. Em cada novo mtodo concebido, se tratava de
provar que as estimaes propostas apresentariam resultados eficientes em anlises com rudo
e na presena de variaes aleatrias da fase ) (
0
t devido sensibilidade do sistema em
relao s alteraes mnimas nas condies ambientais.
Concluses e Perspectivas Futuras

240
Justifica-se a assertiva da pesquisa pela simplicidade nos arranjos experimentais empregados,
se comparado a sistemas interferomtricos heterdinos ou com realimentao ativa, e tambm, por
se mostrarem adequadas aplicao envolvida: a caracterizao de atuadores piezoeltricos.
Os programas desenvolvidos em computador envolveram a busca do melhor ajuste de
curvas no clculo dos coeficientes dos polinmios utilizados nos novos mtodos. Simulaes
com rudo eletrnico dos tipos 1/f
2
e branco, considerando-se a influncia do desvanecimento
de sinal, foram realizadas de forma exaustiva, usando-se a linguagem interpretada do Matlab.
Os grficos tridimensionais ) , (
0
x f x
r
= ou ) , (
0 0
x f
r
= , introduzidos nos Captulos 4
e 5, onde os erros nos clculos das fases foram estimados varrendo-se toda a faixa dinmica
tanto do ndice de modulao de fase x, quanto da fase ) (
0
t (em intervalos de 4 mrad),
mostraram conformidade com os resultados experimentais.
Um sistema desenvolvido e simulado usando a plataforma Simulink do Matlab
possibilitou que simulaes dinmicas fossem realizadas. Nestas simulaes, adicionou-se
rudo branco limitado em faixa (com distribuio Gaussiana) ao sinal modulado em fase
(gerado no prprio ambiente de simulao). Atribuiu-se ao rudo, um nvel tpico do valor
observado nos experimentos, objetivando-se que a anlise de simulao fosse a mais prxima
possvel da experimental. Os resultados grficos resultantes das simulaes revelaram
melhores respostas para os novos mtodos em relao aos mtodos clssicos, ambos
simulados no mesmo ambiente, considerando-se as mesmas condies de simulao.
O desenvolvimento do sistema no Simulink, realizado no Captulo 6, uma
contribuio, no sentido que, o modelo implementado didtico, de simples implementao e
pode-se monitorar todas as etapas do processamento digital envolvido. Alm disso, a
plataforma de software escolhida (o Simulink/Matlab) possibilita adaptar e codificar o modelo
desenvolvido para que o mesmo seja implementado diretamente em uma placa especfica de
DSP para operao em tempo real [175], [191].
As principais vantagens observadas nas simulaes e experimentos utilizando os novos
mtodos desenvolvidos nesta tese, em comparao aos mtodos clssicos estudados, podem
ser resumidas como:
Os novos mtodos J
1
/J
3
A e J
1
...J
3
apresentaram, nas anlises de simulao com rudo e
nas anlises experimentais, praticamente as mesmas precises e faixas dinmicas dos
mtodos clssicos J
1
...J
4
e J
1
...J
6
-pos, respectivamente. No entanto, os novos mtodos
so menos afetados pelo desvanecimento aleatrio de sinal, pois no h singularidades

