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Fontes eletrnicas para a soldagem

com eletrodos revestidos: avaliao


de um controle da corrente de
curto-circuito
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J esualdo Pereira Farias
Amrico Scotti
Valtair Feraresi



Resumo

O objetivo deste trabalho foi avaliar a eficcia do ajuste dos parmetros de
controle da corrente de curto-circuito em fontes eletrnicas para soldagem manual
de eletrodos revestidos. Uma srie de soldagens de simples deposio foram
realizadas, variando-se o tipo de eletrodo, a relao dimetro do eletrodo -
corrente, a velocidade de soldagem e os parmetros de controle (corrente de
curto-circuito e tenso de referncia). Utilizou-se para o planejamento
experimental e anlise dos dados a tcnica estatstica do Experimento Robusto
(Taguchi), tendo como caracterstica principal de qualidade a produo.

O rendimento de deposio foi utilizado como caracterstica secundria de
qualidade. Os resultados indicam que, para as condies empregadas neste
trabalho, no h benefcio significativo no uso dos ajustes da corrente de curto-
circuito e da tenso de referncia. Conclui-se ainda que os fatores mais influentes
sobre as caractersticas de qualidade dos eletrodos so o tipo e o dimetro do
eletrodo.

Abstract

The objective of this work was to assess the efficacy of the parameter settings of
the short- circuiting current control in electronic power supplies used for shielded
metal arc welding. A series of bead-on-plate welds was made, by varying the
electrode type, the electrode diameter-current ratio, the travel speed and the
control parameters (short-circuiting current and voltage reference). The statistic
Robust Design technique (Taguchi's) was employed for experimental planning
and data analysis. Production was used as the main quality characteristic
and deposition efficiency was treated as a secondary quality characteristic.
The results indicate that, for the given conditions, there is no significant
improvement of the quality characteristics due to the short-circuiting current
and reference voltage settings. It was concluded that electrode type and
diameter are the most influential factors on the quality characteristics.






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Introduo

Nas fontes convencionais de soldagem (eletromagnticas) para eletrodos
revestidos, o usurio no dispe de maiores opes para a sua regulagem. Neste
caso, apenas a caracterstica esttica da fonte pode ser selecionada.

A corrente e tenso de soldagem, para uma dada posio da curva de
caracterstica esttica da fonte, dependero basicamente do tipo e dimetro do
eletrodo, assim como do comprimento do arco. J as fontes controladas
eletronicamente proporcionam outras caractersticas. Uma destas a corrente de
curto-circuito (Icc), a qual influencia a transferncia metlica durante o contato
da gota com a poa de fuso. O ajuste adequado da Icc pode reduzir a
salpicagem, evitar a colagem do eletrodo na pea e facilitar a soldagem fora de
posio plana, resultando em maior produtividade.

A forma mais prtica de se controlar a corrente de curto-circuito nestes tipos de
fontes de soldagem, permitir que a corrente do arco aumente controladamente
durante o tempo em que a gota permanece em contato com a poa de fuso. Isto
possvel fixando-se uma tenso de referncia (Uref), abaixo da qual considera-
se que o processo est em curto-circuito.

Normalmente, os valores de Icc e Uref j vem pr-definidos na maioria das fontes
comerciais. Entretanto, existem produtos que permitem o usurio fazer este ajuste.

Apesar das vantagens aclamadas para fontes com controle de Icc, no existem
muitas informaes sobre o correto ajuste do valor da Uref e da Icc. No h meios
de se avaliar se este ajuste realmente eficaz. Do ponto de vista de produo, a
situao ideal seria aquela em que o ajuste Icc e Uref no apresentassem efeitos
relevantes e os respectivos valores pudessem vir pr-selecionados, como em
muitas fontes comerciais. Este caso apresentaria uma reduo de tempo e de
custo na seleo de parmetros e no treinamento de pessoal.

Em um trabalho recente [01], observou-se que a existncia do controle da Icc no
exerce efeito significante sobre a performance do processo de soldagem, exceto
para eletrodos celulsicos. Em outro trabalho com eletrodos bsicos [02],
verificou-se que a fonte afeta a transferncia metlica e a produo dos eletrodos.
No entanto, as fontes de soldagem utilizadas nestes trabalhos no permitiam
variaes da Icc e da Uref em funo da corrente de soldagem.






