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NORMA TCNICA NTP-IEC 61008-1

PERUANA 2005

Comisin de Reglamentos Tcnicos y Comerciales - INDECOPI
Calle de La Prosa 138, San Borja (Lima 41) Apartado 145 Lima, Per









Interruptores automticos para actuar por corriente residual
(interruptores diferenciales), sin dispositivo de proteccin
contra sobrecorrientes, para uso domstico y similares. Parte
1: Reglas generales

Residual current operated circuit-breakers without integral overcurrent protection for household and similar
uses (RCCBs). Part 1: General rules

(EQV. IEC 61008-1:2002 Residual current operated circuit-breakers without integral overcurrent
protection for household and similar uses (RCCBs) Part 1: General Rules.


2005-11-17
1 Edicin












R.0100-2005/INDECOPI-CRT. Publicada el 2005-12-09 Precio basado en 177 pginas
I.C.S: 91.140.99 ESTA NORMA ES RECOMENDABLE
Descriptores: Interruptores automticos, interruptores diferenciales, instalaciones elctricas fijas domsticas,
requisitos

i
NDICE

Pgina

NDICE

i

PREFACIO

iii

INTRODUCCIN

v

1

ALCANCE

1

2

REFERENCIAS NORMATIVAS

3

3

DEFINICIONES

4

4

CLASIFICACIN

16

5

CARACTERSTICAS DE LOS IDs

19

6

MARCADO Y OTRA INFORMACIN DEL PRODUCTO

30

7

CONDICIONES NORMALIZADAS PARA LA OPERACIN EN
SERVICIO Y DE INSTALACIN

33

8

REQUERIMIENTOS DE CONSTRUCCIN Y OPERACIN

35

9

ENSAYOS

52

10

ANTECEDENTE

144


ANEXO A

145

ANEXO B

151

ANEXO C

154

ANEXO D

157

ANEXO E

159

ANEXO IA

162

ANEXO IB

164

ANEXO IC

165

ii

ANEXO ID

169

ANEXO IE

170

ANEXO IF

177


iii
PREFACIO



A. RESEA HISTRICA


A.1 La presente Norma Tcnica Peruana fue elaborada por el Comit Tcnico de
Normalizacin Permanente de Seguridad Elctrica Subcomit Tcnico de Normalizacin de
Dispositivos de Maniobra y Proteccin Contra Sobrecorrientes y Fases a Tierra, mediante el
sistema 1 o de adopcin, durante los meses de abril a junio de 2005, utilizando como
antecedente la norma IEC 61008-1:2002 Residual current operated circuit-breakers without
integral overcurrent protection for household and similar uses (RCCBs) Part 1: General
Rules.


A.2 El Comit Tcnico de Normalizacin de Seguridad Elctrica, Sub Comit
Tcnico de Normalizacin de Dispositivos de Maniobra y Proteccin Contra Sobrecorrientes
y Fases a Tierra, present a la Comisin de Reglamentos Tcnicos y Comerciales CRT, con
fecha 2005-06-30 el PNTP-IEC 61008-1:2005 para su revisin y aprobacin; siendo
sometido a la etapa de Discusin Pblica el 2005-10-07. No habindose presentado
ninguna observacin, fue oficializado como Norma Tcnica Peruana NTP-IEC 61008-
1:2005 Interruptores automticos para actuar por corriente residual (interruptores
diferenciales), sin dispositivo de proteccin contra sobrecorrientes, para uso domstico
y similares. Parte 1: Reglas generales, 1 Edicin, el 09 de diciembre del 2005.


A.3 Esta Norma Tcnica Peruana fue tomada en su totalidad de la norma IEC
61008-1:2002. La presente Norma Tcnica Peruana presenta cambios editoriales referidos
principalmente a terminologa empleada propia del idioma espaol y ha sido estructurada de
acuerdo a las Guas Peruanas GP 001:1995 y GP 002:1995.


B. INSTITUCIONES QUE PARTICIPARON EN LA ELABORACIN DE
LA NORMA TCNICA PERUANA


Secretara DIRECCIN GENERAL DE
ELECTRICIDAD DEL MINISTERIO
DE ENERGA Y MINAS


Secretario Orlando Chvez Chacaltana

ENTIDAD REPRESENTANTE

ASOCIACIN ELECTROTCNICA DEL PER

Miguel Yupanqui Chirinos

iv


EDELNOR S.A.A.

Jos Luis Mamani Quenta

INDUSTRIAL EPEM S.A.

Hctor Quispe Mora

LUZ DEL SUR S.A.A.

Marco Caldern Alzamora

MANUFACTURAS ELCTRICAS

Mario Ricci Nicoli

MINISTERIO DE ENERGA Y MINAS

Jos Rivera Caballero

PONTIFICIA UNIVERSIDAD CATLICA DEL
PER

Ral del Rosario Quinteros

SCHNEIDER ELECTRIC PER S.A.

Percy Durn Campos

SENATI

Walter Vargas Gutierrez

SENCICO

ngel E. Daz Acevedo

SOCIEDAD NACIONAL DE INDUSTRIA

Enrique Salazar Jaramillo

T.J. CASTRO S.A.C.

Carlos Becerra Vargas

TECSUP

Csar Chilet Len

TICINO DEL PER S.A.

Csar A. Gallarday Vega
Fernando Vargas Cano

UNIVERSIDAD NACIONAL DE INGENIERA

Mario Rodrguez Macedo

UNIVERSIDAD NACIONAL DEL CALLAO

Csar Rodrguez Aburto
Pablo Morcillo Valdivia





v
INTRODUCCIN



Esta parte comprende las definiciones, requerimientos y ensayos, y cubre todos los tipos de
interruptores automticos diferenciales (ID), que actan por corriente residual. Para su
aplicacin a un tipo especfico, esta parte deber aplicarse de acuerdo con la parte
correspondiente, como sigue:


Parte 2-1: Aplicacin de las reglas generales a los interruptores diferenciales
funcionalmente independientes de la tensin de alimentacin.


Parte 2-2: Aplicacin de las reglas generales a los interruptores diferenciales
funcionalmente dependientes de la tensin de alimentacin.



---oooOooo---

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Interruptores automticos para actuar por corriente residual
(interruptores diferenciales), sin dispositivo de proteccin
contra sobrecorrientes, para uso domstico y similares. Parte
1: Reglas generales



1. ALCANCE


Esta Norma Tcnica Peruana se aplica a los interruptores automticos que actan por
corriente residual, funcionalmente independientes o funcionalmente dependientes de la
tensin de alimentacin, para uso domstico y anlogos sin dispositivo de proteccin
contra sobrecorrientes incorporado (en adelante denominados abreviadamente "ID"), de
tensin nominal que no sobrepase los 440 V c. a. y de corriente nominal que no sobrepase
los 125 A, para instalaciones fijas principalmente destinados a la proteccin contra los
choques elctricos.


Estos aparatos estn destinados a la proteccin de las personas contra contactos indirectos,
estando las partes metlicas accesibles de la instalacin conectadas a una toma de tierra
apropiada. Pueden utilizarse para asegurar la proteccin contra riesgos de incendios
resultantes de una corriente de falla a tierra que persista, sin que intervenga el dispositivo
de proteccin contra las sobrecargas del circuito.


Los IDs de corriente diferencial nominal inferior o igual a 30 mA, se utilizan tambin como
medio de proteccin complementaria en caso de falla de las dems medidas de proteccin
contra los choques elctricos.


Esta NTP se aplica a los aparatos que realizan simultneamente las funciones de deteccin
de la corriente residual, de comparacin del valor de esta corriente con el valor de
operacin diferencial, y de apertura del circuito protegido, cuando la corriente residual
sobrepase este valor.


NOTA 1: Las prescripciones para los IDs entran en lnea con los requisitos generales de la norma IEC
60755. Estn esencialmente destinados a ser accionados por personas no expertas y diseados de
forma que no precisen mantenimiento. Pueden ser objeto de certificacin.


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NOTA 2: Las reglas de instalacin y utilizacin de los IDs se indican en la norma IEC 60364.

NOTA 3: Los IDs a los que se refiere esta NTP se consideran apropiados para el seccionamiento
(vase el apartado 8.1.3).


Pueden ser necesarias precauciones especiales (por ejemplo, dispositivos contra
sobretensiones) cuando puedan producirse en el lado de la alimentacin sobretensiones
excesivas (por ejemplo en el caso de una alimentacin mediante lneas areas) (vase la
norma IEC 60364-4-443).


Los IDs del tipo general son resistentes a los disparos no deseados incluso el caso donde las
sobretensiones (como un resultado de maniobras transitorias o induccin por descargas
atmosfricas) causan corrientes de carga en la instalacin, sin la ocurrencia de
contorneamiento.


Los IDs del tipo S son considerados que son suficientemente a prueba de disparos no
deseados, an cuando la sobretensin causa contorneamiento y ocurre una corriente
sostenida.


NOTA 4: Los pararrayos instalados aguas debajo de los IDs de tipo general, y conectados de modo
comn, pueden causar disparos no deseados.

NOTA 5: Para los IDs de un grado de proteccin superior a IP20, pueden ser necesarias
construcciones especiales.


Requerimientos particulares son necesarios para:


los interruptores diferenciales con la proteccin contra las sobrecorrientes
incorporada (vase la norma IEC 61009);

los IDs que forman, con una base de toma de corriente, un conjunto nico
diseado exclusivamente para estar asociados localmente con una base de toma de
corriente en la misma caja de montaje.


NOTA 6: Por el momento, para los IDs que forman un conjunto nico con una base de toma de
corriente o diseados exclusivamente para estar asociados localmente en la misma caja de montaje, los
requisitos de esta NTP conjuntamente con los de la norma IEC 884-1 pueden utilizarse cuando sean
aplicables.

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Los requerimientos de esta NTP se aplican para condiciones ambientales normales (vase
el apartado 7.1). Pueden ser precisas indicaciones complementarias para los IDs utilizados
en locales que presenten condiciones ambientales severas.


Los IDs que requieran la utilizacin de bateras no estn incluidos en esta NTP.



2. REFERENCIAS NORMATIVAS


Los siguientes documentos de referencia son indispensables para la aplicacin de este
documento. Para las referencias con fecha, se aplica solamente la edicin citada. Para las
referencias sin fecha, se aplica la ltima edicin del documento de referencia (incluyendo
cualquier enmienda).


2.1 IEC 60050(151): 1978 International electrotechnical vocabulary (IEV)
Chapter 151: Electrical and magnetic devices


2.2


IEC 60050(441): 1984


International electrotechnical vocabulary (IEV)
Chapter 441: Switchgear, controlgear and fuses


2.3


IEC 60051


Direct acting indicating analogue electrical measuring
instruments and their accessories


2.4


IEC 60060-2: 1994


High-voltage test techniquesPart 2: Measuring systems


2.5


IEC 60068-2-28: 1980


Environmental testing Part 2: Tests Guidance for
damp heat tests


2.6


IEC 60068-2-30: 1990


Environmental testing Part 2: Tests Test Db and
guidance: Damp heat, cyclic (12 + 12 hour cycle)


2.7


IEC 60364-4-443:1995


Electrical installations of buildings Part 4: Protection

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for safetyChapter 44: Protection against overvoltages
Section 443: Protection against overvoltages of
atmospheric origin or due to switching


2.8


IEC 60364-5-53: 1994


Electrical installations of buildings Part 5: Selection
and erection of electrical equipment Chapter 53:
Switchgear and controlgear


2.9


IEC 60417: 1973


Graphical symbols for use on equipment. Index, survey
and compilation of the single sheets


2.10


IEC 60529: 1989


Degrees of protection provided by enclosures (IP Code)


2.11


IEC 60695-2-1/0: 1994


Fire hazard testing Part 2: Test methods Section
1/sheet 0: Glow-wire tests methods General


2.12


IEC 60755:1983


General measurements for residual current-operated
protective devices


2.13


IEC 60884-1: 1994


Plugs and socket-outlets for household and similar
purposes Part 1: General requirements


2.14


IEC 61009


Residual current-operated circuit-breakers with integral
overcurrent protection for household and similar uses
(RCBOs)



3. DEFINICIONES


Para los propsitos de esta Norma Tcnica Peruana se aplican las siguientes definiciones:



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Cuando se utilizan los trminos "tensin" o "corriente" se refieren a valores eficaces, a
menos que se especifique otra cosa.


NOTA: En el anexo IB figura un glosario de smbolos.


3.1 Definiciones relativas a las corrientes que circulan entre las partes
activas y tierra


3.1.1 corriente de falla a tierra: Corriente que fluye a tierra debido a un defecto
del aislamiento.


3.1.2 corriente de fuga (a tierra): Corriente que fluye desde las partes activas de
la instalacin a tierra, en ausencia de una falla del aislamiento.


3.1.3 corriente continua pulsante: Corriente con forma de onda pulsante (VEI
101-04-34) que toma, en cada perodo de la frecuencia nominal, el valor 0 un valor que
no sobrepase los 0,006 A de corriente continua durante un intervalo de tiempo de al menos
150, expresado en medicin angular.


3.1.4 ngulo de retardo de la corriente: Tiempo, expresado en medida
angular, durante el cual, el inicio de conduccin de corriente es retrasado mediante control
de fase.


3.2 Definiciones relativas a la alimentacin de un ID


3.2.1 magnitud de alimentacin: Magnitud elctrica de excitacin que, sola o en
combinacin con otras magnitudes elctricas, deber aplicarse a un ID para que pueda
funcionar en condiciones especficas.


3.2.2 magnitud de alimentacin de entrada: Magnitud de alimentacin por la
que el ID se pone en operacin, cuando se aplica en las condiciones especficas.



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Estas condiciones pueden implicar la alimentacin de algunos elementos auxiliares.


3.2.3 corriente residual (I

): Suma vectorial de los valores instantneos de la


corriente que fluye en el circuito principal del interruptor diferencial (ID) (expresado en
valores eficaces).


3.2.4 corriente diferencial de operacin: Valor de la corriente diferencial que
hace funcionar el ID en condiciones especificadas.


3.2.5 corriente diferencial de no operacin: Valor de la corriente diferencial
para el cual y por debajo del cual, el ID no funciona en las condiciones especificadas.


3.3 Definiciones relativas a la operacin y a las funciones de los
interruptores automticos diferenciales


3.3.1 interruptor automtico operado por corriente diferencial: Dispositivo
mecnico de corte diseado para establecer, soportar y cortar las corrientes en las
condiciones normales de servicio y para provocar la apertura de los contactos cuando la
corriente diferencial alcanza, en condiciones especficas, un valor dado.


3.3.2 interruptor diferencial sin proteccin incorporada contra las
sobrecorrientes (ID): Dispositivo de corte diferencial no diseado para realizar funciones
de proteccin contra las sobrecargas y/o cortocircuitos.


3.3.3 interruptor diferencial con proteccin incorporada contra las
sobrecorrientes (AD): Dispositivo de corte diferencial creado para realizar las funciones
de proteccin contra las sobrecargas y/o cortocircuitos.


3.3.4 ID funcionalmente independiente de la tensin de alimentacin: ID para
el cual las funciones de deteccin, evaluacin e interrupcin no dependen de la tensin de
alimentacin.



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NOTA: Estos dispositivos estn definidos en el apartado 2.3.2 de la Norma IEC 60755, como
dispositivos de corriente residual sin fuente auxiliar.


3.3.5 ID funcionalmente dependiente de la tensin de alimentacin: ID para el
cual las funciones de deteccin, evaluacin o interrupcin dependen de la tensin de
alimentacin.


NOTA 1: Esta definicin cubre parcialmente la definicin de los dispositivos de corriente residual
con fuente auxiliar del apartado 2.3.3 de la Norma IEC 60755.

NOTA 2: Se entiende que la lnea de alimentacin es aplicada al ID, para la deteccin, la evaluacin o
la interrupcin.


3.3.6 aparato de conexin: Aparato destinado a establecer e interrumpir la
corriente en uno o varios circuitos elctricos.


3.3.7 aparato mecnico de conexin: Aparato de conexin destinado a cerrar y
abrir uno o varios circuitos elctricos mediante contactos separables.


3.3.8 ID con desenganche libre: ID cuyos contactos mviles vuelven a la
posicin de apertura y permanecen en ella cuando la maniobra automtica de apertura se
realiza despus del inicio de la maniobra de cierre, incluso si la orden de cierre se
mantiene.


NOTA: Para asegurar una apertura correcta de la corriente que puede haberse establecido, puede ser
necesario que los contactos alcancen momentneamente la posicin de cierre.


3.3.9 tiempo de corte de un ID: Tiempo que transcurre entre el instante en que
en un ID, aparece de forma brusca la corriente diferencial de operacin y el instante de la
extincin del arco en todos los polos.


3.3.10 tiempo lmite de no operacin: Tiempo mximo durante el cual se puede
aplicar al ID un valor de corriente diferencial superior al valor de la corriente diferencial de
no operacin, sin provocar su operacin.



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3.3.11 ID temporizado: ID especialmente diseado para alcanzar un valor
predeterminado de tiempo lmite de no operacin correspondiente a un valor dado de
corriente diferencial.


3.3.12 posicin de cerrado: Posicin en la que est asegurada la continuidad
predeterminada del circuito principal del ID.


3.3.13 posicin de abierto: Posicin en la que est asegurada la distancia de
aislamiento predeterminada entre los contactos abiertos del circuito principal del ID.


3.3.14 polo: Parte de un ID asociada exclusivamente a una va de corriente,
elctricamente separada, que forma parte del circuito principal, y provista de contactos
destinados a conectar y desconectar el circuito principal por s misma y que excluye los
elementos constituyentes que permiten la fijacin y la operacin simultnea de todos los
polos.


3.3.15 polo de seccionamiento del neutro: Polo destinado nicamente a cortar el
neutro y no destinado para tener capacidad de cortocircuito.


3.3.16 circuito principal (de un ID): Todas las partes conductoras de un ID
incluidas las vas de corriente (vase el apartado 4.3).


3.3.17 circuito de mando (de un ID): Circuito (distinto a una va corriente del
circuito principal) destinado a provocar el cierre o la apertura, o ambas, del ID.


NOTA: El circuito del dispositivo de prueba est incluido en esta definicin.


3.3.18 circuito auxiliar (de un ID): Todas las partes conductoras de un ID
destinadas a ser incluidas en un circuito distinto del circuito principal y del circuito de
mando del ID.



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3.3.19 ID de tipo AC: ID para el cual la desconexin se asegura para corrientes
diferenciales alternas senoidales, sea que se apliquen sbitamente o que aumenten
lentamente.


3.3.20 ID de tipo A: ID para el cual la desconexin se asegura para corrientes
diferenciales alternas senoidales, as como para corrientes diferenciales continuas
pulsantes, sea que se apliquen sbitamente o que aumenten lentamente.


3.3.21 dispositivo de prueba: Dispositivo incorporado en un ID que simula las
condiciones de una corriente diferencial para el operacin del ID en las condiciones
especificadas.


3.4 Definiciones relativas a los valores y a los rangos de las magnitudes de
alimentacin


3.4.1 valor nominal: Valor de una magnitud fijada por el fabricante para una
condicin de operacin especfica de un ID.


3.4.2 sobrecorrientes de no operacin en el circuito principal: Las definiciones
de los valores lmites de sobrecorrientes de no operacin se dan en los apartados 3.4.2.1 y
3.4.2.2.


NOTA: En caso de sobrecorriente en el circuito principal, en ausencia de corriente diferencial, la
operacin del dispositivo de deteccin puede ocurrir como una consecuencia de la asimetra existente
en el propio dispositivo de deteccin.


3.4.2.1 valor lmite de la sobrecorriente en el caso de una carga a travs de un
ID bipolar con dos vas de corriente: Valor mximo de la sobrecorriente de una carga
que, en ausencia de cualquier falla a masa o a tierra y en ausencia de una corriente de fuga
a tierra, puede circular en el ID bipolar en dos vas de corriente sin provocar su operacin.


3.4.2.2 valor lmite de la sobrecorriente en el caso de una carga monofsica a
travs de un ID tripolar o tetrapolar: Valor mximo de una sobrecorriente monofsica
que, en ausencia de cualquier falla a masa o a tierra, y en ausencia de una corriente de fuga
a tierra, puede circular en el ID tripolar o tetrapolar sin provocar su operacin.

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3.4.3 corriente diferencial de cortocircuito admisible: Valor mximo de la
corriente diferencial para la cual la operacin del ID en las condiciones especificadas est
asegurada, y por encima del cual el ID puede sufrir alteraciones irreversibles.


3.4.4 corriente prevista: Corriente que circulara en el circuito, si cada va
principal de corriente del ID y del dispositivo de proteccin contra sobrecorrientes, (si
hubiera), fuera sustituido por un conductor de impedancia despreciable.


NOTA: La corriente prevista puede denominarse de igual forma que una corriente real, por ejemplo
corriente de corte prevista, corriente de cresta prevista, corriente diferencial prevista, etc.


3.4.5 poder de cierre: Valor de la componente alterna de una corriente prevista
que un ID es capaz de establecer bajo una tensin dada y en las condiciones prescritas de
uso y de comportamiento.


3.4.6 poder de corte: Valor de la componente alterna de la corriente prevista que
un ID es capaz de interrumpir bajo una tensin dada y en condiciones prescritas de uso y de
comportamiento.


3.4.7 poder de cierre y de corte diferencial: Valor de la componente alterna de
la corriente diferencial prevista que un ID es capaz de establecer, transportar durante su
tiempo de operacin e interrumpir bajo condiciones prescritas de uso y de comportamiento.


3.4.8 corriente condicional de cortocircuito: Valor de la componente alterna de
la corriente prevista que un ID, protegido por un apropiado dispositivo de proteccin contra
cortocircuitos ("SCPD" en lo sucesivo) colocado en serie, puede soportar en las
condiciones prescritas de uso y de comportamiento.


3.4.9 corriente residual condicional de cortocircuito: Valor de la componente
alterna de la corriente diferencial prevista que un ID protegido por un DISPOSITIVO DE
PROTECCIN CONTRA CORTOCIRCUITOS - SCPD colocado en serie puede soportar
bajo condiciones prescritas de uso y de comportamiento.



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3.4.10 valores lmites (U
x
y U
y
) de la tensin de alimentacin para los IDs
funcionalmente dependientes de la tensin de alimentacin


3.4.10.1 U
x
: Valor mnimo de la tensin de alimentacin al cual un ID
funcionalmente dependiente de la tensin de alimentacin, todava funciona en las
condiciones especificadas en caso de disminucin de la tensin de alimentacin (vase el
apartado 9.17.1).


3.4.10.2 U
y
: Valor mnimo de la tensin de alimentacin por debajo del cual un ID
funcionalmente dependiente de la tensin de alimentacin se abre automticamente en
ausencia de cualquier corriente diferencial (vase el apartado 9.17.2).


3.4.11 I
2
t (Integral de Joule): Integral del cuadrado de la corriente durante un
intervalo de tiempo especificado (t
0
, t
1
)


!
=
1
o
2 2

t
t
dt i t i



3.4.12 tensin de restablecimiento: Tensin que aparece entre los bornes de un
polo del ID despus de la interrupcin de la corriente.


NOTA 1: Esta tensin puede considerarse durante dos intervalos de tiempo sucesivos, uno durante el
cual existe una tensin transitoria, seguido por un segundo intervalo durante el cual solo existe la
tensin a frecuencia industrial.

NOTA 2: Esta definicin se aplica a un aparato unipolar. Para un aparato multipolar, la tensin de
restablecimiento es la tensin en los bornes de alimentacin del aparato.


3.4.12.1 tensin transitoria de restablecimiento: Tensin de restablecimiento
durante el tiempo en el cual sta tiene un carcter transitorio significativo.


NOTA: La tensin transitoria puede ser oscilatoria o no oscilatoria, o bien una combinacin de stas
dependiendo las caractersticas del circuito y del ID. Esto incluye la variacin de la tensin del neutro
de un circuito polifsico.

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3.4.12.2 tensin de restablecimiento a frecuencia industrial: Tensin de
restablecimiento despus de la desaparicin de los fenmenos de tensin transitoria.


3.5 Definiciones relativas a los valores y a los rangos de las magnitudes de
influencia


3.5.1 magnitud de influencia: Toda magnitud capaz de modificar el operacin
especfico de un ID.


3.5.2 valor de referencia de una magnitud de influencia: Valor de una
magnitud de influencia al que se refieren las caractersticas indicadas por el fabricante.


3.5.3 condiciones de referencia de las magnitudes de influencia: Conjunto de
los valores de referencia de todas las magnitudes de influencia.


3.5.4 rango de una magnitud de influencia: Es el rango de los valores de una
magnitud de influencia para el cual, en las condiciones especificadas, el ID funciona,
teniendo las otras magnitudes de influencia sus valores de referencia.


3.5.5 rango extremo de una magnitud de influencia: Rango de valores de una
magnitud de influencia dentro del cual el ID slo sufre cambios reversibles
espontneamente, sin que tenga que satisfacer todas las prescripciones de esta NTP.


3.5.6 temperatura del aire ambiente: La temperatura determinada en las
condiciones prescritas, del aire adyacente al ID (para los IDs dentro de una envolvente, es
la temperatura del aire en el exterior de la envolvente).


3.6 Definiciones relativas a los bornes


NOTA: Estas definiciones pueden ser modificadas en funcin de los trabajos del Subcomit 23F.



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3.6.1 borne: Un borne es una parte conductora de un aparato, prevista para la
conexin elctrica reutilizable a circuitos externos.


3.6.2 borne con tornillo: Borne que permite la conexin y desconexin sucesiva
de un conductor, o la interconexin desmontable de dos conductores o ms, realizndose el
apriete, directamente o indirectamente, mediante tornillos o tuercas de cualquier tipo.


3.6.3 borne de agujero: Borne con tornillo en el cual el alma de un conductor se
introduce en un agujero o alojamiento, donde se aprieta con el tornillo (o tornillos). La
presin de apriete puede aplicarse directamente por el cuerpo del tornillo o mediante un
elemento de apriete intermedio en el cual la presin se aplique por el cuerpo del tornillo.


NOTA: Los ejemplos de bornes con agujero se dan en la Figura IC.1 del anexo IC.


3.6.4 borne de apriete mediante la cabeza del tornillo: Borne con tornillo en el
cual el conductor se aprieta debajo de la cabeza del tornillo.


La presin de apriete puede aplicarse directamente por la cabeza del tornillo o mediante un
elemento intermedio tal como una arandela, una placa de apriete o un dispositivo que
impida que el conductor o sus hilos se salgan.


NOTA: En la Figura IC.2 del anexo IC se dan ejemplos de bornes de apriete por la cabeza del tornillo.


3.6.5 borne con esprrago roscado: Borne con tornillo en el cual el conductor se
ajusta con una tuerca.


La presin de apriete puede aplicarse directamente con una tuerca de forma apropiada o
mediante un elemento intermedio tal como una arandela, una placa de apriete o un
dispositivo que impida que el conductor o sus hilos se escapen.


NOTA: En la Figura IC.2 del anexo IC se dan ejemplos de bornes con esprrago roscado.



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3.6.6 bornes de placa: Borne con tornillo en el cual el alma de un conductor se
aprieta bajo una placa mediante dos o ms tornillos o tuercas.


NOTA: En la Figura IC.3 del anexo IC se dan ejemplos de bornes de placas.


3.6.7 borne para terminales y pletinas: Borne de apriete bajo cabeza de tornillo
o borne con esprrago roscado, previsto para el apriete de un terminal de cable o de una
pletina mediante un tornillo o tuerca.


NOTA: En la Figura IC.4 del anexo IC se dan ejemplos de bornes para terminales de cables y
pletinas.


3.6.8 borne sin tornillo: Borne de conexin que permite la conexin y la
desconexin sucesiva de un conductor o la interconexin desmontable de dos o ms
conductores, realizndose la conexin directa o indirectamente mediante resortes, piezas en
cua, excntricas, conos, etc., sin ninguna otra preparacin especial del conductor ms que
la eliminacin del aislamiento.


3.6.9 tornillo autorroscante: Tornillo fabricado de un material que presenta una
gran resistencia a la deformacin cuando se inserta, por rotacin, en un alojamiento situado
en un material que presenta una resistencia menor a la deformacin que la del tornillo.


El tornillo es fabricado con un roscado cnico, aplicndose la conicidad al dimetro del
ncleo de la rosca hasta el extremo del tornillo. La rosca resultante de la introduccin del
tornillo no se forma de manera segura hasta despus de haberse efectuado un nmero
suficiente de vueltas que sobrepasen el nmero de hilos de roscas de la parte cnica.


