Anda di halaman 1dari 5

J: Mikroskopi dan Mikroanalisis Vol3 No.

1 2000
ISSN 1410-5594
PENGOLAHAN CITRA DIGITAL DAN ANALISIS KUANTITATIF
DALAM KARAKTERISASI CITRA MIKROSKOPIK
M. Syamsa Ardisasmita
Pusbangteklnformatika dan Komputasi -BATAN Kawasarl PUSPIPTEKSerpong 15310
ABSTRAK
PENGOI.AHAN CITRA DIGITAL DAN ANALISIS KUANnTATIF DALAM KARAKTERISASI CITRA
MIKROSKOPIK. Banyak peralatan mikroskop elektron walaupun sudah berupa citra digital tetapi belum seluruhnya dilengkapi
perangkat penunjang untuk melakukan pengolahan dan analisis citra secara kuantitatif. Umumnya analisis dilakukan secara visual
dan pengukuran dilakukan secara manual. Perkembangan metoda matematika baik untuk analisis bentuk maupun untuk pengenalan
pola, memungkinkan dapat dilakukan analisis citra mikroskopik secara otomatis menggunakan komputer. Program pengolahan
citra dapat digunakan untuk analisis tekstur atau struktur periodik daTi citra dengan menggunakan transformasi Fourier. Untuk
memperjelas tampilan obyek terhadap latar belakang dapat dilakukan dengan mengubah histogram citra. Dengan berkembangnya
bahan-bahan komposit, analisis Fourier dalam domain frekuensi menjadi penting yaitu untuk mengukur orientasi kristalograti
Analsis struktur periodik dan orientasi kristal adalah kunci untuk memahami banyak sifat-sifat material seperti kekuatan mekanik,
kelenturan, konduktivitas panas, resistansi, kapasitansi dan sifat-sifat listrik dan magnit bahan lainnya. Dalam makalah ini akan
ditunjukkan aplikasi dari program pengolahan dan analisis citra digital pada citra mikroskopik
ABSTRACT
THE DIGITAL IMAGE PROCESSING AND QUANTITATIVE ANALYSIS IN MICROSCOPIC IMAGE
CHARACTERIZATION. Many electron microscopes although have produced digital images, but not all of them are equipped
with a supporting unit to process and analyse image data quantitatively. Generally the analysis of image has to be made visually
and the measurement is realized manually. The development of mathematical method for geometric analysis and pattern recogni-
tion, allows automatic microscopic image analysis with computer. Image processing program can be used for image texture and
structure periodic analysis by the application of Fourier transform. Because the development of composite materials, Fourier
analysis in frequency domain become important for measure the crystallography orientation. The periodic structure analysis and
crystal orientation are the key to understand many material properties like mechanical strength, stress, heat conductivity,
resistance, capacitance and other material electric and magnetic properties. In this paper will be shown the application of digital
image processing in microscopic image characterization and analysis in microscopic image.
1. PENDAHULUAN
Mikroskop adalah alat yang memungkinkan
perbesaran citra obyek untuk mengamati rincian daTi
obyek tersebut. Perkembangannya mulai daTi mikroskop
optik yang menggunakan satu seri lensa gelas untuk
membelokkan gelombang cahaya tampak agar
menghasilkan citra yang diperbesar, mikroskop
petrografik, mikroskop medan-gelap, mikroskop rasa,
mikroskop ultraviolet, mikroskop medan dekat daD
mikroskop elektron yang menggunakan berkas elektron
untuk mengiluminasi obyek. Jenis mikroskop optik
umuoulya tidak dapat membentuk citra yang lebih kecil
daTi pada panjang gelombang cahaya yang digunakan,
jadi kekuatan perbesaran mikroskop optik dibatasi oleh
panjang gelombang cahaya. Elektron memiliki panjang
gelombang yang jauh lebih kecil daripada panjang
gelombang cahaya, jadi mikroskop elektron dapat melihat
struktur yang lebih kecil. Panjang gelombang cahaya
tampak terkecil adalah 4.000 angstroms, sedangkan
panjang gelombang elektron yang digunakan pada
mikroskop elektron biasanya dalam orde angstrom
tergantung tegangan pemercepat yang digunakan
(J. = .Ji5OlV). Dengan mikroskop elektron dapat
diperoleh perbesaran obyek dengan resolusi tinggi
sampai ratusan ribu kali dibandingkan mikroskop optik
yang maksimum hanya dua ribu kali perbesaran dengan
rincian obyek kurang terlihat dengan jelas. Daya pemisah
yang besar pada mikroskop elektron dapat diturunkan
daTi persamaan limit resolusi suatu lensa:
D = 0,61), /(n sin 8) .