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Percebe-se, portanto, que este assunto precisa ainda ser suficientemente
explorado.
Analisando-se a questo, ainda do ponto de vista da produo, trs situaes
podem surgir a partir de futuras investigaes neste campo. Na primeira, os
resultados podem indicar que no h influncia significativa da Icc e da Uref nas
caractersticas do processo Eletrodo Revestido. Neste caso, melhor sacrificar
uma pequena parcela da produo do que aumentar os problemas relacionados
com a seleo de um novo parmetro. Na segunda, pode haver um efeito
relevante e previsvel destes parmetros, independente do tipo de eletrodo.

Por exemplo, dimetros maiores, por exigirem maiores correntes, deveriam
tambm requerer maiores valores de Icc e menores valores da Uref. O soldador
seria facilmente treinado para ajustar os parmetros seguindo as novas regras.

Na terceira situao, os resultados poderiam indicar um efeito significante da Icc e
da Uref, mas sem nenhuma relao bem estabelecida. Devido a este fato e ao
nmero de possveis combinaes dos diversos parmetros de soldagem,
armazenar os possveis ajustes na EPROM do sistema de controle da mquina
seria impraticvel do ponto de vista da construo de um banco de dados.

O usurio poderia selecionar as suas condies prticas mais usuais e determinar
as melhores combinaes de parmetros para cada situao. Os diferentes
ajustes poderiam ser eventualmente armazenados no sistema de controle da
mquina de soldagem ou em um banco de dados externo. Outra soluo seria
usar filosofias alternativas de controle tais como redes neurais, para se obter um
auto ajuste dos parmetros (controle sinrgico).

Neste sentido, o objetivo principal deste trabalho verificar se diferentes ajustes
nos valores da Icc e da Uref podem afetar as caractersticas operacionais e
econmicas do processo de soldagem com eletrodos revestidos de diferentes
classes e dimetros. Caso exista efeito significativo, um segundo objetivo seria
demonstrar que possvel encontrar os melhores ajustes da Icc e da Uref para
uma dada condio.

Materiais e mtodos

A tcnica denominada Projeto Robusto [03], desenvolvida por Taguchi, uma
ferramenta poderosa na otimizao de produtos ou processos. Ela visa
determinar as variveis (denominadas de fatores) que mais influenciam a
variabilidade do processo ou produto. O controle destes fatores garante a
qualidade do processo/produto (menor variabilidade), alm da otimizao da sua
performance.


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No presente caso, o que se procura verificar o quanto os parmetros do controle
da Icc afetam a performance do produto (fonte), visando a otimizao do seu
ajuste. Maiores detalhes sobre este mtodo estatstico podem ser encontrados em
bibliografia especializada.

O primeiro passo desta tcnica a definio do que se espera otimizar
(denominado caracterstica de qualidade). Para este trabalho, a caracterstica de
qualidade selecionada foi a Produo (P), uma vez que se trata do aspecto mais
importante para o aumento da produtividade (relacionada com o tempo necessrio
para preencher a junta). A produo pode ser expressa como o produto da Taxa
de Fuso (TF) pelo Rendimento de Deposio (RD).

Existem outras caractersticas que afetam a produtividade, tais como o tempo
gasto para a remoo da escria e dos salpicos. O rendimento de deposio
pode ser considerado um bom parmetro para avaliar a quantidade de salpicos, e
esta pode ser uma caracterstica de qualidade secundria. Deve-se ressaltar que
no faz sentido ter-se uma elevada produo se a solda est cheia de defeitos,
tais como mordeduras e falta de penetrao. O re-trabalho, neste caso, reduz
significativamente a produtividade. Logo, as grandezas indicativas da geometria
da solda poderiam tambm ser tomadas como caractersticas de qualidade
secundria, mas s sero discutidas em futuros trabalhos.

Seleo dos fatores

Considerando-se que a principal caracterstica de qualidade a produo, decidiu-
se, com base em critrios tcnicos e econmicos, selecionar para este trabalho os
seguintes fatores: o tipo e o dimetro do eletrodo, a corrente mdia de soldagem
(Im), a velocidade de soldagem (Vsold), a corrente de curto-circuito (Icc) e a
tenso de referncia (Uref). A corrente, para um dado tipo de eletrodo, uma
varivel dependente do seu dimetro.

