CARLOS EDUARDO BASSI MAIO

Tcnicas para monitoramento de integridade estrutural usando

sensores e atuadores piezoeltricos









Dissertao apresentada Escola de
Engenharia de So Carlos da
Universidade de So Paulo, para obteno
do Ttulo de Mestre em Engenharia
Mecnica. rea de Concentrao:
Dinmica das Mquinas e Sistemas.









Orientador: Prof. Dr. Marcelo Areias Trindade









So Carlos

2011
ESTE EXEMPLAR TRATA-SE
DA VERSO CORRIGIDA.
A VERSO ORIGINAL
ENCONTRA-SE DISPONVEL
JUNTO AO DEPARTAMETO DE
ENGENHARIA MECNICA DA
EESC-SP






















AUTORIZO A REPRODUO E DIVULGAO TOTAL OU PARCIAL DESTE
TRABALHO, POR QUALQUER MEIO CONVENCIONAL OU ELETRNICO,
PARA FINS DE ESTUDO E PESQUISA, DESDE QUE CITADA A FONTE.
Ficha catalogrfica preparada pela Seo de Tratamento
da Informao do Servio de Biblioteca EESC/ USP



Maio, Carlos Eduardo Bassi
M227t Tcnicas para monitoramento de integridade estrutural
usando sensores e atuadores piezoeltricos / Carlos
Eduardo Bassi Maio ; orientador Marcelo Areias Trindade.
- So Carlos, 2010.


Dissertao (Mestrado-Programa de Ps-Graduao em
Engenharia Mecnica e rea de Concentrao em Dinmica
das Mquinas e Sistemas) - Escola de Engenharia de So
Carlos da Universidade de So Paulo, 2010.


1. Materiais compsitos. 2. Integridade estrutural -
monitoramento. 3. Mtodo dos elementos finitos.
4. Monitoramento tcnicas. 5. Materiais piezoeltricos.
I. Ttulo.




Dedico este trabalho a minha
famlia, principalmente, a meus
pais Herminia e Antonio Carlos
(in memorian), a meu padrasto
Marco, a meu irmo Cesar e a
minha noiva Natlia, que sempre
me deram fora e apoio.
Agradecimentos

Agradeo em primeiro lugar a Deus, sem o qual nada disso seria possvel;
Ao professor Dr. Marcelo Areias Trindade pela oportunidade, confiana e pacincia,
principalmente, ao longo deste trabalho. Por ter compartilhado comigo, desde os
tempos da graduao, seu conhecimento e amizade, sendo um exemplo de
competncia e dedicao;
famlia da minha noiva, em especial, ao Geraldo e a Ftima que sempre me
apoiaram e incentivaram durante a realizao deste trabalho;
A todos os funcionrios do Laboratrio de Dinmica da Escola de Engenharia de So
Carlos;
Aos professores da banca de defesa, pela disposio e sugestes que ajudaram a
enriquecer o contedo desta dissertao;
Escola de Engenharia de So Carlos da Universidade de So Paulo (EESC-USP) e a
Coordenao de Aperfeioamento de Pessoal de Nvel Superior (CAPES), esta pelo
apoio financeiro e aquela pela slida base acadmica que me proporcionou durante a
graduao e ps-graduao;
E a todos aqueles que de alguma forma contriburam para realizao deste projeto.
O homem do tamanho do seu sonho.

Fernando Pessoa (1888-1935), poeta portugus

Resumo

MAIO, C.E.B. Tcnicas para monitoramento de integridade estrutural usando sensores e
atuadores piezoeltricos. 2011. 113 p. Dissertao (Mestrado) Escola de Engenharia de So
Carlos, Universidade de So Paulo, So Carlos-SP.

A utilizao de materiais piezoeltricos, na funo de sensores e atuadores
distribudos, para o controle e monitoramento de vibraes estruturais tem um enorme
potencial de aplicao nas indstrias aeronutica, aeroespacial, automobilstica e
eletroeletrnica. O uso de sensores piezoeltricos integrados para monitoramento de
integridade estrutural (ou deteco de falhas), em particular, tem evoludo bastante na ltima
dcada. Por conseguinte, o nmero de tcnicas utilizadas para esse fim so as mais variadas
possveis. Dentre elas esto s tcnicas que avaliam o efeito dos danos em baixa freqncia
usando parmetros modais, em especial freqncias naturais e modos, ou em mdia-alta
freqncia medindo-se a impedncia/admitncia eletromecnica. O objetivo dessa dissertao
desenvolver, com auxlio de um modelo 2D ANSYS em elementos finitos, uma anlise de
diferentes tcnicas para deteco da posio e tamanho da delaminao em estruturas
compsitas utilizando pastilhas piezoeltricas. Vrias mtricas e tcnicas so avaliadas em
termos de sua capacidade de identificar, com relativa acurcia, a presena, localizao e
severidade do dano. Os resultados mostram que ambas as tcnicas modal e baseada na
impedncia so capazes de identificar a presena de danos do tipo delaminao, desde que as
pastilhas piezoeltricas estejam prximas do dano. Tambm mostrado que as tcnicas
baseadas na impedncia parecem ser mais eficientes do que as modais para deteco da
posio e tamanho da delaminao.

Palavras-chave: Estruturas Inteligentes; Materiais Piezoeltricos; Elementos finitos;
Monitoramento de Integridade Estrutural; Tcnicas de Monitoramento.

Abstract

MAIO, C.E.B. Techniques for structural health monitoring using piezoelectric sensors and
actuators. 2011, 113 p. Masters dissertation - So Carlos School of Engineering, University
of So Paulo, So Carlos.

The use of piezoelectric materials in the function of distributed sensors and actuators
for the control and monitoring of structural vibrations has enormous potential for application
in the aeronautical, aerospace, automotive and electronics. The use of integrated piezoelectric
sensors for structural health monitoring (or damage detection), in particular, has evolved
greatly over the last decade. Consequently, the numbers of techniques used for this purpose
are highly diverse. Among them are techniques that evaluate the effect of damages on low
frequency modal parameters, especially natural frequencies and mode shapes, or on medium-
high frequency measurements of electromechanical impedance/admittance. The objective of
this dissertation is to perform, with the aid of a 2D ANSYS finite element model, an analysis
of different techniques for the detection of position and size of a delamination in a composite
structure using piezoelectric patches. Several metrics and techniques are evaluated in terms of
their capability of identifying, with relative accuracy, the presence, location and severity of
the damage. Results show that both modal and impedance-based techniques are able to
identify the presence of the delamination-type damages, provided the piezoelectric patches are
close enough to the damage. It is also shown that impedance-based techniques seem more
effective than modal ones for the detection of delamination position and size.

Keywords: Smart Structures; Piezoelectric Materials; Finite Elements; Structural
Health Monitoring; Monitoring Techniques.

Sumrio
Introduo e Anlise Bibliogrfica ....................................................................................... 21
1.1. Motivao ..................................................................................................................... 21
1.2. Anlise Bibliogrfica ................................................................................................... 22
1.2.1. Tcnicas de Monitoramento da Integridade Estrutural ................................... 22
1.2.2. Deteco de falhas utilizando materiais piezoeltricos ..................................... 25
1.2.3. Modelos de delaminao ...................................................................................... 31
1.3. Objetivos ...................................................................................................................... 34
Modelagem .............................................................................................................................. 35
2.1. Caractersticas do Modelo ...................................................................................... 35
2.2. Modelagem em Ansys .............................................................................................. 37
2.3. Formulao terica para anlise harmnica ........................................................ 54
ndices utilizados para deteco ............................................................................................ 57
3.1. ndices Modais ............................................................................................................. 57
3.1.1. Variao Relativa das Freqncias Naturais (VRFN) ........................................ 57
3.1.2. Variao do Coeficiente de Acoplamento Eletromecnico (VEMCC) ................ 59
3.2. ndices Baseados na Resposta em Freqncia .......................................................... 60
3.2.1. Desvio quadrtico mdio (RMSD) ........................................................................ 61
3.2.2. Desvio Mdio Absoluto Percentual (MAPD) ....................................................... 62
3.2.3. Covarincia (COV) ................................................................................................ 63
3.2.4. Desvio do Coeficiente de Correlao (CCD) ........................................................ 63
3.2.5. Desvio do Coeficiente de Correlao ao Cubo (CCD
3
) ........................................ 64
3.2.6. Norma Infinita (H
inf
) ............................................................................................. 64
3.2.7. Norma Quadrada ou Euclidiana (H
2
) .................................................................. 65
Resultados ............................................................................................................................... 66
4.1. Anlise Modal .............................................................................................................. 66
4.2. Anlise Harmnica ...................................................................................................... 72
Concluses e Perspectivas .................................................................................................... 105
ANEXO I ............................................................................................................................... 113


Lista de Figuras
Figura 1: Diagrama esquemtico de um piezoeltrico polarizado na direo 3. ...................... 27
Figura 2: Malha de elementos finitos aplicada ao modelo da estrutura para uma delaminao
de 60 mm, construda a partir da subtrao de material da primeira e segunda camada em
formato de uma elipse.......................................................................................................... 34
Figura 3: Representao esquemtica das propriedades geomtricas do modelo. ................... 36
Figura 4: Diagrama das etapas do processo de modelagem utilizando ANSYS. ..................... 37
Figura 5: Representao do elemento PLANE82 e PLANE223 e posio dos ns, nas verses
quadrangular e triangular, conforme conveno adotada pelo ANSYS [38]. ..................... 38
Figura 6: Modelo da estrutura com delaminao de 10 mm com seu centro posicionado a 60
mm do engaste, construdo a partir de reas retangulares. .................................................. 40
Figura 7: Representao das estruturas que compem o modelo de acordo com suas
propriedades e elementos diferenciadas pelas cores roxa, azul e vermelha. ....................... 42
Figura 8: Representao da malha de Elementos Finitos criada a partir de elementos
quadrangulares de comprimento 1 mm, com refinamento em Y nas pastilhas piezoeltricas
e nas duas primeras camadas onde encontra-se a delaminao. .......................................... 43
Figura 9: Ns que unem a primeira pastilha piezoeltrica ao resto da estrutura, acoplados
atrves do comando MERGE. ............................................................................................. 44
Figura 10: Representao do equipotencial realizado na superfcie superior das pastilhas
piezoeltricas utilizando o comando Couple DOFs. ........................................................... 44
Figura 11: Aplicao das condies de contorno eltricas, circuito fechado para duas pastilhas
piezoeltricas, e estruturais, restries aos deslocamentos X e Y dos ns pertencentes s
linhas que se encontram a extremidade esquerda da viga. .................................................. 45
Figura 12: Representao das condies de contorno eltricas e estruturais aplicadas aos ns.
possvel visualizar na pastilha piezoeltrica a aplicao da condio de contorno eltrica,
circuito fechado, juntamente com o equipotencial. ............................................................. 46
Figura 13: Status da Soluo onde so apresentados todos os parmetros utilizados no clculo
da soluo. ........................................................................................................................... 47
Figura 14: Representao de alguns modos de vibrar da estrutura configurada para uma
delaminao de 10 mm, posicionada a 60 mm do engaste e com condio de contorno
eltrica de circuito fechado para os dois PZTs: (a) 14 primeiros modos de vibrar da viga
engastada livre e (b) zoom para os 10, 20, 30, 40 e 50 modos de vibrar com destaque para
a delaminao. ..................................................................................................................... 48
Figura 15: Representao da estrutura aplicando-se uma excitao de carga eltrica na
superfcie da primeira pastilha piezoeltrica e ajustando-se as condies de contorno
eltricas da segunda pastilha para circuito aberto. .............................................................. 51
Figura 16: Status da Soluo onde so apresentadas todas as configuraes utilizadas para
calcular a resposta harmnica. ............................................................................................. 52
Figura 17: Modelo da estrutura aps o clculo da resposta harmnica, com destaque para
foras e condies de contorno que agem sobre as duas pastilhas piezoeltricas. .............. 53
Figura 18: Variao das freqncias naturais em relao referncia para os cem primeiros
modos com os PZTs 1 e 2 em circuito fechado (a) delaminao posicionada a 60 mm do
engaste variando-se seu comprimento em 10, 20 e 30 mm; (b) delaminao de 30 mm de
comprimento variando-se sua posio em relao ao engaste em 60, 85 e 110 mm........... 67
Figura 19: Mdias da variao das freqncias naturais para quatro faixas, calculadas de 25
em 25 modos de vibrao, das trs posies de delaminao (60, 85 e 110 mm) nos trs
tamanhos de falhas (10, 20 e 30 mm), com os dois PZTs em circuito fechado. ................. 68
Figura 20: Comparao da Variao do Coeficiente de Acoplamento Eletromecnico
(EMCC), em pontos percentuais, dos PZTs 1 e 2 em relao referncia para os cem
primeiros modos de vibrao com uma delaminao de 30 mm (a) delamiao posicionada
a 60 mm do engaste; (b) delaminao posicionada a 110 mm do engaste. ......................... 69
Figura 21: Mdias do VEMCC, em pontos percentuais, em relao referncia para quatro
faixas, calculadas de 25 em 25 modos de vibrao, das trs posies de delaminao 60, 85
e 110 mm, nos trs tamanhos de falhas 10, 20 e 30 mm, (a) mdia do EMCC do PZT 1; (b)
mdia do EMCC do PZT 2. ................................................................................................. 70
Figura 22: Funes de Resposta em Freqncia para estrutura sem delaminao e com
delaminao de 30 mm, posicionada a 60 mm do engaste, calculadas para Parte Real, Parte
Imaginria e Amplitude da Impedncia............................................................................... 73
Figura 23: Funes de Resposta em Freqncia para estrutura sem delaminao e com
delaminao de 30 mm, posicionada a 60 mm do engaste, calculadas para Parte Real, Parte
Imaginria e Amplitude da Admitncia............................................................................... 74
Figura 24: Funes de Resposta em Freqncia para estrutura sem delaminao e com
delaminao de 30 mm, posicionada a 60 mm do engaste, calculadas para Parte Real, Parte
Imaginria e Amplitude da Elastncia. ................................................................................ 75
Figura 25: Representao dos grficos de barras que sero utilizados nas anlises. (a) grfico
para se determinar a crescimento da delaminao; (b) grfico para se determinar a posio
da delaminao. ................................................................................................................... 77
Figura 26: Grficos das mdias dos ndices normalizados tidos como ideais para o caso em
estudo (a) critrio de crescimento; (b) critrio de posio. ................................................. 78
Figura 27: ndices calculados com base na Parte Real, que se comportaram segundo o critrio
1: (a, b, c, d, e) Impedncia; (f, g) Admitncia. ................................................................... 79
Figura 28: ndices calculados com base na Parte Imaginria, que se comportaram segundo o
critrio 1: (a, b, c, d) Impedncia; (e, f) Elastncia. ............................................................ 81
Figura 29: ndices calculados com base na Amplitude da Impedncia, que se comportaram
segundo o critrio 1. ............................................................................................................ 83
Figura 30: Mdias dos ndices normalizadas calculados sobre a Parte Real, que se
comportaram segundo o critrio 1: (a, b, c, d, e) Impedncia; (f, g) Admitncia. .............. 85
Figura 31: Mdias dos ndices normalizados calculadas sobre Parte Imaginria, que se
comportaram segundo o critrio 1: (a, b, c, d) Impedncia; (e, f) Elastncia. ..................... 86
Figura 32: Mdias dos ndices normalizados calculadas sobre a Amplitude da impedncia, que
se comportaram segundo o critrio 1. .................................................................................. 87
Figura 33: Comparao dos ndices com melhor desempenho (critrio 1) com o valor
considerado ideal (a) ndice RMSD
GR
calculado para Parte Imaginria e Amplitude da
Impedncia; (b) ndice RMSD
GR
calculado para Parte Real da Impedncia; (c) ndice H
2

calculado para Parte Imaginria e Amplitude da Impedncia. ............................................ 88
Figura 34: ndices calculados com base na Parte Real dos PZTs 1 e 2, que se comportaram
segundo o critrio 2: (a, b) Impedncia; (c, d, e, f, g) Admitncia e (1h, 2h) Elastncia. ... 90
Figura 35: ndices calculados com base na Parte Imaginria dos PZTs 1 e 2, que se
comportaram segundo o critrio 2: (1a, 2a) Impedncia; (1b, 2b, 3b) Admitncia e (c, d)
Elastncia. ............................................................................................................................ 93
Figura 36: ndices calculados com base na Amplitude dos PZTs 1 e 2, que se comportaram
segundo o critrio 2: (1a, 2a) impedncia; (1b, 2b) admitncia e (1c, 2c) elastncia. ........ 95
Figura 37: Mdia dos ndices normalizados calculadas com base na Parte Real dos PZTs 1 e
2, que se comportaram segundo o critrio 2: (a, b) Impedncia; (c, d, e, f, g) Admitncia e
(1h, 2h) Elastncia. .............................................................................................................. 97
Figura 38: Mdia dos ndices normalizados calculadas com base na Parte Imaginria dos
PZTs 1 e 2, que se comportaram segundo o critrio 2: (1a, 2a) Impedncia; (1b, 2b, 3b)
Admitncia e (c, d) Elastncia. ............................................................................................ 99
Figura 39: Mdia dos ndices normalizados calculadas com base na Amplitude dos PZTs 1 e
2, que se comportaram segundo o critrio 2: (1a, 2a,) Impedncia; (1b, 2b) Admitncia e
(1c, 2c) Elastncia.............................................................................................................. 100
Figura 40: ndices que apresentaram valores aproximados, para o PZT 1 e 2, quando
calculados para delaminao posicionada a 85 mm do engaste e comparados com seus
valores esperados. Parte Real: (a) Admitncia (b) Elastncia; Parte Imaginria: (c)
Admitncia (d, e) Impedncia; Amplitude: (f) Admitncia (g, h) Impedncia (i, j)
Elastncia. .......................................................................................................................... 101

Lista de Tabelas
Tabela 1: Freqncia natural dos cem primeiros modos de vibrar da estrutura sem defeitos e
com as duas Pastilhas Piezoeltricas em circuito fechado. ................................................. 66
Tabela 2: Apresentao dos ndices que foram selecionados utilizando o critrio (1)
crescimento da falha; e (2) posio da falha........................................................................ 78
Tabela 3: ndices que satisfizeram o critrio 1, pr-estabelecido, separados pelas grandezas e
medidas para as quais eles foram calculados....................................................................... 87
Tabela 4: ndices que atendem o critrio 2 e assinalados por * aqueles que apresentam para
posio de delaminao de 85 mm valores que no se excedam em 10%. ....................... 101
Tabela 5: Razes entre os valores de cada ndice (H
2
) calculado para o PZT 1 e PZT 2 para as
trs posies de delaminao. ............................................................................................ 103

21

Captulo 1

Introduo e Anlise Bibliogrfica

1.1. Motivao
O estudo de controle e monitoramento de estruturas tm avanado bastante nos
ltimos anos graas crescente possibilidade do desenvolvimento de sistemas de controle
totalmente integrados estrutura a ser controlada/monitorada. Isto vem sendo possibilitado de
um lado pelo crescente desenvolvimento de estruturas compsitas laminadas e por outro lado
pelo crescente desenvolvimento de materiais funcionais, ditos inteligentes, que podem ser
integrados nestas estruturas compsitas como atuadores e/ou sensores distribudos. quase
desnecessrio afirmar que a possibilidade de se construir uma estrutura compsita cujos
componentes (ou camadas, por exemplo) sejam capazes de prover estrutura os nveis de
amortecimento necessrio para dada operao, a capacidade de adaptar suas propriedades em
funo do ambiente de operao, e a funo de monitoramento, e possivelmente de correo,
de sua integridade estrutural ao longo do tempo, teria um enorme potencial de aplicao nas
indstrias aeronutica, aeroespacial, automobilstica e eletroeletrnica.
As tcnicas de monitoramento da integridade estrutural (SHM, do ingls Structural
Health Monitoring) tambm tm sido tema de grandes grupos de estudos tcnico e cientfico
nas ltimas duas dcadas. Esta tendncia pode ser atribuda aos elevados custos de
manuteno e reparo, alm do valor inestimvel da perda de vidas, associada a danos que se
propagam ao longo da estrutura causando em ltima instncia acidentes catastrficos. Com o
passar do tempo, o custo de manuteno e reparo de mecanismos e estruturas tornam-se cada
vez mais preocupantes. O monitoramento da integridade estrutural pode amenizar esta
situao, uma vez que substitui a manuteno programada pela manuteno necessria,
diminuindo manutenes fora de hora, que atrapalham a produo em grandes indstrias e
ocasionam gargalos em companhias prestadoras de servios, que deixam de operar com sua
capacidade mxima. Tais fatos podem ser evitados com a instalao de um sistema de
monitoramento na estrutura, fornecendo maior segurana e confiabilidade a esses
mecanismos, ou em novas estruturas, com a incluso de sensores/atuadores para o
monitoramento desde a concepo, reduzindo custos e prolongando a vida til do produto.

