=direo de maclao;
2
=direo de maclao conjugada; e
44
S =maclao com cisalhamento.
A FIGURA 10 (A) mostra os elementos de maclao K
1
,
1
, K
2,
e
2
e
o desnvel interfacial associado com uma discordncia de maclao, em (B)
ilustra-se os mesmos elementos de forma tridimensional e em (C) os elementos
cristalogrficos da maclao, em uma clula unitria definida pelos vetores
1
e
2
sendo S o plano homogeneamente cisalhado na macla definida por
1
,
2
e S.
FIGURA 10: Ilustrao esquemtica da maclao para um cristal hc: (A) ilustrao
planos x, z; (B) ilustrao planos x,y,z e (C) clula unitria definida
nos planos K
1
e S (Smith C., 2008).
Na FIGURA 11 observa-se uma relao entre o sistema de maclao e
escorregamento normalizados para o mdulo de cisalhamento do titnio, onde foi
considerado diferentes valores de tenso crtica de cisalhamento em funo da
temperatura, sendo que a curva obtida uma mdia aproximada dos dados. O
valor de T/T
fuso
{ } 1122
igual a 0.3 est relacionado com as famlias de planos de
maclao e acima est o escorregamento da famlia de direo <c+a>em
45
combinao com a famlia de planos de maclao { } 1011 , resultado similares tem
sido obtidos por diversos pesquisadores (Yoo et al., 2002).
FIGURA 11: Dependncia da tenso crtica de cisalhamento em relao
temperatura para ( ) 2 2 11 [ ] 3 2 11 macla/sistema de escorregamento, normalizado
para um mdulo de cisalhamento para cristais de Ti (Yoo et al., 2002).
A Figura 12 mostra a descrio esquemtica da nucleao de maclas
heterogneas. Yoo et al. (2002) ao analisarem as interaes das discordncias
em ,<a>, <c> e <c+a> com os quatro sistemas primrios de maclao
identificaram 26 processos de discordncias distintos na interface matriz-macla.
Pelo menos 5 desses casos envolvem discordncias adicionais de maclao
indicando que o processo de espessura/afinamento dependem da tenso de
cisalhamento a que so submetidos.
46
FIGURA 12: Descrio esquemtica da nucleao de maclas heterogneas: (a)
macla de formao inicial associada com o local da concentrao de
tenso representada por uma super discordncia, e (b) gerao das
discordncias de maclas como resultado da dissociao no-planar
de uma discordncia (Yoo et al., 2002).
Os contornos de gro so locais potenciais para o incio do
escorregamento piramidal, <c+a>, em materiais policristalinos. Um possvel
mecanismo de formao para as discordncias <c+a>est baseado na juno
atrativa entre a discordncia <c>e as discordncias de escorregamento <a>. Na
interao elstica isotrpica a fora de direo principal na reao de juno est
entre duas discordncias com os vetores de Burgers, mutuamente
perpendiculares, mostrado na FIGURA 13(a). A fora de atrao entre uma
discordncia <c>no plano prismtico e a discordncia <a>no plano basal pode
ser suficientemente alta para puxar a discordncia <a>para fora do plano basal,
conforme se pode observar na FIGURA 13 (b). Para o caso do titnio e outros
metais hexagonais compacto que deformaram primeiramente no plano prismtico,
o modelo proposto somente depende do ltimo estgio, mostrado na FIGURA
13(c), desde que a formao de uma juno atrativa no plano prismtico seja
energeticamente favorvel para todos os metais hc (Yoo et al., 2002).
47
FIGURA 13: Mecanismos de origem das discordncias para o sistema de
escorregamento piramidal <c+a>: (a) discordncia, (b) formao da
juno <c+a> e (c) escorregamento transversal da discordncia
<c+a>(Yoo et al., 2002).
A FIGURA 14 mostra a forma do retculo cristalino de uma macla em
formao. Esta dissociao no-planar no foi observada em simulaes
anteriores devido s condies geomtricas de simulao. A formao deste tipo
de estrutura depende sensivelmente da posio inicial de gerao deste tipo de
estrutura, do potencial interatmico e das tcnicas de alvio de tenses mediante
fluncia. Isto indica que a estrutura final no foi determinada pelas consideraes
energticas, mas sim pela configurao inicial e dinmica subseqente (Yoo et
al.,2002).
48
FIGURA 14: Dois tipos de dissociao <c+a>discordncia em cunha, obtidas a
partir de simulao atomstica: (a) tipo planar e (b) tipo no - planar (Yoo et al.,
2002).
49
A FIGURA 15 mostra o crescimento de maclas sob trao e neste caso
a direo p
3
[ ] 3 1010 = parcialmente relacionada tenso e se estende ou
contrai o plano basal provocando uma falha na seqncia de empilhamento.
FIGURA 15: Crescimento de uma macla, embryo, no plano ( ) 1 2 11 e direo
[ ] 26 1 1 sob deformao de trao (Yoo et al., 2002).
50
4. MATERIAIS E MTODOS EXPERIMENTAIS
Neste captulo esto relacionados os mtodos e equipamentos
necessrios realizao da parte prtica do trabalho, bem como a descrio das
amostras utilizadas.
O material utilizado no presente trabalho foi a liga de Ti-6Al-4V. O
material foi adquirido na forma de barras de 6 mm de dimetro. O estado do
material na condio como recebido encontrava-se recozido a 800C por duas
horas.
Inicialmente foram realizadas as anlises na liga de titnio Ti-6Al-4V
como recebida. Para uma melhor compreenso da formao das fases e que
esto presentes na amostra realizou-se um tratamento trmico na mesma.
Para cada uma das tcnicas experimentais empregadas foram
realizadas preparaes de amostras diferenciadas, apresentadas em 4.1.1.,
4.2.1., 4.2.2. e 4.3.1.
4.1. Procedimento para anlise microestrutural por Microscopia ptica MO
e Microscopia Eletrnica de Varredura MEV (EDS e EBSD)
4.1.1. Procedimento utilizado no preparo das amostras para anlise
microestrutural por MO e MEV (EDS e EBSD)
O preparo das amostras foi realizado seguindo-se a etapa de corte das
mesmas, com disco adiamantado, onde a superfcie plana foi posteriormente
lixada, utilizando lixa de carbeto de silcio (SiC) com granulometria de 600 m,
passando-se posteriormente para SiC com granulometrias de 1.000 m e de 1500
m. Aps o lixamento, as amostras foram submetidas ao polimento com pasta de
diamante (na seqncia: 9 m, 6 m, 3 m, 1 m, m), sendo que antes desta
etapa, as mesmas foram limpas num banho ultrassnico por 5 minutos. A cada
51
mudana de estgio da granulometria, as amostras foram lavadas e secas para
que no houvesse contaminao no pano de polimento:
Os cortes longitudinais e transversais das amostraa foram realizados
com equipamento ISOMET 1000 (dotado de disco adiamantado),
obtendo-se placas de espessura e altura aproximadas de 1,0 mm;
As amostras foram embutidas a quente em baquelite;
O lixamento das amostras foi realizado conforme descrito em 4.1.1.;
Na revelao da estrutura das amostras de Ti-6Al-4V foi realizado
ataque qumico, utilizando-se a mistura de 10 mL de cido fluordrico
(HF), 10 mL de cido ntrico (HNO
3
) e 30 mL de cido ltico (C
3
H
6
O
3
Na revelao da estrutura das amostras Ti-6Al-4V, tratadas
termicamente, foi realizado ataque qumico utilizando-se a mistura de
10 mL de cido fluordrico (HF), 10 mL de cido ntrico (HNO
);
3
Aps o preparo para a anlise no MEV as amostras foram recobertas
com carbono amorfo, para observao das principais fases presentes.
) e 85 mL
de gua.
4.1.2. Equipamentos utilizados na anlise microestrutural por Microscopia
ptica- MO e Microscopia Eletrnica de Varredura - MEV (EDS e EBSD)
Para a realizao destas anlises foram utilizados os equipamentos do:
Microscpio ptico da marca Olympus (modelo BX 60), com
sistema de captura de imagem digital, CCTM/IPEN;
Microscpio Eletrnico de Varredura (MEV) da marca Philips
(modelo XL-30), com sistema EDS da marca Edax, CCTM/IPEN;
Microscpio Eletrnico de Varredura (MEV) da marca CamScan
(srie 4), instalado no ncleo de fsica do Instituto de Criminalstica
de So Paulo; e
Microscpio Eletrnico de Varredura (MEV) da marca Philips
(modelo XL-30), no qual estava acoplada uma cmera CCD de alta
resoluo, com uma tela fosforescente interligada por meio de uma
interface mecnica ao MEV. O sistema para interpretao, controle
52
e aquisio dos dados da difrao de eltrons retroespalhados
(EBSD) da marca TSL (TexSEM Laboratories Inc.), instalados no
laboratrio de microscopia eletrnica do Departamento de
Engenharia Metalrgica e de Materiais, da Escola Politcnica da
Universidade de So Paulo.
4.2. Procedimento para anlise microestrutural pela tcnica analtica de
Microscopia Eletrnica de Transmisso (MET)
4.2.1. Procedimento utilizado no preparo das amostras na anlise
microestrutural (MET)
Foi realizado corte longitudinal da amostra com equipamento
ISOMET 1000 (dotado de disco adiamantado), obtendo-se placas
de espessura de 0,5 mm, conforme FIGURA 16(A).
Parte das amostras foram cortadas por meio de eletroeroso
formando discos com dimetro de 3 mm, FIGURA 16 (B).
Foi realizado afinamento mecnico com a utilizao de um suporte,
lixando a amostra com lixa de 600m, at atingir a espessura de 0,2
mm, FIGURAS 16 (C) e (D).
Aps reduo da espessura da amostra, a mesma foi submetida ao
afinamento final e perfurao no equipamento TENUPOL, FIGURAS
16 (E) e (F).
As amostras com espessura correta foram recobertas com carbono
amorfo, atravs do sistema de sputtering, colocadas no porta
amostras e analisadas no MET-AR conforme FIGURA 17.
53
A B
C D
E F
FIGURA 16: Equipamentos utilizados na preparao das amostras de titnio Ti-6Al-
4V: (A) Equipamento ISOMET 1000 para corte longitudinal; (B)
Equipamento para efetuar cortes dos discos por eletroeroso; (C)
Lixamento para reduzir a espessura das amostras; (D) Esquema do
dispositivo de afinamento manual das amostras; (E) Detalhe do porta-
amostra para a reduo da espessura e afinamento eletroltico e (F)
Equipamento TENUPOL utilizado para afinamento no preparo das
amostras para anlise microestrutural no MET.
