FACULTAD DE INGENIERA
ESCUELA DE INGENIERA ELCTRICA
DEPARTAMENTO DE CIRCUITOS Y COMUNICACIONES
CTEDRA DE ELECTRNICA ANALGICA
ASIGNATURA: ELECTRNICA ANALGICA I (LABORATORIO)
Integrantes:
Bozo, Vernica CI: 23857481.
Vlchez, Guillermo CI: 23444786.
INTRODUCCIN
INFORMACIN PRELIMINAR
El polo negativo de la batera repele los electrones libres del cristal n, con lo
que estos electrones se dirigen hacia la unin p-n.
Este proceso se repite una y otra vez hasta que la zona de carga espacial
adquiere el mismo potencial elctrico que la batera.
En esta situacin, el diodo no debera conducir la corriente; sin embargo,
debido al efecto de la temperatura se formarn pares electrn-hueco
Materiales y equipos.
-
Protoboard.
Cables de conexin tipo caimn-caimn.
Fuente de alimentacin de corriente directa.
1 Resistor de 1k Ohmios.
1 Diodo de Unin 1N4007
1 Diodo Zener 1N4737A
Multimetro Digital (1000 Vmax, 20Amax)
Procedimiento Experimental
Empleando el manual de semiconductores se identificaron los parmetros de cada
uno de los siguientes diodos: 1N4007; DZE0026; 1N270; FR307; 1N4733A.
Luego, se midieron las resistencias de cada diodo, identificando nodo y ctodo.
Numero de
Tipo de Diodo
Resistencia
Resistencia
Identificacin
1N4007
BY2518401
Directa ()
Inversa ()
R Si
605
LED
Encendido
Apagado
535
Tabla No. 1
Fig. 1
Simulaciones
V1
(Volt.)
Vd
medido
(Volt.)
Vd
0,2
0,4
0,6
0,7
0,8
0,19
0,38
0,47
0,49
0,51
0,53
0,58
0,63
0,18
0,30
0,36
0,38
0,4
0,42
0,48
0,53
simulad
o (Volt.)
%Error
Id
medido
(mA)
Id
simulad
o
(mA)
%Error
Rd
medido
(ohm)
Rd
simulad
o (ohm)
%Error
0%
26%
30%
28%
27%
26%
20%
19%
5,55
%
0
0,11
0,18
0,27
0,45
1,37
3,30
0,23
0,31
0,4
0,57
1,5
3,46
0%
0%
0%
52%
32%
21%
4,27
1,88
1,18
8,67
%
0,42
4,62%
41,93
%
2,72
1,56
1,22
0,74
0,32
0,15
0%
0%
0%
173%
122%
88%
59%
31%
26,67
%
0,19
V1
(Volt.)
Vd
medido
(Volt.)
Vd
simulad
o (Volt.)
%Error
Id
medido
(mA)
Id
simulad
o
(mA)
%Error
Rd
medido
(ohm)
Rd
simulad
10
12
14
1,02
4,05
8,99
9,99
12,01
14,01
10
12
14
2%
0%
0%
0%
0,11%
0,1%
1,25
%
0
0,08
%
0
0,07
%
0
0%
0%
0%
0%
0%
0%
0%
0%
0%
o (ohm)
%Error
0%
0%
0%
0%
0%
0%
0%
0%
0%
En la tabla No. 3 se puede observar que los errores porcentuales de voltaje son
bajos, obteniendo como mayor porcentaje de error un 2%, considerando estos
resultados bastante precisos y efectivos. En cuanto a los porcentajes de error
respecto a la corriente y la resistencia del diodo, se obtuvo un margen de 0%
entre los valores medidos y simulados por lo que los mismos demuestran que las
caractersticas del diodo de unin en inversa sigue el patrn del modelo terico.
De esta manera, si se aplica el potencial positivo al material tipo n, ste atraer los
electrones del material tipo p, mientras que el potencial negativo aplicado al
material tipo p, atraer los huecos del material tipo n; obteniendo como resultado
una regin de agotamiento tan ancha que impedir el paso de los portadores
mayoritarios correspondientes por esta barrera haciendo alusin a un circuito
abierto.
En la Grfica de corriente del diodo (Id) contra voltaje del diodo (Vd), puede
observarse que en polarizacin en directa, entre los tramos de voltajes de 0V y
valores cercanos a los 0,6V, no se obtienen ningn valor de corriente en el
dispositivo, por lo que a medida que se aumenta la cada de tensin y sobrepasa
estos 0,6V, ocurre un cambio abrupto en la circulacin de corriente, de manera
que la curva refleja un comportamiento exponencial. Asimismo, cuando el valor de
voltaje alcanza los 0,7v cambia su comportamiento a un estado casi lineal entre
la corriente y el voltaje del diodo.
Ahora bien, cuando el diodo de unin es conectado en inversa puede observarse
en la grfica que a cualquier cada de tensin que se produzca en el mismo,
ninguna corriente circulara a travs de l, todo esto es producto de las mismas
caractersticas del dispositivo semiconductor.
Fig. 3
Simulaciones
V1
(Volt.)
Vd
medido
(Volt.)
Vd
simulad
o (Volt.)
%Error
Id
medido
(mA)
Id
simulad
o
(mA)
%Error
Rd
medido
(ohm)
Rd
0,2
0,4
0,6
0,7
0,8
0,2
0,4
0,59
0,63
0,65
0,67
0,7
0,73
0,19
0,38
0,45
0,46
0,46
0,47
0,5
0,52
0
%
0
5,2
%
0
5,2
%
0
31,11
%
0
36%
38,2%
40%
40,4%
0,11
42,55
%
0,30
1,26
3,2
0,1
0,24
0,33
0,52
1,49
3,47
0
%
0%
0%
100%
2,23
15,43
%
0,56
7,78%
63,33
%
5,9
42,3%
100
%
4,5
2,3
1,57
0,9
0,33
0,15
0,23
simulad
o (ohm)
%Error
0
%
0%
0%
Ind
Ind
275%
147%
69,7%
53,33
%
V1
(Volt.)
Vd
medido
(Volt.)
Vd
simulad
o (Volt.)
%Error
Id
medido
(mA)
Id
simulad
o
(mA)
%Error
Rd
medido
(ohm)
Rd
10
12
14
1,01
4,01
6,02
7,7
7,74
7,75
7,78
7,79
7,3
7,42
7,43
7,45
7,46
0%
5,47
%
0,27
4,31
%
1,23
2,25
4,42
%
4,16
4,42%
0,33
%
0
4,3%
0,25
%
0
0,6
1,47
2,56
4,55
6,54
0%
0%
0%
0%
55%
16%
12%
6,57%
28,51
6,29
3,44
8,57
%
1,87
12,17
2,9
1,64
1,14
6,11
1,27
simulad
o (ohm)
%Error
0%
0%
0%
0%
134%
25,8
%
18,62
%
14%
11,4%
Utilizando los datos obtenidos en la tabla No. 4 y No. 5 se obtuvo la grfica resultante del
circuito de la Fig. 3.
CONCLUSIONES
BIBLIOGRAFA