22

1.2. Anlise Bibliogrfica
Nesta seo sero abordados os princpios tericos utilizados na realizao dessa
dissertao.
1.2.1. Tcnicas de Monitoramento da Integridade Estrutural
O monitoramento da integridade estrutural pode ser considerado como um processo de
deteco de dano, este, por conseguinte, definido como uma alterao adversa causada na
estrutura que afeta o desempenho, presente ou futuro, do sistema [21]. Os danos que podem
ocorrer em uma estrutura so os mais variados possveis e dependem muito das condies de
uso e das condies do ambiente aos quais estas estruturas esto sujeitas. Os danos mais
comuns so as fissuras, delaminaes e descolamentos, estas duas ltimas ocorrendo mais em
estruturas compsitas.
O efeito do dano na estrutura pode ser classificado como linear ou no-linear. No dano
dito linear, a estrutura que apresenta comportamento linear elstico mantm o mesmo
comportamento aps o surgimento do dano. As mudanas nas propriedades modais so o
resultado da mudana na geometria e/ou propriedade dos materiais da estrutura, mas a
resposta da estrutura ainda pode ser modelada atravs de equaes do movimento lineares. J
no dano dito no-linear, a estrutura inicialmente com comportamento linear elstico passa a se
comportar de maneira no linear aps a introduo do dano. Um exemplo de dano no-linear
a formao de uma trinca por fadiga, ocasionada pelo constate abre e fecha de uma pequena
fissura gerada pelo funcionamento normal em ambientes vibratrios. A maioria dos trabalhos
aborda somente o problema de deteco de dano linear [11].
A vantagem de se utilizar tcnicas de monitoramento da integridade estrutural a
possibilidade de se identificar o dano em seu estgio inicial, o que em situaes crticas de
segurana como, por exemplo, falhas em reatores nucleares, pode salvar um grande nmero
de vidas, ou at mesmo em situaes industriais em que alteraes no funcionamento de
equipamentos podem causar diminuio da qualidade e/ou interrupo da produo.
Existem duas formas de se estudar o monitoramento da integridade estrutural. Na
primeira, desenvolvido um modelo matemtico para a estrutura danificada, medido o sinal
da estrutura real, que confrontado com o resultado prvio do modelo matemtico para se
determinar a presena do dano, essa forma conhecida como problema direto, e utilizado
geralmente em estruturas simples, fcil de modelar analiticamente. Na segunda, no existe um
modelo matemtico para estrutura danificada e a deteco do dano feita atravs da
comparao do sinal medido da estrutura em momentos distintos, sendo que alteraes entre
23

os sinais indicam a presena do dano. Essa forma, conhecida como problema inverso, a mais
utilizada na literatura [11] e tambm ser utilizada neste trabalho. No entanto, os ensaios de
medio da resposta da estrutura sero simulados em um software de elementos finitos,
permitindo um controle maior sobre o dano a ser estudado.
Para diferenciar os diversos mtodos de monitoramento e seus respectivos modos de
atuao torna-se necessrio utilizar um critrio de classificao de dano em nveis crescentes
de dificuldade de implementao. Isto foi feito inicialmente usando quatro nveis [40]:
1) Detectar a existncia da falha;
2) Detectar e localizar a falha;
3) Detectar, localizar e caracterizar (quantificar) a falha;
4) Detectar, localizar e quantificar a falha e ento estimar o tempo de vida
restante.
Posteriormente foram acrescentados mais trs nveis a essa classificao, todos
incorporando a utilizao de materiais inteligentes [22]:
5) Combina o nvel 4 com estruturas inteligentes para auto-diagnosticar falhas
estruturais;
6) Combina o nvel 4 com estruturas inteligentes e controle para formar um
sistema de auto-reparo estrutural;
7) Combina o nvel 1 com controle ativo e estruturas inteligentes para
obteno de um sistema simultneo de controle e monitoramento.
Os mtodos no destrutivos tradicionalmente empregados para detectar danos so
visuais ou experimentais, realizados localmente, como ondas acsticas ou ultrassnicas,
campos magnticos, radiografias, lquido penetrante, etc. Todos estes experimentos supem
que a pessoa que aplicar a tcnica conhea, mesmo que de forma intuitiva, a regio onde
supostamente est o dano e que essa regio seja acessvel. Essas limitaes geraram a
necessidade de se desenvolver mtodos de deteco mais autnomos aplicveis a estruturas
complexas (que por sua disposio e condio de uso impossibilitam o acesso humano), e que
dependam o mnimo possvel da interferncia humana, capazes de identificar o dano atravs
do monitoramento contnuo e em tempo real, baseados na alterao da resposta da estrutura
provocada pelo dano.
Os mtodos existentes podem ser analisados no domnio do tempo, da freqncia ou
modal, entretanto a maioria das pesquisas tem sido realizadas no domnio modal, uma vez que
as freqncias naturais e os modos so facilmente interpretados, o que os tornam mais
atrativos para se realizar anlises mais complexas.
24

Nos ltimos anos muitas tcnicas utilizando vibraes foram desenvolvidas para
deteco de falhas. Estas levam em considerao o comportamento dinmico da estrutura que
influenciado pelo dano, sendo possvel identificar a ocorrncia do dano, monitorando-se as
alteraes nos parmetros modais como freqncias, modos de vibrao e amortecimento
modais. Assim, mudanas nas propriedades fsicas da estrutura podem ser detectadas atravs
de mudanas nas propriedades modais da estrutura. Doebling et al. [12] apresenta uma
detalhada reviso sobre os mtodos de vibraes utilizados no monitoramento de integridade
estrutural. O autor explicita que tcnicas envolvendo freqncias e modos de vibraes so
muito utilizadas na prtica, entretanto, aquelas utilizando o amortecimento so pouco
exploradas pelo fato de apresentarem no linearidades devido aos efeitos dissipativos.
Estudos comparativos utilizando freqncias e modos de vibrao em mtodos de
identificao de dano para estruturas tipo viga podem ser encontrados em [25,29,32,33]. Estes
estudos mostraram que as freqncias e as respostas correspondentes aos trs primeiros
modos de vibrao so suficientes para detectar a existncia da falha (nvel 1).
Alm dos mtodos baseados na comparao da resposta vibratria, mtodos
alternativos, que associam redes neurais, algoritmos genticos e materiais inteligentes s
tcnicas de monitoramento, esto sendo altamente requisitados para o processo de
quantificao do dano. Por esta razo, as tcnicas de monitoramento, esto sendo focadas no
desenvolvimento de sistemas para o monitoramento baseados nas propriedades diferenciadas
dos materiais inteligentes que associados ao uso de estratgias computacionais mais
sofisticadas, para o processamento dos sinais, torna possvel alcanar nveis mais elevados de
classificao do dano.
Algumas das tcnicas mais utilizadas para resolver o problema de SHM so: 1) no
domnio da freqncia, as tcnicas de impedncia e ondas guiadas; e 2) no domnio do tempo,
as tcnicas de anlise de sries temporais. Alteraes nos parmetros modais (p.ex.
freqncias naturais) podem ser identificadas a partir da resposta da estrutura. Algoritmos de
otimizao, usando algoritmos genticos e redes neurais artificiais, podem ser utilizados para
representar o efeito do dano [30]. Em ambos os casos, materiais piezoeltricos podem ser
utilizados como sensores e atuadores.
Embora o campo de pesquisa em SHM seja muito vasto e as tcnicas utilizadas para
esse fim sejam muito promissoras, o objetivo final de tais estudos encontrar um ou mais
indicadores de dano que consiga da melhor maneira possvel diferenciar a estrutura sadia da
estrutura com defeito.

25

1.2.2. Deteco de falhas utilizando materiais piezoeltricos
Dentre os materiais inteligentes mais aplicados no desenvolvimento do monitoramento
de integridade estrutural esto os materiais piezoeltricos. Devido a sua natureza dieltrica, os
materiais piezoeltricos possuem a propriedade de produzir uma deformao ou tenso a
partir da aplicao de um campo eltrico e vice-versa. Desta maneira, eles podem ser
utilizados como sensores, para monitorar a resposta do sistema a perturbaes do ambiente, e
como atuadores, para agir sobre a estrutura a fim de fornecer o comportamento adequado.
O efeito piezoeltrico tem sido observado em diversos materiais como nos cristais
naturais de quartzo, turmalina, topzio e sal de Rochelle, entretanto, ele pode ser
artificialmente gerado. Materiais piezoeltricos sintticos (cermica e polmeros), quando
manufaturados, so constitudos por dipolos eltricos que esto orientados de maneira
aleatria em seu substrato (material anisotrpico), estes quando submetidos a um campo
eltrico externo tendem a se anularem. Com o objetivo de manter os dipolos
permanentemente alinhados e assim gerar uma resposta a um campo eltrico, um processo de
polarizao necessrio.
A polarizao consiste em elevar a temperatura do material acima da temperatura de
Curie (temperatura na qual os dipolos podem mudar de orientao na fase slida) e aplicar um
campo eltrico muito forte sobre ele na direo que se quer a polarizao. O material ento
resfriado abaixo da temperatura de Curie enquanto o campo eltrico mantido, desta forma o
alinhamento dos dipolos fixado permanentemente e o material dito polarizado, o que
favorece o acoplamento eletromecnico [39].
Quando o material piezoeltrico mantido abaixo dessa temperatura e submetido a um
campo eltrico menor do que aquele utilizado para polarizao, os dipolos respondem
coletivamente produzindo uma expanso macroscpica ao longo do eixo de polarizao e uma
contrao perpendicular a este. Esta propriedade chamada de efeito piezoeltrico inverso,
isto , o material deforma mecanicamente quando um campo eltrico externo aplicado sobre
ele, o que confere ao material a capacidade de atuao [39].
Por outro lado, quando o material piezoeltrico mecanicamente deformado ocorre a
deformao/rotao dos dipolos originalmente alinhados, provocando o surgimento de uma
distribuio de cargas eltricas na superfcie do material. Esta propriedade chamada de
efeito piezoeltrico direto que possibilita que o material seja utilizado como sensor.
A relao campo eltrico-deformao aproximadamente linear para baixas
intensidades do campo eltrico, o que uma vantagem quando se utiliza o efeito piezoeltrico
26

em sistemas de controle. Entretanto, para maiores intensidades de campo eltrico, ocorre um
fenmeno de saturao da polarizao, com a inverso dos dipolos eltricos, isto provoca uma
significativa histerese e relaes no lineares entre o campo e a deformao [41]. Embora a
teoria no linear da piezoeletricidade esteja bem estabelecida, quando analisamos uma
estrutura em pequenas deformaes (muito utilizada na prtica) a teoria linear suficiente.
Desta forma, equaes lineares da piezoeletricidade so freqentemente empregadas pelos
pesquisadores. A teoria linear da piezoeletricidade assume um movimento quase esttico
indicando que as foras eltricas e mecnicas so balanceadas em um dado instante de tempo,
estas equaes (1a) e (1b) so escritas da seguinte forma [20]:

dE s
E
+ = (efeito piezoeltrico inverso)
(1a)
E d D

+ = (efeito piezoeltrico direto)
(1b)
onde D o vetor de deslocamento eltrico (carga/rea), E o vetor campo eltrico
(volts/metro), o tensor das deformaes, o tensor das tenses mecnicas, s
E
o
tensor dos coeficientes de flexibilidade medido a campo eltrico constante (geralmente zero),
d o tensor dos coeficientes piezoeltricos de deformao (acoplamento das equaes
mecnica e eltrica devido ao efeito piezoeltrico),

o tensor dos coeficientes dieltricos

medidos a tenso constante (geralmente zero).
As equaes (1a) e (1b) podem ser simplificadas quando o elemento piezoeltrico
carregado uniaxialmente com uma tenso normal ou cisalhante e s um par de eletrodos est
presente para gerar um campo eltrico externo com componente em uma s direo. Estes
modos comuns de operao podem ser descritos como: longitudinal (fora e campo na direo
3), transverso (fora na direo 1 ou 2 e campo na direo 3) e cisalhante (fora no plano 23
ou 13 e campo na direo 2 ou 1 respectivamente). As direes podem ser vistas na figura 1.
Cada um desses modos est associado com um caracterstico coeficiente de acoplamento
eletromecnico (EMCC) que mede a taxa de converso de energia mecnica em eltrica e vice
versa [19,46].

27


Figura 1: Diagrama esquemtico de um piezoeltrico polarizado na direo 3.

O uso de materiais piezoeltricos no monitoramento de estruturas e controle de
estruturas flexveis foi bastante estudado nas ltimas duas dcadas [44]. Estes materiais se
adaptam muito bem ao monitoramento e controle distribudo de vibraes estruturais j que se
apresentam na forma de lminas ou pastilhas muito finas que podem ser inseridas na
estrutura. Dentre elas, os mais freqentemente utilizados so as piezocermicas e
piezopolmeros, destacando-se as pastilhas PZT (zirconato titanato de chumbo) e o PVDF
(fluorido de polividelideno). Devido as suas caractersticas de cermica, os PZTs apresentam
grande rigidez, altos coeficientes de acoplamento eletromecnico e trabalham em larga faixa
de freqncia, alm de possurem caracterstica dual do efeito piezoeltrico que permite que
elas sejam adaptveis tanto como sensores como atuadores. A sua grande desvantagem sua
fragilidade mecnica o que dificulta a sua utilizao em estruturas com geometrias mais
complexas. Como alternativa apresentam-se os PVDF geralmente sob a forma de filmes finos,
so conhecidos pela sua flexibilidade, durabilidade e baixo peso [41].
Embora grande parte dos estudos realizados at ento consista em colar pastilhas
piezoeltricas na superfcie da estrutura a ser controlada/monitorada por facilidade
construtiva, o uso crescente de materiais compsitos permite que se pense em projetar
estruturas compsitas possuindo alm de suas camadas com objetivos estruturais tambm
algumas camadas piezoeltricas inteligentes para o controle/monitoramento contnuo da
estrutura. Uma das estratgias para otimizar estruturas laminadas inteligentes com inseres
de camadas piezoeltricas atravs da utilizao de pastilhas piezoeltricas polarizadas ao
longo de seu comprimento ou largura, ao invs de ao longo da espessura como habitualmente.
Este conceito inovador faz a pastilha piezoeltrica atuar usando o seu modo de cisalhamento,
inicialmente sugerido por Sun [42,53]. Estudos anteriores mostraram que os atuadores
piezoeltricos em cisalhamento induzem momentos distribudos, ao invs de foras
concentradas no contorno, e que, portanto, estariam menos sujeitos ao problema de
28

delaminao [42,53] e tambm teriam um desempenho menos dependente do tamanho e da
posio dos atuadores [4,5]. Outros grupos de pesquisa tambm tm se dedicado ao tema de
atuadores piezoeltricos em cisalhamento recentemente [1,24,37,49].
O uso de sensores piezoeltricos integrados para monitoramento de integridade
estrutural (p.ex. deteco de falhas), em particular, tem evoludo bastante na ltima dcada e
hoje a principal linha de pesquisa de importantes grupos de pesquisa nos EUA e na Europa.
Dentre as tcnicas que utilizam esse tipo de material, existem aquelas que fornecem
informaes globais da estrutura, baseadas na variao da resposta vibracional da pastilha
piezoeltrica, como a freqncia modal, e conseqentemente o EMCC, e aquelas que
fornecem informaes locais, utilizando altas freqncias, como s tcnicas de
impedncia/admitncia [34,35] e as tcnicas de ondas guiadas [26,36]. A tcnica de onda
guiada utiliza atuadores e sensores piezoeltricos para a gerao e recepo de ondas guiadas
na estrutura tal que o sinal emitido pelos sensores piezeltricos fornece informaes acerca de
uma possvel falha localizada no caminho da onda. Este grupo de tcnicas possibilita uma
maior preciso quanto localizao, forma e tamanho da falha, mas fortemente dependente
do adequado direcionamento das ondas. Apesar de ser muito utiliza em deteco, esta tcnica
no ser alvo desse trabalho.