54
FIGURA 17: Porta amostra do Microscpio Eletrnico de Transmisso analtico
(MET-AR) da marca J EOL utilizado para anlise das amostras de Ti-
6Al-4V.
4.2.2. Procedimento utilizado no preparo das amostras para anlise
microestrutural por Microscopia Eletrnica de Transmisso (MET) e
ensaios de trao in situ
Na FIGURA 18, a seguir, apresentado o esquema da amostra
preparada para anlise de trao in situ no MET.
FIGURA 18: Esquema da amostra de Ti-6Al-4V para ensaio de trao in situ no
MET.
55
Aps o preparo das amostras, como ilustrado na FIGURA 19, as
mesmas passam pelas etapas a seguir:
Afinamento mecnico com a utilizao de um suporte, lixando a
amostra com lixa de 600 m, at atingir a espessura de 0,2 mm, e
Afinamento final e perfurao no equipamento TENUPOL.
As amostras com espessura de 0,2 mm so recobertas com carbono
amorfo, atravs do sistema de sputtering e as analises realizadas no MET J EOL
200C. A FIGURA 19 mostra em detalhe a seqencia das amostras preparadas
para o ensaio de trao in situ , no MET.
FIGURA 19: Detalhes das amostras de Ti-6Al-4V preparadas para ensaio de
trao in situ onde se pode observar: (A) amostra perfurada, (B)
amostra aps afinamento eletroltico e (C) detalhe da dimenso da
amostra preparada
(A)
(C)
(B)
56
4.2.3. Equipamentos utilizados na anlise microestrutural (MET)
Para a realizao destes ensaios foram utilizados os seguintes
equipamentos:
Microscpio Eletrnico de Transmisso de alta resoluo (MET-AR),
marca J EOL J EM 2100 tenso 200 kV, conforme mostra a FIGURA
20.
Microscpio Eletrnico de Transmisso (TEM), marca J EOL 200C.
FIGURA 20: Microscpio eletrnico de transmisso analtico marca J EOL utilizado
para anlise das amostras de Ti-6Al-4V.
A Figura 21 mostra em detalhe o mdulo de trao acoplado ao MET. A
seta indica o visor para obteno do valor do deslocamento aplicado amostra.
57
FIGURA 21: Detalhe do sistema de trao e obteno de medidas utilizado para
anlise de trao in situ das amostras de Ti-6Al-4V.
A FIGURA 22 mostra em detalhe o sistema para fixao da amostra,
na realizao do ensaio de trao in situ.
FIGURA 22: Porta-amostra para trao in situ do microscpio eletrnico de
transmisso marca J EOL, com detalhe do sistema de trao e
obteno de medidas, utilizado para de anlise trao das amostras
de Ti-6Al-4V.
58
A FIGURA 23 mostra em detalhe a amostra de Ti-6Al-4V, aps o
afinamento eletroltico e conferncia das medidas.
FIGURA 23: Detalhe da amostra de Ti-6Al-4V preparada para ensaio de trao in
situ no microscpio eletrnico de transmisso marca J EOL.
4.3. Procedimento para anlise microestrutural pela tcnica analtica de
Difrao de Raios X (DRX)
4.3.1. Procedimento de preparo das amostras para anlise microestrutural
pela tcnica analtica de Difrao de Raios X
Uma folha fina de amostra, com 1,0 mm de espessura e rea
superficial de 225 mm
2
Fixou-se a amostra em uma lmina de vidro; e
, foi preparada cortando-a com a utilizao de
disco adiamantado acoplado ISOMET;
A amostra foi analisada a partir de um feixe de raios X, gerado por
meio de um tubo com anteparo de Cu.
59
4.3.2. Equipamento utilizado na anlise microestrutural por Difrao de
Raios X (DRX)
utilizado nestas anlises um Difratmetro de Raios X (DRX), marca
Rigaku, modelo Multiflex, mostrado na FIGURA 24, o qual possui tubo com
anteparo de Cu, gerando raios X de comprimento de onda =1.54060, variando-
se a anlise da tenso entre 35 e 40 kV, e da corrente entre 30 e 35 mA, sendo
que os difratogramas obtidos so posteriormente analisados em conjunto com o
software e acesso ao banco de dados das fichas do J CPDS (Joint Committe on
Powder Diffraction Standards).
FIGURA 24: Difratmetro de raios X marca RIGAKU utilizado para anlise das
amostras de Ti-6Al-4V.
4.4. Tratamento trmico das amostras de titnio Ti-6Al-4V
O tratamento trmico das amostras de titnio Ti-6Al-4V foi realizado em
um forno (Carbolite) com os elementos resistivos de aquecimento de grafite,
inseridas em um tubo de alumina que serve de suporte aos materiais a serem
aquecidos. Este forno opera com um tubo de 80 mm de dimetro e a temperatura
pode alcanar 1500C.
60
Para a liga de titnio Ti-6Al-4V foram realizados os seguintes
tratamentos trmicos, partindo-se da amostra como recebida:
a) Tratamento trmico a temperatura de 1000C durante uma hora e
posterior resfriamento em gua; e
b) Amostra inserida em um tubo de quartzo, retirando-se o ar e
selando-a no tubo. Aps este procedimento, a mesma foi tratada termicamente, a
uma temperatura de 1000C por duas horas e posteriormente resfriada em gua.
As FIGURAS 25 (A) e (B) mostram em detalhe o forno utilizado para o
tratamento trmico das amostras de titnio da liga Ti-6Al-4V.
FIGURA 25: Forno resistivo (A) forno da marca Carbolite e (B) detalhe do tubo de
alumina para colocao dasamostras.
(A)
(B)
61
5. RESULTADOS E DISCUSSO
Neste captulo sero apresentados os resultados obtidos na realizao
das diversas anlises, que tiveram por objetivo, obter a caracterizao
morfolgica e semiquantitativa da liga Ti-6Al-4V (liga comercial recozida a 800C
por duas horas).
Para a implementao das anlises, realizaram-se tratamentos
trmicos na liga de titnio Ti-6Al-4V, para uma melhor compreenso da formao
das fases e , que esto presentes na amostra, conforme procedimento descrito
anteriormente em 4.4.
5.1. Microscopia ptica (MO)
As FIGURAS 26 (A) e 26 (B) mostram a superfcie da amostra de
Ti-6Al-4V, na condio como recebida e aps o lixamento, polimento, seguido do
ataque qumico, respectivamente, utilizando-se a mistura de 10 mL de cido
fluordrico (HF), 10 mL de cido ntrico (HNO
3
) e 30 mL de cido ltico (C
3
H
6
O
3
),
conforme descrito em 4.1.1.
A B
FIGURA 26: Micrografia ptica da amostra de Ti-6Al-4V tratada termicamente a 800C
por duas horas: (A) como recebida r (B) aps o lixamento, polimento e
ataque qumico (10 mL HF, 10 mL HNO
3
e 30 mL C
3
H
6
O
3
).
62
Na anlise da superfcie da amostra por M.O., observa-se a presena
de duas fases, revelando a microestrutura presente nesta liga sendo uma mistura
de +, com a fase distribuda homogeneamente na matriz , conforme descrito
na literatura (Couto,2006).
Para uma melhor interpretao das fases e , presentes na liga de
titnio Ti-6Al-4V, realizou-se o tratamento trmico da amostra como recebida. O
procedimento experimental para o tratamento trmico aplicado amostra est
descrito em 4.4 (b).
Aps a obteno da amostra tratada termicamente, a mesma foi
dividida gerando-se duas novas amostras, sendo as mesmas embutidas e
preparadas para a anlise no M.O., conforme procedimento experimental descrito
em 4.1.1. Para a revelao da estrutura, optou-se pelo ataque qumico, utilizando-
se a mistura de 10 mL HF, 10 mL HNO
3
Na FIGURA 27 so apresentadas as micrografias da amostra de
Ti-6Al-4V aps ataque qumico. Nas FIGURAS 27 de (A) a (E) observa-se a
revelao de uma microestrutura martenstica acicular, ou seja, a estrutura mostra
a presena de lamelas em formas extremamente finas, assemelhando-se a
agulhas, caracterstica de estrutura alfa.
e 85 mL de gua. Os ensaios de
exposio da superfcie da amostra, para o ataque qumico, foram realizados
variando-se o tempo de exposio em 15 segundos, 45 segundos e 90 segundos.
Obteve-se um resultado adequado para as amostras expostas ao ataque qumico
nos tempos de 45 s e 90 s.
As estruturas alfa podem desenvolver vrias morfologias que so
alcanadas por uma combinao de tratamentos trmicos e/ou mecnicos. A
estrutura acicular uma das mais comuns, aparece aps um resfriamento,
partindo-se de uma temperatura em que predomina a fase beta () e produzido
por nucleao e crescimento, sendo que o crescimento ocorre no sentido dos
planos preferenciais cristalogrficos de uma matriz beta primria ou ao longo de
vrios planos, conforme mostra a FIGURA 27 (B), conferindo ao material uma boa
tenacidade fratura, porm uma baixa resistncia trao e fadiga
(Melo,2007).
63
(A) (B)
(C) (D)
(E)
FIGURA 27: Micrografia ptica da amostra de Ti-6Al-4V tratada termicamente sob
tubo de quartzo a 1000 C por duas horas e resfriada em gua. (A),
(B) e (C) amostra submetida ao ataque qumico da superfcie por 45
segundos e (D) e (E) por 90 segundos.
A
64
A FIGURA 27 (C) mostra uma microestrutura com gros , colnias de
lamelas finas dispostas paralelamente, com orientaes diversas.
Ao estudarem as propriedades da liga Ti-6Al-4V e, aps o tratamento
trmico com taxas de aquecimento e resfriamentos rpidos, Jesuno et al. (2001)
observaram que as altas taxas de aquecimento induzem formao de uma
microestrutura fina, totalmente , ao contrrio de taxas lentas que favorecem o
crescimento de gro. Para as condies tratadas a 1000C, limite superior do
campo + e resfriamento rpido, a cintica de transformao de + para , pela
decomposio da fase primria, dentro da regio + durante o aquecimento,
produz a quebra da estrutura original.
Na FIGURA 28 observa-se a existncia de estruturas distintas, delineadas
possivelmente por um contorno de gro, onde coexistem estruturas lamelares,
indicando a presena da fase alfa lamelar primria (regio A) e uma estrutura
martenstica (regio B).
65
FIGURA 28: Micrografia ptica da amostra de Ti-6Al-4V tratada termicamente a
1000 C por duas horas e resfriada em gua. Amostra submetida ao
ataque por 90 segundos (10 mL HF, 10 mL HNO
3
e 85 mL H
2
O).
