Anda di halaman 1dari 8

tugas

Atomic Force
Microscopy (AFM)
KARAKTERISASI MATERIAL ANORGANIK
Magister kimia
UNIVERSITAS LAMPUNG 2014
Nama Mahasiswa :

1. Muhamad Nurissalam
2. Bambang Iswantoro
3. Hastin Kurniasih
4. widyastuti
5. novi akam sabriani
6. Suparwaty
7. lucy antari
8. R. Tri Endah W.


ATOMIC FORCE MICROSCOPY (AFM)


Pengertian atomic force micrscopy

Atomic Force Microscopy (AFM) adalah suatu alat untuk melihat, memanipulasi
atom-atom di dimensi nano. Alat ini ditemukan pada th 1986 oleh Gerg Binnig,
Calfin F Quate, dan Christoph Gerber ara Nano adalah satuan panjang sebesar
sepertriliun meter (1 nm=10-9m). Bahan berstruktur nano merupakan bahan yang
memiliki paling tidak salah satu dimensinya berukuran < 100 nm. AFM telah
banyak digunakan dalam menyelidiki struktur, fungsi dan spesifik sel pada biologi.
Secara khusus, telah menggunakan AFM untuk menyelidiki struktur-fungsi
hubungan antara bakteri Streptococcus mutans. Streptococcus mutans adalah dasar
aetiological pada gigi mati tulang manusia (gigi).

Atomic force microscope mampu menampilkan gambar dimana ukurannya lebih
kecil dari 20ms. Mikroskop ini juga memungkinkan menampilkan gambar yang
dari kristal yang lunak dan permukaan polimer (A.D.L.Humphris, M.J.Miles, and
J.K.Hobbsb, 2005). AFM memiliki beberapa kelebihan dibanding dengan scanning
electron microscope. Tidak seperti mikroskop elektron yang menghasilkan gambar
dua dimensi dari sampel, AFM memberikan gambaran sampel berupa tiga dimensi.
Selain itu sampel yang akan dilihat menggunakan AFM tidak memerlukan
perlakuan khusus, seperti melapisi dengan karbon, dll yang dapat menimbulkan
perubahan ireversibel ataupun kerusakan pada sampel. AFM dapat bekerja sebaik
mungkin dalam kondisi lingkungan seperti apapun.

Hal tersebut memungkinkan untuk melakukan studi biologi dan mengamati
kehidupan suatu organisme. Secara prinsip AFM menyediakan resolusi yang lebih
tinggi dibanding Scanning Electron Microscope (SEM). Sedangkan kelemahan
AFM dibanding dengan scanning electron microscope ada pada ukuran gambar.
SEM dapat menangkap gambar dengan unit mm x mm dengan lapang pandang
dalam mm. Sedangkan AFM hanya dapat menangkap gambar dengan ketinggian
maksimum dalam unit micrometer dan luas maksimum pengamatan 150 x 150
micrometer.

Mungkin yang dimaksud dalam hal ini yaitu kemampuan AFM yang hanya
menampilkan gambar yang ukurannya sangat kecil. Sehingga jika ukurannya cukup
besar, AFM tidak dapat menampilkan gambar. Adapun AFM ini terdiri dari
ujung jarum atau tip yang digunakan untuk memindai spesimen permukaan ,
Penyangga yang biasanya silicon atau silicon nitride dengan ujung radius berupa
lengkungan pada urutan nanometer Ketika ujung yang dibawa ke kedekat
permukaan sampel, memaksa ujung dan sampel mengalami pembelokan dari
penyangga menurut hukum Hooke.

Pembelokan diukur dengan menggunakan laser spot tercermin dari bagian atas
penyangga menjadi serangkaian photodiode. Metode lain yang digunakan optik
interferometry, capacitive sensing atau piezoresistive AFM cantilevers. Centilevers
ini siap untuk disamakan dengan element piezoresistive Menggunakan jembatan
Wheatstone di penyangga pembelokan dapat diukur, tetapi metode ini tidak sensitif
pada pembelokan laser atau interferometry.
Photodiode digunakan untuk menangkap hasil scan dari piezoelectric dimana akan
di tampilkan pada layar.

D. Prinsip dan Cara Kerja Alat

Mikroskop gaya atom terdiri dari sebuah penopang (cantilever) dengan ujung yang
tajam sebagai alat pemeriksa (probe) yang digunakan untuk memindai permukaan
spesimen. Penopang ini biasanya terbuat dari silikon ataupun silikon nitrida dengan
radius kelengkungan ujung mencapai bilangan nanometer. Ketika ujungnya dibawa
mendekati permukaan sampel, gaya antara ujung tajam pemindai dengan
permukaan sampel menyebabkan pelengkungan penopang sesuai dengan hukum
Hooke. Tergantung pada situasinya, gaya yang diukur AFM meliputi gaya kontak
mekanik, gaya van der Waals, gaya kapiler, ikatan kimia, gaya elektrostatik, gaya
magnet (lihat mikroskop gaya magnet, MFM), gaya Casimir, gaya pelarutan, dll.
Biasanya, kelengkungan ini diukur menggunakan spot laser yang dicerminkan dari
permukaan atas penopang menuju larik fotodioda. Metode-metode lain yang
digunakan meliputi interferometri optik, penginderaan kapasitif atau penopang
AFM piezoresistif. Penopang ini dibuat dari unsur-unsur pizoresistif yang dapat
berperilaku sebagai tolok regangan. Dengan menggunakan jembatan Wheatstone,
regangan pada penopang AFM yang dikarenakan oleh pelengkungan dapat diukur.
Namun, metode ini tidak sesensitif metode interferometri.

