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AbstractEn este trabajo se presenta una breve descripcin acerca del teluro de cadmio,
sus propiedades fsicas, qumicas, pticas, elctricas y trmicas.
Se simulo su estructura cristalina en el software CaRIne Crystallography 3.1. Se calcul su
factor de estructura y se compar el difractograma obtenido en la simulacin y con un
difractograma obtenido de forma experimental.

I. INTRODUCCIN
OS tomos se enlazan para formar
molculas de diferentes maneras,
estas se llaman tipos de enlaces y son
los siguientes:
Covalentes, como el diamante y los
cristales orgnicos
Inicos, como los halogenuros y los
xidos.
Moleculares dominados por Van der
Waals, como ocurre en compuestos
de gases nobles
Metlicos, constituidos por metales y
aleaciones
Por puente de hidrgeno, como en el
hielo, compuestos
Cristalinos hidratados, algunos ferro
elctricos (KH2PO4)

La estructura fsica de los slidos es
consecuencia de la disposicin de los
tomos, molculas o iones en el espacio, as
como de las fuerzas de interconexin de las
partculas.
La mayora de los slidos se caracterizan por
ordenamiento de partculas que vibran en
torno a posiciones fijas en sus estructuras.
Estos solidos se denominan solidos
cristalinos. Los slidos que no tienen una
estructura ordenada y bien definida se llaman
solidos amorfos.



Los slidos cristalinos se fragmentan a lo
largo de los planos de la red cristalina, por lo
que los fragmentos mantienen similares
ngulos interfaciales y caractersticas
estructurales. La estructura de los slidos
cristalino se discuten mejor en trminos de
celda unitaria, que es una parte del cristal
que reproduce su globalidad por apilamiento
repetido. Estas celdas se relacionan
mediante operaciones de simetra puras de
transicin.
Una celda unidad puede repetirse y formar
una red cristalina, pero para que esto ocurra,
debe pertenecer a uno de los 7 sistemas
cristalinos siguientes:
SISTEMA LONGITUDES ANGULOS
Cubico a=b=c

Tetragonal a=bc

Ortorrmbico abc

Monocclico abc


Tricclico abc

Hexagonal a=bc


Rombodrico a=b=c

Tabla I Sistemas cristalinos
TELURO DE CADMIO
L


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Ilustracin I Celda unitaria
Adems de en los vrtices, los puntos de la
red pueden aparecer en otras posiciones de
la celda unitaria formando as 14 tipos de
redes cristalinas:
Cubica simple
Cubica centrada en el cuerpo
Cubica centrada en las caras
Tetragonal simple
Tetragonal centrada en el cuerpo
Ortorrmbica simple
Ortorrmbica centrada en las bases
Ortorrmbica centrada en el cuerpo
Ortorrmbica centrada en las caras
Monoclnica simple
Monoclnica centrada en las bases
Triclnica
Hexagonal
Rombodrica
El ordenamiento peridico depende de
varios factores: La naturaleza de los enlaces
que unen a los tomos, iones o molculas, la
existencia o no de interacciones magnticas,
las condiciones de cristalizacin , etc.
Se conoce como factor de estructura o factor
de estructura esttico a la funcin que
describe la dispersin por la materia de un
haz incidente de radiacin. El factor de
estructura es un concepto que facilita la
interpretacin de los patrones de
interferencia obtenidos en experimentos de
difraccin de rayos X, de electrones y de
neutrones. Cuando es necesario examinar la
evolucin temporal del sistema estudiado, se
utiliza el factor de estructura dinmico.
El teluro de cadmio (CdTe) es un compuesto
cristalino formado por cadmio y telurio.
Pertenece al grupo de semiconductores
II-VI, siendo el cadmio divalente y el teluro
hexavalente.
Este material puede presentarse en diversos
estados estructurales que van desde la
estructura estable zinc blenda hasta la
wurtzita.
La estructura estable del CdTe (zinc blenda)
se obtiene como resultado de entrelazar dos
redes de tipo cubica centrada en las caras
(fcc), donde la segunda fcc esta desplazada
un cuarto de la diagonal del cubo.

Sus principales propiedades, en la estructura
estable son las siguientes:

PROPIEDADES CRISTALOGRAFICAS
Estructura cristalina: cubica
Grupo espacial: F-43m
Constante de Lattice: 6.482
Planos de fractura:{1 1 0}
Distancia Cd-Te: 2.806
Molculas por celda unitaria: 4

PROPIEDADES QUIMICAS
Peso molecular: 240.0
Volumen molar:


Insoluble en agua

PROPIEDADES OPTICAS
ndice refractivo: 2.67
Alcance de transmisin [micras]: 2-25
Absorbancia () cm
-1
a 10 micras :0.167

PROPIEDADES TERMICAS
Expansin lineal trmica, C
-1
para 0-30 C:
4.5 x 10
-6
Conductividad Trmica, W / (m C) : 4,10
Capacidad de calor especfico, J / (kg C):
0,209
Punto de fusin, C 1092

PROPIEDADES MECANICAS
Densidad, g/cm
3
: 5.86
Mdulo de Young (E): 52 x 109 Pa
Relacin de Poisson: 0.41

PROPIEDADES ELECTRICAS
Constante dielctrica 10.2
Banda prohibida 1.44 eV
Movilidad de electrones 700cm2/vs


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El CdTe est disponible comercialmente
como polvo o cristales. Tambin se puede
hacer en nano cristales.