1.2.2.1 Variao do Coeficiente de Acoplamento Mecnico (EMCC)
O Coeficiente de Acoplamento Eletromecnico definido como a raiz quadrada da
razo entre a energia mecnica armazenada e a energia eltrica aplicada no material
piezoeltrico. O EMCC dinmico (recebe este nome por utilizar em seu clculo as freqncias
naturais de circuito aberto e fechado da pastilha piezoeltrica) considerado uma propriedade
dos materiais piezoeltricos, pois mede quo eficiente a converso de energia mecnica em
energia eltrica e vice e versa [19], e tambm utilizado como parmetro de diferenciao
entre os diversos tipos de materiais piezoeltricos. Quando o material piezoeltrico unido
estrutura, o EMCC calculado a partir da pastilha passa a ser influenciado por toda a estrutura,
ou seja, a rigidez da estrutura tende a reduzir o EMCC da pastilha devido ao acoplamento
entre os materiais. Assim, alteraes na rigidez da estrutura, devido ao dano, alteram a energia
de deformao da pastilha nas vizinhanas do dano, alterando tambm a energia eltrica
armazenada na pastilha devido ao acoplamento eletromecnico, que afetar a converso de
energia na pastilha e conseqentemente o EMCC. Este comportamento sugere a possvel
utilizao do EMCC como indicador de dano, pois sua variao para a estrutura com dano, se
29

comparado quele para a estrutura sem dano, indicaria a presena do dano dentro de uma
margem de tolerncia.
O EMCC calculado a partir das freqncias naturais da estrutura, nas condies de
circuito fechado e aberto para a pastilha piezeltrica de interesse. Assim sendo, o uso de
variaes do EMCC para a deteco de falhas se enquadra na categoria de tcnicas modais e,
portanto, pode ser comparado s tcnicas que usam variaes das prprias freqncias
naturais. Ambas as tcnicas so aplicadas em regies de baixas freqncias e fornecem
informaes acerca do comportamento global da estrutura. Benjeddou et. al. [6] realizaram
um estudo comparativo entre as tcnicas de monitoramento que utilizam a variao do EMCC
e da freqncia modal. Para realizar a comparao, eles utilizaram um modelo de estrutura em
que o estado danificado foi representado pela substituio do material do local onde se
encontrava o dano por outro material menos rgido. Os resultados mostram que as variaes
dos ndices da estrutura com dano, em comparao queles da estrutura sem dano, quando
utilizando o EMCC so superiores quelas utilizando a freqncia, o que torna o EMCC mais
atraente para o estudo de SHM.

1.2.2.2. Tcnicas de Impedncia/Admitncia
A tcnica de monitoramento baseada na impedncia foi proposta pela primeira vez por
Liang et. al. [27] e a partir de ento tem sido aplicada em diversos experimentos e para uma
grande variedade de estruturas por ser uma tcnica de monitoramento em tempo real e
relativamente fcil de implementar. O conceito bsico dessa tcnica a utilizao da
impedncia mecnica da estrutura para monitorar o surgimento de danos. Entretanto, medir a
impedncia mecnica da estrutura em tempo real no vivel na prtica. Ao invs disso,
variaes na impedncia mecnica podem ser calculadas indiretamente atravs da medio da
impedncia eltrica de pastilhas piezeltricas conectadas estrutura. Devido ao acoplamento
mecnico entre pastilhas e estrutura, a presena do dano na estrutura deveria afetar a
impedncia eletromecnica das pastilhas piezeltricas. Medindo-se a impedncia
eletromecnica da estrutura acoplada e comparando-a com um modelo de referncia, estrutura
sem defeito, possvel determinar qualitativamente a ocorrncia do dano. Com intuito de
melhorar a sensibilidade a danos incipientes, a impedncia eltrica medida em altas
freqncias, na faixa de dezenas de kHz, visto que nestas faixas o comprimento da onda de
excitao pequeno e sensvel o suficiente para detectar pequenas mudanas da integridade
estrutural. Outra vantagem de se trabalhar com alta freqncia que para gerao do sinal de
excitao exige-se baixa tenso, inferior a 1V. A principal caracterstica do mtodo da
30

impedncia para o monitoramento da integridade estrutural a utilizao da pastilha
piezoeltrica como sensor e atuador simultaneamente, usando o mesmo material para atuao
e sensoriamento esse mtodo no s reduz o nmero de sensores e atuadores, mas tambm
reduz a quantidade de cabos eltricos e hardware.
Abaixo ser apresentada a formulao unidimensional tipicamente utilizada para
representar a pastilha piezoeltrica, PZT, unida a estrutura, apresentada por Liang et al. [27].
Este modelo supe que o PZT um atuador axial e est conectado no final de um sistema
massa-mola de um grau de liberdade.
Resolvendo as equaes constitutivas unidirecionais para o material piezeltrico e
levando em conta a interao de fora entre ele e a estrutura, Liang et al. [27] chegou
seguinte expresso para a admitncia eltrica do material piezeltrico,

(

+
=
E
P
A
T
P
P
Y d
Z Z
Z
h
A
i Y
2
31 33
(2)
onde
P
A e
P
h so rea e altura da pastilha piezoeltrica, respectivamente,
T
31
a constante
dieltrica complexa do PZT com tenso zero, d
31
a constante de acoplamento piezoeltrica,
E
P
Y o modulo de Young complexo do PZT com campo eltrico zero, Z impedncia
mecnica da estrutura e
A
Z a impedncia mecnica do PZT.
O primeiro termo da equao (2) denota a impedncia eltrica da pastilha livre (Z=0)
que basicamente funo de sua capacitncia (
P P
T T
P
h A C
33
= ). J o segundo termo funo
das impedncias mecnicas da pastilha e da estrutura e, portanto, pode ser sensvel a variaes
da impedncia mecnica da estrutura causadas pelo dano. Pelo fato da constante dieltrica do
material,
T
33
, ser mais sensvel a temperatura e no estar relacionada ao dano na estrutura, a
parte real da admitncia eltrica mais utilizada em aplicaes de monitoramento de
integridade estrutural [10].
Apesar disso, Bhalla et al. [7] introduziu um novo conceito, o sinal ativo, atravs do
qual possvel utilizar a componente de interao direta do sinal aps filtrar a componente
inerte, a componente passiva do PZT. A componente ativa mostrou-se ser mais favorvel ao
monitoramento da estrutura com superior tolerncia a variao de temperatura. O
procedimento torna possvel a utilizao da parte imaginria to bem quanto parte real,
maximizando as informaes sobre a condio da estrutura.
31

Alm da admitncia eltrica (I/V), sua inversa, a impedncia eltrica (V/I), tambm
pode ser utilizada para o monitoramento de integridade estrutural. Muitos so os trabalhos
utilizando o mtodo da impedncia [2]. Park et. al. [34] fazem uma ampla reviso do mtodo
de impedncia utilizando material piezoeltrico para o monitoramento da integridade
estrutural. Eles relacionam e explicitam vrios parmetros envolvidos na anlise da
impedncia como faixa de freqncia, regies de sensoriamento, componentes de Hardware,
processamento do sinal medido atravs dos ndices, etc. Citam experimentos utilizando a
impedncia e realizam uma comparao com outros mtodos. Finalizam o trabalho relatando
os problemas futuros que devem ser enfrentados pelos pesquisadores que pretendem utilizar
essa tcnica.
Um dos problemas que ainda no foi completamente solucionado a determinao da
faixa de freqncia que se deve utilizar quando se pretende aplicar essa tcnica. A
determinao dessa faixa costuma ser feita atravs de tentativa e erro, pois cada estrutura
apresenta suas particularidades que influenciam na escolha. Entretanto, estudos tm
demonstrado [28] que as faixas de freqncias com maior densidade de modos so mais
favorveis e geralmente contm mais informaes sobre as condies estruturais. Faixas de
freqncias com mltiplos picos, de 20 a 30 picos, so geralmente escolhidas. Faixa de
freqncia maior do que 200 kHz so mais favorveis ao sensoriamento local, enquanto que
freqncias abaixo de 70 kHz conseguem abranger uma rea maior.
Baptista e Filho [3] propuseram um procedimento para determinar as faixas de
freqncia em que os transdutores piezoeltricos so mais sensveis para deteco de danos.
Os testes foram realizados com quatro tipos de estruturas de alumnio de tamanhos/espessuras
diferentes. Os resultados mostraram que a magnitude do ndice utilizado est relacionada com
a sensibilidade do transdutor PZT. Os ndices so maiores nas freqncias em torno dos
pontos de timo de sensibilidade do transdutor e quase zero em torno do ponto de
sensibilidade mnima. Apesar da escolha da faixa de freqncia correta para a deteco
depender das propriedades da estrutura e do tipo de dano, os resultados mostraram que a
metodologia proposta pode ser muito til como referncia para seleo.

1.2.3. Modelos de delaminao
A demanda por estruturas cada vez mais complexas tem exigido dos materiais
empregados uma combinao de propriedades mecnicas que dificilmente seria encontrada
em um nico material. Essa combinao pode ser obtida atravs dos materiais compsitos que
32

em conseqncia da disposio de suas fibras fornecem estrutura maior fora e rigidez, e
so mais resistentes a danos que se propagam atravs da espessura. No entanto, nas camadas
da estrutura compsita, o dano pode facilmente se propagar paralelamente a superfcie das
paredes, geralmente na interface entre as camadas. Isso os torna mais suscetveis a danos
como a delaminao (descolamento entre camadas vizinhas em estruturas laminadas), que
devido as suas caractersticas, comparado a outros tipos de danos, apresenta o maior
crescimento dimensional. O tamanho da delaminao e sua taxa de crescimento tm grande
influncia na perda residual de resistncia em estruturas compsitas, embora a taxa de
crescimento no seja um parmetro freqentemente estudado [31].
A delaminao pode ser provocada por defeitos na fabricao, como imperfeies na
unio das camadas, e/ou defeitos de uso, como excentricidades no carregamento, impactos a
baixa velocidade, fadiga, etc. Sua deteco tem recebido considervel ateno das
comunidades cientficas por ser um dano interno a estrutura e s ser percebido, quando
percebido, em estgios muito avanados podendo causar danos catastrficos. A delaminao
causa mudanas locais na rigidez, amortecimento, e/ou massa, alterando as caractersticas
dinmicas da estrutura como freqncia, modos de vibrar e amortecimento modal. Qualquer
tentativa que seja feita no sentido de se entender o comportamento da delaminao deve
passar necessariamente pelo estudo da resistncia interlaminar de estruturas compsitas, uma
vez que a origem e propagao da delaminao esto intrinsecamente relacionadas com as
foras de interao existente entre as camadas.
A orientao das fibras na estrutura tambm pode ter um efeito significativo na
delaminao. Os estudos utilizando materiais compsitos, geralmente so realizados com
estruturas em que as fibras encontram-se numa nica direo, o que os tornam no
representativos, uma vez que os resultados encontrados no representam precisamente o
crescimento real do dano ao longo das interfaces heterogneas. Alm disso, fibras em uma
nica direo podem ocasionar diferenas na elasticidade, pois a ausncia de fibras em outra
direo pode resultar em maior quantidade de resina entre as fibras [31].
O desenvolvimento de experimentos para detectar delaminao em estruturas
compsitas baseados em modelos de elementos finitos tem sido realizado com freqncia em
estudos de SHM, tais modelos tornam-se uma ferramenta til de anlise aps serem validados
por resultados experimentais. Bois e Hochard [8] atravs de simulaes e resultados
experimentais, utilizando o mtodo da impedncia para detectar delaminaes em estruturas
compsitas, comprovaram a possibilidade de definir o tamanho e a posio da delaminao
com um modelo tridimensional utilizando pastilhas piezoeltricas.
33

Modelos analticos tambm tm sido desenvolvidos para verificar a presena,
crescimento e localizao da delaminao. Tan e Tong [45] desenvolveram um modelo
analtico para viga em balano constituda por material piezoeltrico, nas suas superfcies, e
material compsito, em seu ncleo, para detectar a presena, o tamanho e a localizao axial
da delaminao presente no interior da viga constituda por material compsito atravs da
variao das trs primeiras freqncias naturais e da leitura de carga nos sensores. Foram
realizados vrios testes com diferentes tipos de delaminao e verificou-se que o aumento da
delaminao causa diminuio da freqncia natural e que o efeito da delaminao se torna
mais visvel em freqncias mais elevadas, tambm se verificou que a variao da
delaminao atravs da espessura altera o resultado, medido na pastilha superior, quando a
delaminao est acima do plano mdio, entretanto quando a delaminao est abaixo do
plano mdio os resultados so semelhantes ao plano mdio.
Estudos comparativos entre vrios mtodos que utilizam o material piezoeltrico para
detectar a delaminao em estruturas compsitos tambm tm sido realizados, tais mtodos
compreendem os baseados em vibraes [14,51,54], propagao de ondas [10,23,28] e
impedncia eltrica [16,50]. Brunner et. al. [9] realizaram um estudo para avaliar o
desempenho das pastilhas piezoeltricas em detectar a delaminao em vigas compsitas de
fibra de vidro/epoxy. Eles analisaram a capacidade de trs tipos de tcnicas de monitoramento
- acstica ultrassnica, impedncia eltrica e medida da reposta no tempo - em detectar o dano
causado pela delaminao, utilizando vrios tamanhos e posies de delaminao na viga
compsita.
Na literatura, possvel encontrar alguns modelos para representar a delaminao em
estruturas compsitas, tais modelos podem ser divididos em trs categorias segundo a
quantidade de material empregada. A primeira diz respeito a modelos em que uma quantidade
de material alheio estrutura acrescentada em pontos especficos com objetivo de alterar
suas propriedades, simulando a presena da delaminao, tal metodologia empregada
quando o valor dos materiais utilizados elevado e a repetio do experimento com descarte
do material necessria. Na segunda, ocorre uma subtrao de material do modelo em
quantidades equivalentes ao espao que supostamente seria formado pela delaminao. Na
ltima no ocorre nem acrscimo nem subtrao de material da estrutura, deixando-se apenas
de unir o espao entre as camadas onde supostamente existiria a delaminao, na prtica isso
pode ser difcil, pois em alguns materiais as camadas j se apresentam unidas.
Como este trabalho envolve apenas simulaes em software de elementos finitos,
objetivando a seleo dos melhores casos, espera-se que os custos pela repetio de futuros
34

experimentos sejam evitados. Assim a escolha do modelo de delaminao que ser utilizado
envolver somente os ltimos dois casos.
Testes foram realizados retirando-se material da estrutura em forma de elipse, figura 2,
mas os resultados no se mostraram realistas, pois na prtica no ocorre nenhuma perda de
material da estrutura devido delaminao e as malhas em torno dessas delaminaes
tornaram-se muito difceis de serem controladas, acrescentado mais um fator de diferenciao
entre os casos em estudo, a ponto de serem confundidas com a presena da prpria
delaminao. Assim optou-se por utilizar o ltimo modelo por ser o mais realista e no
apresentar os mesmos problemas citados anteriormente.


Figura 2: Malha de elementos finitos aplicada ao modelo da estrutura para uma delaminao de 60 mm,
construda a partir da subtrao de material da primeira e segunda camada em formato de uma elipse.

1.3. Objetivos
O objetivo deste trabalho desenvolver, com ajuda de um modelo de elementos finitos
ANSYS em 2D, uma anlise de diferentes tcnicas para deteco da posio e tamanho da
delaminao em estruturas compsitas usando pastilhas piezoeltricas. Vrias mtricas e
tcnicas so avaliadas em termos de sua capacidade em identificar, com relativa acurcia, a
presena, localizao e severidade do dano.





35

Captulo 2

Modelagem
Este captulo apresenta a metodologia desenvolvida para a modelagem da estrutura
compsita laminada, com e sem delaminao, com pastilhas piezoeltricas e para a extrao
das respostas em freqncia utilizando o software comercial de elementos finitos ANSYS.

2.1. Caractersticas do Modelo
A escolha das caractersticas da estrutura foi feita com objetivo de simular condies
reais de uso, principalmente em estruturas aeronuticas, para que os resultados obtidos sejam
futuramente testados em casos prticos.
O modelo de estrutura analisado ser a viga em balano, 2-D, engastada em sua
extremidade esquerda. Esta viga ser composta por seis camadas do mesmo material
compsito, Carbono Epoxy (AS4/3501-6), que se alternaro em relao direo das fibras,
direes X e Z. Esta disposio confere a estrutura melhor desempenho, entretanto faz com a
estrutura esteja sujeita a defeitos caractersticos como o descolamento entre as camadas,
representado pela delaminao, alvo desse estudo de SHM.
Outra caracterstica do modelo a presena de duas pastilhas piezoeltricas, PZT-5H,
posicionadas na superfcie superior da viga, separadas por uma distncia de 100 mm. A
utilizao de duas pastilhas piezoeltricas permite comparar os sinais medidos por ambas
quando se est analisando um mesmo defeito, possibilitando assim, estimar a posio relativa
do dano, pois quando o dano est localizado nas proximidades de uma das pastilhas espera-se
que a leitura do seu sinal seja mais afetada por aquele dano do que o sinal medido pela outra
pastilha. importante observar que a preciso na identificao da posio do defeito est
limitada ao nmero de pastilhas e ao conhecimento prvio da posio destas em relao
viga, o ideal seria a utilizao de uma rede de sensores/atuadores distribudos por toda viga,
entretanto, isso implicaria custos computacionais excessivos que de uma maneira geral
impactariam pouco no objetivo desse trabalho que a identificao das melhores tcnicas de
monitoramento da integridade estrutural partindo-se de posies pr-definidas para os
defeitos. As propriedades dos materiais utilizados podem ser vistas no ANEXO I.
As caractersticas geomtricas do modelo so apresentadas na figura 3, tais dimenses
levam em considerao a construo futura de ensaios experimentais que possibilitaro a
validao dos resultados encontrados.
36



Figura 3: Representao esquemtica das propriedades geomtricas do modelo.

Para realizar o estudo das tcnicas de monitoramento propostas nesse trabalho ser
necessrio comparar os modelos da estrutura com e sem defeito, atravs de ndices calculados
a partir dos dados extrados do ANSYS. O defeito analisado ser a delaminao por ser o
dano mais comum em estruturas laminadas e de difcil deteco pelos mtodos tradicionais de
SHM. Com base nisto e com intuito de selecionar os melhores ndices, para estrutura com
defeito, sero definidos trs tamanhos de delaminao, 10, 20 e 30 mm, que ocorrero entre as
duas camadas imediatamente abaixo das pastilhas, esta variao no tamanho do dano tem a
finalidade de testar a sensibilidade do ndice ao crescimento da falha. Alm da variao do
tamanho, tambm sero variadas as posies do centro da delaminao, entre a distncia que
separa as duas pastilhas, nas posies de 60, 85 e 110 mm do engaste. O objetivo desta
variao testar a habilidade dos diferentes ndices em identificar a posio do dano em
relao s pastilhas, atravs da comparao do sinal medido por ambas. Esses so alguns dos
parmetros de anlise considerados essenciais para testar o desempenho dos ndices,
entretanto, outras anlises tambm poderiam ter sido feitas como, por exemplo, variar a
delaminao entre as camadas, para testar a sensibilidade do ndice quando o dano se afasta
da superfcie da estrutura.