Estudos sobre a evoluo microestrutural na liga Ti-6Al-4V foram
realizados por Ding et al. (2002), por processo termomecnico, nas temperaturas
de 850C, 900C, 950C e 1000C. Estes autores relatam que o comportamento
de deformao e transformao da fase alfa lamelar primria durante o
tratamento trmico muito complexo. Baseados em Weiss & Semiatin (1998)
relatam que existem dois mecanismos possveis para a separao das placas do
tipo para segmentos mais curtos. Um destes mecanismos ocorre durante a
deformao a quente promovendo o aparecimento de ngulos baixos e altos entre
as placas alfa, que variam de alguns graus at cerca de 30. A fase ento pode
penetrar nesta fase alfa por esta regio ao longo desses contornos.
Regio A
Regio B
66
5.2. Microscopia Eletrnica de Varredura (MEV)
A anlise efetuada na liga de titnio Ti-6Al-4V, utilizando-se o
Microscpio Eletrnico de Varredura (MEV), teve por objetivo a caracterizao
morfolgica da liga e a realizao da microanlise nas regies da microestrutura,
apresentadas na superfcie da amostra.
5.2.1. Caracterizao morfolgica e semiquantitativa da liga Ti-6Al-4V.
A amostra da liga de titnio Ti-6Al-4V, aps ser preparada conforme
descrito em 4.1.1, foi submetida ao ataque qumico, utilizando-se a mistura de 10
mL de cido fluordrico (HF), 10 mL de cido ntrico (HNO
3
) e 30 mL de cido
ltico (C
3
H
6
O
3
), para a revelao da sua microestrutura. A FIGURA 29 mostra a
distribuio da fase presente na matriz da liga de Ti-6Al-4V, sendo a imagem
de eltrons retroespalhados obtida por MEV.
FIGURA 29: Micrografia eletrnica da amostra de Ti-6Al- 4V, atacada
quimicamente, revelando regies contendo a fase Ti (partculas
claras) e a matriz Ti (regies escuras) obtida por MEV, por meios
de imagem de eltrons retroespalhados.
67
Na FIGURA 29, pode-se visualizar a presena de partculas claras e
regies escuras. A fase (partculas claras), est distribuda em toda a matriz de
fase (regies escuras).
Para o estudo das fases presentes, realizou-se a microanlise nas
partculas claras (fase ), observada na micrografia da FIGURA 29. Com o intuito
de se determinar os elementos qumicos presentes na regio que apresenta
contraste claro (fase beta) da liga de Ti-6Al-4V, foi realizada a microanlise
obtendo-se o espectro por energia dispersiva (EDS) da fase analisada, o qual
apresenta os elementos qumicos: titnio, alumnio e vandio, conforme mostrado
na FIGURA 30.
FIGURA 30: Espectro por Energia Dispersiva (EDS) das partculas claras (Fase
Ti), aps ataque qumico, obtidas por MEV/EDS, com a presena
dos elementos Al, Ti e V.
Na TABELA 3 apresentada a respectiva composio mdia em
porcentagem de massa atmica dos elementos citados na anlise
semiquantitativa.
keV
Contagem (Quantidades arbitrrias)
68
TABELA 3: Resultados das anlises semiquantitativas relativas aos EDS da
FIGURA 30.
Elemento qumico Porcentagem em massa atmica (%)
Alumnio (Al) 6,99
Titnio (Ti) 86,15
Vandio (V) 6,86
Aps a microanlise das partculas claras (fase do titnio) foi
realizada tambm a microanlise nas regies escuras (fase do tit nio),
observadas na micrografia da FIGURA 29. Com o intuito de se determinar os
elementos qumicos presentes na fase alfa da liga de Ti-6Al-4V, foram obtidos os
espectros por energia dispersiva (EDS) da fase analisada, o qual apresenta os
seguintes elementos qumicos: titnio, alumnio e vandio, conforme mostra a
FIGURA 31.
FIGURA 31: Espectro por Energia Dispersiva (EDS) das regies escuras (Fase
Ti), aps ataque qumico, obtidas por MEV/EDS, com a presena
dos elementos Al, Ti e V.
keV
Contagem (Quantidades arbitrrias)
69
Na Tabela 4 apresentada a composio mdia em porcentagem de
massa atmica dos elementos qumicos encontrados nas anlises
semiquantitativas.
TABELA 4: Resultados das anlises semiquantitativas relativas aos EDS da
FIGURA 31.
Elemento qumico Porcentagem massa atmica (%)
Alumnio (Al) 5,59
Titnio (Ti) 89,21
Vandio (V) 5,21
Comparando-se os espectros obtidos por EDS, nas FIGURAS 30 e 31,
para ambas as fases presentes na amostra, verifica-se que so idnticos,
apresentando os elementos qumicos: titnio, alumnio e vandio, cujo resultado
esperado.
Na Tabela 5 realizada a comparao dos resultados obtidos nas
respectivas anlises semiquantitativas, efetuadas nas fases alfa e beta, presentes
na liga de titnio Ti-6Al-4V, onde se observou uma pequena variao na
concentrao dos elementos qumicos presentes em cada fase.
TABELA 5: Comparao dos resultados obtidos nas anlises semiquantitativas
realizadas nas fases alfa e beta, presentes na amostra de Ti-6Al-4V.
Elemento qumico Fase beta
(% em massa atmica)
Fase alfa
(% em massa atmica)
Al 6,99 5,59
Ti 86,15 89,21
V 6,86 5,21
Com o objetivo de revelar a fase beta presente na matriz de titnio alfa
e a sua distribuio na amostra, foi realizado o ataque qumico utilizando-se a
mistura de 10 mL de HF, 10 mL HNO
3
e 30 mL C
3
H
6
O
3
, em outra amostra de
70
Ti-6Al-4V, aumentando-se o tempo de exposio ao ataque qumico para cinco
minutos. Aps a secagem e recobrimento com carbono amorfo a amostra foi
analisada no MEV/EDS.
Pode-se observar, na FIGURA 32, que o ataque qumico aplicado
superfcie da amostra, provocou uma corroso e alterao da superfcie da
amostra, atacando a fase escura (Ti) e expondo partculas claras (Ti) com
dimenso aproximada de 1 m.
FIGURA 32: Micrografia eletrnica da amostra de Ti-6Al-4V, atacada
quimicamente com tempo de exposio de cinco minutos
(mistura de 10 mL HF, 10 mL HNO
3
e 30 mL C
3
H
6
O
3
).
Dada a grande profundidade de foco obtida pelo MEV, as FIGURAS 33
(A), (B), (C) e (D) mostram partculas apresentando contraste de imagem clarA na
matriz da liga de Ti-6Al-4V, dispostas aleatoriamente e seguindo as regies
corrodas pelo ataque qumico, imposto superfcie da amostra. Observa-se
nestas micrografias a presena de duas fases: (hexagonal compacta), cuja
regio apresenta contraste escuro e (cbica de corpo centrado), cujas partculas
apresentam contraste claro, dispostas na matriz da liga, indicando que a
71
microestrutura presente na liga de Ti-6Al-4V investigada, apresenta uma mistura
de +, ou seja, uma estrutura duplex, com a fase beta distribuda uniformemente
na matriz alfa.
(A) (B)
(C) (D)
FIGURA 33: Micrografias da superfcie da amostra de Ti-6Al-4V, atacada
quimicamente, com tempo de exposio de cinco minutos. (A) e
(C) imagem de eltrons secundrios, (B) e (D) imagem de eltrons
retroespalhados (mistura de 10 mL HF, 10 mL HNO
3
e 30 mL
C
3
H
6
O
3
).
72
5.2.2. Caracterizao quantitativa da liga Ti-6Al-4V.
A anlise quantitativa foi realizada utilizando-se um Detector X-Max
Silicon da Oxford Instruments, acoplado a um microscpio eletrnico de varredura
de emisso de campo, da marca Zeiss, modelo Supra 55 e o programa Inca
Energy que permite separar os picos sobrepostos de titnio e vandio (Ti K e
V-K) tornando fcil a identificao e quantificao destes elementos. O espectro
foi obtido com tempo de aquisio de cinco segundos, tenso do feixe de 20 kV e
uma corrente de aproximadamente 1,5 nA. Como esses picos no podem ser
separados de forma visvel por EDS, preciso contar com as rotinas de
deconvoluo para a correta identificao e quantificao do espectro EDS.
A FIGURA 34 mostra o Espectro de Energia Dispersiva (EDS) obtido aps
a microanlise de superfcie, no Detector X-Max Silicon, onde se observa a
sobreposio dos picos dos elementos qumicos Ti e V, presentes na amostra de
Ti-6Al-4V.
FIGURA 34: Espectro de Energia Dispersiva (EDS) obtido aps a microanlise da
superfcie da amostra, onde se observa a sobreposio dos picos
dos elementos qumicos Ti e V, presentes na amostra de Ti-6Al-4V.
sobreposio
picos Ti e V
sobreposio
picos Ti e V
73
A Tabela 6 apresenta a variao, em diferentes pontos da superfcie da
amostra Ti-6Al-4V, dos elementos qumicos Ti, Al e V confirmando os valores
obtidos nas micro anlises realizadas distintamente nas regies claras e escuras,
apresentadas em 5.2.1.
TABELA 6: Resultado da anlise quantitativa relativo ao EDS, conforme espectro
mostrado na FIGURA 34.
Espectro Al Ti V Total
Espectro 1 6,11 90,02 3,86 100,00
Espectro 2 6,16 89,71 4,13 100,00
Espectro 3 6,29 89,71 4,00 100,00
Espectro 4 6.,14 90,12 3,74 100,00
Mdia 6,18 89,89 3,93 100,00
S 0,08 0,21 0,17
Max. 6,29 90,12 4,13
Min. 6,11 89,71 3,74
* resultados expressos em porcentagem de massa.
74
5.3. Microscopia Eletrnica de Varredura (MEV) associada Difrao de
Eltrons Retroespalhados (EBSD)
A anlise pelo MEV/EBSD requer cuidados especiais na fase de
lixamento e polimento, pois a superfcie da amostra deve estar perfeitamente
plana e atacada para a visualizao dos padres de difrao dos eltrons
retroespalhados (EBSD). A amostra de titnio da liga Ti-6Al-4V, como recebida,
foi preparada para a anlise no MEV/EBSD.
Para a anlise da superfcie da amostra, utilizou-se o MEV, da marca
Philips, modelo XL30, com cmera CCD e sistema para a interpretao da
Difrao de Eltrons Retroespalhados (EBSD) da marca TSL (TexSEM
Laboratories Inc.). Para a operao do equipamento, utilizou-se corrente do feixe
de eltrons da ordem de 5 nA e tenso de acelerao de 30 kV. A amostra foi
montada no suporte do MEV com uma distncia de trabalho aproximada de 20
mm e inclinao de 75, em relao ao feixe incidente, durante a anlise da
superfcie, para se visualizar a distribuio da fase e da fase na superfcie da
amostra.