Adapun cara kerja dari alat ini sangat mudah, untuk masalah sampel yang
digunakan persyaratan nya hanya memiliki paling tidak salah satu dimensinya
berukuran < 100 nm.sample tidak perlu di lapisi dengan karbon atau lapisan apapun
yang dapat merusak sampel.untuk persiapan awal terhadap sampel adalah sebagai
berikut:
1. Letakkan sample pada tempat sample yang ada pada alat
2. Pastikan ujung tip berada tepat di permukaan sample
3. Hidupkan alat dan layar komputer

Untuk cara kerja alat AFM ini adalah:
1. Selama scan, tip 'jarum' dari cantilever (sensor) maju mundur sepanjang
permukaan sample
2. Gerak scan arah x,y, dan z dikontrol oleh tube scanner piezoelektrik
3. Untuk mendeteksi setiap defleksi dari jarum, digunakan laser yang dipantulkan
ke ujung tip, selanjutnya malalui cermin laser menuju fotodiode.
4. Piezoscanner dan photodiode terhubung melalui loop feedback, kemudian hasil
nya di tampilkan pada layar komputer yang telah tersedia

E. Input dan Output

Input dari alat AFM ini adalah atom /molekul yang berukuran < 100 nm. Output
dari alat ini berupa gambar tiga dimensi dari suatu atom/molekul.

F. Hasil Keluaran Alat AFM

Output/keluaran dari alat AFM adalah berupa gambar,dimana gambar yang
dihasilkan adalah gambar tiga dimensi sehingga gambar yang dihasilkan sangat
jelas, baik bentuk maupun struktur penyusun atom.

Perbedaan AFM, SEM dan Mikroskop optik

Berbicara tentang teknologi nano, maka tidak akan bisa lepas dari mikroskop, yaitu
alat pembesar untuk melihat struktur benda kecil tersebut. (Teknologi nano :
teknologi yang berbasis pada struktur benda berukuran nano meter. Satu nano
meter = sepermilyar meter). Tentu yang dimaksud di sini bukanlah mikroskop
biasa, tetapi mikroskop yang mempunyai tingkat ketelitian (resolusi) tinggi untuk
melihat struktur berukuran nano meter. Di bagian pertama tulisan ini, penulis
bermaksud untuk mengulas sejarah perkembangan mikroskop dan kemampuannya
dalam mengamati suatu obyek benda.

Kata mikroskop (microscope) berasal dari bahasa Yunani, yaitu kata micron=kecil
dan scopos=tujuan, yang maksudnya adalah alat yang digunakan untuk melihat
obyek yang terlalu kecil untuk dilihat oleh mata telanjang. Dalam sejarah, yang
dikenal sebagai pembuat mikroskop pertama kali adalah 2 ilmuwan Jerman, yaitu
Hans Janssen dan Zacharias Janssen (ayah-anak) pada tahun 1590. Temuan
mikroskop saat itu mendorong ilmuan lain, seperti Galileo Galilei (Italia), untuk
membuat alat yang sama. Galileo menyelesaikan pembuatan mikroskop pada tahun
1609, dan mikroskop yang dibuatnya dikenal dengan nama mikroskop Galileo.
Mikroskop jenis ini menggunakan lensa optik, sehingga disebut mikroskop optik.
Mikroskop yang dirakit dari lensa optic memiliki kemampuan terbatas dalam
memperbesar ukuran obyek. Hal ini disebabkan oleh limit difraksi cahaya yang
ditentukan oleh panjang gelombang cahaya. Secara teoritis, panjang gelombang
cahaya ini hanya sampai sekitar 200 nanometer. Untuk itu, mikroskop berbasis
lensa optik ini tidak bisa mengamati ukuran di bawah 200 nanometer.