37


2.2. Modelagem em Ansys
O processo de modelagem seguir as etapas abaixo:
1. Definio dos elementos e propriedades dos materiais;
2. Criao geomtrica do modelo;
3. Atribuio das propriedades dos materiais ao modelo e criao da malha de
elementos finitos;
4. Aplicao das condies de contorno;
5. Anlise modal e harmnica.
As etapas 4 e 5 so interdependentes, isto , as condies de contorno devem estar em
conformidade com o tipo de anlise que se deseja realizar. O diagrama representando essas
etapas pode ser visto abaixo:


Figura 4: Diagrama das etapas do processo de modelagem utilizando ANSYS.

Para que o menu do ANSYS contenha todas as funcionalidades que sero empregadas
na modelagem, antes de inici-la preciso definir o tipo de estudo que se pretende realizar,
isso pode ser feito em preferncias selecionando-se as opes Estrutural e Eltrica. As etapas
1, 2 e 3 sero realizadas atravs dos comandos presentes no menu Pr-Processamento
(Preprocessor), a etapa 4 pode ser realizada utilizando o comando LOADS presente tanto no
38

menu Pr-Processamento como no menu Soluo (Solution) e a etapa 5 utilizar os menus
Soluo e de Ps-Processamento (General Postproc e TimeHist Postpro).
Definido o tipo de estudo que ser realizado, inicia-se a primeira etapa da modelagem
selecionando os elementos finitos a serem utilizados. Como o modelo ser 2 D, dois tipos de
elementos planos sero selecionados: elemento 1 - PLANE82, para as camadas da viga, e
elemento 2 - PLANE223, para as pastilhas piezoeltricas. O elemento PLANE82 possui 8 ns
com 2 graus de liberdade por n (translao nas direes X e Y), tolera formas irregulares
sem perder muita preciso. O elemento PLANE223 pode ser definido como material
piezoeltrico, possuindo 8 ns com at 4 graus de liberdade por n, sendo que no caso do
material piezoeltrico sero trs 3 graus de liberdade por n (translao nas direes X e Y e
tenso eltrica), o comportamento estrutural linear elstico. Em anlises piezoeltricas, o
carregamento pode ser definido em termos de carga eltrica ou densidade de carga eltrica
aplicada. Os elementos tm como restrio a necessidade de estar no plano global XY para
realizao da modelagem. A representao geomtrica dos elementos pode ser vista na figura
5.


Figura 5: Representao do elemento PLANE82 e PLANE223 e posio dos ns, nas verses
quadrangular e triangular, conforme conveno adotada pelo ANSYS [38].

Selecionados os elementos, eles precisam ser configurados para as condies da
modelagem. Em opes, o elemento PLANE82 deve ser ajustado para estado plano de tenso
com espessura e o elemento PLANE223 somente para estado plano de tenso, j que a
espessura unitria por definio (no podendo ser alterada), nesse momento o elemento
tambm deve ser definido como piezoeltrico. A espessura do elemento que ir compor a viga
39

pode ser adicionada definido-se uma Constante Real (Real Constants) para o elemento
PLANE82, thickness=25 mm. Esta constante ser a Constante Real 1.
O prximo passo da etapa 1 definir as propriedades dos materiais empregados. importante
observar que ANSYS adota uma disposio diferente para as propriedades de materiais
piezoeltricos, em comparao ao padro estabelecido na norma da IEEE [19], implicando
inverses dos elementos das matrizes das constantes piezoeltricas, conforme se observa
abaixo atravs das equaes (3) e (4) [38].


(3)

(4)

A definio dos materiais empregados ser feita em Propriedade dos Materiais
(Material Props). Sero definidos trs tipos de materiais, apesar de serem utilizados de fato
somente dois, PZT-5H e AS4/3501-6. Isso ocorre porque as camadas do material Carbono
Epoxy, utilizadas na viga, alternam-se em relao direo das fibras. Como o modelo deve
ser construdo no plano XY (requerimento do ANSYS para os elementos PLANE82 e
PLANE223), as propriedades dos materiais transversalmente isotrpicos (PZT-5H e
AS4/3501-6) fornecidas pelo fabricante (ANEXO I) devem ser adaptadas conforme
polarizao e direo das fibras. Para o material piezoeltrico, que se encontra polarizado na
direo Z, ser necessrio rotacion-lo para direo Y, e para o material Carbono Epoxy, que
tambm ser utilizado com as fibras na direo X conforme definido no ANEXO I, ser
necessrio rotacion-lo para direo Z. Como o ANSYS s aceita elementos planos normais a
Z, o material com fibras na direo Z ser definido como isotrpico, ao passo que os outros
dois sero definidos como ortotrpicos. Assim, o material 1 ser o material piezoeltrico
40

(PZT-5H), o material 2 ser o material compsito Carbono Epoxy com fibras em X
(AS4/3501-6 ortotrpico) e o material 3 ser material compsito Carbono Epoxy com fibras
em Z (AS4/3501-6 isotrpico).
Especificados os materiais e suas propriedades, passa-se a etapa 2 que a construo
geomtrica do modelo com as dimenses especificadas na figura 3. O modelo ser criado
atravs de reas retangulares indicando-se para construo de cada rea suas coordenadas
iniciais X-Y, comprimento e altura. Para facilitar no preenchimento dos valores sero
definidos dois parmetros escalares hc=0,5 mm e xc=300 mm, que representam a espessura
das camadas e o comprimento total da viga, respectivamente. Para realizar a comparao entre
a estrutura com e sem defeito, um modelo de referncia, sem nenhum tipo de defeito, ser
criado e utilizado na comparao com os outros casos com defeito. A diferena entre o
modelo que ser utilizado como padro, dos outros modelos com delaminao, a
uniformidade das duas primeiras camadas logo abaixo das pastilhas. Para representar a
delaminao as duas primeiras camadas sero divididas em trs partes, representadas por trs
reas de comprimentos que se ajustam ao tamanho e a posio da delaminao. Por exemplo,
para uma delaminao de 10 mm, com seu centro posicionado a 60 mm do engaste, as trs
reas, das duas primeiras camadas, possuram os comprimentos de 55 mm, 10 mm e 235 mm,
respectivamente, diferentemente do modelo padro que possuir essas duas camadas
contnuas. A figura 6 mostra o modelo da estrutura com delaminao construdo a partir das
reas retangulares.
Como o modelo da estrutura com delaminao semelhante para todos os casos que
sero estudados, alterando-se apenas tamanho e posio da delaminao, somente um caso
ser apresentado: delaminao de 10 mm com seu centro posicionado a 60 mm do engaste.


Figura 6: Modelo da estrutura com delaminao de 10 mm com seu centro posicionado a 60 mm do
engaste, construdo a partir de reas retangulares.
41


Criadas as reas, o prximo passo ser integr-las numa nica estrutura, colando-as,
isso ser feito atravs do comando GLUE. Para o modelo padro basta selecionar todas as
reas e col-las atravs do procedimento citado; j para o modelo com delaminao as reas
precisam ser selecionadas, de forma que as reas A5 e A6, especificadas na figura 6,
permaneam descoladas simulando a delaminao. Este processo mostrou-se trabalhoso visto
que dependendo da ordem em que as reas so coladas esse comportamento no obtido.
Assim, a ordem de colagem das reas que se mostrou adequada foi: unir primeiro as reas A4,
A6, A8, A9, A10, A11 e A12, formando-se um bloco inferior; depois unir as reas A1, A2,
A3, A5, A7, formando-se um bloco superior; e finalmente unir os dois blocos atravs das
reas A3 e A4 e das reas A7 e A8. Nota-se que esse procedimento s manteve as reas A5 e
A6 descoladas, o que era desejado.
Iniciando a etapa 3, o primeiro passo ser relacionar o modelo da estrutura com as
propriedades dos materiais e os elementos finitos que o compem, e em seguida criar a malha
de elementos finitos. Tanto a atribuio das propriedades como a criao da malha sero feitas
atravs da ferramenta MeshTool que se encontra no comando Meshing.
A atribuio das propriedades dos materiais e dos elementos ao modelo ser feita
atravs das reas que compem a estrutura, conforme a figura 6. De acordo com o exposto na
etapa 1 tm-se dois elementos (1- PLANE82 e 2- PLANE223), trs materiais (1- PZT-5H, 2-
AS4/3501-6 ortotrpico e 3- AS4/3501-6 isotrpico) e uma constante real (1- thickness).
Assim, sero atribudas s reas A1 e A2, que representam as pastilhas piezoeltricas, o
material 1 e o elemento 2; s reas A4, A6, A8 e A11, que representam as camadas da viga
com fibras em Z, o material 3, o elemento 1 e a Const. Real 1; e s reas A3, A5, A7, A9,
A10 e A12, que representam as camadas da viga com fibras em X, o material 2, o elemento 1
e a Const. Real 1. Na figura 7 possvel visualizar as estruturas que compem o modelo de
acordo suas propriedades e elementos.

42


Figura 7: Representao das estruturas que compem o modelo de acordo com suas propriedades e
elementos diferenciadas pelas cores roxa, azul e vermelha.

Associadas as propriedades e os elementos ao modelo, o prximo passo ser
discretiz-lo atravs da criao da malha de elementos finitos. Primeiramente, ser definido o
comprimento global dos elementos igual a 1 mm, este comprimento ser aplicado a todos os
elementos da estrutura. Em seguida, ser feito um refinamento da malha nas regies mais
sensveis do modelo, que so: unio pastilha-estrutura (regio onde ocorre a transio do
elemento PLANE223 para PLANE82) e camadas onde sero simuladas as delaminaes. Para
refinar essas regies, as linhas verticais das pastilhas e das duas primeiras camadas logo
abaixo das mesmas sero dividas em duas, isso proporcionar um refinamento dos elementos
em Y, aumentando o nmero de elementos nas regies sensveis. Assim, os elementos
empregados tero as seguintes dimenses: para as pastilhas piezoeltricas e as duas primeiras
camadas 1 x 0,25 mm e para as demais camadas 1 x 0,5 mm. A escolha dessa configurao
para malha foi o resultado de inmeros testes realizados variando-se o comprimento global
dos elementos ou utilizando a funo Smart Size com diversos tipos de refinamento, os
resultados encontrados nos casos mais refinados foram semelhantes ao da malha empregada,
com a diferena de exigirem maior tempo de processamento. Para finalizar a criao da
malha, necessrio definir a forma dos elementos que sero empregados, nesse estudo sero
elementos quadrangulares. A vantagem de criar a mesma malha regular para todos os casos
minimizar sua influncia na comparao dos resultados. O modelo da estrutura com a malha
pode ser visto na figura 8.

43


Figura 8: Representao da malha de Elementos Finitos criada a partir de elementos quadrangulares de
comprimento 1 mm, com refinamento em Y nas pastilhas piezoeltricas e nas duas primeras camadas
onde encontra-se a delaminao.

Apesar de todos os componentes estruturais pertencentes ao modelo j terem sido
coladas atravs do comando GLUE, ser utilizado o comando MERGE nas linhas que unem as
pastilhas ao resto da estrutura, para garantir o efetivo acoplamento entre os dois tipos de
elementos empregados, PLANE223 e PLANE82. Tal comando tem a funo de unir os
elementos que se encontram dentro da rea de tolerncia, definida pelo usurio,
transformando os ns envolvidos em um nico n e acoplando os graus de liberdade em
comum, neste caso, as translaes nas direes X e Y. Com auxlio do comando Select
Entities sero selecionados os ns pertencentes s linhas horizontais inferiores das duas
pastilhas piezoeltricas, que se encontram alinhados com os ns da primeira camada da viga.
O processo de seleo consiste em primeiro selecionar as linhas e depois os ns a elas
associados. Depois de selecionados os ns, ser aplicado o comando MERGE, e para garantir
que s os ns que se encontram sobrepostos sejam acoplados, ser aplicada uma tolerncia de
0,1mm. importante observar que ao final de todo processo de seleo preciso selecionar
novamente todos os elementos da estrutura, para que as operaes seguintes no sejam
atribudas somente a aqueles elementos anteriormente selecionados. Na figura 9, em
vermelho, possvel visualizar os ns que foram acoplados, para uma das pastilhas.

44


Figura 9: Ns que unem a primeira pastilha piezoeltrica ao resto da estrutura, acoplados atrves do
comando MERGE.

Para simular o efeito dos eletrodos, que distribuem uniformemente as cargas geradas
ou aplicadas nas extremidades das pastilhas piezoeltricas, uma espcie de equipotencial ser
feito nos ns da superfcie superior das pastilhas, atravs do comando Couple DOFs. Da
mesma forma que os ns foram selecionados para serem acoplados, utilizando o comando
Select Entities, eles tambm sero selecionados para fazer o equipotencial. Entretanto aqui um
cuidado especial deve ser tomado, o equipotencial deve ser feito pastilha a pastilha, para que
os ns de uma pastilha no sejam acidentalmente concatenados com os da outra, formando
um nico equipotencial. Cada equipotencial receber um nome, que no caso ser Volt, e uma
numerao, 1 e 2, que os distinguiro. Tal procedimento pode ser visualizado na figura 10.


Figura 10: Representao do equipotencial realizado na superfcie superior das pastilhas piezoeltricas
utilizando o comando Couple DOFs.

Passando-se para etapa 4 sero aplicadas as condies de contorno eltrica e estrutural.
Como as pastilhas piezoeltricas trabalharo em circuito fechado e aberto, as duas condies
devem ser modeladas no ANSYS. Para circuito aberto, os ns da base sero aterrados, criando
um valor de referncia para se medir a tenso eltrica, e os da superfcie sero mantidos sem
nenhuma condio de contorno eltrica, apenas respeitando-se o equipotencial; j para
45

circuito fechado os ns das duas superfcies (superior e inferior) sero aterrados, simulando
uma espcie de curto circuito em que as cargas geradas nas superfcies das pastilhas se
compensaro. O aterramento dos ns das superfcies das pastilhas impe que o potencial seja
nulo em qualquer estado de deformao do material. Isso pode ser feito atravs do comando
LOADS selecionando a condio de contorno eltrica voltagem aplicada aos ns, aqui
tambm ser necessrio a seleo prvia dos ns por meio do comando Select Entities, e
definindo uma constante eltrica VOLT a qual se atribuir o valor zero.
A condio de contorno estrutural diz respeito ao engaste e ser aplicada aos ns
pertencentes s linhas verticais da extremidade esquerda da viga. Usando o comando LOADS,
agora para os deslocamentos estruturais, sero selecionados os ns associados ao engaste e
lhes sero restringidos as translaes em X e Y, atravs da atribuio do valor zero para tais
deslocamentos. Os resultados da aplicao das condies de contorno podem ser vistos nas
figuras 11 e 12.


Figura 11: Aplicao das condies de contorno eltricas, circuito fechado para duas pastilhas
piezoeltricas, e estruturais, restries aos deslocamentos X e Y dos ns pertencentes s linhas que se
encontram a extremidade esquerda da viga.

46


Figura 12: Representao das condies de contorno eltricas e estruturais aplicadas aos ns. possvel
visualizar na pastilha piezoeltrica a aplicao da condio de contorno eltrica, circuito fechado,
juntamente com o equipotencial.

As anlises que sero feitas a seguir, etapa 5, fornecero os dados necessrios para
realizar a comparao dos ndices associados a alguma tcnica de monitoramento,
possibilitando identificar a melhor tcnica ou conjunto das melhores tcnicas de
Monitoramento da Integridade Estrutural, para o caso em estudo, juntamente com os
parmetros ideais para obteno desses resultados. Tais anlises sero configuradas no menu
Soluo (Solution).

a) Anlise modal
A anlise modal ser realizada com intuito de obter as cem primeiras freqncias
naturais da estrutura para os casos com e sem defeito. No processo de aquisio das
freqncias naturais devem ser levados em considerao os trs tipos de configuraes
eltricas para as quais as pastilhas piezoeltricas sero ajustadas, e que sero alvo de
posterior anlise atravs dos ndices: i) as duas pastilhas em circuito fechado; ii) primeira
pastilha em circuito aberto e segunda em circuito fechado; e iii) primeira pastilha em
circuito fechado e segunda em circuito aberto. Assim, para cada conjunto de anlises
modais, variando-se tamanho e posio da delaminao, ser configurado um tipo
diferente de condies de contorno eltrica para as pastilhas, atendendo as configuraes
eltricas listadas acima.
Para iniciar a anlise modal, no menu Soluo em Tipos de Anlise ser necessrio
criar uma Nova Anlise e defini-la como modal. Em seguida em Opes de Anlise
47

possvel configur-la para retornar os resultados desejados. Os parmetros que sero
ajustados so: mtodo de extrao dos modos, sendo que o ANSYS possui diferentes tipos
de mtodo de extrao, mas aqui ser utilizado o Block Lanczos por ser o mais rpido no
clculo dos autovalores e autovetores quando se est analisando uma faixa de freqncia
especfica; e o nmero de modos que sero extrados, que ser ajustado para os 100
primeiros modos de vibrar.
Configurada a anlise, o prximo passo ser calcular a soluo atravs do
comando Current LS. O status da soluo pode ser visto na figura 13.


Figura 13: Status da Soluo onde so apresentados todos os parmetros utilizados no clculo da soluo.

No menu Ps-Processamento possvel extrair os dados que foram calculados no
processo anterior, que inclui as 100 primeiras freqncias modais, e visualizar o
comportamento da estrutura nos diversos modos de vibrar. Na figura 14 possvel
visualizar o comportamento da estrutura com delaminao para alguns modos de vibrar.
Observa-se da figura 14(b) que dependo do modo em que a estrutura excitada a abertura
da delaminao maior ou menor.

48


(a)
Figura 14: Representao de alguns modos de vibrar da estrutura configurada para uma delaminao de
10 mm, posicionada a 60 mm do engaste e com condio de contorno eltrica de circuito fechado para os
dois PZTs: (a) 14 primeiros modos de vibrar da viga engastada livre e (b) zoom para os 10, 20, 30, 40 e 50
modos de vibrar com destaque para a delaminao.

49










(b)

Figura 14 (cont.): Representao de alguns modos de vibrar da estrutura configurada para uma
delaminao de 10 mm, posicionada a 60 mm do engaste e com condio de contorno eltrica de circuito
fechado para os dois PZTs: (a) 14 primeiros modos de vibrar da viga engastada livre e (b) zoom para os
10, 20, 30, 40 e 50 modos de vibrar com destaque para a delaminao.


