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LABORATORIO DE FISICA GENERAL III

MANUAL DE PRCTICAS






Arturo Ramrez Porras, Ph.D.


Escuela de Fsica
Universidad de Costa Rica
TABLA DE CONTENIDOS

PRLOGO...........................................................................
....................................................................2
NORMAS DEL LABORATORIO..........................................................
.....................................................3
NO LINEALIDAD 1: CARACTERIZACIN DE UN FILAMENTO DE TUNGSTENO.....................
...........4
NO LINEALIDAD 2: CARACTERIZACIN DE DIODOS........................................
...................................9
CAMPO MAGNTICO 1: ALAMBRE RECTO Y BOBINA CUADRADA................................
..................15
CAMPO MAGNTICO 2: BOSQUEJO DE CAMPO Y SOLENOIDE..................................
....................23
INDUCCIN ELECTROMAGNTICA..........................................................
...........................................31
INTRODUCCIN AL USO DEL OSCILOSCOPIO..............................................
....................................38
CONSTANTES DE TIEMPO EN CIRCUITOS RC Y RL.......................................
..................................47
CIRCUITOS RECTIFICADORES Y FILTROS..............................................
..........................................53
OSCILACIONES AMORTIGUADAS.......................................................
................................................61
RESPUESTA A LA FRECUENCIA 1: CIRCUITOS RC Y RL..................................
................................68
RESPUESTA A LA FRECUENCIA 2: CIRCUITO RLC.......................................
....................................77
LEYES DE LA PTICA GEOMTRICA.......................................................
...........................................82
PTICA FSICA: DIFRACCIN E INTERFERENCIA.............................................
................................92
POLARIZACIN Y FOTOMETRA...........................................................
..............................................99
REJILLAS DE DIFRACCIN Y ESPECTROS................................................
......................................108
APNDICE A: PROPAGACIN DE ERRORES..................................................
.................................114
APNDICE B: VALORES CUADRTICOS MEDIOS O RMS........................................
.......................118
APNDICE C: MEDICIN DEL NGULO DE DESFASE EN EL OSCILOSCOPIO.........................
....119
APNDICE D: TABLA DE ESPECTROS DE ALGUNAS SUSTANCIAS..............................
................120
APNDICE E: BIBLIOGRAFA............................................................
.................................................121
PRLOGO


Este texto es el manual de trabajo para el laboratorio de electromagnetismo, pti
ca y fsica
moderna ofrecido por la Escuela de Fsica de la Universidad de Costa Rica. Su obje
tivo es dotar al
estudiante de los conocimientos bsicos para el manejo de instrumentacin sensible a
l mismo tiempo
que comprueba varias de las leyes fsicas fundamentales que se estudian en el curs
o terico de fsica
general. Se espera que el estudiante que llega a este nivel ya domine conceptos
fundamentales de
electricidad, energa y mecnica. Adems, debe dominar el manejo de datos e incertidum
bres de
medidas experimentales.
Esta gua de trabajo ha sido redactada de forma tal que el estudiante puede lleva
r los registros
de las medidas realizadas, por lo que se podra considerar un texto programado. Ca
si todas las
prcticas tienen el siguiente formato: los objetivos donde se plantean los propsito
s y alcances de la
prctica; la nota terica donde se expone el fundamento terico necesario para entende
r el
experimento; el trabajo previo en donde se invita al estudiante a revisar concep
tos o a extender
conocimientos tiles para la plena comprensin del tema; la descripcin del equipo o i
nstrumentacin
que ha de utilizarse; el procedimiento que describe paso a paso las actividades
por ser realizadas; el
cuestionario que sirve como gua para la elaboracin de las conclusiones, y la seccin
misma de
conclusiones. En algunas de las prcticas se aade antes de la nota terica una seccin
de
introduccin que sirve como motivacin general al tema tratado.
Los temas cubiertos en este manual se pueden dividir en varios grupos. El prime
ro, que
comprende las dos primeras prcticas denominadas No linealidad pertenece al campo de
la
electricidad, pues se estudia el no cumplimiento de la Ley de Ohm para ciertos d
ispositivos. El segundo
abarca las prcticas de Campo magntico e Induccin electromagntica, que se estudian en e
ea
del magnetismo. El tercer grupo est constituido por los experimentos en donde se
estudian fenmenos
transitorios en circuitos electromagnticos: Constantes de tiempo en circuitos RC y
RL, Circuitos
rectificadores y filtros, Oscilaciones amortiguadas y Respuesta a la frecuencia. El c
uarto grupo tiene
que ver con la ptica y la fsica moderna, cuyas prcticas son Leyes de la ptica geomtric
a, ptica
fsica, Polarizacin y fotometra y Rejillas de difraccin y espectros. Hay una prctica
a
Introduccin al uso del osciloscopio cuya meta es ensearle al estudiante el uso de la
s diversas
capacidades de ese importante instrumento de medicin. Esta prctica se realiza ante
s de entrar al
estudio del tercer grupo de experimentos, pues es parte esencial en ellos.
Al final de la gua se incluyen varios apndices con informacin de utilidad para cie
rtas
prcticas. El ltimo apndice contiene la bibliografa de consulta recomendada y que ha
sido la base
para la redaccin de este manual.
Se espera que la presente obra logre estimular el pensamiento analtico en el est
udiante y que
de esta forma contribuya a un mejor aprendizaje de las ciencias fsicas.
Se agradece al Fs. lvaro Amador su contribucin al tratamiento de errores expuesto
en el
apndice A.

A. Ramrez Porras

NORMAS DEL LABORATORIO

Por ser eminentemente prctico, en este curso la asistencia es obligatoria. Dos a
usencias por razones
injustificadas constituyen la prdida automtica del curso. Si existiera una razn jus
tificada que pueda ser
demostrada mediante un documento oficial (dictamen mdico extendido por la CCSS, p
arte de oficial de trnsito,
certificacin o nota de otra escuela de la universidad con respectivo sello, etc.)
el estudiante debe dirigirse al
coordinador del laboratorio en la misma semana en que ocurri (u ocurrir) la ausenc
ia para solicitarle una boleta
de reposicin de la prctica. Esta boleta sirve como autorizacin para que el estudian
te solicite ingreso a un
grupo que no sea el suyo de manera que pueda reponer la prctica faltante. Al fina
lizar la prctica, el estudiante
debe asegurarse que el profesor de ese grupo firme la boleta para dejar constanc
ia del trabajo realizado. Tal
boleta, junto con la justificacin escrita ya mencionada, deben ser entregadas al
profesor o asistente del grupo en
que est matriculado para que la ausencia quede debidamente justificada y la prctic
a repuesta. Si este
procedimiento no se lleva a cabo en su totalidad, el estudiante corre el riesgo
de quedar con una ausencia no
justificada y la posibilidad de perder el curso en la siguiente ausencia. Por ot
ro lado, no existe posibilidad de
hacer la reposicin de la prctica en otra semana pues el equipo se cambia constante
mente. Si el estudiante ya
se ha ausentado a dos prcticas con sus debidas justificaciones y reposiciones vlid
as y se ausenta de
nuevo a otra prctica, an con razones justificables, tendr la prdida automtica del cur
so.
El manual de laboratorio, por contener espacios y tablas para la debida recolec
cin de datos, es parte
insustituible del curso. Todo estudiante deber presentarle a su profesor su manua
l a la entrada. El estudiante
que falte a este requisito podr ser impedido de entrar al saln del laboratorio y s
e podr considerar como
ausente. En tal caso deber reponer la prctica segn las consideraciones del prrafo an
terior.
El estudiante (tanto como el profesor) deber ser puntual en la asistencia a la se
sin de laboratorio.
Tendr impedimento de entrada si se presenta al saln de laboratorio pasados los pri
meros 15 minutos de la
sesin y por tanto deber reponer la prctica. Si el estudiante se presenta luego de i
niciada la sesin pero antes
de que pasaran los primeros 15 minutos, tendr derecho a ingresar, aunque el profe
sor se reservar el derecho
de tomar medidas de evaluacin por la llegada tarda. Tres llegadas tardas equivaldrn
a una ausencia
injustificada. Si el profesor es el que no se presente con puntualidad, o no per
manece toda la sesin con su
grupo, el estudiante tiene el derecho de informarlo al coordinador del curso, o
en su defecto al director de la
escuela.
Toda prctica de laboratorio debe haber sido estudiada y comprendida en todas sus
partes al momento
de iniciar la sesin. En particular, las investigaciones o desarrollos del Trabajo
Previo deben estar ya escritas en
el manual mismo, utilizando las partes traseras de las hojas. El profesor tendr l
a potestad de evaluar los
conocimientos previos solicitados.
Todo trabajo que se presente al profesor deber estar escrito en tinta, sin borro
nes ni con lquidos
correctores. El profesor autorizar los datos, grficas, etc. antes de que el estudi
ante salga del aula.
Cada grupo de estudiantes que comparten una misma mesa de trabajo es responsabl
e del equipo y las
instalaciones que le corresponde, as como de su orden. Si algn equipo presentara d
aos, deber comunicarlo
inmediatamente a su profesor para que tome las medidas del caso. Todo el equipo
pertenece a la Universidad,
por lo que cualquier destruccin, sustraccin o dao de cualquier ndole ser penalizado s
egn el caso.
La informacin detallada sobre el cronograma de las prcticas y la evaluacin especfic
a del grupo ser
entregada por escrito en una carta al estudiante la primera semana del semestre.

NO LINEALIDAD 1: Caracterizacin de un filamento de tungsteno


Objetivos
El objetivo general es el de introducir el concepto de no linealidad de un filam
ento de tungsteno,
as como familiarizarse con sus propiedades no lineales.
En particular, interesa lo siguiente:
1. Comprender el significado de no linealidad en componentes de circuito.
2. Construir un circuito a partir del diagrama esquemtico.
3. Utilizar adecuadamente las escalas de voltaje de un multmetro digital.
4. Reconocer las curvas caractersticas de elementos no lineales.

Introduccin
Los resistores descritos en la mayora de los libros de texto son conocidos como
elementos
lineales, es decir, elementos de circuito en los que la corriente aumenta lineal
mente con la diferencia
de potencial (llamada de ahora en adelante voltaje o tensin) aplicada. Como se ve
r ms adelante,
esto se cumple dentro de un cierto mbito de temperatura.
En el presente caso, se dice que un elemento es no lineal si su intensidad de c
orriente no vara
en forma lineal con el voltaje aplicado.
Para saber si un elemento es no lineal, es conveniente estudiar la curva caract
erstica del
elemento, que normalmente se presenta como una grfica de corriente I en funcin de
la tensin
aplicada V, esto es: I = I(V). En un elemento no lineal, la curva caracterstica n
o es una lnea recta.
Hay que aclarar que en muchas ocasiones se elabora una grfica del tipo tensin V e
n funcin
de la corriente I, es decir: V = V(I) para elementos lineales. En este caso, la
pendiente de la recta
corresponde al valor de la resistencia.
En esta prctica y en la siguiente, se analizarn las curvas caractersticas de un fi
lamento de
tungsteno (material metlico) y de un diodo (material semiconductor).

Nota terica
La resistividad, y por consiguiente la resistencia R, son funciones de la tempe
ratura. Para el
caso de la mayora de los conductores metlicos, la resistencia aumenta al aumentar
la temperatura. Al
aumentar la temperatura, la agitacin de los tomos aumenta, producindose una mayor i
nteraccin
entre los electrones de conduccin y los tomos en vibracin que dificulta el movimien
to libre de los
electrones.
Esta dependencia de la resistencia con la temperatura es la que obliga en parte
a operar
equipos electrnicos dentro de un mbito limitado de temperaturas (normalmente indic
adas por el
fabricante).
La temperatura en un conductor aumenta al circular corriente por l, a no ser que
se tomen
precauciones especiales para conseguir que la temperatura del conductor se mante
nga constante. Se
concluye entonces que la resistencia vara con el cambio de temperatura ocasionado
por un cambio en
la intensidad de corriente que atraviesa al conductor.
La curva caracterstica de un conductor slido es una lnea recta a temperatura const
ante. Pero
si el conductor se calienta por la accin de una corriente, la lnea deja de ser rec
ta. La grfica presenta
una cierta concavidad que es diferente para conductores metlicos y no metlicos. Ta
l concavidad ser
uno de los resultados por ser logrados en esta prctica.
Trabajo previo
Resuma los conceptos asociados con la Ley de Ohm, la resistividad y su relacin co
n la resistencia
elctrica. Adems, lea el Apndice A sobre la propagacin de errores.

Equipo
1. Fuente de voltaje variable de corriente alterna (AC) hasta 120 V.
2. Potencimetro de 5 O y 100 W.
3. Multmetro digital (VOM).
4. Bombillo de tungsteno.

Nombre
Placa (UCR)
Caractersticas










Procedimiento
La figura 1 muestra el esquema del circuito por ser construido.


C
B A
V0 V
R
Figura 1: Esquema del circuito para investigar la no linealidad del filamento de
tungsteno. V0 representa la fuente de voltaje
AC, V representa el multmetro utilizado como voltmetro, R representa la resistenci
a del potencimetro y el crculo
intersecado por dos dimetros es el bombillo de tungsteno.

Si la terminal A del voltmetro se conecta al punto B, se medir la diferencia de po
tencial entre los
bornes del bombillo, y si se conecta en C se medir el voltaje a travs del resistor
.
1. Arme el circuito de la figura 1. No encienda la fuente antes de tener la apro
bacin de su profesor.
2. Proceda a medir el voltaje entre los bornes del bombillo (Vb) y del resistor
(VR) de la siguiente
manera:
a. Coloque el voltmetro para leer el voltaje a travs del bombillo.
b. Aumente la tensin de la fuente gradualmente hasta que el voltaje a travs del bo
mbillo sea
1 V.
c. Mida el correspondiente voltaje a travs del resistor.
d. Repita los pasos de a., b. y c. de tal manera que en total obtenga la siguien
te cantidad de
mediciones de voltaje a travs del bombillo:
10 datos en el intervalo de 1 V a 10 V.
8 datos en el intervalo de 15 V a 50 V.
5 datos en el intervalo de 60 V a 100 V.
1 dato a 125 V.
Llene la tabla de datos siguiente. Note que contiene los voltajes medidos, sus i
ncertidumbres, el
valor de la corriente (calculado como I=VR/R) y su incertidumbre (propagacin de e
rrores*), la
resistencia del bombillo Rb y la potencia disipada por el bombillo Pb. Las ltimas
cuatro columnas
sern llenadas posteriormente. Recuerde que Ud. puede medir la resistencia del pot
encimetro
utilizando el Ohmmetro del VOM (verifique que su batera est en buen estado).
R = ( ) O
Vb (V)
.Vb (V)
VR (V)
.VR (V)
I =VR / R (A)
.I (A)
Rb (O)
Pb (W)

































































































































































































3. Elabore la grfica de I vs Vb, que constituye la curva caracterstica del bombill
o.
4. Haga la grfica de Vb vs I y comprela con las grficas usuales que se hacen para m
ostrar el
cumplimiento de la Ley de Ohm.
5. Calcule la resistencia del bombillo Rb=Vb / I para cada caso y antelo. Haga lo
mismo para la
potencia consumida por el bombillo . b2bb/RVP=
6. Grafique Rb vs I y observe cmo vara la resistencia del bombillo.
7. Compare la potencia obtenida a 125 V (voltaje normal de funcionamiento) con l
a potencia nominal
del bombillo (la indicada en la cubierta de vidrio). Qu porcentaje de diferencia h
ay entre ellos?
* Ver apndice A

Clculos, Grficas y Anlisis
Cuestionario
1. Por qu es aplicable la Ley de Ohm para hallar la corriente?
2. Le parece correcto decir que la pendiente de la grfica del punto 4. del procedi
miento corresponde
a la resistencia del filamento de tungsteno? Explique por qu.
3. Cmo se interpreta la grfica del punto 6 del procedimiento?
4. Existe diferencia entre la potencia calculada en el punto 7 y la potencia nomi
nal? A qu se debe?




















Conclusiones
NO LINEALIDAD 2: Caracterizacin de diodos


Objetivos
El objetivo general es el de introducir el concepto de no linealidad en diodos s
emiconductores,
as como familiarizarse con sus propiedades no lineales.
Los objetivos especficos son los mismos de la prctica anterior.

Nota terica
La palabra diodo tiene relacin con la palabra electrodo. La palabra electrodo se uti
liza para
nombrar un elemento terminal de un circuito elctrico. Se puede inferir que la pal
abra diodo se usa para
un componente elctrico de dos terminales (di- significa dos, y -odo viene del griego o
dos:
camino). En efecto, los diodos de mayor uso actual estn formados a partir de dos
materiales
semiconductores.
Un semiconductor tiene una resistividad cuyo valor oscila entre los valores de
los aislantes y de
los conductores. Los semiconductores se clasifican en intrnsecos y extrnsecos.

a. Semiconductores intrnsecos:
Supngase que se tiene un
material con una estructura cristalina
perfecta, es decir, los tomos dispuestos
en figuras geomtricas regulares que se
repiten en todo el espacio ocupado por el
material. Los electrones ms alejados
del ncleo (llamados electrones de
valencia y que comnmente participan
en el mantenimiento de los enlaces
covalentes del cristal) pueden ser
excitados de tal manera que se
convierten en electrones de conduccin.
La figura 1 muestra esquemticamente
un diagrama de un material
semiconductor intrnseco, Silicio en este
caso. Si se aplica un campo elctrico al
material, tales electrones sern
acelerados y transportarn su carga a
travs del semiconductor.


Hueco
Si Si Si
Si Si Si
Enlace
covalente
Electrones de
valencia
Electrn de
conduccin
tomo
Figura 1: Diagrama esquemtico de parte de la configuracin
cristalina del silicio intrnseco, que es un tomo tetravalente. Ntese
que el rompimiento de alguno de los enlaces covalentes produce lo
que se denomina par electrn / hueco. Al aplicarse un campo
elctrico externo, el electrn podr alejarse, mientras que el hueco
podr ser llenado por algn otro electrn, lo que a su vez produce
que el hueco se desplace de sitio.
El espacio dejado por el electrn, llamado hueco, ser entonces ocupado por otro ele
ctrn
cercano. ste a su vez dejar otro hueco que eventualmente ser ocupado por un tercer
electrn y as
sucesivamente. En otras palabras, el hueco se desplazar a lo largo del material c
omo si fuera una
carga positiva libre.
Es bueno recalcar aqu que el rompimiento de los enlaces puede darse por mltiples
razones,
una de ellas la simple agitacin trmica de los tomos cuando el cristal se encuentra
a temperatura
ambiente.

b. Semiconductores extrnsecos:
Los materiales semiconductores contienen usualmente impurezas que afectan
significativamente la resistividad. En estos casos se habla de semiconductores e
xtrnsecos. Existen dos
tipos: tipo n y tipo p. A continuacin se dar una explicacin sobre lo que ocurre en
un semiconductor
tipo n.
Supngase que se tiene un cristal
de silicio, cuyos tomos son tetravalentes
y contienen 14 electrones cada uno. Si
dentro del cristal se sustituyen algunos
tomos por otros de fsforo que son
pentavalentes y tienen 15 electrones cada
uno, el resultado ser un cristal con
impurezas que contienen un electrn ms
de los necesarios para formar los enlaces
con los tomos vecinos, segn se aprecia
en la figura 2. As, el tomo de fsforo
puede perder fcilmente un electrn, el
cual a su vez podr adquirir movilidad
dentro de la red y podr desplazarse casi
libremente.


Si Si Si
Si Si P
Electrn extra
del fsforo
tomo de
silicio
tomo de
fsforo
Figura 2: Diagrama esquemtico de parte de la configuracin
cristalina del silicio con una impureza de fsforo, que es un tomo
pentavalente. Cuatro de los electrones del fsforo forman enlaces
con los de silicio vecinos, mientras que el quinto electrn es
susceptible de liberarse en la red.
Si ahora se considera lo tratado en el apartado anterior sobre semiconductores i
ntrnsecos, el
resultado global es el siguiente: existe una cierta cantidad de huecos provenien
te de los rompimientos
de los enlaces por agitacin trmica (y su equivalente cantidad de electrones) y una
cantidad adicional
de electrones provenientes de las ionizaciones de los tomos de fsforo. Como el nmer
o de electrones
de conduccin resulta mayor que el nmero de huecos mviles, se dice que el semiconduc
tor es
mayormente negativo en cuanto a sus propiedades de conduccin, o sea, es tipo n. L
os electrones en
exceso se denominan portadores mayoritarios de carga, y los huecos portadores mi
noritarios.
Considrese ahora una red cristalina de silicio con impurezas de tomos de boro, qu
e son
trivalentes con 5 electrones. En este caso, el tomo de boro requiere que un elect
rn del silicio se
desplace hacia l para formar el enlace. Si esto ocurre, el electrn va a dejar tras
de s un hueco que
podr ser llenado por otro electrn, el cual a su vez deja otro hueco en el lugar en
que se encontraba y
as sucesivamente. En otras palabras, se produce un hueco mvil. El semiconductor te
ndr un exceso
de huecos (que se pueden considerar como que tienen carga positiva) y por lo tan
to es de tipo p. En
este caso los huecos sern los portadores mayoritarios, mientras que los electrone
s de conduccin
(provenientes de los rompimientos de los enlaces) sern los portadores minoritario
s.
Obsrvese que tanto en el semiconductor tipo n como en el tipo p hay neutralidad
elctrica.

c. Construccin del diodo por unin pn:
Cuando se ponen en contacto las superficies de semiconductores tipo n y tipo p,
los electrones
del tipo n cercanos a la interfaz se difunden a travs de la superficie de separac
in hacia el tipo p,
ocupando los huecos presentes. Esto crea en el semiconductor p una capa delgada
sobrecargada de
electrones, contiguo a otra capa fina del semiconductor n deficiente de electron
es, y por tanto positiva.
Se forma de esta manera un campo elctrico dirigido del cristal n al cristal p. Es
te campo, que crea una
situacin de equilibrio que acta como barrera para la difusin de ms cargas, se denomi
na barrera de
potencial.
La barrera de potencial es superable. Si se aplica un campo elctrico externo con
sentido
opuesto y de magnitud suficiente para vencer el campo que acta como barrera, ento
nces los
electrones mviles del semiconductor n podrn difundirse a travs de la superficie de
separacin, y los
huecos tambin podrn efectuar su movimiento de p a n.
Obsrvese que si el campo externo aplicado tiene la misma direccin del campo inter
no,
entonces los electrones mviles tendern a alejarse de la superficie de separacin y n
o se producir
una corriente significativa a travs de la superficie.
Todo lo expuesto hasta el momento se puede resumir de manera prctica en lo sigui
ente: si se
conecta el lado p de un diodo al polo positivo de una fuente de corriente direct
a, se puede derribar la
barrera de potencial a partir de cierto voltaje dado y fluir una corriente de con
duccin. Si se conecta la
fuente con polaridad opuesta, la barrera se har mayor (mayor resistencia) y enton
ces la corriente
inversa ser muy pequea.
Se dice entonces que el diodo acta como una vlvula que permite el paso de la corr
iente
solamente en un sentido.

Trabajo previo
Elabore una figura similar a la figura 2 pero para el caso del tomo de boro (triv
alente). Adems, haga
diagramas que ilustren los conceptos expuestos en la seccin c, Construccin del diod
o por unin pn.

Equipo
1. Fuente de corriente directa.
2. Potencimetro de 680 O, 5 W.
3. Multmetro digital.
4. Diodo rectificador de Silicio y diodo rectificador de Germanio.
El estudiante debe aportar adems una hoja de papel logartmico.

Nombre
Placa (UCR)
Caractersticas










Procedimiento
El siguiente es el diagrama del circuito por construirse.


C
B A
V0 V R
Figura 3: Esquema del circuito para investigar la no linealidad del diodo. V0 re
presenta la fuente de voltaje CC, V representa
el multmetro utilizado como voltmetro, R representa la resistencia del potencimetro
y el otro smbolo representa el diodo.