3.6.10 tornillo autorroscante por deformacin: Tornillo autorroscante que posee
una rosca ininterrumpida, la funcin de esta rosca no es la de arrancar el material del
alojamiento.


NOTA: En la Figura 1 se da un ejemplo de tornillo autorroscante por deformacin de materia.



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3.6.11 tornillo autorroscante por arranque de material: Tornillo autorroscante
que tiene una rosca discontinua; una de las funciones de esta rosca es la de arrancar el
material del alojamiento.


NOTA: En la Figura 2 se da un ejemplo de tornillo autorroscante por arranque de materia.


3.7 Condiciones de operacin


3.7.1 Operacin: La transferencia del contacto o los contactos mviles de la
posicin de abierto a la posicin de cerrado o viceversa.


NOTA: Si es necesario una distincin, una operacin en el sentido elctrico (por ejemplo: establecer o
cortar) ser referida como una operacin de conmutacin, y una operacin en el sentido mecnico (por
ejemplo: cierre o apertura) es referida como una operacin mecnica.


3.7.2 operacin de cierre: Operacin mediante la cual el ID se hace pasar de la
posicin de abierto a la posicin de cerrado.


3.7.3 operacin de apertura: Operacin mediante la cual el ID se hace pasar de
la posicin de cerrado a la posicin de abierto.


3.7.4 ciclo de operacin: Una sucesin de operaciones desde una posicin a otra
con retorno a la primera posicin.


3.7.5 secuencia de operacin: Una sucesin de operaciones especificadas,
efectuadas con intervalos de tiempo especificados.


3.7.6 distancia de aislamiento (vase el Anexo B): La distancia ms corta en el
aire entre dos partes conductoras.


NOTA: Para la determinacin de una distancia de aislamiento en las partes accesibles, la superficie
accesible de una envolvente aislante deber considerarse como conductora, como si estuviera
recubierta de una hoja metlica por todas aquellas zonas que pudieran tocarse con la mano o con el
dedo de prueba normalizado, de acuerdo con la Figura 3.

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3.7.7 lnea de fuga (vase el Anexo B): La distancia ms corta a lo largo de la
superficie de un material aislante, entre dos partes conductoras.


NOTA: Para la determinacin de una lnea de fuga en las partes accesibles, la superficie accesible de
una envolvente aislante deber considerarse como conductora, como si estuviera recubierta de una
hoja metlica por todas aquellas zonas que pudieran tocarse con la mano, o con el dedo de prueba
normalizado conforme con la Figura 3.


3.8 Ensayos


3.8.1 ensayos tipo: Ensayos efectuados sobre uno o varios dispositivos realizados
segn un diseo dado, para verificar que este diseo responde a ciertos requerimientos.


3.8.2 ensayos de rutina: Un ensayo al cual cada dispositivo individual es
sometido durante y/o despus de su fabricacin, para verificar que satisface ciertos
criterios.



4. CLASIFICACIN


Los IDs se clasifican:


4.1 Segn el mtodo de operacin


NOTA: La seleccin de los varios tipos es hecha de acuerdo con los requerimientos de la Norma IEC
60364-5-53.


4.1.1 ID funcionalmente independiente de la tensin de alimentacin (vase el
apartado 3.3.4).



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4.1.2 ID funcionalmente dependiente de la tensin de alimentacin (vase el
apartado 3.3.5).


4.1.2.1 Se abren automticamente en caso de falla de la tensin de alimentacin con
o sin retardo (vase el apartado 8.12).


a) Recierre automtico cuando la tensin de alimentacin es restaurada.
b) No se vuelven a cerrar automticamente cuando la tensin de alimentacin
se restablece.


4.1.2.2 No se abren automticamente en caso de falla de la tensin de alimentacin:


a) Capaces de disparar en caso de aparicin de una situacin que presente
riesgo (por ejemplo, debido a una falla a tierra) en caso de falla de la tensin de
alimentacin (estn en estudio requisitos adicionales).

b) Incapaz de disparar en caso de aparicin de una situacin que presente
riesgos (por ejemplo, debido a una falla a tierra) en caso de falla de la tensin de
alimentacin.


NOTA: La seleccin de estos ID es sometida a las condiciones del apartado 532.2.2.2 de la Norma
IEC 60364-5-53.


4.2 Segn el tipo de instalacin


ID para instalaciones fijas y alambrado fijo;
ID para instalacin mvil y conexin con cordn (del mismo dispositivo
para la alimentacin).


4.3 Segn el nmero de polos y de vas de corriente


ID monofsico con dos vas de corriente;
ID bipolar;
ID tripolar;

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ID tripolar, con cuatro vas de corriente;
ID tetrapolares.


4.4 Segn la posibilidad de ajuste de la corriente diferencial de operacin


ID con un solo valor de corriente diferencial nominal de operacin;
ID con mltiples ajustes de corriente diferencial de operacin, mediante
pasos fijos (vase la Nota del apartado 5.2.3).


4.5 Segn la resistencia a las desconexiones no deseables debidas a ondas de
sobretensin


ID con resistencia normal al disparo no deseado (tipo general como en la
Tabla 1);
ID con resistencia aumentada al disparo no deseado (tipo S como en la Tabla
1).


4.6 Segn el comportamiento en presencia de componentes continuas


ID tipo AC;
ID tipo A.


4.7 Segn la temporizacin (en presencia de una corriente diferencial)


ID sin temporizacin: tipo para uso general;
ID temporizado: tipo (S) para la selectividad.


4.8 Segn la proteccin contra las influencias externas


ID tipo cerrado (que no precisan la utilizacin de una envolvente apropiada);
ID tipo abierto (para la utilizacin con una envolvente apropiada).


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4.9 Segn el mtodo de montaje


ID tipo para montaje en superficie;
ID tipo para empotrar;
ID tipo para montaje en tableros: Tambin denominado ID tipo para tableros
de distribucin.


NOTA: Estos tipos pueden estar destinados a montarse sobre rieles.


4.10 Segn el modo de conexin


ID en el que las conexiones no estn asociadas al dispositivo de fijacin
mecnica;

ID en el que las conexiones estn asociadas al dispositivo de fijacin
mecnica, por ejemplo:

tipo enchufable;
tipo con fijacin mediante esprragos roscados.

NOTA: Ciertos ID pueden ser de tipo enchufable o con fijacin mediante esprragos roscados
nicamente en el lado de alimentacin, siendo los bornes de salida los habitualmente utilizados para la
conexin de los circuitos.



5. CARACTERSTICAS DE LOS IDs


5.1 Enumeracin de las caractersticas


Las caractersticas de un ID debern estar indicadas de la forma siguiente:


tipo de instalacin (vase el apartado 4.2);
nmero de polos y de vas de corriente (vase el apartado 4.3);
corriente nominal I
n
(vase el apartado 5.2.2);
corriente diferencial de operacin nominal I
n
(vase el apartado 5.2.3);

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corriente diferencial de no operacin nominal (vase el apartado 5.2.4);
tensin nominal U
n
(vase el apartado 5.2.1);
frecuencia nominal (vase el apartado 5.2.5);
poder de cierre y de corte nominal I
m
(vase el apartado 5.2.6);
poder de cierre y de corte diferencial nominal I
m
(vase el apartado 5.2.7);
temporizacin si es aplicable (vase el apartado 5.2.8);
caractersticas de operacin en caso de corrientes residuales con una
componente continua (vase el apartado 5.2.9);
coordinacin del aislamiento, comprendiendo las distancias de aislamiento y
lneas de fuga (vase el apartado 5.2.10);
grado de proteccin (vase la Norma IEC 60529);
corriente condicional de cortocircuito nominal I
nc
(vase el apartado 5.4.2);
corriente residual condicional de cortocircuito nominal I
C
(vase el
apartado 5.4.3).


Para los IDs funcionalmente dependientes de la tensin de alimentacin:


comportamiento del ID en caso de una falla de la tensin de alimentacin
(vase el apartado 4.1.2).


5.2 Valores nominales y otras caractersticas


5.2.1 Tensin nominal


5.2.1.1 Tensin de operacin nominal (U
e
)


La tensin de operacin nominal de un ID (denominada en adelante "tensin nominal") a la
que se refieren sus caractersticas, es el valor de la tensin asignado por el fabricante.


NOTA: A un mismo ID pueden asignarse varias tensiones nominales.






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5.2.1.2 Tensin de aislamiento nominal (U
i
)


La tensin de aislamiento nominal de un ID es el valor de la tensin asignado por el
fabricante, al cual se refieren las tensiones de ensayo dielctrico y las lneas de fuga.


A menos que se especifique de otra forma, la tensin de aislamiento nominal es el valor de
la tensin nominal mxima del ID. En ningn caso la tensin de empleo mxima puede
sobrepasar la tensin de aislamiento nominal.


5.2.2 Corriente nominal (I
n
)


Valor de la corriente, asignado al ID por el fabricante, que el ID puede transportar en
servicio ininterrumpido.


5.2.3 Corriente diferencial de operacin nominal (I
n
)


Valor de la corriente diferencial de operacin (vase el apartado 3.2.4), asignado por el
fabricante al ID, para el cual este ltimo deber funcionar bajo las condiciones
especificadas.


NOTA: Para un ID que tiene ajustes mltiples de la corriente diferencial de operacin, el mayor ajuste
ser usado para designarlo.


5.2.4 Corriente diferencial de no operacin nominal (I
no
)


Valor de corriente diferencial de no operacin (vase el apartado 3.2.5) asignado por el
fabricante al ID, para el cual este ID no opera bajo las condiciones especificadas.






5.2.5 Frecuencia nominal

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La frecuencia nominal de un ID, es la frecuencia industrial para la cual el ID est diseado
y a la cual corresponden los valores de otras caractersticas.


NOTA: A un mismo ID pueden asignarse varias frecuencias nominales.


5.2.6 Poder de cierre y de corte nominal (I
m
)


Valor eficaz de la componente alterna de la corriente prevista (vase el apartado 3.4.4),
asignado por el fabricante que un ID puede establecer, transportar y cortar bajo condiciones
especificadas.


Las condiciones son aquellas que se especifican en el apartado 9.11.2.2.


5.2.7 Poder de cierre y de corte diferencial nominal (I
m
)


Valor eficaz de la componente alterna de corriente diferencial prevista (vanse los
apartados 3.2.3 y 3.4.4), asignado por el fabricante, que un ID puede establecer, transportar
y cortar bajo condiciones especificadas.


Las condiciones son aquellas que se especifican en el apartado 9.11.2.3.


5.2.8 ID tipo S


ID temporizado (vase el apartado 3.3.11) que cumple con la parte pertinente de la Tabla 1.







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5.2.9 Caractersticas de operacin en caso de corrientes diferenciales con
componente continua


5.2.9.1 ID tipo AC


Un ID en el cual est asegurada la desconexin para las corrientes diferenciales alternas
senoidales, ya sean aplicadas sbitamente o bien aumentadas progresivamente.


5.2.9.2 ID tipo A


Un ID en el cual est asegurada la desconexin para las corrientes diferenciales alternas
senoidales y continuas pulsantes, ya sean aplicadas sbitamente o bien aumentndolas
progresivamente.


5.2.10 Coordinacin de aislamiento comprendiendo distancias de aislamiento
y lneas de fuga


Bajo consideracin.


NOTA: Por el momento las distancias de aislamiento y las lneas de fuga se dan en el apartado 8.1.3.


5.3 Valores normalizados y preferentes


5.3.1 Valores preferentes de la tensin nominal (U
n
)


Los valores preferenciales de la tensin nominal son los siguientes:







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ID Circuito que alimenta el ID
Tensin
nominal
Dos hilos, entre fase y conductor
medio puesto a tierra
120 V
Unipolares con dos vas de corriente
Monofsico, entre fase y neutro 230 V
Dos hilos, entre fase y conductor
medio puesto a tierra
120 V
Monofsico, entre fase y neutro 230 V
Bipolares con dos vas de corriente
Monofsico, entre fase y fase 400 V
Tripolares con tres vas de corriente Trifsico de tres hilos 400 V
Tripolares con cuatro vas de corriente Trifsico de cuatro hilos 400 V
Tetrapolares Trifsico de cuatro hilos 400 V


NOTA 1: En la Norma IEC 60038 se han normalizado los valores de tensin de 230 V y 400 V. Estos
valores debern reemplazar progresivamente los valores 220 V y 240 V, 380 V y 415 V,
respectivamente.

NOTA 2: Donde esta NTP haga referencia a 230 V puede leerse como 220 V o 240 V, y donde quiera
que se haga referencia a 400 V puede leerse como 380 V o 415 V, respectivamente.


5.3.2 Valores preferentes de la corriente nominal (I
n
)


Los valores preferentes de la corriente nominal son:


10 A, 13 A, 16 A, 20 A, 25 A, 32 A, 40 A, 63 A, 80 A, 100 A, 125 A.


5.3.3 Valores normalizados de la corriente diferencial de operacin nominal
(I
n
)


Los valores normalizados de la corriente diferencial de operacin nominal son:


0,006 A, 0,01 A, 0,03 A, 0,1 A, 0,3 A, 0,5 A.





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5.3.4 Valores normalizados de la corriente diferencial de no operacin
nominal (I
no
)


El valor normalizado de la corriente diferencial de no operacin es 0,5 I
n
.


NOTA: Para las corrientes diferenciales continuas pulsantes, las corrientes diferenciales de no
operacin dependen del ngulo de retardo de la corriente (vase el apartado 3.1.4).


5.3.5 Valor normalizado mnimo de la sobrecorriente de no operacin en caso
de carga polifsica equilibrada a travs de un ID multipolar (vase el apartado
3.4.2.1)


El valor normalizado mnimo de la corriente de no operacin en caso de carga equilibrada
polifsica a travs de un ID multipolar es 6 I
n
.


5.3.6 Valor normalizado mnimo de la sobrecorriente de no operacin en caso
de carga monofsica a travs de un ID tripolar o tetrapolar (vase 3.4.2.2)


El valor normalizado mnimo de la sobrecorriente de no operacin en caso de carga
monofsica a travs de un ID tripolar o tetrapolar es 6 I
n
.


5.3.7 Valores preferentes de la frecuencia nominal


Los valores preferentes de la frecuencia nominal son 50 Hz y/o 60 Hz.


Si se utiliza algn otro valor, el valor nominal de la frecuencia deber ser marcado en el
aparato y los ensayos debern efectuarse a esta frecuencia.







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5.3.8 Valor mnimo de poder de corte y de cierre nominal (I
m
)


El valor mnimo de poder de corte y de cierre nominal I
m
es el mayor valor de los dos
valores 10 I
n
500 A.


Los factores de potencia asociados se indican en la Tabla 16.


5.3.9 Valor mnimo del poder de corte y de cierre diferencial nominal (I
m
)


El valor mnimo del poder de corte y de cierre diferencial nominal I
m
es 10 I
n
500 A,
cualquiera que sea el mayor.


Los factores de potencia asociados se indican en la Tabla 16.


5.3.10 Valores nominales normalizados y preferentes de corriente condicional
de cortocircuito (I
nc
)


5.3.10.1 Valores hasta 10 000 A inclusive


Hasta 10 000 A inclusive, los valores de corriente condicional de cortocircuito nominal I
nc

estn normalizados y son:


3 000 A, 4 500 A, 6 000 A, 10 000 A.


Los factores de potencia asociados se indican en la Tabla 16.


5.3.10.2 Valores superiores a 10 000 A


Para los valores superiores a 10 000 A hasta 25 000 A inclusive, un valor preferencial es 20
000 A.

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Los factores de potencia asociados se indican en la Tabla 16.


En esta NTP no se toman en consideracin los valores superiores a 25 000 A.


5.3.11 Valores nominales normalizados de la corriente residual condicional de
cortocircuito (I
c
)


5.3.11.1 Valores hasta 10 000 A inclusive


Hasta 10 000 A inclusive los valores nominales de la corriente residual condicional de
cortocircuito I
c
estn normalizados y son:


3 000 A, 4 500 A, 6 000 A, 10 000 A.


Los valores de 500 A, 1 000 A y 1 500 A estn tambin normalizados para los IDs
incorporados en/o destinados a estar asociados con las tomas de corriente.


Los factores de potencia asociados se indican en la Tabla 16.


5.3.11.2 Valores superiores a 10 000 A


Para los valores superiores a 10 000 A hasta 25 000 A inclusive, un valor preferente es 20
000 A.


Los factores de potencia asociados se indican en la Tabla 16.


En esta NTP no se toman en consideracin los valores superiores a 25 000 A.





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5.3.12 Valores normalizados del tiempo de corte y del tiempo de no actuacin


Los valores normalizados del tiempo de corte (vase el apartado 3.3.9) y del tiempo de no
actuacin (vase el apartado 3.3.10) para los IDs de tipo AC se dan en la Tabla 1.



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TABLA 1 - Valores normalizados del tiempo de corte y del tiempo de no actuacin

Valores normalizados del tiempo (s) de corte y de no
actuacin para una corriente residual con I
n
igual a:
Tipo
I
n

A
I
n

A
I
n
2 I
n
5 I
n

5A, 10 A, 20 A,
50A, 100 A,
200 A
b
500 A


General cualquier
valor
Cualquier
valor
0,3 0,15 0,04 0,04
Tiempos mximos
de corte

0,5 0,2 0,15 0,15
Tiempos mximos
de corte

S 25 > 0,030
0,13 0,06 0,05 0,04
Tiempos mnimos
de no actuacin

a: Para los IDs del tipo general con I
n
0,030 A; 0,25 A puede ser usado como una alternativa
para 5 I
n
.
b: Los ensayos a 5 A, 10 A, 20 A, 50 A, 100 A y 200 A son solamente hechos durante la
verificacin de la correcta operacin como es mencionado en el apartado 9.9.2.4.


Para los IDs de tipo A, los tiempos de corte mximos declarados en la Tabla 1 debern
tambin ser vlidos, los valores de las corrientes (por ejemplo: I
n
, 2 I
n
, 5 I
n
0,25 A y
500 A), sin embargo, siendo aumentados, para el ensayo del apartado 9.22.1.1, por el factor
1,4 para los IDs en los que I
n
> 0,01 A y por un factor 2 para los IDs en los que I
n
0,01
A.


5.4 Coordinacin con los dispositivos de proteccin contra los
cortocircuitos (SCPDs)


5.4.1 Generalidades


Los IDs debern estar protegidos contra cortocircuitos mediante interruptores automticos
o fusibles cumpliendo con sus normas pertinentes y de acuerdo con las reglas de instalacin
de la Norma IEC 60364.


La coordinacin entre los IDs y los diferentes dispositivos de proteccin contra
cortocircuitos SCPDs deber ser verificada bajo las condiciones generales del apartado

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9.11.2.1, mediante los ensayos descritos en el apartado 9.11.2.4 destinados a verificar que
existe una proteccin adecuada del ID contra las corrientes de cortocircuito hasta el valor
de la corriente condicional de cortocircuito nominal I
nc
y hasta el valor de la corriente
residual condicional de cortocircuito I
dc
.


NOTA: El fabricante del ID puede dar referencias de dispositivos de proteccin contra cortocircuitos -
SCPDs adecuados, en sus catlogos.


5.4.2 Corriente condicional de cortocircuito nominal (I
nc
)


Valor eficaz de la corriente prevista, fijada por el fabricante, que un ID, protegido por un
dispositivo de proteccin contra cortocircuitos - SCPD, puede soportar, en las condiciones
especificadas, sin alteraciones irreversibles que puedan comprometer su operacin.


5.4.3 Las condiciones a observar son aquellas especificadas en el apartado
9.11.2.4 a).


5.4.4 Corriente residual condicional de cortocircuito nominal (I
dc
)


Valor de la corriente diferencial prevista, asignada por el fabricante, que un ID protegido
por un dispositivo de proteccin contra cortocircuitos - SCPD puede soportar en
condiciones especificadas, sin alteraciones irreversibles de sus funciones.


Las condiciones a observar son aquellas especificadas en el apartado 9.11.2.4 c).



6. MARCADO Y OTRA INFORMACIN DEL PRODUCTO


En cada ID debern marcarse de forma indeleble todas, o para pequeos aparatos, parte de
la informacin siguiente:


a) el nombre del fabricante o su marca registrada;
b) la designacin del tipo, el nmero de catlogo o el nmero de serie;

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c) la o las tensiones nominales;
d) la frecuencia nominal si el ID est fabricado para frecuencias distintas a 50
Hz y/o 60 Hz (vase el apartado 5.3.7);
e) la corriente nominal;
f) la corriente diferencial de operacin nominal;
g) ajustes de la corriente residual de operacin en caso de I
ds
con mltiples
ajustes de corriente diferencial de operacin;
h) el poder de corte y de cierre nominal;
j) el grado de proteccin (solamente si difiere de IP20);
k) la posicin de empleo (smbolo conforme a la Norma IEC 60051) si es
necesario;
l) el poder de cierre y de corte diferencial nominal, si es distinto al poder de
cierre y de corte nominal;
m) el smbolo (S en un cuadro) para los aparatos de tipo S;
n) indicacin de que el ID es funcionalmente dependiente de la tensin de
alimentacin, si es aplicable (bajo consideracin);
o) medio de operacin del dispositivo de prueba, marcado con la letra T;
p) esquema de conexin;
r) caractersticas de operacin en presencia de corrientes diferenciales con
componentes continuas:

- ID de tipo AC debern estar marcados con el smbolo .
- ID de tipo A debern estar marcados con el smbolo .


El marcado deber encontrarse sobre el propio ID o bien sobre una o varias placas de datos
fijadas en el ID, y estas debern estar situadas en un lugar tal que queden visibles y legibles
cuando el ID est instalado.


Si, para pequeos aparatos, el lugar disponible no es suficiente para todas las indicaciones
que debern marcarse, al menos debern marcarse y ser visibles las indicaciones
especificadas en e), f) y o) cuando el aparato est instalado. Las indicaciones especificadas
en a), b), c), k), l) y p) pueden estar marcadas en el lado o en el dorso del aparato y ser
visibles solamente antes de la instalacin del aparato. Como alternativa, la informacin
especificada en p) puede situarse en el interior de cualquier cubierta la cual tiene que ser
removida para la conexin a la alimentacin. Cualquier otra indicacin adicional no
marcada deber darse en el catlogo del fabricante.



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El fabricante deber declarar el I
2
t y la corriente de pico Ip que puede soportar el ID.
Cuando estos valores no estn declarados se aplican los valores mnimos (dados en la
Tabla 15).


El fabricante deber dar la o las referencias de uno o varios dispositivos de proteccin
contra cortocircuitos - SCPDs adecuados, en sus catlogos y en una hoja de informacin
que acompae a cada ID.


Para los IDs clasificados segn el apartado 4.1.2.1 y que abran con temporizacin en caso
de falla de la tensin de alimentacin, el fabricante deber declarar los valores lmites de tal
temporizacin.


Para los IDs distintos de aquellos maniobrados mediante pulsadores, la posicin de abierto
deber indicarse mediante el smbolo "O" y la posicin de cerrado mediante el smbolo " "
(trazo vertical corto).


Los smbolos nacionales adicionales estn autorizados. Provisionalmente est autorizada
exclusivamente la utilizacin de smbolos nacionales. Estas indicaciones debern ser
fcilmente visibles cuando el ID est instalado.


Para los IDs maniobrados mediante dos pulsadores, el pulsador destinado a la operacin de
apertura deber ser ROJO y/o marcarse con el smbolo "O".


El rojo no deber utilizarse para ningn otro pulsador del ID. Si un pulsador se utiliza para
el cierre de los contactos y se marca evidentemente como tal, su posicin pulsada es
suficiente para indicar la posicin de cerrado.


Si se utiliza un nico pulsador para el cierre y la apertura de los contactos y se identifica
como tal, el pulsador al permanecer en la posicin pulsada o hundida es suficiente para
indicar la posicin de cerrado. Sin embargo si el pulsador no permanece pulsado, deber
suministrarse un medio adicional que indique la posicin de los contactos.


Si es preciso establecer una distincin entre los bornes de entrada y salida, stos debern
estar claramente marcados (por ejemplo, con los trminos "alimentacin" y "carga" cerca

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de los bornes correspondientes o mediante flechas que indiquen el sentido del flujo de
energa).


Los bornes destinados exclusivamente a la conexin del neutro del circuito, debern estar
marcados con la letra N.


Los bornes destinados al conductor de proteccin si existe, debern marcarse con el
smbolo (vase Norma IEC 60417-5019 a)).


NOTA: El smbolo (Norma IEC 60417-5017 a)), recomendado anteriormente, deber reemplazarse
progresivamente por el smbolo preferente (Norma IEC 60417-5019 a)) arriba sealado.


El marcado deber ser indeleble, fcilmente legible y no deber estar situado sobre
tornillos, arandelas u otras partes removibles.


La conformidad es verificada mediante inspeccin y mediante el ensayo del apartado 9.3.



7. CONDICIONES NORMALIZADAS PARA LA OPERACIN EN
SERVICIO Y DE INSTALACIN


7.1 Condiciones normalizadas


Los IDs que cumplan con esta NTP debern ser capaces de operar bajo las condiciones
normalizadas dadas en la Tabla 2.



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TABLA 2 - Condiciones normalizadas para la operacin en servicio


Magnitudes de
influencia
Rango normalizado de
aplicacin
Valores de
referencia
Tolerancias
para
los ensayos
6)

Temperatura ambiente
1), 7)
De -5 C a + 40 C
2)
20 C 5 C
Altitud No sobrepasando 2 000 m
Humedad relativa valor mximo
a 40 C
50 %
3)

Campo magntico externo
No excediendo 5 veces el
campo magntico terrestre
en cualquier direccin
Campo
magntico
terrestre
4)
Posicin
Como indique el fabricante,
con una
tolerancia de 2 en cualquier
direccin
5)

Como indique
el fabricante
2 en cualquier
direccin
Frecuencia Valor de referencia 5 %
6)
Valor nominal 2 %
Distorsin de la onda sinusoidal No exceda del 5 % Cero 5 %
1)
El valor mximo de la media diaria de temperatura es de + 35 C.
2)
Los valores que quedan fuera de este rango estn admitidos para las condiciones climticas ms severas
por acuerdo entre fabricante y usuario.
3)
Los grados de humedad relativa superiores estn admitidos a temperaturas ms bajas (por ejemplo 90 % a
20 C).
4)
En el caso en que un ID se instale prximo a un fuerte campo magntico puede ser necesario
requerimientos adicionales.
5)
El aparato deber fijarse de forma que ninguna pieza del ID sufra deformaciones susceptibles de impedir
su operacin.
6)
Las tolerancias dadas son aplicables, a menos que se especifique lo contrario en el ensayo especfico.
7)
Durante el almacenamiento y el transporte son admisibles lmites extremos de -20 C y + 60 C y deberan
tomarse en consideracin en el diseo del aparato.


7.2 Condiciones de instalacin


Los IDs debern instalarse de acuerdo con las instrucciones del fabricante.




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8. REQUERIMIENTOS DE CONSTRUCCIN Y OPERACIN


8.1 Diseo mecnico


8.1.1 Generalidades


La deteccin de la corriente residual y el disparador por corriente residual debern situarse
entre los bornes de entrada y salida del ID.


No deber ser posible alterar las caractersticas de operacin del ID por medio de
intervenciones externas distintas de aquellas especficamente previstas para modificar el
ajuste de la corriente residual de operacin.


En caso de que el ID tenga mltiples ajustes de la corriente residual de operacin, el valor
nominal es el ms elevado de los valores de ajuste.


8.1.2 Mecanismo


Los contactos mviles de todos los polos de los IDs multipolares debern estar acoplados
mecnicamente de tal forma que, todos los polos, excepto el neutro de seccionamiento, si
existe, se cierren y se abran prcticamente al mismo tiempo, tanto si se accionan manual o
automticamente.


Un polo de seccionamiento del neutro (vase el apartado 3.3.15) deber abrirse despus y
cerrarse antes que los otros polos.


Los IDs debern tener mecanismos de disparo libre.


Deber ser posible conectar o desconectar los IDs manualmente. Para los IDs de tipo
enchufable sin elemento de maniobra, este requerimiento no se considera cumplido por el
hecho de que el ID pueda ser removido de su base.


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Los IDs debern fabricarse de modo que los contactos mviles puedan permanecer
solamente en la posicin de cerrado (vase el apartado 3.3.12) o en la posicin de abierto
(vase el apartado 3.3.13), aunque el elemento de maniobra se suelte en una posicin
intermedia.