Para reduzir o nmero de experimentos, a soluo foi escolher a combinao
dimetro-corrente (D-I) como um dos fatores, ao invs do emprego de dois fatores
separados (dimetro e corrente). Neste caso, o valor da corrente ser o valor
mdio, indicado pelo fabricante, para cada tipo e dimetro de eletrodo.

Uma vez definidos os fatores, a prxima tarefa seria a escolha do nmero de
nveis para cada fator. Os tipos de eletrodos selecionados so os mais
comumente empregados ou seja: o Rutlico AWS E6013, o Bsico AWS E7018 e o
Celulsico AWS E6011.




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Os dimetros de eletrodos mais comumente empregados so 2,5, 3,25 e 4,0 mm,
e sero considerados como nveis para este fator. A experincia com o processo
SMAW sugere trs nveis para a tenso de referncia ou seja: 5.0, 9.0 e 14.0 V. A
mesma sugesto pode ser aplicada para a corrente de curto-circuito, mas
considerando-se o fato de que este fator depende da corrente mdia de soldagem
Im. Com base em experimentos anteriores, usando eletrodos bsicos em
diferentes fontes de soldagem [02], percebeu-se que valores intermedirios de Icc
no afetam muito o comportamento do arco. Por isso, decidiu-se empregar um
nvel equivalente corrente de soldagem, Icc = Im; o segundo seria Icc = 1.8 x Im
e o maior como sendo Icc = 2.5 x Im. Nos dois ltimos casos, foram feitos
arredondamentos para se obter valores mltiplos de 5. Os nveis para a
velocidade de soldagem (Vsold) seriam uma funo do dimetro do eletrodo. Para
aqueles de 2.5 e 3.25 mm adotaram-se as velocidades de 15.0; 20.0 e 25.0
cm/min, enquanto para os eletrodos de 4.0 mm empregam-se os nveis 20.0; 25.0
e 29.0 cm/min.

Seleo da matriz experimental

Resumindo, tem-se cinco fatores a trs nveis. Para este caso, optou-se por um
arranjo ortogonal L27 (para at treze fatores a trs nveis). O emprego de uma
matriz L27 possibilita a anlise de possveis interaes entre os fatores. Outro
fator positivo ao se usar uma matriz ortogonal maior, com muitos graus de
liberdade para os erros, que se pode julgar mais facilmente a aditividade dos
efeitos dos diversos fatores sobre a resposta [03].

Empregando-se um procedimento subjetivo, os fatores dimetro-corrente (A),
corrente de curto-circuito (B), tenso de referncia (C), tipo de eletrodo (D) e
velocidade de soldagem (E), foram distribudos nas colunas 2, 7, 8, 1 e 4. Usando
a tabela de interaes para esta matriz [03], as colunas 5 e 11 foram designadas
para as interaes A x C, as colunas 3 e 12 para as interaes B x C, as colunas 9
e 10 para a interao C x D enquanto as colunas 6 e 13 para uma possvel
interao entre E x C. A matriz experimental resultante apresentada na Tabela 1.

As soldagens em CC+, de simples deposio na posio plana, com ngulo de
avano do eletrodo de 15o puxando, foram realizadas em corpos de prova de ao
ABNT 1020 com 150 x 50 x 6 mm. Empregou-se um simulador de soldagem
automtica (SAS) para eliminar o fator soldador. A fonte usada foi uma
multiprocesso chaveada no secundrio, de fabricao nacional. Esta fonte permite
os ajustes independentes de Icc e Uref. Um sistema de aquisio de dados fazia
medies instantneas dos valores da tenso e da corrente do arco (em 12 bits,
freqncia de 9,7 kHz/canal, durante 5,7 segundos).



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Todas as medies foram realizadas no tempo correspondente a 15 s de
soldagem. Foram determinadas a Taxa de Fuso Absoluta (TF = quantidade de
eletrodo fundido, incluindo o revestimento, por unidade de tempo), a Produo (P
= quantidade de material efetivamente incorporado solda, por unidade de tempo)
e o Rendimento de Deposio (RD = relao entre a P e a TF, expresso em
porcentagem).