1. Arme el circuito de la figura 3 usando el diodo de silicio. Explique a su pro
fesor la forma en que
tomar las medidas antes de proceder a hacerlas. Recuerde que debe tener la aproba
cin final de
su profesor antes de encender la fuente.
2. Vare el voltaje de la fuente y mida simultneamente Vd y VR. Empiece con Vd en e
l valor de 0,35 V
y llegue hasta aproximadamente 0,75 V (no necesariamente podr alcanzar tal valor)
. Llene la tabla
de datos siguiente donde ir anotando esos voltajes, sus incertidumbres y la corri
ente del circuito
calculada como I = VR / R. Adems, calcule las resistencias del circuito de la for
ma:
, y la resistencia del diodo como RIVVRRdcirc/)(+=d = Rcirc R.

Diodo de Silicio: R = ( ) O
Vd (V)
.Vd (V)
VR (V)
.VR (V)
I =VR / R (A)
.I (A)
Rcirc (O)
Rd (O)

































































































3. Haga la grfica de I en funcin de Vd y la grfica de Rd en funcin de I (sta en papel
logartmico).
4. Repita los pasos 1 al 3 para el diodo de germanio. En este caso, vare Vd entre
0,10 V y 0,50 V,
aproximadamente.

Diodo de Germanio: R = ( ) O
Vd (V)
.Vd (V)
VR (V)
.VR (V)
I =VR / R (A)
.I (A)
Rcirc (O)
Rd (O)

























































































Clculos, Grficas y Anlisis

Cuestionario
1. Cmo vara la resistencia de un diodo en conduccin cuando aumenta el voltaje aplica
do en sus
terminales?
2. Cul es la diferencia en la curva caracterstica del diodo de silicio con el diodo
de germanio?
3. Cul es la diferencia en las curvas de los diodos con respecto a la curva del fi
lamento de
tungsteno de la parte anterior?


















Conclusiones
CAMPO MAGNTICO 1: Alambre recto y bobina cuadrada


Objetivos
El objetivo general es que el estudiante comprenda el origen y el carcter vector
ial del campo
magntico desde el punto de vista emprico.
Especficamente:
1. Detectar y estudiar cmo interacta el campo producido por una configuracin de cor
riente
elctrica con el campo magntico terrestre.
2. Observar los efectos de dos configuraciones de una misma intensidad de corrie
nte en cuanto a
los campos que producen.
3. Obtener el valor numrico de la componente horizontal del campo magntico terrest
re.

Nota terica
En forma anloga a lo que ocurre en la electricidad, existe un tipo de fenmenos qu
e se
explican debido a una interaccin magntica. Hace muchos siglos se observ que ciertos
minerales de
hierro tenan la propiedad de atraer pequeos trozos de hierro. Esta propiedad resul
ta no estar
relacionada con la gravedad o con la interaccin electrosttica y en consecuencia se
le dio el nuevo
nombre de magnetismo.
Originalmente el magnetismo se descubri en materiales denominados magnticos que t
ienen
la caracterstica de poseer dos polos, es decir, regiones de alta concentracin magnt
ica. A uno de los
polos se le denomina polo Norte y al otro polo Sur. Tal denominacin proviene del
efecto de
alineamiento de una aguja imantada en presencia del magnetismo terrestre. Se ha
determinado que la
interaccin entre polos magnticos del mismo nombre es repulsiva y entre polos de di
stinto nombre es
atractiva. Esta caracterstica es muy similar a la interaccin entre cargas electros
tticas.
Con el afn de realizar descripciones ms sistemticas de los fenmenos magnticos, se de
fine
el concepto de campo magntico, que es una entidad vectorial. Se dice que el espac
io alrededor de un
imn permanente est ocupado por el campo magntico en forma algo parecida a como el c
ampo
elctrico ocupa el espacio alrededor de una carga elctrica.
Los experimentos realizados por Oersted en 1820 demuestran que tambin las corrie
ntes
elctricas producen campos magnticos, lo que constituy el inicio del desarrollo de u
na teora formal
del electromagnetismo que culmin con la proposicin de las ecuaciones de Maxwell ci
ncuenta aos
despus. A estos experimentos se unieron otros de Ampre, Biot y Savart que aclararo
n con exactitud
la relacin entre la corriente elctrica, la geometra del conductor que contiene tal
corriente y el campo
magntico. A continuacin se expondrn los resultados para dos configuraciones: el ala
mbre recto
infinito y la bobina cuadrada.

a. Campo magntico de un alambre largo y recto:
Considrese un alambre muy largo que se encuentra en posicin vertical y que transp
orta una
corriente de intensidad I. En tal caso, el campo magntico producido por la corrie
nte en el alambre ser
horizontal. La figura 1 muestra un corte transversal del alambre que transporta
una corriente que entra
al plano del papel. La intensidad del campo magntico depende de la distancia r entr
e el punto en que
se desea saber el campo y el centro del alambre. La direccin del campo se da segn
la llamada ley de
la mano derecha, y su magnitud (en Teslas) est dada por la expresin:
r
BAI

rBAIBTBfNS
Figura 1: Representacin del campo producido por un
alambre largo y recto con corriente que fluye hacia adentro
del plano del papel. El vector BA indica la intensidad del
campo en un punto dado a una distancia r del alambre.

Figura 2: Campo producido por el mismo alambre de la
figura 1 sumado con la componente horizontal del campo
magntico terrestre, BT, a una distancia r del alambre. El
vector r apunta hacia el Norte magntico.

rIBA7102-= (1)
Si ahora se considera el alambre inmerso dentro del campo magntico terrestre, el
valor del
campo magntico total ser la resultante de dos vectores: el campo terrestre y el ca
mpo debido al
alambre. La figura 2 muestra la situacin especial de BT perpendicular a BA. La re
lacin entre las
magnitudes de los campos est relacionada a travs del ngulo de deflexin f entre la di
reccin Norte-
Sur y la direccin del campo resultante. La expresin es:
fcotATBB= (2)

b. Campo producido por una bobina cuadrada:
Considrese ahora una bobina
cuadrada colocada en un plano vertical y
orientada con su eje en el sentido Este-
Oeste, segn se muestra en la figura 3.
Entonces, el campo magntico producido en
su centro por una corriente que circula en
ella tendr una direccin hacia el Este o el
Oeste, dependiendo del sentido de la
corriente. Si la bobina se orienta de tal
modo que los alambres horizontales estn
en la direccin Norte-Sur, segn muestra la
figura, entonces el campo magntico
resultante B estar inclinado desde el norte
hacia el este u oeste, dependiendo del
sentido de la corriente en los alambres. En
el caso de la figura, ntese que la direccin
del campo B de la bobina se da por la ley
IBBBBTENSOf
Figura 3: Campo magntico en el centro de una bobina cuadrada
orientada verticalmente con el plano que la contiene en el sentido
Norte-Sur. El campo mostrado se obtendr cuando la corriente
circula de norte a sur en la parte superior y en la ausencia de
otros campos.
de la mano derecha con respecto a la corriente. Se puede mostrar que la magnitud
de B medido en el
centro de una bobina cuadrada de lado L, con N vueltas de alambre y que permite
el paso de una
corriente I por cada vuelta de alambre, est dada por la expresin:
LNIBB71028-= (3)
Similarmente al caso del alambre recto, la relacin entre BT y B est dada por:
fcotBTBB= (4)
Trabajo previo
1. Deduzca las ecuaciones (1) por ley de Ampre y (3) por ley de Biot y Savart (us
e argumentos de
simetra).
2. Calcule el campo magntico a una distancia perpendicular z de una espira circul
ar de radio R. La
distancia z se mide a partir del centro de la espira.

Equipo (Parte A: Alambre largo y recto)
1. Cable largo de cobre con revestimiento.
2. Fuente de corriente directa.
3. Ampermetro para corriente directa.
4. Brjula.
Adems se requerir de parte del estudiante dos hojas de papel polar, una regla grad
uada en mm y un
transportador.

Nombre
Placa (UCR)
Caractersticas







Procedimiento A
1. Cercirese de que en la mesa de trabajo destinada para ese fin se encuentre el
cable suspendido
del techo en posicin vertical. Si no es as, haga los ajustes necesarios con la aut
orizacin de su
profesor.
2. Conecte el cable a la fuente y al ampermetro de modo que todos los elementos e
stn en serie.
3. Haga circular una corriente de 1 amperio por el cable. Indique el sentido de
la corriente.
4. Observe el comportamiento de la aguja de la brjula al acercarla y alejarla del
cable en diferenctes
direcciones. Haga un diagrama de la posicin de la aguja cuando est junto al cable
en los
siguientes puntos: al norte, al sur, al este y al oeste.


Diagrama de posiciones de la aguja.
5. Tome una de las hojas de papel polar y dblela a la mitad de modo que el origen
del papel est en
el doblez.
6. Coloque el origen a 3 cm hacia el norte del cable y trace un segmento de rect
a que indique el
ngulo de desviacin f con respecto al norte.
7. Repita el punto anterior para distancias de 4 cm hasta 7 cm. Recopile la info
rmacin en la tabla
siguiente.

I = ( ) A; .r = cm; .f =
r (cm)
f ()
BA (T)
.BA (T)
BT (T)
.BT (T)






























8. Utilice las ecuaciones (1) y (2) para obtener los valores de BA y BT. Adems, u
se las ecuaciones de
propagacin de errores para obtener los valores de .BA y .BT.
9. Calcule el promedio en los valores de BT y comprelo con el valor terico de (2,8
90.01)x10-5 T
dado por el Instituto Costarricense de Electricidad (ICE).

Espacio para clculos
10. Repita los puntos del 5 al 9 pero para una corriente de 2 amperios.

I = ( ) A; .r = cm; .f =
r (cm)
f ()
BA (T)
.BA (T)
BT (T)
.BT (T)
































Espacio para clculos
11. Elabore en una misma hoja de papel la grfica de .tan /vsr.1. Relacione las ex
presiones
tericas para predecir la forma de la curva tan /vsr1. Se ajustan los datos con la
teora?


Grficas A
Equipo (Parte B: bobina cuadrada)
1. Bobina cuadrada de aluminio con varias vueltas de alambre enrollado.
2. Fuente de corriente directa.
3. Ampermetro para corriente directa.
4. Brjula.
Adems se requerir de parte del estudiante dos hojas de papel polar y una regla gra
duada en mm.

Nombre
Placa (UCR)
Caractersticas







Procedimiento B
1. Se dispone en su mesa de trabajo de una bobina cuadrada con un alambre enroll
ado en un cierto
nmero de vueltas. Cuntelas. Mida la longitud L de un lado de la espira.
2. Coloque una hoja de papel polar extendida sobre el plano del soporte de la bo
bina con el origen de
coordenadas en el centro geomtrico de las espiras.
3. Coloque la brjula en el origen de coordenadas del papel y oriente el plano com
o se muestra en la
figura 3.
4. Conecte la bobina a la fuente y al ampermetro de modo que estn en serie.
5. Proceda a llenar la siguiente tabla de datos para distintas corrientes medida
s en el ampermetro.
L = ( ) cm; N = ; .f =
I (A)
.I (A)
f ()
B (T)
.B (T)
BT (T)
.BT (T)
0.5






1.0






1.5






2.0






2.5







6. Utilice las ecuaciones (3) y (4) para obtener los valores de B y BT. Adems, us
e las ecuaciones de
propagacin de errores para obtener los valores de .B y .BT.
7. Calcule el promedio en los valores de BT y comprelo con el valor terico.

Espacio para clculos
8. Fije ahora la corriente en la bobina en 1 amperio. Empezando desde el centro
geomtrico, desplace
la brjula a lo largo del eje de la bobina (es decir, en direccin Este-Oeste) mient
ras mide el ngulo
de desviacin para distintas distancias z con respecto al centro. Use una nueva ho
ja en blanco
para registrar las orientaciones en las distintas posiciones. Complete la siguie
nte tabla de datos,
tratando de alejar la brjula progresivamente hasta lo ms lejano posible.


I = ( ) A; N = ; .f =
z (cm)
1 / z 3 (cm-3)
f ()
tan f





































9. Elabore la grfica tan f vs 1/z3. Note si existe alguna zona donde haya lineali
dad entre las
variables. Si es as, comente sobre lo que significa fsicamente esa zona (guese usan
do el
resultado del punto 2 del trabajo previo y la ecuacin 4, juntando las ecuaciones
para que quede
tan f en funcin de 1/z3 en el caso en que z >> R ).

Grficas B
Cuestionario
1. Cmo influye la intensidad de corriente en el campo magntico del alambre largo re
cto?
2. Suponga que el ngulo f que se deba medir (en cualquiera de los dos casos) era 2,
pero por
error al hacer la lectura se anot 1. Comente sobre la variacin que le producira este
error en
el resultado final.
3. Cmo influye la intensidad de corriente en el campo magntico de la bobina cuadrad
a?
4. Para corrientes de 1 amperio tanto en el alambre largo recto como en la bobin
a, en qu caso
es mayor la intensidad del campo magntico? Por qu?


















Conclusiones

CAMPO MAGNTICO 2: bosquejo de campo y solenoide


Objetivos
El objetivo general es que el estudiante comprenda el origen y el carcter vector
ial del campo
magntico desde el punto de vista emprico.
Especficamente:
1. Construir un mapa de lneas de induccin magntica en el plano horizontal bisector
de una
bobina cuadrada.
2. Calcular la densidad lineal de las lneas de induccin magntica y su relacin con la
magnitud
del campo en el caso de un solenoide de poca longitud.

Nota terica
a. Bosquejo del campo magntico en una bobina
cuadrada
En la prctica anterior se ha visto que
sobre el plano de una bobina cuadrada concurren
dos campos magnticos: el propio de la bobina y el
terrestre. Es posible obtener un mapa del campo
magntico propio de la bobina eliminando
operacionalmente la influencia del campo terrestre.
A continuacin se presentar un mtodo vectorial
til para llevar a cabo dicha eliminacin.
Supngase que sobre la bobina circula una cierta
corriente I que causa un campo magntico B en
el centro geomtrico de la bobina dirigida hacia
cierta direccin, no necesariamente perpendicular
al campo magntico terrestre BT, segn se
muestra en la figura 1. Una brjula que se
encuentre en dicho centro apuntar segn la
resultante B de modo que: rr
TBBBBr+= (1)
Si ahora se invierte el sentido en que circula la
corriente, entonces el campo de la bobina tendr
un sentido opuesto con respecto al original. Tal
campo puede denotarse por tanto como -B. La
aguja apuntar en direccin del vector resultante
R, que como se ve en la figura 2 se obtiene de la
siguiente forma:
TBBBRrrr+-= (2)
De esta expresin se deduce que: rr
(RBBr--=BT (3)


BBBBT
Figura 1: Suma de campos magnticos terrestre y de
la bobina.

R-BBBT
Figura 2: Suma de campos magnticos terrestre y de
la bobina (con corriente en sentido inverso con
respecto al de la figura 1).

B-RRBBBT

Figura 3: Construccin final. El vector BB bisecta el
ngulo comprendido entre B y -R.


NSB
(a)
NSBR
(b)
NSBRBB-R
(c)
Figura 4: Determinacin de la direccin del campo magntico de la bobina por el mtodo v
ectorial de eliminacin del
campo terrestre. (a) Primer trazo del rayo correspondiente a la deflexin inicial
de la aguja de la brjula; (b) Trazo del rayo
correspondiente a la desviacin de la aguja cuando se ha invertido la corriente a
travs de la bobina; (c) Determinacin de
la direccin del campo de la bobina.

La figura 3 muestra la construccin vectorial de esta ltima expresin. Ntese que el ve
ctor B
representa la bisectriz del sector angular comprendido entre B y -R, puesto que
los catetos opuestos de
los tringulos (B,B) y (-R,B) son iguales. Esta construccin es entonces la base par
a el mtodo de
eliminar la contribucin del campo magntico terrestre. La figura 4 muestra los paso
s requeridos para
ello.
Inicialmente la bobina debe orientarse segn se ha mostrado en la figura 3 de la p
rctica
anterior. Sobre cualquier punto en el plano horizontal de la bobina se marca la
direccin Norte-Sur y se
coloca sobre ella el centro de la brjula. Seguidamente se hace circular la corrie
nte que causa una
inclinacin en la aguja, segn se muestra en la figura 4(a). Esa direccin debe marcar
se con un trazo.
Cuando se invierte el sentido de la corriente, la aguja se deflecta segn se ve en
(b). De nuevo se
marca la direccin. Finalmente se retira la brjula y se completa la construccin como
se presenta en
(c): la direccin de B est en la bisectriz del ngulo formado por los dos trazos.

b. Campo de un solenoide de poca longitud
Las limaduras de hierro espolvoreadas sobre el plano bisector de un solenoide c
on corriente se
alinearn con el campo magntico y formarn un mapa de lneas de campo. Existen zonas de
ntro del
mapa en donde las lneas estn muy dispersas y zonas donde las lneas se apretujan muc
ho. Se puede
mostrar que en las primeras, la intensidad del campo magntico es pequea, mientras
que en las
segundas el campo es ms elevado.
Si bien el clculo de la intensidad del campo magntico en cualquier punto del plano
bisector
est fuera del nivel de este curso, si es posible calcular por la ley de Biot y Sa
vart la magnitud del
campo en un punto situado en el eje de simetra del solenoide. La figura 5 muestra
la geometra del
problema, en donde el campo estar dado por la siguiente expresin:
(217coscos102aap-
=
-
LNIBS (4)
donde L es la longitud del solenoide, N es el nmero de vueltas del alambre, I es
la corriente que circula
por el alambre y los ngulos 1a
y 2a son los ngulos entre el punto del eje de simetra donde se
quiere calcular el campo y los extremos del solenoide.

La1a2peje
Figura 5: Punto p situado en el eje del solenoide corto y cantidades geomtricas i
mportantes para el clculo de la magnitud
del campo magntico.

Trabajo previo
Deduzca la ecuacin (4).

Equipo (Parte A: Bosquejo del campo magntico en una bobina cuadrada)
1. Bobina cuadrada de aluminio con varias vueltas de alambre enrollado.
2. Fuente de corriente directa.
3. Ampermetro para corriente directa.
4. Brjula.
Adems se requerir de parte del estudiante una hoja de papel blanco.

Nombre
Placa (UCR)
Caractersticas







Procedimiento A
1. Coloque el plano de la bobina de la forma descrita en la figura 3 de la prctic
a anterior. Fije encima
del plano la hoja blanca.
2. En distintos puntos de la hoja, trace ejes perpendiculares que apunten hacia
los cuatro puntos
cardinales. Para mejorar los resultados, escoja entre 15 a 20 puntos, tratando d
e que sean
representativos de las diferentes zonas del plano.
3. Conecte la bobina a la fuente de corriente y al ampermetro de modo que estn en
serie. Haga
circular una corriente de 1 amperio.
4. Escoja un punto de los marcados con los ejes perpendiculares y proceda a dete
rminar la direccin
del campo de la bobina segn se ha descrito en la nota terica, particularmente en l
a figura 4 de
esta prctica.
5. Repita lo anterior para todos los puntos marcados en la hoja.
6. Con base en las direcciones de B, trace las lneas de campo magntico que mejor s
e ajusten a su
mapa.

Mapa A
Equipo (Parte B: Campo de un solenoide de poca longitud)
1. Solenoide.
2. Fuente de corriente directa.
3. Ampermetro para corriente directa.
4. Limadura de hierro.
5. Placa soporte para insertar en el solenoide.
6. Hoja grande con muescas para fijar sobre la placa soporte (suministrada por e
l profesor).
El estudiante debe adems aportar un transportador.

Nombre
Placa (UCR)
Caractersticas







Procedimiento B
1. Conecte la fuente y el ampermetro al solenoide de modo que estn en serie.
2. Adhiera el papel sobre la placa soporte. Marque una lnea longitudinal que corr
esponda al eje de
simetra del plano (vea la figura 6).
3. Con cuidado, espolvoree uniformemente las limadura de hierro sobre el papel e
inserte la placa con
el papel dentro del solenoide por las muescas. Si el soporte no entra, gire el s
olenoide 90 con
respecto a su eje de simetra e intente de nuevo.
4. Haga circular una corriente pequea por el solenoide. D pequeos golpes con el ded
o sobre la
placa para permitir la alineacin de la limadura. Ajuste la corriente si es necesa
rio para obtener un
buen mapa. Anote el valor de la corriente I y la longitud interna L del solenoid
e, con sus respectivas
incertidumbres. Apague la fuente.




Espacio para datos
5. Cuidadosamente retire el solenoide de la placa de manera que no se destruya e
l mapa. Visualice
las lneas de campo y trace a lpiz varias lneas que salgan del centro de la bobina (
en la figura 6
se muestra una de ellas). Asegrese de trazar una lnea cercana al eje de simetra. De
vuelva la
limadura de hierro a su contenedor.
6. Marque en la hoja el punto que corresponde al centro del solenoide (xo). A pa
rtir de l, marque otros
puntos a lo largo del eje (x1, x2, ) espaciados cada 2 cm. Para cada punto, mida
la distancia
perpendicular yI entre el eje y la lnea cercana ya marcada, segn se aprecia en la
figura 6. Llene la
tabla siguiente.

yixix2x1xoLeje
Figura 6: Colocacin del papel en el plano bisector del solenoide. Tambin se presen
ta una de las lneas de campo
cercana al eje de simetra y las cantidades geomtricas pertinentes.

.x, .y = cm; N = ; .a =
x (cm)
y (cm)
a1
()
a2
()
BS (T)
.BS (T)
D (cm-1)
2.0






4.0






6.0






8.0






10.0






12.0






14.0






16.0






18.0





















La ltima columna contiene la densidad lineal D de lneas de fuerza, la cual es igua
l a la razn del
nmero de lneas por unidad de longitud. D puede estimarse, para cada punto xI, de l
a forma
siguiente:
yD1= (5)
Para el clculo de BS, trace los segmentos correspondientes a los ngulos 1a
y 2a y luego aplique
la ecuacin (4).
7. Haga la grfica de BS en funcin de D y comente.

Mapa y grfica B
Cuestionario
1. Por qu se usa corriente directa en este experimento?
2. Es posible comprobar la Ley de Gauss para magnetismo con ayuda de los mapas fo
rmados?
3. Qu fenmeno en las lneas de campo se observa cerca de las paredes internas y exter
nas del
solenoide? Qu se puede sugerir para disminuir su efecto?
4. La forma de los mapas obtenidos se vern afectados por (a) la intensidad de la c
orriente y (b) el
campo magntico terrestre?





















Conclusiones

INDUCCIN ELECTROMAGNTICA


Objetivos
El objetivo general es que el estudiante comprenda el concepto bsico de la ley d
e induccin de
Faraday en el caso de campos magnticos variantes en el tiempo generados por una b
obina.
Especficamente:
1. Comprender cmo las corrientes elctricas variantes en una bobina pueden inducir
corrientes
variantes en otra bobina que no est conectada a la primera.
2. Apreciar el efecto de una barra ferromagntica sobre la fem inducida en la segu
nda bobina.

Introduccin
La ley de induccin de Faraday-Lenz se puede enunciar de la siguiente manera: La f
em
inducida en un circuito es igual al negativo de la velocidad con que cambia con
el tiempo el flujo
magntico a travs del circuito. En trminos matemticos, esta ley se escribe de la forma
siguiente:
.-=
F-=AdBdtddtdBrre (1)
en donde .=FAdBBrr
es el flujo magntico a travs del circuito que subtiende un rea A sobre la
que se calcula el flujo. El signo - en (1) corresponde a la ley de Lenz, que dice
que en un circuito
conductor cerrado, la corriente inducida aparece en una direccin tal que sta se op
one al cambio que
la produce. En otras palabras, la corriente inducida en el circuito debido al cam
bio en el tiempo del flujo
magntico es tal que crea un flujo magntico opuesto al flujo inicial. En esta prctic
a se determinar la
magnitud de la induccin, por lo que la ley de Lenz no ser tomada en cuenta.
Segn se desprende de (1), existen dos formas de generar una fem en un circuito,
ya sea (a)
variando el campo magntico en el tiempo, o (b) variando los parmetros geomtricos de
l circuito de
modo que el rea vare con el tiempo. En este experimento se estudiar slo el primer ca
so.