241
na quadratura de fase. A determinao dos sinais algbricos das funes de Bessel
mais fcil, pois necessrio monitorar somente a componente fundamental e a terceira
harmnica. Como as componentes de mais altas freqncias (J
4
a J
6
) no so utilizadas,
os novos mtodos possibilitam que o processamento de sinais seja executado a uma taxa
de amostragem menor (desde que um filtro anti-aliasing seja utilizado), reduzindo o
tempo de processamento. Alm disso, mostrou-se no Captulo 6 que o uso do algoritmo
de Goertzel ao invs da FFT, reduz em pelo menos 50% o nmero de operaes
aritmticas envolvidas nos clculos dos novos mtodos, em relao aos clssicos;
Pelo uso do mtodo J
m
/J
m+2
, as limitaes impostas pelo comportamento aleatrio da
fase ) (
0
t , regularmente presente nos mtodos espectrais clssicos, foram eliminadas.
Ao contrrio dos mtodos clssicos, no necessrio monitorar o sinal algbrico das
componentes espectrais. Alm disso, a nova faixa dinmica foi ampliada em
aproximadamente duas ordens de grandeza. Destaca-se tambm que, de acordo com o
algoritmo da Fig. 5.12 (proposto para implementao do mtodo J
m
/J
m+2
), a estimao
de x baseada em componentes espectrais com elevadas SNRs ( ) 85 , 0 || || >
m
V , o que
minimiza o erro no clculo de x devido ao rudo do sistema;
Se no limite superior, o mtodo J
m
/J
m+2
possibilitou ampliar a faixa dinmica em quase
duas ordens de grandeza em relao ao mtodo clssico J
1
...J
4
, por outro, o novo mtodo
J
0
...J
3
expande em aproximadamente duas ordens de grandeza o limite inferior da faixa
dinmica, independente de ) (
0
t ;
O novo mtodo de clculo da fase ) (
0
t permitiu ampliar a faixa dinmica de medio
relativamente variao do ndice de modulao x. Sua eficincia foi provada tanto em
simulaes como em experimentos. Monitorar a fase ) (
0
t permite, por exemplo,
avaliar a severidade das perturbaes ambientais bem como as condies de clculos
dos outros mtodos. Uma proposta interessante seria realizar a medio de ) (
0
t a fim
de control-lo, estabilizando o interfermetro, mantendo-o operando em modo
quiescente na condio de quadratura de fase, ou em torno de algum outro ponto timo;
Como mostrado no Captulo 5, a combinao dos algoritmos propostos, para o mtodo
J
m
/J
m+2
e para o novo mtodo de medio de ) (
0
t , respectivamente, resultou num
simples e compacto fluxograma para o clculo de x e de ) (
0
t simultaneamente, para
uma ampla faixa dinmica de x.

242
A validao definitiva da eficincia dos mtodos foi realizada experimentalmente, atravs
de medies de diferena de potencial eltrico usando um SOT. Este mostrou ser um modelo
adequado para o teste dos mtodos espectrais, pois um sistema que possui soluo analtica,
permitindo a comparao de resultados experimentais e tericos, e assim, possibilitando validar os
mtodos. Tenses eltricas de at 250 V
RMS
foram aplicadas ao SOT, correspondendo a uma faixa
de ndices de modulao de aproximadamente 20 rad, limitando-se a aplicao dos mtodos
espectrais clssicos, mas no a dos novos mtodos. Apesar deste valor relativamente elevado de
ndice, as baixas freqncias envolvidas (fundamental em 60 Hz) permitiram empregar uma baixa
taxa de amostragem para o processamento dos sinais, em torno de 4,2 kHz. Alm disso, apesar da
curva de transmisso do SOT depender do termo aleatrio ) (
0
t , cita-se que este varia lentamente
no tempo, ao contrrio do que acontece nos interfermetros. Isto ocorre porque ) (
0
t no SOT
varia somente com a temperatura; no interfermetro, alm da temperatura, ) (
0
t varia com as
vibraes mecnicas externas (por isso mais rpido que no SOT).
Como era previsto, os resultados experimentais comprovaram a excelente linearidade
entre a tenso aplicada e a profundidade de modulao de fase calculada. Baseando-se nos
resultados obtidos pelos novos mtodos pticos, mediu-se a tenso de meia onda de clula
Pockels, obtendo-se 5 , 65 =
V V, que difere em aproximadamente 0,9 % do valor terico

( 92 , 64 =
V V), mostrando tima concordncia entre ambos.

A fase ) (
0
t tambm foi monitorada para o SOT, pela utilizao do novo mtodo
proposto nesta tese, que opera para uma ampla faixa dinmica da fase induzida x, permitindo
as medies quando x variou at 20 rad.
Apesar da importncia dos testes realizados experimentalmente com o SOT para
validar as tcnicas propostas, a aplicao de grande relevncia no desenvolvimento desta
pesquisa foi a anlise de linearidade e resposta em freqncia da amplitude de deslocamento
do APF. A amplificao proporcionada pela estrutura metlica do APF tambm foi calculada
experimentalmente.
O prottipo do APF analisado, denominado f1b0820, parte de um conjunto de
piezoatuadores projetados pelo Grupo de Sensores e Atuadores da Escola Politcnica da
Universidade de So Paulo (EPUSP) usando o mtodo de otimizao topolgica, para serem
usados em aplicaes de ptica e fotnica. Esta tarefa foi executada usando um
interfermetro de Michelson de baixo custo, em configurao homdina, viabilizada pela
aplicao dos novos mtodos espectrais, que no so influenciados pela variao aleatria da