Resultados e discusso

O mtodo de Projeto Robusto, como idealizado por Taguchi, tem por princpio
otimizar a qualidade do produto pela minimizao da variao da suas respostas
devido aos rudos (fatores no controlveis, ou de pequena importncia),
enquanto maximiza a variao da resposta frente aos fatores de controle (fatores
que so controlados ou ajustados pelo operador). Ou seja, o objetivo maximizar
a razo denominada "S/N ratio" (signal factors/noise factors).

Taguchi demonstra que a caracterstica da qualidade do produto (no caso a
produo) mais bem representada na forma de transformadas que procuram a
otimizao da razo S/N, considerando que o desvio da qualidade uma funo
quadrtica e no funo degrau. Taguchi props diversas transformadas, de
acordo com os objetivos. Uma delas a chamada funo "quanto maior melhor",
expressa pela relao h = -10 log (1/n1/y2), onde h a transformada da
resposta, y a resposta para cada condio de ensaio e n, o nmero de repetio
do ensaio [03].

Anlise da Influncia dos fatores principais sobre a Produo

Na Tabela 2 encontram-se os resultados das caractersticas medidas. Na Figura 1
verifica-se, atravs de grficos das mdias, a relao esperada entre cada fator
principal e a Produo. Como se v, o tipo de eletrodo e a combinao dimetro-
corrente mdia (D-I) so os fatores que mais influenciam a resposta, ou seja,
alterao em seus nveis provoca uma variao na produo muito mais
acentuada do que variaes da Vsold, da Icc e da Uref. Esta tendncia
confirmada pela Anlise de Varincia apresentada na Tabela 3. O tipo de eletrodo
e a combinao D-I explicam sozinhos cerca de 97,5% da resposta. Outros fatores
no considerados na anlise (rudos) representam cerca de 2,0 % da resposta,
sobrando muito pouco para a influncia da Vsold, Icc e Uref.

Estes resultados poderiam levar concluso de que os ajustes da Icc e da Uref
quase nada contribuem para a melhoria do desempenho da fonte, j que pouco
afetam a varincia da resposta desejada. Mas, antes de se iniciar uma anlise dos
dados usando a matriz ortogonal, preciso verificar se h interao marcante
entre os fatores.

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Uma forma de verificar isto comparando graficamente dois fatores, como
ilustrado na Figura 2. Este procedimento mostrou falta de interao ente os pares
de fatores Elet x Uref, D-I x Icc e Vsold x Icc. Pequenas interaes, do tipo
sinergstica (portanto tolerveis), foram encontradas

para os pares Vsold x Uref, Elet x D-I, Elet x Icc, D-I x Vsold. As nicas interaes
importantes, do tipo assinergstica, foram encontradas entre os pares D-I x Uref
(pouca), Elet x Vsold (muita) e Icc x Uref (muita).

Uma vez que o tipo de eletrodo um fator controlvel (no varia continuamente),
pode-se considerar que as interaes no devem afetar a aditividade da resposta,
e portanto, a matriz poderia ser usada para predizer a combinao (ou
combinaes) que proporciona o mximo de produo. Porm, esta aditividade s
pode ser confirmada comparando resultados estimados com valores reais. A
Tabela 4 mostra o resultado comparativo em relao a 3 ensaios de confirmao
(combinaes diferentes das usadas
na matriz experimental).

Como pode ser verificado, os resultados estimados deram muito prximo dos
resultados mdios encontrados nos ensaios de confirmao. O maior desvio foi o
do eletrodo E6013, mesmo assim com menos que 9% de erro. Deve-se lembrar
que os ensaios de confirmao mostraram uma varincia de 2 a 4%. Uma vez que
a faixa que se poderia encontrar para os valores estimados muito grande (faixa
de valores estimveis), pode-se considerar os resultados bem satisfatrios. Alm
disto, assumindo que o objetivo deste procedimento encontrar os fatores que
mais afetam a varincia da resposta, no caso a produo (princpio bsico do
Projeto Robusto), e no fazer previses de valores, est claro que o procedimento
utilizado foi correto.

Entretanto, pode-se explicar porque os fatores no explicam toda a resposta (falta
de aditividade total). Como visto no procedimento experimental, a escolha da
matriz experimental levou em considerao a possibilidade de haver algumas
interaes entre os parmetros. Algumas colunas da matriz, deixadas em branco,
permitem a existncia de interaes sem confundir com os fatores de controle.
Como no havia possibilidade de se prever colunas vazias para todas possveis
interaes, a escolha destas colunas foi feita conforme expectativas do projetista.