Ada dua jenis mikroskop elektron: mikroskop
eletron transmisi (TEM -transmission electron micro-
25
Pengolahan Citra Digital dan Analisis Kuantitatif dalam Karakterisasi Citra Mikroskopik
(M. Syarnsa Ardisasmita 25-29)
dapat dilakukan peIbaikan kualitas penampilan cilIa dan
beberapa koreksi linear yang menjadi somber degradasi
seperti kurang fokusnya gambar yang menyebabkan
kekaburan. Transformasi Fourier dua dimensi
dipergunakan untuk menghitung spektrum energi citra
pada domain frekuensi. PeIbaikan penampilan citra dan
koreksi linear dapat dilakukan dengan filter komponen-
komponen frekuensi. Pilihan jenis filter tergantung pada
frekuensi guling dari peralatan sistem optik dan faktor
linear yang menyebabkan kualitas citra mengalami
degradasi. Setelah itu transformasi Fourier balik pada
komponen-komponen frekuensi akan mengembalikan
citra terkoreksi ke domain spasial. Karena data citra digi-
tal sangat besar maka untuk meningkatkan waktu
perhitungan algoritma transformasi Fourier cepat (FFT),
scope) dan mikroskop elektron sapuan (SEM -scan-
ning eleclron microscope). Setiap mikroskop elektron
memiliki senapan elektron yaitu sumber filamen yang
dipercepat oleh suatu pelat anoda yang memancarkan
berkas elektron untuk mengiluminasi lembaran cuplikan.
Lensa magnetik silinder dibuat untuk mengfokuskan
elektron sehingga diperoleh citra obyek pacta sistem
penyimpan alau penampil. Pacta TEM, berkas elektron
dipancarkan langsung melalui obyek yang akan
diperbesar, sebagian diserap dan sebagian lainnya
dilewatkan. Obyek tersebut harus dipotong sangat tipis
agar dapat dilihat dengan TEM yaitu tebalnya harus lebih
kecil daTi beberapa ribu angstrom. Biasanya pelat
fotografi atau layar flouresensi ditempatkan dibelakang
cuplikan untuk menangkap citra dan perbesaran yang
dihasilkan bisa mencapai satu juta kali.
Sedangkan pacta SEM, berkas elektron difokuskan
tajam dan digerakkan sepanjang cuplikan. Berkas elektron
tersebut dihamburkan langsung oleh cuplikan
membentuk elektron pantulan balik (backs-cattered) atau
menghasilkan pancaran elektron sekunder. Pancaran
elektron sekunder dan backscattered ini dihimpun dan
dicacah oleh detektor sekunder atau detektor backs-cal-
ler yang diletakkan dekat cuplikan, kemudian diubah
menjadi tegangan dan dikuatkan oleh rangkaian penguat.
Formasi citra pacta SEM tidak secara langsung jika
dibandingkan dengan TEM. Sapuan pacta cuplikan
membetuk elemen gambar (pixel) pacta monitortelevisi.
Jurnlah cacahakanmemberikanketerangandari pixel. Citra
permukaan cuplikan sebagai basil sapuan elektron terlihat
dipeIbesar pacta layar tabung televisi. Sifat yang menarik
pacta SEM adalah memberikan tingkat perbesaran yang
tinggi dan kedalaman fokus yang besar. Tidak seperti
pacta TEM, SEM dapat memperlihatkan rincian daTi
permukaan obyek dalam kualitas tiga-dimensi.
Karena umumnya basil yang diperoleh daTi
pengamatan mikroskop berupa gambar fotografi, analisis
biasanya dilakukan secara visual. Walaupun sistem
pencitraan mikroskop elektronik sudah bempa citra digital
tetapi belum seluruhnya dilengkapi perangkat penunjang
untuk melakukan pengolahan dan analisis citra secara
kuantitatif. Pacta peralatan tersebut, umumnya analisis
dilakukan secara visual dan pengukuran, misalnya luas
dan keliling obyek dilakukan secara manual. Kesulitan
akan dihadapi jika jumlah obyek besar, bentuknya tidak
beraturan dan acta pula yang saling bertindihan. Jika
dapat dilakukan otomatisasi pengukuran parameter
obyek tentu akan sangat membantu kecepatan analisis
dan ketepatan interpretasinya. Oleh karena itu perlu
dikembangkan sistem pengolahan citra serbaguna yang
andal dan murah dengan menerapkan berbagai metoda
matematika baru untuk pengolahan, analisis dan
interpretasi citra digital daTi suatu sistem pencitraan.