50

b) Anlise Harmnica
Atravs da anlise harmnica ser possvel identificar o dano, estudar seu
crescimento e estimar sua posio. Apesar dessas trs constataes tambm serem
possveis para anlise modal, a anlise harmnica mais indicada para o estudo da
posio, pois, para esta, a leitura da resposta feita localmente em cada sensor permitindo
a comparao. A presena de duas pastilhas piezoeltricas na mesma estrutura permite
estimar a posio relativa do dano atravs da comparao do sinal medido por elas, uma
vez que quanto mais prximo o dano est da pastilha maior deveria ser sua influncia na
resposta medida. A anlise ser feita da seguinte maneira, para uma mesma posio e
tamanho de dano, ser medido o sinal gerado pelos dois sensores, um de cada vez, sendo
que a pastilha em anlise ser ao mesmo tempo atuador e sensor ao passo que a outra ser
mantida em circuito aberto. Esse processo se repetir para as trs posies e para os trs
tamanhos de delaminao. O sinal medido nas pastilhas ser a tenso eltrica gerada no
eletrodo e a entrada aplicada ser carga eltrica.
Para realizar a anlise harmnica necessrio aplicar uma fora externa de
excitao ao modelo, esta entrada no sistema ser feita atravs da prpria pastilha
piezoeltrica atravs da aplicao de cargas na superfcie do eletrodo. Antes, preciso
garantir que as duas pastilhas estejam em circuito aberto, pois para que a pastilha funcione
como atuador e sensor ela no pode estar em circuito fechado. Isso pode ser feito
selecionando os ns da superfcie superior de cada pastilha, atravs do comando Select
Entities (Seleo de Entidades), e em seguida utilizando o comando LOADS, deletar as
condies de contorno eltricas, que possam existir de anlises anteriores, das superfcies
dos eletrodos. Para aplicar a carga eltrica de excitao na pastilha que funcionar como
atuador, e, posteriormente, como sensor durante a leitura do sinal, ser preciso selecionar
os ns da superfcie de pastilha atravs do comando Select Entities, em seguida deve ser
executada a seqncia de comandos Loads->Define Loads->Apply->Electric-
>Excitation->Charge->On Nodes para aplicar carga eltrica nos ns selecionados. A
carga aplicada ter valor unitrio, para padronizar os resultados, e sinal negativo, para
adequar as condies de polarizao das pastilhas s definies do ANSYS. O resultado
desse processo pode ser visto na figura 15, em que a primeira pastilha funciona como
atuador/sensor.

51


Figura 15: Representao da estrutura aplicando-se uma excitao de carga eltrica na superfcie da
primeira pastilha piezoeltrica e ajustando-se as condies de contorno eltricas da segunda pastilha para
circuito aberto.

Para realizar a anlise harmnica, no menu Soluo em Tipos de Anlise ser
necessrio criar uma Nova Anlise e defini-la como harmnica. Em seguida em Opes
de Anlise possvel ajustar a anlise harmnica, adequando-a ao estudo. O mtodo
empregado na soluo ser Full, outra opo seria utilizar a reduo modal, menos
custosa em termos de processamento, mas que ocasionaria maiores imprecises ao
modelo, indesejveis no estudo de SHM, uma vez que em muitos casos as diferenas entre
um estado e outro da estrutura so sutis, principalmente quando se est analisando defeitos
muito pequenos. A outra configurao a ser definida diz respeito forma como a resposta
da estrutura ser exibida no final da anlise, no caso sero parte real e parte imaginria da
resposta em freqncia complexa.
Dentro do menu Soluo ser selecionado o comando Load Step Opts para
configurar os parmetros da Anlise Harmnica, como: faixa de freqncia que ser
estudada e exibida, tipo de entrada e amortecimento da estrutura. Para que todo o intervalo
de freqncia seja exibido no final da anlise, em Controle de Exibio dos Resultados
(Solution Printout Controls) a opo Every Substeps deve ser selecionada.
A faixa de freqncia analisada ir de 0 a 50 kHz, em intervalos (Substeps) de 10
em 10 Hz, dividindo a faixa em 5000 Substeps. Como o ANSYS possui o padro de 1000
Substeps, ser necessrio aumentar o nmero de Substeps atravs do comando /config,
NRES, 5001 que deve ser inserido na barra de comandos do ANSYS logo aps o
programa ser inicializado. Em Time/frequenc selecionando Freq and Substps possvel
definir a faixa de freqncia harmnica de 0-50000, o nmero de Substeps 5000 e o tipo
52

de entrada Degrau; e selecionando Damping possvel definir um amortecimento modal
para a estrutura igual a 0,5%.
Definidas as caractersticas da anlise pode-se calcular a resposta atravs do
comando Solve->Current LS. O status da soluo pode ser visto na figura 16, na qual
possvel observar todas as configuraes utilizadas para o clculo da resposta harmnica.


Figura 16: Status da Soluo onde so apresentadas todas as configuraes utilizadas para calcular a
resposta harmnica.

O modelo da estrutura aps o clculo da soluo pode ser visto na figura 17, na
qual esto representadas todas as foras que agem sobre o sistema juntamente com as
condies de contorno empregadas.

53


Figura 17: Modelo da estrutura aps o clculo da resposta harmnica, com destaque para foras e
condies de contorno que agem sobre as duas pastilhas piezoeltricas.

A extrao dos resultados ser feita no menu TimeHist PostPro dentro da
aplicativo Time History Variables. Por padro, a resposta aparecer no domnio do tempo,
ela deve ser alterada para o domnio da freqncia. Para realizar a medio da voltagem
em um dos ns presentes no eletrodo da pastilha piezoeltrica, que tambm est sendo
utilizada como atuador, ser criada uma varivel VOLT em potencial eltrico dentro da
soluo nodal por graus de liberdade, em seguida se selecionar qualquer um dos ns do
eletrodo.
Da resposta em freqncia da elastncia (Volt/Coulomb), as partes real e
imaginria e a amplitude podem ser extradas do arquivo texto gerado pelo ANSYS
atravs de List Data.








54

2.3. Formulao terica para anlise harmnica
A equao do movimento ajustada para o mtodo de Elementos Finitos e para o
acoplamento eletromecnico entre uma pastilha piezoeltrica e a estrutura pode ser escrita
atravs da expresso:

F q K q D q M = + + & & & (5)

onde M a matriz de massa do sistema, K a matriz de rigidez do sistema, D a matriz de
amortecimento definida a posteriori, F o vetor de foras externas aplicadas ao sistema e q
vetor que representa os graus de liberdade do sistema.
Os graus de liberdade constantes do vetor q so aqueles associados aos elementos
selecionados na modelagem, PLANE82 e PLANE223, ou seja, graus de liberdade que
representam deslocamentos nodais, u , e um grau de liberdade que representa a tenso eltrica
na pastilha piezoeltrica,
p
V , assim a equao (5) pode ser reescrita como:

(

=
(

+
(

+
(

p p p p
Q V K V V
F u
K
K K u
0 0
0 D u
0 0
0 M
u
u uu

&
&
& &
& &

(6)
onde
uu
K e
u
K so as matrizes de rigidez mecnica (elstica) e eletromecnica
(piezoeltrica), respectivamente,

K a rigidez eltrica (dieltrica), M a matriz de massa,

D a matriz de amortecimento (definida a posteriori), F o vetor de foras nodais e
p
Q a
carga eltrica aplicada na pastilha piezoeltrica.
Para o clculo das funes de resposta em freqncia, atravs da aplicao de carga
eltrica na superfcie da pastilha e medio de tenso eltrica induzida na mesma, ser
necessrio supor um foramento eltrico harmnico, com 0 = F , portanto:

t i
p p
e Q Q

~
= ;
t i
e

u u
~
= ;
t i
p p
e V V

~
= (7)






55

Substituindo a equao (7) em (6) obtm-se as seguintes expresses:

p p
Q V K
~ ~
~
= +

u K
u
(8)
( ) 0
~
~ 2
= + + +
p
V u i

u uu
K K D M (9)

Isolando u
~
na equao (9), tem-se:

( )
p
V i
~
~
1
2

u uu
K K D M u

= (10)

Encontrada uma expresso para u
~
, equao (10), possvel substitu-la na equao
(8):

( ) [ ]
p p
Q V K i
~ ~ 1
2
= +



u uu u
K K D M K (11)

Reordenando os elementos da equao (11), obtm-se a frmula para Funo de
Resposta em Freqncia da Elastncia ( )
p p
Q V
~ ~
, para uma pastilha de cada vez, abaixo:

( )
( ) [ ]

K i
Q
V
E
p
p
+
= =

u uu u
K K D M K
1
2
1
~
~

(12)

Sabendo-se que a corrente eltrica pode ser definida como a variao da carga no
tempo, tem-se:

p p
Q I
&
= (13)
onde
p
I a corrente eltrica gerada pela pastilha piezoeltrica.
Passando-se a equao (13) para o domnio da freqncia,
p p
Q i I
~ ~
= , e substituindo-
a na equao (12), obtm-se a expresso da Funo de Resposta em Freqncia para
Impedncia ( )
p p
I V
~ ~
como:

56

( )
( ) [ ]

K i i
I
V
Z
p
p
+
= =

u uu u
K K D M K
1
2
1
~
~

(14)

Invertendo-se a tenso pela corrente na equao (14), chega-se a uma expresso para
Funo de Resposta em Freqncia da Admitncia ( )
p p
V I
~ ~
:

( ) ( ) [ ]

K i i
V
I
Y
p
p
+ = =

u uu u
K K D M K
1
2
~
~

(15)

Apesar de terem sido encontradas expresses para as Funes de Resposta em
Freqncia das trs grandezas que sero analisadas, os resultados que sero utilizados no
MATLAB, para o clculo dos ndices, so aqueles calculados pelo ANSYS relativos
Elastncia, com os devidos ajustes: para encontrar a Impedncia o resultado de
p p
Q V
~ ~
ser
multiplicado por i 1 e para encontrar Admitncia ser feita a inverso do resultado
encontrado para Impedncia.
57

Captulo 3

ndices utilizados para deteco
Mensurar o dano, atravs de ndices, significa atribuir uma quantidade escalar, atravs
de parmetros estatsticos, para o resultado da comparao entre duas medidas que se diferem
pela presena do dano. Idealmente, o ndice deveria indicar somente as alteraes causadas
pela presena do dano, mas na prtica isso no ocorre, pois nas condies normais de
operao existem variaes, como: mudanas de temperatura, presso, vibraes ambientes,
etc., que interferem nas medidas utilizadas para calcul-los. Na literatura, vrias mtricas tm
sido empregadas para realizar esse tipo de comparao. Neste trabalho, sero analisadas
algumas mtricas relacionadas a duas tcnicas de deteco diferente: uma de baixa freqncia
que utiliza parmetros modais, e outra de alta freqncia que utiliza comparaes espectrais
das curvas de resposta em freqncia.

3.1. ndices Modais
Mudanas nas propriedades fsicas da estrutura, tal como reduo da rigidez
provocada pela presena do dano, podem ser detectadas atravs de alteraes nos parmetros
modais, como, por exemplo, mudana na freqncia de vibrao. Por causa deste efeito, os
parmetros modais podem ser utilizados como indicadores de dano na estrutura.
Por sua facilidade de obteno em casos prticos e por sua ampla utilizao em
estudos de SHM, as variveis modais utilizadas nesse trabalho para o clculo dos ndices
sero as freqncias naturais. Apesar de sua baixa sensibilidade, exigindo medidas mais
precisas e/ou os danos maiores, estudos tm mostrado que as freqncias naturais sofrem
menores variaes estatsticas do que outros parmetros modais.

3.1.1. Variao Relativa das Freqncias Naturais (VRFN)
O clculo do ndice baseado na Variao Relativa das Freqncias Naturais ser feito
com base na diferena relativa entre as freqncias naturais da estrutura sem e com defeito.
Devido s freqncias naturais serem propriedades globais da estrutura, no claro se
alteraes neste parmetro poderiam ser utilizadas para identificar mais do que simplesmente
a presena do dano na estrutura. Entretanto, a existncia de duas pastilhas piezoeltricas numa
mesma estrutura permite a comparao entre os parmetros modais para diferentes condies
58

de contorno eltricas para cada pastilha piezoeltrica e, assim, espera-se poder avaliar alm do
crescimento do defeito, o seu posicionamento em relao s pastilhas. Tentar-se-, atravs
das modificaes das condies eltricas dos materiais piezoeltricos, identificar alguma
variao na freqncia que possa estar relacionada com a posio do defeito na estrutura. Isso
ser feito atravs da comparao entre os ndices VRFN calculados usando trs tipos de
condies de contorno eltricas para pastilhas piezoeltricas, definidas abaixo:
i. Ambas as pastilhas em circuito fechado, sc sc ;
ii. Primeira pastilha em circuito aberto e segunda em circuito fechado, sc oc ;
iii. Primeira pastilha em circuito fechado e segunda em circuito aberto, oc sc .
Na equao (16) apresentado clculo para o ndice VRFN levando-se em
considerao as condies de contorno eltricas das pastilhas.

100
2 / 1
2 / 1 2 / 1
2 / 1

=
j
P P
j
P P
jd
P P j
P P
f
f f
VRFN (16)
onde 2 1 P P representa as condies de contorno eltricas das pastilhas piezoeltricas 1 e 2,
j
P P
f
2 1
a j-sima freqncia natural da estrutura sem defeito e
jd
P P
f
2 1
a aquela da estrutura
com defeito.
Para se tentar estimar a posio da delaminao, o ndice
SC SC
VRFN ser tomado
como referncia. Seu valor ser confrontado com o valor dos ndices
SC OC
VRFN e
OC SC
VRFN . Atravs desse processo, pretende-se chegar a alguma concluso acerca da
posio do defeito, uma vez que o valor do ndice VRFN, calculado para os trs tipos de
condies de contorno eltricas, apresentar um crescimento gradual com o aumento do dano,
entretanto, espera-se que esse crescimento seja diferente para os ndices
SC OC
VRFN e
OC SC
VRFN , comparado com o ndice
SC SC
VRFN . Esta diferena indicar qual pastilha est
mais prxima do defeito. Por exemplo, caso a delaminao esteja mais prxima da primeira
pastilha, espera-se que o ndice
SC OC
VRFN seja mais influenciado pela presena da
delaminao, situao inversa ocorreria caso o dano estivesse prximo da pastilha dois.




59

3.1.2. Variao do Coeficiente de Acoplamento Eletromecnico (VEMCC)
O Coeficiente de Acoplamento Eletromecnico (EMCC, do ingls Electromechanical
Coupling Coefficient) uma medida utilizada em materiais piezoeltricos para quantificar a
eficincia de converso da energia eltrica em energia mecnica e vice versa, e muitas vezes
empregado como um dos parmetros de diferenciao entre esses materiais. Ele pode ser
calculado para o material piezoeltrico unido a estrutura, servindo como um indicador de
dano, uma vez que mudanas na rigidez da estrutura, ocasionada pelo dano, geram mudanas
na energia de deformao da pastilha piezoeltrica em suas vizinhanas, afetando a energia
eltrica armazenada na pastilha devida ao acoplamento eletromecnico entre a pastilha e a
estrutura, e conseqentemente, alterando a eficincia na converso de energia pela pastilha
piezoeltrica.
Vrios mtodos so encontrados na literatura para calcular o EMCC de uma pastilha
piezoeltrica, destacando-se dois. O primeiro baseia-se na razo das energias internas quando
a pastilha piezoeltrica est em circuito aberto ou fechado. O outro se baseia na freqncia de
ressonncia do material piezoeltrico, calculado atravs das freqncias de ressonncia e anti-
ressonncia oriundas da frmula da admitncia eltrica. As freqncias de ressonncia e anti-
ressonncia tambm so referenciadas como as freqncias naturais para circuito aberto e
circuito fechado, respectivamente, da pastilha piezoeltrica, e so facilmente medidas atravs
de experimentos. Nesse trabalho, no entanto, ser utilizada uma medida similar, mas que seja
afetada pelo comportamento dinmico da estrutura. Esta medida pode ser dada pelo EMCC
efetivo da estrutura calculado com base nas freqncias de ressonncia da estrutura para a
qual a pastilha piezoeltrica de interesse colocada nas condies de circuito aberto e fechado
[46]. As equaes (17) e (18) representam o EMCC efetivo do PZT 1 e do PZT 2,
respectivamente, para o j-simo modo de vibrao da estrutura. A diferenciao entre as
equaes est na condio eltrica da pastilha da qual se est calculando o EMCC. Assim, por
exemplo, para calcular o EMCC efetivo do PZT 1, necessrio calcular a freqncia de
ressonncia com o PZT 1 nas condies de circuito aberto e fechado. As outras pastilhas, no
caso do PZT 2, so mantidas em circuito fechado nos dois casos. Esse procedimento deve ser
feito para a estrutura com e sem defeito.





60

100 1
2
/
2
1
/

|
|

\
|
=
j
sc oc
j
j
P
f
f
EMCC
SC SC
(17)

100 1
2
/
2
2
/

|
|

\
|
=
j
oc sc
j
j
P
f
f
EMCC
SC SC
(18)
onde
j
sc sc
f a j-sima freqncia de ressonncia da estrutura sem defeito com o PZT 1 e o
PZT 2 em circuito fechado,
j
sc oc
f a mesma com o PZT 1 em circuito aberto e o PZT 2 em
circuito fechado e
j
oc sc
f aquela com o PZT 1 em circuito fechado e PZT 2 em circuito
aberto.
Calculados os EMCC para PZT 1 e 2, para estrutura com e sem defeito, o prximo
passo ser calcular a variao, em pontos percentuais, do EMCC atravs da equao (19) e
(27), para PZT 1 e 2, respectivamente.

jd
P
j
P
j
P
EMCC EMCC VEMCC
1 1 1
=
(19)

jd
P
j
P
j
P
EMCC EMCC VEMCC
2 2 2
=
(20)
onde EMCC e
d
EMCC so os coeficientes de acoplamentos eletromecnicos para a estrutura
sem e com defeito, respectivamente.
Diferentemente do VRFN, o VEMCC calculado individualmente para cada sensor
permitindo que a anlise da posio do defeito seja feita de forma direta, isto , quanto mais
prximo o dano est do sensor maior deve ser o seu valor, calculado para aquele sensor.

3.2. ndices Baseados na Resposta em Freqncia
Enquanto que as Funes de Resposta em Freqncia (FRF) fornecem informaes
qualitativas sobre o dano, informaes quantitativas podem ser obtidas atravs de mtricas
escalares, que simplificam a interpretao da variao da grandeza em estudo e resume as
informaes extradas das curvas de resposta em freqncia. Nesta seo, sero apresentados
os ndices utilizados para quantificar as curvas de resposta em freqncia das grandezas
impedncia, admitncia e elastncia, traadas para estrutura com e sem defeito. Eles sero
calculados usando parte real, parte imaginria e amplitude de tais grandezas complexas.
61

Os ndices calculados a partir das FRF comparam a amplitude de dois espectros de
freqncia, com dano e sem dano, e associam um valor escalar a essa comparao.
Idealmente, os ndices baseados no mtodo da impedncia deveriam avaliar o espectro da
freqncia e indicar a presena, localizao e severidade do dano. Nesse estudo, isso ser
possvel devido presena de duas pastilhas piezoeltricas que fornecem informaes sobre o
mesmo defeito, mas de posies diferentes, permitindo a comparao entre os sinais medidos
e a estimativa da localizao do defeito.
Nas prximas sees, algumas mtricas escalares para simplificar a anlise das curvas
de resposta em freqncia so apresentadas.

