I.

INTRODUCCIN
Los mtodos (geo)elctricos consisten en la medicin de efectos superficiales (voltaje) producidos por el flujo de corriente directa
(DC) en el subsuelo con el fin de estimar la distribucin de la resistividad elctrica (conductividad).
Hay varias clasificaciones de los mtodos. Las ms bsica est basada en el origen, natural o artificial, del flujo de corriente.
Fuente natural: Potencial Espontneo (SP = Self-Potential)
Fuente artificial o controlada: Resistividad, Polarizacin Inducida (PI), magntico-resistivo (MMR), etc.
Aplicaciones diversas
Geohidrologa. Bsqueda, mapeo y cuantificacin de mantos acuferos, intrusin salina, contaminacin.
Geotermia. Yacimientos, fallas, zonas de alteracin.
Geotecnia. Cavernas, firmes, canteras, zonas afalladas o dbiles.
Arqueologa. Estructuras, objetos.
Cartografa Geolgica bajo la cubierta de aluvin.
Cuencas carbonferas.
Minera, especialmente menas metlicas.
Hidrocarburos, particularmente para estructura.
Zonas profundas de la corteza (Geofsica pura).
Propiedades Elctricas de las Rocas
La aplicacin de los mtodos elctricos exige un conocimiento de las propiedades fsicas de las rocas.
Hay tres propiedades fsicas de tipo elctrico: resistividad (), constante dielctrica () y permeabilidad magntica (). La es la
ms importante en mtodos elctricos.
El comportamiento resistivo de las rocas depende de: Forma, volumen y relleno de los poros; propiedades y modo de agregacin de
los minerales; presin y temperatura.
R

l
, unidades de la resistividad: m
S

l
1

La resistividad es una medida de la dificultad que la corriente elctrica encuentra a su paso en un material determinado.
1
1
mho
S siemens
Conductividad ; unidades
.
Unidades antiguas:

m
m
m
En los materiales, la resistividad tiene un amplsimo rango de variacin: poliestireno > 1023 Cu
Clases de Conductividad

metales

electrones

portadores de
semiconduc tores

electrolitos slidos dielctric os

carga elctrica
iones

electrolitos lquidos

La ms importante es la conduccin inica en el agua que existe en los poros de las rocas.
Los portadores de la corriente elctrica son aniones y cationes.
La velocidad de los iones depende de: la intensidad del campo elctrico aplicado, la concentracin y tamao del ion y de la
temperatura.

La resistividad disminuye al aumentar la concentracin de sales

y al aumentar la temperatura.

 La resistividad depende del tipo de soluto.

Los iones ms abundantes en las aguas naturales son el Cl- y el Na+.
El agua pura es muy poco conductora por su reducida disociacin ( tridestilada
~ 105 m )
Las aguas en la naturaleza presentan una considerable conductividad.
La cantidad y clase de sales depende de la naturaleza de las rocas con las que las
aguas hayan estado en contacto.
Cantidad tpica de sales: de 0.1 g/lt a 35 g/lt (agua marina). Mar Muerto 250 g/lt
Lagos y arroyos de alta montaa 103 a 3x103 ohm m
Dulces superficiales
10 a 103
Salobres superficiales
2 a 10
Subterrneas
1 a 20
Lagos salados
0.1 a 1
~
Marinas
0.2
De impregnacin de rocas
0.03 a 10
Resistividad de las Rocas
Si la resistividad de las rocas dependiese nicamente de los minerales constituyentes, seran aislantes en la mayora de los casos,
pero todas las rocas tienen poros en mayor o menor grado, los que suelen estar ocupados total o parcialmente por electrolitos, por lo
tanto, las rocas se comportan como conductores inicos de muy variable.
l
, r resistividad global de la roca, pero como la conduccin es por medio de
s
l
l
l s
l
los poros llenos con agua de resistividad w , R w w , igualando r w w r w w , multiplicando y
sw
s
sw
sw l
dividiendo por l w y l :

Si tomamos una muestra cilndrica de roca R r

l sl
r w w
l s wl w

lw
T tortuosidad,
l

roca y la del agua que rellena los poros es r

sw lw
P porosidad, entonces, la relacin entre la resistividad global de la
sl

T2
w F w
P

F se le conoce como factor de formacin

Tipos de porosidad: intergranular (la ms importante), fisuras y diaclasa y vugular

Porosidad intergranular de algunas rocas

arcillas
20-50 %
cienos
80-85 %
arenas gruesas 25-60 %
gravas
20-40 %
arenas finas
30-60 %
lavas
20-80 %
arenisca
20-25 %
margas
4-60 %
caliza
1.5-20 %
intrusivas 0.3-5 %
volcaniclsticas 5-60 %
La porosidad de una misma clase de roca disminuye con la edad y el grado de
metamorfismo.
Ley de Archie. Es una relacin emprica entre la resistividad global de la
roca r , la resistividad del agua w y la porosidad P

r a P m w F w
m : parmetro de cementacin
El factor a parece depender de la textura de la roca, suele variar de 0.5 a 1.5; ~ 0.6 rocas sedimentarias bien cementadas; ~0.9 rocas
sedimentarias no cementadas, ~ 1 a 2 calizas y dolomitas, ~ 1.4 rocas igneas compactas.
Parmetro de cementacin:
1.3 rocas detrticas dbilmente cementadas
1.4 areniscas poco cementadas, lavas muy porosas
1.6 gneas y sedimentarias poco porosas (< 5 %)
1.7 sedimentarias relativamente bien cementadas

2.0
2.3

calizas y dolomitas, areniscas cementadas y poco porosas

calizas y dolomitas de grano muy fino

Los parmetros a y m solo pueden determinarse con muchas mediciones de laboratorio de la roca en cuestin. Como primera
aproximacin puede usarse a=1, m=2

La

ley

de

Archie

se

puede

modificar

Pa

tomando

el

logaritmo

de

ambos

lados,

1
1
log a log w . Esta expresin tiene la forma de la ecuacin de una recta. La siguiente figura (de Keller y
m
m
r
Frischknecht, 1966) muestra la ley de Archie con diferentes valores de los parmetros a y m.
log P

Interaccin entre el agua y la roca

Hasta aqu se ha supuesto que no hay interaccin entre la matriz aislante y el agua de los poros.
Hay dos tipos de interaccin: conduccin superficial e ionizacin de los minerales de la arcilla
Conduccin superficial. Absorcin de los cationes (+) del electrolito por la pared interior de los poros, que en muchos casos estn
cargados elctricamente (iones del mismo signo, generalmente aniones (-)).
Cuando el contenido de agua es bajo se forma pelcula conductora, la que hace disminuir la .
Cuando el contenido de agua es alto, hay prdida de movilidad de los iones, lo que hace aumentar la .
Ionizacin de la arcilla. Los minerales de la arcilla (montmorilonita, vermiculita, halloysita, etc) adsorben cationes, formando una
capa fija y una difusa cuya densidad inica decrece exponencialmente con la distancia originando una baja resistividad, entonces,
por lo general la de la arcilla no es mayor a 10 ohm m. La presencia de arcilla en sedimentos arenosos en cuencas hidrolgicas
puede ser un problema serio para aplicar la ley de Archie.

Resistividad de las rocas

Como hemos visto, hay muchos factores que influyen en la resistividad de las rocas: porosidad, permeabilidad, tortuosidad,
salinidad, tipo de sal, grado de saturacin, grado de cementacin, resistividad de la matriz, contenido de arcillas, etc., lo que conduce
a que la resistividad en cada tipo de roca tenga un amplio rango de variacin.

En general, en las metamrficas la aumenta con el grado de metamorfismo.

En sedimentarias, en orden decreciente de : anhidritas, calizas, areniscas, lutitas. En detrticas la crece con el tamao del grano (con
agua dulce).
La capa de intemperismo con menor que la roca sana.
En mismo tipo de suelo: menor en clima desrtico debido a ascensin capilar que sube iones (evaporacin); mayor en clima lluvioso
debido a una mayor circulacin de agua que arrastra iones.

II. EL MTODO DE RESISTIVIDAD. SUBSUELO HOMOGNEO

1. Relaciones Bsicas
J I r

Ecuacin de continuidad para DC

La interpretacin fsica de (1) es que en ningn punto del espacio puede haber aparicin o desaparicin de cargas excepto en la fuente.
Esto se puede ver mejor con el Teorema de la Divergencia: A dv A n d S
v

v
S

Si dentro del volumen no hay ninguna fuente

J dv J n d S 0 , toda la corriente que entra al volumen

v

sale.

En cambio, si dentro del volumen hay una fuente de corriente,

v
I

J dv I
v

1
E E
2 La densidad de corriente en un punto tiene la

misma direccin que el campo elctrico, siendo directamente proporcional a l, la constante de proporcionalidad es la conductividad
elctrica .
Ley de Ohm para medios continuos: J

El campo elctrico se puede expresar como el gradiente negativo de un potencial escalar, es decir:
1
J V
4

E V

y de (2),

En un medio istropo, de (1) y (4) V 0 , pero usando la identidad vectorial a B a B a B queda:

1
1
V V V 0
5 Ecuacin fundamental de la exploracin geofsica con corriente

directa
1
1
Ahora, en un espacio homogneo no hay variacin de 0 . Entonces, de (7),
V 0 V 0

V V V
V V V
V
i
j
k ;
,
,
; a b a x bx a y b y a z bz
x
y
z
x y z
2 V 2 V 2 V

2 V 0
6
2
2
2
x
y
z
La distribucin del potencial elctrico de un flujo de corriente directa en un medio homogneo e istropo satisface la Ecuacin de
Laplace.
Laplace no se cumple ni en las interfases de resistividad ni en la fuente.
V

Supongamos una fuente puntual de corriente I en un espacio homogneo infinito (no acotado).
1 2 V
1

V
1
2 V
r
2
sen
2
Laplace en coordenadas esfricas 2
0
r sen 2 2
r r r r sen
2

1 V
2V 2 V
2 V

Por intuicin, el potencial solo depende de r

0 ,
2r
r

0
r 2 r
r 2 r 2 r r

C
La solucin de esta ecuacin diferencial es: V C1 2
r
C
Condicin de frontera: V 0 cuando r C1 0 V 2
r

De sta se ve que las superficies equipotenciales son esfricas.