Untuk melihat benda berukuran di bawah 200 nanometer, diperlukan mikroskop
dengan panjang gelombang pendek. Dari ide inilah, di tahun 1932 lahir mikroskop
elektron. Sebagaimana namanya, mikroskop elektron menggunakan sinar elektron
yang panjang gelombangnya lebih pendek dari cahaya. Karena itu, mikroskop
elektron mempunyai kemampuan pembesaran obyek (resolusi) yang lebih tinggi
dibanding mikroskop optik. Sebenarnya, dalam fungsi pembesaran obyek,
mikroskop elektron juga menggunakan lensa, namun bukan berasal dari jenis gelas
sebagaimana pada mikroskop optik, tetapi dari jenis magnet. Sifat medan magnet
ini bisa mengontrol dan mempengaruhi elektron yang melaluinya, sehingga bisa
berfungsi menggantikan sifat lensa pada mikroskop optik. Kekhususan lain dari
mikroskop elektron ini adalah pengamatan obyek dalam kondisi hampa udara
(vacuum). Hal ini dilakukan karena sinar elektron akan terhambat alirannya bila
menumbuk molekul-molekul yang ada di udara normal. Dengan membuat ruang
pengamatan obyek berkondisi vacuum, tumbukan elektron-molekul bisa
terhindarkan.

Ada 2 jenis mikroskop elektron yang biasa digunakan, yaitu tunneling electron
microscopy (TEM) dan SEM. TEM dikembangkan pertama kali oleh Ernst Ruska
dan Max Knoll, 2 peneliti dari Jerman pada tahun 1932. Saat itu, Ernst Ruska
masih sebagai seorang mahasiswa doktor dan Max Knoll adalah dosen
pembimbingnya. Karena hasil penemuan yang mengejutkan dunia tersebut, Ernst
Ruska mendapat penghargaan Nobel Fisika pada tahun 1986. Sebagaimana
namanya, TEM bekerja dengan prinsip menembakkan elektron ke lapisan tipis
sampel, yang selanjutnya informasi tentang komposisi struktur dalam sample
tersebut dapat terdeteksi dari analisis sifat tumbukan, pantulan maupun fase sinar
elektron yang menembus lapisan tipis tersebut. Dari sifat pantulan sinar elektron
tersebut juga bisa diketahui struktur kristal maupun arah dari struktur kristal
tersebut. Bahkan dari analisa lebih detail, bisa diketahui deretan struktur atom dan
ada tidaknya cacat (defect) pada struktur tersebut. Hanya perlu diketahui, untuk
observasi TEM ini, sample perlu ditipiskan sampai ketebalan lebih tipis dari 100
nanometer. Dan ini bukanlah pekerjaan yang mudah, perlu keahlian dan alat secara
khusus. Obyek yang tidak bisa ditipiskan sampai order tersebut sulit diproses oleh
TEM ini. Dalam pembuatan divais elektronika, TEM sering digunakan untuk
mengamati penampang/irisan divais, berikut sifat kristal yang ada pada divais
tersebut. Dalam kondisi lain, TEM juga digunakan untuk mengamati irisan
permukaan dari sebuah divais.

Tidak jauh dari lahirnya TEM, SEM dikembangkan pertama kali tahun 1938 oleh
Manfred von Ardenne (ilmuwan Jerman). Konsep dasar dari SEM ini sebenarnya
disampaikan oleh Max Knoll (penemu TEM) pada tahun 1935. SEM bekerja
berdasarkan prinsip scan sinar elektron pada permukaan sampel, yang selanjutnya
informasi yang didapatkan diubah menjadi gambar. Imajinasi mudahnya gambar
yang didapat mirip sebagaimana gambar pada televisi.

Cara terbentuknya gambar pada SEM berbeda dengan apa yang terjadi pada
mikroskop optic dan TEM. Pada SEM, gambar dibuat berdasarkan deteksi elektron
baru (elektron sekunder) atau elektron pantul yang muncul dari permukaan sampel
ketika permukaan sampel tersebut discan dengan sinar elektron. Elektron sekunder
atau elektron pantul yang terdeteksi selanjutnya diperkuat sinyalnya, kemudian
besar amplitudonya ditampilkan dalam gradasi gelap-terang pada layar monitor
CRT (cathode ray tube). Di layar CRT inilah gambar struktur obyek yang sudah
diperbesar bisa dilihat. Pada proses operasinya, SEM tidak memerlukan sampel
yang ditipiskan, sehingga bisa digunakan untuk melihat obyek dari sudut pandang
3 dimensi.

Demikian, SEM mempunyai resolusi tinggi dan familiar untuk mengamati obyek
benda berukuran nano meter. Meskipun demikian, resolusi tinggi tersebut
didapatkan untuk scan dalam arah horizontal, sedangkan scan secara vertikal
(tinggi rendahnya struktur) resolusinya rendah. Ini merupakan kelemahan SEM
yang belum diketahui pemecahannya. Namun demikian, sejak sekitar tahun 1970-
an, telah dikembangkan mikroskop baru yang mempunyai resolusi tinggi baik
secara horizontal maupun secara vertikal, yang dikenal dengan scanning probe
microscopy (SPM). SPM mempunyai prinsip kerja yang berbeda dari SEM
maupun TEM dan merupakan generasi baru dari tipe mikroskop scan. Mikroskop
yang sekarang dikenal mempunyai tipe ini adalah Scanning Tunneling
Microscope (STM), Atomic Force Microscope (AFM) dan Scanning Near-Field
Optical Microscope (SNOM). Mikroskop tipe ini banyak digunakan dalam riset
teknologi nano