A FIGURA 35 mostra a micrografia eletrnica relativa aos padres
obtidos por EBSD, para a fase presente na superf cie da liga de titnio
Ti-6Al-4V. Observa-se a distribuio da fase dispersa na matriz de fase . O
tamanho de gro e as orientaes inerentes a fase dependem da temperatura
de tratamento da amostra. A fase e a fase , presentes na amostra da liga de
Ti-6Al-4V, se diferenciam pela estrutura cristalina. A fase apresenta estrutura
hexagonal compacta (hc) e a fase apresenta estrutura cbica de corpo centrado
(ccc).
Na regio A da FIGURA 35 observa-se uma concentrao da fase ,
indicando a reteno dessa fase, possivelmente em funo do tratamento trmico
a que foi submetida a amostra. Verifica-se que a distribuio da fase , presente
na amostra, est disposta na forma de faixas contnuas, seguindo-se aos
contornos de gros da fase (regio escura).
75
FIGURA 35: Micrografia eletrnica da amostra de Ti-6Al-4V (como recebida),
onde se observa as regies contendo a presena da fase ao longo
da superfcie da amostra, obtidas por MEV/EBSD.
A
76
FIGURA 36: Micrografia eletrnica da amostra de Ti-6Al-4V das regies contendo
a presena da fase nesta liga de titnio e o respectivo tringulo de
referncia de orientaes dos respectivos planos apresentados,
obtido por MEV/EBSD.
50 step
77
A Figura 36 mostra os padres obtidos por EBSD, para a fase
presente na liga de titnio Ti-6Al-4V. Observa-se a existncia de regies
contnuas formando uma colnia de fase , no contorno de gro da fase .
Atravs da distribuio de cores apresentada pela fase , observa-se uma maior
densidade do plano (001) nos contornos dos gros.
Como a distribuio e o tamanho da fase presente na amostra
Ti-6Al-4V bem maior em comparao fase , pode -se visualizar facilmente a
fase presente na amostra, indicada pelas cores: vermelho, cinza e roxo e a
distribuio da fase nos contornos de gro, como mostra a FIGURA 37.
FIGURA 37: Micrografia eletrnica da amostra de Ti-6Al-4V de regies com a
presena da fase do titnio (vermelho, cinza e roxo) e da fase
distribuda nos contornos de gro da fase , obtida por MEV/EBSD.
78
Na FIGURA 38 pode-se visualizar a presena da fase do titnio ao
longo da superfcie da amostra, bem como a orientao cristalogrfica desta fase,
atravs da variao de cor, de acordo com o respectivo tringulo de referncia de
orientao dos planos cristalinos.
FIGURA 38: Micrografia eletrnica da amostra de Ti-6Al-4V das regies com a
presena da fase d a liga de titnio Ti-6Al-4V e o respectivo
tringulo de referncia de orientaes dos planos cristalinos
dispostos na superfcie da amostra, obtido por MEV/EBSD.
50 step
79
A partir das medidas obtidas por EBSD foi possvel identificar a
presena de pequenos gros da fase , distribudos no contorno de gro da fase
na amostra analisada. Estas informaes corroboram com as anlises
realizadas na amostra, descritas no item 5.2.
80
5.4 . Difrao de Raios X (DRX)
Com o objetivo de estudar a presena das fases e existentes na
amostra de Ti-6Al-4V, como recebida, foram realizadas anlises utilizando-se a
Difrao de Raios X (DRX), aps o preparo da amostra, conforme descrito
anteriormente em 4.3.1.
A FIGURA 39 mostra a Curva de Difrao obtida na anlise por DRX
da amostra de Ti-6Al-4V e sua respectiva interpretao, a partir dos dez picos
obtidos, com intensidades distintas, sendo estes picos determinados aps anlise
e confronto com o banco de dados das fichas do Joint Commite on Powder
Diffractions Standards (JCPDS).
0 20 40 60 80 100
0
100
200
300
400
500
600
I
n
t
e
n
s
i
d
a
d
e
(
u
.
a
.
)
2(graus)
amostra Ti-6Al-4V
(como recebida)
FIGURA 39: Curva de Difrao de Raios X obtida por DRX da liga de titnio
Ti-6Al-4V, da amostra como recebida recozida a 800C por 2 horas.
Velocidade de varredura para anlise de 2
o
1
por minuto.
2
3
4 5 6 7 8
9 10
81
Na TABELA 7 so apresentados os valores obtidos, relacionando-se os
diversos picos determinados, em funo da intensidade, do ngulo 2 e da
distncia interplanar (d), apresentados na Curva de Difrao de Raios X e as
possveis correspondncias das fases e , encontradas na amostra de Ti-6Al-
4V, para o titnio.
TABELA 7: Resultados obtidos a partir da Curva de Difrao de Raios X da Figura
39 relacionando-se o valor da distncia interplanar (d) e o ngulo 2
(graus).
Pico 2
(graus)
Valor d Intensidade Fase encontrada
1 35,500 2,5266 56 Ti (hc)
2 38,580 2,3317 561 Ti (ccc)
3 40,540 2,2234 347 Ti(hc)
4 44,460 2,0360 41 Ti(hc)
5 53,420 1,7137 41 Ti(hc)
6 63,470 1,4589 37 Ti(hc)
7 71,120 1,3245 66 Ti(hc)
8 76,920 1,2385 40 Ti(hc)
9 77,960 1,2245 20 Ti(hc)
10 82,540 1,1678 23 Ti(ccc)
Analisando-se os valores para os dez picos obtidos na curva de
difrao de Raios X da FIGURA 39, e comparando-os com os valores da distncia
interplanar (d) e o ngulo 2, apresentados na Tabela 6, pde-se index-los com
as fichas do Joint Committe on Powder Diffraction Standards (JCPDS), e
determinar a presena da fase para o titnio , que apresenta estrutura hexagonal
compacta (hc), bem como para o titnio , que apresenta estrutura cbica de
corpo centrado (ccc). Pode-se observar que o pico nmero dois, como mostra a
82
FIGURA 39 e apresentado na TABELA 7, caracterstico para o titnio fase beta
(Ti-ccc), o mais intenso e corresponde ao plano de reflexo (110). Este plano
de reflexo, mais intenso para a fase beta do titnio (Ti-ccc) possui uma posio
coincidente ao plano (002) para o titnio de fase alfa (Ti-hc). O pico nmero dez,
como mostra a FIGURA 39 e est apresentado na TABELA 7, caracterstico
para o titnio de fase beta (Ti-ccc) e corresponde ao plano de reflexo (220),
sendo perfeitamente identificado sem que haja coincidncia com planos da fase
alfa do titnio (Ti-hc).
Com o objetivo de se avaliar a presena da fase , presente na
amostra de Ti-6Al-4V, realizou-se o tratamento trmico da mesma. A amostra foi
submetida a uma temperatura de 1000C durante uma hora e resfriada em gua,
conforme descrito no item 4.4. O intuito do presente tratamento trmico foi obter
um aumento da fase e a sua reteno durante o processo de resfriamento. A
amostra de Ti-6Al-4V, aps o tratamento trmico, foi submetida anlise por
DRX, obtendo-se a curva de difrao de Raios X da FIGURA 40.
0 20 40 60 80 100
0
500
1000
1500
2000
2500
3000
9
8
7
6
5
4
3
2
1
amostra Ti-6Al-4V
(aps tratamento trmico 1000
o
C/1h
e refriamento em gua)
2 (graus)
I
n
t
e
n
s
i
d
a
d
e
(
u
.
a
.
)
FIGURA 40: Curva de Difrao de Raios X da liga de titnio Ti-6Al-4V, da amostra
tratada a 1000C por 1 hora e resfriada em gua. Velocidade de
varredura para anlise de 2
o
por minuto.
83
A Curva de Difrao de Raios X obtida da amostra de Ti-6Al-4V,
conforme mostra a Figura 40, comparando-se com a Curva de Difrao de Raio X
da Figura 39, apresenta uma certa alterao nas intensidade e quantidades de
picos obtidos.
A TABELA 8 apresenta os resultados obtidos na determinao das
fases presentes na amostra, a partir do difratograma obtido, conforme mostra a
Figura 40, relacionando-se os valores da distncia interplanar (d) e o ngulo 2
(graus), bem como, as intensidades correspondentes aos nove picos obtidos.
TABELA 8: Resultados obtidos a partir da Curva de Difrao de Raios X da
anlise da amostra Ti-6Al-4V (Figura 40), tratada termicamente a
1000 C por uma hora e resfriada em gua, relacionando os valores
da distncia interplanar (d) e o ngulo 2 (graus).
Pico 2
(graus)
Valor d Intensidade Fase encontrada
1 35,240 2,54468 141 Ti (hc)
2 38,420 2,34106 2542 Ti (ccc)
3 40,300 2,23607 1810 Ti(hc)
4 53,120 1,72270 79 Ti(hc)
5 63,060 1,47297 22 Ti(hc)
6 70,460 1,33521 58 Ti(ccc)
7 77,220 1,23439 22 Ti(hc)
8 82,360 1,16988 173 Ti(ccc)
9 87,280 1,11615 63 Ti(hc)
84
Analisando-se os valores para os nove picos obtidos na Curva de
Difrao de Raio X da Figura 40, e comparando-os com os valores da distncia
interplanar (d) e o ngulo 2, apresentados na Tabela 8, e aps index-los com as
fichas do JCPDS, foi possvel determinar a presena da fase (Ti-hc) nos picos
1, 3, 4, 5, 7 e 9, bem como a presena da fase (Ti-ccc) apresentada nos picos
2, 6 e 8. O resultado obtido para a identificao da fase apresenta os planos de
reflexo: (110), (211) e (220), respectivamente relacionados aos picos 2, 6 e 8,
conforme mostra a Figura 40.
Comparando-se os resultados obtidos a partir das anlises de DRX
aplicadas amostra, como recebida, e amostra tratada termicamente, verifica-
se a presena da fase , porm o plano de reflexo para a fase (211),
correspondente ao pico 6, tem posio coincidente ao plano de reflexo da fase
(103), mascarando-se o resultado obtido, para este plano de reflexo.
Realizou-se um novo tratamento trmico na amostra da liga de titnio
Ti-6Al-4V, partindo-se da liga como recebida. A amostra, como recebida, foi
inserida em um tubo de quartzo, retirando-se o ar e selando-a no tubo. Aps este
procedimento, a mesma foi tratada termicamente, a uma temperatura de 1000C
por duas horas e posteriormente resfriada em gua, conforme descrito em 4.4.