Nota terica
A continuacin se estudiar el
fenmeno de induccin mutua y autoinduccin
presente cuando una bobina de devanado
apretado con corriente alterna se coloca frente a
otra bobina similar. La figura 1 muestra la
situacin considerada. Por simplicidad, se
muestran solamente las lneas de campo B12
generadas por la bobina 1 (de N1 vueltas de
alambre) que inciden sobre la bobina 2 (de N2
vueltas). El campo B12 (producido por la
corriente i1) induce un flujo magntico 12F
sobre cada vuelta de la bobina 2, de modo que
el flujo neto que 1 causa sobre 2 es 122FN. Es
importante notar que no es el flujo total
que percibe la bobina 2, puesto que si sta a su
122FN
campo B12
Bobina 1N1 vueltascorriente i1corriente i2
Bobina 2N2 vueltas
Figura 1: Una bobina 1 con corriente variante en el tiempo en
presencia de otra bobina 2. La corriente de 1 induce una
corriente variante en 2 cuya intensidad depende de la
inductancia mutua M.
vez conduce una corriente i2, tal corriente tambin producir un flujo.
Ahora bien, la corriente i1 producir adems un flujo sobre la misma bobina 1, de mo
do que el
flujo sobre una espira sola puede escribirse 11F. El flujo neto sobre todas las
espiras de 1 va a ser
. Tenemos pues que una corriente sobre una bobina genera dos flujos: uno sobre s
misma
(autoinduccin, caracterizada por una autoinductancia L) y otro sobre una bobina c
ercana (induccin
mutua, caracterizada por una inductancia mutua M).
111FN
El flujo magntico de una bobina sobre s misma es proporcional a la corriente que
se
transporta en esa bobina. De esta manera escribimos:
11111iLN=F (2)
donde precisamente la autoinductancia L es la constante de proporcionalidad. Si
usamos la ley de
Faraday-Lenz en la forma (1), vemos que:
()
dtdiLdtNd1111111-=
F-=e (3)
Por otro lado, el flujo de la bobina 1 sobre la otra bobina es tambin proporciona
l a i1, donde la
constante de proporcionalidad es M:
()
dtdiMdtNd112212-=
F-=e (4)
Esta expresin indica que la fem inducida en la bobina 2 depende de la variacin de
corriente en la
bobina 1 a travs del parmetro de inductancia mutua. Este tratamiento es completame
nte anlogo
para el caso en que exista simultneamente una corriente i2 en la bobina 2. La fem
inducida por
autoinductancia sobre 2 es:
()
dtdiLdtNd2222222-=
F-=e (5)
Asimismo, la fem que la bobina 2 causa sobre la 1 est dada por:
()
dtdiMdtNd221121-=
F-=e (6)

Caso particular de corrientes alternantes:
En esta prctica se estudia el caso de una corriente alterna sobre una bobina y s
u efecto sobre
la bobina cercana. El siguiente tratamiento busca encontrar las relaciones entre
variables elctricas de
inters.
Supngase que sobre la bobina 1 ingresa una corriente alterna de la forma ()tito.
sin)(11=i,
donde i1o es la amplitud de la corriente y . es la frecuencia angular de pulsacin
. Utilizando la
ecuacin (4) se obtiene:
()
)cos(
)sin(
)(1112tMidttidMtoo...e-=-= (7)
Si se usa la relacin: )2/sin(cospaa+=, la ecuacin (7) se puede escribir:
..
.
..
.+-=
2sin)(112p..etMito (8)
que es de la forma )sin()(maxa.ee+=tt. Esta expresin dice que tanto la corriente
en la bobina 1
como la fem inducida en la bobina 2 son funciones senosoidales, con un desfase d
e 90 entre ambas.
En otras palabras, se induce en la bobina 2 una corriente alterna.
Como se ver en el procedimiento, en la prctica se utilizarn voltmetros que funciona
n en el
modo AC, es decir, corriente alterna. En tal caso, los valores desplegados por los
instrumentos no son
los valores instantneos, sino los valores eficaces, o valores medios cuadrticos (r
ms). Refirase al
Apndice B para las explicaciones del caso. El valor eficaz del voltaje dado en (8
), segn la prescripcin
de dicho apndice, vendr dado por:
()()rmsormsiMMi11122==..e (9)
donde se ha usado: ()2/11ormsii=. Este resultado dice que existe una relacin line
al entre los
valores eficaces de la fem inducida a la bobina 2 y la corriente de la bobina 1.

Otra expresin puede encontrarse para la fem inducida en la bobina 1 por la corri
ente de 2:
()()rmsormsiMMi22212==..e (10)
lo que viene a corroborar el fenmeno de induccin mutua, o sea, una corriente sobre
una bobina causa
una corriente sobre la otra, la que a su vez produce una corriente sobre la prim
era que se suma sobre
la corriente original. Cuando un ampermetro mide la corriente sobre una bobina, e
n realidad est
midiendo la suma algebraica de las dos contribuciones. Lo mismo pasa con los vol
tajes.
En todo caso, es razonable suponer que mientras mayor sea el voltaje en la bobi
na 1, tanto
mayor ser el voltaje a travs de la bobina 2. Por otro lado, si la bobina 2 se alej
a de la 1, es lgico
esperar que la inductancia mutua M disminuya, y por tanto la interaccin de 1 sobr
e 2 (y viceversa) se
reduzca. Son estas suposiciones las que se desea comprobar experimentalmente en
esta prctica.

Trabajo previo
1. Calcule la autoinductancia L de un solenoide largo y recto.
2. Investigue la relacin entre la inductancia mutua M y las inductancias L1 y L2
de dos solenoides
cercanos.
3. Investigue qu ocurre con la autoinductancia L de un solenoide cuando se le int
roduce una barra de
un material ferromagntico. Qu efectos tiene esto sobre la fem inducida en el segund
o
solenoide?
4. Qu es un transformador? Qu tipos de transformadores hay?

Equipo
1. Generador de onda seleccionado para ondas senosoidales.
2. Dos cajas de sustitucin de resistencias.
3. Dos inductores de 840 mH.
4. Una barra metlica para introducir entre los inductores.
5. Dos multmetros digitales.

Nombre
Placa (UCR)
Caractersticas
















Procedimiento
1. Arme el circuito de la figura 2. Conecte
los multmetros de modo que midan
voltaje AC.
2. Coloque las bobinas de modo que
estn en contacto como si formaran una
bobina ms larga (esto es, D = 0).
3. Aumente el voltaje de la fuente al
mximo y vea la lectura de 2e. Para
establecer un punto de operacin ade-


L2 =
840m.
L1 =
840m.
E0
R1 = 1kOe1 R2 =
660O
e2
D
Figura 2: Circuito de induccin mutua. Los voltmetros miden las
cadas de potencial a travs de los inductores. D representa la
distancia entre los bordes prximos de los inductores.
cuado, proceda a variar la frecuencia de la fuente y observe el valor de 2e. Esc
oja un valor de
frecuencia donde 2e sea mximo. Anote ese valor de frecuencia en las tablas que si
guen y fjese
que se mantenga constante en todo el resto del procedimiento.
4. Empezando desde un mnimo de voltaje en la fuente, vare 1e
gradualmente mientras mide 2e.
Llene la siguiente tabla de datos:
f = Hz Bobinas en contacto (sin barra)
1e(V)
1e.(V)
2e(V)
2e.(V)

































5. Repita el punto anterior para el caso en que se inserte la barra metlica a tra
vs de las bobinas.
f = Hz Bobinas en contacto (con barra)
1e(V)
1e.(V)
2e(V)
2e.(V)

































6. Elabore en una misma grfica las curvas 2evs 1e
para los dos casos (sin barra y con barra). Ajuste
las curvas y comprelas.
7. Retire la barra de metal y suba el voltaje de la fuente al mximo. Separe las b
obinas de manera que
D = 1 cm y tome el dato de 2e. Repita para separaciones progresivas de D hasta d
onde el valor de
2e sea mensurable. Repita las medidas insertando la barra de metal. Complete los
cuadros
siguientes, teniendo el cuidado de que 1e
se mantenga constante. Si no es as, ajuste con la perilla
de amplitud del generador.
Bobinas separadas (sin barra)
1e
(V)
1e.
(V)
D
(cm)
2e
(V)
2e.
(V)









































Bobinas separadas (con barra)
1e
(V)
1e.
(V)
D
(cm)
2e
(V)
2e.
(V)









































8. Elabore en una misma grfica las curvas 2evs para los dos casos (sin barra y co
n barra). Ajuste
las curvas y comprelas.
D

Grficas y observaciones

Cuestionario
1. Qu relacin existe entre las cadas de voltaje en las bobinas cuando se encuentran
en contacto?
2. Qu funcin desempea la barra de metal en cuanto a las cadas de voltaje?
3. Cmo vara el voltaje en la bobina 2 con la distancia de separacin entre las bobina
s?
4. Se puede decir que las bobinas actan como un transformador? Explique.






















Conclusiones



INTRODUCCIN AL USO DEL OSCILOSCOPIO


Objetivos
En esta prctica el estudiante debe familiarizarse con los principios fundamental
es del
funcionamiento de un osciloscopio de rayos catdicos (ORC), as como de las tcnicas bs
icas de su
modo de operacin. Especficamente, se desea lo siguiente:
1. Utilizar el osciloscopio de doble trazo en cualquiera de sus dos canales.
2. Identificar y medir voltajes de seales CD.
3. Utilizar el generador de seales peridicas.
4. Identificar y medir frecuencias y voltajes de seales peridicas, particularmente
seales
senosoidales.
5. Sustituir el barrido horizontal automtico del osciloscopio por una seal externa
.
6. Identificar los lmites de medicin del osciloscopio, tanto en frecuencia como en
voltaje.

Nota terica
El osciloscopio de rayos catdicos (ORC) es uno de los instrumentos ms comunes y ti
les en
muchos laboratorios modernos. La palabra osciloscopio es una combinacin de los vo
cablos
oscilacin y scopio (del griego skopein, ver). Se utiliza para representar grficamente
amplitud
instantnea de una tensin en funcin del tiempo.
Como su nombre lo sugiere, la parte fundamental de un ORC es un tubo de rayos c
atdicos. El
tubo es de vidrio y tiene en el interior aire o nitrgeno muy enrarecido, es decir
, a presiones muy bajas
(hasta el orden de 10-5 Torr, o mm de Mercurio). El trmino rayos catdicos fue asig
nado a la
emanacin proveniente de un electrodo llamado ctodo colocado en un tubo al vaco. La
palabra
ctodo proviene del trmino griego katodos que significa camino descendente. Se asign e
nombre al electrodo de menor potencial en un elemento de circuito dado. Hoy es s
abido que tal
emanacin est conformada por un haz de electrones excitados trmicamente y acelerados
hacia el
nodo (del griego, camino ascendente) o polo positivo del tubo al vaco.
La figura 1 muestra una representacin esquemtica del tubo de un ORC. La pantalla e
s
fluorescente, es decir, produce luminiscencia a temperatura ambiente que provien
e de la desexcitacin
de sus tomos en diversos pasos o niveles de energa hasta alcanzar su estado base.

Placas dedeflexinverticalFilamentoRejillanodosCan electrnicoPlacas dedeflexinhorizonta
lPantalla
Figura 1: Esquema simplificado del tubo de rayos catdicos. Se observa el can electrn
ico, las placas deflectoras y la
pantalla. Vista de frente, la pantalla luce como la de un televisor pequeo.
El can electrnico est compuesto por un filamento que, al ser calentado por una corri
ente,
excita los electrones del ctodo, los cuales son atrados hacia los nodos situados de
spus de una
rejilla colimadora cuya funcin es limitar el nmero de electrones que pasan (esto e
st asociado con el
brillo). Los nodos se disponen de tal manera que configuran un haz fino de electr
ones. La diferencia
de potencial entre nodo y ctodo es del orden de los kV, y usualmente se denomina v
oltaje de
aceleracin.
El haz pasa luego a travs de dos pares de placas. Las primeras (llamadas placas d
e deflexin
vertical) permiten alterar la direccin del haz en direccin vertical, hacia arriba
o hacia abajo
dependiendo de la polaridad aplicada. Las segundas (placas de deflexin horizontal
) producen
desviaciones horizontales, hacia la izquierda o la derecha. La funcin precisa de
estas placas se
discute en el apartado siguiente.

Funcin de las placas de deflexin
El haz de electrones emerge del can
de electrones como un punto que se observara
en el centro de la pantalla a no ser que sufra
alguna desviacin posterior. La figura 2
muestra esta situacin, donde el potencial
aplicado a cada par de placas es cero. El haz
se ha representado como un pequeo crculo
oscuro en el centro de la pantalla.
En la figura 3 se presentan varios
ejemplos de cmo puede lucir la pantalla con
diversos voltajes aplicados a las placas de
deflexin. En (a) y (b) se aplica un voltaje
constante a solo uno de los canales, por lo que
el crculo solamente se mueve en una
direccin. En la situacin (c) se aplican voltajes
en los dos pares de placas, por lo que el crculo
se ha movido en las direcciones vertical y
horizontal. En (d) se ha insertado una seal
oscilatoria del tipo senosoidal a las placas de
deflexin vertical al igual que un voltaje
constante a las otras. El resultado es que el
crculo se mueve armnicamente hacia arriba y
hacia abajo. Si la seal peridica es de
suficiente alta frecuencia (de aproximadamente
20 Hz hacia arriba), el ojo deja de percibir el
movimiento oscilatorio y queda en la retina la
impresin de un segmento de recta fijo. En
estas circunstancias no es posible apreciar el
carcter temporal de la seal.

VHVV
Figura 2: Representacin esquemtica de la pantalla
fluorescente vista de frente. Se muestran tambin las
placas de deflexin horizontal y vertical y sus respectivas
variables de voltaje, VH y V.


(a)0=V, V (b) 0>H0<V, 0=HV

(c)0<V, V (d) V, V 0>HoscV 0>H
Figura 3: Algunos casos de desviaciones del haz de
electrones. (a) Voltaje positivo en las placas horizontales;
(b) Voltaje negativo en las placas verticales; (c)
Combinacin de los voltajes anteriores; (d) Voltaje
oscilante en las placas verticales y positivo en las
horizontales.

Barrido automtico del canal horizontal
El problema mencionado al final del apartado anterior tiene fcil solucin. Como se
ha visto, la
posicin del punto en la pantalla depende de las tensiones aplicadas a las placas
en un instante dado.
Supngase que se tienen dos seales de tensin variable con el tiempo, una senosoidal
y otra lineal. La
figura 4 muestra los diagramas en el tiempo de ellas. Se conecta la seal lineal a
las placas de
deflexin horizontal y la otra a las de deflexin vertical. La figura 5 presenta la
construccin de la seal
vista en pantalla a partir de las dos anteriores. Ntese que si se conoce la pendi
ente de la seal lineal,
es posible reconstruir la onda senosoidal como funcin del tiempo.
En la construccin de la figura 5 se observa que se ha aprovechado tan slo la mita
d de la
pantalla. Para lograr la representacin de la seal en toda la pantalla, se puede ut
ilizar una seal
interna del ORC conectada al canal horizontal tipo diente de sierra (figura 6) q
ue empieza en valores
negativos de voltaje, sube a valores positivos y luego regresa casi instantneamen
te al inicio. Cuando
el voltaje cambia del mnimo al mximo, el haz de electrones se desplaza en su compo
nente horizontal
del extremo izquierdo al derecho de la pantalla. Se dice entonces que hace un ba
rrido horizontal y el
circuito responsable de esto es llamado oscilador de barrido horizontal o circuito
base de tiempos.

VVtTT/20
VHtTT/20
Figura 4: Representacin grfica de (a) una seal senosoidal y de (b) una seal lineal.
Las escalas de tiempo utilizadas
son arbitrarias.

VVtTT/20VHtTT/20Pantalla
Figura 5: Construccin de una seal senosoidal conectada al canal vertical sincroniz
ada con una
seal lineal conectada al canal vertical.

VHtT02T3T
Figura 6: Tensin del oscilador de barrido horizontal en funcin del tiempo. T es el
perodo de la seal.

La pendiente m de la seal diente de sierra puede variarse para hacer que se dist
inga mejor la
seal del canal vertical (a mayor pendiente, la seal vertical se extiende ms sobre la
pantalla, segn
se puede deducir de la figura 5). Se puede escribir:
TntnTmttVH)1( para )(+<<= (1)
en donde n es un nmero natural. Por otro lado, la deflexin horizontal X que sufre
el haz es
proporcional a la tensin VH. Esto se expresa:
hXVH= (2)
donde h es una constante. Igualando (1) y (2) y despejando para X se halla:
thmX= (3)
Puesto que en la pantalla es fcil medir las deflexiones X , se puede entonces des
pejar t de (3) y
escribir:
XKtt= (4)
donde Kt es una constante denominada constante de calibracin. En otras palabras,
si se conoce el
desplazamiento X y la constante Kt, se puede calcular el tiempo que transcurri de
sde el punto inicial
hasta el final del desplazamiento. Las distintas constantes de calibracin estn def
inidas en el aparato,
y generalmente vienen indicadas en la perilla de base de tiempos (TIME/DIV por eje
mplo) y se
expresan en s/div, ms/div o s/div, segn el caso (div significa divisin, y equivale a
1 cm).
La forma de medir voltajes verticales es totalmente anloga. La ecuacin es:
YKVVV= (5)
donde KV es la constante de calibracin para tensiones verticales, tambin llamada g
anancia debido a
su utilidad para amplificar seales pequeas. Las ganancias vienen indicadas en las
perillas de los
canales (VOLT/DIV) y se expresan en V/div, mV/div o V/div.
Para facilitar la medida de las desviaciones tanto horizontales (X) como vertic
ales (Y), la
pantalla posee una cuadrcula en donde cada unidad longitudinal representa una div
isin (o 1 cm), y las
pequeas marcas intercaladas (por lo general cuatro marcas por divisin) se denomina
n subdivisiones.

Trabajo previo
1. En forma similar a la figura 3, dibuje la imagen del haz de electrones que ap
arecera en la pantalla
del ORC en los siguientes casos:

(a)0=V, V 0<H

(b)0<V, 0<HV

(c)0>V, V osc H
2. Repase el significado de los trminos voltaje pico, voltaje pico-pico y voltaje rms(v
er apndice
B)

Equipo
1. Osciloscopio de rayos catdicos.
2. Generador de seales.
3. Dos fuentes CD.
4. Multmetro VOM.


Nombre
Placa (UCR)
Caractersticas
















Procedimiento
a. Localizacin de controles en la cartula del osciloscopio
La siguiente es una fotografa del panel de controles del osciloscopio BK Precisio
n modelo 1541C.
Seale las posiciones de los siguientes elementos:
(a) Interruptor de encendido
(f) Controles de centrado vertical
(k) Selector de modo de trabajo (canales)
(b) Luz de encendido
(g) Control de base de tiempos
(l) Conector de tierra comn
(c) Control de intensidad
(h) Conexin de entrada a canal 1
(m) Perilla reguladora de sincronismo
(d) Control de enfoque
(i) Conexin de entrada a canal 2
(n) Selector de fuente de seal (en Trigger)
(e) Control de centrado
horizontal
(j) Controles de ganancia vertical
() Selector de modo de operacin (en
Trigger)








b. Conexin de seales de corriente directa: operacin en modo X-Y.
El osciloscopio permite estudiar dos seales simultneamente, ya sea en forma indepe
ndiente
(grficas de voltaje en funcin del tiempo) o en combinacin (canal Y contra canal X).
Por esta razn
a este tipo de osciloscopios se le llama de doble trazo. En esta parte se utiliz
ar el osciloscopio en el
segundo modo de operacin (seal de canal Y en funcin de seal de canal X) denominado m
odo X-
Y. Escuche las instrucciones de su profesor sobre cmo seleccionar este modo de op
eracin en el
ORC de su mesa.
Arme el circuito de la figura 7, donde una de las fuentes (A) est conectada al c
anal 1 y la otra
fuente (B) al canal 2. Observe en su ORC cul canal corresponde a deflexiones en X
y en Y.
Proceda a establecer los voltajes que se indican en los cuadros debajo de la fig
ura 7 para cada
canal y dibuje all la posicin del haz de electrones obtenida.

ORCABCH 1CH 2
Figura 7: Osciloscopio conectado a dos fuentes de seales CD, una en cada canal. E
l osciloscopio
debe operar en el modo X-Y.























VH = 0, VV = 8 V
KH =
KV =

VH = 8 V , VV = 0
KH =
KV =

VH = 8 V, VV = 8 V
KH =
KV =

VH = 4 V, VV = 6 V
KH =
KV =

c. Inversin de polaridad en los canales: operacin en modo X-Y.
Proceda a invertir la polaridad de una o de las dos fuentes, segn el caso, para d
ibujar las
seales de las situaciones que se presentan a continuacin.























VH = 0, VV = - 8 V
KH =
KV =

VH = - 8 V , VV = 0
KH =
KV =

VH = - 8 V, VV = - 8 V
KH =
KV =

VH = - 4 V, VV = 6 V
KH =
KV =
d. Conexin de una seal constante y una senosoidal: operacin en modo X-Y.
Desconecte una de las fuentes CD y conecte el generador de seales en modo senosoi
dal.
Grade su frecuencia a 1 kHz. Dibuje las seales obtenidas para los casos siguientes
:























VH = 0, VV = 10 Vp
KH =
KV =

VH = 5 V , VV = 10 Vp
KH =
KV =

VH = 10 Vp, VV = 5 V
KH =
KV =

VH = VV = 10 Vp
KH =
KV =
donde VP significa voltaje pico, o sea, la amplitud de voltaje.
Para el ltimo caso (VH = VV = 10 Vp), disminuya la frecuencia hasta que logre div
isar el
movimiento del punto del haz de electrones. Describa su movimiento y explique lo
que est
ocurriendo.

e. Utilizacin del barrido horizontal automtico del ORC.
Retire la fuente DC y deje solo el generador de seales conectado al canal 1 (con
ecte el canal
2 directamente a tierra). Proceda a dibujar las seales que aparecen en la pantall
a para los
siguientes casos, cambiando adecuadamente la conexin del generador al canal respe
ctivo, o
conectndola simultneamente a ambos canales. Escoja una ganancia vertical y un barr
ido
horizontal adecuado para observar al menos una oscilacin de las seales de entrada.


















V1= 4 Vp, V2= 0
Kt =
KV1 =
KV2 =

V1=0, V2= 4 Vp
Kt =
KV1 =
KV2 =

V1= 4 Vp, V2= 4 Vp
Kt =
KV1 =
KV2 =

Asegrese de marcar en los diagramas a qu canal corresponde cada seal.

f. Lectura de perodos y voltajes de seales senosoidales
a) Conecte el generador de seales en modo senosoidal a cualquiera de los dos cana
les. Ajuste
una amplitud de 4 V (Vpico) una frecuencia de 50 Hz. Conecte el VOM (en modo AC)
para medir la
cada de voltaje a travs de la fuente.
b) Anote la lectura de la frecuencia que despliega el generador (fgen). Mida el
perodo (TORC) y con
calcule la frecuencia (fTf/1=ORC) obtenida por el osciloscopio. Lleve nota de la
ganancia
vertical (KV) y de la constante de tiempos (Kt). Anote tambin Vpico, Vpico-pico y
Vrms calculado a
partir de Vpico. Anote VVOM y calcule el porcentaje de diferencia con respecto a
Vrms.
c) Vare la frecuencia de la fuente para abarcar un rango hasta los MHz. Tabule to
da la informacin,
incluyendo la del punto b), en la siguiente tabla.

fgen
(Hz)
TORC
(s)
fORC
(Hz)
KV
(V/cm)
Kt
(s/cm)
Vpico
(V)
Vpico-pico
(V)
Vrms
(V)
VVOM
(V)
%.V

















































































Observe si existe alguna diferencia significativa entre los voltajes Vrms y VVOM
. A qu puede
deberse?


Cuestionario
1. Por qu se dice que el osciloscopio es un voltmetro muy sensible?
2. Cul es el mayor voltaje pico-pico que se puede leer directamente con el oscilos
copio?
3. Cul es el menor tiempo que se puede leer directamente con el osciloscopio?






