Los IDs debern estar provistos con medios que indiquen su posicin de cerrado y abierto,
los cuales debern estar fcilmente visibles desde la parte frontal del ID cuando el ID est
provisto con cubierta o cubiertas o tapas de recubrimiento, si existieran (vase el captulo
6).


Cuando el medio de operacin se utilice para indicar la posicin de los contactos, aquel una
vez suelto, deber tomar automticamente la posicin correspondiente a la de los contactos
mviles; en cuyo caso el medio de operacin deber tener dos posiciones de reposo
distintas que correspondan a la posicin de los contactos, pero para la apertura automtica
puede preverse una tercera posicin distinta del elemento de maniobra; en este caso deber
ser necesario rearmar manualmente el ID antes de poder volver a conectarlo.


En el caso de los IDs funcionalmente dependientes de la tensin de lnea con recierre
automtico (vase el apartado 4.1.2.1 a)) cuando la tensin de lnea es restaurada despus
de una falla de la misma, los medios de operacin debern permanecer en la posicin ON
luego de la apertura automtica de los contactos, cuando la tensin de la lnea es
restablecida, los contactos debern recerrarse automticamente a menos que en el
entretiempo los medios de operacin hayan sido colocados en la posicin de OFF.


NOTA: Para este tipo de IDs, los medios de operacin no pueden ser usados como medios para indicar
las posiciones de cerrado y abierto.


Cuando se utilice un indicador luminoso, ste deber estar encendido y ser de color
brillante cuando el ID se encuentra en posicin "cerrado". El indicador luminoso no deber
ser el nico medio de indicacin de la posicin de "cerrado".


La posicin de las envolventes o de las cubiertas no deber influir en el operacin del
mecanismo y ste deber ser independiente de cualquier parte removible.


Una cubierta sellada colocada por el fabricante se considera como parte no removible.


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Si la cubierta se utiliza como gua de los botones pulsadores, no deber ser posible retirar
los botones desde el exterior del ID.


Los medios de operacin debern estar fijados slidamente sobre sus ejes y no deber ser
posible retirarlos sin la ayuda de una herramienta.


Se permiten los medios de operacin fijados directamente a las cubiertas. Si el elemento de
maniobra posee un movimiento de arriba hacia abajo, y de abajo hacia arriba, cuando el ID
se instale como para uso normal, los contactos debern cerrarse por el movimiento hacia
arriba.


NOTA: Provisionalmente en algunos pases esta permitido los movimientos debajo de cierre.


El cumplimiento de los requerimientos arriba indicados se verifica mediante examen visual
y ensayo manual, y para el mecanismo de disparo libre mediante los ensayos del apartado
9.15.


8.1.3 Distancias de aislamiento y lneas de fuga (vase el anexo B)


Las distancias de aislamiento y las lneas de fuga no debern ser inferiores a los valores
indicados en la Tabla 3 cuando el ID se instale como para uso normal.


NOTA: Est en estudio una revisin de los valores de la Tabla 3.

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TABLA 3 - Distancias de aislamiento y lneas de fuga

Descripcin
Distancia
mm
Distancias de aislamiento
a)

1) entre las partes activas que estn separadas cuando el ID est en la posicin de
abierto
b)

2) entre las partes activas de polaridad diferente
c), d)

3) entre las partes activas y
los medios de operacin metlicos
los tornillos u otros medios de fijacin de cubiertas que debern retirarse cuando se
fije el ID
la superficie sobre la cual se fija la base
e)

los tornillos u otros medios de fijacin del ID
e)

las cubiertas o cajas metlicas
e)

otras partes metlicas accesibles
f)

los marcos metlicos que sostienen los IDs de tipo empotrable
4) entre las partes metlicas del mecanismo y
las partes metlicas accesibles
f)

los tornillos u otras medios de fijacin del ID
los marcos metlicos que sostienen los IDs de tipo empotrable

3

3

3
3

6 (3)
6 (3)
6 (3)
3
3

3
3
3
Lneas de fuga
a)

1) entre las partes activas que estn separadas cuando el ID se encuentra en la posicin
de abierto
b)

2) entre las partes activas de polaridad diferente
c), d)

para los IDs que tengan una tensin nominal que no sobrepase los 250 V
para los otros ID
3) entre las partes activas y
los medios de operacin metlicos
los tornillos u otros medios de fijacin de las cubiertas que debern retirarse cuando
se fija el ID
los tornillos u otros medios de fijacin de los IDs
e)

las partes metlicas accesibles
f)


3


3
4

3
3

6 (3)
3
a) Las distancias de aislamiento y las lneas de fuga del circuito secundario y entre los arrollamientos
primarios del transformador del ID no se tienen en cuenta.
b) No se aplica a los contactos auxiliares y de mando.
c) Se recomienda tomar precauciones para garantizar las distancias correctas entre las partes activas de
polaridades distintas de los IDs de tipo enchufable instalados unos al lado de los otros. Los valores estn
en estudio.
d) En algunos pases se usan mayores distancias entre bornes de acuerdo a las practicas nacionales.
e) Si las lneas de fuga y distancias de aislamiento entre partes activas del aparato y la pantalla metlica o
la superficie sobre la cual est montado el ID dependen solamente del diseo del ID de forma que no
puedan reducirse cuando el aparato est montado en la posicin ms desfavorable (incluso en una
envolvente metlica), los valores entre parntesis son suficientes.
f) Incluyendo una hoja metlica en contacto con las superficies de material aislante que son accesibles
despus de la instalacin como para uso normal. La hoja se adapta en los rincones, ranuras, etc. Mediante
un dedo de prueba rgido y rectilneo, de acuerdo con el apartado 9.6.

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8.1.4 Tornillos, partes que transportan la corriente y conexiones


8.1.4.1 Las uniones mecnicas y las conexiones elctricas debern ser capaces de
resistir los esfuerzos mecnicos que se produzcan en servicio normal.


Los tornillos colocados para el montaje del ID en el momento de su instalacin, no debern
ser del tipo tornillo autorroscante por arranque de material.


NOTA: Los tornillos (o tuercas) que se instalan en el momento del montaje del ID incluyen los
tornillos para la fijacin de las cubiertas o tapas de recubrimiento, pero no los medios de conexin
para los conductos roscados y para la fijacin de la base del ID.


El cumplimiento es verificado por inspeccin y mediante el ensayo del apartado 9.4.


NOTA: Las conexiones con tornillos se consideran verificadas mediante los ensayos de los apartados
9.8, 9.11, 9.12, 9.13, y 9.23.


8.1.4.2 Para los tornillos que se introducen en un roscado de material aislante y que
debern manipularse para el montaje del ID durante su instalacin, debe garantizarse una
introduccin correcta del tornillo en el agujero roscado o la tuerca.


El cumplimiento es verificado por inspeccin y ensayo manual.


NOTA: La prescripcin relativa a la introduccin correcta se satisface si se evita la introduccin del
tornillo de forma inclinada, por ejemplo mediante una conduccin prevista en la parte a fijar, o una
cavidad en la parte hembra del roscado o bien mediante el empleo de un tornillo sin rosca en la
punta.


8.1.4.3 Las conexiones elctricas debern disearse de tal forma que la presin de
contacto no se transmita a travs de materiales aislantes distintos de la cermica, mica pura
u otros materiales que presenten caractersticas equivalentes como mnimo, salvo si una
contraccin o deformacin eventual del material aislante pueda ser compensada por una
elasticidad suficiente de las partes metlicas.


La verificacin se efecta mediante inspeccin.

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NOTA: La idoneidad del material se estima con relacin a la estabilidad dimensional.


8.1.4.4 Las partes que transportan la corriente incluidas aquellas partes destinadas a
los conductores de proteccin, si existen, debern ser:


de cobre, o;

de una aleacin que contenga al menos el 58 % de cobre para las piezas
trabajadas en fro o al menos el 50 % de cobre para las dems;

o bien de otro metal o material con recubrimiento apropiado, no menos
resistente a la corrosin que el cobre y que tenga propiedades mecnicas
equivalentes.


NOTA: Estn en estudio nuevas prescripciones y ensayos apropiados para determinar la resistencia a
la corrosin. Estas especificaciones deberan permitir el empleo de otros materiales convenientemente
recubiertos.


Las prescripciones de este apartado no se aplican a los contactos, circuitos magnticos,
elementos calefactores, elementos bimetlicos, shunts, partes de dispositivos electrnicos
as como a los tornillos, tuercas, arandelas, placas de apriete, partes similares de los bornes
y partes del circuito de ensayo.


8.1.5 Bornes para conductores externos


8.1.5.1 Los bornes para conductores externos debern ser tales que los conductores
puedan estar conectados de forma que la presin de contacto necesaria se mantenga de
forma permanente.


En esta NTP, solamente han sido considerados los bornes con tornillos para conductores
exteriores de cobre.


NOTA: Estn en estudio prescripciones para los bornes planos con conexin rpida, bornes sin
tornillos y bornes para conductores de aluminio.

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Estn admitidos los dispositivos de conexin para barras con tal de que no se utilicen para
la conexin de cables.


Tales dispositivos pueden ser del tipo enchufable o del tipo por esprragos.


Los bornes debern ser fcilmente accesibles en las condiciones previstas de empleo.


El cumplimiento es verificado por inspeccin y mediante los ensayos del apartado 9.5.


8.1.5.2 Los IDs debern estar provistos de bornes que permitan la conexin de
conductores de cobre que tengan las secciones nominales indicadas en la Tabla 4.


NOTA: En el anexo IC se indican ejemplos de configuracin de bornes.


El cumplimiento se verifica por inspeccin, por medicin y mediante la introduccin
sucesiva de un conductor de secciones mnimas y mximas especificadas.



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TABLA 4 - Secciones de los conductores de cobre que pueden ser conectados a los
bornes con tornillos

Corriente nominal
A
Rango de las secciones nominales
para ser apretadas*
mm
2

Mayor a
Hasta e
inclusive
Conductores rgidos
(slidos o trenzados)
Conductores
flexibles

13
16
25
32
50
80
100
13
16
25
32
50
80
100
125
1 a 2,5
1 a 4
1,5 a 6
2,5 a 10
4 a 16
10 a 25
16 a 35
24 a 50
1 a 2,5
1 a 4
1,5 a 6
2,5 a 6
4 a 10
10 a 16
16 a 25
25 a 35
* Se exige que, para corrientes nominales, hasta 50 A inclusive, los bornes estn diseados tanto para
apretar los conductores slidos como los conductores trenzados rgidos. De igual forma est admitido que
los bornes para conductores de seccin de 1 mm
2
a 6 mm
2
estn diseados para apretar solamente
conductores slidos.
NOTA: Para secciones AWG vase el Anexo ID.


8.1.5.3 Los dispositivos de apriete de los conductores en los bornes no debern
utilizarse para la fijacin de algn otro componente, aunque puedan servir para mantener
en su lugar los bornes o evitar que giren.


El cumplimiento es verificado por inspeccin y mediante el ensayo del apartado 9.5.


8.1.5.4 Los bornes para corrientes nominales hasta 32 A inclusive, debern permitir
la conexin de los conductores sin preparacin especial.


El cumplimiento es verificado por inspeccin.


NOTA: El trmino "preparacin especial" se refiere al estaado de los hilos del conductor, la
utilizacin de terminales de cables, la formacin de ojales, etc., pero no la preparacin del conductor
antes de su introduccin en el borne o el torcimiento de un conductor flexible para consolidar su
extremo.



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8.1.5.5 Los bornes debern tener una resistencia mecnica adecuada.


Los tornillos y las tuercas para el apriete de los conductores debern tener una rosca
mtrica ISO o una rosca de paso similar con una resistencia mecnica equivalente.


El cumplimiento es verificado por inspeccin y mediante los ensayos de los apartados 9.4
y 9.5.1.


8.1.5.6 Los bornes debern estar diseados de tal manera que aprieten el conductor
sin ocasionarle daos apreciables.


El cumplimiento es verificado por inspeccin y el ensayo del apartado 9.5.2.


8.1.5.7 Los bornes debern estar diseados de manera que aprieten el conductor de
forma segura y entre superficies metlicas.


El cumplimiento es verificado por inspeccin y los ensayos de los apartados 9.4 y 9.5.1.


8.1.5.8 Los bornes debern estar diseados o situados de manera que ni el conductor
slido rgido, ni un hilo de un conductor trenzado puedan salirse en el momento de apriete
del tornillo o de las tuercas.


Este requerimiento no se aplica a los bornes de pletina.


El cumplimiento se verifica mediante el ensayo del apartado 9.5.3.


8.1.5.9 Los bornes debern fijarse o situarse de forma que, cuando los tornillos o
tuercas de ajuste se aprieten o se aflojen, los bornes no puedan adquirir juego en relacin
con los IDs.



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Estas prescripciones no implican que los bornes deban estar diseados de tal manera que se
impida su rotacin o su desplazamiento, sin embargo todo movimiento debe estar
suficientemente limitado para impedir la no conformidad con las prescripciones de esta
norma.


La utilizacin de una resina o un material de relleno se considera suficiente para impedir
que un borne adquiera holgura a condicin de que:


la resina o el material de relleno no est sometida a esfuerzos durante el uso
normal;

la eficacia de la resina o del material de relleno no se altere por las
temperaturas alcanzadas por el borne en las condiciones ms desfavorables
especificadas en esta norma.


El cumplimiento es verificado por inspeccin, por medicin y mediante el ensayo del
apartado 9.4.


8.1.5.10 Los tornillos o tuercas de apriete de los bornes destinados a la conexin de
los conductores de proteccin debern estar asegurados adecuadamente contra el
aflojamiento accidental y no debe ser posible aflojarlos sin la ayuda de una herramienta.


El cumplimiento es verificado por un ensayo manual.


En general, los modelos de bornes cuyos ejemplos se dan en el anexo IC proporcionan una
elasticidad suficiente para responder a esta prescripcin; para otros modelos pueden ser
necesarias disposiciones especiales tales como la utilizacin de una pieza elstica
conveniente que no pueda ser extrada de forma involuntaria.


8.1.5.11 Los tornillos y tuercas destinados a la conexin de los conductores
exteriores debern encajar en un roscado metlico y los tornillos no debern ser
autorroscantes.




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8.2 Proteccin contra choques elctricos


Los IDs debern estar diseados de tal manera que, cuando estn montados y cableados
como para uso normal, las partes activas no sean accesibles.


NOTA: El trmino "uso normal" implica que el ID est instalado segn las instrucciones del
fabricante.


Una parte se considera como "accesible" si se puede tocar con el dedo de prueba
normalizado (vase el apartado 9.6).


En el caso de ID distintos de aquellos del tipo enchufable, las partes exteriores que no sean
los tornillos u otros medios de fijacin de las cubiertas y etiquetas, que queden accesibles
cuando los IDs estn montados y cableados como en condiciones para uso normal, debern
ser de material aislante, o bien estar recubiertos completamente de materia aislante, a
menos que las partes activas no estn contenidas en una envolvente interior de material
aislante.


Los recubrimientos debern fijarse de forma que no pueda haber riesgo de prdida de los
mismos durante la instalacin del ID. Dichos recubrimientos debern tener un espesor y
una resistencia mecnica suficientes y debern garantizar una proteccin eficaz en los
lugares que presenten aristas vivas.


Las entradas de cables o conductos debern ser bien de material aislante, o bien estar
provistos de manguitos o dispositivos similares de material aislante. Estos dispositivos
debern fijarse de forma segura y tener una resistencia mecnica suficiente.


En el caso de ID enchufables, las partes externas distintas a los tornillos y dems elementos
de fijacin de las cubiertas, que sean accesibles en uso normal, debern ser de material
aislante.


Los medios de operacin metlicos debern estar aislados de las partes activas y sus partes
conductoras que por otra parte constituiran las "partes conductoras expuestas", debern
estar recubiertas de material aislante, a excepcin de aquellas que permitan acoplar los
medios de operacin aislados de varios polos.

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Las partes metlicas del mecanismo no debern ser accesibles. Adicionalmente debern
estar aisladas de las partes metlicas accesibles, los marcos metlicos que sostengan la base
de los IDs de tipo empotrable, los tornillos u otros elementos de fijacin de la base sobre su
soporte y de una placa metlica utilizada como soporte.


Los IDs enchufables debern poderse remplazar fcilmente sin tocar las partes activas.


El barniz y el esmalte no estn considerados como sustancias que garanticen un aislamiento
suficiente en el sentido de este apartado.


El cumplimiento es verificado por inspeccin y el ensayo del apartado 9.6.


8.3 Propiedades dielctricas


Los IDs debern tener propiedades dielctricas adecuadas.


Los circuitos de mando conectados al circuito principal no debern ser daados por las
tensiones elevadas de corriente continua que resulten de las medidas de aislamiento que se
efectan normalmente despus de que los IDs estn instalados.


El cumplimiento es verificado mediante los ensayos de los apartados 9.7 y 9.20.


8.4 Calentamiento


8.4.1 Lmites de calentamiento


Los calentamientos de las diferentes partes de un ID especificadas en la Tabla 5, medidos
en las condiciones especificadas en el apartado 9.8.2, no debern sobrepasar los lmites
indicados en dicha tabla.


El ID no debe sufrir daos que afecten a su operacin y su seguridad de uso.

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TABLA 5 - Valores de calentamiento


Partes
a), b)

Calentamiento
K
Bornes para conexiones externas
c)
65
Partes externas susceptibles de ser tocadas cuando se realiza una
maniobra manual del ID, comprendiendo los elementos de
operacin de material aislante y los elementos metlicos para el
acoplamiento aislados para el operacin de varios polos
40
Partes metlicas exteriores de los elementos de operacin 25
Otras partes externas incluida la parte del ID en contacto directo con
la superficie de montaje
60
a) No est especificado un valor para los contactos; debido a que el diseo de la mayor parte de los IDs es
tal que la medida directa de la temperatura de estas partes no puede efectuarse sin riesgo de provocar
alteraciones o desplazamientos de partes susceptibles de afectar la reproducibilidad de los ensayos.
El ensayo de fiabilidad (vase el apartado 9.22) se considera suficiente para la verificacin indirecta del
comportamiento de los contactos respecto a los calentamientos no admisibles en servicio.
b) No se especifica ningn valor para las partes distintas de aquellas indicadas en la tabla, pero las partes
adyacentes de material aislante no debern sufrir daos y el operacin del ID no debe quedar afectado.
c) Para los IDs de tipo enchufable, los bornes de la base sobre la cual est instalado el ID.


8.4.2 Temperatura ambiente


Los lmites de calentamiento indicados en la Tabla 5 son solamente aplicables si la
temperatura ambiente permanece entre los lmites indicados en la Tabla 2.


8.5 Caractersticas de operacin


Las caractersticas de operacin de los IDs debern satisfacer los requerimientos del
apartado 9.9.


8.6 Endurancia mecnica y elctrica


Los IDs debern ser capaces de efectuar el nmero especificado de operaciones mecnicas
y elctricas.

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El cumplimiento es verificado por el ensayo del apartado 9.10.


8.7 Desempeo a las corrientes de cortocircuito


Los IDs debern poder efectuar un nmero especificado de operaciones en cortocircuito,
durante las cuales no debern poner en peligro al operario ni dar lugar a iniciar un
contorneamiento entre las partes conductoras activas o entre estas ltimas y tierra.


El cumplimiento es verificado por los ensayos del apartado 9.11.


8.8 Resistencia a las sacudidas e impactos mecnicos


Los IDs debern tener una resistencia mecnica adecuada para soportar los esfuerzos
impuestos durante la instalacin y utilizacin.


El cumplimiento es verificado mediante los ensayos del apartado 9.12.


8.9 Resistencia al calor


Los IDs debern ser suficientemente resistentes al calor.


El cumplimiento es verificado mediante el ensayo del apartado 9.13.


8.10 Resistencia al calor anormal y al fuego


Las partes exteriores de material aislante de los IDs no debern ser susceptibles de
inflamarse y de propagar el fuego si las partes que transportan la corriente, en condiciones
de defecto o sobrecarga, alcanzan, en sus proximidades, una temperatura elevada. La
resistencia al calor anormal y al fuego de las dems partes de material aislante se considera
como verificada por otros ensayos de esta NTP.


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El cumplimiento es verificado por inspeccin y el ensayo del apartado 9.14.


8.11 Dispositivo de prueba


Los IDs debern estar provistos de un dispositivo de prueba diseado para simular el paso a
travs del dispositivo de deteccin, de una corriente residual, a fin de permitir la
verificacin peridica de la aptitud de operacin del ID.


NOTA: El dispositivo de prueba est destinado a verificar la funcin de disparo y no el valor para el
cual este operacin es efectivo, en lo que concierne a la corriente residual de operacin nominal y a los
tiempos de operacin.


Los amperios-vuelta producidos por la operacin del dispositivo de prueba de un ID
alimentado a su tensin nominal o el valor ms elevado del rango de tensiones, si existe, no
debe sobrepasar 2,5 veces los amperios-vuelta producidos, cuando circula una corriente
residual igual a I
n
a travs de uno de los polos del ID.


En caso que el ID tenga varios ajustes de la corriente residual de operacin (vase el
apartado 4.4) el menor ajuste para el cual el ID ha sido diseado debe ser usado. El
dispositivo de prueba debe satisfacer el ensayo especificado en el apartado 9.16.


El conductor de proteccin de la instalacin no debe ponerse bajo tensin cuando el
dispositivo de prueba se accione.


No debe ser posible, en el momento de operacin del dispositivo de prueba, alimentar el
circuito del lado de la carga cuando el ID se encuentre en posicin de apertura y est
conectado como para uso normal.


El dispositivo de prueba no debe ser el nico medio para efectuar la operacin de apertura
y no est previsto para cumplir esta funcin.






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8.12 Requerimientos para los IDs funcionalmente dependientes de la tensin
de alimentacin


Los IDs funcionalmente dependientes de la tensin de alimentacin debern operar
correctamente para cualquier valor de la tensin de alimentacin comprendido entre 0,85 y
1,1 veces su tensin nominal; por ello, los IDs multipolares debern tener todos sus polos
alimentados por las fases y el neutro, si lo hubiera.


La conformidad se efecta mediante el ensayo del apartado 9.17 con las condiciones de
ensayo suplementarias especificadas en el apartado 9.9.2. Segn su clasificacin, los IDs
debern responder a los requerimientos indicados en la Tabla 6.


TABLA 6 - Requerimientos para los IDs funcionalmente dependientes
de la tensin de lnea

Clasificacin del dispositivo
segn el apartado 4.1
Comportamiento en caso de falla
de la tensin de alimentacin
Sin
retardo
Apertura no temporizada segn las
condiciones de ensayo del apartado 9.17.2 a)
ID que se abren automticamente
en caso de falla de la tensin de
lnea (vase el apartado 4.1.2.1)
Con
retardo
Apertura temporizada segn las condiciones
del apartado 9.17.2 b). El operacin correcto
durante el retardo debe ser verificado segn
el apartado 9.17.3
ID que no se abren automticamente en caso
de falla de la tensin de lnea (vase el
apartado 4.1.2.2)
Sin apertura


8.13 Comportamiento de los IDs en caso de sobrecorriente en el circuito
principal


Los IDs no debern operar bajo las condiciones especificadas de sobrecorriente.


El cumplimiento es verificado mediante el ensayo del apartado 9.18.



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8.14 Comportamiento de los IDs ante las impulsos de corriente debidas a
ondas de sobretensin


Los IDs debern soportar de forma adecuada los impulsos de corriente a tierra debidas a las
cargas de las capacitancias de la instalacin y los impulsos de corriente a tierra debidas al
contorneamiento en la instalacin. Los IDs de tipo S adicionalmente debern mostrar
resistencia adecuada contra los disparos no deseados en el caso de corrientes de choque a
tierra debidas al contorneamiento en la instalacin.


El cumplimiento es verificado mediante el ensayo del apartado 9.19.


8.15 Comportamiento del ID en caso de una corriente de falla a tierra que
contenga una componente continua


Los IDs debern desempearse adecuadamente en presencia de corrientes de falla a tierra
que contengan una componente continua de acuerdo con su clasificacin.


El cumplimiento es verificado mediante los ensayos del apartado 9.21.


8.16 Confiabilidad


Los IDs debern operar de forma confiable, an despus de un servicio prolongado,
teniendo en cuenta el envejecimiento de sus componentes.


El cumplimiento es verificado mediante los ensayos de los apartados 9.22 y 9.23.




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9. ENSAYOS


9.1 Generalidades


9.1.1 La verificacin de las caractersticas de los IDs se efecta mediante los
ensayos tipo.


La lista de los ensayos tipo especificada para esta NTP se indica en la Tabla 7.


TABLA 7 - Lista de ensayos tipo

Ensayos Apartado
Indelebilidad del marcado
Seguridad de los tornillos, partes que transportan la corriente y conexiones
Seguridad de los bornes para conductores externos
Proteccin contra los choques elctricos
Propiedades dielctricas
Calentamientos
Caracterstica de operacin
Endurancia mecnica y elctrica
Comportamiento del ID en condiciones de cortocircuito
Resistencia a las vibraciones e impactos mecnicos
Resistencia al calor
Resistencia al calor anormal y al fuego
Mecanismo de disparo libre
Operacin del dispositivo de prueba en los lmites de la tensin nominal
Comportamiento del ID en caso de falla de la tensin de alimentacin para
los IDs clasificados segn el apartado 4.1.2.1
Valor lmite de corriente de no operacin bajo condiciones de
sobrecorriente
Resistencia a las desconexiones intempestivas debidas a impulsos de
corriente
Resistencias de aislamiento frente a una onda de sobretensin
Comportamiento de los IDs en caso de una corriente de falla a tierra que
contenga una componente continua
Confiabilidad
Envejecimiento de los componentes electrnicos

9.3
9.4
9.5
9.6
9.7
9.8
9.9
9.10
9.11
9.12
9.13
9.14
9.15
9.16
9.17

9.18

9.19

9.20
9.21

9.22
9.23


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9.1.2 A efecto de certificacin los ensayos se efectan segn una secuencia de
ensayos.


NOTA: El trmino "certificacin" significa:


tanto una declaracin de conformidad del fabricante;
como la certificacin por terceros por ejemplo por un organismo de certificacin
independiente.


La secuencia de ensayos y el nmero de muestras a someter a estos ensayos se indican en el
anexo A.


Salvo especificacin contraria, cada ensayo tipo (o secuencia de ensayos tipo) se efecta
sobre ID nuevos y en buen estado, teniendo las magnitudes de influencia sus valores de
referencia normales (vase la Tabla 2).


9.1.3 Los ensayos de rutina efectuados por el constructor sobre cada dispositivo se
dan en el anexo D.


9.2 Condiciones de los ensayos


El ID se monta individualmente, segn las instrucciones del fabricante, y al aire libre, a una
temperatura ambiente comprendida entre 20 C y 25 C, a menos que se especifique otra
cosa y est protegido contra las variaciones de temperaturas exageradas.


Los IDs diseados para ser instalados en envolventes individuales son ensayados en la
envolvente ms pequea de las especificadas por el fabricante.


NOTA: Una envolvente individual es una envolvente diseada para admitir solo un dispositivo.


Salvo especificacin contraria, el ID est equipado con los conductores apropiados que
tengan las secciones especificadas en la Tabla 8 y fijado sobre un panel de madera
contraplacada pintado en negro mate, de alrededor de 20 mm de espesor, siendo el modo de
fijacin conforme a los requerimientos de montaje recomendados por el fabricante.

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TABLA 8 - Conductores de cobre para ensayos que corresponden a las corrientes
nominales

Corriente
nominal
I
n

A
I
n
6
6
< I
n

13
13
< I
n

20
20
< I
n

25
25
< I
n

32
32
< I
n

50
50
< I
n

63
63
< I
n

80
80
< I
n

100
100
< I
n

125
S
mm
2

1 1,5 2,5 4 6 10 16 25 35 50


NOTA: Para conductores de cobre AWG, vase el Anexo ID.


En ausencia de especificaciones sobre las tolerancias, los ensayos tipo se efectuarn a
valores no menos severos que aquellos especificados en esta NTP. Salvo especificacin
contraria, los ensayos se efectan a la frecuencia nominal 5 %.


Durante los ensayos, no es est permitido el mantenimiento y el desmontaje de las
muestras.


Para los ensayos de los apartados 9.8, 9.9, 9.10 y 9.23, el ID se conecta como sigue:


las conexiones se realizan mediante conductores de cobre slidos, aislados
con PVC;

las conexiones son al aire libre y la separacin entre ellas no debe ser
inferior a la distancia entre los bornes;

la longitud, con una tolerancia de
5
0
+
cm, de cada conexin provisional de
borne a borne es de:

1 m para las secciones inferiores o iguales a 10 mm
2
;
2 m para las secciones superiores a 10 mm
2
.