Com a amostra preparada, de acordo com 4.3.1., a mesma foi submetida
anlise por DRX. A FIGURA 41 mostra o difratograma obtido, para a anlise
realizada, onde se obteve a presena de nove picos.
85
0 20 40 60 80 100
0
500
1000
1500
2000
9
8
7
6
5
4
3
2
1
amostra Ti-6Al-4V
(1000C/2h inserida tubo quartzo e
resfriada em gua)
I
n
t
e
n
s
i
d
a
d
e
(
u
.
a
.
)
2 (graus)
FIGURA 41: Curva de Difrao de Raios X da liga de titnio Ti-6Al-4V, da amostra
tratada a 1000C por 2 horas em tubo de quartzo e resfriada em
gua. Velocidade de varredura para anlise de 2
o
por minuto.
A TABELA 9 apresenta os resultados obtidos na determinao das
fases presentes na amostra, a partir do difratograma obtido, conforme mostra a
FIGURA 41, relacionando-se os valores da distncia interplanar (d) e o ngulo 2
(graus), bem como, as intensidades correspondentes aos nove picos obtidos.
86
TABELA 9: Resultados obtidos a partir da Curva de Difrao de Raios X da
anlise da amostra Ti-6Al-4V (Figura 41), tratada termicamente a
1000 C por duas horas em tubo de quartzo e resfriada em gua,
relacionando os valores da distncia interplanar (d) e o ngulo 2
(graus).
Pico 2
(graus)
Valor d Intensidade Fase encontrada
1 35,280 2,54468 250 Ti (hc)
2 38,480 2,33750 1480 Ti (ccc)
3 40,320 2,23607 1840 Ti(hc)
4 53,120 1,72270 22 Ti(hc)
5 70,161 1,3402 30 Ti(ccc)
6 76,220 1,2480 115 Ti(hc)
7 77,220 1,23439 126 Ti(hc)
8 82,444 1,16988 119 Ti(ccc)
9 87,280 1,11615 63 Ti(hc)
Analisando-se os valores para os nove picos obtidos na Curva de
Difrao de Raios X da Figura 41, e comparando-os com os valores da distncia
interplanar (d) e o ngulo 2, apresentados na Tabela 8, e aps index-los com as
fichas do JCPDS, foi possvel determinar a presena da fase (Ti-hc) nos picos
1, 3, 4, 6, 7 e 9, bem como a presena da fase (Ti-ccc) apresentada nos picos
2, 5 e 8. O resultado obtido para a identificao da fase apresenta os planos de
reflexo: (110), (211) e (220), respectivamente relacionados aos picos 2, 5 e 8,
conforme mostra a Figura 41.
Comparando-se os resultados obtidos, a partir das anlises de DRX,
aplicadas amostra da liga de Ti-6Al-4V, como recebida, e s amostras tratadas
termicamente, verifica-se que houve uma reteno da fase (Ti-ccc) sendo
possvel a determinao desta fase.
87
5.5. Microscopia Eletrnica de Transmisso (MET)
A utilizao da Microscopia Eletrnica de Transmisso (MET) no
presente trabalho, permitiu o estudo da microestrutura e dos micromecanismos de
deformao e fratura da amostra de Ti-6Al-4V (como recebida) e das demais
amostras de Ti-6Al-4V submetidas ao tratamento trmico, conforme descrito em
4.4.
Com a utilizao da difrao de eltrons por rea selecionada,
associada imagem de campo claro e campo escuro, foi possvel a determinao
das fases e no interior dos gros e sub-gros das amostras analisadas.
5.5.1. Anlise microestrutural de gros
Para a anlise microestrutural de gros, a amostra de Ti-6Al-4V (como
recebida), foi inserida em tubo de quartzo lacrado sob vcuo para a realizao do
tratamento trmico, sendo submetida temperatura de 1000 C por duas horas, e
posteriormente resfriada em gua. Aps o tratamento trmico, seguiu-se a etapa
do preparo de amostras para observao no MET, conforme j descrito em 4
materiais e mtodos experimentais.
O tratamento trmico aplicado liga de titnio Ti-6Al-4V, teve como
finalidade verificar a mudana na estrutura e o comportamento das fases e da
liga.
As ligas Ti-6Al-4V quando tratadas termicamente, segundo Jovanovi
et al. (2004), a partir de temperatura de 1100C, 950 C e 900C com
resfriamentos bruscos (resfriamento em gua), formam respectivamente as
estruturas martensitica , uma mistura de com com placas de dentro e no
contorno de gro de primrio e uma mistura de com com placas de dentro
e no contorno de gro de primrio, sendo a proporo da fase alfa maior a
900C do que a 950 C.
A FIGURA 42 mostra uma regio da amostra contendo gros
alongados, com dimenso aproximada de 1,2 m. Observa-se tambm a
existncia de subestruturas de discordncias, onde se pode verificar a sua
88
heterogeneidade e tambm a formao de grossas paredes nas subestruturas de
discordncias apresentadas.
FIGURA 42: Micrografia obtida por Microscopia Eletrnica de Transmisso (MET)
da amostra de Ti-6Al-4V (1000C/2h ), contendo gros alongados,
paredes grossas e sub estruturas de discordncias.
Utilizou-se a tcnica de campo escuro, para a visualizao do contorno
de gro da partcula e detalhe da sua dimenso. Observa-se a presena da fase
identificada a partir da realizao da difrao de eltrons na regio delineada na
FIGURA 43.
Discordncias
Paredes de discordncias
89
FIGURA 43: Micrografia obtida por microscopia eletrnica de transmisso (MET)
em campo escuro da amostra de Ti-6Al-4V (1000C/2h ). Na regio
em destaque realizou-se a difrao de eltrons.
A FIGURA 44 mostra o padro de difrao de eltrons da rea selecionada
na partcula, como demonstrado na FIGURA 43. Aps a indexao do padro de
eltrons, como mostra a FIGURA 44, foi identificado a presena da fase .
Fase
90
FIGURA 44: Padro de difrao de eltrons realizado na rea selecionada da
Figura 43, sendo identificada a presena da fase beta (ccc), aps a
indexao.
A FIGURA 45 mostra a existncia de discordncias de uma forma
lamelar , como mostra a FIGURA 46 em campo escuro, da FIGURA 45.
Realizou-se a difrao de eltrons por rea selecionada nas fases, conforme
mostra a FIGURA 46, e aps a indexao pode-se determinar a fase presente
na lamela observada na FIGURA 45.
91
FIGURA 45: Micrografia obtida por Microscopia Eletrnica de Transmisso (MET)
em campo claro da amostra de Ti-6Al-4V (1000C/2h ).
FIGURA 46: Micrografia obtida por Microscopia Eletrnica de Transmisso (MET)
em campo escuro da amostra de Ti-6Al-4V (1000C/2h ), relativa
Figura 45 evidenciando a existncia da fase lamelar alfa.
Fase lamelar
92
A indexao da FIGURA 47 permitiu comprovar a presena da fase
lamelar alfa da FIGURA 46 devido a presena da fase hexagonal compacta
caracterstica da estrutura da fase alfa.
FIGURA 47: Padro de difrao de eltrons realizado na rea selecionada da
Figura 46 sendo identificada a presena da fase alfa (hc), aps a
indexao.
Ahmed & Rack (1998) ao analisarem a liga de Ti-6Al-4V por MET
confirmaram uma diferente seqncia de nucleao relacionada com a taxa de
resfriamento da liga e mostraram que essa morfologia alfa tinha uma aparncia de
blocos com uma estrutura lamelar com deslocamentos internos. A anlise de
difrao de eltrons da rea selecionada confirmou, ainda que estas placas alfa
possussem uma estrutura cristalina hexagonal idntica ao da martensita alfa
acicular observadas com maior taxa de resfriamento. As caractersticas
cristalogrficas e morfolgicas associadas a esta morfologia alfa secundria
sugeriu que a mesma formada como uma transformao competitiva. O
crescimento, das lamelas alfa, dependente da taxa de resfriamento imposta
liga.
93
As micrografias das FIGURAS 48 e 49, obtidas por MET, mostram a
existncia de lamelas alfa tpicas de uma estrutura martenstica. Nestas estruturas
pode-se observar a existncia de discordncias formadas no material durante o
processo de resfriamento imposto a amostra. Observa-se tambm a existncia de
interfaces entre as lamelas e gros retidos prximos a estas lamelas.
FIGURA 48: Micrografia obtida por Microscopia Eletrnica de Transmisso (MET)
da amostra de Ti-6Al-4V (1000C/2h ), mostrando as lamelas e
discordncias (campo claro).
94
FIGURA 49: Micrografia obtida por Microscopia Eletrnica de Transmisso (MET)
da amostra de Ti-6Al-4V (1000C/2h), mostrando as lamelas e
discordncias (campo escuro).
Salem & Semiatin (2009) relatam que ambas as microestruturas
lamelar e bimodal (+), possuem lamelas hexagonais compactas de fase em
uma matriz cbica de corpo centrado de fase . A microestrutura lamelar
formada durante o resfriamento no campo , a taxas de resfriamento baixas e
mdias, onde a fase lamelar e a matriz de fase , que foram formadas seguem
a orientao de Burgers na qual o plano (0001) est paralelo ao plano (101) e a
direo [ ] 0 1 1 2 est paralela direo [ ] 1 1 1 .
A FIGURA 50 mostra regies existentes prximas s lamelas, onde se
realizou o padro de difrao (FIGURA 51), em regies prximas s lamelas,
obtendo-se como resultado do padro de difrao de eltrons a confirmao da
fase beta, que coexiste na estrutura da amostra. A existncia da fase beta
determina que na amostra haja transformao de parte da sua estrutura alfa
secundria em beta, retida entre as lamelas de alfa.
m
95
(A)
(B)
FIGURA 50: (A) Micrografia obtida por microscopia eletrnica de transmisso (MET)
da amostra de Ti-6Al-4V (1000C/2h ), evidenciando a interface lamelar
e (B) respectivo padro de difrao de Micrografia obtida por
Microscopia Eletrnica de Transmisso (MET) da amostra de Ti-6Al-4V
(1000C/2h ), evidenciando na interface lamelar eltrons da rea
selecionada da Figura 50 (A), identificao da presena da fase beta
(ccc).
96
5.5.2. Trao in situ e fractografia
Realizou-se no presente trabalho estudos para a determinao dos
mecanismos de deformao e fratura, aplicando-se a tcnica de trao in situ em
temperatura ambiente, utilizando-se a microscopia eletrnica de transmisso.