V
Puesto que E V
r , el campo elctrico es radial, y puesto que J E , las lneas de corriente tambin son radiales.
r
Para determinar C 2 : J

1 V
1 C2 1 C2

. Aplicamos ahora el teorema de la divergencia a una esfera alrededor de la

r
r r r2

fuente
v
S

J dv J n d S J
v

r d S

1 C2
1 C2
dS
4 r 2 I

2
2
S r
r

C2

I
4

I 1
Potencial en un medio infinito e istropo debido a una fuente puntual de corriente
4 r
Para el caso de una fuente de corriente en la superficie de un subsuelo homogneo, en vez de 4 es 2 porque J r en la superficie es
horizontal
I 1
V r
J z z 0 0
I
2 r
V r

2. Arreglos Electrdicos
I

B -I Si la corriente I se inyecta con una fuente en A y un sumidero en B,

V r

I1 1

2 r1 r2

r1 A r
r2 B r

Hay linealidad respecto a la fuente

Si ahora se trata de un arreglo tetraelectrdico
V

10
A

I
B

V M

I 1
1

2 A M B M

V V M V N

V N

I 1
1

2 AN B N

I 1
1
1
1

2 AM B M A N B N

Entonces, la de un subsuelo homogneo se puede obtener directamente de medir: V , I y las distancias electrdicas

V
V
K
1
1
1 I
I
1

AM BM AN BN
1

donde el coeficiente del dispositivo electrdico

K 2

1
1
1
1
1

AM BM AN BN

Hay una gran variedad de arreglos electrdicos. Los ms usados son: Schlumberger, dipolo-dipolo y Wenner.
Schlumberger
A

O
L
l

I 1
1
1
1 I
1
1
1
1
V

L l L l L l L l
2 AM B M A N B N 2

2 2 2 2 2 2 2 2
I 4
4 2I 1
1 2I L l L l 4I l

2 L l L l
L l L l
L2 l 2
L2 l 2

L2 l 2 V

4 l I

con

L2 l 2

4 l

11

Si L 5 l , L2 l 2 se puede aproximar como L2 , con un error 4 %, entonces

L2 V L2 E
V

donde
E es una aproximacin del campo elctrico en el punto central O.
4 l I
4 I
l
Wenner
En Wenner se toma L 3 l , l a
A

9 a 2 a 2 V

4
a
I

l=a

V
I

2 a

K 2 a

L=3a

Dipolo-dipolo
A

Generalmente n es un mltiplo entero de a, es decir, n=1,2,3,

K n 2 n 1 n a

OTROS ARREGLOS

M
M
A M

12

3. Resistividad Aparente
Para una Tierra homognea

V
I

Si tenemos un subsuelo heterogneo y se aplica esta misma expresin resultar una

resistividad 1 , 2 , 3 , 4 , que tampoco es un promedio aritmtico ni media ponderada.

La resistividad aparente a resultado de hacer una medicin usando un arreglo dado sobre
un subsuelo heterogneo es igual a la resistividad verdadera de un medio homogneo e
istropo ficticio en el cual, para el mismo arreglo electrdico y misma intensidad de corriente
inyectada, la V que se medira es igual a la V real sobre el subsuelo heterogneo.

Principio de Reciprocidad. Si se intercambian entre s los electrodos de corriente con los de potencial, se obtiene la misma a (vlido
tambin en medios heterogneos)
A

4. Profundidad de Penetracin y Punto de Asignacin

Cul es la profundidad de penetracin de los diferentes arreglos y a qu punto del subsuelo le atribuimos la a ?
Distribucin de la corriente (en rojo) y de las superficies
equipotenciales (en azul) en un subsuelo homogneo por un par de
electrodos de corriente (de Van Nostrand y Cook, 1966). Las lneas de
corriente representan tubos, cada uno con un 10 % de la corriente total.
Las direcciones de la corriente, la densidad de corriente y del campo
elctrico siempre son perpendiculares a las superficies

13

equipotenciales. Cerca de los electrodos no se han dibujado las superficies equipotenciales pues ellas estn muy pegadas.
La densidad de corriente es mxima en z 0 y va disminuyendo con la profundidad.
Desde la superficie hasta una profundidad de AB 2 circula el 50 % de la corriente total.
Desde la superficie hasta una profundidad de AB circula un 70.5 % de la corriente total.
Las zonas ms profundas cada vez influyen menos en la diferencia de potencial y por lo tanto en la resistividad aparente porque por
ellas circula cada vez menos corriente, pero no es posible fijar una profundidad lmite debajo de la cual el subsuelo ya no influye en
la a .

En la prctica de los Sondeos Elctricos Verticales siempre es til tener una idea de qu aperturas electrdicas debo de usar para
obtener informacin de un supuesto blanco a una profundidad D (digamos, 100 m). En el arreglo Schlumberger, que es el ms usado
en Mxico, diferentes geofsicos usan diferentes estimadores de la profundidad de investigacin, como
AB AB 1 AB 1 AB
2
,
,
,
, etc.
2 2 2 2 4 2

14

Roy y Apparao (1971) propusieron el concepto de la profundidad de investigacin caracterstica (PIC), que es la profundidad en la
que una capa delgada contribuye ms a la a medida con un arreglo tetraelectrdico dado sobre un semiespacio homogneo
M

+I

MN

+I

+I
+I

-I

-I
-I
M N
M

Estas PIC estn formuladas en trminos de L,

que es la separacin entre los dos electrodos ms
separados, con excepcin del dipolo-dipolo,
donde L es la distancia entre los centros de los
dipolos de corriente y potencial.
Se indican los mximos correspondientes de sus
PIC.
Si L fuera 100 m, con el arreglo Wenner una
capa a la profundidad de 11 m es la que ms
contribuye al valor de la a . Con el arreglo
polo-polo la profundidad es mucho mayor, en 35
m. Las PIC para Schlumberger y dipolo-dipolo
tienen mximos entre estos dos valores.

Entonces, en principio uno pensara que el

arreglo polo-polo es muy superior a los otros
pues su mximo est en 35 % de L. Sin
embargo, ntese que la curva de este ltimo
arreglo es mucho ms ancha que la curva del arreglo Wenner, es decir, la resolucin en 0.35L es menor en el polo-polo que la
resolucin en 0.11L del Wenner. Un punto adicional del polo-polo es, qu tan lejos colocamos los electrodos al infinito?
Edwards (1977) hizo notar que las PIC no son funciones simtricas, sino que estn sesgadas hacia las profundidades bajas. l consider
que un estimador ms efectivo de la profundidad de investigacin es la profundidad efectiva (PE), definidas al integrar las PIC de z
igual a cero hasta infinito e igualando la integral a 0.5 . De esta forma el rea bajo la curva arriba de la PE es 0.5 y debajo de la PE
tambin es 0.5

15

Procedimiento usado por Edwards para

definir la profundidad efectiva del arreglo
Schlumberger

Si expresamos el mximo de las PIC y la PE no en funcin de L sino de a para el Wenner, en funcin de AB/2 para el Schlumberger
y en funcin de n y a para el dipolo-dipolo, tenemos
PIC
PE
Wenner
0.33 a
0.52 a
AB
AB
0.25
0.384
Schlumberger

si MN 0
2
2
AB
AB
0.38
si MN 0.2

2
2
Dipolo-dipolo 0.195 n 1 a
0.139 n 2 a si n 1
0.211n 2 a si n 5
0.20 n 2 a si n 20
Resumiendo, en un semiespacio homogneo, un estimador de la profundidad de investigacin del arreglo Schlumberger vara de

16

25 % a 40% de AB/2.
Punto de asignacin. La resistividad aparente obtenida con una apertura electrdica dada no solo est influenciada por la
resistividad de las rocas que estn directamente debajo de la lnea que une los cuatro electrodos, sino tambin por las rocas que
estn fuera de este plano. El volumen de roca se puede visualizar como un hemisferio en el subsuelo.

Efecto lateral. Si tuviramos un contacto vertical entre dos medios de diferente resistividad, las lneas de
corriente y las superficies equipotenciales cambian su geometra respecto a la que tendrn en un medio
homogneo. El efecto es ms intenso al disminuir la relacin d AB y al aumentar el contraste de
resistividades.

En la prctica se define un punto de asignacin solamente para

fines de graficado, recordando que esto es solamente
simblico.

17

III. SUBSUELO ESTRATIFICADO

Notacin
Para definir el modelo: n resistividades, n-1 espesores
Dos capas: 2 1 , 2 1
Tres capas: H 1 2 3

K 1 2 3
A 1 2 3
Q 1 2 3
Cuatro capas: KQ 1 2 3 4

1. Solucin Analtica
La ecuacin de Laplace (o Poisson) para una fuente puntual de corriente en la superficie de un subsuelo de dos capas se resuelve
en coordenadas cilndricas.
A

Laplace en cilndricas r , , z

2 V 1 V 2 V 0 excepto en la fuente

r 2 r r z 2 - I solo en la fuente
No depende de puesto que V es independiente de .

2 V

Se usa el mtodo de separacin de variables, V r , z Rr Z z ,

Cuyas soluciones tienen la forma:

Z z exp z
Rr J 0 r
J 0 es la funcin Bessel de orden 0 del primer tipo

18

Comportamiento de las funciones

Bessel del primer tipo
J 0 x y J 1 x

donde es una variable continua, la solucin ms general se obtiene integrando de 0 a :

V A e z B e z J 0 r d , tal que
0

I 1
V1
2

I 1
V2
2

A e z B e z J 0 r d

vlida en 0 z E1 , o sea, en la primera capa.

C e

D e z J 0 r d vlida en z E1

An cuando solo nos interesa V1 (el electrodo de potencial est en la superficie), para determinarlo es necesario encontrar las cuatro
constantes A , B , C y D aplicando las siguientes cuatro condiciones de frontera: el potencial tiende a cero en
profundidades muy grandes, la componente vertical de la densidad de corriente en la superficie es cero, el potencial y la componente
vertical de la densidad de corriente son continuas en la interface entre las capas.
Entonces, el potencial en un punto de la superficie z 0 de un medio de 2 capas est dado por:

19


I 1
V1 r
1
2 0

J 0 r d Integral de Stefanescu

funcin caracterstica de Stefanescu

I 1 1 Ke 2 E
V

Otra forma: 1

J 0 r d
2 0 1 Ke 2 E

2 Ke 2 E
2 E
1
Ke

2 1
coeficiente de reflexin
2 1

Funcin caracterstica N 2 o kernel de la Transformada de Hankel

Para ms de dos capas se sigue un procedimiento similar. Por ejemplo, para 4 capas:

I 1
V1
2

V2

I 1
2

I 1
2

V3

A e z B e z J 0 r d

C e

D e z J 0 r d

F e z J 0 r d

E e

I 1
G e z J 0 r d

2 0
Hay 6 constantes por determinar con 6 condiciones de frontera (2 por cada interfase), por lo que tendremos 6 ecuaciones con 6
incgnitas.
V4

Tcnica recursiva para determinar N n .