Conclusiones
CONSTANTES DE TIEMPO EN CIRCUITOS RC Y RL


Objetivos
El objetivo principal es el estudio de los circuitos RC y RL en rgimen transitori
o ante un estmulo del
tipo onda cuadrada. Especficamente, se desea:
1. Estudiar la operacin transitoria de circuitos RC y RL.
2. Determinar las constantes de tiempo tC y tL.

Nota terica
a. Circuito RC:
Los resistores son elementos de circuito que absorben energa elctrica y la convier
ten
bsicamente en calor (y luz en algunos casos). Dos elementos pasivos que son capac
es de almacenar
energa son los capacitores (o condensadores) y los inductores.
Los condensadores almacenan energa
elctrica en forma de carga esttica entre sus
placas. La diferencia de potencial entre las
placas es proporcional a la carga almacenada,
siendo la constante de proporcionalidad el
inverso de la capacitancia C. Si se construye
un circuito RC como el mostrado en la figura 1,
se sabe que la fuente proporcionar la energa
necesaria al condensador para cargarse. No

C E0R
Figura 1: circuito RC
obstante, este proceso se ve limitado por la resistencia de los conductores y de
l resistor, por lo que el
proceso de carga de un condensador debe tomar ms tiempo en circuitos de alta resi
stencia. Asimismo,
la capacitancia de un condensador tambin afectar el tiempo de carga: a mayor capac
itancia, mayor el
tiempo para cargar el capacitor. De esta forma, se extrae que el producto RC est
directamente
relacionado con el tiempo de carga del condensador segn se ver a continuacin.
Segn el circuito de la figura 1, podemos escribir la ley
de voltajes de Kirchoff:
00=--CRVVE (1)
Pero:
dtdqRRiR==V y
CqC=V, por lo que (1) se escribe:
0ECqdtdqR=+ (2)
que es una ecuacin diferencial de variables separables. Si consideramos la condic
in inicial:
, la solucin de (2) se escribe: 0)0(==tq
()Cteqtqt/
max1)(--= (3)
El voltaje a travs del capacitor ser:
()CtCeECtqtVt/
01)()(--== (4)
donde se ha tomado cuando el capacitor est totalmente cargado y CqE/max0=RCC=tla
constante de tiempo capacitiva del circuito RC. Este anlisis es vlido slo para las
condiciones
+E0
T
2
T 0
t
E0(t)
(a)

0,632E0tC+E0T2
T 0
t
VC(t)
(b)
Figura 2: (a) Forma de la onda cuadrada de entrada; (b) Forma de la onda a travs
del capacitor.

iniciales anotadas arriba. En la situacin de la figura 2(a), en donde la fuente p
rovee una onda cuadrada
de periodo T (de valor E0 entre 0 y T/2 y de valor 0 entre T/2 y T), la diferenc
ia est en que cada vez
que la fuente cambia de polaridad, la funcin exponencial invierte su concavidad d
e modo que aparece
la curva de la figura 2(b). Ntese que se ha supuesto que el perodo T de la onda cu
adrada es mucho
mayor que la constante de tiempo capacitiva.
De la ecuacin (4) y la figura 2(b) podemos dar una interpretacin de la constante d
e tiempo.
Ntese que en Ctt= , el voltaje VC toma el valor ()eE/110-, o sea:
()0632,0EtVCC=t (5)
Esto es, la constante de tiempo capacitiva es el tiempo que hay que esperar para
que el capacitor se
cargue al 63,2% de su valor mximo de carga. Si se pone el osciloscopio de modo qu
e se pueda
observar el voltaje a travs de C, se ver en la pantalla una curva como la de la fi
gura 2, de manera que
en principio basta con sealar el punto donde la curva sube al 63,2% del valor mxim
o de voltaje y
extraer directamente tC. En la prctica esto no es sencillo, as que se utilizar el p
rocedimiento que se
describe a continuacin.

b. Medida de tC:
Teniendo la situacin sealada en la figura 2(b), se puede fcilmente leer el voltaje
correspondiente a la mitad del valor mximo. Sea tmed el tiempo correspondiente a
esta situacin.
Entonces, en la ecuacin (4) se tendr:
()(CmedtmedCeEEttVt/
0012--=== (6)
Luego de eliminar E0 y reagrupar, se puede despejar tC en funcin de tmed:
medmedCtt 443,12ln=t (7)
Esta expresin permite obtener la constante de tiempo capacitiva en forma experime
ntal.

c. Circuito RL y medida de tL:
En la figura 3(a) se presenta un circuito RL. De nuevo, segn Kirchoff:
00=--LRVVE (8)
Pero: V y RiR=
dtdiLL=V, por lo que (8) se escribe:
0ERidtdiL=+ (9)
La solucin de (9) sujeta a la condicin inicial 0)0(==ti es:
L E0
R
(a)

0,368E0-E0
tL+E0T2
T 0
t
VL(t)
(b)
Figura 3: (a) Circuito RL; (b) Forma de la onda a travs del inductor.

()LteREtit/01 )(--= (10)
en donde tL
es llamada la constante de tiempo del inductor y est dada por RLL/=t. El voltaje
a
travs del inductor ser entonces:
LtLeEtVt/
0 )(-= (11)
La figura 3(b) muestra la curva de voltaje a travs del inductor cuando la fuente
provee una onda
cuadrada. De nuevo, la interpretacin de tL
se hace para la situacin tLt=. Introduciendo en la
ecuacin (11) se tiene:
()0368,0EtVLL=t (12)
es decir, tL
es el tiempo que hay que esperar para que el voltaje a travs del inductor caiga a
l 36,8% de
su valor inicial. Para obtener tL
a partir de la pantalla del osciloscopio, se procede de forma parecida al
caso de tC. Es posible mostrar que la constante de tiempo inductiva est dada por:

medmedLtt 443,12ln=t (13)
donde de nuevo tmed es el tiempo que le toma a VL caer a la mitad de su valor in
icial. En esta prctica se
desea comprobar que los valores dados por las ecuaciones (7) y (13) coinciden co
n buena precisin
con los valores tericos obtenidos de RCC=t y RLL/=t.

Trabajo previo
Realice los pasos intermedios entre las ecuaciones (2) y (3), (6) y (7), (9) y (
10), (13) a partir de (10).

Equipo
1. Generador de seales.
2. Osciloscopio.
3. Caja de sustitucin de resistencias.
4. Caja de sustitucin de capacitancias.
5. Bobina.

En la mesa del profesor habr disponibles 2 multmetros digitales para medir resiste
ncias y
capacitancias. Su instructor le dir cmo medir stas.


b. Ajuste una frecuencia baja del generador (unos 200 Hz o menos) de modo que el
periodo de la
seal de entrada sea bastante mayor que la curva de carga del capacitor. Ponga un
valor de E0
de alrededor de 2 V.
c. Mida tmed en la situacin en que VC est a mitad de su valor mximo y calcule tC (e
xperimental)
con (7). Anote todos los datos en la tabla que aparece abajo.
d. Repita los pasos c. y d. para otros valores de Rnominal y Cnominal.
e. Mida con el multmetro los valores precisos de R y C y antelos en las columnas r
espectivas.
f. Determine tC a partir de RCC=t(terico). Anote los porcentajes de diferencia en
tre los
valore tericos y los experimentales.

Diagrama de seales del osciloscopio
















Seal de entrada

Voltaje del capacitor

Frecuencia del generador =
Voltaje de fuente E0 =
Rnominal
(Ohm)
Cnominal
(F)
R
(Ohm)
C
(F)
tC (s)
terico
tmed (s)
tC (s)
experim.
% diferencia








































Nombre
Placa (UCR)
Caractersticas













Procedimiento
1. Circuito RC:
nominal
nominal
a. Arme el circuito de la figura 1 con R en 1 kO y C en 0.1 F (valores nominales
de las
cartulas). Ponga el canal 1 del osciloscopio para medir la seal de entrada y el ca
nal 2 para
medir el voltaje a travs del capacitor.
Cuadro de texto:
Figura 5: Dispositivo experimental para la determinacin de la ley de Malus.
Clculos:




Circuito RL:
a. Del circuito que se us en la parte anterior, sustituya el capacitor por un ind
uctor de 840 mH de
modo que el circuito quede como el de la figura 3(a). Ajuste Rnominal a alrededo
r de 2 kO.
b. Repita los pasos del procedimiento del circuito RC para este caso, haciendo l
as debidas
modificaciones al procedimiento para hallar los tL
tericos y experimentales y hacer las debidas
comparaciones. Recuerde medir el valor de la resistencia con el ohmmetro.

Diagrama de seales del osciloscopio

















Seal de entrada

Voltaje del inductor

Frecuencia del generador =
Voltaje de fuente E0 =
Inductancia L =

Rnominal
(Ohm)
R
(Ohm)
tL (s)
terico
tmed (s)
tL (s)
experimental
% diferencia





































Clculos:
Cuestionario
1. Cmo influye el perodo del generador en las medidas de las constantes de tiempo?
2. En qu influye la resistencia interna del generador en las mediciones? Qu otras re
sistencias
puede haber presentes?
3. Bajo qu condiciones de R y C se obtienen los mnimos porcentajes de diferencia?




















Conclusiones
CIRCUITOS RECTIFICADORES Y FILTROS


Objetivos
En esta prctica se estudia el principio de funcionamiento de los circuitos que c
onvierten
corriente alterna (CA) en corriente directa (CD). En particular se desea lo sigu
iente:
1. Estudiar una aplicacin del diodo rectificador introducido en la prctica de No L
inealidad.
2. Estudiar el uso del capacitor como filtro para seales rectificadas.
3. Evaluar la calidad de la corriente directa obtenida, utilizando el concepto d
e tensin de rizado.
4. Estudiar el principio de operacin de un puente de diodos.

Nota terica
a. El diodo rectificador
El diodo rectificador acta como una vlvula que permite el paso de la corriente en
un solo
sentido, dependiendo de la polaridad del voltaje aplicado entre sus bornes. Si l
a polaridad se aplica
adecuadamente, la resistencia del dispositivo es muy baja (aunque no necesariame
nte despreciable) y
la corriente pasa fcilmente, pero si se invierte el voltaje, la resistencia es mu
y alta y se dificulta el
trnsito de cargas. El resultado es una corriente en sentido inverso de magnitud m
uy baja (del orden de
microamperios) que se puede despreciar.

b. Rectificacin de media onda
En la figura 1(a) se muestra un tpico circuito rectificador de media onda. Consi
ste en una
fuente de CA [cuya seal se representa en la fig. 1(b)], un diodo y una resistenci
a (usualmente
denominada resistencia de carga) en serie. Dado que el diodo solo deja pasar cor
riente cuando la
polarizacin es adecuada (nodo positivo y ctodo negativo), se puede observar que en
tal caso el
diodo deja pasar solo la parte positiva de la seal de entrada, segn se muestra en
la fig. 1[c]. No
obstante, la amplitud V0 (tambin llamada valor pico) de la seal de salida en la re
sistencia de carga no
es necesariamente del mismo valor que el valor pico 0ede la onda de entrada. La
discrepancia se debe
a que en el diodo existe una cada de potencial debido a su resistencia interna RD
.
Se puede decir entonces que el diodo ha convertido la seal senosoidal en una seal

unidireccional pero no constante. Obsrvese que esta seal tiene un valor medio dife
rente de cero, a
diferencia de la seal senosoidal. Adems, ntese que en la seal de salida se aprovecha
solo la mitad
de la onda de entrada (de all el nombre de rectificador de media onda).

RLe(t)VL
(a)
tTe0e(t)
(b)
e0tTV0VL(t)
(c)
Figura 1: (a) Diagrama del circuito rectificador de media onda; (b) Seal de entra
da de la fuente de CA con perodo T; (c)
Seal de salida a travs de la resistencia de carga RL.


e(t)VCC
(a)
tTe0e(t)
(b)
e0tVL(t)
(c)
Figura 2: (a) Diagrama del circuito en donde se ha sustituido la resistencia de
carga por un capacitor C; (b) Seal de
entrada de la fuente de CA con perodo T; (c) Seal de salida a travs del capacitor.

c. Comportamiento del circuito con capacitor
Con el objeto de ayudar a eliminar la pulsacin de la seal de salida, se puede uti
lizar un
capacitor en el circuito rectificador. En primera instancia, supngase que se toma
el circuito de la figura
1, se desconecta la resistencia de carga y se sustituye por un capacitor. El cir
cuito resultante se muesta
en la figura 2.
Si inicialmente el capacitor se encuentra descargado, la fuente lo cargar durant
e la fase de
conduccin del diodo hasta el valor pico de la fuente (lo que ocurre a 4/Tt=). Pos
teriormente la
tensin de la fuente empieza a bajar hacia cero (y luego a valores negativos hasta
). A pesar
del decremento en voltaje, el capacitor contina cargado a su valor mximo debido a
que la carga no
tiene camino para salir puesto que el diodo no lo permite. De all que se obtenga
una seal de voltaje
constante en el capacitor, segn se muestra en la fig. 2(c). Con esta idea es que
se propone el
siguiente circuito que mejora el desempeo de la rectificacin.
4/3Tt=

d. Circuito rectificador de media onda con filtro de capacitor
Considrese ahora el circuito de la figura 3 que combina las caractersticas de los
circuitos
anteriores. En este caso, el capacitor y la resistencia de carga se encuentran c
onectados en paralelo.
Se puede observar que el capacitor se descarga a travs de la resistencia cuando e
l voltaje de la fuente
es menor que 0eC. La velocidad de descarga del capacitor depender del valor de la
constante de
tiempo RL=t3t, segn lo visto en la prctica anterior. Si este valor es mucho mayor
que el perodo T
de la onda de entrada, el capacitor se descargar lentamente, lo que produce que e
l voltaje se
mantenga en altos niveles de voltaje segn se muestra en la fig. 3(b) (en el inter
valo de tiempo entre
y ). La cada de voltaje en ese intervalo se puede denotar .V. Cuando la onda regr
esa a valores
positivos y alcanza el valor del voltaje del capacitor (lo que ocurre en t), vol
ver el proceso de carga
en C (hasta ) y se repite el ciclo.
1t2t2
Si se cumple que , entonces el tiempo de descarga no permitir un descenso
grande del voltaje, por lo que se puede considerar como prcticamente constante. E
n el siguiente
apartado se explicar una forma de caracterizar la calidad del voltaje constante o
btenido.
TCRL>>

e. Rizado y tensin continua
Lo deseable es que .V tenga un valor muy bajo para que la tensin de salida sea
prcticamente constante. El valor .V se conoce como tensin de rizado. El parmetro qu
e caracteriza
la calidad de tensin es el factor de rizado definido de la siguiente manera:
0VVr.= (1)

RLe(t)C(a)

t2 t1
t
VR(t)
V0
t3
.V
(b)
Figura 3: (a) Diagrama del circuito rectificador de media onda con filtro de cap
acitor; (b) Seal de salida de la resistencia
de carga para el caso en que . Ntese que se ha superpuesto la forma de la onda re
ctificada. TCRL>

Ntese que cuanto menor sea .V, menor ser r y mejor es la rectificacin. En el lmite e
n que .V
tiende a cero, el factor de rizado tambin tender a cero y se tendr una rectificacin
ideal.
Es posible obtener una relacin aproximada entre el factor de rizado r y la const
ante de tiempo
t del circuito. Recurdese que la descarga de un capacitor a travs de una resistenc
ia procede de una
manera exponencial segn la forma:
CRtCLeVt-
=0)(V (2)
Si ahora se tiene t, se puede entonces expresar el exponencial en una expansin de
Taylor: CRL<<
K+-
-
CRtLCRtL1e (3)
Sustituyendo en (2):
....
...
.
+-KCRtVtLC1)(0V (4)
Observando la grfica de la figura 3(b), notamos que:
)()(21tVtVVCC-=. (5)
Usando (4) en (5) y despreciando trminos de orden superior debido a su pequea cont
ribucin, se
obtiene:
...
.
...
.
-=.CRtCRtVVLL120 (6)
Notando que T12122313)()(tttttttt--+-=-=, puesto que para las condiciones dadas,
ya que la descarga es muy pequea. Por lo tanto: 32tt.
CRTVVL0. (7)
Dividiendo entre V0 y usando CRL=t se obtiene:

tTr (8)
o bien, despejando t:

rTt (9)
e(t)RLC
(a)
tTV0VR(t)


(b)
.VtTV0VR(t)


(c)
Figura 4: (a) Diagrama del circuito rectificador de onda completa con filtro de
capacitor con diodos en puente; (b) Seal
de salida del resistor de carga en ausencia del capacitor; (c) Seal de salida del
resistor de carga con filtrado de
capacitor.
La validez de la ecuacin (9) se limita a valores elevados de CRL=t comparados con
T. Esta
expresin es una manera de hallar experimentalmente la constante de tiempo.

f. Rectificacin y filtrado de onda completa
Bajo los mismos conceptos que los expuestos hasta ahora, es posible construir u
n circuito que
rectifique tambin la parte negativa de la onda de entrada. Un caso especial es la
configuracin de
diodos en puente de Wheatstone, segn se muestra en la figura 4. La resistencia de
carga se conecta a
las esquinas opuestas a las que se conecta la seal de entrada. De este modo, la s
eal que pasa por la
resistencia siempre ser positiva en el borne superior y negativa en el inferior (
de acuerdo con los
signos + y - marcados en la figura). La ventaja es clara: se logra rectificar toda l
a onda de entrada,
segn muestra la fig. 4(b), suponiendo que C no est conectado.

La seal de filtrado con capacitor se muestra en la fig. 4(c). Ntese que ahora el
tiempo de
cada de la tensin ha disminuido an ms (debido a la presencia de la onda negativa rec
tificada), por
lo que el .V es menor todava y as r se reduce ms. Con un anlisis simular al expuesto
en el
apartado anterior, es posible mostrar que ahora la relacin entre el factor de riz
ado y la constante de
tiempo es la siguiente:
rT2t (9)

Trabajo previo
1. Resuelva la ecuacin diferencial del circuito RC (con el capacitor inicialmente
cargado a un voltaje
V0) y demuestre la ecuacin (2).
2. Demuestre la ecuacin (3).
3. Considere la situacin de la figura 4(a). Muestre los signos de las polaridades
en el resistor, as
como las direcciones de flujo de corriente cuando la polaridad de la fuente es p
ositiva y luego
negativa. Muestre que en efecto se mantienen los signos + y - mostrados en la figura
.

Equipo
1. Generador de onda.
2. Diodos rectificadores montados en configuracin de puente en soporte acrlico.
3. Caja de sustitucin de capacitancias.
4. Caja de sustitucin de resistencias.
5. Capacitores electrolticos polarizados de elevados valores de capacitancia.
6. Osciloscopio.

NOTA: se debe tener el cuidado de conectar adecuadamente los capacitores electro
lticos segn
las polaridades marcadas. Un error puede hacer estallar el dispositivo. Consulte
con su profesor
si tiene cualquier duda.

Nombre
Placa (UCR)
Caractersticas













Procedimiento
1. Rectificador de media onda:
a. Arme el circuito rectificador de media onda esquematizado en la figura 1(a) c
on RL a alrededor
de 1 kO. Utilice solo uno de los diodos del puente. Conecte el canal 1 del ORC a
la salida de la
fuente y el canal 2 a la entrada a la resistencia. Asegrese de conectar la tierra
.
b. Conecte la fuente y seleccione un voltaje pico de alrededor de 5 V y una frec
uencia de 500 Hz.
c. Observe y describa en detalle la onda de salida (canal 2) y comprela con la on
da de entrada
(canal 1). Mida tambin la frecuencia de la seal de entrada.









Superposicin de ondas de entrada y
rectificada


d. Desconecte el resistor y conecte en su lugar la caja de capacitancias selecci
onada a 1 F.
Observe y explique.









Superposicin de ondas de entrada y
del capacitor.


e. Conecte ahora el resistor de 1 kO en paralelo con un capacitor de la caja de
sustitucin de
capacitancias de cualquier valor de modo que el circuito quede como el de la fig
ura 3(a).
Observe las seales.









Superposicin de ondas de entrada y
del rectificada con filtro de capacitor.


Proceda a medir la tensin de rizado .V y el factor de rizado experimental . Con
esto, use la ecuacin (8) para calcular la constante de tiempo experimental
0exp/VVr.=
expt del circuito.
Luego, use CRLteo=t para calcular la constante de tiempo terica. Compare sus resu
ltados.
f. Proceda a variar los valores de C (manteniendo RL constante) y luego a variar
RL (con C
constante) para llenar la siguiente tabla. Use tambin los capacitores electroltico
s. Note que la
ltima columna, %Dif(t) significa que debe calcular el porcentaje de diferencia entr
e los
valores terico y experimental de t.
=0e( ) V
R (O)
C (F)
f (Hz)
T (ms)
V0 (V)
.V (V)
r
extp (s)
teot (s)
%Dif(t)







































































2. Rectificador de onda completa:
a. Arme el circuito de la figura 4(a), pero sin el capacitor. Use RL = 1 kO, f =
500 Hz y V 5=0e.
Observe y explique lo que ocurre con las seales.









Superposicin de ondas de entrada y
rectificada.


b. Conecte ahora en paralelo con el resistor de carga un capacitor electroltico c
on polaridad
adecuada. Observe y explique lo que ocurre con las seales. Calcule tambin el facto
r de
rizado y el porcentaje de diferencia entre los valores terico y experimental de t
.
V0 (V) =
.V (V) =
r =
=expt


=teot
%Dif(t) =

Superposicin de ondas de entrada y
rectificada con filtrado de capacitor.



Cuestionario
1. Qu combinacin de resistencia y capacitancia brind la mejor rectificacin? Por qu?
2. Qu combinacin de resistencia y capacitancia brind la peor rectificacin? Por qu?
3. Qu diferencias existen entre los dos circuitos rectificadores con filtro estudi
ados en cuanto a su
desempeo? En cuanto a su costo?



















Conclusiones

OSCILACIONES AMORTIGUADAS


Objetivos
En esta prctica se desea estudiar, en el caso de un circuito RLC serie, la capac
idad de
almacenaje de energa del capacitor y del inductor, as como la capacidad de disipac
in de energa por
parte de un resistor. Especficamente:
1. Corroborar el carcter oscilatorio del almacenamiento de energa en el circuito R
LC en el caso de
subamortiguamiento.
2. Observar el decaimiento exponencial de la envolvente de carga en el capacitor
en el mismo caso.
3. Calcular y buscar valores experimentales de la resistencia crtica del circuito
RLC, es decir, de la
resistencia lmite en que el sistema deja de oscilar.
4. Observar el estado de sobreamortiguamiento del sistema.
5. Observar el estado de resonancia del circuito.

Nota terica
Considrese el circuito de la figura 1.
Cuando el interruptor se encuentra en la posicin
A, el capacitor C se carga hasta un valor mximo
que est determinado por la capacitancia y la
diferencia de potencial entre sus bornes. Si ahora
se desconecta la fuente colocando el interruptor
en el punto B (suponiendo que ese instante
corresponde a t), el capacitor comenzar a
descargarse a travs del resistor R y del inductor
L. Para un cierto tiempo t despus, se puede
escribir la ley de voltajes de Kirchoff de la forma:
0=
E0BACRL
Figura 1: Circuito RLC en serie. La fuente E0 se conecta al
cerrar el interruptor en el punto A.
0=++
CqRidtdiL (1)
donde I es la corriente del circuito y q la carga contenida en el capacitor. Hac
iendo uso de la indentidad:

dtdq=i (2)
se obtiene la ecuacin diferencial de segundo orden siguiente:
0122=++qLCdtdqLRdtqd (3)
Esta ecuacin tiene soluciones que dependen de los valores . de la ecuacin caracters
tica:
012=++
LCLR.. (4)
que se determinan por:

LCLRLR142222,1--=. (5)
Si se expresa el discriminante como:
LCLR1422-=. (6)
existen tres posibles tipos de solucin, dependiendo de los valores de R, L y C, a
saber: (a) 0<., (b)
y (c) . A continuacin se analizan brevemente los casos. 0=.0>.

a. Subamortiguamiento (): 0<.
En este caso . es complejo y existe una solucin armnica de la forma:
(7) )cos()()2/(
0teqtqtLR.'=-
donde se ha usado la condicin inicial 0)0(qtq==y:
221
..
.
..
.-='
LRLC. (8)
es la frecuencia angular natural de oscilacin del circuito. El voltaje a travs del
capacitor puede
entonces escribirse:
)cos()()()2/(0teCqCtqtVtLRC.'==- (9)
La figura 2 muestra la grfica de VC vs t . En ella se muestra tambin la llamada en
volvente que es una
lnea imaginaria que muestra el decaimiento en amplitud de las oscilaciones. Puede
comprobarse de (9)
que la amplitud es funcin del tiempo y tiene la forma:
tLReCq)2/(0- (10)
La descarga del capacitor ocurre de forma oscilante. Esta curva se puede interpr
etar en trminos de
energa, segn se pide realizar en el trabajo previo. Fsicamente, se est dando un inte
rcambio de
energa entre el capacitor y el inductor, aunque con la presencia del resistor par
te de esa energa se
transforma en calor y se disipa.

b. Amortiguamiento critico (): 0=.
Representa la condicin lmite para que el sistema deje de oscilar. A la resistenci
a que hace
que el discriminante sea igual a cero se le denomina resistencia crtica. Se puede
comprobar que la
expresin para sta viene dada por:
CLRc2= (11)

VCt
Figura 2: Seal de voltaje a travs del capacitor en condiciones de subamortiguamien
to (lnea contnua). Las lneas de
trazos representan la envolvente de la seal.