No caso, as colunas 5, 3, 6 e 9 foram deixadas, respectivamente, para as
interaes D-I x Uref, Icc x Uref, Vsold x Uref e Elet x Uref. Todas estas
combinaes mostraram-se interativas pela anlise grfica, exceto a ltima.




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Infelizmente, no se havia previsto interao significativa entre Elet x Vsold, que
pela anlise grfica mostrou-se importante. Esta pode ser a causa de no se ter
alcanado a aditividade total.

Este aspecto fica melhor explicado pela Tabela 5, em cuja anlise de varincia
foram introduzidos os efeitos das interaes previstas. Como se v, as interaes
Icc x Uref e D-I x

Uref mostram ser significativamente importante na composio da resposta,
apesar de baixo peso. Vsold tambm passou a ter significncia. O peso destes
trs fatores juntos representa menos de 2% da resposta. Mas, o mais importante
que a introduo destas interaes de fatores na anlise de varincia fez reduzir
ainda mais o peso do erro, aumentando a confiabilidade da anlise (mesmo sem
saturar o modelo).

Concluindo, maior produo passa pela escolha correta do tipo de eletrodo e de
um maior dimetro.
Desta forma, poderia-se concluir agora pela no necessidade da incluso da
regulagem do Icc e Uref no projeto do equipamento. Entretanto, dois aspectos
deveriam ser analisados. Primeiro, poderiam os fatores que no mostraram
significncia no controle da robustez contribuir para um acrscimo da resposta
desejada? Segundo, poderiam estes dois fatores afetar outra caracterstica de
qualidade? Quanto ao primeiro ponto, importante lembrar que, em Projeto
Robusto, a modelagem precisa da resposta mdia no
to importante como achar os nveis dos fatores de controle que otimizam a
robustez. Isto porque, aps a varincia ter sido reduzida, a resposta mdia pode
ser facilmente ajustada com a ajuda de um fator que pouco afeta a varincia [03].
A Tabela 6 mostra o quanto cada um dos fatores Icc e Uref poderia contribuir para
o aumento da produo (tomou-se como base a combinao que fornece a maior
produo para cada eletrodo, que independe do D-I, ou seja D-I = mximo, Vsold
= mximo, Icc = mximo e Uref = mnimo, e a funo objetivo com transformada).

Como se pode ver, existe uma contribuio individual, apesar de pequena.
Entretanto, a otimizao dos dois fatores ao mesmo tempo j mostra um valor
mais significativo, acima de 4%. Quanto ao segundo ponto, a gerao de respingo
um fator importante na produtividade. No h vantagem em se aumentar a
produo com maior gerao de respingos, j que a limpeza dos mesmos acarreta
em tempo e custos. Tambm tem o efeito econmico, ou seja, quanto mais
respingo, mais quantidade do eletrodo desperdiado (custo).
Em soldagens com eletrodo revestido, a avaliao de respingos no uma
tarefa fcil, j que juntamente com ele h perdas por escria e volatilizao
do revestimento.


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Entretanto, o uso do rendimento de deposio pode ser considerado eficaz, j que
para o ponto de vista econmico da produtividade, no se importa muito se
parte do eletrodo comprado se perde por respingos ou por outro meio.
Desta forma, o rendimento de deposio deve ser analisado como uma
segunda caracterstica de qualidade.

Anlise da Influncia dos fatores principais sobre o Rendimento de
Deposio

Na Figura 3 percebe-se, atravs de grficos das mdias, a relao
esperada entre cada fator principal e o rendimento de deposio. Como se
v, o tipo de eletrodo e a combinao dimetro-corrente mdia (D-I) so
novamente os fatores que mais influenciam a resposta, apesar de que a
importncia do dimetro do eletrodo passa a ser maior. Esta tendncia
confirmada pela Anlise de Varincia apresentada na Tabela 7, usando como
transformada a funo "quanto maior melhor". Diferentemente da anlise para a
produo, o efeito do erro significativo, indicando que h presena de fatores
no controlados. Mas mesmo assim, o tipo de eletrodo e a combinao D-I
explicam sozinho quase que 88% da resposta.