Los torques de apriete que debern aplicarse a los tornillos de los bornes son iguales a dos
tercios de aquellos valores que se especifican en la Tabla 9.
9.3 Verificacin de la indelebilidad del marcado

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El ensayo se efecta frotando las marcas con la mano durante 15 s con una tela de algodn
empapada en agua y durante otros 15 s con una tela de algodn empapada de hexano
aliftico (con un contenido mximo en carburos aromticos de 0,1 % en volumen, un
ndice de kauributanol de 29, una temperatura inicial de ebullicin de alrededor de 65 C,
una temperatura de punto seco de alrededor de 69 C y una masa especfica de 0,68 g/cm
3
).


El marcado por presin, moldeado o grabado no se somete a este ensayo.


Despus de este ensayo, el marcado debe ser fcilmente legible. El marcado debe
permanecer legible despus de todos los ensayos de esta NTP.


No debe ser posible desprender fcilmente las etiquetas y stas no debern arrugarse.


9.4 Verificacin de la seguridad de los tornillos, de las partes que
transportan la corriente y de las conexiones


El cumplimiento de los requerimientos del apartado 8.1.4 se verificara mediante inspeccin
y para los tornillos y tuercas que se maniobran en el momento del montaje y de la conexin
del ID, se verificaran mediante el ensayo siguiente:


Los tornillos o las tuercas se aprietan y se aflojan:


10 veces para los tornillos que se enroscan en material aislante;
5 veces en los dems casos.


Los tornillos o tuercas que se enroscan en material aislante se remueven e insertan
completamente cada vez.


El ensayo se efecta con un destornillador de ensayo o una llave apropiada, aplicando el
torque que se indica en la Tabla 9.
Los tornillos o tuercas no debern apretarse a golpes.

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El ensayo se efecta nicamente con conductores rgidos que tengan las mayores secciones
especificadas en la Tabla 4, slido o trenzado, segn el caso ms desfavorable. El
conductor se retira cada vez que el tornillo o la tuerca se aflojan.


TABLA 9 - Dimetros de las roscas y torques a aplicar

Dimetro nominal de la rosca
mm
Torques
Nm
Superior a
Hasta e
inclusive
I II III

2,8
3,0
3,2
3,6
4,1
4,7
5,3
6,0
8,0
2,8
3,0
3,2
3,6
4,1
4,7
5,3
6,0
8,0
10,0
0,2
0,25
0,3
0,4
0,7
0,8
0,8
1,2
2,5

0,4
0,5
0,6
0,8
1,2
1,8
2,0
2,5
3,5
4,0
0,4
0,5
0,6
0,8
1,2
1,8
2,0
3,0
6,0
10,0


La columna I se aplica a los tornillos sin cabeza si el tornillo, cuando est apretado, no
sobresale del agujero, y otros tornillos que no pueden apretarse mediante un destornillador
que tenga una hoja ms ancha que el dimetro del tornillo.


La columna II se aplica a los dems tornillos que se aprieten mediante un destornillador.


La columna III se aplica a los tornillos y a las tuercas que se aprietan por otros medios que
no sean un destornillador.


Cuando un tornillo sea de cabeza hexagonal hendida y pueda apretarse con la ayuda de un
destornillador y los valores de las columnas II y III sean diferentes, el ensayo se efecta dos
veces, primero aplicando en la cabeza hexagonal el torque especificado en la columna III,
luego aplicando sobre otra muestra el torque especificado en la columna II mediante un

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destornillador. Si los valores de las columnas II y III son idnticos, solamente se efecta el
ensayo con el destornillador.


Durante el ensayo, las conexiones atornilladas no debern adquirir holgura y no se deber
constatar ningn dao, tal como la rotura de tornillos o deterioro de las ranuras de la
cabeza, de la rosca, de las arandelas o de los estribos, que perjudicaran el uso posterior del
ID.


Adems, las envolventes y las cubiertas no debern daarse.


9.5 Verificacin de la Seguridad de los bornes para conductores externos


El cumplimiento con los requerimientos del apartado 8.1.5 se verifica por inspeccin,
mediante el ensayo del apartado 9.4 colocando en el borne, un conductor rgido de la mayor
seccin especificada en la Tabla 4 (para las secciones nominales superiores a 6 mm
2
se
utiliza un conductor rgido cableado, para las dems secciones, un conductor slido), y
mediante los ensayos de los apartados 9.5.1, 9.5.2 y 9.5.3.


Estos ltimos ensayos se efectan con la ayuda de un destornillador o una llave de ensayo
apropiada.


9.5.1 Los bornes son ensamblados con conductores de cobre, de la menor y mayor
seccin especificada en la Tabla 4, slidos o cableados, segn el caso ms desfavorable.


El conductor se introduce en el borne a la distancia mnima prescrita o bien si no se ha
prescrito ninguna distancia hasta que aparezca en la cara opuesta del borne y en la posicin
ms susceptible de permitir que el conductor slido o un hilo (o hilos) se escapen.


Los tornillos de sujecin se aprietan con un torque igual a dos tercios del valor indicado en
la columna apropiada de la Tabla 9.


Cada conductor es entonces sometido a una traccin cuyo valor se indica en la Tabla 10.

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Esta traccin se aplica, sin tirones, durante 1 min. en la direccin del eje de alojamiento del
conductor.


TABLA 10 - Fuerzas de traccin

Seccin del conductor
admitida por el borne
mm
2

Hasta 4 hasta 6 hasta 10 hasta 16 hasta 50
Traccin
N
50 60 80 90 100


Durante el ensayo, el conductor no deber moverse de forma apreciable en el borne.


9.5.2 Los bornes sern ensamblados con conductores de cobre de la menor y
mayor seccin especificadas en la Tabla 4, macizos o cableados, segn el caso que sea ms
desfavorable y los tornillos de los bornes se aprietan con un torque igual a los dos tercios
del valor indicado en la columna apropiada en la Tabla 9.


Los tornillos de los bornes se aflojan entonces y se examina la parte del conductor que
puede haber sido afectada por el borne.


Los conductores no debern mostrar daos importantes ni hilos seccionados.


NOTA: Los conductores se consideran daados de forma importante si aparecen en ellos huellas
profundas o muescas.


Durante el ensayo, los bornes no debern desajustarse y no deber constatarse ningn dao
tal como rotura de tornillos o deterioro de las ranuras de la cabeza, del roscado, de las
arandelas o estribos que perjudicaran el uso posterior del borne.


9.5.3 Los bornes sern ensamblados con un conductor de cobre rgido cableado
cuya composicin se indica en la Tabla 11.


TABLA 11 - Dimensiones del conductor

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Conductor cableado Rango de la seccin
nominal a apretar
mm
2

Nmero de hilos
Dimetro de los hilos
mm
1,0 a 2,5 *
1,0 a 4,0 *
1,5 a 6,0 *
2,5 a 10,0
4,0 a 16,0
10,0 a 25,0
16,0 a 35,0
25,0 a 50,0
7
7
7
7
7
7
19
Bajo consideracin
0,67
0,85
1,04
1,35
1,70
2,14
1,53
Bajo consideracin
* El ensayo no se efecta si el borne est destinado para apretar nicamente los conductores slidos (vase la
nota en la Tabla 4).


Antes de su insercin en el borne, los hilos del conductor se vuelven a conformar
convenientemente.


El conductor se introduce en el borne hasta que alcance el fondo del borne o que aparezca
por la cara opuesta del borne y en la posicin ms susceptible de permitir la salida de un
hilo (o hilos). El tornillo o la tuerca de apriete se aprieta entonces con un torque igual a los
dos tercios del valor indicado en la columna apropiada de la Tabla 9.


Despus del ensayo, no deber salir ningn hilo del conductor fuera del dispositivo que lo
retiene.


9.6 Verificacin de la proteccin contra los choques elctricos


Este requerimiento se aplica a las partes de los IDs que quedan accesibles al usuario
cuando se montan como para uso normal.


El ensayo se efecta con el dedo de prueba normalizado de la Figura 3 sobre el ID montado
como para uso normal (vase nota en el apartado 8.2) y equipado de conductores de la
menor y mayor seccin que puedan conectarse al ID.


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El dedo de prueba normalizado debe ser diseado de forma tal que cada una de las
secciones pueda girarse en un ngulo de 90 con relacin al eje del dedo nicamente en la
misma direccin.


El dedo de prueba normalizado se aplica en todas las posiciones posibles de un dedo real,
utilizndose un indicador de contacto elctrico para mostrar un contacto con las partes
activas.


Se recomienda utilizar una lmpara para la indicacin de un contacto, siendo la tensin de
al menos 40 V. El dedo de prueba normalizado no debe tocar las partes activas.


Los IDs con envolventes o cubiertas de material termoplstico se someten al ensayo
adicional siguiente que se efecta a una temperatura ambiente de 35 C 2 C, estando los
IDs a esta temperatura.


Los IDs se someten durante 1 min a una fuerza de 75 N aplicada mediante la extremidad de
un dedo de prueba rgido de las mismas dimensiones que el dedo de prueba normalizado.
Este dedo se aplica en todas las zonas donde un exceso de flexibilidad del material aislante
podra comprometer la seguridad del ID; no se aplica en las paredes delgadas desfondables.


Durante este ensayo, las envolventes o cubiertas no debern deformarse en tal grado que las
partes en tensin pudieran tocarse con el dedo de prueba rgido.


Los IDs abiertos que tengan partes no previstas para estar cubiertas por una envolvente, se
someten a este ensayo con un panel frontal metlico, y montados como para uso normal.








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9.7 Ensayo de las propiedades dielctricas


9.7.1 Resistencia a la humedad


9.7.1.1 Preparacin del ID para los ensayos


Las partes del ID que pueden ser removidas sin la ayuda de una herramienta se retiran y se
someten al tratamiento de humedad con la parte principal, las cubiertas con fijacin a
presin se mantienen abiertas durante este tratamiento.
Las entradas de cables, si las hay, se dejan abiertas; si existen entradas desfondables, una
de ellas se desfonda.


9.7.1.2 Condiciones de ensayo


El tratamiento de humedad se efecta en una cmara de humedad en la cual el aire tiene
una humedad relativa que se mantiene entre el 91 % y el 95 %.


La temperatura del aire, en todas las zonas donde se sita la muestra se mantiene a 1 C
prximo a un valor cualquiera conveniente T comprendido entre 20 C y 30 C.


Antes de situarse en la cmara de humedad, la muestra es llevada a una temperatura
comprendida entre la temperatura T C y T C + 4 C.


9.7.1.3 Procedimiento de ensayo


La muestra se mantiene en la cmara durante 48 h.


NOTA 1: Se puede obtener una humedad relativa comprendida entre el 91 % y el 95 % situando en la
cmara de humedad una solucin saturada de sulfato sdico (Na
2
SO
4
) o de nitrato potsico (KNO
3
) en
agua, que presente una superficie de contacto con el aire suficientemente grande.

NOTA 2: Para obtener las condiciones especificadas en el interior de la cmara, se recomienda
garantizar la circulacin permanente del aire y emplear una cmara que est trmicamente aislada.

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9.7.1.4 Condicin del ID despus del ensayo


Despus de este tratamiento, la muestra no debe presentar daos en el sentido de esta NTP
y debe satisfacer los ensayos de los apartados 9.7.2 y 9.7.3.


9.7.2 Resistencia de aislamiento del circuito principal


El ID que haya sido tratado como se especifica en el apartado 9.7.1 se retira, a
continuacin, de la cmara de humedad.


Despus de un perodo de reposo comprendido entre 30 min y 60 min posterior al
tratamiento, se mide la resistencia de aislamiento 5 s despus de haber aplicado una tensin
continua de alrededor de 500 V, sucesivamente como sigue:


a) estando el ID en posicin de apertura, entre cada par de bornes que estn
elctricamente conectados entre ellos cuando el ID se encuentre en posicin de cierre;

b) estando el ID en posicin de cierre entre cada polo y los dems polos unidos
entre s, desconectndose para el ensayo los componentes electrnicos conectados
entre los polos;

c) estando el ID en posicin de cierre, entre todos los polos unidos entre s y el
marco, incluyendo una lmina metlica en contacto con la superficie exterior de la
envolvente interna de material aislante, si la hubiera;

d) entre las partes metlicas del mecanismo y el marco;

NOTA: El acceso a las partes metlicas del mecanismo puede estar previsto especialmente para esta
medida.

e) para los IDs bajo envolvente metlica con revestimiento interior, de material
aislante, entre el marco y una lmina de metal en contacto con la superficie interior
del revestimiento interior de material aislante, incluyendo los manguitos y
dispositivos anlogos.


Las medidas a), b) y c) se efectan despus de haber conectado todos los circuitos
auxiliares al marco.

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El trmino "marco" comprende:


todas las partes metlicas accesibles y una lmina de metal en contacto con
las superficies en material aislante que estn accesibles despus de la instalacin en
las condiciones normales de uso;

la superficie sobre la cual est montada la base del ID, revestida, si es
preciso, de una lmina metlica;

los tornillos y dems dispositivos para la fijacin de la base sobre su
soporte;

los tornillos de fijacin de las cubiertas que debern retirarse para el montaje
del ID;

las partes metlicas de los medios de operacin mencionados en el apartado
8.2.


Si el ID est provisto de un borne destinado a la conexin de los conductores de proteccin,
este borne se conecta al marco.


Para las medidas segn b), c), d) y e), la lmina metlica se aplica de forma tal que el
material de relleno, si existiera, est efectivamente ensayado.


La resistencia de aislamiento no debe ser inferior a:


2 M para las medidas segn a) y b);

5 M para las dems medidas.




9.7.3 Rigidez dielctrica del circuito principal


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Despus de que el ID haya satisfecho los ensayos del apartado 9.7.2, se aplica la tensin de
ensayo especificada, durante 1 min entre las partes indicadas en el apartado 9.7.2, los
componentes electrnicos, si los hubiere, sern desconectados antes del ensayo.


La tensin de ensayo debe ser de forma prcticamente sinusoidal y su frecuencia estar
comprendida entre 45 Hz y 65 Hz.


La fuente de la tensin de ensayo debe ser capaz de suministrar una corriente de
cortocircuito de al menos 0,2 A.


Ningn dispositivo de disparo por sobrecorriente del transformador debe operar cuando la
corriente en el circuito de salida sea inferior a 100 mA.


Los valores de la tensin de ensayo debern ser los siguientes:


2 000 V para a) a d) del apartado 9.7.2,
2 500 V para e) del apartado 9.7.2.


Se empieza por aplicar una tensin que no sobrepase la mitad del valor prescrito, despus
se eleva, en menos de 5 s, a su valor pleno.


No debe producirse contorneo ni perforacin durante el ensayo.


No se tienen en cuenta descargas luminiscentes que no estn acompaadas por una cada de
tensin.



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9.7.4 Resistencia de aislamiento y rigidez dielctrica de los circuitos
auxiliares


a) Las mediciones de la resistencia de aislamiento y los ensayos de rigidez
dielctrica para los circuitos auxiliares se efectan inmediatamente despus de la
medicin de la resistencia de aislamiento y de rigidez dielctrica del circuito
principal, en las condiciones dadas seguidamente en los puntos b) y c).

Si en servicio normal, los componentes electrnicos estn conectados al circuito
principal, las conexiones temporales para los ensayos debern hacerse de forma que,
durante stos, no aparezca ninguna tensin entre las entradas y las salidas de estos
componentes.

b) Las mediciones de la resistencia de aislamiento se efectan:

entre los circuitos auxiliares conectados entre s y el marco;
entre cada parte del circuito auxiliar que pueda aislarse de las dems partes
en servicio normal y el resto de las otras partes conectadas entre s, a una tensin
continua de alrededor de 500 V, despus de que la tensin se haya aplicado
durante 1 min.

La resistencia de aislamiento no debe ser inferior a 2 M.

c) Se aplica entre las partes indicadas en el punto b) una tensin
sustancialmente senoidal, a la frecuencia nominal durante 1 min.

Los valores de tensin a utilizar se indican en la Tabla 12.


TABLA 12 - Tensiones de ensayos para circuitos auxiliares

Tensin nominal del o de los circuitos auxiliares
(alterna o continua)
V
Superior a Hasta e inclusive
Tensin de ensayo
V
0
30
50
110
250
30
50
110
250
500
600
1 000
1 500
2 000
2 500


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Al inicio del ensayo la tensin no debe sobrepasar la mitad del valor especificado. A
continuacin, se aumenta de forma continua hasta su valor total en un tiempo que no debe
ser inferior a 5 s ni superior a 20 s.


Durante el ensayo, no debe aparecer ninguna perforacin ni contorneo.


NOTA 1: No se tienen en cuenta las descargas que no correspondan a una cada de tensin.

NOTA 2: En el caso de ID en el que el circuito auxiliar no es accesible para la verificacin de los
requerimientos dados en el punto b), los ensayos debern efectuarse sobre las muestras preparadas
especialmente por el fabricante o segn sus instrucciones.

NOTA 3: Los circuitos auxiliares no comprenden los circuitos de mando de los IDs que dependan
funcionalmente de la tensin de alimentacin.

NOTA 4: Los circuitos de mando distintos de aquellos de los apartados 9.7.5 y 9.7.6 se someten a los
mismos ensayos que los circuitos auxiliares.


9.7.5 Circuito secundario de los transformadores de deteccin


El circuito que comprende el circuito secundario de un transformador de deteccin no se
somete a ningn ensayo de aislamiento por lo que no se conecta a ninguna parte metlica
accesible, conductor de proteccin o partes activas.


9.7.6 Capacidad de los circuitos de mando conectados al circuito principal
con respecto a soportar altas tensiones continuas durante las mediciones de
aislamiento


El ensayo se efecta sobre un ID montado sobre un soporte metlico, en posicin de
cerrado, estando conectados todos los circuitos de mando como en servicio.


Se utiliza una fuente de tensin CD que tenga las caractersticas siguientes:


tensin en vaco: V V 600
25
0
+
.



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NOTA: Este valor es provisional.


mximo rizado: 5 %.

Donde: 100 x
promedio valor
promedio valor - mximo valor
Rizado = .

corriente de cortocircuito mA mA 12
2
0
+
.


Esta tensin de ensayo se aplica durante 1 min sucesivamente entre cada polo y los otros
polos conectados conjuntamente a la estructura.


Despus de este tratamiento, el ID debe ser capaz de satisfacer los ensayos especificados en
el apartado 9.9.2.3.


9.8 Ensayos de calentamiento


9.8.1 Temperatura del ambiente


La temperatura del aire ambiente debe medirse durante el ltimo cuarto del perodo de
ensayo mediante, al menos, dos termmetros o termopares dispuestos simtricamente
entorno al ID a aproximadamente la mitad de su altura y a una distancia de alrededor de 1
m del ID.


Los termmetros o termopares debern protegerse contra las corrientes de aire y las
radiaciones de calor.


NOTA: Debern tomarse precauciones contra las variaciones bruscas de temperatura, a fin de evitar
errores.






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9.8.2 Procedimiento de ensayo


Se hace pasar una corriente igual a I
n
simultneamente por todos los polos del ID durante
un tiempo suficiente para alcanzar el estado de equilibrio trmico. En la prctica esta
condicin se alcanza cuando la variacin de temperatura no sobrepasa 1 K por hora.


Para los IDs tetrapolares, se efecta primeramente el ensayo haciendo pasar la corriente
nicamente por tres polos de fase.


A continuacin se repite el ensayo haciendo pasar la corriente por el polo destinado a
conectarse al neutro y el polo adyacente.


Durante los ensayos, los calentamientos no debern sobrepasar los valores indicados en la
Tabla 5.


9.8.3 Medida de la temperatura de las diferentes partes


La temperatura de las diferentes partes enumeradas en la Tabla 5 debern medirse mediante
pares termoelctricos de hilos finos o medios equivalentes, situados lo ms cerca posible
del punto ms caliente accesible.


Debe garantizarse una buena conductividad trmica entre el par termoelctrico y la
superficie de la parte bajo ensayo.


9.8.4 Calentamiento de una parte


El calentamiento de una parte es la diferencia entre la temperatura de esta parte medida de
acuerdo con el apartado 9.8.3 y la temperatura ambiente medida conforme con el apartado
9.8.1.





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9.9 Verificacin de la caracterstica de operacin


9.9.1 Circuito de ensayo


El ID se instala como para uso normal.


El circuito de ensayo debe tener una inductancia despreciable y corresponder a la Figura
4a).


Los instrumentos para la medicin de la corriente residual debern ser al menos de clase
0,5 y debern indicar (o permitir determinar) los valores eficaces reales.


Los instrumentos que se utilicen para la medicin del tiempo debern dar un error relativo
mximo sobre el valor medido que no exceda del 10 %.


9.9.2 Ensayos en vaco con corrientes residuales alternas sinusoidales a la
temperatura de referencia de 20 C 2 C


El ID debe satisfacer los ensayos de los apartados 9.9.2.1, 9.9.2.2 y 9.9.2.3 (realizndose
cinco medidas en cada uno) efectuados nicamente sobre un solo polo tomado al azar.


Para ID que tiene mltiples ajustes de la corriente residual de operacin, los ensayos son
efectuados para cada ajuste.


9.9.2.1 Verificacin de la correcta operacin en caso de un aumento sostenido
de la corriente residual


Estando cerrados los interruptores de prueba S1 y S2; as como el ID bajo ensayo, se
aumenta de manera sostenida la corriente residual, a partir de un valor no mayor de 0,2 I
n

hasta alcanzar I
n
en menos de 30 s, midindose cada vez la corriente de disparo.



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Los cinco valores medidos debern estar comprendidos entre I
no
e I
n
.


9.9.2.2 Verificacin de la correcta operacin en caso de cierre con corriente
residual


Estando el circuito de ensayo calibrado para el valor nominal de corriente residual de
operacin I
n
y estando los interruptores de ensayo S
1
y S
2
previamente cerrados, se
establece la corriente cerrando el ID de forma que se reproduzcan tan fielmente como sea
posible las condiciones de servicio. Se efectan cinco medidas del tiempo de operacin.
Ninguna medida debe sobrepasar el valor lmite especificado para I
n
en la Tabla 1, segn
el tipo de ID.


En el caso de IDs funcionalmente dependientes de la tensin de lnea, clasificados segn el
apartado 4.1.2.2 a), en los cuales el circuito de mando se alimenta del lado de la
alimentacin del circuito principal, esta verificacin no tiene en cuenta el tiempo necesario
para activar el ID. En este caso, sin embargo la verificacin se considera como efectuada
establecindose la corriente residual cerrando el interruptor S
1
, estando el ID bajo ensayo y
S
2
previamente cerrados.


9.9.2.3 Verificacin de la correcta operacin en caso de una sbita aparicin de
la corriente residual


a) Todos los tipos

Con el circuito de ensayo calibrado sucesivamente a los valores de corriente residual
especificados en la Tabla 1, estando el interruptor de ensayo S
1
y el ID en posicin de
cerrado, la corriente residual se establece bruscamente cerrando el interruptor del
ensayo S
2
.

El ID se debe disparar en cada ensayo.

Se efectan cinco mediciones del tiempo de operacin para cada valor de la corriente
residual.

Ninguno de estos valores debe sobrepasar los valores lmite especificados.

b) Ensayo adicional para el tipo S

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Con el circuito de ensayo calibrado sucesivamente a los valores de corriente residual
especificados en la Tabla 1, estando el interruptor de ensayo S
1
y el ID en posicin de
cerrado, la corriente residual se establece bruscamente cerrando el interruptor de
ensayo S
2
durante perodos correspondientes al tiempo de no - actuacin mnimos,
con una tolerancia de
0
5
%.

Cada aplicacin de la corriente residual debe estar separada de la anterior por un
intervalo de tiempo de al menos 1 min.

El ID no debe disparar en ninguno de los ensayos.

El ensayo se repite a continuacin, excepto para la corriente de ensayo de 500 A, a
las temperaturas ambientes de -5 C y + 40 C.

El ID no debe disparar en ninguno de los ensayos.


9.9.2.4 Verificacin de la correcta operacin en caso de una sbita aparicin de
corrientes residuales con valores entre 5 I
n
y 500 A


El circuito de ensayo es calibrado sucesivamente para los siguientes valores de la corriente
residual:

5 A, 10 A, 20 A, 50 A, 100 A y 200 A.


Previamente el interruptor de ensayo S
1
y el ID debern estar en la posicin cerrado, la
corriente residual es sbitamente establecida mediante el cierre del interruptor de ensayo
S
2
.


El ensayo es realizado una vez por cada valor con medicin del tiempo de apertura.


El ID debe disparar durante cada ensayo. El tiempo de apertura no debe exceder los
tiempos dados en la Tabla 1.





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9.9.3 Verificacin de la correcta operacin con carga a la temperatura de
referencia


Se repiten los ensayos de los apartados 9.9.2.2 y 9.9.2.3 cargndose el ID a su corriente
nominal como en servicio normal durante un tiempo suficiente para que las condiciones de
equilibrio trmico se alcancen.


En la prctica estas condiciones se alcanzan cuando el calentamiento no varia ms de 1 K
por hora.


Para los IDs que tengan varios ajustes de corriente residual de operacin, los ensayos se
realizan para cada valor de ajuste.


9.9.4 Ensayos a las temperaturas lmite


El ID debe satisfacer los ensayos del apartado 9.9.2.3 sucesivamente en las condiciones
siguientes:


a) temperatura ambiente: -5 C, sin carga;
b) temperatura ambiente: + 40 C, estando el aparato previamente cargado a la
corriente nominal, bajo una tensin conveniente hasta la obtencin del equilibrio
trmico.

En la prctica estas condiciones se alcanzan cuando el calentamiento no varia ms de
1 K por hora.


En el caso que los IDs tengan mltiples ajustes de la corriente residual de operacin, los
ensayos son efectuados para cada ajuste.


NOTA: El precalentamiento puede hacerse a tensin reducida, sin embargo los circuitos auxiliares
debern ser alimentados a su tensin normal de operacin (en particular para los componentes que
dependan de la tensin de lnea).



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9.9.5 Condiciones de ensayos particulares para ID funcionalmente
dependientes de la tensin de lnea


Para los IDs funcionalmente dependientes de la tensin de lnea, cada ensayo se efecta a
los valores siguientes de la tensin de lnea, aplicando a los bornes correspondientes: 1,1 y
0,85 veces el valor nominal de la tensin de lnea.


9.10 Verificacin de la endurancia mecnica y elctrica


9.10.1 Condiciones generales del ensayo


El ID se fija sobre un soporte metlico.


El ensayo se efecta bajo la tensin de operacin nominal y se regula la corriente al valor
de la corriente nominal mediante resistencias y reactancias en serie, conectadas del lado de
la carga.


Si se utilizan reactancias con ncleo de aire, se conecta en paralelo a cada una de ellas una
resistencia que absorba aproximadamente el 0,6 % de la corriente que pasa por la
inductancia.


Si se utilizan reactancias con ncleo de hierro, las prdidas de potencia en el hierro de estas
reactancias no debern tener una influencia apreciable sobre la tensin de restablecimiento.


La corriente debe tener una forma prcticamente sinusoidal y el factor de potencia debe
estar comprendido entre 0,85 y 0,9.


El ID se conecta al circuito mediante los conductores de dimensiones indicadas en la Tabla
8.



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9.10.2 Procedimiento de ensayo


Los IDs que tengan un I
n
> 0,010 A se someten a 2 000 ciclos de operacin, cada ciclo
consiste de una operacin de cierre seguida de una operacin de apertura.


El ID debe ser operado como para uso normal.


Las operaciones de apertura debern efectuarse de la forma siguiente:


para los 1 000 primeros ciclos de operacin utilizando medios de operacin
manual;

para los 500 ciclos de operacin siguientes usando el dispositivo de prueba;

para los 500 ltimos ciclos de operacin haciendo circular una corriente
residual de operacin a su valor I
n
en un polo.


Para los IDs que tengan un I
n
0,010 A, el nmero de maniobras debe ser
respectivamente 500, 750, 750.


Adems, el ID se somete sin carga mediante los medios de operacin manual, a:


2 000 ciclos de operacin para los IDs que tengan una corriente nominal I
n

25 A;

1 000 ciclos de operacin para los IDs que tengan una corriente nominal I
n
>
25 A.