Para a realizao dos ensaios, foi utilizada a amostra de titnio da liga Ti-6Al-4V
tratada termicamente a 1000C por uma hora e resfriada em gua, conforme
descrito no item 4.4.
Em metais que apresentam estrutura hexagonal compacta, diferentes
modos de deformao podem ser ativados durante a deformao plstica:
processos de deslizamento e de maclao.
A FIGURA 51 mostra os possveis sistemas de escorregamento em metais
com estrutura cristalina hexagonal compacta (hc), estudado por Bridier et
al.(2005), relativos aos sistemas de escorregamento: basal, prismtico e piramidal
de primeira ordem com o vetor de Burgers 0 2 11
3
1
= a
.
A evoluo do comportamento da amostra sob tenso, no ensaio de trao
in situ, pode ser observada nas FIGURAS 53 at 58.
99
FIGURA 53: Micrografia eletrnica da amostra de Ti-6Al-4V, relativa anlise de
trao in situ para um deslocamento de 0,05mm em relao
posio inicial.
A FIGURA 53 mostra o aumento de discordncias causado pelo
carregamento aplicado amostra, obtendo-se um deslocamento de 0,05mm. Na
Regio A indicada na FIGURA 53 observa-se o deslizamento dos planos
lamelares existentes na amostra.
Sentido da trao
Regio
A
Discordncias
100
FIGURA 54: Micrografia eletrnica da amostra de Ti-6Al-4V, relativa anlise de
trao in situ para um deslocamento de 0,10mm em relao
posio inicial.
A FIGURA 54 mostra o surgimento de discordncias entre as lamelas,
conforme regio delineada na figura. Aps o carregamento aplicado, houve um
deslocamento de 0,010mm em relao a posio inicial.
Sentido da trao
101
FIGURA 55: Micrografia eletrnica da amostra de Ti-6Al-4V, relativa anlise de
trao in situ para um deslocamento de 0,15mm em relao
posio inicial.
A FIGURA 55 mostra o aparecimento de novas discordncias, conforme
indicado pelas setas na figura e observa-se tambm a existncia de um contorno
de gro disposto entre as placas lamelares, aps trao in situ para um
deslocamento de 0,15mm em relao posio inicial.
Contorno de
gro
Discordncias
Sentido da trao
102
FIGURA 56: Micrografia eletrnica da amostra de Ti-6Al-4V, relativa anlise de
trao in situ para um deslocamento de 0,20mm em relao
posio inicial.
A FIGURA 56 mostra a presena de deslocamentos dos planos devido
a uma deformao, gerada pela trao in situ, a partir de um deslocamento de
0,020 mm em relao posio inicial mostrando tambm a existncia de
colnias de lamelas .
As FIGURAS 57 e 58 mostram o deslocamento dos planos e a
deformao de lamelas presentes na amostra, aps a trao in situ, para um
deslocamento de 0,25mm em relao posio inicial.
Sentido da trao
Colnia de
lamelas
103
FIGURA 57: Micrografia eletrnica da amostra de Ti-6Al-4V, relativa anlise de
trao in situ para um deslocamento de 0,25mm em relao
posio inicial.
FIGURA 58: Micrografia eletrnica da amostra de Ti-6Al-4V, relativa anlise de
trao in situ para um deslocamento de 0,25mm em relao
posio inicial.
Sentido da trao
Sentido da trao
Colnia de
lamelas
Colnia de
lamelas
104
(A) (B) (C)
(D) (E) (F)
FIGURA 59: Micrografias da amostra de Ti-6Al-4V relativas s anlises de trao
in situ para diferentes deslocamentos: (A) 0,05 mm, (B) 0,10 mm, (C)
0,15 mm, (D) 0,20 mm, (E) e (F) 0,25 mm
A FIGURA 59 (A) at (F) mostra que aps a aplicao do deslocamento
houve a formao de discordncias, que se tornam mais intensas medida que a
trao aplicada aumenta. Observa-se tambm que alm do deslocamento dos
planos ocorre uma deformao dos gros existentes na amostra.
Aps o rompimento da amostra, analisou-se a superfcie da fratura,
conforme mostra a FIGURA 60, por Microscopia Eletrnica de Varredura (MEV).
105
FIGURA 60: Micrografia eletrnica da face (A) da amostra de Ti-6Al-4V utilizada
no ensaio de trao in situ; (B) Detalhe da regio de rea fina da
amostra de Ti-6Al-4V,onde se observa in situ o incio da fratura.
Ao descrever o comportamento local da fratura em liga de titnio de pureza
comercial, Baptista (2000) verificou que parmetros contnuos de dano podem ser
empregados na modelagem da propagao de trincas, sob diferentes tipos de
carregamento, sendo que se inclui numa rea especfica a Mecnico do Dano
denominada concepo local da fratura. Nestas condies a fratura geralmente
ocorre sem a formao de uma trinca principal e se desenvolve lentamente
atravs do crescimento de microcavidades nos gros (fratura dctil transgranular)
simultaneamente ao crescimento de microtrinca nas fronteiras de gros (fratura
frgil intergranular), ou seja, ela caracterizada pela evoluo de
descontinuidades microscpicas num volume relativamente grande de material.
A superfcie de fratura revela a presena de grandes reas com
degraus de mesma orientao e zonas de falhas de trao associada com estrias
em diferentes ngulos na direo de crescimento da fratura, como mostram as
FIGURAS 61 e 62.
B A
106
(A)
(B)
FIGURA 61: Micrografia eletrnica em detalhe da regio de rea fina da amostra
de Ti-6Al-4V, anlise por MEV, onde se observa in situ o incio da
fratura, (A) rea fina superior e (B) rea fina inferior (aumento 440
vezes)
107
FIGURA 62: Micrografia eletrnica em detalhe da regio de rea fina da amostra
de Ti-6Al-4V, anlise por MEV, onde se observa in situ o incio da
fratura.
Bantounas et al. (2007) estudaram os mecanismos de fratura em ligas
de Ti-6Al-4V por MEV e mostraram que a morfologia dos degraus na superfcie de
fratura depende da orientao de carregamento e da eficcia dos sistemas de
deslizamento tanto no cristal quanto na textura do titnio.
108
5.5.3. Transformao de fase in situ
Para a realizao do ensaio de transformao de fase in situ utilizou-se
a amostra de Ti-6Al-4V, tratada termicamente a 1000C por duas horas, conforme
descrito no item 4.4.
Poorganji et al.(2009) e Mironov et al (2009) estudaram a
microestrutura de ligas de titnio +, e observaram que diferentes
microestruturas podem ser obtidas pela mudana do processo de tratamento
trmico. A estrutura lamelar comea a se formar a partir do contorno dos gros
, pelo resfriamento da fase solubilizada. A estrutura lamelar + possui a
mesma orientao da fase lamelar . O tamanho final da fase lamelar pode ser
controlada pela taxa de resfriamento aplicada.
A FIGURA 63 mostra uma microestrutura intragranular composta de
placas de fase primria, longas e paralelas e com a reteno da fase entre as
placas de fase .
FIGURA 63: Micrografia eletrnica em campo escuro da amostra de Ti-6Al-4V
apresentando em sua estrutura lamelas longitudinais.
109
As transformaes que ocorrem no Titnio e suas ligas so
dependentes da temperatura de trabalho, da taxa de resfriamento e
microestrutura inicial.
No presente trabalho, para o estudo da transformao de fase in situ,
iniciou-se o ensaio observando-se a amostra temperatura ambiente, conforme
mostra a FIGURA 63. A partir das lamelas observadas na micrografia realizou-se
o padro de difrao de eltrons para se determinar a fase compreendida pela
lamela conforme mostra a FIGURA 64. Aps a indexao do padro de difrao
de eltrons, pde-se confirmar a presena da fase na estrutura.
FIGURA 64: Padro de difrao de eltrons realizado na rea selecionada da
Figura. 63, sendo identificada a presena da fase alfa (hc), aps a
indexao.
A FIGURA 65(A), micrografia eletrnica em campo claro da FIGURA
63, mostra a reteno de placas entre as lamelas longitudinais alfa.
110
(A)
(B)
FIGURA 65: Micrografia eletrnica da amostra de Ti-6Al-4V, (A) amostra no incio
do ensaio e (B) aps a elevao da temperatura in situ aplicada
amostra de 600 C.
Fase
111
Para registrar a transformao de fase, na FIGURA 65 (B), elevou-se a
temperatura in situ at 600C, sendo que o aquecimento aplicado amostra foi
realizado, variando-se a temperatura em patamares de 50C at atingir a
temperatura de 600C. Durante o ensaio observou-se a mudana da estrutura
interna da amostra a partir da temperatura de 600C. Comparando-se as
FIGURAS 65 (A) e (B) observa-se a mudana da estrutura. Durante o ensaio,
partindo-se da nova estrutura obtida, conforme mostra a FIGURA 65 (B), realizou-
se o padro de difrao de eltrons na nova estrutura observada.
A FIGURA 66 mostra o padro de difrao de eltrons na nova
estrutura formada. Aps a indexao do padro de difrao de eltrons foi
determinada a presena da fase (ccc), indicando a mudana da fase in situ.
FIGURA 66: Padro de difrao de eltrons realizado na rea selecionada da
Figura 65 (B) sendo identificada a presena da fase beta (ccc), aps
a indexao.
Em funo do processo de obteno de imagem ser dinmico, na
FIGURA 65 (B), observa-se um realinhamento da microestrutura interna do
material podendo-se visualizar a formao de gros com dimenses distintas.
112
5.5.4. Anlise de sub-gros utilizando-se Microscopia Eletrnica de
Transmisso de Alta Resoluo (MET-AR)
As amostras de Ti-6Al-4V foram preparadas para observao e anlise
no Microscpio Eletrnico de Transmisso de Alta Resoluo (MET-AR) analtico
Jeol 200kV, CCTM/IPEN, seguindo-se as etapas de preparao da amostra para
MET-AR, conforme descrita em 4 Materiais e mtodos experimentais. Foram
obtidos discos com 3 mm de dimetro e espessura aproximada da rea fina de 2
mm. Para a obteno dos discos com 3 mm de dimetro utilizou-se a
eletroeroso. Na reduo da espessura iniciou-se com o lixamento do disco em
lixa 600 m e, para obteno da rea fina utilizou-se o equipamento TENUPOL no
afinamento eletroltico da amostra, com o intuito de obter a rea fina de
observao e anlise no MET-AR analtico.
