Compatibilidade Electromagntica a capacidade de um dispositivo, de um
aparelho ou de um sistema para funcionar no seu ambiente electromagntico de modo satisfatorio e sem produzir ele prprio interferncias electromagnticas intolerveis para tudo o que se encontre nesse ambiente. Fatores que contribuem para a interferncia eletromagntica Os principais fatores so: Tenso Freqncia Aterramento Os componentes eletrnicos Circuitos impressos Desacoplamentos Existem trs caminhos e E!" entre a fonte e o ispositi#o a ser influenciao$a #%tima&: "rraia'o conu'o inu'o A EMI irradiada se propa(a a partir a fonte) atra#*s o espa'o) para a #%tima+ ,m sinal conu-io #ia.a atra#*s e fios conectaos / fonte e a #%tima+ O meio conduzido poe en#ol#er qualquer ca0o e alimenta'o) entraa e sinal e terminais e terra e prote'o+ 12 a inu'o ocorre quano ois circuitos esto ma(neticamente acoplaos+ A maioria as ocorrncias e E!" se 2 atra#*s e conu'o ou com0ina'o e irraia'o e conu'o+ A EMI por induo * mais if%cil e ocorrer e o moo e acoplamento #ai epener a freqncia e o comprimento e ona) seno que as 0aixas freqncias propa(am3se muito facilmente por meios conuti#os) mas no to eficientemente pelo meio irraiao+ 12 as altas freqncias se propa(am com eficincia pelo ar e so 0loqueaas pelas inut4ncias o ca0eamento+ As pertur0a'5es conu-ias normalmente esto na faixa e 6789- a :7!9- e se classificam em: moo3comum) one a interferncia acontece entre as linhas e sinal e o terra+ O ru%o * pro#ocao pela resistncia existente e comum ao sinal e ao retorno+ Os sinais e raiofreqncia so fontes comuns e ru%o e moo3comum+ O ru%o em moo3comum * o maior pro0lemas em ca0os e#io a impe4ncia comum entre o sinal e seu retorno+ moo3iferencial) one a interferncia acontece entre as linhas e sinal+ As pertur0a'5es inu-ias normalmente esto acima e :7!9- e epenem as t*cnicas e aterramento) 0lina(em e mesmo a posi'o f%sica em rela'o a fonte e inu'o+ FONTES COMUNS EM NOSSO LABORATORIO Descarga de raios atmosfricos Luz fuorescente Telefones celulares Fontes de Alimentao Linha de transmisso de potncia Motores Humano Relmpago m raio de rel!mpago pode en"ol"er uma trasferencia de mais de #$% de carga com correnet em e&cesso a '$ (A) * efeito pode ser fatal a uma partedo e+uipamento eltrico A !ac"ldade po"i itema de para raio tipo Fran#lin NBR-5419/93 Franklin 3 composto por um captor) montao so0re um mastro met2lico) que * li(ao a ca0os e escia) tam0*m met2licos) que conu-em a eletriciae ao solo por meio o aterramento+ A 2rea prote(ia * (eraa por um 4n(ulo e ;<= formao a partir a ponta o captor at* a 0ase o telhao+ A caa >7 metros e per%metro a co0ertura) * preciso colocar um ca0o e escia+ ?ara 2reas mais extensas ou casas com torres e caixa @2(ua) /s #e-es * necess2rio usar mais e um captor para que toa a constru'o este.a prote(ia+ O0eeceno a essa an(ula'o) a chance e que o raio corra atra#*s o p2ra3raios * e A7B+
1) !"#$% #I"$ F%!&'(I& )) "$*#E ME#+(I$ !,#$ *,"$%#!-$ .) !/$ -E $/%E &, 0) !I1! -E I&*"E23$ 4) 5!*#E #I"$ $$"E%6E(- 7) $&E#$% !/$ 5 ?orem ao analisar os quaros e istri0ui'o no foi encontrao os Cupressores e Curto *upressor de *urto ,m supressor e surtos e #olta(ens transitDrias ou tam0*m conhecios como TECC) * efinio como um ispositi#o e es#io e ener(ia) recortano o #alor pico a forma e ona e #olta(em) es#iano este excesso e ener(ia para no anificar a car(a sens%#el) e manter a #olta(em a car(a li#re e transitDrios+ A finaliae estes ispositi#os * prote(er os equipamentos eletrnicos sens%#eis e anos (eraos por picos e #olta(em eFou escar(as atmosf*ricas+ Cele'o e locali-a'o os supressores: Os supressores e surtos classificam3se e acoro a sua locali-a'o) tomano como referncia a Ct+ CG>+;636AA6) H"EEE Iecommene ?ratique on Cur(e Eolta(es in JoK L Eolta(e AC ?oKerH em que se i#iem trs cate(orias e prote'o A) M e C+ Cai$a de %itrib"i&'o laborat(rio em %)S Blindagem aterrada Outra tcnica para imunizar se os rudos eltricos o aterramento das blindagens. O leitor poder perceber que todos os circuitos chaveados (fontes de alimentao! inversores! etc."