20

 i i 1 M i 1
i i 1 M i 1
1 Li e 2 Ei
segundo paso : M i
1 Li e 2 Ei
primer paso : Li

i n 1 , , 1 con M n 1 , N n M 1

Si aplicamos este procedimiento recursivo para 3 capas n 3 llegamos a:

1 K 2 1 K 3 2 e 2 E2 K 2 1 e 2 E1 K 3 2 e 2 E1 E2
0 1 K 2 1 K 3 2 e 2 E2 K 2 1 e 2 E1 K 3 2 e 2 E1 E2 J 0 r d

e u e u
Algunos autores expresan N n en trminos de tanh porque tanh u u
. Por ejemplo, para dos capas,
e e u
1 tanh E
N 2 2
Aqu no aparece el coeficiente de reflexin K, sino directamente 1 y 2 .
1 2 tanh E
I 1
2

V1 3 capas

2. Resistividad Aparente
Conociendo el potencial se puede calcular la expresin para la a .
Wenner
A

V
donde V V A M VB N V A N VB M
I
1 I
I
: V
N n J 0 a d ; V A N y VB M : V 1

2 0
2

Tenamos a W 2 a
V A M y VB N

2 1 I
2

N n J 0 a d
0

2 1 I
2

N J 2 a d
n

N J 2 a d
n

21

a W 2 1 a N n J 0 a d N n J 0 2 a d
0
0

Schlumberger
Para este arreglo tenamos dos expresiones:
la general: a S

a Wenner para un medio de n capas

L
M

L2 l 2 V

4 l I

l N

L2 E
E
L
r2
r
4 I
I
2

I
I
L l
V 1 N n J 0 d 1
0

2 2

y la basada en l L : a S
Si usamos la general:

a S

1 L2 l 2

4 l

N J
n

L
2

l
d
2

L l
L l
1 N n J 0 d N n J 0 d
2 2
2 2
0
0

Ahora, si usamos la de l L :
I
I
V
E
1
N n J 0 r d 1

r
2 r 0
2

a Schlumberger sin considerar l L

N J r d
n

campo elctrico para el electrodo A en el origen

J 0 r
puesto que
J 1 r
r
Para los dos electrodos:

a S 1 r 2 N n J 1 r d

a considerando l L

Esta expresin es ms sencilla que la del caso general. Es la que se usa para calcular las curvas patrn.

22

3. Clculo numrico de la resistividad aparente

No existe solucin analtica de la integral de Stefanescu en trminos de una expresin cerrada y no es trivial resolverla con algn
mtodo numrico de integracin debido al carcter oscilatorio de la funcin Bessel.
El mtodo ms usado es el filtraje digital.
Vamos a ilustrar el mtodo con la a l L del arreglo Schlumberger. Arriba se obtuvo:

a r 1 r 2 N n J 1 r d r 2 T J 1 r d
0

si definimos T 1 N n

El punto crucial radica en el siguiente cambio de variables:

x ln r
y ln
obtenindose la siguiente expresin,

a e x T e . y e 2 x y J 1 e x y d y

f uncin
de y

Tiene la forma de una integral de convolucin!

funcin
de x y

PARNTESIS: Revisin breve de la convolucin

s t e ht d

Integral de convolucin

notacin: st et ht
Propiedad conmutativa: s t ht et

s t h et d

Convolucin en forma grfica

23

Con datos discretos, si e j hi j . Se sigue el mismo procedimiento que para funciones continuas, pero en vez del rea bajo la
curva es la suma de productos. Obviamente, los datos deben de estar muestreados en las mismas abscisas.

a x T y h x y dy

a x T x h x

a salida , T entrada , h filtro

En esta convolucin x , y son distancias porque x ln r , y ln ln 1 ln 1 , tiene unidades del inverso de una
distancia.
En la literatura se pueden encontrar los coeficientes del filtro para realizar la convolucin.
4. El problema de equivalencia
En medios estratificados los conceptos de conductancia longitudinal y resistencia transversal son comunes (ms detalles de este tema
en el Orellana). Consideremos un corte geoelctrico compuesto de n capas.
La resistencia transversal y conductancia longitudinal de la isima capa estn definidas por:
i Ei Ri Resistencia transversal m 2

Ei
E i i Si
i

Conductancia longitudinal, en S (siemens)

y las acumuladas Riac y Saci son la suma de todas las resistencias y conductancias de todas las capas hasta la base de la capa i.
Principio de Equivalencia en la resistencia
Consideremos la iesima capa de un corte arbitrario. La T y S en la base de esta capa son
E
Riac Riac1 Ei i , S iac S iac1 i
i
Analicemos ahora qu pasa si modificamos el espesor y resistividad de la capa por Ei Ei a , i a i , a 1
E
Riac Riac1 i a i Riac
la Riac no cambia respecto a Riac
a

24

Ei
S i

ac

ac
i 1

a S ac S i ,
i 1
a i
a2

S i ac s cambia, pero si S i S iac1 el cambio ser pequeo

Por ejemplo,

S1 1 , R1 1 , S 2 0.05 , R2 20

R2ac R1ac E 2 2 21
S 2ac S1ac E 2 2 1.05
Si modificamos la segunda capa con a 5 , E 2 1 5 0.2 , 2 5 20 100

R2ac R1ac 0.2 100 21

S 2 ac S1ac 0.2 100 1.002
Se puede demostrar que si realizamos un sondeo sobre este modelo las curvas de a de los dos modelos sern muy similares. Entonces,
la equivalencia en T ocurre cuando la S de una capa es mucho menor que la S total de las capas suprayacentes, es decir, ocurre
con capas delgadas y resistivas. Una consecuencia prctica es que para una capa delgada y resistiva no se pueden resolver
independientemente su espesor y resistividad, sino nicamente su producto (su resistencia transversal).
Analicemos ahora lo que sucede si manejamos exactamente la misma segunda capa, pero cambiamos la capa suprayacente

R1 5 , S1 0.05 , S 2 1 20 0.05
Este corte ya no sufrir del problema de equivalencia en R porque S 2 ya no es menor que S1ac .

Principio de Equivalencia en la conductancia

Ocurre con capas delgadas y conductoras, cuando Ri Riac1 . Podemos pasar a un
E i E i b , i i b , b 1 , tal que su curva de resistividad aparente va ser casi igual a la original,
E
R
Riac Riac1 i i Riac1 2i
Riac vara poco respecto a Riac1 si Ri Riac1
b b
b

corte

equivalente

25

con

S i ac S iac1

Ei b
S iac
i b

la S i ac no vara

Ejemplo.

R1 1 , S1 1 , R2 0.1 , S 2 10

R2 R1ac

Cambiando la segunda capa con b 4 , E2 1 4 0.25 , 2 0.1 4 0.025

R2ac 1 0.25 0.025 1.00625
S 2ac 1 0.25 0.025 11
Consecuencia prctica: en una capa delgada y conductora, su espesor y resistividad no se pueden resolver
independientemente, sino solo su conductancia Ei i . Esto ocurre siempre que su R sea mucho menor que la suma de Rs de
las capas suprayacentes.

5. Interpretacin
El proceso de interpretacin de datos de resistividad aparente a r se puede dividir en dos grandes pasos:
Estimacin de la distribucin espacial x : z , x , z , x , y , z , es decir, en una distribucin 1-D, 2-D o 3-D.
Significado geolgico de x
La estimacin de x tiene sus dificultades por la complejidad de las relaciones matemticas implcitas en la fsica del mtodo y la
no-unicidad prctica.
En teora s hay unicidad en el mtodo de resistividad, es decir, para una x dada, hay una, y solo una, respuesta de a r . Sin
embargo, en la prctica hay no-unicidad debido a la limitada exactitud y precisin de los datos, es decir, para una a r dada existe
toda una variedad de modelos cuyas respuestas ajustan los datos. Fuentes de error: modelo no adecuado, heterogeneidades laterales,
problemas electrnicos, distancias no exactas, problemas de equivalencia y supresin, etc.
5.1 Mtodos grficos de superposicin

26

Antiguamente las curvas de resistividad aparente observadas en el campo se comparaban con una serie de curvas patrn.
Actualmente este mtodo ya no se usa. Sin embargo, lo veremos brevemente pues hay varios aspectos tiles. Hay varios catlogos
de curvas patrn (Orellana y Mooney, 1966; Rijwaterstaat; CGG). Por ejemplo, el catlogo de Orellana y Mooney tiene 24 curvas
de 2 capas, 900 de 3 capas y 470 de 4 capas.
DOS CAPAS

Siempre se presentan en escalas log-log

En aperturas electrdicas pequeas las curvas son asintticas a 1

En aperturas electrdicas grandes las curvas son asintticas a 2
Las curvas de cortes recprocos no son simtricas respecto al eje a 1 . Por ejemplo, la
curva de 2 5 no es una versin simtrica de la curva de 2 0.2

Curvas patrn de 2 capas de Orellana y Mooney para el arreglo Schlumberger l L

27

28

 TRES CAPAS. Hay cuatro tipos de cortes. H 1 2 3 , K 1 2 3 , Q 1 2 3 , A 1 2 3

Tipo H. 1 2 3 La curva no siempre muestra un mnimo

Ejemplo. Todos los modelos con E1 1 , 1 1 .

Las curvas a y b no desarrollan un mnimo

Tipo K. 1 2 3 No siempre desarrollan un mximo

Ejemplo. Todos con E1 1 , 1 1

a E2 0.2 , 2 1.5 , 3 0

b E 2 1 , 2 5 , 3 2.5
c E2 0.3 , 2 10 , 3 0
d E 2 25 , 2 10 , 3 0
En a y b no se observa el mximo

29

Tipo Q 1 2 3 y tipo A 1 2 3 . Carecen de mximos y mnimos. En ocasiones pueden parecer de dos capas. Con o
sin inflexin visible.

Metodologa para 2 capas

La multiplicacin de todos los espesores y/o resistividades por una constante produce en las curvas solo un desplazamiento en los
ejes sin cambio en la forma de la curva.
1 Curva de campo en papel transparente (de mismo mdulo que 2)
2 Curva patrn de 2 capas
1 sobre 2, ajuste con mejor curva manteniendo el paralelismo entre ejes. Sobre 1 se marca la cruz, que corresponde al origen (1,1) de

2. Se anota la 2
1

de la curva de mejor ajuste, o alternativamente, se traza en 1 la marca de resistividad (MR).

E1 y 1 se leen directamente de la cruz en 1. 2 2

1

1 , o alternativamente, 2 se obtiene directamente de la MR en 1

30

E1 2.5 m , 1 40 m , 2 250 m

La metodologa para la interpretacin a modelos de tres capas es conceptualmente similar, pero no la veremos.
5.2 Inversin linealizada por mnimos cuadrados
El fenmeno del flujo de corriente DC es no lineal respecto a la resistividad del subsuelo, es decir, la respuesta de a en la
superficie es no lineal respecto a los parmetros del modelo, ya sea ste 1-D, 2-D o 3-D. Por ejemplo, para el caso 1-D, si
aumentamos la resistividad de una capa al doble o el espesor al doble, la a no aumenta al doble.
T

Supongamos que tenemos N datos d d1 , d 2 , , d N , d i es la a en la isima apertura electrdica AB 2 .