243
fase ) (
0
t . Os mtodos espectrais permitiram analisar uma ampla faixa de deslocamento,
com amplitudes de pico variando entre dezenas de angstroms a alguns micrmetros. A fase
) (
0
t tambm foi monitorada durante as medies, verificando-se uma variao aleatria com
o tempo, para o sistema experimental utilizado.
Grficos de ndice de modulao de fase versus tenso aplicada ao APF foram mostrados,
evidenciando que este dispositivo exibe comportamento linear dentro de sua faixa de operao.
Nestas condies, deslocamentos microscpicos da superfcie do APF podem ser controlados
por meio da tenso eltrica aplicada aos seus terminais. Cuidados especiais devem ser tomados
quando o APF opera em alguma freqncia de ressonncia (ou muito prximo delas).
Usando o novo mtodo J
m
/J
m+2
foram realizadas medies na freqncia de ressonncia
do atuador, em 23,2 kHz, a qual muito intensa, gerando-se grandes deslocamentos, cujas
medies foram viabilizadas devido ampla faixa dinmica da tcnica empregada. Verificou-
se um comportamento linear somente para tenses aplicadas inferiores a 7,3 V, a partir do
qual a curva de deslocamento, normalizada em relao tenso de pico aplicada ao atuador,
segue uma trajetria aproximadamente parablica. Os mtodos clssicos no permitiram
avaliar este comportamento, uma vez que no possuam faixa dinmica suficiente.
Um resultado interessante e que merece ser destacado refere-se s respostas obtidas pelo
uso do mtodo J
1
...J
6
-neg, cujos resultados de simulao e experimento (tanto para o SOT como
para o APF) foram insatisfatrios (ao contrrio do que se prega na literatura) para baixos
ndices de modulao, restringindo seu uso com rudo branco. A explicao mais provvel
que Sudarshanam [116]-[118], em suas simulaes com rudo, no considerou uma distribuio
de probabilidades para o valor do fator de rudo K, mas simplesmente K constante. O efeito
no altera significativamente os clculos quando a SNR elevada (>>1), mas para baixos
ndices, em que se tem uma SNR<1, a estimao de x usando um fator K constante torna-se
imprecisa.
Um tempo de resposta rpido um importante critrio para seleo de atuadores
piezoeltricos, e pode ser definido como o tempo para atingir a resposta com preciso e
rapidez, sem sobresinal (overshoot) e flutuaes (ringing). A ressonncia mecnica do
sistema limita a faixa de atuao prtica e atuadores devem ser usados na faixa linear de seus
respectivos espectros de ressonncia. Da a importncia de se determin-las [192].
Freqncias de ressonncias foram medidas com o uso do interfermetro e dos mtodos
espectrais e comparadas com aquelas obtidas com um analisador de impedncias, mostrando

244
que ambas as metodologias so complementares: o mtodo interferomtrico mais adequado na
deteco das freqncias de ressonncias mais baixas, enquanto que o mtodo da admitncia, na
determinao das freqncias de ressonncias mais altas. Observando os resultados
experimentais torna-se evidente que uma inspeo rpida da curva de admitncia do APF no
pode revelar todos os picos de ressonncias, principalmente na banda de freqncias baixas, a
menos que sua escala seja ampliada naquela faixa. Devido a este fato, pequena importncia
poderia ser dada s pequenas ressonncias, prximas de 4,8 kHz e 15 kHz, na Fig. 8.14. No
entanto, a resposta em freqncia obtida pelos deslocamentos medidos com as tcnicas
interferomtricas revelou pontos significativos nestas ressonncias. O uso do novo mtodo
J
1
/J
3
A possibilitou a identificao destas pequenas ressonncias, bem como das outras
ressonncias, at 50 kHz. A vantagem de se empregar este mtodo para tal finalidade a
simplicidade matemtica do mtodo.
Observa-se que a largura de banda do APF est limitada a aproximadamente 4,5 kHz, que
se encontra abaixo da primeira freqncia de ressonncia significativa, identificada pelo uso do
mtodo espectral J
m
/J
m+2
. Nesta faixa, a curva de resposta em freqncia se mostra
aproximadamente plana e apresentou um fator de calibrao de aproximadamente 1,6 nm/V. Cita-
se que os mtodos de elementos finitos e otimizao topolgica, descritos em [138] e [154], foram
originalmente propostos para projetar o dispositivo para aplicaes estticas e quase-estticas
(baixas freqncias). Embora estes mtodos sejam gerais e possam ser utilizados para analisar
muitas topologias complexas, os problemas de altas freqncias no foram os principais
propsitos na concepo do prottipo f1b0820. Assim, uma largura de banda de operao de
aproximadamente 4,5 kHz pode ser considerada adequada para vrias aplicaes do APF.
Usando o novo mtodo J
0
...J
3
, medies de deslocamentos da ordem de poucas dezenas
de angstroms foram realizadas em 4 kHz, para o APF operando em regime harmnico,
obtendo-se um fator de calibrao igual a 1,58 nm/V.
Apesar das novas tcnicas aqui desenvolvidas terem sido testadas experimentalmente
apenas com o SOT e o APF, elas tm potencial para aplicaes gerais em qualquer
interfermetro ptico homdino com esquema passivo de deteco de fase induzida
harmonicamente, que estejam associadas a quaisquer outras grandezas fsicas ou qumicas, e
operando com freqncias muito mais elevadas.