3.2.1. Desvio quadrtico mdio (RMSD)
O ndice RMSD decorre do desvio do valor quadrtico mdio (RMS) ou valor eficaz
ajustado dos espectros de freqncia, da estrutura com defeito, comparado queles da
estrutura sem defeito, medidos atravs do material piezoeltrico. O valor eficaz uma medida
estatstica calculada atravs da raiz quadrada da mdia aritmtica dos quadrados da seqncia
de valores em anlise, equao (21), podendo ser calculado tanto para uma srie de valores
discretos como para funes contnuas. um caso especial da potncia mdia com o expoente
p = 2.

=
=
N
i
i rms
x
N
x
1
2
1
(21)

Sun et al. [28] e Giurgiutiu e Rogers [17] utilizam o ndice RMSD, calculado a partir
da Parte Real da Impedncia, para quantificar o dano. Apesar de os autores darem o mesmo
nome para os ndices, eles so diferentes em relao posio do somatrio. O primeiro
emprega o somatrio fora da raiz quadrada, equao (22); j o segundo emprega-o dentro da
raiz quadrada, equao (23). Essas modificaes alteram o resultado final, justificando o
estudo de ambos os ndices nesse trabalho.

( )
( )
100
1
2
2

=
n
i
i
d
i i
Sun
Z
Z Z
RMSD (22)

62

( )
( )
100
1
2
1
2

=
=
n
i
i
n
i
d
i i
GR
Z
Z Z
RMSD (23)
onde
i
Z o valor de um dos componentes da grandeza complexa em estudo para j-simo
ponto de freqncia, podendo ser a Parte Real, Parte Imaginria ou Amplitude, calculada para
estrutura sem defeito,
d
i
Z a mesma componente da grandeza complexa em estudo s que
calculada para estrutura com defeito.
Assim, um maior valor numrico para o ndice RMSD, indica uma maior diferena
entre os sinais medidos para estrutura com e sem defeito e, portanto, um maior dano na
estrutura.
Embora seja muito utilizado em estudos de SHM, o ndice RMSD tem um problema
inerente, efeitos de perturbao no relacionados ao dano (ex: variao de temperatura)
alteram o espectro de freqncia, o que afeta diretamente o valor do ndice. Amenizaes de
tais efeitos no so fceis de conseguir, e podem nem ser possveis. Outras mtricas de danos,
baseadas em frmulas estatsticas alternativas (desvio mdio absoluto percentual, covarincia,
coeficiente de correlao, etc.) tm sido empregadas, entretanto elas no parecem aliviar
completamente esse problema.

3.2.2. Desvio Mdio Absoluto Percentual (MAPD)
Este ndice calculado a partir do somatrio das variaes da componente da grandeza
em estudo para os casos da estrutura com defeito, em relao estrutura sem defeito, em
valores absolutos e percentuais. O ndice MAPD muito similar ao ndice RMSD
Sun
, j que
ambos consideram a mdia do desvio individual de cada ponto do sinal medido.
Na literatura, tambm existem algumas variaes para o clculo do ndice MAPD,
alguns autores que o utilizaram so Giurgiutiu [15] e Tseng e Naidu [48], entretanto essas
diferenas no interferem no comportamento do ndice e, portanto, nesse trabalho se utilizar
a formulao proposta em [48].

=
n
i i
d
i i
Z
Z Z
N
MAPD
1
100
(24)
sendo N o nmero de pontos de freqncia no espectro analisado.



63

3.2.3. Covarincia (COV)
A covarincia mede a tendncia e a fora da relao linear entre duas variveis
distintas. calculada pela mdia aritmtica do produto das distncias entre o valor da
grandeza em cada ponto de freqncia e a sua respectiva mdia para a estrutura sem e com
defeito, podendo assumir valores positivo, negativo ou nulo. Se a covarincia for igual a zero
significa que a relao entre as variveis em estudo de independncia, mas se os valores
forem diferentes de zero pode existir alguma dependncia entre elas. Assim, o ndice COV,
equao (25), vai quantificar a relao entre as componentes da grandeza em anlise para a
estrutura com e sem defeito.

( )( )

=
=
n
i
d d
i i
Z Z Z Z
N
COV
1
1

(25)
onde Z a mdia de um dos componentes da grandeza complexa em estudo calculada para
estrutura sem defeito e
d
Z a mdia da mesma componente da grandeza complexa em
estudo s que calculada para estrutura com defeito.
Quanto mais prximo o valor do ndice estiver de zero maior ser a indicao da
presena do dano e sua severidade, uma vez que o crescimento do dano na estrutura tende a
enfraquecer a relao de dependncia entre as curvas, com e sem dano, medidas para
estrutura.
Infelizmente, a covarincia no sensvel como estimador de relacionamento, pois
assume valores de menos a mais infinito, sem ter um ponto de referncia que delimita um
grau forte de relacionamento de um grau fraco. Portanto, a covarincia no consegue revelar o
que seria uma relao forte nem fraca.

3.2.4. Desvio do Coeficiente de Correlao (CCD)
O coeficiente de correlao (CC) estabelece o nvel da relao entre duas variveis,
entretanto no mede a relao causa-efeito entre elas. Ele mede em que grau e sentido
(crescente/decrescente) existe relao linear entre duas grandezas. Os valores do coeficiente
de correlao esto sempre contidos no intervalo de -1 a +1. Quando o coeficiente de
correlao for igual a menos um a relao entre as variveis perfeitamente negativa e
quando for mais um a relao perfeitamente positiva. O valor igual a zero significa ausncia
de relacionamento linear.
Para o estudo de sinais, o coeficiente de correlao mede o relacionamento linear entre
os dois sinais e sua escala independe da unidade de medida. O CC vale +1, quando todos os
64

picos do sinal da estrutura sem dano so iguais ao da estrutura com dano para as mesmas
freqncias. Quando o CC -1 indica que todas as freqncias onde o sinal da estrutura sem
dano tem picos, o sinal da estrutura com dano tem vales, e vice versa. Assim, quanto menores
valores para o CC, maior ser o desvio no sinal, indicando maior nvel de dano. Zangrai e
Guirgiutiu [52] utilizaram o ndice Desvio do Coeficiente de Correlao (CCD), que
( )

CC 1 com diferentes variaes para o valor de . A equao (26) mostra o ndice CCD
para 1 = .

( )( )

=
=
n
i
d d
i i
Z
Z
Z Z Z Z CCD
d 1
1
1


(26)
onde
Z
o desvio padro de um dos componentes da grandeza complexa em estudo
calculada para estrutura sem defeito e
d
Z
o desvio padro da mesma componente da
grandeza complexa em estudo s que calculada para estrutura com defeito.

3.2.5. Desvio do Coeficiente de Correlao ao Cubo (CCD
3
)
Da mesma forma que foi definido no item anterior, o ndice CCD
3
representa o Desvio
do Coeficiente de Correlao, ( )

CC 1 , s que agora para 3 = , conforme a equao (27)

apresentada abaixo.

( )( )
3
1
3
1
1
(
(

=
n
i
d d
i i
Z
Z
Z Z Z Z CCD
d

(27)

Estudos tm revelado, Zagrai e Giurgiutiu [52], que o ndice CCD com variando de
3 a 7 apresenta melhor correlao entre a distncia do sensor e localizao do dano.

3.2.6. Norma Infinita (H
inf
)
Uma norma uma funo no negativa de valor real definida sobre um espao vetorial
que associa a cada vetor, desse espao, um nmero real no-negativo, que representa sua
magnitude. O conceito de norma est intuitivamente relacionado noo geomtrica de
comprimento.
A norma infinita corresponde ao maior pico da funo de resposta em freqncia e
pode ser obtida atravs da equao (28).
65


( )
i
n
i
p
n
i
p
i
p
Z Z
1
1
1
max lim
=
=

= |

\
|
=

Z
(28)
onde

Z a norma infinita do vetor correspondente a uma das componentes da grandeza

complexas em estudo, analisada para uma faixa de freqncia pr-estabelecida.
Uma das formas de comparar as normas infinitas calculadas para estrutura com e sem
defeito, aplicar o ndice H
inf
que estima a variao entre as curvas mediadas atravs da
diferena das normas calculadas para estrutura com e sem defeito, dividida pela norma da
estrutura sem defeito. Para que o ndice no assuma valores negativos, o mdulo da diferena
entre os valores das normas para a estrutura sem e com defeito utilizado.

( ) ( )
( )
2
2
2
inf

=
Z
Z Z
d
H
(29)

3.2.7. Norma Quadrada ou Euclidiana (H
2
)
A Norma Quadrada pode ser obtida pela mesma frmula utilizada para calcular a
Norma Infinita, s que ao invs de se aplicar o limite para p tendendo ao infinito, p assume o
valor 2, equao (30).

2
1
1
2
2
|

\
|
=

=
n
i
i
Z Z
(30)
onde
2
Z a Norma Quadrada para uma das componentes complexas da grandeza em estudo,
analisada para uma faixa de freqncia pr-estabelecida.
O ndice H
2
ser calculado da mesma forma que o ndice a H
inf
, isto , elevar-se- ao
quadrado as normas obtidas para estrutura sem e com defeito e se aplicar o mdulo para o
resultado da diferena entre as normas, conforme a equao (31).

( ) ( )
( )
2
2
2
2
2
2
2
Z
Z Z
d
H

=
(31)
66

Captulo 4

Resultados

4.1. Anlise Modal
Com intuito de facilitar a anlise, uma vez que os resultados sero apresentados em
funo dos modos de vibrar, uma tabela que correlaciona os diversos modos com suas
freqncias naturais, pode ser vista abaixo. Dada a pequena diferena que existe entre as
freqncias naturais da estrutura com as pastilhas piezoeltricas em SC/SC, SC/OC ou
OC/SC, s sero apresentadas as freqncias naturais para estrutura com as duas pastilhas em
circuito fechado, SC/SC.
Tabela 1: Freqncia natural dos cem primeiros modos de vibrar da estrutura sem defeitos e com as duas
Pastilhas Piezoeltricas em circuito fechado.
modo Freq. (kHz)

modo Freq. (kHz)

modo Freq. (kHz)

modo Freq. (kHz)
1 0,035

26 26,536

51 71,638

76 122,050
2 0,178

27 31,367

52 72,480

77 122,550
3 0,619

28 32,155

53 73,766

78 122,950
4 0,950

29 33,737

54 74,085

79 123,930
5 1,651

30 34,495

55 76,726

80 128,050
6 2,601

31 37,578

56 80,002

81 129,100
7 3,463

32 38,144

57 82,127

82 132,020
8 3,737

33 40,760

58 85,596

83 134,360
9 4,376

34 42,801

59 86,019

84 139,630
10 6,235

35 43,810

60 86,412

85 140,290
11 6,808

36 44,155

61 90,724

86 140,340
12 9,183

37 44,563

62 92,149

87 143,150
13 10,208

38 49,200

63 98,097

88 143,800
14 10,878

39 49,572

64 98,683

89 144,360
15 11,304

40 55,203

65 100,660

90 146,320
16 12,299

41 55,785

66 103,390

91 148,410
17 14,713

42 56,401

67 103,420

92 152,190
18 15,598

43 57,713

68 104,410

93 155,010
19 16,436

44 60,142

69 107,260

94 156,680
20 17,390

45 61,235

70 110,260

95 158,260
21 18,891

46 61,753

71 110,350

96 164,140
22 20,606

47 65,630

72 115,550

97 164,300
23 23,906

48 67,663

73 116,290

98 166,240
24 24,763

49 69,221

74 117,850

99 166,450
25 25,969

50 70,047

75 118,760

100 167,200
67


Os resultados para os ndices baseados na variao relativa da freqncia natural da
estrutura, com e sem defeito, podem ser vistos abaixo, atravs das figuras 18 e 19. A figura 18
corresponde a apenas uma das configuraes possveis para estrutura com dano, delaminao
de 30 mm posicionada a 60 mm do engaste, com ambas as pastilhas piezoeltricas em circuito
fechado. Apesar de a anlise ter sido feita para os trs tipos de configuraes eltricas das
pastilhas piezoeltricas estudadas (SC/SC, SC/OC e OC/SC), nos trs tamanhos de
delaminao (10, 20 e 30 mm) e nas trs posies possveis (60, 85 e 110 mm), optou-se por
mostrar somente uma dessas combinaes, pois se observou o mesmo comportamento em
todos os casos, com pequenas variaes, inerentes ao parmetro alterado de um caso para o
outro, como: variaes na amplitude e deslocamentos de pico. Ressalta-se que as
modificaes nas configuraes eltricas das pastilhas alternando-as de circuito fechado para
aberto, nos casos estudados, em nada alteraram a variao percentual entre as freqncias com
e sem falha, o que evidenciou a falta de sensibilidade da freqncia para determinar a posio
do defeito.

Figura 18: Variao das freqncias naturais em relao referncia para os cem primeiros modos com
os PZTs 1 e 2 em circuito fechado (a) delaminao posicionada a 60 mm do engaste variando-se seu
comprimento em 10, 20 e 30 mm; (b) delaminao de 30 mm de comprimento variando-se sua posio em
relao ao engaste em 60, 85 e 110 mm.
68


Figura 18 (cont.): Variao das freqncias naturais em relao referncia para os cem primeiros modos
com os PZTs 1 e 2 em circuito fechado (a) delaminao posicionada a 60 mm do engaste variando-se seu
comprimento em 10, 20 e 30 mm; (b) delaminao de 30 mm de comprimento variando-se sua posio em
relao ao engaste em 60, 85 e 110 mm.

Na figura 18(a) possvel observar o aumento gradual da variao da freqncia com
o aumento da delaminao e na figura 18(b) observa-se a falta de sensibilidade dessa mtrica
para se determinar a posio da falha, uma vez que as curvas praticamente se sobrepem.
Com a finalidade de ampliar essas constataes para os outros casos estudados e reduzir a
quantidade de informaes, sero calculadas as mdias em intervalo de modos de 25 em 25,
para cada posio, nos trs tamanhos de delaminao. Agrupando as mdias atravs de
grficos de barras, figura 19, possvel identificar um comportamento que se repete para toda
a faixa de freqncia estudada.

-
2,00
4,00
6,00
8,00
10,00
12,00
14,00
16,00
1-25 26-50 51-75 76-100
m

d
i
a

v
a
r
.

f
r
e
q
.

(
%
)
modos
60 mm
85 mm
110 mm

Figura 19: Mdias da variao das freqncias naturais para quatro faixas, calculadas de 25 em 25 modos
de vibrao, das trs posies de delaminao (60, 85 e 110 mm) nos trs tamanhos de falhas (10, 20 e 30
mm), com os dois PZTs em circuito fechado.

69

A figura 19 mostra o comportamento similar que existe entre as vrias combinaes
dos parmetros estudados ao longo de toda faixa de freqncia. Isto , ocorre um aumento
gradual no valor do ndice quando se aumenta o tamanho da delaminao independentemente
de sua posio. Ela tambm mostra que na faixa de freqncia de 26 a 70 kHz, dos modos 26
a 50, os valores das mdias das variaes das freqncias naturais so maiores, tornando essa
faixa mais adequada para se medir e estudar variaes no tamanho da falha na estrutura.
Passando-se para a anlise do EMCC, tambm ser apresentada apenas uma
configurao para o defeito, delaminao de 30 mm, pois para os outros tamanhos de
delaminao o comportamento se repete. Diferentemente da freqncia natural, a anlise do
EMCC pode ser feito separadamente para o PZT 1 e para o PZT 2, possibilitando o estudo de
suas variaes, medida que o defeito se aproxima ou se afasta das pastilhas piezoeltricas.
Este tipo de anlise permite estimar a posio do defeito, pois se espera que quanto mais
prximo o defeito esteja do sensor, maior sua influncia na resposta. Para demonstrar esse
comportamento foram traadas as curvas da variao do EMCC para duas posies de
delaminao, 60 e 110 mm, pois nessas posies ocorre maior influncia do defeito nas
pastilhas devido a sua proximidade, figura 20.
0,00
0,50
1,00
1,50
2,00
2,50
3,00
3,50
4,00
159
1
3
1
7
2
1
2
5
2
9
3
3
3
7
4
1
4
5
4
9
5
3
5
7
6
1
6
5
6
9
7
3
7
7
8
1
8
5
8
9
9
3
9
7
v
a
r
.

E
M
C
C

(
p
.
p
.
)
modos
PZT 1
PZT 2

Figura 20: Comparao da Variao do Coeficiente de Acoplamento Eletromecnico (EMCC), em pontos
percentuais, dos PZTs 1 e 2 em relao referncia para os cem primeiros modos de vibrao com uma
delaminao de 30 mm (a) delamiao posicionada a 60 mm do engaste; (b) delaminao posicionada a
110 mm do engaste.

(a)
70

0,00
0,50
1,00
1,50
2,00
2,50
3,00
3,50
4,00
159
1
3
1
7
2
1
2
5
2
9
3
3
3
7
4
1
4
5
4
9
5
3
5
7
6
1
6
5
6
9
7
3
7
7
8
1
8
5
8
9
9
3
9
7
v
a
r
.

E
M
C
C

(
p
.
p
.
)
modos
PZT 1
PZT 2

Figura 20 (cont.): Comparao da Variao do Coeficiente de Acoplamento Eletromecnico (EMCC), em
pontos percentuais, dos PZTs 1 e 2 em relao referncia para os cem primeiros modos de vibrao com
uma delaminao de 30 mm (a) delaminao posicionada a 60 mm do engaste; (b) delaminao
posicionada a 110 mm do engaste.

Pode-se observar pelas figuras 20(a) e 20(b) que as variaes dos EMCC do PZT 1 e
PZT 2 para os diferentes modos de vibrao no so significativamente alteradas quando se
altera a posio da delaminao. Esse fato descarta um estudo mais aprofundado, modo a
modo, para se identificar variaes que guardem alguma relao com a posio da falha.
Para se chegar a resultados mais gerais sobre a utilizao EMCC na deteco de
danos, sero traados grficos de mdias da variao dos EMCC1 e EMCC2, para todos os
casos em estudo, figura 21.

0,00
0,10
0,20
0,30
0,40
0,50
0,60
1-25 26-50 51-75 76-100
m

d
i
a

v
a
r
.

E
M
C
C

1

(
p
.
p
.
)
modos
60 mm
85 mm
110 mm

Figura 21: Mdias do VEMCC, em pontos percentuais, em relao referncia para quatro faixas,
calculadas de 25 em 25 modos de vibrao, das trs posies de delaminao 60, 85 e 110 mm, nos trs
tamanhos de falhas 10, 20 e 30 mm, (a) mdia do EMCC do PZT 1; (b) mdia do EMCC do PZT 2.