31

Hacemos la suposicin que estos datos estn producidos por una idealizacin de la variacin espacial de la resistividad en el
subsuelo o modelo (en nuestro caso, una Tierra 1-D).
La respuesta calculada en la superficie la podemos expresar como
ci F p1 , p 2 ,, p M , s i i 1 , , N
1
donde p j

j 1 , , M son los parmetros (incgnitas) del modelo (en nuestro caso, las resistividades y espesores de las capas),

s i es un parmetro del sistema de medicin (la apertura electrdica, que conocemos) y F es un funcional, es la solucin del problema
directo (por ejemplo, el programa en 1-D del clculo de la a de una Tierra estratificada).
T

El proceso de inversin consiste en encontrar el vector de parmetros p p1 , p 2 , , p M que minimice la diferencia entre los
datos observados di y los datos predichos del modelo ci, de acuerdo con un criterio. Un criterio muy usado es el de mnimos
cuadrados
N

Minimizar E d i ci

i 1

Puesto que ci es no-lineal respecto a los parmetros del modelo, no podemos usar la tcnica estndar de mnimos cuadrados, por lo
que se linealiza el funcional usando la expansin en Serie de Taylor.
f x f x 0 x f x 0 x

d f x
x 2 d 2 f x

x x x
2 ! x 2 x x
0
0

Consideremos por el momento que el vector p tiene un solo parmetro. Hagamos una expansin en serie de Taylor de ci p
respecto a un valor p0 , donde este p o es un valor del parmetro que nosotros proponemos como bueno, conocido como modelo
inicial,
2
ci p

p 2 ci p
ci p o p c i p0 p

i 1,2, , M
p p p
2 ! p 2 p p
0

Suponiendo que p p1 p o es pequeo, podemos despreciar los trminos de segundo grado y mayores, resultando:

ci p1 ci p 0 p ci p 0 p

ci p
p

p p0

Generalizando esta expresin para nuestro caso de M parmetros:

32

 c p p

ci p

c i p 0
p1

p N
p p1 0

c i p 0
pN

p p N0

y en general, para la iteracin k+1:

ci p

k 1

c p p
k

j 1

k
j

c i p k
pj

i 1, 2 , , M
p p k

donde p k p k 1 p k
Ntese que ci p k 1 depende en forma lineal de p jk , es decir, se ha linealizado el problema.

Las derivadas ci p k p j

p p k

se pueden calcular ya sea analticamente (obteniendo expresiones analticas de la derivada de la

resistividad aparente con respecto a cada uno de los parmetros) o aproximando la derivada con diferencias finitas:
f x1 x f x1
f x

.
x x
x
1

Estas derivadas forman los elementos de la matriz de derivadas J , conocida tambin como matriz de Jacobianos o de
sensibilidad, debido a que si un elemento J i j de la matriz tiene un valor grande quiere decir que un pequeo cambio en el parmetro
p j produce un cambio fuerte en el valor de ci , es decir, que ci es sensible a p j . Lo contrario ocurre si J i j es pequeo.

Sustituyendo en el error cuadrtico medio:

d i ci p k
E

i 1

c p k
p jk i
pj
j 1
M

k
p p

Para minimizar E se deriva con respecto a cada parmetro, igualndose a cero cada ecuacin, resultando, en notacin matricial:

J T d
c J T J p 2

cuya solucin es:

p J T J

J T 3

33

Entonces, el proceso iterativo de inversin linealizada es el siguiente:

1) Se define el modelo inicial, p 0 . Hay la opcin de dejar uno o ms parmetros fijos.
2) Se define el vector c calculando la anomala en todos los puntos de observacin i=1,2,,N. Usando d, se construye el vector de
residuales =d-c .
3) Se construye la matriz de sensibilidad J, de dimensiones NxM
4) Usando (3), se resuelve para p
5) Puesto que p=pnuevo-pviejo , se actualiza el vector p con pnuevo= pviejo+ p
6) Se calcula c con el pnuevo y se compara con d. Si el error medio cuadrtico

ci

N es menor que un valor

i 1

predeterminado, se termina el proceso y el modelo final es pnuevo. Si no, se vuelven a hacer los pasos 2) a 6).
La solucin dada por (3) est basada en que el inverso de J T J existe. Para que esto se cumpla la matriz debe ser no-singular, es
decir, su determinante debe ser 0 . La matriz J es:
c1
p
1
c2
J p
1

c
N
p1

c1
p2
c2
p2

c N
p2

c1
pM
c2
pM

c N
pM

La matriz puede ser casi singular (estar mal condicionada) cuando:

Al menos dos columnas de J tienen casi el mismo valor. Por ejemplo, si tenemos 3 datos y 2 parmetros:
1 1.01
J 2 2.03 , el determinante de J T J es 0.0195, cercano a cero.
3 2.98
Esto ocurre cuando las AB/2 de los tres datos estn muy pegadas, es decir, se trata de informacin redundante.
Una o varias columnas de J son casi cero, lo cual ocurre cuando hay parmetros no importantes o irrelevantes, como puede ser una
capa muy profunda.

34

Un rengln de J es mltiple de otro rengln, lo que ocurre en caso de equivalencia de capas delgadas conductoras, tal que los
parmetros de esta capa no se pueden resolver individualmente.
Para reducir estos problemas se usan mtodos de regularizacin para mejorar la convergencia y estabilizar el problema. Uno de
ellos es el conocido Descomposicin en Valores Singulares (SVD). Consiste en descomponer J como:
M
M
T
T
J U
S V
donde S es una matriz diagonal cuyos elementos sj son las races cuadradas de los eigenvalores de J J , y las
N M

N M

M M

matrices U y V son ortonormales: U T U I M M , V T V I M M

A los valores pequeos de S, asociados con los parmetros no-importantes, se les da poca ponderacin en la inversin. La solucin
est dada por
p V S U T con s j 1 s j
El uso de SVD no solo es til como regularizacin de la inversin, sino tambin como una herramienta para evaluar la resolucin de
los parmetros invertidos, pues en general, va a existir correlacin entre parmetros. No solo es importante encontrar un modelo que
ajuste los datos, es igualmente importante evaluar la resolucin de los parmetros del modelo.
En la inversin es prctica comn reescalar los elementos de J al dividirlos entre la desviacin estndar del dato (i) y multiplicarlos
p j ci
ci
1

por el parmetro pj, tal que J i j

. Esto tiene varios propsitos: a) el elemento de J ya es adimensional, tal
i p j i ln p j
que se pueden comparar sensibilidades de resistividades con sensibilidades de espesores, b) si un dato tiene una incertidumbre
grande, el correspondiente elemento del Jacobiano no tendr mucho peso en la inversin, c) al tener los logaritmos de los parmetros
en vez de los parmetros, se evita que en la inversin se obtengan valores negativos de la resistividad o espesor de una capa, lo cual
no tendra sentido, d) permite identificar la presencia de equivalencia, como se ver en el siguiente ejemplo.

Ejemplos de evaluacin de la resolucin de modelos (Flores y Velasco, 1998). Se consideran 7 valores de a de un modelo de 3
capas con la segunda capa delgada y conductora. A estos datos sintticos se les asign un error de 10 %

35

La lnea continua es la respuesta

del modelo.
Modelo
Se indican las incertidumbres
estimadas de los 5 parmetros

Representacin grfica de la correlacin entre parmetros

El tamao de los crculos es proporcional a la magnitud de los coeficientes
de la matriz transpuesta de eigenparmetros (matriz de 5x5 porque el modelo
tiene 5 parmetros. Los valores negativos con lnea interrumpida.
La ltima columna es el inverso del eigenvalor, que se considera como el
error o incertidumbre de cada combinacin de parmetros.
Por ejemplo, el segundo rengln es
0.35 d ln t1 0.45 d ln 1 0.49 d ln t 2 0.54 d ln 2 0.37 d ln 3
Esta combinacin de los logaritmos de los parmetros tiene a ln t 2 y ln 2
como los que ms contribuyen. Estos coeficientes (-0.49 y 0.54) tienen
aproximadamente la misma magnitud pero son de signos opuestos. Si
despreciamos los otros coeficientes, esta combinacin la podemos aproximar
como 0.49 d ln t 2 0.54 d ln 2 0.52 d ln t 2 2 , que

36

fsicamente significa que el producto del espesor por la conductividad (conductancia S) de la segunda capa est razonablemente
bien resuelta porque el error de esta combinacin es relativamente bajo (8.2 %).

0.04 d ln t1 0.0004 d ln 1 0.74 d ln t 2 0.67 d ln 2 0.02 d ln 3 , que es

aproximadamente 0.74 d ln t 2 0.67 d ln 2 0.7 d ln t 2 2 , lo que significa que el producto de espesor por resistividad
(resistencia T) de la segunda capa est muy mal resuelto por que su error asociado es de 680 %.
En contraste, el quinto rengln es

Usando la informacin contenida en la matriz de eigenparmetros es posible estimar el error en cada parmetro.

Para el caso de tres capas, estos son los errores estimados.

Como era de esperarse, los parmetros de la segunda capa son los de mayor error por el problema
de equivalencia.

37

A continuacin se muestra un anlisis similar, pero ahora con datos reales de un SEV en la zona geotrmica de Tres Vrgenes, Baja
California Sur (de Flores y Velasco, 1998).

SEV Schlumberger levantado por

CFE.
17 a con AB/2 desde 20m hasta 3
km. De los 62 SEVs levantados ste
es uno de los de mejor calidad.
Por claridad, los datos originales se
muestran desplazados una dcada
hacia arriba.
Modelo invertido de 4 capas, con un
buen ajuste de 4.5 %.
Enfocndonos a la tercera capa, la
matriz de eigenparmetros indica que
su conductancia (2do rengln) est
bien resuelta pero que su resistencia
(7mo rengln) es la combinacin de
parmetros peor resuelta, por lo que
no es posible separar la resistividad
del espesor de la tercera capa.
Esto se ve reflejado en la estimacin
de los errores de los parmetros.

38

5.3 Mtodo de inversin Occam o inversin suave

Occam es un trmino genrico aplicado a los mtodos de inversin que incorporan suavidad en la variacin espacial de .
William de Occam, monje del siglo XIV escribi: Es intil hacer con ms de lo que se puede hacer con menos. En la ciencia
moderna el trmino navaja de Occam es sinnimo de simplicidad, es decir, que las hiptesis no deben de ser innecesariamente
complicadas.
El modelado o inversin con capas horizontales es muy popular. En estos modelos se est suponiendo que la no vara con la
profundidad excepto en las interfases entre capas donde tiene una discontinuidad. Esta idealizacin de la variacin de z en muchos
casos puede no ser cierta. Adems, en ocasiones el modelo final refleja ms las ideas preconcebidas del intrprete que la informacin
que contienen los datos del sondeo, especialmente cuando el nmero de capas es grande.
A travs de una variacin suave de z los modelos Occam reflejan solo la informacin que traen los datos pues no dependen de
que el intrprete defina el nmero de capas ni el modelo inicial. Suprimen la complejidad no necesaria en los modelos de capas
incorporando el concepto de suavidad.
El objetivo de la inversin es encontrar un modelo que tenga el mejor ajuste posible con los datos pero que a su vez sea lo ms suave
posible (que tenga una mnima rugosidad). La funcin U, definida simblicamente por
1
U ajuste rugosidad

es la que se trata de minimizar; representa un compromiso entre el ajuste a los datos y la rugosidad del modelo. Si es un valor grande
se le da poca importancia al ajuste y mayor importancia a minimizar la rugosidad, es decir, el modelo ser muy suave pero el ajuste no
ser bueno. Al contrario, si es un valor muy pequeo, el ajuste ser muy bueno pero a costa de un modelo rugoso.

39

Ejemplo de Constable et al (1987)

Respuestas calculadas de tres modelos Occam con tres

diferentes errores de ajuste.
Los ajustes son muy parecidos.

Datos de un SEV Schlumberger en la localidad de

Wauchope (Australia). AB/2 desde 40m hasta casi 100
km!

