7.1 FT-z de un Elemento descrito por Ec.

De Diferencia

Un SLI-t discreto con una secuencia de entrada r(k) y una

secuencia de salida y(k)
y[k]

r[k]
SLI-t

puede ser representado por una ecuacin de diferencias de

orden n, que relaciona la entrada y la salida

y(k) a1 y(k - 1) ... a n y(k - n) b 0 r(k)

b1r(k - 1) ... b m (k - m)

(1)

(cont.)

Si se asume que en este sistema las c.i.: y(-n), y(-n+1), ...y(-1)

son cero. Tomando trans. z de la ec.de diferencias (1)

(1 a1z -1 ... a n z -n )Y(z) (b0 b1z 1 ... bm z -m )R(z)

(2)

Se obtiene la FT-z:

Y( z ) b 0 b1 z 1 ... b m z m
G( z )

R( z )
1 a1 z 1 ... a n z n

(3)

(cont.)
Multiplicando ambos lados de (2) por zn , se obtiene la FT
del sistema discreto dado por la ec. (1)

Y( z ) b 0 z n b1z n 1 ... b m z n m
G( z )

R( z )
z n a1z n 1 ... a n
De la definicin de FT, la transformada z de la salida del
sistema ser

Y( z) G ( z) R ( z)

(4)

7.2 FT-z de un Elemento con Muestreador

y*(t)
T

r(t)

r*(t)
T

SLI-t

y(t)

Para hallar la FT-z, de un SLI-t se deber muestrear la seal

de entrada y la seal de salida.
La T. de Laplace de la salida del sistema

Y(s) R * (s)G(s)
donde R*(s) es la T. de Laplace de r*(t).

(1)

(cont.)
A la salida del muestreador ficticio se tiene:
En el dominio de la frecuencia
1
Y * (s) Y(s jnws ),
T n

y(0) 0

(2)

Expresiones similares pueden obtenerse para R*(s)

Reemplazando (1) en (2)

1
Y * (s) R *(s jnws )G (s jnws )
T n

(3)

(cont.)
Aplicando la propiedad de periodicidad: R * (s jnws ) R * (s)
1
Y * (s) R * (s) G (s jnws )
T n

(4)

Definiendo

1
G * (s) G (s jnws )
T n
y reemplazando en (5) se obtiene

Y * (s) R * (s)G * (s)

(5)

Funcin de Transferencia de Pulso

La FT de pulso es definida como

Y * (s)
G * (s)
R * (s)

(7)

La FT-z se obtiene al reemplazar z=eTs en (7)

Y(z)
G (z)
R (z)

(8)

7.3 SISTEMAS DE CONTROL DE LAZO ABIERTO

CON MUESTREO

FT DE SIST. DISCRETOS CON ELEMENTOS SEPARADOS POR UN

MUESTREADOR
Y*(s)

R(s)

R*(s)

G1(s)

U(s)

U*(s)

G2(s)

Y(s)

Se introduce un muestreador ficticio a la salida del sistema.

En la salida de G1(s) se tiene

U(s) G1 (s)R * (s)

(1)

y en la salida del sistema

Y(s) G 2 (s) U* (s)

(2)
9

(cont.)
Tomando la T. de pulso en (1) y sustituyendo en (2)

Y(s) G 2 (s)G1 (s)R * (s)

*

(3)

Tomando la T. de pulso en ambos lados de esta ltima ec.

Y* (s) G*2 (s)G1 (s)R * (s)

*

(4)

Finalmente la transformada-z de (4)

Y(z) G 2 (z)G1 (z)R (z)

de donde
Y ( z)
G2 ( z )G1 ( z )
R( z )

La FT-z de dos elementos lineales separados por un

muestreador es igual al producto de las FT-z de estos
elementos

10

FT DE SIST. DISCRETOS CON ELEMENTOS

NO SEPARADOS POR UN MUESTREADOR

Y*(s)

R(s)

R*(s)

G1(s)

U(s)

G2(s)

Y(s)

En la salida del sistema mostrado en la figura se tiene

Y(s) G1 (s)G 2 (s)R * (s)

(5)

Tomando la T. de pulso

Y (s) G1 (s)G 2 (s) R * (s)

*

(6)

Dado que G1(s) y G2(s) no estn separados por un

muestreador, estos debern tratarse como un solo elemento
cuando se toma la T. de pulso.

11

(cont.)
Por simplicidad se emplea la notacin:

G (s)G
1

*
*

(
s
)

G
G
(
s
)

G
G
(s)
2
1
2
2
1
*

La ec. (6) se puede escribir como

Y* (s) G1G*2 (s)R * (s)

(7)

Tomando la T-z en (7)

Y(z) G1G 2 (z)R (z)

de donde
aqu

Y ( z)
G1G2 ( z )
R( z )

G1 (s)G 2 (s) G1G 2 (z)

Este anlisis puede ser extendido a sistemas con ms de dos

elementos.
G1G 2 (z) G1 (z)G 2 (z)
12
Nota.- En general

EJEMPLO 1
Hallar la FT-z del sistema mostrado en la figura
Y*(s)

R(s)

T=1s

1 e Ts
s

1
s ( s 0.5)

U(s)

Y(s)

La FT-z del sistema se halla empleando

G p ( s)
G( z ) (1 z ) Z

s
1

as, reemplazando

1
G( z ) (1 z 1 ) Z 2

s ( s 0.5)

y resolviendo
G( z )

0,426 z 0,361
z 2 1,606 z 0,606

13

7.4 SISTEMAS DE CONTROL DE LAZO

CERRADO CON MUESTREO

FT DE SIST. DISCRETOS DE LAZO CERRADO

La mayora de los sistemas discretos tienen tanto seales
analgicas como digitales y los muestreadores pueden
encontrarse en cualquier punto, asimismo el sistema puede
tener uno o mas lazos.

Para determinar la FT de estos sistemas se puede emplear

Mtodo del Algebra de Bloques
Mtodo del Grfico de Flujo de Seal

METODO DEL ALGEBRA DE BLOQUES

1. Establecer las variables de entrada y de salida:
- Elegir las variables de entrada y salida del sistema.
- La entrada de un muestreador es considerada como una
salida del sistema.
- La salida de un muestreador es considerada como una
entrada del sistema.
- Cualquier otra variable (no establecida en los pasos
anteriores) se considerar como variable de salida.
2. Escribir las ecuaciones de causa - efecto entre las entradas y
salidas del sistema.

3. Manipular las ecuaciones de causa - efecto a fin de obtener

la FT-z.

Ejemplo 1. FT de un S. Discreto con un Muestreador en

la Rama Directa
En el sistema de la figura
T

R(s)

E(s)

E*(s)

G(s)

Y*(s)

Y(s)

H(s)

se introduce un muestreador ficticio a la salida, as se tiene

Variables de entrada: R(s), E*(s)

Variables de salida:

Y(s), Y*(s), E(s)

(cont.)
Ecuaciones de entrada - salida

E(s) R (s) G(s)H(s)E* (s)

Y(s) G(s)E * (s)

(1)
(2)

Tomando la T. de pulso en las ec. (1) y (2), luego operando

Y* (s)
G * (s)

*
R (s) 1 GH* (s)
Tomando la T-z en esta ltima ecuacin obtenemos

Y(z)
G (z)

R (z) 1 GH(z)