A Tabela 8 mostra o resultado comparativo em relao aos ensaios de
confirmao. Como pode ser verificado, os resultados estimados deram muito
prximos dos resultados mdios encontrados nos ensaios de confirmao, o
que credencia a aplicao deste procedimento para prever a influncia dos
fatores sobre o rendimento de deposio.

Novamente a questo se centra nas vantagens ou desvantagens da
introduo ou no da regulagem do Icc e Uref no projeto do equipamento,
j que a sua influncia pequena. A Tabela 9 mostra o quanto cada um dos
fatores Icc e Uref poderia contribuir para o aumento do rendimento de deposio
(tomou-se como base a combinao que fornece o maior rendimento de
deposio para cada eletrodo, que independe do D-I, ou seja D-I = Mdio, Vsold =
mnimo, Icc = mnimo e Uref = mnimo, e a funo objetivo com transformada).

Como se pode ver, existe uma pequena contribuio individual e a
otimizao dos dois fatores ao mesmo tempo mostra um acrscimo de 2.5 a 3%
no rendimento de deposio.







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Discusso final e concluso

Pelo menos para as condies de soldagem empregadas neste ensaio
(posio plana, cordo sobre chapa, sem tecimento), o benefcio do uso do
controle e ajuste de Icc e Uref pequeno, mas parece independer do tipo e
dimetro de eletrodo. O melhor ajuste para Uref parece ser de 5V. Entretanto,
o ponto timo de ajuste para Icc de Icc = 2.5 In, para se obter a
mxima produo (justificvel pelo aumento da corrente mdia
monitorada), e de Icc = In, para se obter o maior rendimento de deposio.

Em um trabalho anterior [01] foi verificado que a produo e o rendimento
de deposio pouco se alteram ao se soldar com uma mquina eletrnica com uso
do controle de Icc em relao a uma fonte convencional. Apesar de no se
conhecer o mtodo empregado pelo fabricante para este controle e nem os
valores e Icc e Uref empregados, os resultados aqui apresentados parecem estar
de acordo com os deste trabalho anterior. Ou seja, muito mais importante do
que o equipamento de soldagem para se aumentar a produo e
produtividade a escolha correta do tipo de eletrodo e dimetro, (concluso do
presente trabalho) e do valor de corrente [01].

A verificao da influncia deste controle em outras condies de soldagem
(juntas com chanfro, soldagens fora de posio e tecimento do cordo) poderia
levar a resultados diferentes, e esta proposta objeto da continuidade deste
trabalho.

Pelos presentes dados, somente apresentando outras vantagens se justificaria o
uso deste controle. E esta vantagem estaria no uso de uma Icc elevada para
evitar a colagem do eletrodo, fato j verificado em equipamentos com esta
capacidade [01]. Considerando esta vantagem e que a otimizao deste
controle pode at melhorar um pouco as propriedades operacionais, o uso
deste controle nos equipamentos uma questo apenas econmica do ponto de
vista do custo do mesmo.

Referncias bibliogrficas

1) SANTOS, Marcelo Gomes; FARIAS, Jesualdo Pereira; SCOTTI, Amrico.
Comparison Between Inverter and Electromagnetic Power Sources for
SMAW. In: SEVENTH INTERNATIONAL CONFERENCE FOR THE
JOINING OF MATERIALS (1995: Helsingor, Denmark). Anais... Helsingor:
International Association for Joining Materials, 1995.




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2) FARIAS, Jesualdo Pereira e DUTRA, Jair Carlos. Efeito do tipo de fonte
de energia sobre a estabilidade do arco de eletrodos revestidos. In: XII
CONGRESSO BRASILEIRO DE ENGENHARIA MECNICA (1993, Braslia).
Anais... Braslia: ABCM, 1993.

3) PHADKE, M. S. Quality Engineering Using Robust Design. Prentice Hall, USA,
1989.