Los tres modelos suaves que corresponden a las respuestas de la

figura anterior. Ntese que una mejora marginal en el ajuste
requiere un aumento sustancial en la rugosidad del modelo.

40

Tambin se muestra el modelo bilayer , que es todo lo opuesto a un modelo suave. Las resistividades de este modelo exceden el
rango usado en la grfica. Este modelo ajusta los datos con un rms de 0.75. Toda la estructura est contenida en los 10 primeros
metros!

Dos modelos que ajustan los datos con la misma calidad (rms de
1.0).
El modelo tipo Marquardt no tiene la condicin de suavidad
incorporada. El modelo suave es de segunda derivada. El mismo
semiespacio homogneo se us como modelo inicial en las dos
inversiones.
El conductor de aproximadamente 1 ohmm en la profundidad de
10 km realmente existe o solamente hay una disminucin
gradual de la resistividad en esa profundidad ?

41

SEV Schlumberger en el Valle de Guadalupe, Baja California

(de Lpez Moya, 1994). AB/2 desde 3 m hasta 250 m.
Smbolos: resistividad aparente con barra de error
Lnea continua: respuesta de a del modelo respectivo.
Ntese que en una misma grfica se presentan a vs. AB/2 y
el modelo invertido de vs. z
Este ejemplo ilustra una prctica comnmente adoptada en
modelos Occam, que es la bsqueda de un equilibrio entre
calidad del ajuste (error rms) y la rugosidad del modelo.
Evolucin del ajuste y la rugosidad desde una hasta nueve
iteraciones del programa de inversin Occam. En muchas
ocasiones se forma una curva en forma de L. Para que haya un
compromiso entre estas dos variables, la solucin aconsejada
se busca que est cerca del vrtice de la L.
El modelo Occam preferido podra haber sido el modelo final
de este sondeo. Sin embargo, en esta zona se necesitaba saber
la profundidad al basamento grantico. El modelo Occam es
ambiguo pues la presencia del sustrato resistivo muestra un
cambio gradual.
Para resolver este problema, el modelo Occam se us para
definir un modelo inicial de 4 capas, definiendo las interfases
donde se presentan los brincos ms fuertes en la resistividad.

42

Se muestra el mejor modelo

de 4 capas. Las barras de
error
indican
las
incertidumbres
en
las
resistividades
y
profundidades del modelo.
Barras de error con una
flecha en uno de sus
extremos indican que su
lmite cae fuera del rea
graficada.
El error de ajuste es parecido
al obtenido con Occam.
En esta inversin los 7
parmetros del modelo se
incluyeron
en
la
optimizacin.
Ntese que existe un intenso
problema de equivalencia en
la conductancia de la tercera
capa. Es claro que el sustrato
es resistivo, pero el valor de su resistividad es incierto. Esto se debe a que en las AB/2 grandes todava est ascendiendo la curva.
Aproximadamente a 70m de este SEV hay un pozo que encontr el basamento grantico en 53m y el nivel fretico en 16m de profundidad.
Suponiendo que bajo el SEV el sustrato resistivo se encuentra a la misma profundidad, se volvieron a invertir los datos a un modelo de 4
capas pero ahora manteniendo fija la profundidad a la base de la tercera capa. En este modelo constreido las incertidumbres de los
parmetros disminuyen notablemente. Ntese que la concordancia entre la profundidad al nivel fretico y la profundidad a la segunda capa
no es buena. Esta concordancia puede mejorarse pero el ajuste se deteriora.

43

IV. ASPECTOS PRCTICOS DEL LEVANTAMIENTO DE DATOS

Resistencia de contacto.
Consideremos un electrodo puntual en la superficie de un semiespacio homogneo. Los potenciales en las distancias r1 y r2 son

V1

I 1
2 r1

, V2

I 1
2 r2

La resistencia del cascarn semiesfrico con radio interno r1 y radio externo r2 es

V1 V2
1 1 r2 r1
dr

si r2 r1 d r , R
I
2 r1 r2 2 r1 r2
2 r 2
La corriente va atravesando cascarones semiesfricos cuyas resistencias disminuyen con
el cuadrado de sus radios. Entonces, la mayor parte de la resistencia est concentrada cerca de los electrodos.
R

Para evitar la singularidad que ocurre en r=0 de un electrodo puntual, consideremos un electrodo esfrico de acero 10 8 m

de 3 cm de radio. La resistencia de este electrodo es R 2 r1 5.3 10 , el cual es un valor despreciable. Si el electrodo est
en un semiespacio de 100 m , la resistencia total que presenta el semiespacio es

dr
1

100
r 2 r 2 2 r 2 r0 6.26 0.03 531
r0
0
La resistencia de 3 a 10 cm es 371 y de 10 a 20 cm es 80 . Entonces, el cascarn semiesfrico que comprende los primeros 10
cm contribuye ~ 70 % de la resistencia total. De este anlisis se deduce que las resistencias de contacto son las que ms influyen en
la magnitud de la corriente inyectada.
Remedios para reducir las resistencias de contacto: clavar ms profundo los electrodos; regarlos con agua salada; usar varios
electrodos.

44

Fuente. Bateras o generador. Con bateras, voltajes de salida de 200 a 500 V. Con generador, potencias de hasta 10 kW. Usados
para aperturas AB/2 grandes. La caja debe de estar aislada del terreno.
Electrodos. Barrenas de acero. En roca dura se pueden usar hojas de aluminio o estao.
Hay que tener cuidado con las fugas (peladuras del aislante del cable) pues pueden producir errores significativos. Seguridad.
Comunicacin entre operador y varilleros.
Forma de la corriente. La mayora de los equipos no usan una corriente dc, sino una bipolar para reducir la polarizacin de
electrodos.

I
t

Se trata de medir el potencial en la parte final de cada ciclo para evitar el fenmeno de polarizacin
inducida (PI).
Generalmente se hace apilamiento.
La frecuencia de repeticin debe ser baja para evitar la aparicin de induccin electromagntica.

Polarizacin de electrodos
Puede ser una fuente de error significativa en V . Si los electrodos M y N son metlicos, se comportan como los elementos de una
pila al estar en contacto con los electrolitos del subsuelo. Si la concentracin y naturaleza de los electrolitos alrededor de los
electrodos fuera igual, las fem seran iguales y se anularan, lo cual pocas veces ocurre.
Los electrodos impolarizables reducen este efecto. Tazas porosas en su base con una solucin sobresaturada de sulfato de cobre
(CuSO4), con varillas de cobre. Las soluciones en las dos tazas deben de tener la misma concentracin.
Hay otras fuentes de ruido en el potencial. Diferencias de potencial debidas a corrientes telricas que son producidas por induccin
electromagntica de ondas electromagnticas originadas en la ionsfera. Las usa el mtodo magnetotelrico. Varan con el tiempo y
contienen muchas frecuencias. Pueden ser notables cuando la distancia MN es grande. Hay otros potenciales (de filtracin, de
difusin, asociados a cuerpos de sulfuros, etc) a los que colectivamente se les conoce como potencial espontneo o autopotencial,

45

adems de los de origen antropognico. Casi todos los equipos tienen un circuito de compensacin que cancela el potencial espontneo
que casi no vara en el tiempo.
Especificaciones del Bison 2390.
Potencia hasta de 50 W. Voltaje de salida: de 0 a 500 V. Corriente en 4 intervalos: 10 mA, 20 mA, 50 mA y 100 mA. De bateras.
Voltajes en 4 rangos: 0-2 mV, 0-20 mV, 0-200 mV y 0-2000 mV.
Corriente conmutada.
Frecuencias: 0.1, 0.2, 0.33, 0.5, 1, 2, 3.3 y 5 Hz
Perodos:
10, 5, 3, 2, 1, 0.5, 0.3 y 0.2 segundos
Tx y Rx se sincronizan antes de empezar el levantamiento.
Con circuito de compensacin.
Lecturas promediadas cada 10 ciclos completos.
Con apilamiento.

I
t

Especificaciones del Topo I.

Potencia hasta 200 W. Voltaje mximo de salida 200 V, corriente mxima de 1 A. Impedancia de entrada del voltmetro 4 M.

Corriente dc. Con apilamiento

Se mide durante 3 s, 64 mediciones apiladas

I
t

46

Aperturas electrdicas
Las aperturas AB/2 de Schlumberger deben de estar aproximadamente equiespaciadas en escala logartmica.
La secuencia de aperturas puede ser geomtrica,
AB 2i f AB 2i1
f es una constante 1
f 1.25 , 2 , 1.5 , etc.
Por ejemplo, si f 2 , AB 2 1 , 1.41 , 2 , 2.83 , 4 , 5.66 , 8 , 11.3 ,
o logartmica,
log AB 2i log AB 2 i 1 g
0 g 1
g 0.1 , 0.2 , 0.3 ,

10 log AB 2 i 1 g
Por ejemplo, si g 0.1 , AB 2 1 , 1.26 , 1.59 , 2 , 2.51 , 3.16 , 3.98 , 5.01 , 6.31 , 7.94 , 10. , 11.3 , 15.9 , , es decir, 10 puntos por
dcada.
o alternativamente,

AB 2i

Empalme
Con el arreglo Schlumberger consideremos que para la primera separacin MN se hacen mediciones con 6 aperturas crecientes de
AB/2. La V medida decrece gradualmente. Supongamos que en la sexta apertura de AB/2 la V ya es demasiado pequea. Es
necesario regresar a la apertura anterior y realizar una medicin adicional
con una MN mayor. De esta forma se tienen dos a con la misma AB/2. A
esto se le conoce como empalme. A aperturas mayores habr necesidad de
hacer otro empalme y as sucesivamente, tal que la curva final de campo
estar formada por varios segmentos.
Con el fin de tener mayor control sobre la calidad de los datos es
recomendable tener dos o ms puntos en cada empalme.

47

Correccin por empalme

En un subsuelo perfectamente estratificado las a en cada uno de los empalmes deben de ser iguales. Esto raramente sucede en la
prctica. Las discrepancias se deben a heterogeneidades conductoras o resistivas cerca de uno o ambos electrodos de potencial. Para
visualizar este efecto consideremos un campo elctrico uniforme en la vecindad de una pequea heterogeneidad conductora, la que
aproximamos como un dipolo de corriente.

El potencial medido en el electrodo es diferente al normal y va a depender de la posicin del electrodo respecto a la heterogeneidad.
Para una heterogeneidad resistiva se observa lo contrario. Estas heterogeneidades tambin afectan a los electrodos de corriente.
El objetivo de la correccin es, a partir de varios segmentos, obtener una curva continua. El procedimiento est basado en el
desplazamiento vertical de los segmentos en la grfica log-log de a contra AB/2. Algunos geofsicos prefieren fijar el segmento de
la MN ms corta y mover todos los dems segmentos, mientras que otros prefieren fijar el ltimo segmento. Yo considero que no
existe un argumento fsico convincente que favorezca a alguna de estas dos estrategias de correccin.