245
9.2 Perspectivas futuras
No processo de continuidade deste trabalho, novos atuadores e manipuladores
piezoeltricos devero ser analisados, em um trabalho conjunto com o Grupo de Pesquisas
liderado pelo Prof. Dr. Emlio C. N. Silva, do Grupo de Sensores e Atuadores da Escola
Politcnica da USP. O uso dos novos mtodos possibilitar que os dispositivos sejam analisados
sob condies ambientais prximas s da prtica. Uma novssima gerao de dispositivos que
vm sendo desenvolvidos pelo Grupo da EPUSP corresponde aos mini e micro-manipuladores
piezoeltricos com dois graus de liberdade, como os mostrados na Fig. 9.1 [193]. A tcnica
interferomtrica ser extremamente promissora para a caracterizao desses dispositivos.

Fig. 9.1 Estruturas metlicas flexveis de novos manipuladores piezoeltricos desenvolvidos pelo Grupo de
Sensores e Atuadores da EPUSP [193].

Anlises realizadas em um ambiente dinmico de simulao (o Simulink/Matlab),
usando um modelo elaborado no Simulink abrem caminho para que os mtodos sejam
implementados em placas de DSPs, possibilitando assim, a automatizao do processo de
caracterizao dos piezoatuadores, tornando este processo realizvel em tempo real.
Novas aplicaes podero ser desenvolvidas para uso com os novos mtodos
desenvolvidos, envolvendo outras reas do conhecimento.
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261
Apndice A
AJUSTES DE CURVAS POR MNIMOS
QUADRADOS

A teoria de mnimos quadrados bastante conhecida e seu conceito e aplicaes
podem ser encontrados em livros bsicos de estatstica.
Seja um sistema de equaes dado por:
,
2 1
= (A.1)
sendo M uma matriz de ordem m x n,
1
e
2
so vetores coluna de ordem n e m,
respectivamente. Uma condio necessria e suficiente para que (A.1) tenha uma nica
soluo que ] : [ ) (
2
M posto M posto = . Se a matriz A inversvel, h uma nica soluo
para (A.1) dada por
2
1
= M x .
Para n m > (caso das aproximaes efetuadas no Captulo 5 da tese) e
] : [ ) (
2
M posto M posto < , que significa que (A.1) no tem soluo nica. Modificando-se
(A.1) com o acrscimo de um vetor de erro , obtm-se:
,
2 1
= + M (A.2)
de onde isola-se o erro, como:

1 2
M = . (A.3)
O erro quadrtico dado por:

T
=
2
| | . (A.4)
Substituindo-se (A.3) em (A.4) e tomando-se o gradiente de
2
| | em relao
1
,
chega-se a:

2 1
2
2 2 | |
1

T T
M M M = . (A.5)
O menor erro na soluo da equao obtido quando 0 | |
2
1
=
, resultando em:

2
1
1
) (
T T
M M M

= . (A.6)
Os valores calculados de
1
conduzem ao menor erro na soluo de (A.2) pelo critrio
de mnimos quadrados.
Apndice A