La frecuencia de maniobra debe ser:

cuatro ciclos de operacin por minuto para los IDs de I
n
25 A, siendo la
duracin de cierre de 1,5 s a 2 s.

dos ciclos de operacin por minuto para los IDs de I
n
> 25 A, siendo la
duracin de cierre de 1,5 s a 2 s.

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NOTA: Para los IDs que tiene mltiples ajustes los ensayo son efectuados al valor de ajuste menor.


9.10.3 Estado del ID despus de los ensayos


Despus de los ensayos del apartado 9.10.2, el ID no debe presentar:


desgaste anormal;

daos en la envolvente que permitan tocar las partes activas con el dedo de
prueba normalizado;

aflojamientos de las conexiones elctricas o uniones mecnicas;

derrame del material de relleno, si lo hubiera.


En las condiciones de ensayo del apartado 9.9.2.3 a) el ID debe disparar con una corriente
de ensayo de 1,25 I
n
.


Se efecta un slo ensayo con medida del tiempo de operacin: este ltimo no debe
exceder el valor indicado en la Tabla 1 para I
n
.


El ID debe satisfacer entonces el ensayo de rigidez dielctrica como se especifica en el
apartado 9.7.3, pero a una tensin igual a la nominal durante 1 min, sin embargo no debe
ser menor de 900 V y sin tratamiento previo de la humedad.


9.11 Verificacin del comportamiento de los IDs bajo condiciones de
cortocircuito


9.11.1 Lista de ensayos de cortocircuito


Los diversos ensayos destinados a verificar el comportamiento de los IDs en las
condiciones de cortocircuito se indican en la Tabla 13.


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TABLA 13 - Ensayos a efectuar para verificar el comportamiento de los IDs bajo las
condiciones de cortocircuito


Verificacin de Apartado
Poder de corte y de cierre asignado I
m

Poder de corte y de cierre diferencial nominal I
m

Coordinacin a la corriente condicional de cortocircuito nominal I
nc

Coordinacin al poder de corte y de cierre nominal I
m

Coordinacin a la corriente residual condicional de cortocircuito
nominal I
c

9.11.2.2
9.11.2.3
9.11.2.4 a)
9.11.2.4 b)
9.11.2.4 c)



9.11.2 Ensayos de cortocircuito


9.11.2.1 Condiciones generales para el ensayo


Las condiciones del apartado 9.11.2 son aplicables para todos los ensayos destinados a
verificar el comportamiento de los IDs en las condiciones de cortocircuito.


NOTA: Para los IDs que tienen ajustes mltiples, los ensayos son efectuados al menor valor ajuste.


a) Circuito de ensayo

Las Figuras 5, 6, 7, 8 y 9 respectivamente presentan los diagramas de los circuitos a
utilizar para los ensayos concernientes:


un ID unipolar, con dos vas de corriente;

un ID bipolar;

un ID tripolar;

un ID tripolar con cuatro vas de corriente;

un ID tetrapolar.


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La fuente S alimenta un circuito que comprende resistencias R, bobinas de inductancia L,
el dispositivo de proteccin contra cortocircuitos - SCPD (si lo hubiera) (vase el apartado
3.4.8), el ID bajo ensayo (D) y las resistencias adicionales R
2
y/o R
3
, segn sea el caso.


Los valores de las resistencias y de las bobinas de inductancia del circuito de ensayo
debern ser ajustados para satisfacer las condiciones especificadas en el ensayo.


Las reactancias L debern ser con ncleo de aire. Debern estar situadas en serie con las
resistencias R y su valor debe obtenerse mediante el acoplamiento en serie de reactancias
individuales; se admite la conexin en paralelo de las reactancias cuando stas tienen
prcticamente la misma constante de tiempo.


Dado que las caractersticas de la tensin transitoria de restablecimiento del circuito de
ensayo que comprende reactancias grandes con ncleo de aire, no corresponden a las
condiciones habituales de servicio, la reactancia con ncleo de cada fase debe estar "puesta
en paralelo" con una resistencia que absorba alrededor del 0,6 % de la corriente que
atraviesa la reactancia, a menos que se acuerde lo contrario entre el fabricante y el usuario.


En cada uno de los circuitos de ensayo, las resistencias R y las reactancias de inductancia L
estn conectadas entre la fuente de alimentacin S y el ID.


El dispositivo de proteccin contra cortocircuitos - SCPD o la impedancia equivalente
(vanse los apartados 9.11.2.2 a) y 9.11.2.3 a)) est situada entre las resistencias R y el ID.


Cuando se utilicen las resistencias adicionales R
3
, debern conectarse en el lado de carga
del ID.


Para los ensayos de los apartados 9.11.2.4 a) y c), el ID debe conectarse a cables de 0,75 m
de longitud por polo y de una seccin mxima que corresponda a la corriente nominal,
conforme con la Tabla 4.


NOTA: Est recomendado conectar 0,5 m en el lado de alimentacin y 0,25 m en el lado de carga del
ID.



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El esquema del circuito de ensayo debe indicarse en el reporte del ensayo. Ha de estar
conforme con la figura pertinente.


Debe existir un nico punto del circuito de ensayo conectado directamente a tierra; ste
puede ser la conexin de cortocircuito del circuito de ensayo o el punto neutro de la fuente
o cualquier otro punto conveniente. La forma en la que se efecta la puesta a tierra debe
estar indicada en el reporte de ensayo.


R
2
, convenientemente calibrada, es una resistencia utilizada para obtener una de las
corrientes siguientes:


una corriente residual de 10 I
n
de forma que se provoque la operacin del
ID dentro del tiempo de operacin apropiado ms corto especificado en la Tabla 1;

la corriente de corte y de cierre diferencial nominal I
m
;

la corriente residual condicional de cortocircuito nominal I
c
.


S
1
es un interruptor auxiliar.


Debern realizarse ensayos con el fin de verificar los valores mnimos del I
2
t e Ip que ha de
soportar un ID dados en la Tabla 15. La funcin del dispositivo de proteccin contra
cortocircuitos - SCPD, si existiera, ser realizada por un hilo de plata o por un fusible (tal
como es propuesto en el Anexo IF) o por cualquier otro medio.


Para el propsito de este ensayo, la verificacin de la correcta seleccin y ajuste del
dispositivo de proteccin contra cortocircuitos - SCPD (I
2
t e Ip) es efectuada antes del
ensayo, el ID ser reemplazado por una conexin temporal que tiene una impedancia
despreciable.


Los valores mnimos de la energa especifica pasante I
2
t y de la corriente pico Ip, basados
en una ngulo elctrico de 45 son dados en la Tabla 15.



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Sin un acuerdo con el fabricante, estos valores no debern ser mayores que 1,1 veces los
valores dados en la Tabla 15.


TABLA 15 - Valores mnimos de I
2
t y I p



I
n

A
I
nc
y
I
c

A

16 20 25 32 40 63 80 100 125
500
Ip (kA)
I
2
t (kA
2
s)
0,45
0,4
0,47
0,45
0,5
0,53
0,57
0,68

1 000
Ip (kA)
I
2
t (kA
2
s)
0,65
0,50
0,75
0,9
0,9
1,5
1,18
2,7

1 500
Ip (kA)
I
2
t (kA
2
s)
1,02
1
1,1
1,5
1,25
2,4
1,5
4,1
1,9
9,75
2,1
22

3 000
Ip (kA)
I
2
t (kA
2
s)
1,1
1,2
1,2
1,8
1,4
2,7
1,85
4,5
2,35
8,7
3,3
22,5
3,5
26
3,8
42
3,95
72,5
4 500
Ip (kA)
I
2
t (kA
2
s)
1,15
1,45
1,3
2,1
1,5
3,1
2,05
5,0
2,7
9,7
3,9
28
4,3
31
4,8
45
5,6
82
6 000
Ip (kA)
I
2
t (kA
2
s)
1,3
1,6
1,4
2,4
1,7
3,7
2,3
6,0
3
11,5
4,05
25
4,7
31
5,3
48
5,8
65,0
10 000
Ip (kA)
I
2
t (kA
2
s)
1,45
1,9
1,8
2,7
2,2
4
2,6
6,5
3,4
12
4,3
24
5,1
31
6
48
6,4
60,0


NOTA: Puede utilizarse valores superiores de I
2
t e Ip, de acuerdo al requerimiento del fabricante.

Para los valores intermedios de las corrientes de cortocircuito de ensayo, se debe aplicar la corriente
de cortocircuito inmediata superior.


La verificacin de los valores I
2
t mnimo e Ip no es necesaria, si el fabricante ha declarado para los
IDs los valores mayor as como los mnimos, en cuyo caso los valores declarados debern ser
verificados.


La verificacin de los valores mnimos para I
2
t e Ip no es necesaria si el fabricante ha
declarado los valores superiores a los mnimos para el ID, en este caso debern verificarse
los valores declarados.


Para la coordinacin con los interruptores automticos, son necesarios los ensayos con esta
combinacin.


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Todas las partes conductivas del ID normalmente conectadas a tierra en servicio, incluido
el soporte metlico sobre el cual se fija el ID o cualquier envolvente metlica (vase el
apartado 9.11.2.1 f)) debern estar conectados al punto neutro de la fuente o a un neutro
artificial prcticamente no inductivo que permita una corriente de falla esperada de al
menos 100 A.


Esta conexin debe comprender un hilo de cobre F de 0,1 mm de dimetro y de longitud
como mnimo igual a 50 mm para detectar la corriente de falla y, si es necesario, una
resistencia R
1
que limite el valor de la corriente de falla esperada alrededor de 100 A.


Los sensores de corriente O
1
estn conectados en el lado de carga del ID.


Los sensores de tensin O
2
estn conectados:


entre los bornes del polo, para los IDs unipolares;
entre los bornes de alimentacin, para los IDs multipolares.


Salvo indicacin contraria que figure en el reporte de ensayos, la resistencia de los circuitos
de medida debe ser como mnimo de 100 por voltio de la tensin de restablecimiento a
frecuencia industrial.


Los IDs funcionalmente dependientes de la tensin de alimentacin, son alimentados en el
lado de lnea con la tensin nominal (o bien, si es necesario, con una tensin que tenga el
valor ms pequeo del rango de las tensiones nominales).


En el caso de los IDs conformes con el apartado 4.1.2.1, con el fin de poder realizar las
operaciones de corte, es necesario, ya sea situar el dispositivo T estableciendo el
cortocircuito en el lado de carga del ID, o bien introducir un dispositivo adicional en esa
posicin para establecer el cortocircuito.


b) Tolerancias en las magnitudes de ensayo



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Todos los ensayos concernientes a la verificacin del poder de corte y de cierre nominal y
la verificacin de la coordinacin correcta entre el ID y el dispositivo de proteccin contra
cortocircuitos SCPD debern efectuarse a los valores de las magnitudes y factores de
influencia fijados por el fabricante, de acuerdo con la Tabla 1 de esta norma, a menos que
se especifiquen de otro modo.


Los ensayos se consideran como vlidos si los valores que figuran en el reporte de ensayos
estn comprendidos dentro de las siguientes tolerancias para los valores especificados:


Corriente: %
5
0
+
;
Frecuencia: vase el apartado 9.2;
Factor de potencia:

0
05 , 0
;
Tensin (incluida la tensin de restablecimiento): 5%.


c) Factor de potencia del circuito de ensayo


El factor de potencia de cada fase del circuito de ensayo debe determinarse por un mtodo
reconocido que debe indicarse en el reporte de ensayo.


En el anexo IA se dan dos ejemplos.


El factor de potencia de un circuito polifsico se considera como el valor medio de los
factores de potencia de cada fase.


Los valores del factor de potencia debern estar de acuerdo con la Tabla 16.

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TABLA 16 - Factores de potencia para los ensayos de cortocircuito

Corriente de cortocircuito (I
c
)
A
Factor de potencia
Ic 500
500 < Ic 1 500
1 500 < Ic 3 000
3 000 < Ic 4 500
4 500 < Ic 6 000
6 000 < Ic 10 000
10 000 < Ic 25 000
0,95 a 1,00
0,93 a 0,98
0,85 a 0,90
0,75 a 0,80
0,65 a 0,70
0,45 a 0,50
0,20 a 0,25


d) Tensin de restablecimiento a frecuencia industrial


El valor de la tensin de restablecimiento a frecuencia industrial debe ser igual a un valor
que corresponda al 105 % de la tensin nominal del ID bajo ensayo.


NOTA: El valor del 105 % de la tensin nominal est destinado a cubrir los efectos de variacin del
sistema de tensin en las condiciones de servicio normales. El lmite superior puede aumentarse
despus de un acuerdo con el fabricante.


Despus de cada extincin del arco, la tensin de restablecimiento a frecuencia industrial
debe mantenerse durante por no menos que 0,1 s.


e) Calibracin del circuito de ensayo


El ID y el dispositivo de proteccin contra cortocircuitos SCPD, en caso necesario, se
sustituyen por conexiones temporales G
1
de impedancia despreciable comparada con
aquella del circuito de ensayo.


Para el ensayo del apartado 9.11.2.4 a), los bornes del lado de la carga del ID estn
cortocircuitados mediante conexiones G
2
de impedancia despreciable, las resistencias R y
las reactancias L se regulan de forma que se obtenga, a la tensin de ensayo, una corriente
igual a la corriente condicional de cortocircuito nominal al factor de potencia prescrito; el

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circuito de ensayo se alimenta simultneamente en todos los polos y la curva de corriente
se registra con un sensor de corriente O
1
.


Adems, para los ensayos de los apartados 9.11.2.2, 9.11.2.3, 9.11.2.4 b) y c), se utilizan,
cuando sea necesario, las resistencias adicionales R
2
y/o R
3
, de forma que se obtengan los
valores de corriente de ensayo requeridos(I
m
, I
m
e I
c
respectivamente).


f) Condicin del ID para los ensayos


Los IDs debern ser ensayados al aire libre de acuerdo con el punto f1) de este apartado,
salvo si estn diseados solamente para la utilizacin en envolventes especificadas por el
fabricante o estn previstos solamente para la utilizacin en envolventes individuales; en
cualquier caso debern ser ensayados segn el punto f2) de este apartado, o con la
conformidad del fabricante, segn el punto f1) de este apartado.


NOTA: Una envolvente individual es una envolvente diseada para no recibir ms que un nico
aparato.


El ID debe maniobrarse con la mayor semejanza posible a la operacin normal.


f1) Ensayo al aire libre


El ID a ensayar es instalado como se muestra en la Figura C.1 del anexo C.


La lmina de polietileno y el tabique de material aislante especificados en el anexo C se
sitan, como se muestra en la Figura C.1 solamente para las operaciones de apertura (O).


La o las rejillas especificadas en el anexo C debern estar situadas de tal manera que el
volumen de los gases ionizados emitidos las atraviesen. Las rejillas debern estar situadas
en las posiciones ms desfavorables.


NOTA 1: Si la posicin de los orificios de salida no es evidente, o si no hay estos orificios, el
fabricante debe suministrar la informacin apropiada.

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El o los circuitos de rejilla (vase la Figura C.3) debern estar conectados a los puntos B y
C conforme a los diagramas del circuito de ensayo de las Figuras 5 a 9.


La resistencia R' debe tener un valor de 1,5 . El hilo de cobre F' (vase la Figura C.3)
debe tener una longitud de 50 mm y un dimetro de 0,12 mm para los IDs de tensin
nominal 230 V y de dimetro 0,16 mm para los IDs de tensin nominal 400 V.


NOTA 2: Los valores para las dems tensiones estn bajo consideracin.


Para las corrientes de ensayo hasta 1 500 A inclusive, la distancia "a" debe ser de 35 mm.


Para las corrientes de ensayo ms elevadas hasta I
nc
, puede incrementarse la distancia "a"
y/o pueden introducirse barreras o medios de aislamiento adicionales segn las
indicaciones del fabricante; si se aumenta "a", sta se elige en la serie 40 mm - 45 mm - 50
mm - 55 mm - ... mm y el fabricante la declara.


f2) Ensayos en envolventes


La rejilla y la barrera de material aislante mostrados en la Figura C.1 son omitidas.


El ensayo debe realizarse, estando el ID instalado en la envolvente que tenga la disposicin
constructiva ms desfavorable y situado en las condiciones ms desfavorables.


NOTA: Esto significa que si otros ID (u otros aparatos) estn normalmente instalados en la o las
direcciones donde estaran situadas las rejillas, stos debern ser instalados all. Estos ID (u otros
aparatos) debern alimentarse como para uso normal, pero a travs de F' y R' como se define en el
punto f1) de este prrafo, y conectados como se muestra en las correspondientes Figuras de 5 a 9.


De acuerdo con las instrucciones del fabricante, las barreras u otros medios o las distancias
de aislamiento apropiadas, pueden ser necesarias para impedir que los gases ionizados
afecten la instalacin.



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La lmina de polietileno descrita en el anexo C est situada como lo muestra la Figura C.1,
a una distancia de 10 mm de los medios de operacin, y nicamente para las operaciones
"O".


g) Secuencia de operaciones


El procedimiento de ensayo consiste en una secuencia de operaciones.


Los smbolos siguientes se utilizan para definir la secuencia de operaciones.


O: representa una operacin de apertura, establecindose el cortocircuito
mediante el interruptor T con el ID y el dispositivo de proteccin contra
cortocircuitos - SCPD, si lo hay, en la posicin de cerrado;

CO: representa una operacin de cierre del ID, estando el interruptor T y el
dispositivo de proteccin contra cortocircuitos - SCPD, si lo hubiera, en
posicin de cerrado, seguido por una apertura automtica (en el caso de un
dispositivo de proteccin contra cortocircuitos - SCPD vase el apartado
9.11.2.4);

t: representa el intervalo de tiempo entre dos operaciones sucesivas de
cortocircuito, debe ser de 3 min o de una duracin tal como la requerida para
el rearme o la sustitucin del dispositivo de proteccin contra cortocircuitos
- SCPD, si lo hubiera.

h) Comportamiento del ID durante los ensayos.


Durante los ensayos, el ID no debe poner en peligro al operario.


Adems, no debe producirse ningn arco permanente ni contorneo entre los polos o entre
los polos y las partes conductoras expuestas, ni fusin del fusible F, intercalado en el
circuito de tierra, ni la fusin del fusible F' si es aplicable.


i) Estado del ID despus de los ensayos.


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Despus de cada uno de los ensayos aplicables efectuados segn los apartados 9.11.2.2,
9.11.2.3, 9.11.2.4 a), 9.11.2.4 b) y 9.11.2.4 c), el ID no debe presentar ningn deterioro
susceptible de comprometer su empleo posterior y debe ser capaz, sin mantenimiento, de:


cumplir los requerimientos del apartado 9.7.3 pero a una tensin igual a dos
veces la tensin nominal, durante 1 min, sin tratamiento previo de la humedad;

establecer y cerrar su corriente nominal bajo su tensin nominal.


En las condiciones de ensayo del apartado 9.9.2.3 a) el ID debe disparar con una corriente
de ensayo de 1,25 I
n
. Se efecta un slo ensayo en un polo tomado al azar, sin medida del
tiempo de operacin.


La lmina de polietileno no debe presentar ninguna perforacin con visin normal o
corregida sin ampliacin adicional.


Adems, los IDs funcionalmente dependientes de la tensin de alimentacin debern poder
satisfacer los ensayos del apartado 9.17, si son aplicables.


9.11.2.2 Verificacin del poder de cierre y de corte nominal (I
m
)


Este ensayo est destinado a verificar la aptitud del ID para establecer, soportar durante un
tiempo especificado y cortar las corrientes de cortocircuito cuando una corriente residual
provoca la operacin del ID.


a) Condiciones de ensayo


El ID es ensayado en un circuito de acuerdo a las condiciones generales de ensayo descritas
en el apartado 9.11.2.1 sin la introduccin de un dispositivo de proteccin contra
cortocircuitos SCPD en el circuito.



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Las conexiones G
1
de impedancia despreciable se sustituyen por el ID y por las conexiones
que tengan aproximadamente la misma impedancia que el dispositivo de proteccin contra
cortocircuitos SCPD.


El interruptor auxiliar S
1
permanece cerrado.


b) Procedimiento de ensayo


La secuencia de maniobra siguiente se efecta con una corriente residual de operacin de
10 I
n
que circula a travs del interruptor S
1
y la resistencia R
2
:


CO - t - CO - t CO


9.11.2.3 Verificacin del poder de corte y de cierre diferencial nominal (I
m
)


Este ensayo est destinado a verificar la aptitud del ID para establecer, soportar durante un
tiempo especificado y cortar las corrientes residuales de cortocircuito.


a) Condiciones de ensayo


El ID debe ensayarse segn las condiciones de ensayo especificadas en el apartado
9.11.2.1, sin dispositivo de proteccin contra cortocircuitos - SCPD intercalado en el
circuito, pero estando conectado de tal manera que la corriente de cortocircuito sea una
corriente residual.


Para este ensayo, las resistencias R
3
no se utilizan, dejndose abierto el circuito.


Las vas de corriente que no estn sometidas a la corriente de cortocircuito diferencial se
conectan, a la tensin de alimentacin, en sus bornes.



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Las conexiones G
1
de impedancia despreciable se sustituyen por el ID y por las conexiones
que tengan aproximadamente la misma impedancia que el dispositivo de proteccin contra
cortocircuitos - SCPD.


El interruptor auxiliar S
1
permanece cerrado.


El ensayo se efecta sobre cada polo consecutivamente a excepcin del polo del neutro
cortado si lo hubiera.


b) Procedimiento de ensayo


Se aplica la secuencia de ensayo siguiente:


O - t - CO - t CO


Para la operacin de corte, el interruptor auxiliar T se sincroniza con referencia a la onda
de tensin, de forma que el punto de inicio del arco sea 45 5. El mismo polo debe
utilizarse como referencia a fin de sincronizar las diferentes muestras.


9.11.2.4 Verificacin de la coordinacin entre el ID y el dispositivo de proteccin
contra cortocircuitos - SCPD


Estos ensayos estn destinados a verificar que el ID protegido por el dispositivo de
proteccin contra cortocircuitos SCPD es capaz de soportar sin dao las corrientes de
cortocircuito hasta su corriente condicional de cortocircuito nominal (vase el apartado
6.3.10).


La corriente de cortocircuito es interrumpida por la asociacin del ID y del dispositivo de
proteccin contra cortocircuitos SCPD.



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Durante el ensayo pueden funcionar ya sea el ID y el dispositivo de proteccin contra
cortocircuitos SCPD, o bien slo el dispositivo de proteccin contra cortocircuitos - SCPD.
De todas formas si solamente se abre el ID, el ensayo tambin se considera satisfactorio.


El dispositivo de proteccin contra cortocircuitos - SCPD se sustituye o se rearma segn el
caso despus de cada operacin.


Los ensayos siguientes se efectan (vase tambin la Tabla 13) bajo las condiciones
generales del apartado 9.11.2.1:


Un ensayo (vase el apartado 9.11.2.4 a)) para verificar que a la corriente
condicional de cortocircuito nominal I
nc
, el dispositivo de proteccin contra
cortocircuitos - SCPD protege el ID.


El ensayo se efecta en ausencia de toda corriente residual.


Un ensayo (vase el apartado 9.11.2.4 b)) para verificar que, a las corrientes
de cortocircuito de valor correspondiente al poder de corte y de cierre nominal I
m
,
el dispositivo de proteccin contra cortocircuitos - SCPD funciona y protege el ID.


El ensayo se efecta en ausencia de cualquier corriente residual.


Un ensayo (vase el apartado 9.11.2.4 c)) para verificar que en caso de
cortocircuitos fase tierra, con corrientes hasta el valor de corriente residual
condicional de cortocircuito nominal I
dc
, el ID es capaz de soportar los esfuerzos
correspondientes.


Para las operaciones de corte, el interruptor auxiliar T se sincroniza en relacin con la onda
de tensin de forma que el punto de inicio de un polo sea 45 5. El mismo polo debe
utilizarse como referencia a fin de sincronizar las diferentes muestras.


a) Verificacin de la coordinacin a la corriente condicional de cortocircuito
nominal (I
nc
)

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1) Condiciones de ensayo

Las conexiones G
1
de impedancia despreciable se sustituyen por el ID y por
el dispositivo de proteccin contra cortocircuitos - SCPD.

El interruptor auxiliar S
1
permanece abierto: no se establece corriente
residual.

2) Procedimiento de ensayo

Se aplica la siguiente secuencia de ensayo:

O - t - CO

b) Verificacin de la coordinacin al poder de corte y de cierre nominal I
m


1) Condiciones de ensayo

Las conexiones G
1
de impedancia despreciable se reemplazan por el ID y
por el dispositivo de proteccin contra los cortocircuitos SCPD.

El interruptor auxiliar S
1
permanece abierto: no se establece corriente
residual.

2) Procedimiento de ensayo


La secuencia de operaciones a efectuar es la siguiente:

O - t - CO - t - CO

c) Verificacin de la coordinacin a la corriente residual de cortocircuito
condicional nominal (I
c
)

1) Condiciones de ensayo

El ID debe ensayarse segn las condiciones fijadas en el apartado 9.11.2.1, pero
debe conectarse de tal manera que la corriente de cortocircuito sea una corriente
residual.

El ensayo se efecta nicamente en un polo que no debe ser el neutro
seccionable del ID.

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Las vas de corriente por los que no circula la corriente residual de cortocircuito se
conectan a la fuente de alimentacin por sus bornes de entrada.

Las conexiones G
1
de impedancia despreciable se sustituyen por el ID y por el
dispositivo de proteccin contra cortocircuitos - SCPD.

El interruptor auxiliar S
1
permanece cerrado.

2) Procedimiento de ensayo

La secuencia de operaciones a efectuar es la siguiente:

O - t - CO - t - CO


9.12 Verificacin de la resistencia a las vibraciones e impactos mecnicos


9.12.1 Vibracin mecnica


9.12.1.1 Aparato de ensayo


El ID se somete a choques mecnicos utilizando el aparato representado en la Figura 11. Se
fija una base de madera A sobre un bloque de hormign y se articula una plataforma de
madera B mediante una bisagra sobre A. Esta plataforma lleva una placa de madera C que
puede fijarse a diferentes distancias de la bisagra y en dos posiciones verticales. La
extremidad de B lleva una placa de tope metlico D que reposa sobre un resorte helicoidal
que tiene una constante de flexin de 25 N/mm.


El ID se fija sobre C de forma tal que la distancia entre el eje horizontal de la muestra y B
sea de 180 mm, estando C fija a su vez de forma que la distancia entre la superficie de
fijacin y la bisagra sea de 200 mm como lo indica la figura.


Sobre C, a la superficie opuesta de fijacin del ID, se fija una masa adicional de tal manera
que la fuerza esttica sobre D sea de 25 N a fin de que se asegure que el momento de
inercia del sistema completo sea prcticamente constante.



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9.12.1.2 Procedimiento de ensayo


Estando el ID en la posicin cerrado, pero sin estar conectado a ninguna fuente de
alimentacin, la plataforma se levanta por su extremo libre y a continuacin se la deja caer
50 veces desde una altura de 40 mm, siendo el intervalo de tiempo entre las cadas
sucesivas tal que la muestra vuelve al reposo.


El ID es asegurado en el lado opuesto de C y B y se deja caer de nuevo 50 veces como
antes. Despus de este ensayo, se hace girar la plataforma C 90 alrededor de su eje vertical
y, si es necesario, se regula de nuevo su posicin de forma que el eje vertical de simetra
del ID est a 200 mm de la bisagra.


A continuacin la plataforma se deja caer 50 veces como en el caso anterior, estando el ID
en un lado de C, y otras 50 veces con el ID del lado contrario.


Antes de cada cambio de posicin, el ID se abre y se cierra con la mano.


El ID no debe abrirse durante los ensayos.


9.12.2 Choques mecnicos


El cumplimiento se verifica sobre las partes accesibles del ID, montado como para las
condiciones normales de uso (vase nota en el apartado 8.2), que pueden estar sometidas a
choques mecnicos durante su uso normal, por el ensayo del apartado 9.12.2.1 para todos
los tipos de ID y adems para los ensayos de los apartados:


9.12.2.2, para los IDs previstos para ser montados sobre rieles;
9.12.2.3, para los IDs tipo enchufable.


NOTA: Los IDs destinados a funcionar exclusivamente encerrados bajo envolvente no se someten a
este ensayo.



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9.12.2.1 Las muestras se someten a choques mediante el aparato de ensayo de
impacto tal como es mostrado en las Figuras 12 a 14.