48

Supongamos que se tiene un sondeo compuesto de 5 segmentos. Yo prefiero construir 5 curvas continuas fijando en cada una de ellas
uno de los 5 segmentos, tal que en cada AB/2 tengo 5 estimaciones de la a , las promedio en escala logartmica y obtengo su
desviacin standard. De esta forma no se est prefiriendo ningn segmento libre de perturbacin, adems que obtengo una estimacin
del error en cada a , lo cual me sirve en la inversin.
Schlumberger vs. Wenner
Desde el punto de vista logstico, Schlumberger es mejor pues se tienen que mover menos electrodos en un sondeo dado. Pero la
ventaja ms notable radica en que con Wenner no se puede hacer la correccin por empalme pues en cada medicin se mueven los
cuatro electrodos.

49

V. SUBSUELO 2-D Y 3-D

1. Contacto vertical.
Es el modelo ms sencillo de una distribucin bi-dimensional de resistividades.

Mtodo de imgenes
Consideremos un arreglo polo-polo con el electrodo de corriente A fijo. Si no hubiera medio 2:
I1 e
I
VM 1

emisividad e 1
2 x x
2

Si el electrodo M est en el medio 1 el efecto del medio 2 se puede sustituir introduciendo una
imagen A simtrica a A respecto al contacto, con emisividad e:
e
e
V1
x x0
x 2 x0 x
e
Si M est en el medio 2, el electrodo A tendr una emisividad e: V2
x x0
x
Las emisividades se determinan aplicando las condiciones de frontera del potencial y de la componente normal de la densidad de
corriente:
e e e
V1 x x V2 x x ;

, e e e
0
0
x0 x0 x0

J x1

x x0

J x2

x x0

1 V1
1 x

x x0

1 V2
2 x

x x0

1 e
e
1 e
2 2
2 e e 1 e
1 x 0 x 0
2 x 02

Resolviendo estas dos ecuaciones para e y e :

1
2 2

e 2
e K e ; e
e 1 K 2 e Sustituyendo stas dos en los potenciales,
2 1
2 1
1
V1

I 1 1
K

2 x 2 x 0 x

x x0

V2

I 2 1 K
2
x

x x0

50

 Veamos ahora la a de un arreglo sencillo: A fijo, MN pequeo y mvil (arreglo de gradiente con semi-Schlumberger). Si MN
pequeo, V MN E x , a 2 x 2 E I

Por intuicin pensaramos que la curva de resistividad aparente tendra una

forma como sta.

Usando E V , E x

K x 2
a1 1 1
2
2 x0 x

V
I 1 1
I 2 1 K
V
K

, E2
, E1 1

2
2
x
x
2 x
2
x2
2 x0 x

x x0

a 2 2 1 K

2 1 2
2 1

x x0

El comportamiento de la a es diferente al intuitivo

Cuando x 0 , a 1 , pero cuando x x 0 por la izquierda, la a disminuye.

En el medio 2 la a es una constante 2 .

51

Si ahora, con el mismo arreglo semi-Schlumberger, mantenemos fija la distancia entre A y el centro MN (x=L) y movemos x0
(calicata semi-Schlumberger), la curva de resistividad aparente es an ms complicada, con dos discontinuidades.

Solucin analtica
Se usa un procedimiento similar al empleado para encontrar el potencial de una fuente puntual de corriente en una tierra
estratificada.
Sistema de coordenadas cilndricas con origen en A

0 , r y 2 z 2

2 V 1 V 2V
Laplace:

0 ;, Separacin de variables:
r 2 r r x2
V r , x Rr X x ,
2

d R 1dR
Ecuaciones diferenciales:

2 R
2
r
d
r
dr
soluciones R J 0 R , X exp x

d2 X
2 X , con
2
dx

La combinacin lineal tambin es solucin: V A exp x J 0 r d B exp x J 0 r d

52

Solucin particular: q exp x J 0 r d

0

x2

q
2

I 1
2

V1 q exp x A1 exp x B1 exp x J 0 r d

0

V2 A2 exp x B2 exp x J 0 r d
0

Los coeficientes A y B se obtienen aplicando las condiciones de frontera: Si x , V1 0 ; x , V 2 0

continuidad de V en x=d y continuidad de la componente normal de J en x=d , obtenindose,

V1 q exp x K exp 2 d x J 0 r d
0

V2 q 1 K exp x J 0 r d
0

Aplicando la integral de Weber-Lipschitz y haciendo r=0 (punto sobre la superficie),

I 1
K
1
K
1

V1 q

1
1

2 x 2d x
x 2 r 2 2 2d x 2 r 2 2

1 K I 1 1 K
V2 q
x 2 r 2 12 2 x

1 2 1 2 2 1
1 2 1 2 2 1


Ntese que 1 1 K 1 2
es igual a 2 1 K 2 2
2 1
2 1

2 1

2 1
Entonces, estos potenciales son iguales a los obtenidos por imgenes.
2. Dique vertical

Las soluciones para el potencial estn dadas como sumas infinitas de imgenes:

I 1

K
K 2 n 1
electrodo M en el medio 1: V1 1
1 K 2

2 x 2 d x
n 1 2 d 2 n E x

53

M en medio 2:

V2

2n

I 1

K 2 n 1
1 K K

2
n 0 2 n E x n 1 2 d 2 n E x

I 1
K 2n
2
V3
1 K
2
n 0 2 n E x
Aunque en principio estas expresiones se pueden construir con el manejo manual de imgenes, para este modelo este camino es
difcil, pues la fuente puntual A se refleja en dos contactos, y a su vez cada imagen se vuelve a reflejar en los mismos contactos. Es
ms fcil obtenerlas con la solucin analtica; hay 6 constantes por determinar, evaluadas con 6 condiciones a la frontera.

M en medio 3:

3. Efecto topogrfico
Consideremos un semiespacio homogneo con relieve topogrfico y un campo elctrico uniforme, que podra estar producido por un
arreglo de gradiente

El campo elctrico cerca de la superficie con

relieve es paralelo a la topografa, as como
las lneas de corriente. Las lneas de
corriente se separan en el cerro y se juntan
en el valle. Las lneas equipotenciales son
normales a las lneas de corriente y son
normales a la superficie del terreno.
Entonces, las superficies equipotenciales
estn ms separadas en el cerro y ms juntas
en el valle.

Punto 1. Punto alejado de los rasgos topogrficos. V es normal y, por lo tanto, la a es normal.
Punto 2. En el cerro. La V medida es menor que la normal, a a normal

54

Punto 3. En el valle. La V medida es mayor que la normal, a a normal

Estas caractersticas no son universales, sino que dependen del arreglo. Por ejemplo, en el arreglo dipolo-dipolo se obtienen
relaciones opuestas: bajo topo-baja a , alto topo-alta a .
Hay dos estrategias de modelado para considerar el efecto del relieve: incluir el relieve en el modelado y/o inversin 2-D o 3-D, o
calcular las a de un semiespacio homogneo pero con relieve y corregir las aobs con aobscorr topo aobs acalc con topo . Este ltimo
mtodo es una aproximacin al problema pues el relieve puede estar acoplado con la heterogeneidades en el subsuelo.
4. Soluciones numricas
Estas soluciones se pueden dividir en dos. En los mtodos de diferencias finitas y elemento finito todo el subsuelo se discretiza en
una malla irregular donde cada celda puede tener una resistividad diferente; an cuando nada ms se requiere conocer el voltaje en
los puntos donde estn los electrodos de potencial, se necesitan calcular todos los voltajes en los nodos de la malla. Estos mtodos
son usados en la interpretacin de datos reales. En el mtodo de ecuacin integral solo se discretizan el o los cuerpos anmalos, el
medio husped puede ser homogneo o estratificado.
3-D con diferencias finitas
Descrito en Dey y Morrison, (1979). Basado en la ecuacin de Poisson:
1 x 0
q
J
x y z q es densidad volumtrica de carga, x es la funcin delta de Dirac, x
t
0 x 0
Para una fuente puntual de corriente en x s , y s , z s y un medio 3-D:
q
x , y , z V x , y , z
x x s y y s z z s v es un elemento de volumen, I es la corriente en Amp.
t

I v

Esta ecuacin es la que se resuelve para el potencial V x , y , z discretizando todo el semiespacio y aplicando condiciones de
frontera a las 6 fronteras del dominio

55

nodos en x : i 1, 2 , , L
nodos en y : j 1, 2 , , M
nodos en z : k 1, 2 , , N
La separacin entre nodos no tiene que ser uniforme.
Para simular las fronteras x , y , z , conforme uno se acerca a
las fronteras, los tamaos de las celdas se van aumentando gradualmente. La
puede tener un valor diferente en cada celda.

i+1,j,k

Una celda de i , j , k

i+1,j+1,k

i,j,k
i+1,j+1,k+1

i,j,k
i,j,k+1

i,j+1,k+1

Si la celda tiene una fuente de corriente, integrando la ecuacin de arriba,

I
x , y , z V x , y , z dxi dy j dz k
xi x s y j y s z k z s dxi dy j dz k I x s , y s , z s
vi , j , k
vi , j , k
vi , j , k
Aplicando el teorema de la divergencia:
V
V dv
dS
S es la superficie que encierra al volumen, n es la normal hacia afuera de cada una de las caras

n
vi , j , k
si , j , k
del volumen

56

 x , y , z

Si , j ,k

V x , y , z
dS ijk I x s , y s , z s
n

La superficie del cubo que encierra al nodo i,j,k est compuesta por 6 caras, por lo que la integral de superficie se divide en 6. La
derivada V n se aproxima con diferencias centrales y se integra la expresin, resultando:
Vi , j , k
Vi , j 1, k Vi , j , k
z x
z x
z x
z x
i , j,k
dS ijk
i 1, j 1, k 1 k 1 i 1 i , j 1, k 1 k 1 i i 1, j 1, k k i 1 i , j 1, k k i 5 trminos

n
y j 1
4
4
4
4

Si , j ,k
similares
En esta expresin el potencial en el nodo i,j,k est relacionado con el potencial en los 6 nodos vecinos. Hay una expresin similar
para cada nodo.
Esta expresin se puede poner en notacin matricial como:
C V S a resolverse para V en cada uno de los nodos.
C es una matriz de dimensiones LMN x LMN (gigantesca!). En el caso supersencillo de L=M=N=10, es una matriz de 1000x1000!
Esta matriz depende solo de la geometra de la rejilla y de las conductividades. Es una matriz simtrica pero esparsa (con muchos
ceros), diagonalmente dominante y bandeada (solo con 6 codiagonales 0)
V es el vector incgnita de dimensiones LMNx1, con los potenciales de cada nodo.
S es el vector de fuentes, de LMNx1. Es cero en todos los nodos excepto en donde estn colocados los electrodos de corriente.
Mtodos para resolver la ecuacin matricial: relajacin, Choleski incompleto, etc.
No hay problema en construir la matriz C , el chiste est en resolver el sistema.
Conociendo el potencial en los nodos donde estn los electrodos de potencial:
V
1
a 2
V VM VN
1
1
1
1 I

rAM rBN rAN rBM

Vista en planta
M
r AM
r BM
A
B

r AN

r BN
N

57

VI. POLARIZACIN INDUCIDA (PI)

Fenmeno tpico de PI. Arreglo tetraelectrdico.