Transformasi Fourier merupakan perangkat
matematika penting dalam pengolahan sinyal dan analisis
citra digital, yaitu untuk menghubungkan antara domain
spasial dengan domain frekuensi. Pacta domain frekuensi
2. PRINSIP PEMBENTUKKAN CITRA
PAD A MIKROSKOP ELEKTRONIK
Gambar 1 memperlihatkan bahwa lensa proyektor
daD lensa obyektif memperbesar citra obyek. Dengan
memperlakukan elektron sebagai gelombang rnaka dapat
kita sederhanakan ada tiga bidang pada mikroskop
elektronik yang kita gunakan untuk menghitung
amplituda kompleks daTi gelombang medan elektron.
Senapan Elektron
\7
Prinsip pembentukan citra pada mikroskop Gambar. 1
elektron
26
J. Mikroskopi dan Mikroanalisis Vol 3 No.1 2000
ISSN 1410-5594
2.1. Bidang obyek
3. ANALISIS FOURIER
Untuk mengetahui gelombang medan yang keluar
daTi pennukaan obyek maka hams kita ketahui sifat -sifat
fisik dari interaksi antara elektron tersebut dengan obyek.
Menumt Cowley dan Moodie (1957) interaksi antara
suatu berkas elektron dengan obyek dapat digambarkan
dengan pendekatan mullislice dimana elektron menjalar
melalui lapisan-lapisan obyek dan dihamburkan oleh
potensial kristal. Hamburan elektron ini dapat dinyatakan
dengan fungsi fasa-kisi (fungsi transmisi obyek), fungsi
kompleks dari proyeksi potensial dan fungsi propagasi
elektron.
2.2. Bidang fokallensa obyektif
Gelombang medan elektron pada bidang fokal
dati lensa dapat diturunkan dengan menggunakan
transformasi Fourier dari medan gelombang yang keluar
daTi permukaan obyek. Hasilnya adalah distribusi
amplitudo difraksi dati pembuka obyektif.
2.3. Bidang citra
daD sudut rasa spektrum
O(v) = tan
Medan gelombang elektron pada bidang citra
diturunkan dari medan gelombang pada bidang fokal
lensa obyektif dengan memperhitungkan pengarnh dari
lubang lensa obyektif dan perubahan rasa yang
diakibatkan oleh lensa obyektif. Jadi untuk menghitung
amplitudo citra harns ditentukan fungsi tranfer lensa dan
fungsi lubang lensa terlebih dahulu.
Masalah untuk mensimulasi citra mikroskop
elektron menjadi masalah untuk menghitung medan
gelombang elektron pada tiga bidang mikroskop diatas.
Elektron sangat peka terhadap potensial kristal sehingga
mikroskop elektron resolusi tinggi sangat terkait dengan
distribusi potensial di dalam kristal. Akibatnya besarnya
hamburan elektron-elektron oleh bahan tergantung pada
ketebalan kristal. Sistem pencitraan mikroskop elektron
dapat dikarakterisasikan oleh fungsi transfer yang
mengubah amplitudo daD rasa komponen-komponen
Fourier. Artinya citra-citra mikroskop elektron resolusi
tinggi sangat tergantung pada ketebalan cuplikan daD
fungsi transfer mikroskop (defokus).
Ximag (v)
X real (v)
Citra mikroskopik dapat dikatakan sebagai sinyal
dua dirnensi, yang digambarkan dalarn bentuk fungsi dua
peubah f(x,y). Peubah x dan y rnenyatakan koordinat
spasial dan nilai fungsi rnenyatakan intensitas cahaya.
Transforrnasi Fourier diskrit dua dirnensi dari fungsi f(x,y)
dinyatakan dengan:
1 M-l N-l .
2...1
IN 1M) F(u, v) = -L L f(x, y) e-.l ,.,UX +ry
NMy=Ox=O
dengan N adalahjumlah baris daD Mjumlah kolom.