La solucin para la funcin de carga en el capacitor se escribe:
tt/
01)(tetqtq-..
.
..
.+= (12)
donde:
RL2=t (13)
es la llamada constante de tiempo. La representacin grfica del voltaje en el capac
itor se muestra en
la figura 3. La seal tiende asintticamente a cero conforme el tiempo va a infinito
.

c. Sobreamortiguamiento (): 0>.
En este caso la resistencia del circuito es mayor que el valor de resistencia c
rtica dada por
(11). El sistema no oscila y la solucin general para la carga es:
()tteeqtq1221210)(......-
-
= (14)
En la figura 3 tambin se muestra la grfica de la carga en funcin del tiempo. Ntese q
ue la pendiente
inicial con respecto al caso crtico es ms pronunciada. De nuevo, la seal tiende asi
ntticamente a
cero conforme el tempo se hace infinito.

Trabajo previo
1. Repase los conceptos asociados con el sistema masa-resorte desde el punto de
vista del
desplazamiento de la masa y de la energa del sistema. Estudie los casos siguiente
s: (a) sistema
sin friccin, y (b) sistema con rozamiento.
2. Exprese la energa almacenada en un capacitor en trminos de: (a) el voltaje apli
cado entre sus
placas, y (b) la carga almacenada en una de las placas.
3. Haga las siguientes comparaciones: (a) el circuito LC con el sistema masa-res
orte sin friccin, y (b)
el circuito RLC con el sistema masa-resorte con friccin.
4. Repase los conceptos de oscilacin forzada y resonancia del sistema masa-resort
e.
5. Repase el concepto de semivida t1/2.


VCcrticosobreamortiguadot
Figura 3: Representacin grfica del decaimiento del voltaje en el capacitor para lo
s casos de amortiguamiento crtico y
sobreamortiguamiento, segn se indica.

Equipo
1. Generador de seales.
2. Osciloscopio.
3. Caja de sustitucin de resistencias.
4. Caja de sustitucin de capacitancias.
5. Bobina.

Nombre
Placa (UCR)
Caractersticas













Procedimiento
1. Arme el circuito de la figura 4 que a continuacin se muestra. Ntese que se dese
a observar el
comportamiento en voltaje del capacitor en el osciloscopio. Seleccione en la fue
nte el modo de
onda cuadrada.

L
C
RcajaCH1E0
ORC
Figura 4: Circuito RLC para el estudio de las oscilaciones amortiguadas

2. Subamortiguamiento:
a. Ponga un valor de 0 O en la caja de resistencias. En tal caso, note que la re
sistencia del
circuito ser la suma de la resistencia interna del generador y la resistencia de
la bobina.
b. Efecte los ajustes necesarios en C , la ganancia del osciloscopio y en la frec
uencia del
generador para observar una o varias seales similares a la representada en la fig
ura 2. Note
que en las transiciones de la onda cuadrada la fuente intenta cargar el capacito
r rpidamente
con la polaridad en un sentido cuando se encontraba cargado en el sentido opuest
o. Estos
cambios repentinos no son aceptados instantneamente por el sistema, por lo que os
cila en la
forma vista en la pantalla*.
* Para una rigurosa explicacin, ver J. Marion (1977), caps. 3 y 4.









Figura de la pantalla del ORC


c. Calcule la frecuencia natural de oscilacin del circuito a partir de los datos
de R, L y C y usando
la ecuacin (8). Comprela con la frecuencia obtenida experimentalmente.
R =
L =
C =
Espacio para clculos
d. Encuentre el valor de la semivida t1/2 de la amplitud de la oscilacin (es deci
r, el tiempo
necesario para que la amplitud decaiga a la mitad de su valor original. Para ell
o, debe imaginar
la envolvente de la seal). Comprelo con el valor terico dado por tt693.0)2(ln2/1=t,
con t dada por (13).

Espacio para clculos

3. Amortiguamiento crtico:
Busque experimentalmente el valor de la resistencia crtica Rc. Para esto, aumente
gradualmente
los valores de resistencia de la caja y observe en qu momento la seal en la pantal
la deja de
asemejarse a la de la figura 2. Compare el valor de su resistencia crtica experim
ental (no olvide las
resistencias de la fuente y del inductor) con el valor terico dado por la ecuacin
(11).









Figura de la pantalla del ORC




Espacio para clculos

4. Sobreamortiguamiento:
Ajuste en la caja de resistencias un valor mayor a la resistencia crtica. Comente
.









Figura de la pantalla del ORC



5. Ajuste un valor de 0 O nuevamente en la caja de resistencias para regresar a
las condiciones de
subamortiguamiento. Aumente gradualmente la frecuencia del generador hasta hacer
la igual o
ligeramente superior a la frecuencia natural de oscilacin del circuito. Describa
y explique lo
observado en pantalla.









Figura de la pantalla del ORC



Cuestionario
1. Qu relacin tienen la frecuencia de la oscilacin amortiguada y la frecuencia del g
enerador?
2. Cmo se puede explicar en cuanto consideraciones de energa el caso de sobreamorti
guamiento?
3. Adems de los instrumentos, qu otros factores de error pueden estar involucrados?
(Se
conocen con certeza todos los parmetros del sistema?)




















Conclusiones

RESPUESTA A LA FRECUENCIA 1: circuitos RC y RL


Objetivos
En esta prctica se desea estudiar la influencia de la frecuencia suministrada po
r una fuente de
voltaje senosoidal de amplitud constante sobre los circuitos RC serie y RL serie
. Especficamente:
1. Estudiar el comportamiento del voltaje a travs del resistor con la variacin en
la frecuencia de la
seal de entrada.
2. Estudiar el comportamiento del ngulo de desfase entre el voltaje de la fuente
y la corriente del
circuito con la variacin en la frecuencia de la seal de entrada.
3. Obtener experimentalmente la frecuencia de media potencia.

Nota terica
a. Circuito RLC serie
La figura 1 muestra el circuito RLC
serie alimentado por una fuente de voltaje
senosoidal de voltaje pico E0 y frecuencia f. De
acuerdo con la ley de voltajes de Kirchhoff, la
ecuacin del circuito se puede escribir:
)(teCqRidtdiL=++ (1)

FrecuenciafRVoltaje picoE0CL
Figura 1: Circuito RLC serie.
donde i(t) es la corriente instantnea que pasa por el circuito, q(t) la carga alm
acenada en el capacitor y
e(t) la tensin instantnea de la fuente que tiene la forma:
)sin()(0tEte.= (2)
con fp.2= la frecuencia angular. Hay varias maneras de resolver la ecuacin (1). A
qu interesa
exponer algunos argumentos geomtricos que ayudarn a entender su solucin. Estos argu
mentos
estn basados en el mtodo de fasores que el estudiante deber repasar con ms profundid
ad en los
libros de texto* pues aqu solo se expondrn los conceptos generales.

b. Diagrama fasorial de un resistor
Un fasor es un vector que gira
alrededor del origen con velocidad angular
constante. Esta definicin se adapta bien a la
descripcin del voltaje suministrado por la
fuente cuya funcin de tiempo est dada en
(2). La figura 2 muestra la representacin
geomtrica del fasor de la fuente en trminos
de la amplitud E0 y de la velocidad angular ..
Ntese que la proyeccin del fasor E0 sobre el
eje y reconstruye la forma funcional (2).

.te(t)
E0
Figura 2: Fasor del voltaje de entrada e(t).
A continuacin se analizar el caso de los fasores del resistor, capacitor e induct
or por aparte.
* Ver por ejemplo: Resnick, Halliday y Krane (1994) o Eisberg y Lerner (1984).


c. Diagrama fasorial de un circuito con resistor R
Supngase que se retiran del circuito
de la figura 1 el capacitor y el inductor, de
modo que la fuente solo estar conectada al
resistor. En ese caso la ecuacin (1) se reduce
a lo siguiente:
)sin()()(0tEtetiR.== (3)
lo que significa:
)sin()sin()(00tItREti..== (4)
Esta expresin dice que se puede definir el

i(t)
I0.te(t) = vR(t)
E0 = VR
Figura 3: Fasores asociados con el circuito del resistor.
fasor corriente de modo que es colineal con el fasor de la fuente, segn se muestr
a en la figura 3 (las
escalas para voltaje y corriente no necesariamente son las mismas). Esto es as pu
es no existe ningn
ngulo de desfase entre e(t) e i(t). Este desfase nulo hace que se diga que en est
e circuito la corriente
est en fase con el voltaje aplicado al resistor.
El voltaje en el resistor es entonces:
)sin()sin()()()(0tVtRItiRtvRR..=== (5)
donde se ha definido V el fasor de cada de potencial en el resistor que resulta s
er igual al fasor
de la fuente.
0RIR=

d. Diagrama fasorial del circuito con capacitor
Considrese ahora el caso de la
fuente conectada directamente al capacitor
(sin resistor ni inductor). La ecuacin (1)
tendr la forma:
)sin()(
0tECtq.= (6)
Reacomodando y derivando se obtiene:
)cos()()(0tCEdttdqti..== (7)
Definiendo CXC./1=(llamada reactancia
capacitiva) se puede escribir:

90
i(t)
I0.te(t) = vC(t)
E0 = VC
Figura 4: Fasores asociados con el circuito del capacitor.
..
.
..
.+=
2sin)(0p.tXEtiC
(8)
donde se ha usado la igualdad trigonomtrica: cos()2/sin()p..+=tt. Notamos que exi
ste un
desfase de 90 entre el fasor de la fuente y el fasor corriente. Se dice entonces
que la corriente en el
circuito est adelantada con respecto al voltaje de la fuente. Esto se muestra en
la figura 4.
Estudiando las unidades en (8), es posible darse cuenta que la reactancia capac
itiva tiene
unidades de resistencia. En realidad, XC juega un papel semejante al de la resis
tencia para un resistor,
e indica la propiedad del capacitor de oponerse al paso de la corriente. Obsrvese
que la reactancia
capacitiva depende de la frecuencia en forma inversa: a mayor frecuencia, menor
reactancia. Esto
sugiere que un capacitor acta como un buen conductor a altas frecuencias, pero es
mal conductor a
bajas frecuencias.
El fasor de cada de voltaje a travs del capacitor es pues: V00EIXCC==, segn se mue
stra
tambin en la figura 4.

e. Diagrama fasorial del circuito con inductor
Considrese finalmente el caso de la
fuente conectada directamente al inductor (sin
resistor ni capacitor). La ecuacin (1) queda:
)sin()(
0tEdttdiL.= (9)
Reacomodando e integrando se obtiene:
)cos()(0tLEti..-= (10)
Definiendo LXL.= (llamada reactancia
inductiva) se puede escribir:

-90
i(t)I0.te(t) = vL(t)
E0 = VL
Figura 5: Fasores asociados con el circuito del inductor.
..
.
..
.-=
2sin)(0p.tXEtiL
(11)
donde se ha usado la igualdad trigonomtrica: cos()2/sin()p..--=tt. Notamos que ex
iste un
desfase de -90 entre el fasor de la fuente y el fasor corriente. Se dice entonces
que la corriente en el
circuito est atrasada con respecto al voltaje de la fuente. Esto se muestra en la
figura 5.
Nuevamente, la reactancia inductiva tiene unidades de resistencia, y representa
la propiedad
del inductor de oponerse al paso de la corriente. Debido a la relacin directa con
., la reactancia es
mayor conforme aumenta la frecuencia, lo que implica que el inductor se comporta
como mal conductor
a altas frecuencias (lo contrario que para el capacitor) y viceversa.
El fasor de cada de voltaje a travs del inductor es pues: V00EIXLL==, segn se mues
tra
tambin en la figura 5.

f. Circuitos RC y RL
Ahora se est en capacidad de analizar los circuitos RC y RL por el mtodo fasorial.
Es de
notar que las distintas contribuciones de las cadas de voltaje se suman fasorialm
ente. La figura 6
muestra los diagramas para los citados circuitos.
Ntese que en ambos casos se ha incluido la contribucin del resistor, y que el faso
r E0 no es
ya colineal con VR sino que est separado por un ngulo f con respecto a ste. Este ngu
lo
precisamente se denomina ngulo de desfase de la fuente con respecto a la corrient
e. Para el circuito
RC el valor de f es negativo, mientras que para el RL es positivo.
En este punto es necesario hacer una consideracin que se presentar en el experimen
to. En
todo el anlisis que se ha hecho hasta el momento, se ha considerado a R como la r
esistencia del
resistor. En general, es ms apropiado decir que R es la resistencia total del cir
cuito, que incluye las
resistencias del resistor, cables de conexin, inductor, generador, etc. Por lo ta
nto, en adelante se
escribir R para denotar la resistencia del resistor, Rtot para la resistencia total, R
gen para la
resistencia del generador, etc.
Es posible hallar expresiones de f en funcin de los parmetros del circuito utiliza
ndo los
tringulos rectngulos definidos por VR y E0, como se ver a continuacin:


f E0
VR,tot
.t
I0
VC
(a)
f
E0
VR,tot
VL
.t
I0
(b)
Figura 6: Fasores asociados con los circuitos en estudio: (a) Circuito RC; (b) C
ircuito RL.

(a) RC: ...
.
...
.
-=.-=-=-=-
CRCRIRIXVVtottottotCtotRC..f.f1tan)( 1tan100,
(12)
(b) RL: ...
.
...
.
=.===-
tottottotLtotRLRLRLIRIXVV..f.f100,
tan)( tan (13)
El signo - en (12) se introduce por lo discutido arriba.

Tambin es de inters expresar la magnitud de la cada de potencial en el resistor VR
. El
tratamiento es el siguiente:
(a) RC:
22020220222,01
..
.
..
.+=+=+=
CRIIXIRVVEtotCtotCtotR.
Pero: RIV=, as que: 0R
2201)(
..
.
..
.+
=
CRREVtotR.. (14)
(b) RL: ()22020220222,0LRIIXIRVVEtotLtotLtotR.+=+=+=
De nuevo: RIV=, por lo que: 0R
()220)(
LRREVtotR..+
= (15)
Para el circuito RC, , mientras que para el RL, gentotRRR+=LgentotRRRR++=. Son l
as
expresiones (12) a (15) las que interesa verificar en esta prctica.

Trabajo previo
1. Haga las grficas cualitativas (esto es, dibuje la forma de las curvas) de las
funciones )(.fdadas
en (12) y (13). Incluya los casos lmite 0.. y 8...
2. Repita lo anterior para )(.RVexpresadas en (14) y (15).
3. Qu significa frecuencia de media potencia (f1/2)? Cules son las expresiones de f1/2
para los
circuitos RC y RL?
4. Lea el apndice C (Medicin de ngulos de desfase en el osciloscopio).

Equipo
1. Generador de seales.
2. Osciloscopio.
3. Caja de sustitucin de resistencias.
4. Caja de sustitucin de capacitancias.
5. Bobina.
El estudiante debe adems aportar 4 hojas de papel semilogartmico de 3 ciclos.

Nombre
Placa (UCR)
Caractersticas













Procedimiento
NOTA: en esta prctica se deben determinar los ngulos de desfase entre seales que en
tran en los
dos canales del ORC. El procedimiento para hacerlo se encuentra en el apndice C.

1. Circuito RC:
a. Arme el circuito de la figura 7.
Seleccione: R = 12 kO, C = 0.033 F,
E0 = 6 V y fgenerador = 50 Hz.
b. Proceda a variar la frecuencia del
generador de modo que VR vaya
tomando los valores: 0.5, 1.0, 1.5, 2.0,...
V hasta tratar de alcanzar los 6 V (no
sobrepase el valor de 10 kHz en
frecuencia).

FrecuenciafRVoltaje picoE0CORCCH 1CH 2Figura 7: Circuito RC serie con el ORC con
ectado.
Asegrese que el voltaje pico de la seal de entrada se mantenga constante. Lleve el
registro
del periodo experimental de la seal de entrada (T) y calcule su frecuencia experi
mental
(note que no debe anotar el valor de frecuencia desplegado en la pantalla del
generador). Tome simultneamente las medidas necesarias para medir el ngulo de desf
ase f.
Anote los valores tericos de VTf/1=
R y f dados por las ecuaciones (14) y (12), respectivamente
(recuerde que R es la resistencia total, incluyendo la resistencia del generador
).
E0 = ( ) V, C = F, R = O
T (s)
f (Hz)
VR,exp (V)
VR,teo (V)
A (cm)
B (cm)
fexp ()
fteo ()
















































































=(teor)2/1f__________ Hz

c. Elabore las grficas V y fvsR fvs f en hojas semilogartmicas separadas. Hgalas de
la
siguiente manera: ponga los puntos experimentales de forma destacada (escoja algn
smbolo
grande como crculo, cuadrado, estrella, etc.). Luego, inserte los puntos tericos
correspondientes sin que se destaquen (una pequea marca de gua). Con stos, trace la
curva
terica en forma suave y continua. Esta manera de presentar los resultados es muy t
il pues
destaca las diferencias o coincidencias entre las medidas experimentales y las c
urvas tericas.
d. Seale en sus grficas el punto correspondiente a la frecuencia de media potencia

)2/(12/1CRftotp=. Interprete la presencia de este punto.

Grficas y observaciones

2. Circuito RL:
a. Arme el circuito de la figura 8.
Seleccione: R = 2 kO, E0 = 6 V y
fgenerador = 50 Hz. Recuerde que L = 840
mH.
b. Proceda a variar la frecuencia del
generador de modo que VR vaya
tomando los valores: 5.5, 5.0, 4.5, 4.0,...
V hasta tratar de alcanzar 0 V (no
sobrepase el valor de 10 kHz en
frecuencia).

FrecuenciafRVoltaje picoE0LORCCH 1CH 2Figura 8: Circuito RL serie con el ORC con
ectado.
Asegrese que el voltaje pico de la seal de entrada se mantenga constante. Realice
el mismo
tipo de medidas que para el circuito anterior, llenando la tabla de datos siguie
nte. Use las
ecuaciones tericas (15) y (13).
E0 = ( ) V, L = mH, R = O
T (s)
f (Hz)
VR,exp (V)
VR,teo (V)
A (cm)
B (cm)
fexp ()
fteo ()
























































































=(teor)2/1f__________ Hz

c. Grafique V y fvsR fvs f en hojas semilogartmicas separadas siguiendo los mismo
s
lineamientos ya expuestos.
d. Seale la frecuencia de media potencia )2/(2/1LRftotp=en sus grficas e interpret
e.

Grficas y observaciones

Cuestionario
1. Dibuje un diagrama del circuito que empleara par medir el ngulo de fase entre e
l voltaje de
entrada y el voltaje a travs del capacitor en el circuito RC.
2. Estos circuitos se pueden denominar filtro paso bajo y filtro paso alto. A cul corr
esponde el
circuito RC y el RL?
3. Cmo lucira cualitativamente la grfica de . vsCV en el RC? Y la grfica . vsLV en el
RL?
4. Qu se puede decir de la concordancia teora-experimento entre los valores de f1/2
?























Conclusiones

RESPUESTA A LA FRECUENCIA 2: circuito RLC


Objetivos
En esta prctica se desea estudiar la influencia de la frecuencia suministrada po
r una fuente de
voltaje senosoidal de amplitud constante sobre un circuito RLC. Especficamente:
1. Estudiar el comportamiento del voltaje a travs del resistor con la variacin en
la frecuencia de la
seal de entrada.
2. Estudiar el comportamiento del ngulo de desfase entre el voltaje de la fuente
y la corriente del
circuito con la variacin en la frecuencia de la seal de entrada.
3. Comparar las curvas de VR vs f y f vs f para dos casos de capacitancias disti
ntas.
4. Obtener el valor experimental de la frecuencia de resonancia.

Nota terica
La figura 1 muestra el circuito RLC serie
considerado en la nota terica de la prctica
anterior. La ecuacin diferencial que lo describe ,
segn la ley de voltajes de Kirchhoff, es:
)(teCqiRdtdiLtot=++ (1)
donde . Si ahora se
considera el mtodo de fasores ya explicado en la
anterior prctica, es posible construir el diagrama
fasorial mostrado en la figura (2). Ntese que
debido a los desfases de VLgentotRRRR++=
L y VC con respecto a
I0, aqullos resultan ser antiparalelos. Se puede
entonces mostrar que el ngulo de desfase f
entre la fuente y la corriente est dado por:
...
.
...
.-
=-
totRCL...f/1tan)(1 (2)
Por otro lado, la relacin entre la corriente y el
voltaje de la fuente es:
00ZIE= (3)

FrecuenciafRVoltaje picoE0CL
Figura 1: Circuito RLC serie.
VL - VCVCfE0VRVL.tI0
Figura 2: Fasores asociados con el circuito RLC.
donde Z tiene unidades de resistencia y es denominada impedancia. La impedancia
representa la
oposicin neta al paso de la corriente y depende tanto de la resistencia Rtot como
de las reactancias XC
y XL. Su expresin en trminos de Rtot, C y L es:
221
..
.
..
.-+=
CLRZtot.. (4)
De esta manera, despejando la corriente de (3) y usando V0RIR=, se obtiene la ex
presin para la
cada de voltaje en el resistor:
2201)(
..
.
..
.-+
=
CLRREVtotR... (5)
Ntese que existe una frecuencia angular particular0.que hace que el radical sea mn
imo:
LC10=. o
LCf1210p= (6)
Esta frecuencia es denominada frecuencia de resonancia del circuito, y represent
a la condicin de
mxima cada de voltaje en el resistor. En tal caso, se tiene que los fasores VL y V
C tienen la misma
magnitud y se cancelan, por lo que el circuito se comporta como uno totalmente r
esistivo.
Una consideracin similar se puede hacer para el ngulo de desfase dado en (2). Cua
ndo el
circuito se encuentra en resonancia, se tiene 0=f y el fasor de la fuente coinci
de con el fasor de
corriente. Si el circuito no est en resonancia, dependiendo de los valores de .,
L y C, se puede tener
0>f(que implica VL > VC: circuito mayormente inductivo) o bien 0<f(VL < VC: circ
uito mayormente
capacitivo).

Trabajo previo
1. Demuestre las expresiones de la (2) a la (6).
2. Haga una grfica cualitativa de . vsRV y .. vs considerando los lmites 0.., 8..
y
0....

Equipo
1. Generador de seales.
2. Osciloscopio.
3. Caja de sustitucin de resistencias.
4. Caja de sustitucin de capacitancias.
5. Bobina.
El estudiante debe adems aportar 2 hojas de papel semilogartmico de 3 ciclos.

Nombre
Placa (UCR)
Caractersticas













Procedimiento
NOTA: en esta prctica se deben determinar de nuevo los ngulos de desfase entre seal
es que entran
en los dos canales del ORC. Repase el apndice C.