Cuando existe polarizacin inducida (PI) en el subsuelo, la diferencia

de potencial medida entre los electrodos de potencial no aumenta o se
apaga instantneamente cuando la corriente se enciende o apaga, sino
que vara con el tiempo asintticamente a V o a cero, respectivamente.

Este fenmeno transitorio puede durar de varios segundos a varios

minutos y es diferente al fenmeno de induccin electromagntica,
que generalmente tiene constantes de tiempo ms pequeas.
Qu es constante de tiempo?. Parmetro que describe un decaimiento
exponencial exp t , constante de tiempo

58

t
en t , exp

1
e 0.37
e

Se puede decir que PI es un fenmeno que se opone al crecimiento o colapso de V

En principio, PI se podra estudiar indiferentemente en el lapso de encendido T o en el lapso de apagado . Por razones
instrumentales, es preferible hacerlo cuando no se est inyectando corriente.
En t 0 , VPI 0 es difcil de medir debido al fuerte gradiente de la curva y a la superposicin del voltaje asociado a induccin
electromagntica, por lo que generalmente se mide algn aspecto de la curva de descarga un tiempo t despus de t 0 .

1. El origen de PI
La magnitud de VPI t depende de la capacidad de polarizacin del subsuelo. El fenmeno es anlogo a la existencia de una masa
rocosa con muchos capacitores pequeos que se cargan gradualmente cuando hay inyeccin de corriente y se descargan cuando se
interrumpe la corriente (esta es solo una analoga, PI no se debe a un fenmeno de capacitancia).
El origen son fenmenos electroqumicos complejos. stos se deben a la interaccin entre las partculas slidas y las soluciones
electrolticas. Las cargas superficiales de las partculas slidas inducen en la solucin acuosa una concentracin de iones de signo
opuesto cercana a la superficie. Se forma una doble capa elctrica en donde los iones prcticamente estn inmviles, creando una barrera
ms o menos impermeable a los iones que llevan la corriente. Cuando la corriente se apaga se reestablece el equilibrio inicial.
Hay dos tipos de PI:
Metlica, electrnica o de electrodos
Se presenta en la presencia de minerales muy conductores. No es necesario que estos minerales tengan continuidad elctrica. De hecho,
generalmente los minerales diseminados presentan un fuerte efecto de PI. En el caso de partculas de conduccin electrnica

59

(sulfuros) se forma una doble capa elctrica en la interfase partcula-electrolito, en la partcula formada por electrones o protones y en el
electrolito formada por iones (aniones o cationes). Durante el flujo de corriente los iones se acumulan cerca de la interfase e impiden el
flujo de iones en el electrolito. Al cortar la corriente, los iones regresan lentamente a sus posiciones de equilibrio.

roca

sulfuro

poro

E PI

No-metlica, electroltica o de membrana

Se presenta cuando no hay partculas conductoras. Generalmente el efecto es de menor intensidad que en el otro tipo de PI. La principal
fuente son las partculas de arcilla, aunque no es indispensable que stas existan para que haya PI. Sus superficies se cargan de aniones,
induciendo una capa de cationes en el electrolito. La doble capa forma una membrana que impide el flujo de iones en el electrolito.
Es importante notar que PI es un fenmeno de superficie, no de volumen. nicamente el contacto entre las partculas slidas y el
electrolito es importante.
Por otra parte, no existen criterios para identificar, usando solo las mediciones en superficie, el tipo de PI. Solo la magnitud del efecto
puede servir para diferenciarlos.
Hay dos formas de tomar mediciones de PI:
En el dominio del tiempo, corriente directa (dc) o transitorio
En el dominio de las frecuencias o de corriente alterna (ac)
En ambos se inyecta corriente con un par de electrodos de corriente y se mide la diferencia de potencial entre dos electrodos de potencial.

60

2. PI en el dominio del Tiempo

La forma de la diferencia de potencial medida es la descrita en la Figura 1.
Hay varias formas de medir el efecto de PI:
VPI 0
Polarizabilidad aparente P0
de utilidad solo terica, pues como ya se mencion, es difcil medir VPI en t 0
V
VPI t
mV
Polarizabilidad aparente Pt T
. La curva de descarga se mide en un tiempo t . V se mide al final del lapso
en % o
V
V
de encendido T. Si T es muy largo, V V
1 t2
mV
Cargabilidad aparente o integral normalizada M tT1 , t2
V PI d t en
s o ms . Se mide el rea bajo la curva de descarga

t
V 1
V
de t1 a t 2 .
Algunos sistemas miden casi todo el transitorio, es decir, varios puntos de la curva de descarga Pt1T , Pt T2 , Pt3T ,
Los valores medidos de Pt T y M tT1 , t2 van a depender de los lapsos T y . Si estos lapsos son muy cortos los valores asintticos
V y VPI no se habrn alcanzado cuando se apague o encienda la corriente, respectivamente.

3. PI en el dominio de la Frecuencia

Para entender cmo es que el efecto de PI depende de la frecuencia, consideremos el Caso

1 donde los lapsos de carga (T) y descarga () son muy grandes, tal que al final de stos la
diferencia de potencial ya alcanz los niveles V y cero, respectivamente.

Caso 1

61

Ahora consideremos el Caso 2, donde los lapsos de carga T son pequeos, eliminamos los lapsos de reposo () y cambiamos la
polaridad de la corriente inyectada en cada lapso.
I

Caso 2
Estas modificaciones tienen dos efectos notorios en la diferencia de potencial
medida:
El nivel V es menor a V porque no estamos permitiendo que el subsuelo
polarizable alcance sus niveles asintticos.
Hay un defasamiento en el voltaje medido debido a los voltajes residuales
de lapsos anteriores.

Si ahora la corriente inyectada ya no es una onda cuadrada sino una funcin

senoidal de frecuencia F, la diferencia de potencial medida tambin ser un
seno de amplitud V , con la misma frecuencia F, pero defasada una fase
respecto a la fase de la corriente inyectada.
Entonces, para un subsuelo polarizable dado, si aumentamos la frecuencia V
va a disminuir y a aumentar la fase.

Se puede demostrar que la razn

V0 V f
V0

es comparable a la polarizabilidad P0

VPI

Entonces, la tcnica en el dominio de las frecuencias consiste en medir la amplitud V y la fase (respecto a la fase de la corriente) en
V
dos o ms frecuencias. Si la mxima amplitud de la corriente y la geometra del arreglo electrdico se mantienen fijos, de a K
,
I
variando la frecuencia de la corriente podemos obtener una resistividad aparente compleja, a a exp i ,

62

descrita por su amplitud y fase, o alternativamente por sus partes real e imaginaria. A esta forma de medicin tambin se le conoce
como el mtodo de Resistividad Compleja o PI Espectral.
Hay varias formas de presentar la respuesta de PI en el dominio de las frecuencias:
Efecto de Frecuencia Aparente
a f a F
a f a F
a f a F
FE f , F

en ocasiones se presenta como porcentaje

a f
a F
a f a F
Factor Metlico Aparente
a f a F
MF f , F A
A a F a f el factor A generalmente tiene un valor de 10 5
a f a F
PI espectral
Se obtiene a y para varias frecuencias

Mediciones en laboratorio de PI en el dominio

de las frecuencias.
Las muestras son una mezcla de 7.5% de
mineral (magnetita, especularita, galena o pirita)
en arena saturada de una solucin milinormal de
KCl.
Las curvas de la mitad inferior son de la
amplitud, las de la mitad superior son de la
tangente de la fase

63

Cuatro ejemplos de mediciones de campo de PI en el dominio de las

frecuencias

4. Influencia de parmetros instrumentales

a) Intensidad de la corriente. En levantamientos de campo la diferencia de potencial medida es lineal respecto a la corriente I . Si
medimos V al inyectar I , mediremos a V al inyectar a I . Puesto que las respuestas de PI estn divididas, de una u otra forma,
entre V , estas respuestas son independientes de la corriente inyectada.

64

b) Tiempo de carga T (dominio del tiempo). P y M dependen de T . Por ejemplo, la polarizabilidad aparente aumenta asintticamente
a Pt conforme T aumenta. Entonces, una forma de aumentar la relacin seal/ruido es aumentando T. Lo ideal es usar una T muy
grande, pero en un levantamiento de campo esto puede no ser prctico pues lo hace muy lento.
c) Tiempo de reposo (dominio del tiempo). Es conveniente que sea del orden de T.
d) Tiempo de muestreo t (dominio del tiempo). Mientras menor sea t la relacin seal/ruido ser mayor, pero para evitar efectos
inductivos t no debe ser muy pequeo. Algunos sistemas usan un solo tiempo para definir la polarizabilidad o un solo intervalo para la
cargabilidad. Obviamente, es mejor usar varios tiempos.
Frecuencias (dominio de las frecuencias). Una frecuencia F alta aumenta la relacin seal/ruido porque en el Efecto de Frecuencia
a f a F generalmente aumenta con F (ver figuras), pero es conveniente no usar una frecuencia F muy alta para evitar efectos de
induccin electromagntica. F generalmente est entre 2 y 10 Hz. Lo ptimo es usar muchas frecuencias para tener a y .
Fuentes de Ruido
Corrientes espreas asociadas con zonas industriales o con la mina en operacin, etc.
Potencial espontneo. Producido por fenmenos electroqumicos o de electrofiltracin. Generalmente son casi DC. La mayora de los
equipos cancelan este potencial natural.
Ruido electrdico. Conveniente usar electrodos no-polarizables en los electrodos de potencial.
Corrientes telricas. Producen potenciales variables en tiempo. Pueden ser un problema serio.
Movimiento de cables por viento. Induccin de voltajes espreos en los alambres al moverse en el campo geomagntico.
Una fuente de ruido que bajo ciertas condiciones puede ser importante es el de acoplamiento electromagntico, tambin conocido
como efecto inductivo. Para tener idea de este efecto consideremos un arreglo tetraelectrdico sobre un semiespacio homogneo de
conductividad .

65

La componente x del campo elctrico en P producido por la inyeccin de una corriente alterna en los electrodos A y B y por el
alambre que los une se puede calcular partiendo del campo elctrico producido por un dipolo elctrico de longitud dx aterrizado en
sus extremos,

I dx 3 x 2 R 2
1

d Ex

R
exp

2 R5
R3

i
es la constante de propagacin
2
2
Si la frecuencia es cero, 0 , e R 1 , no hay efecto inductivo y nos quedamos solo con el campo elctrico de un dipolo
elctrico en corriente directa (DC)
I dx 3 x 2 R 2
dE x

2 R 5
Para obtener el campo de todo el cable de longitud 2L, se integra en x,
2
2
L 3 x R

I
1
Ex
3 1 R exp R 1 dx

L
2
R
R

donde R x 2 y 2

, y

66

Si MN es corto, V MN E x . Si MN es largo, hay que hacer otra integracin a lo largo de la longitud del dipolo de potencial.
Al integrar resulta que el campo elctrico aumenta con el producto L2 , es decir, el efecto inductivo aumenta con la frecuencia,
con la conductividad del subsuelo y con el cuadrado de la separacin entre electrodos de corriente (longitud del cable). Para el
caso transitorio, el efecto inductivo aumenta con L2 t .
En general, para reducir el acoplo EM es conveniente tener tendida la menor longitud de cable posible. Entonces, el arreglo dipolodipolo presenta menos acoplo que los arreglos Schlumberger y Wenner.