! na sua maioria! possuem sua cai#a de montagem feita de metal. $ssa tcnica a blindagem! que tambm fabricada em alguns cabos atravs da malha (%shield&". 'a verdade! fisicamente! essa blindagem uma gaiola de (arada). * gaiola de (arada) no permite que cargas eltricas penetrem (ou saiam" do ambiente em que esto confinadas. $la torna se ainda mais eficiente quando aterrada. O pr+prio ,- possui sua carcaa metlica! e ligada ao terminal terra. .uando no aterramos a carcaa de qualquer equipamento! comprometemos no somente a segurana do usurio! como tambm contribumos para a propagao de $/0 . LAM)A%AS FLUORESCENTES As l4mpaas fluorescentes atualmente usam reatores eletrnicos ) em outras pala#ras usam uma fonte cha#eaa com semi conutores e transformaores que operam em alta freqncia Interferncia Irradiada * interfer1ncia irradiada no precisa de um meio fsico para chegar at o aparelho interferido. $la se propaga pelo espao. $sta interfer1ncia no precisa que ha2a um meio fsico entre o aparelho interferente e o aparelho interferido! pois ela se propaga pelo espao atravs de ondas de rdio! conforme mostra a figura 3. 4ipicamente! esse tipo de interfer1ncia quando causada por dispositivos comutadores ligados 5 rede de energia ou fontes chaveadas tem um espectro em que a intensidade relativa do sinal diminui 5 medida que a freq61ncia aumenta
$spectro tpico de interfer1ncias gerada por motores e outros dispositivos ligados 5 rede de energia. *ssim! as interfer1ncias so muito mais acentuadas nas fai#as de ondas mdias e curtas! diminuindo na fai#a inferior de 78( (canais bai#os de 47" e praticamente desaparecendo na fai#a alta de 78( (canais altos". ,ercebe9se claramente que a interfer1ncia que chega a um aparelho desse tipo quando ele alimentado por pilhas! no tendo cone#o com a rede de energia. * manifestao a mesma das interfer1ncias atravs da rede! afetando som de aparelhos receptores de rdio e tambm a imagem no caso de televisores. *"mana ES% Eltrons li8res podem se acumular em alguns locais9 gerando uma grande diferena de potencial: -iscarga Eletrost;tica Electrostatic disc<arge =E*-)> L ESD, no so perigosas para pessoas mas podem danificar circuitos eetr!nicos" E+"ipamento do laborat(rio Orienta&'o e declara&'o do !abricante , emi-e eletromagntica ,orma de compati-ilidade eletromagntica) * o-.eti"o desta norma / 0 garantir +ue o n1"el dos sinais esp2rios gerados pelo e+uipamento e irradiados ao meio am-iente esto a-ai&o dos limites especi3cados na norma4 0 garantir a imunidade do e+uipamento 5s descargas eletrost6ticas4 por contato e pelo ar4 pro"enientes do ac2mulo de cargas eltricas est6ticas ad+uiridas pelo corpo 7Descarga 8letrost6tica 0 98% :;$$$0<0#=) 0 garantir a imunidade do e+uipamento +uando su-metido a um campo eletromagntico incidente a partir de fontes e&ternas 79munidade a >F 9rradiado 0 98% :;$$$0<0?=) Coment.rio In!eli/ente o e+"ipamento n'o po"em em e" man"al nen0"ma in!orma&'o obre EMC 1rg'o Reg"lamentadore no Brail ,m nNmero consier2#el e esfor'os reali-aos por #2rios or(anismos muniais) tm sio feitos com o o0.eti#o e esen#ol#er e melhoras os aspectos relacionaos a E!C em equipamentos eletroeletrnicos: "nternational Electrotechnical Commission $"EC&) "nternational Or(ani-ation for Ctanari-ation $"CO& Comit* "nternational Cp*cial es ?ertur0ations Iaio*lectrique $C"C?I&+ Comit* Europ*en e Oormalisation Electrotechnique $CEOEJEC&) Foo an Dru( Aministration $FDA& Feeral Communications Commission $FCC&+ EMC no Brasil Oo existe nenhuma or(ani-a'o (lo0al em E!C+ Oo Mrasil apenas ois or(anismos: !gncia &acional de ?igil@ncia *anit;ria =!