1. Arme el circuito de la figura 1 con los siguientes parmetros: R = 1 kO, C = 0.
33 F y E0 = 6 V.
Recuerde que L = 840 mH. Conecte el canal 1 a R y el canal 2 a E0. Proceda a lle
nar la siguiente
tabla de datos con frecuencias desde los 50 Hz hasta alrededor de 10 kHz. Recuer
de variar la
frecuencia de modo que VR vaya tomando los valores 1.0, 2.0, 3.0, ..., VR,mximo ,
..., 2.0, 1.0 V.
2. Elabore las grficas V y fvsR fvs f en hojas semilogartmicas separadas siguiendo
los
mismos lineamientos presentados en la prctica anterior.
3. Seale en sus grficas la frecuencia de resonancia y comente. 0f
E0 = ( ) V, C = F, L = mH, R = O, RL = O
T (s)
f (Hz)
VR,exp (V)
VR,teo (V)
A (cm)
B (cm)
fexp ()
fteo ()
























































































f0 (terico) = ___________ Hz

4. Repita los puntos 1, 2 y 3 para el mismo circuito pero cambiando el valor de
capacitancia a 0.033
F. Construya las curvas sobre las mismas grficas de la parte anterior para hacer u
na buena
comparacin.
E0 = ( ) V, C = F, L = mH, R = O, RL = O
T (s)
f (Hz)
VR,exp (V)
VR,teo (V)
A (cm)
B (cm)
fexp ()
fteo ()
























































































f0 (terico) = ___________ Hz

Grficas


Cuestionario
1. Si los circuitos RC y RL se denominan paso alto y paso bajo, cmo llamara Ud. el
circuito RLC?
2. En qu se diferencian las curvas )(.f para los dos casos de capacitancia?
3. En qu se diferencian las curvas )(.RV para los dos casos de capacitancia? Puede
Ud. ahora
explicar cul es el principio de operacin de un selector de canales de radio o tele
visor con base en
esto?


























Conclusiones
.1

LEYES DE LA PTICA GEOMTRICA


Objetivos
Estudiar las leyes fundamentales de la ptica geomtrica y la ley de los espejos esfr
icos y las lentes
delgadas. Especficamente se desea:
1. Redescubrir las leyes de la reflexin y la refraccin.
2. Determinar el ndice de refraccin de un material transparente.
3. Obtener el ngulo crtico de reflexin total interna para dos medios transparentes.

4. Determinar la distancia focal de un espejo esfrico y de una lente convergente.

5. Determinar el aumento lateral de una imagen.

Introduccin
La luz visible es un conjunto de ondas electromagnticas (OEM) cuyas longitudes de
onda van desde
los 400 nm (color violeta) hasta los 700 nm (color rojo). En una OEM lo que osci
la es el campo elctrico
y el campo magntico en forma perpendicular entre s y ambos a la vez perpendiculare
s a la direccin
de propagacin. Cuando la luz se encuentra con un obstculo, usualmente su trayector
ia (originalmente
rectilnea) cambia de direccin. Dependiendo del tamao caracterstico del obstculo a con r
especto a
la longitud de onda ., es posible discernir dos posibles casos para el anlisis de l
a situacin:
a) a >> . : el obstculo es mucho ms grande que la longitud de onda. En este caso e
l fenmeno
ondulatorio no es crucial, por lo que el comportamiento de la luz se puede estud
iar desde el
punto de vista de frentes de onda o de rayos. Ejemplos son los espejos (planos y
esfricos),
superficies refringentes y lentes.
b) a ~ . : el obstculo es comparable con la longitud de onda. En este caso, la na
turaleza
ondulatoria de la luz se manifiesta en forma importante y produce los fenmenos de
difraccin
e interferencia. Ejemplos son las rendijas delgadas.
En el primer caso se habla de la ptica geomtrica mientras que en el segundo se hab
la de ptica
fsica.

Nota terica
Ley de la reflexin:
La figura 1 muestra el caso de un rayo de luz i que
incide sobre la interfase entre dos medios
transparentes (n1 y n2) caracterizados por su ndice de
refraccin n, el cual se definir ms adelante. El rayo
incide a cierto ngulo .1
(denominado ngulo de
incidencia) con respecto a la direccin N-N
denominada recta normal o simplemente normal que
est centrada en el punto donde el rayo i toca la
interfaz y es perpendicular a la interfaz entre los
medios. Es posible mostrar, ya sea usando el Principio
de Superposicin de Ondas de Huygens o el Principio
de Mnimo Camino ptico de Fermat, que el rayo
Cuadro de texto: Figura 1: Un rayo i incide desde un medio de ndice de refraccin n
1 hacia un medio de ndice n2. Parte del rayo se refleja (rayo r) y parte se refrac
ta (rayo r ).
reflejado r por la interfase tiene un ngulo de reflexin . tal que se cumple lo sigui
ente:
(1)
Esta es la denominada Ley de la Reflexin y dice que el ngulo de reflexin es igual a
l ngulo de
incidencia. Esta importante ley es la que gobierna todos los fenmenos de reflexin
tanto en espejos
planos como esfricos.

Ley de la refraccin:
1
2
2
(2)
(3)
En el aire, v ~ c, por lo que n ~ 1. En otros medios transparentes como agua, pls
tico o vidrio, la luz
viaja a velocidades menores, por lo que sus respectivos ndices sern mayores a 1. C
uanto mayor sea
el ndice de refraccin, se dice que el medio es pticamente ms denso. Ntese que si el m
edio 1 es el
aire y se conocen experimentalmente los ngulos de incidencia y refraccin, es posib
le determinar el
ndice del medio 2 de la ecuacin (2).
aire
Existen dos posibles situaciones en donde es posible al menos determinar qu ngulo
(. o .) es
mayor, de acuerdo con la relacin entre los ndices:
1
2
a) n < n : la luz pasa de un medio menos denso a uno ms denso. Despejando . de (2
), se nota
que queda . < .. Esto quiere decir que el rayo refractado sale en una direccin ms
cercana
a la normal.
2
2
2
1
1
2
2
1
1
1
c
2
Si, por ejemplo, el medio n es el aire y se determina experimentalmente el ngulo
crtico, es posible
determinar el ndice de refraccin n de (4):
2
1
(5)
1
La refraccin es un fenmeno de la luz que consiste en el cambio de direccin y veloci
dad que
experimenta un rayo de luz cuando atraviesa la frontera entre dos medios transpa
rentes. En la figura 1
se ilustra lo que ocurre cuando parte del rayo incidente i del medio n pasa al m
edio n como rayo
refractado r. El ngulo de refraccin . se mide tambin con respecto a la normal. Se p
uede mostrar, ya
sea de nuevo con el principio de Huygens o de Fermat, que la relacin entre los ngu
los de incidencia y
refraccin est dada por la Ley de la Refraccin o Ley de Snell:
donde el ndice de refraccin n est relacionado con la velocidad de la luz c en el va
co y la velocidad
en el medio respectivo v segn la siguiente expresin:
1
b) n > n : la luz pasa de un medio ms denso a uno menos denso. Aqu se encuentra .
> ., lo
que indica que el rayo refractado se aleja de la normal.
En la ltima situacin, ntese que si el ngulo de incidencia progresivamente se va aume
ntando desde
cero, el ngulo de refraccin eventualmente tender a ser de 90 antes de que. llegue a
ese valor. Si
. se sigue aumentando, la Ley de Snell (2) deja ya de cumplirse y por tanto desa
parece el rayo
refractado, quedando nicamente el reflejado que cumple con (1). Cuando ocurre est
o se dice que se
presenta el fenmeno de reflexin total interna. El menor ngulo de incidencia al que
esto ocurre se
denomina ngulo crtico . y se obtiene de (2) haciendo . = 90:
(4)
1

1..=
2211sinsin..nn=
vcn=
...
.
...
.
=-
121sinnnc.
cn.sin11=

Ley de los espejos y las lentes esfricas:
Los espejos y las lentes delgadas esfricas constituyen
dispositivos en donde ocurre reflexin y refraccin debido a
superficies esfricas. Los espejos presentan una superficie
esfrica para la reflexin de los rayos de luz incidentes,
mientras que las lentes delgadas (formadas por un medio
transparente como vidrio o plstico) presentan dos superficies
en las que puede haber refraccin de los rayos de luz
incidentes. Estos dispositivos se clasifican en dos grupos segn
el efecto que produzcan sobre los rayos de luz que incidan
sobre ellos:
- Convergentes: luego de recibir los rayos incidentes,
el dispositivo tiende a desviar los rayos (reflejados
en espejos, refractados en lentes) de modo que su
direccin de propagacin se acerca al eje de
simetra del dispositivo (llamado tambin eje
ptico).
Un espejo convergente es llamado igualmente cncavo mientras que uno divergente se

denomina convexo. En el caso de las lentes, se pueden dar varios casos de acuerd
o con la forma de
las superficies que delimitan a la lente y que se muestran en la figura 2. Para
los convergentes se tiene,
de izquierda a derecha, lente biconvexa, plano convexa y menisco convexa. Para l
os divergentes, lente
bicncava, plano cncava y menisco cncava.
Los espejos y las lentes convergentes son capaces de concentrar un haz de rayos
luminosos
paralelos (que incidan en zonas no muy alejadas del centro de la lente) en una p
equea regin
denominada punto focal. En la figura 3 se muestran dos de estos casos. La distan
cia a lo largo del eje
de simetra de la lente (denominada eje ptico) entre su centro y el punto focal se
llama distancia focal,
y se denota f.



(b)
Figura 3: Construccin del punto focal de (a) un espejo cncavo y (b) una lente conv
ergente, por rayos que inciden
paralelos al eje ptico
Esta expresin representa una forma alternativa de determinar el ndice de refraccin
de un medio,
aparte del ya sealado arriba con el uso de la ecuacin (2). El fenmeno de reflexin to
tal interna es la
base para el desarrollo de las fibras pticas.
- Divergentes: luego de recibir los rayos incidentes, el dispositivo tiende a de
sviar los rayos
de modo que su direccin de propagacin se aleja del eje ptico.
(a)

Distancia focalf
Punto focal
Distancia focalfPunto focal

ConvergentesDivergentesFigura 2: Geometras de las lentesconvergentes y divergente
s.
Cuando un objeto (es decir, una fuente de rayos
de luz, ya sea que la fuente emita luz en s
misma o que refleje la luz de otras fuentes) se
ubica al frente de un espejo o una lente
convergente, los rayos de luz convergen en lo
que se denomina una imagen del objeto. Se
pueden dar dos casos de imgenes: (a) imagen
real cuando la distancia entre el objeto y el
espejo o la lente (llamada distancia objeto o)
es mayor que la distancia focal, y (b) imagen
virtual cuando la distancia objeto es menor que
la distancia focal. La distancia entre el espejo o
la lente y la posicin de la imagen se denomina
distancia imagen i. La figura 4 muestra las
construcciones de rayos para el caso de
imgenes reales. F es el llamado punto focal
principal y F el punto focal secundario. En esta
prctica interesa establecer las situaciones
representadas en esta figura, donde las
imgenes reales pueden proyectarse sobre una
pantalla localizada exactamente a una distancia
i .
Existe una relacin matemtica entre o, i y f
denominada ecuacin de los espejos y las
lentes esfricas delgadas:

(6)
a) La distancia objeto es positiva siempre que el objeto se encuentre del lado d
onde proviene la luz.
En caso contrario es negativa.
b) La distancia imagen es positiva siempre que la imagen se encuentre del lado h
acia donde se dirige
la luz reflejada (espejos) o transmitida (lentes). En caso contrario es negativa
.
c) La distancia focal de los espejos y lentes convergentes es positiva, mientras
que la de los
divergentes es negativa.
En la figura 4 se presentan las cantidades y que representan las alturas del ob
jeto y la
imagen, respectivamente, medidas a partir del eje ptico. Se define entonces el au
mento o
magnificacin lateral de la lente como la cantidad:
(7)
El signo - toma en cuenta la orientacin de la imagen de modo que si m es negativo,
la imagen est
invertida, y si es positivo, la imagen est derecha. La magnitud de m indica si la
imagen es aumentada
Esta ecuacin constituye el fundamento para determinar la distancia focal de un es
pejo o una lente
convergente cuando se conoce la posicin del objeto y de la imagen. Para su aplica
cin, se debe
respetar un convenio de signos dado por lo siguiente:
fio111=+
oyiy
oiyym-=

Fyof
o
i
ObjetoImagen
realyiF
F yof f
oi
ObjetoImagen
realyi(a)
(b)
Figura 4: Construccin de rayos para un objeto situadofrente a (a) un espejo conve
rgente y (b) una lenteconvergente. En ambos casos la distancia objeto o esmayor qu
e distancia focal f .
(), disminuida () o sin aumento (). Es posible mostrar que hay una relacin entre
y con o e i de modo que se cumple:
(8)
Finalmente, se define la potencia diptrica P como el inverso de la distancia foca
l (expresada
en metros). Esto es:
(9)
La unidad de potencia diptrica es la dioptra, equivalente a 1 m. Este parmetro es m
uy utilizado por
los optometristas para referirse a las graduaciones de los anteojos de las perso
nas.
-1

Trabajo previo
1. Investigue en qu consiste el principio de superposicin de Huygens y el principi
o de Fermat.
3. Demuestre la ecuacin (6) tanto para espejos como para lentes.
4. Demuestre la ecuacin (8).

Equipo
El equipo se ha dividido en dos partes segn se detalla a continuacin.
a. Reflexin y Refraccin:
1. Banco ptico que consiste en: riel metlico horizontal con graduacin mtrica, fuente
de luz,
mesa ptica circular con soporte y pantalla.
2. Pieza acrlica en forma semicircular.

b. Espejos y lentes esfricos:

El estudiante debe adems aportar un comps que utilizar como ayuda para la medicin de
los
tamaos de las imgenes en la pantalla.

NOTA: el equipo ptico es sumamente delicado. Por favor tome las precauciones nece
sarias
para no daar los elementos con un manejo inadecuado: golpes, ralladuras, dobleces
, etc.

Placa (UCR)
Caractersticas








2. Demuestre la ecuacin (4).

Banco ptico que consiste en: riel metlico horizontal con graduacin mtrica, espejos e
sfricos y
lentes montados en soporte y pantalla en soporte.
Nombre


1>m1<m1=moyiy
oim-=
fP1=


(b)
Figura 5: (a) Dispositivo experimental. (b) Un rayo incide en la parte plana de
la pieza semicircular a un ngulo de
incidencia .. Los rayos reflejado y refractado salen con ngulos respectivos . y ..

1
2

Procedimiento
Reflexin y Refraccin:
2. Haga que la luz de la fuente salga por una ranura sencilla e incida sobre el
centro de la superficie
plana de la pieza acrlica. Observe la formacin de los rayos reflejados y refractad
os cuando Ud.
gira la tabla a distintos ngulos de incidencia. Refirase a la figura 5(b).
3. Para distintos ngulos de incidencia, proceda a medir los ngulos de reflexin y de
refraccin.
Recopile los resultados en la tabla de datos que se ofrece abajo.
4. Sobre la ltima columna de la tabla, use la ecuacin (2) para determinar el ndice
de refraccin del
material de la pieza semicircular y promdielo.


. ()
1
. ()
1
. ()
2
n
10



20






40


50


60


70



80




Promedio de n =
acrlico

5. Elabore la grfica y ajstela. Se comprueba la ley de la Reflexin?
6. Elabore la grfica y ajstela. Se obtiene una lnea recta? Se cumple entonces
la Ley de Snell? Cul es el valor de n obtenido de esta grfica?
acrlico
(a)
1
1. Coloque la pieza semicircular acrlica sobre la mesa ptica de modo que la cara p
lana mire hacia
la fuente de luz, segn se muestra en la figura 5(a). La pieza debe estar adecuada
mente colocada
en el centro de la mesa.
acrlico
30






Rayo
refractado
Rayo
reflejadoRayo
incidenteNormal
.1.2
.1
=..
11 vs..'
21sin vssin..

7. Haga ahora incidir el rayo por el lado semicircular. Observe la formacin de lo
s rayos reflejado y
refractado. Aumente poco a poco el ngulo de incidencia. Cuando el ngulo de refracc
in sea de
90, mida el ngulo crtico obtenido y use la ecuacin (5) para determinar el ndice de re
fraccin
del medio. Compare su resultado con el promedio obtenido de la tabla.


. = n =
c
acrlico

Comparacin:

Espacio para clculos

Grfica

Espejos esfricos:
8. Instale el equipo de modo que quede
como se muestra en la figura 6. La
parte cncava del espejo debe mirar
hacia la fuente de luz. Observe que la
distancia objeto o es la distancia entre
fuente de luz y espejo, mientras que la
distancia imagen i es la distancia
entre espejo y semipantalla, tal como
se deduce de la figura 4(a).
a) Coloque el espejo a unos 15 cm de
la fuente de luz (que se mantendr
fija) y encuentre la posicin de la
imagen real, moviendo
apropiadamente la semipantalla
hasta lograr un ptimo enfoque.
Anote las distancias o e i en la tabla que se ofrece a continuacin. Adems calcule
la distancia
focal del espejo usando la ecuacin (6) y la potencia diptrica del espejo por medio
de la
ecuacin (9). Anote tambin el tamao del objeto y y de la imagen y.
o
i
b) Repita para otras posiciones del espejo (aumentando la distancia objeto), ano
tando cada vez las
distancias en la tabla de datos.


Espejo cncavo f = cm; Tamao del objeto: y = ( ) cm
nominal
o
o (cm)
i (cm)
1/o (cm)
-1
1/i (cm)
-1
y (cm)
*
i
f (cm)
P (m)
-1
m = -y/ y
i
o
m = -i /o
%m































































Notas: : representa el tamao de la imagen sobre la semipantalla.
*












: diferencia porcentual entre las columnas que calculan m.
c) Calcule el valor promedio de f con su respectiva desviacin estndar y comprelo co
n el valor
nominal dado por el fabricante. Son coincidentes los valores?
Cuadro de texto: Figura 6: Dispositivo experimental para medicin de la distancia
focal de un espejo cncavo.


Lentes delgadas:
a) Coloque la lente a cierta distancia de la fuente (que nuevamente se mantendr f
ija) y encuentre
la posicin de la imagen real, moviendo apropiadamente la pantalla hasta lograr un
ptimo
enfoque. Anote las distancias o e i en cm en la tabla siguiente.
c) Repita para otras posiciones de la lente y complete la tabla de datos.

nominal
o
o (cm)
i (cm)
1/o (cm)
-1
1/i (cm)
y (cm)
i
f (cm)
-1
m = -y/ y
i
m = -i /o
%m
































































d) Calcule el valor promedio de f con su respectiva desviacin estndar y comprelo co
n el valor
nominal dado por el fabricante. Son coincidentes los valores?


Espacio para clculos


Espacio para clculos
9. En el dispositivo de la parte anterior, sustituya la semipantalla por una len
te delgada convergente,
y el espejo por una pantalla (lmina metlica blanca). Note ahora que la distancia o
bjeto o es la
distancia entre fuente de luz y la lente, mientras que la distancia imagen i es
la distancia entre la
lente y la pantalla, segn se deduce ahora de la figura 4(b).
Lente convergente f = cm; Tamao del objeto: y = ( ) cm
-1
P (m)
o







Cuestionario
1. Se cumple la ley de la reflexin y la ley de Snell? Qu factores de error pueden es
tar incidiendo?

3. Es preciso el mtodo de determinacin de las distancias focales a partir de la ecu
acin (6)? Qu
factores de error pueden estar influyendo?












Conclusiones

2. Cul de las dos determinaciones del ndice de refraccin (por promedio sobre los dat
os o por
ngulo crtico) le parece ms precisa? Justifique.
PTICA FSICA: difraccin e interferencia

Objetivos
Estudiar los patrones de difraccin e interferencia de ranuras simples, dobles, mlt
iples y aberturas
circulares. Especficamente se desea:
1. Determinar el ancho de ranuras rectangulares.
2. Determinar el dimetro de aberturas circulares.
3. Determinar las distancias de separacin entre ranuras rectangulares.

Nota terica
Difraccin por una ranura rectangular:
La figura 1 muestra el caso de luz monocromtica (de
longitud de onda .) que incide sobre una rendija de
ancho a, en donde a ~ .. Debido a su carcter
ondulatorio, la luz no sigue una trayectoria
necesariamente rectilnea enfrente de la ranura hacia la
pantalla que se encuentra a una distancia L, sino que
cerca de los bordes de la ranura se dobla hacia todas
direcciones. El resultado final es que se encuentra sobre
la pantalla una zona central de alta iluminacin (justo
enfrente de la rendija), seguido de una serie de mnimos
y mximos de intensidad luminosa. Este fenmeno es
denominado patrn de difraccin. Si . es el ngulo
entre el eje de simetra de la ranura y la posicin central
de cada mnimo de intensidad luminosa, se puede
mostrar que este ngulo est relacionado con la longitud
de onda y el ancho de la ranura de la siguiente forma:
(1)
donde representa el nmero o el
orden del mnimo en cuestin. Si m es positivo, los ngulos son positivos (se toman en
cuenta los
mnimos que se encuentran hacia arriba de la figura), pero si m es negativo, los ng
ulos son negativos
(se toman los mnimos que estn hacia abajo). Ahora, si y(m) es la posicin de cualqui
era de los
mnimos medida sobre la pantalla, se puede ver que: . Si L es lo
min

K,3,2,1=m22/senLyyminmin+=.
Cuadro de texto:
Figura 2: Patrn de difraccin de una rendija rectangular iluminada con luz monocromt
ica. Ntese la presencia del mximo principal en el centro de la figura, y los mnimos
(zonas oscuras) a ambos lados de aqul.
Cuadro de texto:
Figura 1: Luz monocromtica incide sobre una ranura de tamao a . Si se coloca una pan
talla a una distancia L despus de la ranura, se formar un patrn de mximos y mnimos de
intensidad luminosa, cuyo perfil se muestra como la curva ondulante.
suficientemente grande (), entonces
, por lo que la ecuacin (1) se escribe:
(2)
La figura 2 muestra el patrn de difraccin para una
ranura rectangular, tal como se vera sobre una
pantalla. En esta prctica se desea verificar la validez
de la ecuacin (2).
Difraccin por una abertura circular
Cuando la luz monocromtica pasa a travs de una
abertura circular, se produce un patrn de difraccin
sobre una pantalla cercana como el que se presenta en
la figura 3. Ntese la presencia de un disco central
(correspondiente al mximo principal mencionado atrs)
y una serie de anillos concntricos. La posicin angular
del primer mnimo (es decir, el anillo oscuro que rodea
el disco principal) est dada por:
(3)
donde d es el dimetro de la abertura. Obsrvese que la
diferencia de esta expresin con respecto a la ecuacin
(1) para m = 1 es el factor 1.22 que proviene de tomar
en consideracin la geometra circular de la abertura.
Aqu nuevamente se ve que si y es la posicin lineal
sobre la pantalla del primer mnimo medida con
respecto al centro del disco principal (o bien, 2y es el
dimetro del centro del primer anillo oscuro, segn se
ve en la figura), L es la distancia entre la abertura y la
pantalla y se cumple que , se tendr:
min
min
(4)
Esta expresin ser utilizada en el procedimiento.

Interferencia por una rendija doble
donde d es la distancia entre ranuras y mes el orden del mximo. Si ahora y(m) es
la
posicin del mximo de orden m medida a lo largo de la pantalla, tal como muestra la
figura 4(a), y
, se cumple entonces:
mx
(5)
L>>
mLm=)(min..22.1=
minyL>>
L22.1min=
Lymin/sen.