Efecto de frecuencia (en %) debido a induccin EM en

funcin de a 2 F 0 . Arreglo dipolo-dipolo sobre un
semiespacio homogneo. Ocho valores de n
PFE 0F 100 0 F 0
Consideremos los siguientes parmetros a 20m ,
F 10 Hz , 0 500 m y veamos de qu orden es
el PFE al variar alguno de los tres parmetros
a 2 F 0 PFE n 1 PFE n 8
8
0
0
a 100 200
0.007%
0.4%
F 1000 800
0.03%
2%
0 1 4000
0.3%
15%

67

5. Interpretacin
Aunque el fenmeno de PI es de tipo electroqumico, su comportamiento es complejo y depende de muchos factores, tal que
todava no se comprenden totalmente como para ser descritos por un conjunto sencillo de relaciones petrofsicas.
La gran mayora de los datos de PI se interpretan con la aproximacin de bajas frecuencias, que propone que el fenmeno es tan
lento que se puede aproximar como de corriente directa.
Por ejemplo, consideremos que hay n cuerpos en el subsuelo, cada uno con una resistividad y una cargabilidad. La cargabilidad
aparente obtenida con un arreglo tetraelectrdico se calcula con
n
log a
ma mi
log i
i 1
En esta expresin primero se calculan las a del modelo (ya sea de capas, con imgenes, diferencias finitas, elemento finito,
ecuacin integral, etc) suponiendo que no hay PI
log a
Enseguida, para cada apertura electrdica se calcula
para cada i y se hace la sumatoria. Estas derivadas son
log i
a a 2 a 1
i i 2 i 1
aproximadas con log a

y log i

a
a 1
i
i 1

68

Perfiles de resistividad aparente y cargabilidad (Dieter et al, 1969) calculados con el mtodo de ecuacin
integral y el de Seigel. Esfera conductora y polarizable en un semiespacio homogneo. Perfiles con el
arreglo polo-dipolo

6. El modelo Cole-Cole
En la literatura se han propuesto varios modelos de relajacin, es decir, relaciones matemticas que
describen cmo vara la resistividad intrnseca de la roca en funcin de la frecuencia. El ms usado es el
modelo Cole.Cole, el cual est definido por cuatro parmetros

1
DC 1 m 1
Modelo Cole-Cole
c

1 i
DC resistividad de corriente directa o de frecuencia cero m
m cargabilidad (adimensional), 0 m 1 .
constante de tiempo (segundos). Su rango de variacin es muy amplio.
c dependencia de la frecuencia (adimensional), 0 c 1

69

Comportamiento general de la amplitud y fase de

DC .
En frecuencias muy altas, DC 1 m .
En ambos extremos de frecuencia es puramente real, por lo que la fase tiende a
cero. En la regin entre estos dos extremos la amplitud disminuye lentamente y la fase
presenta un mximo. Si la fase se grafica en log-log, en frecuencias bajas tiende a una
recta de pendiente +c y en frecuencias altas de pendiente c
En frecuencias muy bajas,

La respuesta transitoria del voltaje del modelo Cole-Cole es

n
nc

1 t
V t m DC I
x x 1 ! es la funcin gama
n 0 n c 1
El decaimiento de V t es ms lento que una exponencial.
Solo para el caso c=1, el decaimiento es puramente exponencial V t m DC I exp t

Efecto en los espectros de amplitud y fase al variar uno de los cuatro parmetros de un modelo
de referencia arbitrario.

A continuacin se presenta un ejemplo del uso de PI Espectral y del modelo Cole-Cole .

70

Pelton, Ward, Hallof, Sill and Nelson, 1978, Mineral discrimination and removal of inductive coupling with multifrequency IP,
Geophysics, 43, 588-609.
Se entiende por discriminacin mineral a la diferenciacin, a partir de mediciones espectrales o transitorias de PI y de la
inversin de estos datos, del tamao de grano de los sulfuros (textura) y de la concentracin de ellos en una zona.
Estos autores realizaron ms de 90 mediciones espectrales sobre 26 diferentes afloramientos frescos de roca mineralizada en
yacimientos conocidos de Estados Unidos y Canad. Las mediciones espectrales las hicieron cubriendo 7 dcadas de frecuencia,
de 10-2 a 105 Hz. Para evitar el efecto de induccin electromagntica, todas las mediciones las hicieron con el arreglo dipolodipolo con separaciones electrdicas del orden de 1 metro (a=1 m, n=1). En cada afloramiento tomaron muestras de mano y en el
laboratorio les determinaron su textura y concentracin.
Nos enfocaremos a los resultados de los prfidos de cobre.

El espectro (datos de amplitud y fase) en cada afloramiento lo invirtieron a un

semiespacio homogneo polarizado con un modelo Cole-Cole.
Los crculos son los datos observados de fase y la lnea continua la respuesta de fase
del modelo invertido. La cruz tambin es un dato, pero no lo consideraron en la
inversin por estar fuera de la tendencia.
No presentaron los ajustes del espectro de amplitud (porqu?)

dry= diseminado y de baja concentracin

wet= en vetillas y mayor concentracin

71

Encontraron que la relacin de parmetros Cole-Cole ms til es m vs log . La lnea discontinua es arbitraria

Pinto Valley, Arizona

Copper Cities, Arizona
Tyrone, New Mexico
Yerington, New Mexico

Afton, British Columbia

Lornex, British Columbia
Brenda, British Columbia
Gibraltar, British Columbia
Endako, British Columbia

72

VOLUMEN DE SULFUROS (%)

VETILLA
DISEMINADO

Puntos grandes indican concentraciones altas de sulfuros

abiertos)
La flecha indica la tendencia de aumento en la concentracin de rocas artificiales

Es claro el agrupamiento de texturas de vetilla (smbolos

y de textura diseminada (smbolos cerrados), sin embargo, no hay
agrupamiento de mineralizacin de pirita (tringulos) ni de mineralizacin de cobre (crculos). La flecha indica la tendencia de
aumento del tamao de grano de rocas artificiales.

73

VII. POTENCIAL ESPONTNEO

El mtodo de Potencial Espontneo (Self-Potential o SP) es una de las tcnicas geofsicas ms antiguas, pues se empez a usar
desde 1815. El mtodo es de campo natural pues no se necesita ninguna fuente artificial de corriente. En sus orgenes se aplic a la
exploracin minera, pero ha encontrado otros usos en reas como la geotermia, ingeniera civil y problemas ambientales. Es de
rpida operacin y de relativamente bajo costo. Sin embargo, en la gran mayora de los casos, solo es posible realizar una
interpretacin cualitativa.
El potencial natural en el subsuelo es producido por actividad electroqumica o mecnica. En todos los casos el agente controlador
es el agua subterrnea. Los potenciales estn asociados con el intemperismo de cuerpos de sulfuros, actividad bioelctrica, corrosin
y gradientes trmicos y de presin en el flujo de agua subterrnea.
Hay cuatro mecanismos principales, el primero es mecnico, los otros tres qumicos.
Potencial electrocintico (tambien conocido como de electrofiltracin o streaming potential). Se presenta cuando un electrolito
pasa a travs de una membrana porosa. Las rocas pueden considerarse como una de tales membranas cuando, debido a su porosidad,
tienen una red de capilares por donde fluye el agua subterrnea. Las paredes de los capilares pueden absorber los aniones, los cuales
atraen cationes, formndose una capa elctrica doble. Los aniones permanecen fijos pero los cationes son arrastrados por el fluido,
por lo que aparece una diferencia de potencial en los extremos del conducto.
La diferencia de potencial resultante entre los extremos del conducto es
P
Vk
4
donde es el potencial de absorcin en la capa doble (potencial zeta), P es la diferencia de presin, , y son la constante
dielctrica, la resistividad del lquido y su viscosidad, respectivamente.
El potencial electrocintico generalmente es de poca importancia, pero en ocasiones puede producir anomalas grandes
especialmente en reas de abundante precipitacin, topografa y rocas de porosidad significativa.. Este potencial tambin se observa
en registros de pozos, donde el fluido de perforacin penetra la formacin porosa.

74

Potencial de difusin. Producido por la diferencia en movilidad de los iones en soluciones de diferente concentracin. El valor est
R I a I c C1
dado por
Vd
log
F n I a I c C 2

donde R es la constante de los gases (8.31 joules/oC), F es la constante de Faraday 9.65 10 4 C mol , es la temperatura absoluta,
n es la valencia, I a e I c son las movilidades de los aniones y cationes, C1 y C 2 son las concentraciones de las dos soluciones.
En soluciones de cloruro de sodio, I a I c 1.49 , tal que a una temperatura de 25
Vd 11.6 log 10 C1 C 2

C, el voltaje en milivolts es

Generalmente las diferencias de potencial producidas por este mecanismo son pequeas. Sin embargo, en registros elctricos de pozo
puede ser til para estimar porosidades por el contacto entre los electrolitos de la roca y el lodo de perforacin.
Potencial de Nernst (conocido tambin como potencial de arcilla). Cuando dos electrodos metlicos idnticos se meten en una
solucin homognea no existe diferencia de potencial entre ellos. Sin embargo, si las concentraciones son diferentes se genera una
diferencia de potencial dada por
C
R
Vs
log 1
Fn
C2
Si n=1 y 25 o C , el potencial en milivolts es Vs 59.1 log 10 C1 C 2
A la combinacin de los potenciales de difusin y de Nernst se les conoce como potenciales electroqumicos
Potencial de mineralizacin Los yacimientos minerales, en particular los cuerpos de sulfuros, son los que producen las anomalas
ms intensas, llegando hasta 2000 mV. Este potencial aparentemente proviene de reacciones qumicas de oxido-reduccin donde el
nivel fretico juega un papel importante, generando algo parecido a una gran pila.

75

La parte superior del yacimiento funciona como el nodo y la inferior

como ctodo

En algunas reas geotrmicas y volcnicas se han observado anomalas importantes interpretadas como el efecto conjunto de
gradientes intensos de temperatura que forzan un flujo ascendente de agua de mayor salinidad, con amplitudes de decenas o
centenas de mV. .
Trabajo de campo.
El equipo requerido es bastante simple: un voltmetro de alta impedancia y suficientemente sensible, un carrete de cable y
electrodos impolarizables.

76

El levantamiento de los datos se realiza en dos modalidades: mtodo de base comn (conocido tambin como de potenciales) o el
mtodo de gradientes (conocido tambin como de salto de rana).

Todas las diferencias de voltaje se hacen respecto a un punto

comn
Requiere longitudes grandes de cable.

La distancia entre puntos es corta. Es recomendable cerrar los

circuitos en la estacin base. La suma total de voltajes en un
circuito debe ser cero. Si no es cero se puede compensar la
diferencia usando las tcnicas de compensacin empleadas en
nivelacin topogrfica.

77