(b)
(a)
71

0,00
0,10
0,20
0,30
0,40
0,50
0,60
1-25 26-50 51-75 76-100
m

d
i
a

v
a
r
.

E
M
C
C

2

(
p
.
p
.
)
modos
60 mm
85 mm
110 mm

Figura 21 (cont.): Mdias do VEMCC, em pontos percentuais, em relao referncia para quatro faixas,
calculadas de 25 em 25 modos de vibrao, das trs posies de delaminao 60, 85 e 110 mm, nos trs
tamanhos de falhas 10, 20 e 30 mm, (a) mdia do EMCC do PZT 1; (b) mdia do EMCC do PZT 2.

A figura 21 mostra uma possvel utilizao do EMCC para se detectar o crescimento
da delaminao, pela existncia de um modesto crescimento gradual do ndice com o aumento
da delaminao nas faixas de modos 1-25 e 51-75. Apesar do clculo do EMCC ser feito
individualmente para cada pastilha piezoeltrica, o que teoricamente facilitaria a anlise da
posio da falha (pois se espera que quanto mais perto a falha esteja do sensor maior sua
influncia sobre ele) os resultados mostrados, figuras 21(a) e 21(b), sugerem a ineficincia do
ndice utilizando a variao do EMCC para se determinar a posio do defeito, uma vez que
no ocorreram variaes significativas em suas medidas de uma figura para outra, ou seja, de
uma pastilha para outra.
Da figura 19, pode-se concluir que a variao percentual das freqncias naturais da
estrutura calculada com base nas freqncias sem e com delaminao, para as pastilhas
piezoeltricos configuradas em circuito fechado e/ou aberto, uma boa mtrica para se
determinar o agravamento da falha, uma vez que as mdias das variaes das freqncias
tiveram um crescimento gradual com o aumento da delaminao. Outra concluso que se
pode tirar analisando as mdias das variaes das freqncias, figura 19, que as freqncias
naturais no so sensveis as variaes das posies da falha, visto que a modificao nos
resultados quando elas so alteradas no significativo. Alm disso, no existe garantia, na
prtica, de que no houve inverso na ordem dos modos de vibrar e, portanto, as freqncias
em condies de dano diferentes podem no ser comparveis.
O coeficiente de acoplamento eletromecnico, EMCC, tambm foi analisado, os
resultados obtidos indicam que ele pode ser usado para se determinar o agravamento da
delaminao, entretanto ele no apresentou a mesma constncia observada na variao
(b)
72

relativa da freqncia natural, com pode ser visto na figura 21, especificamente nos modos de
26 a 50. Quanto a sua utilizao para se determinar a posio da delaminao, os resultados
obtidos se mostraram inconclusivos, isso se deve em parte ao carter global que o EMCC tem
na estrutura, fazendo com que outros fatores, alm da variao da posio da falha,
influenciem na sua medida.

4.2. Anlise Harmnica
Atravs da anlise harmnica realizada em ANSYS foi possvel extrair os dados
necessrios para se traar as Funes de Resposta em Freqncia em MATLAB, figuras 22,
23 e 24. Posteriormente estes dados sero utilizados para se calcular os ndices que
quantificaram a extenso dos danos causados pela delaminao. Da mesma forma que na
Anlise Modal, aqui tambm s ser apresentada uma configurao para estrutura com
defeito, delaminao de 30 mm posicionada a 60 mm do engaste, pois a inteno, neste
momento, mostrar o comportamento das FRF quando se altera a grandeza estudada
(impedncia, admitncia e elastncia) e suas medidas (Parte Real, Parte Imaginria e
Amplitude). Alm disso, extrair informaes da FRF graficamente extremamente
complicado quando se est analisando tcnicas de deteco de danos que funcionam melhor
em altas freqncias.









73

0 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50
10
0
10
1
10
2
10
3
frequncia(kHz)
p
a
r
t
e

r
e
a
l


referncia
dano

0 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50
10
5
10
4
10
3
10
2
frequncia(kHz)
p
a
r
t
e

i
m
a
g
i
n

r
i
a


referncia
dano

0 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50
10
2
10
3
10
4
10
5
frequncia(kHz)
a
m
p
l
i
t
u
d
e


referncia
dano

Figura 22: Funes de Resposta em Freqncia para estrutura sem delaminao e com delaminao de 30
mm, posicionada a 60 mm do engaste, calculadas para Parte Real, Parte Imaginria e Amplitude da
Impedncia.

74

0 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50
10
6
10
4
frequncia(kHz)
p
a
r
t
e

r
e
a
l


referncia
dano

0 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50
10
5
10
4
10
3
10
2
frequncia(kHz)
p
a
r
t
e

i
m
a
g
i
n

r
i
a


referncia
dano
0 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50
10
5
10
4
10
3
10
2
frequncia(kHz)
a
m
p
l
i
t
u
d
e


referncia
dano

Figura 23: Funes de Resposta em Freqncia para estrutura sem delaminao e com delaminao de 30
mm, posicionada a 60 mm do engaste, calculadas para Parte Real, Parte Imaginria e Amplitude da
Admitncia.

75

0 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50
10
7.29
10
7.31
10
7.33
10
7.35
10
7.37
frequncia(kHz)
p
a
r
t
e

r
e
a
l


referncia
dano

0 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50
10
5
10
6
frequncia(kHz)
p
a
r
t
e

i
m
a
g
i
n

r
i
a


referncia
dano

0 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50
10
7.29
10
7.31
10
7.33
10
7.35
10
7.37
frequncia(kHz)
a
m
p
l
i
t
u
d
e


referncia
dano

Figura 24: Funes de Resposta em Freqncia para estrutura sem delaminao e com delaminao de 30
mm, posicionada a 60 mm do engaste, calculadas para Parte Real, Parte Imaginria e Amplitude da
Elastncia.


76

Observa-se nas figuras 22 e 23 que a Parte Imaginria e a Amplitude sofrem grandes
variaes ao longo da faixa de freqncia, 0-50kHz, permitindo apenas visualizar, com
facilidade, tendncias gerais de crescimento ou declnio com o aumento da freqncia. Uma
melhor visualizao dessas curvas seria possvel se elas fossem traadas em intervalos
menores de freqncia, aumentando consideravelmente a quantidade de informaes, sem
trazer, contudo, novas concluses. Tambm pode ser observado que apesar da FRF da
Amplitude ser uma composio das Partes Real e Imaginria, o comportamento da curva
acaba sendo parecido com a da Parte Real, mas as variaes so influenciadas pela Parte
Imaginria.
Apresentado o comportamento das Curvas de Resposta em Freqncia para as
grandezas e medidas que sero estudadas, passa-se ao clculo dos ndices utilizando o
MATLAB. Os ndices que sero calculados so aqueles que foram apresentados no tpico
anterior. Para se concluir a respeito da faixa de freqncia em que o ndice apresenta melhor
desempenho, optou-se por calcul-los em cinco faixas de freqncia em intervalos de 10 kHz:
0-10 kHz, 10-20 kHz, 20-30 kHz, 30-40 kHz e 40-50 kHz. Apesar de esta escolha tornar a
anlise mais completa, ela acrescenta mais um parmetro que deve ser combinado com os
outros, aumentando ainda mais o nmero de informaes a serem manipuladas.
O desempenho dos ndices est intrinsecamente relacionado com as condies em que
eles so calculados. O clculo depende da grandeza estudada (impedncia, admitncia ou
elastncia), da componente da grandeza medida (Parte Real, Imaginria ou Amplitude) e da
faixa de freqncia selecionada.
A anlise ser dividida em duas partes. Primeiro se estudar a habilidade dos ndices
em detectar o agravamento do defeito com o aumento da delaminao. Isso ser feito atravs
de grficos de barras para o PZT 1 e para o PZT 2, sendo que nesses grficos sero
apresentados, para cada posio de delaminao, os valores dos ndices calculados
aumentando o tamanho da delaminao (Figura 25a). Na segunda parte ser analisada a
capacidade do ndice em informar o quo perto o defeito est do PZT 1 ou do PZT 2,
possibilitando aferir a posio do defeito, isso ser feito atravs da comparao dos grficos
de barras do valor do ndice calculado para o PZT 1 e para o PZT 2 nas trs posies de
delaminao para um mesmo tamanho delaminao, procedimento que se repetir para todas
tamanhos de delaminao, figura 25(b). Esses estudos sero feitos para cada faixa de
freqncia analisada. Os valores empregados (normalizados) na figura 25 so considerados
ideais e as disposies das barras no grfico sero tomadas como referncia na escolha dos
melhores ndices.
77



0,00
0,20
0,40
0,60
0,80
1,00
1,20
60mm 85mm 110mm 60mm 85mm 110mm

n
d
i
c
e
posio centro delaminao
10mm
20mm
30mm
PZT 1 PZT 2


0,00
0,20
0,40
0,60
0,80
1,00
1,20
60mm 85mm110mm 60mm 85mm110mm 60mm 85mm110mm

n
d
i
c
e
posio centro delaminao
PZT 1
PZT 2
Delam. 10mm Delam. 20mm Delam. 30mm

Figura 25: Representao dos grficos de barras que sero utilizados nas anlises. (a) grfico para se
determinar a crescimento da delaminao; (b) grfico para se determinar a posio da delaminao.

Devido grande quantidade de dados (3 grandezas x 3 medidas x 8 ndices x 5 faixas
de Freqncia x 2 PZTs x 3 tipos de delaminao x 3 posies de delaminao = 6480
anlises e comparaes), ser necessrio realizar uma pr-seleo at se chegar aos melhores
ndices para se determinar a posio e o agravamento da falha. Assim, dois critrios de
comportamento desejado sero utilizados para se determinar os ndices a serem mantidos e
estudados em detalhe: 1) Para o crescimento da falha: aumento gradual do ndice com o
aumento da falha, nas trs posies estudadas, para ambos os sensores; 2) Para a posio da
falha: ocorrer simultaneamente para os trs tamanhos de dano um aumento considervel no
valor do ndice medida que o dano se aproxima do sensor (ver representao do
(a)
(b)
78

comportamento desejado na figura 25 e 26, esta para as mdias normalizadas). Os ndices
selecionados com base nestes dois critrios podem ser vistos na tabela 2.
Tabela 2: Apresentao dos ndices que foram selecionados utilizando o critrio (1) crescimento da falha;
e (2) posio da falha.
ndices
Impedncia Admitncia Elastncia
Re Im Abs Re Im Abs Re Im Abs
RMSD
Sun
1, 2 1, 2 1, 2
RMSD
GR
1 1 1 2
MAPD 1, 2 1, 2 1, 2
COV
CCD 1 1 1 2
CCD
3
1 1 1 2
H
2
1, 2 1, 2 2 2 2 2
H
inf



Figura 26: Grficos das mdias dos ndices normalizados tidos como ideais para o caso em estudo (a)
critrio de crescimento; (b) critrio de posio.

Pode-se concluir da tabela 2 que os ndices COV e H
inf
no devem ser utilizados para
esse tipo de anlise, ou pelo menos nesse modelo de estrutura, pois apresentaram resultados
que destoam e so incompatveis com os resultados esperados.
Abaixo sero apresentados os grficos de barras dos ndices selecionados, para o
critrio de crescimento, figuras 27, 28 e 29. Estes serviro de base para clculo das mdias
dos ndices normalizados. Os ndices calculados sero agrupados segundo a medida utilizada
para o seu clculo - Parte Real, Parte Imaginria e Amplitude -, independentemente da
grandeza. Esta disposio foi escolhida por facilitar comparao dos ndices calculados para
as diferentes grandezas, mantendo-se como referncia a mesma medida, entretanto, outros
critrios poderiam ter sido utilizados para organizar os ndices.
Os ndices calculados sobre a Parte Real da elastncia, Parte Imaginria da admitncia
e Amplitude da admitncia e elastncia, no atenderam o requisito, aumento gradual nas trs
79

posies estudadas para ambos os sensores, sendo que em alguns casos, ambos os PZTs no
atenderam, e em outros, um dos PZTs atendeu e o outro no. Os ndices que atenderam as
condies impostas pelo critrio 1, foram calculados na faixa de freqncia de 0-10 kHz, as
outras faixas apresentaram o mesmo comportamento citado anteriormente para os ndices que
no atenderam o requisito.





Figura 27: ndices calculados com base na Parte Real, que se comportaram segundo o critrio 1: (a, b, c,
d, e) Impedncia; (f, g) Admitncia.
80







Figura 27 (cont.): ndices calculados com base na Parte Real, que se comportaram segundo o critrio 1: (a,
b, c, d, e) Impedncia; (f, g) Admitncia.

81


Figura 27 (cont.): ndices calculados com base na Parte Real, que se comportaram segundo o critrio 1: (a,
b, c, d, e) Impedncia; (f, g) Admitncia.




Figura 28: ndices calculados com base na Parte Imaginria, que se comportaram segundo o critrio 1: (a,
b, c, d) Impedncia; (e, f) Elastncia.

82






Figura 28 (cont.): ndices calculados com base na Parte Imaginria, que se comportaram segundo o
critrio 1: (a, b, c, d) Impedncia; (e, f) Elastncia.

83


Figura 28 (cont.): ndices calculados com base na Parte Imaginria, que se comportaram segundo o
critrio 1: (a, b, c, d) Impedncia; (e, f) Elastncia.




Figura 29: ndices calculados com base na Amplitude da Impedncia, que se comportaram segundo o
critrio 1.

84




Figura 29 (cont.): ndices calculados com base na Amplitude da Impedncia, que se comportaram
segundo o critrio 1.

Observa-se nas figuras acima que todos os ndices selecionados foram calculados na
faixa de freqncia de 0-10 kHz, tornando esta faixa a mais indicada para se identificar o
agravamento da delaminao.
Apesar dos ndices selecionados nas figuras 27, 28 e 29 mostrarem o crescimento
gradual do dano com o aumento da delaminao, seus valores no esto na mesma ordem de
grandeza, e dentro do mesmo ndice, ocorrem variaes de amplitude para os dois PZTs,
dificultando a comparao. Para anular estes efeitos e unificar os dados de ambos os PZTs,
sero calculadas as mdias dos ndices normalizados. A normalizao ser feita
individualmente para cada PZT, isto , para cada PZT, associado a um ndice, ser
identificado qual o maior valor para determinada posio e tamanho de delaminao, este
valor assumir valor unitrio, dividindo ele por ele mesmo, e servir de base para normalizar
os outros valores calculados para o mesmo PZT. Feita a normalizao para ambos os PZTs, o
passo seguinte ser calcular a mdia simples, do PZT1 e do PZT2, para cada posio e
85

tamanho de delaminao. Tais grficos podem ser vistos nas figuras 30, 31 e 32, dispostas
segunda a mesma lgica de apresentao descrita anteriormente.

Figura 30: Mdias dos ndices normalizadas calculados sobre a Parte Real, que se comportaram segundo o
critrio 1: (a, b, c, d, e) Impedncia; (f, g) Admitncia.
86


Figura 31: Mdias dos ndices normalizados calculadas sobre Parte Imaginria, que se comportaram
segundo o critrio 1: (a, b, c, d) Impedncia; (e, f) Elastncia.




87


Figura 32: Mdias dos ndices normalizados calculadas sobre a Amplitude da impedncia, que se
comportaram segundo o critrio 1.

Do que foi exposto, utilizando o critrio 1, pode-se concluir que a melhor grandeza
para se detectar o aumento progressivo do defeito na estrutura a impedncia, pois ela foi a
grandeza que mais apresentou ndices que se encaixaram no critrio, pr-estabelecido, para as
trs medidas calculadas, tabela 3. A faixa de freqncia mais adequada para se realizar esse
tipo de anlise vai de 0 a 10 kHz, pois foi somente nesta faixa que os ndices selecionados se
enquadraram no critrio 1.
Tabela 3: ndices que satisfizeram o critrio 1, pr-estabelecido, separados pelas grandezas e medidas
para as quais eles foram calculados.
Parte Real Parte imaginria Amplitude
Impedncia
RMSD
GR

MAPD
CCD
CCD
3

RMSD
GR

CCD
CCD
3

H
2


RMSD
GR
CCD
CCD
3

H
2


Admitncia
RMSD
Sun
MAPD

Elastncia
RMSD
Sun

MAPD


Para identificar qual ndice e medida utilizar, as figuras das mdias dos ndices
normalizados, calculados para impedncia, sero comparadas com a figura 26(a), que contm
o perfil considerado ideal para essa medida. Na figura 33, possvel visualizar a sobreposio
88

dos valores obtidos com os valores esperados, dos ndices que apresentaram um crescimento
ntido e estvel com o aumento da delaminao nas trs posies estudadas.

Figura 33: Comparao dos ndices com melhor desempenho (critrio 1) com o valor considerado ideal (a)
ndice RMSD
GR
calculado para Parte Imaginria e Amplitude da Impedncia; (b) ndice RMSD
GR
calculado para Parte Real da Impedncia; (c) ndice H
2
calculado para Parte Imaginria e Amplitude da
Impedncia.

Observa-se na figura 33 que o ndice H
2
apresenta um crescimento mais rpido,
derivada maior, e o ndice RMSD
GR
um crescimento mais parecido com o modelo ideal,
entretanto ambos se enquadram no critrio.
Assim, atravs desta anlise, foi possvel identificar os conjuntos ndice, grandeza,
medida e faixa de freqncia que melhor respeitaram o critrio 1 (habilidade de identificar o
crescimento do dano). Em todos os casos, a faixa de freqncia mais interessante foi a de 0-
10kHz. A grandeza que, em geral, melhor se comportou foi a impedncia. Quanto aos ndices
e medidas, tanto o ndice H
2
, calculado usando a amplitude ou a parte imaginria da
impedncia, quanto o ndice RMSD
GR
, calculado usando amplitude, parte real ou parte
imaginria da impedncia, foram considerados os melhores.
Definidos os parmetros que melhor atendem a problemtica de se tentar quantificar o
aumento da delaminao, passa-se ao estudo da posio do defeito na estrutura. Como foi dito
anteriormente, a tcnica para se identificar a posio do defeito est vinculada ao
89

comportamento do ndice ao se variar a posio da delaminao em relao aos PZTs. O que
torna essa anlise possvel a existncia de pelo menos duas pastilhas piezoeltricas na
mesma estrutura e o conhecimento prvio da distncia entre elas. Pois, calculando-se o valor
do ndice para ambos os PZTs, e alterando-se a posio da delaminao no espao entre elas,
possvel estabelecer uma relao entre os valores medidos e posio do dano. Espera-se que
quando o defeito est prximo de um dos PZTs o valor de seu ndice supere o valor do ndice
medido para o outro PZT e quando ambos esto eqidistantes do defeito os valores dos
ndices se igualem. Atravs dessa suposio foi estabelecido o critrio 2, pois nem todos os
ndices calculados apresentaram esse comportamento nas cinco faixas de freqncias estudas
e/ou para os trs tamanhos de delaminao. Abaixo nas figuras 34, 35 e 36 sero apresentados
os grficos de barras para os ndices selecionados atravs do critrio 2, pr-estabelecido. Da
mesma forma que os grficos foram apresentados no critrio 1, para facilitar a comparao
das grandezas, eles sero agrupados segundo a medida que foram calculados e quando
possvel, apresentados na seguinte ordem de grandeza impedncia, admitncia e elastncia.
Frisa-se que alguns ndices, em certas faixas de freqncia, comportaram-se da
maneira que se esperava, entretanto isso no ocorreu para todos os tamanhos de delaminao,
exigido pelo critrio 2. O caso mais comum foi o ndice se comportar bem na faixa de
freqncia de 30-40 kHz para a delaminao de 10 mm e para as delaminaes de 20 e 30 mm
na faixa de 40-50 kHz.