&?I*!) !gncia &acional de #elecomunicaAes =!&!#E() Iequerem que os aspectos e E!C se.am o0ser#aos em equipamentos relacionaos a sua .urisi'o+ Equipamentos Mdicos %esolution nB000 Equipamentos de #elecomunicaAes %esolution nB00) =).C) &ormas EI D IEE CE" F "EC GA; HJimites e m*toos e meia as caracter%sticas e pertur0a'5es electroma(n*ticas os aparelhos inustriais) cient%ficos e m*icos / frequncia raioel*ctrica+H o Especifica'5es comuns para as normas e aparelha(em e m*ia tenso+ CE" F "EC P763> HCompati0iliae electroma(n*tica para os aparelhos e meia e e comano nos processos inustriais+H CE" F C"E P763: HCompati0iliae electroma(n*tica para os aparelhos e meia e controlo nos processos inustriais+H CE" F "EC 67773>3< H!eio am0iente+ Classifica'o os meios electroma(n*ticos+H CE" F "EC 67773;36 HT*cnicas e ensaio e meia+ Testes e imuniae+H CE" F "EC 6777 ;3; HT*cnicas e ensaio e meia+ Ensaios e imuniae aos transitDrios el*ctricos r2pios em sal#as $ra.aas&+H CE" F "EC 67773;36> HT*cnicas e ensaio e e meia+ Ensaio e imuniae para onas oscilatDrias+H CE" F "EC 67773<36 HQuias e instala'o e atenua'o+H CE" F "EC G67773636 HCompati0iliae electroma(n*tica+ Qeneraliaes+ Aplica'o e interpreta'o e efini'5es e termos+H CE" F "EC G67773>3: HCompati0iliae electroma(n*tica+ Am0iente+ O%#eis e compati0iliae+ Descri'o as pertur0a'5es irraiaas e conu-ias) no om%nio as altas frequncias+H CE" F "EC G67773>3< HCompati0iliae electroma(n*tica+ Am0iente+ O%#eis e compati0iliae+ Classifica'o os am0ientes electroma(n*ticos+H CE" F"EC G67773;36 HCompati0iliae electroma(n*tica+ T*cnicas e ensaio e meia+ Qeneraliaes so0re ensaios e imuniae CE!+H CE" F "EC G67773;3> HCompati0iliae electroma(n*tica+ T*cnicas e ensaio e meia+ Teste e imuniae a escar(as electrost2ticas+H CE" F "EC G67773;3; HCompati0iliae electroma(n*tica+ T*cnicas e ensaio e meia+ Ensaio e imuniae a transitDrios r2pios em sal#as+H CE" F "EC G67773;3< HCompati0iliae electroma(n*tica+ T*cnicas e ensaio e meia+ Teste e imuniae a so0retens5es+H CE" F "EC G67773;3G HCompati0iliae electroma(n*tica+ "muniae 2s pertur0a'5es inu-ias por campos electroma(n*ticos+H CE" F "EC G67773;36> HCompati0iliae electroma(n*tica+ T*cnicas e ensaio e meia+ Ensaio e imuniae 2s onas oscilatDrias+H CE" F "EC G67773<36 HCompati0iliae electroma(n*tica+ Quia e instala'o e atenua'o+ Consiera'5es (erais H CE" F "EC G67773<3> HCompati0iliae electroma(n*tica+ Quia e instala'o e atenua'o+ Cistemas e terra e ca0os+ CE" F "EC G67773<3G HCompati0iliae electroma(n*tica+ Quia e instala'o e atenua'o+ Atenua'o e influencias externas+H CE" F "EC G67773G3> HCompati0iliae electroma(n*tica+ Oormas (en*ricas+ "muniae para am0iente inustrial+H &ormas I*"%E C"C?I 66 HJimites e m*toos e meia as caracter%sticas as pertur0a'5es electroma(n*ticas os aparelhos inustriais) cient%ficos e m*icos $"C!& / frequncia raioelectrica+H C"C?I 6G36 HEspecifica'5es os aparelhos e meia as pertur0a'5es electroma(n*ticas+H C"C?I 6G3> HEspecifica'5es os m*toos e meia as pertur0a'5es electroma(n*ticas+H C"C?I >> HJimites e m*toos e meia as caracter%sticas as pertur0a'5es electroma(n*ticas os aparelhos e informa'o e tecnolo(ia+H 1. NORMAS RELATIVAS CORRENTE DE LINHA: INTERFERNCIA ELETROMAN!TICA COND"#IDA N$r%a& re'ati(a& )& 'i%ita*+e& de n,(ei& de Interferncia E'etr$%a-n.tica C$nd/0ida 1e'a rede :ois tipos de interfer1ncia podem ser considerados; a conduzida pela rede de alimentao e a irradiada. :iferentes normas! nacionais (7:$ 9 *lemanha! (-- 9 $<*" e internacionais (-0=,> 9 0$-"! determinam os valores limites admissveis para o rudo eletromagntico produzido pelo equipamento. 'o Brasil! a adoo de normas especficas sobre este assunto est em discusso! seguindo9se! em princpio! as normas -0=,>. 