La cabeza de la pieza de golpeo tiene una superficie semiesfrica de 10 mm de radio, de
poliamida de dureza Rockwell HR 100. La pieza de impacto tiene una masa de 150 g 1 g
y est sujeta rgidamente al extremo inferior de un tubo de acero de 9 mm de dimetro
exterior y de 0,5 mm de espesor de pared que gira alrededor de su extremo superior de
manera que oscile nicamente en un plano vertical.


El eje de giro est a 1 000 mm 1 mm por encima del eje de la pieza de impacto.


Para determinar la dureza Rockwell de la pieza de impacto de poliamida, se tienen en
cuenta las condiciones siguientes:


dimetro de la bola: 12,7 mm 0,0025 mm;
carga inicial: 100 N 2 N;
carga adicional: 500 N 2,5 N.


NOTA: En la publicacin ASTM D 785-65 (1970) se dan requisitos complementarios que conciernen
al establecimiento de la dureza Rockwell de los materiales plsticos.


El diseo del aparato de ensayo es tal que es necesario ejercer una fuerza entre 1,9 N y 2,0
N sobre la superficie de la pieza de golpeo para mantener el tubo en posicin horizontal.


Los IDs para montaje superficial estarn montados sobre una placa de madera
contraplacada de 8 mm de espesor, de forma cuadrada de 175 mm de lado, fijada por sus
bordes superiores a una consola rgida que forma parte del soporte de montaje indicado en
la Figura 14.


Este soporte debe tener una masa de 10 kg 1 kg y debe montarse sobre un chasis rgido
mediante pivotes. Este chasis se fija a una pared maciza.


Los IDs de tipo empotrable se montan en un dispositivo, como se indica en la Figura 15,
que se fija al soporte de montaje.

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Los IDs para montaje en panel se montan en un dispositivo, como se indica en la Figura 16,
que se fija al soporte de montaje.


Los IDs enchufables se montan sobre sus bases apropiadas, las que son fijadas sobre la
placa de madera contraplacada o en los dispositivos segn la Figura 15 16, segn sea el
caso.


Los IDs destinados a fijarse sobre un rail debern montarse sobre el riel apropiado que se
fijara rgidamente sobre el soporte de montaje.


El diseo del aparato de ensayo es tal que:


la muestra puede ser desplazada horizontalmente y puede girar alrededor de
un eje perpendicular a la superficie de la madera contraplacada;

la madera contraplacada puede girar alrededor de un eje vertical.


El ID, con sus cubiertas si las hubiera, se monta como para uso normal sobre la madera
contraplacada o sobre el dispositivo apropiado, segn sea el caso, de tal manera que el
punto de impacto se encuentre en el plano vertical que contenga el eje de rotacin del
pndulo.


Las entradas de cables que no estn provistas con agujeros desfondables se dejan abiertas.
Si son provistos con agujeros desfondables, dos de ellos se abren.


Antes de aplicar los golpes, los tornillos de fijacin de las bases, de las cubiertas y anlogos
se aprietan con un par igual a los 2/3 de aquel especificado en la Tabla 9.


Se deja caer la pieza de impacto desde una altura de 10 cm, sobre las superficies que
quedan accesibles cuando el ID se monta en las condiciones normales de uso.


La altura de cada es la distancia vertical entre la posicin del punto de control, en el
momento en que se libera el pndulo, y la posicin de este punto en el momento del

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PERUANA 95 de 177




impacto. El punto de control se seala sobre la superficie de la pieza de impacto donde la
lnea que pasa por el punto de interseccin de los ejes del tubo de acero del pndulo y de la
pieza de golpeo, perpendicular al plano que atraviesa los dos ejes, entra en contacto con la
superficie.


NOTA: En teora, el centro de gravedad de la pieza de golpeo debera ser el punto de control. Como
es difcil determinar el centro de gravedad, se ha seleccionado el punto de control como se ha
descrito arriba.


Se aplican a cada ID 10 golpes, incidiendo dos de ellos en el medio de operacin y los
dems regularmente distribuidos sobre las partes de la muestra que puedan estar sometidas
a golpes.


Los golpes no se aplican a las tapas de los agujeros desfondables o a cualquier abertura
cubierta de un material transparente.


En general, se aplica un golpe sobre cada cara lateral de la muestra despus de hacerla girar
alrededor de un eje vertical, tanto como sea posible, pero no ms de 60 y los otros dos
golpes, en puntos aproximadamente equidistantes entre los de una superficie lateral y los de
los medios de operacin.


Los otros golpes se aplican de la misma forma despus de que se haya hecho girar la
muestra 90 alrededor de su eje perpendicular a la madera contraplacada.


Si existen entradas de cables o entradas desfondables, la muestra se monta de forma que las
dos lneas de golpes estn dispuestas en lo posible a igual distancia de estos orificios.


Los dos golpes sobre los medios de operacin debern aplicarse, uno estando los medios de
operacin en la posicin "cerrado" y el otro estando los medios de operacin en la posicin
"abierto".


Despus del ensayo las muestras no debern presentar ningn dao en el sentido de esta
norma. En particular, las cubiertas que en caso de romperse dejaran que partes activas
fuesen accesibles o perjudicaran la utilizacin posterior del ID, los medios de operacin,

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PERUANA 96 de 177




los revestimientos o separaciones de material aislante y anlogos no debern presentar
daos de tal clase.

En caso de duda, se verifica que es posible el desmontaje y la sustitucin de las partes
externas, tales como envolventes o cubiertas, sin daar dichas partes ni su revestimiento.


NOTA: No se consideran, un deterioro del acabado, abolladuras dbiles que no reduzcan las lneas
de fuga o las distancias de aislamiento en el aire por debajo de los valores especificados en el
apartado 8.1.3 y pequeas fisuras que no ponen en evidencia la proteccin contra los choques
elctricos.


En el ensayo de los IDs destinados a fijarse mediante tornillos o bien sobre un riel, el
ensayo se efecta sobre dos lotes de ID, estando uno de ellos fijado mediante tornillos, y el
otro montado sobre un riel.


9.12.2.2 Los IDs destinados a montarse sobre riel se montan como para uso normal
sobre un riel fijado rgidamente sobre una pared rgida vertical, sin cables conectados y sin
cubiertas o placas de recubrimiento.


Se aplica una fuerza vertical hacia abajo de 50 N sin sacudidas durante 1 min sobre la
superficie delantera del ID, y seguida inmediatamente de una fuerza vertical hacia arriba de
50 N durante 1 min (Figura 17).


Durante este ensayo, el ID no debe tomar holgura y despus del ensayo, el ID no debe
presentar daos que puedan afectar su uso posterior.


9.12.2.3 ID de tipo enchufable


NOTA: Estn bajo consideracin ensayos adicionales.



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9.13 Verificacin de resistencia al calor


9.13.1 Las muestras, sin cubiertas removibles, si las hubiera, se mantienen durante
1 h en una estufa a una temperatura de 100 C 2 C, las cubiertas removibles, si las
hubiera, se mantienen durante 1 h en la estufa a una temperatura de 70 C 2 C.


Durante el ensayo, las muestras no debern sufrir ninguna modificacin que dificulte su
empleo posterior, y el compuesto de sellado, si lo hubiera, no debe haber fluido de forma
que las partes con tensin hayan quedado a la vista.


Despus del ensayo y despus de que las muestras se hayan enfriado aproximadamente a la
temperatura ambiente, no se debe poder acceder a las partes con tensin que no sean
normalmente accesibles cuando las muestras se montan como para uso normal, aun cuando
se aplique el dedo de prueba normalizado con una fuerza que no sobrepase los 5 N.


En las condiciones de ensayo del apartado 9.9.2.3 a), el ID debe desconectar con una
corriente de ensayo de 1,25 I
n
. Se efecta un nico ensayo en un polo tomado al azar, sin
medicin del tiempo de apertura.


Despus del ensayo, las marcas debern ser todava legibles.


Un cambio de color, abultamientos o un ligero desplazamiento del compuesto de sellado no
se toman en consideracin siempre que no quede afectada la seguridad en el sentido de esta
norma.


9.13.2 Las partes externas de material aislante de los IDs necesarias para mantener
en posicin las partes que transportan la corriente y las partes del circuito de proteccin, se
someten a un ensayo de presin a la bola, mediante el aparato descrito en la Figura 18,
excepto que, donde sea aplicable, las partes aislantes necesarias para mantener en posicin,
en una caja, los bornes para los conductores de proteccin, debern ensayarse segn las
indicaciones del apartado 9.13.3.



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La parte a ensayar se sita sobre un soporte de acero, disponindose horizontalmente la
superficie apropiada y aplicndose una bola de acero de 5 mm de dimetro contra esta
superficie con una fuerza de 20 N.


El ensayo se efecta en una estufa a una temperatura de 125 C 2 C.


Despus de 1 h, se retira la bola de la muestra que se enfra entonces en 10 s
aproximadamente hasta la temperatura ambiente, por inmersin en agua fra.


Se mide el dimetro de la huella de la bola el cual no debe sobrepasar los 2 mm.


9.13.3 Las partes externas de material aislante de los IDs que no son necesarias
para mantener en posicin las partes que transportan la corriente y las partes del circuito de
proteccin, an si estn en contacto con estas ltimas se someten a un ensayo de presin a
la bola de acuerdo con el apartado 9.13.2, pero el ensayo se efecta a una temperatura de 70
C 2 C, 40 C 2 C ms el mayor aumento de temperatura determinado por la parte
pertinente durante el ensayo del apartado 9.8, considerando el mayor valor de los dos
valores mencionados.


NOTA: Para los ensayos de los apartados 9.13.2 y 9.13.3, las bases de los IDs del tipo de montaje
superficial son consideradas como partes externas.


Los ensayos de los apartados 9.13.2 y 9.13.3 no se efectan sobre partes de material
cermico.


Si dos o ms partes de las partes aislantes, especificadas en los apartados 9.13.2 y 9.13.3
estn hechas del mismo material, el ensayo se efecta solamente sobre una de estas partes,
segn los apartados 9.13.2 9.13.3, respectivamente.


9.14 Resistencia al calor anormal y al fuego


El ensayo del hilo incandescente se efecta de acuerdo con los captulos 4 a 10 de la Norma
IEC 60695-2-1/0, bajo las condiciones siguientes:

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para las partes exteriores de material aislante de los IDs, necesarias para
mantener en su posicin las partes que transportan la corriente y las partes del
circuito de proteccin, por el ensayo realizado a la temperatura de 960 C 15 C;

para todas las otras partes exteriores de material aislante, por el ensayo
realizado a la temperatura de 650 C 10 C.


NOTA: Para propsitos de estos ensayos, las bases de los IDs del tipo para montaje superficial se
consideran como partes exteriores.


Si las partes aislantes de los grupos descritos arriba son hechas del mismo material, el
ensayo se efecta solamente sobre una de esas partes, segn la temperatura apropiada del
ensayo del hilo incandescente.


El ensayo no se efecta sobre las partes de material cermico.


El ensayo del hilo incandescente se realiza para asegurar que un hilo de ensayo calentado
elctricamente bajo las condiciones de ensayo definidas no inflamar las partes aislantes, o
que una parte de material aislante que se pueda inflamar bajo las condiciones definidas, a
causa del hilo de ensayo calentado, quema durante un tiempo limitado, sin propagar el
fuego por llama o partes inflamadas o por gotas cadas de la parte bajo ensayo.


El ensayo se efecta sobre una sola muestra.


En caso de duda, el ensayo debe ser repetido sobre dos muestras adicionales.


El ensayo se efecta aplicando el hilo incandescente una sola vez.


Durante el ensayo, la muestra debe colocarse en la posicin ms desfavorable que pueda
darse en su utilizacin (con la superficie ensayada en posicin vertical).


El extremo del hilo incandescente debe aplicarse sobre la superficie especificada de la
muestra bajo ensayo teniendo en cuenta las condiciones de utilizacin previstas en las que
un elemento caliente o incandescente pueda ponerse en contacto con la muestra.

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Se considera que la muestra ha superado el ensayo del hilo incandescente, si:


no aparece ninguna llama visible y ninguna incandescencia prolongada;

las llamas y la incandescencia en la muestra se extinguen en los 30 s
siguientes al retiro del hilo incandescente.


El papel de seda no debe inflamarse y el tablero de madera de pino no debe chamuscarse.


9.15 Verificacin del mecanismo de disparo libre


9.15.1 Condiciones generales de ensayo


El ID es montado y alambrado como para su uso normal.


Es ensayado en un circuito prcticamente no inductivo, cuyo diagrama est mostrado en la
Figura 4a).


9.15.2 Procedimiento de ensayo


Se hace pasar una corriente residual igual a 1,5 I
n
, cerrando el interruptor S
2
, habindose
cerrado previamente el ID y situado el elemento de operacin en la posicin cerrado. El
ID debe dispararse.


Este ensayo se repite moviendo lentamente el elemento de operacin del ID durante
aproximadamente de 1 s hasta la posicin donde la corriente empiece a circular. El disparo
debe efectuarse sin otro movimiento del elemento de operacin.


Los dos ensayos se efectan tres veces, al menos una vez sobre cada polo previsto para
estar conectado a una fase.



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NOTA1: Si el ID est provisto con ms de un elemento de operacin, la operacin de disparo libre
se verifica para todos los elementos de operacin.

NOTA2: Para los IDs que tienen ajustes mltiples, las pruebas son efectuadas para cada ajuste.


9.16 Verificacin de la operacin del dispositivo de prueba en los lmites de
la tensin nominal


a) Estando el ID alimentado con una tensin igual a 0,85 veces su tensin
nominal, el dispositivo de prueba se activa momentneamente 25 veces, a intervalos
de 5 s, volviendo a reconectar el ID antes de cada operacin.

b) A continuacin se repite el ensayo a) a 1,1 veces la tensin nominal.

c) A continuacin se repite el ensayo b), pero una sola vez, manteniendo en
posicin de operacin el elemento de maniobra del dispositivo de prueba durante 30
s.


En cada ensayo, el ID debe operar. Despus del ensayo, la muestra no debe presentar
ninguna alteracin que pueda daar su uso posterior.


Para verificar que los amperios-vuelta generados por las operaciones del dispositivo de
prueba son inferiores a 2,5 veces los amperios-vuelta generados por una corriente residual
igual a I
n
, a la tensin nominal, se mide la impedancia del circuito del dispositivo de
prueba y se calcula la corriente de ensayo, tomando en cuenta la configuracin del circuito
del dispositivo de prueba.


Si para tal verificacin, se considerase necesario el desmontaje del ID, se debe utilizar una
muestra separada.


NOTA: La verificacin de la endurancia del dispositivo de prueba se considera satisfecha por los
ensayos del apartado 9.10.



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PERUANA 102 de 177




9.17 Verificacin del comportamiento del ID funcionalmente dependiente de
la tensin de alimentacin, clasificado segn el apartado 4.1.2.1, en caso de falla de la
tensin de alimentacin


9.17.1 Determinacin del valor lmite de la tensin de operacin (U
x
)


En los bornes de alimentacin del ID se aplica una tensin igual a la tensin nominal y se
disminuye progresivamente hasta cero dentro de un periodo de aproximadamente 30 s, o
dentro de un tiempo suficientemente largo en caso de apertura retardada, si la hubiera,
(vase el apartado 8.12) segn el ms largo de los dos hasta que ocurra la apertura
automtica del ID.


Se mide la tensin correspondiente.


Se efectan cinco mediciones.


Todos los valores medidos debern ser inferiores a 0,85 veces la tensin nominal (o, si es
pertinente; 0,85 veces el valor mnimo del rango de la tensin nominal).


Al final de estas mediciones, se debe verificar que el ID opera de acuerdo con la Tabla 1,
cuando una corriente residual igual a I
n
es aplicada en caso de la cada de tensin de la
lnea, bajo las condiciones especificadas en este apartado, hasta que la apertura automtica
ocurra, la tensin aplicada es apenas por encima del valor ms alto medido.


Debe tambin verificarse que para todo valor inferior a la ms baja tensin medida, no es
posible cerrar el aparato con ayuda de los medios manuales de operacin.


9.17.2 Verificacin de la apertura automtica en caso de falla de la tensin de
alimentacin


El ID se alimenta por el lado de lnea con la tensin nominal (o, si es pertinente, con una
tensin que tenga un valor tomado del rango de las tensiones nominales) y se cierra.


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PERUANA 103 de 177




A continuacin se corta la tensin de alimentacin.


Se mide el tiempo transcurrido entre el instante de esta interrupcin y el instante en que los
contactos principales se abren.


Se efectan cinco mediciones:


a) para los IDs con apertura sin temporizacin: ningn valor debe sobrepasar
0,5 s;

b) para los IDs con apertura temporizada, los valores mximos y mnimos
debern estar comprendidos entre los lmites indicados por el fabricante.


NOTA: La verificacin de los valores de Uy (vase el apartado 3.4.10.2) no est considerada en esta
norma.


9.17.3 Verificacin de la correcta operacin, en presencia de una corriente
residual para los IDs con apertura temporizada en caso de falla de la tensin de
alimentacin


Se conecta el ID segn la Figura 4a, y se alimenta por el lado de lnea con la tensin
nominal (o, si es pertinente, con cualquier tensin que est dentro del rango de las
tensiones nominales).


Todas las fases, excepto una, se cortan por medio del interruptor S
3
.


Durante el perodo de temporizacin (vase la Tabla 6) indicado por el fabricante, el ID se
somete a los ensayos del apartado 9.9.2, requirindose el cierre y la apertura consecutiva
del interruptor S
3
antes de cada medicin.


NOTA: El ensayo del apartado 9.9.2.1 se efecta solamente si la temporizacin es superior a 30 s.



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PERUANA 104 de 177




9.17.4 Verificacin de la correcta operacin de los IDs con tres o cuatro vas de
corriente, con presencia de una corriente residual, estando energizado slo un borne
de lnea


En el caso de un ID con tres o cuatro vas de corriente (vase el apartado 4.3) se efecta el
ensayo segn el apartado 9.9.2.3, pero con el neutro y uno de sus polos alimentados a la
vez, las conexiones se realizan segn la Figura 4.


9.17.5 Verificacin de la funcin de recierre de un ID con recierre automtico
Bajo consideracin.


9.18 Verificacin de los valores lmites de la corriente de no operacin bajo
condiciones de sobrecorriente


NOTA.- Para los IDs que tienen ajustes mltiples, el ensayo se efecta con el ajuste menor.


9.18.1 Verificacin del valor lmite de la sobrecorriente en el caso de una carga
a travs de un ID con dos vas de corriente


El ID es conectado como para su uso normal con una carga prcticamente no inductiva, tal
que circule una corriente igual a 6 I
n
.


La corriente se establece mediante un interruptor bipolar de ensayo que se abre despus de
1 s.


El ensayo se repite tres veces, siendo el intervalo entre las dos operaciones de cierre
consecutivas de al menos 1 min.


El ID no debe abrir.


Los IDs funcionalmente dependientes de la tensin de alimentacin estn alimentados por
el lado de lnea con la tensin nominal (o, si es pertinente, con cualquier tensin que tenga
un valor dentro del rango de las tensiones nominales).

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PERUANA 105 de 177






9.18.2 Verificacin del valor lmite de la sobrecorriente en el caso de una carga
monofsica a travs de un ID tripolar o tetrapolar


El ID es conectado como se indica en la Figura 19.


La resistencia R se regula de forma que se haga circular en el circuito una corriente igual a
6 I
n
.


NOTA: Con la finalidad de regular esta corriente, el ID D puede sustituirse por las conexiones de
impedancia despreciables.


Estando previamente abierto el interruptor de ensayo S
1
, se cierra y luego se abre de nuevo
despus de 1 s.


El ensayo se repite tres veces para cada combinacin posible de vas de corriente, siendo el
intervalo entre los dos cierres consecutivos de al menos 1 min.


El ID no debe abrir.


Los IDs funcionalmente dependientes de la tensin de alimentacin se alimentan por el
lado de lnea con una tensin igual a la tensin nominal (o, si es pertinente, con cualquier
tensin que tenga un valor dentro del rango de las tensiones nominales).



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9.19 Verificacin del comportamiento del los IDs en caso de impulsos de
corriente causadas por tensiones de impulso


9.19.1 Ensayo de impulso de corriente para todos los IDs (ensayo con onda
senoidal fuertemente amortiguada 0,5 s/100 kHz)


El ID se ensaya utilizando un generador de onda de corriente capaz de producir una
corriente oscilante amortiguada como se muestra en la Figura 19a. En la Figura 19b se da
un ejemplo de diagrama del circuito para la conexin del ID.


Un polo del ID elegido al azar se somete a 10 aplicaciones de impulso de corriente. La
polaridad de la onda de impulso deber invertirse despus de cada dos aplicaciones. El
intervalo entre dos aplicaciones consecutivas deber ser alrededor de 30 s.


El impulso de corriente deber medirse con la ayuda de los medios adecuados y ajustarse
utilizando una muestra adicional del ID del mismo tipo con la misma I
n
y el mismo I
n
,
para encontrar los siguientes requerimientos:


- Valor pico: % A 200
10
0
+
.
% A 25
10
0
+
para IDs con I
n
10 mA.

- Tiempo de subida virtual: 0,5 s 30 %.

- Perodo de la onda de oscilacin siguiente: 10 s 20 %.

- Cada uno de los picos sucesivos: alrededor del 60 % del pico anterior.


Durante los ensayos, el ID no deber disparar. Despus del ensayo con onda senoidal
fuertemente amortiguada, la operacin correcta del ID es verificada por ensayo de acuerdo
al apartado 9.9.2.3, a I
n
solamente midiendo el tiempo de disparo.


NOTA: Los procedimientos de ensayo y los circuitos de ensayo correspondientes para los IDs, con
proteccin contra las sobretensiones integrada o incorporada, estn en estudio.


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9.19.2 Verificacin del comportamiento con corrientes de impulso hasta 3 000
A (ensayo con corriente de impulso 8/20 s)


9.19.2.1 Condiciones de ensayo


El ID se ensaya utilizando un generador de onda de corriente capaz de producir una
corriente oscilante amortiguada de 8/20 microsegundos (IEC 60060/2) como se muestra en
la Figura 23. En la Figura 24 se da un ejemplo de diagrama del circuito para el
conexionado del ID.


Un polo del ID escogido aleatoriamente deber ser sometido a 10 aplicaciones de la
corriente transitoria. La polaridad de la onda de la corriente transitoria deber ser invertida
despus de 2 aplicaciones. El intervalo de dos aplicaciones consecutivas deber ser de
alrededor de 30 s.


El impulso de corriente deber ser medido por medios apropiados y ajustado usando un ID
adicional del mismo tipo con el mismo I
n
y el mismo I
n
para cumplir con los siguientes
requerimientos:


- Valor pico: % A 000 3
10
0
+
.

- Tiempo de subida virtual: 8 s 20%.

- Tiempo virtual de media onda: 20 s 20%.

- Pico de la corriente inversa: menor que el 30 % del valor pico.


La corriente deber ser ajustada a la forma de corriente asinttica. Para los ensayos de otras
muestras del mismo tipo con el mismo I
n
y el mismo I
n
, la corriente inversa, si la hubiera,
no deber exceder del 30 % del valor pico.



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9.19.2.2 Resultados del ensayo para los IDs tipo S


Durante los ensayos los IDs no debern disparar.


Despus de los ensayos de corriente de impulso la operacin correcta de los IDs es
verificada por un ensayo de acuerdo al apartado 9.9.2.3, a I
n
solamente, con la medicin
del tiempo de apertura.


9.19.2.3 Resultados del ensayo para los IDs del tipo general


Durante los ensayos los IDs pueden disparar. Despus de cada disparo el ID deber ser
reenganchado.


Despus de los ensayos de corriente de impulso, la operacin correcta de los IDs es
verificada por un ensayo de acuerdo al apartado 9.9.2.3, a I
n
solamente, con la medicin
del tiempo de apertura.


9.20 Verificacin de la resistencia del aislamiento frente a una onda de
sobretensin


El ensayo se efecta sobre un ID fijado sobre un soporte metlico, conectado como para
uso normal y en posicin de cerrado.


Los impulsos se dan mediante un generador de impulsos positivos y negativos, de duracin
de frente 1, 2 s y de duracin hasta la mitad del valor de 50 s, siendo las tolerancias de:


5 % para el valor de pico;
30 % para la duracin del frente;
20 % para la duracin hasta la mitad del valor.



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Se efecta una primera serie de ensayos a una tensin de impulso de 6 kV pico,
aplicndose los impulsos entre los polos de fase, conectados entre si, y el polo neutro (o
va) del ID.


Una segunda serie de ensayos se efecta a una tensin de choque de pico de 8 kV,
aplicndose los impulsos entre el soporte metlico conectado al(los) borne(s) destinado(s) a
la interconexin del(de los) conductor(es) de proteccin, si los hubiera, y los polos de fase
y el neutro (o va) conectados juntos.


NOTA 1: Se recomienda que la impedancia del aparato de ensayo sea de 500 Ohmios, estando en
estudio una disminucin de este valor.

NOTA 2: Los valores de 6 kV y 8 kV son provisionales.


En ambos casos, se aplican cinco impulsos positivos y cinco negativos, siendo el intervalo
de tiempo entre dos impulsos consecutivos de al menos 10 s.


No deber aparecer ninguna descarga disruptiva no intencional.


Si aparece solo una descarga disruptiva, se aplican diez impulsos suplementarios de igual
polaridad que la que ha provocado la aparicin de la descarga, siendo las conexiones
aquellas con las que ha aparecido el defecto.


No deber aparecer ninguna otra descarga disruptiva.


NOTA 3: La expresin "descarga disruptiva no intencional" se utiliza para cubrir los fenmenos
asociados con el defecto de aislamiento bajo tensin elctrica que comprenden una cada de tensin
y el paso de una corriente.

NOTA 4: Una descarga disruptiva intencional cubre las descargas de cualquier protector contra
sobretensin (pararrayos) incorporado.


La forma de los impulsos es ajustada con el ID bajo ensayo conectado al aparato generador
de impulsos. A este efecto, se debern utilizar divisores de tensin y sensores de tensin
apropiados.


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Se admiten pequeas oscilaciones en los impulsos, con tal que su amplitud en las
proximidades del pico del impulso no sobrepase el 5 % del valor de pico.


Para las oscilaciones en la primera mitad del frente, se admiten amplitudes que no
sobrepasen el 10 % del valor de pico.


9.21 Verificacin de la operacin correcta a las corrientes residuales con
componente continua


Las condiciones de ensayos que se aplican son aquellas de las de los apartados 9.9.1 y 9.9.5
excepto que los circuitos de ensayo debern ser aquellos indicados en las Figuras 4b y 4c,
segn sea el caso.


9.21.1 Dispositivos de corriente residual tipo A


9.21.1.1 Verificacin de la operacin correcta en el caso de un aumento continuo
de la corriente residual continua pulsante


El ensayo deber efectuarse de acuerdo con la Figura 4b.


Los interruptores auxiliares S
1
y S
2
y el ID D debern estar cerrados. El tiristor
correspondiente deber controlarse de tal manera que se puedan obtener ngulos de retardo
de la corriente de 0, 90 y 135. Cada polo del ID deber ensayarse dos veces para cada
uno de los ngulos de retardo de la corriente para la posicin I as como para la posicin II
del interruptor auxiliar S
3
.


En cada ensayo la corriente deber aumentarse de forma continua con una tasa de
crecimiento aproximada de 1,4 I
n
/30 amperios por segundo para los IDs en los que I
n
es
superior a 0,01 A y con una tasa de crecimiento de 2 I
n
/30 amperios por segundo para los
IDs en los que I
n
es inferior o igual a 0,01 A, partiendo de cero. La corriente de disparo
deber estar de acuerdo con los valores de la Tabla 17.



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TABLA 17 Rangos de la corriente de disparo para los IDs del tipo A

Corriente de disparo
A ngulo
Lmite inferior Lmite superior
0
90
135
0,35 I
n

0,25 I
n

0,11 I
n


1,4 I I
n
o 2 I
n

(vase el apartado 5.3.12)


9.21.1.2 Verificacin de la operacin correcta en el caso de una sbita aparicin
de corrientes residuales continuas pulsantes


Los IDs debern ser ensayados segn la Figura 4b.


Estando el circuito calibrado sucesivamente a los valores especificados, el interruptor
auxiliar S1 y estando el ID en posicin de cerrado, la corriente residual se establece
bruscamente cerrando el interruptor S
2
.