90






Figura 34: ndices calculados com base na Parte Real dos PZTs 1 e 2, que se comportaram segundo o
critrio 2: (a, b) Impedncia; (c, d, e, f, g) Admitncia e (1h, 2h) Elastncia.

91






Figura 34 (cont.): ndices calculados com base na Parte Real dos PZTs 1 e 2, que se comportaram segundo
o critrio 2: (a, b) Impedncia; (c, d, e, f, g) Admitncia e (1h, 2h) Elastncia.

92






Figura 34 (cont.): ndices calculados com base na Parte Real dos PZTs 1 e 2, que se comportaram segundo
o critrio 2: (a, b) Impedncia; (c, d, e, f, g) Admitncia e (1h, 2h) Elastncia.






93







Figura 35: ndices calculados com base na Parte Imaginria dos PZTs 1 e 2, que se comportaram segundo
o critrio 2: (1a, 2a) Impedncia; (1b, 2b, 3b) Admitncia e (c, d) Elastncia.

94






Figura 35 (cont.): ndices calculados com base na Parte Imaginria dos PZTs 1 e 2, que se comportaram
segundo o critrio 2: (1a, 2a) Impedncia; (1b, 2b, 3b) Admitncia e (c, d) Elastncia.

95


Figura 35 (cont.): ndices calculados com base na Parte Imaginria dos PZTs 1 e 2, que se comportaram
segundo o critrio 2: (1a, 2a) Impedncia; (1b, 2b, 3b) Admitncia e (c, d) Elastncia.




Figura 36: ndices calculados com base na Amplitude dos PZTs 1 e 2, que se comportaram segundo o
critrio 2: (1a, 2a) impedncia; (1b, 2b) admitncia e (1c, 2c) elastncia.

96






Figura 36 (cont.): ndices calculados com base na Amplitude dos PZTs 1 e 2, que se comportaram segundo
o critrio 2: (1a, 2a) impedncia; (1b, 2b) admitncia e (1c, 2c) elastncia.

97


Figura 36 (cont.): ndices calculados com base na Amplitude dos PZTs 1 e 2, que se comportaram segundo
o critrio 2: (1a, 2a) impedncia; (1b, 2b) admitncia e (1c, 2c) elastncia.

Observa-se nas figuras 34, 35 e 36 que os ndices RMSD
Sun
e RMSD
GR
, MAPD, CCD e
CCD
3
comportam-se melhor na faixa de freqncia de 0-10 kHz e o ndice H
2
nas faixas de
20-30 e 30-40 kHz, com exceo da Parte Imaginria da Admitncia onde o ndice H
2
tambm
se enquadrou no critrio na faixa de 10-20 kHz. Pela diversidade das informaes, nenhuma
concluso a respeito da melhor faixa de freqncia pode ser tirada nesse momento. Na figura
36, que mostra os ndices calculados com base na Amplitude, tambm possvel observar que
somente o ndice H
2
se encaixou no critrio 2.
Dada a diferena que existe na ordem de grandeza entre os valores dos ndices e at
mesmo dentro do prprio ndice, quando ele calculado para outros tamanhos de
delaminao, torna-se imperativo para comparao, que os dados sejam sintetizados atravs
da mdia dos ndices normalizados. A normalizao e a mdia sero calculadas da mesma
forma que foi feito no critrio 1, entretanto, aqui, a normalizao ser feita individualmente
para cada tamanho de delaminao (buscando-se o maior valor entre os PZTs, nas trs
posies de delaminao) e a mdia aritmtica, ser a mdia dos trs tamanhos de
delaminao, para cada PZT. Esses grficos podem ser vistos nas figuras 37, 38 e 39,
apresentados da mesma ordem que as figuras acima.


Figura 37: Mdia dos ndices normalizados calculadas com base na Parte Real dos PZTs 1 e 2, que se
comportaram segundo o critrio 2: (a, b) Impedncia; (c, d, e, f, g) Admitncia e (1h, 2h) Elastncia.
98




Figura 37 (cont.): Mdia dos ndices normalizados calculadas com base na Parte Real dos PZTs 1 e 2, que
se comportaram segundo o critrio 2: (a, b) Impedncia; (c, d, e, f, g) Admitncia e (1h, 2h) Elastncia.

99


Figura 38: Mdia dos ndices normalizados calculadas com base na Parte Imaginria dos PZTs 1 e 2, que
se comportaram segundo o critrio 2: (1a, 2a) Impedncia; (1b, 2b, 3b) Admitncia e (c, d) Elastncia.

100


Figura 39: Mdia dos ndices normalizados calculadas com base na Amplitude dos PZTs 1 e 2, que se
comportaram segundo o critrio 2: (1a, 2a,) Impedncia; (1b, 2b) Admitncia e (1c, 2c) Elastncia.

As figuras 37, 38 e 39 mostram todos os ndices normalizados, o que permite que eles
sejam comparados, entretanto, ainda existe uma grande quantidade de informaes a serem
analisadas. Isso pode ser resolvido adotando-se mais um critrio de seleo, que a tentativa
de se conformar os resultados obtidos pelo critrio 2 a uma das presunes anteriormente
mencionada: espera-se que os valores dos ndices calculados para os PZTs 1 e 2 sejam iguais
quando a posio da delaminao se encontre a 85 mm do engaste. Assim, dos ndices
simplificados pelas mdias normalizados, sero selecionados aqueles que apresentarem para
posio da delaminao de 85 mm valores para o PZT 1 e para o PZT 2 que no se excedam
101

em 10%. Na tabela 4 so apresentados todos os ndices selecionados pelo critrio 2 e
assinalados, por asterisco, aqueles que se encaixam nesse novo critrio.

Tabela 4: ndices que atendem o critrio 2 e assinalados por * aqueles que apresentam para posio de
delaminao de 85 mm valores que no se excedam em 10%.
Parte Real Parte imaginria Amplitude
ndice Faixa (kHz) ndice Faixa (kHz) ndice Faixa (kHz)
Impedncia
RMSD
Sun
0-10
H
2

20-30

30-40
*
H
2

20-30
*
30-40
*
MAPD 0-10
Admitncia
RMSD
Sun
0-10
H
2

10-20
20-30
30-40
*

H
2

20-30
30-40
*

RMSD
GR
0-10
MAPD 0-10
CCD 0-10
CCD
3
0-10
*
Elastncia H
2

20-30
30-40
*

RMSD
Sun
0-10
H
2

20-30

30-40
*
MAPD 0-10

Da Tabela 4 possvel constatar que a faixa de freqncia adequada para se estudar a
posio do defeito vai de 30 a 40 kHz, pois nessa faixa que esto a maioria dos ndices que
atendem ao novo critrio.
Resta agora definir qual ndice utilizar e para que condies. Com auxlio da figura 40,
que compara os valores dos ndices calculados com os valores esperados, figura 26(b), pode-
se chegar a essas concluses.

Figura 40: ndices que apresentaram valores aproximados, para o PZT 1 e 2, quando calculados para
delaminao posicionada a 85 mm do engaste e comparados com seus valores esperados. Parte Real: (a)
Admitncia (b) Elastncia; Parte Imaginria: (c) Admitncia (d, e) Impedncia; Amplitude: (f)
Admitncia (g, h) Impedncia (i, j) Elastncia.


(a) (b)
102









Figura 40 (cont.): ndices que apresentaram valores aproximados, para o PZT 1 e 2, quando calculados
para delaminao posicionada a 85 mm do engaste e comparados com seus valores esperados. Parte Real:
(a) Admitncia (b) Elastncia; Parte Imaginria: (c) Admitncia (d, e) Impedncia; Amplitude: (f)
Admitncia (g, h) Impedncia (i, j) Elastncia.

Observa-se na figura 40 que o ndice com melhor desempenho a norma H
2
, pois
alm de aparecer em maior quantidade, se comparada com CCD
3
, apresenta maior variao
(c)
(d)
(e) (f)
(g)
(h)
(j) (i)
103

entre os valores calculados para o PZT 1 e para o PZT 2 quando a delaminao est
posicionada a 60 mm do engaste. O ndice H
2
calculado na faixa de freqncia de 20-30 kHz,
com exceo da Amplitude da elastncia, figura 40(i), apresentou desempenho inferior,
comparados aos outros casos na posio do defeito a 110 mm do engaste, confirmando a faixa
de freqncia de 30-40 kHz como mais adequada.
Em relao a qual grandeza e medida utilizar, a escolha ser feita com base nos ndices
da figura 40 que se encaixam nos parmetros j definidos como mais adequados (ndice H
2
e
faixa de freqncia 30-40 kHz), figuras 40(b), 40(c), 40(e), 40(f), 40(h) e 40(j). Entretanto,
realizar apenas a anlise visual para decidir qual ndice utilizar no muito suficiente, pois
existem diferenas sutis entre as figuras mencionadas. Desta forma, para esses ndices sero
calculadas as razes entre os valores do PZT1 e do PZT2, para cada posio,

m
m M
r

= (32)
onde M e m so os valores da maior e da menor barra, respectivamente, para qualquer uma
das trs posies de delaminao.
Atravs da equao (32) possvel precisar a razo entre os valores dos ndices
calculados para cada PZT, e assim decidir qual conjunto de relaes se encaixa melhor nos
critrios de seleo. Na tabela 5 so apresentadas as razes do ndice H
2
, para cada posio,
calculado para 6 parmetros diferentes, segundo a medida e grandeza. O ndice que
apresentou uma das maiores e mais parecidos razes para a posio da delaminao de 60 e
110 mm e uma razo muito pequena para a posio da delaminao de 85 mm, foi o ndice H
2

calculo para parte real da elastncia e parte imaginria da impedncia.

Tabela 5: Razes entre os valores de cada ndice (H
2
) calculado para o PZT 1 e PZT 2 para as trs
posies de delaminao.

Distncia da delaminao do engaste
60 mm 85 mm 110 mm
Parte Real Elastncia 2,59 0,04 2,53
Parte Imag. Admitncia 1,52 0,03 1,79
Parte Imag. Impedncia 2,22 0,03 2,33
Amplitude Admitncia 2,00 0,07 2,70
Amplitude Impedncia 1,07 0,00 1,50
Amplitude Elastncia 2,32 0,07 3,07
104

Considerando todos os critrios relativos ao posicionamento, isto , consistncia
quando variado o tamanho do dano e razo entre os ndices medidos pelas duas pastilhas,
pode-se concluir sobre os conjuntos ndice, grandeza, medida e faixa de freqncia mais
adequados para a identificao da posio do dano na estrutura, relativa posio das
pastilhas. Todos os casos considerados bons utilizaram o ndice norma H
2
calculado na faixa
de freqncia 30-40kHz. Quanto grandeza e medida, tanto a parte real da elastncia como a
parte imaginria da impedncia aparecem como bons candidatos deteco da posio
relativa da delaminao na estrutura.
105

Captulo 5

Concluses e Perspectivas
Neste trabalho, um estudo sobre tcnicas de monitoramento de integridade estrutural
atravs do mtodo inverso foi desenvolvido. As tcnicas foram aplicadas identificao da
existncia, do tamanho e da posio de uma delaminao em uma estrutura compsita
laminada usando duas pastilhas piezeltricas coladas estrutura. Para isso foi desenvolvido,
com auxlio de um software de elementos finitos (ANSYS), um modelo 2D de viga em
balano composta por seis camadas do mesmo material compsito, Carbono Epoxy
(AS4/3501-6), que se alternam em relao direo das fibras, direes X e Z, e possuindo
em sua superfcie superior duas pastilhas piezoeltricas, separadas por uma distancia de 100
mm, na funo de sensor e atuador, simultaneamente.
No modelo foram introduzidos defeitos do tipo delaminao, dano mais recorrente em
estruturas compsitas laminadas, em tamanhos (10, 20 e 30 mm - entre as duas camadas
imediatamente abaixo das pastilhas) e posies (60, 85 e 110 mm do engaste) variadas. A
delaminao foi representada deixando-se de se unir o espao entre as camadas onde
supostamente existiria a delaminao. Esta representao mostrou-se mais adequada, pois no
acrescenta nem retira material da estrutura e permite que malha de elementos finitos seja
construda de maneira uniforme. A vantagem de se criar a mesma malha regular para todos os
casos, minimizar sua influncia na comparao dos resultados.
Depois de criado o modelo, foram realizadas as anlises modais e harmnicas para
extrao dos dados que foram utilizados para calcular os ndices. O mtodo empregado para a
soluo da anlise harmnica foi Full, pois em muitos casos as diferenas entre um estado e
outro da estrutura so nfimas, principalmente quando se est analisando defeitos muito
pequenos.
Para sintetizar os dados obtidos no sentido de quantificar as alteraes causadas pelo
dano, possibilitando a comparao entre eles, foram calculados ndices estatsticos, com base
nos ndices j empregados na literatura, utilizando o MATLAB. Tais mtricas foram
relacionadas a duas tcnicas de deteco diferentes: uma de baixa freqncia que utiliza
parmetros modais (VRFN e VEMCC) e outra de alta freqncia que utiliza comparaes
espectrais das curvas de resposta em freqncia das grandezas complexas elastncia,
admitncia e impedncia (RMSD
Sun
, RMSD
GR
, MAPD, COV, CCD, CCD
3
, H
2
, H
inf
).
106

Dos resultados pode-se concluir que a Variao Relativa das Freqncias Naturais
(VRFN) da estrutura, calculada com base nas freqncias sem e com delaminao, para as
pastilhas piezoeltricos, configuradas em circuito fechado e/ou aberto, uma boa mtrica para
se determinar o agravamento da falha, uma vez que as mdias das variaes das freqncias
tiveram um crescimento gradual com o aumento da delaminao, entretanto as freqncias
naturais no so sensveis s variaes das posies da falha, visto que no ocorre nenhuma
modificao nos resultados quando elas so alteradas.
Para a variao do coeficiente de acoplamento eletromecnico (VEMCC), os
resultados obtidos indicam que ele pode ser usado para se determinar o agravamento da
delaminao, entretanto ele no apresentou a mesma constncia observada na freqncia
natural. Quanto sua utilizao para se determinar a posio da delaminao, os resultados
obtidos se mostraram inconclusivos, isso se deve em parte ao carter global do EMCC.
No caso dos ndices baseados no mtodo da impedncia que utilizam altas freqncias
para o monitoramento, devido grande quantidade de dados (6480 anlises e comparaes),
foi necessrio realizar uma pr-seleo at se chegar aos melhores ndices para se determinar
a posio e o agravamento da falha. Dois critrios foram utilizados para se determinar quais
ndices sintetizar atravs de grficos da mdia do ndice normalizado: 1) Para o crescimento
da falha: aumento gradual do ndice com o aumento da falha, nas trs posies estudadas,
para ambos os sensores; 2) Para a posio da falha: ocorrer simultaneamente para os trs
tamanhos de dano um aumento considervel no valor do ndice medida que o dano se
aproxima do sensor.
Seguindo os dois critrios, os ndices que apresentaram melhor desempenho para
estimar o crescimento da delaminao foram: H
2
calculado para a grandeza impedncia na
faixa de freqncia de 0-10 kHz utilizando as medidas Amplitude e Parte Imaginria e
RMSD
GR
calculado para a grandeza impedncia na faixa de freqncia de 0-10 kHz utilizando
as medidas Amplitude, Parte Imaginria e Parte Real. J para o critrio da posio da
delaminao somente o ndice H
2
foi selecionado, os parmetros que melhor se encaixaram
nos critrios foram a parte real da elastncia e a parte imaginria da impedncia, ambas
calculadas na faixa de freqncia 30-40 kHz.
Uma das grandes dificuldades encontradas neste trabalho foi sintetizar os resultados
obtidos atravs dos ndices. Os resultados encontrados tiveram grande influncia dos critrios
utilizados como filtro, concluses diferentes poderiam ter sido obtidas caso os critrios
fossem outros. Algumas limitaes em relao ao software de elementos finitos tambm
107

influenciaram nos resultados como, por exemplo, as restries envolvendo os elementos
planos.
Como proposta para um trabalho futuro pretende-se validar o modelo atravs de
ensaios experimentais, estudar outros tipos defeitos aplicados estrutura, estudar outras
abordagens para modelagem da estrutura (p. ex. estruturas 3D) e otimizar a seleo dos
ndices que atendam a critrios pr-estabelecidos (p. ex. utilizao de algoritmos genticos),
incluindo a anlise de funes-objetivas que avaliem de forma global o quanto cada conjunto
de grandeza, medida e faixa de freqncia se aproxima do comportamento ideal.
108


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113



ANEXO I
Material Piezoeltrico PZT- 5H [52]
Densidade: = 7500 kg m
-3
[ ] GPa c
(
(
(
(
(
(
(
(

=
47 . 23 0 0 0 0 0
0 99 . 22 0 0 0 0
0 0 99 . 22 0 0 0
0 0 0 44 . 117 67 . 84 67 . 84
0 0 0 67 . 84 2 . 127 21 . 80
0 0 0 67 . 84 21 . 80 2 . 127

[ ]
2
0 0 0 24 . 23 623 . 6 623 . 6
0 0 035 . 17 0 0 0
0 035 . 17 0 0 0 0
m
C
e
(
(
(

=
[ ]
N
C
d
12
10
0 0 0 593 274 274
0 0 741 0 0 0
0 741 0 0 0 0

(
(
(

=
[ ]
m
F
10
10
301 0 0
0 1 . 277 0
0 0 1 . 277

(
(
(

=
Material Carbono/Epoxy AS4/3501-6 [53]
Densidade: = 1389 kg m
-3

E
1
(GPa) E
2
(GPa) E
3
(GPa) G
12
(GPa) G
13
(GPa) G
23
(GPa)
12

13

23

144,8 9,65 9,65 4,14 4,14 3,45 0,30 0,30 0,40