Tabela 1 - Planejamento experimental a partir de uma matriz ortogonal L27

Experimento Eletrodo AWS D ( mm) - I (A) Vsol d (cm/min) Icc (A) Uref (V)
1 6013 2,50 - 80 15,0 80 5,0
2 6013 2,50 - 80 15,0 145 9,0
3 6013 2,50 - 80 15,0 200 14,0
4 6013 3,25 - 115 20,0 115 9,0
5 6013 3,25 - 115 20,0 210 14,0
6 6013 3,25 - 115 20,0 290 5,0
7 6013 4,00 - 155 29,0 155 14,0
8 6013 4,00 - 155 29,0 280 5,0
9 6013 4,00 - 155 29,0 390 9,0
10 7018 2,50 - 85 25,0 215 5,0
11 7018 2,50 - 85 25,0 85 9,0
12 7018 2,50 - 85 25,0 155 14,0
13 7018 3,25 - 130 15,0 325 9,0
14 7018 3,25 - 130 15,0 130 14,0
15 7018 3,25 - 130 15,0 235 5,0
16 7018 4,00 - 167 25,0 420 14,0
17 7018 4,00 - 167 25,0 167 5,0
18 7018 4,00 - 167 25,0 300 9,0
19 6010 2,50 - 78 20,0 140 5,0
20 6010 2,50 - 78 20,0 195 9,0
21 6010 2,50 - 78 20,0 78 14,0
22 6010 3,25 - 110 25,0 200 9,0
23 6010 3,25 - 110 25,0 275 14,0
24 6010 3,25 - 110 25,0 110 5,0
25 6010 4,00 - 140 20,0 250 14,0
26 6010 4,00 - 140 20,0 350 5,0
27 6010 4,00 - 140 20,0 140 9,0









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com eletrodos revestidos: avaliao
de um controle da corrente de
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Tabela 2- Resultados referentes s caractersticas medidas

Exp. N
o
Im (A) Um (A) TF (kg/h) P (kg/h) RD (%)
1 79 24 0,98 0,61 62,2
2 81 24 1,00 0,62 62,0
3 82 24 1,05 0,65 61,9
4 113 24 1,53 1,02 66,7
5 117 24 1,63 1,07 65,6
6 118 24 1,64 1,10 67,0
7 153 24 1,99 1,24 62,3
8 156 24 2,02 1,32 65,3
9 157 24 2,11 1,28 60,7
10 86 24 1,03 0,62 60,2
11 84 24 1,06 0,69 65,1
12 86 24 1,08 0,66 61,1
13 131 24 1,54 1,01 65,6
14 128 24 1,58 1,05 66,4
15 129 24 1,58 1,04 65,8
16 168 24 1,84 1,11 60,3
17 165 24 1,80 1,16 64,4
18 167 24 1,79 1,12 62,6
19 78 28 1,02 0,68 66,7
20 78 28 1,06 0,71 67,0
21 76 28 1,00 0,68 68,0
22 111 28 1,47 1,08 73,5
23 114 28 1,55 1,16 74,8
24 108 28 1,44 1,08 75,0
25 143 28 1,84 1,30 70,6
26 143 28 1,97 1,48 75,1
27 138 27 1,81 1,30 71,8



















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Tabela 3 - Anlise de Varincia para a produo usando a transformada
Grau de Liberdade SS MS F Razo-F (%)
Eletrodo 2 3,6745 1,8372 8,5576 2,27
D-I 2 153,6315 76,8157 357,7951 95,06
Vsold 2 0,5235 0,2617 1,2192 0,33
Icc 2 0,2759 0,1380 0,6426 0,17
Uref 2 0,0803 0,0402 0,1871 0,05
Erro 16 3,4351 0,2147 2,13
Total 26 161.6207 6,2162
Obs.: nmeros em negrito indicam que o F significante a 1%.


Tabela 4 - Comparao entre valores da produo estimados e experimentais
(kg/h)
E6013 E7018 E6010
D-I (mm - A) 4,00 - 155 3,25 - 130 4,00 - 140
Vsol d(cm/mi n) 20 15 20
Icc (A) 390 235 140
Uref (V) 5 9 5
Faixa de valores estimveis (todas combi naes) 0,62 a 1,31 0,54 a 1,25 0,65 a 1,37
Valor esti mado 1,24 0,07 0.99 0,06 1,32 0,07
Valor encontrado 1,36 0,03 0,94 0,02 1,37 0,06