El experimento de interferencia de Young consiste en
hacer pasar un haz de luz monocromtica a travs de
dos ranuras rectangulares muy prximas, tal como se
muestra en la figura 4(a). Por el momento se
considerarn las ranuras como de ancho despreciable.
Nuevamente, el patrn formado en la pantalla es una serie de franjas claras y oscu
ras (mximos y
mnimos, respectivamente), segn se puede ver en la figura 4(b). La condicin para que
se produzca un
mximo de intensidad est dada por la siguiente expresin:
.
..md=sin
K,2,1,0=
mxyL>>
Cuadro de texto:
Figura 3: Patrn de difraccin de una abertura circular iluminada con luz monocromtic
a. ymin es el radio al centro del primer mnimo.
Cuadro de texto: (a)
(b)
Figura 4: (a) Luz monocromtica incide sobre dos ranuras de ancho despreciable sep
aradas una distancia d . Si se coloca una pantalla a una distancia L despus de las
ranuras, se formar un patrn de mximos y mnimos de intensidad luminosa, cuyo perfil s
e muestra como la curva ondulante. (b) Patrn de interferencia obtenido.
(6)

Esta expresin tambin ser utilizada en el
procedimiento. Note que la distancia entre mximos
consecutivos es constante, a diferencia del caso de
difraccin pura.
Interferencia modulada por difraccin
Si en el experimento de Young anterior se toma en
cuenta ahora el ancho a de las ranuras (con a), el
patrn de interferencia de la figura 4(a) estar
modulado por el patrn de difraccin de la figura 1. La
figura 5(a) muestra el patrn resultante. Se observa una
zona clara central (correspondiente al mximo principal
de difraccin) que contiene una serie de mximos y
mnimos de interferencia. En la figura 5(b) se muestra el
perfil resultante de la modulacin. A pesar de la
difraccin, es siempre posible hallar la distancia de
separacin d entre rendijas analizando la separacin entre los mximos de interferenci
a y aplicando la
ecuacin (6), segn se ver en el procedimiento.
Trabajo previo
1. Qu ocurre con la posicin de los primeros mnimos de difraccin () en la ranura
rectangular si su ancho a disminuye? Y si . disminuye?
2. Qu ocurre con la posicin del primer mnimo de difraccin de la abertura circular si
su dimetro d
disminuye? Y si . disminuye?

3. Demuestre la ecuacin (5).
Equipo
El equipo se ha dividido en tres partes segn se detalla a continuacin.
Banco ptico que consiste en: riel metlico horizontal con graduacin mtrica, diodo lser
en
montura con fuente de voltaje, disco ptico denominado Single slit set [ver figura 6
(a)] en soporte
y pantalla.
b. Interferencia:
Banco ptico que consiste en: riel metlico horizontal con graduacin mtrica, diodo lser
en
montura con fuente de voltaje, disco ptico denominado Multiple slit set [ver figura
6(b)] en soporte
y pantalla.
a. Difraccin:
NOTA: el equipo ptico es sumamente delicado. Por favor tome las precauciones nece
sarias
para no daar los elementos con un manejo inadecuado: golpes, rayaduras, dobleces,
etc.
NUNCA dirija la luz del lser directamente hacia su ojo o hacia el de alguna otra
persona.

Nombre
Caractersticas
Placa (UCR)



d<
1=m
Cuadro de texto:
(a)
(b)
Figura 5: (a) Patrn de interferencia modulada por difraccin de una rendija doble r
ectangular en el caso en que . (b) Curva de intensidad de luz del patrn de interf
erencia. La lnea punteada corresponde a la difraccin y la lnea rellena a la interfe
rencia.
(a)

(b)

(c)
Figura 6: Discos pticos con ranuras y aberturas circulares. El disco (a) se usa p
ara la parte de difraccin mientras que el
disco (b) para la parte de interferencia. En (c) se muestra la forma de ensambla
r el disco y su disposicin en el banco ptico
junto con el lser.

Procedimiento
Difraccin:
1. Coloque el diodo lser en el riel metlico cerca del 0 de la graduacin. A unos cuant
os centmetros
enfrente, coloque el disco ptico denominado SINGLE SLIT SET segn muestra la figura 6
(c).
Coloque la pantalla al extremo final del banco. Seleccione en el disco la ranura
marcada a = 0.02
mm (seccin de Single Slits).
2. Encienda el lser. Si es necesario, haga los ajustes con los tornillos de posic
ionamiento para que el
haz de luz pase a travs de la ranura seleccionada. Observe el patrn formado en la
pantalla.
min
4. Repita el punto anterior para las otras ranuras del disco (0.04 mm, 0.08 mm y
0.16 mm). Recopile
todos los datos en la tabla siguiente.
5. Obtenga el porcentaje de diferencia con respecto al valor nominal del ancho (
primera columna).
Comente sobre posibles errores.

. = 670 nm; L = ( ) cm
Ancho nominal de
ranura a (mm)
2y (mm)
min
Ancho calculado
de ranura a (mm)
% Error en a
0.02
min


0.04

0.08



0.16


3. Mida la distancia L entre la ranura y la pantalla, as como la distancia entre
los dos primeros mnimos
del patrn de difraccin. Note que esta distancia es 2y. Use la ecuacin (2) para dete
rminar el
ancho experimental de la ranura, en donde se usa m = 1. Note que la longitud de
onda de la luz que
sale del lser es 670 nm. NO raye ni haga marcas en la pantalla. Fije una hoja de
papel.
y (mm)
Difraccin por una abertura circular:
7. Mida la distancia 2y que se ilustra en la figura 3. Calcule entonces y y de a
ll el dimetro
experimental d de la abertura usando la ecuacin (4). Calcule finalmente el porcen
taje de error con
el valor nominal.
min
min
8. Repita el punto anterior para la abertura circular marcada 0.4 mm DIA. Rena todo
s los datos en la
tabla siguiente:
. = 670 nm; L = ( ) cm
2y (mm) miny (mm) minAncho calculado
de abertura d (mm)
% Error en d
0.2
Ancho nominal de
abertura d (mm)
0.4


Interferencia por una rendija doble:
7. Mida la distancia (y)entre dos mximos consecutivos. Use la ecuacin (6) para obt
ener el valor
experimental de la separacin d de las ranuras.
6. Retire el disco SINGLE SLIT SET y coloque el disco MULTIPLE SLIT SET en la forma
mostrada
por la figura 6(c). Seleccione en el disco la ranura doble con indicacin a = 0.04
, d = 0.25 (seccin
Double Slits). Ajuste los tornillos del lser si es necesario. Observe cuidadosament
e el patrn
formado en la pantalla y trate de relacionarlo con la figura 5(a).
8. Proceda a llenar la siguiente tabla de datos para las cuatro ranuras dobles d
el disco:
mx
. = 670 nm; L = ( ) cm
Distancia nominal
entre ranuras d (mm)
Ancho nominal
de ranura a (mm)
miny (mm)
Distancia calculada
entre ranuras d (mm)
0.04
0.25



0.50


0.08
0.25



0.50



Interferencia por rendijas mltiples:
9. Gire ahora el disco hacia la zona marcada Mltiple Slits. Seleccione una tras otr
a las posiciones
marcadas 2, 3, 4 y 5 (que representan 2, 3, 4 y 5 ranuras, todas de ancho 0.04 mm y
separadas 0.125 mm). Observe con cuidado los patrones formados. Use el espacio p
rovisto en la
pgina siguiente para dibujar los posibles perfiles de intensidad luminosa [como s
e presentan en las
figuras 1 y 4(a)]. Discuta con sus compaeros posibles explicaciones sobre el fenme
no.
6. Gire el disco de modo que la luz pase ahora por la abertura circular (seccin d
e Circular Apertures)
marcada 0.2 mm DIA. Ajuste los tornillos si es necesario para obtener un buen patrn
en la
pantalla.
% Error en d


Espacio para perfiles
Cuestionario
1. Qu ocurre con las posiciones de los primeros mnimos (m = 1) de difraccin conforme
se
ensancha la ranura rectangular? Qu ocurrira en el lmite ?
2. Qu ocurre con el dimetro del anillo del primer mnimo de difraccin conforme se ensa
ncha la
abertura circular? Qu ocurrira en el lmite ?
4. De acuerdo con lo observado en el punto 9 del procedimiento, cmo cree que lucira
el perfil de
intensidad luminosa para el caso de una rendija mltiple en donde el nmero de ranur
as es
elevado? (Tal rendija mltiple se denomina rejilla de difraccin).




















Conclusiones
3. En qu cambia el patrn de interferencia cuando se ensanchan las ranuras (con d co
nstante)?
Hay variacin en la distancia entre mximos de interferencia?


8.a
8.d
POLARIZACIN Y FOTOMETRA


Objetivos
En esta prctica se desea estudiar el efecto de dos polarizadores sobre luz blanca
incidente, as como
determinar el comportamiento de la intensidad de la luz en funcin de la distancia
a la fuente y en
funcin de la apertura de un diafragma. Especficamente se persiguen las siguientes
metas:
1. Utilizar un detector de luz y un luxmetro.
2. Confirmar la Ley de Malus.
3. Obtener la ley inverso cuadrado para la intensidad de luz con la distancia.

Nota terica
Polarizacin
En la figura 1 se muestra el caso de una onda
electromagntica plana que se propaga sobre el eje z.
El campo elctrico asociado con la onda oscila a lo
largo de la direccin definida por el eje x, mientras que
el campo magntico lo hace a lo largo de la direccin y.
Se dice entonces que la onda est polarizada
linealmente. Por definicin, la direccin de polarizacin
corresponde a la direccin del campo elctrico, por lo
que en este caso la polarizacin es a lo largo del eje x.
El plano de polarizacin de la onda es el plano x-z.
Por lo general, la luz proveniente de las fuentes
de luz incandescentes (como los bombillos) tiene
polarizacin al azar, es decir, el conjunto de ondas tiene tantas direcciones de p
olarizacin que no hay
definido un plano de polarizacin preferencial. En este caso se dice que la onda e
s no polarizada, o
bien que tiene polarizacin natural.
Es posible polarizar la luz utilizando una lmina polarizadora, o simplemente, un
polarizador. En
un polarizador, existe cierta direccin caracterstica mostrada mediante una lnea, un
a flecha, etc. Si la
luz natural incide sobre un polarizador, prcticamente todas las ondas electromagnt
icas se absorben
salvo las ondas que llevan la direccin de polarizacin coincidente con la direccin d
e polarizacin de la
4. Comprobar la ley cuadrtica para la intensidad de luz con el dimetro de apertura
.
Cuadro de texto:
Figura 2: Polarizacin consecutiva de la luz natural. El polarizador 1 selecciona
una direccin de polarizacin especfica. El polarizador 2 (cuya direccin de polarizacin
est girada un ngulo respecto al 1) selecciona la componente a lo largo de su prop
ia direccin.
Cuadro de texto:
Figura 1: Una onda electromagntica plana se propaga a lo largo del eje z. El camp
o elctrico oscila a lo largo del eje x y el magntico a lo largo del eje y.
lmina. La situacin se muestra en la figura 2, donde adems se ha incluido un segundo
polarizador
(con direccin de polarizacin distinta) que a su vez selecciona una nueva direccin.

Ley de Malus
Un anlisis de intensidad luminosa de la situacin mostrada en la figura 2 da los si
guientes resultados:
la intensidad que sale del primer polarizador es la mitad de la intensidad de la
luz natural original, esto
es:
(1)
(2)
Esta expresin es conocida con el nombre de ley de Malus. Ntese que si el ngulo es 9
0, la
intensidad es nula, lo que implica que, en principio, dos polarizadores puestos
uno tras otro en
ngulo recto absorben la luz que incide sobre ellos. En la prctica esta afirmacin no
es del todo
correcta puesto que un polarizador real no es totalmente eficiente en selecciona
r slo la luz a lo largo
de su direccin de polarizacin, por lo que puede quedar un resto de luz polarizada
en otra direccin.
En el procedimiento se ver una manera de restar esta contribucin de modo que an as l
a ley de
Malus pueda ser comprobada.

Variacin de la intensidad luminosa con la distancia
La figura 2 muestra la situacin en que la fuente luminosa se encuentra tan alejad
a de los polarizadores
que se puede considerar la luz como una onda plana cuyos rayos viajan en forma p
aralela. Este no es
el caso en general, cuando la distancia entre los dispositivos analizadores o de
tectores es cercana a la
fuente de luz. En tal situacin es necesario considerar la luz como formada por on
das esfricas cuyos
rayos son ahora radiales. Es pues interesante estudiar como se comporta la inten
sidad de luz conforme
un detector de luz (llamado a veces fotmetro) se aleja de la fuente.
La figura 3 muestra la geometra de una fuente de luz que emite ondas esfricas en
todas
direcciones. A una distancia de la fuente existe una intensidad luminosa (en W/m
) distribuida en
un rea . A una distancia mayor la intensidad en el rea es . La energa lumnica que pa
sa
en cada unidad de tiempo por es
, y para es . Por
conservacin de la energa, las dos
energas deben ser iguales ya que
no hay fuentes ni sumideros entre
y , por lo que:
2
(3)
Esta ecuacin se obtuvo
considerando solamente parte de la
intensidad total, puesto que la luz se
emite isotrpicamente. Si se calcula
la energa por unidad de tiempo (o
sea, potencia) total en una esfera de
donde es la intensidad de la luz natural (medida en candelas o lux) e es la inte
nsidad que sale
del polarizador 1. Si el polarizador 2 tiene una direccin girada un ngulo con resp
ecto al polarizador
1, la intensidad que sale de aqul viene dada por:
201II=
0I1I.2I
.212cosII=
2I
1r2A1I1A2r1r2A2I1
1A11AI2rI
Cuadro de texto:
Figura 3: Geometra de la situacin donde una fuente de luz emite ondas esfricas.
radio y se iguala con la energa en la esfera r:
(4)
2
Esta es la llamada ley inverso cuadrado en la intensidad luminosa, y dice, por e
jemplo, que si la
distancia a la fuente se duplica, la intensidad decae a la cuarta parte del valo
r inicial. Se desea
comprobar la validez de esta ley.
(5)
Variacin de la intensidad luminosa con la apertura
Supngase ahora que se tiene una abertura circular
(llamada para estos efectos apertura) de dimetro
mximo a travs del que pasa una intensidad
luminosa . Cul es la intensidad que pasa a
travs de una apertura de menor tamao (dimetro
y rea A)? Evidentemente, si la luz se
distribuye uniformemente en el rea , la relacin
entre intensidad de luz y rea ser la misma tanto en
como en A, es decir:
(6)
Para aberturas circulares, , por lo que,
despejando para I ,se obtiene:
(7)
Esto significa que la intensidad luminosa que pasa a travs de una apertura sigue
una ley cuadrtica
con el dimetro. Nuevamente se desea en esta prctica comprobar esta ley.

Trabajo previo
1. Demuestre las ecuaciones (1) y (2).
2. Investigue sobre las unidades de intensidad luminosa y sus equivalencias.

Equipo
Banco ptico que consiste en: riel metlico horizontal con graduacin mtrica, fuente de
luz blanca con
fuente de voltaje, polarizadores con graduacin angular montados en soporte, disco
de aperturas (con
aperturas f/4, 5.6, 8, 11, 16 y 22) y detector de luz conectado con luxmetro de m
ano.

NOTA: el equipo ptico es sumamente delicado. Por favor tome las precauciones nece
sarias para no daar los
elementos con un manejo inadecuado: golpes, rayaduras, dobleces, etc.

Nombre
Placa (UCR)
Caractersticas






d0
Supngase que r est justamente sobre la fuente de luz de modo que es la potencia
total de la fuente y r = r es la variable, la ecuacin (4) se escribe:
1r2
22,221,144rIrItottotpp=
1021,14PrItot=p
2204)(
rkrPrItot==
p
0d0I0dd<
0AA
/2dAp=
()2200/)(kdddIdI==
Cuadro de texto:
Figura 4: Luz de intensidad I0 pasa a travs de una abertura circular de rea A0, co
rrespondiente a un dimetro d0. La intensidad I(d) que pasa por una abertura de dim
etro d < d0 es una funcin de d.

Procedimiento
Polarizacin
1. Arme el dispositivo que se muestra en la figura 5. Note que los polarizadores
pueden girar alrededor
de su eje de simetra. Gire el polarizador 1 de modo que el cero de su escala est e
n posicin
vertical. Las distancias entre polarizadores y detector con la fuente de luz no
son importantes por el
momento (sin embargo, site el detector a una distancia tal que tenga una buena le
ctura en el
luxmetro en el calibre de 200 lux).
2. Debido a que los polarizadores no son perfectos, notar que al girar 90 el polar
izador 2 (con
respecto al 1), la lectura del luxmetro no cae a cero. Esa lectura residual (I) d
ebe restarse a los
datos que a continuacin Ud. tomar. Anote la lectura I para el polarizador 2 a 90 en
la tabla que
se brinda abajo.
res
res
I =( ) lux res3. Proceda ahora a llenar la tabla de datos para distintos ngulos d
el polarizador 2, dejando el
polarizador 1 fijo.
ngulo del polarizador 2 ()
Lectura del luxmetro I (lux)
Intensidad corregida: I = I I (lux)
c
res
0 ________

10


20


30



50

60

70

80

90


100

110


120


130

140

150

160

170

180



Cuadro de texto:
Figura 5: Dispositivo experimental para la determinacin de la ley de Malus.
40


4. Elabore la grfica I vs ., donde . es el ngulo de polarizacin. Ajuste los datos c
on una funcin del
tipo .
c
Grfica (polarizacin)

.2cos
5. Retire los polarizadores. Asegrese que la fuente de luz se encuentre en el cer
o de la escala mtrica
del banco. Acerque el fotmetro lo ms que pueda a la fuente pero observando que la
luz ilumine
por completo el detector del fotmetro.
6. Tome la lectura de la intensidad de luz que marca el luxmetro (si el cono de l
uz que sale de la
fuente no cubre totalmente al detector, aljelo de modo que lo haga). Si es necesa
rio, cambie de
escala. Anote tambin la posicin del detector.
7. Llene la siguiente tabla para distancias consecutivamente mayores entre fuent
e y detector. Intente
cubrir todo el espacio del banco.
Distancia r ______ (cm)
Lectura del luxmetro I (lux)
Incertidumbre .I (lux)
























































Cuadro de texto:
Figura 5: Dispositivo experimental para la determinacin de la ley de Malus.
Fotometra: variacin con la distancia


8. Elabore la grfica de I vs r. Ajuste los datos con una curva del tipo potencial
. Calcule el % de error
del exponente de r obtenido con respecto al valor terico 2.


Grfica (Intensidad vs distancia)

Fotometra: variacin con la apertura
9. Acerque el detector a la fuente de modo que tenga una buena lectura de intens
idad en el calibre de
200 lux.
10. Coloque, en contacto con el detector, el disco de aperturas. Seleccione la a
pertura de dimetro 25.0
mm y anote la lectura del luxmetro. Para un mejor resultado, observe que la luz q
ue sale de d no
ilumine todo el detector del fotmetro.
11. Repita para las dems aperturas del disco, sin mover la posicin el detector.
12. Recopile toda la informacin en la siguiente tabla.

Dimetro d
Lectura del luxmetro I ______ (lux)
25.0

17.7

12.5

8.8

6.3

4.4


13. Elabore la grfica I vs d. Ajuste los datos con una funcin potencial. Calcule e
l % de error del
exponente de d obtenido con respecto al valor +2.

Grfica (Intensidad vs apertura)

Cuestionario
1. Se cumple la ley de Malus? Qu factores de error hay presentes?
2. Se obtiene la ley inverso cuadrado? Qu errores puede haber?
3. Es la intensidad de luz una funcin cuadrtica de la apertura? Qu otros factores de
error hay?



























Conclusiones






REJILLAS DE DIFRACCIN Y ESPECTROS


Objetivos
El objetivo general de esta prctica es el estudio de la formacin de espectros de
luz visible
producidos por diferentes sustancias gaseosas al pasar a travs de una rejilla de
difraccin. Ms
especficamente se desea hacer lo siguiente:
1. Calibrar un espectroscopio.
2. Determinar la constante de la red de difraccin.
3. Calcular la dispersin de la red de difraccin.
4. Reconocer sustancias gaseosas a partir de su espectro de emisin.

Nota terica
a. Rejilla de difraccin
Una red o rejilla de difraccin est formada
por un conjunto muy grande de rendijas paralelas
pequeas, igualmente espaciadas y situadas muy
cerca unas de otras. Las rejillas de difraccin ms
comunes debido a su bajo costo estn hechas de
plstico y pueden venir montadas en soportes
plsticos o de cartn. El uso principal de tal red es la
de producir interferencia luminosa modelada por
difraccin. La figura 1 muestra la situacin de rayos
de luz monocromticos (de longitud de onda .)
cuando inciden sobre una rejilla. La separacin entre
rendijas es D (la llamada constante de red).

.PantallaRejillaD.mximosFigura 1: Rayos de luz monocromtica que inciden
sobre una rejilla de difraccin. Sobre la pantalla de
la derecha se forma un patrn de mximos y
mnimos de interferencia.
Las ondas que se difractan de la red interfieren entre s y forman un patrn de mxim
os
(grandes y pequeos) y mnimos de intensidad de luz. Los mximos ms intensos estn caract
erizados
por un nmero de orden m (nmero entero) y son los que se sealan en la figura*. La co
ndicin para
que aparezca un mximo de orden m est dada por la siguiente expresin:
..mD=sin (1)
donde . es el ngulo de difraccin medido desde la direccin del haz de luz incidente.
Si
entonces 0=m0=.. En tal caso ese mximo se denomina mximo central. Para se tendr
el mximo de primer orden, el mximo de segundo orden, etc.
1=m2=m
Si ahora se considera el caso policromtico (es decir, cuando la luz que incide s
obre la rejilla
est conformada por ms de una longitud de onda), la ecuacin (1) es vlida para cada lo
ngitud de
onda .i (i = 1, 2, ). Puede verse entonces que cada .i tendr asociado sus propios
nmeros de
orden, y por tanto habr diferentes ngulos de difraccin. Esto explica por qu una reji
lla de estas
produce una descomposicin de luz policromtica en sus distintos elementos constitutiv
os. Se da
tambin el caso especial de en donde se obtiene 0=m0=. para cualquier .i. Este res
ultado indica
que el mximo central est compuesto de todas las longitudes de onda de la luz incid
ente, y por tanto
su coloracin es la misma que la de la luz incidente.

* Para ms detalles, refirase por ejemplo a Halliday, Resnick y Krane.
b. Dispersin
Una cantidad importante es la dispersin de una rejilla d que se define como la v
ariacin del
ngulo de difraccin con respecto a la variacin en la longitud de onda. Esto es:

..ddd= (2)
La dispersin es una medida de qu tanto se extiende angularmente el espectro con la
variacin en
longitud de onda. Despejando de (1) el seno del ngulo de difraccin y diferenciando
ambos lados se
obtiene:
...dDmd=cos (3)
Reordenando la expresin se logra hacer aparecer la dispersin:
...dcosDmdd== (4)
Despejando D de (1) y sustituyndolo en la expresin anterior se llega a:

..dtan= (5)

c. Espectroscopa en muestras gaseosas
Cuando una muestra de gas se somete a una diferencia de potencial elevada, los t
omos o
molculas que lo conforman absorben energa. Este proceso se denomina excitacin. Lueg
o de un
cierto tiempo corto, la energa almacenada por excitacin se relaja de varias manera
s, una de las
cuales es por emisin de luz de ciertas longitudes de onda. Cada longitud de onda
es caracterstica de
la estructura del tomo o molcula, y por tanto es una forma de diferenciar una mues
tra gaseosa de
otra. Este mtodo, denominado espectroscopa de emisin se utiliza ampliamente para la
identificacin
de elementos, y es parte del trabajo de este laboratorio.

Trabajo previo
1. Resuma los conceptos relacionados con el experimento de interferencia de Youn
g, particularmente
las condiciones para mximos y mnimos.
2. Explique los conceptos de difraccin, difraccin de Fresnel y difraccin de Fraunho
fer.
3. Explique el principio de operacin de una rejilla de difraccin en cuanto a la fo
rmacin de mximos.
4. Explique los siguientes trminos: espectro, lnea espectral, espectro de emisin, e
spectro de
absorcin.

Equipo
1. Banco ptico con los siguientes accesorios: (a) escala graduada, (b) ranura col
imadora de ancho
ajustable, (c) lente convergente, (d) soporte para rejilla de difraccin, (e) pant
alla translcida.
2. Rejilla de difraccin montada en soporte plstico o de cartn.
3. Fuente de poder de alto voltaje para lmpara.
4. Lmparas espectrales variadas.