4ais normas! alm dos limites de sinal irradiado ou conduzido! determinam os mtodos de medida! os equipamento de teste e classificam os produtos a serem testados em funo de suas caractersticas pr+prias e do local onde devem ser utilizados (-0=,> ?@" A?.@B. Os limites mais severos referem9se a produtos utilizados em ambiente CdomsticoC (classe B"! o que significa! que so alimentados por uma rede na qual e#istem usurios que no so indDstrias ou estabelecimentos comerciais. *mbientes industriais e comerciais tem seus equipamentos includos na chamada classe *. 'o que se refere 5 0$/ conduzida! equipamentos de informtica possuem suas normas (-0=,> EE"! enquanto os aparelhos de uso industrial! cientfico e mdico (0=/"! so regulados pela -0=,> ?? A?.FBG eletrodomsticos! pela -0=,> ?H e os dispositivos de iluminao pela -0=,> ?F. :e modo simplificado! os testes de 0$/ irradiada podem ser feitos em ambientes anec+icos! quer se2a um campo aberto ou uma cImara especial. J as medidas de 0$/ conduzida fazem uso de uma impedIncia artificial de linha! sobre a qual se realiza a medida dos sinais de alta freq61ncia in2etados pelo equipamento. 1.2.1 IEM c$nd/0ida 1e'a rede * principal motivao para que se e#i2a um limitante para a 0$/ que um equipamento in2eta na rede evitar que tal interfer1ncia afete o funcionamento de outros aparelhos que este2am sendo alimentados pela mesma rede A?.KB. $sta susceptibilidade dos aparelhos aos rudos presentes na alimentao no est su2eita a normalizao! embora cada fabricante procure atingir nveis de bai#a susceptibilidade. * medio deste tipo de interfer1ncia feita atravs de uma impedIncia (L0=' 9 Line 0mpedance =tabilization 'etMorN" colocada entre a rede e o equipamento sob teste! cu2o esquema est mostrado na figura ?.O * indutIncia em srie evita que os rudos produzidos pelo equipamento fluam para a rede! sendo direcionados para a resist1ncia de ?N@! sobre a qual feita a medio (com um analisador de espectro com impedIncia de entrada de FP@". Os eventuais rudos presentes na linha so desviados pelo capacitor colocado do lado da rede de ?Q(! no afetando a medio. $sta impedIncia de linha pode ser utilizada na fai#a entre ?FPN8z e OP/8z! que a banda normalizada pela -0=,>. * fai#a entre ?PN8z e ?FPN8z definida apenas pela 7:$! estando em estudo por outras ag1ncias. 'esta fai#a inferior! a L0=' implementada com outros componentes! como mostrado na mesma figura ?.O. 4ambm so feitas as distinRes quanto 5 aplicao e ao local de instalao do equipamento. * figura ?.H mostra estes limites para a norma -0=,> ?? (equipamentos 0=/". O ambiente de medida composto basicamente por um plano terra sobre o qual colocada a L0='. *cima deste plano! e isolado dele! coloca9se o equipamento a ser testado. *s elevadas ta#as de variao de tenso presentes numa fonte chaveada e as correntes pulsadas presentes em estgios de entrada (como nos conversores para correo de fator de pot1ncia" so os principais responsveis pela e#ist1ncia de 0$/ conduzida pela rede. 'o caso das correntes pulsadas! esta razo +bvia! uma vez que a corrente presente na entrada do conversor est sendo chaveada em alta freq61ncia! tendo suas harmSnicas dentro da fai#a de verificao de 0$/ conduzida. Interferncia causado por Celulares? Falta assunto CONCLUSO O primeiro passo para se eliminar a interfer1ncia causado por algum equipamento consiste em se identificar a forma como ela se propaga. * partir desse momento! analisa9se o modo como um eventual filtro ou procedimento de correo pode ser adotado. * adoo no s+ depende da efici1ncia do processo como tambm da facilidade com que isso pode ser feito.,odem at ocorrer os casos em que mais de uma soluo precisa ser adotada ao mesmo tempo como o uso de filtros tanto no aparelho interferente como interferido! filtros e aterramento! etc.