Tabela 5 - Anlise de Varincia incluindo as interaes
Grau de Liberdade SS MS F Razo-F (%)
Eletrodo 2 3,6745 1,8372 55,7479 2,27
D-I 2 153,6315 76,8157 2330,8398 95,06
Icc x Uref 2 1,5640 0,7820 23,7290 0,97
Vsold 2 0,5235 0,2617 7,9422 0,32
D-I x Uref 2 1,1941 0,5970 18,1162 0,74
Vsol d x Uref 2 0,2930 0,1465 4,4457 0,18
Icc 2 0,2759 0,1380 4,1859 0,17
Uref 2 0,0803 0,0402 0,2190 0,07
Elet x Uref 2 0,1203 0,0601 1,8247 0,07
Erro 8 0,2636 0,0330 0,16
Total 26 161.6207 6,2162
Obs: nmeros em negrito indicam que o F significante a 1%. O nmero
grifado indica que o F significante a 5%.









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Tabela 6 - Clculo da contribuio de Uref e Icc no valor estimado da produo
(Kg/h)

Eletrodo Max. valor
esti mado
(Uref = 5; Icc =
mxi mo)
Valor
estimado
com Uref = 14
e Icc =
mxi mo
Contrib.
Mxima.
De Uref (%)
Valor
estimado
com Icc =
mdi o e
Uref=5
Contrib.
Mxima.
de Icc (%)
Valor
estimado
com
Icc = mdi o e
Uref=14
Contrib.
Mxima. de
Icc e Uref
(%)
E6013 1,29 1,27 1,34 1,26 2,54 1,24 4,13
E7018 1,25 1,23 1,63 1,22 2,84 1,20 4,43
E6010 1,38 1,36 1,30 1,35 2,50 1,33 4,09

Tabela 7 - Anlise de Varincia para o rendimento de deposio (RD)
Grau de Liberdade SS MS F Razo-F (%)
Eletrodo 2 6,2407 3,1203 109,9156 66,63
D-I 2 2,0852 1,0426 37,7266 22,27
Icc x Uref 2 0,1754 0,0877 3,0893 1,87
Vsold 2 0,1278 0,0639 2,2515 1,36
D-I x Uref 2 0,2442 0,1221 4,3010 2,61
Vsol d x Uref 2 0,0113 0,0056 0,1986 0,12
Icc 2 0,0946 0,0473 1,6670 1,01
Uref 2 0,1249 0,0625 2,1999 1,33
Elet x Uref 2 0,0335 0,0168 0,5904 0,36
Erro 8 0,2271 0,0284 2,43
Total 26 9,3648 0,3602
Obs: nmeros em negrito indicam que o F significante a 1%.


Tabela 8 - Comparao entre valores estimados e experimentais para o
rendimento de deposio (RD)
E6013 E7018 E6010
D-I (mm - A) 4,00 - 155 3,25 - 130 4,00 - 140
Vsol d(cm/mi n) 20 15 20
Icc (A) 390 235 140
Uref 5 9 5
Faixa de valores estimveis (todas combi naes) 59,9 a 66,0 61,7 a 68,0 69,6 a 76,8
Valor esti mado 62,9 1,3 65.0 1,4 73,1 1,5
Valor encontrado 64.1 0,6 61.9 0.8 74.2 1,7










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Tabela 9 - Clculo da contribuio da Uref e da Icc no valor estimado do
rendimento de deposio RD (%)

Eletrodo Max. valor
esti mado
(Uref = 5; Icc =
mni mo)
Valor
estimado
com
Uref=14 e
Icc= mn.
Contrib.
Mxima.
De Uref
(%)
Valor
esti mado
com Icc =
mximo e
Uref=5
Contrib.
mxi ma de
Icc (%)
Valor
esti mado
com Icc =
mximo e
Uref = 9
Contrib.
Mxima. de
Icc e Uref
(%)
E6013 66,9 65,7 2.0 65,9 1,6 65,3 2,5
E7018 66,6 65,3 2.0 65,6 1,6 64,8 2,9
E6010 75,1 73,7 2.0 73,9 1,6 73,0 2,9


Figura 1 - Efeito dos fatores sobre a produo dos eletrodos

















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Figura 2 - Ilustrao de interaes entre fatores principais, do tipo
assinergstica (D-I x tipo de eletrodo) e sinergstica (Vsold x tipo de eletrodo)



Figura 3 - Efeito dos fatores sobre o rendimento de deposio (RD) dos eletrodos

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