N-! N-!
N-!
(0,0) (0,0)
x
(0,0)
Transforrnasi
~.~ B .
arls
T~~sfonn;
Kolom
N-! N-] N.l
y
Gambar 2. Transformasi Fourier 2 dimensi melalui dua
27
3.1. Transformasi Fourier Diskrit
Transformasi Fourier diskrit dipergunakan untuk
menghitung spektrum amplituda dan rasa dari suatu
sinyal. Jika diperoleh N buah data basil pencuplikan dalam
domain waktu dari suatu fungsi x, maka transformasi
Fourer diskrit fungsi tersebut didetinisikan sebagai:
I N-I -j27l"\o!n
3{x(n)} = X(v) = -L x(n)e
N n=O
Hasil dari perhitungan ini merupakan bilangan
kompleks yang dinyatakan dengan :
X(v) = X (v) + j XDllog(V)
dimana X_, dan X adalah harga nilai real dan nilai
.-unag
imajiner dari spektrum.Jika dipecah dalam komponen
modul amplituda dan rasa spektrum menjadi :
X(v) = IX(v)lej(}(V)
Modul spektrum Fourier dinyatakan dengan :
Pengolahan Citra Digital dan Analisi.\" Kuantitatif dalam Karakteri.\"asi Citra Mikroskopik
(M. Syamsa Ardisasmita 25-29)
Dari persamaan diatas terlihat bahwa transfom1a5i
Fourier dua dimensi merupakan gabungan daTi
transformasi Fourier satu dimensi, baris demi baris
sehingga dihasilkan fungsi F(u,y). Kemudian dilanjutkan
transformasi Fourier satu dimensi kolom demi kolom
sehingga diperoleh hasil akhir dalam domain frekuensi
F(u, v). Peubah u daD v pada domain frekuensi masing-
masing berhubungan dengan peubah spasial x daD y.
Hasilnya terlihat pacta spektrum frekuensi berupa titik-
titik terang vertikal. Jika titik -titik terang vertikal tersebut
dihilangkan, maka akan diperoleh citra awal tanpa
gangguan pola-pola pita horizontal dari latar belakang.
Gambar 4a meperlihatkan citra obyek dengan Jatar
belak~mg pita-pita horizontal. Kemudian dilakukan
transformasi Fourier sehingga menghasilkan spektrum
frekuensi citra pacta gambar 4b. Filter dilakukan pacta
spektrum frekuensi dari titik-titik vertikal yang
berhubungan dengan pola pita-pita horizontal
(Gambar 4c). Akhirnya dengan transformasi Fourier
inverse diperoleh citra tanpa pola-pola pita (Gambar 4d).
Analisis Fourier dapat digunakan untuk
mengukur posisi, area dan parameter partikellcunnya dari
suatu citra. Gambar 5 memperlihatkcm bclhwa elemen-
elemen periodik partikel ernas dalam daerclh pcngamataJl
segi-empat adalah mempunyai struktur periodik dari
kanan atas ke kiri bawah. Perhitunganjarak garis aJltclfa
dua posisi batas spektra ditunjukkan pacta kotak kontrol
yaitu 8,71 (I/nm). Makajarak rucmg dari partikel awllah
4,35 (I/nm) atau 0,23 nm, yang berhubungan dengan
bidangkisi [1,1,1].
3.2. Fungsi Transfer Mikroskop
Fungsi transfer mikroskop ada.lah tanggap
frekuensi dalam bentuk frekuensi spa sial dari suatu
sistem yang berhubungan dengan distribusi sinusoida
dari intensitas cahaya pada bidang obyek. Gambar 3
memperlihatkan fungsi transfer modulasi dari suatu sistem
optik yang mengalami defokalisasi tanpa adanya aberasi
yang dihitung dengan metoda analitis oleh Hopkins.
0,&
0.2
0.0
-O.~I I I I '-
0 0.5 1.0 1.5 2
Normalized spatlilirequency.
Gbr. 3 -Kurva fungsi transfer modulasi dari suatu sistem
terdefokalisasi
Filterisasi dalam domain frekuensi dilakukan
dengan mengalikan fungsi transfer optik H(u, v) dengan
spektrum frekuensi F(u, v) sehingga diperoleh spektrum
citra yang telah terkoreksi.