Nesta etapa do trabalho foram utilizadas amostras da liga de titnio
Ti-6Al-4V na condio inicial, ou seja, recozidas a 800C por duas horas e
amostras tratadas termicamente, utilizando-se a temperatura de 1000C por uma
hora, realizando-se o resfriamento das mesmas em gua. As amostras, aps o
tratamento trmico foram preparadas para a anlise no MET analtico. As
micrografias eletrnicas a seguir revelam a alterao sofrida pela liga de titnio
aps o tratamento trmico, ao qual foi submetida.
A FIGURA 67 apresenta a micrografia da amostra de Ti-6Al-4V,
recozida a 800C por duas horas (como recebida). Observamos que a
microestrutura apresenta regies onde ocorreu o encruamento. Verificamos
discordncias causadas na conformao mecnica aplicada ao material.
A FIGURA 68 mostra em detalhe franjas de discordncias, onde se verifica
planos sobrepostos na amostra.
113
FIGURA 67: Micrografia eletrnica da amostra de Ti-6Al-4V recozida 800C por
duas horas.
FIGURA 68: Micrografia eletrnica da amostra de Ti-6Al-4V recozida a 800C por
duas horas, apresentando franjas.
encruamento
discordncias
114
A FIGURA 69 (A) mostra uma regio contendo sub-gros, com uma
regio escura que se assemelha a uma estrutura lamelar. Em (B) tem-se uma
regio formada por sub-gros na face e algumas franjas de discordncia, e em
(C) mostra regies contendo discordncias seguidas de planos sobrepostos.
(A) (B)
(C)
FIGURA 69: Micrografia eletrnica da amostra de Ti-6Al-4V recozida a 800C por
duas horas
Na FIGURA 70, a qual foi obtida no modo de alta resoluo, pode se
constatar a presena de maclas ao longo das micrografias (A) e (B). Em (A)
percebe-se um tipo de borda na interface com pequeno defeito
115
(A)
(B)
FIGURA 70: Micrografia eletrnica da amostra de Ti-6Al-4V, aps o tratamento
trmico 1000C/1h e resfriamento rpido em gua, apresentando
maclas longitudinais em (A) e (B).
116
.Manero et al. (2000) relatam que no caso do titnio puro existem
fatores microestruturais, tais como a prvia existncia de deslocamentos nas
interfaces dos contornos dos planos martensticos de '. Acredita-se que apesar
de em testes realizados com titnio puro no ser possvel esta observao
existem fatores na microestrutura martenstica de ', mo a existncia de
deslocamentos e interfaces '/', que podem reduzir a energia de ativao
necessria para a nucleao dos planos das maclas em (1011).
FIGURA 71: Micrografia eletrnica da amostra de Ti-6Al-4V, aps o tratamento
trmico 1000C/1h e resfriamento rpido em gua.
sub-gro
sub-gro
117
Na FIGURA 71, obtida no modo de alta resoluo, visvel a
orientao dos planos cristalinos existentes na amostra de Ti-6Al-4V, observa-se
a presena de sub-gros na regio escura. Ao se medir os ngulos formados
entre os planos valores que variam de 60 a 70 so encontrados, preponderando
o ngulo de 65. Esta variao pode ser explicada pela proximidade com regies
onde h a presena de sub-gros.
A FIGURA 72 mostra planos sobrepostos com a formao de maclas e
zonas de discordncias, sendo possvel observar a variao no tamanho das
maclas. Este comportamento pode ser atribudo a taxa de resfriamento imposta
amostra.
FIGURA 72: Micrografia eletrnica da amostra de Ti-6Al-4V ,aps o tratamento
trmico 1000C/1h e resfriamento rpido em gua.
118
Na FIGURA 73 observa-se maclas dispostas longitudinalmente com
dimenso aproximada de 2,5 nm, bem como discordncias e a deformao do
plano.
FIGURA 73: Micrografia eletrnica da amostra de Ti-6Al-4V, aps o tratamento
trmico 1000C/1h e resfriamento rpido em gua.
119
6. CONCLUSES
Para a liga de titnio Ti-6Al-4V, objeto de estudo do presente trabalho,
a partir da amostra como recebida, tratada a 800C por duas horas, foram
realizados os tratamentos trmicos, aplicando-se a temperatura de 1000C por
uma hora e resfriamento rpido em gua e 1000C por duas horas, com a
amostra mantida sob vcuo em tubo de quartzo selado e resfriada em gua. Os
tratamentos trmicos realizados promoveram a mudana da microestrutura da
amostra, formando plaquetas de martensita, com a reteno da fase (ccc) e
transformando parte da estrutura (hc) secundria existente em uma estrutura ,
que se encontrava retida entre as lamelas de alfa.
Para a caracterizao da microestrutura da amostra como recebida e
aps os tratamentos trmicos, foram realizadas as anlises com a liga de titnio
Ti-6Al-4V, utilizando-se o MEV/EDS/EBSD, onde se pde determinar a presena
da fase e caracterizar a fase nos contornos de gros da fase . Utilizou-se a
tcnica de DRX para a anlise das fases e presentes na amostra, cujos
resultados revelam a presena da fase em uma matriz de fase .
Para os estudos in situ de deformao e fratura, transformao de fase,
caracterizao microestrutural e nanoestrutural das amostras, utilizou-se o MET
convencional e MET-AR. Esta tcnica permitiu a determinao da presena da
fase com morfologia lamelar, formada heterogeneamente na transio e a
formao da fase secundria, formada a partir da taxa de resfriamento aplicada
amostra no campo +. Observa-se a presena de maclas e discordncias, no
ensaio de trao in situ gerado pelo deslizamento do plano basal e prismtico da
fase , presente na amostra, em funo desses planos requererem baixa tenso
crtica de cisalhamento.
Anlises por MEV/EDS/EBDS Nas anlises por microscopia eletrnica de
varredura, associada espectroscopia de energia dispersiva e difrao de
eltrons retroespalhados, verifica-se a presena da fase do titnio, sendo
120
possvel identificar os planos cristalogrficos hexagonal compacto (hc),
bem como a presena da fase , cbica de corpo centrado (ccc) presentes
na amostra.
As anlises por microscpia eletrnica de transmisso de alta resoluo
permitem o estudo nanocristalino da amostra.
Os estudos de deformao e fratura da amostra in situ no MET permite
que o trabalho seja uma contribuio original para o entendimento na
escala nanomtrica dos micromecanismos de deformao e fratura da liga
de titnio Ti-6Al-4V.
As anlises por microscpia eletrnica de transmisso de alta resoluo
permitem o estudo nanocristalino da amostra.
Observou-se a presena da microestrutura lamelar, formada durante o
resfriamento no campo , promovendo a transformao de parte da
estrutura alfa secundria em beta, que se encontrava retida entre as
lamelas de alfa.
Para as diferentes condies de tratamento trmico aplicado liga
metlica, foram observadas as variaes entre a quantidade das fases e
, em relao microestrutura original do material
TRABALHOS FUTUROS
Estudo para gros nanomtricos aplicados liga Ti-6Al-4V.
Consideraes tericas do modelo macroscpico aplicados trao, para
a escala nanomtrica.
121
REFERNCIAS BIBLIOGRFICAS
AHMED, T. & RACK, H. J. Phase transformations during cooling in + titanium
alloys MATERIALS SCIENCE & ENGINEERING, 243, 206-211, 1998.
AMERICAN SOCIETY FOR METALS (ASM). Metals handbook, ed.9, v.9, 458-
475, 1980.
AKAHORI, T.; NIINOMI, M. Fracture characteristics of fatigued Ti-6Al-4V ELI as
an implant materials. MATERIALS SCIENCE & ENGINEERING, 243, 237-243,
1998.
BALAZIC, M., KOPAC, J.,JACKSON, M.J. and AHMED, W. Review: titanium and
titanium alloy applications in medicine, Int. J . Nano and Biomaterials, v. 1, n. 1,
p.334, 2007.
BANTOUNAS, I.; LINDLEY, T.; RUGG, D.; DYE, D. Effect of microtexture on
fatigue cracking in Ti-6Al-4V. ACTA MATERIALIA, 55, 5655-5665, 2007.
BAPTISTA, C. A. R. P. Modelagem preditiva do comportamento de trincas de
fadiga com aplicao ao titnio de pureza comercial. 2000. Tese (Doutorado).
Faculdade de Engenharia Qumica de Lorena, Lorena, So Paulo.
BLACKWOOD, D.J., Biomaterials: Past successes and future problems,
CORROSION REVIEWS, 21 (2-3):97-124, 2003.
BRAGA, N. A.; FERREIRA, N. G.; CAIRO, C. A. A. Obteno de titnio metlico
com porosidade controlada por metalurgia do p. QUM. NOVA, So Paulo, v. 30,
n. 2, 2007 .
BRIDIER, F.; VILLECHAISE, P.; MENDEZ, J. Analysis of the different slip systems
activated by tension in a titanium alloy in relation with local crystallographic
orientation. ACTA MATERIALIA, 53, 555-567, 2005.
CASTANY, P., PETTINARI-STURMEL, F.; DOUIN. J.; COUJOU, A. In situ
transmission electron microscopy deformation of the titanium alloy Ti-6Al-4V:
Interface behaviour. MATERIALS SCIENCE & ENGINEERING A, v.483-487, 719-
722, 2008.
COUTO, A. A.; FALDINI, S.B.; ALMEIDA, G.F.C.; SEKERES, T.S.; KUNIOSHI,
C.T.; MORCELLI, A.E.; LIMA, N.B. Caracterizao microestrutural da liga Ti-6Al-
4V comercial utilizada como biomaterial. In:17 Congresso Brasileiro de
Engenharia e Cincias dos Materiais,15-19 de novembro,2006, Foz do Iguau,
122
Paran, Brasil. p. 4365-4376.
CHANG, E. & LEE, T.M. Effect of surface chemistries and characteristics of
Ti6Al4V on the Ca and P adsorption and ion dissolution in Hanks ethylene
diamine tetra-acetic acid solution. BIOMATERIALS, 23, 2917-2925, 2002.
DING, R.; GUO, Z.; WILSON,A. Microstructural evolution of a Ti-6Al-4V alloy
during themomechanical processing. MATERIALS SCIENCE & ENGINEERING,
327, 233-245, 2002.
DUISABEAU, L.; COMBRADE, P.; FOREST, B. Environmental effect on fretting of
metallic materials for orthopaedic implants, WEAR, 259, 805-81, 2004.
EISENBARTH, E., VELTEN, D., MLLER, M., THULL, R., BREME, J.
Biocompatibility of -stabilizing elements of titanium alloys. BIOMATERIALS. 25,
5705-5713, 2004.