NOTA: En el caso de ID funcionalmente dependientes de la tensin de alimentacin, clasificados
segn el apartado 4.1.2.2 a), en los que el circuito de mando se alimenta por el lado de lnea del
circuito principal, esta verificacin no tiene en cuenta el tiempo necesario para el establecimiento de
la alimentacin del ID. En este caso por consiguiente, la verificacin se considera como efectuada
estableciendo la corriente residual cerrando sucesivamente S1 y estando el ID bajo ensayo S2
previamente cerrado.


El ensayo se realiza para cada valor de la corriente residual especificada en la Tabla 1, de
acuerdo con el tipo de ID.


Se efectan dos medidas del tiempo de apertura para cada valor de I
n
multiplicado por 1,4
para los IDs con I
n
superior a 0,01 A y multiplicado por 2 para los IDs con I
n
inferior o
igual a 0,01 A, con un ngulo de retardo = 0, estando el interruptor auxiliar S
3
en la
posicin I para la primera medicin y en posicin II para la segunda medicin.


Ninguna medida deber sobrepasar los valores lmite especificados.



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9.21.1.3 Verificacin de la operacin correcta con carga a la temperatura de
referencia


Se repiten los ensayos del apartado 9.21.1.1, cargndose el polo en ensayo y otro polo del
ID con la corriente nominal, establecindose esta corriente poco antes del ensayo.


NOTA: En la Figura 4b) no se indica la carga con la corriente nominal.


9.21.1.4 Verificacin de la operacin correcta en el caso de corriente residual
continua pulsante a la cual se superpone una corriente continua suavizada de 0,006 A


El ID deber ensayarse de acuerdo con la Figura 4c) con una corriente residual rectificada
de media onda (ngulo de retardo de la corriente = 0) a la cual se superpone una
corriente continua suavizada de 0,006 A.


Cada polo del ID se ensaya dos veces sucesivamente en cada una de las posiciones I y II.


La corriente I
1
de una semionda que se aumenta de forma continua partiendo de cero con
una tasa de incremento aproximadamente de 1,4 I
n
/30 amperios por segundo para los IDs
en los que I
n
es superior a 0,01 A y de 2 I
n
/30 amperios por segundo para los IDs en los
que I
n
es inferior o igual a 0,01 A, el dispositivo deber disparar antes de que esta
corriente alcance un valor de 1,4 I
n
+ 6 mA o 2 I
n
+ 6 mA respectivamente.


9.22 Verificacin de la confiabilidad


El cumplimiento es verificado mediante los ensayos de los apartados 9.22.1 y 9.22.2.


NOTA: Para los IDs que tienen ajustes mltiples, los ensayos debern ser efectuados al ajuste
menor.




9.22.1 Ensayos climticos

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El ensayo est basado en la Norma IEC 60068-2-30 teniendo en cuenta la Norma IEC
60068-2-28.


9.22.1.1 Cmara de ensayos


La cmara de ensayos deber ser construida como se indica en el captulo 2 de la Norma
IEC 60068-2-30. El agua de condensacin deber evacuarse continuamente de la cmara de
ensayos y no ser reutilizada, a menos que haya sido purificada. Deber utilizarse solamente
agua destilada para el mantenimiento de la humedad de la cmara de ensayos.


Antes de su introduccin en la cmara de ensayos, el agua destilada deber tener una
resistividad de no menor que 500 m y un valor de pH de 7,0 0,2. Durante y despus del
ensayo la resistividad no deber ser inferior a 100 m y el valor del pH deber permanecer
en 7,0 1,0.


9.22.1.2 Severidad


Los ciclos se efectan en las condiciones siguientes:


temperatura ms elevada: 55 C 2 C;

nmero de ciclos: 28.


9.22.1.3 Procedimiento de ensayo


El procedimiento de ensayo deber hacerse de acuerdo con el captulo 4 de la Norma IEC
60068-2-30 y de la Norma IEC 60068-2-28.




a) Verificacin inicial

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Se realiza una verificacin inicial sometiendo el ID al ensayo del apartado 9.9.2.3
pero solamente a I
n
.

b) Acondicionamiento

1) El ID se introduce en la cmara, montado y equipado de conductores como
para uso normal.

Deber estar en posicin de cerrado.

2) Perodo de estabilizacin (vase la Figura 20).


La temperatura del ID deber estabilizarse en 25 C 3 C:


a) ya sea situando el ID en una cmara distinta de la cmara de ensayos antes
de introducirlo en esta ltima;

b) bien regulando la temperatura de la cmara de ensayos a 25 C 3 C
despus de la introduccin del ID en la cmara y mantenindola en estos lmites
hasta que se alcance la estabilidad trmica.


Durante la estabilizacin de la temperatura, mediante cualquiera de estos mtodos, la
humedad relativa deber estar comprendida entre los lmites prescritos para las condiciones
atmosfricas normales de ensayos (vase la Tabla 2).


Durante la ltima hora, estando el ID en la cmara de ensayos, la humedad relativa deber
incrementarse hasta ser, al menos, del 95 % a una temperatura ambiente de 25 C 3 C.


3) Descripcin del ciclo de 24 h (vase la Figura 21).

a) La temperatura de la cmara deber elevarse de una forma progresiva hasta
el valor de la temperatura superior prescrita en el apartado 9.22.1.2.

Esta temperatura superior deber obtenerse en un tiempo de 3 h 30 min y a una
velocidad comprendida entre los lmites definidos por el rea que aparece rayada en
la Figura 21.

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PERUANA 115 de 177





Durante este perodo, la humedad relativa no ser inferior al 95 %. La condensacin
deber producirse sobre el ID durante este perodo.

NOTA: La condicin para que la condensacin se produzca implica que la temperatura de
superficie del ID sea inferior a aquella del punto de condensacin de la atmsfera (roco); lo que
significa que la humedad relativa deber ser superior al 95% si la constante de tiempo trmica es
baja. Debern tomarse precauciones para que ninguna gota de agua condensada caiga sobre la
muestra.

b) La temperatura deber mantenerse entonces, prcticamente constante en los
lmites prescritos para la temperatura ms elevada 2 C durante 12 h 30 min
desde el inicio del ciclo.

Durante este perodo, la humedad relativa deber ser del 93 % 3 %, salvo durante
los 15 primeros y los 15 ltimos minutos durante los cuales deber estar comprendida
entre el 90 % y el 100 %.

No deber producirse condensacin sobre el ID durante los 15 ltimos minutos.

c) La temperatura deber bajarse a continuacin hasta 25 C 3 C en un
tiempo comprendido entre 3 h y 6 h. Al principio durante 1 h y 30 min la velocidad
de disminucin de la temperatura deber ser tal que, si se mantuviese como se indica
en la Figura 21, se alcanzara la temperatura de 25 C 3 C en 3 h 15 min.

Durante el perodo de descenso de la temperatura, la humedad relativa no deber ser
inferior al 95 %, salvo en el transcurso de los 15 primeros minutos durante los cuales
no deber menor que 90 %.

d) La temperatura se mantiene entonces a 25 C 3 C con una humedad
relativa de no menos 95 % hasta que se complete el ciclo de 24 h.


9.22.1.4 Restablecimiento


A la finalizacin de la ejecucin de los ciclos, el ID no deber retirarse de la cmara de
ensayos.


La puerta de la cmara de ensayos deber abrirse y deber cortarse la regulacin de
temperatura y humedad.


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Se espera un perodo de 4 h a 6 h para permitir el restablecimiento de las condiciones
ambientales (temperatura y humedad), antes de efectuar las medidas finales.


Durante los 28 ciclos el ID no deber disparar.


9.22.1.5 Verificacin final


En las condiciones de ensayo del apartado 9.9.2.3 el ID deber disparar con una corriente
de ensayo de 1,25 I
n
. Se efecta solo un ensayo en un polo tomado al azar, sin medida del
tiempo de apertura.


9.22.2 Ensayo a la temperatura de 40 C


El ID se instala como para uso normal sobre una pared de madera contraplacada de
alrededor de 20 mm de espesor pintada en negro mate.


En cada polo del ID, se conecta un conductor unipolar a la entrada y otro a la salida de 1 m
de longitud y de seccin nominal especificada en la Tabla 4, apretando los tornillos o
tuercas de los bornes con un par de apriete igual a los 2/3 del especificado en la Tabla 9. El
conjunto se sita en una estufa.


Se hace pasar en el ID una corriente igual a la corriente nominal bajo una tensin apropiada
y se le somete a una temperatura de 40 C 2 C durante 28 ciclos, comprendiendo cada
ciclo 21 h con corriente y 3 h sin corriente. La corriente se interrumpe mediante un
interruptor auxiliar, sin ser maniobrado el ID.


Para los IDs tetrapolares, solamente estn cargados tres polos.


Al final del ltimo perodo de 21 h con corriente, se determina el calentamiento de los
bornes mediante pares termoelctricos de hilos finos. Este calentamiento no deber
sobrepasar los 65 K.

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PERUANA 117 de 177




Despus de este ensayo, se deja enfriar el ID sin corriente en la estufa, aproximadamente
hasta la temperatura ambiente.


En las condiciones de ensayo del apartado 9.9.2.3 el ID deber desconectar con una
corriente de 1,25 I
n
. Se efecta slo un ensayo en un polo tomado al azar, con medida del
tiempo de apertura.


9.23 Verificacin del envejecimiento de los componentes electrnicos.


NOTA 1: La revisin de este ensayo est en estudio.


El ID se sita durante un perodo de 168 h a una temperatura ambiente de 40 C 2 C y se
carga con la corriente nominal. La tensin de las partes electrnicas deber ser de 1,1 veces
la tensin nominal.


Despus de este ensayo, el ID sin corriente se deja enfriar en la estufa, aproximadamente
hasta la temperatura ambiente. Las partes electrnicas no debern presentar daos.


En las condiciones de ensayo especificadas en el apartado 9.9.2.3 el ID deber desconectar
con una corriente de 1,25 I
n
. Se efecta slo un ensayo en un polo tomado al azar, sin
medicin del tiempo de apertura.


NOTA 2: En la Figura 22 se da un ejemplo para el circuito de este ensayo.









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PERUANA 118 de 177















FIGURA 1 Tornillo autorroscante por deformacin de materia
(vase el apartado 3.6.10)















FIGURA 2 Tornillo autorroscante por arranque de materia
(vase el apartado 3.6.11)



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PERUANA 119 de 177


































Material: metal, salvo especificacin contraria.
Dimensiones lineales en milmetros.
Tolerancias de las dimensiones, sin indicacin de tolerancia:
en los ngulos: 0/-10'.
en las dimensiones lineales:
hasta 25 mm: 0/-0,05.
por encima de 25 mm: 0,2.
Las dos articulaciones debern permitir un movimiento en el mismo plano y el
mismo sentido de 90 con una tolerancia de 0 a + 10.

FIGURA 3 Dedo de prueba normalizado (vase el apartado 9.6)

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PERUANA 120 de 177







































FIGURA 4a Circuito de ensayo para la verificacin de:

las caractersticas de operacin (vase el apartado 9.9);
el mecanismo de disparo libre (vase 9.15);
el comportamiento, en caso de falla de la tensin de alimentacin
(vanse 9.17.3 y 9.17.4) para los IDs funcionalmente dependientes de la
tensin de alimentacin
S = Alimentacin
V = Voltmetro
A = Ampermetro
S
1
= Interruptor omnipolar
S
2
= Interruptor unipolar
S
3
= Interruptor que corta todas las fases salvo una
D = ID en ensayo
R = Resistencia variable
NOTA: S
3
permanece cerrado salvo para el ensayo del apartado
9.17.3.


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PERUANA 121 de 177

































S = Alimentacin
V = Voltmetro
A = Ampermetro (medicin del valor eficaz)
D = ID en ensayo
D
i
= Tiristores
R = Resistencia variable
S
1
= Interruptor multipolar
S
2
= Interruptor unipolar
S
3
= Conmutador bipolar

FIGURA 4b Circuito de ensayo para la verificacin de la operacin correcta de los
IDs en el caso de corrientes residuales continuas pulsantes

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PERUANA 122 de 177
































S = Alimentacin
V = Voltmetro
A = Ampermetro (medicin del valor eficaz)
D = ID en ensayo
D
i
= Tiristores
R
1
, R
2
= Resistencia variable
S
1
= Interruptor omnipolar
S
2
= Interruptor unipolar
S
3
= Conmutador unipolar

FIGURA 4c Circuito de ensayo para la verificacin de la operacin correcta de los
IDs en caso de corrientes residuales continuas pulsantes


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PERUANA 123 de 177





N = Conductor neutro
S = Alimentacin
R = Resistencia regulable
L = Bobinas de inductancias regulables
P = Dispositivo de proteccin contra los cortocircuitos (SCPD)
D = ID en ensayo
G
1
= Conexiones provisionales para la regulacin
G
2
= Conexiones para el ensayo a la corriente condicional de cortocircuito
nominal
T = Dispositivo que establece el cortocircuito
O
1
= Captador(es) de corriente
O
2
= Captador(es) de tensin
F = Dispositivo destinado a detectar una corriente de defecto
R
1
= Resistencia que limita la corriente en el dispositivo F
R
2
= Resistencia regulable para la regulacin de I


R
3
= Resistencia adicional regulable para obtener las corrientes inferiores a la
corriente condicional de cortocircuito nominal
S
1
= Interruptor auxiliar
B y C = Puntos de conexin de la(s) rejilla(s) indicada(s) en el anexo C

Explicacin de los signos alfabticos utilizados en las Figuras 5 a 9



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PERUANA 124 de 177






































FIGURA 5 Circuito de ensayo para la verificacin del poder de cierre y de corte
nominal y de la coordinacin con un dispositivo de proteccin contra cortocircuito
(SCPD) de un ID unipolar con dos vas de corriente (vase el apartado 9.11)






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PERUANA 125 de 177









































FIGURA 6 Circuito de ensayo para la verificacin del poder de cierre y de corte
nominal y de la coordinacin con un dispositivo de proteccin contra cortocircuito
(SCPD) de un ID bipolar, en el caso de un circuito monofsico
(vase el apartado 9.11)

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PERUANA 126 de 177











































FIGURA 7 Circuito de ensayo para la verificacin del poder de cierre y de corte
nominal y de la coordinacin con un dispositivo de proteccin contra cortocircuito
(SCPD) de un ID tripolar en un circuito trifsico (vase el apartado 9.11)

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PERUANA 127 de 177









































FIGURA 8 Circuito de ensayo para la verificacin del poder de cierre y de corte
nominal y de la coordinacin con un dispositivo de proteccin contra cortocircuito
(SCPD) de un ID tripolar con cuatro vas de corriente en un circuito trifsico con
neutro (vase el apartado 9.11)

NORMA TCNICA NTP-IEC 61008-1
PERUANA 128 de 177










































FIGURA 9 Circuito de ensayo para la verificacin del poder de cierre y de corte
nominal y de la coordinacin con un dispositivo de proteccin contra sobrecorriente
(SCPD) de un ID tetrapolar en un circuito trifsico con neutro
(vase el apartado 9.11)

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PERUANA 129 de 177






Dimensiones en mm

FIGURA 10 Aparato de ensayo para la verificacin de los valores mnimos de I
2
t e
I p que el ID soporta (vase el apartado 9.11.2.1 a))

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FIGURA 11 Aparato para el ensayo a sacudidas mecnicas (impulsos)
(vase el apartado 9.12.1)

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PERUANA 131 de 177






FIGURA 12 Aparato de ensayo de choque mecnico (vase el apartado 9.12.2.1)

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PERUANA 132 de 177






Dimensiones en mm


Material de las piezas:
1 : Poliamida
2, 3, 4, 5 : Acero Fe 360

FIGURA 13 Pndulo de ensayo de choque mecnico (pieza de golpeo)
(vase el apartado 9.12.2.1)



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PERUANA 133 de 177







FIGURA 14 Soporte de montaje de la muestra para el ensayo de choque mecnico
(vase el apartado 9.12.2.1)



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PERUANA 134 de 177





Dimensiones en mm

1 Placa de acero intercambiable de espesor 1 mm.
2 Placas de aluminio de espesor 8 mm.
3 Placa de montaje.
4 Riel para el ID destinado a estar montado sobre riel.
5 Abertura en la placa de acero para el ID:
a) la distancia entre el borde de la abertura y las paredes del ID deber
estar comprendida entre 1 mm y 2 mm;
b) la altura de las placas de aluminio deber ser tal que la placa de acero
se aplique sobre los salientes del ID; o si el ID no est provisto de tales
salientes, la distancia de las partes activas que debern estar protegidas por
una cubierta adicional, a la cara inferior de la placa de acero, es de 8 mm.

FIGURA 15 Ejemplo de montaje de un ID sin cubierta para el ensayo de choque
mecnico (vase el apartado 9.12.2.1)

NORMA TCNICA NTP-IEC 61008-1
PERUANA 135 de 177





Dimensiones en mm

1 Placa de acero intercambiable de espesor 1,5 mm
2 Placas de aluminio de espesor 8 mm
3 Placa de montaje
4 Abertura en la placa de acero para el ID
NOTA: Las dimensiones pueden aumentarse para casos particulares.

FIGURA 16 Ejemplo de fijacin del ID para montaje en panel para el ensayo de
choque mecnico (vase el apartado 9.12.2.1)

NORMA TCNICA NTP-IEC 61008-1
PERUANA 136 de 177






FIGURA 17 Aplicacin de la fuerza para el ensayo de choque mecnico
del ID para montaje sobre riel (vase el apartado 9.12.2.2)




FIGURA 18 Aparato para el ensayo de presin a la bola (vase 9.13.2)

NORMA TCNICA NTP-IEC 61008-1
PERUANA 137 de 177







S = Alimentacin
S
1
= Interruptor bipolar
V = Voltmetro
A = Ampermetro
D = ID en ensayo
R = Resistencia variable

FIGURA 19 Circuito de ensayo para la verificacin del valor lmite de la
sobrecorriente en el caso de una carga monofsica a travs de un ID tripolar o
tetrapolar (vase el apartado 9.18.2)


NORMA TCNICA NTP-IEC 61008-1
PERUANA 138 de 177






FIGURA 19 a) Onda de corriente oscilante amortiguada 0,5 s/100 kHz

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PERUANA 139 de 177





1)
Si el ID tiene un borne de puesta a tierra, ste deber ser conectado al borne neutro, si hubiera, si
est marcado en el ID, a falta de ste, a cualquier borne de fase.

FIGURA 19b) Ejemplo de circuito de ensayo para la verificacin
de la resistencia a las desconexiones intempestivas

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PERUANA 140 de 177







FIGURA 20 Perodo de estabilizacin para el ensayo de confiabilidad
(vase el apartado 9.22.1.3)

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PERUANA 141 de 177







FIGURA 21 Ciclo de ensayo de fiabilidad (vase el apartado 9.22.1.3)




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PERUANA 142 de 177







FIGURA 22 Ejemplo de circuito de ensayo para la verificacin del envejecimiento
de los componentes electrnicos (vase el apartado 9.23)



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PERUANA 143 de 177





FIGURA 23 Impulso de corriente 8/20 s


1)
Si el ID tiene un borne de puesta a tierra, ste deber ser conectado al borne neutro, si hubiera, si
est marcado en el ID, a falta de este, a cualquier borne de fase.

FIGURA 24 Circuito de ensayo para el ensayo de corrientes de impulso de los IDs


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PERUANA 144 de 177




10. ANTECEDENTE


IEC 61008-1: 2002-10 Residual current operated circuit-breakers
without integral overcurrent protection for
household and similar uses (RCCBs) Part 1:
General rules

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PERUANA 145 de 177




ANEXO A
(NORMATIVO)

SECUENCIAS DE ENSAYOS Y NMERO DE
MUESTRAS A ENSAYAR PARA PROPSITOS DE
CERTIFICACIN



El trmino certificacin denota:


bien sea la declaracin de conformidad por el fabricante; o

bien la certificacin por terceras partes, por ejemplo por un laboratorio
independiente.


A.1 Secuencias de ensayos


Los ensayos se efectan de acuerdo con la Tabla A.1 de este anexo, donde los ensayos de
cada secuencia se realizan en el orden indicado.

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PERUANA 146 de 177




TABLA A.1

Secuencia
de ensayo
Apartado Ensayo o Inspeccin
A 6
8.1.1
8.1.2
9.3
8.1.3

9.15
9.4

9.5
9.6
9.13
8.1.3
9.14
Marcado
Generalidades
Mecanismo
Indelebilidad del marcado
Distancias de aislamiento y lneas de fuga (solamente partes
externas)
Mecanismo de disparo libre
Seguridad de los tornillos, partes que transportan la corriente y de
las conexiones
Seguridad de los bornes para conductores externos
Proteccin contra los choques elctricos
Resistencia al calor
Distancias de aislamiento y lneas de fuga (partes internas)
Resistencia al calor anormal y al fuego
B 9.7
9.8
9.20
9.22.2
9.23
Propiedades dielctricas
Calentamiento
Resistencia del aislamiento frente a una onda de sobretensin
Confiabilidad (ensayo a 40 C)
Envejecimiento de los componentes electrnicos
C 9.10 Endurancia mecnica y elctrica
D D0
D1
9.9
9.17
9.19

9.21
9.11.2.3
9.16
9.12
9.18
Caracterstica de desconexin
Comportamiento en caso de falla de la tensin de alimentacin
Disparo intempestivo Comportamiento en el caso de corrientes
de impulso
Componentes continuas
Comportamiento a I
m

Dispositivo de prueba
Resistencia a las vibraciones e impactos mecnicos
Corriente de no operacin bajo condiciones de sobrecorriente
E 9.11.2.4 a)
9.11.2.2
Coordinacin a I
nc

Comportamiento a I
m

F 9.11.2.4 b)
9.11.2.4 b)
Coordinacin a I
m

Coordinacin a I
dc

G 9.22.1 Confiabilidad (ensayos climticos)






A.2 Nmero de muestras a someter al procedimiento de ensayo completo

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PERUANA 147 de 177






Si se somete a ensayo solamente un tipo de ID, de una corriente nominal y de una corriente
residual de disparo nominal, el nmero de muestras a someter a las diferentes series de
ensayos es el indicado en la Tabla A.2 donde igualmente se indican los criterios mnimos.
Si todas las muestras presentadas segn la segunda columna de la Tabla A.2 pasan los
ensayos, la conformidad con la norma se satisface. Si solo el nmero mnimo dado en la
tercera columna pasan los ensayos, las muestras adicionales, como se indica en la cuarta
columna, debern ser ensayadas y debern satisfacer completamente la secuencia de
ensayos.


Para los IDs que tienen slo una corriente nominal, pero ms de corriente residual de
operacin, se sometern dos juegos separados de muestras a cada secuencia de ensayo: uno
ajustado a la corriente residual de operacin ms alta, el otro ajustado a la corriente residual
de operacin ms baja.

TABLA A.2

Secuencia de ensayo
a)
Nmero de
muestras
Nmero mnimo de
muestras
aceptadas
b)

Nmero de
muestras
para la repeticin
de los ensayos
c)

A
B
C
D
E
F
G
1
3
3
3
3
3
3
1
2
2
2
d)

2
d)

2
d)
2

3
3
3
3
3
3
a) En total, se puede repetir con un mximo de tres secuencias de ensayo.
b) Se asume que toda muestra que no ha pasado o satisfecho un ensayo, no cumple los requerimientos
debidos a defectos en la fabricacin o en el montaje que no son representativos del diseo.
c) En caso de repeticin de ensayos, todos los resultados debern ser satisfactorios.
d) Todas las muestras debern satisfacer los requerimientos de los apartados 9.9.2, 9.9.3 y 9.11.2.3, como
adecuado. Adems, no deber producirse un arco permanente o un contorneamiento entre los polos o entre
los polos y el marco, sobre ninguna muestra durante los ensayos de los apartados 9.11.2.2, 9.11.2.4 a),
9.11.2.4 b) 9.11.2.4 c).





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PERUANA 148 de 177




A.3 Nmero de muestras a ser sometidas a un procedimiento simplificado
en caso de presentacin simultnea de una serie de ID del mismo diseo bsico


A.3.1 Si una serie de IDs del mismo diseo bsico, o una adicin de serie
semejante de IDs, son sometidas a ensayos para la certificacin, el nmero de muestras a
ser ensayadas puede ser reducida de acuerdo a la Tabla A.3.


NOTA: Para propsitos de este anexo, el trmino mismo diseo bsico comprende una serie de
corrientes de operacin nominales (I
n
), una serie de corrientes residuales nominales (I
n
) y/o
diferente nmero de polos.


Los IDs pueden considerarse como que son del mismo diseo bsico s:


1) ellos tienen el mismo diseo bsico: en particular no deber haber tipos
dependientes e independientes de la tensin de la tensin de alimentacin en la
misma serie;

2) los dispositivos de operacin por corriente residual tienen mecanismos de
disparo idnticos y rels o solenoides idnticos, a excepcin de las variaciones
permitidas en c) y d);

3) los materiales, acabados y dimensiones de las partes internas que transportan
la corriente son idnticos excepto las variaciones que se detallan en a) indicada ms
abajo;

4) los bornes son de diseo similar (ver punto b) indicado ms abajo);

5) el tamao, el material, la configuracin y el mtodo de fijacin de los
contactos son idnticos;

6) el mecanismo de operacin manual, los materiales y las caractersticas
fsicas son idnticos;

7) los materiales moldeados y los materiales aislantes son idnticos;

8) el mtodo, los materiales y la construccin del dispositivo de extincin del
arco son idnticos;


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PERUANA 149 de 177




9) el diseo bsico del dispositivo sensor de la corriente residual es idntico,
para un tipo dado de caracterstica distinta a las variaciones permitidas en c)
indicada ms abajo;

10) el diseo bsico del dispositivo de disparo por corriente residual, es idntico
excepto, excepto para las variaciones permitidas en d) indicada ms abajo;

11) el diseo bsico del dispositivo de prueba es idntico, excepto para las
variaciones permitidas en e) indicada ms abajo;

Las variaciones siguientes se permiten siempre que los IDs cumplan todos los
requisitos detallados anteriormente:

a) seccin de las conexiones internas que transportan la corriente y longitudes
de las conexiones del toroide;

b) tamao de los bornes;

c) nmero de vueltas y seccin del arrollamiento y el tamao y material del
ncleo del transformador diferencial;

d) la sensibilidad del rel y/o del circuito electrnico asociado, si hubiese;

e) el valor de la resistencia en ohms del medio que produce los imperios-vuelta
necesarios para ajustarse a los ensayos del apartado 9.16. El circuito puede ser
conectado a travs de las fases o fase-neutro.


A.3.2 Para los IDs que tengan la misma clasificacin segn el comportamiento en
presencia de una componente continua (vase el apartado 4.6) y la misma clasificacin
segn la temporizacin (vase el apartado 4.7), el nmero de muestras a ensayar puede
reducirse segn la Tabla A.3.

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PERUANA 150 de 177




TABLA A.3

Secuencia
de ensayo
Nmero de muestras en funcin del nmero de polos
a)

2-polos
b) c)
3-polos
d) f)
4-polos
e)

A 1 I
n
mx.
I
n
mn.
1 I
n
mx.
I
n
mn.
1 I
n
mx.
I
n
mn.
B 3 I
n
mx.
I
n
mn.
3 I
n
mx.
I
n
mn.
3 I
n
mx.
I
n
mn.
C 3 I
n
mx.
I
n
mn.
3 I
n
mx.
I
n
mn.
3 I
n
mx.
I
n
mn.
D
0
+ D
1
3 I
n
mx.
I
n
mn.
3 I
n
mx.
I
n
mn.
3 I
n
mx.
I
n
mn.
D0 1 para todos los otros I
n

E 3 I
n
mx.
I
n
mn.
3 I
n
mx.
I
n
mn.
3 I
n
mx.
I
n
mn.
3 I
n
mx.
I
n
mn.
3 I
n
mx.
I
n
mn.
3 I
n
mx.
I
n
mn.
3
g)
3
g)
3
g)

F
I
n
mn.
I
n
mx.
I
n
mn.
I
n
mx.
I
n
mn.
I
n
mx.
G 3 I
n
mx.
I
n
mn.
3 I
n
mx.
I
n
mn.
3 I
n
mx.
I
n
mn.
3
g)
3
g)
3
g)

I
n
mn.
I
n
mx.
I
n
mn.
I
n
mx.
I
n
mn.
I
n
mx.
a) Si un ensayo deber repetirse segn el criterio de aceptacin mnima del apartado A.2, se utilizan nuevas
muestras para el ensayo correspondiente. En la repeticin de los ensayos todos los resultados debern ser
satisfactorios.
b) Si se someten a ensayo solamente los IDs tripolares o tetrapolares, esa columna deber tambin aplicarse
al lote de muestras que tengan el nmero de polos inferior.
c) Aplicable tambin a los Ids unipolares con neutro no interrumpido y a los IDs bipolares con un polo
protegido.
d) Aplicable tambin a los IDs tripolares con dos polos protegidos.
e) Aplicable tambin a los IDs tripolares con neutro no interrumpido y a los IDs tetrapolares con tres polos
protegidos.
f) Esta columna es omitida cuando los IDs tetrapolares hayan sido ensayados.
g) Si solamente un valor de I
n
es sometido a ensayo, estos lotes de muestras no son requeridos.