Nombre
Placa (UCR)
Caractersticas






Fuentede luz

Procedimiento

NOTA: algunos de los gases en las lmparas emiten radiacin ultravioleta (UV). NO MI
RE
directamente el haz de luz, ni tampoco la luz reflejada.

1. Calibracin del espectroscopio
a. Asegrese de que en su mesa de trabajo est montado el banco ptico con aditamentos
, rejilla
y fuente luminosa de la forma que indica la figura 2.
ColimadorLenteRejillaPantallaEje yLOjo
Figura 2: banco ptico con aditamentos. L es la distancia entre la rejilla y la pa
ntalla. El eje y es un eje
horizontal que pasa por el mximo central del espectro y es perpendicular a L.
b. Retire la rejilla y observe en la pantalla el mximo de intensidad que se forma
. Ajuste el ancho
de la rendija del colimador y quiz la posicin de la lente para obtener una imagen
ntida y fina
de la rendija.
c. Coloque la rejilla en posicin y observe el patrn de lneas formado tanto a la der
echa como a
la izquierda del mximo central (stas corresponden a los mximos de primer orden, o s
ea,
). Si es necesario, ajuste nuevamente el colimador y la lente para optimizar las

imgenes.
1=m
d. Mida a lo largo del eje y las distancias entre el mximo central y los mximos de
primer orden.
Si no coinciden las mediciones izquierda y derecha significa que la pantalla no
est colocada
adecuadamente. Gire la pantalla alrededor de su pivote de modo que tales medicio
nes
coincidan. Esto es importante para cumplir con las condiciones tericas dadas por
la ecuacin
(1).
2. Determinacin de la constante de la rejilla y su dispersin
NOTA: Para esta parte utilice la lmpara de mercurio.

a. En el siguiente cuadro se han anotado las longitudes de onda aceptadas para l
as lineas del
espectro del vapor de mercurio. Focalice las lineas de primer orden en su espect
roscopio y
anote las mediciones de y para L fijo. Note por trigonometra que 22/sinLyy+=.. Ca
lcule
para cada caso la constante D usando la ecuacin (1) y la dispersin d por (5). Obte
nga el
valor promedio de D y su desviacin estndar )(1Dn-s.



L = ( ) cm
Color
. ( )
y (cm)
sin .
. ()
D (mm)
d (-1)
violeta
4062





azul
4390





verde
4984





verde-amarillo
5469





)(1Dn-s<D> = = .
b. El fabricante de la rejilla no brinda directamente el valor de D, sino la den
sidad de lineas (o sea,
rendijas) por unidad de longitud, n (por ejemplo, 600 l/mm). La relacin de n con
D es entonces:
. Calcule la diferencia porcentual entre su valor promedio <D> y el valor del fa
bricante. nD/1=

Espacio para clculos
c. Trace la curva de calibracin del espectroscopio, es decir, la grfica de . en fu
ncin de ..

Espacio para grfica

3. Identificacin de elementos a partir de su espectro
NOTA: Para esta parte use el valor de nD/1= dado por el fabricante, segn lo visto
en el punto
anterior.
Se dispone en el laboratorio de lmparas con otras sustancias gaseosas que Ud. pod
r identificar
por su espectro y por las tablas tericas de que se dispone. Para cada sustancia,
llene cada una de
las siguientes tablas, calculando la longitud de onda experimental .e
de cada color y comparndola
con la tabla de lneas que se encuentra en el apndice D. Cuando haya identificado l
a sustancia,
anote en la columna marcada .t las longitudes de onda tericas y calcule el porcent
aje de error
para cada linea.

SUSTANCIA 1: D = , L = ( ) cm
Color
y (cm)
sin .
.e ( )
de (-1)
.t ( )
%Dif(.)




























Sustancia identificada: ____________________________


SUSTANCIA 2: D = , L = ( ) cm
Color
y (cm)
sin .
.e ( )
de (-1)
.t ( )
%Dif(.)




























Sustancia identificada: ____________________________


SUSTANCIA 3: D = , L = ( ) cm
Color
y (cm)
sin .
.e ( )
de (-1)
.t ( )
%Dif(.)




























Sustancia identificada: ____________________________

Cuestionario
1. Comente sobre la concordancia entre el valor experimental de D y el provenien
te del fabricante.
Qu posibles causas de error pueden afectar la medida?
2. Qu tipo de curva se obtiene en la grfica de la calibracin del espectroscopio? Cul e
s el
mximo valor que puede adquirir el eje de las ordenadas? Por qu?
3. Qu tan preciso es el procedimiento para identificar sustancias gaseosas a parti
r de su espectro?























Conclusiones

APNDICE A: Propagacin de errores*

Introduccin
La ciencia en su rama experimental y en particular la fsica experimental est basad
a en la
obtencin de informacin cuantitativa al respecto de los fenmenos fsicos que resulta p
ertinente
estudiar. Con el anlisis de dicha informacin cuantitativa se logran alcanzar los o
bjetivos propuestos
en la investigacin.
El proceso por el cual se obtiene informacin cuantitativa a nivel experimental re
cibe el nombre
de medicin. Las mediciones pueden ser divididas en dos clases: mediciones directa
s y mediciones
indirectas.
Las mediciones directas son aquellas que se llevan a cabo al comparar una magnit
ud fsica
(cualquier propiedad del fenmeno fsico en observacin) con un patrn de medida que ha
sido definido
por convencin previamente, el cual se utiliza en la forma de un instrumento de me
dicin. Las medidas
indirectas son aquellas que se obtienen como resultado de aplicar funciones mate
mticas a una o
varias magnitudes fsicas que han sido determinadas de forma directa. Es important
e notar que la
informacin cuantitativa fundamental es la medida directa, an si la medida indirect
a es el resultado
buscado, pues esta segunda se deriva de la primera.
En el mbito experimental es bien sabido que toda medida directa tiene asociada un
a
incertidumbre o diferencia entre el valor obtenido y el valor que se considera v
erdadero. Esta
incertidumbre puede tener, en general, dos tipos de causas: Los errores de medic
in sistemticos, que
se producen por la inadecuada calibracin del instrumento de medicin o sus inherent
es limitaciones, o
bien los errores de medicin aleatorios, que son causados por la variabilidad no c
ontrolada de factores
que modifican el valor de la magnitud fsica en estudio.
Los errores de medicin sistemticos pueden ser cuantificados fcilmente y no se requi
ere ms
que el anlisis del instrumento de medicin utilizado. Un error sistemtico es determi
nado para una
sola medida directa. Por otra parte, los errores de medicin aleatorios no pueden
ser cuantificados
con la misma facilidad que los errores sistemticos y en especial no pueden ser de
terminados para
una sola medida directa, sino que es imprescindible un grupo de medidas directas
de la misma
magnitud fsica, bajo las mismas condiciones que son controlables, para establecer
una estimacin del
error aleatorio.

Determinacin de la incertidumbre en una sola medida directa
Si se tiene una nica medida directa, la incertidumbre de dicha medida es igual a
la
incertidumbre del instrumento de medicin. As, si .m es la incertidumbre del instru
mento de medicin,
determinada por el fabricante o alguno otro de los criterios disponibles, si m e
s el valor obtenido del
instrumento de medicin para la magnitud fsica en estudio M, y entonces el valor qu
e se debe reportar
de la magnitud M es:
()unidadesmmM.=
La incertidumbre de una nica medida directa tambin puede ser expresada en forma po
rcentual, de
manera que el valor de la magnitud fsica M se puede reportar alternativamente com
o:
%
mmunidadesmM.=
* Un tratamiento ms extenso puede encontrarse en F. Fernndez (1984), pp. 257-275.
Determinacin de la incertidumbre en un grupo de medidas directas de la misma magn
itud fsica
Cuando se realizan varias medidas directas con el objetivo de cuantificar los er
rores aleatorios,
se considera que el valor que representa al grupo de medidas de la misma magnitu
d fsica es el valor
promedio. Ntese que idealmente, si no existieran errores de tipo aleatorio si se
realizan n repeticiones
de la medida de la misma magnitud fsica se deben obtener n valores idnticos, sin e
mbargo, la
presencia de errores aleatorios provoca que no todos los n valores sean idnticos,
de forma que es por
ello que se utiliza el valor promedio como el valor representativo del grupo de
medidas.
El valor promedio m de n medidas directas de la misma magnitud fsica M se define
a partir del
valor obtenido en cada medicin mi y el nmero n de mediciones por medio de la ecuac
in:
nmmniiS=
=1
(A1)
Normalmente se acepta que la incertidumbre en el valor representativo del grupo
de medidas
directas es la desviacin estndar muestral, que se denota por sm y que se calcula,
una vez que se ha
obtenido m, a partir de la ecuacin:
()
112-
-
=
S=
nmmsniim
(A2)
La desviacin estndar muestral se puede considerar como la cuantificacin de los erro
res
aleatorios presentes en el grupo de medidas directas.
Entonces, para un grupo de medidas directas de la misma magnitud fsica M obtenida
s bajo las
mismas condiciones controlables con el objetivo de determinar el efecto de los e
rrores aleatorios, el
valor representativo de la magnitud fsica M se debe reportar como:
()unidadessmMm=
O bien como:
%
msunidadesmMm=

Determinacin de la incertidumbre en las medidas indirectas
Puesto que ya se ha sealado que las medidas directas tienen asociada una incertid
umbre, la
del instrumento en el caso de una nica medida y la desviacin estndar muestral en el
caso de varias
medidas de la misma magnitud fsica, y puesto que ya se estableci con anterioridad
que las medidas
indirectas son calculadas por medio de ecuaciones matemticas que involucran medid
as directas, es
claro que las medidas indirectas tienen que tener incertidumbre y que esta debe
estar relacionada con
la incertidumbre de las medidas directas que se usaron en el clculo y la forma pa
rticular de la ecuacin
utilizada.
No importa si se ha realizado una nica medida directa de una magnitud fsica o bien
varias
medidas directas de la misma, en ltima instancia el clculo del valor de la medida
indirecta y la
determinacin de su incertidumbre se puede realizar con el valor reportado para la
magnitud fsica:

()unidadesmmM.=
()unidadessmMm=
Valor reportado para una nica medida directa
de una magnitud fsica M
Valor reportado como representativo de un grupo
de medidas directas de una misma magnitud
fsica M
Para establecer claramente el procedimiento que se debe llevar a cabo se present
ar primero
cmo realizar el clculo del valor de la medida indirecta y posteriormente se presen
tar como realizar la
determinacin de la incertidumbre del valor calculado para la medida indirecta.

Clculo del valor de la medida indirecta
Supongamos que se desea calcular el valor de una magnitud fsica A que depende de
dos
magnitudes fsica M y P que se pueden medir directamente. Supongamos tambin que el
valor de A se
obtiene al aplicar una funcin f conocida a M y P. Matemticamente:
()PMfA,=
(A3)
Para calcular el valor de la magnitud fsica A tan solo es necesario determinar el
valor de la
magnitud fsica M, el cual puede ser m o m dependiendo del proceso utilizado, as co
mo el valor de la
magnitud fsica P, el cual puede ser igualmente p o p, y evaluar la funcin f en los
valores anteriores,
de forma que el valor calculado a de la medida indirecta de la magnitud fsica A,
segn sea el caso, es:
()()pmfaopmfa,,==
(A4)
La idea desarrollada anteriormente puede ser ampliada de forma inmediata a una m
agnitud
fsica A medida indirectamente que depende de ms medidas directas, llamadas por eje
mplo M, P, Q,
pues en este caso es evidente que:
()()qpmfaoqpmfa,,,,==
(A5)

Determinacin de la incertidumbre en el valor calculado de la medida indirecta
Propagacin de errores
El valor calculado de la medida indirecta no puede ser igual al valor verdadero
de la magnitud
fsica en estudio pues debe tener alguna incertidumbre asociada. La incertidumbre
en este valor es el
resultado de la incertidumbre presente en las medidas directas que permitieron c
alcular dicho valor, ya
sea la de los instrumentos .m y .p o bien la desviacin estndar sm y sp segn sea el
caso.
La incertidumbre en el valor calculado de la medida indirecta, la cual se denota
r .a, se
obtiene por un mtodo llamado propagacin de errores.
En forma resumida el mtodo de propagacin de errores establece que .a se calcula, p
ara el
caso en que las medidas directas de las magnitudes fsicas M y P son independiente
s entre s
(situacin que generalmente es la que se presenta), por medio de la ecuacin:
()()
()())(
)(
2,22,22,22,2vecesnmedidasPyMsPfsMfaovezsolaunamedidasPyMpPfmMfappmmpmpmpm
..
.
..
.
.
.
+..
.
..
.
.
.
=.....
..
.
.
.
+...
.
..
.
.
.
=.
(A6)
Una vez presentadas las anteriores ecuaciones resulta evidente, lo mismo que en
el apartado anterior
la extensin al caso de una medida indirecta que depende de ms medidas directas.
En el caso en que las medidas directas de las magnitudes fsicas M y P no son inde
pendientes
entre s, .a se determina por medio de la ecuacin:
)(
)(
,,
,,
vecesnmedidasPyMSPfSMfaovezsolaunamedidasPyMpPfmMfappmmpmpmpm.
.
+
.
.
=...
.
+..
.
=.
(A7)
Tambin en este caso, una vez presentadas las anteriores ecuaciones resulta eviden
te la
extensin a la situacin de una medida indirecta que depende de ms medidas directas.
A veces es posible encontrar expresiones que permiten determinan medidas indirec
tas que
involucran magnitudes fsicas o variables que son independientes entre s, as como va
riables que son
dependientes entre s. Una situacin de estas se presenta en la expresin usada para c
alcular el campo
magntico en puntos sobre el eje de simetra principal de un solenoide (ecuacin A8),
en donde N, I y L
son independientes entre s e independientes de los ngulos a1 y a2, pero los ngulos
a1 y a2 no son
independientes entre s.
()127coscos102aap-
=
-
LNIBs
(A8)
Bajo estas circunstancias, lo ms aconsejable es introducir una nueva variable que
elimine el problema
que se ha presentado. Para el ejemplo de la ecuacin A8, la nueva variable sera
12coscosaa-=W, en trminos de la cual se conseguira que N, I, L y W sean todas inde
pendientes
entre s, de manera que las ecuaciones A6 son aplicables.

Presentacin de la medida indirecta
Una vez calculado el valor a de la medida indirecta de la magnitud fsica A y dete
rminada su
incertidumbre, la magnitud fsica A medida de forma indirecta deber ser reportada
como:
()unidadesaaA.=
O bien como:
%
aaunidadesaA.=

APNDICE B: Valores cuadrticos medios o rms

Definicin de valor medio
El valor medio de una variable A(t) que vara en el tiempo durante un tiempo o pero
do T se
define de la siguiente manera:
...==
TTTdttATdtdttAA000)(1/)( (B1)
En el caso particular de corriente alterna, donde A es el voltaje suministrado p
or una fuente de la forma
)sin()(maxtt.ee=, donde emax es la amplitud del voltaje (tambin llamado voltaje p
ico) y . la
frecuencia angular de oscilacin, el valor medio de e(t) es:
0)cos()sin(10max0max=-==.TTtTdttT..e.ee (B2)
La ltima igualdad se da pues T/2p.= y queda 0)0cos()2cos(=-p)(ee=t. En otras pala
bras, la
integral de la funcin seno evaluada en un perodo es cero. El clculo da el mismo res
ultado an para el
caso de un desfase dentro del argumento de la funcin seno, es decir: )sin(maxa.+t
, con a
el desfase.
Como se puede ver, la evaluacin de valores medios de variables alternantes no br
inda
informacin interesante sobre el sistema, por lo que se desea hacer el clculo del v
alor medio
cuadrtico que se describir a continuacin.

Valores medios cuadrticos o rms
El trmino rms proviene del ingls: root mean square. Tambin se le conoce como valor
eficaz. En los libros de texto, usualmente aparece este concepto asociado con el
clculo de la potencia
media consumida por un resistor cuando una corriente alterna lo atraviesa durant
e un perodo de
tiempo. Aqu se har una definicin operacional del valor medio cuadrtico de una variab
le variante con
el tiempo A(t):
.==
TrmsdttATtAA022)(1)( (B3)
Para el ejemplo del voltaje de corriente alterna, se encuentra:
22)(sin1max2max022maxeea.ee==+=.
TrmsdttT
(B4)
Esta expresin dice que el valor eficaz del voltaje es proporcional a la amplitud
de la seal oscilatoria.
Los voltmetros (y ampermetros) que usan el modo AC (corriente alterna) no miden la a
mplitud de la
seal, sino precisamente el valor eficaz. Sabiendo de antemano la frecuencia de la
seal alterna y el
valor medio cuadrtico, es fcil reconstruir la funcin oscilatoria, al menos hasta un
a constante de fase.
En el caso de un ampermetro, la relacin entre i e ies: rmsmax
2maxrmsii= (B5)
APNDICE C: Medicin del ngulo de desfase en el osciloscopio

En la prctica Introduccin al uso del osciloscopio se ha estudiado cmo introducir una
seal
de voltaje a las placas de barrido horizontal en sustitucin del barrido automtico
del aparato. En ese
caso, el osciloscopio se trabaja en modo x-y, que significa que en la pantalla se
muestra una grfica
de la seal de canal y en funcin de la seal de canal x. Este modo de operacin es muy t
il para
determinar el ngulo de desfase cuando las dos seales son peridicas. En general, si
las dos seales
poseen frecuencias no necesariamente iguales y ngulo de desfase no nulo, se forma
n unas figuras
llamadas figuras de Lissajous. Aqu se estudia el caso particular en que las frecuen
cias de la seales
de entrada son iguales.
En la figura C1 adjunta se muestran
tres posible combinaciones de seales
senosoidales que presentan distintos
desfases. Por conveniencia, se ha mostrado
una misma seal horizontal en la parte baja
de la figura, mientras que se ha representado
tres seales distintas en el canal vertical con
desfases de 0, 45 y 90. Se nota que las
figuras van de un segmento de recta en (a) a
un crculo en (c), pasando por una elipse en
(b) de semieje mayor a 45 con la horizontal.
En el caso general de desfase f, la
figura resultante ser una elipse de semieje
mayor inclinado, segn se muestra en la
figura C2. Supngase que se introduce una
seal en las placas horizontales dada por:
)sin()(maxtVtVHH.= (C1)
mientras que para las placas verticales:
)sin()(f.+=tbtVV (C2)
donde VHmax y b son respectivamente las
amplitudes (o valores pico) de las seales
horizontal y vertical. En t, el voltaje en
las placas horizontales es nulo mientras que
en las verticales vale
0=
fsinsinb=
b. Si la medida
vertical en la pantalla es a, como se muestra
en la figura, entonces: fa, o bien:
..
.
..
.=-
ba1sinf (C3)
Pero las cantidades a y b son proporcionales

VV(a)
VHt(b)t(c)ttImgenes
en pantallaDesfases0
45
90
Figura C1: Formacin de figuras de Lissajous con seales
senosoidales de misma frecuencia pero fases distintas.

BabA
Figura C2: Cantidades importantes para el clculo del ngulo
de desfase entre dos ondas senosoidales de misma
frecuencia y ngulo de desfase f. La elipse debe estar
centrada en el origen.
a las medidas A (distancia entre los interceptos de la elipse con el eje vertica
l) y B (amplitud vertical de
la elipse), as que podemos determinar el ngulo de desfase de la forma:
..
.
..
.=-
BA1sinf (C4)
APNDICE D: Tabla de espectros de algunas sustancias*

4000420044004600480050005200540056005800600062006400660068007000Longitud de onda
()
Helio4000420044004600480050005200540056005800600062006400660068007000Cadmio40004
2004400460048005000520054005600580060006200640060068007000Mercurio40004200440046
00480050005200540056005800600062006400660068007000Sodio4000420044004600480050005
20054005600580
600062006400660068007000NeonVioletaAzulVerdeAmarilloRojoNaranja

Tabla de longitudes de onda de las lneas espectrales (nmeros en )
Nen
Sodio
Mercurio
Cadmio
Helio
5850
5687
4062
4415
4026
6150
5703
4390
5086
4471
6400
5906
4984
5360
4713
6500
5922
5469
6438
4921 , 5015

6156


5875 , 6678

* Fuentes: Zeilik (1997); Resnick, Halliday, Krane (1994); R. C. Weast - editor
- (1979); CICIMA (2002).
APNDICE E: Bibliografa

Guas de laboratorio

R. Jimnez, J. A. Bolvar, M. Umaa, Laboratorio de Fsica IV, manual de prcticas. 2 edicin
. Editorial
Alma Mater, San Jos, Costa Rica, 1997.

J. A. Villalobos, Laboratorio de Fsica II, manual de prcticas. Editorial de la Uni
versidad de Costa Rica,
San Jos, Costa Rica, 1988.

F. Fernndez, C. Baixeras, M. Casas, Prcticas de Fsica General. Editorial Alhambra,
Madrid, Espaa,
1984.

J. A. Araya Pochet, Prcticas de Electromagnetismo. Editorial de la Universidad de
Costa Rica, San
Jos, Costa Rica, 1983.

U. Haber Schaim et al, Laboratory Guide PSSC Physics. D. C. Heath and Co., Lexin
gton, Ma., Estados
Unidos, 1976.

J. Goldemberg, Fsica General y Experimental, Vol 3. Nueva Editorial Interamerican
a S. A., Mxico,
1974.

W. Westphal, Prcticas de Fsica. Editorial Labor S. A., Barcelona, Espaa, 1965.

A. Portis, Laboratory Physics Part A, Berkeley Physics Laboratory. Berkeley Phys
ics Department.
McGraw Hill Book Co., Estados Unidos, 1964.

Leybold-Heraus GMBH, Seccin 5: Experimentos sobre la ptica y la fsica atmica y nucle
ar. Alemania
Federal.

PASCO Scientific, manuales de instrucciones variados sobre prcticas de ptica. Esta
dos Unidos.


Textos generales de fsica

D. Halliday, R. Resnick, K. Krane, Fsica Vol. 2, versin ampliada. 3 edicin. Compaa Edi
torial
Continental S. A., Mxico, 1994.

D. Halliday, R. Resnick, Fundamentos de Fsica, versin ampliada. Compaa Editorial Con
tinental S. A.
de C. V., Mxico, 1986.

M. Alonso, E. J. Finn, Fsica Vol. 2, Campos y Ondas. Fondo Educativo Interamerica
no, Mxico, 1985.

R. Eisberg, L. Lerner, Fsica, Fundamentos y Aplicaciones. Vol. 2. McGraw Hill, Ne
w York, Estados
Unidos, 1984.

A. Soler, P. Negro, Fsica Prctica Bsica. Editorial Alhambra, Madrid, Espaa, 1973.


Textos generales de electrnica

R. Boylestad y L. Nashelsky, Electrnica, teora de circuitos. 4 edicin. Prentice Hall
Hispanoamericano
S. A., Mxico, 1989.

J. Millman, C. Halkias, Electrnica, fundamentos y aplicaciones. Editorial Hispano
Europeo, Espaa,
1979.

J. J. Brophy, Basic Electronics for Scientists. McGraw Hill Book Co., Estados Un
idos, 1977.

R. R. Benedict, N. Weiner, Circuitos electrnicos industriales y sus aplicaciones.
Urmo, Espaa, 1976.

J. Millman, C. C. Halkias, Integrated Electronics: analog and digital circuits a
nd systems. McGraw-Hill
Book Co., Estados Unidos, 1972.

Textos avanzados y otros

M. Zeilik, Astronomy, The Evolving Universe. 8 edicin. John Wiley & Sons, Inc., Es
tados Unidos,
1997.

I. Miller, J. E. Freund, Probabilidad y Estadstica para Ingenieros. 3 edicin. Prent
ice-Hall
Hispanoamericana, Mxico, 1987.

R. C. Weast (editor), CRC Handbook of Chemistry and Physics. 59 edicin. CRC Press,
Inc., Florida,
Estados Unidos, 1979.

J. Marion, Classical Dynamics of Particles and Systems. Academic Press, Inc., Es
tados Unidos, 1970.

E. Hecht, A. Zajac, ptica. Fondo Educativo Interamericano, S.A., Estados Unidos,
1977.