Sus aplicaciones ms comunes son
Celdas solares de pelcula
delgada
ptica infrarroja
Detectores
Moduladores electro-pticos
Piezas de cristal para la
deposicin de vaco

El CdTe tiene las propiedades
optoelectrnicas ms adecuadas para la
conversin fotovoltaica, su ancho de banda y
su coeficiente de absorcin hacen posible la
utilizacin del CdTe como pelcula delgada,
lo que lo hace un fuerte candidato para las
tecnologas de elaboracin de dispositivos
fotovoltaicos de bajo costo.

La obtencin del CdTe en forma de pelculas
se prepara mediante diversas tcnicas de
crecimiento tales como; erosin catdica por
radiofrecuencia, electrodeposicin,
crecimiento por serigrafa, roci pirolitico y
CSVT.
En particular la tcnica de electrodeposicin
es la ms econmica para la obtencin de
pelculas policristalinas de CdTe, debido al
prcticamente nulo desperdicio de material
involucrado en el proceso de deposicin

La clula fotovoltaica de teluro de cadmio
(CdTe) es una tecnologa fotovoltaica que se
basa en el uso de una pelcula delgada de
teluro de cadmio, una capa de semiconductor
diseada para absorber y convertir la luz
solar en electricidad. La clula fotovoltaica de
teluro de cadmio es la primera y nica
tecnologa fotovoltaica de pelcula delgada en
superar al silicio cristalino en precio para una
significativa porcin del mercado fotovoltaico,
es decir, en sistemas de varios kilovatios.

Las celdas solares de pelcula fina de CdTe
representaron aproximadamente el 6% de
todas las celdas solares instaladas en 2010.
Se encuentran entre los tipos de celda solar
de menor costo, aunque si se incrementara
enormemente la cifra de produccin de
celdas solares con CdTe, podra haber una
escasez de teluro, ya que es uno de los
elementos ms raros en la corteza terrestre.
Otro problema para la tecnologa es la
toxicidad del cadmio. El Teluro de cadmio es
txico si se ingiere, si se inhala el polvo, o si
se maneja inadecuadamente. Si se utiliza
correctamente y con seguridad, los
encapsulados de CdTe utilizados en los
procesos de fabricacin pueden volverse
inofensivos. El CdTe parece ser menos
txico que el cadmio elemental, al menos en
trminos de la exposicin aguda.
La disposicin y la seguridad a largo plazo de
teluro de cadmio es un problema conocido en
la comercializacin a gran escala de paneles
solares de teluro de cadmio. Se han hecho
grandes esfuerzos para entender y superar
estos problemas.
El CdTe puede ser aleado con mercurio para
hacer un material detector de infrarrojos
verstil. Tambin si es aleado con una
pequea cantidad de zinc hace un excelente
detector de rayos gamma. Se utiliza como un
material ptico de infrarrojos para ventanas
pticas y lentes pero tiene poca aplicacin y
est limitada por su toxicidad razn por la
cual pocos pticos consideran trabajar con l.
Igualmente se aplica para los moduladores
electro-pticos. Tiene el mayor coeficiente
electro-ptico del efecto electro-ptico lineal
entre los cristales de compuestos II-VI.
CdTe dopado con cloro se utiliza como un
detector de radiacin de rayos X, rayos
gamma, partculas beta y partculas alfa. Ya
que el CdTe puede operar a temperatura
ambiente, permite la construccin de
detectores compactos para una amplia
variedad de aplicaciones en espectroscopia
nuclear.
El tipo de enlace que presenta el CdTe es
covalente, como la mayora de los materiales
semiconductores

DIFRACCION DE RAYOS X
Los rayos X son la radiacin
electromagntica invisible, capaz de


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atravesar cuerpos opacos. Su longitud de
onda se encuentra entre los 10 a 10.1 nm,
correspondiendo a frecuencias del rango de
30-30 PHz. Los rayos X surgen de
fenmenos extra nucleares, a nivel de la
rbita electrnica, principalmente producidos
por desaceleraciones de electrones.
Por este tipo de caractersticas (tamao de
y energa) es que los Rayos X pueden ser
utilizados para explorar la estructura de los
cristales por medio de experimentos de
difraccin de rayos X, pues la distancia entre
los tomos de una red cristalina es similar a
de los rayos X.