GEETHA, M., SINGH, A.K., ASOKAMANI, R., GOGIA, A.K. Ti based biomaterials,
the ultimate choice for orthopaedic. implants A review. PROGRESS IN
MATERIALS SCIENCE, 54, 397425, 2009.
GURAPPA, I. Characterization of different materials for corrosion resistance under
simulated body fluid conditions. MATERIALS CHARACTERIZATION, 49, 73-79,
2002
JESUINO, G.A.; RIBEIRO, L.M.F., NAKAZATO, R.Z.; CODARO, E.N.; O.HEIN,
L.R. Propriedades mecnicas e resistncia corroso da liga Ti-4Al-4V obtida da
reciclagem da liga Ti-6Al-4V. MAT. RES., So Carlos, v. 4, n. 2, 63-69, 2001.
IORIO, S. D., BRIOTTET, L., RAUCH, E.F., GUICHARD, D. Plastic deformation,
damage and rupture of PM Ti-6Al-4V at 20K under monotonic loading. ACTA
MATERIALIA. 55, 105-118, 2007.
KATZ, J. L. Anisotropy of Young's modulus of bone. NATURE, 283, 106107,
1980.
KNOLL, P.K. & SCHAEFFER, L. Anlise microestrutural da liga de titnio +, Ti-
6Al-4V, forjada quente. In: 17 Congresso Brasileiro de Engenharia e Cincias
dos Materiais,15-19 de novembro,2006, Foz do Iguau, Paran, Brasil. p. 7440-
7451.
LONG, M. & RACH, H. J. Titanium alloys in total joint replacement a material
science perspective. BIOMATERIALS. 19, 1621-1639, 1998.
LTJERING, G. Property optimization through microstructural control in titanium
and aluminum alloys, Materials Science and Engineering A, Vol. 263, p.117,
123
1999.
LTJERING, G. AND WILLIAMS, J.C. (2003) Titanium, Berlin: Springer-Verlag
MAJORELL, A.; SRIVATSA, S.; PICU, R.C. Mechanical behavior of Ti-6Al-4V at
high and moderate temperatures part I: experimental results. MATERIALS
SCIENCE & ENGINEERING, A326, 297-305,2002.
MANERO, J.M.; GIL, F.J.; PLANELL, J.A. Deformation mechanisms of Ti-6Al-4V
alloy with a maertensitic microstructure subjected to oligocyclic fatigue. ACTA
MATERIALIA, 48, 3353-3359, 2000.
MARKOVSKY, P.E. Improvement of structure and mechanical properties of cast
titanium alloys using rapid heat treatment, MATERIALS SCIENCE AND
ENGINEERING A, v. 190, L9-L12, 1995.
MARMY, P.; LEGUEY, T. Z. Impact of irradiation on the tensile and fatigue
properties of two titanium alloys. JOURNAL OF NUCLEAR MATERIALS, 296,
155-164, 2001.
MARTIN, P. Effects of hot working on the microstructure of Ti alloys. MATERIALS
SCIENCE & ENGINEERING, 243, 89-96, 1998.
MELO, P. J. Formao e caracterizao de xidos crescidos anodicamente
sobre Ti e Ti6Al4V. 2003. Tese (Doutorado). Universidade Federal do Rio
Grande do Sul, Rio Grande do Sul. Disponvel em: <
http://www.lume.ufrgs.br/handle/10183/5024>. Acesso em: 17 mar. 2009.
MELO, A.L.V. Anlise das propriedades de chapas de titnio ASTM grau 5
(Ti6Al4V) soldadas a laser Nd:YAG. 2007. Dissertao (Mestrado). Instituto
Militar de Engenharia, Rio de Janeiro. Disponvel em: <
http://www.ime.eb.br/arquivos/teses/se4/cm/analisepropriedades_alexandrelyrio.p
df>. Acesso em: 22 ago. 2009.
MIRONOV, S.; MURZINOVA, M.; ZHEREBTSOV, S.; SALISHCHEV, G. A.;
SEMIATIN, S.L. Microstructure evolution during warm working of Ti-6Al-4V with a
colony- microstructure. ACTA MATERIALIA, 57, 2470-2481, 2009.
MORAIS, L.S.; SERRA, G.G.; MULLER, C.A..;PALERMO, E.F.A.; ANDRADE,
L.R.; MEYERS, M.A.; ELIAS, C.N. Liberao in vivo de ons metlicos por mini-
implantes ortodnticos de Ti-6Al-4V, REVISTA MATRIA, v.12, 290-297, 2007.
MURR, LU.; QUINONES, S.A.; GAYTAN, S.M.; LOPEZ, M.I.; RODELA, A.;
MARTINEZ, E.Y.; HERNANDEZ, D.H.; MARTINEZ, E.; MEDINA, F.; WICKER,
R.B. Microstructure and mechanical behavior oh Ti-6Al-4V produced by rapid-layer
manufacturing, for biomedical applications. J. MECH. BEHAVIOR BIOMED.
124
MATER. 2,20-32, 2009.
NAN, H.; YUANRU, C.; GUANGJUN, C.; CHENGGANG. L.; ZHONGGUANG, W.;
GUO, Y.; HUEBE, S.; XIANGHUAI, L.; ZHIHONG, Z. Research on the fatigue
behavior of titanium based biomaterial coated with titanium nitride film by ion
beam enhanced deposition. SURFACE AND COATING TECHNOLOGY, 88, 127-
131, 1996.
NAKAJIMA, K.; TERAO, K.; MIYATA, T. The effect of microstructure on fatigue
crack propagation. MATERIALS SCIENCE & ENGINEERING. 243, 176-181,
1998.
NIINOMI, M. Mechanical properties of biomedical titanium alloys. MATERIALS
SCIENCE & ENGINEERING, A243, 231-236, 1998.
NIINOMI, M; KOBAYASHI, T. Fracture characteristics analysis related to the
microstructures in titanium alloys. MATERIALS SCIENCE & ENGINEERING,
A213, 16-24, 1996.
OEHRING, M.; APPEL, F.; ENNIS, P. J.; WAGNER,R. A TEM study of
deformations processes and microstructural changes during long-term tension
creep of a two-phase titanium aluminide alloy. INTERMETALLICS, 7, 335-345,
1998.
OLIVEIRA, P. T. & NANCI, A. Nanotexturing of titanium-based surfaces
upregulates expression of bone sialoprotein and osteopontin by cultured
osteogenic cells. BIOMATERIALS, 25, 403-413, 2004.
PETERS, M., HEMPTENMACHER, H., KUMPFERT, J. and LEYENS, C. In C.
Leyens and M. Peters (Eds). Titanium and Titanium Alloys, Wiley-VCH, pp.157,
2003.
POORGANJI, B.; YAMAGUCHI, M.; ITSUMI, Y.; MATSUMOTO, K.; TANAKA, T.;
ASA, Y.; MIYAMOTO, G.; FURUHARA, T. Microstructure evolution during
deformation of near- titanium alloy with different initial structures in two-phase
region. SCRIPTA MATERIALIA, 61, 419-422, 2009.
REISSIG, L.; VLKL, R.; MILLS, M.J.;GLATZEL,U. Investigation of near surface
structure in order to determine process-temperatures during different machining
processes of Ti6Al4V. SCRIPTA MATERIALIA, 50, 121-126, 2004..
SALEM, A.A. & SEMIATIN, S.L. Anisotropy of the hot plastic deformation of Ti-6Al-
4V single-colony samples. MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING A,508,
114-120,2009
SEMIANTIN, S.L.; SEETHARAMAN, V.; GHOSH, A.K. Plastic flow, microstructure
evolution, and defect formation during primary hot working of titanium and titanium
125
aluminide alloys with lamellar colony microstructures. THE ROYAL SOCIETY,
A357, 14871512, 1999.
SERRA, A., BACON, D.J., POND, R.C. Twins as barriers to basal slip in
hexagonal-closed-packed metals, METALL. MATER. TRANS , 33A(3), 809-812,
2002.
SESHACHARYULU, T.; MEDEIROS, S.C.; FRAZIER, W.G.; PRASAD, Y.V.R.K.
Microstructural mechanisms during hot working of commercial grade Ti-6Al-4V
with lamellar starting structure. MATERIALS SCIENCE & ENGINEERING, A325,
112 25; 2002.
SMITH, C. Paper Review: Nonbasal deformation modes of HCP metals and
alloys:role of dislocation source and mobility, In: TMS 2008, 137
th
Annual meeting
& exhibition, 2008. Disponvel em: http://hrgd.mse.uuc.edu/images/pdf/hcpdef.pdf.
Acesso em 20 set 2009.
SONG, Y.; XU, D.; YANG, R.; LI, D.; WU, W.;GUO, Z. Theoretical study of the
effects of alloying elements on the strength .MATERIALS SCIENCE AND
ENGINEERING , 260, 269-274, 1999.
TECNOLOGIA, Aos inoxidveis austenticos especiais para implantes
ortopdicos, INOX, 9-10,set/dez, 2003.
XUE, W.; WANG, C.; CHEN, R.; DENG, Z. Structure and properties
characterization of ceramic coatings produced on Ti-6Al-4V alloy by microarc
oxidation in aluminate solution. MATERIALS LETTERS, 52, 435-441,2002.
YAMAGUSHI, M.; INUI H.;YOKOSHIMA, S.; KISHIDA, K.; JOHNSON, D. R.
Recent progress in our understanding of deformation and fracture of two phase
and single phase TiAl alloys. MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING , 243,
25-31, 1996.
YOO, M.H, MORRIS, J.R., HO, K.M., AGNEW, S.R. Nonbasal deformation modes
of HCP metals and alloys:role of dislocation source and mobility, METALL.
MATER. TRANS , 33A(3), 813-822, 2002.
YUE, T.M.; YU, J.K.; MEI, Z.; MAN, H.C. Excimer laser surface treatment of Ti-
6Al-4V alloy for corrosion resistance enhancement, MATERIALS LETTERS, 52,
206-212, 2002.
WANG, K. The use of titanium for medical applications in the USA, MATERIALS
SCIENCE & ENGINEERING, 213, 134-137, 1996.
WANJARA, P., BROCHU, M., JAHAZI, M. Ti6Al4V electron beam weld
qualification using laser scanning confocal microscopy, MATERIALS
126
CHARACTERIZATION 54, 254 262, 2005.
WEISS, I. & SEMIATIN, S. L. Thermomechanical processing of beta titanium
alloys- an overview. MATERIALS SCIENCE & ENGINEERING, 243, 46-65, 1998.
ZAEFFERER, Z. A. study of active deformation systems in titanium alloys:
dependence on alloy composition and correlation with deformation texture,
MATERIALS SCIENCE & ENGINEERING, A344, 20-30, 2003.