G(u, v) == H(u, v).F(u, v)
Setelah itu transformasi Fourier inverse pada
komponen-komponen frekuensi akan mengembalikan
citra terkoreksi G(u, v) daTi domain frekuensi ke domain
spasial. Hasilnya adalah citra yang bebas daTi degradasi
alan penajaman pada komponen-komponen tertentu yang
lebih ditonjolkan.
Gambar 4. Filter untuk menghilangkan pola-pola pita
pacta citra awal.
4. HASn.. DAN PEMBAHASAN
4.1. Analisis spektrum energi
Penggunaan analisis Fourier terutama untuk
mengoreksi pola-pola gangguan yang bersifat periodik.
Misalnya pola-pola pita horizontal yang diakibatkan oleh
perbedaan intensitas latar belakang pada waktu
penyapuan kamera. Pola pola pita periodik pada spektrorn
frekuensi identik dengan transformasi Fourier jendela
segi-empat yang hasilnya berupa sinus kardinal sempit.
Gambar 5. Analisis metrik spektrum frekuensi ci1
partikel emas.
28
1: Mikro.5kopi dun Mikroanalisis Vol3 No.1 2000
ISSN 14JO-5594
struktur granularity pacta domain spasial. Dengan
melakukan operasi penambahan dua kali citra struktur
granularity ke citra awal (f + 2i) kita dapat memperoleh
citra mikroskopik graftt karbon yang lebihjelas.
4.2. Penajaman struktur periodik citra
Pengolahan cilIa dengan metoda Fourier dapat
juga dilakukan untuk menajamkan struktur periodik daTi
suatu citra. Gambar 6 memperlihatkan tahapan-tahapan
yang dilakukan untuk menajamkan struktur periodik citra
rnikroskopik grafit karbon. Pengamatan daTi spektrum
frekuensi memperlihatkan adanya cincin puncak terang
yang berhubungan dengan granularity pada citra awal.
Dengan melakukan mask kita dapat memperoleh
spektrum frekuensi yang berhubungan dengan
transformasi Fourier struktur granularity tersebut.
Transformasi Fourier inverse memberikan citra daTi
4.3. Perbaikan out-of-focus <Jengan de-
konvolusi digital
Perbaikan degradasi citra akibat kurang fokusnya
engambilan dilakukan dengan perhitungan parameter-
parameter defokalisasi. Parameter -parameter kritis yang
hams diperhatikan pacta TEM adalah fokus, astign1atism
daD ketidak tepatan penempatan.
5. KESIMPULAN
Perkembangan metoda matematik baik untuk
analisis bentuk maupun untuk pengena.lan pola,
memungkinkan dapat dilakukannya analisis citra secara
otomatis menggunakan komputer. Program pengolahan
citra tersebut dapat digunakan untuk ana.lisis tekstur dan
struktur periodik da.iam digital mikrografi dengan
menggunakan transformasi Fourier. Penggunaan analisis
Fouriertemtama untuk mengkoreksi pola-pola gangguan
yang bersifat periodik.
Dengan berkembangnya bahan-bahan komposit,
ana.iisis kuantitatif untuk mengukur jumlah orientasi
kristalografi menjadi sangat penting. Analisis struktur
periodik daD orientasi kristal adalah kunci untuk
memahami banyak sifat-sifat material seperti kekuatan
mekanik daD kelenturan, konduktivitas panas, resistensi
daD kapasitansi listrik, dan sifat-sifat listrik dan magnit
bahan.
6. DAFTAR PUSTAKA
Gambar 6. Penajaman struktur periodik citra mikroskopik
grafit karbon
[I]. M.BORNANDW. WOLF, "Principles of Optics",
1980, Pergamon Press.
[2]. M.COWLEY ANDA.F.MOODIE,ActaCry.'Jt. 1957,
10609-619.
[3]. MCOWLEY ANDA.F.MOODIE,ActaC'ry.~t.1959.
12,353-357.
[4]. K. ISHIZUKA, Ultramicroscopy, 1980,5,55-65.
[5]. C.S. WILLIAMS AND O.A. BECKLUND, 'intro-
duction to Optical Transfer Function", W., 1989,
John Wiley & Sons.
[6]. J.C.H. Spence and J.M. Zuo, "Electron
Microdiffraction", 1992, New York -London, Ple-
numPress.
Gambar 7. Koreksi citra yang buram karena tidak fokus
dalam pengambilan
Kembali ke Jurnal