262
Um mtodo recursivo de obteno de
1
denominado RLS (Recursive Least Squares)
pode ser obtido em [171]. O software Matlab possui tambm em uma de suas bibliotecas, a
funo polyfit() que possibilita o clculo direto de
1
.
Os ajustamentos de curvas propostos para os novos mtodos (conforme o
desenvolvido no Captulo 4) foram realizados com base em (A.6), como anlise a seguir.
Sejam e duas funes conhecidas, contnuas. Uma regresso polinomial de
ordem N entre estas funes pode ser realizada pelo critrio de mnimos quadrados, numa
faixa pr-determinada de valores de e . A estimao de como uma funo de pode
ser obtida de:

u
n
u
n e

=
=
0
1
, (A.7)
sendo
n 1
os coeficientes da aproximao, a serem determinados. Para os conjuntos de dados
amostrados } ..., , , , {
3 2 1 m
e } ..., , , , {
3 2 1 m
, as constantes
n
1 1 1 1 1
..., , , , ,
3 2 1 0

podem ser calculadas utilizando-se (A.6), sendo:

=
n
m M M
n
n
M

2
2
2
2 2
1
2
1 1
1
... ... ... ...
1
... 1
(A.8)
e

=
m
...
2
1
2
. (A.9)
Dependendo da correlao entre as funes envolvidas, da faixa
1

m
escolhida e
do grau n do polinmio de regresso, um bom ajuste pode ser obtido, levando a
e
.
Em certos casos, um valor elevado de n permite um melhor ajuste das curvas, no
entanto, numa anlise em computador, isto implica em aumento da ordem polinomial, exigindo-
se mais memria RAM; o nmero de operaes aumenta significativamente, gerando um
esforo computacional maior e os valores dos coeficientes atingem valores extremamente
pequenos ou elevados causando, em muitas situaes, erros de clculo e incertezas.
Nos ajustamentos de curvas realizados no Captulo 5 da tese, tomou-se o cuidado de
definir polinmios com menores graus, mantendo-se o erro muito pequeno.
Apndice A

263
Uma medida da disperso em relao ao polinmio da regresso de para o erro
padro do ajustamento das curvas, dado por:

m
s
m
u
u e u
=

=
1
2
) (
. (A.10)
O erro padro corrigido leva em considerao os n+1 graus de liberdade perdidos ao
calcular os coeficientes em (A.6). Portanto o erro padro corrigido dado por:

) 1 (
) (
1
2
+
=

=
n m
s
m
u
u e n
c

. (A.11)
Como, para os dados analisados no Captulo 4, ocorreu n m >> , (A.10) e (A.11)
levam praticamente ao mesmo resultado.
Para o caso especfico da aproximao polinomial, o erro padro tambm pode ser
obtido de:

m
g g g
s
m
u
n
n u n
m
u
n u
m
u
n u
m
u
u
m
u
u
)] ...
1
1
1
2
2 1
1
1 1
1
0 1
1
2

= = = = =

=

. (A.12)
Uma medida til, associada ao polinmio de regresso, o coeficiente de correlao;
uma medida da excelncia do ajustamento das curvas. O coeficiente de correlao dado por:

= =
=
=
= =
=
=
m
u
u e
m
u
u
m
u
u e
m
u
u
m
u
u e
m
u
u
m
u
u e
m
u
u
ou r
e
1
2
1
2
1
2
1
2
1
2
1
2
1
2
1
2
) ( ) (
) (
) (
) ( ) (
) (
) (

, (A.13)
sendo a mdia aritmtica do conjunto } ..., , , , {
3 2 1 m
. O valor de
e
r
pode variar de
zero unidade, sendo que
e
r
prximo de zero indica baixa correlao entre as funes, para

a aproximao polinomial escolhida no ajustamento das curvas. O valor de
e
r
pode tambm
ser especificado em porcentagem, sendo que 100% indicam ajuste perfeito.

Novas Técnicas de Detecção de Fase Óptica em Interferômetros Homódinos Aplicadas À Caracterização de Atuadores Piezoelétricos Flextensionais

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V . Substituindo-se estes valores em (7.4) chega-se a:

rad. Portanto, verifica-se que, mesmo se a tenso ) (t v

V (ou seja, ' '

V ) pode ser mensurado a partir dos resultados

V V. Os resultados obtidos tambm foram satisfatrios, e podem ser acessados em

V V, que difere em aproximadamente 0,9 % do valor terico

V V), mostrando tima concordncia entre ambos.

prximo de zero indica baixa correlao entre as funes, para

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