La difraccin de rayos X es una tcnica
analtica no destructiva y de las ms
importantes en la caracterizacin de
materiales cristalinos, tales como los
metales, cermicos, polmeros,
intermetlicos, minerales, u otros
compuestos orgnicos e inorgnicos. Se
produce al interaccionar un haz de rayos X,
de una determinada longitud de onda, con
una sustancia cristalina. La difraccin de
rayos X se basa en la dispersin coherente
del haz de rayos X por parte de la materia (se
mantiene la longitud de onda de la radiacin)
y en la interferencia constructiva de las ondas
que estn en fase y que se dispersan en
determinadas direcciones del espacio.
El fenmeno de la difraccin puede
describirse con la Ley de Bragg, que predice
la direccin en la que se da interferencia
constructiva entre haces de rayos X
dispersados coherentemente por un cristal:



La tcnica de rayos X puede ser utilizada
para identificar las fases presentes en la
muestra, desde materia prima de partida
hasta un producto final. Esta tcnica ha sido
utilizada durante muchas dcadas con gran
xito para proporcionar informacin precisa
sobre la estructura de los materiales. La
calidad del patrn de difraccin suele ser
limitado por la naturaleza y la energa de la
radiacin disponible, por la resolucin del
instrumento y por las condiciones fsicas y
qumicas de la muestra. Dado que muchos
materiales slo pueden ser preparados en
una forma policristalina, la tcnica de
difraccin de rayos X se convierte en la nica
opcin realista para una determinacin de la
estructura cristalina de estos materiales.

El difractmetro de rayos X es el
instrumento que permite la identificacin de
las estructuras cristalinas, fundamentado en
la difraccin segn Bragg.
En esencia consta de una fuente de radiacin
monocromtica K, un portaprobetas mvil
con ngulo variable, y un contador de
radiacin X asociado al portamuestras.


Ilustracin II Esquema bsico de un
difractmetro de rayos X
La fuente de radiacin es el antictodo, AC,
de un tubo de rayos X. Existen diversos
antictodos usuales: Cobre, Cromo, Hierro,
etc. Cada uno emite sus radiaciones con
longitudes de onda, , caractersticas en
funcin del nivel del electrn orbital que
provoca la radiacin. Cada elemento emite
un espectro de radiaciones caractersticas.
Un filtro monocromatizador, F, selecciona la
radiacin deseada.
El portamuestras contiene la muestra,
normalmente plana en forma de polvos, lo
que significa compuesta por muchos cristales
aleatoriamente orientados. Sobre la muestra
incide la radiacin , con un ngulo de
incidencia de ensayo. Si en esta
orientacin algn plano cristalino (h, k, l), de
distancia interplanar dhkl, cumple con ciertas


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condiciones, se produce una difraccin para

El contador de radiacin X, Geiger,
contabiliza la intensidad del haz difractado,
en cuentas por segundo, cuando forma un
ngulo 2 con la muestra y cumple con las
condiciones de reflexin. El mecanismo de
desplazamiento del contador est conectado
al de desplazamiento de la muestra a doble
velocidad.
II. CONTENIDO
Apoyndonos en el software CaRIne
Crystallography 3.1 y con los datos
siguientes se simulo el CdTe
DATOS
Grupo especial F-43m
Parmetro de lattice 6.481A
Posiciones (x,y,z)
Cd (0,0,0)
te (0.25,0.25,0.25)
Ilustracin III Datos utilizados para simular el
CdTe
Los datos obtenidos con la simulacin son los
siguientes

Ilustracin IV Posiciones de los dems tomos
de la celda unitaria obtenidos con la
simulacin.

Ilustracin V Estructura cristalina del CdTe
obtenida con la simulacin vista desde el
plano xy


Ilustracin VI Estructura cristalina del CdTe
obtenida por la simulacin, vista lateral



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Ilustracin VIII Difractograma experimental obtenido del articulo Gonzales- Alcudia et al 2006.
Crecimiento de partculas CdTe: Al

Ilustracin VII Difractograma obtenido mediante la simulacion del CdTe


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Para obtener el difractograma de la
simulacin se utiliz una longitud de onda de
rayos X de 1.540562 nm.
Ahora con las posiciones obtenidas en el
programa se calcul el factor de estructura
de acuerdo a la ecuacin:


Usando
Cd 000


Te



Se obtuvo que



Y cero para ndices mezclados
III. NALISIS DE RESULTADOS Y
CONCLUSIONES
Se observa que el difractograma obtenido
con el software en la simulacin y el obtenido
experimentalmente presentan picos en las
mismas posiciones, y que estos adems
coinciden con los planos que deben ser
difractados segn el factor de estructura
calculado.
Se puede observar que los resultados
tericos concuerdan con los experimentales y
que el software utilizado nos permite obtener
las caractersticas y el modelo de los
compuestos para poder realizar su anlisis
de manera adecuada.




IV. REFERENCIAS

[1]Gonzales- Alcudia et al 2006. Crecimiento
de partculas CdTe: Al
[2]Handbook of Chemistry and Physics 84th
Edition
[3]
http://www.semiconductors.co.uk/propiivi5410
.htm
[4] Laxman Gouda, Yelameli Ramesh
Aniruddha, Sheela K. Ramasesha,
Correlation between the Solution Chemistry
to Observed Properties of CdTe Thin Films
Prepared by CBD Method, Journal of Modern
Physics, 2012, 3, 1870-1877
http://dx.doi.org/10.4236/jmp.2012.312235
Published Online December 2012
(http://www.SciRP.org/journal/jmp)

[5]]
http://es.wikipedia.org/wiki/Telururo_de_cadm
io
[6]Callister - Materials Science and
Engineering

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