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PERUANA 151 de 177




ANEXO B
(NORMATIVO)

DETERMINACIN DE LAS DISTANCIAS DE
AISLAMIENTO Y DE LAS LNEAS DE FUGA


Para la determinacin de las distancias de aislamiento y de las lneas de fuga, se
recomienda tener en cuenta los siguientes puntos:


Si una distancia de aislamiento o una lnea de fuga queda influenciada por una o ms partes
metlicas, es necesario que la suma de las secciones sea al menos igual al valor mnimo
prescrito.


Las secciones individuales cuya longitud sea inferior a 1 mm no debern ser tomadas en
consideracin en la determinacin de la longitud total de las distancias de aislamiento y de
las lneas de fuga.


Para la determinacin de la lnea de fuga:


las ranuras de profundidad y ancho como mnimo iguales a 1 mm, debern
ser medidas a lo largo de su contorno;

las ranuras que tengan una de sus dimensiones inferior a este valor no se
tendrn en cuenta;

las nervaduras de altura mnima igual a 1 mm:

se mide el permetro de su contorno, si son parte integrante de un
componente de material aislante (por ejemplo por moldeado, soldadura o pegado);

se miden siguiendo el ms corto de los dos trayectos: longitud de la junta o
riel de la nervadura, si no forma parte integrante de un componente de material
aislante.

La aplicacin de las recomendaciones anteriores se indica en las figuras siguientes:

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PERUANA 152 de 177




las Figuras B.1, B.2 y B.3 indican la manera de tener o no en cuenta la
presencia de una ranura en una lnea de fuga;

las Figuras B.4 y B.5 indican la manera de tener o no en cuenta la presencia
de una nervadura en una lnea de fuga;

la Figura B.6 indica la manera de tener en cuenta la junta en el caso de una
nervadura obtenida por la insercin de una barrera aislante, cuando el riel exterior
de la nervadura tiene una longitud superior a la de la junta;

las Figuras B.7, B.8, B.9 y B.10 ilustran la manera de determinar la lnea de
fuga en el caso de medios de fijacin situados en las cavidades en las partes
aisladas de material aislante.























Dimensiones en mm

A = Materia aislante C = Parte conductora F = Lnea de fuga

FIGURAS B.1 a B.10 Ilustraciones de la aplicacin de las lneas de fuga


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Dimensiones en mm

A = Materia aislante C = Parte conductora F = Lnea de fuga

FIGURAS B.1 a B.10 Ilustraciones de la aplicacin de las lneas de fuga


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ANEXO C
(NORMATIVO)

DISPOSICIN PARA LA DETECCIN DE LA EMISIN
DE GASES IONIZADOS DURANTE LOS ENSAYOS DE
CORTOCIRCUITO


El aparato a ensayar se instala como se describe en la Figura C.1, lo que puede precisar una
adaptacin al diseo especfico del aparato, y de acuerdo con las instrucciones del
fabricante.


Cuando est especificada (es decir durante las operaciones "O"), se fija una hoja
transparente de polietileno de espesor 0,05 mm 0,01 mm que sobrepase 50 mm en todas
las direcciones las dimensiones globales de la cara delantera del aparato, pero no inferior a
200 mm x 200 mm, razonablemente extendida en una estructura, situada a una distancia de
10 mm de:


bien en la posicin ms saliente del elemento de operacin para un aparato
en el cual el elemento de operacin no se encuentre en una cavidad;

bien en el borde de la cavidad para un aparato en el cual el elemento de
operacin se encuentra en una cavidad.


La hoja de polietileno deber tener las propiedades fsicas siguientes:


Densidad a 23 C: 0,92 0,05 g/cm
3
.

Punto de fusin: 110 C - 120 C.


Cuando se requiera, se sita una barrera de material aislante, de al menos 2 mm de espesor,
como se describe en la Figura C.1, entre el orificio de salida y la hoja de polietileno, para
evitar que sea daada por las partculas calientes proyectadas por este orificio.


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PERUANA 155 de 177




Cuando se requiera, una rejilla (o rejillas) de acuerdo con la Figura C.2, se sitan a una
distancia de "a" mm de cada orificio de salida del aparato.


El circuito de rejilla (vase la Figura C.3) deber estar conectado a los puntos B y C.


Los parmetros del circuito de rejilla son los siguientes:


Resistencia R': 1,5 .


Hilo de cobre F': longitud 50 mm y dimetro segn el apartado 9.11.2.1 f1).




















Dimensiones en milmetros

FIGURA C.1 Dispositivo de ensayo


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PERUANA 156 de 177




























FIGURA C.2 Rejilla









FIGURA C.3 Circuito de rejilla

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ANEXO D
(NORMATIVO)

ENSAYOS DE RUTINA


Los ensayos especificados en esta NTP estn destinados a manifestar, hasta donde la
seguridad incumbe, variaciones inaceptables en el material o la fabricacin.


En general, es necesario efectuar ms ensayos para garantizar que cada ID est conforme
con las muestras que han satisfecho los ensayos de esta NTP, segn la experiencia
adquirida por el fabricante.


D.1 Ensayo de disparo


Se hace circular una corriente residual en cada uno de los polos del ID a su vez. El ID no
deber disparar para una corriente inferior o igual a 0,5 I
n
, pero deber disparar a I
n

dentro del tiempo especificado (vase la Tabla 1).


La corriente de ensayo deber aplicarse al menos cinco veces sobre cada ID y deber
aplicarse al menos dos veces sobre cada polo.


D.2 Ensayo dielctrico


Se aplica durante 1 s una tensin prcticamente sinusoidal de 1 500 V, de frecuencia 50
Hz/60 Hz, entre las partes siguientes:


a) estando el ID en la posicin "abierto", entre cada par de bornes que estn
enlazados elctricamente entre s cuando el ID est en la posicin "cerrado";

b) para los IDs que no comporten componentes electrnicas, estando el ID en
la posicin cerrado, consecutivamente entre cada polo y los otros enlazados entre
s;

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PERUANA 158 de 177




c) para los IDs que incorporan componentes electrnicas, estando el ID en la
posicin "abierto", ya sea entre todos los bornes de entrada de los polos
consecutivamente, o bien entre todos los bornes de salida de los polos por turnos, en
funcin de la posicin de las componentes electrnicas.


A lo largo del ensayo, no deber producirse ni contorneamiento, ni perforacin.


D.3 Desempeo del dispositivo de ensayo


Estando el ID en posicin de cerrado y conectado a una alimentacin de la tensin
apropiada, el dispositivo de ensayo, cuando est operado, deber provocar la apertura del
ID.


Cuando el dispositivo de ensayo est destinado para operar con ms de un valor de la
tensin, el ensayo deber efectuarse al valor ms bajo de la tensin.


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ANEXO E
(NORMATIVO)

LISTA DE ENSAYOS, SECUENCIA DE ENSAYOS
ADICIONALES Y NMERO DE MUESTRAS PARA LA
VERIFICACIN DEL CUMPLIMIENTO DE LOS ID
CON LOS REQUERIMIENTOS DE COMPATIBILIDAD
ELECTROMAGNTICA (EMC)


Los ensayos especificados en esta NTP estn destinados a revelar, hasta donde la seguridad
se vea comprometida, los cambios inaceptables de material o de fabricacin.


El apartado E.1 informa las referencias de los ensayos contenidos en esta NTP e incluye la
secuencia de ensayos y las condiciones mnimas de desempeo especificadas en el anexo
A.


El apartado E.2 especifica los ensayos adicionales, el nmero de muestras, la secuencias de
ensayos y las condiciones mnimas requeridas para la verificacin completa del
cumplimiento de los IDs con los requerimientos de EMC.


Las condiciones de ensayo y el criterio de comportamiento de la EMC son indicados en la
familia de normas para los IDs: IEC 61543.


La compatibilidad electromagntica de los IDs


E.1 Los ensayos de EMC ya se incluyen en la norma del producto


En la tercera columna de la Tabla E.1 se dan los ensayos incluidos en las secuencias de
ensayos de anexo A, asegurando un nivel adecuado de inmunidad de las perturbaciones
electromagnticas indicadas en la segunda columna. La primera columna da las referencias
correspondientes de las Tablas 1 y 2 de la norma IEC 61543.

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PERUANA 160 de 177




TABLA E.1

Referencias de las
Tablas 1 y 2 de la
IEC 61543
Fenmeno Electromagntico
Ensayos de la IEC
61008-1
T 1.3
T 1.4
T 1.5
T 1.8
T 2.4
Variaciones de amplitud de tensin
Tensin desbalanceada
Variaciones de la frecuencia
Campos magnticos radiados
Corrientes oscilatorias transitorias
9.9.5 y 9.17
9.9.5 y 9.17
9.2
9.11 y 9.18
9.19


E.2 Ensayos adicionales de EMC familia de normas de producto a ser
aplicadas


Los siguientes ensayos de la norma IEC 61543 se llevarn a cabo segn la Tabla E.2.


A menos que por otra parte se especifique, cada secuencia de ensayo se lleva a cabo en tres
nuevas muestras.


Si todas las muestras sometidas a ensayo segn la quinta columna de la Tabla E.2 pasan a
los ensayos, el cumplimiento de la norma es satisfactoria. Si slo el mnimo nmero dado
en la sexta columna pasan los ensayos, las muestras adicionales mostradas en la sptima
columna debern ser ensayadas y todos debern completar satisfactoriamente la secuencia
de ensayos.

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PERUANA 161 de 177




TABLA E.1

Secuencia
de ensayo
Tabla de
IEC
61543
Condicin
de
referencia
de la IEC
61543
Fenmeno
Nmero
de
muestras
Mnimo
nmero de
muestras
que
debern
pasar el
ensayo
Mximo
nmero de
muestras
para
repetir
ensayos
E.2.1 * 4


4

5


1.1


1.2

2.3

Armnicas,
interarmnicas

Tensin sealada

Transientes
unidireccionales
conducidas de
escala de tiempo
ms y s

3 I
n

mnimo
cualquier
I
n

2 3
E.2.2 5




5
2.1 a 2.5




2.2
Tensiones y
corrientes
oscilatorias
conducidas

Transientes
unidireccionales
conducidas de
escala de tiempo
ns
(incremento
repentino)
3 I
n

mnimo
cualquier
I
n

2 3
E.2.3 6 3.1 Descarga
electrosttica
3 I
n

mnimo
cualquier
I
n

2 3
* Para dispositivos que contienen oscilador continuamente operando, el ensayo de CISPR
14 deber llevarse a cabo en las muestras, previo a los ensayos de esta secuencia.
NOTA: A solicitud del fabricante el mismo juego de muestras puede sujetarse a ms de una
secuencia de ensayos.


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ANEXO IA
(INFORMATIVO)

MTODOS DE DETERMINACIN DEL FACTOR DE
POTENCIA DE UN CORTOCIRCUITO


No existe un mtodo uniforme que permita determinar con precisin el factor de potencia
de un cortocircuito. En este anexo se dan dos ejemplos de mtodos aceptables.


Mtodo I Determinacin segn la componente continua


El ngulo puede determinarse segn la curva de la componente continua de la onda de la
corriente asimtrica entre el instante del cortocircuito y el instante de la separacin de los
contactos, como sigue:


IA.1 La frmula de la componente continua es:


-Rt/L
e .
do d
i i =



Donde:


i
d
: es el valor de la componente continua en el instante t;

i
do
: es el valor de la componente continua en el instante seleccionado como
origen del tiempo;

L/R: es la constante del tiempo del circuito, en segundos;

t: es el tiempo en segundos, contado a partir del instante inicial;

e: es la base de los logaritmos neperianos.


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PERUANA 163 de 177




La constante de tiempo L/R puede determinarse segn la frmula arriba expuesta como
sigue:


a) medir el valor de ido en el instante del cortocircuito y el valor de i
d
a otro
instante t, antes de la separacin de los contactos;

b) determinar el valor de e
-Rt/L
dividiendo i
d
por i
do
;

c) segn una tabla de valores de e
-x
determinar el valor de -x correspondiente a
la relacin i
d
/i
do
;

d) el valor x representa entonces Rt/L, de donde se extrae L/R.


IA.2 Determinar el ngulo a partir de:

= arc tag L/R

Donde:

es de 2 veces la frecuencia real.


Este mtodo no es aplicable cuando las corrientes se miden con la ayuda de
transformadores de intensidad.


Mtodo II Determinacin con un generador piloto


Cuando se utilice un generador piloto montado sobre el eje del generador de ensayo, la
tensin del generador piloto sobre el oscilograma puede compararse desde el punto de vista
del ngulo de fase, primero con aquel del generador de ensayo y a continuacin con la
corriente del generador de ensayo.


La diferencia de ngulo de fase entre la tensin del generador piloto y aquel del generador
principal por una parte, y entre la tensin del generador piloto y la corriente del generador
principal por otra parte, da el ngulo de fase entre la tensin y la corriente del generador de
ensayo, a partir del cual se puede determinar el factor de potencia.

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ANEXO IB
(INFORMATIVO)

GLOSARIO DE SMBOLOS


Corriente nominal. I
n


Corriente residual. I



Corriente residual de operacin nominal. I
n


Corriente residual de no operacin nominal. I
no


Tensin nominal. U
n


Tensin de operacin nominal. U
e


Tensin de aislamiento nominal. U
i


Poder de corte y de cierre nominal. I
m


Poder de corte y de cierre diferencial nominal. I
m


Corriente residual condicional de cortocircuito nominal. I
nc


Corriente residual condicional de cortocircuito nominal. I
c


Valor lmite de la tensin de alimentacin a la cual un ID, U
x

funcionalmente dependiente de la tensin de alimentacin,
contina funcionando.

Valor lmite de la tensin de alimentacin por debajo de la cual un ID, U
y

funcionalmente dependiente de la tensin de alimentacin,
se abre automticamente.

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ANEXO IC
(INFORMATIVO)

EJEMPLOS DE DISEO DE BORNES



En este anexo, se dan algunos ejemplos de diseo de bornes.


Los alojamientos del conductor debern tener un dimetro para los conductores rgidos y
una seccin que acepte los conductores cableados rgidos.


EJEMPLOS DE BORNES


En este anexo se dan algunos ejemplos de diseos de los bornes. El alojamiento del
conductor deber tener un dimetro suficiente para dar cabida a los conductores slidos
rgidos, y una seccin suficiente para dar cabida a los conductores cableados rgidos (vase
el apartado 7.1.5).


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La parte del borne que lleva el agujero roscado y la parte del borne contra la cual se aprieta
el conductor, pueden ser dos partes separadas, como en el caso de un borne con estribo.

FIGURA IC.1 Ejemplos de bornes con agujero


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A: Parte fija
B: Arandela o plaquita
C: Dispositivo que impide que el conductor o sus filamentos se escapen
D: Alojamiento del conductor
E: Esprrago

La parte que retiene el conductor en su sitio puede ser de material aislante, siempre que la presin necesaria
para el roscado del conductor no se transmita a travs de la materia aislante.

FIGURA IC.2 Ejemplos de bornes de apriete bajo cabeza de tornillo
y bornes con esprrago roscado

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A: Placa
B: Parte fija
C: Esprrago
D: Espacio ocupado por el conductor

Las dos caras de la placa pueden ser de forma diferente para alojar bien los conductores de pequea seccin y
los conductores de gran seccin, mediante la inversin de la plaquita.
Los bornes pueden tener ms de dos tornillos o esprragos de presin.

FIGURA IC.3 Ejemplos de bornes con plaquita


A: Dispositivo de bloqueo
B: Terminal de cable o pletina
E: Parte fija
F: Esprrago

Para este tipo de borne deber preverse una arandela elstica o un dispositivo de bloqueo eficaz y la
superficie de la zona de apretado deber ser lisa.
Para algunos tipos de material se admite el empleo de bornes para terminales de cable y pletinas de tamao
ms pequeo que el permitido.

FIGURA IC.4 Ejemplos de bornes para terminales de cables y pretinas

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ANEXO ID
(INFORMATIVO)

CORRESPONDENCIA ENTRE CONDUCTORES DE
COBRE ISO Y AWG


AWG
ISO
mm
2
Calibre
Seccin transversal
mm
2

1,0
1,5
2,5
4,0
6,0
10,0
16,0
25,0
35,0
50,0
18
16
14
12
10
8
6
3
2
0
0,82
1,3
2,1
3,3
5,3
8,4
13,3
26,7
33,6
53,5


En general, se aplican los calibres segn ISO.


Frente a requerimiento del fabricante, se pueden usar calibres AWG.



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ANEXO IE
(INFORMATIVO)

SEGUIMIENTO DEL PROGRAMA DE ENSAYO PARA
LOS ID


IE.1 Generalidades


Para garantizar que se mantenga el nivel de calidad de los productos, el seguimiento de los
procedimientos de inspeccin en el proceso de fabricacin tienen que ser fijados por los
fabricantes.


Este anexo da un ejemplo de seguimiento del procedimiento a ser aplicado cuando son
fabricados los IDs.


Puede usarse como una gua por los fabricantes para adaptar sus procedimientos
especficos y organizacin, que apuntan a guardar el nivel de calidad requerido del
rendimiento del producto.


En particular, cualquier previsin para proporcionar el seguimiento, as como el
seguimiento de la fabricacin pueden tomarse para garantizar la calidad de los productos
fabricados, que dependa de la operacin segura del dispositivo de corriente residual.


IE.2 Seguimiento del programa de ensayos


El seguimiento del Programa de ensayos incluye dos series de ensayos:


IE.2.1 Seguimiento del programa de ensayos trimestral


Vase la Tabla IE.1, secuencia de ensayo Q.


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IE.2.2 Seguimiento del programa de ensayos anual


Vase la Tabla IE.1, secuencias de ensayos Y1 a Y3.


NOTA: El seguimiento del ensayo anual puede ser combinado con el seguimiento del ensayo
trimestral.


TABLA IE.1 Secuencia de Ensayos durante el seguimiento de las inspecciones

Secuencia
de ensayo
Apartado Ensayo Comentarios
Q 9.16




9.9.2.1
9.9.2.3
9.20
Dispositivo de ensayo




Caractersticas de operacin residual
Caractersticas de operacin residual
Resistencia de aislamiento contra
tensiones de impulso
Los tems b) y c) solamente,
excepto la verificacin de los
ampere-vueltas del circuito de
ensayo



Tambin deber ser llevado a
cabo entre cada polo a su vez
Y1
9.9.4
9.7
9.10
Caractersticas de operacin residual
Ensayo de las propiedades
dielctricas
Endurancia mecnica y elctrica

Y2 9.22.1 Confiabilidad (ensayo climtico)
Y3 9.23 Resistencia al envejecimiento


IE.2.3 Procedimiento de muestreo


IE.2.3.1 Programa de Ensayo Trimestral


Para el propsito del programa de ensayo trimestral los siguientes niveles de inspeccin
son aplicados:


- inspeccin normal;
- inspeccin exigente.


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La inspeccin normal ser usada para el primer seguimiento de inspeccin.


Para las inspecciones sucesivas, normal o inspeccin exigente, o con paralizacin de la
produccin son aplicadas, dependiendo de los resultados de los ensayos continuos.


Para cambiar a otro nivel de inspeccin superior, el siguiente criterio deber ser aplicado:


Permaneciendo en el nivel normal

Cuando la inspeccin normal es aplicada, el nivel normal se mantiene si todas las seis
muestras pasan la secuencia de ensayos (vase la Tabla IE.2, secuencia Q). Si cinco
muestras pasan la secuencia de ensayo, la inspeccin subsiguiente es efectuada slo
un mes despus del primer precedente, con el mismo nmero de muestras y la misma
secuencia de ensayo.

Normal a exigente

Cuando la inspeccin normal es aplicada, la inspeccin exigente se aplicar cuando
slo cuatro de las muestras pasan la secuencia de ensayo.

Normal a paralizacin de la produccin

Cuando la inspeccin normal es aplicada y menos de cuatro muestras pasan la
secuencia de ensayo, la produccin deber ser descontinuada, hasta que se de accin
para mejorar la calidad.

Exigente a normal

Cuando la inspeccin exigente es aplicada, la inspeccin normal deber ser aplicada
cuando por lo menos 12 muestras pasan la secuencia de ensayo (vase la Tabla IE.2).

Mantenindose en nivel exigente

Cuando, estando en nivel exigente, slo 10 11 muestras pasan la secuencia de
ensayo, el nivel exigente se mantiene y la inspeccin subsiguiente es efectuada un
mes despus del primer precedente, con el mismo nmero de muestras y la misma
secuencia de ensayo.



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Exigente a parada de la produccin

En caso de cuatro inspecciones consecutivas permanecen en el nivel exigente o
cuando menos de 10 muestras pasan la secuencia de ensayo, la produccin deber
descontinuarse hasta que se tome accin para mejorar la calidad.

Reinicio de la produccin

La produccin puede reiniciarse despus de la accin correctiva apropiada y
ratificada. El reinicio se har bajo las condiciones de la inspeccin exigente.


IE.2.3.2 Programa de ensayo anual


Para el propsito del programa de ensayo anual los siguientes niveles de inspeccin son
aplicados:


- inspeccin normal;
- inspeccin exigente.


La inspeccin normal ser usada para el primer seguimiento de inspeccin.


Para las inspecciones sucesivas, las inspecciones normales o exigentes son aplicadas,
dependiendo de los resultados de los ensayos continuos.


Para cambiar a otro nivel de inspeccin superior, el siguiente criterio deber ser aplicado:


Permaneciendo en el nivel normal

Cuando la inspeccin normal es aplicada, el nivel normal se mantiene si todas las
muestras pasan la secuencia de ensayos Y1 y no ocurre ninguna falla durante las
secuencias de ensayo Y2 y Y3, la inspeccin subsiguiente es efectuada tres meses
despus del primer precedente, con el mismo nmero de muestras y las mismas
secuencias de ensayo.



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Normal a exigente

Cuando la inspeccin normal es aplicada, la inspeccin exigente se aplicar cuando:

- slo una muestra pasa la secuencia de ensayo Y1;
- u ocurre una falla durante cualquiera de una de las secuencias de ensayos Y2
Y3.

La inspeccin subsiguiente se efectuar dentro de tres meses del primer precedente,
al nivel exigente para cualquier secuencia en que ocurri la falla y al nivel normal
para las otras secuencias de ensayo.

Normal a paralizacin de la produccin

Cuando la inspeccin normal es aplicada y las muestras no pasan la secuencia de
ensayo Y1, u ocurre ms de una falla durante las secuencias de ensayo Y2 Y3, la
produccin deber ser paralizada, hasta que se de accin para mejorar la calidad.

Exigente a normal

Cuando la inspeccin exigente es aplicada, la inspeccin normal deber ser aplicada
cuando:

- al menos cinco muestras pasan la secuencia de ensayo Y1; y
- no ocurren fallas durante las secuencias de ensayos Y2 Y3.

Mantenindose en nivel exigente

Cuando, estando en nivel exigente, slo cuatro muestras pasan la secuencia de
ensayo Y1 y no ocurren fallas durante las secuencias de ensayo Y2 y Y3, el nivel
exigente se mantiene y la siguiente inspeccin es efectuada dentro de los tres meses
del primer precedente, con el mismo nmero de muestras y las mismas secuencias
de ensayo.

Exigente a parada de la produccin

En caso de cuatro inspecciones consecutivas permanecen en el nivel exigente o
cuando durante una inspeccin anual ocurre una de las siguientes fallas:

- menos de cuatro muestras pasan la secuencia de ensayo Y1;

- ocurre ms de una falla durante las secuencias de ensayo Y2 Y3;

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La produccin deber ser paralizada hasta que se d la accin para mejorar la
calidad.

- Reinicio de la produccin

La produccin puede reiniciarse despus de la accin correctiva apropiada y
ratificada. El reinicio se har bajo las condiciones de la inspeccin exigente.


IE.2.4 Nmero muestras a ser ensayadas


El nmero de muestras para varios niveles de inspeccin son dados en la Tabla IE.2.


TABLA IE.2 - Nmero muestras a ser ensayadas

Secuencia de inspeccin
Nmero de muestras para
inspeccin normal
Nmero de muestras para
inspeccin exigente
Q 6 13
Y1, Y2, Y3 Cada 3 Cada 6


Fuera de cada serie de ID del mismo diseo bsico, solamente un juego de muestras
necesitan ser ensayadas, sin considerar los valores nominales.


Para el propsito del seguimiento del programa de ensayos, los IDs son considerados del
mismo diseo bsico si ellos corresponden a la misma clasificacin de acuerdo al apartado
4.1, y:


- Los medios de operacin por corriente residual tienen idnticos mecanismos
de disparo, e idntico rel o solenoide, experto para:

- el nmero de turns y seccin del alambrado;
- los calibres y material de la bobina del transformador diferencial;
- la corriente residual nominal; y

- La parte electrnica, si hubiera, es del mismo diseo y usa los mismos
componentes, excepto para variaciones tal como lograr diferente I
n
.

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ANEXO IF
(INFORMATIVO)

DISPOSITIVOS DE PROTECCON CONTRA CORTOCIRCUITOS -
SCPDs PARA ENSAYOS DE CORTOCIRCUITO


IF.1 Introduccin


Para la verificacin de los valores de I
2
t mnimo e Ip a ser soportado por el ID, dados en la
Tabla 15, debern llevarse a cabo ensayos de cortocircuito. Los ensayos de cortocircuito
debern ser efectuados haciendo uso de un fusible o alambre de plata, usando los aparatos
de ensayo mostrados en la Figura 10, o por cualquier otro medio que produzca los calores
requeridos de I
2
t e Ip.


IF1.1 Alambres de plata


Para el propsito de verificacin de los valores de I
2
t mnimo e Ip a ser soportado por el ID,
para obtener la reproducibilidad de los resultados del ensayo, el dispositivo de proteccin
contra cortocircuitos - SCPD, si hubiese, puede ser un alambre de plata que usa el aparato
de ensayo mostrado en la Figura 10.


Los alambres de plata con por lo menos 99,9 % de pureza, la Tabla IF.1 da un indicacin
de los dimetros de acuerdo a la corrientes nominal I
n
y de cortocircuito I
nc
y I
dc
.

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TABLA IF.1 Indicacin de los dimetros de alambres de plata en funcin de las
corrientes nominales y corrientes de cortocircuito nominales


I
n

A
16 20 25 32 40 63 80 100 125
I
nc
y I
dc

Dimetro del alambre de plata * mm
500 0,30 0,35 0,35 0,35
1 000 0,30 0,35 0,40 0,50
1 500 0,35 0,40 0,45 0,50 0,65 0,85
3 000 0,35 0,40 0,45 0,50 0,60 0,80 0,95 1,05 1,15
4 500 0,35 0,40 0,45 0,50 0,60 0,80 0,90 1,05 1,15
6 000 0,35 0,40 0,45 0,50 0,60 0,75 0,90 0,95 1,00
10 000 0,35 0,40 0,45 0,50 0,60 0,70 0,85 0,90 0,95
* Los valores del dimetro del alambre de plata estn basados esencialmente sobre las consideraciones de la
corriente de pico (Ip) (Vase la Tabla 15).

El alambre de plata se insertar en la posicin apropiada del aparato de ensayo mostrada en
Figura 10, horizontalmente y estirado. El alambre de plata se reemplazar despus de cada
ensayo.


IF.2 Fusibles


Con el propsito de verificar los valores de It mnimo e Ip a ser soportados por el ID para
obtener la reproducibilidad de los resultados del ensayo, el dispositivo de proteccin contra
cortocircuitos - SCPD, si hubiese, puede ser un fusible correspondiente.


El calibre del fusible no deber ser menor que la calibracin del ID. Valores nominales
superiores de fusibles pueden se usados para obtener los valores de It e Ip de la Tabla 15.


Los valores del intermedio pueden ser logrados agregando los fusibles en paralelo.


IF.3 Otros medios


Pueden usarse otros medios con tal de que se cumplan los valores de la Tabla 15.